WO2011122232A1 - 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板 - Google Patents

金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板 Download PDF

Info

Publication number
WO2011122232A1
WO2011122232A1 PCT/JP2011/054916 JP2011054916W WO2011122232A1 WO 2011122232 A1 WO2011122232 A1 WO 2011122232A1 JP 2011054916 W JP2011054916 W JP 2011054916W WO 2011122232 A1 WO2011122232 A1 WO 2011122232A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
metal
support
metal support
flexible substrate
adhesive layer
Prior art date
Application number
PCT/JP2011/054916
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
前田昭弘
大野英二
澤村泰司
Original Assignee
東レ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東レ株式会社 filed Critical 東レ株式会社
Priority to KR1020127025274A priority Critical patent/KR20130018717A/ko
Priority to JP2011512767A priority patent/JP5682554B2/ja
Priority to SG2012071130A priority patent/SG184257A1/en
Priority to CN2011800167659A priority patent/CN102822953A/zh
Publication of WO2011122232A1 publication Critical patent/WO2011122232A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/142Metallic substrates having insulating layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/64Manufacture or treatment of solid state devices other than semiconductor devices, or of parts thereof, not peculiar to a single device provided for in groups H01L31/00 - H10K99/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/4985Flexible insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/86Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using tape automated bonding [TAB]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0393Flexible materials
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/05Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/022Processes for manufacturing precursors of printed circuits, i.e. copper-clad substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01012Magnesium [Mg]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0102Calcium [Ca]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/049Nitrides composed of metals from groups of the periodic table
    • H01L2924/04944th Group
    • H01L2924/04941TiN
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0335Layered conductors or foils
    • H05K2201/0355Metal foils

