WO2007052473A1 - 電力供給制御装置 - Google Patents

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WO2007052473A1
WO2007052473A1 PCT/JP2006/320774 JP2006320774W WO2007052473A1 WO 2007052473 A1 WO2007052473 A1 WO 2007052473A1 JP 2006320774 W JP2006320774 W JP 2006320774W WO 2007052473 A1 WO2007052473 A1 WO 2007052473A1
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WO
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circuit
power supply
level
voltage
signal
Prior art date
Application number
PCT/JP2006/320774
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English (en)
French (fr)
Inventor
Seiji Takahashi
Masayuki Kato
Masahiko Furuichi
Isao Isshiki
Original Assignee
Autonetworks Technologies, Ltd.
Sumitomo Wiring Systems, Ltd.
Sumitomo Electric Industries, Ltd.
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Publication date
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Priority to JP2007542329A priority patent/JP5006791B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/575Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/023Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of differential amplifiers or comparators, with internal or external positive feedback
    • H03K3/0233Bistable circuits
    • H03K3/02337Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K7/00Modulating pulses with a continuously-variable modulating signal
    • H03K7/08Duration or width modulation ; Duty cycle modulation

Definitions

  • the present invention relates to a power supply control device for turning on and off a semiconductor switch element by PWM control.
  • Patent Document 1 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2003-188693
  • a PWM signal having a desired duty ratio cannot be accurately generated due to manufacturing variations of semiconductor devices.
  • an oscillation circuit and a comparison circuit that output the above triangular wave signal are provided in a semiconductor chip to form a single chip, or a high-functionality package that consists of multiple chips in a single package.
  • a semiconductor device is desired.
  • a threshold setting circuit for example, a voltage dividing circuit for setting the threshold voltage may be provided in the semiconductor element.
  • the threshold value varies due to manufacturing variations.
  • the duty ratio cannot be set with high accuracy and high accuracy PWM control cannot be realized.
  • a PWM signal having a desired duty ratio may not be generated with high accuracy due to voltage fluctuations of a power supply that supplies power to the semiconductor device. That is, the power supply voltage may fluctuate, for example, when the engine of the vehicle is started, and the two threshold values of the hysteresis comparator also fluctuate accordingly, and the duty ratio of the PWM signal may fluctuate. is there.
  • the present invention has been completed based on the above circumstances, and an object thereof is to provide a power supply control device capable of generating a desired PWM signal with high accuracy.
  • a power supply control device is a power supply control device that is provided between a power supply and a load and controls power supply from the power supply to the load.
  • a semiconductor switch element arranged in the electric circuit, an oscillation circuit that outputs an oscillation signal, and the oscillation signal of the oscillation circuit force and a reference signal are input, and the oscillation signal level and the reference signal level
  • a comparator circuit that outputs an output signal whose level is inverted according to the magnitude relationship is provided.
  • the pulse train-like output signal of the comparator circuit power is applied to the semiconductor switch element as a PWM signal for pulse width modulation control, and is turned on / off.
  • a PWM signal generation circuit for causing the oscillation circuit to charge the capacitor and a parallel circuit including a first resistance element and a capacitor connected in parallel to each other.
  • a first switch element provided in the path of the charging current for the capacitor When the charging voltage of the power source reaches the i-th voltage that changes according to the power supply voltage, the first switch element is turned off, and the charging voltage changes according to the power supply voltage.
  • a charge / discharge control circuit that turns off the first switch element when the voltage drops to two voltages; and a current change circuit that changes the charge current according to the power supply voltage.
  • a PWM signal having a constant duty ratio can be generated regardless of fluctuations in the power supply voltage.
  • the reference signal level output by the reference signal setting circuit is changed according to the power supply voltage. As a result, the influence of the power supply voltage fluctuation on the reference signal can be suppressed.
  • the reference signal setting circuit has a second switch element, and the reference signal level is set to the first level within the amplitude range of the oscillation signal and the oscillation signal according to the on / off operation of the second switch element. It is desirable to have a switching circuit that switches between the second level outside the amplitude range. This makes it possible to easily switch between driving and stopping the PWM control simply by turning on and off the second switch element.
  • the current changing circuit preferably includes a second resistance element connected to the power source and a current mirror circuit that receives a current flowing through the second resistance element, and is charged by a mirror current from the capacitor current mirror circuit.
  • the circuit portion excluding the parallel circuit in the PWM signal circuit is a one-chip or a semiconductor device configured by a plurality of chips and accommodated in one package.
  • a power supply control device is a power supply control device that is provided between a power supply and a load and controls power supply from the power supply to the load, from the power supply to the load.
  • the semiconductor switch element arranged in the energization path to the circuit, the oscillation circuit that outputs the oscillation signal, and the oscillation signal of the oscillation circuit force are input and the reference signal is input
  • a comparison circuit that outputs an output signal that is inverted in accordance with the magnitude relationship between the oscillation signal level and the reference signal level, and outputs a pulse train-like output signal of the comparison circuit power for pulse width modulation control.
  • a PWM signal generation circuit that applies an on / off operation to the semiconductor switch element as a PWM signal, and the oscillation circuit includes a parallel circuit including a first resistance element and a capacitor connected in parallel to each other, and the capacitor The first switch element provided in the charging current path for charging the battery and the i-th switch element is turned off when the charging voltage of the capacitor reaches the i-th voltage.
  • a charge / discharge control circuit that turns the first switch element from OFF to ON when the charge voltage drops to the second voltage, and outputs an oscillation signal corresponding to the charge voltage
  • the PWM A circuit part excluding the parallel circuit in the signal manufacturing circuit is formed into a one-chip or a semiconductor device configured by a plurality of chips and accommodated in one package, and the parallel circuit is the semiconductor
  • the first switch is arranged outside the device and connected to a circuit portion excluding the parallel circuit via a first external terminal of the semiconductor device, and the first switch element is turned on by turning on the first switch element. The discharge time of the capacitor due to the element off is longer.
