JPH0854429A - スペクトラムアナライザ - Google Patents

スペクトラムアナライザ

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JPH0854429A
JPH0854429A JP21050494A JP21050494A JPH0854429A JP H0854429 A JPH0854429 A JP H0854429A JP 21050494 A JP21050494 A JP 21050494A JP 21050494 A JP21050494 A JP 21050494A JP H0854429 A JPH0854429 A JP H0854429A
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JP
Japan
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measurement
input
channels
switching
display
Prior art date
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Pending
Application number
JP21050494A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Mizuno
洋幸 水野
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Publication of JPH0854429A publication Critical patent/JPH0854429A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、スペクトラムアナライザ本体内、
あるいは外部に、複数チャンネルの入力切り替え器を設
け、これに対応した諸元を自動的に切り替えて測定する
ことで、簡便かつ容易に複数チャンネルの測定を実現す
ることを目的とする。 【構成】 複数チャンネルの被測定信号を切り替える入
力切り替え器10をスペクトラムアナライザ本体に内蔵
し、複数チャンネルに対応した諸元パラメータを有し
て、測定チャンネルの切り替えに対応してスペクトラム
アナライザ内部の諸元を設定して測定制御する複数チャ
ンネル制御部20を設ける構成手段。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、複数の被試験器から
の周波数信号を測定するスペクトラムアナライザに関す
る。
【0002】
【従来の技術】複数の周波数信号の測定が必要な測定ア
プリケーションは多々ある。例えば、1つの被試験装置
や回路においては、これの評価あるいは調整の為に、入
力段や増幅段前後や、フィルタ段の特性測定や、周波数
変換後の特性測定や、発振器や結合器や分岐回路前後
や、中間段や終段回路等の各ポイントでの各種特性の測
定をする場合がある。また、複数の被試験器(DUT)
を接続して、これを切り替えて測定する場合もある。こ
のような場合においては、1台のスペクトラムアナライ
ザを使用し、外部に切り替え器を設けて、入力を切り替
えてスペクトラムアナライザに供給し、切り替えの都
度、対応する測定条件を設定変更する等の手順で測定を
実施している。
【0003】従来の例としては、入力切り替え治具と、
この制御装置を設けて、2つの被試験器からの被測定信
号を切り替えて、スペクトラムアナライザに供給し、D
UTに対応する測定条件で自動測定する場合がある。こ
れについて、図3を参照して説明する。本装置の構成
は、被試験器(DUT)101、102
【0004】入力切り替え治具120は、2入力1出力
の高周波同軸切替えリレーであり、測定条件制御装置1
40からの切り替え信号を受けて、対応するDUT側の
被測定信号に切り替えた後スペクトラムアナライザ20
0の入力端子に供給する。測定条件制御装置140は、
DUT101、102毎の測定条件をスペクトラムアナ
ライザ200に供給して所望の測定状態でスペクトラム
アナライザ200を測定実施させる制御装置である。こ
の為に、測定条件制御装置140には、両者間の通信手
段146を設け、スペクトラムアナライザ200を制御
して2つの被測定入力信号に対応して、所定の条件設定
で測定できるようにしている。この為に、予め、制御用
ソフト142を作成しておき、これを測定条件制御装置
140に組込んでおく。
【0005】制御用ソフト142は、測定対象であるD
UTの種類毎、あるいは測定条件が変わる度に、これに
対応する制御用のソフトを予め作成してから、測定条件
制御装置140にロードしておく。
【0006】測定条件制御装置140とスペクトラムア
ナライザ200との接続は、GPIBやRS232c等
の通信手段で接続されている。この通信手段により、一
方のDUTの測定が終了した信号を受け取って、あるい
は、外部の手動切り替え信号144を受けて、測定条件
制御装置140は、他方のDUTの測定諸元をスペクト
ラムアナライザ200に送り、DUTに対応した設定条
件で測定を実施させる。これらの制御によって、2つの
DUT101、102を交互に繰り返し自動で測定でき
るようにしている。スペクトラムアナライザ200は、
入力切り替え治具120からの被測定信号を受け、これ
