CN102472712A - 玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件 - Google Patents

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Abstract

玻璃部件的质量管理方法包括标记工序,在该标记工序中,对玻璃部件的规定位置施加基准标记,该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。

Description

玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻

璃部件

技术领域

[0001] 本发明涉及一种玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件。

背景技术

[0002]近年来,液晶面板(LCD :Liquid Crystal Display)、有机 EL 面板(OLED =Organic Light-Emitting Diode)、等离子显示器面板、场发射(FED =Field Emission Display)等显示面板的大型化、薄型化不断发展,要求高质量的显示面板用的玻璃基板的大型化、薄型化不断发展。由此,制造没有缺陷的玻璃基板变得困难。

[0003] 另一方面,在专利文献1中记载了在玻璃基板的规定位置处施加表示质量信息 (缺陷信息)、识别信息的标记的技术。质量信息包括缺陷的个数、大小、深度、位置等。将玻璃基板与其质量信息一起提供给后续工序(包括客户),由此被供应方能够高效地使用包含缺陷的玻璃基板。

[0004] 专利文献1 :日本特开2006-039725号公报发明内容

[0005] 发明要解决的问题

[0006] 然而,在上述专利文献1所记载的技术中,在基于质量信息使用玻璃基板时,要测量距玻璃基板的基准位置(例如前端侧的一角)的距离,因此距基准位置越远,测量误差越大。因此,由于玻璃基板的大型化而有时无法正确把握缺陷的位置。

[0007] 特别是,最近提出了以下内容:将纵长的具有挠性(flexibility)的玻璃基板卷成辊状来提供给后续工序,在这种情况下,玻璃基板的纵长方向尺寸有时达到30m以上。当玻璃基板的纵长方向尺寸达到30m以上时,上述问题变得显著。

[0008] 在显示面板的制造成本中,玻璃基板的成本所占的比例低,因此,如果在制造显示面板后发现由于玻璃基板的缺陷导致的问题,则浪费多。

[0009] 本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种能够高效地使用含有缺陷的玻璃部件的玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件。

[0010] 用于解决问题的方案

[0011] 为了解决上述问题,本发明的玻璃部件的质量管理方法包括标记工序,在该标记工序中,在玻璃部件的规定位置施加基准标记,该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。

[0012] 此外,玻璃部件既可以是辊状,也可以是板状,其形状不被限定。另外,玻璃部件也可以厚度小于等于0.3mm,优选具有挠性(flexibility)。其中,在将本发明应用于厚度小于等于0. 3mm的辊状的玻璃部件的情况下,可以发挥特别优异的效果。

[0013] 另外,本发明的玻璃部件的质量管理装置具有标记装置,该标记装置对玻璃部件的规定位置施加基准标记,该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。

[0014] 另外,本发明的带标记的玻璃部件在玻璃部件的规定位置处被施加了基准标记, 该基准标记为对上述玻璃部件从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基

准点 ο

[0015] 发明的效果

[0016] 根据本发明,能够提供一种能够高效地使用含有缺陷的玻璃部件的玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件。

附图说明

[0017] 图1是表示玻璃基板的制造方法的工序图。

[0018] 图2是表示作为本发明的第一实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。

[0019] 图3是表示作为本发明的第一实施方式的玻璃基板的质量管理装置的示意图。

[0020] 图4是表示作为本发明的第一实施方式的带标记的玻璃基板的一部分的俯视图。

[0021] 图5是表示在被供应方处带标记的玻璃基板10的使用区域和不使用区域的一例的俯视图。

[0022] 图6是表示由摄像装置16a拍摄到的图像的一例的示意图。

[0023] 图7是表示在图6的图像中设定的二维坐标系的一例的示意图。

[0024] 图8是表示作为本发明的第二实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。

[0025] 图9是表示作为本发明的第二实施方式的带标记的玻璃基板的一部分的俯视图。

[0026] 图10是表示图9的变形例的俯视图。

[0027] 图11是表示图9的另一个变形例的俯视图。

[0028] 图12是表示作为本发明的第三实施方式的玻璃基板的质量管理装置的示意图。

[0029] 图13是表示接着图2的玻璃基板10的质量管理方法的工序图。

具体实施方式

[0030] 下面,参照附图来说明用于实施本发明的方式。此外,在本实施方式中,说明将本发明应用于要求高质量的显示面板用玻璃基板的情况,但是也可以将本发明应用于太阳能电池用的玻璃基板、硬盘用的玻璃基板等电子设备用的玻璃基板,还可以应用于建筑用玻璃板、汽车用玻璃板等一般的玻璃板。

