WO2011010623A1 - ガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びにマーク付きガラス部材 - Google Patents

ガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びにマーク付きガラス部材 Download PDF

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WO2011010623A1
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匡博 津田
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旭硝子株式会社
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    • Y10T428/24926—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including ceramic, glass, porcelain or quartz layer

Definitions

  • the present invention relates to a glass member quality control method, a quality control device, and a marked glass member.
  • LCD liquid crystal panels
  • OLED organic EL panels
  • plasma display panels display panels such as field missions
  • glass substrates for display panels that require high quality have been developed. Larger and thinner plates are in progress. This makes it difficult to produce a glass substrate having no defects.
  • Patent Document 1 describes a technique for applying a mark indicating quality information (defect information) or identification information to a predetermined position of a glass substrate.
  • the quality information includes the number, size, depth, position, etc. of defects.
  • the longitudinal dimension of the glass substrate is 30 m or more. May be.
  • the longitudinal dimension of the glass substrate is 30 m or more, the above problem becomes obvious.
  • the ratio of the cost of the glass substrate to the manufacturing cost of the display panel is low, it is wasteful if a defect due to a defect in the glass substrate is found after the display panel is manufactured.
  • This invention was made in view of the said subject, Comprising: It aims at providing the quality control method and quality control apparatus of a glass member which can use efficiently the glass member containing a defect, and a glass member with a mark. And
  • the quality control method for a glass member provides a reference serving as a reference point when detecting a position of a defect of the glass member within a predetermined range from the predetermined position at a predetermined position of the glass member.
  • a marking step of applying a mark is a marking step of applying a mark.
  • the glass member may be in the form of a roll or plate, and there is no limitation on the shape. Further, the glass member may have a thickness of 0.3 mm or less, and may have flexibility (flexibility). However, the present invention exhibits a particularly excellent effect when applied to a roll-shaped glass member having a thickness of 0.3 mm or less.
  • the glass member quality control device of the present invention is a marking device that applies a reference mark as a reference point when detecting a position of a defect of the glass member within a predetermined range from the predetermined position to a predetermined position of the glass member.
  • the glass member with a mark of the present invention is provided with a reference mark serving as a reference point when detecting a position of a defect of the glass member within a predetermined range from the predetermined position at a predetermined position of the glass member. is there.
  • the present invention it is possible to provide a glass member quality control method and a quality control device that can efficiently use a glass member including a defect, and a marked glass member.
  • the present invention is applied to a glass substrate for a display panel that requires high quality.
  • the present invention is applied to electronic devices such as a glass substrate for a solar cell and a glass substrate for a hard disk. It may be applied to a general glass plate such as an architectural glass plate or an automotive glass plate.
  • FIG. 1 is a process diagram showing a method for producing a glass substrate.
  • the glass raw material is charged into the glass melting layer and melted (step S11).
  • the melted molten glass moves to the downstream side in the glass melted layer and flows out to the clarification tank.
  • step S12 the bubbles contained in the molten glass in the clarification tank are defoamed and clarified.
  • the clarified molten glass is formed into a plate shape (step S13).
  • a molding method for example, a fusion method or a float method is used.
  • the clarified molten glass flows down along both side surfaces of the shaped product having a wedge-shaped cross section, merges and is integrated directly below the lower edge of the shaped product, and is drawn downward to form a plate shape.
  • the clarified molten glass flows out onto the molten metal (for example, molten tin) in the float bath and becomes plate-like due to the smooth surface of the molten metal.
  • step S14 the formed sheet glass is slowly cooled (step S14) to produce a glass substrate.
  • the glass substrate may be cut, polished, and washed as necessary.
  • the glass substrate may be cut after step S23 described later.
  • FIG. 2 is a process diagram showing the glass substrate quality control method according to the first embodiment of the present invention.
  • a reference mark is applied to a predetermined position of the glass substrate.
  • the reference mark is a mark that serves as a reference point when detecting the position of the defect of the glass substrate within a predetermined range from the predetermined position at the glass substrate supply destination.
  • the predetermined range is appropriately set according to the method for detecting the position of the defect, etc., but is preferably within 10 m, and more preferably within 3 m.
  • the quality of the glass substrate is inspected.
  • Items to be inspected include, for example, the presence / absence of a defect, position (including size), and type. Examples of the type of defect include foreign matter, bubbles, and surface scratches.
  • the presence / absence and position of a defect within a predetermined range for example, within 10 m (preferably within 3 m) from the reference point using the reference mark applied in the marking process as a reference point.
  • Detect type including size
  • step S23 the identification information of the reference mark applied in the marking process and the positional information of the defect detected in the inspection process are recorded in association with each other.
  • the identification information of the reference mark used for detection in the inspection process and the position information of the defect detected in the inspection process are recorded in association with each other.
  • the recording medium may be paper, an optical recording medium, a magnetic recording medium, or a glass substrate.
  • a mark indicating quality information of the glass substrate (including defect position information and reference mark identification information) is applied to a predetermined position of the glass substrate. Thereby, the quality information of the glass substrate 10 can be read at the glass substrate supply destination.
  • the quality information of the glass substrate may be supplied on a recording medium such as paper, or may be supplied via the Internet.
  • the identification information (ID code) for identifying a glass substrate is marked on a glass substrate, and quality information and identification information are supplied in a set.
  • the glass substrate with the fiducial mark in this way, along with its quality information, to the subsequent processes (including customers).
  • the subsequent processes including customers.
  • it is a glass substrate that has been conventionally corrected or discarded because a part of one glass substrate contains a defect, it is shipped as a glass substrate that can be used except for the defect. it can. For this reason, reduction in production efficiency and waste of resources are also improved. This effect is more remarkable as the size of the glass substrate is larger.
  • the supplier of this glass substrate can appropriately select the use area based on the position and type of the defect included in the quality information. As a result, even at the glass substrate supplier, it is possible to improve production efficiency and reduce costs.
  • the position of the defect can be accurately detected based on the reference mark and quality information applied to the glass substrate.
  • the distance from the reference position for example, one corner on the tip side
  • the measurement error increases as the distance from the reference position increases.
  • the position of the defect cannot be detected accurately.
  • the longitudinal dimension of the glass substrate is 30 m or more, the above problem becomes obvious.
  • the position of the defect included in the quality information is shown with respect to the reference mark that is within a predetermined range from the position of the defect, so the position of the defect is based on the reference mark and the quality information.
  • the glass substrate can be used efficiently. This effect becomes more prominent as the size of the glass substrate is larger, and is particularly remarkable when the longitudinal dimension of the glass substrate is 30 m or more.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing the glass substrate quality control apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • the glass substrate quality control device includes a transport device 12, a marking device 14, and an inspection device 16.
  • the transport device 12 is a device that transports the glass substrate 10 after the slow cooling in step S14 of FIG.
  • the transport device 12 includes a roller 12a that transports the glass substrate 10, a drive device 12b that rotationally drives the roller 12a, a speed sensor 12c that detects the transport speed of the glass substrate 10, and the like.
  • the speed sensor 12c may be, for example, a rotation speed sensor that detects the rotation speed of the roller 12a, and outputs a detection result to the marking device 14 every predetermined time.
