WO2010007927A1 - ソーラシミュレータ及び多接合型太陽電池の測定方法 - Google Patents

ソーラシミュレータ及び多接合型太陽電池の測定方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2010007927A1
WO2010007927A1 PCT/JP2009/062491 JP2009062491W WO2010007927A1 WO 2010007927 A1 WO2010007927 A1 WO 2010007927A1 JP 2009062491 W JP2009062491 W JP 2009062491W WO 2010007927 A1 WO2010007927 A1 WO 2010007927A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
source
light
flat
solar cell
flash
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/062491
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
光博 下斗米
善裕 篠原
Original Assignee
日清紡ホールディングス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日清紡ホールディングス株式会社 filed Critical 日清紡ホールディングス株式会社
Priority to US13/054,744 priority Critical patent/US8558536B2/en
Priority to CN200980136435.6A priority patent/CN102160189B/zh
Priority to EP09797852A priority patent/EP2315261A1/en
Publication of WO2010007927A1 publication Critical patent/WO2010007927A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/08Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21SNON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
    • F21S8/00Lighting devices intended for fixed installation
    • F21S8/006Solar simulators, e.g. for testing photovoltaic panels
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
    • H02S50/00Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
    • H02S50/10Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Definitions

  • the present invention relates to a solar battery for setting the current voltage (below, simply the characteristics) of the positive battery at high speeds and degrees, and a method for the determination.
  • Patents 2 and so on are known as methods of using an artificial method, using a stationary method and using a bright light.
  • the method of using can be several tens of minutes from the start of the lap until the illuminance stabilizes. In addition, it is necessary to maintain the light in order to stabilize the illuminance. In addition, since it is always exposed to light, optical components (lasers, optical filters) are transformed. There are many subjects such as.
  • Xeno-Lap is used for the pseudo-sunlight that generates the La light, but it uses a single flash method that uses a comparatively round of light emission and a large number of times of the light between the light emission. There is a fixed method using short flash.
  • the standard method of emitting multiple times of light is to slash so that it can be emitted at intervals because the lamp is small.
  • the interval between the light emission is short, the temperature of the lamp section is changed, so that the picture quality is easily stabilized.
  • the positive battery will increase, and the temperature will increase.
  • this wave of light slack is in the form of a mountain with a flat surface (the width of the base of the mountain, sec). Therefore, the data of (, solar cell current and voltage) cannot be collected in a single flashlight.
  • the output of the solar cell may be lowered because the response of the solar cell cannot follow the illuminance.
  • it is necessary to make a difference between 6 and 1 and the measurement time is 2 to 4 degrees.
  • Patent 3 proposes a method of obtaining 1 V power while controlling the load of the solar cell by emitting the flat light that flattens and irradiating the solar cell.
  • the spectrum of sunlight is widely distributed from the outside line to the infrared rays.
  • a positive battery in which a plurality of batteries are connected in series is known.
  • the upper layer (top) and lower layer (bottom) are connected in series with electricity.
  • the top and bottom layers have different spectral values.
  • the top layer is sensitive to short wavelengths and the bottom layer is sensitive to long wavelengths. If the spectrum becomes strong at long wavelengths, the bottom layer will generate electricity, but it will be connected to electricity, resulting in top layer power generation. In this way, the positive battery has the characteristic that the amount of power generation varies depending on the scut.
  • Such a positive battery has the following problems when it is inspected with light from a xenolap-only source described in 3 above.
  • the xenolap spectrum has many strong lines on the long wavelength side.
  • the optical line is used with the bright line spectrum attenuated.
  • If the bottom layer is high in the vicinity of 8 to 900, the output will change depending on this line. Hui has a variation in characteristics every time it is manufactured. Therefore, the line height is different. When the sensitivity is on the bottom layer of the positive battery, the results are different.
  • the patent proposes a solar lamp equipped with Gelamp Xenolup 2.
  • the light of the xenolap of the gesylap is passed through each of the scientific i, irradiated with the wavelength light with the xenolap, and irradiated with the long light with the gel, It is possible to measure the performance of a solar cell with reduced reverberation.
  • the gel is made to emit light so that the light wave becomes flat for several seconds, and at the same time, the xeno lamp is emitted several tens of times at the shot. Therefore, since the gel is heated by the time emission of the gel, the gel xenolap is made to emit light after a stop time of 5 to 0 seconds for the next light emission. It was necessary to repeat this cycle 4-5 times. For this reason, there was a problem that the output qualification was 60 to 60 with only constant time.
  • the light does not turn on immediately after the light command is output, and there is a good quality until that time. Therefore, increasing the number of gels will cause the lighting timing to vary.
  • the purpose of this study is to provide a solar battery that can measure the characteristics of a positive battery in a short time, and a method for determining a positive battery using this.
  • the clear solar has a wavelength range different from that of the second source, and measures the intensity of the flash light from the second source. From the two sources, the light source is controlled to become flat.
  • the apparatus is characterized in that the light source of the second source is flat while the light source of the flash is flat while the light source of the flash is flat.
  • the apparatus is configured to repeat the flash light obtained by superimposing the above-mentioned la and the above-mentioned 2 flashes a plurality of times, or to irradiate the positive cell that becomes an elephant after passing through the predetermined length of the above-mentioned flash light. Illuminates the positive cell that passes through a predetermined length of light 2
  • the device is configured to have a geometric characteristic, and the device can be configured to load the positive battery by a load path, or the device 2 has a device, and the flow of the two flashes is flat.
  • the device can be configured to have a feed-forward control, or the device can be configured to have a dock-controlled B.
  • the clear positive battery is controlled by emitting light from a source and measuring the intensity with the illuminance and flattening the flash from the source. While the light source of the second source is flat, the source of the second source is flat, and the source of the light from the source is more than the amount of light emitted from the source. And irradiating the positive cell with the cover, and measuring the current and voltage output from the solar cell by controlling the load of the positive cell while emitting light of the lash light from the source of 2 or more. It is characterized by having.
  • the source emits the light several times, and each time, only the light from the two sources is emitted, or the light from the two sources passes through the speci fi And a process of passing a specific light through the second scientific field and controlling the load of the positive cell to output from the solar cell.
  • the measurement at 2 or more is a process of measuring the current and voltage output from the solar cell by loading the solar cell at 2 or more, or the second and second steps described above.
  • the solar cell is irradiated with a flash from the source of the light source, and the load is controlled to obtain a value for the positive voltage of the solar cell.
  • the two sources are flat, and the luminescence of the luminescence is emitted more than once from the above-mentioned source. It is configured to feed forward so that the second flash light is flattened, or to be further controlled so that the second flash light is flattened. can do.
  • the positive battery is determined as follows. It emits comparatively bright light from the source of light, and emits light from the flat part of the light so that 2 is overlapped with the second part. The bright light of 2 has a flat top. Then, while the flashes with the wavelength of the length of the light are emitted at the same time, the light intensity of the overlap of the two is constant.
  • the solar cell Can be set in a short time by measuring. By changing the load applied to the solar cell by the load path of the positive cell and measuring the change in the current and voltage of the solar cell according to the change in the load, it can be obtained as a 1 V cover. If the response of the positive battery is slow, lengthen the flatness of the brightness of 2; if the response is early, shorten it.
  • the intensity of the second light is determined by passing the second light from the second source through the second, and the second light from the second source.
  • the wavelength can be limited.
  • a preliminary measurement Prior to measuring the sexuality of a positive battery, a preliminary measurement can be made to efficiently determine the approximate sexuality.
  • FIG. 6 is a plan view showing the formation of a clear sorter.
  • Fig. 2 is a schematic diagram of a clear sorter.
  • 3 is a wave of flashing light caused by a xenolap.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of a path using a plurality of capacitors C.
  • Figure 5 is a block diagram of a xenolap road.
  • 6 is a diagram showing the value of 5 traits ().
  • Figure 7 shows an example of a bright light with a flattened gel.
  • Fig. 8 is a diagram showing a state in which the top of the flash of the gel is flat and the xenon lamp emits light.
  • Fig. 9 is a diagram for explaining a setting method by emitting a flash light of a xeno lamp a plurality of times during the flash light of the gel.
  • Fig. 2 is a plan view showing the formation of a clear sorter.
  • the bright sorter has a partition 2 that divides this part into two. Then, the inside of the hum is optically independent by the partition 2 and partitioned into two chambers whose upper surface is open.
  • the second chamber is provided with a gel 3 as the second, and the other chamber is provided with a xeno lamp 4 as the second.
  • the lamp 3 is an incandescent bulb in which a small amount of gas (•••) is enclosed in a glass together with a gas such as nitrogen.
  • the xeno lamp 4 is a lamp having an electric tube filled with xeno gas. In this xenolap, the electricity stored in the electric appliance is suddenly caused to flow through the windings in the lamp by means of a signal to cause the xenogas to emit light intermittently and obtain flash light.
  • illuminance 2 2 there is an illuminance of 2 2 in the part of the system, where illuminance 2 measures the degree of lap 3 and illuminance 2 measures the xenon lap of 4 degrees. Note that the illuminance 2 cannot receive the light from the xeno lamp 4, and the illuminance 2 cannot receive the garage light.
  • the gen lamp since the gen lamp is stable, only the center upper part is provided, and only the gen lamp controls the degree of rupture and when xenon wraps. It is also possible to configure to control the degree of xenolapse.
  • the flash of Gelamp 3 that is fluttered as described above has the following five.
  • the wavelength portion is cut and only the long band is passed.
  • the illuminance 2a As illustrated in the example of illumination of the flash of the gel 3 that has passed through the optical field 5, it is detected by the illuminance 2a provided at a position where the light of the gel 3 is received.
