JPS61269801A - 擬似太陽光照射装置 - Google Patents

擬似太陽光照射装置

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JPS61269801A
JPS61269801A JP11054285A JP11054285A JPS61269801A JP S61269801 A JPS61269801 A JP S61269801A JP 11054285 A JP11054285 A JP 11054285A JP 11054285 A JP11054285 A JP 11054285A JP S61269801 A JPS61269801 A JP S61269801A
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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21SNON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
    • F21S8/00Lighting devices intended for fixed installation
    • F21S8/006Solar simulators, e.g. for testing photovoltaic panels

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  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (利用分野) 本発明は、擬似太陽光照射装置に関するものであり、特
に、そのスペクトル分布を変化させること無しに、ある
いは所望どおりに維持しながら出力光強度を゛変化させ
ることのできる擬似太陽光照射装置に関するものである
(従来技術) 擬似太陽光照射装置は、良く知られているように自然太
陽光のスペクトル分布を高い精度で再現するための光源
装置である。このような擬似太陽光照射装置は、太陽電
池の光電変換特性などの、各種の太陽エネルギー利用機
器の性能測定及び加速劣化試験のためには無くてはなら
ないものである。
このような擬似太陽光照射装置の構成の一例を第3図に
示す。
キセノン短アークランプ11は集光鏡15を有しており
、キセノン短アークランプ11の光軸上に積分光学系1
4が配置ざれる。
キセノン短アークランプ11と積分光学系14との間に
は、前記光軸と交差(なるべくは、45゜の角度で)す
るように、赤外線反射型コールドフィルタ13が配置さ
れる。前記赤外線反射型コールドフィルタ13は赤外線
を反射し、可視光および紫外線を透過するものである。
白熱フィラメントランプ12も集光鏡16を有している
。白熱フィラメントランプ12よりの発光は、赤外線反
射型コールドフィルタ13の積分光学系14側の面に投
影ざれ、そこで反射ざれた近赤外成分の光は、集光鏡1
5から出て赤外線反射型コールドフィルタ13を透過し
た、キセノン短アークランプ11からの可視、紫外成分
の光と共に、積分光学系14に向って、共軸的に指向ざ
れる。
赤外線反射型コールドフィルタ13および積分光学系1
4によって重畳、混合ざれた光は、被照射サンプル17
上に均等に分散される。吸熱器20は、赤外線反射型コ
ールドフィルタ13によって反射されたキセノン短アー
クランプ11からの赤外および近赤外成分光を吸収する
働きをする。
なお、この従来例によれば、単一の赤外線反射型コール
ドフィルタ13によって、キセノン短アークランプ11
の発光からの赤外、近赤外成分の除去、および白熱フィ
ラメントランプ12の発光からの近赤外成分の抽出を行
なうことができるので、構成を簡略、小形化し、またコ
ストを引き下げることができることは明らかである。
また、この従来例では、2つの光源の発光を用いて、1
つのフィルタによって長波長側成分および短波長側成分
の抽出および加算を行なっているので、赤外線反則型コ
ールドフィルタ13のフィルタ特性が多少変動しても、
最終的に得られる出力光のスペクトル分布はあまり変動
しないという利点がある。
このため、赤外線反射型コールドフィルタ13のフィル
タ特性に対する許容誤差が大となり、製造コストも下げ
ることができる。
この場合の合成スペクトル分布の一例を第4図に示す。
同図において、曲線L1は、キセノン短アークランプ1
1の発光のうち、近赤外より長波長側の成分を除去した
スペクトル分布特性曲線でおり、曲線L2は、白熱フィ
ラメントランプ12の発光のうちの可視光および紫外成
分を除去したスペクトル分布特性曲線である。
また、曲線L3は、前記曲線L1とL2を重畳または混
合した場合の、総合スペクトル分布特性曲線である。な
お、実線曲線L4は、自然太陽光のスペクトル分布特性
を比較のために示したものである。
第4図から、近赤外成分より長波長側の成分を除去した
キセノン短アークランプの発光(曲線L1)と、可視光
および紫外成分を除去した白熱フィラメントランプの発