  • the marking device 14 is a means for marking a predetermined position on the glass substrate 10.
  • the marking device 14 is a device that draws a mark by irradiating a predetermined position of the glass substrate 10 with a laser to process the glass substrate 10, and as shown in FIG. 3, a laser oscillator 14a, a moving device 14b, a position detection device The sensor 14c, the control device 14d, and the like are included.
  • the laser oscillator 14a is supported so as to be movable with respect to the transport device 12, and oscillates laser light toward the surface of the glass substrate 10 under the control of the control device 14d.
  • the laser oscillator 14a for example, a semiconductor laser, a YAG laser, a CO 2 laser, or the like is used.
  • the moving device 14b is a device that moves the laser oscillator 14a relative to the conveying device 12 under the control of the control device 14d, and includes, for example, an electric motor.
  • the position detection sensor 14c is a sensor that detects the position of the laser oscillator 14a with respect to the transport device 12, and is configured by, for example, a rotation speed sensor that detects the rotation speed of the electric motor of the moving device 14b.
  • the control device 14d is composed of a microcomputer or the like, and draws marks by controlling the outputs of the laser oscillator 14a and the moving device 14b based on output signals from the speed sensor 12c and the position detection sensor 14c.
  • the marking device 14 of the present embodiment is a means for drawing a mark by irradiating a laser on a predetermined position of the glass substrate 10 to process the glass substrate 10, the present invention is not limited to this.
  • the marking device 14 may be a device that ejects ink to a predetermined position on the surface of the glass substrate 10 to print a mark, or may be a device that forms a mark by vapor deposition or sputtering.
  • the mark drawn by laser irradiation is drawn by processing the glass substrate 10, and is excellent in chemical resistance and heat resistance.
  • FIG. 4 is a plan view partially showing the marked glass substrate according to the first embodiment of the present invention.
  • fiducial marks M1 and M2 applied by the marking device 14 are exaggerated.
  • the reference marks M ⁇ b> 1 and M ⁇ b> 2 are arranged in a staggered pattern on the glass substrate 10.
  • a plurality of first reference marks M1 are provided on the edge 10a of the glass substrate 10 in the longitudinal direction of the glass substrate 10.
  • the plurality of first reference marks M1 may be provided at an equal pitch, for example, as shown in FIG. 4, or may be provided at an unequal pitch.
  • the first reference mark M1 is a mark serving as a reference point when detecting the position of a defect in the glass substrate 10 at the supply destination of the glass substrate 10.
  • the first reference mark M1 is represented by a figure, a character, a number, a symbol, or a combination thereof.
  • the first reference mark M1 may be represented by a combination of a graphic and an identification code.
  • the identification code is a code for identifying the plurality of first reference marks M1, and is represented by, for example, Roman numerals as shown in FIG.
  • the identification code is included in the first reference mark M1, it is possible to identify a plurality of first reference marks M1 even when the glass substrate 10 is cut halfway in the longitudinal direction.
  • the cumulative number of first reference marks M1 from a predetermined position of the glass substrate 10 is counted.
  • an approximate distance from a predetermined position of the glass substrate 10 may be measured.
  • the second reference marks M2 are provided at a predetermined pitch in the width direction of the glass substrate 10 from one side surface 10b of the glass substrate 10, and a plurality of the second reference marks M2 are provided in the longitudinal direction of the glass substrate 10.
  • the second reference mark M2 is a mark serving as a reference point for detecting the position of the defect of the glass substrate 10 at the supply destination of the glass substrate 10, and is a figure or the like. expressed.
  • the second reference mark M2 may be represented by only a figure as shown in FIG.
  • the first and second reference marks M1 and M2 may be represented by the same graphic or different graphics. Further, the first and second reference marks M1 and M2 may be represented by the same color or different colors.
  • the size of the first and second reference marks M1 and M2 may be a visually observable size or a size that is difficult to visually confirm.
  • the non-use area means an area where the first and second reference marks M1 and M2 are not a problem even when the final product is obtained, in addition to the area which is not the final product.
  • FIG. 5 is a plan view showing an example of a use region (for example, a region where a thin film transistor or a color filter is formed) and a non-use region of the marked glass substrate 10 at the supply destination.
  • the use area T1 is shown by a dot pattern
  • the non-use area T2 is shown in white.
  • the edge 10a of the glass substrate 10 or the side surface 10b of the glass substrate 10 is preferable as the position where the first reference mark M1 is applied.
  • the position where the second reference mark M2 is applied is preferably an unused area T2 set between adjacent used areas T1.
  • the fiducial marks M1 and M2 are arranged in a staggered pattern on the glass substrate 10, but the present invention is not limited to this.
  • the reference marks M1 and M2 may be arranged in a matrix on the glass substrate 10, or only the reference mark M1 may be arranged on the glass substrate 10.
  • the positions where the reference marks M1 and M2 are applied may be appropriately set according to the type of the inspection device 16 and the like.
  • the inspection device 16 is a device for inspecting the quality of the glass substrate 10. Items to be inspected include, for example, the presence / absence of a defect, position (including size), type, and the like. Examples of the type of defect include foreign matter, bubbles, and surface scratches. Quality information including the position and type of the defect is recorded on a recording medium.
  • the inspection device 16 includes an imaging device 16a such as a CCD camera, an image processing device 16b such as a microcomputer, and the like.
  • the imaging device 16a is installed above the transport device 12, and sequentially images the glass substrate 10 transported by the transport device 12 for each predetermined range.
  • the captured image data is sequentially output to the image processing device 16b.
  • FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an example of an image captured by the imaging device 16a.
  • the first and second reference marks M1, M2 and the defects D1, D2 of the glass substrate 10 are exaggerated.
  • the image processing device 16b performs image processing on the image picked up by the image pickup device 16a, and in addition to the presence / absence, position (including size), and type of defects in the image, first and second in the image.
  • the positions of the fiducial marks M1 and M2 are detected.
  • the image processing device 16b uses a two-dimensional coordinate system having both or at least one of the first reference mark M1 and the second reference mark M2 as a reference point in the image. Set.
  • FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of a two-dimensional coordinate system set in the image of FIG.
  • the first reference mark M1 is the origin
  • the direction passing through the first reference mark M1 and orthogonal to the side surface 10b of the glass substrate 10 is the Y axis
  • the direction orthogonal to the Y axis (glass substrate 10 ) is set with the X axis as the direction parallel to the side surface 10b.
  • the second reference mark M2 is the origin
  • the direction passing through the second reference mark M2 and orthogonal to the side surface 10b of the glass substrate 10 is the Y axis
  • the direction orthogonal to the Y axis is set.
  • the image processing device 16b detects the position coordinates of the defect in the set two-dimensional coordinate system. For one defect, position coordinates in a plurality of two-dimensional coordinate systems may be detected.
  • the image processing device 16b associates the mark identification information for identifying the reference marks M1 and M2 used for detecting the defect position information (position coordinate data) with the detected defect position information. Record on a recording medium.
  • the mark identification information includes identification codes (for example, Roman numerals) included in the reference marks M1 and M2, the reference marks M1 and M2 and the reference position (for example, one corner on the front end side) of the glass substrate 10.