  • the positive cell 2 is placed as an object to be measured at a position that can receive both the light that has passed 5 and the light that has passed the scientific 6 of xenolap 4 and 2.
  • Fig. 2 is a book diagram of the Ming Solata.
  • the current and pressure output from the solar cell 20 are made variable. Therefore, 22 of load 22 is connected to the element of positive battery 20.
  • 22 is a DC power source and 22 is a Yat resistance. 22 Even if the DC power supply 22 is replaced with a polar, it can be implemented.
  • the data is collected by the data in the bright solar 0.
  • a saw 23 having a data board 2 3a and an analog card 23 is used.
  • This Soviet 23 is a zero solitaire.
  • the data board 24 converts the analog signal received from each part into a signal that can be processed by the data board 23.
  • Reference numeral 25 denotes an electron path connected to give the data from the son 23 to the electron 22.
  • the So 23 controls the lamp type of each of the lamps 3 and 4 in accordance with the programmed contents.
  • the So 23 also serves as a gen lamp 3 as well as a zero solitaire. 2 detects the flashing illuminance of the lamp 3 that has passed through the scientific 5, and inputs the result of the detection to the source 23 via the data board 24.
  • the son 23 stores data relating to the voltage and illuminance required for the gen lamp 3. Based on this data The voltage output from the power source 3a is controlled in time via the analog board 23b so that the brightness of the loop 3 becomes flat, and the illuminance is kept constant.
  • a DC power supply is connected to, and the voltage is changed by the power supply to become a lamp 3.
  • the So 23 lights up the XenoLap 4 while the Illumination of the Flap 3 Flaps keeps the illuminance constant. Line.
  • the xenolap 4 is connected to the x 4 using the number of IDAS C as exemplified in 4.
  • the xeno lamp 4 can illuminate the xeno lamp 4 by controlling the flow rate so as to be on the sec.
  • FIG. 5 6 is a diagram for explaining another effect of flattening the flare caused by the xenolap 4.
  • FIG. 5 is a xenolap road map
  • 6 is a map of 5 tracks.
  • the xenolap 4 replaces the xenoid 4 in 2 and the power supply and the 4th, and is added with a So 23 with an illuminance of 2.
  • the xenolap 4 is provided with an illuminance 2, a washing 3, a voltage power supply 33, and an electric 3 trailer 34.
  • the xenolamp 4 is connected to the g32, and the xenolamp 4 35 is connected to the 32.
  • the xenon lamp 4 is connected to the pressure power source 3 3, and the xenon lamp 4 is connected to the pressure power source 33 via the power switching 3.
  • the switch 30 is controlled by the trailer 34, and the roller 34 is controlled by the saw 23.
  • G 32 includes the truss and outputs a pressure signal to 35 wound around the xeno lamp 4. This 32 is issued by So 23 and others.
  • the electric appliance 3 includes a sensor 3 and is driven by a voltage source 3.
  • the electric appliance 3 applies a voltage to the xenolap 4 and discharges current when the xenolap 4 is discharged.
  • the voltage power source 33 stores power in the capacitor 3 under the control of the socket 23.
  • the electric device 3 includes the device 3 connected and released by the switch, and the amount can be switched. Desa 3 consists of multiple desa connected in parallel.
  • the trap 3 controls the amount of current that flows from the electrical device 3 and flows through the xenolap A by switching the switching 3 provided in the xenon wrap ().
  • This trailer 34 can be constituted by, for example, a DSP digital signal processor. The physical function of the controller 34 will be explained in 6.
  • the word switching 3 is composed of, for example, a G-gated bipolar transistor). Switching 3 is a transistor power
  • Tora 3 has an arithmetic unit 4, a dock (B) 43, a fifo
  • the moving unit 49 is functionally provided. These are realized by reading and executing the program stored in () by the tra 34.
  • Arithmetic unit 4 generates and expresses a symbol representing the degree of the lash light and the current level detected by illuminance 2.
  • the flickering eye is determined by Son 2.
  • the illuminance 2 and the like are converted to a digital signal by the A converter (not) and input to the arithmetic unit 4.
  • B 4 generates a control signal for suppressing the illuminance based on the error signal input from the arithmetic unit 4 and outputs it to the 2 arithmetic unit 47. It is created so that the point of B 43 that becomes illuminance is a stable point and has a gain according to the illuminance. This 43 is determined by So 23.
  • the 45 indicates that the illuminance detected by illuminance 2 exceeds the illuminance of the fifoward (p), but is not limited to this. It is also possible to receive this signal from the 32 s 23 and use this timing signal as an in-forward control machine. 2
  • the arithmetic unit 47 adds the control signal output from B 43 and the control signal output from 45, and outputs the result to the drive unit 49.
  • the moving unit 49 switches the power switching 30 according to the control signal input from the 2 calculating unit 47. Specifically, the drive unit 49 controls the amount of current flowing through the xenon lap 4 by changing the duty ratio of the S-wave output to the waswitch 3 by the pulse (PW). 2 Corresponds to control and S-wave duty ratio input from arithmetic unit 47.
  • the power of the xenolap 4 is completed by keeping the duty ratio at the maximum value.
  • the “id-o-wa” control in this way, it is possible to maintain the xeno lamp 4 lamp at a fixed value for a certain time at the target level.
  • Such a fast forward response makes it easy to achieve the desired brightness.
  • 45 changes to the state when the illumination intensity of the flash light detected by the illumination intensity 2 exceeds (that is, before the maximum intensity is reached). Leave the duty ratio at ⁇ .
  • B 43 performs dock control so that the brightness is maintained at the target level while 45 gradually increases the duty ratio.
  • the Paso 23 which can stabilize the illuminance of the bright light at the target degree, measures the characteristics of the solar cell 2 while the flash light is held at the target degree. Note that the cost can be determined in consideration of the positive battery. In general, when the solar cell is fast,
  • the response is slow, it can be long. However, in the case of a slow solar cell, for example, it may be adjusted to 00 sec. If the amount of light is ⁇ 20 sec. It is possible to make it 5Sec. By making the cycle appropriate, it is possible to obtain a stable illuminance without overheating the degree of Xenolap 4.
  • the optical width is expanded by using a DC power supply that can output a large current and the Xenolap 4 is fluffed, it can still be used as a sorter for performing the light definition method. is there.
  • the soot can be flattened by the illuminance 2 (son 23).
  • the 7 is an example of a flash of light that is obtained by flattening the lamp 3.
  • the distance between light 2 is 5 to 0 Sec, and it is possible to avoid the effects of rising optical components and solar cells due to the illumination of the third light.
  • a reference positive cell is arranged at the position where the positive cell 2 as an elephant is arranged, and the illuminance 2 2 is arranged at a predetermined position.
  • the solar cell 2 is a top bottom.
  • Sc3 has data of maximum power ax as specified in each of GeraP 3 and Xenon Lap 4 (00W 2). Set this data in data box 23.
  • the relationship between the commonly known level and the solar cell Sc Pax is incorporated into the so 23.
  • the degree at illuminance 2 2 is calculated and stored from the results and data of the reference cell.
  • the lamp When the positive battery is set, the lamp is controlled so that the illuminance is 2 2, and the lamp is controlled so that the measured value is close to the reference positive battery calibration data.
  • the data board 23 compares the detected illuminance with the specified standard (OW 2) illuminance 2 2 in the calculation part of the SO 23. Then, based on the calculation result in the calculation unit, the analog command 23 that controls the pressure of Genrap 3 and Xenolap 4 is controlled, and the degree is shown in the lines shown in the lines of FIGS. , Adjust to enter.
  • the analog circuit 23 outputs a DC power source 22 that controls the power voltage of the four-element desatur C, and a control signal that controls the current voltage of the current power source 22 based on the calculation result described above. Signal.
  • the analog board 23 is also provided with a signal for controlling the voltage that 3a of the lamp lamp 3 applies to the lamp lamp 3.
  • the degree of gel 3 xenolap 4 can be determined in this way, the spectrum of light irradiated on the solar cell 2 from these two sources will be determined.
  • the range close to the constant value which is the same as the specified value, is the allowable range
  • the solar cell 20 is shifted to the constant value.
  • the positive battery 20 instead of the positive battery, set the positive battery 20 to be measured. Then, the lamp 3 is flashed, and the top of the lamp 3 is made flat so that the xenon lamp 4 emits light. 8 shows the state in which the top of the luminescence of the gel 3 is flat, and the xenon wrap 4 emits light. When the flat parts of 2 are overlapped, the solar cell is determined.
  • the current output from the solar cell 2 is adjusted by controlling with the power of 25.
  • the data system consisting mainly of the So 23 data board 24 is the illuminance data, the current of the positive battery 2 for 1 V, the voltage data, 0 to 2 0 can be collected.
  • the Loge lamp 3 as a light source is made to emit light, and then the xenon lamp 4 is made to emit light.
  • Gerap 3 xenolap 4 is emitted.
  • the output performance can be fixed by performing two lines of light emission when GENRAP 3 and Xenolap 4 are used.
  • the time required for this measurement method is 5. Therefore, since the gap between the gaps 3 is short, it can be suppressed on the optical component. In addition, since the rise of the positive battery is small, more accurate output performance can be set.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the setting method by emitting the xenolap 4 laser light a plurality of times during the flash of the flash light 3.
  • the length is 5 seconds for Gerap 3. If you turn on light 3 for a few seconds, it will take a long time to turn it on again.
  • the degree of optical components and solar cells tends to increase. Therefore, when this method is adopted, it is better to limit the number of times to 3 times.
  • 1 V is created from the data.
  • the number for controlling the illuminance, the number for short-circuiting, and the 1 V data setting, the deviation is not limited to the above.
  • a method of controlling the voltage can be used for the electrons 22.
  • the data there are cases where a signal during the course is recorded, and the current and voltage signal of the positive cell 20 corresponding to the time are recorded. By calculating this data, the grave can be calculated for each degree. In response to this, it is also possible to make a setting suitable for the response by calculating the number of racks and increasing or decreasing the number.
  • the data was obtained by using electrons 22 by flash light, but the present invention is not limited to this.
  • electronic data may not be charged during the flickering, and point data may be acquired by the flickering.
  • solar cells When measuring solar cells with a very slow answer, collect the data in a flat state where the power of the positive cells and the like is maintained with the electron 22 in a constant state. Increase the length of the battery according to the battery capacity. For example, the standard interval of 4 sec is set to 8-0 sec. Conversely, when measuring the response solar cell, the flat time can be set to sec.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Circuit Arrangements For Discharge Lamps (AREA)
  • Discharge-Lamp Control Circuits And Pulse- Feed Circuits (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

