WO2015098990A1 - 積層型電子部品およびその実装構造体 - Google Patents

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WO2015098990A1
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multilayer electronic
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西村 道明
泰尚 重永
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京セラ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a multilayer electronic component and its mounting structure.
  • Patent Document 1 discloses that a conductive material, which is a propagation medium of capacitor vibration, has a mounting structure that is farthest from the most vibrating portion of the capacitor, so that vibration is less likely to propagate to the circuit board. Yes.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a multilayer electronic component that can reduce noise when mounted on a substrate and a mounting structure thereof.
  • the multilayer electronic component of the present invention includes a laminate in which dielectric layers and internal electrode layers are alternately laminated, and an external electrode provided on the outer surface of the laminate and electrically connected to the internal electrode layer A pair of first surfaces positioned opposite to each other in a stacking direction of the dielectric layer and the internal electrode layer, and It has a second surface and four side surfaces, and the joining member is opposed to the center of at least one of the four sides constituting the first surface and the four sides. It is located in the area
  • the multilayer electronic component of the present invention is provided with a laminate in which dielectric layers and internal electrode layers are alternately laminated, and provided on the outer surface of the laminate, and is electrically connected to the internal electrode layer.
  • the first side surface has a first side surface and a second side surface, and the side forming the first side surface is a first side, a second side facing the first side, and the first side. And a pair of third sides adjacent to the second side, wherein the joining member is at least one of the first side and a region adjacent to the first side in the first surface.
  • the first joining member located in the crab, the second side, and the first surface A second joining member located at least in any of the regions adjacent to the two sides, and adjacent to the center of the first side surface, the pair of third sides, and the third side
  • the region to be provided is not provided with the joining member.
  • the multilayer electronic component mounting structure of the present invention is formed by joining the joint member of the multilayer electronic component described above to a mounting surface of a substrate, and the first surface or the first side surface of the main body is It faces the mounting surface.
  • FIG. 1 illustrates a multilayer electronic component according to a first embodiment, in which (a) is an exploded perspective view, (b) is a perspective view, and (c) is a plan view seen from the first surface side.
  • FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line A1-A1 of FIG. 1C, showing a mounting structure in which the multilayer electronic component according to the first embodiment is mounted on a substrate. It is a top view which shows the dimension of each part which looked at the multilayer electronic component in 1st Embodiment from the 1st surface side.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line A2-A2 of FIG. 4B, showing a mounting structure in which the multilayer electronic component according to the modification of the first embodiment is mounted on a substrate.
  • 2A and 2B show a multilayer electronic component according to a second embodiment, in which FIG. 1A is a perspective view, FIG. 2B is a plan view seen from the first surface side, and FIG. 2C is a dimension of each part seen from the first surface side.
  • FIG. 1A is a perspective view
  • FIG. 2B is a plan view seen from the first surface side
  • FIG. 2C is a dimension of each part seen from the first surface side.
  • FIG. 6 shows a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a second embodiment is mounted on a substrate, where (a) is a cross-sectional view taken along line A3-A3 of FIG. 6 (b), and (b) is B3 of FIG. 6 (b).
  • FIG. The multilayer electronic component in the modification of 2nd Embodiment is shown, (a) is a perspective view, (b) is the top view seen from the 1st surface side, (c) is seen from the 1st surface side. It is a top view which shows the dimension of each part.
  • FIGS. 8A and 8B show a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a modification of the second embodiment is mounted on a substrate, where FIG.
  • FIG. 8A is a cross-sectional view taken along line A4-A4 in FIG. 8B
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line B4-B4.
  • 3A and 3B show a multilayer electronic component according to a third embodiment, in which FIG. 3A is a perspective view
  • FIG. 3B is a plan view seen from the first side surface
  • FIG. 3C is a dimension of each part seen from the first side surface side.
  • FIG. 10 shows a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a third embodiment is mounted on a substrate, where (a) is a cross-sectional view taken along line A5-A5 of FIG. 10 (b), and (b) is B5 of FIG. 10 (b).
  • FIG. 9 shows a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a fourth embodiment is mounted on a substrate, where (a) is a cross-sectional view taken along line A6-C6-D6-A6 ′ of FIG. 12 (b), and (b) is FIG.
  • FIG. 6B is a sectional view taken along line B6-B6 in FIG.
  • the laminated type electronic component in the modification of 4th Embodiment is shown, (a) is a perspective view, (b) is the top view seen from the 1st surface side, (c) is seen from the 1st surface side. It is a top view which shows the dimension of each part.
  • 14 shows a mounting structure in which multilayer electronic components according to a modification of the fourth embodiment are mounted on a substrate, where (a) is a cross-sectional view taken along line A7-C7-D7-A7 ′ of FIG. 14 (b), and (b).
  • FIG. 15 is a sectional view taken along line B7-B7 of FIG.
  • FIG. 16 shows a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a fifth embodiment is mounted on a substrate, where (a) is a sectional view taken along line A8-A8 in FIG. 16 (c), and (b) is B8 in FIG. 16 (c). -B8 sectional view.
  • FIG. 18 shows a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a sixth embodiment is mounted on a substrate, where (a) is a cross-sectional view taken along line A9-A9 in FIG. 19 (c), and (b) is B9 in FIG.
  • FIG. 18 shows a mounting structure in which a multilayer electronic component according to a sixth embodiment is mounted on a substrate, where (a) is a cross-sectional view taken along line A9-A9 in FIG. 19 (c), and (b) is B9 in FIG.
  • the conventional multilayer electronic component is shown, (a) is a perspective view, (b) is a plan view seen from the z-axis direction of the coordinate axis, (c) is a mounting structure in which the multilayer electronic component is mounted on a substrate, FIG. 6B is a cross-sectional view taken along line A10-A10 in (b). It is the schematic of the measuring apparatus of a sound pressure level. It is a graph which shows the sound pressure level of the sound of the conventional multilayer ceramic capacitor, Comprising: (a) is a graph which shows the actually measured sound pressure level, (b) is a graph which shows the sound pressure level obtained by simulation.
  • the multilayer electronic component according to the first embodiment includes a multilayer body 2 and external electrodes 3 provided on the outer surfaces of both ends thereof. Further, a first joining member 4 and a second joining member 5 are provided. As shown in FIG. 2, the laminate 2 is obtained by alternately laminating dielectric layers 6 and internal electrode layers 7. The internal electrode layer 7 is electrically connected to the external electrode 3 at either one of both end portions of the multilayer body 2. The internal electrode layers 7 are electrically connected to different external electrodes 3 for each layer, and are sandwiched between a pair of internal electrode layers 7 connected to different external electrodes 3 by applying a voltage to the external electrodes 3. A capacitance is generated in the dielectric layer 6.
  • the stacking direction of the dielectric layer 6 and the internal electrode layer 7 (hereinafter sometimes simply referred to as the stacking direction) is assumed to coincide with the z-axis direction of the coordinate axis.
  • the main body 1 has a rectangular parallelepiped shape as in the conventional multilayer electronic component, and has a pair of first and second surfaces 8 and 9 that face each other in the stacking direction, and four side surfaces. ing.
  • first and second surfaces 8 and 9 that face each other in the stacking direction, and four side surfaces. ing.
  • the main body 1 is viewed from the first surface 8 side, there are a surface of the rectangular laminate 2 and surfaces of the external electrodes 3 provided at both ends thereof, and the external electrode 3 is a laminate in the y-axis direction.
  • the amount of protrusion is sufficiently smaller than the width of the laminate 2 in the y-axis direction.
  • the main body 1 having such a shape is assumed to have a rectangular parallelepiped shape.
  • FIG. 1C is a plan view of the multilayer electronic component of the present embodiment as viewed from the first surface 8 side.
  • FIG. 2 shows the multilayer electronic component of the present embodiment mounted on the substrate 21, and is a cross-sectional view taken along line A1-A1 of FIG. 1 (c).
  • the multilayer body 2 is formed by alternately laminating dielectric layers 6 and internal electrode layers 7.
  • the structure of the dielectric layer 6 and the internal electrode layer 7 shown in FIG. 2 is a schematic structure, and actually, several to several hundreds of dielectric layers 6 and the internal electrode layer 7 are laminated. Many things are used. The same applies to other examples described later.
  • the first joining member 4 is provided over the first side 11 constituting the first surface 8 and the two surfaces adjacent thereto, and the first side 11 It is located in the site
  • the second bonding member 5 is provided over the second side 12 constituting the first surface 8 and two adjacent surfaces, includes the center 12c of the second side 12, and includes the vertex V of the main body 1. Located in no part. And the 3rd edge
  • the center 11c of the first side 11 is a bisection point that bisects the length of the first side 11, and the center 12c of the second side 12 is the center of the second side 12. This is a bisection point that divides the length into two equal parts.
  • the first side 11 and the second side 12 face each other.
  • the length of the first side 11 is E1
  • the length of the second side 12 is E2
  • the length of the third side 13 is E3, E1 ⁇ E3 and E2 ⁇ E3 It is.
  • E1, E2, and E3 are all the length of the main body 1 including the external electrode 3.
  • L1 is the length of the first joining member 4 in the length direction of the first side 11, and L2 is the second length in the length direction of the second side 12. This is the length of the joining member 5.
  • P1 is the length of the first surface 8 in the direction perpendicular to the first side 11 of the first bonding member 4 extending from the first side 11 to the center side of the first surface 8.
  • P2 is the length of the first surface 8 in the direction perpendicular to the second side 12 of the second bonding member 5 extending from the second side 12 to the center side of the first surface 8. .
  • H0 is the height of the main body 1 in the stacking direction
  • H1 is the length of the first bonding member 4 in the stacking direction on the side surface of the main body 1 adjacent to the first surface 8. It is.
  • H2 is the length in the stacking direction of the second bonding member 5 on the side surface of the main body 1 adjacent to the first surface 8.
  • C is the distance between the mounting surface of the substrate 21 and the main body 1.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are formed on the surfaces of the different external electrodes 3 and have electrical conductivity.
  • materials for the first bonding member 4 and the second bonding member 5 for example, eutectic solder, brazing material such as lead-free solder (Sn—Ag—Cu), a conductive adhesive, or the like can be used.
  • FIG. 4 is a plan view of the multilayer electronic component of Modification 1 as viewed from the first surface 8 side.
  • FIG. 5 shows the multilayer electronic component of Modification 1 mounted on the substrate 21, and is a cross-sectional view taken along line A2-A2 of FIG. 4 (b).
  • the first joining member 4 is provided on the first surface 8 and in a region adjacent to the first side 11.
  • the second bonding member 5 is provided in a region on the first surface 8 and adjacent to the second side 12.
  • side which comprises the 1st surface 8 is not provided with the joining member. The range of the area adjacent to the first side 11, the second side 12, and the third side 13 on the first surface 8 will be described later.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 are separated from the first side 11 and the second side 12, respectively. 11 and the second side 12 may be in contact with each other.
  • a solder paste may be printed on a predetermined portion of the main body 1, heat-treated at the melting temperature of the solder, and then cooled.
  • the solder ball may be bonded to a predetermined portion of the main body 1 using a flux, low melting point solder or the like.
  • the solid solder bonded to the main body 1 as the first bonding member 4 and the second bonding member 5 is referred to as a solid solder for convenience regardless of the shape.
  • the 1st joining member 4 and the 2nd joining member 5 can be formed by printing on the main body 1 by screen printing etc., and drying and heat-processing. it can.
  • the main body 1 and the land pattern 22 on the substrate 21 are connected to the first bonding member 4 and the second bonding. It is joined via the member 5.
  • the first surface 8 of the main body 1 and the mounting surface of the substrate 21 face each other.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 in the present embodiment serve to bond the main body 1 to the substrate 21 and electrically connect the external electrode 3 of the main body 1 and a circuit (not shown) of the substrate 21. Also has a role to connect to.
  • the stacked electronic component When the stacked electronic component is mounted on the substrate 21, it may be directly bonded to the land pattern 22 of the substrate 21 by the first bonding member 4 and the second bonding member 5.
  • a conductive material such as solder may be applied on the land pattern 22 of the substrate 21, and the multilayer electronic component may be mounted on the substrate 21 through the conductive material.
  • a conductive layer 23 such as solder applied on the land pattern 22 is formed between the first bonding member 4 and the second bonding member 5 and the land pattern 22.
  • the conductive layer 23 is formed so as to be in contact with the first bonding member 4 and the second bonding member 5 or to cover the first bonding member 4 and the second bonding member 5.
  • the conductive layer 23 and the main body 1 are bonded via the first bonding member 4 and the second bonding member 5, and the conductive layer 23 and the main body 1 are not in direct contact.
  • the conductive layer 23 and the main body 1 are bonded to each other through the first bonding member 4 and the second bonding member 5, so that the main body 1 is bonded to the land pattern 22 of the substrate 21. It can join in the site
  • the conductive material to be used may be the same kind of material as the first bonding member 4 and the second bonding member 5. Although it is preferable, there is no particular limitation as long as the wettability with the first bonding member 4 and the second bonding member 5 is good.
  • the conventional multilayer electronic component includes a rectangular parallelepiped laminate 102 and external electrodes 103 provided on the outer surfaces of both ends thereof as shown in FIG.
  • FIG. 22B is a plan view seen from the z-axis direction of FIG.
  • FIG. 22 (c) shows a conventional multilayer electronic component mounted on the substrate 21, and is a cross-sectional view taken along line A10-A10 of FIG. 22 (b).
  • the laminate 102 is obtained by alternately laminating dielectric layers 106 and internal electrode layers 107.
  • the internal electrode layer 107 is electrically connected to the external electrode 103 at one of both end portions of the multilayer body 102.
  • a multilayer ceramic capacitor which is one of multilayer electronic components uses a ferroelectric material such as barium titanate as the dielectric layer 106 and a metal material such as Ni as the internal electrode layer 107.
  • the external electrode 103 is usually made by baking a Cu paste as a base electrode and performing Ni and Sn plating on the surface thereof.
  • the external electrode 103 and the land pattern 22 on the substrate 21 are fixed in a state of being electrically connected via the solder 114.
