WO2010035646A1 - 周波数特性測定装置 - Google Patents

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sweep
signal
measurement
trigger
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悟 青山
弥 土井
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株式会社アドバンテスト
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/175—Spectrum analysis; Fourier analysis by delay means, e.g. tapped delay lines
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/163—Spectrum analysis; Fourier analysis adapted for measuring in circuits having distributed constants

Definitions

  • the present invention relates to a frequency characteristic measuring apparatus for measuring a frequency characteristic or the like of an input signal in a spectrum analyzer or the like.
  • the conventional spectrum analyzer disclosed in Patent Document 1 and the like has two input terminals, but the measurement of the frequency characteristic is performed on a signal input from one input terminal. Therefore, if the frequency characteristics of two types of signals are to be measured simultaneously, two spectrum analyzers and an external trigger device that generates a trigger signal for synchronizing these measurements are required. There is a problem that the configuration is complicated and the measurement is troublesome. Further, as a method for comparing the frequency characteristics of two kinds of signals, a method of printing and comparing the respective measurement results can be considered, but this method has a problem that accurate analysis is difficult.
  • the present invention was created in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a frequency characteristic measuring apparatus capable of simplifying the configuration for measurement and reducing labor for measurement. It is to provide.
  • a frequency characteristic measuring apparatus includes a plurality of measuring means for separately measuring frequency characteristics for each of a plurality of input signals, and a measurement start timing in each of the plurality of measuring means.
  • Trigger control means for outputting a plurality of trigger signals for designating, and sweep control means for controlling the frequency sweep operation in each of the plurality of measurement means in synchronization with the plurality of trigger signals output from the trigger control means. ing. This makes it possible to measure multiple input signals in parallel to synchronize with the internally generated trigger signal, eliminating the need for an external device, and simplifying the measurement configuration And the labor required for measurement can be reduced.
  • the plurality of measurement means described above include a local oscillator whose oscillation frequency can be changed, and a mixer that mixes and outputs a local oscillation signal output from the local oscillator and a signal input from the input terminal.
  • the local oscillator outputs a status signal indicating the operating state of the local oscillator, and the sweep control means performs frequency sweep operation on the measuring means including the local oscillator notified by the status signal that the local oscillator is operable. It is desirable to control. As a result, it is possible to perform frequency sweep control by confirming a state where frequency sweep is possible.
  • the sweep control means described above individually controls the frequency sweep operation in each of the plurality of measurement means in synchronization with the selection means for selecting one of the plurality of trigger signals and one trigger signal selected by the selection means. And a plurality of sweeping means. As a result, the start timings of the frequency sweeps in the plurality of measuring means can be matched, and the measurement timings of the frequency characteristics can be easily matched.
  • the sweep control means described above includes a plurality of selection means for selecting a plurality of trigger signals so as not to overlap each other, and a plurality of trigger signals selected by the plurality of selection means in synchronization with each of the plurality of measurement means. It is desirable to provide a plurality of sweep means for individually controlling the frequency sweep operation. Thereby, the measurement operation
  • the sweep control means described above receives a selection means for selecting one of a plurality of trigger signals, and one trigger signal selected by the selection means, and synchronizes with the trigger signal to each of the plurality of measurement means.
  • a plurality of sweep means for individually controlling the frequency sweep operation and all status signals corresponding to each of the plurality of measurement means indicate that they are operable, trigger signals are input to the plurality of sweep means. It is desirable to provide a trigger input restricting means to permit. As a result, when frequency sweeping is possible in all measurement means, a trigger signal is input to each sweeping means, so that two systems of measurement can be started more reliably simultaneously.
  • Each of the plurality of sweep means described above performs an operation for controlling the frequency sweep operation in each of the plurality of measurement means when all the state signals corresponding to each of the plurality of measurement means indicate an operable state. It is desirable to do. As a result, when it is impossible to perform the frequency sweep in some measuring means, the frequency sweep in all the measuring means can be stopped. It is possible to reliably match the operation timing.
  • the sweep control means described above receives a selection means for selecting one of a plurality of trigger signals, and one trigger signal selected by the selection means, and synchronizes with the trigger signal to each of the plurality of measurement means. It is desirable to include a plurality of sweep means for individually controlling the frequency sweep operation and a delay means for delaying the input timing of the trigger signal for a predetermined time with respect to a part of the plurality of measurement means. As a result, the timing at which the trigger signals are input to the plurality of sweep means can be accurately shifted by a predetermined time, and the timing at which the sweep is started can be accurately shifted when performing measurement of a plurality of systems.
  • FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of a sweep control unit corresponding to case 1.
  • FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of a sweep control unit corresponding to case 1.
  • FIG. 6 is a diagram showing a detailed configuration of a sweep control unit corresponding to case 2. 6 is a diagram illustrating a detailed configuration of a sweep control unit corresponding to case 3.
  • FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of a sweep control unit corresponding to case 4.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a spectrum analyzer according to an embodiment.
  • the spectrum analyzer 10 of this embodiment includes mixers 110 and 210, local oscillators 112 and 212, IF units (intermediate frequency processing units) 120 and 220, a sweep control unit 300, a trigger control unit 350, and a CPU 400.
  • the display unit 410 and the operation unit 420 are included.
  • the spectrum analyzer 10 of this embodiment includes two input terminals IN1 and IN2 to which a signal under measurement is input and a trigger terminal TG to which an external trigger signal is input.
  • the spectrum analyzer 10 simultaneously measures the frequency characteristics of the two signals under test fin1 and fin2 input to these two input terminals IN1 and IN2, and displays the spectrum as a measurement result.
  • the spectrum analyzer 10 includes a mixer 110, a local oscillator 112, and an IF unit 120.
  • the mixer 110 receives a signal under measurement fin1 input from one input terminal IN1 and a local oscillation signal f OSC1 output from the local oscillator 112, and these signal under measurement fin1 and local oscillation signal f OSC1 are input. And a mixed signal is output.
  • the local oscillator 112 outputs a local oscillation signal f OSC1 that can be swept within a predetermined range of the oscillation frequency.
