JP2000329806A - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JP2000329806A JP2000329806A JP11143588A JP14358899A JP2000329806A JP 2000329806 A JP2000329806 A JP 2000329806A JP 11143588 A JP11143588 A JP 11143588A JP 14358899 A JP14358899 A JP 14358899A JP 2000329806 A JP2000329806 A JP 2000329806A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、スペクトラムアナライザが温度安
定していない電源投入後であっても精度良く測定ができ
るようにした、実使用時にキャリブレーションを行うス
ペクトラムアナライザを提供する。 【解決手段】 ヘテロダイン方式のスペクトラムアナラ
イザにおいて、ＩＦ周波数の校正信号を発生する校正信
号発生回路と、スイープ期間はミキサ出力を選択し、ブ
ランキング期間は校正信号発生回路の出力を選択するス
イッチとを具備して、スイープ期間に表示を実行し、ブ
ランキング期間にキャリブレーションを実行する解決手
段。
定していない電源投入後であっても精度良く測定ができ
るようにした、実使用時にキャリブレーションを行うス
ペクトラムアナライザを提供する。 【解決手段】 ヘテロダイン方式のスペクトラムアナラ
イザにおいて、ＩＦ周波数の校正信号を発生する校正信
号発生回路と、スイープ期間はミキサ出力を選択し、ブ
ランキング期間は校正信号発生回路の出力を選択するス
イッチとを具備して、スイープ期間に表示を実行し、ブ
ランキング期間にキャリブレーションを実行する解決手
段。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ブランキング期間
にキャリブレーションを行うヘテロダイン方式のスペク
トラムアナライザに関する。
にキャリブレーションを行うヘテロダイン方式のスペク
トラムアナライザに関する。
【０００２】
【従来の技術】最初に、従来のヘテロダイン方式のスペ
クトラムアナライザの構成と動作について図４を参照し
て説明する。図４に示すように、従来のスペクトラムア
ナライザは、校正信号発生器１０と、アッテネータ２
１、２２と、第１ミキサ３１と、第２ミキサ３２と、第
３ミキサ３３と、アンプ３５、３６と、第１ローカル発
振器４１と、第２ローカル発振器４２と、分周器４３
と、ランプ信号発生器５０と、第１ＩＦフィルタ５１
と、第２ＩＦフィルタ５２と、第３ＩＦフィルタ５３
と、第４ＩＦフィルタ５４と、検波器６０と、制御と表
示部７０とで構成している。
クトラムアナライザの構成と動作について図４を参照し
て説明する。図４に示すように、従来のスペクトラムア
ナライザは、校正信号発生器１０と、アッテネータ２
１、２２と、第１ミキサ３１と、第２ミキサ３２と、第
３ミキサ３３と、アンプ３５、３６と、第１ローカル発
振器４１と、第２ローカル発振器４２と、分周器４３
と、ランプ信号発生器５０と、第１ＩＦフィルタ５１
と、第２ＩＦフィルタ５２と、第３ＩＦフィルタ５３
と、第４ＩＦフィルタ５４と、検波器６０と、制御と表
示部７０とで構成している。
【０００３】入力信号は、アッテネータ２１で所望のレ
ベルに減衰させ、第１ローカル発振器４１の周波数と第
１ミキサ３１で混合し、和と差のＩＦ周波数に変換出力
している。
ベルに減衰させ、第１ローカル発振器４１の周波数と第
１ミキサ３１で混合し、和と差のＩＦ周波数に変換出力
している。
【０００４】第１ミキサ３１で変換したＩＦ周波数の出
力信号は、第１ＩＦフィルタ５１で和または差のＩＦ周
波数が選択され、さらに第２のローカル発振器４２の周
波数と第２ミキサ３２で混合され、和と差のＩＦ周波数
に変換出力される。
力信号は、第１ＩＦフィルタ５１で和または差のＩＦ周
波数が選択され、さらに第２のローカル発振器４２の周