 多接合型太陽電池の特性を、短時間で測定することができるソーラシミュレータと、これを用いた多接合型太陽電池の測定方法とを提供する。 本発明の多接合型太陽電池の測定方法は、ハロゲンランプ13からフラッシュ光を発光させパルス波形の頂部が平坦になるように制御する工程と、ハロゲンランプのフラッシュ光のパルス波形の頂部が平坦な間に、キセノンランプ14からパルス波形の頂部が平坦で、ハロゲンランプからのフラッシュ光の平坦部分より短いパルスのフラッシュ光を1回以上発光させる工程と、ハロゲンランプとキセノンランプからのフラッシュ光を被測定体としての太陽電池20に照射し、キセノンランプからのフラッシュ光の発光中に、太陽電池の負荷を制御して太陽電池から出力される電流と電圧を1点又は2点以上で測定する測定工程と、を有する。

Description

細 書
ソ ラ タ び多 陽電池の 定方法 野
本 陽電池の 流電圧 ( 下、 単に特性とも ) を高速・ 度に 定するためのソ ラ タ 、 その 定方法に関する。
陽電池、 光 電力 子、 光セ サ などの 子の 、 光照射 、 前記 子の 流電圧 性を測定することによ て 定される。 陽電池の 定では、 横軸を電圧、 電流として、 収集したデ タをプ ットすることにより 出力 線を得て 。 この 般に、 カ ブ 。
そして、 その 定方法としては、 照射光として太陽光を利用する方法と、 を利用 する方法とがある。 こ ち人工 を利用する方法には、 定常 の を用 方法と ラッ 光の光 を用 方法が、 特許 , 2などにより知られて 。
を用 方法は、 ラ プ 始 ら、 照度が安定するまで数十分以上 るこ とが 。 また、 照度を安定させるため 灯を維持して 必要があるが、 そ すると を収 した の 上昇が著し なる。 また、 の 、 常時、 光に され ることになるため、 光学部品 ( ラ 、 光学フイ タ ) が 化する原因となる。 等の多 の 題がある。
そこで、 定常 ではな 、 ラッ 光を発生させることによって、 大面 の 陽電池 流電圧 性を測定する方法が提案されて 。 ラ 光を発生させる疑似 陽光の にはキセノ ラ プが使用されるが、 発光 間の 較的 回の ラッ 光を使用す る単一フラッ 光による 定方法と、 発光 間の ラッ 光を多数回 用する ョ ト スフラッ 光による 定方法とがある。
し し、 単一 ラッ 光による場合は、 回の発光で太陽電池 荷を して1 V 線を得るために secを越える スを作る必要がある。このよ な ス 光をするために、 回の発光と次の発光と 間 休止時間を長 らなけれ ならず、 測定時間が る。 また、 スの 灯をさ るため、 ラ プ の 大き で、 ラ プ 命が短 なる。
ョ ト ス ラッ 光を複数回 射する 定方法は、 ラッシ させるため、 ランプ の 小さ こと ら、 隔で発光させることができる。 また、 発光 間が短 ため、 ランプ 部の 、 温度) が変化しに のでピ ク 度が安定し やす なる。 しての 陽電池が、 する スが ので、 度 も上昇しに なる。 し しながら、 この ョ ト ス ラッ 光の波 、 に平坦 を持たな 山な り (山のすそ野の幅で、 sec) の 状である。 そ ため、 回のフラッ 灯にお ては、 ( 、 太陽電池の 流と電圧) のデ タし 集できな 。 さらに、 応答 の 太陽電池を測定すると、 照度 に太陽電池の 答が追従しきれな ため、 出力 が低 定される場合がある。また 定には、 6 ~ ラッ する必要があり、 測定時間は2 ~4 度 る。
そこで、 特許 3では、 が平坦になる ス フラッ 光を発光させて太陽 電池に照射し、 太陽電池の 荷を制御しながら 1 Vカ を得る方法を提案して る。 ところで、 太陽光のスペク ト は 外線 ら赤外線まで幅広 分布して るが、 P 合 が だけの 陽電池にお ては、上記の ての 長の光を発電に利用することはでき な 。 そ ため、 複数の 合を直列に接続した 陽電池が知られて る。
にすることで、 広 波長 域 ら発電するこ ができ、 発電効率を向上さ ることがで きる。
の 陽電池は、 上層 (トップ ) 下層 (ボトム ) が電気 には直列 続にな て る。 トップ ボトム層では、分光 度が異なる。 トップ層は、短波長に感度が強 、 ボトム層は長波長に感度が強 。 スペク ト が長波長に強 なるとボトム層 電 多 な るが、 電気 には直 続となって る 、 トップ層 発電量に れる。 このよ に 陽電池はス ク ト により発電量が変化する特性を有して る。
このよ な 陽電池では、 上記 ら3に記載したキセノ ラ プだけ の 源 らの光による検査では、次のよ な問題がある。キセノ ラ プ スペク ト は、 長波長側に強 線が多数 在する。 、 光学フイ で輝線スペク ト 分を減衰さ せて使用して る。 し し 820 、 9 0 近に非常に強 線が存在し、 光 学 イ のみで輝線を除 のは難し 。 仮に、 8 ~900 近 ボトム層の分 度が高 と、 この 線によ て出力 性が変化する。 フイ は、 製造上 毎に特性 に ラツキが生じる。 よ て にこの 線高さは異なる。 陽電池のボトム層 の上 に感度を有する場合、 機 定値が異なる結果となる。
この 題に対し、 特許 では、 ゲ ランプ キセノ ラ プ 2 の を備え たソ ラ タを提案して る。 ここでは、 ゲシラ プの キセノ ラ プ の光を、それぞれの 学的な イ を通過させ、キセノ ラ プで波長 光を照射し、 ゲ ラ プによ て 長 光を照射することで、 上記 線の 響を低減した状態で 多 陽電池の 性を測定することができる。
また の 力を変えることで、 長波長のスペク ト 短波長 ス ク ト の ランス を変えることが可能である。 これによ て微妙なスペク ト ランス 整をした出力 性 も可能である。
28862
2 2003 3 825 3 2007 8 8 4 9
4 3 5 3 5 2 報
発明の 明が解決しよ する課題
し し従来の 定方法では、 ゲ ラ プをそ 光波 の が数秒間平坦になる に発光させ、 同時にキセノ ランプを ョ ト スにて数十回発光さ て た。 したが て ゲ ラ プの 時間発光に りそ ィ が加熱されるので、 その 止 のため次 発光のために5~ 0 秒の 止時間ののち ゲ ラ プ キセノ ラ プを 発光させる。 この サイク を4~5 繰り返えす必要があった。 このため出力 性 定に時間が り 定のみで60~ ると 題があ た。
また ゲ ラ プの 、 その 光指令を出力した後すぐに点灯せずその まで 間が ラツク 質がある。 したが て ゲ ラ プの 数を増やすことは、 点灯 タイ グが ラツキ 定時間の 生じることになる。
このためこれまで ゲンランプ キセノンラ プを使用した 陽電池 2 ソ ラ タは、 研究開発 途のみに使用が限定されて た。
、 る問題 決を図 たも で、 陽電池の 性を、 短時間で測定 するこ ができるソ ラ タ 、 これを用 た 陽電池の 定方法とを提 供しょ とするものである。
を解決するための
上記の 題を解決するために 明 ソ ラ タは、 の 、 前記 とは異なる波長 域を持 第2の 、 前記 の 源 らのフラッ 光の強度を 測定する 、 の 定に 前記 の 源 らの ラッ 光の ス の が平坦になる に制御する 、 前記 2の 源 ら 、
ソ 光 強度を測定する 、 の 定に 前記 2の 源 ら のフラッ 光の ス の が平坦になる に制御する 、 測定 象 となる 陽電池に負荷を与える負荷 路と、 装置 体を制御する制御 とを有し、 前記 置が、 前記 の フラッ 光 ス の が平坦な間に、 前記 2の 源 ら ス の が平坦で、 前記 の 源 らのフラッ スのフ ラッ 光を 以上 光させることを特徴として る。
置が、 前記 の ラ 、 前記 2の フラッ とを 重ねたフラッシ 光を複数回繰り返す 成としたり、 前記 の フラッ 光 所定 の 長を通過さ て 象となる 陽電池に照射する 学的な ィ 、 前記 2の フラッ 光 所定 長を通過させて 象 なる 陽電池に照射する 2 学的なフィ 、 を有する構成とした 、 前記 置が、 負荷 路によ て、 前記 陽電池の 荷を できる構成としたり、 前記 2 が波 置を有し、 前記 2 フラッ 光の ス の が平坦になるよ に前記 置が、 フィ ドフオワ ド 御する を有する構成としたり、 前記 置が、 ィ ド ック 御する B を有する構成としたりすることができる。