Definitions

  • the present invention relates to a metal-supported flexible printed circuit board. More specifically, semiconductor device connection substrates such as tape automated bonding (TAB) and ball grid array (BGA) package interposers used for mounting semiconductor integrated circuits (ICs), LEDs, and power
  • TAB tape automated bonding
  • BGA ball grid array
  • the present invention relates to a metal-supporting flexible substrate for electronic components suitable for producing a substrate for mounting a system device.
  • a flexible board is a circuit-forming board that is composed of a support, an adhesive, a circuit-forming conductor layer, etc., and has excellent flexibility. After mounting the desired functional parts on the formed conductor circuit layer, the solder Circuit boards are protected by resists and coverlay films, and are widely used as interposers for wiring various electronic devices and mounting ICs.
  • a TAB tape carrier for a liquid crystal display element is proposed in which an adhesive is applied on a base metal as a base base and a copper pattern is formed thereon. ing.
  • a base metal as a base base and a copper pattern is formed thereon.
  • the present invention has excellent wire bonding and low curl characteristics while maintaining excellent insulation and punching characteristics, so it can be processed reel-to-reel, and metal support for easy packaging design and heat dissipation design.
  • An object is to provide a flexible substrate.
  • the metal-supported flexible substrate of the present invention has a support composed of a metal foil, and (1) the adhesive layer comprises (A) a polyamide resin containing a dimer acid residue, and (B) A phenol resin is contained.
  • the electronic component using the metal-supported flexible substrate of the present invention has chemical resistance necessary for circuit processing and insulation that enables high-voltage driving in the metal-supported substrate circuit.
  • the flying lead can be easily formed, and a simple and low-cost heat radiation design can be achieved as compared with the conventional electronic component.
  • the adhesive layer contains (A) a polyamide resin containing a dimer acid residue.
  • dimer acid in a polyamide resin containing a dimer acid residue is industrially a dibasic acid in the highest molecular weight region, and has a bulky hydrocarbon group, and thus has a high hydrophobicity. Therefore, the dimer acid polyamide resin derived from dimer acid is an organic solvent necessary for realizing the metal-supported flexible substrate of the present invention while maintaining toughness, flexibility and low water absorption because of low crystallinity. It has the solubility of. Furthermore, it has hydrolysis resistance and flame retardancy derived from the strong binding force of the amide bond.
  • a polyamide resin having a dimer acid residue having 36 carbon atoms is preferable in terms of toughness, film-forming property and processability. If it is a polyamide resin which has a dimer acid residue, a well-known various thing can be used and you may use 2 or more types.
  • a polyamide resin having a dimer acid residue can be obtained by polycondensation of dimer acid and diamine by a conventional method.
  • dicarboxylic acid other than dimer acid, azelaic acid and sebacic acid are used as copolymerization components.
  • diamine well-known things, such as ethylenediamine, hexamethylenediamine, and piperazine, can be used, and two or more kinds may be used.
  • the amine value of the polyamide resin having a dimer acid residue is preferably from 0.5 to 10, and more preferably from 0.5 to 8.
  • the amine value here means the mg quantity of potassium hydroxide equivalent to hydrochloric acid required for titrating 1 g of polyamide resin.
  • (1) mg quantity of potassium hydroxide equivalent to hydrochloric acid required for titrating 1 g of a resin mixture obtained by mixing each polyamide resin at a content ratio in the adhesive layer is indicated. Refers to the amine value.
  • the amine value is 0.5 or more, (1) not only the crosslink density of the adhesive layer is increased, but the chemical resistance and insulation durability of the resulting flexible substrate against an alkali solution or an organic acid mixed solution are improved. It is possible to keep resin deformation to a minimum with respect to wire bonding and flip chip thermal pressure during IC mounting, and it is possible to avoid contact between the metal support layer and the wire. Further, if the amine value is 10 or less, the absolute value of the curl amount of the wiring board obtained after processing can be reduced, and the crosslinking reaction rate of the adhesive can be kept appropriate. It is possible to ensure storage stability in the cured state and stability in the processing step.
  • the polyamide resin having a dimer acid residue preferably has a melt viscosity at 190 ° C. of 10 Pa ⁇ s or more, more preferably 20 Pa ⁇ s or more. If the melt viscosity at 190 ° C. is 10 Pa ⁇ s or more, (1) film-forming properties of the adhesive layer and (1) durability against moisture-absorbing moisture foaming during the main curing of the adhesive layer are obtained, so that it is more stable. Can be processed. Further, the melt viscosity at 190 ° C. is preferably 190 Pa ⁇ s or less, and more preferably 100 Pa ⁇ s or less.
  • melt viscosity at 190 ° C is 190 Pa ⁇ s or less, there is no need to treat the metal layer for circuit formation at a high temperature, so it is possible to minimize thermal degradation and thermal stress generation of the circuit layer. It becomes.
  • the melt viscosity at 190 ° C. can be measured by an apparent viscosity measurement described in Annex C of JIS K7210-1999. When two or more types of polyamide resins are included, the measurement is performed using a resin mixture in which each polyamide resin is mixed at a content ratio in (1) the adhesive layer.
  • the polyamide resin having a dimer acid residue preferably contains a polyetheramide resin.
  • the polyetheramide resin is highly flexible even when the molecular weight is increased, and the absolute value of the curl amount of the wiring board obtained after processing can be reduced.
  • the adhesive layer contains (B) a phenol resin.
  • the phenol resin is not particularly limited as long as it contains two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule, and any known phenol resin such as novolac type phenol resin and resol type phenol resin can be used.
  • alkyl-substituted phenols such as phenol, cresol, pt-butylphenol, nonylphenol, p-phenylphenol, cyclic alkyl-modified phenols such as terpene and dicyclopentadiene, nitro groups, halogen groups, cyano groups
  • alkyl-substituted phenols such as phenol, cresol, pt-butylphenol, nonylphenol, p-phenylphenol, cyclic alkyl-modified phenols such as terpene and dicyclopentadiene, nitro groups, halogen groups, cyano groups
  • examples thereof include those having a functional group containing a hetero atom such as an amino group, those having a skeleton such as naphthalene and anthracene, and resins made of polyfunctional phenols such as bisphenol F, bisphenol A, bisphenol S, resorcinol, and pyrogallol. Two or more
  • the content of the (B) phenol resin is preferably 10 parts by weight or more with respect to 100 parts by weight of the (A) polyamide resin containing a dimer acid residue, and more preferably 30 parts by weight or more. preferable. Also, it is preferably 200 parts by weight or less, and more preferably 160 parts by weight or less. (B) If the content of the phenol resin is 10 parts by weight or more, the insulation reliability and the durability of adhesive strength under high temperature and high humidity treatment are improved, and if it is 200 parts by weight or less, the flexibility is excellent.
  • the adhesive layer may contain (C) an epoxy resin.
  • the epoxy resin those having two or more epoxy groups are preferable, diglycidyl ethers such as bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, resorcinol, dihydroxynaphthalene, dicyclopentadiene diphenol, dicyclopentadiene dixylenol, and phenol novolacs.
  • Cresol novolak trisphenylol methane, epoxidized tetraphenylol ethane, epoxidized metaxylene diamine, cyclohexene oxide, bicycloheptene oxide, cyclopentene oxide and the like are preferable.
  • those having a total of 3 or more chemical reaction sites selected from the group consisting of allyl, methallyl, amino, hydroxyl and carboxyl groups are also preferred.
  • the total number of all types of chemical reaction sites in the unit molecule is three or more.
  • the position of the chemical reaction site is not particularly limited, but preferably has a chemical reaction site at least in the side chain. Two or more of the above epoxy resins may be used.
  • the adhesive layer may contain (D) a curing accelerator.
  • a curing accelerator for example, known ones such as aromatic polyamines, imidazole derivatives such as 2-alkyl-4-methylimidazole and 2-phenyl-4-alkylimidazole, dicyandiamide, triphenylphosphine and diazabicycloundecene can be exemplified. Two or more of these may be used.
  • the adhesive layer may contain (E) a filler.
  • the filler is not particularly limited as long as it does not impair the properties of the adhesive, but as the inorganic filler, metal fine particles such as gold, silver, copper, iron, nickel, aluminum, magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, calcium Metal hydroxide such as aluminate hydrate, aluminum oxide, zirconium oxide, zinc oxide, antimony trioxide, antimony pentoxide, aluminum oxide, magnesium oxide, titanium oxide, iron oxide, cobalt oxide, chromium oxide, talc, etc.
  • Examples thereof include metal oxides, silicon carbide, titanium carbide silica, aluminum nitride, titanium nitride, silicon nitride, inorganic salts such as calcium carbonate, carbon black, silica, and glass.
  • silica, alumina, aluminum nitride, magnesium hydroxide, aluminum hydroxide and the like are preferably used.
  • the silica may be either amorphous or crystalline, and it is not limited that the silica can be properly used according to the characteristics of each.
  • These inorganic fillers may be subjected to a surface treatment using a silane coupling agent or the like for the purpose of improving adhesiveness or filling properties.
  • the particle size of the inorganic filler is not particularly limited, but an average particle size of 0.02 to 30 ⁇ m is preferable from the viewpoints of dispersibility, coatability, transparency, and the like.
  • organic fillers examples include crosslinked polymers such as styrene, NBR rubber, acrylic rubber, polyamide, polyimide, and silicone.
  • the average particle size of the fine organic filler is preferably 0.2 to 5 ⁇ m in consideration of dispersion stability.
  • an antioxidant In addition to the above components, it is not limited at all to contain an antioxidant, an ion scavenger and the like as long as the properties of the adhesive are not impaired.
  • the antioxidant is not particularly limited as long as it imparts an antioxidant function.
  • Known antioxidants such as a phenol-based antioxidant, a thioether-based antioxidant, a phosphorus-based antioxidant, and an amine-based antioxidant are used.
  • An inhibitor can be used. Two or more of these may be used.
  • the metal support flexible substrate of the present invention is (2) the support is made of a metal foil.
  • the thermal conductivity of the circuit board is improved, and the size of the heat sink can be minimized.
  • the metal-supported flexible substrate of the present invention can easily form a device hole by punching or the like, a component to be mounted such as an IC or an LED element can be mounted from the back surface of the circuit formation surface using the device hole.
  • the support itself can be used as a heat sink or the thermal conductivity to the heat sink can be improved.
  • Copper foil, stainless steel foil, and aluminum foil are preferably used as the metal, but other copper alloy foils such as phosphor bronze, nickel foil, magnesium foil, titanium foil, or alloy foils containing these may be used depending on the application / required function.
  • a metal foil having a thermal expansion coefficient of 10 to 30 ppm / ° C. can be suitably selected according to the balance of the entire packaging.
  • the thickness of the support can be appropriately selected according to the required flexibility and tear strength, but is preferably 12 ⁇ m to 150 ⁇ m, more preferably 12 ⁇ m to 75 ⁇ m.
  • the metal foil as a support is organic (1) for the purpose of imparting easy adhesion and insulation of the adhesive layer, changing the appearance gloss, and avoiding chemical exposure during circuit formation.
  • Adhesive layer side and / or opposite side of support (3) Support coating layer May be configured.
  • the thickness of the support coating layer is preferably 2 ⁇ m or more as a lower limit from the viewpoint of the balance between the coating strength and the reel handling property and (2) the enhancement of the insulation reliability between the support and the circuit conductor layer. Things are more preferable. Moreover, as an upper limit, it is preferable that it is 100 micrometers or less, and it is more preferable that it is 10 micrometers or less. More preferably, it is less than 5 ⁇ m. (3)
  • the layer structure of the support covering layer may be a single layer or a plurality of layers.
  • a resin is used for the support coating layer, it is not particularly limited, but a polyimide resin or a polyamideimide resin excellent in heat resistance and chemical resistance is preferably used, and in particular, the polyamideimide resin is chemical resistant. It is preferably used from the viewpoint of imparting and easy adhesion.
  • the polyamide-imide resin is particularly preferable because (A) a polyamide resin containing a dimer acid residue and (B) a phenol resin (1) adhesive layer containing a phenol resin can be obtained.