  • the circuit portion excluding the parallel circuit as the frequency determining element in the PWM signal circuit is provided inside the semiconductor device, while the parallel circuit is provided outside the semiconductor device.
  • the discharge time determined by the circuit constants of the parallel circuit outside the semiconductor device was set to be longer than the charge time, which was greatly affected by the element characteristics of the circuit portion in the semiconductor device.
  • the charging time determined by the circuit portion inside the semiconductor device which may cause variations in the manufacturing of the semiconductor device, should be shortened to suppress the influence, while having an appropriate circuit constant after the semiconductor device is manufactured.
  • the discharge time determined by the adjustable parallel circuit is lengthened.
  • the external parallel circuit has an appropriate characteristic according to the desired frequency, so that the influence of manufacturing variations can be suppressed and the frequency can be set with high accuracy. Can do.
  • the oscillation frequency of the PWM signal can be set freely by adjusting the characteristics (circuit constants) of the parallel circuit. be able to.
  • the reference signal setting circuit for outputting the reference signal is arranged outside the semiconductor device and connected to the circuit portion excluding the parallel circuit via the second external terminal of the semiconductor device. .
  • the duty ratio of the PWM signal can be set freely by adjusting the characteristics of the above components.
  • the semiconductor device includes a protection circuit that causes the semiconductor switch to shut down when an abnormality is detected in the current flowing through the semiconductor switch, and is configured as a single chip or configured with multiple chips and accommodated in a single package. Is desirable.
  • a PWM signal is generated in a soft manner by a microphone computer, and this is supplied to a semiconductor switch element via a booster circuit and controlled on / off.
  • the power supply control device is not always mounted on a unit including a microcomputer. Therefore, according to this configuration, the PWM signal generation circuit (in some cases, the parallel circuit and the reference signal setting circuit are excluded) is built in the semiconductor device, so that the power supply PWM without a microcomputer is required. Control becomes possible.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a power supply control circuit according to an embodiment of the present invention.
  • FET23 is the “first switch element” of the present invention.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the power supply control device 1 according to this embodiment.
  • the power supply control device 1 of the present embodiment includes a power MOSFET 2 (invention of the present invention) disposed in an energization path 82 between a vehicle power source (hereinafter referred to as “power source 80”) and a load 81. 2) and a PWM signal generation circuit 10.
  • the P WM signal generation circuit 10 supplies a PWM (Pulse Width Modulation Pulse Width Modulation) signal SI directly or indirectly to the control input terminal (gate terminal G) of the power MOSFET 2 to connect the power supply connected to the output side of the power MOSFET 2 It is configured to control power supply from 80 to load 81.
  • PWM Pulse Width Modulation Pulse Width Modulation
  • the power supply control device 1 is mounted on a vehicle (not shown), and is used as a load 81 for driving control of a vehicle lamp, a cooling fan motor, a defogger heater, and the like. .
  • This power supply control device 1 has a configuration in which a switching circuit 12 (to be described later) is connected to an input terminal P1, and an operation of applying a PWM signal S 1 to the power MOSF ET2 when a transistor 30 of the switching circuit 12 is turned on. It comes to be.
  • the PWM signal S1 is supplied from the PWM signal generation circuit 10 to the input of the FET 3, and the FET 3 is turned on in response to the input of the PWM signal S1.
  • the logic circuit 4 (an example of the “protection circuit” of the present invention) is energized.
  • the protection logic circuit 4 is connected to a charge pump circuit 5 and a turn-off circuit 6, respectively, and is further connected to an overcurrent detection circuit 7 and an overtemperature detection circuit 8.
  • a dynamic clamp 9 is connected between the drain terminal D and the gate terminal G of the power MOSFET 2.
  • the charge pump circuit 5 is connected to the gate terminal G of the power MOSFET 2, and a line from the overcurrent detection circuit 7 is connected between the charge pump circuit 5 and the gate terminal G of the power MOSFET 2. (Specifically, a line provided from the gate terminal G of the sense MOSFET provided in the overcurrent detection circuit 7 and through which a sense current corresponding to the amount of current of the power MOSFET 2 flows) is connected.
  • a turn-off circuit 6 is connected between the gate terminal G and the source terminal S of the power MOSFET 2, and this turn-off circuit 6 is controlled by the protective logic circuit 4.
  • the overcurrent detection circuit 7 is provided with a sense MOSFET (not shown) through which a sense current corresponding to the amount of current of the power MOSFET 2 flows. Then, the first abnormality signal SC is output to the protection logic circuit 4 when the threshold for short-circuit abnormality detection when a large current flows through the power MOSFET 2 is exceeded. For example, when the sense current exceeds the threshold for detecting an overcurrent abnormality when a large current (a current smaller than that at the time of the short circuit) flows to the power MOSFET 2 for some reason, but not the short circuit abnormality, the protection logic Outputs the second abnormal signal OC to circuit 4.
  • the protection logic circuit 4 is activated by receiving the PWM signal S1, and when normal, drives the charge pump circuit 5.
  • the charge pump circuit 5 supplies the boosted voltage to each of the power MOSFET 2 and the sense MOSFET. It operates to be turned on by applying it between the gate and source.
  • the protection logic circuit 4 turns off the charge pump circuit 5 and detects the high-level control signal S7 that drives the turn-off circuit 6 when an abnormality is detected in response to the first abnormality signal SC or the second abnormality signal OC. This causes the power MOSFET2 and the sense MOSFET gate-source charge to be discharged and cut off.
  • shut-off operation cannot be restored to the energized state unless the PWM signal S1 is re-input (for example, the load drive signal is input).
