WO2012015040A1 - 電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置 - Google Patents

電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2012015040A1
WO2012015040A1 PCT/JP2011/067495 JP2011067495W WO2012015040A1 WO 2012015040 A1 WO2012015040 A1 WO 2012015040A1 JP 2011067495 W JP2011067495 W JP 2011067495W WO 2012015040 A1 WO2012015040 A1 WO 2012015040A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
conductor
region
electronic component
electronic
wiring conductor
Prior art date
Application number
PCT/JP2011/067495
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
真広 辻野
Original Assignee
京セラ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 京セラ株式会社 filed Critical 京セラ株式会社
Priority to CN201180022000.6A priority Critical patent/CN102884619B/zh
Priority to US13/813,222 priority patent/US9078347B2/en
Priority to JP2012526595A priority patent/JP5697669B2/ja
Priority to EP11812629.1A priority patent/EP2600396B1/en
Publication of WO2012015040A1 publication Critical patent/WO2012015040A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/02Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/053Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
    • H01L23/057Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads being parallel to the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49811Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4274Electrical aspects
    • G02B6/4279Radio frequency signal propagation aspects of the electrical connection, high frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6605High-frequency electrical connections
    • H01L2223/6627Waveguides, e.g. microstrip line, strip line, coplanar line
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6694Optical signal interface included within high-frequency semiconductor device housing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12042LASER
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12043Photo diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Definitions

