JP5510011B2 - 質量分析方法及び質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)未知物質のMSnスペクトルと既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価ステップと、
b)前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンを、n段目の開裂のプリカーサイオンに設定して前記未知物質に対するMSn+1分析を実行するMSn+1分析実行ステップと、
c)前記未知物質に対するMSn+1分析の結果得られたMSn+1スペクトルと、前記既知物質について前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価ステップと、
を有することを特徴としている。
a)未知物質に由来するイオンに対するMSn分析により取得されたMSnスペクトルを読み込む測定データ取得手段と、
b)既知物質のMSnにより得られるMSnスペクトルと、該MSnスペクトル上のピークに対応する該既知物質の部分構造情報と、該ピークをプリカーサイオンとした該既知物質に対するn段目の開裂を行うMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルと、を格納しておくための記憶手段と、
c)前記測定データ取得手段により得られた未知物質のMSnスペクトルと前記記憶手段から読み出された既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価手段と、
d)前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンを、n段目の開裂のプリカーサイオンに設定して前記未知物質に対するMSn+1分析を実行するMSn+1分析実行手段と、
e)前記未知物質に対するMSn+1分析の結果得られたMSn+1スペクトルと、前記記憶手段から読み出された、既知物質について前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価手段と、
を備えることを特徴としている。
さらにまた、未知物質の構造解析結果を出力する際に、前記類似性評価手段により算出された類似度を示すとともに、該類似度の算出の元となったMSnスペクトルのnの値を明示する情報出力手段をさらに備えるようにするとよい。
a)未知物質に由来するイオンをMS1分析し、その結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS2分析を実行し、さらにその結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS3分析を実行する、という分析手順をMSn+1分析まで繰り返し、未知物質のMSnスペクトルとMSn+1スペクトルとを網羅的に取得する分析実行ステップと、
b)前記分析実行ステップで得られた未知物質のMSnスペクトルと既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価ステップと、
c)前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンに対する前記未知物質のMSn+1スペクトルを前記分析実行ステップで得られたスペクトルの中から抽出し、該MSn+1スペクトルと前記既知物質について前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価ステップと、
を有することを特徴としている。
a)未知物質に由来するイオンをMS1分析し、その結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS2分析を実行し、さらにその結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS3分析を実行する、という分析手順をMSn+1分析まで繰り返し、未知物質のMSnスペクトルとMSn+1スペクトルとを網羅的に取得する分析実行手段と、
b)既知物質のMSnにより得られるMSnスペクトルと、該MSnスペクトル上のピークに対応する該既知物質の部分構造情報と、該ピークをプリカーサイオンとした該既知物質に対するn段目の開裂を行うMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルと、を格納しておくための記憶手段と、
c)前記分析実行手段により得られた未知物質のMSnスペクトルと前記記憶手段から読み出された既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価手段と、
d)前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンに対する前記未知物質のMSn+1スペクトルを前記分析実行手段で得られたスペクトルの中から抽出し、該MSn+1スペクトルと、前記記憶手段から読み出された、前記既知物質について前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価手段と、
を備えることを特徴としている。
11…ESIイオン源
12…加熱キャピラリ管
13…イオン輸送光学系
14…イオントラップ
15…飛行時間型質量分析器(TOFMS)
16…検出器
20…処理・制御部
21…スペクトル作成部
22…データ解析部
23…データベース検索部
24…同定用データベース
25…分析制御部
26…入力部
27…表示部
Claims (7)
- 未知物質に由来するイオンをn−1(nは2以上の整数)段階に開裂させるMSn分析を実行することにより取得したMSnスペクトルと、既知物質の既知のMSnスペクトルとを照合することにより未知物質の同定や構造解析を行う質量分析方法であって、
a)未知物質のMSnスペクトルと既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価ステップと、
b)前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンを、n段目の開裂のプリカーサイオンに設定して前記未知物質に対するMSn+1分析を実行するMSn+1分析実行ステップと、
c)前記未知物質に対するMSn+1分析の結果得られたMSn+1スペクトルと、前記既知物質について前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価ステップと、
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 未知物質に由来するイオンをn−1(nは2以上の整数)段階に開裂させるMSn分析を実行することにより取得したMSnスペクトルと、既知物質の既知のMSnスペクトルとを照合することにより未知物質の同定や構造解析を行う質量分析方法であって、
a)未知物質に由来するイオンをMS1分析し、その結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS2分析を実行し、さらにその結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS3分析を実行する、という分析手順をMSn+1分析まで繰り返し、未知物質のMSnスペクトルとMSn+1スペクトルとを網羅的に取得する分析実行ステップと、
b)前記分析実行ステップで得られた未知物質のMSnスペクトルと既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価ステップと、
c)前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンに対する前記未知物質のMSn+1スペクトルを前記分析実行ステップで得られたスペクトルの中から抽出し、該MSn+1スペクトルと前記既知物質について前記類似性評価ステップにより類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価ステップと、
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項1又は2に記載の質量分析方法であって、
前記類似性評価ステップでは、前記未知物質のMSnスペクトル上に現れるピークについて、前記両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量に基づいて類似性の程度を示す類似度を算出し、該類似度が閾値以上であるピークを類似性が高いと判断することを特徴とする質量分析方法。 - MSn+1分析(nは2以上の整数)が可能な質量分析装置であって、