波数と第２ミキサ３２で混合され、和と差のＩＦ周波数
に変換出力される。
【０００５】第２ミキサ３２で変換したＩＦ周波数の出
力信号は、アンプ３５で所望のレベルに増幅され、第２
ＩＦフィルタ５２で、和または差のＩＦ周波数が選択さ
れ、さらに第２ローカル発振器４２の周波数を分周器４
３で分周した周波数と、第３ミキサ３３で混合され、和
と差のＩＦ周波数に変換される。
力信号は、アンプ３５で所望のレベルに増幅され、第２
ＩＦフィルタ５２で、和または差のＩＦ周波数が選択さ
れ、さらに第２ローカル発振器４２の周波数を分周器４
３で分周した周波数と、第３ミキサ３３で混合され、和
と差のＩＦ周波数に変換される。
【０００６】第３ミキサ３３で変換したＩＦ周波数の出
力信号は、第３ＩＦフィルタ５３で和または差のＩＦ周
波数が選択され、アンプ３６で所望のレベルに増幅さ
れ、アッテネータ２２で所望のレベルに減衰される。
力信号は、第３ＩＦフィルタ５３で和または差のＩＦ周
波数が選択され、アンプ３６で所望のレベルに増幅さ
れ、アッテネータ２２で所望のレベルに減衰される。
【０００７】アッテネータ２２の出力信号は、第４ＩＦ
フィルタ５４で帯域幅（ＲＢＷ）を所望の周波数分解能
として選択し出力される。
フィルタ５４で帯域幅（ＲＢＷ）を所望の周波数分解能
として選択し出力される。
【０００８】第４ＩＦフィルタ５４の出力を検波器６０
で検波し、制御と表示部７０において、検波信号をデジ
タル信号に変換してＹ軸を信号レベルとし、Ｘ軸を周波
数としてスペクトラム表示する。ランプ信号発生器５０
は、制御と表示部７０から制御信号を受け、ランプ信号
を第１ローカル発振器４１に与えている。
で検波し、制御と表示部７０において、検波信号をデジ
タル信号に変換してＹ軸を信号レベルとし、Ｘ軸を周波
数としてスペクトラム表示する。ランプ信号発生器５０
は、制御と表示部７０から制御信号を受け、ランプ信号
を第１ローカル発振器４１に与えている。
【０００９】次に、スペクトラムアナライザのキャリブ
レーションの方法について説明する。校正信号発生器１
０の出力を外部ケーブル１１により入力に接続する。但
し、スペクトラムアナライザ本体の内部でスイッチによ
り切り換え接続できるものもある。校正信号発生器１０
の出力は、例えば、周波数が３０ＭＨｚで、出力レベル
が−１０ｄＢｍの校正信号である。
レーションの方法について説明する。校正信号発生器１
０の出力を外部ケーブル１１により入力に接続する。但
し、スペクトラムアナライザ本体の内部でスイッチによ
り切り換え接続できるものもある。校正信号発生器１０
の出力は、例えば、周波数が３０ＭＨｚで、出力レベル
が−１０ｄＢｍの校正信号である。
【００１０】そして、電源投入後３０分から１時間経過
して温度安定したら、各設定における検波器６０の出力
レベルを基準値と比較してレベルのズレを補正するキャ
リブレーションを実行する。一般に、スペクトラムアナ
ライザの周囲温度や、電源投入後の装置内の温度変化に
より、アンプ３５や、第４ＩＦフィルタ５４の出力レベ
ルが主に変動する。
して温度安定したら、各設定における検波器６０の出力
レベルを基準値と比較してレベルのズレを補正するキャ
リブレーションを実行する。一般に、スペクトラムアナ
ライザの周囲温度や、電源投入後の装置内の温度変化に
より、アンプ３５や、第４ＩＦフィルタ５４の出力レベ
ルが主に変動する。
【００１１】従来のキャリブレーションを実行する場合
には、校正信号発生器１０の接続を切り換える必要があ
り、かつ、すべての項目を実行するため時間が多くかか
る（例えば、１分〜７分）。しかも、スペクトラムアナ
ライザが温度安定するまでキャリブレーションができ
ず、１度キャリブレーションを実行しても周囲温度が変
化すると、再度キャリブレーションを実行する必要があ
った。
には、校正信号発生器１０の接続を切り換える必要があ
り、かつ、すべての項目を実行するため時間が多くかか
る（例えば、１分〜７分）。しかも、スペクトラムアナ
ライザが温度安定するまでキャリブレーションができ
ず、１度キャリブレーションを実行しても周囲温度が変