  • the solder 114 fills the gap between the external electrode 103 and the land pattern 22 and further covers the external electrode 103 that covers the side surfaces and part of the upper and lower surfaces, which are the end portions of the multilayer body 102. That is, the solder 114 is also provided on the vertex V of the multilayer electronic component.
  • the sound produced when a multilayer ceramic capacitor, which is a conventional multilayer electronic component, was mounted on the substrate 21 was measured.
  • a 1005 type monolithic ceramic capacitor (capacitance 10 ⁇ F, rated voltage 4 V, hereinafter also referred to as an evaluation part) is used as the monolithic ceramic capacitor, and FR4 (Flame Retardant Type 4) is 100 ⁇ 40 mm and the thickness is 0.8 mm as the substrate 21.
  • a glass epoxy substrate made of a material was used.
  • the multilayer ceramic capacitor was mounted on the center of the substrate 21 using Sn—Ag—Cu (SAC) solder. After mounting the evaluation component on the substrate 21, the mounting state was observed with a microscope, and it was confirmed that the fillet height of the solder 114 was 460 ⁇ m and the distance C between the substrate 21 and the evaluation component was 45 ⁇ m.
  • FIG. 24 shows the sounding measurement results when a DC voltage of 4V (DC bias) and an AC voltage of 20 Hz to 20 kHz and 1 Vp-p are applied to the multilayer ceramic capacitor.
  • the sound pressure level is indicated by an A characteristic sound pressure level (dBA).
  • a characteristic sound pressure level of 0 dBA corresponds to the lowest sound pressure level that humans can hear as sound.
  • the A-weighted sound pressure level is a sound pressure level weighted for each frequency so as to be close to human hearing, and is described in the standard of a sound level meter (sound level meter) (JISC 1509-1: 2005).
  • FIG. 26 schematically shows a finite element method model used for impedance simulation. This is a 1/8 model considering symmetry, and the two cross sections appearing on the front surface of FIG. 26 and the lower cross section are symmetry planes.
  • Table 1 shows the parameters (elastic stiffness c ij and piezoelectric constant e ij ) of the dielectric layer 106 obtained by the fitting. From Table 1, it can be seen that the material properties of the dielectric layer 106 of the evaluation part have anisotropy (c 11 > c 33 , c 22 > c 33 ). This is considered due to the compressive stress caused by the internal electrode layer 107.
  • FIG. 24B is a graph showing the result of converting the vibration amplitude of the mounting board 31 obtained by the simulation into an A characteristic sound pressure level. Since the frequency characteristic of the sound depends on the vibration characteristic of the evaluation component and the resonance mode of the mounting substrate 31, the simulation results shown in FIG. 24B show that the sound pressure is particularly low in a low frequency region of 10 kHz or less. Both the sound pressure level and the frequency characteristics were in good agreement with the measured values shown in FIG. Therefore, by performing a simulation using this parameter, it is possible to confirm the effect of the mounting structure on the sound produced when the mounting structure is changed.
  • FIG. 27A is a view from the inside (symmetry plane side) of the 1/8 model
  • FIG. 27B is the opposite side of FIG. 27A, that is, the outside of the 1/8 model. Viewed from the side (surface side).
  • the broken line indicates the shape of the evaluation component in a state where no AC voltage is applied
  • the solid line indicates the shape of the evaluation component that is displaced to the maximum by the AC voltage. From this result, as shown in FIG.
  • the vibration amplitude is at the center of each side constituting the surface. It can be seen that there is a small region 24 (hereinafter referred to as a nodal portion) that can be said to be a vibration node. Since the main body 1 of the present embodiment is equivalent to the evaluation part, such a node-like portion 24 exists in the main body 1 of the present embodiment as well as the evaluation part. Therefore, by fixing the main body 1 to the substrate 21 in the node-like portion 24, it is considered that the propagation of the piezoelectric vibration of the main body 1 to the substrate 21 is suppressed and the noise can be reduced.
  • the body 1 since the first joining member 4 and the second joining member 5 are provided in such a node-like portion 24 existing in the body 1, the body 1 is attached to the substrate 21 in the node-like portion 24. It can be fixed.
  • Modification 1 in which the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are provided only on the first surface 8, when the multilayer electronic component is bonded to the substrate 21, The protrusion of the bonding material (the first bonding member 4, the second bonding member 5, and the solder used for bonding) is reduced, and the mounting density of the multilayer electronic component can be improved.
  • the simulation of sound generation was performed using the following models of the first embodiment and the first modification.
  • L1 and L2 are both 310 ⁇ m
  • P1 and P2 are both 142 ⁇ m
  • H1 and H2 in the first embodiment are both 78 ⁇ m.
  • C in the mounting structure was 140 ⁇ m.
  • Other conditions related to the main body 1 were the same as those of the simulation of sound generation in the evaluation part described above.
  • the average value of the sound pressure level in this embodiment is reduced by 13 dBA in the first embodiment compared to the above-described evaluation component, that is, the conventional mounting structure.
  • the result was reduced by 15 dBA.
  • L1 and L2 are set to 0.5 (L1 / E1, L2 / E2) with respect to E1 and E2 (620 ⁇ m), respectively. Even if the sound pressure level is 8, the sound pressure level can be reduced by about 10 dBA.
  • L1 / E1 and L2 / E2 are preferably 0.4 or more from the viewpoint of mountability.
  • the vibration amplitude is large near the center of each surface constituting the evaluation part and near the center of the side where the side surfaces are in contact with each other. Therefore, it is preferable not to provide the first bonding member 4 and the second bonding member 5 in the vicinity of the center of each surface of the main body 1 and in the vicinity of the center of the side where the side surfaces contact each other.
  • the ratio of H1 to H0 (H1 / H0) and the ratio of H2 to H0 (H2 / H0) are both preferably 0.4 or less.
  • P1 and P2 are 0.25 or less in the ratio (P1 / E3, P2 / E3) to E3.
  • the region adjacent to the first side is a region whose distance from the first side 11 is not more than 0.25 times E3.
  • the region adjacent to the second side 12 is a region whose distance from the second side 12 is not more than 0.25 times E3.
  • the region adjacent to the third side 13 is a region whose distance from the third side 13 is less than 0.1 times E1 or E2.
  • the first joining member 4 and the second joining member 5 are in the region adjacent to the first side 11 and the region adjacent to the second side 12, respectively, and the third side 13 It is provided in the site
  • the main body 1 is not in direct contact with the mounting surface of the substrate 21.
  • the ratio of C to H0 (C / H0), which is the distance between the main body 1 and the mounting surface of the substrate 21, is preferably 0.1 or more.
  • the multilayer electronic component including the first bonding member 4 and the second bonding member 5 on the main body 1 has been described as being mounted on the substrate 21. Even when the first joining member 4 and the second joining member 5 and the other joining members are not provided, the main body 1 mounted on the substrate 21 is the first joining member 4 and the second joining described above. Any component that is bonded to the substrate 21 at the site where the member 5 is to be provided is included in the mounting structure of the present embodiment.
  • the conductive layer 23 such as solder for joining the main body 1 to the substrate 21 corresponds to the first joining member 4 and the second joining member 5.
  • a multilayer ceramic capacitor using a ferroelectric material such as barium titanate for the dielectric layer and a metal material such as Ni, Cu, Ag, or Ag—Pd for the internal electrode layer is used as the main body 1.
  • a ferroelectric material such as barium titanate for the dielectric layer
  • a metal material such as Ni, Cu, Ag, or Ag—Pd for the internal electrode layer
  • it is particularly preferably used.
  • the present embodiment can exert a remarkable effect particularly in a multilayer electronic component of a 1005 type or more type.
  • the form of the main body 1 in this embodiment is essentially the same as that of a conventional multilayer electronic component, and it is not necessary to change the design greatly. Therefore, the present embodiment can be applied to various existing multilayer electronic components. There is also an advantage that no special jig is required for mounting on the substrate.
  • a multilayer ceramic capacitor having a general structure having the external electrodes 3 at both ends in the longitudinal direction has been described as an example of the main body 1.
  • a thin type a so-called LW reverse type, multi-terminal
  • a multilayer electronic component having various structures such as a mold can be applied as the main body 1.
  • the first joining member 4 and the second joining member 5 having insulating properties as will be described later.
  • many multilayer ceramic capacitors use an external electrode 3 in which a base electrode made of Cu is plated with Ni and Sn.
  • the external electrode is composed of only a plated electrode without using the base electrode.
  • the present invention can also be suitably applied to those having the electrode 3.
  • the external electrode 3 having the base electrode is directly bonded to the land pattern 22 of the substrate 21 via solder or the like, so the base electrode made of Cu is relatively soft, so the base electrode absorbs the piezoelectric vibration of the laminate 2 to some extent. Attenuates and suppresses noise.
  • the external electrode 3 is composed only of a plating electrode, the piezoelectric vibration of the multilayer body 2 is not attenuated by the external electrode 3 and the sounding becomes noticeable. Therefore, when this embodiment is applied to what has the external electrode 3 comprised only by the plating electrode, the bigger noise reduction effect is acquired.
  • the Sn plating of the external electrode 3 has a role of improving the wettability between the external electrode 3 and the solder when the multilayer electronic component is mounted on the substrate 21.
  • the main body 1 is the first. Since it joins with the land pattern 22 of the board
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are not only on the first surface 8 side of the main body 1 but also on the side opposite to the first surface 8. It can also be provided on the second surface 9 side. In other words, both of the pair of first surface 8 and second surface 9 that face each other in the stacking direction are configured by the first side 11, the second side 12, and the third side 13. As described above, a plurality of first joining members 4 and a plurality of second joining members 5 can be provided on the main body 1.
  • first joining member 4 and the second joining member 5 may be insulative.
  • the external electrode 3 may be electrically connected to the electric circuit of the substrate 21 by wire bonding or the like.
  • thermoplastic resins such as ethylene vinyl acetate (EVA) and polypropylene (PP) are suitable.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are provided on the first surface 8 side of the main body 1.
  • the difference from the first embodiment is that, as shown in FIG. 6C, the length E1 of the first side 11 provided with the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are provided.
  • the relational expressions E3 ⁇ E1 and E3 ⁇ E2 are satisfied.
  • 7 shows the multilayer electronic component of the present embodiment mounted on the substrate 21, FIG. 7 (a) is a cross-sectional view taken along line A3-A3 of FIG. 6 (b), and FIG. 7 (b) is FIG. 6 (b).
  • FIG. 3 is a sectional view taken along line B3-B3.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 are formed on the surface of the laminate 2 so as to be separated from the external electrode 3, and both have electrical conductivity.
  • a pair of conductors 25 is further formed on the surface of the laminate 2.
  • One conductor 25 electrically joins the first joining member 4 and one external electrode 3, and the other conductor 25. Electrically joins the second joining member 5 and the other external electrode 3.
  • the conductor 25 is formed by, for example, plating or conductive paste.
  • a brazing material such as eutectic solder, lead-free solder (Sn—Ag—Cu), and conductive adhesive Etc. can be used.
  • FIG. 8 is a plan view of the multilayer electronic component of Modification 2 as viewed from the first surface 8 side.
  • FIG. 9 shows a multilayer electronic component of Modification 2 mounted on the substrate 21.
  • FIG. 9A is a cross-sectional view taken along line A4-A4 of FIG. 8B
  • FIG. 9B is FIG. It is B4-B4 sectional view taken on the line of b).
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 are separated from the first side 11 and the second side 12, respectively. 11 and the second side 12 may be in contact with each other.
  • the mounting structure of the multilayer electronic component of the present embodiment includes the main body 1 and the land pattern 22 on the substrate 21 as shown in FIG.
  • the first surface 8 and the mounting surface of the substrate 21 are bonded through the second bonding member 5 so as to face each other.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 serve to bond the main body 1 to the substrate 21 and to connect the external electrode 3 of the main body 1 and a circuit (not shown) of the substrate 21. It also plays the role of electrical connection.
  • a sounding simulation was performed using the following model.
  • L1 and L2 are both 220 ⁇ m
  • P1 and P2 are both 142 ⁇ m.
  • H1 and H2 are both 78 ⁇ m.
  • C in the mounting structure of the present embodiment was 140 ⁇ m.
  • Other conditions related to the main body 1 were the same as those of the above-described sound simulation of the evaluation component.
  • the average value of the sound pressure level in this embodiment is reduced by 20 dBA in the second embodiment compared to the conventional mounting structure, and is reduced by 22 dBA in the second modification.
  • the sound reduction effect is greater than the simulation result of the first embodiment. This is because the first bonding member 4 and the second bonding member 5 of the main body 1 are provided because the distance between the first bonding member 4 and the second bonding member 5 is smaller than that in the first embodiment. It is considered that the propagation of the piezoelectric vibration of the main body 1 to the substrate 21 is further suppressed as a result of the difference in vibration displacement at the obtained portion being smaller than in the case of the first embodiment.
  • L1 and L2 (220 ⁇ m) are set to 0.2 (L1 / E1, L2 / E2) with respect to E1 and E2 (1100 ⁇ m).
  • L1 / E1 and L2 / E2 are preferably 0.1 to 0.5, and more preferably 0.4 to 0.5, from the viewpoint of mountability.
  • the thickness T1 of the first bonding member 4 and the second bonding member 5 on the first surface 8 side is important.
  • the external electrode 3 normally protrudes outside the multilayer body 2 from each surface constituting the multilayer body 2. Therefore, on the first surface 8 side, it is preferable to make the thickness T1 of the first bonding member 4 and the second bonding member 5 thicker than the thickness T0 of the protruding portion of the external electrode 3.
  • H1, H2, P1, P2, and C are preferably in the same range as in the first embodiment.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 are formed on the surface of the multilayer body 2 so as to be separated from the external electrode 3, and are electrically connected to the different external electrodes 3 by the conductor 25.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 may be directly connected to different external electrodes 3 and separated only from the other external electrode 3.
  • the third embodiment has a rectangular parallelepiped main body 1 similar to the first embodiment, and is perpendicular to the stacking direction of the dielectric layer 6 and the internal electrode layer 7 as shown in FIGS.
  • the 1st junction member 4 and the 2nd junction member 5 are each provided in the 1st side 10 which uses the 1st edge 11 and the 2nd edge 16 as a component.