  • the present invention relates to an electronic component storage component, an electronic module, and an electronic device.
  • Electronic parts such as semiconductor elements for optical communication are mounted on, for example, electronic part storage parts.
  • the electronic component storage component is mounted by being attached to the mounting substrate.
  • an electronic component storage component for example, a package described in Patent Document 1 can be cited.
  • the package described in Patent Document 1 includes a package substrate (base) on which a semiconductor integrated circuit chip (electronic component) is mounted, via holes (connection conductors) provided from the upper surface to the lower surface of the package substrate, and the lower surface of the package substrate.
  • the package described in Patent Document 1 can be used by being fixed to a mounting substrate.
  • An electronic component housing component includes a base having a mounting region for mounting the electronic component, and a connection conductor provided from the upper surface to the lower surface of the base and electrically connected to the electronic component. And one end portion provided on the lower surface of the base body is electrically connected to the connection conductor, and the other end portion is provided on the lower surface of the base body with the wiring conductor drawn out to the side of the base body. And a ground conductor that forms a coplanar line together with the wiring conductor, and the lower surface of the wiring conductor is positioned above the lower surface of the ground conductor.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the electronic component storage package shown in FIG.
  • FIG. 3A is a bottom view of the electronic component storage component shown in FIG. 3A.
  • FIG. 3A is a bottom view which shows the 1st modification of the components for electronic component accommodation of the 1st Embodiment of this invention.
  • FIG. 3A is a bottom view which shows the 2nd modification of the components for electronic component accommodation of the 1st Embodiment of this invention.
  • FIG. 8B is a bottom view of the electronic component storage component shown in FIG. 8A.
  • FIG. 8A is a perspective view which shows the modification of the component for electronic component accommodation of the 2nd Embodiment of this invention.
  • FIG. 9A is sectional drawing of the components for electronic component accommodation shown to FIG. 9A. It is a disassembled perspective view which shows the example of the electronic module and electronic device of one Embodiment of this invention.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view in which the vicinity of the wiring conductor of the electronic device illustrated in FIGS. 10 and 11 is cut in the direction of the coplanar line. It is sectional drawing which cut
  • an optical semiconductor element is used as an electronic component.
  • the present invention is not limited to this, and an integrated circuit or the like may be used.
  • an electronic component storage component (hereinafter also referred to as an electronic component storage package or simply a package) 1 according to a first embodiment of the present invention is an electronic component 2.
  • the substrate 11 having a mounting area for mounting the substrate 11, the frame 13 provided on the upper surface of the substrate 11 so as to surround the mounting area, and the electronic component 2 provided from the upper surface to the lower surface of the substrate 11 are electrically connected.
  • connection conductor 3 to be connected and the wiring conductor provided on the lower surface of the base body 11 and having one end portion electrically connected to the connection conductor 3 and the other end portion being drawn out to the side of the base body 11 4 and an inner region 92 that is provided on the lower surface of the base body 11 and overlaps with the base body 11 when viewed from the lower surface, and a hole 91 that is located outside the side surface of the base body 11 and is attached to the mounting substrate 15.
  • Outer region 93 A mounting member 9 having, provided on the lower surface of the base 11, and a ground conductor 5 to form a coplanar line together with the wiring conductors 4.
  • the lower surface of the wiring conductor 4 is positioned above the lower surface of the ground conductor 5. Specifically, the thickness of the ground conductor 5 in the direction perpendicular to the lower surface of the substrate 11 is larger than the thickness of the wiring conductor 4.
  • impedance matching can be easily performed when the package 1 is mounted on the mounting substrate.
  • the dielectric constant around the region of the wiring conductor 4 located immediately below the base body 11 can be made closer to the dielectric constant around the region of the wiring conductor 4 drawn to the side of the base body 11. This is because, when the package 1 is mounted on the mounting board by bonding the region of the wiring conductor 4 drawn to the side of the base 11 to the mounting board with a connecting member or the like, the wiring conductor 4 is directly below the base 11.
  • the dielectric constant around the region of the wiring conductor 4 located immediately below the base body 11 can be made closer to the case where there is a dielectric only on one side in the vertical direction when viewed from the wiring conductor 4. For this reason, it becomes easy to perform impedance matching between these regions.
  • the relative permittivity of the wiring conductor 4 and the mounting board is about 10, and the air present in the gap is present.
  • the relative dielectric constant of is about 1. That is, the upper dielectric constant is about 1 and the lower dielectric constant is about 10 as viewed from the wiring conductor 4 around the area of the wiring conductor 4 drawn to the side of the base 11. In addition, around the region of the wiring conductor 4 located immediately below the base body 11, the upper dielectric constant is about 10 when viewed from the wiring conductor 4, and a gap having a dielectric constant of about 1 is positioned on the lower side. It will be. A detailed description of the specific thickness of the ground conductor 5 and the thickness of the wiring conductor 4 will be described later.
  • the ground conductor 5 comes in contact with the mounting substrate 15 first than the wiring conductor 4. Therefore, the pressing force that the wiring conductor 4 receives from the mounting substrate 15 can be reduced. As a result, the deformation of the wiring conductor 4 due to this pressing force can be suppressed, so that the signal transmission characteristics of the wiring conductor 4 can be kept good.
  • the base 11 in the package 1 of the example of the first embodiment has an upper surface, a lower surface, and a plurality of side surfaces located between the upper surface and the lower surface.
  • the base body 11 has a quadrangular shape when viewed in plan, and a stepped portion 121 provided with a terminal connection conductor 101 to be described later is in contact with the inner peripheral surface of the frame 13 on the upper surface thereof. Is formed.
  • the base 11 has a mounting area on the upper surface of which the electronic component 2 is mounted via the submount 21.
  • the base body 11 Since the electronic component 2 is mounted on the mounting region on the upper surface of the base body 11, the base body 11 is required to have high insulation at least in a portion where the electronic component 2 is disposed.
  • a dielectric material such as alumina (Al 2 O 3 ) ceramics, aluminum nitride (AlN) ceramics, or mullite (3Al 2 O 3 ⁇ 2SiO 2 ) ceramics is used. it can.
  • the frame 13 in the first embodiment is located on the upper surface of the base 11 so as to surround the mounting area.
  • a dielectric material can be used in the same manner as the base 11.
  • a metal member such as iron (Fe), copper (Cu), nickel (Ni), chromium (Cr), cobalt (Co) or tungsten (W), or these metals are used. You may use the alloy which becomes.
  • the frame 13 has a plurality of side surfaces, and a first side surface 111 that is one of the side surfaces has a through hole 131 that opens to the outer peripheral surface and the inner peripheral surface.
  • the package 1 of 1st Embodiment has the optical fiber attachment part 8 attached to the through-hole 131 of this frame 13.
  • the optical fiber attachment portion 8 in the first embodiment is a cylindrical member.
  • the optical fiber attachment portion 8 is fixed to the frame 13 so that one end is located inside the frame 13 and the other end is located outside the frame 13.
  • the optical fiber 23 can be positioned by fixing the optical fiber 23 with the optical fiber attachment portion 8.
  • the optical fiber attachment portion 8 has a strength that can fix at least the optical fiber 23.
  • it can be formed of a metal material such as iron, copper, nickel, chromium, cobalt, or tungsten.
  • the frame 13 and the base body 11 may be formed separately or may be formed integrally.
  • connection conductor 3 in the first embodiment is provided from the upper surface to the lower surface of the base 11.
  • the connection conductor 3 has a function of transmitting an electric signal generated by the electronic component 2 from the upper surface of the base 11 to the lower surface, or a function of transmitting an electric signal input from the outside from the lower surface of the base 11 to the upper surface. .
  • One end of the connection conductor 3 is exposed on the upper surface of the base 11.
  • the connection conductor 3 and the electronic component 2 are electrically connected via a wiring disposed on the upper surface of the base 11.
  • a typical connection method for this electrical connection is wire bonding 30.
  • the other end of the connection conductor 3 is exposed on the lower surface of the base 11.
  • connection conductor 3 for example, a metal material such as tungsten, molybdenum (Mo) or manganese (Mn) can be used.
  • a method for forming the connection conductor 3 there is a method in which a through hole penetrating between the upper surface and the lower surface of the base 11 is formed and a metal paste is disposed in the through hole.
  • a known suction method or the like may be used.
  • the connection conductor 3 may be formed so that a metal material is filled in the entire inside of the through hole. Moreover, it may be disposed so as to cover the inner wall of the through hole and form a cavity on the inner peripheral side.
  • the wiring conductor 4 is provided on the lower surface of the base 11.
  • a strip-shaped metal member is used as the wiring conductor 4.
  • One end of the wiring conductor 4 is electrically connected to the connection conductor 3, and the other end of the wiring conductor 4 is outside the base 11 than the second side 112, which is one side of the base 11.
  • the wiring conductor 4 is made of a metal material such as copper, for example.
  • the wiring conductor 4 is attached to the lower surface of the base 11 by joining the connecting conductor 3 and the wiring conductor 4 with a connecting member or the like.
  • the package 1 of this example further includes an internal grounding conductor 6 disposed on the upper surface of the base 11.
  • the internal ground conductor 6 is disposed on the upper surface of the base 11 so as to surround one end of the connection conductor 3. A predetermined interval is secured between the connection conductor 3 and the internal ground conductor 6 so that the connection conductor 3 and the internal ground conductor 6 are not short-circuited.
  • the internal ground conductor 6 can be formed by, for example, a metallization method.
  • the internal ground conductor 6 is made of a metal material such as tungsten, molybdenum, or manganese.
  • the internal ground conductor 6 is provided in order to reduce dielectric loss when a high-frequency signal is transmitted by the connection conductor 3.
  • the package 1 of this example includes a ground conductor 5 (external ground conductor 5) provided on the lower surface of the base 11.
  • a strip-shaped metal plate is used as the external ground conductor 5.
  • the external ground conductors 5 are provided at two locations on the lower surface of the base body 11 so as to sandwich the wiring conductor 4. A predetermined interval is secured between the external ground conductor 5 and the wiring conductor 4 so that the external ground conductor 5 and the wiring conductor 4 are not electrically short-circuited. Thereby, the external grounding conductor 5 forms a coplanar line together with the wiring conductor 4.
  • the attachment of the external ground conductor 5 to the lower surface of the base 11 is performed by joining a ground connection conductor 7 and an external ground conductor 5 described later with a connection member or the like.
  • the elastic modulus of the external ground conductor 5 is larger than the elastic modulus of the wiring conductor 4.
  • the package 1 of the present example includes a ground connection conductor 7 that is provided from the upper surface to the lower surface of the base 11 and electrically connects the internal ground conductor 6 and the external ground conductor 5.
  • the ground connection conductor 7 is provided at two locations from the upper surface to the lower surface of the base body 11 so as to correspond to the two external ground conductors 5 and the internal ground conductor 6, respectively. positioned. A predetermined interval is secured between the ground connection conductor 7 and the connection conductor 3 so that these conductors are not short-circuited.
  • One end of the ground connection conductor 7 is exposed on the upper surface of the base 11, and the other end is exposed on the lower surface of the base 11.
  • ground connection conductor 7 As a method for forming the ground connection conductor 7, as in the case of the connection conductor 3, there is a method of forming a through hole penetrating between the upper surface and the lower surface of the base 11 and disposing a metal paste in the through hole.
  • the “ground” in the internal ground conductor 6, the external ground conductor 5, and the ground connection conductor 7 here is electrically connected to an external reference potential (not shown) as a so-called ground potential. This means that the reference potential does not necessarily have to be 0V.
  • the package 1 of this example has a plurality of screwing portions 9 as mounting members disposed on the lower surface of the base body 11.
  • Each screwing portion 9 includes an inner region 92 that is provided on the lower surface of the substrate 11 and overlaps with the substrate 11 when the substrate 11 is viewed from below, and an outer region 93 that is located on the outer side of the side surface of the substrate 11.
  • Each screwing portion 9 is a rectangular member, and a hole 91 is provided from one main surface of the outer region 93 to the other main surface.