  • identification codes for example, Roman numerals
  • the reference marks M1 and M2 and the reference position for example, one corner on the front end side
  • the approximate distance in the longitudinal direction, the cumulative number of reference marks M1, M2 from the reference position of the glass substrate 10 and the like are included.
  • the image processing apparatus 16b may output quality information (including defect position information and reference mark identification information) to the marking apparatus 14 when detecting the position of the defect.
  • the marking device 14 determines a predetermined position of the glass substrate 10 (for example, the first mark M1 and the second mark M2 that are reference points when detecting the position of the defect).
  • a quality mark indicating quality information is applied in the vicinity of both or at least one (regions P and Q).
  • the quality mark is represented by figures, letters, numbers, symbols, barcodes, QR codes, or combinations thereof. Thereby, the quality information can be read from the quality mark applied to the glass substrate 10 at the supply destination of the glass substrate 10.
  • the quality mark may be applied to the edge 10a and the side surface 10b of the glass substrate 10 corresponding to the position of the defect in the glass substrate 10, or may be applied to the position of the defect in the glass substrate 10. Thereby, the position (including the size) of the defect D of the glass substrate 10 can be easily detected.
  • the position of the defect included in the quality information is indicated with respect to the reference mark within the predetermined range from the position of the defect, the position of the defect is accurately detected.
  • the glass substrate 10 can be used efficiently. This effect is more remarkable as the size of the glass substrate 10 is larger.
  • the reference marks M1 and M2 are provided even when the longitudinal dimension of the glass substrate 10 is 30 m or more. The position of the defect can be accurately detected based on the quality information.
  • the reference mark M1 since the plurality of reference marks M1 are identifiable, the reference mark M1 can be identified even when the glass substrate 10 is cut halfway in the longitudinal direction.
  • both or at least one of the image processing device 16b and the marking device 14 corresponds to the recording device of the present invention.
  • FIG. 8 is a process diagram showing a glass substrate quality control method according to the second embodiment of the present invention.
  • reference marks M1 and M2 are applied to predetermined positions on the glass substrate 10 (step S21), and the reference marks M1 and M2 are used as reference points within a predetermined range (for example, within 10 m (preferably Was detected by the inspection device 16 (step S22).
  • the position of the defect of the glass substrate 10 is detected (step S31), and a reference mark is applied within a predetermined range (for example, within 10 m (preferably within 3 m)) from the detected position of the defect. (Step S32).
  • FIG. 9 is a plan view partially showing a marked glass substrate according to the second embodiment of the present invention. 9, the reference mark M3 applied by the marking device 14 of FIG. 3 and the defect D3 of the glass substrate 10 are exaggerated.
  • the third reference mark M3 is a mark that serves as a reference point when detecting the position of the defect of the glass substrate 10 at the supply destination of the glass substrate 10, similarly to the first and second reference marks M1 and M2. .
  • the third reference mark M3 is represented by a figure, a character, a number, a symbol, or a combination thereof.
  • the third reference mark M3 may be represented by a combination of a graphic and an identification code.
  • This identification code is a code for identifying the plurality of third reference marks M3 and is represented by, for example, Roman numerals as shown in FIG.
  • the position where the third reference mark M3 is applied is set within a predetermined range (for example, within 10 m (preferably within 3 m)) from the position of the defect D3 detected by the inspection apparatus 16 of FIG.
  • a predetermined range for example, within 10 m (preferably within 3 m)
  • the position where the third reference mark M3 is applied is preferably set so that the third reference mark M3 and the defect D3 are included in the image captured at the supply destination of the glass substrate 10. Further, the position where the third reference mark M3 is applied is preferably a non-use region T2 at the supply destination of the glass substrate 10 from the viewpoint of the use efficiency of the glass substrate 10. As a position satisfying these conditions, for example, as shown in FIG. 9, the edge 10a and the side surface 10b of the glass substrate 10 corresponding to the defect D3 (facing the defect D3 in the width direction of the glass substrate 10) can be cited. In this case, the third reference mark M3 also serves as a quality mark indicating quality information (defect position).
  • FIG. 10 is a plan view showing a modification of FIG. In FIG. 10, the reference mark M3 applied by the marking device 14 of FIG. 3 and the defects D3 to D5 of the glass substrate 10 are exaggerated.
  • the third reference mark M3 is set to 1 within a predetermined range from the positions of the plurality of defects D3 to D5. You may apply only one. In other words, the position where the third reference mark M3 is applied may be set at a position away from the adjacent (recent) third reference mark M3 by a predetermined distance or more. Thereby, the number of reference marks M3 can be further reduced.
  • the reference mark M3 is applied to a predetermined position of the glass substrate 10 (step S32), and the relative position of the reference mark M3 with respect to the position of the defect is measured. This measurement is performed based on output signals from the speed sensor 12c, the position detection sensor 14c, and the like, for example.
  • the recording medium may be a glass substrate 10 as well as paper, an optical recording medium, and a magnetic recording medium.
  • the supply of the glass substrate 10 is performed.
  • the position of the defect can be detected accurately, and the glass substrate 10 can be used efficiently. This effect becomes more prominent as the size of the glass substrate 10 is larger, and is particularly remarkable when the longitudinal dimension of the glass substrate 10 is 30 m or more.
  • the reference mark M3 since the reference mark M3 is applied within a predetermined range from the position of the defect on the glass substrate 10, there is no reference mark M3 in an area where there is no defect within the predetermined range. For this reason, it can suppress that the reference mark M3 becomes a defect in the supply destination of the glass substrate 10.
  • FIG. 11 is a plan view showing another modification of FIG. In FIG. 11, the fiducial mark M4 applied by the marking device 14 of FIG. 3 and the defect D3 of the glass substrate 10 are exaggerated.
  • the fourth reference mark M4 is a mark that serves as a reference point when detecting the position of the defect of the glass substrate 10 at the supply destination of the glass substrate 10, similarly to the first and second reference marks M1 and M2. .
  • the fourth reference mark M4 is represented by a figure, a character, a number, a symbol, or a combination thereof.
  • the fourth reference mark M4 may be represented by a combination of a graphic and an identification code.
  • This identification code is a code for identifying the plurality of fourth reference marks M4 and is represented by, for example, Roman numerals as shown in FIG.
  • the fourth reference mark M4 is applied to the position of the defect D3 detected by the inspection device 16 of FIG. 3, and also serves as a quality mark indicating quality information (defect position). Thereby, since the position information of a defect can be read from the glass substrate 10 in the supply destination of the glass substrate 10, the recording process (step S33) of FIG. 9 does not need to be performed.
  • the fourth reference mark M4 may be identifiable according to the type of the defect D3.
  • the fourth reference mark M4 may be represented by a different color or a different identification code for each type of the defect D3. Thereby, the information regarding the kind of defect can be read from the glass substrate 10 in the supply destination of the glass substrate 10.
  • both the fourth reference mark M4 shown in FIG. 11 and the third reference mark M3 shown in FIG. 9 may be applied to the glass substrate 10.
  • both or at least one of the image processing device 16b and the marking device 14 corresponds to the recording device of the present invention.