  • the polyamideimide resin used for the support coating layer preferably has a Tg (glass transition temperature) of 300 ° C. or higher and a weight average molecular weight of 10,000 or higher from the viewpoint of heat resistance and chemical resistance. In order to obtain a high adhesive force with (1) the adhesive layer of the present invention, it is preferable that the epoxy resin is mixed and cured by 5% by weight or more.
  • the support coating layer can be arranged as needed on either the adhesive layer side or the opposite side depending on the purpose, and the peelability can be applied to either or both of them. It may be given. Peelability means that (3) a support covering layer is arranged (2) a part of the support is peeled off from the support (2) or conversely (2) the surface of the support is (3) the support covering This means that (3) the support covering layer can be peeled without leaving a part of the layer or causing peeling at other interfaces.
  • the support covering layer has a layer structure of two or more layers
  • the first layer in contact with the support is an adhesive material and / or a thermoplastic resin, other than the first layer
  • at least one layer is at least one selected from polyester, polyolefin, polyphenylene sulfide, polyvinyl butyral, polyvinyl acetate, polyvinyl alcohol, polycarbonate, polyamide, polyimide, polyamideimide, and polymethyl methacrylate.
  • the first layer has releasability, and at least one layer other than the first layer secures the tensile strength at the time of peeling and ensures easy peeling while securing the chemical resistance at the time of circuit processing. Can do.
  • a hole cross-section covering layer may be further added.
  • a resin is used for the hole cross-section covering layer, an epoxy resin, a polyimide resin, a polyamideimide resin, or an acrylic resin excellent in insulation, heat resistance, and chemical resistance is preferably used.
  • Chemicals are often used for circuit formation, but by applying a photoresist to the entire surface of the metal support flexible substrate, (2) on the support there is no (1) no adhesive layer and (2) the support is exposed. The exposed portion can be prevented from being exposed to chemicals, thereby preventing damage to the metal support flexible substrate. Moreover, the chemical
  • the metal-supporting flexible substrate of the present invention can be used as a metal-supporting carrier tape by (1) maintaining the adhesive layer in a semi-cured state and (5) arranging a protective film. Also good.
  • the protective film is not particularly limited as long as it can be peeled without impairing the form and function of the adhesive layer.
  • Metal support carrier tape is formed by punching, etc., after forming the necessary device holes, peeling off the protective film, and arranging the metal layer for circuit formation by the laminating method or pressing method.
  • Lead can be formed. If mounting using flying leads, ICs and LED elements can be mounted from either the front or back of the metal support carrier tape, which not only improves the layout and heat dissipation design of the mounted components. Further, the dielectric breakdown of the support metal layer-circuit forming layer due to the compressive breakdown of the insulating layer, which is a problem in the wire bonding method, can be further avoided.
  • the resin composition constituting the adhesive layer is dissolved in a solvent to form an adhesive paint, (2) coated on the support and dried (1) to form the adhesive layer.
  • a metal-supporting flexible substrate is obtained.
  • the thickness of the adhesive layer is not particularly limited as long as it satisfies each required function such as adhesion, insulation, and thermal conductivity, but it is applied to be 2 to 200 ⁇ m in order to maintain flexibility. It is preferable to apply so that the thickness is 2 to 50 ⁇ m.
  • the application method is not particularly limited, but general application equipment such as a comma method, a lip method, a roll method, a Mayer bar method, and a gravure method may be appropriately used in accordance with the paint properties.
  • the drying conditions are usually 100 to 200 ° C.
  • Solvents are not particularly limited, but aromatics such as toluene, xylene and chlorobenzene, ketones such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone, aprotics such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N methylpyrrolidone, ethanol, methanol and isopropyl alcohol Alcohol solvents such as N butanol and benzyl alcohol are suitable, and two or more of these may be used.
  • the metal support flexible substrate of the present invention may be obtained by laminating a protective film (5) having a releasability, if necessary, on the adhesive layer formed by the method described in (a). In order to further increase the adhesive thickness, the paint may be applied again, or the formed (1) adhesive layer may be laminated a plurality of times. Alternatively, (5) an adhesive layer may be formed in advance on (5) a protective film, and (2) a support may be laminated to obtain the metal-supported flexible substrate of the present invention.
  • (3) a coating material in which the resin that becomes the support coating layer is dissolved or dispersed in an organic solvent is prepared in advance; It is preferable to apply (3) a support covering layer by coating and drying at a predetermined thickness.
  • a support covering layer (3) having releasability is provided, a releasable resin layer is provided. It is preferable that a multilayer structure obtained by applying and drying a film for maintaining the tensile strength necessary for peeling is previously bonded to (2) a support by a laminating method or the like.
  • the conditions for laminating the (1) adhesive layer on the support are usually a temperature of 50 to 160 ° C. and a pressure of 0.1 to 0.5 MPa.
  • the laminating temperature is preferably 140 ° C. or lower. It can be judged that it is good if it is 120 ° C. or lower, and very good if it is 100 ° C. or lower.
  • the adhesive layer is laminated, and in that case, it is preferable to laminate under the same conditions as in the case of (2) directly laminating the adhesive layer on the support.
  • heat treatment may be performed at 40 to 100 ° C. for about 20 to 300 hours.
  • the degree of curing of the adhesive layer may be adjusted. By adjusting the degree of curing, it is possible to prevent excessive flow of the adhesive when the circuit-forming metal layer is disposed on the metal-supporting flexible substrate and to prevent foaming due to moisture during heat curing.
  • Electrodeposition coating methods include: (2) Cathodic electrodeposition in which a negative voltage is applied to the support and positively polarized epoxy resin or polyimide resin is deposited on the hole cross section of the support. It is preferable to employ a coating method. Moreover, it is preferable to heat-fix the electrodeposition paint after applying it.
  • the electronic component using the metal-supported flexible substrate of the present invention has chemical resistance necessary for circuit processing and insulation necessary for the metal-supported substrate, so that reel-to-reel processing, punching processing, and formation of flying leads are easy. Thus, a simpler and lower cost heat radiation design can be achieved compared to conventional electronic components.
  • Insulation reliability evaluation of metal-supported flexible circuit board 100V voltage at 130 ° C. and 85% RH on metal-supported flexible circuit board (conductor width 50 ⁇ m, distance between conductors 50 ⁇ m) obtained in each example and comparative example The time until the resistance value decreased to 10 6 ⁇ or less was defined as the insulation durability time.
  • the insulation durability time is preferably 250 hours or more.
  • Rank C When satisfying the following requirement (i) when immersed in the chemical solution of 1 for 3 minutes, then in the chemical solution of 2 for 3 minutes, and further in the chemical solution of 3 for 3 minutes, the requirement of (ii) below is satisfied. If not.
  • F rank When all the requirements (i) and (ii) below are not satisfied when immersed in the chemical solution of 1 for 3 minutes, then in the chemical solution of 2 for 3 minutes, and further in the chemical solution of 3 for 3 minutes.
  • the (3) support coating layer is not formed on the opposite side of the (1) adhesive layer of the (2) support, (2) the (1) adhesive layer on the opposite side of the support The surface appearance of the surface is not significantly damaged by the chemical solution.
  • a rank When immersed in the chemical solution of 1 for 5 minutes, then in the chemical solution of 2 for 5 minutes, and further in the chemical solution of 3 for 5 minutes, the following (i) When all the requirements of (iii) are satisfied.
  • a ′ rank The above A rank requirement is not satisfied, but when immersed in the chemical solution 1 for 3 minutes, then in the chemical solution 2 for 3 minutes, and further in the chemical solution 3 for 3 minutes, the following (i) to (iii) ) When all the requirements are met.
  • Rank B When immersed in the chemical solution of 1 for 3 minutes, then in the chemical solution of 2 for 3 minutes, and further in the chemical solution of 3 for 3 minutes, any of the following requirements (i) to (iii) are satisfied .
  • Rank C When satisfying one of the following requirements (i) to (iii) when immersed in the chemical solution of 1 for 3 minutes, then in the chemical solution of 2 for 3 minutes, and further in the chemical solution of 3 for 3 minutes. If.
  • F rank When all of the following requirements (i) to (iii) are not satisfied when immersed in the chemical solution of 1 for 3 minutes, then in the chemical solution of 2 for 3 minutes, and further in the chemical solution of 3 for 3 minutes.
  • Adhesive strength of metal-supported flexible circuit board Using the metal-supported flexible circuit board (conductor width 50 ⁇ m) obtained in each of the examples and comparative examples, the conductor was made to Tensilon UTM-11-5HR (manufactured by Toyo Baldwin). Then, the film was peeled off at a speed of 50 mm / min in the direction of 90 °, and the peeling strength at that time was measured. It can be judged that it is very good if it is 8 N / cm or more, and good if it is 6 N / cm or more.
  • Example 1 Preparation of adhesive layer sheet
  • Dimer acid polyamide resin (“Sunmide” (registered trademark) HT-100G, manufactured by Air Products Japan, amine value 1, melt viscosity 7.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight
  • B 50 parts by weight of a resol phenol resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.)
  • C 80 parts by weight of an epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.)
  • a curing accelerator Ethanol / toluene mixed solvent (mixing weight ratio ethanol 1: toluene 4) was added to 2 parts by weight of 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., and stirred and mixed at 30 ° C.
  • a weight percent adhesive composition was prepared.
  • the adhesive composition was applied to a protective film (5) a protective film (polyethylene terephthalate film having a thickness of 25 ⁇ m with a silicone release agent (“Film Vina” (registered trademark) GT manufactured by Fujimori Kogyo Co., Ltd.)) of about 12 ⁇ m using a bar coater.
  • a protective film polyethylene terephthalate film having a thickness of 25 ⁇ m with a silicone release agent (“Film Vina” (registered trademark) GT manufactured by Fujimori Kogyo Co., Ltd.)
  • a bar coater After applying to dry thickness and drying at 150 ° C. for 4 minutes, (5) protective film is sandwiched on both sides by attaching another (5) protective film to the formed (1) adhesive layer surface
  • An adhesive layer sheet was prepared.
  • the protective film of the metal-supported flexible substrate was peeled off, and an 18 ⁇ m electrolytic copper foil was laminated under the conditions of 140 ° C. and 0.3 MPa pressure. Subsequently, heat treatment was sequentially performed in an air oven at 80 ° C. for 3 hours, at 100 ° C. for 5 hours, and at 150 ° C. for 5 hours to produce a metal-supporting flexible substrate with a copper foil for circuit formation. Photoresist film formation, etching, and resist stripping are performed on the surface of the obtained copper foil for circuit formation of the metal-supported flexible substrate with copper foil for circuit formation by a conventional method to form a counter electrode circuit with a wiring pitch of 100 ⁇ m (conductor width: 50 ⁇ m).
  • the film was immersed in an electroless tin plating solution of a borofluoric acid type (made by Rohm and Haas, tin plating solution (trade name) “TINPOSIT” (registered trademark) LT-34) at 70 ° C. for 5 minutes, and a 0.5 ⁇ m thick plating was performed. As a result, a metal-supported flexible circuit board was produced.
  • a borofluoric acid type made by Rohm and Haas, tin plating solution (trade name) “TINPOSIT” (registered trademark) LT-34)
  • the evaluations (1) to (7) were performed using the metal support flexible substrate for evaluation, the metal support flexible substrate with copper foil for circuit formation, and the metal support flexible circuit substrate obtained by the above method.
  • Example 2 In preparing the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyamide resin (“Tomide” (registered trademark) TXC-232C, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 10.0, melt viscosity as components (A) to (D) 24.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (B) Resole phenol resin (CKM1634, Showa High Polymer Co., Ltd.) 50 parts by weight, (C) Epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 It was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2 parts by weight of (D) curing accelerator (2 ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was used. 7) The evaluation described above was performed.
  • TXC-232C manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd.
  • amine value 10.0 melt viscosity as