化すると、再度キャリブレーションを実行する必要があ
った。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従
来のキャリブレーションを実行する場合には、校正信号
発生器の切り換えや、すべての設定項目を実行するため
時間が多くかかる（例えば、１分〜７分）。しかも、ス
ペクトラムアナライザが温度安定するまでキャリブレー
ションができず、１度キャリブレーションを実行しても
周囲温度が変化すると、再度キャリブレーションを実行
する必要があった。そこで、本発明は、こうした問題に
鑑みなされたもので、その目的は、スペクトラムアナラ
イザが温度安定していない電源投入後であっても精度良
く測定ができるようにした、実使用時にキャリブレーシ
ョンを行うスペクトラムアナライザを提供する。
来のキャリブレーションを実行する場合には、校正信号
発生器の切り換えや、すべての設定項目を実行するため
時間が多くかかる（例えば、１分〜７分）。しかも、ス
ペクトラムアナライザが温度安定するまでキャリブレー
ションができず、１度キャリブレーションを実行しても
周囲温度が変化すると、再度キャリブレーションを実行
する必要があった。そこで、本発明は、こうした問題に
鑑みなされたもので、その目的は、スペクトラムアナラ
イザが温度安定していない電源投入後であっても精度良
く測定ができるようにした、実使用時にキャリブレーシ
ョンを行うスペクトラムアナライザを提供する。
【００１３】
【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成す
るためになされた本発明の第１は、ヘテロダイン方式の
スペクトラムアナライザにおいて、ブランキングの期間
にＩＦ周波数の校正信号でキャリブレーションを実行す
るスペクトラムアナライザを要旨としている。また、上
記目的を達成するためになされた本発明の第２は、ヘテ
ロダイン方式のスペクトラムアナライザにおいて、ＩＦ
周波数の校正信号を発生する校正信号発生回路と、スイ
ープ期間はミキサ出力を選択し、ブランキング期間は校
正信号発生回路の出力を選択するスイッチと、を具備し
て、スイープ期間に表示を実行し、ブランキング期間に
キャリブレーションを実行することを特徴としたスペク
トラムアナライザを要旨としている。
るためになされた本発明の第１は、ヘテロダイン方式の
スペクトラムアナライザにおいて、ブランキングの期間
にＩＦ周波数の校正信号でキャリブレーションを実行す
るスペクトラムアナライザを要旨としている。また、上
記目的を達成するためになされた本発明の第２は、ヘテ
ロダイン方式のスペクトラムアナライザにおいて、ＩＦ
周波数の校正信号を発生する校正信号発生回路と、スイ
ープ期間はミキサ出力を選択し、ブランキング期間は校
正信号発生回路の出力を選択するスイッチと、を具備し
て、スイープ期間に表示を実行し、ブランキング期間に
キャリブレーションを実行することを特徴としたスペク
トラムアナライザを要旨としている。
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、下記の実
施例において説明する。
施例において説明する。
【００１５】
【実施例】（実施例１）本発明の実施例１について、図
１と図２とを参照して説明する。最初に、本発明のスペ
クトラムアナライザの構成について説明する。図１に示
すように、本発明のスペクトラムアナライザは、校正信
号発生器１０と、アッテネータ２１、２２と、第１ミキ
サ３１と、第２ミキサ３２と、第３ミキサ３３と、アン
プ３５、３６と、第１ローカル発振器４１と、第２ロー
カル発振器４２と、分周器４３と、ランプ信号発生器５
０と、第１ＩＦフィルタ５１と、第２ＩＦフィルタ５２
と、第３ＩＦフィルタ５３と、第４ＩＦフィルタ５４
と、検波器６０と、制御と表示部７０との従来構成に、
スイッチＳＷ１と、校正信号発生回路９０とを追加して
構成している。
１と図２とを参照して説明する。最初に、本発明のスペ
クトラムアナライザの構成について説明する。図１に示
すように、本発明のスペクトラムアナライザは、校正信