  • the first side 11 is the side where the first side surface 10 and the first surface 8 are in contact
  • the second side 16 is the side where the first side surface 10 and the second surface 9 are in contact
  • the side 17 is a side where the first side surface 10 and the other side surface are in contact with each other.
  • a side adjacent to the first side 11 in the first surface 8 is referred to as a fourth side 14.
  • the side adjacent to the second side 16 in the second surface 9 may be the fourth side 14.
  • FIG. 11 shows the multilayer electronic component according to the third embodiment mounted on the substrate 21,
  • FIG. 11 (a) is a cross-sectional view taken along the line A5-A5 of FIG. 10 (b)
  • FIG. FIG. 10B is a cross-sectional view taken along line B5-B5.
  • the stacking direction coincides with the y-axis direction of the coordinate axis.
  • E1, L1, L2, and C are the same as the other examples, but the definitions of E2, E3, P1, P2, H0, H1, and H2 are different from those of the other examples. That is, in the third embodiment, as shown in FIG. 10C, E2 is the length of the second side 16, E3 is the length of the third side 17, and P1 is the first side In the side surface 10, the length in the direction perpendicular to the first side 11 of the first bonding member 4 extending from the first side 11 to the center side of the first side surface 10.
  • P ⁇ b> 2 is a length in a direction perpendicular to the second side 16 of the second bonding member 5 that extends from the second side 16 to the center side of the first side surface 10 in the first side surface 10.
  • H0 is the length of the fourth side 14, in other words, the height of the main body 1 in the z-axis direction of the coordinate axis.
  • H1 is the length in the z-axis direction of the first bonding member 4 on the first surface 8 adjacent to the first side surface 10
  • H2 is the second surface 9 adjacent to the first side surface 10. This is the length of the second bonding member 5 in the z-axis direction.
  • simulation of sound generation was performed using the following model.
  • L1 and L2 are both 200 ⁇ m
  • H1 and H2 are both 78 ⁇ m
  • P1 and P2 are both 140 ⁇ m.
  • C in the mounting structure of the third embodiment is 140 ⁇ m.
  • Other conditions related to the main body 1 were the same as those of the above-described sound simulation of the evaluation component.
  • the average value of the sound pressure level in the third embodiment was reduced by 20 dB relative to the conventional mounting structure.
  • the ratio of L1 and L2 (200 ⁇ m) to E1 and E2 (1100 ⁇ m) (L1 / E1, L2 / E2) is set to 0.18. 10 dBA can be reduced.
  • the conductor 25 may be disposed in a region where the first bonding member 4 and the second bonding member 5 described above can be provided.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are not only the first side surface 10 of the main body 1 but also the first side surface. 10 can also be provided on the second side opposite to 10.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 may have insulating properties.
  • the external electrode 3 may be electrically connected to the electric circuit of the substrate by wire bonding or the like.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are arranged on the first surface 8 side of the main body 1. Is provided.
  • the second side 12 is a pair of sides that are adjacent to the first side 11 and face each other.
  • the pair of second joining members 5 provided on the side 12 is located at portions of the pair of second sides 12 facing each other.
  • E1 ⁇ E2 in the length E1 of the first side 11, the length E2 of the second side 12, and the length E3 of the third side 13, E1 ⁇ E2 and The relational expression of E3 ⁇ E2 is satisfied.
  • FIG. 12C in the length E1 of the first side 11, the length E2 of the second side 12, and the length E3 of the third side 13, E1 ⁇ E2 and The relational expression of E3 ⁇ E2 is satisfied.
  • FIG. 13 shows the multilayer electronic component of the present embodiment mounted on the substrate 21.
  • FIG. 13 (a) is a cross-sectional view taken along line A6-C6-D6-A6 ′ of FIG. 12 (b), and
  • FIG. ) Is a cross-sectional view taken along line B6-B6 of FIG.
  • the first bonding member 4 is formed on the surface of the external electrode 3 located on the first side 11 side.
  • Each of the pair of second bonding members 5 is formed on the surface of the multilayer body 2 so as to be separated from the external electrode 3. Both the first joining member 4 and the second joining member 5 have electrical conductivity.
  • the pair of second bonding members 5 are electrically connected to the external electrode 3 located on the third side 13 side by a conductor 25.
  • the conductor 25 is formed by, for example, plating or conductive paste.
  • first joining member 4 and the second joining member 5 for example, eutectic solder, lead-free solder (Sn—Ag—Cu) brazing material, conductive An adhesive or the like can be used.
  • FIG. 14 is a plan view of the multilayer electronic component of the present embodiment as viewed from the first main surface 8 side.
  • FIG. 15 shows the multilayer electronic component of Modification 4 mounted on the substrate 21,
  • FIG. 15 (a) is a cross-sectional view taken along line A7-C7-D7-A7 ′ of FIG. 14 (b), and
  • FIG. FIG. 15 is a cross-sectional view taken along line B7-B7 of FIG.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 are separated from the first side 11 and the second side 12, respectively. 11 and the second side 12 may be in contact with each other.
  • the multilayer electronic component mounting structure includes a main body 1 and a land pattern 22 on a substrate 21 via a first bonding member 4 and a second bonding member 5.
  • the first surface 8 and the mounting surface of the substrate 21 are joined so as to face each other.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 serve to bond the main body 1 to the substrate 21 and to connect the external electrode 3 of the main body 1 and a circuit (not shown) of the substrate 21. It also plays the role of electrical connection.
  • a sounding simulation was performed using the following model.
  • L1 and L2 were 310 ⁇ m and 142 ⁇ m, respectively, and P1 and P2 were both 142 ⁇ m.
  • H1 of the 1st joining member 4 in 4th Embodiment was 78 micrometers.
  • C in the mounting structure was 140 ⁇ m.
  • Other conditions related to the main body 1 were the same as those of the above-described sound simulation of the evaluation component.
  • the average value of the sound pressure level in the present embodiment is reduced by 24 dBA in the fourth embodiment compared to the conventional mounting structure, and is reduced by 26 dBA in the modified example.
  • L1 is 310 ⁇ m and the ratio (L1 / E1) to E1 (620 ⁇ m) is 0.5, but even if this is 0.8, the sound pressure level can be reduced by about 10 dBA compared to the prior art. it can.
  • L1 / E1 is preferably 0.4 or more from the viewpoint of mountability.
  • L2 is 142 ⁇ m, and the ratio (L2 / E2) to E2 (1100 ⁇ m) is 0.13. However, even if this is 0.2, the sound pressure level can be reduced by 10 dBA compared to the conventional case.
  • H1, H2, P1, P2, and C are preferably set in the same range as in the first and second embodiments.
  • the thickness T1 of the second bonding member 5 of the present embodiment is made thicker than the height T0 from the first main surface 8 of the protruding portion of the external electrode 3 as in the second embodiment. Is preferred.
  • H1, H2, and C are preferably set in the same range as in the first and second embodiments.
  • a pair of second bonding members 5 are formed on the surface of the laminate 2 so as to be spaced apart from the external electrode 3, and the conductor is connected to the external electrode 3 positioned on the third side 13 side. 25, but only one of the pair of second bonding members 5 is electrically connected to the external electrode 3 located on the third side 13 side, and the other is connected. It does not have to be.
  • the pair of second bonding members 5 may be directly connected to the external electrode 3 located on the third side 13 side and separated from only the external electrode 3 located on the first side 11 side.
  • first bonding member 4 only serves to fix the main body 1 and the substrate 21, and the pair of second bonding members 5 are electrically connected to different external electrodes 3, respectively.
  • the main body 1 may be connected to the electric circuit of the substrate 21 only through the second bonding member 5.
  • the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are not only the first surface 8 side of the main body 1 but also the first.
  • the second surface 9 side opposite to the surface 8 can also be provided.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 may have insulating properties.
  • the external electrode 3 may be electrically connected to the electric circuit of the substrate by wire bonding or the like.
  • the first joining member 4 is provided on the first surface 8 side of the main body 1.
  • the first joining member 4 is on a line 15 connecting the center 11c of the first side 11 that is one of the two pairs of opposite sides constituting the first surface 8, and In a region including the center 8 c of the surface 8, the surface 8 is provided so as to have an elongated shape along the line 15.
  • the center 11 c of the first side 11 is a bisection point that bisects the length of the first side 11, and the center 8 c of the first surface 8 is the center of the first surface 8.
  • the center of gravity of the surface is not limited to bea bisection point that bisects the length of the first side 11, and the center 8 c of the first surface 8 is the center of the first surface 8.
  • the length of the first side 11 is E1, and the length of the other pair of sides adjacent to the first side 11 on the first surface 8 side of the main body 1. Is E2, E2 ⁇ E1. Note that E1 and E2 are the lengths of the main body 1 including the external electrodes 3.
  • L1 is the length of the first joining member 4 in the length direction of the first side 11
  • P1 is the length of the first joining member 4 on the line 15.
  • H0 is the height of the main body 1 in the stacking direction
  • C is the distance between the mounting surface of the substrate 21 and the main body 1.
  • the first bonding member 4 is formed on the surface of the laminate 2 so as to be separated from the external electrode 3.
  • the first bonding member 4 has electrical conductivity and is electrically connected to one of the external electrodes 3 by a conductor 25.
  • a brazing material such as eutectic solder or lead-free solder (Sn—Ag—Cu), a conductive adhesive, or the like is used, as in the first to third embodiments. Can do.
  • the mounting structure of the multilayer electronic component of this embodiment will be described.
  • the main body 1 and the land pattern 22 on the substrate 21 are connected to the first surface via the first bonding member 4. 8 and the mounting surface of the substrate 21 are joined so as to face each other.
  • the first joining member 4 has a role of joining the main body 1 to the substrate 21 and also electrically connecting one of the external electrodes 3 of the main body 1 to an electric circuit (not shown) of the substrate 21.
  • the other of the external electrodes 3 (one not electrically connected to the first bonding member 4) is electrically connected to the electric circuit of the substrate 21 by wire bonding or the like, for example.
  • the central portion of the two surfaces positioned opposite to the stacking direction of the evaluation component that is, the vicinity of the center 8c of the first surface 8 Vibrates only in the stacking direction, and does not vibrate in the plane direction of the stacking.
  • the length of the line itself is shorter than the line connecting the centers of the sides, and the difference in vibration displacement between the center part (center 8c of the first surface) and the end part (11c, node-like part 24) is small. Therefore, by fixing the main body 1 to the substrate 21 on the line connecting the centers of the longer pair of sides, the propagation of the piezoelectric vibration of the main body 1 to the substrate 21 is further suppressed, and the noise can be reduced. .
  • the main body 1 can be fixed to the substrate 21 at a site that vibrates only in the stacking direction.
  • the first bonding member 4 had L1 of 200 ⁇ m and P1 of 620 ⁇ m. Further, C in the mounting structure of the present embodiment was 210 ⁇ m. Other conditions related to the main body 1 were the same as those in the simulation of the sound of the evaluation component described above. When the obtained results are averaged over the frequency range of 5 Hz to 20 kHz, the average value of the sound pressure level in the present embodiment is reduced by 22 dBA in the case of the aforementioned evaluation component, that is, the conventional mounting structure. .
  • L1 (200 ⁇ m) is set to 0.18 as a ratio (L1 / E1) to E1 (1100 ⁇ m), but even if this is set to 0.45, the sound pressure level can be reduced by about 10 dBA compared to the conventional case. it can. Further, as L1 / E1 becomes smaller, the inclination of the main body 1 with respect to the substrate 21 is more likely to occur at the time of mounting. Therefore, L1 / E1 is preferably set to 0.10 to 0.45 from the viewpoint of mountability. P1 is preferably 0.5 or more in terms of E2 (P1 / E2) from the viewpoint of mountability.
  • the first bonding member 4 is larger than the thickness T0 of the protruding portion on the first surface 8 side. It is preferable to increase the thickness T1 on the first surface 8 side.
  • the length of the first side 11 is E1
  • the length of a pair of sides adjacent to the first side 11 on the first surface 8 side of the main body 1 is E2.
  • E1 is longer than E2 (E2 ⁇ E1)
  • E1 ⁇ E2 the difference in vibration displacement of the main body 1 increases on the line 15 on which the first bonding member 4 is provided, so that the noise reduction effect is reduced. Therefore, when the lengths of the two pairs of sides on the first surface 8 side of the main body 1 are different, it is preferable that the pair of longer sides be the first sides 11.
  • the ratio of C to H0 (C / H0), which is the distance between the mounting surface of the substrate 21 and the external electrode 3 of the main body 1, is preferably 0.1 or more.
  • C is approximately equal to L1 in terms of facilitating mounting of the multilayer electronic component on the substrate 21 and improving mounting reliability.
  • the first bonding member 4 may be provided not only on the first surface 8 side of the main body 1 but also on the second surface 9 side opposite to the first surface 8. it can.
  • the first bonding member 4 can also have insulating properties. In that case, it is not necessary to provide the conductor 25, and all the external electrodes 3 may be electrically connected to the electric circuit of the substrate 21 by wire bonding or the like. Further, the first bonding member 4 and the external electrode 3 may be in direct contact.
  • the insulating material for example, thermoplastic resins such as ethylene vinyl acetate (EVA) and polypropylene (PP) are suitable.
  • a second joining member 5 is provided in addition to the first joining member 4 in the fifth embodiment.
  • the second bonding member 5 is provided on the first side 8 of the main body 1 over the second side 12 that is one of the pair of sides adjacent to the first side 11 and the two sides adjacent thereto. It has been.
  • the second bonding member 5 may be provided only on the first surface 8, and may be further away from the second side 12.
  • L ⁇ b> 2 is the length of the second joining member 5 in the length direction of the second side 12, and P ⁇ b> 2 is from the second side 12 on the first surface 8 of the main body 1. This is the length in the direction perpendicular to the second side 12 of the second bonding member 5 extending to the center side of the first surface 8.
  • H2 is the length in the stacking direction of the second bonding member 5 on the side surface of the main body 1 adjacent to the first surface 8.
  • the second bonding member 5 is formed on the surface of the external electrode 3 located on the second side 12 side. Both the first joining member 4 and the second joining member 5 have electrical conductivity.
