JPS63314474A - 電子チューナの雑音指数測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、外部からの制御信号（同調電圧）によって
受信周波数を変化せしめる局部発振器を有する電子チュ
ーテの雑音指数を測定する電子チューナの雑音指数測定
装置に関するものである。

［従来の技術］ テレビ用の電子チューナにおいては、その受信感度を規
定するため受信可能なすべてのチャネルの雑音指数を測
定する必要がある。その目的のために、従来から第５図
に示す測定装置が使用されていた。第５図を用いて従来
の技術を説明する。

雑音発生器４０は、所望の周波数範囲にわたって平坦な
レベルの雑音を発生するもので、その出力信号は、切換
器４２が４２ａ側に切換えられているときには、電子チ
ューナ１０の入力端子に供給される。切換器４２が４２
ｂ側に切換えられているときには、電子チューナ１０の
入力端子は終端器４１によって終端される。電子チュー
ナ１０の出力信号（中間周波数：　ｆ　ｃ）は、レベル
測定器１２０に供給される。一方、電子チューナ１０の
制御信号入力端子には、可変電圧発生器１３０の出力信
号（電圧：Ｖｌ）が供給されている。さらに、切換器４
２、レベル測定器１２０及び可変電圧発生器１３０は、
それぞれパスラインを介して制御器１６０に接続されて
いる。

上記のように構成された測定装置の作用を説明する。ま
ず、所望のチャネルが選択されるように可変電圧発生器
１３０の電圧を設定する。切換器４２を４２ａ側に倒し
、レベル測定器１２０で電子チューナ１０の中間周波出
力端子に現れる雑音電力を測定する（その値をＮｌとす
る）。次に、切換器４２を４２ｂ側に倒して、レベル測
定器１２０で電子チューナ１０の中間周波出力端子に現
れる雑音電力を測定する（その値をＮＯとする）。この
結果にもとづいて、下記の第（１）式を用いて電子チュ
ーナの雑音指数ＮＦを求める。

ＮＦ（ｄＢ）＝ＥＮＲ−１０Ｘ　ｌｏｇ　（Ｎｌ／　Ｎ
ｏ−１）・・・・・・・・・・・・（１）ＮＦ：雑音指
数 ＥＮＲ：雑音発生器のエフセス・ノイズ・レシオ（ｄＢ
）（雑音発生器固有の値で、既知である。）ｌ：入力端
子に雑音を印加したときの測定値ＮＯ二大入力端子終端
したときの測定値これらの動作は制御器１６０からの指
令によって自動的に行われる。制御器１６０内に蓄えら
れた演算結果を必要に応じてＣＲＴに表示したり、プリ
ンタで印字したり、あるいは数字表示器に表示すること
によって所望の測定が完了する。

［発明が解決しようとする課題］ 従来使用されていた測定装置によれば、電子チューナの
受信可能なすべてのチャネルの雑音指数を測定するため
には、予め各チャネルに対応する制御信号入力端子に与
えるべき同調電圧の関係を測定しておかなけれはならな
い。次に、被測定チャネルを順次指定しながら上述の測
定を繰り返さなければならず、多数のチャネルを有する
電子チューナを大歌に試験するときには、多大の時間を
要していた。

一般に、電子チューナは、最下位チャネルと最上位チャ
ネル付近で雑音指数が悪化する傾向にある。そこで、測
定時間を短縮するために、最下位チャネルと最上位チャ
ネルの２点のみを測定して良否の判定を行なう方法も採
用されていた。しかし、この方法では、測定点以外のチ
ャネル（例えば中間のチャネル）で雑音指数が悪化する
ような電子チューナがあったときには発見できなくなる
。

また、多大の時間を費やしてすべてのチャネルを測定し
たとしても、あるチャネルとそれに隣接するチャネルと
の間に雑音指数が急激に悪化するようなディツプ点があ
る場合に、その特異現象を発見できないという欠点もあ
る。このディツプ点は、経時変化や温度変化等によって
実際に使用されるチャネルに悪影響を及ぼす要因になる
。

本願発明は以上のような従来の欠点を除去するものであ
る。

［課題を解決するための手段］ 本願発明は、Ｌ記の課題を解決するため、所定の受信周
波数範囲にわたって連続的な掃引をさせるための制御信
号を発生する掃引信号発生器と、電子チューナの出力レ
ベル情報を前記掃引に応動して順次記憶する第１及び第
２のメモリと、前記第１第２のメモリに格納された信号
を処理して雑音指数を求める演算装置とを備え、スペク
トラムアナライザ等の掃引信号発生手段を有するレベル
測定器の掃引信号を電子チューナの同調電圧として制御
信号入力端子に加える。次に電子チューナの入力端子に
雑音信号を印加して制御信号を１回掃引している。そし
て、それによ７て得られた雑音レベルと、電子チューナ
の入力端子を終端して制御信号を１回掃引し、それによ
って得られた雑音レベルとを演算し、各チャネルを指定
せずに電子チューナの雑音指数を受信可能な全帯域にわ
たって網羅的に、しかも短時間で測定できるようにした
。