[0031] 图1是表示玻璃基板的制造方法的工序图。

[0032] 首先,将玻璃原料投入到玻璃熔化层来进行熔化(步骤Sll)。熔化得到的熔融玻璃移动到玻璃熔化层内的下游侧,向澄清槽流出。

[0033] 接着,对澄清槽内的熔融玻璃所包含的气泡进行消泡并进行澄清(步骤S12)。

[0034] 接着,使澄清后的熔融玻璃成形为板状(步骤S13)。作为成形方法,例如使用熔融法(fusion method)、浮法(float method)。在熔融法中,澄清后的熔融玻璃沿截面呈楔状的成形体的两侧面流下,在成形体的下边缘部正下方合流而形成为一体,向下方延伸而形成板状。另外,在浮法中,澄清后的熔融玻璃流到浮法槽内的熔融金属(例如熔融锡)上, 利用熔融金属的平滑表面而形成板状。[0035] 最后,对已成形的板状玻璃进行缓冷(步骤S14),来制造玻璃基板。在步骤S14 的缓冷之后,也可以根据需要对玻璃基板进行切割、研磨、清洗。此外,也可以在后述的步骤 S23之后对玻璃基板进行切割。

[0036] 接着,参照图2来简单地说明玻璃基板的质量管理方法。

[0037] 图2是表示作为本发明的第一实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。

[0038] 在标记工序(步骤S21)中,在玻璃基板的规定位置施加基准标记。基准标记是成为基准点的标记,该基准点是在玻璃基板的被供应方处检测从该规定位置起规定范围内的玻璃基板的缺陷的位置时的基准点。此外,关于上述规定范围内,与检测缺陷的位置的方法等相应地适当设定该规定范围,优选IOm以内,更优选:¾以内。

[0039] 在检查工序(步骤S2》中,检查玻璃基板的质量。检查的项目例如有:是否存在缺陷、缺陷的位置(包括大小)、种类。作为缺陷的种类,例如有异物、气泡、表面伤痕等。

[0040] 在本实施方式的检查工序(步骤S2》中,以通过标记工序施加的基准标记为基准点,检测从该基准点起规定范围内(例如IOm以内(优选:¾以内))是否存在缺陷、缺陷的位置(包括大小)、种类。

[0041] 在记录工序(步骤S2!3)中,将通过标记工序施加的基准标记的识别信息与通过检查工序检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。

[0042] 在本实施方式的记录工序(步骤S2!3)中,将在检查工序中用于检测的基准标记的识别信息与通过检查工序检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。

[0043] 记录介质除了是纸、光记录介质、磁记录介质以外,也可以是玻璃基板。在记录到玻璃基板的情况下,在玻璃基板的规定位置施加表示玻璃基板的质量信息(包括缺陷的位置信息、基准标记的识别信息)的标记。由此,在玻璃基板的被供应方处能够读取玻璃基板 10的质量信息。

[0044] 玻璃基板的质量信息既可以通过纸等记录介质进行提供,也可以通过网络进行提供。在像这样与玻璃基板分开地提供玻璃基板的质量信息的情况下,将用于识别玻璃基板的识别信息(ID代码)标记在玻璃基板上,成组地提供质量信息和识别信息。

[0045] 将像这样施加了基准标记的玻璃基板与其质量信息一起提供给后续工序(包括客户)。由此,即使是如果在以往会由于一块玻璃基板的一部分含有缺陷而对该玻璃基板进行缺陷修正或废弃处理这样的玻璃基板,也能够将缺陷以外的部分作为可使用的玻璃基板而直接出厂。因此,生产效率的降低和资源的浪费也得到改善。玻璃基板的大小越大,该效果越显著。

[0046] 在该玻璃基板的被供应方处,能够根据质量信息所包含的缺陷的位置、种类来适当地选择使用区域。由此,在玻璃基板的被供应方处,也能够实现生产效率的改善、成本的降低。