  • the local oscillator 112 is configured by a PLL circuit including a variable frequency divider, a phase comparator, and a VCO (voltage controlled oscillator). Further, in order to widen the frequency variable range of the local oscillation signal output from the local oscillator 112, normally, a plurality of VCOs having different frequency variable ranges are used, and when changing the frequency of the local oscillation signal in one direction, The VCO to be used is switched (band switching).
  • the IF unit 120 performs analog and digital signal processing on the output signal of the mixer 110 to measure the frequency characteristics of the signal under test fin1, and includes an intermediate frequency filter 122, an ADC (analog-digital converter). ) 124 and DSP (digital signal processor) 126.
  • the intermediate frequency filter 122 is a band pass filter that passes only a predetermined intermediate frequency component (intermediate frequency signal) from the output signal of the mixer 110.
  • the ADC 124 converts the intermediate frequency signal output from the intermediate frequency filter 122 into digital data at a predetermined sampling frequency.
  • the DSP 126 performs various kinds of signal processing on the intermediate frequency signal converted into digital data, thereby measuring characteristic values (for example, signal level and bit error rate) of the intermediate frequency signal. Specifically, the DSP 126 performs detection processing, image removal processing, and the like on the intermediate frequency signal.
  • a mixer 210 receives the signal under test fin2 input from the other input terminal IN2 and the local oscillation signal f OSC2 output from the local oscillator 212. These signal under measurement fin2 and the local oscillation signal f OSC2 are input. And a mixed signal is output.
  • the local oscillator 212 outputs a local oscillation signal f OSC2 that can sweep the oscillation frequency within a predetermined range.
  • the local oscillator 212 is configured by a PLL circuit including, for example, a variable frequency divider, a phase comparator, and a VCO (voltage controlled oscillator). Further, in order to widen the frequency variable range of the local oscillation signal output from the local oscillator 212, normally, a plurality of VCOs having different frequency variable ranges are used, and when changing the frequency of the local oscillation signal in one direction, The VCO to be used is switched (band switching).
  • the IF unit 220 performs analog and digital signal processing on the output signal of the mixer 210 to measure the frequency characteristics of the signal under measurement fin2, and includes an intermediate frequency filter 222, an ADC 224, and a DSP 226.
  • the intermediate frequency filter 222 is a band pass filter that passes only a predetermined intermediate frequency component (intermediate frequency signal) from the output signal of the mixer 210.
  • the ADC 224 converts the intermediate frequency signal output from the intermediate frequency filter 222 into digital data at a predetermined sampling frequency.
  • the DSP 226 measures the characteristic value of the intermediate frequency signal by performing various kinds of signal processing on the intermediate frequency signal converted into digital data. Specifically, the DSP 226 performs detection processing, image removal processing, and the like on the intermediate frequency signal.
  • the sweep control unit 300 receives two types of trigger signals T1 and T2 and LO1redy and LO2redy signals output from the local oscillators 112 and 212, respectively.
  • the sweep signal is input to each of the two local oscillators 112 and 212.
  • S1 and S2 are sent to perform sweep control on each of these two local oscillators 112 and 212.
  • the LO1redy signal is a signal indicating the operation state of the local oscillator 112, and becomes a high level when, for example, the sweep operation is enabled (enable state).
  • the LO1redy signal becomes low level during the band switching, and the LO1redy signal becomes high level again when the band switching is completed.
  • the LO2redy signal becomes low level during the band switching, and the LO1redy signal becomes high level again when the band switching is completed. The same applies to the LO2redy signal.
  • the trigger control unit 350 generates trigger signals T1 and T2 for instructing the start of measurement. These trigger signals T1 and T2 are generated in synchronization with an external trigger signal input to the trigger terminal TG, an IF trigger signal output from the IF units 120 and 220, a video trigger signal, or the like.
  • the CPU 400 controls the entire spectrum analyzer 10 and simultaneously displays two measurement results (characteristic values) output from the IF units 120 and 220 on the display unit 410 or a user instruction using the operation unit 420.
  • the process for setting the measurement conditions is performed according to.
  • the operation unit 420 includes a plurality of switches operated by a user, an operation volume, and the like. By operating a switch, an operation volume, or the like provided in the operation unit 420, the user gives instructions for setting measurement conditions and starting and ending measurement.
  • FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of the sweep control unit 300 corresponding to case 1.
  • the sweep control unit 300 shown in FIG. 2 includes two sweep units 310 and 312 and two switching units 320 and 322.
  • the sweep unit 310 outputs a sweep signal S1 necessary for sweeping the frequency of the local oscillator 112.
  • the sweep control unit 310 determines the frequency division ratio of the variable frequency divider in one direction.
  • a sweep signal S1 for instructing the start and end of the sweep operation to be changed to is generated and output.
  • the sweep signal S1 is input to the local oscillator 112.
  • the sweep unit 310 receives the LO1redy signal input from the local oscillator 112 and the trigger signal T1 (or T2) input via the switching unit 320.
  • the trigger signal T1 or the like is input when the LO1redy signal is at a high level, the sweep unit 310 starts outputting the sweep signal S1.
  • the sweep signal S1 is also input to the IF unit 120, and the start and end of the sweep control are notified to the IF unit 120.
  • the sweep unit 312 outputs a sweep signal S2 necessary for sweeping the frequency of the local oscillator 212.
  • the sweep control unit 312 performs a sweep operation for changing the frequency division ratio of the variable frequency divider in one direction.
  • a sweep signal S2 instructing the start and end of is generated and output.
  • the sweep signal S2 is input to the local oscillator 212.
  • the sweep unit 312 receives the LO2redy signal input from the local oscillator 212 and the trigger signal T2 (or T1) input via the switching unit 322.
  • the sweep unit 312 starts outputting the sweep signal S2 when the trigger signal T2 or the like is input when the LO2redy signal is at a high level.
  • the sweep signal S2 is also input to the IF unit 220, and the start and end of the sweep control are notified to the IF unit 220.
  • the switching unit 320 selectively outputs one of the two trigger signals T1 and T2 toward the sweep unit 310.
  • the switching unit 322 selectively outputs one of the two trigger signals T1 and T2 toward the sweep unit 312.
  • the trigger signal T ⁇ b> 1 is selected by the switching unit 320 and input to the sweep unit 310.
  • the switching unit 322 selects the trigger signal T2 and inputs it to the sweep unit 312.