  • FIG. 12 is a schematic diagram showing a glass substrate quality control apparatus according to a third embodiment of the present invention.
  • the same components as those of FIG. 12 are identical to FIG. 12 in FIG. 12, the same components as those of FIG. 12 in FIG. 12, the same components as those of FIG. 12
  • the marking device 14 is a device that draws a mark by irradiating a predetermined position of the glass substrate 10 with a laser to process the glass substrate 10, and as shown in FIG.
  • the device 14b, the position detection sensor 14c, and the control device 14d are configured.
  • the marking device 14A is a device that prints marks by discharging ink to a predetermined position on the surface of the glass substrate 10, and includes an ink head 14e instead of the laser oscillator 14a.
  • the ink head 14e is supported so as to be movable with respect to the transport device 12, and discharges ink onto the surface of the glass substrate 10 under the control of the control device 14d.
  • the material of the ink is not particularly limited, but a material that can be removed from the surface of the glass substrate 10 is suitable. Examples of such a material include water-based ink that can be removed by washing. As a result, the mark can be erased from the surface of the glass substrate 10 without damaging the surface of the glass substrate 10 at the supply destination of the glass substrate 10. Therefore, the glass substrate 10 can be used more efficiently at the supply destination of the glass substrate 10.
  • FIG. 13 is a process diagram illustrating a quality control method for the glass substrate 10 subsequent to FIG. 2.
  • step S41 the position of the defect and the use area T1 are collated (step S41). This collation is performed using a pattern as shown in FIG. A plurality of patterns as shown in FIG. 5 may be prepared, and a pattern having the smallest number of defects in the use region T1 is selected. Thereby, the glass substrate 10 can be used efficiently.
  • a reference mark serving as a reference point is newly applied to the unused area T2 of the optimum pattern selected in step S41 when detecting the position of the defect on the glass substrate 10 (step S42).
  • This reference mark is applied using a reference mark already applied at the supplier as a reference point. Accordingly, the position of the defect with the new reference mark as the reference point is calculated.
  • the reference mark may be drawn by processing the glass substrate 10 by irradiating a laser, for example.
  • the position of the mark applied at the supply source can be easily changed, and the glass substrate 10 can be used more efficiently.
  • the position of the mark is changed at the supply destination.
  • the position of the mark may be changed at the supply source according to the change of the supply destination.

Abstract

　ガラス部材の品質管理方法は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング工程を有する。

Description

ガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びにマーク付きガラス部材
　本発明は、ガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びにマーク付きガラス部材に関する。
　近年、液晶パネル（ＬＣＤ）、有機ＥＬパネル（ＯＬＥＤ）、プラズマディスプレイパネル、フィールドミッション等の表示パネルの大型化、薄板化が進行しており、高品質が要求される表示パネル用のガラス基板の大型化、薄板化が進行している。これにより、欠陥のないガラス基板の製造が困難となっている。
　一方、特許文献１には、ガラス基板の所定位置に品質情報（欠陥情報）や識別情報を示すマークを施す技術が記載されている。品質情報には、欠陥の個数、大きさ、深さ、位置等が含まれている。ガラス基板をその品質情報と共に後工程（客先を含む）に供給することにより、供給先において、欠陥が含まれるガラス基板を効率よく使用することができる。
日本国特開２００６－０３９７２５号公報
　しかしながら、上記特許文献１に記載の技術では、品質情報に基づいてガラス基板を使用する際に、ガラス基板の基準位置（例えば、先端側の一角）からの距離を計測するので、基準位置から遠いほど計測誤差が大きくなる。このため、ガラス基板の大型化により、欠陥の位置を正確に把握できないことがあった。
　特に、最近では、長尺の可撓性（フレキシブル性）のガラス基板をロール状に巻き取って後工程に供給することが提案されており、この場合、ガラス基板の長手方向寸法が３０ｍ以上になることがある。ガラス基板の長手方向寸法が３０ｍ以上になると、上記問題が顕在化する。
　表示パネルの製造コストに占めるガラス基板のコストの割合は低いので、表示パネルの製造後にガラス基板の欠陥による不良が見つかると、無駄が多い。