[0047] 另外,在该玻璃基板的被供应方处,能够根据对玻璃基板施加的基准标记和质量信息来正确地检测缺陷的位置。

[0048] 在以往的玻璃基板中,在根据质量信息使用玻璃基板时,要测量距玻璃基板的基准位置(例如前端侧的一角)的距离,因此存在距基准位置越远测量误差越大的问题,有时会无法正确检测出缺陷的位置。特别是在玻璃基板的纵长方向尺寸为30m以上的情况下, 上述问题变得显著。[0049] 与此相对地,在本实施方式中,质量信息所包含的缺陷的位置是相对于从该缺陷的位置起规定范围内的基准标记而示出的,因此能够根据基准标记和质量信息正确地检测缺陷的位置,从而能够高效地使用玻璃基板。玻璃基板的大小越大,该效果越显著,在玻璃基板的纵长方向尺寸为30m以上的情况下,该效果尤其显著。

[0050] 接着,参照图3来说明玻璃基板的质量管理装置。

[0051] 图3是表示作为本发明的第一实施方式的玻璃基板的质量管理装置的示意图。

[0052] 在图3所示的例子中,玻璃基板的质量管理装置具备输送装置12、标记装置14以及检查装置16。

[0053] 输送装置12是输送图1的步骤S14的缓冷后的玻璃基板10的装置。例如,输送装置12由输送玻璃基板10的辊12a、对辊1¾进行旋转驱动的驱动装置12b、检测玻璃基板10的输送速度的速度传感器12c等构成。速度传感器12c例如可以是检测辊12a的旋转速度的旋转速度传感器,每隔规定时间将检测结果输出到标记装置14。

[0054] 标记装置14是对玻璃基板10的规定位置施加标记的单元。例如,标记装置14是对玻璃基板10的规定位置照射激光以对玻璃基板10进行加工来描绘标记的装置,如图3 所示,由激光振荡器14a、移动装置14b、位置检测传感器14c、控制装置14d等构成。

[0055] 激光振荡器14a以可相对于输送装置12进行移动的方式被支承,在控制装置14d 的控制下向玻璃基板10的表面振荡激光。作为激光振荡器14a,例如可以使用半导体激光器、YAG激光器、CO2激光器等。

[0056] 移动装置14b是在控制装置14d的控制下使激光振荡器1½相对于输送装置12 进行移动的装置,例如包括电动马达等。

[0057] 位置检测传感器14c是检测激光振荡器Ha相对于输送装置12的位置的传感器, 例如由检测移动装置14b的电动马达的转速的转速传感器等构成。

[0058] 控制装置14d由微计算机等构成,根据来自速度传感器12c、位置检测传感器14c 的输出信号等来控制激光振荡器14a、移动装置14b的输出以描绘标记。

[0059] 此外,设本实施方式的标记装置14为对玻璃基板10的规定位置照射激光以对玻璃基板10进行加工来描绘标记的单元,但是本发明并不限定于此。例如,标记装置14也可以是在玻璃基板10的表面的规定位置喷射墨水以印刷标记的装置,还可以是通过蒸镀、溅射等形成标记的装置。其中,通过激光照射描绘出的标记是对玻璃基板10进行加工而描绘出的,因此耐药品性、耐热性优异。

[0060] 图4是表示作为本发明的第一实施方式的带标记的玻璃基板的一部分的俯视图。 在图4中,放大由标记装置14施加的基准标记Ml、M2来进行描绘。

[0061] 在图4所示的例子中,基准标记Ml、M2交错地配置在玻璃基板10上。

[0062] 在玻璃基板10的边缘部10a,沿玻璃基板10的纵长方向设置了多个第一基准标记 Ml。多个第一基准标记Ml既可以例如图4所示那样被以等间距设置,也可以以不等间距设置。

[0063] 第一基准标记Ml是成为在玻璃基板10的被供应方处检测玻璃基板10的缺陷的位置时的基准点的标记。用图形、文字、数字、符号或者它们的组合等来示出第一基准标记 Ml。例如,也可以用图形和识别符号的组合来示出第一基准标记Ml。