記の 題を解決するために 明の 陽電池の 定方法は、 の 源 ら ラッ 光を発光さ てその 度を照度 で測定し、 前記 の 源 らのフラッ 光 ス の が平坦になるよ に制御する 、 の ラッ 光の ス が平坦な間に、 2の 源 ら ス の が平坦で、 前記 源 ら フラッ 光の平 分より ス フラッ 光を 以上 光さ る工程と、 前記 2 源 らの ラッ 光を被 として 陽電池に照射し、 前記 2 の 源 らの ラッシ 光の発光中に、 前記 陽電池の 荷を制御して太陽電池 ら出力さ れる電流と電圧を 2 以上で測定する 程と、を有することを特徴として る。
源 らフラッ 光を複数回発光させ、 その 度、 前記 2 源 らの ラッ 光を だけ 光さ ることとしたり、 前記 の 源 らの ラッ 光を第 学的なフィ を通過さ て特定 を通過さ る 、 前記 2の 源 らの ラッ 光を第2の 学的なフィ を通過さ て特定の を通過さ る工程と、 を 有する構成としたり、 前記 陽電池の 荷を制御して太陽電池 ら出力される電流と電圧を
2 以上で測定する 程が、 太陽電池の 荷を して太陽電池 ら出力され る電流と電圧を2 以上で測定する工程である構成としたり、 前記 程に先だ て、 前 記 の と第2の 源 らのフラッ 光を太陽電池に照射し、 前記 荷を制御して前 記 陽電池の の を求める予備 程を有する構成としたり、 前記 の
ラッ 光を 発光さ 、 ラッ 光 ス が平坦になる間に、 2 源 ら ス が平坦で、 前記 の 源 ら フラッ 光の平 分よ り スの ラッ 光を複数回以上 光さ る構成としたり、 前記 2の フラ ッ 光の ス の が平坦になるよ に、 フィ ドフオワ ド 御する構成とした り、 前記 2の フラッ 光の ス が平坦になるよ に、 さらに ィ ド ック 御する構成としたりすることができる。
明の効
明のソ ラ タによれば、 以下 よ にして 陽電池の 定を行 。 の 源 ら な ス の 較的 フラッ 光を発光 、 2の が第 の な部分と重なるよ に、 、 の ラッ 光の平 分 より ラッ 光を発光する。 2の ラッ 光も頂部が平坦なものである。 そして、 波長の ラッシ 長の フラッ とが同時に発光して る間は、 重な た2 の ラッ 光 強度が一定にな て る。 こ 態 ときに、 太陽電池の を測定することで、 短時間に 定することができる。 陽電池の 、 負荷 路により 太陽電池に与える負荷を変化させ、 負荷の 化に応じて太陽電池の 流と電圧が変化する を測定することで1 Vカ ブとして められる。 陽電池の 答が遅 場合は、 2の ラッ 光の平 の さを長 し、 応答が早 場合は、 短 して 定する。
の 源 らの ラッ 光を、 の 学的な イ に通し、 2 源 らの ラッ 光を、 2の 学的な スフィ に通すことで、 と第2の フラ ッ 光 光を、 強度の 定した、 波長 分に限定することができる。
2の ラッ 光で、 点の負荷に てだけ 定してもよ 、 ラッ 光で負荷を することで、 多数点に て、 測定してもよ 。
陽電池の 性を測定する前に、 予備 な測定をして、 略の 性を んでお と 効率 的に 定することができる。
、 明のソ ラ タの 成を示す 面図である。
2は、 明のソ ラ タの ク図である。
3は、 キセノ ラ プによるフラッ 光の波 である。
4は、 複数 イ ンデンサCを使用した ス 路の 例を示す図 である。
5は、 キセノ ラ プの 路のブ ック図である。
6は、 5 ト ラ ( ) の を表す図である。
7は、 ゲ ラ プの を平坦にした ラッ 光の スの例である。
8は、 ゲ ラ プのフラッ 光の頂部が平坦なタイ グで、 キセノンラ プを発光させた状態を示す図である。
9は、 ゲ ラ プの 回の ラッシ 光の間に、 キセノ ランプのフラッシ 光を複数回発光して行 定方法を説明する図である。
0 ソ ラ タ
3 ゲ ラ プ の )
4 キセノ ラ プ ( 2の )
ス ( 2の の )
5 学的なフィ
6 2 学的なフィ タ
2 陽電池
2 ( の )
2 ( 2の ) 22
22
23 ソ ン 置、 第 )
3 電器
3 ンデ サ
3 ンデ サ
32
34 ント ラ ( 2 の )
43 B
45
明を実施するための 良の
下、 本 明の 施の 態を添 面を参照して説明する。
は、 明のソ ラ タの 成を示す 面図である。 に示すよ に、 明 ソ ラ タ は、 ム と、 この 部を2 に仕切る仕切 2を有して る。 そして、 仕切 2によ て、 フ ム 内を光学的に独立し、 上面 が開放された2 の室に仕切 て る。 2 の室の 方の室には、 の としての ゲ ラ プ 3を設け、 他方 室には 2の としてのキセノ ランプ 4が設けられ て る。
ンランプ 3は、 ガラス 内に窒素 ア などの ガスとともに微量の ゲ ( ・ ・ ・ ッ ) を封入した白熱電球である。
キセノ ランプ 4は、 キセノ ガスが封入された 電管を有するラ プである。 このキ セノ ラ プでは、 電器に蓄電した電気を 号によ て急激にラ プ内の巻線に流 すことによ てキセノ ガスを 間的に発光させ、 フラッ 光を得る。
は ゲ ラ プ 3又はキセノ ラ プ 4の 射光を な に照射するためのものである。
2の 方には、 透明なアクリ 9が 平に設けられ、 このアク 9 上には、 の 学的な イ 5と、 2の 学的なフイ 6が されて る。 ム の 、 透明なアク にな て る。 このアク
上に被 象である 陽電池2 を 、 測定する。
ム の 部には、 照度 2 2 があり、 照度 2 は ラ プ 3の 度を測定し、 照度 2 はキセノンラ プ 4 度を測定する。 なお、 照度 2 はキセノ ランプ 4の光を受 できな よ にな ており、 照度 2 は ゲ ラ プ 光を受 できな よ にな て る。
また ゲンランプの 安定的なので、 中央上部に だけ を設け、 ゲ ランプのみ ゲ ラ プの 度を制御 、 キセノンラ プ して る時は キセノ ラ プの 度を制御する構成 することも可能である。
またさらに照度 、 キセノ ランプの 度制御 用に 、 ゲ ランプの 度 制御 用に 、 両者 を受 しその 度を制御するために 、 このよ に合計3 用する構成とすることも可能である。
記の 様でフラッ される ゲ ランプ 3の ラッ 光は、 の 学的 な ィ 5を 過する。 の 学的なフィ 5では、 ゲンラ プ 3 元の ち、 波長の 部分をカット 、 長 域の だけを通過さ る。
の 学的な ィ 5を通過した ゲ ラ プ 3のフラッ 光の照 、 に例示したよ に、 ゲ ラ プ 3の光を受 能な位置に設けられた照度 2 aによ て検出される。
2の 学的な ィ 6を 過したキセノ ラ プ 4の ラッ 光の元の照 、 照度 2 によ て検出される。
明 ソ ラ タ では、 ゲ ラ プ 3 ら 学的なフィ
5を 過した光と、 キセノ ラ プ 4 ら 2の 学的な ィ 6を 過した光の 双方を受 能な位置に、 測定 象として 陽電池2 を配置して る。
2は 明 ソ ラ タ のブ ック図である。 明のソ ラシ タでは、 太陽電池20 ら出力される電流・ 圧を可変にする。 そのため 陽電池20 の 子に負荷 22の 22 を接続する。 なお、 電子 22 を備えた負 荷 22にお て、 22 は直流電源、 22 は ヤ ト 抗である。 22 直流電源22 を ポ ラ に置き換えても実施 能である。
記の 陽電池2 が出力する電流と電圧、 、 照度 2 2 ら検出さ れる 度 デ タは、 明のソ ラシ タ 0におけるデ タ ステムにより 収集する。 こ デ タ ステムとしては、 2に例示したよ に、 デ タ ボ ド2 3a アナ グ カボ ド23 を備えた ソ 23を使用して る。 こ ソ 23 は、 ソ ラ タ 0 体の とな て る。 デ タ ボ ド24は、 各部 ら受信したアナ グ 号をデ タ ボ ド23 で処理 能な 号に変換するもの である。 なお、 25は ソ ン23 らのデ タを電子 22 に付与するために接続さ れた電子 路である。
としての ソ 23は、 ゲ ラ プ 3 キセノ ラ プ 4の 灯のタ イ グ それぞれの スの 等を、 プ グラムされた内容にしたが て 制御する。