　本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、欠陥が含まれるガラス部材を効率よく使用できるガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びに、マーク付きガラス部材を提供することを目的とする。
　上記目的を解決するため、本発明のガラス部材の品質管理方法は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング工程を有する。
　尚、ガラス部材は、ロール状であってもよいし、板状であってもよく、その形状に限定はない。また、ガラス部材は、厚さが０．３ｍｍ以下であってもよく、可撓性（フレキシブル性）を有してよい。但し、本発明は、厚さ０．３ｍｍ以下のロール状のガラス部材に適用された場合に、特に優れた効果を発揮する。
　また、本発明のガラス部材の品質管理装置は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング装置を有する。
　また、本発明のマーク付きガラス部材は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークが施されたものである。
　本発明によれば、欠陥が含まれるガラス部材を効率よく使用できるガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びに、マーク付きガラス部材を提供することができる。
ガラス基板の製造方法を示す工程図である。 本発明の第１実施形態であるガラス基板の品質管理方法を示す工程図である。 本発明の第１実施形態であるガラス基板の品質管理装置を示す模式図である。 本発明の第１実施形態であるマーク付きガラス基板を部分的に示す平面図である。 供給先におけるマーク付きガラス基板１０の使用領域及び不使用領域の一例を示す平面図である。 撮像装置１６ａにより撮像された画像の一例を示す模式図である。 図６の画像に設定される２次元座標系の一例を示す模式図である。 本発明の第２実施形態であるガラス基板の品質管理方法を示す工程図である。 本発明の第２実施形態であるマーク付きガラス基板を部分的に示す平面図である。 図９の変形例を示す平面図である。 図９の別の変形例を示す平面図である。 本発明の第３実施形態であるガラス基板の品質管理装置を示す模式図である。 図２に続く、ガラス基板１０の品質管理方法を示す工程図である。
　以下、図面を参照し、本発明を実施するための形態について説明する。尚、本実施形態では、本発明を高品質が要求される表示パネル用のガラス基板に適用した場合について説明するが、本発明を太陽電池用のガラス基板やハードディスク用のガラス基板等の電子デバイス用のガラス基板に適用してもよいし、建築用ガラス板、自動車用ガラス板等の一般のガラス板に適用してもよい。
　図１は、ガラス基板の製造方法を示す工程図である。
　最初に、ガラス原料をガラス溶解層に投入し溶解する（ステップＳ１１）。溶解した溶融ガラスは、ガラス溶解層内の下流側に移動し、清澄槽に流出する。
　続いて、清澄槽内の溶融ガラスに含まれる気泡を脱泡し、清澄を行う（ステップＳ１２）。
　続いて、清澄後の溶融ガラスを板状に成形する（ステップＳ１３）。成形方法としては、例えばフュージョン法やフロート法を用いる。フュージョン法では、清澄後の溶融ガラスが、断面くさび状の成形体の両側面に沿って流下し成形体の下縁部直下で合流して一体化し、下方に引き延ばされ板状となる。また、フロート法では、清澄後の溶融ガラスが、フロート槽内の溶融金属（例えば、溶融錫）上に流出し、溶融金属の平滑な表面によって板状となる。
　最後に、成形された板状ガラスを徐冷し（ステップＳ１４）、ガラス基板を製造する。ステップＳ１４の徐冷後に、必要に応じて、ガラス基板を切断、研磨、洗浄してもよい。尚、ガラス基板の切断は、後述のステップＳ２３の後に行ってもよい。
　次に、ガラス基板の品質管理方法について図２を参照して簡単に説明する。
　図２は、本発明の第１実施形態であるガラス基板の品質管理方法を示す工程図である。
　マーキング工程（ステップＳ２１）では、ガラス基板の所定位置に基準マークを施す。基準マークは、ガラス基板の供給先において、該所定位置から所定範囲内におけるガラス基板の欠陥の位置を検出する際の基準点となるマークである。尚、上記所定範囲内は、欠陥の位置を検出する方法等に応じて適宜設定されるが、１０ｍ以内が好ましく、３ｍ以内がより好ましい。
　検査工程（ステップＳ２２）では、ガラス基板の品質を検査する。検査する項目は、例えば、欠陥の有無、位置（大きさを含む）、種類である。欠陥の種類としては、例えば、異物、泡、表面傷等がある。
　本実施形態の検査工程（ステップＳ２２）では、マーキング工程で施された基準マークを基準点として、該基準点から所定範囲内（例えば、１０ｍ以内（好ましくは３ｍ以内））の欠陥の有無、位置（大きさを含む）、種類を検出する。
　記録工程（ステップＳ２３）では、マーキング工程で施された基準マークの識別情報と、検査工程で検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する。
　本実施形態の記録工程（ステップＳ２３）では、検査工程で検出に用いられた基準マークの識別情報と、検査工程で検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する。
　記録媒体は、紙や光記録媒体、磁気記録媒体の他、ガラス基板であってもよい。ガラス基板に記録する場合、ガラス基板の所定位置にガラス基板の品質情報（欠陥の位置情報、基準マークの識別情報を含む）を示すマークを施す。これにより、ガラス基板の供給先において、ガラス基板１０の品質情報の読み取りが可能となる。
　ガラス基板の品質情報は、紙等の記録媒体で供給されてもよいし、インターネットを介して供給されてもよい。このようにガラス基板の品質情報をガラス基板と別々に供給する場合、ガラス基板を識別するための識別情報（ＩＤコード）をガラス基板にマーキングし、品質情報と識別情報とをセットで供給する。
　このようにして基準マークを施したガラス基板をその品質情報と共に後工程（客先を含む）に供給する。これにより、従来であれば、一枚のガラス基板の一部に欠陥を含むために欠陥修正や廃棄処分していたガラス基板であっても、欠陥以外の部分が使用可能なガラス基板としてそのまま出荷できる。このため、生産効率の低下や資源の無駄も改善される。この効果は、ガラス基板の大きさが大きいほど顕著である。
　このガラス基板の供給先では、品質情報に含まれる欠陥の位置や種類に基づいて使用領域を適切に選択することができる。これにより、ガラス基板の供給先においても、生産効率の改善、コストの低減を図ることができる。
　また、このガラス基板の供給先では、ガラス基板に施された基準マークと品質情報とに基づいて、欠陥の位置を正確に検出することができる。
　従来のガラス基板では、品質情報に基づいてガラス基板を使用する際に、ガラス基板の基準位置（例えば、先端側の一角）からの距離を計測するので、基準位置から遠いほど計測誤差が大きくなるという問題があり、欠陥の位置を正確に検出できないことがある。特に、ガラス基板の長手方向寸法が３０ｍ以上である場合、上記問題が顕在化する。
　これに対し、本実施形態では、品質情報に含まれる欠陥の位置が該欠陥の位置から所定範囲内にある基準マークに対して示されているので、基準マークと品質情報に基づいて欠陥の位置を正確に検出することができ、ガラス基板を効率よく使用することができる。この効果は、ガラス基板の大きさが大きいほど顕著であり、ガラス基板の長手方向寸法が３０ｍ以上である場合に特に顕著である。
　次に、ガラス基板の品質管理装置について図３を参照して説明する。
　図３は、本発明の第１実施形態であるガラス基板の品質管理装置を示す模式図である。
　図３に示す例では、ガラス基板の品質管理装置は、搬送装置１２、マーキング装置１４、及び検査装置１６を備える。
　搬送装置１２は、図１のステップＳ１４の徐冷後のガラス基板１０を搬送する装置である。例えば、搬送装置１２は、ガラス基板１０を搬送するローラ１２ａ、ローラ１２ａを回転駆動する駆動装置１２ｂ、ガラス基板１０の搬送速度を検出する速度センサ１２ｃ等から構成される。速度センサ１２ｃは、例えばローラ１２ａの回転速度を検出する回転速度センサであってよく、検出結果を所定時間毎にマーキング装置１４に出力する。
　マーキング装置１４は、ガラス基板１０の所定位置にマークを施す手段である。例えば、マーキング装置１４は、ガラス基板１０の所定位置にレーザを照射しガラス基板１０を加工してマークを描く装置であって、図３に示すように、レーザ発振器１４ａ、移動装置１４ｂ、位置検出センサ１４ｃ、制御装置１４ｄ等から構成される。