[0064] 识别符号是用于识别多个第一基准标记Ml的符号,例如图4所示那样用罗马数字来示出。在识别符号包含于第一基准标记Ml的情况下,即使在沿纵长方向中途对玻璃基板 10进行切割的情况下,也能够识别多个第一基准标记Ml。

[0065] 此外,为了识别多个第一基准标记Ml,也可以对从玻璃基板10的规定位置(例如玻璃基板10的前端侧的一角)起的累计的第一基准标记Ml的设置数量进行计数,还可以测量距玻璃基板10的规定位置的估算距离。

[0066] 从玻璃基板10的一个侧面IOb沿玻璃基板10的宽度方向以规定间距设置第二基准标记M2,沿玻璃基板10的纵长方向设置多个第二基准标记M2。

[0067] 第二基准标记M2与第一基准标记Ml同样地,是成为在玻璃基板10的被供应方处检测玻璃基板10的缺陷的位置时的基准点的标记,用图形等示出。例如,第二基准标记M2 也可以如图4所示那样仅用图形示出。

[0068] 第一基准标记Ml和第二基准标记M2既可以用相同的图形示出,也可以用不同的图形示出。另外,第一基准标记Ml和第二基准标记M2既可以用相同的颜色示出,也可以用不同的颜色示出。

[0069] 第一基准标记Ml和第二基准标记M2的大小既可以是能够看到的大小,也可以是难以看到的大小。

[0070] 作为施加第一基准标记Ml和第二基准标记M2的位置,最好是玻璃基板10的被供应方处的不使用区域。在此,不使用区域除了指不成为最终制品的区域以外,还指即使成为最终制品第一基准标记Ml和第二基准标记M2也不会成为问题的区域。

[0071] 图5是表示在被供应方处带标记的玻璃基板10的使用区域(例如形成薄膜晶体管、滤色器的区域)和不使用区域的一例的俯视图。在图5中,用点花纹来示出使用区域 Tl,将不使用区域T2保持白色来示出。

[0072] 在图5所示的例子中,施加第一基准标记Ml的位置优选玻璃基板10的边缘部IOa 或玻璃基板10的侧面10b。另外,施加第二基准标记M2的位置优选设定于相邻的使用区域 Tl之间的不使用区域T2。

[0073] 此外,在图5所示的例子中,设为在玻璃基板10上交错地配置基准标记Ml、M2,但是本发明并不限定于此。例如,可以将基准标记Ml、M2在玻璃基板10上配置成矩阵状,也可以只将基准标记Ml配置在玻璃基板10上。总之,只要使由后述的摄像装置16a拍摄的图像中包含多个基准标记M1、M2中的至少一个基准标记即可。这样,优选根据检查装置16 的种类等来适当地设定施加基准标记Ml、M2的位置。

[0074] 检查装置16是检查玻璃基板10的质量的装置。检查的项目例如为是否存在缺陷、 缺陷的位置(包括大小)、种类等。作为缺陷的种类,例如有异物、气泡、表面伤痕等。包含缺陷的位置、种类的质量信息被记录在记录介质中。

[0075] 例如,如图3所示,检查装置16由CXD照相机等摄像装置16a、微计算机等图像处理装置16b等构成。摄像装置16a设置于输送装置12的上方,按照每个规定范围依次拍摄被输送装置12输送的玻璃基板10。拍摄到的图像数据被依次输出到图像处理装置16b。

[0076] 图6是表示由摄像装置16a拍摄到的图像的一例的示意图。在图6中,放大第一基准标记Ml和第二基准标记M2以及玻璃基板10的缺陷Dl、D2来进行描绘。

[0077] 首先,图像处理装置16b对由摄像装置16a拍摄到的图像进行图像处理,检测图像中是否存在缺陷、缺陷的位置(包括大小)、种类,除此以外还检测图像中的第一基准标记Ml、第二基准标记M2的位置。

[0078] 接着,图像处理装置16b在检测到图像中存在缺陷时,在图像中设定以第一基准标记Ml和第二基准标记M2这两方或其中至少一方为基准点的二维坐标系。

[0079] 图7是表示对图6的图像设定的二维坐标系的一例的示意图。

[0080] 在图7所示的例子中,设定如下的二维坐标系:以第一基准标记Ml为原点,以通过第一基准标记Ml并与玻璃基板10的侧面IOb正交的方向为Y轴,以与Y轴正交的方向 (与玻璃基板10的侧面IOb平行的方向)为X轴。

