JP4811466B2 - 質量分析方法及び質量分析装置 - Google Patents
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- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 title claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 68
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 67
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 57
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 39
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 claims description 22
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 18
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 claims description 14
- 230000007017 scission Effects 0.000 claims description 14
- 239000012634 fragment Substances 0.000 claims description 11
- 239000013076 target substance Substances 0.000 claims description 8
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
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- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
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- G01N27/623—Ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
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Description
a)質量分析の結果を用いて組成が推定された未知物質をプリカーサイオンに設定してMS/MS分析を実行する分析実行ステップと、
b)前記未知物質について推定された組成から、該推定された組成を構成する元素の種類と個数の範囲で、組み合わせを変えて質量を計算することにより、開裂により生じ得る断片の質量を理論的に求める理論質量算出ステップと、
c)前記分析実行ステップによるMS/MS分析で得られたマススペクトルに現れている1乃至複数のプロダクトイオンの質量と、前記理論質量算出ステップにより得られた質量との整合性を検証し、整合性がとれる場合に前記未知物質について推定された組成の信頼性が高いと判断する検証ステップと、
を有することを特徴としている。
a)質量分析の結果を用いて組成が推定された未知物質をプリカーサイオンに設定してMS/MS分析を実行する分析実行制御手段と、
b)前記未知物質について推定された組成から、該推定された組成を構成する元素の種類と個数の範囲で、組み合わせを変えて質量を計算することにより、開裂により生じ得る断片の質量を理論的に求める理論質量算出手段と、
c)前記分析実行制御手段による制御の下でMS/MS分析で得られたマススペクトルに現れている1乃至複数のプロダクトイオンの質量と、前記理論質量算出手段により得られた質量との整合性を検証し、整合性がとれる場合に前記未知物質について推定された組成の信頼性が高いと判断する検証手段と、
を備えることを特徴としている。
11…試料導入部
12…イオン化部
13…三次元四重極型イオントラップ
14…飛行時間型質量分析部
15…イオン検出器
20…制御/処理部
21…制御部
22…データ処理部
23…データベース
25…入力部
26…表示部
Claims (2)
- 目的物質に由来するプリカーサイオンを開裂させ、該開裂によって発生したプロダクトイオンを質量分析するMS/MS分析が可能な質量分析装置を用い、該質量分析装置で収集されるデータに基づいて前記目的物質の組成の解析を行う質量分析方法であって、
a)質量分析の結果を用いて組成が推定された未知物質をプリカーサイオンに設定してMS/MS分析を実行する分析実行ステップと、
b)前記未知物質について推定された組成から、該推定された組成を構成する元素の種類と個数の範囲で、組み合わせを変えて質量を計算することにより、開裂により生じ得る断片の質量を理論的に求める理論質量算出ステップと、
c)前記分析実行ステップによるMS/MS分析で得られたマススペクトルに現れている1乃至複数のプロダクトイオンの質量と、前記理論質量算出ステップにより得られた質量との整合性を検証し、整合性がとれる場合に前記未知物質について推定された組成の信頼性が高いと判断する検証ステップと、
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 目的物質に由来するプリカーサイオンを開裂させ、該開裂によって発生したプロダクトイオンを質量分析するMS/MS分析が可能であって、質量分析により収集されるデータに基づいて前記目的物質の組成の解析を行う質量分析装置であって、
a)質量分析の結果を用いて組成が推定された未知物質をプリカーサイオンに設定してMS/MS分析を実行する分析実行制御手段と、
b)前記未知物質について推定された組成から、該推定された組成を構成する元素の種類と個数の範囲で、組み合わせを変えて質量を計算することにより、開裂により生じ得る断片の質量を理論的に求める理論質量算出手段と、
c)前記分析実行制御手段による制御の下でMS/MS分析で得られたマススペクトルに現れている1乃至複数のプロダクトイオンの質量と、前記理論質量算出手段により得られた質量との整合性を検証し、整合性がとれる場合に前記未知物質について推定された組成の信頼性が高いと判断する検証手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2006/322740 WO2008059567A1 (fr) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | Procédé et dispositif de spectrométrie de masse |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008059567A1 JPWO2008059567A1 (ja) | 2010-02-25 |
JP4811466B2 true JP4811466B2 (ja) | 2011-11-09 |
Family
ID=39401382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008544030A Active JP4811466B2 (ja) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8735806B2 (ja) |
JP (1) | JP4811466B2 (ja) |