　レーザ発振器１４ａは、搬送装置１２に対して移動可能に支持されており、制御装置１４ｄによる制御下で、ガラス基板１０の表面に向けてレーザ光を発振する。レーザ発振器１４ａとしては、例えば半導体レーザ、ＹＡＧレーザ、ＣＯ２レーザ等が用いられる。
　移動装置１４ｂは、制御装置１４ｄによる制御下で、レーザ発振器１４ａを搬送装置１２に対して移動させる装置であって、例えば電動モータ等を含む。
　位置検出センサ１４ｃは、搬送装置１２に対するレーザ発振器１４ａの位置を検出するセンサであって、例えば移動装置１４ｂの電動モータの回転数を検出する回転数センサ等で構成される。
　制御装置１４ｄは、マイクロコンピュータ等で構成され、速度センサ１２ｃや位置検出センサ１４ｃからの出力信号等に基づいて、レーザ発振器１４ａや移動装置１４ｂの出力を制御してマークを描く。
　尚、本実施形態のマーキング装置１４は、ガラス基板１０の所定位置にレーザを照射しガラス基板１０を加工してマークを描く手段であるとしたが、本発明はこれに限定されない。例えば、マーキング装置１４は、ガラス基板１０の表面の所定位置に、インクを吐出してマークを印刷する装置であってもよいし、蒸着やスパッタ等によりマークを形成する装置であってもよい。これらのうち、レーザ照射により描かれたマークは、ガラス基板１０を加工して描かれるので、耐薬品性、耐熱性に優れている。
　図４は、本発明の第１実施形態であるマーク付きガラス基板を部分的に示す平面図である。図４において、マーキング装置１４により施された基準マークＭ１、Ｍ２を誇張して描いている。
　図４に示す例では、基準マークＭ１、Ｍ２が、ガラス基板１０に千鳥状に配置されている。
　第１の基準マークＭ１は、ガラス基板１０の縁部１０ａに、ガラス基板１０の長手方向に複数設けられている。複数の第１の基準マークＭ１は、例えば図４に示すように等ピッチで設けられてもよいし、不等ピッチで設けられてもよい。
　第１の基準マークＭ１は、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０の欠陥の位置を検出する際の基準点となるマークである。第１の基準マークＭ１は、図形、文字、数字、記号、又はこれらの組合せ等で表される。例えば、第１の基準マークＭ１は、図形と識別符号との組合せで表されてもよい。
　識別符号は、複数の第１の基準マークＭ１を識別するための符号であって、例えば図４に示すようにローマ数字で表される。識別符号が第１の基準マークＭ１に含まれる場合、ガラス基板１０が長手方向途中で切断された場合でも、複数の第１の基準マークＭ１を識別することが可能である。
　尚、複数の第１の基準マークＭ１を識別するため、ガラス基板１０の所定位置（例えば、ガラス基板１０の先端側の一角）からの累計の第１の基準マークＭ１の設置数をカウントしてもよいし、ガラス基板１０の所定位置からの概算距離を計測してもよい。
　第２の基準マークＭ２は、ガラス基板１０の一側面１０ｂからガラス基板１０の幅方向に所定ピッチで設けられており、ガラス基板１０の長手方向に複数設けられている。
　第２の基準マークＭ２は、第１の基準マークＭ１と同様に、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０の欠陥の位置を検出する際の基準点となるマークであって、図形等で表される。例えば、第２の基準マークＭ２は、図４に示すように図形のみで表されてもよい。
　第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２は、同一図形で表されてもよいし、異なる図形で表されてもよい。また、第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２は、同一色で表されてもよいし、異なる色で表されてもよい。
　第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２の大きさは、目視可能な大きさであってもよいし、目視困難な大きさであってもよい。
　第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２を施す位置としては、ガラス基板１０の供給先における不使用領域が好適である。ここで、不使用領域とは、最終製品とならない領域の他、最終製品となっても第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２が問題とならない領域をいう。
　図５は、供給先におけるマーク付きガラス基板１０の使用領域（例えば、薄膜トランジスタやカラーフィルターを形成する領域）及び不使用領域の一例を示す平面図である。図５において、使用領域Ｔ１を点模様で示し、不使用領域Ｔ２を白色のままで示す。
　図５に示す例では、第１の基準マークＭ１を施す位置は、ガラス基板１０の縁部１０ａやガラス基板１０の側面１０ｂが好ましい。また、第２の基準マークＭ２を施す位置は、隣り合う使用領域Ｔ１の間に設定される不使用領域Ｔ２が好ましい。
　尚、図５に示す例では、基準マークＭ１、Ｍ２がガラス基板１０に千鳥状に配置されるとしたが、本発明はこれに限定されない。例えば、基準マークＭ１、Ｍ２がガラス基板１０に行列状に配置されてもよいし、基準マークＭ１のみがガラス基板１０に配置されてもよい。要は、複数の基準マークＭ１、Ｍ２のうち少なくとも１つの基準マークが後述の撮像装置１６ａにより撮像される画像中に含まれていればよい。このように、基準マークＭ１、Ｍ２を施す位置は、検査装置１６の種類等に応じて適宜設定されてよい。
　検査装置１６は、ガラス基板１０の品質を検査する装置である。検査する項目は、例えば、欠陥の有無、位置（大きさを含む）、種類等である。欠陥の種類としては、例えば、異物、泡、表面傷等がある。欠陥の位置や種類を含む品質情報は、記録媒体に記録される。
　例えば、検査装置１６は、図５に示すように、ＣＣＤカメラ等の撮像装置１６ａ、マイクロコンピュータ等の画像処理装置１６ｂ等から構成される。撮像装置１６ａは、搬送装置１２の上方に設置されており、搬送装置１２により搬送されるガラス基板１０を所定範囲毎に順次撮像する。撮像された画像データは、画像処理装置１６ｂに順次出力される。
　図６は、撮像装置１６ａにより撮像された画像の一例を示す模式図である。図６において、第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２、並びに、ガラス基板１０の欠陥Ｄ１、Ｄ２を誇張して描いている。
　最初に、画像処理装置１６ｂは、撮像装置１６ａにより撮像された画像を画像処理して、画像中の欠陥の有無、位置（大きさを含む）、種類の他、画像中の第１、第２の基準マークＭ１、Ｍ２の位置を検出する。
　続いて、画像処理装置１６ｂは、画像中に欠陥の存在を検出すると、画像中に第１の基準マークＭ１及び第２の基準マークＭ２の両方あるいは少なくとも一方を基準点とする２次元座標系を設定する。
　図７は、図６の画像に設定される２次元座標系の一例を示す模式図である。
　図７に示す例では、第１の基準マークＭ１を原点とし、第１の基準マークＭ１を通りガラス基板１０の側面１０ｂと直交する方向をＹ軸とし、Ｙ軸と直交する方向（ガラス基板１０の側面１０ｂと平行な方向）をＸ軸とする２次元座標系を設定する。
　同様に、第２の基準マークＭ２を原点とし、第２の基準マークＭ２を通りガラス基板１０の側面１０ｂと直交する方向をＹ軸とし、Ｙ軸と直交する方向（ガラス基板１０の側面１０ｂと平行な方向）をＸ軸とする２次元座標系を設定する。
　続いて、画像処理装置１６ｂは、設定した２次元座標系における欠陥の位置座標を検出する。１つの欠陥について、複数の２次元座標系における位置座標を検出してもよい。
　最後に、画像処理装置１６ｂは、欠陥の位置情報（位置座標データ）の検出に用いた基準マークＭ１、Ｍ２を識別するためのマーク識別情報と、検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する。
　マーク識別情報は、基準マークＭ１、Ｍ２に含まれる識別符号（例えば、ローマ数字）、基準マークＭ１、Ｍ２とガラス基板１０の基準位置（例えば、先端側の一角）との間のガラス基板１０の長手方向における概算距離、ガラス基板１０の基準位置からの累計の基準マークＭ１、Ｍ２の設置数等を含む。
　尚、画像処理装置１６ｂは、欠陥の位置を検出すると、品質情報（欠陥の位置情報、及び基準マークのマーク識別情報を含む）をマーキング装置１４に出力してもよい。
　マーキング装置１４は、画像処理装置１６ｂから品質情報を受信すると、ガラス基板１０の所定位置（例えば、欠陥の位置を検出する際の基準点となった第１のマークＭ１及び第２のマークＭ２の両方あるいは少なくとも一方の近傍（領域Ｐ、Ｑ））に品質情報を示す品質マークを施す。