  • the power MOSFET 15 or the like may be returned to the energized state, and a self-recoverable cutoff operation may be performed.
  • the third abnormality signal OT indicating the temperature abnormality from the overtemperature detection circuit 8 is also input to the protection logic circuit 4, and at this time, the control signal from the protection logic circuit 4 is also controlled. S2 is output, and the power MOSFET 15 etc. is made to perform the above-mentioned shut-off operation that can or cannot self-recover.
  • the PWM signal generation circuit 10 generates a PWM signal S1 having an arbitrary duty ratio and generates it as a semiconductor device (semiconductor device) 70 (in this embodiment, a power MOSFET 2 and a semiconductor device incorporating its protection function (for example, IPS: intelligence power). Device)) and turning it on / off, the power supply from the power supply 80 connected to the output side of the semiconductor device 70 (power MOSFET 2) to the load 81 is controlled by PWM control (Pulse Width Modulation node). (Lus width modulation).
  • FIG. 2 is a configuration diagram of the PWM signal generation circuit 10 according to the present embodiment.
  • the PWM signal generation circuit 10 mainly includes a frequency control circuit 11 that outputs an oscillation signal S2, a switching circuit 12 for switching between daytime lighting and nighttime lighting, which will be described later, and a leakage circuit.
  • a current cut circuit 13 and a duty ratio control circuit 14 are provided.
  • the frequency control circuit 11 includes a comparator 20 (which may be an operational amplifier).
  • the negative input terminal capacitor 21 of the comparator 20 and the first resistor R1 (of the present invention) It is connected to the high potential of the power supply 80 (an example of the “power supply voltage” of the present invention) terminal P4 via the parallel circuit 27 of “an example of the first resistance element”. That is, a voltage signal having a level corresponding to the voltage across the capacitor 21 is given to the negative input terminal of the comparator 20.
  • the voltage level at point A connected to the negative input terminal of comparator 20 is Va.
  • a signal corresponding to the voltage Va level at this point A is given to the duty ratio control circuit 14 as the oscillation signal S2.
  • the potential difference between the power supply voltage Vcc and the voltage Va is the voltage between the terminals of the capacitor 21, and is an example of the “capacitor charging voltage” in the present invention.
  • the positive input terminal of the comparator 20 is a voltage dividing circuit of a voltage dividing circuit composed of voltage dividing resistors R2 and R3 connected in series between the high potential terminal P4 and the low potential (GND) terminal P5 of the power supply 80.
  • the output B of the comparator 20 is positively fed back through the feedback resistor R4. That is, a voltage signal having a level corresponding to each resistance value of the voltage dividing resistors R2 and R3 and the feedback resistor R4 is given to the positive input terminal of the comparator 20.
  • the voltage level at point C connected to the positive input terminal of comparator 20 is Vc.
  • the output of the comparator 20 is given to the NOT circuit 22.
  • the low potential side of the parallel circuit 27 is connected to the low potential terminal P5 side of the power supply 80 through three n-channel FETs 23, 24, 25 and a resistor R5 connected in series.
  • the voltage signal of output D of NOT circuit 22 is applied to the gate of FET23 on the high potential side.
  • the FET 23 is an example of the “first switch element” of the present invention
  • the line 83 connected from the parallel circuit 27 to the low potential terminal P5 through the FETs T23 to 25 and the resistor R5 is the “charging device” of the present invention. It is an example of a “current path”.
  • the comparator 20, resistors R2 to R4, and NOT circuit 22 are examples of the “charge / discharge control circuit” of the present invention.
  • the FET 24 forms a current mirror circuit 28 together with an n-channel FET 26 whose gate and drain are short-circuited, and the drain of the FET 26 is connected to the second resistor R6 (" It is connected to the high-potential terminal P4 of the power supply 80 via the “second resistor element”.
  • the switching circuit 12 has a pair of pnp-type transistors 30 and 31, of which the transistor 30 has an emitter connected to the high potential terminal P6 side of the power supply 80 and a collector connected to a pair of voltage dividing resistors R7 and R8. It is connected to the low potential terminal P5 side of the power supply 80 via In the transistor 31, the emitter is connected to the high potential terminal P6 side of the power supply 80, and the collector is connected to the connection point E of the voltage dividing resistors R7 and R8. Then, a signal corresponding to the voltage Ve level at the connection point E is given to the duty ratio control circuit 14 as a reference signal S3. A signal corresponding to the voltage Ve level at the connection point E is also applied to the gate of the FET 25.
  • the transistor 31 is turned on in response to a signal instructing “lighting at night” to turn on the headlight with a duty ratio of 100%, for example, from an operation unit (not shown) in the vehicle. Further, the transistor 30 is turned on in response to a signal instructing “lighting during the day (delighting)” to turn on the headlight at a duty ratio of 25% (an example of the “desired deedy ratio” of the present invention), for example. .
  • the FET 25 is turned on when either one of the transistors 30 and 31 is in the on state, and is turned off when both the transistors 30 and 31 are in the off state. In short, the FET25 is in the off state when the headlight is not lit other than at night and during daytime, and serves to suppress leakage current! / Speak.
  • the duty ratio control circuit 14 includes a comparator 50 (an example of the “comparison circuit” of the present invention).
  • the comparator 50 is connected to its positive input terminal and receives the oscillation signal S2 and is turned on / off.
  • the p-channel first FET 51 is turned on and off, and its negative input terminal is connected to the reference signal S3 and is turned on / off.
  • a p-channel second FET 52 as a current control element.
  • the first FET 51 has a source connected to the constant current source 60 and a drain force channel type. It is connected to the connection point of FET24 and FET25 via FET53.
  • the second F ET 52 has a source connected to the constant current source 60 and is connected to a connection point between the FET 24 and the FET 25 via a drain power channel FET 54.