  • the package 1 can be fixed to the mounting substrate 15 by attaching the package 1 and a mounting substrate 15 (to be described later) to these screwing portions 9 by screwing.
  • the screwing portion 9 is formed of a metal plate such as copper.
  • the screwing portion 9 and the base 11 are joined by separately forming a metal film on the lower surface of the base 11 by a metallization method, and joining the metal film and the screwing portion 9 using a connecting member or the like.
  • the thickness of the screwing portion 9 in the direction perpendicular to the lower surface of the substrate 11 is larger than the thickness of the wiring conductor 4 in the direction perpendicular to the lower surface of the substrate 11, and the electronic component housing package 1 is mounted.
  • the thickness of the external grounding conductor 5 be the same as the thickness in the direction perpendicular to the lower surface of the base 11. Note that the term “same” here includes an error that is inevitable in manufacturing.
  • the package 1 in the example of the present embodiment includes a plurality of terminal connection conductors 101 penetrating from the upper surface of the stepped portion 121 in the base body 11 to the lower surface of the base body 11.
  • the terminal connection conductor 101 is electrically connected to the electronic component 2 by, for example, wire bonding.
  • the lead terminal 102 is a member for electrically connecting the terminal connection conductor 101 and the external wiring.
  • the lead terminals 102 are band-shaped members, and a plurality of lead terminals 102 are provided side by side on the lower surface of the base 11. One end of each lead terminal 102 is joined to an end portion of the terminal connection conductor 101 located on the lower surface of the base body 11, and the other end is pulled out to the side of the base body 11.
  • the lead terminal 102 is made of a metal material such as copper, for example.
  • connection conductor 3 and the wiring conductor 4 are used for transmitting a high-frequency signal, while the terminal connection conductor 101 and the lead terminal 102 are used for supplying power to the electronic component 2.
  • the plurality of terminal connection conductors 101 are arranged at predetermined intervals so as not to be electrically short-circuited with each other.
  • the terminal connection conductor 101 can be formed by the same method as the connection conductor 3.
  • the external ground conductor 5 includes not only the first region 51 that overlaps the base body 11 but also the second region 52 that is located outside the base body 11 when viewed from below. It is desirable to have. As a result, the change in impedance of the coplanar line formed by the wiring conductor 4 and the external ground conductor 5 from directly under the base 11 to the outside of the base 11 can be reduced, and the transmission characteristics of the high-frequency signal are improved. Can do.
  • the external ground conductor 5 preferably has a hole 520 in the second region 52 for mounting to the mounting board 15 by screwing.
  • the hole 520 may be a through hole provided from the upper surface to the lower surface of the external ground conductor 5, and an opening is provided at the end of the external ground conductor 5 when the external ground conductor 5 is viewed from the bottom. May be good.
  • the hole 520 is provided so as to open in a side located on the opposite side of the side facing the wiring conductor 4. Therefore, the change of the parasitic capacitance between the external ground conductor 5 and the wiring conductor 4 is reduced. Therefore, the influence on the transmission characteristic of the high frequency signal is reduced.
  • the second region 52 is more than the third region 53 adjacent to the first region 51 and the third region 53.
  • a fourth region 54 located outside the base body 11, and the distance between the fourth region 54 and the wiring conductor 4 is larger than the distance between the third region 53 and the wiring conductor 4. desirable.
  • the impedance in the transmission circuit formed by the wiring conductor 4 and the external ground conductor 5 can be changed stepwise, the transmission characteristics can be further improved.
  • the hole 520 is formed in the external ground conductor 5, it is desirable to form it in the fourth region 54. Thereby, the pressing force applied to the wiring conductor 4 when screwing using the hole 520 can be further reduced. For example, if the distance between the third region 53 and the wiring conductor 4 is 500 to 700 ⁇ m, the distance between the fourth region 54 and the wiring conductor 4 can be set to 1000 to 1200 ⁇ m.
  • the third region 53 in the external ground conductor 5 has a larger distance from the wiring conductor 4 as it is farther from the base body 11 when viewed from below.
  • the two external ground conductors 5 are integrally formed by being connected, for example, on the lower surface of the base 11.
  • the external grounding conductor 5 has a shape surrounding one end of the wiring conductor 4 from three directions, for example.
  • the external ground conductor 5 and the screwing portion 9 are integrally formed. Thereby, the stress generated in the screwing portion 9 at the time of screwing can be distributed to the external ground conductor 5. Therefore, the screwing portion 9 can be screwed stably. Therefore, the reliability of the electronic component storage package 1 can be improved. Further, since the external ground conductor 5 and the screwing portion 9 are integrally formed, the number of parts can be reduced.
  • the electronic component storage package 10 of the example of the second embodiment includes the wiring conductor 4 in the same manner as the electronic component storage package 1 of the example of the first embodiment. Yes.
  • the electronic component storage package 1 of the example of the first embodiment one wiring conductor 4 is provided.
  • a plurality of wiring conductors 4 are provided. Is provided.
  • the external grounding conductor 5 is positioned with the two wiring conductors 4 interposed therebetween.
  • An external ground conductor 5 is sandwiched between the two wiring conductors 4. Thereby, the electromagnetic influence between the wiring conductors 4 can be reduced.
  • the external ground conductor 5 located between the wiring conductors 4 and the external ground conductor 5 located between the wiring conductors 4 are, for example, the lower surface of the base body 11. It is preferable that they are integrally formed by being connected at each other. As a result, the potential difference between the external ground conductor 5 positioned between the wiring conductor 4 and the external ground conductor 5 positioned between the wiring conductors 4 is improved while improving the strength of the external grounding conductor 5 against pressure. This can be further reduced, and the transmission characteristics of high-frequency signals can be improved.
  • the external ground conductor 5 and the screwing portion 9 as the mounting member are appropriately shaped similarly to the external grounding conductor 5 and the screwing portion 9 in the example of the first embodiment. It is possible to change.
  • the electronic module 100 of the example of one embodiment of the present invention includes the electronic component 2 housed in the packages 1 and 10 of the example of the above embodiment, as shown in FIGS. 10 and 11. .
  • the optical semiconductor element that is the electronic component 2 in this example is mounted on the electronic component mounting region with the submount 21 interposed therebetween.
  • the optical semiconductor element has a function of converting an electrical signal into an optical signal or a function of converting an optical signal into an electrical signal.
  • Exemplary optical semiconductor elements include laser diodes and photodiodes.
  • the optical semiconductor element may be directly mounted on the electronic component mounting area, but is preferably mounted on the submount 21. This is because the height position of the optical semiconductor element can be adjusted by the submount 21 and the accuracy of optical coupling with the optical fiber 23 can be improved.
  • the electronic module 100 of this example includes an optical fiber 23 provided in the optical fiber attachment portion 8.
  • the optical fiber 23 is inserted into the optical fiber attachment portion 8 from the outside of the base 11 and installed.
  • the optical fiber 23 is optically coupled to the optical semiconductor element.
  • the electronic module 100 of this example includes a translucent member 22.
  • the translucent member 22 is provided on the upper surface of the submount 21 and is located between the optical fiber 23 and the optical semiconductor element.
  • the translucent member 22 has a function of collecting the light emitted from the optical semiconductor element into the optical fiber 23 or a function of collecting the light emitted from the optical fiber 23 into the optical semiconductor element.
  • the translucency here does not necessarily mean that the light transmittance is 100%. That is, it is sufficient that the transmittance is sufficient to satisfy the above-described function. For example, a transmittance of about 80% is sufficient.
  • the translucent member 22 is a lens formed of, for example, glass or plastic.
  • the electronic module 100 of this example includes a lid 14.
  • the lid body 14 is a rectangular plate member and is provided on the upper surface of the frame body 13. By joining the lid 14 to the frame 13, the optical semiconductor element is hermetically sealed. Thereby, the reliability of the optical semiconductor element can be improved.
  • dielectric materials such as alumina ceramics, aluminum nitride ceramics and mullite ceramics, and metal materials such as iron, nickel, chromium, cobalt and tungsten are used.
  • the electronic apparatus 200 includes an electronic module 100 and a mounting substrate 15 to which the electronic module 100 is attached.
  • the mounting substrate 15 in the example of the present embodiment is formed of a dielectric material such as resin or ceramics.
  • a first circuit pattern 151, a second circuit pattern 152, and a ground pattern 153 are formed on the upper surface of the mounting substrate 15.
  • the first circuit pattern 151, the second circuit pattern 152, and the ground pattern 153 are obtained, for example, by sintering a metal paste using molybdenum, manganese, or the like as a raw material.
  • the first circuit pattern 151 and the wiring conductor 4 the second circuit pattern 152 and the lead terminal 102, the ground pattern 153, and the external ground conductor 5 are electrically connected. Thus, it is mounted on the mounting substrate 15.
  • connection member 16 is provided between the upper surface of the circuit pattern 152 and the lower surface of the lead terminal 102 and between the upper surface of the ground pattern 153 and the lower surface of the external ground conductor 5.
  • connection member 16 for example, SnAgCu solder, SnZnBi solder, SnCu solder, SnAgInBi solder, or the like can be used.
  • the electronic device 200 includes the electronic module 100 and the mounting substrate 15 to which the electronic module 100 is attached, and a gap S2 between the region of the external ground conductor 5 located immediately below the base body 11 and the mounting substrate 15.
  • the gap S1 between the mounting substrate 15 and the region of the wiring conductor 4 located immediately below the base body 11 is larger.
  • the dielectric constant around the area of the wiring board 4 that is located immediately below the base body 11 is set to the wiring conductor 4.
  • the dielectric constant around the region drawn out to the side of the substrate 11 can be made close. For this reason, it becomes easy to perform impedance matching between these regions.
  • the mounting substrate 15 is provided with a hole so as to be continuous with the hole 91 of the mounting member 9.
  • the electronic component storage packages 1 and 10 can be firmly fixed to the mounting substrate 15.
  • the width of the two wiring conductors 4 is 150 ⁇ m, and the width of the region located between the two wiring conductors 4 of the external grounding conductor 5 and immediately below the side surface of the base 11 is 400 ⁇ m.
  • the interval between the two wiring conductors 4 is set to 900 ⁇ m.
  • the thickness of the wiring conductor 4 can be set to 100 to 500 ⁇ m, for example, and the thickness of the external grounding conductor 5 is determined so that the size of the gap S1 in the height direction becomes a desired size.
  • the gap S1 is excessively increased, resonance of the high-frequency signal may occur inside the gap S1. Therefore, under the above conditions, it is preferable to set the size of the gap S1 in the height direction to 100 to 500 ⁇ m.
  • the electronic component housing component 10, the electronic module 100, and the electronic device 200 of the example of the second embodiment of the present invention were manufactured and evaluated.
  • the manufactured electronic device 200 is the electronic device 200 shown in FIG.
  • the dimensions of the manufactured electronic device 200 are as follows.
  • the two wiring conductors 4 have a width of 150 ⁇ m and a thickness of 100 ⁇ m.
  • the external ground conductor 5 has a thickness of 200 ⁇ m, and is a region located between the two wiring conductors 4 of the external ground conductor 5, and the width of the region located immediately below the side surface of the base 11 is 400 ⁇ m.
  • the distance between this region and the two wiring conductors 4 is 900 ⁇ m.
  • the thickness of the first circuit pattern 151 and the ground pattern 153 is 20 ⁇ m.
  • the thickness of the connection member 16 provided between the wiring conductor 4 and the first circuit pattern 151 is 150 ⁇ m
  • the thickness of the connection member 16 provided between the external ground conductor 5 and the ground pattern 153 is 50 ⁇ m. It is. That is, the size of the gap S1 in the height direction is 170 ⁇ m.
  • the reflection loss when a high-frequency signal of 10 GHz was passed was ⁇ 28 dB in the example and ⁇ 23 dB in the comparative example.
  • the reflection loss when a high-frequency signal of 20 GHz was passed was ⁇ 30 dB in the example, and ⁇ 21 dB in the comparative example.
  • the reflection loss when a high-frequency signal of 30 GHz was passed was ⁇ 22 dB in the example, and ⁇ 16 dB in the comparative example.
  • the reflection loss when a high frequency signal of 40 GHz was passed was ⁇ 25 dB in the example, and ⁇ 16 dB in the comparative example.
  • the example had a smaller reflection loss than the comparative example. This is because the impedance of the example was better than that of the comparative example. From the above, it was confirmed that impedance matching can be easily performed by using the electronic device 200 of the present invention.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Waveguides (AREA)