　品質マークは、図形、文字、数字、記号、バーコード、ＱＲコード、又はこれらの組合せ等で表される。これにより、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０に施された品質マークから品質情報を読み取ることが可能である。
　尚、品質マークは、ガラス基板１０の欠陥の位置に対応するガラス基板１０の縁部１０ａや側面１０ｂに施されてもよいし、ガラス基板１０の欠陥の位置に施されてもよい。これにより、ガラス基板１０の欠陥Ｄの位置（大きさを含む）を容易に検出することができる。
　以上説明したように、本実施形態によれば、品質情報に含まれる欠陥の位置が該欠陥の位置から所定範囲内にある基準マークに対して示されているので、欠陥の位置を正確に検出することができ、ガラス基板１０を効率よく使用することができる。この効果は、ガラス基板１０の大きさが大きいほど顕著である。
　また、本実施形態によれば、基準マークＭ１、Ｍ２がガラス基板１０の長手方向に複数設けられているので、ガラス基板１０の長手方向寸法が３０ｍ以上である場合にも、基準マークＭ１、Ｍ２と品質情報に基づいて欠陥の位置を正確に検出することができる。
　また、本実施形態によれば、複数の基準マークＭ１が識別可能に表されているので、ガラス基板１０をその長手方向途中で切断した場合でも、基準マークＭ１を識別することができる。
　尚、本実施形態では、画像処理装置１６ｂ及びマーキング装置１４の両方あるいは少なくとも一方が本発明の記録装置に相当する。
　次に、本発明の第２実施形態について説明する。
　図８は、本発明の第２実施形態であるガラス基板の品質管理方法を示す工程図である。
　上記第１実施形態では、ガラス基板１０の所定位置に基準マークＭ１、Ｍ２を施し（ステップＳ２１）、該基準マークＭ１、Ｍ２を基準点として該基準点から所定範囲内（例えば、１０ｍ以内（好ましくは３ｍ以内））にあるガラス基板１０の欠陥の位置を検査装置１６により検出した（ステップＳ２２）。
　これに対し、本実施形態では、ガラス基板１０の欠陥の位置を検出し（ステップＳ３１）、検出した欠陥の位置から所定範囲内（例えば、１０ｍ以内（好ましくは３ｍ以内））に基準マークを施す（ステップＳ３２）。
　図９は、本発明の第２実施形態であるマーク付きガラス基板を部分的に示す平面図である。図９において、図３のマーキング装置１４により施された基準マークＭ３、及び、ガラス基板１０の欠陥Ｄ３を誇張して描いている。
　第３の基準マークＭ３は、第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２と同様に、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０の欠陥の位置を検出する際に基準点となるマークである。第３の基準マークＭ３は、図形、文字、数字、記号、又はこれらの組合せ等で表される。例えば、第３の基準マークＭ３は、図形と識別符号との組合せで表されてもよい。この識別符号は、複数の第３の基準マークＭ３を識別するための符号であって、例えば図９に示すようにローマ数字で表される。
　第３の基準マークＭ３を施す位置は、図３の検査装置１６により検出された欠陥Ｄ３の位置から所定範囲内（例えば、１０ｍ以内（好ましくは３ｍ以内））に設定される。これにより、第１実施形態と異なり、所定範囲内に欠陥が無い領域では基準マークＭ３が無い。このため、基準マークＭ３がガラス基板１０の供給先において欠陥となるのを抑制することができる。
　第３の基準マークＭ３を施す位置は、ガラス基板１０の供給先において撮像される画像中に第３の基準マークＭ３と欠陥Ｄ３とが含まれるように設定されることが好ましい。また、第３の基準マークＭ３を施す位置は、ガラス基板１０の使用効率の観点から、ガラス基板１０の供給先における不使用領域Ｔ２であることが好ましい。これらの条件を満たす位置としては、例えば図９に示すように欠陥Ｄ３に対応する（欠陥Ｄ３とガラス基板１０の幅方向に対向する）ガラス基板１０の縁部１０ａや側面１０ｂが挙げられる、この場合、第３の基準マークＭ３は、品質情報（欠陥の位置）を示す品質マークの役割も果たす。
　図１０は、図９の変形例を示す平面図である。図１０において、図３のマーキング装置１４により施された基準マークＭ３、及び、ガラス基板１０の欠陥Ｄ３～Ｄ５を誇張して描いている。
　図１０に示すように、一の欠陥Ｄ３の近傍に他の欠陥Ｄ４、Ｄ５が存在しているような場合、複数の欠陥Ｄ３～Ｄ５の位置から所定範囲内に第３の基準マークＭ３を１つだけ施してもよい。言い換えると、第３の基準マークＭ３を施す位置は、隣の（最近の）第３の基準マークＭ３から所定距離以上離れた位置に設定されてもよい。これにより、基準マークＭ３の設置数を更に減らすことができる。
　このようにして、ガラス基板１０の所定位置に基準マークＭ３を施すと共に（ステップＳ３２）、欠陥の位置に対する基準マークＭ３の相対位置を計測する。この計測は、例えば、速度センサ１２ｃや位置検出センサ１４ｃ等からの出力信号に基づいて行われる。
　続いて、基準マークＭ３を基準点とする欠陥の位置情報を作成し、作成した欠陥の位置情報を基準マークＭ３の識別情報と対応付けて記録媒体に記録する（ステップＳ３３）。記録媒体は、紙や光記録媒体、磁気記録媒体の他、ガラス基板１０であってもよい。
　本実施形態においても、第１実施形態と同様に、品質情報に含まれる欠陥の位置が該欠陥の位置から所定範囲内にある基準マークＭ３に対して示されているので、ガラス基板１０の供給先において、欠陥の位置を正確に検出することができ、ガラス基板１０を効率よく使用することができる。この効果は、ガラス基板１０の大きさが大きいほど顕著であり、ガラス基板１０の長手方向寸法が３０ｍ以上である場合に特に顕著である。
　また、本実施形態によれば、基準マークＭ３をガラス基板１０の欠陥の位置から所定範囲内に施すので、所定範囲内に欠陥が無い領域では基準マークＭ３が無い。このため、基準マークＭ３がガラス基板１０の供給先において欠陥となるのを抑制することができる。
　図１１は、図９の別の変形例を示す平面図である。図１１において、図３のマーキング装置１４により施された基準マークＭ４、及び、ガラス基板１０の欠陥Ｄ３を誇張して描いている。
　第４の基準マークＭ４は、第１及び第２の基準マークＭ１、Ｍ２と同様に、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０の欠陥の位置を検出する際に基準点となるマークである。第４の基準マークＭ４は、図形、文字、数字、記号、又はこれらの組合せ等で表される。例えば、第４の基準マークＭ４は、図形と識別符号との組合せで表されてもよい。この識別符号は、複数の第４の基準マークＭ４を識別するための符号であって、例えば図９に示すようにローマ数字で表される。
　第４の基準マークＭ４は、図３の検査装置１６により検出された欠陥Ｄ３の位置に施され、品質情報（欠陥の位置）を示す品質マークの役割も果たす。これにより、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０から欠陥の位置情報を読み取ることができるので、図９の記録工程（ステップＳ３３）が無くてもよい。
　第４の基準マークＭ４は、欠陥Ｄ３の種類に応じて識別可能に表されてよい。例えば、第４の基準マークＭ４は、欠陥Ｄ３の種類毎に、異なる色で表されてもよいし、異なる識別符号で表されても良い。これにより、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０から欠陥の種類に関する情報を読み取ることができる。
　尚、図１１に示す第４の基準マークＭ４、及び、図９に示す第３の基準マークＭ３の両方をガラス基板１０に施してもよい。
　尚、本実施形態では、画像処理装置１６ｂ及びマーキング装置１４の両方あるいは少なくとも一方が本発明の記録装置に相当する。
　次に、本発明の第３実施形態について説明する。
　最初に、ガラス基板の品質管理装置について図１２を参照して説明する。
　図１２は、本発明の第３実施形態であるガラス基板の品質管理装置を示す模式図である。図１２において、図３と同一構成については同一符号を付して説明を省略する。
　上記第１実施形態では、マーキング装置１４は、ガラス基板１０の所定位置にレーザを照射しガラス基板１０を加工してマークを描く装置であって、図３に示すように、レーザ発振器１４ａ、移動装置１４ｂ、位置検出センサ１４ｃ、制御装置１４ｄ等により構成される。
　これに対し、本実施形態では、マーキング装置１４Ａは、ガラス基板１０の表面の所定位置にインクを吐出してマークを印刷する装置であって、レーザ発振器１４ａの代わりに、インクヘッド１４ｅを有する。
　インクヘッド１４ｅは、搬送装置１２に対して移動可能に支持されており、制御装置１４ｄによる制御下で、ガラス基板１０の表面にインクを吐出する。
