JP7177865B2 - 測定装置とその補間方法 - Google Patents

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本発明は、ローカル信号を発生する複数の発振器を備えた測定装置に関する。
従来、ローカル信号を発生させる発振器を有する測定装置としてスペクトラムアナライザが知られている。スペクトラムアナライザは、所望の観測周波数帯域のどの周波数にどのようなレベルの信号が存在するかを示すスペクトラム波形を表示する装置である。
このようなスペクトラムアナライザでは、発振器の発生するローカル信号を所望の周波数帯域分掃引し、そのローカル信号により周波数変換した信号を解析してスペクトラム波形を作成する。
ところで、このようなスペクトラムアナライザにおいて、要求される最大の観測周波数帯域が、1つの発振器が発生できる周波数帯域に比べて広い場合がある。このような場合には、要求される最大の観測周波数帯域を複数に分割し、それぞれの分割周波数帯域に対応する発振器を用意し、発振器を切り替えながら周波数を掃引することで、広い周波数に対応していた。
特許文献1には、3つの電圧制御発振器と、これのうちの1つを選択するスイッチとを備え、3つの電圧制御発振器を切り替えながら周波数を掃引することが記載されている。
特許第5186474号公報
このような測定装置の調整段階において、調整用の所定のレベルの信号を入力し、実際に測定される信号レベルとの誤差を測り、補正値を取得している。
このような補正値は、発振器などのハードウェア構成が切り替わる際、ハードウェア的に特性が変化するため、発振器が切り替わる直前と直後の補正値に段差ができ、その間の補正値を補間する必要がある。
そこで、本発明は、ハードウェア構成を切り替えて測定を行なう場合でも、ハードウェア構成を切り替える直前と直後の間の補正値を精度良く補間することができる測定装置を提供することを目的としている。
本発明の測定装置は、入力信号の周波数毎のレベルを測定する測定装置であって、測定したレベルの補正値を有し、前記補正値は、所定の周波数間隔のポイント毎に取得された補正値により作成され、前記測定装置のハードウェア構成が切り替わる周波数を特殊ポイントとし、前記特殊ポイントより1つ低いポイントと2つ低いポイントとの補正値の傾きと、前記特殊ポイントと前記特殊ポイントより1つ高いポイントとの補正値の傾きと、を平均した傾きを、前記特殊ポイントより1つ低いポイントと前記特殊ポイントとの間の補正値の傾きとするものである。
この構成により、ハードウェア構成が切り替わる周波数が特殊ポイントとされ、特殊ポイントより1つ低いポイントと2つ低いポイントとの補正値の傾きと、特殊ポイントと特殊ポイントより1つ高いポイントとの補正値の傾きと、が平均された傾きが、特殊ポイントより1つ低いポイントと特殊ポイントとの間の補正値の傾きとされる。このため、ハードウェア構成を切り替えて測定を行なう場合でも、ハードウェア構成を切り替える直前と直後の間の補正値を精度良く補間することができる。
また、本発明の測定装置において、予め定められた周波数帯域の周波数の信号を発生する複数の発振器を備え、前記複数の発振器を切り替えて周波数毎のレベルを測定し、前記発振器が切り替わる周波数を前記特殊ポイントとするものである。
この構成により、発振器が切り替わる周波数が特殊ポイントとされ、特殊ポイントより1つ低いポイントと2つ低いポイントとの補正値の傾きと、特殊ポイントと特殊ポイントより1つ高いポイントとの補正値の傾きと、が平均された傾きが、特殊ポイントより1つ低いポイントと特殊ポイントとの間の補正値の傾きとされる。このため、発振器を切り替えて測定を行なう場合でも、発振器を切り替える直前と直後の間の補正値を精度良く補間することができる。
本発明は、ハードウェア構成を切り替えて測定を行なう場合でも、ハードウェア構成を切り替える直前と直後の間の補正値を精度良く補間することができる測定装置を提供することができる。
図1は、本発明の一実施形態に係る測定装置のブロック図である。 図2は、本発明の一実施形態に係る測定装置の補正値の補間方法を説明する図である。 図3は、本発明の一実施形態に係る測定装置の補正値補間処理の手順を説明するフローチャートである。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る測定装置ついて詳細に説明する。
図1において、本発明の一実施形態に係る測定装置1は、アッテネータ11と、ローカル信号発生部12と、ミキサ13と、フィルタ14と、A/D変換器15と、表示部16と、操作部17と、掃引制御部18と、信号解析部19と、を含んで構成される。