号発生器１０と、アッテネータ２１、２２と、第１ミキ
サ３１と、第２ミキサ３２と、第３ミキサ３３と、アン
プ３５、３６と、第１ローカル発振器４１と、第２ロー
カル発振器４２と、分周器４３と、ランプ信号発生器５
０と、第１ＩＦフィルタ５１と、第２ＩＦフィルタ５２
と、第３ＩＦフィルタ５３と、第４ＩＦフィルタ５４
と、検波器６０と、制御と表示部７０との従来構成に、
スイッチＳＷ１と、校正信号発生回路９０とを追加して
構成している。
【００１６】本実施例１のスペクトラムアナライザ自体
の動作は、従来技術において説明したので省略する。ま
た、本実施例１のスペクトラムアナライザは、校正信号
発生器１０も備えているので従来と同じキャリブレーシ
ョンも実施できる。そして、校正信号発生器１０を使用
して行うキャリブレーションの方法は、従来技術におい
て説明したので省略する。
の動作は、従来技術において説明したので省略する。ま
た、本実施例１のスペクトラムアナライザは、校正信号
発生器１０も備えているので従来と同じキャリブレーシ
ョンも実施できる。そして、校正信号発生器１０を使用
して行うキャリブレーションの方法は、従来技術におい
て説明したので省略する。
【００１７】次に、校正信号発生回路９０の構成と動作
について説明する。校正信号発生回路９０は、ＡＬＣ回
路１００と、サンプラ８０と、第３ローカル発振器９４
と、分周器９５、９６と、位相比較器９７とで構成して
いる。
について説明する。校正信号発生回路９０は、ＡＬＣ回
路１００と、サンプラ８０と、第３ローカル発振器９４
と、分周器９５、９６と、位相比較器９７とで構成して
いる。
【００１８】校正信号発生回路９０は、第３ローカル発
振器９４の発振周波数をＰＬＬ回路で周波数を安定化
し、ＡＬＣ回路１００でレベル安定化してＩＦ周波数の
校正信号を生成している。
振器９４の発振周波数をＰＬＬ回路で周波数を安定化
し、ＡＬＣ回路１００でレベル安定化してＩＦ周波数の
校正信号を生成している。
【００１９】校正信号発生回路９０における、ＰＬＬ回
路の動作について説明する。第２ローカル発振器４２の
発振周波数を分周器４３で分周した周波数をさらに逓倍
器８２で逓倍した周波数と、第３ローカル発振器９４の
発振周波数とをミキサ８１で混合し、差の周波数を出力
している。そして、分周器４３の出力信号の周波数を分
周器９６で分周した周波数と、ミキサ８１の出力信号を
分周器９５で分周した周波数とを位相比較器９７で位相
比較し、その誤差周波数に比例した平均電圧で第３ロー
カル発振器９４の発振周波数を制御してＰＬＬ回路を形
成し、発振周波数の安定化をおこなっている。
路の動作について説明する。第２ローカル発振器４２の
発振周波数を分周器４３で分周した周波数をさらに逓倍
器８２で逓倍した周波数と、第３ローカル発振器９４の
発振周波数とをミキサ８１で混合し、差の周波数を出力
している。そして、分周器４３の出力信号の周波数を分
周器９６で分周した周波数と、ミキサ８１の出力信号を
分周器９５で分周した周波数とを位相比較器９７で位相
比較し、その誤差周波数に比例した平均電圧で第３ロー
カル発振器９４の発振周波数を制御してＰＬＬ回路を形
成し、発振周波数の安定化をおこなっている。
【００２０】また、ＡＬＣ回路１００は、自動レベル制
御回路（Automatic Level Control）で、例えば検波部
９１と、アンプ９２と、ゲイン比較／可変部９３とで構
成して、第３ローカル発振器９４の出力信号レベルの安
定化を行っている。
御回路（Automatic Level Control）で、例えば検波部
９１と、アンプ９２と、ゲイン比較／可変部９３とで構
成して、第３ローカル発振器９４の出力信号レベルの安
定化を行っている。
【００２１】例えば、本実施例１における校正信号発生
回路９０関係の具体的数値例を下記に示す。 第１ＩＦフィルタ５１の通過周波数：３６２１．４ＭＨ
ｚ 第２ローカル発振器４２の発振周波数：３２００ＭＨｚ 第２ＩＦフィルタ５２の通過周波数：４２１．４ＭＨｚ 第３ＩＦフィルタ５３の通過周波数：２１．４ＭＨｚ 第３ローカル発振器９４の発振周波数：３６２１．４Ｍ