ソ 23は、 ソ ラシ タ 0 体の としての他に、 ゲンランプ 3の 置を兼ねて る。 2 は、 の 学的な ィ 5を通 過した ゲ ランプ 3のフラッ 光 照度を検出し、 その 果の 号をデ タ ボ ド24を経由して ソ 23に入力する。 ソ ン23には、 ゲンランプ 3 の 御に必要な電圧 照度の 係に て デ タが記憶されて る。 このデ タに基 、 ンラ プ 3の ス の が平坦になるよ に、 アナ グ カボ ド23 bを介して電源 3 aが出力する電圧を ア タイムで制御して、 照度を一定にする。
には直流電源 が接続され、 電源 によ て電圧が変えられて ゲ ランプ 3に される。
また、 ソ 23は、 ゲ ラ プ 3 フラッ 光が、 照度を一定に保って る 間に、 キセノ ラ プ 4を点灯し、 キセノ ラ プ 4 ら ラッ 光が 射されるよ にタイ グの 整を行 。
3は、 キセノ ラ プ 4による ラッ 光の波 である。 キセノ ラ プ 4 には、 キセノ ラ プ 4の として、 4に例示したよ な 数の イ デ サCを使用した ス 4 は、 ス ) が接続されて る。
キセノンラ プ 4には、 上述した ス が接続されて るので、 ス の を平坦にすることができる。ここで、 の ンデ サC イ の 、 照度 の が望まし 形になるよ に決定される。 これによ てキセノ ラ プ 4は、 ス の の を、 sec 上となるよ に制御 してキセノ ランプ 4を ラッ 光させるこ ができる。
5 6は、 キセノ ラ プ 4によるフラッ 光の ス の を平坦にす る別の実 を説明する図である。 5は、キセノ ラ プの 路の ック図で、 6は、 5 ト ラ ) の を表す図である。
5は、 2におけるキセノ ラ プ 4、 電源 、 ス 4 置き換わるも で、 これらに照度 2 しての ソ 23とを付 加して る。 5に示すよ に、 キセノ ラ プ 4には、 照度 2 、 ワ スイ ツチ グ 3 、 圧電源33、 電器3 ト ラ34が設けられて る。 キセノ ラ プ 4には、 ト 32が接続され、 この 32にキセノ ラ ンプ 4 35が接続されて る。 キセノンランプ 4の 方の には 圧電源3 3 方の 接続され、 キセノ ラ プ 4の 方の には、 ワ スイッチング 3 を介して 圧電源33の 方の 接続されて る。 ワ スイッチ グ 3 0は、 ト ラ34で制御され、 トロ ラ34は ソ 23で制御される。 ト 32は、 トラ スを含み、 キセノ ランプ 4に巻 れた 35に 圧 号を出力する。 この 32は、 ソ 23 らの 御によ て 号を出 する。
2 は、 キセノ ラ プ 4 ら せられた ラッ 光の照度を測定し、 検出 号を ント ラ34 出力する。
電器3 は デ サ3 を含み、 圧電源3 によ される。 この 電器3 はキセノ ラ プ 4に電圧を印 するとともに、 キセノ ラ プ 4が放電する際に電 流を放出する。 圧電源33は ソ 23からの 御を受けて蓄電器3 に蓄電をする。 また、 電器3 は、 スイッチにより デ サ3 接続 放される デ サ 3 を含み、 量を切り替え 能として る。 デ サ 3 は、 複数の デ サが並 に接続されたものである。
ト ラ3 は、 キセノンラ プ ( ) に設けられた ワ スイッ チ グ 3 をスイッチ グ 動することで、 電器3 ら放出されてキセノ ラ プ Aを流れる電流の量を制御する。 この ト ラ34は、 例えば、 DSP デジタ グナ プ セッサ) で構成することができる。 こ トロ ラ34の 体的な機能に ては、 6で説明する。
ワ スイッチング 3 は、例えば G ゲ ト イポ ラ トランジスタ) で構成される。 また、 スイッチング 3 は トランジスタ ワ
であ てもよ 。
また、 ワ スイッチ グ 3 並 に設げられた 36は、 ワ スイッチ グ 3 が 合でもキセノ ラ プ 4に一定量の 流が流れるよ にするために設 けられて る。
6により として ント ラ34 能を説明する。 ント ラ3 は、 算部4 、 ィ ド ック ( B ) 43、 フィ ドフォ
( ) 45、 2 算部47 動部49を機能的に有する。 これらの 、 ト ラ34が ( ) に 納されたプ グラムを読み出して実行す ることにより実現する。
算部4 は、 ラッシ 光の目 度と、 照度 2 が検出した現在 度と の を表す 号を生成して、 43 する。 フラッ 光の目 、 ソ ン2 により 定される。 なお、 照度 2 らの 、 A 換 器 ( せず) によりデジタ 号に変換されて、 算部4 に入力される。
B 4 は、 算部4 ら入力された誤差 号に基 き、 照度の を抑 制する制御 号を生成して、 2 算部47 出力する。この B 43の 、 照度 となる点を安定点とし、 照度の に応じたゲインを有するよ に作成 される。 この 43の 、 ソ 23によ 定される。
45は、 キセノ ラ プ ら られたプラッ 光の照度が を越え た場合に、 メモ ( せず) に 納された制御 タ に従 て、 制御 号を第2 算部 47 出力する。 この タ は、 ラッ 光が目標 度で一定時間 持されるよ に定められており、 ソ 23により ( ず) に 納される。
この 45は、 照度 2 が検出する 光の照度が を越えた 場合をフィ ド ォワ ド ( プ ) の 機として るが、 これに限らず、 例え ば、 ト 号が出力されたことを表すタイ グ 号を 32 ソ 23 ら受信するよ にして、 このタイ グ 号 信を ィ ドフォワ ド 御の 機とし てもよ 。 2 算部47は、 B 43 ら出力された制御 号と、 45 ら出力 された制御 号とを加算して駆動部49 出力する。
動部49は 2 算部47 ら入力される制御 号に応じて、 ワ スイッチング 30をスイッチ グ 動する。 体的には、 駆動部49は ス (PW ) により ワ スイッチ グ 3 に出力する ス波のデ ティ 比を変化さ ることでキセノ ンラ プ 4に流れる電流の量を制御する。 2 算部47 ら入力される制御 、 ス波のデ ティ 比に対応する。
そして、 デ ティ 比を最大値まで増加させた後は、 デ ティ 比を最大値のまま ことで、 キセノ ラ プ 4の 電を完 さ る。 45は、 このよ に ィ ド オワ ド 御を行 ことで、 キセノ ランプ 4 ラッ 光の ス の を目標の 度で一定時間に渡り 定値に 持することができる。 このよ なフィ ド オ ワ ド 応答 が早 こと ら、 ラッ 光を目標 度に 持することが容易である。 なお、 45は、 上述したよ に照度 2 が検出するフラッシ 光の照 度が を越えた時点で (すなわち、 最大 度に到達する前に) 態に移るが、 ラッ 光の照度が に到達するタイ グ でデ ティ 比を としたまま する。 B 43は、 45がデ ティ 比を漸増させる期間、 ラッ 光が 目標 度で 持されるよ に ィ ド ック 御を行 。 このよ な ィ ド ック 御に より、 ラッ 光の照度を目標 度で安定させることができる パソ 23は、 フラッ 光が目標 度で 持されて る間に、 太陽電池2 の 性を計測する。 なお、 ス は、 である 陽電池の に配慮して に決定す ることができる。 般に、 太陽電池の が速 場合、 図2に示した ス の
sec 度と短 することができ、応答 が遅 場合は、長 することになる。 し が遅 太陽電池 合には、一例として 00 sec 度となるよ に調整してもよ スの の さが ~20 secの 合、キセノ ラ プのみであれ フラッ サイク 2を、 0・ 5~ ・ 5Secにすることは可能である。 ラッ サイク を適切にすることでキセノ ラ プ 4の 度が過熱せずに安定した照度を得ることがで きる。
なお、 大電流を出力できる直流電源を用 て、 キセノ ラ プ 4をフラッ さ る方式で光 ス幅を拡張しても、 明の 定方法を実施するソ ラ タの として使用することは可能である。
方、 ゲ ラ プ 3は、 その 上、 短時間の 困難で、 0・ 5Secから数秒間 となる。 ただし、 上述したよ に、 照度 2 ( ソ ン23) と によ て、 スの を平坦にすることができる。
7は、 ゲ ランプ 3の を平坦にしたフラッ 光の スの例である。 の 分の は、 ・ 5Sec 度として る。 が0・ 5Sec 度の 、 フラ シ 光の間 2は5~ 0Secで、 ゲ ラ プ 3の 射光による光学部品、被 陽電池 の 上昇 響を受けな よ にすることができる。
次に、 明のソ ラ タで 陽電池の 定をする方法を説明する。 ま ず、 としての ゲ ラ プ 3と、 2の としてのキセノ ラ プ 4 度の 定をする。