  • Example 3 In preparing the adhesive layer sheet, as components (A) to (D), (A) dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 3, melt viscosity) 40.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (B) 50 parts by weight of resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.), (C) epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 It was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2 parts by weight of (D) curing accelerator (2 ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was used. 7) The evaluation described above was performed.
  • Dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd.
  • Example 4 In preparing the adhesive layer sheet, as components (A) to (D), (A) dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 3, melt viscosity) 40.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (B) 50 parts by weight of resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.), (C) epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 Parts by weight, (D) 2 parts by weight of a curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), and in an ethanol / toluene mixed solvent (mixing weight ratio ethanol 1: toluene 4) (E) Alumina filler (“Admafine” (registered trademark) AO-502, average particle size 0.7
  • a sprocket hole (a square with a hole diameter of 1.98 mm ⁇ 1.98 mm, a pitch of 4.75 mm) was formed on the metal-supporting flexible board by punching one row at each end to obtain a metal-supporting flexible board with sprocket holes.
  • the protective film (5) of the metal-supported flexible substrate with sprocket holes was peeled off, and an 18 ⁇ m electrolytic copper foil was laminated under conditions of 140 ° C. and 0.3 MPa pressure. Subsequently, heat treatment was sequentially performed in an air oven at 80 ° C. for 3 hours, at 100 ° C. for 5 hours, and at 150 ° C. for 5 hours to produce a metal-supporting flexible substrate with a copper foil for circuit formation.
  • the photoresist film is formed, exposed and developed on the entire surface of the circuit-forming copper foil side of the obtained metal-supported flexible board with copper foil for circuit formation by conventional methods, and then a backing material is brushed on the entire back surface.
  • the sprocket hole was filled with a backing material.
  • etching, resist peeling, and backing material peeling are performed to form a counter electrode circuit with a wiring pitch of 100 ⁇ m (conductor width: 50 ⁇ m), and then a borofluoric acid-based (tin plating solution (trade name) “TINPOSIT” manufactured by Rohm and Haas) (Registered trademark) LT-34) was immersed in an electroless tin plating solution at 70 ° C. for 5 minutes and plated with a thickness of 0.5 ⁇ m to produce a metal-supported flexible circuit board.
  • the metal support flexible substrate for evaluation Using the metal support flexible substrate for evaluation, the metal support flexible substrate with sprocket holes, the metal support flexible substrate with copper foil for circuit formation, and the metal support flexible circuit substrate obtained by the above method, the above (1) to (7) Evaluation was performed.
  • Example 6 (2) Both sides of an aluminum foil (50 ⁇ m thickness (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) as a support, (3) Tg 300 ° C., weight average molecular weight 11000, epoxy resin mixture as a support coating layer It was produced in the same manner as in Example 5 except that the one coated with 3.0 ⁇ m of polyamideimide resin at a ratio of 10% was used, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Example 7 (2) Both sides of an aluminum foil (50 ⁇ m thickness (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) as a support, (3) Tg 300 ° C., weight average molecular weight 11000, epoxy resin mixture as a support coating layer It was produced in the same manner as in Example 5 except that a 10% ratio polyamide imide resin coated with 1.5 ⁇ m was used, and the evaluations described in (1) to (7) above were performed.
  • Example 8 (2) Both sides of an aluminum foil (50 ⁇ m thick (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) as a support, (3) Tg 250 ° C., weight average molecular weight 8000, epoxy resin mixture as a support coating layer It was produced in the same manner as in Example 5 except that the one coated with 3.0 ⁇ m of polyamideimide resin at a ratio of 10% was used, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Example 9 (2) Both sides of an aluminum foil (50 ⁇ m thickness (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) as a support, (3) Polyimide resin 3 having a Tg of 300 ° C. and a weight average molecular weight of 12,000 as a support coating layer A sample was prepared in the same manner as in Example 5 except that the one coated with 0.0 ⁇ m was used, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Example 10 In preparation of the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyamide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-100, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 0, melt viscosity 180.0 Pa ⁇ s) as component (A) A sample was prepared in the same manner as in Example 6 except that 100 parts by weight was used, and the evaluations described in (1) to (7) were performed.
  • Tomide registered trademark
  • PA-100 manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 0, melt viscosity 180.0 Pa ⁇ s
  • Example 11 In preparation of the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyamide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-100, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 0, melt viscosity 180.0 Pa ⁇ s) as component (A) It was produced in the same manner as in Example 7 except that 100 parts by weight was used, and the evaluations described in (1) to (7) were performed.
  • Tomide registered trademark
  • PA-100 manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 0, melt viscosity 180.0 Pa ⁇ s
  • Example 12 (2) (1) Adhesive layer side of aluminum foil (50 ⁇ m thickness (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) as a support, (3) Tg 300 ° C., weight average as support support layer Backing tape KT-50 (manufactured by Kawamura Sangyo Co., Ltd.) (coverable pressure-sensitive adhesive layer 20 ⁇ m, polyethylene terephthalate film 50 ⁇ m) covered with 3 ⁇ m of polyimide resin with a molecular weight of 11000 and the opposite side of which is made of polyethylene terephthalate film with adhesive. It was produced by the same method as in Example 5 except that a roll laminate at 0 ° C. was used, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Example 13 In the production of the metal-supported flexible substrate with sprocket holes, an electrodeposition paint Elecoat AMG (made by Shimizu Co., Ltd.) whose resin content is epoxy resin is electrodeposited on the cross section of the sprocket holes to a film thickness of 10 ⁇ m, at 100 ° C. for 15 minutes. It was produced by the same method as in Example 6 except that (4) a hole cross-section covering layer was formed by performing a drying treatment, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Elecoat AMG made by Shimizu Co., Ltd.
  • Example 14 In the production of the metal-supporting flexible substrate with sprocket holes, (4) the same as in Example 13 except that the hole cross-section coating layer was an electrodeposition paint Elecoat PI (manufactured by Shimizu Co., Ltd.) whose resin content is a polyimide resin system. It was fabricated by the method, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Elecoat PI manufactured by Shimizu Co., Ltd.
  • Example 15 In preparing the adhesive layer sheet, as components (A) to (D), (A) dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 3, melt viscosity) 40.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (B) 50 parts by weight of resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.), (C) epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 Parts by weight, (D) 2 parts by weight of a curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), and in an ethanol / toluene mixed solvent (mixing weight ratio ethanol 1: toluene 4) (E) Alumina filler (“Admafine” (registered trademark) AO-502, average particle
  • Example 16 In preparing the adhesive layer sheet, as components (A) to (D), (A) dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 3, melt viscosity) 40.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (B) 50 parts by weight of resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.), (C) epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 Parts by weight, (D) 2 parts by weight of a curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), and in an ethanol / toluene mixed solvent (mixing weight ratio ethanol 1: toluene 4) (E) Alumina filler (“Admafine” (registered trademark) AO-502, average particle
  • Example 17 In preparing the adhesive layer sheet, as components (A) to (D), (A) dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 3, melt viscosity) 40.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (B) 50 parts by weight of resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.), (C) epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 Parts by weight, (D) 2 parts by weight of a curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), and in an ethanol / toluene mixed solvent (mixing weight ratio ethanol 1: toluene 4) (E) In order to add 300 parts by weight of aluminum nitride filler (H, average particle size
  • Example 18 In preparing the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyetheramide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-200, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 1, melt viscosity) as components (A) to (D) 40.0 Pa ⁇ s), dimer acid polyamide resin (“Tomide” (registered trademark) PA-100, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine number 0, melt viscosity 180.0 Pa ⁇ s) and dimer acid polyamide resin (“Tomide”).
  • Tomide dimer acid polyetheramide resin
  • PA-200 manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 1, melt viscosity
  • (Registered trademark) 535 manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine number 50, melt viscosity 1.0 Pa.s) 2: 1: 0.5 mixture (amine number 7.1 melt viscosity 80 Pa.s) ( Dimer acid polyetheramide resin 1) 100 parts by weight, (B) resol phenol resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.) 50 parts by weight, (C) epoxy resin (“Epicoat” ( (Registered trademark) YL980, manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 parts by weight, (D) curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Kasei Co., Ltd.) 2 parts by weight The above-mentioned methods (1) to (7) were evaluated.
  • Example 19 In preparing the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyamide resin (“Macromelt” (registered trademark) 6900, manufactured by Henkel Japan, amine value 0, melt viscosity 10 Pa ⁇ s) as components (A) to (D) 100 parts by weight, (B) 50 parts by weight of resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.), (C) 80 parts by weight of epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, Japan Epoxy Resin Co., Ltd.), (D) A curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was used in the same manner as in Example 1 except that 2 parts by weight was used, and the evaluations described in (1) to (7) were performed. went.
  • Dimer acid polyamide resin (“Macromelt” (registered trademark) 6900, manufactured by Henkel Japan, amine value 0, melt viscosity 10 Pa ⁇
  • Example 20 In the production of the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyamide resin (“Tomide” (registered trademark) 1350, manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd., amine value 10, melt viscosity 3.0 Pa ⁇ s) 100 parts by weight; (B) 50 parts by weight of a resole phenolic resin (CKM1634 Showa High Polymer Co., Ltd.); (C) an epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980; manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 parts by weight; D) A curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was used in the same manner as in Example 1 except that 2 parts by weight was used, and described in (1) to (7) above. Evaluation was performed.
  • a curing accelerator (2ethyl-4methylimidazole (2E4MZ), manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.
  • (Comparative Example 1) In preparing the adhesive layer sheet, (A) dimer acid polyamide resin ("Macromelt” (registered trademark) 6900, manufactured by Henkel Japan, as amine component, melt viscosity) as components (A), (C) and (D) 10 Pa ⁇ s) 100 parts by weight, (C) epoxy resin (“Epicoat” (registered trademark) YL980, manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 80 parts by weight, (D) a curing accelerator (2 ethyl-4 methylimidazole (2E4MZ), It was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2 parts by weight (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was used and the component (B) was not used, and the evaluations described in the above (1) to (7) were performed.
  • Dimer acid polyamide resin (“Macromelt” (registered trademark) 6900, manufactured by Henkel Japan, as amine component, melt viscosity) as components (A),
  • Comparative Example 3 (2) A support was prepared in the same manner as in Comparative Example 2 except that an aluminum foil (50 ⁇ m thick (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) was used, and the above (1) to (7) The described evaluation was performed.
  • an aluminum foil 50 ⁇ m thick (manufactured by Sumikara Aluminum Co., Ltd.) linear expansion coefficient 22.0 ppm) was used, and the above (1) to (7) The described evaluation was performed.
  • Tables 1 and 2 show (1) adhesive layer, (2) support, (3) support coating layer, and (4) hole cross-section coating layer used in each example and comparative example.
  • Tables 3 and 4 show the laminating temperature and the measurement results of the circuit forming copper foil.
  • the electronic component using the metal-supported flexible substrate of the present invention has chemical resistance necessary for circuit processing and insulation that enables high-voltage driving in the metal-supported substrate circuit.
  • the flying lead can be easily formed, and a simple and low-cost heat radiation design can be achieved as compared with the conventional electronic component.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