に対応する諸元を測定条件制御装置140から受けと
り、内部の測定条件、即ち、入力減衰条件、掃引周波数
範囲、フィルタ条件、表示条件を設定した後、測定を開
始している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、複
数のDUTを自動で測定できるようにする為に、外部
に、入力切り替え治具120と、測定条件制御装置14
0を設け、かつ、両者間の通信制御する為のGPIBあ
るいはRS232cの制御用ソフト142が必要であ
る。この為、装置構成が大がかりとなり利便性が悪く実
用上の不便があった。また、制御用ソフト142は、簡
便に作成することが困難な場合が多い。しかも、随時測
定諸元を変えたい場合に、この制御用ソフト142の諸
元値を修正変更する等の対応が必要であり利用上の不便
であり、必ずしも使いやすいとは言えない。また、測定
対象であるDUTの種類が変わる毎に、新たな制御用ソ
フト142を作成し用意しなければならず不便である。
しかも、この制御用ソフトのデバックにも時間がかか
り、本来の測定以外に、多くの無駄な時間を要してい
た。
【0008】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、スペクトラムアナライザ本体内に、複数チャンネル
の入力切り替え器を設け、これに対応した諸元を自動的
に切り替えて測定することで、簡便かつ容易に複数チャ
ンネルの測定を実現することを目的とする。
【0009】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、複数チャンネルの被測定信号を
切り替える入力切り替え器10をスペクトラムアナライ
ザ本体に内蔵し、複数チャンネルに対応した諸元パラメ
ータを有して、測定チャンネルの切り替えに対応してス
ペクトラムアナライザ内部の諸元を設定して測定制御す
る複数チャンネル制御部20を設ける構成手段にする。
これにより、複数チャンネルの被測定入力信号に対応し
た諸元を自動的に切り替えて測定、表示を実現する。
【0010】スペクトラムアナライザ外部にある複数チ
ャンネルの被測定信号を切り替える入力切り替え器10
の切り替えを制御し、かつ、複数チャンネルの切り替え
に対応した諸元パラメータを有して、この切り替えに対
応してスペクトラムアナライザ内部の諸元を設定して測
定を制御する複数チャンネル制御部20を設ける構成手
段にする。これにより、所望のチャンネル数の入力切り
替え器10nを用意すれば、これに対応した諸元で自動
的に切り替えて測定、表示を実現する。
【0011】上記解決手段は、スペクトラム測定側のみ
を有するスペクトラムアナライザの他にも、ネットワー
クアナライザーにも適用できる。また、トラッキングジ
ェネレータを有するスペクトラムアナライザの場合で
は、トラッキングジェネレータ側も、チャンネル毎に対
応して、トラッキング発生する手段がある。
【0012】
【作用】複数チャンネル制御部20により、2チャンネ
ルの切り替え状態に対応した諸元を各部に供給して所望
の測定条件で測定し表示させる作用をもつ。入力切り替
え器10により、2チャンネル入力信号の何れかを切り
替えて被測定信号を測定する働きがある。これらによ
り、複数チャンネルの入力切り替え器をして、これに対
応した諸元を自動的に切り替えて測定し、表示条件に対
応した測定結果を表示画面に表示できる働きがある。
【0013】
【実施例】本発明の実施例は、2つの測定入力端子を内
蔵し、この測定端子毎に測定諸元の自動切り替え手段を
内蔵した場合の例である。これについて、図1と図2
(a)、(b)を参照して説明する。構成は、図1に示
すように、入力切り替え器10と、減衰器40と、周波
数変換部50と、ランプ電圧発生部60と、バンドパス
フィルタ(BPF)70と、検波部74と、データ処理
部78と、表示部80と、複数チャンネル制御部20と
で構成している。この構成で、入力切り替え器10と、
複数チャンネル制御部20以外は、通常のスペクトラム
アナライザの構成要素である。
【0014】入力切り替え器10は、2チャンネル入力
信号の何れかを切り替えた被測定信号を減衰器40に供
給するものであり、複数チャンネル制御部20からの切
り替え信号を受けて切り替えられる。減衰器40は、複
数チャンネル制御部20からの減衰パラメータを受け
て、入力被測定信号をチャンネルに対応した減衰量で減
衰した後、周波数変換部50に供給している。
【0015】周波数変換部50は、主にミキサ54、5
8と、可変発振器52と、固定発振器56とで構成して
いる。これは、複数チャンネル制御部20からの中心周
波数パラメータと、ランプ電圧発生部60からの掃引用
ランプ電圧を受けて、入力被測定信号と、可変発振器5
2からの掃引周波数とを混合して一定周波数に変換した
後、ミキサ58と固定発振器56とでダウンコンバート
して所定の中間周波数に変換した後、BPF70に供給
している。
【0016】ランプ電圧発生部60は、複数チャンネル
制御部20からの掃引幅と掃引速度パラメータを受け
て、掃引周波数範囲と所定の掃引速度のランプ電圧を発
生するものであり、このランプ電圧を可変発振器52に
供給している。BPF70は、複数チャンネル制御部2
0からの帯域幅パラメータを受けて、中間周波数に変換
された信号を、所定の帯域幅特性でフィルタした後、検
波部74に供給している。