Ｈｚ 逓倍器８２の逓倍数Ｎ：９ 分周器９５の分周数Ｐ：１０７ 分周器９６の分周数Ｍ：２０００
回路９０関係の具体的数値例を下記に示す。 第１ＩＦフィルタ５１の通過周波数：３６２１．４ＭＨ
ｚ 第２ローカル発振器４２の発振周波数：３２００ＭＨｚ 第２ＩＦフィルタ５２の通過周波数：４２１．４ＭＨｚ 第３ＩＦフィルタ５３の通過周波数：２１．４ＭＨｚ 第３ローカル発振器９４の発振周波数：３６２１．４Ｍ
Ｈｚ 逓倍器８２の逓倍数Ｎ：９ 分周器９５の分周数Ｐ：１０７ 分周器９６の分周数Ｍ：２０００
【００２２】次に、本実施例１のスペクトラムアナライ
ザのキャリブレーションの方法について、図１のブロッ
ク図と、図２のタイミングチャートとを参照して説明す
る。図１において、スイッチＳＷ１のＮ側／Ｃ側の切り
換えと、第３ローカル発振器９４の発振のＯＮ／ＯＦＦ
と、サンプラ８０の動作のＯＮ／ＯＦＦとは、図に示し
てはいないが、制御と表示部７０からの制御信号で制御
している。
ザのキャリブレーションの方法について、図１のブロッ
ク図と、図２のタイミングチャートとを参照して説明す
る。図１において、スイッチＳＷ１のＮ側／Ｃ側の切り
換えと、第３ローカル発振器９４の発振のＯＮ／ＯＦＦ
と、サンプラ８０の動作のＯＮ／ＯＦＦとは、図に示し
てはいないが、制御と表示部７０からの制御信号で制御
している。
【００２３】そして、スイッチＳＷ１をＮ側に切り換え
たときは通常の測定モードであり、第３ローカル発振器
９４をＯＦＦとし、サンプラ８０をＯＦＦとしている。
反対に、スイッチＳＷ１をＣ側に切り換えたときはキャ
リブレーションのモードであり、第３ローカル発振器９
４をＯＮとし、サンプラ８０をＯＮとしている。
たときは通常の測定モードであり、第３ローカル発振器
９４をＯＦＦとし、サンプラ８０をＯＦＦとしている。
反対に、スイッチＳＷ１をＣ側に切り換えたときはキャ
リブレーションのモードであり、第３ローカル発振器９
４をＯＮとし、サンプラ８０をＯＮとしている。
【００２４】図２の（ｂ）に示すランプ信号発生器５０
がスイープの期間は、（ａ）の波形表示は表示の状態で
あり、（ｃ）のスイッチＳＷ１はＮ側であり、また
（ｄ）に示すようにキャリブレーションは行わない非実
行の状態である。そして、図２の（ｂ）に示すランプ信
号発生器５０がブランキングの期間において、（ａ）の
波形表示は非表示の状態であり、（ｃ）のスイッチＳＷ
１はＣ側であり、また（ｄ）に示すように、校正信号発
生回路９０の校正信号出力が安定するのに要する時間ｔ
の後、第１ＩＦフィルタ５１以降のレベルのキャリブレ
ーションを実行している。
がスイープの期間は、（ａ）の波形表示は表示の状態で
あり、（ｃ）のスイッチＳＷ１はＮ側であり、また
（ｄ）に示すようにキャリブレーションは行わない非実
行の状態である。そして、図２の（ｂ）に示すランプ信
号発生器５０がブランキングの期間において、（ａ）の
波形表示は非表示の状態であり、（ｃ）のスイッチＳＷ
１はＣ側であり、また（ｄ）に示すように、校正信号発
生回路９０の校正信号出力が安定するのに要する時間ｔ
の後、第１ＩＦフィルタ５１以降のレベルのキャリブレ
ーションを実行している。
【００２５】本実施例１におけるキャリブレーション
は、測定モードにおける設定条件でのレベルのキャリブ
レーションを１ポイントのみ実行すればよいので、つま
り第１ローカル発振周波数の設定及び第４ＩＦフィルタ
５４の帯域幅（ＲＢＷ）の設定変更した各ポイントでの
キャリブレーションを行わなくてもよいので高速処理が
可能となる。
は、測定モードにおける設定条件でのレベルのキャリブ
レーションを１ポイントのみ実行すればよいので、つま
り第１ローカル発振周波数の設定及び第４ＩＦフィルタ
５４の帯域幅（ＲＢＷ）の設定変更した各ポイントでの
キャリブレーションを行わなくてもよいので高速処理が
可能となる。
【００２６】例えば、本実施例１のキャリブレーション
に要する時間は１０ｍｓである。従って、ブランキング
時間が１００ｍｓであり、校正信号発生回路９０の校正
信号出力が安定するのに必要な時間ｔは２０ｍｓとすれ