度の 、 次のよ に行 。 象となる 陽電池2 が配置される 置に、 太陽 電池20に代えて基準となる 陽電池を配置し、 照度 2 2 を所定の 置に 配置する。 ここで、太陽電池2 陽電池は、 トップ ボトム である。 の 陽電池には、 ゲ ラ プ 3 キセノンラ プ 4のそれぞれに て 規定 ( 00W 2) で Sc3は最大電力 axの デ タを有して る。 この デ タを、 デ タ ボ ド23 に設定してお 。
また、 ゲ ラ プ 3 キセノ ラ プ 4のそれぞれに て、 一般的に知られて る 度と太陽電池 Sc P axの 関関係を ソ 23の トウ アに組み込んで お 。 述した基準 陽電池を測定した段階にお て、 基準 陽電池の 果と デ タとから、 照度 2 2 での 度を相関関係式 ら演算して記憶さ る。
陽電池の 定にお て、 照度 2 2 での 度を、 こ 度とな るよ にランプ 圧が制御されて 定が実行されるので、 基準 陽電池の 校正デ タに近 デ タで測定される。 来、 試行 繰り返して 度設定をして たのが、 非 常に少な 回数で 度設定が可能となる。
実施 として、 デ タ ボ ド23 は、 定して る規定 ( OW 2) 照度 2 2 に検出された照度を ソ 23の 算部で 較する。 そして、 演算部での 算結果に基 き、 である ゲンラ プ 3 キセノ ラ プ 4 の 圧を制御するアナ グ カボ ド23 力指令を制御して 度を図3、 5の 線に示す 囲内 こでは、 入るよ に調整する。 なお、 アナ グ カボ ド23 は、 4の ス の デ サC の 電電圧を制御する直流 電源22 と、 前記の 度の 算結果 ら、 この 流電源22 の 電電圧を制御する制 御 号を出力する信号 を具備して る。 また、 アナ グ カボ ド23 は、 ゲ ランプ 3の 3 aが ゲ ランプ 3に する電圧を制御する信号 も備えて る。
このよ にして ゲ ラ プ 3 キセノ ラ プ 4の 度の 定ができると、 これ ら2 の 源 ら太陽電池2 に照射される光のスペク ト 決定されることになる。
度が規定値と同じ 定値に近けれ の 囲を許容範囲と ) 、 次に、 太陽 電池20 定に移行する。
陽電池に代えて、 測定 象となる 陽電池20をセットする。 そして、 ゲ ラ ンプ 3をフラッ 灯し、 ゲ ランプ 3 ラッ 光の頂部が平坦なタイ グで、 キセノンラ プ 4を発光させる。 8は、 ゲ ラ プ 3の ラッ 光の頂部が平坦なタイ グで、 キセノンラ プ 4を発光させた状態を示す。 2 のフラッ 光 平 な部分が重な たとき、 太陽電 池の 定をすることになる。
8 よ なフラッ 光を ラッ して 定を行 が、 照度 2 2 による検出 度が規定値に対して、 許容範囲 ら外れて高 ったり、 低 たりする場合 は、 ラッ 毎にラ プ 圧を増減して、 照度が規定値 ( 容範囲を含む) になるよ に 自動的に制御される。 明の では、 許容範囲として 、 5 目安として る。 、 ラ プ 圧に関して 度がどのよ に変化する の 性を把握してお ことで、 ランプ 圧によ て 度を調整することができる。
度が規定値に近 場合、 太陽電池20に接続されて る電子 22 をその
25 らの 力によ て制御して太陽電池2 ら出力される電流を加減する。
25は、 電子 22 を、 連続的に加減することで する 、 ステップ状に変化させる。 ソ 23 デ タ ボ ド24を主体とするデ タ ステムは、 ゲ ラ プ 3 キセノ ラ プ 4の 回 ツ 光の間で、 照度 デ タ、 、 1 V のための 陽電池2 の 流、 電圧 デ タを 0~2 0 集することができる。
定 れにつ ては後述する) として、 の としての ロゲ ランプ 3を 発光させ、 続 てキセノンランプ 4を発光さ る。 その 、 本 定として、 同様に ゲ ラ プ 3 キセノ ラ プ 4を発光さ る。 定と本 定にて ゲンラ プ 3 キセノ ラ プ 4の 時発光を2 行 ことで出力 性の 定が可能である。 このよ な測定方法によ 定時間は、 5 となる。 したが て ゲ ラ プ 3の 間 が短 ので、 光学部品 上 抑えることができる。 また 陽電池の 上昇が 少な てすむ で、 より 確な出力 性の 定が可能となる。
なお、 明では、測定に先だ て、予備 な測定を行 ことが望まし 。 定では、 定と同じ ラッ 光を行 。 この ラッ 光では、 度を早 して、 電子 22 を広範囲に変化させ、 測定 象となる 陽電池2 の Sc 開放電圧 cの を求める。 この を求めることで、 電子 22 の 囲を特定するこ とができ、 定の際の掃 度を遅 することが可能となる。 この な ラッ
、 複数フラッシ で行 ても良 。 フラッ で行 ことにより、 より の 度を上げることが可能となり、 次 本 定にお て、 より である 陽電池の 性に 適した負荷の が可能となる。
こ して Sc 開放電圧Vocの が求められたら、 1 V 成のため ラッ 光を行 。 フラッ 電子 荷を 、 1 V 0~ 2 ホイ トのデ タを得る。 そして、 スがそ における上部 の に 近 な た時点で、 デ タ 集を中止し、 ゲンラ プ 3 キセノ ランプ 4を 端 止させる。 その間に、 次の フラッ 灯のために、 ランプ 圧の 御を行 。 3
めた 止時間が経過した後、 次の ラッ 灯を行 、 上述した 順 同じよ にして 度の をし、 次 出 性のデ タの 集を行 、 これを繰り返す。 ラッ 光で の 定点は、一部がオ ラップするよ にすることで、接続を容易にすることができる。
明の では、2回のフラッ 光により 4 ホイ トでのデ タ ができ、 V 得ることができる。 したが て、 予備 定に2回の ラッ 光を使用し たとしても、 合計で4回 ラッ 光で測定が完 する。
明 定方法によれば、 ゲ ラ プ 3を0・ 5 する場合、 5~ 秒 イ タ で点灯しても、ランプ 度の 昇の 響を受けな ことが分 た。そ ため、 予備 定を含めて4回の ラッ 光を行っても、 2 ~40秒のサイク で測定できる ことになる。 、 である 陽電池の 答に応じて、 ラッ 数を数回ま で増やして 定することも可能である。
9は、 ゲ ラ プ 3の 回 フラッ 光の間に、 キセノ ラ プ 4の ラ 光を複数回発光して行 定方法を説明する図である。 こ 合、 ゲ ラ プ 3 の ・ 5 秒 とする。 ゲ ラ プ 3を数秒 灯した場合、 次に点 灯するまでに長 時間を要する。 また光学部品や 陽電池の 度が上昇しやす 。 し たが て、 この 法を採用する場合は、 ゲ ラ プ 3の 回に限定した方がよ 上によ て、 である 陽電池2 定に必要な点数分のデ タ 集を行 、 収集したデ タ ら 1 V 作成される。 明にお て、 照度の 御 ための 数、 短絡 出のための 数、 1 Vデ タ 定 ため 、 ずれも上記 に限られるものではな 。
また、 実施 にお て、 電子 22 の 御にお ては、 電流を制御する他に、 電圧を 制御する方式を用 ることもできる。 また、 デ タ 程にお て、 経過 間における 号を 録し、 前記 間に対応する 陽電池20の 流、 電圧 号を記録することが ある。 この デ タの 算に墓づ て 度に対する れを算出するこ とができる。 れに応じて、 度、 ラッ 数を演算して増減さ るこ とで、 応答 れに適した 定を行 ことも可能である。
なお、 上記 では、 フラッ 光で電子 22 を して デ タを取 得したが、 これに限定されるものではな 。 たとえば、 フラッ 光の間では電子 荷 をせず、 フラッ 光で 点 デ タを取得するよ にしてもよ 。 答が非常に 遅 太陽電池を測定する場合は、 フラッ 、 電子 22 の 態を一定に 持 して、 陽電池 らの 力が 和する ス にお て、デ タを収集する。 陽電池の に応じて ス の の さを長 する。 たとえば、 標準で 4 secであった の 間を8~ 0 secにする。 逆に、 応答の 太陽電池を測定す る場合は、 平坦 の 間を secにすることもできる。
常の ョ ト ス ラッ 光では、 ス に平坦 がな ので、 応答の 太 電池は 定できな たが、 明では、 ス に平坦 があるので、 応答の 太 陽電池でも正確な測定が可能である。
対に、 回 ツ 光 平 間を、 たとえ 、 0 sec 上に長 して、 回 ラッ 光で40 ホイ ト 上のデ タを取得することも可能である。