　インクの材料としては、特に限定されないが、ガラス基板１０の表面から除去可能な材料が好適である。そのような材料としては、例えば洗浄により除去可能な水性インクが挙げられる。これにより、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０の表面を傷つけることなく、ガラス基板１０の表面からマークを消去することが可能となる。従って、ガラス基板１０の供給先において、ガラス基板１０を更に効率よく使用することができる。
　次に、ガラス基板１０の供給先における、ガラス基板１０の品質管理方法について図１３を参照して説明する。
　図１３は、図２に続く、ガラス基板１０の品質管理方法を示す工程図である。
　先ず、欠陥の位置と、使用領域Ｔ１とを照合する（ステップＳ４１）。この照合は、図５に示すようなパターンを用いて行う。図５に示すようなパターンは、複数用意されてよく、使用領域Ｔ１にある欠陥の数が最も少ないパターンを選択する。これにより、ガラス基板１０を効率よく使用することができる。
　続いて、ステップＳ４１で選択された最適なパターンの不使用領域Ｔ２に、ガラス基板１０の欠陥の位置を検出する際に基準点となる基準マークを新たに施す（ステップＳ４２）。この基準マークは、供給元において既に施された基準マークを基準点として施される。これに伴い、新たな基準マークを基準点とする欠陥の位置を算出する。この基準マークは、例えばレーザを照射しガラス基板１０を加工して描かれてよい。
　最後に、供給元において施されたマークを消去する（ステップＳ４３）。
　このようにして、ガラス基板１０の供給先において、供給元で施されたマークの位置を簡単に変更することができ、ガラス基板１０を更に効率よく使用することができる。
　尚、本実施形態では、供給先においてマークの位置を変更するとしたが、供給元において供給先の変更等に応じてマークの位置を変更してもよい。
　以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に制限されることはなく、本発明の範囲を逸脱することなく、上述の実施形態に種々の変更及び置換を加えることができる。
　本出願を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
　本出願は、２００９年７月２４日出願の日本特許出願（特願２００９-１７３４３８）に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
　１０　ガラス基板
　１２　搬送装置
　１４　マーキング装置
　１６　検査装置

Claims (26)

  1. 　ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング工程を有するガラス部材の品質管理方法。
  2. 　前記施された前記基準マークを基準点とし、該基準点から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査工程と、
    　前記検出に用いられた前記基準マークの識別情報と前記検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録工程とを更に有する請求項１に記載のガラス部材の品質管理方法。
  3. 　ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査工程を更に有し、
    　前記マーキング工程では、前記検出された欠陥の位置から所定範囲内に前記基準マークを施す請求項１に記載のガラス部材の品質管理方法。
  4. 　前記施された基準マークの識別情報と前記施された基準マークを基準点とする欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録工程を更に有する請求項３に記載のガラス部材の品質管理方法。
  5. 　前記マーキング工程では、前記欠陥の位置に対応する前記ガラス部材の縁部又は側面に、前記基準マークを施す請求項３又は４に記載のガラス部材の品質管理方法。
  6. 　前記マーキング工程では、前記欠陥の位置に前記基準マークを施す請求項３～５のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理方法。
  7. 　前記基準マークは、前記ガラス部材の表面に、前記ガラス部材の表面から除去可能な材料で形成される請求項１～６のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理方法。
  8. 　前記ガラス部材の表面から除去可能な材料は、洗浄により除去可能なインクである請求項７に記載のガラス部材の品質管理方法。
  9. 　前記ガラス部材は、表示パネル用のガラス基板である請求項１～８のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理方法。
  10. 　ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング装置を有するガラス部材の品質管理装置。
  11. 　前記施された前記基準マークを基準点とし、該基準点から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査装置と、
    　前記検出に用いられた前記基準マークの識別情報と前記検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録装置とを更に有する請求項１０に記載のガラス部材の品質管理装置。
  12. 　ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査装置を更に有し、
    　前記マーキング装置は、前記検出された欠陥の位置から所定範囲内に前記基準マークを施す請求項１０に記載のガラス部材の品質管理装置。
  13. 　前記施された基準マークの識別情報と前記施された基準マークを基準点とする欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録装置を更に有する請求項１２に記載のガラス部材の品質管理装置。
  14. 　前記マーキング装置は、前記欠陥の位置に対応する前記ガラス部材の縁部又は側面に、前記基準マークを施す請求項１２又は１３に記載のガラス部材の品質管理装置。
  15. 　前記マーキング装置は、前記欠陥の位置に前記基準マークを施す請求項１２～１４のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理装置。
  16. 　前記基準マークは、前記ガラス部材の表面に、前記ガラス部材の表面から除去可能な材料で形成される請求項１０～１５のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理装置。
  17. 　前記ガラス部材の表面から除去可能な材料は、洗浄により除去可能なインクである請求項１６に記載のガラス部材の品質管理装置。
  18. 　前記ガラス部材は、表示パネル用のガラス基板である請求項１０～１７のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理装置。
  19. 　ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークが施されたマーク付きガラス部材。
  20. 　前記ガラス部材は、長手方向寸法が３０ｍ以上であって、
    　前記基準マークは、前記ガラス部材の長手方向に複数設けられる請求項１９に記載のマーク付きガラス部材。
  21. 　前記複数の基準マークがそれぞれ識別可能に表される請求項２０に記載のマーク付きガラス部材。
  22. 　前記所定位置は、前記ガラス部材の欠陥の位置に対応する前記ガラス部材の縁部又は側面に設定される請求項１９に記載のマーク付きガラス部材。
  23. 　前記所定位置は、前記ガラス部材の欠陥の位置に設定される請求項１９に記載のマーク付きガラス部材。
  24. 　前記基準マークは、前記ガラス部材の表面に、前記ガラス部材の表面から除去可能な材料で形成される請求項１９～２３のいずれか一項に記載のマーク付きガラス部材。
  25. 　前記ガラス部材の表面から除去可能な材料は、洗浄により除去可能なインクである請求項２４に記載のマーク付きガラス部材。
  26. 　前記ガラス部材は、表示パネル用のガラス基板である請求項１９～２５のいずれか一項に記載のマーク付きガラス部材。
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