ば、ブランキング期間の残り８０ｍｓの期間毎にキャリ
ブレーションを行えばよい。
に要する時間は１０ｍｓである。従って、ブランキング
時間が１００ｍｓであり、校正信号発生回路９０の校正
信号出力が安定するのに必要な時間ｔは２０ｍｓとすれ
ば、ブランキング期間の残り８０ｍｓの期間毎にキャリ
ブレーションを行えばよい。
【００２７】つまり、本発明のスペクトラムアナライザ
では、ブランキング期間毎にキャリブレーションを行う
方式であるから、温度安定していない電源投入後であっ
ても精度良く測定ができる。
では、ブランキング期間毎にキャリブレーションを行う
方式であるから、温度安定していない電源投入後であっ
ても精度良く測定ができる。
【００２８】（実施例２）本発明の実施例２は、校正信
号を第２ミキサ３２の出力にスイッチＳＷ２を設けてア
ンプ３５以降をキャリブレーションする場合である。本
発明の実施例２について、図３を参照して説明する。図
３に示すように、実施例２のスペクトラムアナライザ
は、校正信号発生器１０と、アッテネータ２１、２２
と、第１ミキサ３１と、第２ミキサ３２と、第３ミキサ
３３と、アンプ３５、３６と、第１ローカル発振器４１
と、第２ローカル発振器４２と、分周器４３と、ランプ
信号発生器５０と、第１ＩＦフィルタ５１と、第２ＩＦ
フィルタ５２と、第３ＩＦフィルタ５３と、第４ＩＦフ
ィルタ５４と、検波器６０と、制御と表示部７０との従
来構成に、スイッチＳＷ２と、校正信号発生回路９０と
を追加して構成している。つまり、実施例２と実施例１
とは、実施例２のスイッチＳＷ２と、実施例１のスイッ
チＳＷ１との挿入位置が異なるだけで他は同じブロック
構成である。また、図２の（ｃ）に示すように、実施例
２におけるスイッチＳＷ２の動作は、実施例１のスイッ
チＳＷ１と同じである。従って、本実施例２のキャリブ
レーションの方法は、実施例１と異なる点を中心に説明
する。
号を第２ミキサ３２の出力にスイッチＳＷ２を設けてア
ンプ３５以降をキャリブレーションする場合である。本
発明の実施例２について、図３を参照して説明する。図
３に示すように、実施例２のスペクトラムアナライザ
は、校正信号発生器１０と、アッテネータ２１、２２
と、第１ミキサ３１と、第２ミキサ３２と、第３ミキサ
３３と、アンプ３５、３６と、第１ローカル発振器４１
と、第２ローカル発振器４２と、分周器４３と、ランプ
信号発生器５０と、第１ＩＦフィルタ５１と、第２ＩＦ
フィルタ５２と、第３ＩＦフィルタ５３と、第４ＩＦフ
ィルタ５４と、検波器６０と、制御と表示部７０との従
来構成に、スイッチＳＷ２と、校正信号発生回路９０と
を追加して構成している。つまり、実施例２と実施例１
とは、実施例２のスイッチＳＷ２と、実施例１のスイッ
チＳＷ１との挿入位置が異なるだけで他は同じブロック
構成である。また、図２の（ｃ）に示すように、実施例
２におけるスイッチＳＷ２の動作は、実施例１のスイッ
チＳＷ１と同じである。従って、本実施例２のキャリブ
レーションの方法は、実施例１と異なる点を中心に説明
する。
【００２９】図３に示すように、本実施例２において、
校正信号発生回路９０は、ＩＦ周波数の校正信号を発生
し、スイッチＳＷ２を介して、アンプ３５に与えている
ので、それ以降のゲインのキャリブレーションが行なえ
る。
校正信号発生回路９０は、ＩＦ周波数の校正信号を発生
し、スイッチＳＷ２を介して、アンプ３５に与えている
ので、それ以降のゲインのキャリブレーションが行なえ
る。
【００３０】従って、校正信号発生回路９０の校正信号
周波数、すなわち第３ローカル発振器９４の発振周波数
は、第２ＩＦフィルタの通過周波数と同じである。その
ため、逓倍器８２の逓倍数Ｎが、実施例１と実施例２と
では異なる。
周波数、すなわち第３ローカル発振器９４の発振周波数
は、第２ＩＦフィルタの通過周波数と同じである。その
ため、逓倍器８２の逓倍数Ｎが、実施例１と実施例２と
では異なる。
【００３１】例えば、本実施例２における校正信号発生