Claims

求 の
・ の 、 前記 とは異なる波長 域を持 第2の 前記
源 ら フラッ 光の強度を測定する 、 定によ て 前記 源 らの ラッ 光の ス の が平坦になるよ に制御する 、 前記 2の 源 らのフラッ 光 強度を測定する 、 の 定によ て前記 2の 源 らの ラッ 光の ス の が平 坦になるよ に制御する 、 測定 象となる 陽電池に負荷を与える負荷 路と、 装置 体を制御する制御 を有し、 前記 置が、 前記 の ラッ 光の ス の が平坦な間に、 前記 2 源 ら ス の が 平坦で の 源 ら フラッ より ス フラッシ 光を 以上 光させることを特徴とするソ ラ タ。
・ 置が、 前記 の フラッ 、 前記 2の フラッ とを重ねた ラッ 光を複数回繰り返すことを特徴とするソ ラ タ。 ・ フラ 光の所定の 長を通過さ て 象 なる 陽電池に 照射する 学的な ィ 、 前記 2の フラッ 光の所定の 長を通 過さ て 象となる 陽電池に照射する 2の 学的な ィ 、 を有すること を特徴とする 又は2に記載のソ ラ タ。
・ 置が、 前記 路によ て、 前記 陽電池の 荷を できることを特 徴とする ら 3 ずれ に記載のソ ラ タ。
・ 2 が波 置を有し、 前記 2 ラッ 光 ス の が平坦になるよ に前記 置が、 フィ ド オワ ド 御する
を有することを特徴とする から4の ずれ に記載のソ ラ タ。 ・ 置が、 フィ ド ック 御する B を有することを特徴とする
5に記載のソ ラ タ。
・ の 源 ら ラッ 光を発光させてそ 度を照度 で測定し、 前記 の 源 ら フラッ 光の ス の が平坦になるよ に制御する工程と、 の ラッ 光 ス の が平坦な間に、 2の 源 ら ス の が平坦で、 前記 の 源 らのフラッ 光の平 分より スの 、
ソ 光を 以上 光させる工程と、 前記 2の 源 らのフラッ 光を被 としての 陽電池に照射し、 前記 2の 源 らの ラッ 光の発光中に、 前 記 陽電池 荷を制御して太陽電池 ら出力される電流と電圧を 2 以上で 測定する 程と、 を有するこ を特徴とする 陽電池 定方法。
・ 源 らフラッ 光を複数回発光さ 、 その 度、 前記 2の 源から の ラッ 光を だけ 光させることを特徴とする 7に記載の 陽 電池の 定方法。 ・ の 源 ら フラッ 光を第 学的なフィ を通過させて特定の を通過させる 、 前記 2の 源 らの ラッ 光を第2の 学的な ィ を通過さ て特定の を通過させる工程と、 を有することを特徴とする 7 又は8に記載の 陽電池 定方法。
・ 陽電池の 荷を制御して太陽電池 ら出力 れる電流と電圧を 2 以 上で測定する 程が、 太陽電池の 荷を して太陽電池 ら出力される電流と電 圧を2 以上で測定する工程であることを特徴とする 7 ら9 ずれ に記載 の 陽電池 定方法。
・ 程に先だ て、 前記 の と第2の 源 らのフラッ 光を太陽電 池に照射し、 前記 荷を制御して前記 陽電池の を求める予備 程 を有することを特徴とする 7 ら 0の ずれ に記載の 陽電池の 定方法。
2・ の フラッ 光を 発光させ、 フラッ 光の ス
が平坦になる間に、 2の 源 ら ス の が平坦で、 前記 源 らの ラッシ 光の平 分より スの ラッ 光を複数回以上 光させることを 特徴 する 7に記載の 陽電池の 定方法。
3・ 2 フラッ 光 ス の が平坦になるよ に、 イ ド フ ド 御することを特徴とする 7 ら 2の ずれ に記載 陽 電池の 定方法。
4・ 2 ラッ 光の ス の が平坦になるよ に、 さらに イ ド ック 御することを特徴とする 3に記載 陽電池の 定方法
PCT/JP2009/062491 2008-07-18 2009-07-02 ソーラシミュレータ及び多接合型太陽電池の測定方法 WO2010007927A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/054,744 US8558536B2 (en) 2008-07-18 2009-07-02 Solar simulator and a measuring method of a multi-junction photovoltaic devices
CN200980136435.6A CN102160189B (zh) 2008-07-18 2009-07-02 太阳光模拟器及多接面太阳能电池的测定方法
EP09797852A EP2315261A1 (en) 2008-07-18 2009-07-02 Solar simulator and method of measuring multijunction solar cell

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-186780 2008-07-18
JP2008186780A JP2010027826A (ja) 2008-07-18 2008-07-18 ソーラシミュレータ及び多接合型太陽電池の測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2010007927A1 true WO2010007927A1 (ja) 2010-01-21

Family

ID=41550330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2009/062491 WO2010007927A1 (ja) 2008-07-18 2009-07-02 ソーラシミュレータ及び多接合型太陽電池の測定方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8558536B2 (ja)
EP (1) EP2315261A1 (ja)
JP (3) JP2010027826A (ja)
KR (1) KR20110052631A (ja)
CN (1) CN102160189B (ja)
TW (1) TWI452943B (ja)
WO (1) WO2010007927A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH701758A1 (fr) * 2009-09-09 2011-03-15 Pasan Sa Simulateur solaire avec ajustement electrique du spectre pour la verification de cellules photovoltaïques.
JP2011258750A (ja) * 2010-06-09 2011-12-22 Konica Minolta Sensing Inc 太陽電池測定用基準セル保護装置ならびにそれを用いる基準セル装置および光源システム