 優れた絶縁性および打ち抜き特性を維持しつつ、優れたワイヤーボンディング性や低カール性を持つ事から、リールtoリールで加工が可能で、パッケージング設計と放熱設計が容易な金属支持フレキシブル配線板を提供すること。 (1)接着剤層と、(2)支持体層から構成される金属支持フレキシブル基板において、(2)支持体が金属箔にて構成されており、かつ、(1)接着剤層が、(A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂および、(B)フェノール樹脂を含有する事を特徴とする金属支持フレキシブル基板。

Description

金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、LED実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板
 本発明は金属支持フレキシブルプリント回路基板に関する。より詳しくは、半導体集積回路(IC)を実装する際に用いられる、テープオートメーテッドボンディング(TAB)や、ボールグリッドアレイ(BGA)パッケージ用インターポーザー等の半導体装置接続用基板、その他、LEDやパワー系デバイスの実装用基板を作製するために適した電子部品用金属支持フレキシブル基板に関する。
 フレキシブル基板は、支持体・接着剤・回路形成用導体層等から構成される屈曲性に優れた回路形成用基板であり、形成された導体回路層に目的の機能部品等を実装した後、ソルダーレジストやカバーレイフィルムによって回路保護を施し、電子機器の各種配線引き回しやIC実装用のインターポーザーとして幅広く利用されている配線板である。
 電子機器の普及に伴い多様な電子部品が開発されている今日において、小型化、高密度化に伴い回路基板の体積当たり消費電力は上昇しつづけており、フレキシブル回路基板に対しても、適用部位に応じた数多くの高い要求特性と安全性向上との両立が求められている。特に、駆動電圧が高い為に発熱量が多く、かつ高い絶縁性能が要求されるプラズマディスプレイ駆動用のドライバICを実装する為のフレキシブル回路基板や、発光による局所発熱量の多いLED素子を実装する為のフレキシブル回路基板においては、さらなる高機能化・高速化・高出力化に対応する為の技術として、絶縁性能や低カール性を維持しつつ、耐熱性・放熱設計性を向上させる事が課題となっている。
 このため、回路装置の基板として高い放熱性を有する金属基板を用いるとともに、その金属基板上にシリカゾル系無機ワニスを絶縁層として配する事で、ワイヤーボンディングによる絶縁破壊を防ぐ事が可能な基板が提案されている。(例えば、特許文献1参照)。
 しかしながら、シリカゾル系無機ワニスには可堯性がない為、フレキシブル回路基板においては、絶縁層にクラックが発生したり、フレキシブル回路基板のカールが大きく、リール to リールでの加工流動が不可能となる事や、オートメーテッドボンディング方式などに用いるには、樹脂層の半硬化状態制御や打ち抜き性などの確保が困難である等の課題があった。
 また、金属支持層を利用する方法として、ベース基体である基体金属上に接着剤が塗布され、その上に銅パターンが形成されていることを特徴とする液晶表示素子用TABテープキャリヤが提案されている。(例えば、特許文献2参照)。
 しかしながら、絶縁層の直下に導電層がある構成で、直上には形成された回路が配されている為、回路配線間の絶縁性と、各回路配線-支持金属層の絶縁性を保ちつつ、駆動電圧の高いプラズマディスプレイ用ドライバICや、発熱量の多いLED実装用基板として適用するには、絶縁性能が不足していた。また、テープオートメーテッドボンディング方式の様に回路形成用銅箔を顧客工程内で逐次積層する場合には、接着剤層が回路形成用銅箔と支持体銅箔に挟まれて接着剤層の吸湿水分の逃げ場が無い為に接着剤層に発泡が発生する等の課題を抱えていた。
特開平8-288605号公報 特開平8-055880号公報
 本発明は、優れた絶縁性および打ち抜き特性を維持しつつ、優れたワイヤーボンディング性や低カール性を持つ事から、リールtoリールで加工が可能で、パッケージング設計と放熱設計が容易な金属支持フレキシブル基板を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するため、本発明の金属支持フレキシブル基板は、支持体が金属箔にて構成されており、かつ、(1)接着剤層が、(A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂および、(B)フェノール樹脂を含有している。
 本発明によれば、優れた絶縁性および打ち抜き特性を維持しつつ、優れたワイヤーボンディング性や低カール性を持つ事から、容易なパッケージング設計と放熱設計が可能となる。本発明の金属支持フレキシブル基板を用いた電子部品は、回路加工に必要な耐薬品性や金属支持基板回路での高電圧駆動を可能にする絶縁性を有し、リールto リールの加工や打ち抜き加工、フライングリードの形成が容易で、従来の電子部品に比べて簡素かつ低コスト放熱設計が可能となる。
 以下、本発明について詳細に説明する。
 本発明の金属支持フレキシブル基板は、(1)接着剤層が、(A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂を含有している。
 (A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂におけるダイマー酸は、工業的には最高分子量領域の二塩基酸であり、嵩高い炭化水素基を有するため疎水性が大きい。よって、ダイマー酸から誘導されるダイマー酸ポリアミド樹脂は、結晶性が小さいため強靱で柔軟性に富み低吸水率性を維持しつつ本発明の金属支持フレキシブル基板を実現するのに必要な有機溶剤への溶解性を有する。さらに、アミド結合の強い結合力に由来する耐加水分解性や難燃性を有する。したがって、ダイマー酸残基を有するポリアミド樹脂を用いることにより、フレキシブル基板として要求される耐薬品性、難燃性および低カール性を維持しつつ、テープオートメーテッドボンディング工法及びその類似工法における打ち抜き性を良好に維持する。また、打ち抜き後に回路用金属層を配してから接着剤を完全硬化させる際の樹脂吸湿水分による発泡を良好に抑制する事が可能である。炭素数36のジカルボン酸残基を有するポリアミド樹脂が、強靱性や製膜性および加工性の点で好ましい。ダイマー酸残基を有するポリアミド樹脂であれば、公知の種々のものを使用することができ、2種以上用いてもよい。
 ダイマー酸残基を有するポリアミド樹脂は、常法によるダイマー酸とジアミンの重縮合により得られるが、この際に、ダイマー酸以外のアジピン酸、アゼライン酸およびセバシン酸等のジカルボン酸を共重合成分として含有してもよい。ジアミンとしては、エチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミンおよびピペラジン等の公知のものを使用することができ、2種以上用いてもよい。
 本発明において、ダイマー酸残基を有するポリアミド樹脂のアミン価は、0.5~10であることが好ましく、0.5~8である事がより好ましい。ここでいうアミン価とは、ポリアミド樹脂1gを滴定する際に要する塩酸に当量の水酸化カリウムのmg数量を示すものである。ポリアミド樹脂を2種以上含む場合は、各ポリアミド樹脂を(1)接着剤層中の含有量比で混合した樹脂混合物1gを滴定する際に要する塩酸に当量の水酸化カリウムのmg数量で示されたアミン価を指す。アミン価が0.5以上であれば、(1)接着剤層の架橋密度が高くなり、得られるフレキシブル基板のアルカリ溶液や有機酸混合液に対する耐薬品性や絶縁耐久性が向上するだけでなく、IC実装時のワイヤーボンディングやフリップチップ熱圧力に対して樹脂変形を最小限に留める事が可能であり、金属支持層とワイヤーの接触を避ける事が可能となる。また、アミン価が10以下であれば、加工後に得られる配線板のカール量の絶対値を低減することが可能で、かつ接着剤の架橋反応速度を適正に保つ事が出来る為、接着剤半硬化状態での保存安定性、加工工程での安定性を確保する事が可能となる。
 ダイマー酸残基を有するポリアミド樹脂は、190℃における溶融粘度が10Pa・s以上である事が好ましく、20Pa・s以上であれば更に好ましい。190℃における溶融粘度が10Pa・s以上であれば、(1)接着剤層の造膜性や、(1)接着剤層の本硬化時における吸湿水分発泡に対する耐久性が得られる為、より安定した加工が可能となる。また、190℃における溶融粘度が190Pa・s以下であることが好ましく、100Pa・s以下であれば更に好ましい。190℃における溶融粘度が190Pa・s以下であれば、回路形成用金属層を配する際に高温で処理する必要がないため、回路層の熱劣化や熱応力発生を最小限に抑えることが可能となる。ここで、190℃における溶融粘度は、JIS K7210-1999 附属書C記載のみかけの粘度測定によって測定することができる。ポリアミド樹脂を2種以上含む場合は、各ポリアミド樹脂を(1)接着剤層中の含有量比で混合した樹脂混合物を用いて測定する。
 また、ダイマー酸残基を有するポリアミド樹脂は、ポリエーテルアミド樹脂を含むことが好ましい。ポリエーテルアミド樹脂は高分子量化した際にも可撓性に富み、加工後に得られた配線板のカール量の絶対値を低減することが可能となる。
 また、本発明の金属支持フレキシブル基板は、(1)接着剤層が(B)フェノール樹脂を含有している。フェノール樹脂は、1分子内に2個以上のフェノール性水酸基を含有するものであれば特に限定されず、ノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂等の公知のフェノール樹脂がいずれも使用できる。具体的には、例えば、フェノール、クレゾール、p-t-ブチルフェノール、ノニルフェノール、p-フェニルフェノール等のアルキル置換フェノール、テルペン、ジシクロペンタジエン等の環状アルキル変性フェノール、ニトロ基、ハロゲン基、シアノ基、アミノ基等のヘテロ原子を含む官能基を有するもの、ナフタレン、アントラセン等の骨格を有するもの、ビスフェノールF、ビスフェノールA、ビスフェノールS、レゾルシノール、ピロガロール等の多官能性フェノールからなる樹脂が挙げられる。また、上記を2種以上用いても良く、絶縁信頼性の観点からレゾール型フェノール樹脂を用いることが好ましい。
 本発明の(1)接着剤層において、(B)フェノール樹脂の含有量は(A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂100重量部に対して10重量部以上が好ましく、30重量部以上がさらに好ましい。また、200重量部以下が好ましく、160重量部以下がさらに好ましい。(B)フェノール樹脂の含有量が10重量部以上であれば、絶縁信頼性、高温高湿処理下における接着力耐久性が向上し、200重量部以下であれば、可撓性に優れる。
 本発明において、(1)接着剤層は(C)エポキシ樹脂を含有してもよい。エポキシ樹脂としては、2つ以上のエポキシ基を有するものが好ましく、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、レゾルシノール、ジヒドロキシナフタレン、ジシクロペンタジエンジフェノール、ジシクロペンタジエンジキシレノール等のジグリシジルエーテル、フェノールノボラック、クレゾールノボラック、トリスフェニロールメタン、エポキシ化テトラフェニロールエタン、エポキシ化メタキシレンジアミン、シクロヘキセンオキシド、ビシクロヘプテンオキシド、シクロペンテンオキシド等の化学構造をもつものが好ましい。また、エポキシ基の他にアリル基、メタリル基、アミノ基、水酸基およびカルボキシル基からなる群より選ばれる化学反応部位を計3個以上有するものも好ましい。2種以上の異なった化学反応部位を含む場合は、単位分子内に有する全種類の化学反応部位数を総計したものが3個以上あればよい。化学反応部位の位置は特に制限されることはないが、少なくとも側鎖に化学反応部位を有していることが好ましい。また、上記エポキシ樹脂を2種以上用いてもよい。
 本発明において、(1)接着剤層は(D)硬化促進剤を含有してもよい。例えば、芳香族ポリアミン、2-アルキル-4-メチルイミダゾール、2-フェニル-4-アルキルイミダゾール等のイミダゾール誘導体、ジシアンジアミド、トリフェニルフォスフィン、ジアザビシクロウンデセン等公知のものが例示できる。これらを2種以上用いてもよい。
 本発明において、(1)接着剤層は(E)充填剤を含有してもよい。充填剤は接着剤の特性を損なうものでなければ特に限定されないが、無機充填剤としては、金、銀、銅、鉄、ニッケル、アルミニウムなどの金属微粒子、水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、カルシウム・アルミネート水和物等の金属水酸化物、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化チタン、酸化鉄、酸化コバルト、酸化クロム、タルク等の金属酸化物、炭化珪素、炭化チタンシリカ、窒化アルミニウム、窒化チタン、窒化珪素、あるいは炭酸カルシウム等の無機塩、カーボンブラック、シリカ、ガラス等が挙げられる。中でも、シリカ、アルミナ、窒化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム等が好ましく用いられる。ここで、シリカは非晶、結晶のいずれであってもよく、それぞれのもつ特性に応じて適宜使いわけることを限定するものではない。これらの無機質充填剤に接着性や充填性等の向上を目的としてシランカップリング剤等を用いて表面処理を施してもよい。無機質充填剤の粒子径は特に限定されないが、分散性および塗工性、透明性等の点で、平均粒子径0.02~30μmが好ましい。
 有機充填剤としては、スチレン、NBRゴム、アクリルゴム、ポリアミド、ポリイミド、シリコーン等の架橋ポリマが例示される。微粒子状の有機充填剤の平均粒子径は、分散安定性を考慮すると、0.2~5μmが好ましい。
 以上の成分以外に、接着剤の特性を損なわない範囲で酸化防止剤、イオン捕捉剤などを含有することは何ら制限されるものではない。酸化防止剤としては、酸化防止の機能を付与するものであれば特に限定されず、フェノール系酸化防止剤、チオエーテル系酸化防止剤、リン系酸化防止剤、アミン系酸化防止剤等の公知の酸化防止剤を使用できる。これらを2種以上用いてもよい。
 本発明の金属支持フレキシブル基板は、(2)支持体が金属箔で構成されている。支持体に金属箔を用いる事で回路基板の熱伝導性が向上し、放熱板サイズを極小化する事が可能である。さらに、本発明の金属支持フレキシブル基板は、打ち抜き加工等によるデバイスホールの形成が容易である事から、ICやLED素子等の被実装部品をデバイスホールを用いて回路形成面の裏面から実装する事により、(2)支持体そのものを放熱板として用いたり、ヒートシンクへの熱伝導性を向上させたりする事が可能である。
 金属としては銅箔、ステンレス箔、アルミニウム箔が好ましく用いられるが、リン青銅等の他銅合金箔、ニッケル箔、マグネシウム箔、チタン箔または、これらを含む合金箔等を用途・要求機能に応じて用いても良く、パッケージング全体のバランスに合わせて、熱膨張係数が10~30ppm/℃の金属箔を好適に選択する事ができる。(2)支持体の厚みは、求めるフレキシブル性、引き裂き強度に合わせて適に選択可能であるが、12μm~150μmが好ましく用いられ、12μm~75μmがより好ましく用いられる。
 また、(2)支持体である金属箔は、(1)接着剤層の易接着性や絶縁性の付与、外観光沢性の変更、回路形成時の薬品暴露を避ける事などを目的として、有機・無機カップリング処理や、鍍金、樹脂被覆、セラミック層形成等の表面処理を施して、(2)支持体の(1)接着剤層側および/またはその反対側に(3)支持体被覆層が構成されていても良い。
 (3)支持体被覆層の厚みは、被覆強度とリール取り扱い性のバランスや、(2)支持体と回路導体層の絶縁信頼性強化の観点から下限として2μm以上が好ましく2.5μm以上である事がより好ましい。また上限としては100μm以下である事が好ましく、10μm以下であることがより好ましい。さらに好ましくは、5μm未満である。また(3)支持体被覆層の層構成は単一層であっても複数層で構成されていても良い。
 (3)支持体被覆層に樹脂を用いる場合、特に限定されるものではないが、耐熱性・耐薬品性に優れたポリイミド樹脂やポリアミドイミド樹脂が好ましく用いられ、特にポリアミドイミド樹脂が耐薬品性付与や易接着性付与の点から好ましく用いられる。ポリアミドイミド樹脂は特に本発明の(A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂および(B)フェノール樹脂を含有する(1)接着剤層との高い接着力を得ることができるため好ましい。(3)支持体被覆層に用いられるポリアミドイミド樹脂は、耐熱性・耐薬品性の点からTg(ガラス転移温度)が300℃以上であること、重量平均分子量が10000以上であることが好ましく、本発明の(1)接着剤層との高い接着力を得るためにはエポキシ樹脂が5重量%以上混合硬化されていることが好ましい。