  • the switching state (selection state) of the two switching units 320 and 322 By setting the switching state (selection state) of the two switching units 320 and 322 in this way, the measurement of the frequency characteristic for the signal under measurement fin1 input from one input terminal IN1 is performed in synchronization with the trigger signal T1. In both cases, it is possible to measure the frequency characteristics of the signal under measurement fin2 input from the other input terminal IN2 in synchronization with the trigger signal T2. Moreover, these two systems of measurement operations can be performed independently.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration of the sweep control unit 300 when the switching state of the switching unit 322 is changed.
  • the configuration shown in FIG. 3 is the same as the configuration shown in FIG. 2, and only the switching state of the switching unit 322 is changed.
  • the trigger signal T1 is selected by the switching unit 320 and input to the sweep unit 310, and the trigger signal T1 is selected by the switching unit 322 and input to the sweep unit 312. That is, the same trigger signal T1 is selected by the two switching units 320 and 322 and input to the two sweeping units 310 and 312. Therefore, the timings at which the sweep signals S1 and S2 are output from the sweep units 310 and 312 are the same, and two systems of measurements can be performed in synchronization with one trigger signal T1.
  • it has been conventionally performed to perform sweep control in synchronization with an IF trigger signal output according to the IF level (intermediate frequency signal level) when measuring a harmonic component of a burst wave.
  • the sweep control cannot be performed conventionally.
  • the measurement of the fundamental wave of the burst wave is performed in synchronization with the trigger signal T1, and the harmonics are synchronized with the same trigger signal T1. Can be measured.
  • FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of the sweep control unit 300 corresponding to Case 2.
  • the sweep control unit 300 shown in FIG. 4 includes two sweep units 310 and 312, two switching units 320 and 322, and three AND circuits 330, 332, and 334.
  • the configuration shown in FIG. 4 is different from the configuration shown in FIG. 3 in that three AND circuits 330, 332, and 334 are added. In the following, description will be given mainly focusing on this difference.
  • the AND circuit 330 is inserted between the switching unit 320 and the sweep unit 310.
  • the trigger signal T1 output from the switching unit 320 is input to one input terminal of the AND circuit 330, and the output terminal of the AND circuit 334 is connected to the other input terminal.
  • the AND circuit 332 is inserted between the switching unit 322 and the sweep unit 312.
  • the trigger signal T1 output from the switching unit 322 is input to one input terminal of the AND circuit 332, and the output terminal of the AND circuit 334 is connected to the other input terminal.
  • the AND circuit 334 receives the LO1redy signal and the LO2redy signal at each of the two input terminals, and outputs a logical product signal of these signals. That is, a high level signal is output when both the LO1redy signal and the LO2redy signal are enabled (high level).
  • the example shown in FIG. 4 is common in that the trigger signal T1 is input to the two sweep units 310 and 312, but both the LO1redy signal and the LO2redy signal are at a high level. Otherwise, the trigger signal T1 is not input to the two sweep units 310 and 312. That is, the trigger signal T1 is input to the two sweep units 310 and 312 only when both of the two local oscillators 112 and 212 are operable, and the two sweep units 310 and 312 synchronize with the trigger signal T1. At the same time, the sweep signals S1, S2 can be output. As a result, it is possible to more reliably start measurement on two systems of signals under measurement at the same time.
  • the two sweep signals S1 and S2 are output in synchronization with the trigger signal T1, but the two sweep signals S1 and S2 are output in synchronization with the trigger signal T2. Good.
  • FIG. 5 is a diagram showing a detailed configuration of the sweep control unit 300 corresponding to case 3.
  • the sweep control unit 300 shown in FIG. 5 includes two sweep units 310 and 312, two switching units 320 and 322, and three AND circuits 330, 332, and 334.
  • the configuration shown in FIG. 5 is different from the configuration shown in FIG. 4 in the input paths of the LO1redy signal and the LO2redy signal. In the following, description will be given mainly focusing on this difference.
  • the output signal of the AND circuit 334 (the logical product signal of the LO1 redy signal and the LO2 redy signal) is input to the sweep unit 310 instead of the LO1 redy signal, compared to the example shown in FIG. 4.
  • the difference is that the output signal of the AND circuit 334 is input to the sweep unit 312 instead of the LO2redy signal. That is, the two sweep units 310 and 312 can operate only when the LO1redy signal and the LO2redy signal are both at the high level, and only when the LO1redy signal and the LO2redy signal are both at the high level, the trigger signal T1 (or T2) is input.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a detailed configuration of the sweep control unit 300 corresponding to case 4.
  • the sweep control unit 300 illustrated in FIG. 6 includes two sweep units 310 and 312, a switching unit 320, and a delay unit (D) 340.
  • the configuration shown in FIG. 6 is different from the configuration shown in FIG. 2 in that the switching unit 322 is deleted and a delay unit 340 is added. In the following, description will be given mainly focusing on this difference.
  • the trigger signal T1 (or T2) selectively output from the switching unit 320 is directly input to the sweep unit 310 and input to the sweep unit 312 via the delay unit 340.
  • the delay unit 340 outputs the input trigger signal T1 (or T2) after being delayed by a predetermined time t.
  • the time t can be arbitrarily set within a predetermined range, and is set by the CPU 400, for example.
  • the timing at which the trigger signal T1 is input to the sweep unit 310 and the timing at which the trigger signal T1 is input to the sweep unit 312 can be accurately shifted by the time t, and the timing at which the sweep starts when performing two systems of measurement is accurate. Time t can be shifted.
  • the mixers 110 and 210, the local oscillators 112 and 212, and the IF units 120 and 220 described above correspond to a plurality of measurement units
  • the trigger control unit 350 corresponds to a trigger control unit
  • the sweep control unit 300 corresponds to a sweep control unit.
  • the switching units 320 and 322 correspond to the selection unit
  • the sweep units 310 and 312 correspond to the sweep unit
  • the AND circuits 330, 332, and 334 correspond to the trigger input restriction unit
  • the delay unit 340 corresponds to the delay unit, respectively.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made within the scope of the gist of the present invention.
  • the detailed configuration of the sweep control unit 300 corresponding to each of the cases 1-4 has been individually illustrated using FIGS. 2 to 6. However, all or a plurality of these configurations can be represented by one sweep control unit. 300 may be provided.