アッテネータ11は、入力信号SINのレベルを所定値に減衰させ、ミキサ13に出力する。アッテネータ11は、減衰量を変更することができる可変減衰器で構成される。アッテネータ11は、掃引制御部18の制御により減衰量を変更する。
ローカル信号発生部12は、3つの電圧制御発振器12a、12b、12cと、これらのうち1つを選択するスイッチ12d、12eと、を備え、ローカル信号Lをミキサ13に出力する。なお、電圧制御発振器は3つでなくてもよく、複数備えていればよい。
電圧制御発振器12a、12b、12cは、掃引制御部18から入力される制御電圧に応じた周波数の信号La、Lb、Lcを出力する。電圧制御発振器12a、12b、12cは、それぞれ異なる周波数帯域の信号を出力する。電圧制御発振器12a、12b、12cは、出力する信号の周波数帯域が一部重複していてもかまわない。
ミキサ13は、アッテネータ11の出力信号とローカル信号Lとをミキシングし、ミキシングした信号をフィルタ14に出力する。
フィルタ14は、ミキサ13から入力された信号の予め設定された周波数の信号成分Mを通過させA/D変換器15に出力する。
A/D変換器15は、フィルタ14が通過させたアナログの信号成分Mを、所定のサンプリング周期でサンプリングしてデジタルの信号列Dmを信号解析部19に出力する。
表示部16は、例えば、液晶ディスプレイで構成され、信号解析部19が求めたスペクトラム特性の波形を表示する。
操作部17は、キーボード、マウス、タッチパネル等の入力機器で構成され、操作入力された情報などを掃引制御部18や信号解析部19に出力する。
掃引制御部18は、ローカル信号発生部12に出力する制御電圧を制御しながら、ローカル信号発生部12のスイッチ12d、12eにより電圧制御発振器12a、12b、12cのいずれか1つを選択し、ミキサ13に出力するローカル信号Lの周波数を所定ステップで掃引させるとともに、その各周波数を示す周波数情報fを信号解析部19に出力する。
信号解析部19は、掃引によって得られたデジタルの信号列Dmと、掃引制御部18から入力される周波数情報fとを対応付けて図示しないメモリに格納し、補正処理や指定された帯域制限処理等を行なって観測帯域のスペクトラム特性を求める。
このような測定装置1において、所定のレベルの信号を入力し、実際に測定される信号レベルとの誤差から、信号レベルの補正値を取得する調整が行なわれる。
補正値の取得は、例えば、10MHz単位(10MHz間隔のポイント)で行なわれる。信号解析部19は、電圧制御発振器12a、12b、12cの切り替わる周波数を、特殊ポイントとして記憶している。
信号解析部19は、例えば、5.0GHzから電圧制御発振器12a、12b、12cが切り替わる場合、その5.0GHzを特殊ポイントとして記憶する。
信号解析部19は、特殊ポイントの1つ前のポイントと特殊ポイントとの間の補正値を補間する。
信号解析部19は、特殊ポイントより1つ低いポイントと2つ低いポイントとの補正値の傾きと、特殊ポイントと特殊ポイントより1つ高いポイントとの補正値の傾きと、を平均した傾きを、特殊ポイントより1つ低いポイントと特殊ポイントとの間の補正値の傾きとする。
例えば、図2に示すように、5.0GHzを特殊ポイントとした場合、特殊ポイントの5.0GHzより1つ低いポイントの4.99GHzの補正値と、特殊ポイントの5.0GHzより2つ低いポイントの4.98GHzの補正値との傾きをAとし、特殊ポイントの5.0GHzの補正値と、特殊ポイントの5.0GHzより1つ高いポイントの5.01GHzの補正値との傾きをBとし、その平均、(A+B)/2を特殊ポイントの5.0GHzより1つ低いポイントの4.99GHzと特殊ポイントの5.0GHzとの間の補正値の傾きCとする。
以上のように構成された本実施形態に係る測定装置による補正値補間処理について、図3を参照して説明する。なお、以下に説明する補正値補間処理は、補正値の取得が終わった後、特殊ポイント毎に実行される。
ステップS1において、信号解析部19は、特殊ポイントより1つ低いポイントと、2つ低いポイントと、の補正値の傾きAを算出する。ステップS1の処理を実行した後、信号解析部19は、ステップS2の処理を実行する。
ステップS2において、信号解析部19は、特殊ポイントと、特殊ポイントより1つ高いポイントと、の補正値の傾きBを算出する。ステップS2の処理を実行した後、信号解析部19は、ステップS3の処理を実行する。