 また、(3)支持体被覆層は目的に応じて(1)接着剤層側およびその反対側のどちらにでも必要に応じて配する事ができ、そのどちらか一方または両方に、剥離性を付与してもよい。剥離性とは、(3)支持体被覆層を配した(2)支持体から、(2)支持体の一部が剥がれたり、逆に(2)支持体の表面に(3)支持体被覆層の一部が残ったり、また他の界面での剥離を起こすことなく、(3)支持体被覆層を剥離できることを言う。(1)接着剤層側の(3)支持体被覆層に剥離性を付与した場合は、加工後製品の基材レス化が可能となり、(1)接着剤層側の反対側の(3)支持体被覆層に剥離性を付与した場合には、既存の回路加工ラインに対する薬液耐性を保持したまま、(2)支持体を生かした高放熱性基板を得ることが可能となる。この場合、(3)支持体被覆層が二層以上の層構造を有し、(2)支持体に接する第一の層が粘着材および/または熱可塑性樹脂であって、第一の層以外の少なくとも1つの層がポリエステル、ポリオレフィン、ポリフェニレンスルフィド、ポリビニルブチラール、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミドおよびポリメチルメタクリレートから選ばれた1以上であることが好ましい。これにより第一の層は剥離性を有し、また上記第一の層以外の少なくとも1つの層は、回路加工時の薬液耐性を確保しつつ剥離時の引張り強度を確保し易剥離化することができる。
 また、打ち抜き等によってデバイスホールやスプロケットホール等を形成した際のホール断面に、絶縁保護や回路形成時の薬品暴露を避けることを目的として、電着等による樹脂被覆や、酸化皮膜形成等の処理を施して(4)ホール断面被覆層を更に追加しても良い。(4)ホール断面被覆層に樹脂を用いる場合は、絶縁性、耐熱性、耐薬品性に優れたエポキシ樹脂やポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、アクリル樹脂が好ましく用いられる。
 また、回路形成時においては、(2)支持体やパンチングにより形成したデバイスホール断面やスプロケットホール断面への薬品暴露を避けることを目的として、金属支持フレキシブル基板全面にフォトレジストを塗布することが好ましく、また裏止め材を(2)支持体の(1)接着剤層の反対側全面に塗布することが好ましい。
 回路形成時には薬品を使用することが多いが、フォトレジストを金属支持フレキシブル基板の全面に塗布することで、(2)支持体上において(1)接着剤層が無く(2)支持体が露出している部分が薬品の暴露を受けることを避けられ、それにより金属支持フレキシブル基板の損傷を防止することができる。また裏止め材を(2)支持体の(1)接着剤層の反対側全面に塗布することで、デバイスホール断面やスプロケットホール断面の薬品暴露を避けることができる。
 本発明の金属支持フレキシブル基板は、回路形成用金属層を配する前に、(1)接着剤層を半硬化状態で維持し、(5)保護フィルムを配する事で、金属支持キャリアテープとしても良い。保護フィルムは、(1)接着剤層の形態および機能を損なうことなく剥離できれば特に限定されないが、例えば、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリフェニレンスルフィド、ポリ塩化ビニル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、ポリフッ化ビニル、ポリビニルブチラール、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリメチルメタクリレート等のプラスチックフィルム、これらにシリコーンあるいはフッ素化合物等の離型剤のコーティング処理を施したフィルムおよびこれらのフィルムをラミネートした紙、離型性のある樹脂を含浸あるいはコーティングした紙等が挙げられる。
 金属支持キャリアテープは、打ち抜き加工等によって、必要なデバイスホールを形成した後に保護フィルムを剥離し、回路形成用金属層をラミネート法やプレス法によって配する事により、デバイスホール内に中空配線(フライングリード)を形成する事が可能となる。フライングリードを用いた実装であれば、ICやLED素子等を金属支持キャリアテープの表裏どちらからでも実装する事が可能となる為、被実装部品のレイアウト性・放熱設計性が向上するだけでなく、ワイヤーボンディング法で課題となる絶縁層の圧縮破壊による支持体金属層-回路形成層の絶縁破壊を更に避ける事が出来る。
 次に、本発明の金属支持フレキシブル基板を製造する方法について、例を挙げて説明する。
 (a)(1)接着剤層を構成する樹脂組成物を溶剤に溶解して接着剤塗料とし、(2)支持体上に塗布、乾燥し(1)接着剤層を形成することで本発明の金属支持フレキシブル基板を得る。(1)接着剤層の膜厚は、接着性・絶縁性・熱伝導性等の各要求機能を満たせば特に限定はされないが、フレキシブル性を維持する為に2~200μmとなるように塗布することが好ましく、2~50μmとなる様に塗布する事がより好ましい。塗布方法は特に限定されないが、コンマ方式、リップ方式、ロール方式、メイヤーバー方式、グラビア方式等の一般的な塗布設備を塗料性状に合わせて適に用いて良い。乾燥条件は、通常100~200℃、1~5分である。溶剤は特に限定されないが、トルエン、キシレン、クロルベンゼン等の芳香族系、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、Nメチルピロリドン等の非プロトン系、エタノール、メタノール、イソプロピルアルコール、Nブタノール、ベンジルアルコール等のアルコール系溶剤が好適であり、これらを2種以上用いてもよい。また、溶剤に不溶な(D)硬化促進剤や(E)充填剤を用いる場合には、ホモミキサーや、ビーズミル、サンドミル、キャビテーション方式による分散装置等を用いて、予め溶剤に分散しておく方法や、(1)接着剤層を構成する各樹脂のいずれか一つ以上に、エクストルーダーやバンバリーミキサー等を用いて混練・分散しておく方法などを好適に用いる事が出来る。
 (b)(a)に記載の方法で形成した(1)接着剤層に、必要により離型性を有する(5)保護フィルムをラミネートして本発明の金属支持フレキシブル基板を得ても良い。さらに接着剤厚みを増す場合は、再度塗料を重ねて塗工するか、形成した(1)接着剤層を複数回積層すればよい。また、予め(5)保護フィルム上に(1)接着剤層を形成しておき、(2)支持体をラミネートして本発明の金属支持フレキシブル基板を得てもよい。(2)支持体に(3)支持体被覆層を配する場合には、予め(3)支持体被覆層となる樹脂を有機溶剤に溶解または分散した塗料を作成し、(2)支持体に所定の厚みで塗布・乾燥して(3)支持体被覆層を形成しておく事が好ましく、また、剥離性を有する(3)支持体被覆層を配する場合には、剥離性樹脂層を剥離に必要な引張り強度を保持する為のフィルムに塗布・乾燥して得た複層構成体を、予め(2)支持体にラミネート法などで貼り合わせておく事が好ましい。
 (2)支持体への(1)接着剤層のラミネート条件は、通常温度50~160℃、押圧0.1~0.5MPaである。ラミネート温度は140℃以下である事が好ましく、120℃以下であれば良好、100℃以下であれば極めて良好と判断できる。また(2)支持体の(1)接着剤層側に(3)支持体被覆層が構成されている場合
は、(2)支持体に(3)支持体被覆層が配されたものに(1)接着剤層をラミネートすることになるが、その場合も(2)支持体へ(1)接着剤層を直接ラミネートする場合と同様の条件でラミネートすることが好ましい。
 本発明の金属支持フレキシブル基板を得た後に、例えば40~100℃で20~300時間程度熱処理して(1)接着剤層の硬化度を調節してもよい。硬化度を調節することにより、金属支持フレキシブル基板に回路形成用金属層を配する際の接着剤のフロー過多を防止するとともに、加熱硬化時の水分による発泡を防止する効果がある。
 本発明の金属支持フレキシブル基板を用いた回路加工の際、形成されるデバイスホールやスプロケットホールに(4)ホール断面被覆層を配する場合は、打ち抜き等によりホールを形成した後、電着塗装法により形成させることが好ましい。電着塗装法としては、(2)支持体に負電圧を印加し、正に分極したエポキシ樹脂系、ポリイミド樹脂系等の電着塗料を(2)支持体のホール断面に析出させるカチオン電着塗装法を採用することが好ましい。また電着塗装を施した後、その電着塗料を加熱定着させることが好ましい。
 本発明の金属支持フレキシブル基板を用いた電子部品は、回路加工に必要な耐薬品性や金属支持基板に必要な絶縁性を有し、リールtoリールの加工や打ち抜き加工、フライングリードの形成が容易で、従来の電子部品に比べて簡素かつ低コスト放熱設計が可能となる。
 以下に、本発明の実施形態の一例を示すが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。まず、実施例および比較例における評価方法を説明する。
 (1)金属支持フレキシブル回路基板の絶縁信頼性評価
 各実施例および比較例において得られた金属支持フレキシブル回路基板(導体幅50μm、導体間距離50μm)に130℃、85%RH環境下で100V電圧を印加し、抵抗値が10Ω以下まで低下するまでの時間を絶縁耐久時間とした。絶縁耐久時間は250時間以上であることが好ましい。
 (2)金属支持フレキシブル基板のカール量評価
 各実施例および比較例において得られた回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板の回路形成用銅箔を、塩化第二鉄を用いたサブトラクティブ法(エッチング)にて取り除いた後、35mm×190mmに裁断しカール量評価用金属支持フレキシブル基板とした。カール量評価用金属支持フレキシブル基板を23℃/55%RHにて24時間調湿を行った後、カールした基板の端部を上向きにガラスプレート上に静置した状態で、硬化済みカバーレイフィルム被着回路基板のガラスプレートからの最高高さ位置を計測しカール量とした。カール量は7mm以下であれば良好、3mm以下であれば極めて良好と判断できる。
 (3)金属支持フレキシブル基板の発泡評価
 上記(2)カール量評価用金属支持フレキシブル基板の(1)接着剤層を、金属顕微鏡にて観察し発泡評価を行った。直径5μm以上のものを発泡とし、全く発泡の無かったものを○、直径5μm以上50μm未満の発泡が1~10個以内で確認されたものを△、直径50μm以上の発泡が確認されたか、直径5μm以上50μm未満の発泡が11個以上確認されたものを×とした。△以上であれば良好判断出来、○であれば極めて良好と判断できる。
 (4)金属支持フレキシブル回路基板の耐圧接性評価
 各実施例および比較例において得られた金属支持フレキシブル回路基板(導体幅50μm、導体間距離50μm)にACFボンダー(TCW-125、日本アビオニクス株式会社製)で、200℃、1秒間、ツール圧力は配線一本当たり50g/2500μmとなるように熱圧を与え、ワイヤーボンディング等の耐圧接性評価を行った。耐圧接用サンプルのツール圧接面の回路パターン銅の沈み込み量を計測し、3.0μm以内であれば合格、2.0μm以内であれば良好、1.0μm以内であれば極めて良好であると判断できる。
 (5)金属支持フレキシブル基板の打ち抜き性評価
 各実施例および比較例において得られた金属支持フレキシブル基板を、プレス金型にて0.250mmφ、0.350mmφ、0.500mmφの丸穴を開け、その切断面を観察し、打ち抜き性評価とした。穴の断面に、長さ10μm以上の(1)接着剤層ダレやバリ、もしくは長さ10μm以上の(1)接着剤層割れや欠け、穴の周囲に(2)支持体との剥がれが無ければ、フライングリード形成やデバイス設計性の為にデバイスホールやビアホールを良好に形成する事が極めて良好、長さ20μm以上の(1)接着剤層ダレやバリ、もしくは長さ20μm以上の(1)接着剤層割れや欠け、穴の周囲に(2)支持体との剥がれが無ければ良好、穴の断面に、長さ20μm以上の(1)接着剤層ダレやバリ、もしくは長さ20μm以上の(1)接着剤層割れや欠け、穴の周囲に(2)支持体との剥がれ、が生じた場合には不良と判断できる。
 (6)金属支持フレキシブル基板およびスプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板の薬液耐性評価
 各実施例および比較例において得られた金属支持フレキシブル基板、スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板を、1、塩化第二鉄溶液(40℃、37%)、2、水酸化ナトリウム液(30℃、1N)、3、無電解錫めっき液(70℃、“Timposit”LT-34、ロームアンドハース社製)にそれぞれ浸漬した後の外観を観察する事で薬液耐性評価とした。判断基準は以下のとおりである。
 (6-1)金属支持フレキシブル基板の場合
Aランク:1の薬液に5分間、次に2の薬液に5分間、さらに3の薬液に5分間順次浸漬した際に、下記(i)および(ii)の要件をいずれも満たす場合。
Bランク:上記Aランクの要件は満たさないが、1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)および(ii)の要件をいずれも満たす場合。
Cランク:1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)の要件は満たすが、下記(ii)の要件は満たさない場合。
Fランク:1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)および(ii)の要件をいずれも満たさない場合。
(i)(1)接着剤層の表面外観に薬液による著しい損傷が見られない。
(ii)(3)支持体被覆層を(2)支持体の(1)接着剤層の反対側に形成していない場合は、(2)支持体の(1)接着剤層と反対側の面の表面外観に薬液による著しい損傷が見られない。また(3)支持体被覆層を(2)支持体の(1)接着剤層の反対側に形成している場合は、(2)支持体の(1)接着剤層の反対側に形成した(3)支持体被覆層の(2)支持体と反対側の面の表面外観に薬液による著しい損傷が見られない。
 (6-2)スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板の場合
Aランク:1の薬液に5分間、次に2の薬液に5分間、さらに3の薬液に5分間順次浸漬した際に、下記(i)~(iii)の要件を全て満たす場合。
A’ランク:上記Aランクの要件は満たさないが、1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)~(iii)の要件を全て満たす場合。
Bランク:1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)~(iii)の要件のいずれか2つを満たす場合。
Cランク:1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)~(iii)の要件のいずれか1つだけを満たす場合。
Fランク:1の薬液に3分間、次に2の薬液に3分間、さらに3の薬液に3分間順次浸漬した際に、下記(i)~(iii)の要件を全て満たさない場合。
(i)(1)接着剤層の表面外観に薬液による著しい損傷が見られない。
(ii)(3)支持体被覆層を(2)支持体の(1)接着剤層の反対側に形成していない場合は、(2)支持体の(1)接着剤層と反対側の面の表面外観に薬液による著しい損傷が見られない。また(3)支持体被覆層を(2)支持体の(1)接着剤層の反対側に形成している場合は、(2)支持体の(1)接着剤層の反対側に形成した(3)支持体被覆層の(2)支持体と反対側の面の表面外観に薬液による著しい損傷が見られない。
(iii)ホール断面に薬液による著しい損傷が見られない。
 (7)金属支持フレキシブル回路基板の接着力
 各実施例および比較例において得られた金属支持フレキシブル回路基板(導体幅50μm)を用いて、導体をテンシロンUTM-11-5HR(東洋ボールドウィン社製)にて90度方向に50mm/分の速度で引き剥がし、その際の引き剥がし強度を測定した。8N/cm以上であれば極めて良好、6N/cm以上であれば良好と判断できる。
 (実施例1)
 (a)接着剤層シートの作製
 (A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“サンマイド”(登録商標)HT-100G、エアープロダクツジャパン社製、アミン価1、溶融粘度7.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部に、エタノール/トルエン混合溶剤(混合重量比率 エタノール1:トルエン4)を加え、30℃で撹拌、混合して固形分濃度25重量%接着剤組成物を作製した。この接着剤組成物をバーコータで、(5)保護フィルム(シリコーン離型剤付きの厚さ25μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(藤森工業(株)製“フィルムバイナ”(登録商標)GT))に約12μmの乾燥厚さとなるように塗布し、150℃で4分間乾燥した後、形成された(1)接着剤層面に別の(5)保護フィルムを貼り合わせる事で両側を(5)保護フィルムでサンドされた接着剤層シートを作製した。