  • first joining member 4 and the second joining member 5 for example, eutectic solder, lead-free solder (Sn—Ag—Cu), conductive adhesive, etc., as in the first to fourth embodiments. Can be used.
  • the main body 1 and the land pattern 22 on the substrate 21 are interposed via the first bonding member 4 and the second bonding member 5.
  • the first surface 8 and the mounting surface of the substrate 21 are opposed to each other.
  • the first joining member 4 and the second joining member 5 serve to join the main body 1 to the substrate 21 and electrically connect the external electrode 3 of the main body 1 and an electric circuit (not shown) of the substrate 21. It also has a role.
  • a sound simulation was performed using the following model.
  • the first bonding member 4 had L1 of 200 ⁇ m and P1 of 620 ⁇ m
  • the second bonding member 5 had L2 of 620 ⁇ m, H2 of 0 ⁇ m, and P2 of 200 ⁇ m.
  • C in the mounting structure of the present embodiment was 210 ⁇ m.
  • Other conditions related to the main body 1 were the same as those of the above-described sound simulation of the evaluation component.
  • the average value of the sound pressure level in the present embodiment was reduced by 17 dBA compared to the conventional mounting structure.
  • L1 (200 ⁇ m) is set to 0.18 as a ratio (L1 / E1) to E1 (1100 ⁇ m), but 0.10 to 0.43 is preferable from the viewpoint of mountability.
  • a center line parallel to the line 15 of the first joining member 4 (a line passing through the center of gravity of the first joining member 4 in the plan view, hereinafter referred to as a first line).
  • the center line of the bonding member 4 may not coincide with the line 15. Even if the deviation between the center line of the first joining member 4 and the line 15 is about 0.2 times E1, a significant noise reduction effect can be obtained.
  • L2 (620 ⁇ m) is set to 1.0 as a ratio (L2 / E2) to E2 (620 ⁇ m), but when this is set to 0.5, the sound pressure level can be reduced by about 20 dBA from the conventional level.
  • L2 / E2 is preferably set to 0.4 or more.
  • the second joining member 5 is preferably located in the region including the above-described nodal portion 24, that is, the center 12 c of the second side 12.
  • the vibration amplitude in the vicinity of the center of each surface constituting the evaluation part and in the vicinity of the center where the side faces contact each other is large. Therefore, P2 is preferably 0.25 or less in terms of E1 (P1 / E1).
  • the ratio of H2 to H0 (H2 / H0) is preferably 0.4 or less.
  • C it is preferable to set it as the same range as 4th Embodiment.
  • first bonding member 4 and the second bonding member 5 are not only the first surface 8 side of the main body 1 but also the second surface opposite to the first surface 8. It can also be provided on the 9 side.
  • first joining member 4 and the second joining member 5 may be insulative.
  • the external electrode 3 may be electrically connected to the electric circuit of the substrate 21 by wire bonding or the like.
  • the shapes of the first bonding member 4 and the second bonding member 5 are mainly rectangular, and preferred ranges of dimensions and ratios have been described based on the shapes. However, this does not limit the shapes of the first bonding member 4 and the second bonding member 5 to a rectangular shape, and may be various other shapes and irregular shapes. In addition, various changes and modifications can be made without departing from the gist of the present invention based on the description of the vibration mode of the multilayer electronic component and the nodal portion 24 confirmed by the above simulation.

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Abstract

 【課題】 基板上に実装した際に音鳴りを低減できる積層型電子部品およびその実装構造体を提供する。 【解決手段】 誘電体層6と内部電極層7とが交互に積層された積層体2と、積層体2の外表面に設けられ、内部電極層7と電気的に接続された外部電極3と、により構成される本体1に、さらに、誘電体層6および内部電極層7の積層方向に位置する第1の面8側に設けられた、第1の接合部材4および第2の接合部材5を備える積層型電子部品であり、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、第1の面8を構成する第1の辺11および第2の辺12にそれぞれ設けられ、その中央11cおよび12cを含み、本体1の頂点Vを含まない領域に位置している。また、第1の面8は、接合部材を備えていない第3の辺13を有している。このような積層型電子部品を、接合部材4、5を介して基板21に実装することにより、音鳴りを低減できる。 

Description

積層型電子部品およびその実装構造体
 本発明は、積層型電子部品およびその実装構造体に関する。
 誘電体層と内部電極層とが積層されてなる積層型の電子部品では、電子部品に直流電圧と交流電圧が同時に印加されると、電圧による電歪効果から誘電体層に歪みが発生し、電子部品自体が振動する。この電子部品の振動により、電子部品が半田等により実装されている基板が振動し、基板が可聴域の共振周波数で共振した際に「音鳴り」と呼ばれる振動音が発生する。
 このような「音鳴り」を低減するため、電子部品自体の歪みを抑制し振動を低減する方法(たとえば電歪効果の小さい低誘電率材料を用いる、内部電極パターンにより電歪効果を抑えるなど)や、電子部品の振動を吸収し基板への伝達を抑制する方法(たとえば金属端子、リードにより振動を吸収する、半田フィレットの高さを規定するなど)が提案されている。たとえば、特許文献1では、コンデンサの振動の伝搬媒体である導電性材料が、コンデンサの最も振動する部分から離れた実装構造とすることにより、振動が回路基板に伝搬されにくくなることが開示されている。
特開2013-065820号公報
 しかしながら、電子部品自体の歪みを抑制する場合は、材料の誘電率が低い、容量発現領域が小さいなどの理由から、たとえばコンデンサなどの場合は容量が確保できないという課題があった。また、金属端子やリードにより振動を吸収する場合や、特許文献1に記載されたような実装構造では、製造工程や実装工程が複雑化する割に充分な振動の減衰効果が得られないという課題があった。
 本発明は上記の課題に鑑みなされたもので、基板上に実装した際に音鳴りを低減できる積層型電子部品およびその実装構造体を提供することを目的とする。
 本発明の積層型電子部品は、誘電体層と内部電極層とが交互に積層された積層体と、該積層体の外表面に設けられ、前記内部電極層と電気的に接続された外部電極と、により構成される本体と、接合部材と、を備えるとともに、前記本体は直方体形状であり、前記誘電体層および前記内部電極層の積層方向に対向して位置する一対の第1の面および第2の面と、4つの側面とを有しており、前記接合部材は、前記第1の面を構成する4つの辺のうち少なくとも1つの辺の中央、および前記4つの辺のうち対向するいずれか一対の前記辺の中央を結ぶ線上のうち少なくともいずれかであって、前記本体の頂点を含まない領域に位置していることを特徴とする。
 また、本発明の積層型電子部品は、誘電体層と内部電極層とが交互に積層された積層体と、該積層体の外表面に設けられ、前記内部電極層と電気的に接続された外部電極と、により構成される本体と、接合部材と、を備え、前記本体は直方体形状であり、前記誘電体層および前記内部電極層の積層方向に垂直な方向に対向して位置する一対の第1の側面および第2の側面を有しており、前記第1の側面を構成する辺が、第1の辺、該第1の辺と対向する第2の辺、および前記第1の辺および前記第2の辺に隣接する一対の第3の辺を含み、前記接合部材は、前記第1の辺、および前記第1の面における前記第1の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第1の接合部材と、前記第2の辺、および前記第1の面における前記第2の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第2の接合部材と、を有し、前記第1の側面の中心、前記一対の第3の辺および該第3の辺に隣接する領域には前記接合部材を備えていないことを特徴とする。
 本発明の積層型電子部品の実装構造体は、基板の実装面に上述の積層型電子部品の前記接合部材を接合してなり、前記本体の前記第1の面または前記第1の側面が、前記実装面に対向していることを特徴とする。
 本発明によれば、基板上に実装した際に音鳴りを低減できる積層型電子部品およびその実装構造体を提供することができる。
第1の実施形態における積層型電子部品を示すもので、(a)は分解斜視図、(b)は斜視図、(c)は第1の面側からみた平面図である。 第1の実施形態における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、図1(c)のA1-A1線断面図である。 第1の実施形態における積層型電子部品を第1の面側からみた、各部の寸法を示す平面図である。 第1の実施形態の変形例における積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は第1の主面側からみた平面図、(c)は第1の面側からみた各部の寸法を示す平面図である。 第1の実施形態の変形例における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示す、図4(b)のA2-A2線断面図である。 第2の実施形態における積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は第1の面側からみた平面図、(c)は第1の面側からみた各部の寸法を示す平面図である。 第2の実施形態における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図6(b)のA3-A3線断面図、(b)は図6(b)のB3-B3線断面図である。 第2の実施形態の変形例における積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は第1の面側からみた平面図、(c)は第1の面側からみた各部の寸法を示す平面図である。 第2の実施形態の変形例における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図8(b)のA4-A4線断面図、(b)は図8(b)のB4-B4線断面図である。 第3の実施形態における積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は第1の側面側からみた平面図、(c)は第1の側面側からみた各部の寸法を示す平面図である。 第3の実施形態における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図10(b)のA5-A5線断面図、(b)は図10(b)のB5-B5線断面図である。 第4の実施形態における積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は第1の面側からみた平面図、(c)は第1の面側からみた各部の寸法を示す平面図である。 第4の実施形態における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図12(b)のA6-C6-D6-A6’線断面図、(b)は図12(b)のB6-B6線断面図である。 第4の実施形態の変形例における積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は第1の面側からみた平面図、(c)は第1の面側からみた各部の寸法を示す平面図である。 第4の実施形態の変形例における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図14(b)のA7-C7-D7-A7’線断面図、(b)は図14(b)のB7-B7線断面図である。 第5の実施形態における積層型電子部品を示すもので、(a)は分解斜視図、(b)は斜視図、(c)は第1の面側からみた平面図である。 第5の実施形態における積層型電子部品を第1の面側からみた、各部の寸法を示す平面図である。 第5の実施形態における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図16(c)のA8-A8線断面図、(b)は図16(c)のB8-B8線断面図である。 第6の実施形態における積層型電子部品を示すもので、(a)は分解斜視図、(b)は斜視図、(c)は第1の面側からみた平面図である。 第6の実施形態における積層型電子部品を第1の面側からみた、各部の寸法を示す平面図である。 第6の実施形態における積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示すもので、(a)は図19(c)のA9-A9線断面図、(b)は図19(c)のB9-B9線断面図である。 従来の積層型電子部品を示すもので、(a)は斜視図、(b)は座標軸のz軸方向からみた平面図、(c)は積層型電子部品を基板実装した実装構造体を示す、(b)のA10-A10線断面図である。 音圧レベルの測定装置の概略図である。 従来の積層セラミックコンデンサの音鳴りの音圧レベルを示すグラフであって、(a)は実測した音圧レベルを示すグラフ、(b)はシミュレーションにより得られた音圧レベル示すグラフである。 従来の積層セラミックコンデンサ単体に4VのDCバイアスを印加した場合のインピーダンス測定結果を示すグラフである。 従来の積層セラミックコンデンサのインピーダンス解析に使用した有限要素法のモデルの模式図である。 従来の積層セラミックコンデンサ単体の、10kHzにおける振動モードの計算結果を示す斜視図であって、(a)は対称面側からみた図、(b)は表面側からみた図である。 従来の積層セラミックコンデンサにおける振動モードの節状部を模式的に示す斜視図である。