  • the same two sets of configurations are provided to simultaneously measure the frequency characteristics of two input signals.
  • the same configuration is used to simultaneously measure the frequency characteristics of three or more input signals. Three or more sets may be provided.
  • the two DSPs 126 and 226 are provided. However, when there is a margin in processing capacity, the other DSP 226 may be omitted and the DSP 226 may perform the processing of the DSP 226. Good. As a result, it is possible to reduce the cost associated with the reduction in the number of parts.
  • the present invention it is possible to perform measurements on a plurality of input signals in parallel so as to synchronize with an internally generated trigger signal, eliminating the need for an external device, thus simplifying the configuration for measurement. Therefore, it is possible to reduce the labor required for measurement.

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Abstract

測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる周波数特性測定装置を提供することを目的とする。スペクトラムアナライザ１０は、２つの入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する２組の測定手段としてのミキサ１１０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部１２０、２２０と、これら２組の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定するトリガ信号を発生するトリガ制御部３５０と、トリガ信号が入力されたときに、２つの局部発振器１１２、２１２に同時に指示を送って、これら２つの局部発振器１１２、２１２によって同じ周波数の局部発振信号が同じタイミングで出力されるように掃引制御を行う掃引制御部３００とを備える。

Description

周波数特性測定装置
　本発明は、スペクトラムアナライザ等において入力信号の周波数特性等を測定する周波数特性測定装置に関する。
　従来から周波数掃引を行うことにより入力信号の周波数特性を測定するスペクトラムアナライザが知られている（例えば、特許文献１参照。）。このスペクトラムアナライザは２系統の入力端子を有し、いずれかの入力端子から入力される信号の周波数特性を測定する。測定された周波数特性は表示部に表示される。
特開平８－２３３８７５号公報（第３－４頁、図１－２）
　ところで、特許文献１等に開示された従来のスペクトラムアナライザは、２つの入力端子を有するが、周波数特性の測定は一方の入力端子から入力される信号について行われる。したがって、２種類の信号について同時に周波数特性を測定しようとすると、２台のスペクトラムアナライザや、これらの測定を同期させるためのトリガ信号を発生する外付けのトリガ装置が必要になり、測定のための構成が複雑になるとともに測定に手間がかかるという問題があった。また、２種類の信号の周波数特性を比較する方法としては、それぞれの測定結果を印刷して比較する方法が考えられるが、この方法では正確な解析が難しいという問題があった。あるいは、２種類の信号の周波数特性を比較する他の方法としては、測定によって得られた２種類の信号の周波数特性を外部の解析装置（外部コンピュータ）に取り込んでデータ処理を行って比較する方法が考えられるが、そのために解析装置を用意して測定とは別に解析作業をする必要があるため、さらに測定のための構成が複雑になるとともに測定に手間がかかるという問題があった。
　本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる周波数特性測定装置を提供することにある。
　上述した課題を解決するために、本発明の周波数特性測定装置は、複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、トリガ制御手段から出力される複数のトリガ信号に同期して、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段とを備えている。これにより、内部で発生したトリガ信号に同期するように複数の入力信号に対する測定を並行して行うことが可能となり、外付けする装置が不要になるため、測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる。
　上述した複数の測定手段には、発振周波数が変更可能な局部発振器と、局部発振器から出力される局部発振信号と入力端子から入力される信号とを混合して出力するミキサとが含まれており、局部発振器からは局部発振器の動作状態を示す状態信号が出力され、掃引制御手段は、状態信号によって動作可能状態であることが通知された局部発振器が含まれる測定手段に対して周波数掃引動作の制御を行うことが望ましい。これにより、周波数掃引が可能な状態を確認して周波数掃引制御を行うことができる。
　上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、選択手段によって選択された一つのトリガ信号に同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段とを備えることが望ましい。これにより、複数の測定手段における周波数掃引の開始タイミングを一致させることができ、容易に周波数特性の測定タイミングを合わせることができる。
　上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号を重複しないように選択する複数の選択手段と、複数の選択手段によって選択された複数のトリガ信号のそれぞれに同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段とを備えることが望ましい。これにより、複数の周波数特性測定装置を用いる場合のように、複数系統の測定動作を独立して行うことができる。
　上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、選択手段によって選択された一つのトリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、複数の掃引手段へのトリガ信号の入力を許可するトリガ入力制限手段とを備えることが望ましい。これにより、全ての測定手段における周波数掃引が可能な場合に各掃引手段にトリガ信号が入力されるため、より確実に、２系統の測定を同時に開始することができる。
　上述した複数の掃引手段のそれぞれは、複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する動作を行うことが望ましい。これにより、一部の測定手段における周波数掃引の実施が不可能なときに、全ての測定手段における周波数掃引を停止することができるため、複数の測定手段における測定開始タイミングだけでなく周波数掃引途中の動作タイミングも確実に合わせることが可能となる。