[0081] 同样地,设定如下的二维坐标系:以第二基准标记M2为原点,以通过第二基准标记M2并与玻璃基板10的侧面IOb正交的方向为Y轴,以与Y轴正交的方向(与玻璃基板 10的侧面IOb平行的方向)为X轴。

[0082] 接着,图像处理装置16b检测缺陷在所设定的二维坐标系中的位置坐标。也可以针对一个缺陷来检测其在多个二维坐标系中的位置坐标。

[0083] 最后,图像处理装置16b将用于识别在缺陷的位置信息(位置坐标数据)的检测中使用的基准标记Ml、M2的标记识别信息与检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。

[0084] 标记识别信息包含:基准标记M1、M2中含有的识别符号(例如罗马数字)、玻璃基板10的纵长方向上的基准标记M1、M2与玻璃基板10的基准位置(例如前端侧的一角)之间的估算距离、从玻璃基板10的基准位置起的累计的基准标记M1、M2的设置数量等。

[0085] 此外,图像处理装置16b也可以在检测出缺陷的位置时,将质量信息(包括缺陷的位置信息以及基准标记的标记识别信息)输出到标记装置14。

[0086] 标记装置14在从图像处理装置16b接收到质量信息时,在玻璃基板10的规定位置(例如,成为检测缺陷的位置时的基准点的第一标记Ml和第二标记M2这两方或者至少一方的附近(区域P、Q))施加表示质量信息的质量标记。

[0087] 质量标记用图形、文字、数字、符号、条形码、QR码或者它们的组合等示出。由此, 在玻璃基板10的被供应方处能够从施加在玻璃基板10上的质量标记中读取质量信息。

[0088] 此外,质量标记也可以被施加在与玻璃基板10的缺陷的位置对应的玻璃基板10 的边缘部IOa或侧面IOb上,还可以被施加在玻璃基板10的缺陷的位置处。由此,能够容易地检测出玻璃基板10的缺陷D的位置(包括大小)。

[0089] 如以上所说明的那样,根据本实施方式,质量信息所包含的缺陷的位置是相对于从该缺陷的位置起位于规定范围内的基准标记来示出的,因此能够正确地检测缺陷的位置,从而能够高效地使用玻璃基板10。玻璃基板10的大小越大,该效果越显著。

[0090] 另外,根据本实施方式,沿玻璃基板10的纵长方向设置多个基准标记M1、M2,因此即使在玻璃基板10的纵长方向尺寸为30m以上的情况下,也能够根据基准标记M1、M2和质量信息来正确地检测缺陷的位置。

[0091] 另外,根据本实施方式,以可以被识别的方式示出多个基准标记M1,因此即使在玻璃基板10的纵长方向中途对该玻璃基板10进行了切割的情况下,也能够识别基准标记Ml。

[0092] 此外,在本实施方式中,图像处理装置16b和标记装置14这两方或其中一方相当于本发明的记录装置。

[0093] 接着,说明本发明的第二实施方式。

9[0094] 图8是表示作为本发明的第二实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。

[0095] 在上述第一实施方式中,在玻璃基板10的规定位置处施加基准标记Ml、M2(步骤 S21),通过检查装置16检测出以该基准标记M1、M2为基准点且位于从该基准点起规定范围内(例如IOm以内(优选:¾以内))的玻璃基板10的缺陷的位置(步骤S22)。

[0096] 与此相对地,在本实施方式中,检测玻璃基板10的缺陷的位置(步骤S31),从检测出的缺陷的位置起在规定范围内(例如IOm以内(优选:¾以内))施加基准标记(步骤 S32)。

[0097] 图9是表示作为本发明的第二实施方式的带标记的玻璃基板的一部分的俯视图。 在图9中,放大由图3的标记装置14施加的基准标记M3和玻璃基板10的缺陷D3来进行描绘。