  • the FET 53 has its gate and drain connected in a short circuit, and constitutes a current mirror circuit together with the FET 54.
  • an output signal S4 whose level is inverted according to the magnitude relationship between the oscillation signal S2 level and the reference signal S3 level is given to the NOT circuit 57, and the output signal S4 whose level is inverted from the NOT circuit 57. 'Is output as PWM signal S1.
  • the voltage level at the output point F of the comparator 50 is Vf
  • the voltage level at the output point H of the NOT circuit 57 is Vh.
  • a p-channel type first short-circuit FET 55 as a short-circuit switch element is connected in parallel to the first FET 51.
  • the first short-circuit FET 55 is connected to the gate at a low level.
  • the control signal S5 When the control signal S5 is received, it is turned on and shorts between the source and drain of the first FET 51.
  • a p-channel type second short-circuit FET 56 as a short-circuit switch element is connected in parallel to the second FET 52, and this second short-circuit FET 56 also has a low-level control signal S6 at its gate. By receiving it, it turns on and plays a role of short-circuiting between the source and drain of the second F ET52.
  • the PWM signal generation circuit 10 includes a pair of NAND circuits 58 and 59.
  • the NAND circuit 58 is supplied with the voltage level Vd of the output D of the NOT circuit 22 and the voltage level Vh of the output point H of the NOT circuit 57 at its input, and the output is the gate of the first short-circuit FET 55.
  • the NAND circuit 59 is given the voltage level Vb at the output point B of the comparator 20 and the voltage level Vf at the input point F of the NOT circuit 57 at its input, and its output is fed to the gate of the second short-circuit FET 56. It comes to be given.
  • the circuit configuration of the PWM signal generation circuit 10 is as described above.
  • the circuit 7, the overtemperature detection circuit 8, and the dynamic clamp 9 are formed as a single chip, or formed of a plurality of chips and housed in a single package to constitute the semiconductor device 70.
  • a capacitor that determines the oscillation frequency of the frequency control circuit 11 The parts other than the circuit 21 and the first resistor Rl (parallel circuit 27) and the switching circuit 12 are formed in one chip inside the semiconductor device 70, or are configured by a plurality of chips and accommodated in one package. Has been.
  • the RC parallel circuit 27 has one end connected to the high potential side of the resistors R2 and R6 via the external terminal P2 (an example of the “first external terminal” of the present invention) and the other end. The side is connected to the negative input terminal of the comparator 20 via the external terminal P3 (an example of the “first external terminal” of the present invention).
  • the connection point E of the voltage dividing resistors R7 and R8 is connected to the gate of the FET 25 of the duty ratio control circuit 14 via the external terminal P1 (an example of the “second external terminal” of the present invention)!
  • the connection point E of the voltage dividing resistors R7 and R8 is connected to the gate of the FET 25 of the duty ratio control circuit 14 via the external terminal P1 (an example of the “second external terminal” of the present invention)!
  • the FET 25 When the power supply control device 1 is turned on and the night lighting instruction signal or the day lighting instruction signal is input to the switching circuit 12, the FET 25 is turned on. Initially, the point A connected to the negative input terminal of the comparator 20 is on the voltage Vcc side of the high potential terminal of the power supply 80, and the comparator 20 is in the off state, that is, the voltage Vb at the output point B of the comparator 20 is low. It is level. Therefore, the FET 23 is turned on by the high-level voltage signal Vd from the NOT circuit 22, and the charging current il (the “mirror current” of the present invention is supplied from the power source 80 through the parallel circuit 27, FETs 23, 24, 25, and the resistor R5. ”) And the capacitor 21 starts to be charged.
  • the FETs 24 and 26 constitute the current mirror circuit 28! /
  • the amount of the charging current il flowing through the FETs 23 and 24 is applied to the second resistor R6 and the FET 26. It depends on the amount of current i2 (the current flowing through the second resistance element of the present invention), that is, the high potential Vcc of the power supply 80. Accordingly, the high potential Vcc of the power supply 80 is, for example, a fluctuation in the power supply voltage. Therefore, the amount of charge current il to the capacitor 21 decreases so as to follow this, and conversely, when the high potential Vcc of the power supply 80 becomes high, the amount of current charged is adjusted to follow this.
  • the charging time of the capacitor 21 without being affected by the fluctuation of the high potential Vcc of the power supply 80, that is, the oscillation signal S2 at the point A is increased. It is possible to stabilize the frequency of Specific description will be described later.
  • the voltage level Vb at the output point B of the comparator 20 is substantially equal to the low potential GND of the power supply 80.
  • the voltage dividing resistors R2 and R3 have the same resistance value, and the feedback resistor R4 is set to a resistance value half that of each voltage dividing resistor R2 (R3). Therefore, as shown in FIG.
  • the voltage level Vc at point C is 1Z4Vcc, which is applied to the positive input terminal of the comparator 20.
  • the voltage level Vc at point C is 3Z4Vcc, which is applied to the positive input terminal of the comparator 20.
  • the oscillation signal S2 from the frequency control circuit 11 is input to the positive input terminal, and the voltage level Ve at the connection point E from the switching circuit 12 is applied to the negative input terminal. It is done.
  • the voltage level Ve at the connection point E is a level (lZ4Vcc and 3Z4Vcc) as shown in FIG. 3 (the uppermost time chart). Between 1Z4V The resistance values of the resistors R7 and R8 are set so as to be close to cc (the voltage level Ve at this time is an example of the “first level” in the present invention). More specifically, the duty ratio of the PWM signal S1 is adjusted to be 25%, for example.
  • the reference signal S3 level (voltage level Ve of connection E) given from the switching circuit 12 may fluctuate due to, for example, noise during acceleration / deceleration of the vehicle. Then, chattering occurs when the level of the oscillation signal S2 level and the reference signal S3 level is inverted (see Figure 3 (upper force is also the 4th and 5th stage time chart)), and the duty ratio of the PWM signal S1 fluctuates. There is a possibility that stable PWM control cannot be performed for medium lighting.