Abstract

 本発明の一態様の電子部品収納用部品は、電子部品を搭載するための搭載領域を有する基体と、前記基体の上面から下面にかけて設けられた、前記電子部品に電気的に接続される接続導体と、前記基体の下面に設けられた、一方の端部が前記接続導体に電気的に接続されるとともに、他方の端部が前記基体の側方に引き出された配線導体と、前記基体の下面に設けられた、前記配線導体と共にコプレーナ線路を形成する接地導体とを備えている。前記配線導体の下面は、前記接地導体の下面よりも上方に位置している。

Description

電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置
 本発明は、電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置に関するものである。
 光通信用の半導体素子等の電子部品は、例えば電子部品収納用部品に搭載される。電子部品収納用部品は、実装基板に取り付けられることによって実装される。そのような電子部品収納用部品としては、例えば、特許文献1に記載されたパッケージが挙げられる。
 特許文献1に記載のパッケージは、半導体集積回路チップ(電子部品)が搭載されるパッケージ基板(基体)と、パッケージ基板の上面から下面にかけて設けられたバイアホール(接続導体)と、パッケージ基板の下面に設けられた信号線金属薄膜(配線導体)と、パッケージ基板の下面に設けられた、信号線金属薄膜を挟んで位置する接地金属薄膜(接地導体)とを備えている。この特許文献1に記載のパッケージは、実装基板に固定することによって使用することができる。
 しかしながら、特許文献1に記載のパッケージは、実装基板に実装する際に、インピーダンスのマッチングを行なうことが困難な場合がある。具体的には、配線導体のうち基体の直下に位置する領域と、配線導体のうち基体の側方に引き出された領域との間で周囲の誘電率に大きな違いが生じる。これは、基体の直下に位置する領域においては、上方に基体が位置し、下方に実装基板が位置する。つまり、配線基板から見て上下方向の両側に誘電体があることになる。これに対して、基体の側方に引き出された領域においては、下方に実装基板が位置している。つまり、配線基板から見て上下方向の片側にのみ誘電体があることになる。このため、これらの領域の間でインピーダンスのマッチングを行なうことが困難となる。
特開平4-336702号公報
 本発明の一つの態様に基づく電子部品収納用部品は、電子部品を搭載するための搭載領域を有する基体と、基体の上面から下面にかけて設けられた、電子部品に電気的に接続される接続導体と、基体の下面に設けられた、一方の端部が接続導体に電気的に接続されるとともに、他方の端部が基体の側方に引き出された配線導体と、基体の下面に設けられた、配線導体と共にコプレーナ線路を形成する接地導体とを備え、配線導体の下面が、接地導体の下面よりも上方に位置している。
本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品の例を示す斜視図である。 図1Aに示す電子部品収納用部品の下面図である。 図1に示す電子部品収納用パッケージのA-A’線における断面図である。 本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品の変形例を示す斜視図である。 図3Aに示す電子部品収納用部品の下面図である。 本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品の第1の変形例を示す下面図である。 本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品の第2の変形例を示す下面図である。 本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品の第3の変形例を示す下面図である。 本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品の第4の変形例を示す下面図である。 本発明の第2の実施形態の電子部品収納用部品を示す斜視図である。 図8Aに示す電子部品収納用部品の下面図である。 本発明の第2の実施形態の電子部品収納用部品の変形例を示す斜視図である。 図9Aに示す電子部品収納用部品の断面図である。 本発明の1つの実施形態の電子モジュールおよび電子装置の例を示す分解斜視図である。 本発明の他の実施形態の電子モジュールおよび電子装置の例を示す分解斜視図である。 図10および図11に記載の電子装置の配線導体近傍をコプレーナ線路の線路方向で切った断面図である。 図10および図11に記載の電子装置の接地導体近傍をコプレーナ線路の線路方向で切った断面図である。
 以下、本発明のいくつかの実施形態の例について図面を参照して説明する。なお、以下の例においては、電子部品として光半導体素子を用いているが、特にこれに限定されるものではなく、集積回路等を用いてもよい。
 図1A、図1Bおよび図2に示すように、本発明の第1の実施形態の電子部品収納用部品(以下、電子部品収納用パッケージとも、あるいは単にパッケージともいう。)1は、電子部品2を搭載するための搭載領域を有する基体11と、搭載領域を囲むように基体11の上面に設けられた枠体13と、基体11の上面から下面にかけて設けられた、電子部品2に電気的に接続される接続導体3と、基体11の下面に設けられた、一方の端部が接続導体3に電気的に接続されるとともに、他方の端部が基体11の側方に引き出された配線導体4と、基体11の下面に設けられた、下面視したときに、基体11と重なり合う内側領域92と、基体11の側面よりも外側に位置する、実装基板15に取り付けるための孔91を備えた外側領域93とを有する取付け部材9と、基体11の下面に設けられた、配線導体4と共にコプレーナ線路を形成する接地導体5とを備えている。
 そして、配線導体4の下面が、接地導体5の下面よりも上方に位置している。具体的には、基体11の下面に対して垂直な方向における接地導体5の厚みが、配線導体4の厚みよりも大きい。これにより、パッケージ1を実装基板に実装する際に、インピーダンスのマッチングを容易に行なうことができる。具体的には、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域の周囲の誘電率を配線導体4のうち基体11の側方に引き出された領域の周囲の誘電率に近づけることができる。これは、配線導体4のうち基体11の側方に引き出された領域を実装基板に接続部材等で接着することによってパッケージ1を実装基板に実装する際に、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域と実装基板との間に生じる隙間を大きくすることができるためである。その結果、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域の周囲の誘電率を、配線導体4から見て上下方向の片側にのみ誘電体がある場合に近づけることができる。このため、これらの領域の間でインピーダンスのマッチングを行なうことが容易となる。
 具体的には、配線導体4および実装基板がアルミナ(Al)セラミックスから成る場合であれば、配線導体4および実装基板の比誘電率は約10であり、隙間に存在している空気の比誘電率は約1である。すなわち、配線導体4のうち基体11の側方に引き出された領域の周囲において、配線導体4から見て上側の誘電率が約1であり、下側の誘電率が約10である。また、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域の周囲において、配線導体4から見て上側の誘電率が約10であり、下側には約1の誘電率である隙間が位置することになる。なお、具体的な接地導体5の厚みおよび配線導体4の厚みに関する詳細な説明は後述する。
 また、パッケージ1を実装基板15に実装する際に、配線導体4よりも接地導体5の方が実装基板15に先に接触する。そのため、配線導体4が実装基板15から受ける押圧力を小さくできる。その結果、この押圧力に起因する配線導体4の変形を抑制することができるので、配線導体4による信号の伝送特性を良好に保つこともできる。
 第1の実施形態の例のパッケージ1における基体11は、上面、下面ならびに上面および下面の間に位置する複数の側面を有している。具体的には、基体11は、平面視した場合の形状が四角形状であり、その上面には、後述する端子接続導体101を備えた段差部121が、枠体13の内周面と接するようにして形成されている。また基体11は、その上面に電子部品2がサブマウント21を介して搭載される搭載領域を有している。
 基体11の上面の搭載領域には電子部品2が搭載されることから、基体11としては、少なくとも電子部品2が配設される部分には高い絶縁性を有していることが求められる。第1の実施形態にかかる基体11としては、例えば、アルミナ(Al)セラミックス、窒化アルミニウム(AlN)セラミックスまたはムライト(3Al・2SiO)セラミックス等の誘電体材料を用いることができる。
 第1の実施形態における枠体13は、搭載領域を囲むように基体11の上面に位置している。枠体13としては、基体11と同様に、誘電体材料を用いることができる。また、枠体13としては、例えば、鉄(Fe)、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、クロム(Cr)、コバルト(Co)またはタングステン(W)のような金属部材、あるいはこれらの金属からなる合金を用いてもよい。枠体13は複数の側面を有しており、その側面の1つである第1の側面111に外周面および内周面に開口する貫通孔131を有している。そして、第1の実施形態のパッケージ1は、この枠体13の貫通孔131に取り付けられた光ファイバ取付け部8を有している。第1の実施形態における光ファイバ取付け部8は、円筒形状の部材である。光ファイバ取付け部8は、一方の端部が枠体13の内側に位置するとともに、他方の端部が枠体13の外側に位置するように枠体13に固定されている。光ファイバ取付け部8によって光ファイバ23を固定することで、光ファイバ23の位置決めを図ることができる。また、電子部品2として光半導体素子を用いる場合には、光半導体素子と光ファイバ23との間での光の伝達を、この円筒形状である光ファイバ取付け部8の中空部分に光ファイバ23を固定することによって行なうことができる。光ファイバ取付け部8は、少なくとも光ファイバ23を固定できる程度の強度を有していることが好ましい。具体的には、鉄、銅、ニッケル、クロム、コバルトまたはタングステンのような金属材料によって形成することができる。なお、枠体13と基体11とは別々に形成されてもよく、また、一体的に形成されてもよい。