[0098] 第三基准标记M3与第一基准标记Ml和第二基准标记M2同样地,是在玻璃基板10 的被供应方处检测玻璃基板10的缺陷的位置时成为基准点的标记。用图形、文字、数字、符号或者它们的组合等来示出第三基准标记M3。例如,也可以用图形和识别符号的组合来示出第三基准标记M3。该识别符号是用于识别多个第三基准标记M3的符号,例如图9所示那样用罗马数字来示出。

[0099] 施加第三基准标记M3的位置被设定在从通过图3的检查装置16检测出的缺陷D3 的位置起规定范围内(例如IOm以内(优选:¾以内))。由此,与第一实施方式不同地,在规定范围内没有缺陷的区域中不存在基准标记M3。因此,能够抑制基准标记M3在玻璃基板 10的被供应方处成为缺陷的情况。

[0100] 优选对施加第三基准标记M3的位置进行设定使得在玻璃基板10的被供应方处所拍摄的图像中包含第三基准标记M3和缺陷D3。另外,从玻璃基板10的使用效率的观点来看,施加第三基准标记M3的位置优选为在玻璃基板10的被供应方处不使用的区域T2。作为满足这些条件的位置,例如可以列举出如图9所示那样与缺陷D3对应(沿玻璃基板10 的宽度方向与缺陷D3相对)的玻璃基板10的边缘部IOa或侧面10b。在这种情况下,第三基准标记M3也起到了表示质量信息(缺陷的位置)的质量标记的作用。

[0101] 图10是表示图9的变形例的俯视图。在图10中,放大由图3的标记装置14施加的基准标记M3以及玻璃基板10的缺陷D3〜D5来进行描绘。

[0102] 如图10所示,在一个缺陷D3的附近存在其它缺陷D4、D5的情况下,也可以在从多个缺陷D3〜D5的位置起的规定范围内只施加一个第三基准标记M3。换言之,施加第三基准标记M3的位置也可以被设定在距相邻的(最近的)第三基准标记M3规定距离以上的位置处。由此,能够进一步减少基准标记M3的设置数量。

[0103] 这样,在玻璃基板10的规定位置处施加基准标记M3 (步骤S3》,并且测量基准标记M3相对于缺陷的位置的相对位置。例如,根据来自速度传感器12c、位置检测传感器14c 等的输出信号来进行该测量。

[0104] 接着,制作以基准标记M3为基准点的缺陷的位置信息,将制作出的缺陷的位置信息与基准标记M3的识别信息相对应地记录在记录介质中(步骤S3!3)。记录介质除了是纸、 光记录介质、磁记录介质以外,还可以是玻璃基板10。

[0105] 在本实施方式中也与第一实施方式同样地,质量信息所包含的缺陷的位置是相对于从该缺陷的位置起规定范围内的基准标记M3来示出的,因此在玻璃基板10的被供应方处能够正确地检测出缺陷的位置,从而能够高效地使用玻璃基板10。玻璃基板10的大小越大,该效果越显著,在玻璃基板10的纵长方向尺寸为30m以上的情况下该效果尤其显著。

[0106] 另外,根据本实施方式,从玻璃基板10的缺陷的位置起在规定范围内施加基准标记M3,因此,在规定范围内没有缺陷的区域中不存在基准标记M3。因此,能够抑制基准标记 M3在玻璃基板10的被供应方处成为缺陷的情况。

[0107] 图11是表示图9的另一个变形例的俯视图。在图11中,放大由图3的标记装置 14施加的基准标记M4以及玻璃基板10的缺陷D3来进行描绘。

[0108] 第四基准标记M4与第一基准标记Ml和第二基准标记M2同样地,是在玻璃基板10 的被供应方处检测玻璃基板10的缺陷的位置时成为基准点的标记。用图形、文字、数字、符号或者它们的组合等来表示第四基准标记M4。例如,也可以用图形和识别符号的组合来表示第四基准标记M4。该识别符号是用于识别多个第四基准标记M4的符号,例如图9所示那样用罗马数字示出。

[0109] 第四基准标记M4被施加在由图3的检查装置16检测出的缺陷D3的位置处,也起到表示质量信息(缺陷的位置)的质量标记的作用。由此,在玻璃基板10的被供应方处能够从玻璃基板10读取缺陷的位置信息,因此也可以去掉图9的记录工序(步骤S33)。