　上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、選択手段によって選択された一つのトリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、複数の測定手段の一部に対して、トリガ信号の入力タイミングを所定時間遅らせる遅延手段とを備えることが望ましい。これにより、複数の掃引手段にトリガ信号を入力するタイミングを正確に所定時間だけずらすことができ、複数系統の測定を行う際に掃引を開始するタイミングを正確にずらすことができる。
一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。 ケース１に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。 ケース１に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。 ケース２に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。 ケース３に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。 ケース４に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。
　以下、本発明を適用した一実施形態の周波数特性測定装置としてのスペクトラムアナライザについて、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０は、ミキサ１１０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部（中間周波処理部）１２０、２２０、掃引制御部３００、トリガ制御部３５０、ＣＰＵ４００、表示部４１０、操作部４２０を含んで構成されている。
　本実施形態のスペクトラムアナライザ１０は、被測定信号が入力される２つの入力端子ＩＮ１、ＩＮ２と外部トリガ信号が入力されるトリガ端子ＴＧとを備える。このスペクトラムアナライザ１０は、これら２つの入力端子ＩＮ１、ＩＮ２に入力される２つの被測定信号ｆin１、ｆin２の周波数特性を同時に測定し、測定結果としてのスペクトラムを表示する。
　一方の入力端子ＩＮ１から入力される被測定信号ｆin１の周波数特性を測定するために、スペクトラムアナライザ１０には、ミキサ１１０、局部発振器１１２、ＩＦ部１２０が備わっている。ミキサ１１０は、一方の入力端子ＩＮ１から入力された被測定信号ｆin１と、局部発振器１１２から出力される局部発振信号ｆOSC1とが入力されており、これらの被測定信号ｆin１と局部発振信号ｆOSC1とを混合した信号を出力する。局部発振器１１２は、発振周波数が所定範囲で掃引可能な局部発振信号ｆOSC1を出力する。例えば、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯ（電圧制御型発振器）を含むＰＬＬ回路によって局部発振器１１２が構成されている。また、局部発振器１１２から出力される局部発振信号の周波数可変範囲を広くするために、通常は周波数可変範囲が異なる複数のＶＣＯが用いられ、局部発振信号の周波数を一方向に変化させる際に、使用するＶＣＯの切り換え（バンド切り換え）が行われる。
　ＩＦ部１２０は、ミキサ１１０の出力信号に対してアナログおよびデジタルの信号処理を行って、被測定信号ｆin１の周波数特性の測定を行うものであり、中間周波フィルタ１２２、ＡＤＣ（アナログ－デジタル変換器）１２４、ＤＳＰ（デジタル信号プロセッサ）１２６を含んでいる。中間周波フィルタ１２２は、ミキサ１１０の出力信号から所定の中間周波数成分（中間周波信号）のみを通過させる帯域通過フィルタである。ＡＤＣ１２４は、中間周波フィルタ１２２から出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。ＤＳＰ１２６は、デジタルデータに変換された中間周波信号に対して各種の信号処理を行うことにより、この中間周波信号の特性値（例えば信号レベルやビットエラー率など）を測定する。具体的には、ＤＳＰ１２６によって、中間周波信号に対する検波処理やイメージ除去処理などが行われる。
　同様に、他方の入力端子ＩＮ２から入力される被測定信号ｆin２の周波数特性を測定するために、ミキサ２１０、局部発振器２１２、ＩＦ部２２０が備わっている。ミキサ２１０は、他方の入力端子ＩＮ２から入力された被測定信号ｆin２と、局部発振器２１２から出力される局部発振信号ｆOSC2とが入力されており、これらの被測定信号ｆin２と局部発振信号ｆOSC2とを混合した信号を出力する。局部発振器２１２は、発振周波数が所定範囲で掃引可能な局部発振信号ｆOSC2を出力する。局部発振器１１２と同様に、例えば、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯ（電圧制御型発振器）を含むＰＬＬ回路によって局部発振器２１２が構成されている。また、局部発振器２１２から出力される局部発振信号の周波数可変範囲を広くするために、通常は周波数可変範囲が異なる複数のＶＣＯが用いられ、局部発振信号の周波数を一方向に変化させる際に、使用するＶＣＯの切り換え（バンド切り換え）が行われる。
　ＩＦ部２２０は、ミキサ２１０の出力信号に対してアナログおよびデジタルの信号処理を行って、被測定信号ｆin２の周波数特性の測定を行うものであり、中間周波フィルタ２２２、ＡＤＣ２２４、ＤＳＰ２２６を含んでいる。中間周波フィルタ２２２は、ミキサ２１０の出力信号から所定の中間周波数成分（中間周波信号）のみを通過させる帯域通過フィルタである。ＡＤＣ２２４は、中間周波フィルタ２２２から出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。ＤＳＰ２２６は、デジタルデータに変換された中間周波信号に対して各種の信号処理を行うことにより、この中間周波信号の特性値を測定する。具体的には、ＤＳＰ２２６によって、中間周波信号に対する検波処理やイメージ除去処理などが行われる。
　なお、上述した説明では周波数特性の測定に必要な概略的な構成のみが示されている。実際には、入力端子ＩＮ１とミキサ１１０の間や入力端子ＩＮ２とミキサ２１０の間には減衰器が備わっており、信号レベルの調整が行われる。また、実際には、ミキサと局部発振器を１組あるいは複数組追加することによってイメージ除去処理が行われる。また、周波数測定に必要な構成は、適宜要求仕様に合わせて変更することができる。
　掃引制御部３００は、２種類のトリガ信号Ｔ１、Ｔ２と、局部発振器１１２、２１２のそれぞれから出力されるＬＯ１redy、ＬＯ２redy信号とが入力されており、２つの局部発振器１１２、２１２のそれぞれに掃引信号Ｓ１、Ｓ２を送って、これら２つの局部発振器１１２、２１２のそれぞれに対して掃引制御を行う。ここで、ＬＯ１redy信号は、局部発振器１１２の動作状態を示す信号であり、例えば掃引動作可能な状態（イネーブル状態）になったときにハイレベルになる。例えば、周波数掃引中にＶＣＯを切り換えるバンド切り換えが行われる場合を考えると、このバンド切り換え中はＬＯ１redy信号がローレベルになり、バンド切り換えが終了した時点でＬＯ１redy信号が再びハイレベルになる。ＬＯ２redy信号についても同様である。
　トリガ制御部３５０は、測定の開始を指示するトリガ信号Ｔ１、Ｔ２を発生する。これらのトリガ信号Ｔ１、Ｔ２は、トリガ端子ＴＧに入力される外部トリガ信号や、ＩＦ部１２０、２２０から出力されるＩＦトリガ信号あるいはビデオトリガ信号などに同期して生成される。
　ＣＰＵ４００は、スペクトラムアナライザ１０の全体を制御するとともに、ＩＦ部１２０、２２０から出力される２つの測定結果（特性値）を表示部４１０に同時に表示したり、操作部４２０を用いた利用者の指示に応じて測定条件を設定する処理を行う。操作部４２０は、利用者によって操作される複数のスイッチや操作ボリューム等を備えている。操作部４２０に備わったスイッチや操作ボリューム等を操作することにより、測定条件の設定や測定開始、終了等の指示が利用者によって行われる。
　次に、トリガ制御部３５０から出力されるトリガ信号Ｔ１、Ｔ２に基づいて掃引制御部３００によって掃引信号Ｓ１、Ｓ２を生成する具体例について説明する。例えば、以下に示す４つのケース（ケース１－４）を実現する掃引制御部３００の具体例について説明する。
　（ケース１）