 積層型電子部品およびその実装構造体について、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、各図面においては、同じ部材、部分に関しては共通の符号を用い、重複する説明は省略する。また、各図には、説明を容易にするためにxyzの座標軸を付した。
 (第1の実施形態)
 第1の実施形態である積層型電子部品は、図1(a)~(c)に示すように積層体2と、その両端部の外表面に設けられた外部電極3とを備える本体1に、さらに第1の接合部材4および第2の接合部材5を備えている。積層体2は、図2に示すように、誘電体層6と内部電極層7とが交互に積層されたものである。内部電極層7は、積層体2の両端部のいずれか一方において外部電極3と電気的に接続している。内部電極層7は、1層毎に異なる外部電極3に電気的に接続しており、外部電極3に電圧が印加されることにより、異なる外部電極3に接続した一対の内部電極層7に挟まれた誘電体層6において静電容量が発生する。以下、特に明記しない限り誘電体層6および内部電極層7の積層方向(以下、単に積層方向という場合もある)は、座標軸のz軸方向と一致するものとする。
 本体1は、従来の積層型電子部品と同様に直方体状をなしており、積層方向に対向して位置する一対の第1の面8及び第2の面9と、4つの側面とを有している。なお、本体1を第1の面8側からみたとき、矩形状の積層体2の面とその両端部に設けられた外部電極3の面とがあり、外部電極3はy軸方向において積層体2より外側に突出しているが、その突出量は積層体2のy軸方向の幅に対して充分に小さい。また、z軸方向についても同様である。そのため、このような形状を有する本体1は直方体状をしたものとみなすものとする。
 第1の接合部材4および第2の接合部材5は、本体1の第1の面8側に設けられている。図1(c)は、本実施形態の積層型電子部品を第1の面8側からみた平面図である。
 図2は、基板21に実装した本実施形態の積層型電子部品を示すもので、図1(c)のA1-A1線断面図である。積層体2は、図2に示すように、誘電体層6と内部電極層7とが交互に積層されている。なお、図2に示した誘電体層6および内部電極層7の構造は模式的なものであり、実際には数層~数百層の誘電体層6と内部電極層7とが積層されたものが多く用いられる。これは、後述する他の例についても同様である。
 ここで、図1(c)に示すように、第1の接合部材4は、第1の面8を構成する第1の辺11とそれに隣接する2つの面にかけて設けられ、第1の辺11の中央11cを含み、本体1の頂点Vを含まない部位に位置している。第2の接合部材5は、第1の面8を構成する第2の辺12とそれに隣接する2つの面にかけて設けられ、第2の辺12の中央12cを含み、本体1の頂点Vを含まない部位に位置している。そして、本体1の第1の面8を構成する他の辺である第3の辺13には、接合部材を備えていない。なお、第1の辺11の中央11cとは、第1の辺11の長さを2等分する2等分点であり、第2の辺12の中央12cとは、第2の辺12の長さを2等分する2等分点である。
 本実施形態においては、第1の辺11および第2の辺12は互いに対向している。図3に示すように、第1の辺11の長さをE1、第2の辺12の長さをE2、第3の辺13の長さをE3としたとき、E1<E3かつE2<E3である。なお、E1、E2、E3はいずれも外部電極3を含む本体1の長さである。
 また、図3に示すように、L1は、第1の辺11の長さ方向における第1の接合部材4の長さであり、L2は、第2の辺12の長さ方向における第2の接合部材5の長さである。P1は、第1の面8において、第1の辺11から第1の面8の中央側に延設された第1の接合部材4の第1の辺11に垂直な方向の長さである。P2は、第1の面8において、第2の辺12から第1の面8の中央側に延設された第2の接合部材5の第2の辺12に垂直な方向の長さである。
 また、図2に示すように、H0は積層方向における本体1の高さ、H1は、第1の面8に隣接する本体1の側面上における、第1の接合部材4の積層方向の長さである。H2は、第1の面8に隣接する本体1の側面上における、第2の接合部材5の積層方向の長さである。Cは、基板21の実装面と、本体1との間隔である。
 本実施形態においては、図1~3に示すように、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、それぞれ異なる外部電極3の表面に形成されており、電気伝導性を有する。第1の接合部材4および第2の接合部材5の材料としては、たとえば共晶半田、鉛フリー半田(Sn-Ag-Cu)などのろう材、導電性接着剤などを用いることができる。
 (変形例)
 第1の実施形態の変形例として、第1の接合部材4および第2の接合部材5をそれぞれ、第1の辺11および第2の辺12から離間して、第1の面8上にのみ配置したものを図4に示す(変形例1)。図4(b)は、変形例1の積層型電子部品を第1の面8側からみた平面図である。
 図5は、基板21に実装した変形例1の積層型電子部品を示すもので、図4(b)のA2-A2線断面図である。
 ここで、図4(b)に示すように、第1の接合部材4は、第1の面8上であって、第1の辺11に隣接する領域に設けられている。第2の接合部材5は、第1の面8上であって、第2の辺12に隣接する領域に設けられている。そして、第1の面8を構成する他の辺である第3の辺13に隣接する領域には、接合部材を備えていない。第1の面8上における第1の辺11、第2の辺12および第3の辺13にそれぞれ隣接する領域の範囲については、後述する。
 なお、図4、5では、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、それぞれ第1の辺11および第2の辺12から離間しているものとしたが、それぞれ第1の辺11および第2の辺12に接していてもよい。
 第1の接合部材4および第2の接合部材5を、本体1に形成するには、たとえば半田ペーストを本体1の所定の部分に印刷し、半田の溶融温度で熱処理した後冷却すればよい。また、半田ボールを本体1の所定の部分にフラックスや低融点半田などを用いて接着してもよい。本明細書では、第1の接合部材4および第2の接合部材5として本体1に接着する固形の半田を、その形状に関わらず便宜的に固形半田という。また、接合部材の形成に導電性ペーストを用いる場合は、スクリーン印刷などにより本体1に印刷し、乾燥や熱処理することで、第1の接合部材4および第2の接合部材5を形成することができる。
 本実施形態の積層型電子部品の実装構造体においては、図2、図5に示すように、本体1と、基板21上のランドパターン22とが、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して接合されている。本実施形態においては、本体1の第1の面8と基板21の実装面とが対向している。本実施形態における第1の接合部材4および第2の接合部材5は、本体1を基板21に接合する役割とともに、本体1の外部電極3と基板21の回路(図示せず)とを電気的に接続する役割も担っている。
 積層型電子部品を基板21に実装する際には、第1の接合部材4および第2の接合部材5により基板21のランドパターン22に直接接合すればよい。基板21のランドパターン22上に半田等の導電性材料を塗布し、それを介して積層型電子部品を基板21に実装してもよい。この場合、第1の接合部材4および第2の接合部材5と、ランドパターン22との間には、ランドパターン22上に塗布した半田等の導電層23が形成される。導電層23は、第1の接合部材4および第2の接合部材5に接する、または第1の接合部材4、第2の接合部材5を覆うように形成されている。導電層23と本体1とは、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して接合し、導電層23と本体1とが直接接していないことが好ましい。導電層23と本体1とは、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して接合することで、本体1を、基板21のランドパターン22に、第1の接合部材4および第2の接合部材5が配置された部位において接合することができる。このように基板21に導電性材料を塗布して積層型電子部品を実装する場合、使用する導電性材料は、第1の接合部材4および第2の接合部材5と同種の材料であることが好ましいが、第1の接合部材4および第2の接合部材5との濡れ性のよいものであれば特に制限はない。
 一方、従来の積層型電子部品は、図22(a)に示すように直方体状の積層体102と、その両端部の外表面に設けられた外部電極103と、を備えている。図22(b)は、図22(a)のz軸方向からみた平面図である。図22(c)は、基板21に実装した従来の積層型電子部品を示すもので、図22(b)のA10-A10線断面図である。
 積層体102は、図22(c)に示すように、誘電体層106と内部電極層107とが交互に積層されたものである。内部電極層107は、積層体102の両端部のいずれか一方において外部電極103と電気的に接続している。
 例えば積層型電子部品の一つである積層セラミックコンデンサは、誘電体層106としてチタン酸バリウムなどの強誘電性を有する材料を用い、内部電極層107としてNiなどの金属材料を用いている。外部電極103は、通常、下地電極としてCuペーストを焼き付け、その表面にNiおよびSnめっきを施したものを用いている。
 従来の積層型電子部品においては、図22(c)に示すように、外部電極103と、基板21上のランドパターン22とが、半田114を介して電気的に接続された状態で固定される。半田114は、外部電極103とランドパターン22の間の隙間を埋めるとともに、積層体102の端部である、側面および上下面の一部を被覆する外部電極103とをさらに被覆している。すなわち、積層型電子部品の頂点Vにも半田114が設けられている。
 このような状態で実装された積層セラミックコンデンサに、直流電圧(DCバイアス)とともに交流電圧が印加されると、直流電圧による電歪効果のため誘電体層に圧電的な性質が生じ、交流電圧により圧電振動が発生する。さらに、積層セラミックコンデンサの圧電振動が半田114を介して基板21に伝わって基板21が振動し、基板21が可聴域の共振周波数で共振した際に「音鳴り」と呼ばれる振動音が発生する。
 一例として、従来の積層型電子部品である積層セラミックコンデンサを基板21に実装したときの音鳴りを測定した。測定には、積層セラミックコンデンサとして1005型の積層セラミックコンデンサ(容量10μF、定格電圧4V、以下、評価部品ともいう)、基板21として100×40mm、厚さ0.8mmのFR4(Flame Retardant Type 4)材からなるガラスエポキシ基板を用いた。積層セラミックコンデンサは、Sn-Ag-Cu(SAC)系の半田を用いて基板21の中央に実装した。評価部品を基板21に実装した後、実装状態をマイクロスコープにて観察し、半田114のフィレット高さが460μmであり、基板21と評価部品との間隔Cが45μmであることを確認した。
 音鳴りの測定は、図23に示すような音圧レベルの測定装置を用いて行った。評価部品を基板21に実装した実装基板31(以下、単に実装基板ともいう)を、無響箱32(内寸600×700mm、高さ600mm)内に設置し、基板21の中央から基板21に垂直な方向に3mm離間した位置に集音マイク33を設置した。集音マイク33により音鳴りを集音し、アンプ34およびFETアナライザ35(小野測器製 DS2100)で、集音された音の音圧レベルを測定した。積層セラミックコンデンサに対して4Vの直流電圧(DCバイアス)および20Hz~20kHz、1Vp-pの交流電圧を印加した際の音鳴り測定結果を図24(a)に示す。
 なお、図24(a)においては、音圧レベルをA特性音圧レベル(dBA)で示している。A特性音圧レベルの0dBAは、人間が音として聞こえる最低の音圧レベルに相当する。A特性音圧レベルは人間の聴覚に近くなるように周波数毎に重み付けされた音圧レベルであり、サウンドレベルメータ(騒音計)の規格(JISC1509-1:2005)に記載されている。
 次に、従来の積層セラミックコンデンサの圧電振動についてシミュレーションを行った。まず、評価部品に、4Vの直流電圧(DCバイアス)を印加した状態でインピーダンスを測定した。測定結果を図25に示す。
 また、評価部品に基くモデル(誘電体材料:チタン酸バリウム系材料、内部電極:Ni、外部電極:Cu、積層体寸法:1100×620×620μm、外部電極厚み:20μm)を用いてインピーダンスのシミュレーションを行った。2GHz以上の周波数領域に存在する圧電共振ピークについて、測定した実測値に合致するように、評価部品の材料パラメータのフィッティングを行った。図26はインピーダンスのシミュレーションに使用した有限要素法のモデルを模式的に示したものである。これは、対称性を考慮した1/8モデルであり、図26の前面に現れている2つの断面および下側の断面は対称面である。
 フィッティングにより得られた誘電体層106のパラメータ(弾性スティフネスcijおよび圧電定数eij)を表1に示す。表1より、評価部品の誘電体層106の材料特性には異方性(c11>c33、c22>c33)があることがわかる。これは、内部電極層107による圧縮応力に起因するものと考えられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 得られた誘電体層106のパラメータと、測定に用いた実装基板31(フィレット高さ:460μm、基板と評価部品との間隔:45μm)に基いて、実装構造体のモデルを作成し、シミュレーションを行った。図24(b)は、シミュレーションによって得られた実装基板31の振動振幅を、A特性音圧レベルに換算した結果を示すグラフである。音鳴りの周波数特性は、評価部品の振動特性と実装基板31の共振モードに依存することから、図24(b)に示すシミュレーションの結果は、特に音圧の高い10kHz以下の低周波数領域において、音圧レベル、周波数特性のいずれも図24(a)に示す実測値とよく一致していた。したがって、このパラメータを用いてシミュレーションを行うことで、実装構造を変化させたときの音鳴りに対する、実装構造の影響が確認できる。
 また、得られたパラメータを用いて、評価部品の可聴周波数領域(20Hz~20kHz)における振動モードを、上述の1/8モデルを用いて計算した。10kHzにおける計算結果を図26に示す。なお、図27(a)は、1/8モデルの内部側(対称面側)からみたものであり、図27(b)は、図27(a)の反対側、すなわち1/8モデルの外部側(表面側)からみたものである。ここで、破線は交流電圧を印加していない状態の評価部品の形状を示し、実線は交流電圧により最大に変位した状態の評価部品の形状を示している。この結果から、評価部品全体を模式的に表した図28に示すように、評価部品の積層方向に対向して位置する一対の面において、当該面を構成する各辺の中央に、振動振幅が小さい、すなわち振動の節ともいえる領域(以下、節状部という)24が存在することがわかる。本実施形態の本体1は、評価部品と同等であるため、このような節状部24は、評価部品と同様に本実施形態の本体1にも存在する。したがって、節状部24において、本体1を基板21に固定することで、基板21への本体1の圧電振動の伝播が抑制され、音鳴りを低減できると考えられる。
 本実施形態においては、本体1に存在するこのような節状部24に、第1の接合部材4および第2の接合部材5を設けたことから、本体1を節状部24において基板21に固定することが可能となる。また、第1の接合部材4および第2の接合部材5が第1の面8上にのみ設けられている変形例1の場合、積層型電子部品を基板21に接合したときに、基板21上における接合材料(第1の接合部材4、第2の接合部材5および接合に用いた半田等)のはみ出しが低減され、積層型電子部品の実装密度向上が可能となる。
 第1の実施形態および変形例1の以下のようなモデルを用いて、音鳴りのシミュレーションを行った。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、L1、L2をいずれも310μm、P1、P2をいずれも142μmとした。第1の実施形態におけるH1、H2はいずれも78μmとした。また、実装構造体におけるCは140μmとした。本体1に関わる他の条件は、前述の評価部品における音鳴りのシミュレーションと同様とした。
 得られた結果を5Hz~20kHzの周波数領域にわたって平均すると、本実施形態における音圧レベルの平均値は、前述の評価部品の場合、すなわち従来の実装構造に対して第1の実施形態では13dBA低減され、変形例1では15dBA低減された結果となった。
 なお、本実施形態の上述したシミュレーションでは、L1およびL2(310μm)を、それぞれE1およびE2(620μm)に対する比(L1/E1、L2/E2)にして0.5としたが、これを0.8としても音圧レベルは従来よりも10dBA程度低減することができる。また、L1/E1およびL2/E2は、実装性という点から0.4以上であることが好ましい。