光(曲線L2)とを重畳または混合すれば、自然太陽光
のスペクトル分布(曲線L4)に良く近似したスペクト
ル分布(曲線L3)が得られ、従来の装置において測定
誤差の原因となっていた近赤外領域での不規則なピーク
群を減少させ得ることがわかる。
(発明が解決しようとする問題点) 上記した従来の技術は、次のような問題点を有していた
すなわち、被照射サンプル17の表面にあける出力光の
強度を調整するためには、各光源(白熱フィラメン1〜
ランプ12、キセノン短アークランプ11)と被照射サ
ンプル17との間に絞りやメツシュを配置したり、各光
源の反射鏡(集光鏡15.16)を光源に対して前進後
退させたり、あるいはキセノン短アークランプ11およ
び白熱フィラメントランプ12の励起電圧、電流を変化
させるなどの手法が考えられるが、それぞれ次のような
欠点が予想される。
(イ) 絞りやメツシュを配置する場合には、これらの
絞りやメツシュが加熱されて変形し、光撫の制御が正確
に行なえなくなり、また、光の平行度や被照射サンプル
17上での照度分布が変化する。
(ロ) 光源の背後に設けられた集光鏡を前進後退させ
る場合には、光の平行度や照度分布が変化し、また特に
、キセノン短アークランプ11では赤熱された陽極から
の発光が出力光に混入し、スペクトル分布が変化する。
(ハ) 励起電圧、電流を変化させる場合には、特に、
白熱フィラメントランプ(タングステンハロゲンランプ
)の発光スペクトル分布も同時に変動するため、総合的
な出力光のスペクトル分布が自然太陽光が変化する。
本発明は、前述の問題点を解決するためになされたもの
である。
(問題点を解決するための手段および作用)このために
、本発明では、キセノン短アークランプと、白熱フィラ
メントランプと、前記キセノン短アークランプの発光ス
ペクトルから近赤外成分を除去すると共に、一方では、
前記白熱フィラメントランプの発光スペクトルから近赤
外成分を抽出するフィルタ手段と、近赤外成分を除去さ
れたキセノン短アークランプからの発光、および白熱フ
ィラメントランプからの発光のうち前記フィルタ手段に
よって抽出された近赤外成分の光を入射される単一の積
分光学系とを具備した擬似太陽光照射装置において、被
照射サンプル上における光強度を、白熱フィラメントラ
ンプの場合には、これを光軸方向に前進後退させること
によって、またキセノン短アークランプの場合には、そ
こに供給される電流を制御することによって調整するよ
うにし、一方の光源の被照射サンプル上における光強度
を変化させたときは、これに応じて他方の光源の被照射
サンプル上における光強度をも変化させ、両光源の光強
度の差または比がその光強度に応じて予め決められてい
る所望値になるように、両者を連動して制御するように
構成している。
(実施例) 以下に、図面を参照して、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例の概略構成を示す図でおる。
なお、同図において、第3図と同一の符号は、同一また
は同等部分を必られしている。
定電圧電源23(直流または交流)は、白熱フィラメン
トランプ12を付勢、点灯する。駆動装置21は、白熱
フィラメントランプ12および集光v116を一体的に
、光軸22の方向に駆動する。
これによって、白熱フィラメントランプ12の発光のう
ち、前記フィルタ手段によって抽出された近赤外成分の
光の、積分光学系14に大割する光量が増減し、したが
って、被照射サンプル17に到達する白熱フィラメント
ランプ12からの発光の強度(または光量)が変化する
電源25(直流または交流)は、電流制御器26を介し
てキセノン短アークランプ11に予定の電流を供給し、
キセノン短アークランプ11に放電を起させる。
白熱ランプ用光電変換器27は白熱フィラメントランプ
12の発光強度を測定するもので、例えば、900〜1
1000nの範囲の光を通過させる帯域フィルタと組合
わせた光電変換器である。
キセノンランプ用光電変換器28はキセノン短アークラ
ンプ11の発光強度を測定するもので、例えば400〜
500nmの範囲の光を通過させる帯域フィルタと組合
わされた光電変換器である。
もっとも、前記の各波長範囲は任意に選択可能でおり、
要は使方の光源からの発光変化の影響を受けないような
範囲の波長を選べば良いことは明らかでおる。
比演算器29は、前記白熱ランプ用光電変換器27およ
びキセノンランプ用光電変換器28のに出力を供給され
、両出力の比R@演算する。
減算器30は前記比を、基準値設定器31に予め設定さ
れている基準値(または目標値)と比較し、前記比の前
記基準値に対する偏差dを算出する。
PID演算器32は、前記偏差dに基づいて、適当な演
算(例えば、PID−比例・積分・微分演算)を行ない
、制御指令Cを発生する。
前記制御指令Cは電流制御器26に供給され、キセノン
短アークランプ11に供給される電流値を、前記偏差d
が零になるように制御する。
当業者には容易に理解されるように、電流制御器26、
白熱ランプ用光電変換器27、キセノンランプ用光電変
換器28、比演算器29、減算器30、基準値設定器3