  • the comparator 50 is provided with the first and second short-circuiting FETs 55 and 56.
  • the first short-circuit FET 55 receives a low level signal from the NAND circuit 58 when both the voltage level Vd of the output D of the NOT circuit 22 and the voltage level V h of the output point H of the NOT circuit 57 are high. In response to this, it turns on, and at other times it receives a high level signal and turns off.
  • the first short-circuiting FET 55 starts to increase or decrease in oscillation signal S2 after the oscillation signal S2 level falls below the reference signal S3 level. Is turned on (short-circuited) during the period up to the point of time when it is reversed (reversed from decreasing to increasing), and is off (non-shorted) during other periods.
  • the first short-circuiting FET 55 short-circuits the drain and source of the first FET 51 on the positive input terminal side.
  • a larger current flows through the FET 53 connected to the first FET 51 and the FET 54 constituting the current mirror circuit. Therefore, at this time, even if the reference signal S3 level changes Even if this occurs, the voltage level Vf at the output point F of the comparator 50 can be forcibly maintained at a low level and level inversion can be prohibited.
  • the capacitor 21 is charged, the voltage level Va at the point A decreases, and the current flowing through the first FET 51 tends to increase.
  • the current flowing through the first FET 51 force SFET53, 54 To flow into.
  • the second short-circuiting FET 56 starts from the NAND circuit 59 when the voltage level Vb at the output point B of the comparator 20 and the voltage level Vf at the input point F of the NOT circuit 57 are both high. In response to the signal, it is turned on. At other times, it receives the high level signal and turns off. In other words, as shown in Fig. 3 (time chart at the 7th stage of the upper force), the second short-circuiting FE T56 starts from the point in time when the oscillation signal S2 level exceeds the reference signal S3 level.
  • the on-operation short-circuit operation
  • the off-state non-short-circuiting
  • the oscillation signal S2 level exceeds the reference signal S3 level
  • the drain-source of the second FET 52 on the negative input terminal side is short-circuited by the second short-circuiting FET 56. Therefore, even if the reference signal S3 level fluctuates at this time, the voltage level Vf at the output point F of the comparator 50 can be forcibly maintained at the high level and the level inversion can be prohibited.
  • the capacitor 21 is discharged, the voltage level Va at the point A rises and the current flowing through the first FET 51 tends to decrease, while the current according to the reference signal S3 level flows through the second FET 52. .
  • the transistor 30 When the night lighting instruction signal is given to the switching circuit 12, the transistor 30 is turned off and the transistor 31 is turned on. As a result, the reference signal S3 level (voltage level Ve of connection E) becomes almost the same level as the high potential Vcc of the power supply 80 (the voltage level at this time), as shown on the right side of Fig. 3 (the uppermost time chart). Ve is an example of the “second level” in the present invention). Therefore, the reference signal S3 level always exceeds the oscillation signal S2 level, so that the night lighting with a duty ratio of 100% is executed.
  • the transistors 30 and 31 of the switching circuit 12 are both turned off. At this time, the FET 25 is also turned off, so that it is possible to cut the leakage current of the power supply 80 when not lit.
  • the switch control of the switching circuit 12 can execute switching between night lighting and day lighting of the headride and cutting of leakage current when the headlight is not lit. is there.
  • Fig. 4 shows an equivalent circuit when the comparator 20 is off and the capacitor 21 is charged.
  • Fig. 5 shows an equivalent circuit when the comparator 20 is turned on and the capacitor 21 is discharged to V. Showing
  • Equation 1 the relationship between the voltage level Va at point A when charging the capacitor 21 and the time t can be expressed by the following Equation 1.
  • Vcc _ Va R ⁇ il + k ⁇ e Crx
  • R ' Resistance value of second resistor R6
  • the charging time tl does not depend on the fluctuation of the power supply voltage Vcc.
  • Equation 3 the relationship between the voltage level Va at the point A when the capacitor 21 is discharged and the time t can be expressed by the following Equation 3.
  • Equation 4 Equation 4
  • the discharge time t2 does not depend on the fluctuation of the power supply voltage Vcc, similarly to the charge time tl. That is, according to the present embodiment, it is possible to generate the oscillation signal S2 in which the ratio of the charging time to the discharging time is constant regardless of the fluctuation of the power supply voltage Vcc. As a result, since the reference signal S3 also changes according to the power supply voltage Vcc, the PWM signal S1 having a constant duty ratio can be generated regardless of the fluctuation of the power supply voltage Vcc.
  • the manufacturing variation is unavoidable, and the element characteristics of the circuit elements in the semiconductor device 70 vary.
  • the charging time tl depends greatly on the element characteristics such as the second resistor R6, and the discharging time t2 depends on the parallel circuit 27 (first resistor Rl, capacitor 21). It depends heavily.
  • the charging time tl depends on the element characteristics of the circuit elements that are provided in the package of the semiconductor device 70 and are affected by manufacturing variations of the semiconductor device 70.
  • the discharge time t2 hardly depends on the circuit elements in the semiconductor device 70, and can be applied as an external device provided for the semiconductor device 70 and having appropriate element characteristics after the semiconductor device 70 is manufactured.
  • Depends on the parallel circuit 27 first resistor R1, capacitor 21.
  • the discharge time t2 that depends on the element characteristics of the external parallel circuit 27 depends on the charge time tl that depends on the element characteristics of the internal circuit of the semiconductor device 70.