回路９０関係の具体的数値例を下記に示す。 第２ローカル発振器４２の発振周波数：３２００ＭＨｚ 第２ＩＦフィルタ５２の通過周波数：４２１．４ＭＨｚ 第３ＩＦフィルタ５３の通過周波数：２１．４ＭＨｚ 第３ローカル発振器９４の発振周波数：４２１．４ＭＨ
ｚ 逓倍器８２の逓倍数Ｎ：１ 分周器９５の分周数Ｐ：１０７ 分周器９６の分周数Ｍ：２０００
回路９０関係の具体的数値例を下記に示す。 第２ローカル発振器４２の発振周波数：３２００ＭＨｚ 第２ＩＦフィルタ５２の通過周波数：４２１．４ＭＨｚ 第３ＩＦフィルタ５３の通過周波数：２１．４ＭＨｚ 第３ローカル発振器９４の発振周波数：４２１．４ＭＨ
ｚ 逓倍器８２の逓倍数Ｎ：１ 分周器９５の分周数Ｐ：１０７ 分周器９６の分周数Ｍ：２０００
【００３２】尚、本実施例２のスペクトラムアナライザ
のその他については実施例１と同様であるので説明を省
略する。
のその他については実施例１と同様であるので説明を省
略する。
【００３３】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
本発明のスペクトラムアナライザは、ブランキング期間
毎にキャリブレーションを行っているので、スペクトラ
ムアナライザが温度安定するまでキャリブレーションを
待つ必要が無く、温度安定していない電源投入後であっ
ても精度良く測定ができる効果がある。特に、スペクト
ラムアナライザを屋外で使用する場合、すぐ測定できる
ので効果が大きい。
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
本発明のスペクトラムアナライザは、ブランキング期間
毎にキャリブレーションを行っているので、スペクトラ
ムアナライザが温度安定するまでキャリブレーションを
待つ必要が無く、温度安定していない電源投入後であっ
ても精度良く測定ができる効果がある。特に、スペクト
ラムアナライザを屋外で使用する場合、すぐ測定できる
ので効果が大きい。
【図１】本発明の実施例１のスペクトラムアナライザの
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明のスペクトラムアナライザのタイミング
チャートである。
チャートである。
【図３】本発明の実施例２のスペクトラムアナライザの
ブロック図である。
ブロック図である。
【図４】従来のスペクトラムアナライザのブロック図で
ある。実施例１のスペクトラムアナライザのブロック図
である。
ある。実施例１のスペクトラムアナライザのブロック図
である。
１０ 校正信号発生器 １１ 外部ケーブル ２１、２２ アッテネータ ３１ 第１ミキサ ３２ 第２ミキサ ３３ 第３ミキサ ３５、３６ アンプ ４１ 第１ローカル発振器 ４２ 第２ローカル発振器 ４３ 分周器 ５０ ランプ信号発生器 ５１ 第１ＩＦフィルタ ５２ 第２ＩＦフィルタ ５３ 第３ＩＦフィルタ ５４ 第４ＩＦフィルタ ６０ 検波器 ７０ 制御と表示部 ８０ サンプラ ８１ ミキサ ８２ 逓倍器 ９０ 校正信号発生回路 ９１ 検波部 ９２ アンプ ９３ ゲイン比較／可変部 ９４ 第３ローカル発振器 ９５、９６ 分周器 ９７ 位相比較器 １００ ＡＬＣ回路
Claims (2)
- 【請求項１】 ヘテロダイン方式のスペクトラムアナラ
イザにおいて、ブランキングの期間にＩＦ周波数の校正
信号でキャリブレーションを実行するスペクトラムアナ
ライザ。 - 【請求項２】 ヘテロダイン方式のスペクトラムアナラ
イザにおいて、 ＩＦ周波数の校正信号を発生する校正信号発生回路と、 スイープ期間はミキサ出力を選択し、ブランキング期間
は校正信号発生回路の出力を選択するスイッチと、 を具備して、スイープ期間に表示を実行し、ブランキン
グ期間にキャリブレーションを実行することを特徴とし
たスペクトラムアナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11143588A JP2000329806A (ja) | 1999-05-24 | 1999-05-24 | スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11143588A JP2000329806A (ja) | 1999-05-24 | 1999-05-24 | スペクトラムアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000329806A true JP2000329806A (ja) | 2000-11-30 |