 第1の実施形態における接続導体3は、基体11の上面から下面にかけて設けられている。接続導体3は、電子部品2が発した電気信号を基体11の上面から下面に伝送する機能を、もしくは外部から入力された電気信号を基体11の下面から上面に伝送する機能を有している。接続導体3の一方の端部は基体11の上面に露出している。接続導体3および電子部品2は、基体11の上面に配設される配線を介して電気的に接続される。この電気的な接続の代表的な接続方法は、ワイヤーボンディング30である。また、接続導体3の他方の端部は基体11の下面に露出している。
 接続導体3としては、例えばタングステン、モリブデン(Mo)またはマンガン(Mn)等の金属材料を用いることができる。接続導体3の形成方法としては、基体11の上面および下面の間を貫通する貫通孔を形成するとともに、この貫通孔に金属ペーストを配設する方法が挙げられる。貫通孔に金属ペーストを配設する方法としては、周知の吸引法等を用いればよい。接続導体3は、金属材料が貫通孔の内部全体に充填されるようにして形成されてもよい。また、貫通孔の内壁を覆うように形成されて内周側に空洞が形成されるように配設されてもよい。
 配線導体4は、基体11の下面に設けられている。第1の実施形態のパッケージ1においては、配線導体4として帯状の金属部材を用いている。配線導体4の一方の端部が接続導体3に電気的に接続されるとともに、配線導体4の他方の端部が基体11の側面の1つである第2の側面112よりも基体11の外側に引き出されている。配線導体4は、例えば銅等の金属材料によって形成されている。配線導体4の基体11の下面への取付けは、接続導体3および配線導体4を接続部材等によって接合することによって行なわれる。
 本例のパッケージ1は、基体11の上面に配設された内部接地導体6をさらに備えている。内部接地導体6は、基体11の上面において、接続導体3の一方の端部を囲むように配設されている。接続導体3と内部接地導体6とが短絡することのないように、接続導体3および内部接地導体6の間には所定の間隔が確保されている。内部接地導体6は、例えばメタライズ法によって形成することができる。内部接地導体6は、タングステン、モリブデンまたはマンガン等の金属材料からなる。内部接地導体6は、接続導体3によって高周波信号を伝送する際の誘電損失を低減するために設けられる。
 本例のパッケージ1は、基体11の下面に設けられた接地導体5(外部接地導体5)を備えている。本例においては、外部接地導体5として帯状の金属板を用いている。外部接地導体5は、配線導体4を挟むようにして位置して、基体11の下面の2箇所に設けられている。外部接地導体5と配線導体4との間には、外部接地導体5および配線導体4が電気的に短絡することのないように所定の間隔が確保されている。これにより、外部接地導体5は、配線導体4と共にコプレーナ線路を形成している。外部接地導体5としては、導電性の良好な部材を用いることが好ましく、例えば、配線導体4と同様の金属材料によって形成すればよい。外部接地導体5の基体11の下面への取付けは、後述する接地接続導体7および外部接地導体5を接続部材等によって接合することによって行なわれる。
 また、好ましくは、外部接地導体5の弾性率が、配線導体4の弾性率よりも大きいことが望ましい。これにより、配線導体4と外部接地導体5の両方が押圧力を受ける場合に、外部接地導体5に力が集中しやすくなる。その結果、さらに配線導体4の変形を抑制することができるので、信号の伝送特性の低下を抑制することができる。
 本例のパッケージ1は、基体11の上面から下面にかけて設けられた、内部接地導体6および外部接地導体5を電気的に接続する接地接続導体7を備えている。具体的には、接地接続導体7は、基体11の上面から下面にかけて、2つの外部接地導体5および内部接地導体6にそれぞれ対応するように2箇所に設けられており、接続導体3を挟んで位置している。接地接続導体7および接続導体3の間には、これらの導体が短絡することのないように、所定の間隔が確保されている。接地接続導体7の一方の端部は基体11の上面に露出するとともに、他方の端部は基体11の下面に露出している。
 接地接続導体7の形成方法としては、接続導体3と同様に、基体11の上面および下面の間を貫通する貫通孔を形成するとともに、この貫通孔に金属ペーストを配設する方法が挙げられる。なお、ここでいう内部接地導体6、外部接地導体5および接地接続導体7における「接地」とは、いわゆるアース電位としての外部の基準電位(図示せず)に電気的に接続されていることを意味しており、基準電位としては必ずしも電位が0Vである必要はない。
 本例のパッケージ1は、基体11の下面に配設された取付け部材としての複数のネジ止め部9を有している。それぞれのネジ止め部9は、基体11の下面に設けられた、基体11を下面視したときに、基体11と重なり合う内側領域92と、基体11の側面よりも外側に位置する外側領域93とを有する。それぞれのネジ止め部9は、長方形状の部材であり、外側領域93の一方の主面から他方の主面にかけて孔91が設けられている。これらのネジ止め部9においてパッケージ1および後述する実装基板15をネジ止めによって取り付けることにより、パッケージ1を実装基板15に固定することができる。
 ネジ止め部9は、例えば銅などの金属板によって形成されている。ネジ止め部9と基体11との接合は、基体11の下面に金属膜をメタライズ法によって別途形成して、その金属膜およびネジ止め部9を接続部材等を用いて接合することによって行なわれる。
 なお、基体11の下面に対して垂直な方向におけるネジ止め部9の厚みは、基体11の下面に対して垂直な方向における配線導体4の厚みよりも大きく、また電子部品収納用パッケージ1を実装基板15に取り付ける際の電子部品収納用パッケージ1の安定性を考えると、基体11の下面に対して垂直な方向における外部接地導体5の厚みと同一であることが望ましい。なお、ここでいう同一とは、製造上不可避な程度の誤差を含むものである。
 本実施形態の例におけるパッケージ1は、基体11における段差部121の上面から基体11の下面にかけて貫通して引き出される複数の端子接続導体101を備えている。図示はしていないが、端子接続導体101は、例えばワイヤーボンディングによって電子部品2に電気的に接続されている。
 リード端子102は、端子接続導体101と外部配線とを電気的に接続するための部材である。リード端子102は、帯状の部材であって、基体11の下面に複数並んで設けられている。リード端子102は、端子接続導体101のうち基体11の下面に位置する端部にそれぞれの一端が接合されており、他端は、基体11の側方に引き出されている。リード端子102は、例えば銅等の金属材料によって形成されている。
 一般的に、接続導体3および配線導体4が、高周波信号を伝送するために用いられるのに対して、端子接続導体101およびリード端子102は、電子部品2に電力を供給するために用いられる。これら複数の端子接続導体101は、互いに電気的に短絡することのないように所定の間隔をあけて配設されている。端子接続導体101は、接続導体3と同様の方法で形成することができる。
 なお、図3Aおよび図3Bに示すように、外部接地導体5は、下面視したときに、基体11と重なり合う第1の領域51だけでなく、基体11の外側に位置する第2の領域52を有していることが望ましい。これにより、基体11の直下から基体11の外側にかけての、配線導体4と外部接地導体5とによって形成されるコプレーナ線路のインピーダンスの変化を小さくすることができ、高周波信号の伝送特性を向上させることができる。
 さらに、図3Aおよび図3Bに示すように、外部接地導体5は、ネジ止めによって実装基板15に取り付けるための孔520を第2の領域52に有していることが好ましい。この孔520が設けられた外部接地導体5および孔91が設けられたネジ止め部9を用いて、パッケージ1を実装基板15にネジ止めすることにより、より強固な固定を行なうことができる。孔520としては、外部接地導体5の上面から下面にかけて貫通孔が設けられたものでもよく、また、外部接地導体5を下面視したときに、外部接地導体5の端部に開口部が設けられたものでもよい。なお、孔520およびネジ込まれるネジによる外部接地導体5および配線導体4の間の寄生容量への影響を考慮すると、パッケージ1を下面視したときに、外部接地導体5の外周の辺のうち、配線導体4と対向している辺の反対側に位置する辺に開口するように、孔520が設けられることが好ましい。これにより、外部接地導体5および配線導体4の間の寄生容量の変化が低減される。従って、高周波信号の伝送特性への影響が低減される。
 また、図4に示すように、外部接地導体5は、下面視したときに、第2の領域52が、第1の領域51に隣接する第3の領域53と、第3の領域53よりも基体11の外側に位置する第4の領域54とを有しており、第4の領域54と配線導体4との間隔が、第3の領域53と配線導体4との間隔よりも大きいことが望ましい。これにより、配線導体4と外部接地導体5とによって形成される伝送回路におけるインピーダンスを段階的に変化させることができるため、伝送特性をさらに向上させることができる。なお、外部接地導体5に孔520を形成する場合は、第4の領域54に形成することが望ましい。これにより、孔520を用いてネジ止めを行なう際に配線導体4に加わる押圧力をさらに低減することができる。例えば、第3の領域53と配線導体4との間隔が500~700μmであれば、第4の領域54と配線導体4との間隔は1000~1200μmに設定することができる。
 さらに、図5に示すように、外部接地導体5における第3の領域53が、下面視したときに、基体11から離れるに従って配線導体4との間隔が大きくなることが望ましい。これにより、配線導体4と外部接地導体5とによって形成される伝送回路におけるインピーダンスの変化をより滑らかなものにできるため、高周波信号の伝送特性をさらに向上させることができる。
 また、図6に示すように、2つの外部接地導体5が、例えば基体11の下面においてつながっていることによって、一体的に形成されていることが好ましい。この場合、外部接地導体5は、例えば、3方向から配線導体4の一方の端部を囲むような形状をしている。このように外部接地導体5を一体的に形成することによって、外部接地導体5の強度を向上させながら、配線導体4の両側における外部接地導体5の電位差をより低減することができる。これにより、基準電位としての信頼性をさらに向上させることができる。その結果、高周波信号の伝送特性を向上させることができる。
 さらに、図7に示すように、外部接地導体5およびネジ止め部9が一体的に形成されていることが好ましい。これにより、ネジ止めの際にネジ止め部9に生じる応力を外部接地導体5に分散させることができる。そのため、ネジ止め部9において安定してネジ止めをすることができる。したがって、電子部品収納用パッケージ1の信頼性を向上させることができる。また、外部接地導体5およびネジ止め部9が一体的に形成されていることにより、部品点数を減らすこともできる。