ステップS3において、信号解析部19は、AとBの平均Cを算出する。ステップS3の処理を実行した後、信号解析部19は、ステップS4の処理を実行する。
ステップS4において、信号解析部19は、特殊ポイントより1つ低いポイントの補正値から傾きCで特殊ポイントまでの補正値を補間する。ステップS4の処理を実行した後、信号解析部19は、補正値補間処理を終了する。
このように、上述の実施形態では、電圧制御発振器12a、12b、12cの切り替わる周波数を特殊ポイントとし、特殊ポイントより1つ低いポイントと2つ低いポイントとの補正値の傾きと、特殊ポイントと特殊ポイントより1つ高いポイントとの補正値の傾きと、を平均した傾きを、特殊ポイントより1つ低いポイントと特殊ポイントとの間の補正値の傾きとする。
これにより、ハードウェア構成を切り替えて測定を行なう場合でも、ハードウェア構成を切り替える直前と直後の間の補正値を精度良く補間することができる。
なお、本実施形態においては、電圧制御発振器12a、12b、12cの切り替わりの場合を示したが、それに限定されるものではなく、例えば、アッテネータ11の減衰量を切り替えたような場合にも適用できる。
本発明の実施形態を開示したが、当業者によっては本発明の範囲を逸脱することなく変更が加えられうることは明白である。すべてのこのような修正及び等価物が次の請求項に含まれることが意図されている。
1 測定装置
11 アッテネータ
12 ローカル信号発生部
12a、12b、12c 電圧制御発振器(発振器)
12d、12e スイッチ
13 ミキサ
14 フィルタ
15 A/D変換器
18 掃引制御部
19 信号解析部

Claims (2)

  1. 入力信号の周波数毎のレベルを測定する測定装置(1)であって、
    測定したレベルの補正値を有し、
    前記補正値は、所定の周波数間隔のポイント毎に取得された補正値により作成され、
    前記測定装置のハードウェア構成が切り替わる周波数を特殊ポイントとし、前記特殊ポイントより1つ低いポイントと2つ低いポイントとの補正値の傾きと、前記特殊ポイントと前記特殊ポイントより1つ高いポイントとの補正値の傾きと、を平均した傾きを、前記特殊ポイントより1つ低いポイントと前記特殊ポイントとの間の補正値の傾きとする測定装置。
  2. 予め定められた周波数帯域の周波数の信号を発生する複数の発振器(12a、12b、12c)を備え、前記複数の発振器を切り替えて周波数毎のレベルを測定し、
    前記発振器が切り替わる周波数を前記特殊ポイントとする請求項1に記載の測定装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005003623A (ja) 2003-06-16 2005-01-06 Anritsu Corp 信号解析装置
JP2008224599A (ja) 2007-03-15 2008-09-25 Japan Radio Co Ltd 信号測定装置
JP2011080927A (ja) 2009-10-09 2011-04-21 Anritsu Corp スペクトラムアナライザ
JP5186474B2 (ja) 2009-12-17 2013-04-17 アンリツ株式会社 測定装置及び周波数切替方法
JP2020094931A (ja) 2018-12-13 2020-06-18 アンリツ株式会社 周波数特性補正装置及び周波数特性補正方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05312864A (ja) * 1992-05-06 1993-11-26 Advantest Corp 周波数−振幅特性測定方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005003623A (ja) 2003-06-16 2005-01-06 Anritsu Corp 信号解析装置
JP2008224599A (ja) 2007-03-15 2008-09-25 Japan Radio Co Ltd 信号測定装置
JP2011080927A (ja) 2009-10-09 2011-04-21 Anritsu Corp スペクトラムアナライザ
JP5186474B2 (ja) 2009-12-17 2013-04-17 アンリツ株式会社 測定装置及び周波数切替方法
JP2020094931A (ja) 2018-12-13 2020-06-18 アンリツ株式会社 周波数特性補正装置及び周波数特性補正方法

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