  • the circuit constants of each circuit are set so as to be longer. With such a configuration, the influence of the manufacturing variation of the semiconductor device 70 can be suppressed as much as possible with respect to the duty ratio of the PWM signal S1, and the desired duty ratio can be achieved after the semiconductor device 70 is manufactured. By selecting a parallel circuit 27 having appropriate element characteristics according to the selection, a highly accurate PWM signal S1 can be generated.
  • the oscillation frequency f of the PWM signal SI can be expressed by the following formula 5.
  • Equation 5 depends on the resistance value of the first resistor R 1 and the capacitance of the capacitor 21, and the first resistor R 1 and the capacitor 21 are provided outside the semiconductor device 70. Therefore, it is possible to set the frequency with high accuracy without being affected by manufacturing variations, and to freely set the oscillation frequency f of the PWM signal S 1 by adjusting the characteristics of the first resistor R1 and capacitor 21. can do.
  • the duty ratio Duty of the PWM signal S1 can be expressed by Equation 6 below.
  • the switching circuit 12 for setting the reference signal S3 level is provided outside the semiconductor device 70. Therefore, by setting the voltage dividing resistors R7, R8, etc. constituting the switching circuit 12 to have appropriate characteristics according to the desired duty ratio, a highly accurate duty ratio can be set without being affected by manufacturing variations.
  • the duty ratio of the PWM signal S1 can be freely set by adjusting the characteristics of the voltage dividing resistors R7 and R8.
  • the time force when the level of the output signal S4 (output signal S4 ′) is inverted by the first and second short-circuiting FETs T55 and 56 as the level inversion prohibiting circuit is also countered.
  • the reference signal S3 level is mainly determined by voltage dividing resistors R7 and R8 provided in the switching circuit 12, and the resistance component in the comparator 50 is The configuration is substantially unaffected.
  • the voltage dividing resistors R7 and R8 are externally attached, and can be made to have an appropriate resistance value even after the PWM signal generation circuit 10 is manufactured. Therefore, the PWM signal S1 with a stable duty ratio can be generated even if there is a variation due to manufacturing factors of circuit constants (see Figure 3 (bottom time chart)).
  • the NAND circuit 58 detects the time when the increase / decrease tendency of the oscillation signal S2 is reversed after the oscillation signal S2 level falls below the reference signal S3 level, and at this detection timing, for the first short circuit Release the short circuit operation of FET55, that is, release the level inversion prohibition.
  • the NAND circuit 59 detects when the increase / decrease tendency of the oscillation signal S2 is reversed, and at this detection timing, the second short-circuit FE T56 is short-circuited. Is released, that is, the level inversion prohibition is released. Therefore, the level inversion prohibition can be canceled without using a timer or the like.
  • the above-described switch element or semiconductor switch element connected to the power source and the load may be provided inside the semiconductor device 70 or may be provided outside.
  • the FETs 23 to 26 and 51 to 56 may be bipolar transistors.
  • the transistors 30, 31 are bipolar transistors such as FETs. A little.