 次に、本発明の第2の実施形態の例の電子部品収納用パッケージ10について説明する。なお、本例の各構成において、第1の実施形態と同様の機能を有する部材については、同じ参照符号を付記し、その詳細な説明を省略する。
 図8Aおよび図8Bに示すように、第2の実施形態の例の電子部品収納用パッケージ10は、第1の実施形態の例の電子部品収納用パッケージ1と同様に、配線導体4を備えている。第1の実施形態の例の電子部品収納用パッケージ1においては、1つの配線導体4が設けられているが、本実施形態の例の電子部品収納用パッケージ10においては、複数の配線導体4が設けられている。
 本例において、外部接地導体5は2つの配線導体4をそれぞれ挟んで位置している。また、2つの配線導体4の間に外部接地導体5が挟まれて位置している。これにより、配線導体4間における電磁的な影響を低減することができる。
 また、図9Aおよび図9Bに示すように、配線導体4を挟んで位置している外部接地導体5と配線導体4に挟まれて位置している外部接地導体5とが、例えば基体11の下面においてつながっていることによって、一体的に形成されていることが好ましい。これにより、圧力に対する外部接地導体5の強度を向上させつつ、配線導体4を挟んで位置している外部接地導体5と配線導体4に挟まれて位置している外部接地導体5との電位差をより低減することができ、高周波信号の伝送特性を向上させることができる。
 また、本例の電子部品収納用パッケージ10において、外部接地導体5および取付け部材としてのネジ止め部9は第1の実施形態の例における外部接地導体5よびネジ止め部9と同様に適宜形状を変更することが可能である。
 本発明の一つの実施形態の例の電子モジュール100は、図10および図11に示されているように、上記の実施形態の例のパッケージ1、10に収納された電子部品2を備えている。本例における電子部品2である光半導体素子は、電子部品搭載領域上にサブマウント21を挟んで搭載されている。光半導体素子は、電気信号を光信号に変換する機能または光信号を電気信号に変換する機能を有している。例示的な光半導体素子としては、レーザーダイオードおよびフォトダイオードがあげられる。光半導体素子は、電子部品搭載領域に直接搭載されてもよいが、サブマウント21上に搭載されるほうが望ましい。これは、サブマウント21によって光半導体素子の高さ位置を調整することができ、光ファイバ23との光学的な結合の精度を向上させることができるためである。
 本例の電子モジュール100は、光ファイバ取付け部8に設けられた光ファイバ23を備えている。光ファイバ23は光ファイバ取付け部8に基体11の外側から差し込まれて設置されている。光ファイバ23は光半導体素子と光学的に結合されている。
 本例の電子モジュール100は、透光性部材22を備えている。透光性部材22は、サブマウント21の上面に設けられており、光ファイバ23と光半導体素子との間に位置している。透光性部材22は、光半導体素子から発せられた光を光ファイバ23に集める機能、または光ファイバ23から発せられた光を光半導体素子に集める機能を有する。なお、ここでいう透光性とは、必ずしも光の透過率が100%である必要はない。すなわち、上述の機能を満たす程度の透過率があればよい。例えば、80%程度の透過率があればよい。透光性部材22は、例えばガラスやプラスチックで形成されたレンズである。
 本例の電子モジュール100は、蓋体14を備えている。蓋体14は、四角形状の板部材であり、枠体13の上面に設けられる。蓋体14を枠体13に接合することによって、光半導体素子は気密に封止される。これにより、光半導体素子の信頼性を向上させることができる。蓋体14の材料としては、アルミナセラミックス、窒化アルミニウムセラミックスおよびムライトセラミックス等の誘電体材料、鉄、ニッケル、クロム、コバルトおよびタングステンのような金属材料が用いられる。
 本発明の一つの実施形態の例の電子装置200は、電子モジュール100と、電子モジュール100が取り付けられた実装基板15とを備えている。
 本実施形態の例における実装基板15は、樹脂またはセラミックス等の誘電体材料によって形成されている。実装基板15の上面には、第1の回路パターン151、第2の回路パターン152および接地パターン153が形成されている。第1の回路パターン151、第2の回路パターン152および接地パターン153は、例えば、モリブデンおよびマンガン等を原料とする金属ペーストを焼結することによって得られる。電子部品収納用パッケージ1、10は、第1の回路パターン151と配線導体4、第2の回路パターン152とリード端子102および接地パターン153と外部接地導体5のそれぞれが電気的に接続されるようにして実装基板15に実装される。
 具体的には、図12および図13に示されているように、第1の回路パターン151の上面と配線導体4のうち基体11の側方に引き出された領域の下面との間、第2の回路パターン152の上面とリード端子102の下面との間および接地パターン153の上面と外部接地導体5の下面との間に接続部材16を設けることによって行なう。接続部材16としては、例えばSnAgCu半田、SnZnBi半田、SnCu半田またはSnAgInBi半田等を用いることができる。
 配線導体4の下面が外部接地導体5の下面よりも上方に位置していることにより、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域と実装基板15との間の隙間S1を大きくすることができる。すなわち、外部接地導体5と配線導体4との高さが等しい場合と比較して、外部接地導体5と配線導体4との高さの差だけ、配線導体4と実装基板15との間の隙間を上下方向に大きくすることができる。すなわち、電子装置200は、電子モジュール100と、電子モジュール100が取り付けられた実装基板15とを備えており、外部接地導体5のうち基体11の直下に位置する領域と実装基板15との隙間S2よりも、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域と実装基板15との間の隙間S1が大きい。
 これにより、パッケージ1、10を実装基板15に実装する際に、インピーダンスのマッチングを容易に行なうことができる。具体的には、配線導体4と実装基板15との間の隙間S1を上下方向に大きくすることによって、配線基板4のうち基体11の直下に位置する領域の周囲の誘電率を、配線導体4のうち基体11の側方に引き出された領域の周囲の誘電率に近づけることができる。このため、これらの領域の間でインピーダンスのマッチングを行なうことが容易となる。
 また、実装基板15には取付け部材9の孔91と連続するように孔部が設けられている。孔91と孔部を通じてネジを組み込むことによって、電子部品収納用パッケージ1、10を実装基板15により強固に固定することができる。
 なお、図11に示す電子装置200において10~40GHz程度の周波数の高周波信号を流す場合の寸法の例について説明する。2つの配線導体4の幅を150μm、外部接地導体5のうち2つの配線導体4の間に位置する領域であって、基体11の側面の直下に位置する領域の幅を400μm、この領域と2つの配線導体4との間隔をそれぞれ900μmとする。
 この場合、配線導体4の厚みを例えば100~500μmに設定することができ、これに合せて隙間S1の高さ方向の大きさが所望の大きさになるように外部接地導体5の厚みを決定する。隙間S1の高さ方向の値を大きく設定するほど、配線導体4のうち基体11の直下に位置する領域と、基体11の側面から引き出された領域との間の誘電率を近づけることができる。しかしながら、過度に隙間S1を大きくすると、隙間S1の内部で高周波信号の共振が生じてしまう場合がある。したがって、上述の条件であれば、隙間S1の高さ方向の大きさは100~500μmに設定することが好ましい。
 なお、本発明は上述の実施形態の例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内であれば種々の変更や実施の形態の組合せを行うことは何等差し支えない。
  <実施例>
 実施例として、本発明の第2の実施形態の例の電子部品収納用部品10、電子モジュール100および電子装置200を作製して評価を行なった。作製した電子装置200は、図11に示した電子装置200である。
 作製した電子装置200の寸法は以下の通りである。2つの配線導体4は、幅が150μm、厚みが100μmである。外部接地導体5は、厚みが200μm、外部接地導体5のうち2つの配線導体4の間に位置する領域であって、基体11の側面の直下に位置する領域の幅が400μmである。この領域と2つの配線導体4との間隔はそれぞれ900μmである。第1の回路パターン151および接地パターン153の厚みは20μmである。接続部材16の厚みは、配線導体4と第1回路パターン151の間に設けられる接続部材16の厚みは150μm、外部接地導体5と接地パターン153との間に設けられる接続部材16の厚みは50μmである。すなわち、隙間S1の高さ方向の大きさは170μmである。
 次に作製した電子装置200に周波数が10GHz、20GHz、30GHzおよび40Ghzの高周波信号を流し、反射損失の大きさを測定した。なお、比較例として本実施例と配線導体4の厚みおよび配線導体4と第1の回路パターン151の間に設けられる接続部材16の厚みだけが異なる電子装置を準備した。具体的には、配線導体の厚みが200μmであり、配線導体4と第1回路パターン151の間に設けられる接続部材の厚みが50μmである。比較例の電子装置にも同様の測定を行なった。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1に示すように、10GHzの高周波信号を流した場合の反射損失は、実施例が-28dBであり、比較例が-23dBであった。20GHzの高周波信号を流した場合の反射損失は、実施例では-30dBであり、比較例では-21dBであった。30GHzの高周波信号を流した場合の反射損失は、実施例では-22dBであり、比較例では-16dBであった。40GHzの高周波信号を流した場合の反射損失は、実施例では-25dBであり、比較例では-16dBであった。いずれの周波数においても実施例は比較例よりも反射損失が小さかった。これは、実施例の方が比較例と比べてインピーダンスのマッチングがとれていたためである。以上より、本発明の電子装置200を用いることによって、インピーダンスマッチングを容易に行なうことができることが確認できた。
1、10:電子部品収納用部品(電子部品収納用パッケージ、パッケージ)
100:電子モジュール
200:電子装置
2:電子部品
3:接続導体
4:配線導体
5:接地導体(外部接地導体)
51:第1の領域
52:第2の領域
520:孔
53:第3の領域
54:第4の領域
9:取付け部材(ネジ止め部)
91:孔
11:基体
13:枠体
15:実装基板