1、PID演算器32などはフィードバック制御ループ
を構成している。したがって、前記制御ループとしては
、図示のものに限らず、任意適宜のものを採用できるこ
とは明らかである。
動作時には、白熱フィラメントランプ12が定電圧電源
23によって点灯され、一方キセノン短アークランプ1
1が電源25および電流制御器26によって点灯される
。この場合、キセノン短アークランプ11に供給される
電流は、後述するところから明らかなように、その発光
強度(または光量)が、あらかじめ設定された値になる
ように、例えばある一定値に制御される。
このようにして、被照射サンプル17上には、例えば第
4図に曲線L3で示したような、自然太陽光のそれに極
めて近似したスペクトル分布を有する擬似太陽光が照射
される。
被照射サンプル17上における光強度(照度)を変化さ
せるためには、まず駆動装置21によって、白熱フィラ
゛メントランプ12および集光鏡16を一体として、そ
の光軸22上で前進後退(第1図では左右動)させる。
いま、例えば、白熱フィラメントランプ12および集光
鏡16を前進(第1図では右方向移動)させたと仮定す
ると、白熱フィラメントランプ12からの発光のうち、
前記フィルタ手段によって抽出され、積分光学系14に
入射する近赤外成分の光の量が増加するので、被照射サ
ンプル17上における白熱フィラメントランプ12から
の光強度は、例えば、第2図に曲線L2Aで示すように
大となる。
そして、明らかなように、被照射サンプル17上に自然
太陽光に近似したスペクトル分布を有する光を照射する
ためには、前記のハロゲン光の増強割合に応じて、キセ
ノン短アークランプ11からの発光をも増加する必要が
おる。
このため、本実施例においては、白熱フィラメントラン
プおよびキセノンランプ用光電変換器27.28を、そ
れぞれ白熱フィラメントランプ12およびキセノン短ア
ークランプ11の光路中(特に積分光学系14と被照射
サンプル17との間)に設けて、キセノン短アークラン
プ11および白熱フィラメントランプ12から被照射サ
ンプル17に到達する光強度(光量)を、個別かつ独立
的に計測するようにしている。
それぞれの光強度信号は比演算器29に供給され、そこ
で比Rが演算される。前記比Rは、減算器30において
、基準値設定器31に設定された比の基準値と対比され
、偏差りが算出される。
そして、公知のフィードバック制御により、電流制御器
26に、前記偏差りを零とするような適切な信号が与え
られ、キセノン短アークランプ11に供給される付勢電
流が制御される。
以上のようにして、キセノン短アークランプ11および
白熱フィラメントランプ12から被照射サンプル17に
到達する光強度(光量)の比が一定の目標値に保持され
る。
それ故に、第2図または第4図から分るように、被照射
サンプル17上にあける照射光の総合的なスペクトル分
布は実質上目標値に保持される。
第1図の実施例では、被照射サンプル17上に到達する
白熱フィラメントランプ12の光量を先ず変化させ、こ
れに応答して所望のスペクトル分布が得られるように、
キセノン短アークランプ11からの光量を制御したが、
これとは反対に、被照射サンプル17上に到達するキセ
ノン短アークランプ11の光量を先ず変化させ、これに
対応して白熱フィラメントランプ12からの光量を制御
するようにしてもよいことは明らかである。
第5図は、このような制御を行なうための本発明の、第
2実施例の概略構成を示す図である。同図において、第
1図と同一の符号は、同一または同等部分をあられして
いる。
第1図との対比から明らかなように、この実施例は、第
1図の実施例において、PID演算器32の制御出力で
駆動装置21を制御し、白熱フィラメントランプ12お
よび集光1!16の光軸22上における位置を制御する
ことによって、被照射サンプル17上におけるスペクト
ル分布を所望のように制御するものである。
第5図の動作のこれ以上の説明は、当業者には容易に理
解されるところであるので、不要であろう。
(変形例) 本発明は、ざらにつぎのように変形して実施することが
できる。
(1)比演算器29を減算器で置き換え、両変換器出力
の比Rの代りに、それらに出力の差を用いても、被照射
サンプル17上に実質上所望どおりのスペクトル分布が
得られる。
(2)白熱ランプ用光電変換器27、キセノンランプ用
光電変換器28の少なくとも一方を対応する光源と赤外
線反射型コールドフィルタ13との間に配置する。
(3)第6図に示すように、第1図の赤外線反射型コー
ルドフィルタ13の代りに赤外線透過型コールドミラー
19を用い、キセノン短アークランプ11、白熱フィラ
メントランプ12を図示のように配置する。その他の構
成は第1図と同じにする。
(4)基準値設定器31の設定値を、第1図においては
白熱ランプ用光電変換器27の出力に応じて、また第5
図においてはキセノンランプ用光電変換器28の出力に
応じて、それぞれ予め定めた関係で変化させるようにし
ておけば、雲量、エアマス等に応じた種々のスペクトル
分布と強度の光を、被照射サンプル17上に再現するこ
とができる。
(5)白熱ランプ用光電変換器27、キセノンランプ用