［実施例］ 籠上立１施ｌ 以下、第１図（ａ）及び第２図を用いて本発明の第１の
実施例を説明する。

電子チューナ１０は、人力信号（周波数：［ａ）と第１
の局部発振器１４（周波数：　ｆ　ｂ）の出力信号とを
第１のミキサ１２で混合し、周波ｆｉｆｃ＝Ｉｆｂ−Ｐ
ａｌの信号を出力する。なお、可変帯域ろ波器１１は、
制御信号入力端子１７に印加される制御信号によって通
過周波数が決められ、所望の人力信号のみを選択し、後
続回路の飽和防止やイメージ除去のために設けられるも
のである。また、第１の中間周波増幅器１３は周波数ｆ
ｃの成分を増幅するものである。

切換器４２の４２ａ側には雑音発生器４０が接続され、
４２ｂ側には終端器４１が接続されている。さらに、切
換器４２の共通端子４２ｃは、電子チューナ１０の入力
端子１５に接続されている。

切換器４２の切換え動作は、制御器３０によって行われ
る。

レベル検出器２０はスペクトラム・アナライザの例で説
明する。掃引信号発生器２６は、鋸歯状波信号または階
段状の信号を発生するもので、第１の出力信号ａは第２
の局部発振器２５に加えられレベル検出器２０の受信周
波数を決定する。しかし、本発明の実施例では、第２の
局部発振器２５の周波数は、電子チューナ１０において
予め定められた中間周波数ｆｃｏが受信可能なようにｆ
ｄ。

に固定される。すなわち、掃引信号発生器２６の第１の
出力信号ａの電圧は、第２の局部発振器２５の周波数が
ｆｄｏになるように固定される。掃引信号発生器２６の
第２の出力信号すは、電圧調整器５０において電子チュ
ーナ１０に要求される同調電圧の範囲に調整されて、電
子チューナ１００制御信号入力端子１７に供給される。

一方、掃引信号発生器２６の第３の出力信号Ｃは、第２
のＡ／Ｄ変換器２７でデジタル信号に変換され、メモリ
２８ａ及び２８ｂのアドレスを指定する。第２のミキサ
２１は、電子チューナ１０の中間周波信号（周波数：　
ｆ　ｃ）と第２の局部発振器２５の出力信号（周波数：
　ｆ　ｄｏ）とを混合して周波数ｆｅ＝Ｉｆｄ。

−ｆｃｌの信号に変換する。第２の中間周波増幅器２２
は、周波数ｆｅの成分を増幅するものである。中間周波
増幅器２２の出力信号は、検波器２３で検波される。検
波器２３のアナログ出力信号は、第１のＡ／Ｄ変換器２
４でデジタル信号に変換され、Ｙ軸情報として切換器４
２の切換え動作に対応したモメリ２８ａまたは２８ｂに
格納される。そのときのアドレスは、掃引信号発生器２
６の第３の出力信号ＣをＡ／Ｄ変換することによって得
られ、それはＸ軸情報として利用される。アドレスと電
子チューナ１０の制御信号入力端子１７に供給される同
調電圧との間に、例えばＯ番地がＯＶ、　１０００番地
が１０Ｖというように関係付けておけば、前記アドレス
とチャネル番号とは対応付けられる。メモリ２８ａ及び
２８ｂに格納された同一アドレス上のＹ軸情報は、演算
装置３１に呼び出され、そこで前記の式（１）にもとづ
いて雑音指数ＮＦが演算される。その結果を別に設ける
第３のメモリ（図示せず）に格納することもできる。

すべてのアドレス上の情報についてそれぞれ前記の演算
がなされる。メモリ２８ａ、２８ｂ及び第３のメモリの
中から所望の１つまたは複数のメモリを選択し、そこに
格納されたＸ軸情報とＸ軸情報を、出力回′＃１２９で
処理−必要に応じてＣＲＴまたはＸ−Ｙレコーダ等（図
示せず）に第２図のように表示することができる。Ｘ及
びＸ軸情報をメモリに格納する動作及びその情報をメモ
リから読み出す操作は、制御器３０の指令によって行わ
れる。

このように構成された測定装置の詳細な動作を説明する
。切換器４２を４２ａ側に切換え、制御器３０から掃引
信号発生器２６にただ１回掃引させるための指令を与え
る。掃引信号発生器２６の第２の出力すは、電圧調整器
５０を介して電子チューナ１０の同調周波数を時々刻々
変化させる。