Claims (7)

  1.  電子部品を搭載するための搭載領域を有する基体と、
    前記基体の上面から下面にかけて設けられた、前記電子部品に電気的に接続される接続導体と、
    前記基体の下面に設けられた、一方の端部が前記接続導体に電気的に接続されるとともに、他方の端部が前記基体の側方に引き出された配線導体と、
    前記基体の下面に設けられた、前記配線導体と共にコプレーナ線路を形成する接地導体とを備え、
    前記配線導体の下面が、前記接地導体の下面よりも上方に位置していることを特徴とする電子部品収納用部品。
  2.  前記接地導体は、下面視したときに、前記基体と重なり合う第1の領域と、前記基体の側面よりも外側に位置する第2の領域とを有していることを特徴とする請求項1に記載の電子部品収納用部品。
  3.  前記接地導体が、前記実装基板に取り付けるための孔を前記第2の領域に備えていることを特徴とする請求項2に記載の電子部品収納用部品。
  4.  前記接地導体の前記第2の領域が、下面視したときに、前記第1の領域に隣接する第3の領域と、該第3の領域よりも前記基体の外側に位置する第4の領域とを有し、該第4の領域と前記配線導体との間隔が、前記第3の領域と前記配線導体との間隔よりも大きいことを特徴とする請求項2に記載の電子部品収納用部品。
  5.  前記接地導体の前記第3の領域が、下面視したときに、前記基体から離れるにしたがって前記配線導体との間隔が大きくなっていることを特徴とする請求項4に記載の電子部品収納用部品。
  6.  請求項1に記載の電子部品収納用部品と、該電子部品収納用部品の前記搭載領域に搭載された電子部品とを備えた電子モジュール。
  7.  請求項6に記載の電子モジュールと、該電子モジュールが取りつけられた実装基板とを備えた電子装置。
PCT/JP2011/067495 2010-07-30 2011-07-29 電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置 WO2012015040A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201180022000.6A CN102884619B (zh) 2010-07-30 2011-07-29 电子部件收纳用部件、电子模块及电子装置
US13/813,222 US9078347B2 (en) 2010-07-30 2011-07-29 Electronic component housing unit, electronic module, and electronic device
JP2012526595A JP5697669B2 (ja) 2010-07-30 2011-07-29 電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置
EP11812629.1A EP2600396B1 (en) 2010-07-30 2011-07-29 Electronic component housing unit, electronic module and electronic device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010-172221 2010-07-30
JP2010172221 2010-07-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2012015040A1 true WO2012015040A1 (ja) 2012-02-02