 さらに、評価部品の振動モード解析の結果によれば、評価部品を構成する各面の中央近傍および側面同士が接する辺の中央近傍では振動振幅が大きい。したがって、本体1の各面の中央近傍および側面同士が接する辺の中央近傍には第1の接合部材4および第2の接合部材5を設けないことが好ましい。具体的には、H0に対するH1の比(H1/H0)、およびH0に対するH2の比(H2/H0)は、いずれも0.4以下であることが好ましい。また、P1、P2は、いずれもE3に対する比率(P1/E3、P2/E3)にして0.25以下であることが好ましい。
 本実施形態において、前述した第1の面8上における第1の辺11、第2の辺12および第3の辺13にそれぞれ隣接する領域の範囲について説明する。第1の辺に隣接する領域とは、第1の辺11からの距離がE3の0.25倍以下の領域とする。同様に、第2の辺12に隣接する領域とは、第2の辺12からの距離がE3の0.25倍以下の領域とする。第3の辺13に隣接する領域とは、第3の辺13からの距離がE1またはE2の0.1倍未満の領域とする。そして、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、それぞれこのような第1の辺11に隣接する領域および第2の辺12に隣接する領域内であって、第3の辺13に隣接する領域を含まない部位に設けられている。したがって、本実施形態においては、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、本体1の第1の面8の中央には存在しない。
 なお、本実施形態の実装構造体においては、本体1は基板21の実装面に直接接触していない。特に、本体1と基板21の実装面との間隔であるCのH0に対する比(C/H0)は、0.1以上であることが好ましい。
 また、本実施形態の実装構造体として、本体1に第1の接合部材4および第2の接合部材5を備えた積層型電子部品を基板21に実装したものとして説明したが、本体1に第1の接合部材4および第2の接合部材5や他の接合部材を備えていない場合であっても、基板21に実装された本体1が、上述の第1の接合部材4および第2の接合部材5が設けられるべき部位において基板21に接合されているものであれば、本実施形態の実装構造体に含まれる。この場合、本体1を基板21に接合する半田等の導電層23が第1の接合部材4および第2の接合部材5に相当する。
 本実施形態では、たとえばチタン酸バリウム系などの強誘電体材料を誘電体層に用い、Ni、Cu、Ag、Ag-Pdなどの金属材料を内部電極層に用いた積層セラミックコンデンサを本体1とした場合に、特に好適に用いられる。他の積層型電子部品を本体1とした場合においても、積層型電子部品自体の圧電振動による、積層型電子部品が実装されている基板21等の可聴域における励振を抑制する必要がある場合などに適用できる。本実施形態は、特に、1005型以上の型式の積層型電子部品において顕著な効果を発揮できる。
 このように、本実施形態における本体1の形態は、本質的に従来の積層型電子部品と同等であり、大きく設計を変える必要がない。したがって、本実施形態は、既存の種々の積層型電子部品に適用可能である。また、基板に実装するために特別なジグを必要としないという利点もある。
 なお、本実施形態では本体1の一例として、長手方向の両端に外部電極3を有する一般的な構造の積層セラミックコンデンサを説明したが、それ以外に薄型のものや、いわゆるLW逆転型、多端子型等、種々の構造を有する積層型電子部品を本体1として適用可能である。LW逆転型、多端子型等に適用する場合は、後述するように絶縁性を有する第1の接合部材4および第2の接合部材5を用いることが好ましい。
 さらに、例えば、多くの積層セラミックコンデンサには外部電極3として、Cuからなる下地電極にNiおよびSnめっきを施したものが用いられているが、下地電極を用いずめっき電極のみで構成された外部電極3を有するものにも好適に適用できる。下地電極を有する外部電極3を基板21のランドパターン22に半田等を介して直接接合した場合、Cuからなる下地電極は比較的柔らかいため、下地電極が積層体2の圧電振動をある程度吸収して減衰させ、音鳴りが抑制される。一方、外部電極3がめっき電極のみで構成される場合、積層体2の圧電振動が外部電極3で減衰されず、音鳴りが顕著になる。したがって、めっき電極のみで構成された外部電極3を有するものに本実施形態を適用すると、より大きな音鳴り抑制効果が得られる。
 また、外部電極3のSnめっきは、積層型電子部品を基板21に実装する時に、外部電極3と半田との濡れ性を向上させる役割を持つが、本実施形態においては本体1が第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して基板21のランドパターン22と接合されるため、外部電極3としてSnめっきのないものを用いることもできる。また、第1の接合部材4および第2の接合部材5を形成した後、外部電極3の露出部にたとえば酸化膜を形成するなどして、外部電極3の露出部を半田に濡れにくくする処理を行ってもよい。
 なお、本実施形態の積層型電子部品は、第1の接合部材4および第2の接合部材5を、本体1の第1の面8側だけでなく、第1の面8とは反対側の第2の面9側にも備えることができる。換言すれば、積層方向に対向して位置する一対の第1の面8および第2の面9の両方が第1の辺11、第2の辺12および第3の辺13により構成されるものとして、本体1に第1の接合部材4および第2の接合部材5をそれぞれ複数設けることができる。
 また、第1の接合部材4および第2の接合部材5はそのいずれか一方、または両方が絶縁性を有するものとすることもできる。その場合、外部電極3はワイヤーボンディング等により基板21の電気回路に電気的に接続すればよい。絶縁性の材料としては、たとえばエチレン酢酸ビニル(EVA)やポリプロピレン(PP)などの熱可塑性樹脂が好適である。
 (第2の実施形態)
 第2の実施形態においては、第1の実施形態と同様、第1の接合部材4および第2の接合部材5が、本体1の第1の面8側に設けられている。第1の実施形態と異なるのは、図6(c)に示すように、第1の接合部材4が設けられた第1の辺11の長さE1、第2の接合部材5が設けられた第2の辺12の長さE2および接合部材が設けられていない第3の辺13の長さE3において、E3<E1かつE3<E2という関係式を満たしているという点である。図7は、基板21に実装した本実施形態の積層型電子部品を示し、図7(a)は図6(b)のA3-A3線断面図、図7(b)は図6(b)のB3-B3線断面図である。
 また、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、積層体2の表面に外部電極3から離間して形成されており、いずれも電気伝導性を有する。積層体2の表面にはさらに一対の導電体25が形成されており、一方の導電体25は第1の接合部材4と一方の外部電極3とを電気的に接合し、他方の導電体25は第2の接合部材5と他方の外部電極3とを電気的に接合している。導電体25は、たとえばめっき、導電性ペーストなどにより形成される。
 第1の接合部材4および第2の接合部材5の材料としては、第1の実施形態と同様、たとえば共晶半田、鉛フリー半田(Sn-Ag-Cu)などのろう材、導電性接着剤などを用いることができる。
 (変形例)
 第2の実施形態の変形例として、第1の接合部材4および第2の接合部材5をそれぞれ、第1の辺11および第2の辺12から離間して、第1の面8上にのみ配置したものを図8に示す(変形例2)。図8(b)は、変形例2の積層型電子部品を第1の面8側からみた平面図である。
 図9は、基板21に実装した変形例2の積層型電子部品を示すもので、図9(a)は図8(b)のA4-A4線断面図、図9(b)は図8(b)のB4-B4線断面図である。
 なお、図8、9では、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、それぞれ第1の辺11および第2の辺12から離間しているものとしたが、それぞれ第1の辺11および第2の辺12に接していてもよい。
 本実施形態の積層型電子部品の実装構造体は、第1の実施形態と同様、図7に示すように、本体1と、基板21上のランドパターン22とが、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して、第1の面8と基板21の実装面とが対向するように接合されている。本実施形態においても、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、本体1を基板21に接合する役割とともに、本体1の外部電極3と基板21の回路(図示せず)とを電気的に接続する役割をも担っている。
 第2の実施形態およびその変形例についても、以下のようなモデルを用いて、音鳴りのシミュレーションを行った。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、L1、L2をいずれも220μm、P1、P2をいずれも142μmとした。第2の実施形態におけるH1、H2をいずれも78μmとした。また、本実施形態の実装構造体におけるCは140μmとした。本体1に関わる他の条件は、前述の評価部品の音鳴りシミュレーションと同様とした。
 得られた結果を5Hz~20kHzの周波数領域にわたって平均すると、本実施形態における音圧レベルの平均値は、従来の実装構造に対して第2の実施形態では20dBA低減され、変形例2では22dBA低減された結果となった。
 本実施形態においては、第1の実施形態のシミュレーション結果よりも音鳴り低減効果が大きい結果となった。これは、第1の接合部材4と第2の接合部材5との距離が第1の実施形態の場合よりも小さいため、本体1の第1の接合部材4および第2の接合部材5が設けられた部位における振動変位の差が、第1の実施形態の場合よりも小さくなった結果、基板21への本体1の圧電振動の伝播がより抑制されたためと考えられる。
 なお、このシミュレーションではL1、L2(220μm)をE1、E2(1100μm)に対する比(L1/E1、L2/E2)にして0.2としたが、これを0.5としても音圧レベルは従来よりも10dBA程度低減することができる。また、L1/E1およびL2/E2が小さくなるほど、実装時に本体1の基板21に対する傾きが発生しやすい。したがって、L1/E1およびL2/E2は0.1~0.5、さらには0.4~0.5とすることが、実装性という点からも好ましい。
 また、本実施形態では、第1の面8側における第1の接合部材4および第2の接合部材5の厚さT1が重要である。外部電極3は通常、積層体2を構成する各面よりも積層体2の外側に突出している。したがって、第1の面8側において、外部電極3の突出部分の厚さT0よりも、第1の接合部材4および第2の接合部材5の厚さT1を厚くすることが好ましい。これにより、積層型電子部品を基板21に実装する際に、本体1の外部電極3と基板21の実装面とが接触して、本体1の圧電振動が外部電極3を介して基板21へ伝播することを、より確実に抑制することができる。
 なお、H1、H2、P1、P2、およびCについては、第1の実施形態と同様な範囲とすることが好ましい。
 本実施形態においては、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、積層体2の表面に外部電極3から離間して形成され、それぞれ異なる外部電極3に、導電体25によって電気的に接合されるものとしたが、第1の接合部材4および第2の接合部材5がそれぞれ異なる外部電極3に直接接続し、他方の外部電極3とのみ離間したものとしてもよい。
 (第3の実施形態)
 第3の実施形態について説明する。第3の実施形態は、第1の実施形態と同様の直方体形状の本体1を有しており、図10、11に示すように、誘電体層6および内部電極層7の積層方向に垂直な方向に対向して位置する一対の第1の側面10および第2の側面(図示せず)を有しており、第1の側面10を構成する辺が、第1の辺11、該第1の辺11と対向する第2の辺16、および第1の辺11および第2の辺16に隣接する一対の第3の辺17を含んでいる。
 そして、第1の接合部材4および第2の接合部材5が、第1の辺11と第2の辺16を構成要素とする第1の側面10にそれぞれ設けられていている。第1の辺11は第1の側面10と第1の面8とが接する辺であり、第2の辺16は第1の側面10と第2の面9とが接する辺であり、第3の辺17は第1の側面10と他の側面とが接する辺である。また、第3の実施形態では、第1の面8における第1の辺11に隣接する辺を第4の辺14とする。なお、第2の面9における第2の辺16に隣接する辺を第4の辺14とすることもできる。
 このような積層型電子部品は、図11に示すように本体1と、基板21上のランドパターン22とが、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して、第1の側面10と基板21の実装面とが対向するように接合される。なお、図11は、基板21に実装した第3の実施形態の積層型電子部品を示し、図11(a)は図10(b)のA5-A5線断面図、図11(b)は図10(b)のB5-B5線断面図である。図11において、積層方向は座標軸のy軸方向と一致している。
 第3の実施形態では、E1、L1、L2、およびCは他の実施例と同様だが、E2、E3、P1、P2、H0、H1、H2の定義が他の実施例とは異なる。すなわち、第3の実施形態では、図10(c)示すように、E2は第2の辺16の長さであり、E3は第3の辺17の長さであり、P1は、第1の側面10において、第1の辺11から第1の側面10の中央側に延設された第1の接合部材4の第1の辺11に垂直な方向の長さである。P2は、第1の側面10において、第2の辺16から第1の側面10の中央側に延設された第2の接合部材5の第2の辺16に垂直な方向の長さである。また、図11に示すように、H0は第4の辺14の長さ、換言すれば座標軸のz軸方向における本体1の高さである。H1は、第1の側面10に隣接する第1の面8上における第1の接合部材4のz軸方向の長さであり、H2は、第1の側面10に隣接する第2の面9上における第2の接合部材5のz軸方向の長さである。
 第3の実施形態について以下のようなモデルを用いて、音鳴りのシミュレーションを行った。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、L1、L2をいずれも200μm、H1、H2をいずれも78μm、P1、P2をいずれも140μmとした。また、第3の実施形態の実装構造体におけるCは140μmとした。本体1に関わる他の条件は、前述の評価部品の音鳴りシミュレーションと同様とした。
 得られた結果を5Hz~20kHzの周波数領域にわたって平均すると、第3の実施形態における音圧レベルの平均値は、従来の実装構造に対して20dBA低減された結果となった。
 なお、このシミュレーションではL1、L2(200μm)をE1、E2(1100μm)に対する比(L1/E1、L2/E2)にして0.18としたが、これを0.5としても音圧レベルは従来よりも10dBA低減することができる。
 第3の実施形態において、導電体25は、前述の第1の接合部材4や第2の接合部材5を設けることが可能な領域に配置すればよい。
 第3の実施形態を適用可能な積層型電子部品の形態、材料については、他の実施形態と同様であることから、さらなる説明は省略する。また、第3の実施形態においても、第1の実施形態と同様に、第1の接合部材4および第2の接合部材5を、本体1の第1の側面10だけでなく、第1の側面10とは反対側の第2の側面にも備えることができる。
 さらに、第1の接合部材4および第2の接合部材5はそのいずれか一方、または両方が絶縁性を有するものとすることもできる。その場合、外部電極3はワイヤーボンディング等により基板の電気回路に電気的に接続すればよい。
 (第4の実施形態)
 第4の実施形態においては、図12に示すように、第1、第2の実施形態と同様、第1の接合部材4および第2の接合部材5が、本体1の第1の面8側に設けられている。第1、第2の実施形態と異なるのは、図12に示すように、第2の辺12が、第1の辺11に隣接するとともに互いに対向する一対の辺であり、一対の第2の辺12に設けられた一対の第2の接合部材5が、一対の第2の辺12の互いに対向する部位に位置しているという点である。本実施形態では、図12(c)に示すように、第1の辺11の長さE1、第2の辺12の長さE2および第3の辺13の長さE3において、E1<E2かつE3<E2の関係式を満たしている。図13は、基板21に実装した本実施形態の積層型電子部品を示すもので、図13(a)は図12(b)のA6-C6-D6-A6’線断面図、図13(b)は図12(b)のB6-B6線断面図である。
 第1の接合部材4は第1の辺11側に位置する外部電極3の表面に形成されている。一対の第2の接合部材5は、いずれも積層体2の表面に外部電極3から離間して形成されている。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、いずれも電気伝導性を有している。一対の第2の接合部材5は、第3の辺13側に位置する外部電極3に、導電体25によって電気的に接続されている。導電体25は、たとえばめっき、導電性ペーストなどにより形成される。
 第1の接合部材4および第2の接合部材5の材料としては、第1、第2の実施形態と同様、たとえば共晶半田、鉛フリー半田(Sn-Ag-Cu)などのろう材、導電性接着剤などを用いることができる。
 (変形例)
 第4の実施形態の変形例として、第1の接合部材4および第2の接合部材5をそれぞれ、第1の辺11および第2の辺12から離間して、第1の面8上にのみ配置したものを図14に示す(変形例4)。図14(b)は、本実施形態の積層型電子部品を第1の主面8側からみた平面図である。
 図15は、基板21に実装した変形例4の積層型電子部品を示し、図15(a)は図14(b)のA7-C7-D7-A7’線断面図、図15(b)は図14(b)のB7-B7線断面図である。
 なお、図14、15では、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、それぞれ第1の辺11および第2の辺12から離間しているものとしたが、それぞれ第1の辺11および第2の辺12に接していてもよい。