　図２は、ケース１に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図２に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２および２つの切替部３２０、３２２を含んで構成されている。掃引部３１０は、局部発振器１１２の周波数を掃引するために必要な掃引信号Ｓ１を出力する。上述したように、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯを含むＰＬＬ回路によって局部発振器１１２が構成されているものとすると、掃引制御部３１０は、この可変分周器の分周比を一方向に変化させる掃引動作の開始と終了を指示する掃引信号Ｓ１を生成して出力する。この掃引信号Ｓ１は、局部発振器１１２に入力される。また、掃引部３１０には、局部発振器１１２から入力されるＬＯ１redy信号と、切替部３２０を介して入力されるトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）とが入力されている。掃引部３１０は、ＬＯ１redy信号がハイレベルのときにトリガ信号Ｔ１等が入力されると、掃引信号Ｓ１の出力を開始する。なお、掃引信号Ｓ１はＩＦ部１２０にも入力されており、掃引制御の開始と終了がＩＦ部１２０に通知される。
　同様に、掃引部３１２は、局部発振器２１２の周波数を掃引するために必要な掃引信号Ｓ２を出力する。可変分周器、位相比較器、ＶＣＯを含むＰＬＬ回路によって局部発振器２１２が構成されているものとすると、掃引制御部３１２は、この可変分周器の分周比を一方向に変化させる掃引動作の開始と終了を指示する掃引信号Ｓ２を生成して出力する。この掃引信号Ｓ２は、局部発振器２１２に入力される。また、掃引部３１２には、局部発振器２１２から入力されるＬＯ２redy信号と、切替部３２２を介して入力されるトリガ信号Ｔ２（あるいはＴ１）とが入力されている。掃引部３１２は、ＬＯ２redy信号がハイレベルのときにトリガ信号Ｔ２等が入力されると、掃引信号Ｓ２の出力を開始する。なお、掃引信号Ｓ２はＩＦ部２２０にも入力されており、掃引制御の開始と終了がＩＦ部２２０に通知される。
　切替部３２０は、２つのトリガ信号Ｔ１、Ｔ２のいずれかを選択的に掃引部３１０に向けて出力する。また、切替部３２２は、２つのトリガ信号Ｔ１、Ｔ２のいずれかを選択的に掃引部３１２に向けて出力する。図２に示す例では、切替部３２０ではトリガ信号Ｔ１が選択されて掃引部３１０に入力されている。また、切替部３２２ではトリガ信号Ｔ２が選択されて掃引部３１２に入力されている。
　このように２つの切替部３２０、３２２の切替状態（選択状態）を設定することにより、一方の入力端子ＩＮ１から入力される被測定信号ｆin１に対する周波数特性の測定をトリガ信号Ｔ１に同期して行うともに、他方の入力端子ＩＮ２から入力される被測定信号ｆin２に対する周波数特性の測定をトリガ信号Ｔ２に同期して行うことが可能になる。しかも、これら２系統の測定動作は、独立して行うことができる。
　また、切替部３２０、３２２の切替状態を変更して、１つのトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）に同期して２系統の測定動作を行うこともできる。図３は、切替部３２２の切替状態を変更した場合の掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図３に示す構成は図２に示した構成と同じであって、切替部３２２の切替状態のみが変更されている。
　図３に示す例では、切替部３２０ではトリガ信号Ｔ１が選択されて掃引部３１０に入力され、切替部３２２ではトリガ信号Ｔ１が選択されて掃引部３１２に入力されている。すなわち、同じトリガ信号Ｔ１が２つの切替部３２０、３２２によって選択されて２つの掃引部３１０、３１２に入力される。したがって、掃引部３１０、３１２から掃引信号Ｓ１、Ｓ２が出力されるタイミングが一致し、２系統の測定を一つのトリガ信号Ｔ１に同期して行うことが可能となる。これにより、例えば、バースト波の高調波成分を測定するときにそのＩＦレベル（中間周波信号のレベル）に応じて出力されるＩＦトリガ信号に同期した掃引制御を行うことが従来から行われているが、ＩＦレベルが小さくてＩＦトリガ信号が生成できない場合には、従来は掃引制御を行うことができなかった。しかし、図３に示す構成では、このようにＩＦレベルが小さい場合であっても、バースト波の基本波の測定をトリガ信号Ｔ１に同期して行うとともに、高調波を同じトリガ信号Ｔ１に同期して測定することが可能となる。
　（ケース２）
　図４は、ケース２に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図４に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２、２つの切替部３２０、３２２、３つのアンド回路３３０、３３２、３３４を含んで構成されている。図４に示す構成は、図３に示した構成に対して、３つのアンド回路３３０、３３２、３３４が追加された点が異なっている。以下では、主にこの相違点に着目して説明する。
　アンド回路３３０は、切替部３２０と掃引部３１０の間に挿入されている。アンド回路３３０の一方の入力端には、切替部３２０から出力されるトリガ信号Ｔ１が入力され、他方の入力端にはアンド回路３３４の出力端が接続されている。また、アンド回路３３２は、切替部３２２と掃引部３１２の間に挿入されている。アンド回路３３２の一方の入力端には、切替部３２２から出力されるトリガ信号Ｔ１が入力され、他方の入力端にはアンド回路３３４の出力端が接続されている。アンド回路３３４は、２つの入力端のそれぞれにＬＯ１redy信号およびＬＯ２redy信号が入力されており、これらの論理積信号を出力する。すなわち、ＬＯ１redy信号およびＬＯ２redy信号がともにイネーブル状態（ハイレベル）のときにハイレベルの信号を出力する。
　図４に示す例は、図３に示した例に比べると、トリガ信号Ｔ１が２つの掃引部３１０、３１２に入力される点で共通しているが、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号がともにハイレベルのときでないと２つの掃引部３１０、３１２へのトリガ信号Ｔ１の入力が行われない点が異なっている。すなわち、２つの局部発振器１１２、２１２の両方が動作可能な状態のときに限って２つの掃引部３１０、３１２にトリガ信号Ｔ１を入力し、２つの掃引部
３１０、３１２からトリガ信号Ｔ１に同期して同時に掃引信号Ｓ１、Ｓ２を出力することが可能になる。これにより、より確実に、２系統の被測定信号に対する測定を同時に開始することができる。
　なお、上述した説明では、トリガ信号Ｔ１に同期して２つの掃引信号Ｓ１、Ｓ２を出力するようにしたが、トリガ信号Ｔ２に同期して２つの掃引信号Ｓ１、Ｓ２を出力するようにしてもよい。
　（ケース３）
　図５は、ケース３に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図５に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２、２つの切替部３２０、３２２、３つのアンド回路３３０、３３２、３３４を含んで構成されている。図５に示す構成は、図４に示した構成に対して、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号の入力経路が異なっている。以下では、主にこの相違点に着目して説明する。
　具体的には、図５に示す例は、図４に示した例に比べると、ＬＯ１redy信号に代えてアンド回路３３４の出力信号（ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号の論理積信号）が掃引部３１０に入力されている点と、ＬＯ２redy信号に代えてアンド回路３３４の出力信号が掃引部３１２に入力されている点が異なっている。すなわち、２つの掃引部３１０、３１２では、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号がともにハイレベルのときに限って動作可能になるとともに、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号がともにハイレベルのときに限ってトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）が入力される。これにより、例えば、一方の局部発振器１１２のみがバンド切り換えで動作不可能（ディスイネーブル状態）になった場合であっても、掃引部３１０からの掃引信号Ｓ１の出力と掃引部３１２からの掃引信号Ｓ２の出力を同時に停止して２系統の測定を同時に停止させ、その後、局部発振器１１２のバンド切り換えが終了したときにこれら２つの掃引信号Ｓ１、Ｓ２の出力を同じタイミングで再開して２系統の測定を同時に再開することができる。このように、２系統の測定開始タイミングだけでなく周波数掃引途中の動作タイミングも確実に合わせることが可能となる。