[0110] 可以根据缺陷D3的种类以能够进行识别的方式示出第四基准标记M4。例如,可以对缺陷D3的每个种类用不同的颜色示出第四基准标记M4,也可以对缺陷D3的每个种类用不同的识别符号来示出第四基准标记M4。由此,在玻璃基板10的被供应方处能够从玻璃基板10读取与缺陷的种类有关的信息。

[0111] 此外,也可以在玻璃基板10上施加图11所示的第四基准标记M4和图9所示的第三基准标记M3这两者。

[0112] 此外,在本实施方式中,图像处理装置16b和标记装置14这两方或其中一方相当于本发明的记录装置。

[0113] 接着,说明本发明的第三实施方式。

[0114] 首先,参照图12来说明玻璃基板的质量管理装置。

[0115] 图12是表示作为本发明的第三实施方式的玻璃基板的质量管理装置的示意图。 在图12中,对与图3相同的结构附加相同的附图标记,省略说明。

[0116] 在上述第一实施方式中,标记装置14是对玻璃基板10的规定位置照射激光以对玻璃基板10进行加工来描绘标记的装置,如图3所示,由激光振荡器14a、移动装置14b、位置检测传感器14c、控制装置14d等构成。

[0117] 与此相对地,在本实施方式中,标记装置14A是对玻璃基板10的表面的规定位置处喷射墨水来印刷标记的装置,具有喷墨头14e以代替激光振荡器14a。

[0118] 喷墨头14e以可相对于输送装置12进行移动的方式被支承,在控制装置14d的控制下向玻璃基板10的表面喷射墨水。

[0119] 作为墨水的材料,不特别限定,优选能够从玻璃基板10的表面去除的材料。作为这种材料,例如可以列举出能够通过清洗去除的水性墨水。由此,在玻璃基板10的被供应方处能够不损伤玻璃基板10的表面地从玻璃基板10的表面消除标记。因而,在玻璃基板 10的被供应方处能够更加高效地使用玻璃基板10。

[0120] 接着,参照图13来说明玻璃基板10的被供应方处的玻璃基板10的质量管理方法。

[0121] 图13是表示接着图2的玻璃基板10的质量管理方法的工序图。

[0122] 首先,将缺陷的位置与使用区域Tl进行对照(步骤S41)。使用图5所示那样的图案来进行该对照。可以准备多个图5所示那样的图案,选择位于使用区域Tl的缺陷的数量最少的图案。由此,能够高效地使用玻璃基板10。

[0123] 接着,在通过步骤S41选择出的最佳的图案的不使用区域T2中重新施加在检测玻璃基板10的缺陷的位置时成为基准点的基准标记(步骤S^)。以供应方已经施加的基准标记为基准点来施加该基准标记。与此相伴地,计算以新的基准标记为基准点的缺陷的位置。可以例如照射激光来对玻璃基板10进行加工以描绘该基准标记。

[0124] 最后,消除供应方所施加的标记(步骤S43)。

[0125] 这样,在玻璃基板10的被供应方处能够简单地变更由供应方施加的标记的位置, 从而能够更加高效地使用玻璃基板10。

[0126] 此外,在本实施方式中,设为在被供应方处变更标记的位置,但是也可以在供应方处根据被供应方的变更等来变更标记的位置。

[0127] 以上,说明了本发明的实施方式,但是本发明并不限制于上述实施方式,能够在不脱离本发明的范围内对上述实施方式进行各种变更以及置换。

[0128] 详细地或参照特定的实施方式对本申请进行了说明,但对于本领域技术人员而言,显然能够在不脱离本发明的宗旨和范围的前提下进行各种变更、修改。

[0129] 本申请以2009年7月M日申请的日本专利申请(特愿2009-173438)为基础,将上述申请的内容作为参照取入到本文中。

[0130] 附图标记说明

[0131] 10 :玻璃基板;12 :输送装置;14 :标记装置;16 :检查装置。

Claims (26)