a)未知物質に由来するイオンに対するMSn分析により取得されたMSnスペクトルを読み込む測定データ取得手段と、
b)既知物質のMSnにより得られるMSnスペクトルと、該MSnスペクトル上のピークに対応する該既知物質の部分構造情報と、該ピークをプリカーサイオンとした該既知物質に対するn段目の開裂を行うMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルと、を格納しておくための記憶手段と、
c)前記測定データ取得手段により得られた未知物質のMSnスペクトルと前記記憶手段から読み出された既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価手段と、
d)前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンを、n段目の開裂のプリカーサイオンに設定して前記未知物質に対するMSn+1分析を実行するMSn+1分析実行手段と、
e)前記未知物質に対するMSn+1分析の結果得られたMSn+1スペクトルと、前記記憶手段から読み出された、既知物質について前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - MSn+1分析(nは2以上の整数)が可能な質量分析装置であって、
a)未知物質に由来するイオンをMS1分析し、その結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS2分析を実行し、さらにその結果から1乃至複数のプリカーサイオンを定めて前記未知物質に対するMS3分析を実行する、という分析手順をMSn+1分析まで繰り返し、未知物質のMSnスペクトルとMSn+1スペクトルとを網羅的に取得する分析実行手段と、
b)既知物質のMSnにより得られるMSnスペクトルと、該MSnスペクトル上のピークに対応する該既知物質の部分構造情報と、該ピークをプリカーサイオンとした該既知物質に対するn段目の開裂を行うMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルと、を格納しておくための記憶手段と、
c)前記分析実行手段により得られた未知物質のMSnスペクトルと前記記憶手段から読み出された既知物質のMSnスペクトルとを比較し、少なくともその両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量の類似性を判断する類似性評価手段と、
d)前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンに対する前記未知物質のMSn+1スペクトルを前記分析実行手段で得られたスペクトルの中から抽出し、該MSn+1スペクトルと、前記記憶手段から読み出された、前記既知物質について前記類似性評価手段により類似性が高いと判断されたピークに対応するプロダクトイオンをプリカーサイオンとしたMSn+1分析により得られるMSn+1スペクトルとを比較し、前記類似性が高いと判断されたピークに対応する前記既知物質の部分構造が前記未知物質の部分構造であるとの推定の確度を評価する部分構造推定評価手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項4又は5に記載の質量分析装置であって、
前記類似性評価手段は、前記未知物質のMSnスペクトル上に現れる各ピークについて、前記両MSnスペクトルにおけるニュートラルロスの質量に基づいて類似性の程度を示す類似度を算出し、該類似度が閾値以上であるピークを類似性が高いと判断することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項4又は5に記載の質量分析装置であって、
前記未知物質の構造解析結果を出力する際に、前記類似性評価手段により算出された類似度を示すとともに、該類似度の算出の元となったMSnスペクトルのnの値を明示する情報出力手段をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010088787A JP5510011B2 (ja) | 2010-04-07 | 2010-04-07 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010088787A JP5510011B2 (ja) | 2010-04-07 | 2010-04-07 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011220773A JP2011220773A (ja) | 2011-11-04 |
JP5510011B2 true JP5510011B2 (ja) | 2014-06-04 |
Family
ID=45037960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010088787A Active JP5510011B2 (ja) | 2010-04-07 | 2010-04-07 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5510011B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5810983B2 (ja) * | 2012-03-12 | 2015-11-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析を用いた化合物同定方法及び化合物同定システム |
JP6004080B2 (ja) * | 2013-02-22 | 2016-10-05 | 株式会社島津製作所 | データ処理装置及びデータ処理方法 |
JP6149810B2 (ja) * | 2014-06-13 | 2017-06-21 | 株式会社島津製作所 | 代謝物解析システム及び代謝物解析方法 |
JP2017058704A (ja) * | 2017-01-04 | 2017-03-23 | ソニー株式会社 | 画像取得装置、画像取得方法、およびコンピュータプログラム |
CN111902719B (zh) * | 2018-02-19 | 2024-05-07 | 塞尔诺生物科学有限责任公司 | 自动的质谱分析方法和仪器 |
JP7135561B2 (ja) * | 2018-08-08 | 2022-09-13 | 株式会社島津製作所 | 分析制御装置、分析システムおよび分析方法 |
JP7327431B2 (ja) * | 2021-03-16 | 2023-08-16 | トヨタ自動車株式会社 | 質量分析データの解析方法、プログラム及び質量分析データの解析装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4025850B2 (ja) * | 2004-03-19 | 2007-12-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 糖鎖構造同定方法及び同解析装置 |
JP4620446B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2011-01-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析方法、質量分析システム、診断システム、検査システム及び質量分析プログラム |
JP2007287531A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Shimadzu Corp | 質量分析データ解析方法 |
WO2009054026A1 (ja) * | 2007-10-23 | 2009-04-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
-
2010
- 2010-04-07 JP JP2010088787A patent/JP5510011B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011220773A (ja) | 2011-11-04 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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