　（ケース４）
　図６は、ケース４に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図６に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２、切替部３２０、遅延部（Ｄ）３４０を含んで構成されている。図６に示す構成は、図２に示した構成に対して、切替部３２２を削除し、遅延部３４０を追加した点が異なっている。以下では、主にこの相違点に着目して説明する。
　具体的には、切替部３２０から選択的に出力されるトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）は、掃引部３１０に直接入力されるとともに、掃引部３１２に遅延部３４０を介して入力される。遅延部３４０は、入力されるトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）を所定時間ｔ遅延した後に出力する。この時間ｔは所定範囲内で任意に設定可能であり、例えばＣＰＵ４００によって設定される。これにより、トリガ信号Ｔ１を掃引部３１０に入力するタイミングと掃引部３１２に入力するタイミングとを正確に時間ｔだけずらすことができ、２系統の測定を行う際に掃引を開始するタイミングを正確に時間ｔずらすことができる。
　上述したミキサ１１０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部１２０、２２０が複数の測定手段に、トリガ制御部３５０がトリガ制御手段に、掃引制御部３００が掃引制御手段にそれぞれ対応する。また、切替部３２０、３２２が選択手段に、掃引部３１０、３１２が掃引手段に、アンド回路３３０、３３２、３３４がトリガ入力制限手段に、遅延部３４０が遅延手段にそれぞれ対応する。
　なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変形実施が可能である。上述した実施形態では、ケース１－４のそれぞれに対応する掃引制御部３００の詳細構成を図２から図６を用いて個別に示したが、これらの構成の全てあるいは複数を一つの掃引制御部３００に持たせるようにしてもよい。
　また、上述した実施形態では、２つの入力信号の周波数特性を同時に測定するために同じ２組の構成を備えるようにしたが、３つ以上の入力信号の周波数特性を同時に測定するために同じ構成を３組以上備えるようにしてもよい。
　また、上述した実施形態では、２つのＤＳＰ１２６、２２６を備えるようにしたが、処理能力に余裕がある場合には、他方のＤＳＰ２２６を省略して一方のＤＳＰ１２６でＤＳＰ２２６の処理を行うようにしてもよい。これにより、部品点数削減にともなうコストの低減が可能となる。
　本発明によれば、内部で発生したトリガ信号に同期するように複数の入力信号に対する測定を並行して行うことが可能となり、外付けする装置が不要になるため、測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる。
　１０　スペクトラムアナライザ
　１１０、２１０　ミキサ
　１１２、２１２　局部発振器
　１２０、２２０　ＩＦ部（中間周波処理部）
　１２２、２２２　中間周波フィルタ
　１２４、２２４　ＡＤＣ（アナログ－デジタル変換器）
　１２６、２２６　ＤＳＰ（デジタル信号プロセッサ）
　３００　掃引制御部
　３１０、３１２　掃引部
　３２０、３２２　切替部
　３３０、３３２、３３４　アンド回路
　３４０　遅延部
　３５０　トリガ制御部
　４００　ＣＰＵ
　４１０　表示部
　４２０　操作部

Claims (13)

  1. 　複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、
    　前記複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、
    　前記トリガ制御手段から出力される前記複数のトリガ信号に同期して、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段と、
    　を備える周波数特性測定装置。
  2. 　請求項１において、
    　前記複数の測定手段のそれぞれには、発振周波数が変更可能な局部発振器と、前記局部発振器から出力される局部発振信号と入力端子から入力される信号とを混合して出力するミキサとが含まれており、
    　前記局部発振器からは前記局部発振器の動作状態を示す状態信号が出力され、
    　前記掃引制御手段は、前記状態信号によって動作可能状態であることが通知された前記局部発振器が含まれる前記測定手段に対して周波数掃引動作の制御を行う周波数特性測定装置。
  3. 　請求項１において、
    　前記掃引制御手段は、
    　前記複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、
    　前記選択手段によって選択された一つの前記トリガ信号に同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
    　を備える周波数特性測定装置。
  4. 　請求項１において、
    　前記掃引制御手段は、
    　前記複数のトリガ信号を重複しないように選択する複数の選択手段と、
    　前記複数の選択手段によって選択された複数の前記トリガ信号のそれぞれに同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
    　を備える周波数特性測定装置。
  5. 　請求項２において、
    　前記掃引制御手段は、
    　前記複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、
    　前記選択手段によって選択された一つの前記トリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
    　前記複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての前記状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、前記複数の掃引手段への前記トリガ信号の入力を許可するトリガ入力制限手段と、
    　を備える周波数特性測定装置。
  6. 　請求項５において、
    　前記複数の掃引手段のそれぞれは、前記複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての前記状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する動作を行う周波数特性測定装置。
  7. 　請求項１において、
    　前記掃引制御手段は、
    　前記複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、
    　前記選択手段によって選択された一つの前記トリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
    　前記複数の測定手段の一部に対して、前記トリガ信号の入力タイミングを所定時間遅らせる遅延手段と、
    　を備える周波数特性測定装置。
  8. 　請求項１において、
    　前記複数の測定手段のそれぞれには、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯを含むＰＬＬ回路によって構成された局部発振器が備わっており、
    　前記掃引制御手段は、前記可変分周器の分周比を変化させることにより周波数掃引動作の制御を行う周波数特性測定装置。
  9. 　請求項８において、