Family
ID=15342234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11143588A Withdrawn JP2000329806A (ja) | 1999-05-24 | 1999-05-24 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000329806A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102435972A (zh) * | 2011-10-28 | 2012-05-02 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置 |
| CN104569893A (zh) * | 2015-01-26 | 2015-04-29 | 南京信息职业技术学院 | 一种电磁辐射计校准装置及方法 |
| CN105548934A (zh) * | 2016-01-04 | 2016-05-04 | 上海创远仪器技术股份有限公司 | 用于频谱仪实现快速功率自动定标的方法 |
| US10042029B2 (en) | 2013-04-16 | 2018-08-07 | Keysight Technologies, Inc. | Calibration of test instrument over extended operating range |
| CN110672920A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-01-10 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种具有温度补偿功能的频谱分析仪 |
-
1999
- 1999-05-24 JP JP11143588A patent/JP2000329806A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102435972A (zh) * | 2011-10-28 | 2012-05-02 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置 |
| US10042029B2 (en) | 2013-04-16 | 2018-08-07 | Keysight Technologies, Inc. | Calibration of test instrument over extended operating range |
| CN104569893A (zh) * | 2015-01-26 | 2015-04-29 | 南京信息职业技术学院 | 一种电磁辐射计校准装置及方法 |
| CN105548934A (zh) * | 2016-01-04 | 2016-05-04 | 上海创远仪器技术股份有限公司 | 用于频谱仪实现快速功率自动定标的方法 |
| CN110672920A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-01-10 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种具有温度补偿功能的频谱分析仪 |
| CN110672920B (zh) * | 2019-12-06 | 2020-03-31 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种具有温度补偿功能的频谱分析仪 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060801 |