【0017】検波部74は、複数チャンネル制御部20
からの検波条件パラメータを受けて、これに対応した条
件で検波した後、このアナログ検波信号を前記ランプ電
圧発生部60からの掃引に同期した信号を受けて、AD
変換器で量子化してデジタル信号に変換した後、データ
処理部78に供給している。検波条件とは、例えば、直
線検波・対数検波・スロープ検波等の条件である。デー
タ処理部78は、複数チャンネル制御部20からのデー
タ処理条件パラメータを受けて、これに対応する演算処
理をして、表示形態に対応したスケールで波形の演算生
成をしたり、数値データ生成の演算をしたり、あるい
は、両チャンネル波形データの比較表示を容易とする為
に減算処理して差分/変化分を取り出したりした後、処
理結果の表示データを表示部80に供給している。表示
部80は、データ処理部78からの表示データと、複数
チャンネル制御部20からの表示条件パラメータを受け
て、表示形態に対応した表示をする。
【0018】次に、複数チャンネル制御部20について
説明する。複数チャンネル制御部20は、実行制御部2
2と、掃引実行部24と、諸元設定部26と、パラメー
タメモリ27と、表示制御部28とで構成していて、2
チャンネルの切り替え状態に対応した諸元を各部に供給
して所望の測定条件で測定し表示させる。実行制御部2
2は、2チャンネルの測定切り替えタイミングを検出し
て他方のチャンネル状態に各部を遷移制御したり、キー
入力手段23あるいは外部入力手段23によりパラメー
タメモリ27の諸元内容の設定変更をする。2チャンネ
ルの測定の切り替えタイミングの第1は、キー入力手段
23による場合であり、図には示していないが、スペク
トラムアナライザのパネル面にある所定のキーの入力が
検出された場合であり、第2は、現チャンネルの測定完
了を検出した場合であり、第3は、図には示していない
が、各チャンネル毎に設けてある測定周期タイマーがカ
ウントアップした場合である。
【0019】掃引実行部24は、ランプ電圧発生部60
への掃引幅データや、周波数変換部50の可変発振器5
2への中心周波数データを、チャンネルに対応して供給
する為、パラメータメモリ27からパラメータを読みだ
して掃引周波数の設定制御をしている。諸元設定部26
は、パラメータメモリ27からチャンネルに対応したパ
ラメータを読みだして、入力切り替え器10や、減衰器
40や、BPF70や、検波部74や、データ処理部7
8に供給設定の制御をしている。パラメータメモリ27
は、各チャンネル毎に、キー入力手段23あるいは外部
GPIB経由等からの入力手段23で与えられた設定条
件値、即ちパラメータデータを記憶保存するメモリであ
る。このメモリは、随時キー入力等で変更した設定条件
を保存更新する。このメモリのデータは、実行制御部2
2や掃引実行部24や諸元設定部26や表示制御部28
が読みだして使用される。
【0020】表示制御部28は、画面全体の表示形態の
制御と、各チャンネル毎の波形表示条件パラメータに対
応した表示条件で表示部80を制御している。即ち、パ
ラメータメモリ27からチャンネルに対応した表示条件
パラメータを読みだし、データ処理部78と表示部80
に供給して各種表示形態で表示させる。表示画面の例と
しては、図2(a)に示す画面の場合は、表示の全画面
を何れかのチャンネルの波形データ80a、80bを交
互に切る替えて表示する場合である。他方、図2(b)
に示す画面の場合は、画面を上下に2分割して2チャン
ネルの波形データ80c、80dを並べて表示する場合
であり両者の比較を容易にする場合である。この他に、
左右に2分割して表示する場合や、同一スケール画面内
に2つのスペクトラム波形を重ねて表示する場合や、数
値データを比較表示する場合や、両チャンネル波形デー
タの差分値や加算値を表示する等、2つの信号間の比較
が容易な表示形態で表示する。又、一方あるいは両方の
表示データを保持して、この保持した表示データを比較
用に使用する形態がある。
【0021】上記実施例の説明では、2チャンネルの入
力端子に対応した場合で説明したが、nチャンネルの入
力切り替え器10nを設けて、これに対応した複数チャ
ンネル制御部20nを設けた構成手段としても良く同様
にして実施できる。
【0022】上記実施例の説明では、入力切り替え器1
0をスペクトラムアナライザに内蔵した構成として説明
していたが、これを分割して外部に設けて2〜nチャン
ネルの任意のチャンネル数の入力切り替え器10nを選
択使用できる構成手段にしても良い。この場合は、外部
の入力切り替え器10との間で、切り替えインターフェ
ースを設け、この間を接続することで、実施例と同様に
制御でき、同様にして実施できる。
【0023】上記実施例の説明では、スペクトラム測定
側のみを有するスペクトラムアナライザにおいて、入力
被測定端子を複数チャンネル設けて対応させた場合で説
明したが、トラッキングジェネレータを有するスペクト
ラムアナライザの場合では、これに加えて、トラッキン
グジェネレータ側についても上記実施例と同様にして、
チャンネル毎に対応する諸元をパラメータメモリ27に
設け、トラッキング発生部に諸元を設定することで、入
力側のチャンネルに対応したトラッキング信号を発生出
力することができ、同様にして実施出来る。
【0024】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。複