    　前記局部発振器には、周波数可変範囲が異なる複数の前記ＶＣＯが備わっており、
    　複数の前記ＶＣＯが切り替えられる周波数特性測定装置。
  10. 　請求項１において、
    　前記複数の測定手段のそれぞれは、周波数掃引可能な局部発振信号を出力する局部発振器と、前記局部発振信号と前記入力信号とを混合するミキサと、前記ミキサから出力される信号に対して周波数特性の測定を行う中間周波処理部とを備える周波数特性測定装置。
  11. 　請求項１０において、
    　前記中間周波数処理部は、前記ミキサから出力される信号から所定の中間周波数成分のみを通過させる帯域通過フィルタと、前記帯域通過フィルタから出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換するアナログ－デジタル変換器と、前記アナログ－デジタル変換器から出力されるデータに対して信号処理を行うことにより前記中間周波信号の特性値を測定するＤＳＰを備える周波数特性測定装置。
  12. 　請求項１１において、
    　前記ＤＳＰによって測定される特性値は、信号レベルである周波数特性測定装置。
  13. 　請求項１１において、
    　前記ＤＳＰによって測定される特性値は、ビットエラー率である周波数特性測定装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102355259A (zh) * 2010-05-21 2012-02-15 Nxp股份有限公司 具有频率产生电路的集成电路
JP2012042459A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Tektronix Inc 試験測定機器及びその動作方法
CN102735924A (zh) * 2012-06-14 2012-10-17 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种超外差式微波分析仪器中的频率瞬变特征检测检测装置及方法
JP2021162372A (ja) * 2020-03-31 2021-10-11 横河電機株式会社 波形測定器、及び波形測定器による再演算方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101150878B1 (ko) * 2006-04-11 2012-05-29 엘아이지넥스원 주식회사 스펙트럼 분석기
GB2458908B (en) * 2008-04-01 2010-02-24 Michael Frank Castle Low power signal processor
KR101421580B1 (ko) * 2012-10-15 2014-07-22 세종대학교산학협력단 디지털 스펙트럼 분석 장치 및 그 방법
CN104483619B (zh) * 2014-12-10 2017-10-27 四川理工学院 一种基于虚拟仪器的频率特性测试系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0856242A (ja) * 1994-08-10 1996-02-27 Advantest Corp デジタル変調信号のビット誤り率測定装置
JPH09321717A (ja) * 1996-03-27 1997-12-12 Anritsu Corp 無線機試験装置及び方法
JPH10282163A (ja) * 1997-02-07 1998-10-23 Advantest Corp スペクトラムアナライザ
JP2006329981A (ja) * 2005-05-27 2006-12-07 Agilent Technol Inc 二重スペクトル・アナライザ測定システム
JP2008145145A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Yokogawa Electric Corp 測定装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08233875A (ja) 1994-11-11 1996-09-13 Advantest Corp イメージ周波数除去装置及びこれを用いたスペクトラムアナライザ
JPH08201449A (ja) * 1995-01-24 1996-08-09 Advantest Corp スペクトラムアナライザ
US6060878A (en) * 1997-02-07 2000-05-09 Advantest Corp. Spectrum analyzer
US6219376B1 (en) * 1998-02-21 2001-04-17 Topcon Positioning Systems, Inc. Apparatuses and methods of suppressing a narrow-band interference with a compensator and adjustment loops
DE102006017018A1 (de) * 2006-01-10 2007-07-12 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Secum-Trahenz-Verfahren, insbesondere für einen Netzwerkanalysator
DE112008003254T5 (de) * 2007-12-20 2010-10-07 Advantest Corp. Frequenzcharakteristik-Messvorrichtung
JP2009186323A (ja) * 2008-02-06 2009-08-20 Advantest Corp 周波数特性測定装置
CN102012444B (zh) * 2009-09-07 2014-04-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 示波器及利用该示波器测试串行总线信号的方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0856242A (ja) * 1994-08-10 1996-02-27 Advantest Corp デジタル変調信号のビット誤り率測定装置
JPH09321717A (ja) * 1996-03-27 1997-12-12 Anritsu Corp 無線機試験装置及び方法
JPH10282163A (ja) * 1997-02-07 1998-10-23 Advantest Corp スペクトラムアナライザ
JP2006329981A (ja) * 2005-05-27 2006-12-07 Agilent Technol Inc 二重スペクトル・アナライザ測定システム
JP2008145145A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Yokogawa Electric Corp 測定装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102355259A (zh) * 2010-05-21 2012-02-15 Nxp股份有限公司 具有频率产生电路的集成电路
CN102355259B (zh) * 2010-05-21 2014-11-05 Nxp股份有限公司 具有频率产生电路的集成电路
JP2012042459A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Tektronix Inc 試験測定機器及びその動作方法
CN102735924A (zh) * 2012-06-14 2012-10-17 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种超外差式微波分析仪器中的频率瞬变特征检测检测装置及方法
JP2021162372A (ja) * 2020-03-31 2021-10-11 横河電機株式会社 波形測定器、及び波形測定器による再演算方法
JP7413124B2 (ja) 2020-03-31 2024-01-15 横河電機株式会社 波形測定器、及び波形測定器による再演算方法

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