 本実施形態の積層型電子部品の実装構造体は、図13に示すように、本体1と、基板21上のランドパターン22とが、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して、第1の面8と基板21の実装面とが対向するように接合されている。本実施形態においても、第1の接合部材4および第2の接合部材5は、本体1を基板21に接合する役割とともに、本体1の外部電極3と基板21の回路(図示せず)とを電気的に接続する役割をも担っている。
 第4の実施形態およびその変形例について以下のようなモデルを用いて、音鳴りのシミュレーションを行った。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、L1、L2をそれぞれ310μm、142μmとし、P1、P2をいずれも142μmとした。第4の実施形態における第1の接合部材4のH1は78μmとした。また、実装構造体におけるCは140μmとした。本体1に関わる他の条件は、前述の評価部品の音鳴りシミュレーションと同様とした。
 得られた結果を5Hz~20kHzの周波数領域にわたって平均すると、本実施形態における音圧レベルの平均値は、従来の実装構造に対して第4の実施形態では24dBA低減され、その変形例では26dBA低減された結果となった。
 なお、このシミュレーションではL1を310μmとし、E1(620μm)に対する比(L1/E1)にして0.5としたが、これを0.8としても音圧レベルは従来よりも10dBA程度低減することができる。また、L1/E1は、実装性という点から0.4以上であることが好ましい。また、L2を142μmとし、E2(1100μm)に対する比(L2/E2)にして0.13としたが、これを0.2としても音圧レベルは従来よりも10dBA低減することができる。
 なお、H1、H2、P1、P2、およびCについては、第1、第2の実施形態と同様な範囲とすることが好ましい。
 また、本実施形態の第2の接合部材5の厚さT1については、第2の実施形態と同様、外部電極3の突出部分の第1の主面8からの高さT0よりも厚くすることが好ましい。
 なお、H1、H2、Cについては、第1、第2の実施形態と同様な範囲とすることが好ましい。
 本実施形態においては、一対の第2の接合部材5が、積層体2の表面に外部電極3から離間して形成され、いずれも第3の辺13側に位置する外部電極3に、導電体25によって電気的に接続されるものとしたが、第3の辺13側に位置する外部電極3に一対の第2の接合部材5のうち一方のみが電気的に接続され、他方は接続されていなくてもよい。また、一対の第2の接合部材5が第3の辺13側に位置する外部電極3に直接接続し、第1の辺11側に位置する外部電極3とのみ離間したものとしてもよい。
 さらにまた、第1の接合部材4は本体1と基板21とを固定する役割のみを担うものとし、一対の第2の接合部材5をそれぞれ異なる外部電極3に電気的に接続することにより、一対の第2の接合部材5のみを介して本体1を基板21の電気回路に接続してもよい。
 本実施形態を適用可能な積層型電子部品の形態、材料については、第1、第2の実施形態と同様であることから、さらなる説明は省略する。また、本実施形態においても、第1、第2の実施形態と同様に、第1の接合部材4および第2の接合部材5を、本体1の第1の面8側だけでなく、第1の面8とは反対側の第2の面9側にも備えることもできる。
 さらに、第1の接合部材4および第2の接合部材5はそのいずれか一方、または両方が絶縁性を有するものとすることもできる。その場合、外部電極3はワイヤーボンディング等により基板の電気回路に電気的に接続すればよい。
 (第5の実施形態)
 第5の実施形態においては、図16(c)に示すように、第1の接合部材4のみが本体1の第1の面8側に設けられている。第1の接合部材4は、第1の面8を構成する互いに対向する二対の辺のうち、いずれか一対である第1の辺11の中央11cを結ぶ線15上であって、第1の面8の中心8cを含む領域に、線15に沿った細長い形状を有するように設けられている。なお、第1の辺11の中央11cとは、第1の辺11の長さを2等分する2等分点であり、第1の面8の中心8cとは、第1の面8の面重心である。
 本実施形態においては、図17に示すように、第1の辺11の長さをE1、本体1の第1の面8側において第1の辺11に隣接する他の一対の辺の長さをE2としたとき、E2<E1である。なお、E1、およびE2はいずれも外部電極3を含む本体1の長さである。
 なお、図17に示すように、L1は第1の辺11の長さ方向における第1の接合部材4の長さ、P1は線15上における第1の接合部材4の長さである。また、本実施形態の実装構造体の断面図である図18に示すように、H0は積層方向における本体1の高さ、Cは、基板21の実装面と、本体1との間隔である。
 第1の接合部材4は積層体2の表面に外部電極3から離間して形成されている。第1の接合部材4は、電気伝導性を有するとともに、外部電極3の一方と導電体25によって電気的に接続されている。第1の接合部材4の材料としては、第1~第3の実施形態と同様、たとえば共晶半田、鉛フリー半田(Sn-Ag-Cu)などのろう材、導電性接着剤などを用いることができる。
 本実施形態の積層型電子部品の実装構造体について説明する。本実施形態の積層型電子部品の実装構造体においては、図18に示すように、本体1と、基板21上のランドパターン22とが、第1の接合部材4を介して、第1の面8と基板21の実装面とが対向するように接合されている。第1の接合部材4は、本体1を基板21に接合する役割とともに、本体1の外部電極3の一方と基板21の電気回路(図示せず)とを電気的に接続する役割も担っている。本実施形態においては、外部電極3の他方(第1の接合部材4と電気的に接続していない方)は、たとえばワイヤーボンディング等により基板21の電気回路に電気的に接続される。
 前述した従来の積層型電子部品(評価部品)の振動モード解析の結果によれば、評価部品の積層方向に対向して位置する2つの面の中央部、すなわち第1の面8の中心8c近傍は、積層方向にのみ振動しており、積層の面方向には振動していない。したがって、積層方向の両端に位置する面(例えば第1の面8)において、互いに対向する一対の辺(第1の辺11)の中央(11c)、すなわち節状部24を結ぶ線15上であり、積層方向にのみ振動している当該面の中心(第1の面8の中心8c)を含む領域において、本体1を基板21に固定することにより、基板21への本体1の圧電振動の伝播が抑制され、音鳴りを低減できると考えられる。特に、積層方向に対向して位置する面を構成する2対の辺の長さが互いに異なる場合、長さが長い方の一対の辺の中央を結ぶ線は、長さが短い方の一対の辺の中央を結ぶ線よりも、線自体の長さが短く、線の中央部(第1の面の中心8c)と端部(11c、節状部24)との振動変位の差が小さい。したがって、長さが長い方の一対の辺の中央を結ぶ線上において、本体1を基板21に固定することで、より基板21への本体1の圧電振動の伝播が抑制され、音鳴りを低減できる。
 本実施形態においては、本体1に、このような積層方向にのみ振動する部位、すなわち第1の辺11の中央11cを結ぶ線15上であって、第1の面8の中心8cを含む領域に、第1の接合部材4を設けたことから、本体1を積層方向にのみ振動する部位において基板21に固定することが可能となる。
 第5の実施形態について以下のようなモデルを用いて、音鳴りのシミュレーションを行った。第1の接合部材4は、L1を200μm、P1を620μmとした。また、本実施形態の実装構造体におけるCは210μmとした。本体1に関わる他の条件は、前述の評価部品の音鳴りのシミュレーションと同様とした。得られた結果を5Hz~20kHzの周波数領域にわたって平均すると、本実施形態における音圧レベルの平均値は、前述の評価部品の場合、すなわち従来の実装構造に対して22dBA低減された結果となった。
 なお、このシミュレーションではL1(200μm)をE1(1100μm)に対する比(L1/E1)にして0.18としたが、これを0.45としても音圧レベルは従来よりも10dBA程度低減することができる。また、L1/E1が小さくなるほど実装時に本体1の基板21に対する傾きが発生しやすいため、L1/E1を0.10~0.45とすることが、実装性という点からも好ましい。P1は、E2に対する比(P1/E2)にして0.5以上とすることが実装性の点から好ましい。
 また、外部電極3が積層体2の第1の面8よりも積層方向の外側に突出している場合、その突出部分の第1の面8側における厚さT0よりも、第1の接合部材4の第1の面8側における厚さT1を厚くすることが好ましい。これにより、積層型電子部品を基板21に実装する際に、本体1の外部電極3と基板21の実装面とが接触して、本体1の圧電振動が外部電極3を介して基板21へ伝播することを抑制することができる。
 本実施形態の積層型電子部品では、第1の辺11の長さをE1とし、本体1の第1の面8側において第1の辺11に隣接する一対の辺の長さをE2として、E1がE2よりも長い(E2<E1)としたが、E1=E2、またはE1<E2であっても構わない。ただし、E1<E2の場合は第1の接合部材4が設けられる線15上において、本体1の振動変位の差が大きくなるため、音鳴りの低減効果は小さくなる。したがって、本体1の第1の面8側の2対の辺の長さが異なる場合は、長さが長い方の一対の辺を第1の辺11とすることが好ましい。
 本実施形態の実装構造体においては、基板21の実装面と、本体1の外部電極3との間隔であるCのH0に対する比(C/H0)は、0.1以上であることが好ましい。また、積層型電子部品の基板21への実装を容易にするとともに、実装信頼性を向上するという点から、CはL1と同程度とすることがさらに好ましい。
 本実施形態を適用可能な積層型電子部品の形態、材料については、第1~第3の実施形態と同様であることから、さらなる説明は省略する。また、本実施形態においても、第1の接合部材4を、本体1の第1の面8側だけでなく、第1の面8とは反対側の第2の面9側にも備えることができる。
 なお、第1の接合部材4は絶縁性を有するものとすることもできる。その場合、導電体25を設ける必要はなく、外部電極3はいずれもワイヤーボンディング等により基板21の電気回路に電気的に接続すればよい。また、第1の接合部材4と外部電極3とが、直接接触していても構わない。絶縁性の材料としては、たとえばエチレン酢酸ビニル(EVA)やポリプロピレン(PP)などの熱可塑性樹脂が好適である。
 (第6の実施形態)
 第6の実施形態においては、図19に示すように、第5の実施形態における第1の接合部材4に加え、第2の接合部材5が設けられている。第2の接合部材5は、本体1の第1の面8において第1の辺11に隣接する一対の辺のうち、いずれか一方である第2の辺12とそれに隣接する2つの面にかけて設けられている。第2の接合部材5は、第1の面8のみに設けられていてもよく、さらに第2の辺12から離間していてもよい。
 ここで、図20に示すように、L2は第2の辺12の長さ方向における第2の接合部材5の長さ、P2は本体1の第1の面8において、第2の辺12から第1の面8の中央側に延設された第2の接合部材5の、第2の辺12に垂直な方向の長さである。また、図21(a)に示すように、H2は第1の面8に隣接する本体1の側面上における、第2の接合部材5の積層方向の長さである。
 本実施形態において、第2の接合部材5は、第2の辺12側に位置する外部電極3の表面に形成されている。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、いずれも電気伝導性を有している。
 第1の接合部材4および第2の接合部材5の材料としては、第1~第4の実施形態と同様、たとえば共晶半田、鉛フリー半田(Sn-Ag-Cu)、導電性接着剤などを用いることができる。
 本実施形態の積層型電子部品の実装構造体は、図21に示すように、本体1と、基板21上のランドパターン22とが、第1の接合部材4および第2の接合部材5を介して接合され、第1の面8と基板21の実装面とが対向している。第1の接合部材4および第2の接合部材5は、本体1を基板21に接合する役割とともに、本体1の外部電極3と基板21の電気回路(図示せず)とを電気的に接続する役割も担っている。
 第6の実施形態について以下のようなモデルを用いて、音鳴りのシミュレーションを行った。第1の接合部材4は、L1を200μm、P1を620μmとし、第2の接合部材5は、L2を620μm、H2を0μm、P2を200μmとした。また、本実施形態の実装構造体におけるCは210μmとした。本体1に関わる他の条件は、前述の評価部品の音鳴りシミュレーションと同様とした。
 得られた結果を5Hz~20kHzの周波数領域にわたって平均すると、本実施形態における音圧レベルの平均値は、従来の実装構造に対して17dBA低減された結果となった。
 なお、このシミュレーションではL1(200μm)をE1(1100μm)に対する比(L1/E1)にして0.18としたが、0.10~0.43とすることが、実装性という点からも好ましい。また、第1の面8側からみた平面視において、第1の接合部材4の線15と平行な中心線(平面視において、第1の接合部材4の面重心を通る線、以下、第1の接合部材4の中心線ともいう)は、線15と一致していなくても構わない。第1の接合部材4の中心線と、線15とのずれが、E1の0.2倍程度であっても有意な音鳴り低減効果が得られる。
 また、L2(620μm)をE2(620μm)に対する比(L2/E2)にして1.0としたが、これを0.5とすると音圧レベルを従来よりも20dBA程度低減することができる。実装性の点から、L2/E2は0.4以上とすることが好ましい。なお、第2の接合部材5は、上述の節状部24、すなわち第2の辺12の中央12cを含む領域に位置するのがよい。
 また、評価部品の振動モード解析の結果によれば、評価部品を構成する各表面の中央近傍ではおよび側面同士が接する辺の中央近傍振動振幅が大きい。したがって、P2は、E1に対する比率(P1/E1)にして0.25以下であることが好ましい。また、H0に対するH2の比(H2/H0)は、0.4以下であることが好ましい。Cについては、第4の実施形態と同様な範囲とすることが好ましい。
 本実施形態を適用可能な積層型電子部品の形態、材料については、第1~第5の実施形態と同様であることから、さらなる説明は省略する。また、本実施形態においても、第1の接合部材4および第2の接合部材5を、本体1の第1の面8側だけでなく、第1の面8とは反対側の第2の面9側にも備えることができる。
 また、第1の接合部材4および第2の接合部材5はそのいずれか一方、または両方が絶縁性を有するものとすることもできる。その場合、外部電極3はワイヤーボンディング等により基板21の電気回路に電気的に接続すればよい。
 なお、第1~第6の実施形態では、第1の接合部材4および第2の接合部材5の形状を主として矩形状のものとし、その形状に基いて寸法や比率の好ましい範囲について述べてきたが、これは、第1の接合部材4および第2の接合部材5の形状を矩形状に限定するものではなく、他の様々な形状や不定形であっても構わない。また、上述のシミュレーションにより確認された、積層型電子部品の振動モードや節状部24に関する説明に基き、本発明の主旨から逸脱しない範囲において、種々の変更、変形が可能である。
1   本体
2、102  積層体
3、103  外部電極
4   第1の接合部材
5   第2の接合部材
6、106  誘電体層
7、107  内部電極層
8   第1の面
9   第2の面
10  第1の側面
11  第1の辺
11c 第1の辺の中央部
12、16  第2の辺
12c、16c  第2の辺の中央部
13、17  第3の辺
14  第4の辺
15  一対の第1の辺の中央を結ぶ線
21  基板
22  ランドパターン
23  導電層
24  節状部
25  導電体
31  実装基板
32  無響箱
33  集音マイク
34  アンプ
35  FETアナライザ
114 半田
V   本体の頂点

Claims (15)

  1.  誘電体層と内部電極層とが交互に積層された積層体と、該積層体の外表面に設けられ、前記内部電極層と電気的に接続された外部電極と、により構成される本体と、接合部材と、を備え、前記本体は直方体形状であり、前記誘電体層および前記内部電極層の積層方向に対向して位置する一対の第1の面および第2の面を有しており、前記接合部材は、前記第1の面を構成する4つの辺のうち少なくとも1つの辺の中央、および前記4つの辺のうち対向するいずれか一対の前記辺の中央を結ぶ線上のうち少なくともいずれかであって、かつ前記本体の頂点を含まない領域に位置していることを特徴とする積層型電子部品。
  2.  前記本体が、積層セラミックコンデンサであることを特徴とする請求項1に記載の積層型電子部品。
  3.  前記第1の面を構成する辺が、第1の辺、該第1の辺と対向する第2の辺、および前記第1の辺および前記第2の辺に隣接する第3の辺を含み、前記接合部材は、前記第1の辺、および前記第1の面における前記第1の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第1の接合部材と、前記第2の辺、および前記第1の面における前記第2の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第2の接合部材と、を有し、前記第1の面の中心、前記第3の辺、および前記第1の面における前記第3の辺に隣接する領域には前記接合部材を備えていないことを特徴とする請求項1または2に記載の積層型電子部品。
  4.  前記第1の辺の長さをE1、前記第2の辺の長さをE2、前記第3の辺の長さをE3としたとき、E1<E3かつE2<E3であることを特徴とする請求項3に記載の積層型電子部品。
  5.  前記第1の辺の長さをE1、前記第2の辺の長さをE2、前記第3の辺の長さをE3としたとき、E3<E1かつE3<E2であることを特徴とする請求項3に記載の積層型電子部品。