数チャンネル制御部20により、外部に入力切り替え治
具120と測定条件制御装置140と制御ソフトが不要
にできる効果がある。しかも、従来のように、測定対象
毎、あるいは測定条件を変える度に、対応する制御用ソ
フトを予め作成しておく等の不便が解消できる。スペク
トラムアナライザ本体内に、複数チャンネルの入力切り
替え器を設け、これに対応した諸元を自動的に切り替え
て測定することで、簡便かつ容易に複数チャンネルの測
定を実現でき、使用者の利便性が一層向上する効果があ
る。表示画面に、各チャンネルの測定スペクトラムを分
割表示したり、スペクトラム波形を重ねて表示したり、
数値データを比較表示したり、複数データの差分値や加
算値を表示する等、2つの信号間の比較が容易な表示形
態で表示することで、比較が容易にできる効果が得られ
る。
【0025】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の、複数チャンネルの被測定入力端子を
内蔵したスペクトラムアナライザの構成ブロックであ
る。
【図2】(a)本発明の、時分割で表示する場合の画面
例である。 (b)本発明の、2分割で表示する場合の画面例であ
る。
【図3】従来の、外部に2チャンネルの切り替え治具を
設けて構成したスペクトラムアナライザの構成ブロック
である。
【符号の説明】
10、10n 入力切り替え器 20、20n 複数チャンネル制御部 22 実行制御部 23 入力手段 24 掃引実行部 26 諸元設定部 27 パラメータメモリ 28 表示制御部 40 減衰器 50 周波数変換部 52 可変発振器 54、58 ミキサ 56 固定発振器 60 ランプ電圧発生部 70 バンドパスフィルタ(BPF) 74 検波部 78 データ処理部 80 表示部 80a、80b、80c、80d 波形データ 101、102 被試験器(DUT) 120 入力切り替え治具 140 測定条件制御装置 142 制御用ソフト 144 手動切り替え信号 146 通信手段 200 スペクトラムアナライザ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数チャンネルの被測定信号の測定にお
    いて、 複数チャンネルの被測定信号を切り替える入力切り替え
    器(10)をスペクトラムアナライザ本体に内蔵し、 複数チャンネルに対応した諸元パラメータを有して、測
    定チャンネルの切り替えに対応してスペクトラムアナラ
    イザ内部の諸元を設定して測定制御する複数チャンネル
    制御部(20)を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
    ライザ。
  2. 【請求項2】 複数チャンネルの被測定信号の測定にお
    いて、 スペクトラムアナライザ外部に設けた複数チャンネルの
    被測定信号を切り替える入力切り替え器(10)に対し
    て、この入力切り替えを制御し、かつ、複数チャンネル
    の切り替えに対応した諸元パラメータを有して、この切
    り替えに対応してスペクトラムアナライザ内部の諸元を
    設定して測定を制御する複数チャンネル制御部(20)
    を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
    ライザ。
JP21050494A 1994-08-10 1994-08-10 スペクトラムアナライザ Pending JPH0854429A (ja)

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JP21050494A JPH0854429A (ja) 1994-08-10 1994-08-10 スペクトラムアナライザ

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JP21050494A JPH0854429A (ja) 1994-08-10 1994-08-10 スペクトラムアナライザ

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JPH0854429A true JPH0854429A (ja) 1996-02-27

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JP21050494A Pending JPH0854429A (ja) 1994-08-10 1994-08-10 スペクトラムアナライザ

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JP (1) JPH0854429A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009081780A1 (ja) * 2007-12-20 2009-07-02 Advantest Corporation 周波数特性測定装置
JP2016121894A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 アイコム株式会社 スペクトラムアナライザおよびその表示制御方法

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Effective date: 20030812