電子チューナＩＯの出力端子Ｉ６に現れる中間周波信号
（ｆｃ）すなわち、雑音信号が電子チューナに印加され
たときの雑音信号出力は、第２のミキサ２１で中間周波
信号（ｆｅ）に変換された後第２の中間周波増幅器２２
及び検波器２３を通り第１のＡ／Ｄ変換器２４でデジタ
ル信号に変換されて、掃引信号Ｃによって決まるメモリ
２８ａのＯ番地から１０００番地までのアドレスに格納
される。その情報は、第（１）式のＮｌに対応する。次
に、切換器４２を４２ａ側に切換え、制御器３０から掃
引信号発生器２６にただ１回掃引させるための指令を与
える。掃引信号発生器２６の第２の出力すは、電圧調整
器５０を介して電子チューナ１０の同調周波数を時々刻
々変化させる。電子チューナ１０の出力端子１６に現れ
る中間周波信号（ｆｃ）すなわち、被測定電子チューナ
の入力端子を終端したときの雑音信号出力は、第２のミ
キサ２１で中間周波信号（ｆｃ）に変換された後第２の
中間周波増幅器２２及び検波器２３を通り第１のＡ／Ｄ
変換器２４でデジタル信号に変換されて、掃引信号Ｃに
よって決まるメモリ２８ｂの０番地から１０００番地ま
でのアドレスに格納される。その情報は第（１）式のＮ
Ｏに対応する。

メモリ２８ａ及び２８ｂに格納された同一アドレス上の
Ｘ軸情報は、演算装置３１に呼び出され、そこで式（１
）にもとづいて雑音指数ＮＦが演算される。すべてのア
ドレス上の情報についてそれぞれ前記の演算がされる。

この情報を出力回路２９を介してＣＲＴ、Ｘ−Ｙレコー
ダまたは数字表示器等（図示せず）に出力することによ
って、電子チューナのすべてのチャネルの雑音指数を求
めることができる。

１２Ω１上ｌ 第３図に本発明の第２の実施例の要部を示す。

第１図と同一の構成要素には同一の番号を付しである。

第１の実施例と第２の実施例の違いは、掃引信号発生器
２６をり、／Ａ変換器３１に置き換えたものである。制
御器３０ａは、第１のＡ／Ｄ変換器２４のデジタル出力
情報が格納されるべきメモリ２８ａ及び２８ｂのアドレ
スを指定し、さらに、制御器３０ａは前記アドレスの指
定に対応したデジタル信号をＤ／Ａ変換器３１に送出す
る。

Ｄ／Ａ変換器３１は、制御器３０ａからのデジタル信号
をアナログ信号に変換し、第１図に示した掃引信号発生
器２６の出力信号と等価な階段状の掃引信号を出力する
。Ｄ／Ａ変換器３１の出力信号は、第１の実施例と同様
に電圧調整器５０を介して電子チューナの制御信号入力
端子１７に供給される。その他の動作は、第１の実施例
で説明したものと同じである。

１１史１立ｌ 第４図に本発明の第３の実施例の腰部を示す。

第１図と同一の構成要素には、同一の番号を付しである
。第１の実施例と第３の実施例との違いは、掃引信号発
生器２６をＤ／Ａ変換器３２に置き換え、Ｄ／Ａ変換器
３２と第２の局部発振器３３を制御器３０ｂによって別
個に制御するようにした。

本実施例のレベル検出器２０ｂはデジタル掃引によるス
ペクトラム・アナライザの例であり、第２の局部発掘器
３３は、制御器３０ｂからの周波数制御信号によってそ
の周波数が変化する周波数シンセサイザである。しかし
、本実施例では、電子チューナの予め定められた中間周
波数ｆｃｏを受信可能なように、第２の局部発振器３３
の周波数をｆｄｏに固定させるための制御信号が制御器
３０ｂから与えられている。Ａ／Ｄ変換器２４のデジタ
ル出力情報をメモリ２８ａ及び２８ｂに格納する際のア
ドレスは制御器３０ｂによって指定される。

そのアドレスに関連したデジタル信号は、Ｄ／Ａ変換器
３２でアナログ信号に変換され、第１の実施例と同様に
電圧調整器５０を介して、電子チューナの制御信号入力
端子１７に供給される。その他の動作は、第１の実施例
で説明したものと同じである。

なお、雑音発生器が第１図（ｂ）に示すような構成であ
れば、終端器４１と切換器４２は不要になる。第１図（
ｂ）に示す雑音発生器６０は、雑音発生部６１、電源部
６２、スイッチ６３及び整合器６４で構成されている。