 (b)金属支持フレキシブル基板および金属支持フレキシブル回路基板の作製
 上記(a)に記載の方法で得られた接着剤層シートの(5)保護フィルムの片側を剥離し、(2)支持体(圧延銅箔(BHY-22B-T 70μm厚(日鉱金属株式会社製)線膨張係数16.0ppm/℃)に100℃、0.3MPaの条件でラミネートし、金属支持フレキシブル基板を得た。
 金属支持フレキシブル基板の(5)保護フィルムを剥離し、18μmの電解銅箔を、140℃、0.3MPa圧力の条件でラミネートした。続いてエアオーブン中で、80℃で3時間、100℃で5時間、150℃で5時間の順次加熱処理を行い、回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板を作製した。得られた回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板の回路形成用銅箔面に常法によりフォトレジスト膜形成、エッチング、レジスト剥離を行い、配線ピッチ100μm(導体幅50μm)の対向電極回路を形成した後、ホウフッ酸系(ロームアンドハース社製 スズメッキ液(商品名)“TINPOSIT”(登録商標)LT-34)の無電解スズメッキ液に70℃、5分浸漬処理し、0.5μm厚のメッキを施して、金属支持フレキシブル回路基板を作製した。
 上記方法によって得られた評価用金属支持フレキシブル基板、回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板、金属支持フレキシブル回路基板を用いて、前記(1)~(7)の評価を行った。
 (実施例2)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)TXC-232C、富士化成工業社製、アミン価10.0、溶融粘度24.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例3)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価3、溶融粘度40.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例4)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価3、溶融粘度40.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用い、また、エタノール/トルエン混合溶剤(混合重量比率 エタノール1:トルエン4)に、(E)アルミナ充填材(“アドマファイン”(登録商標)AO-502、平均粒径 0.7μm、株式会社アドマテックス社製)300重量部が添加されるよう、予めサンドミルで分散処理した混合溶剤を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例5)
 (a)接着剤層シートの作製
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価3、溶融粘度40.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で接着剤シートを作製した。
 (b)金属支持フレキシブル基板およびスプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板および金属支持フレキシブル回路基板の作製
 上記(a)に記載の方法で得られた接着剤層シートを30mm幅にカットした後、(5)保護フィルムの片側を剥離し、(2)支持体(アルミ箔 50μm厚 35mm幅(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)に100℃、0.3MPaの条件でラミネートし、金属支持フレキシブル基板を得た。
 金属支持フレキシブル基板に、金型によりスプロケットホール(穴径1.98mm×1.98mmの正方形、ピッチ4.75mm)を両端各1列パンチングにより形成し、スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板を得た。
 スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板の(5)保護フィルムを剥離し、18μmの電解銅箔を、140℃、0.3MPa圧力の条件でラミネートした。続いてエアオーブン中で、80℃で3時間、100℃で5時間、150℃で5時間の順次加熱処理を行い、回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板を作製した。
 得られた回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板の回路形成用銅箔面側の基板全面に常法によりフォトレジスト膜形成、露光、現像を行い、次にその裏面全面に裏止め材をハケで塗布し、スプロケットホールを裏止め材で充填した。その後、エッチング、レジスト剥離、裏止め材剥離を行い、配線ピッチ100μm(導体幅50μm)の対向電極回路を形成した後、ホウフッ酸系(ロームアンドハース社製 スズメッキ液(商品名)“TINPOSIT”(登録商標)LT-34)の無電解スズメッキ液に70℃、5分浸漬処理し、0.5μm厚のメッキを施して、金属支持フレキシブル回路基板を作製した。
 上記方法によって得られた評価用金属支持フレキシブル基板、スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板、回路形成用銅箔付き金属支持フレキシブル基板、金属支持フレキシブル回路基板を用いて、前記(1)~(7)の評価を行った。
 (実施例6)
 (2)支持体であるアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)の両面を、(3)支持体被覆層としてTg300℃、重量平均分子量11000、エポキシ樹脂混合比率10%のポリアミドイミド樹脂3.0μmで被覆したものを用いた以外は実施例5と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例7)
 (2)支持体であるアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)の両面を、(3)支持体被覆層としてTg300℃、重量平均分子量11000、エポキシ樹脂混合比率10%のポリアミドイミド樹脂1.5μmで被覆したものを用いた以外は実施例5と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例8)
 (2)支持体であるアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)の両面を、(3)支持体被覆層としてTg250℃、重量平均分子量8000、エポキシ樹脂混合比率10%のポリアミドイミド樹脂3.0μmで被覆したものを用いた以外は実施例5と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例9)
 (2)支持体であるアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)の両面を、(3)支持体被覆層としてTg300℃、重量平均分子量12000のポリイミド樹脂3.0μmで被覆したものを用いた以外は実施例5と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例10)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-100、富士化成工業社製、アミン価0、溶融粘度180.0Pa・s)100重量部を用いた以外は実施例6と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例11)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-100、富士化成工業社製、アミン価0、溶融粘度180.0Pa・s)100重量部を用いた以外は実施例7と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例12)
 (2)支持体であるアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)の(1)接着剤層側を、(3)支持体被覆層としてTg300℃、重量平均分子量11000のポリイミド樹脂3μmで被覆し、反対面側をポリエチレンテレフタレートフィルムに粘着剤が構成された裏打ちテープKT-50(河村産業社製)(剥離性粘着剤層20μm、ポリエチレンテレフタレートフィルム50μm)を30℃でロールラミネートしたものを用いた以外は実施例5と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例13)
 スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板の作製に当たり、スプロケットホール断面に、樹脂分がエポキシ樹脂系である電着塗料エレコートAMG(株式会社シミズ製)を膜厚10μmに電着し、100℃、15分の乾燥処理を行い、(4)ホール断面被覆層を形成した以外は、実施例6と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例14)
 スプロケットホール付き金属支持フレキシブル基板の作製に当たり、(4)ホール断面被覆層を、樹脂分がポリイミド樹脂系である電着塗料エレコートPI(株式会社シミズ製)とした以外は、実施例13と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例15)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価3、溶融粘度40.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用い、また、エタノール/トルエン混合溶剤(混合重量比率 エタノール1:トルエン4)に、(E)アルミナ充填材(“アドマファイン”(登録商標)AO-502、平均粒径 0.7μm、株式会社アドマテックス社製)300重量部が添加されるよう、予めサンドミルで分散処理した混合溶剤を用い、更に(2)支持体として、SUS316箔(70μm厚(東洋精箔株式会社製)線膨張係数 18.5ppm)を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例16)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価3、溶融粘度40.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用い、また、エタノール/トルエン混合溶剤(混合重量比率 エタノール1:トルエン4)に、(E)アルミナ充填材(“アドマファイン”(登録商標)AO-502、平均粒径 0.7μm、株式会社アドマテックス社製)300重量部が添加されるよう、予めサンドミルで分散処理した混合溶剤を用い、更に(2)支持体として、アルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例17)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価3、溶融粘度40.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用い、また、エタノール/トルエン混合溶剤(混合重量比率 エタノール1:トルエン4)に、(E)窒化アルミニウム充填材(H、平均粒径 1.7μm、株式会社トクヤマ社製)300重量部が添加されるよう、予めサンドミルで分散処理した混合溶剤を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例18)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-200、富士化成工業社製、アミン価1、溶融粘度40.0Pa・s)と、ダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-100、富士化成工業社製、アミン価0、溶融粘度180.0Pa・s)とダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)535、富士化成工業社製、アミン価50、溶融粘度1.0Pa・s)との重量比2:1:0.5混合物(アミン価7.1 溶融粘度 80Pa・s)(ダイマー酸ポリエーテルアミド樹脂1)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
(実施例19)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“マクロメルト”(登録商標)6900、ヘンケルジャパン社製、アミン価0、溶融粘度10Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例20)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)1350、富士化成工業社製、アミン価10、溶融粘度3.0Pa・s)100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (実施例21)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“トーマイド”(登録商標)PA-100、富士化成工業社製、アミン価0、溶融粘度180.0Pa・s)100重量部、(B)フェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (比較例1)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)、(C)、(D)成分として(A)ダイマー酸ポリアミド樹脂(“マクロメルト”(登録商標)6900、ヘンケルジャパン社製、アミン価0、溶融粘度10Pa・s)100重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用い、(B)成分を用いなかった以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (比較例2)
 接着剤層シートの作製に当たり、(A)~(D)成分として、(A)アクリロニトリルポリブタジエン樹脂(“Nipol”(登録商標)1043、日本ゼオン社製、100重量部、(B)レゾールフェノール樹脂(CKM1634 昭和高分子社製)50重量部、(C)エポキシ樹脂(“エピコート”(登録商標)YL980、ジャパンエポキシレジン社製)80重量部、(D)硬化促進剤(2エチル-4メチルイミダゾール(2E4MZ)、東京化成社製)2重量部を用いた以外は実施例1と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 (比較例3)
 (2)支持体としてアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)を用いた以外は比較例2と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。 
 (比較例4)
 (2)支持体であるアルミ箔(50μm厚(住軽アルミ株式会社製)線膨張係数 22.0ppm)の両面を、(3)支持体被覆層としてTg300℃、重量平均分子量11000、エポキシ樹脂混合比率10%のポリアミドイミド樹脂3.0μmで被覆したものを用いた以外は比較例2と同様の方法で作製し、前記(1)~(7)記載の評価を行った。
 各実施例、比較例で使用した(1)接着剤層、(2)支持体、(3)支持体被覆層、(4)ホール断面被覆層を表1、2に示した。また回路形成用銅箔のラミネート温度および測定結果を表3、4に示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 本発明によれば、優れた絶縁性および打ち抜き特性を維持しつつ、優れたワイヤーボンディング性や低カール性を持つ事から、容易なパッケージング設計と放熱設計が可能となる。本発明の金属支持フレキシブル基板を用いた電子部品は、回路加工に必要な耐薬品性や金属支持基板回路での高電圧駆動を可能にする絶縁性を有し、リールto リールの加工や打ち抜き加工、フライングリードの形成が容易で、従来の電子部品に比べて簡素かつ低コスト放熱設計が可能となる。