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5666557B2 (ja) * 2010-03-16 2015-02-12 山下電装株式会社 ソーラシミュレータ
JP5621328B2 (ja) * 2010-06-03 2014-11-12 岩崎電気株式会社 擬似太陽光照射装置
JP5355525B2 (ja) * 2010-10-08 2013-11-27 シャープ株式会社 擬似太陽光照射装置および太陽電池パネル用検査装置
JP5274528B2 (ja) * 2010-10-08 2013-08-28 シャープ株式会社 擬似太陽光照射装置および太陽電池パネル用検査装置
JP5743201B2 (ja) * 2011-05-27 2015-07-01 岩崎電気株式会社 キセノンランプ点灯装置、キセノンランプの点灯方法、及び擬似太陽光照射装置
TWI417559B (zh) * 2011-07-08 2013-12-01 Inventec Solar Energy Corp 太陽能電池的電性分析方法
JP5798004B2 (ja) * 2011-10-28 2015-10-21 シャープ株式会社 擬似太陽光照射装置および擬似太陽光照射装置における光源出力の調整方法
JP2013164354A (ja) * 2012-02-13 2013-08-22 Nisshinbo Mechatronics Inc ソーラシミュレータ
KR101359961B1 (ko) * 2012-05-02 2014-02-12 주식회사 썬앤라이트 태양광 시뮬레이터
CN103383343A (zh) * 2012-05-03 2013-11-06 上海建科检验有限公司 一种稳态太阳模拟器
TWI458998B (zh) * 2012-08-29 2014-11-01 Chroma Ate Inc 具有量測持續時間功能之功率計以及功率量測系統
JP2014085182A (ja) * 2012-10-22 2014-05-12 Yamashita Denso Kk ソーラシミュレータ
CN102928762B (zh) * 2012-11-23 2015-08-26 无锡市产品质量监督检验中心 光伏组件热斑试验电池挑选设备
JP6193008B2 (ja) * 2013-06-21 2017-09-06 株式会社東芝 予測システム、予測装置および予測方法
FR3013174B1 (fr) 2013-11-14 2015-11-20 Soitec Solar Gmbh Dispositif de test d'un module photovoltaique a concentration
FR3013173B1 (fr) * 2013-11-14 2017-05-12 Soitec Solar Gmbh Procede de test d'un module photovoltaique a concentration
TWI509191B (zh) * 2014-03-26 2015-11-21 All Real Technology Co Ltd Sun simulator
US20150357498A1 (en) * 2014-06-04 2015-12-10 Mh Solar Company Limited Voltage source generator and voltage source module
GB2531343A (en) * 2014-10-17 2016-04-20 Isis Innovation Method and apparatus for assessing photoresponsive elements
CN105738075A (zh) * 2014-12-08 2016-07-06 中国电子科技集团公司第十八研究所 一种多结太阳电池太阳模拟器均匀性测试装置
US20160181797A1 (en) * 2014-12-17 2016-06-23 The Boeing Company Solar array simulation using common power supplies
EP3104142A1 (fr) * 2015-06-10 2016-12-14 EM Microelectronic-Marin SA Dispositif de mesure d'intensité lumineuse dans un système comprenant une cellule photovoltaïque
JP6464939B2 (ja) * 2015-06-19 2019-02-06 コニカミノルタ株式会社 分光感度測定装置及び分光感度測定方法
US10128793B2 (en) * 2015-11-12 2018-11-13 The Boeing Company Compensation technique for spatial non-uniformities in solar simulator systems
KR101881225B1 (ko) * 2016-11-30 2018-07-24 주식회사 맥사이언스 플래시 솔라 시뮬레이터
US10720883B2 (en) 2017-04-24 2020-07-21 Angstrom Designs, Inc Apparatus and method for testing performance of multi-junction solar cells
CN109343370B (zh) * 2018-11-30 2021-10-01 北京宇航系统工程研究所 一种空间电源控制器动态环境仿真系统及方法
CN111237681B (zh) * 2020-02-25 2022-03-29 飞率有限公司 昼间型混合超精密人造太阳光模拟装置及模拟方法
CN112350610B (zh) * 2020-11-23 2021-08-24 核工业西南物理研究院 一种基于电容储能电源模块的长脉冲高压电源及控制方法
EP4019917A1 (en) * 2020-12-23 2022-06-29 OTT HydroMet B.V. Pyranometer and method of detecting a soiling on a dome in a pyranometer

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2886215B2 (ja) 1989-11-10 1999-04-26 株式会社和廣武 疑似太陽光照射装置
JP2002048704A (ja) * 2000-08-07 2002-02-15 Nisshinbo Ind Inc ソーラーシミュレータ
JP2003007633A (ja) * 2001-06-20 2003-01-10 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 熱処理装置
JP2003031825A (ja) 2001-07-13 2003-01-31 Nisshinbo Ind Inc 太陽電池測定用のソーラーシミュレート方法とこの方法を用いたソーラーシミュレータ
JP2006147755A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Kaneka Corp 多接合型光電変換素子の特性測定方法
JP2007088419A (ja) 2005-06-17 2007-04-05 Nisshinbo Ind Inc ソーラシミュレータによる測定方法
JP2008186780A (ja) 2007-01-31 2008-08-14 Mitsubishi Electric Corp 光源装置および該光源装置を備えた面状光源装置
JP2009062491A (ja) 2007-09-07 2009-03-26 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 高分子化合物、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4641227A (en) * 1984-11-29 1987-02-03 Wacom Co., Ltd. Solar simulator
FR2621161B1 (fr) 1987-09-29 1989-12-15 Kodak Pathe Preparation de couches minces a base d'oxyde de feriii pour l'enregistrement optique et/ou magnetique
JP3787266B2 (ja) * 2000-08-30 2006-06-21 ペンタックス株式会社 フラット発光制御装置
JP2005011958A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Canon Inc 光電変換素子の電流電圧特性の測定方法及び測定装置
JP5009569B2 (ja) * 2005-10-03 2012-08-22 日清紡ホールディングス株式会社 ソーラシミュレータとその運転方法
JP2007165376A (ja) * 2005-12-09 2007-06-28 Nisshinbo Ind Inc 太陽電池出力測定用ソーラシミュレータ
JP5184819B2 (ja) * 2007-05-31 2013-04-17 日清紡ホールディングス株式会社 ソーラシミュレータ

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2886215B2 (ja) 1989-11-10 1999-04-26 株式会社和廣武 疑似太陽光照射装置
JP2002048704A (ja) * 2000-08-07 2002-02-15 Nisshinbo Ind Inc ソーラーシミュレータ
JP3500352B2 (ja) 2000-08-07 2004-02-23 日清紡績株式会社 ソーラーシミュレータ
JP2003007633A (ja) * 2001-06-20 2003-01-10 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 熱処理装置
JP2003031825A (ja) 2001-07-13 2003-01-31 Nisshinbo Ind Inc 太陽電池測定用のソーラーシミュレート方法とこの方法を用いたソーラーシミュレータ
JP2006147755A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Kaneka Corp 多接合型光電変換素子の特性測定方法
JP2007088419A (ja) 2005-06-17 2007-04-05 Nisshinbo Ind Inc ソーラシミュレータによる測定方法
JP2008186780A (ja) 2007-01-31 2008-08-14 Mitsubishi Electric Corp 光源装置および該光源装置を備えた面状光源装置
JP2009062491A (ja) 2007-09-07 2009-03-26 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 高分子化合物、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH701758A1 (fr) * 2009-09-09 2011-03-15 Pasan Sa Simulateur solaire avec ajustement electrique du spectre pour la verification de cellules photovoltaïques.
JP2011258750A (ja) * 2010-06-09 2011-12-22 Konica Minolta Sensing Inc 太陽電池測定用基準セル保護装置ならびにそれを用いる基準セル装置および光源システム

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110052631A (ko) 2011-05-18
EP2315261A1 (en) 2011-04-27
JP2010027826A (ja) 2010-02-04
TW201014471A (en) 2010-04-01
JP2014016352A (ja) 2014-01-30
TWI452943B (zh) 2014-09-11
CN102160189B (zh) 2014-03-26
JP2013232421A (ja) 2013-11-14
US8558536B2 (en) 2013-10-15
CN102160189A (zh) 2011-08-17
US20110127992A1 (en) 2011-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2010007927A1 (ja) ソーラシミュレータ及び多接合型太陽電池の測定方法
JP5148073B2 (ja) ソーラシミュレータによる測定方法
JP4551057B2 (ja) 太陽電池をテストする装置
WO2007018829B1 (en) Measurement of current-voltage characteristic curves of solar cells and solar modules
JP5328041B2 (ja) ソーラシミュレータ及びソーラシミュレータによる測定方法
JP3500352B2 (ja) ソーラーシミュレータ
CN106664759A (zh) 用于流明维持和使用激光束的色彩偏移补偿的技术
JP2012221838A (ja) 太陽光シミュレータ
FI106408B (fi) Menetelmä ja laitteisto aurinkopaneelien virta-jännite ominaiskäyrän mittaamiseksi
JP2011049474A (ja) 太陽電池評価装置
JP3703410B2 (ja) 太陽電池測定用のソーラーシミュレート方法とこの方法を用いたソーラーシミュレータ
JP2008066431A (ja) 太陽電池出力特性の測定方法
JP5590352B2 (ja) ソーラシミュレータ
JP2011249390A (ja) 太陽電池出力特性の測定装置および測定方法
WO2014064998A1 (ja) ソーラシミュレータ
RU2388104C1 (ru) Импульсный имитатор солнечного излучения
JPS61134680A (ja) 光起電力半導体の電圧電流特性の測定方法
JPS62237338A (ja) 太陽電池の特性試験方法
Buso et al. Laboratory PV generator for MPPT dynamic response testing
JP2005317872A (ja) 擬似太陽光照射装置の制御装置
JPS61269801A (ja) 擬似太陽光照射装置
Pei Design of an LED-based solar simulator
JPH03154840A (ja) 疑似太陽光照射装置
JP2024511783A (ja) 光起電力デバイスの試験方法及び試験装置
JPS58190086A (ja) 半導体レ−ザの駆動方式

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200980136435.6

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 09797852

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13054744

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2009797852

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20117003499

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A