Family

ID=45530239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/067495 WO2012015040A1 (ja) 2010-07-30 2011-07-29 電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9078347B2 (ja)
EP (1) EP2600396B1 (ja)
JP (1) JP5697669B2 (ja)
CN (1) CN102884619B (ja)
WO (1) WO2012015040A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140022734A1 (en) * 2012-07-17 2014-01-23 Oclaro Japan, Inc. Optical module
JP2014060318A (ja) * 2012-09-19 2014-04-03 Kyocera Corp 半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置
CN105655886A (zh) * 2016-03-14 2016-06-08 长葛市和合电气有限公司 具有备用安装板块的配电柜
JP2018137382A (ja) * 2017-02-23 2018-08-30 京セラ株式会社 配線基板、電子部品用パッケージおよび電子装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104067385B (zh) * 2012-01-24 2017-02-22 京瓷株式会社 电子部件收纳用封装体以及电子装置
WO2015046292A1 (ja) * 2013-09-25 2015-04-02 京セラ株式会社 電子部品収納用パッケージおよび電子装置
US10141303B1 (en) 2017-09-20 2018-11-27 Cree, Inc. RF amplifier package with biasing strip
WO2021053764A1 (ja) * 2019-09-18 2021-03-25 日本電信電話株式会社 光モジュール用パッケージ

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04336702A (ja) 1991-05-14 1992-11-24 Mitsubishi Electric Corp パッケージ
JPH07235811A (ja) * 1994-02-21 1995-09-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高周波線路
JP2003152124A (ja) * 2001-11-12 2003-05-23 Kyocera Corp 高周波用パッケージ
JP2004088067A (ja) * 2002-06-27 2004-03-18 Kyocera Corp 高周波信号伝送用積層構造およびそれを用いた高周波半導体パッケージ

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4518982A (en) * 1981-02-27 1985-05-21 Motorola, Inc. High current package with multi-level leads
CA1246755A (en) * 1985-03-30 1988-12-13 Akira Miyauchi Semiconductor device
KR940023325A (ko) * 1993-03-11 1994-10-22 토모마쯔 켕고 땜납층을 프리코팅해서 사용되는 회로기판 및 땜납층이 프리코팅된 회로기판
JP3649111B2 (ja) * 2000-10-24 2005-05-18 株式会社村田製作所 高周波回路基板およびそれを用いた高周波モジュールおよびそれを用いた電子装置
US6933450B2 (en) 2002-06-27 2005-08-23 Kyocera Corporation High-frequency signal transmitting device
JP4003579B2 (ja) * 2002-08-09 2007-11-07 住友電気工業株式会社 コプレーナ線路構造、伝送モジュール用パッケージ及び伝送モジュール
US6936921B2 (en) * 2002-11-11 2005-08-30 Kyocera Corporation High-frequency package
CN1763924A (zh) * 2005-11-28 2006-04-26 上海三基电子工业有限公司 一种电子电路的封装工艺
JP4653005B2 (ja) * 2006-04-17 2011-03-16 富士通株式会社 電子部品パッケージ
JP4847414B2 (ja) * 2007-08-09 2011-12-28 富士通株式会社 電子部品取付用部品および電子機器
TWI360912B (en) * 2008-04-25 2012-03-21 Univ Nat Chiao Tung Vertical transition structure
WO2011007507A1 (ja) * 2009-07-17 2011-01-20 日本電気株式会社 半導体パッケージ用基板および半導体パッケージ用基板の製造方法
US9491873B2 (en) * 2011-05-31 2016-11-08 Kyocera Corporation Element housing package, component for semiconductor device, and semiconductor device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04336702A (ja) 1991-05-14 1992-11-24 Mitsubishi Electric Corp パッケージ
JPH07235811A (ja) * 1994-02-21 1995-09-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高周波線路
JP2003152124A (ja) * 2001-11-12 2003-05-23 Kyocera Corp 高周波用パッケージ
JP2004088067A (ja) * 2002-06-27 2004-03-18 Kyocera Corp 高周波信号伝送用積層構造およびそれを用いた高周波半導体パッケージ

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2600396A4

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140022734A1 (en) * 2012-07-17 2014-01-23 Oclaro Japan, Inc. Optical module
JP2014022510A (ja) * 2012-07-17 2014-02-03 Japan Oclaro Inc 光モジュール
JP2014060318A (ja) * 2012-09-19 2014-04-03 Kyocera Corp 半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置
CN105655886A (zh) * 2016-03-14 2016-06-08 长葛市和合电气有限公司 具有备用安装板块的配电柜
JP2018137382A (ja) * 2017-02-23 2018-08-30 京セラ株式会社 配線基板、電子部品用パッケージおよび電子装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102884619B (zh) 2016-08-17
EP2600396B1 (en) 2017-03-15
EP2600396A4 (en) 2016-01-06
EP2600396A1 (en) 2013-06-05
US20130128467A1 (en) 2013-05-23
US9078347B2 (en) 2015-07-07
JP5697669B2 (ja) 2015-04-08
CN102884619A (zh) 2013-01-16
JPWO2012015040A1 (ja) 2013-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5697669B2 (ja) 電子部品収納用部品、電子モジュールおよび電子装置
JP5443594B2 (ja) チップから導波管ポートへの変換器
US7522014B2 (en) High frequency line-to-waveguide converter and high frequency package
US9426929B2 (en) Leadframe package with integrated partial waveguide interface
JP6243510B2 (ja) 電子部品収納用パッケージおよび電子装置
US20140008780A1 (en) Semiconductor device housing package, and semiconductor apparatus and electronic apparatus including the same
US9935025B2 (en) Electronic component housing package and electronic device
US7471520B2 (en) Impedance matching external component connections with uncompensated leads
JP5444915B2 (ja) 高周波モジュール及び高周波モジュールの製造方法
US9983363B2 (en) Optical semiconductor device
JP2009010149A (ja) 接続端子及びこれを用いたパッケージ並びに電子装置
JP2014236053A (ja) 半導体パッケージ容器、半導体装置、電子機器
JP2019175939A (ja) 半導体素子用パッケージおよび半導体装置
WO2024075816A1 (ja) 配線基板、配線基板を用いた電子部品実装用パッケージ、および電子モジュール
WO2023053228A1 (en) Semiconductor device
JP3670574B2 (ja) 入出力端子および半導体素子収納用パッケージ
CN112185898A (zh) 基于柔性电路板的高速光器件及封装方法
JP2004079570A (ja) 半導体素子収納パッケージ
WO2018028762A1 (en) Waveguide and waveguide arrangement with waveguide transition
JP2001217331A (ja) 半導体素子収納用パッケージ
JP2012234880A (ja) 素子収納用パッケージおよびこれを備えた半導体装置
JP2001308224A (ja) チップ部品用パッケ−ジ

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201180022000.6

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11812629

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2012526595

Country of ref document: JP

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2011812629

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2011812629

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13813222

Country of ref document: US