スイッチ６３が閉じているとき雑音信号は端子６５に現
われる。スイッチ６３が開いているとき雑音信号は発生
されず、端子６５に接続されている電子チューナの入力
端子は特性インピーダンスＺｏを有する整合器６４で終
端されることになる。

［発明の効果コ 以上説明したように、本発明によれは以下に述べる効果
が得られる。

（イ）測定に先だって各チャネルに対応した同調電圧の
関係を測定する必要がなくなる。

（ロ）電子チューナ制御信号をただ２回掃引するだけで
雑音指数の測定が行えるため測定時間を大幅に短縮でき
る。

（ハ）全帯域にわたって網羅的に雑音指数を測定するた
めに、特異現象を見落とすことなく正確な試験を行うこ
とができる。

（ニ）本装置のために特殊なレベル測定器を用意するこ
となく、例えば、局部発振器を掃引させるための掃引信
号を外部に取り出せるようにした汎用のスペクトラム・
アナライザ等が使用できる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は本発明の第１の実施例を示すブロック図
、第１図（ｂ）は本発明の他の実施例を示すブロック図
、第２図は本発明による測定の一例を示す図、第３図及
び第４図は本発明による他の実施例を示すブロック図、
第５図は従来技術の例を示すブロック図である。 図中の、１０は電子チューナ、１１は可変帯域ろ波器、
１２は第１のミキサ、１３は中間周波増幅器、１４は第
１の局部発振器、１７は制御信号入力端子、２０．２０
ａ及び２０ｂはレベル検出器、２１は第２のミキサ、２
３は検波器、２４は第１のＡ／Ｄ変換器、２５は第２の
局部発振器、２６は掃引信号発生器、２７は第２のＡ／
Ｄ変換器、２８ａは第１のメモリ、２８ｂは第２のメモ
リ、２９は出力回路、３０．３０ａ及び３０ｂは制御器
、３１及び３２はＤ／Ａ変換器、３３は第２の局部発振
器、３４は演算装置、４０は雑音発生器、４１は終端器
、４２は切換器、５０は電圧調整器、６０は雑音発生器
である。 特許出願人　　アンリツ株式会社 代理人　弁理士　　小池　龍太部 ０番地　−一−−・−−−−−−−−一一−−−−−−
−−−・−一−−−−−−−−−−−−−−−−−−−
−−・−−−−−−＝　１０００番地ＶＩ　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
Ｖ２チャネル！　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　チャネルＮ第２図 第３図 第４図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、雑音発生器（４０）と、終端器（４１）と、前記雑
   音発生器と終端器とを切り換える切換器（４２）とを備
   え、外部からの制御信号によって受信周波数を変化せし
   める局部発振器を有する電子チューナ（１０）の雑音指
   数を測定する電子チューナの雑音指定測定装置において
   、 前記局部発振器をして所定の受信周波数範囲にわたって
   連続的な掃引をさせるための前記制御信号を発生する掃
   引信号発生器（２６）と； 前記切換器を前記雑音発生器に切換接続した場合の前記
   電子チューナの出力レベル情報を前記掃引に応動して順
   次記憶する第１のメモリ（２８ａ）と； 前記切換器を前記終端器に切換接続した場合の前記電子
   チューナの出力レベル情報を前記掃引に応動して順次記
   憶する第２のメモリ（２８ｂ）と；前記第１第２のメモ
   リに格納された信号を処理して雑音指数を求める演算装
   置（３４）とを備えたことを特徴とする電子チューナの
   雑音指数測定装置。 ２、外部からの第１の制御信号によって出力信号がオン
   ／オフ可能な雑音発生器（６０）を備え、外部からの第
   ２の制御信号によって受信周波数を変化せしめる局部発
   振器を有する電子チューナ（１０）の雑音指数を測定す
   る電子チューナの雑音指定測定装置において、 前記局部発振器をして所定の受信周波数範囲にわたって
   連続的な掃引をさせるための前記制御信号を発生する掃
   引信号発生器（２６）と； 前記雑音発生器をオンにした場合の前記電子チューナの
   出力レベル情報を前記掃引に応動して順次記憶する第１
   のメモリ（２８ａ）と； 前記雑音発生器をオフにした場合の前記電子チューナの
   出力レベル情報を前記掃引に応動して順次記憶する第２
   のメモリ（２８ｂ）と； 前記第１第２のメモリに格納された信号を処理して雑音
   指数を求める演算装置（３４）とを備えたことを特徴と
   する電子チューナの雑音指数測定装置。 ３、前記掃引信号発生器（２６）が、デジタル信号を受
   けてアナログ信号を出力するＤ／Ａ変換器（３１）でな
   り、制御器（３０）により制御されることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項又は第２項記載の電子チューナの
   雑音指数測定装置。