WO (1) | WO2008059567A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8884218B2 (en) | 2011-01-31 | 2014-11-11 | Shimadzu Corporation | Method and systems for mass spectrometry for identification and structural analysis of unknown substance |
WO2012116131A1 (en) * | 2011-02-23 | 2012-08-30 | Leco Corporation | Correcting time-of-flight drifts in time-of-flight mass spectrometers |
JP5696592B2 (ja) * | 2011-06-03 | 2015-04-08 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ解析方法及び解析装置 |
JP6311387B2 (ja) * | 2014-03-26 | 2018-04-18 | 株式会社島津製作所 | 化合物分析方法、化合物分析装置、及び化合物分析用プログラム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004028782A (ja) * | 2002-06-25 | 2004-01-29 | Hitachi Ltd | 質量分析データの解析方法および質量分析データの解析装置および質量分析データの解析プログラムならびにソリューション提供システム |
JP2004191077A (ja) * | 2002-12-09 | 2004-07-08 | Hitachi Ltd | 化合物構造解析システム,質量分析データ解析方法,質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析プログラム |
JP2004245699A (ja) * | 2003-02-14 | 2004-09-02 | Hitachi Ltd | 質量分析データ解析システム,質量分析データ解析プログラム及び化合物解析システム |
WO2006049064A1 (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-11 | Shimadzu Corporation | 質量分析方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5538897A (en) * | 1994-03-14 | 1996-07-23 | University Of Washington | Use of mass spectrometry fragmentation patterns of peptides to identify amino acid sequences in databases |
JPH08124519A (ja) | 1994-10-21 | 1996-05-17 | Shimadzu Corp | Ms/ms質量分析装置用データ処理装置 |
GB9710582D0 (en) * | 1997-05-22 | 1997-07-16 | Oxford Glycosciences Uk Ltd | A method for de novo peptide sequence determination |
US8507285B2 (en) * | 2003-03-13 | 2013-08-13 | Agilent Technologies, Inc. | Methods and devices for identifying biopolymers using mass spectroscopy |
US7202473B2 (en) * | 2003-04-10 | 2007-04-10 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US7473892B2 (en) * | 2003-08-13 | 2009-01-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer system |
JP4365286B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2009-11-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析方法及び質量分析システム |
WO2006050226A2 (en) * | 2004-10-28 | 2006-05-11 | Cerno Bioscience Llc | Qualitative and quantitative mass spectral analysis |
US7781729B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-08-24 | Cerno Bioscience Llc | Analyzing mass spectral data |
JP2007287531A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Shimadzu Corp | 質量分析データ解析方法 |
US8026476B2 (en) * | 2006-09-21 | 2011-09-27 | Shimadzu Corporation | Mass analyzing method |
-
2006
- 2006-11-15 WO PCT/JP2006/322740 patent/WO2008059567A1/ja active Application Filing
- 2006-11-15 JP JP2008544030A patent/JP4811466B2/ja active Active
- 2006-11-15 US US12/444,811 patent/US8735806B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004028782A (ja) * | 2002-06-25 | 2004-01-29 | Hitachi Ltd | 質量分析データの解析方法および質量分析データの解析装置および質量分析データの解析プログラムならびにソリューション提供システム |
JP2004191077A (ja) * | 2002-12-09 | 2004-07-08 | Hitachi Ltd | 化合物構造解析システム,質量分析データ解析方法,質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析プログラム |
JP2004245699A (ja) * | 2003-02-14 | 2004-09-02 | Hitachi Ltd | 質量分析データ解析システム,質量分析データ解析プログラム及び化合物解析システム |
WO2006049064A1 (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-11 | Shimadzu Corporation | 質量分析方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8735806B2 (en) | 2014-05-27 |
US20100044562A1 (en) | 2010-02-25 |
JPWO2008059567A1 (ja) | 2010-02-25 |
WO2008059567A1 (fr) | 2008-05-22 |
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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