Claims (10)

  1. (1)接着剤層と、(2)支持体から構成される金属支持フレキシブル基板において、(2)支持体が金属箔にて構成されており、かつ、(1)接着剤層が、(A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂および、(B)フェノール樹脂を含有する事を特徴とする金属支持フレキシブル基板。
  2. (2)支持体の(1)接着剤層側および/またはその反対側に(3)支持体被覆層が構成されている事を特徴とする請求項1に記載の金属支持フレキシブル基板。
  3. (3)支持体被覆層が(2)支持体に対して剥離性を有する事を特徴とする請求項2に記載の金属支持フレキシブル基板。
  4. (3)支持体被覆層の厚みが2μm以上100μm以下である事を特徴とする請求項2または3に記載の金属支持フレキシブル基板。
  5. (3)支持体被覆層がポリアミドイミド樹脂を含有する事を特徴とする請求項2~4のいずれかに記載の金属支持フレキシブル基板。
  6. (A)ダイマー酸残基を含むポリアミド樹脂のアミン価が、0.5~10である事を特徴とする請求項1~5いずれかに記載の金属支持フレキシブル基板。
  7. (2)支持体が、銅箔、ステンレス箔、アルミニウム箔およびニッケル箔から選ばれる一つである事を特徴とする請求項1~6いずれかに記載の金属支持フレキシブル基板。
  8. 請求項1~7いずれか記載の金属支持フレキシブル基板を用いた、テープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ。
  9. 請求項1~7いずれか記載の金属支持フレキシブル基板を用いた、LED実装用金属支持フレキシブル回路基板。
  10. 請求項1~7いずれか記載の金属支持フレキシブル基板を用いた回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板であって、回路形成用の金属層によって形成された回路が、フライングリード構造を有している事を特徴とする、回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板。
PCT/JP2011/054916 2010-03-30 2011-03-03 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板 WO2011122232A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020127025274A KR20130018717A (ko) 2010-03-30 2011-03-03 금속 지지 플렉시블 기판 및 그것을 이용한 테이프 오토메이티드 본딩용 금속 지지 캐리어 테이프, led 실장용 금속 지지 플렉시블 회로 기판 및 회로 형성용 동박 적층된 금속 지지 플렉시블 회로 기판
JP2011512767A JP5682554B2 (ja) 2010-03-30 2011-03-03 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板
SG2012071130A SG184257A1 (en) 2010-03-30 2011-03-03 Metal support flexible board, metal support carrier tape for tape automated bonding using same, metal support flexible circuit board for mounting led, and copper foil-laminated metal support flexible circuit board for forming circuit
CN2011800167659A CN102822953A (zh) 2010-03-30 2011-03-03 金属支持挠性基板及使用其的带式自动接合用金属支持载带、led安装用金属支持挠性电路基板及已层压电路形成用铜箔的金属支持挠性电路基板

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010-077064 2010-03-30
JP2010077064 2010-03-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2011122232A1 true WO2011122232A1 (ja) 2011-10-06

Family

ID=44711961

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/054916 WO2011122232A1 (ja) 2010-03-30 2011-03-03 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JP5682554B2 (ja)
KR (1) KR20130018717A (ja)
CN (1) CN102822953A (ja)
SG (1) SG184257A1 (ja)
TW (1) TW201207968A (ja)
WO (1) WO2011122232A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI748740B (zh) * 2020-11-11 2021-12-01 宸寰科技有限公司 散熱導電軟板

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI627875B (zh) 2012-07-18 2018-06-21 鐘化股份有限公司 導電層一體型軟性印刷基板
TWI586230B (zh) 2012-07-18 2017-06-01 鐘化股份有限公司 補強板一體型軟性印刷基板
TWI800261B (zh) * 2022-02-15 2023-04-21 台虹科技股份有限公司 卷狀層疊體的製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57138167A (en) * 1981-02-19 1982-08-26 Sanyo Electric Co Ltd Manufacture of semiconductor device
JP2004031931A (ja) * 2002-05-09 2004-01-29 Toray Ind Inc 半導体装置用接着剤付きテープおよびそれを用いた銅張り積層板、半導体接続用基板ならびに半導体装置
JP2006108174A (ja) * 2004-09-30 2006-04-20 Ajinomoto Co Inc 回路基板用金属付きポリアミドイミドフィルム及びその製造方法
JP2008130772A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 可撓性配線基板製造用複合積層体およびその製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57120361A (en) * 1981-01-17 1982-07-27 Sanyo Electric Co Ltd Structure of film substrate
KR100621550B1 (ko) * 2004-03-17 2006-09-14 삼성전자주식회사 테이프 배선 기판의 제조방법
JP2007035869A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Nitto Denko Corp Tab用テープキャリア
CN1972557A (zh) * 2005-10-14 2007-05-30 三井金属矿业株式会社 挠性覆铜层压板和薄膜载带及其制造方法、以及挠性印刷电路板、半导体装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57138167A (en) * 1981-02-19 1982-08-26 Sanyo Electric Co Ltd Manufacture of semiconductor device
JP2004031931A (ja) * 2002-05-09 2004-01-29 Toray Ind Inc 半導体装置用接着剤付きテープおよびそれを用いた銅張り積層板、半導体接続用基板ならびに半導体装置
JP2006108174A (ja) * 2004-09-30 2006-04-20 Ajinomoto Co Inc 回路基板用金属付きポリアミドイミドフィルム及びその製造方法
JP2008130772A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 可撓性配線基板製造用複合積層体およびその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI748740B (zh) * 2020-11-11 2021-12-01 宸寰科技有限公司 散熱導電軟板

Also Published As

Publication number Publication date
SG184257A1 (en) 2012-11-29
CN102822953A (zh) 2012-12-12
JP5682554B2 (ja) 2015-03-11
KR20130018717A (ko) 2013-02-25
JPWO2011122232A1 (ja) 2013-07-08
TW201207968A (en) 2012-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6303219B1 (en) Adhesive sheet for semiconductor connecting substrate, adhesive-backed tape for tab, adhesive-backed tape for wire-bonding connection, semiconductor connecting substrate, and semiconductor device
JP4893046B2 (ja) 電子機器用接着剤組成物、それを用いた電子機器用接着剤シート
JP5109411B2 (ja) 電子機器用接着剤組成物およびそれを用いた電子機器用接着剤シート、電子部品
JP2009049062A (ja) 金属ベース回路用基板の製造方法及び金属ベース回路用基板
TW201609942A (zh) 樹脂組成物
JP2006232985A (ja) 非ハロゲン系接着剤組成物ならびにそれを用いたカバーレイフィルムおよび接着シート
JP2007305963A (ja) 応力緩和層付半導体素子搭載用基板並びにその製造方法
JP5200386B2 (ja) 電子材料用接着剤シート
JP5682554B2 (ja) 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板
JP2006176764A (ja) 電子機器用接着剤組成物、電子機器用接着剤シート、およびそれを用いた電子部品ならびに電子機器
JP6176294B2 (ja) 支持体付き樹脂シート
JP4876317B2 (ja) 半導体装置用接着剤組成物およびそれを用いた半導体装置用接着剤シート、半導体接続用基板ならびに半導体装置
JP5030103B2 (ja) 発光素子用金属ベース回路用基板の製造方法及び発光素子用金属ベース回路用基板
JP7225553B2 (ja) ソルダーレジスト形成用の樹脂シート
JP5233066B2 (ja) 電子材料用接着剤シート
JP2006232984A (ja) 接着剤組成物ならびにそれを用いたカバーレイフィルムおよび接着シート
JP2017183376A (ja) フレキシブル基板、フレキシブル回路基板および支持体レスフレキシブル回路基板の製造方法
JP5776134B2 (ja) 樹脂組成物
JP2014192181A (ja) 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板、放熱性金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板
JPH1140950A (ja) 多層配線板
JP5239661B2 (ja) カバーレイフィルム
JP2013038360A (ja) 金属支持フレキシブル基板ならびにそれを用いたテープオートメーテッドボンディング用金属支持キャリアテープ、led実装用金属支持フレキシブル回路基板および回路形成用銅箔積層済み金属支持フレキシブル回路基板
JP2005277135A (ja) 半導体用接着剤組成物およびそれを用いた半導体用接着剤シート、半導体集積回路接続用基板、半導体装置
JP2001354938A (ja) 半導体装置用接着剤組成物およびそれを用いた接着剤シート、半導体接続用基板ならびに半導体装置
JP6191659B2 (ja) 樹脂組成物

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201180016765.9

Country of ref document: CN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2011512767

Country of ref document: JP

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11762472

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20127025274

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 11762472

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1