光電変換器28は他の適当な光強度測定手段に置換でき
る。
(6)フィードバック制御の代りに、オープンループ制
御とする。
すなわち、例えば、キセノン短アークランプ11および
白熱フィラメントランプ12のいずれか一方の光量を測
定し、この測定値に応じて他方の光源の光量を制御する
電流制御器26および駆動装置21の一方を予定値に制
御する。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、つぎ
のような効果が達成される。
すなわら、擬似太陽光照射装置の発光強度を、出力光の
スペクトル分布、平行度、照度むらなどを生ずること無
しに、任意に、かつ広範囲に変化させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の概略構成を示す図であ
る。第2図は本発明の詳細な説明するためのスペクル図
である。第3図は従来の擬似太陽光照射装置の一例を示
す概略構成図である。第4図はキセノン短アークランプ
と白熱フィラメントランプとを重量して得られる合成光
および自然太陽光のスペクトル分布特性を示す図である
。第5図は本発明の第2の実施例の概略構成を示す図で
ある。第6図は本発明を適用される他の従来例を示す概
略構成図である。 11・・・キセノン短アークランプ、12・・・白熱フ
ィラメントランプ、13・・・赤外線反射型コールドフ
ィルタ、14・・・積分光学系、15.16・・・集光
鏡、17・・・被照射サンプル、19・・・赤外線透過
型コールドミラー、20・・・吸熱器、21・・・駆動
装置、22・・・光軸、23・・・定電圧電源、25・
・・電源、26・・・電流制御器、27・・・白熱ラン
プ用光電変換器、28・・・キセノンランプ用光電変換
器、29・・・比演算器、30・・・減算器、31・・
・基準値設定器、32・・・PID演算器代理人弁理士
 平水 通人 外1名 第1 図 不 第2VA 第4図 液長(nm) 第3図 第5図 正

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)キセノン短アークランプと、白熱フィラメントラ
    ンプと、前記キセノン短アークランプの発光スペクトル
    から近赤外成分を除去すると共に、一方では、前記白熱
    フィラメントランプの発光スペクトルから近赤外成分を
    抽出するフィルタ手段と、近赤外成分を除去されたキセ
    ノン短アークランプからの発光、および白熱フィラメン
    トランプからの発光のうち前記フィルタ手段によって抽
    出された近赤外成分の光を入射される単一の積分光学系
    とを具備した擬似太陽光照射装置であって、さらに、 白熱フィラメントランプをその光軸にそって前進後退さ
    せる駆動手段および、キセノン短アークランプに供給さ
    れる電流を制御する手段のいずれか一方と、 白熱フィラメントランプを付勢する定電圧電源と、 キセノン短アークランプおよび白熱フィラメントランプ
    の発光強度をそれぞれ測定する手段と、前記のように測
    定されたキセノン短アークランプおよび白熱フィラメン
    トランプの発光強度を比較する手段と、 前記比較結果の基準値からの偏差を演算する手段と、 前記偏差に基づいて、この偏差が零となるように、前記
    白熱フィラメントランプ駆動手段およびキセノン短アー
    クランプの電流制御手段の他方を制御する手段とを具備
    したことを特徴とする擬似太陽光照射装置。
  2. (2)白熱フィラメントランプの発光強度を測定する手
    段は、750nmより長波長領域に通過帯域幅を有する
    帯域フィルタであることを特徴とする前記特許請求の範
    囲第1項記載の擬似太陽光照射装置。
  3. (3)キセノン短アークランプの発光強度を測定する手
    段は、750nmより短波長領域に通過帯域幅を有する
    帯域フィルタであることを特徴とする前記特許請求の範
    囲第1項記載の擬似太陽光照射装置。
  4. (4)キセノン短アークランプ11および白熱フィラメ
    ントランプ12の発光強度を測定する手段は、前記フィ
    ルタ手段に関して、各光源とは反対側に配置されたこと
    を特徴とする前記特許請求の範囲第1項ないし第3項の
    いずれかに記載の擬似太陽光照射装置。
  5. (5)前記基準値が、白熱フィラメントランプの発光強
    度の関数として設定されたことを特徴とする前記特許請
    求の範囲第1項ないし第4項のいずれかに記載の擬似太
    陽光照射装置。
  6. (6)前記発光強度の比較は、両者の比の演算であるこ
    とを特徴とする前記特許請求の範囲第1項ないし第5項
    のいずれかに記載の擬似太陽光照射装置。
  7. (7)前記発光強度の比較は、両者の差の演算であるこ
    とを特徴とする前記特許請求の範囲第1項ないし第5項
    のいずれかに記載の擬似太陽光照射装置。
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