  6.  前記第1の面を構成する辺が、第1の辺、該第1の辺に隣接するとともに互いに対向する一対の第2の辺、および前記第1の辺と対向する第3の辺を含み、前記接合部材は、前記第1の辺、および前記第1の面における前記第1の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第1の接合部材と、前記一対の第2の辺、および前記第1の面における前記第2の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する一対の第2の接合部材と、を有し、該一対の第2の接合部材は対向する部位に位置しており、前記第1の面の中心、前記第3の辺、および前記第1の面における前記第3の辺に隣接する領域には前記接合部材を備えていないことを特徴とする請求項1または2に記載の積層型電子部品。
  7.  前記第1の面において互いに対向する2対の前記辺のうちいずれか一対を第1の辺とし、前記接合部材は、一対の前記第1の辺の中央を結ぶ線上であって、前記第1の面の中心を含む領域に、前記一対の第1の辺の中央を結ぶ線に沿った細長い第1の接合部材を有することを特徴とする請求項1または2に記載の積層型電子部品。
  8.  前記接合部材は、さらに第2の接合部材を有し、前記第1の面において前記第1の辺に隣接する他の一対の前記辺のうち、いずれか一方を第2の辺としたとき、前記第2の接合部材が、前記第2の辺、および前記第1の面における前記第2の辺に隣接する領域のうち少なくともいずれかに位置することを特徴とする請求項7に記載の積層型電子部品。
  9.  前記第1の辺の長さをE1、前記第1の面において前記第1の辺に隣接する他の一対の辺の長さをE2としたとき、E2<E1であることを特徴とする請求項7または8に記載の積層型電子部品。
  10.  誘電体層と内部電極層とが交互に積層された積層体と、該積層体の外表面に設けられ、前記内部電極層と電気的に接続された外部電極と、により構成される本体と、
    接合部材と、を備え、
     前記本体は直方体形状であり、前記誘電体層および前記内部電極層の積層方向に垂直な方向に対向して位置する一対の第1の側面および第2の側面を有しており、
    前記第1の側面を構成する辺が、第1の辺、該第1の辺と対向する第2の辺、および前記第1の辺および前記第2の辺に隣接する一対の第3の辺を含み、
    前記接合部材は、前記第1の辺、および前記第1の側面における前記第1の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第1の接合部材と、
    前記第2の辺、および前記第1の側面における前記第2の辺に隣接する領域のうち、少なくともいずれかに位置する第2の接合部材と、を有し、
    前記第1の側面の中心、前記一対の第3の辺および該第3の辺に隣接する領域には前記接合部材を備えていないことを特徴とする積層型電子部品。
  11.  前記第1の辺の長さをE1、前記第2の辺の長さをE2、前記第3の辺の長さをE3としたとき、E3<E1かつE3<E2であることを特徴とする請求項10に記載の積層型電子部品。
  12.  前記本体は、前記誘電体層および前記内部電極層の積層方向に対向して位置する一対の第1の面および第2の面を有しており、
     前記第1の辺の長さをE1、前記第2の辺の長さをE2とし、
    前記第1の面における前記第1の辺に隣接する辺を第4の辺とし、該第4の辺の長さをH0としたとき、H0<E1かつH0<E2であることを特徴とする請求項10または11に記載の積層型電子部品。
  13.  基板の実装面に請求項1乃至9のいずれかに記載の積層型電子部品の前記接合部材を接合してなり、前記本体の前記第1の面が、前記実装面に対向していることを特徴とする積層型電子部品の実装構造体。
  14.  基板の実装面に請求項10乃至12のいずれかに記載の積層型電子部品の前記接合部材を接合してなり、前記本体の前記第1の側面が、前記実装面に対向していることを特徴とする積層型電子部品の実装構造体。
  15.  前記本体と前記基板の実装面との間に間隙を有することを特徴とする請求項13または14に記載の積層型電子部品の実装構造体。
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018186283A (ja) * 2013-12-24 2018-11-22 京セラ株式会社 積層型電子部品およびその実装構造体
KR20190059972A (ko) 2016-12-01 2019-05-31 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 칩형 전자 부품
JP2020181962A (ja) * 2019-04-26 2020-11-05 株式会社村田製作所 チップ型電子部品および電子部品の実装構造体
CN114664566A (zh) * 2020-12-22 2022-06-24 株式会社村田制作所 层叠陶瓷电容器以及层叠陶瓷电容器的制造方法
US11657977B2 (en) 2020-10-07 2023-05-23 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer ceramic capacitor
US11670458B2 (en) 2020-10-07 2023-06-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11705284B2 (en) 2020-10-07 2023-07-18 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11735370B2 (en) 2020-10-07 2023-08-22 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11749461B2 (en) 2020-10-07 2023-09-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11756735B2 (en) 2020-10-07 2023-09-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11848155B2 (en) 2021-05-18 2023-12-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US12009155B2 (en) 2020-10-07 2024-06-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10204737B2 (en) * 2014-06-11 2019-02-12 Avx Corporation Low noise capacitors
JP6524734B2 (ja) * 2015-03-19 2019-06-05 株式会社村田製作所 電子部品およびこれを備えた電子部品連
DE102017109712A1 (de) * 2017-05-05 2018-11-08 Avl Software And Functions Gmbh Bestimmung akustischer Störsignale in elektrischen Schaltungen
US10658118B2 (en) * 2018-02-13 2020-05-19 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic component and board having the same
CN110312359A (zh) * 2018-03-27 2019-10-08 联发科技股份有限公司 用来降低电容器噪音的装置与方法
JP7089426B2 (ja) 2018-07-23 2022-06-22 太陽誘電株式会社 積層セラミック電子部品、積層セラミック電子部品の製造方法及び電子部品内蔵基板
JP7451103B2 (ja) * 2019-07-31 2024-03-18 株式会社村田製作所 チップ型電子部品、電子部品の実装構造体および電子部品連
JP2023044006A (ja) 2021-09-17 2023-03-30 株式会社村田製作所 電子部品

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62135426U (ja) * 1986-02-21 1987-08-26
JPH11162780A (ja) * 1997-11-21 1999-06-18 Tokin Ceramics Kk 積層セラミックコンデンサー結合体とその製造方法
JP2007103496A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Tdk Corp コンデンサおよび基板アセンブリ
JP2007194313A (ja) * 2006-01-18 2007-08-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層セラミックコンデンサ
WO2007105395A1 (ja) * 2006-03-14 2007-09-20 Murata Manufacturing Co., Ltd. 積層型電子部品の製造方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54105774A (en) * 1978-02-08 1979-08-20 Hitachi Ltd Method of forming pattern on thin film hybrid integrated circuit
JPS61288409A (ja) * 1985-06-17 1986-12-18 株式会社日立製作所 チツプ型電気部品
JPH03209806A (ja) * 1990-01-12 1991-09-12 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミックコンデンサ
US5639010A (en) * 1995-08-31 1997-06-17 Ford Motor Company Simultaneous process for surface mount adhesive cure and solder paste reflow for surface mount technology devices
CN1289443A (zh) * 1998-12-03 2001-03-28 株式会社东金 具有用于中断异常电流的薄膜电极的叠层式电子器件
JP4958363B2 (ja) * 2000-03-10 2012-06-20 スタッツ・チップパック・インコーポレイテッド パッケージング構造及び方法
JP2002237429A (ja) * 2000-12-08 2002-08-23 Murata Mfg Co Ltd 積層型貫通コンデンサおよび積層型貫通コンデンサアレイ
JP3498711B2 (ja) * 2001-02-05 2004-02-16 三菱マテリアル株式会社 塩化第一銅の製造方法
JP4736225B2 (ja) * 2001-04-16 2011-07-27 パナソニック株式会社 コンデンサ
CN100354995C (zh) * 2002-09-27 2007-12-12 京瓷株式会社 电容器、布线基板、去耦电路及高频电路
JP2006295076A (ja) * 2005-04-14 2006-10-26 Rohm Co Ltd セラミック製チップ型電子部品とその製造方法
KR100925603B1 (ko) 2007-09-28 2009-11-06 삼성전기주식회사 적층형 캐패시터
KR100994172B1 (ko) * 2008-07-23 2010-11-15 삼화콘덴서공업주식회사 커패시터 모듈
JP5810706B2 (ja) * 2010-09-06 2015-11-11 株式会社村田製作所 電子部品
JP5884653B2 (ja) 2011-09-01 2016-03-15 株式会社村田製作所 実装構造
JP5589994B2 (ja) * 2011-09-01 2014-09-17 株式会社村田製作所 選択方法
JP5678919B2 (ja) * 2012-05-02 2015-03-04 株式会社村田製作所 電子部品
JP5725062B2 (ja) 2013-03-15 2015-05-27 株式会社村田製作所 電子部品、それに含まれる基板型の端子、および、電子部品の実装構造
JP6392784B2 (ja) * 2013-12-24 2018-09-19 京セラ株式会社 積層型電子部品およびその実装構造体

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62135426U (ja) * 1986-02-21 1987-08-26
JPH11162780A (ja) * 1997-11-21 1999-06-18 Tokin Ceramics Kk 積層セラミックコンデンサー結合体とその製造方法
JP2007103496A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Tdk Corp コンデンサおよび基板アセンブリ
JP2007194313A (ja) * 2006-01-18 2007-08-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層セラミックコンデンサ
WO2007105395A1 (ja) * 2006-03-14 2007-09-20 Murata Manufacturing Co., Ltd. 積層型電子部品の製造方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018186283A (ja) * 2013-12-24 2018-11-22 京セラ株式会社 積層型電子部品およびその実装構造体
KR20190059972A (ko) 2016-12-01 2019-05-31 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 칩형 전자 부품
US10971301B2 (en) 2016-12-01 2021-04-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Chip electronic component
KR20210107171A (ko) 2016-12-01 2021-08-31 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 칩형 전자 부품
JP2020181962A (ja) * 2019-04-26 2020-11-05 株式会社村田製作所 チップ型電子部品および電子部品の実装構造体
JP7292958B2 (ja) 2019-04-26 2023-06-19 株式会社村田製作所 電子部品の実装構造体
US11670458B2 (en) 2020-10-07 2023-06-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11657977B2 (en) 2020-10-07 2023-05-23 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer ceramic capacitor
US11705284B2 (en) 2020-10-07 2023-07-18 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11735370B2 (en) 2020-10-07 2023-08-22 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11749461B2 (en) 2020-10-07 2023-09-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US11756735B2 (en) 2020-10-07 2023-09-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
US12009155B2 (en) 2020-10-07 2024-06-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor
KR20220090433A (ko) 2020-12-22 2022-06-29 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 적층 세라믹 콘덴서 및 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법
CN114664566A (zh) * 2020-12-22 2022-06-24 株式会社村田制作所 层叠陶瓷电容器以及层叠陶瓷电容器的制造方法
US11923142B2 (en) 2020-12-22 2024-03-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing multilayer ceramic capacitor
CN114664566B (zh) * 2020-12-22 2024-05-14 株式会社村田制作所 层叠陶瓷电容器以及层叠陶瓷电容器的制造方法
US11848155B2 (en) 2021-05-18 2023-12-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor

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