  • the reference signal S 3 level or the oscillation signal S 2 level given to the comparator 50 is forcibly pulled up or Even pull-down configuration! /.
  • the comparator 50 is used as the comparison circuit.
  • the present invention is not limited to this, and a configuration using an operational amplifier may be used. In this case, short-circuiting switch elements should be connected in parallel to a pair of switch elements that constitute the push-pull circuit in the operational amplifier!
  • the pull-down (outputs an oscillation signal based on the potential at the low potential end of the capacitor 21) type oscillation circuit is employed in the above embodiment, the pull-up (the potential at the high potential end of the capacitor 21) is adopted. It may be a type that outputs an oscillation signal based on this type. However, if the reference signal is set to the low potential side of the oscillation level as in the above embodiment, the oscillation signal waveform is steep in this portion, and thus chattering may occur. There is an advantage that the time can be shortened.

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Abstract

 周波数制御回路11のうち、並列回路27部分のみを外付けとし、これにより、充電時間t1は、半導体装置70のパッケージ内に設けられ当該半導体装置70の製造上のばらつきによる影響を受ける回路素子の素子特性に依存し、放電時間t2は、半導体装置70の外付けとして設けられ当該半導体装置70の製造後に適切な素子特性のものを適用することが可能な並列回路27に依存する。そして、外付けの並列回路27の素子特性に依存する放電時間t2が、半導体装置70の内部回路の素子特性に依存する充電時間t1よりも長くなるように各回路の回路定数が設定されている。

Description

明 細 書
電力供給制御装置
技術分野
[0001] 本発明は、 PWM制御によって半導体スィッチ素子をオンオフ動作させる電力供給 制御装置に関する。
背景技術
[0002] 例えば車両のヘッドランプについては各国で安全基準があり、この安全基準によれ ば、 日中であってもヘッドランプを夜間点灯に対して所定の割合 (例えば 25%)の輝 度で点灯させて走行する必要がある。そこで、従来から、ヘッドライトの日中点灯 (デ イライト)につ 、ては PWM制御によって夜間点灯に対して所定の割合の輝度で点灯 させるものがある。この PWM制御の構成としては、例えば下記特許文献 1に開示さ れたものがある。即ち、このものは、放電と充電とが繰り返されるコンデンサの端子間 電圧に基づく三角波信号を、ヒステリシスコンパレータに与える。そして、このヒステリ シスコンパレータにて、それに設定された 2つの閾値電圧と上記三角波信号レベルと の大小比較し、その大小関係のレベル反転に応じた出力信号を、 PWM信号として 出力するものである。
特許文献 1 :特開 2003— 188693公報
[0003] ところが、次のようなことが原因で、所望のデューティ比の PWM信号を精度よく生 成できな ヽと 、つた問題があった。
具体的には、まず、半導体装置の製造上のばらつきが原因で、所望のデューティ 比の PWM信号を精度よく生成できない場合がある。近年では、上記三角波信号を 出力する発振回路や比較回路 (ヒステリシスコンパレータ)を半導体チップ内に設け てワンチップ化した、或 、は複数のチップで構成されたものをワンパッケージィ匕した 高機能な半導体装置が望まれて 、る。
[0004] し力しながら、このような半導体装置内に発振回路を設けるようにした場合、その発 振回路を構成する素子特性のばらつきが問題となる。即ち、発振回路の発振周波数 を定めるコンデンサや抵抗を半導体素子の内部に設けると、その製造上のばらつき に起因して発振周波数がばらついてしまう。特に、上述した車両の日中点灯の場合、 発振周波数が所定の値 (例えば 40Hz)以下になると、人が目で見てヘッドランプがち らついて見えるため、この所定の値よりも高い発振周波数に精度良く設定する必要が ある。
[0005] また、上記閾値電圧を設定するための閾値設定回路 (例えば分圧回路)も半導体 素子内に設けることも考えられる力 このような場合も製造上のばらつきに起因して閾 値がばらつき、この結果、デューティ比を精度良く設定できず、高精度の PWM制御 を実現できな 、と 、う問題が生じ得る。
また、上記半導体装置に電力を供給する電源の電圧変動が原因で、所望のデュー ティ比の PWM信号を精度よく生成できない場合がある。即ち、電源電圧は、例えば 車両のエンジン起動時などに変動することがあり、これに伴って上記ヒステリシスコン パレータの 2つの閾値も変動することで、 PWM信号のデューティ比が変動してしまう ことがある。
発明の開示
[0006] (発明が解決しょうとする課題)
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、所望の PWM信号 を精度よく生成することが可能な電力供給制御装置を提供することを目的とする。
[0007] (課題を解決するための手段)
第 1の発明に係る電力供給制御装置は、電源と負荷との間に設けられて前記電源 から前記負荷への電力供給を制御する電力供給制御装置であって、前記電源から 前記負荷への通電路に配される半導体スィッチ素子と、発振信号を出力する発振回 路、及び、前記発振回路力 の前記発振信号が入力されるとともに基準信号が入力 され前記発振信号レベルと前記基準信号レベルとの大小関係に応じてレベル反転 する出力信号を出力する比較回路を有し、前記比較回路力 のパルス列状の出力 信号を、パルス幅変調制御のための PWM信号として前記半導体スィッチ素子に与 えてオンオフ動作させる PWM信号生成回路と、を備え、前記発振回路は、互いに並 列接続された第 1抵抗素子及びコンデンサを有してなる並列回路と、前記コンデンサ を充電するための充電電流の経路中に設けられた第 1スィッチ素子と、前記コンデン サの充電電圧が、電源電圧に応じて変化する第 i電圧に達したときに前記第丄スイツ チ素子をオン力 オフにさせ、前記充電電圧が、前記電源電圧に応じて変化する前 記第 2電圧まで低下したときに前記第 1スィッチ素子をオフ力 オンにさせる充放電 制御回路と、前記充電電流を前記電源電圧に応じて変更させる電流変更回路と、を 備える。
本構成によれば、電源電圧の変動にかかわらず一定のデューティ比の PWM信号 を生成することができる。
[0008] 本発明については、基準信号設定回路力 出力される基準信号レベルが電源電 圧に応じて変化する構成であることが望ましい。これにより、基準信号についても電 源電圧変動による影響を抑制できる。