1. 一种玻璃部件的质量管理方法,包括标记工序,在该标记工序中,对玻璃部件的规定位置施加基准标记,该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。
2.根据权利要求1所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于,还包括:检查工序,以所施加的上述基准标记为基准点,检测上述玻璃部件在从该基准点起规定范围内是否存在缺陷以及该缺陷的位置;以及记录工序,将上述检测中使用的上述基准标记的识别信息与所检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。
3.根据权利要求1所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于,还包括检查工序,在该检查工序中检测上述玻璃部件是否存在缺陷以及该缺陷的位置,在上述标记工序中,在从所检测出的缺陷的位置起规定范围内施加上述基准标记。
4.根据权利要求3所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于,还包括记录工序,在该记录工序中,将所施加的上述基准标记的识别信息与以所施加的上述基准标记为基准点的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。
5.根据权利要求3或4所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于,在上述标记工序中,在上述玻璃部件的与上述缺陷的位置对应的边缘部或侧面施加上述基准标记。
6.根据权利要求3〜5中的任一项所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于, 在上述标记工序中,在上述缺陷的位置处施加上述基准标记。
7.根据权利要求1〜6中的任一项所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于,用能够从上述玻璃部件的表面去除的材料在上述玻璃部件的表面形成上述基准标记。
8.根据权利要求7所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于, 能够从上述玻璃部件的表面去除的材料是能够通过清洗去除的墨水。
9.根据权利要求1〜8中的任一项所述的玻璃部件的质量管理方法,其特征在于, 上述玻璃部件是显示面板用的玻璃基板。
10. 一种玻璃部件的质量管理装置,具有标记装置,该标记装置在玻璃部件的规定位置处施加基准标记,该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。
11.根据权利要求10所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于,还具有:检查装置,其以所施加的上述基准标记为基准点,检测上述玻璃部件在从该基准点起规定范围内是否存在缺陷以及该缺陷的位置;以及记录装置,其将上述检测中使用的上述基准标记的识别信息与所检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。
12.根据权利要求10所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于,还具有检查装置,该检查装置检测上述玻璃部件是否存在缺陷以及该缺陷的位置, 上述标记装置在从所检测出的缺陷的位置起规定范围内施加上述基准标记。
13.根据权利要求12所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于,还具有记录装置,该记录装置将所施加的上述基准标记的识别信息与以所施加的上述基准标记为基准点的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。
14.根据权利要求12或13所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于,上述标记装置在上述玻璃部件的与上述缺陷的位置对应的边缘部或侧面施加上述基准标记。
15.根据权利要求12〜14中的任一项所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于, 上述标记装置在上述缺陷的位置处施加上述基准标记。
16.根据权利要求10〜15中的任一项所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于, 用能够从上述玻璃部件的表面去除的材料在上述玻璃部件的表面形成上述基准标记。
17.根据权利要求16所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于, 能够从上述玻璃部件的表面去除的材料是能够通过清洗去除的墨水。
18.根据权利要求10〜17中的任一项所述的玻璃部件的质量管理装置,其特征在于, 上述玻璃部件是显示面板用的玻璃基板。
19. 一种带标记的玻璃部件,在该玻璃部件的规定位置处施加了基准标记,该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。
20.根据权利要求19所述的带标记的玻璃部件,其特征在于, 上述玻璃部件的纵长方向尺寸为30m以上,在上述玻璃部件的纵长方向上设置有多个上述基准标记。
21.根据权利要求20所述的带标记的玻璃部件,其特征在于, 多个上述基准标记以能够被分别识别的方式示出。
22.根据权利要求19所述的带标记的玻璃部件,其特征在于,上述规定位置被设定在上述玻璃部件的与上述玻璃部件的缺陷的位置对应的边缘部或侧面。
23.根据权利要求19所述的带标记的玻璃部件,其特征在于, 上述规定位置被设定在上述玻璃部件的缺陷的位置处。
24.根据权利要求19〜23中的任一项所述的带标记的玻璃部件,其特征在于,用能够从上述玻璃部件的表面去除的材料在上述玻璃部件的表面形成上述基准标记。
25.根据权利要求M所述的带标记的玻璃部件,其特征在于, 能够从上述玻璃部件的表面去除的材料是能够通过清洗去除的墨水。
26.根据权利要求19〜25中的任一项所述的带标记的玻璃部件,其特征在于, 上述玻璃部件是显示面板用的玻璃基板。
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