また、基準信号設定回路は、第 2スィッチ素子を有し、当該第 2スィッチ素子のオン オフ動作に応じて、基準信号レベルを、発振信号の振幅範囲内の第 1レベルと、発 振信号の振幅範囲外の第 2レベルとの間で切り替える切替回路を有してなる構成で あることが望ましい。これにより、第 2スィッチ素子をオンオフ動作させるだけで、 PW M制御の駆動とその停止を容易に切り替えることができる。
また、電流変更回路は、電源に連なる第 2抵抗素子と、当該第 2抵抗素子に流れる 電流を受けるカレントミラー回路とを備え、コンデンサ力 カレントミラー回路によるミラ 一電流によって充電される構成が望ま ヽ。
さらに、 PWM信号製回路のうち並列回路を除く回路部分が、ワンチップ化された、 或いは、複数のチップで構成されてワンパッケージ内に収容された半導体装置とされ 、並列回路が、半導体装置の外部に配置されて当該半導体装置の第 1外部端子を 介して前記並列回路を除く回路部分に接続され、第 1スィッチ素子のオンによるコン デンサの充電時間よりも、第 1スィッチ素子のオフによるコンデンサの放電時間の方 が長くなるように構成されて 、ることが望まし 、。
[0009] 第 2の発明に係る電力供給制御装置は、電源と負荷との間に設けられて前記電源 から前記負荷への電力供給を制御する電力供給制御装置であって、前記電源から 前記負荷への通電路に配される半導体スィッチ素子と、発振信号を出力する発振回 路、及び、前記発振回路力 の前記発振信号が入力されるとともに基準信号が入力 され前記発振信号レベルと前記基準信号レベルとの大小関係に応じてレベル反転 する出力信号を出力する比較回路を有し、前記比較回路力 のパルス列状の出力 信号を、パルス幅変調制御のための PWM信号として前記半導体スィッチ素子に与 えてオンオフ動作させる PWM信号生成回路と、を備え、前記発振回路は、互いに並 列接続された第 1抵抗素子及びコンデンサを有してなる並列回路と、前記コンデンサ を充電するための充電電流の経路中に設けられた第 1スィッチ素子と、前記コンデン サの充電電圧が第 i電圧に達したときに前記第 iスィッチ素子をオン力 オフにさせ
、前記充電電圧が前記第 2電圧まで低下したときに前記第 1スィッチ素子をオフから オンにさせる充放電制御回路とを備えて前記充電電圧に応じた発振信号を出力する 構成とされ、前記 PWM信号製回路のうち前記並列回路を除く回路部分が、ワンチッ プ化された、或いは、複数のチップで構成されてワンパッケージ内に収容された半導 体装置とされ、前記並列回路が、前記半導体装置の外部に配置されて当該半導体 装置の第 1外部端子を介して前記並列回路を除く回路部分に接続され、前記第 1ス イッチ素子のオンによる前記コンデンサの充電時間よりも、前記第 1スィッチ素子のォ フによる前記コンデンサの放電時間の方が長くなるように構成されている。
半導体装置の製造過程では、その半導体装置を構成する抵抗素子等の抵抗値の ばらつき (いわゆる倍半分とも称されるような大きなばらつき)が生じる。そこで、本構 成によれば、 PWM信号製回路のうち、周波数決定素子としての並列回路を除く回 路部分を半導体装置の内部に設ける一方で、並列回路を半導体装置の外部に設け た。そして、半導体装置内の回路部分の素子特性による影響が大きい充電時間より も、半導体装置外の並列回路の回路定数によって定まる放電時間の方が長くなるよ うに設定した。要するに、半導体装置の製造上のばらつきが生じ得る半導体装置内 部の回路部分によって定まる充電時間をなるベく短くしてその影響を抑制する一方 で、上記半導体装置の製造後に適切な回路定数のものに調整可能な並列回路によ つて定まる放電時間を長くしているのである。従って、半導体装置の製造後に、外付 けの並列回路を、所望の周波数に応じた適切な特性のものとすることで、製造ばらつ きによる影響を抑制して精度の高い周波数設定を行うことができる。また、並列回路 の特性(回路定数)を調整することにより PWM信号の発振周波数を自由に設定する ことができる。
[0010] また、本発明に関して、基準信号を出力する基準信号設定回路を、半導体装置の 外部に配置し当該半導体装置の第 2外部端子を介して並列回路を除く回路部分に 接続する構成が望ましい。これにより、基準信号設定回路の構成要素 (例えば抵抗 素子)を、所望のデューティ比に応じた適切な特性のものとすることで、製造ばらつき に影響されることなく精度の高いデューティ比設定を行うことができ、また、上記構成 要素の特性を調整することにより PWM信号のデューティ比を自由に設定することが できる。
更に、半導体装置が、半導体スィッチに流れる電流の異常検出により当該半導体 スィッチに遮断動作をさせる保護回路を含んで、ワンチップ化、或いは、複数のチッ プで構成してワンパッケージ内に収容した構成が望ましい。従来のものでは、マイク 口コンピュータによって PWM信号をソフト的に生成し、これを昇圧回路を介して半導 体スィッチ素子に与えてオンオフ制御するものがある。しかし、電力供給制御装置は 、常にマイクロコンピュータを備えたユニットに実装されるとは限らない。そこで、本構 成によれば、半導体装置内に、 PWM信号生成回路 (並列回路や基準信号設定回 路を除く場合あり)を内蔵した構成であるため、マイクロコンピュータを要することなぐ 電力供給の PWM制御が可能となる。
図面の簡単な説明
[0011] [図 1]本発明の一実施形態に係る電力供給制御回路の構成図
[図 2]PWM信号生成回路の構成図
[図 3]発振信号、基準信号、各点における電圧レベルを示したタイムチャート
[図 4]充電時における並列回路部分の等価回路図
[図 5]放電時における並列回路部分の等価回路図
符号の説明
[0012] 1· ··電力供給制御装置
2· · 'パワー MOSFET (半導体スィッチ素子)
4· · '保護用論理回路 (保護回路)
ΙΟ 'PWM信号生成回路 11· ··周波数制御回路 (発振回路)
12· - -切換回路 (基準信号設定回路)
20· ··コンパレータ (充放電制御回路)
21· ··コンデンサ
22· ••NOT回路 (充放電制御回路)
28· ··カレントミラー回路
27· ··並列回路
30, 31···トランジスタ(第 2スィッチ素子)
50· ··コンパレータ (比較回路)
70· ··半導体装置
80· "電源
81· 負荷
82· ··通電路
83· ··ライン (充電電流の経路)
FET23が本発明の「第 1スィッチ素子」
P1- ··外部端子 (第 1外部端子)
P2, Ρ3···外部端子 (第 2外部端子)
R1- "第 1抵抗 (第 1抵抗素子)
R2〜R4' · '抵抗 (充放電制御回路)
R6 第 2抵抗 (第 2抵抗素子)
S1- PWM信号
S2…発振信号
S3···基準信号
S4, S4'…出力信号
Vcc…高電位 (電源電圧)
発明を実施するための最良の形態
1.電力供給制御装置の全体構成
図 1は、本実施形態に係る電力供給制御装置 1の全体構成を示すブロック図であり 、同図に示すように、本実施形態の電力供給制御装置 1は、車両用電源 (以下、「電 源 80」という)と負荷 81との通電路 82中に配されるパワー MOSFET2 (本発明の「半 導体スィッチ素子」に相当)と、 PWM信号生成回路 10とを備えて構成されている。 P WM信号生成回路 10は、 PWM (Pulse Width Modulationパルス幅変調)信号 SIを 直接又は間接的にパワー MOSFET2の制御入力端子 (ゲート端子 G)に与えること で、このパワー MOSFET2の出力側に連なる電源 80から負荷 81への電力供給を制 御するように構成されている。なお、本実施形態では、電力供給制御装置 1は図示し ない車両に搭載され、負荷 81として例えば車両用のランプ、クーリングファン用モー タゃデフォッガー用ヒータなどの駆動制御をするために使用される。この電力供給制 御装置 1は、入力端子 P1において、後述する切換回路 12が接続される構成であり、 切換回路 12のトランジスタ 30がオン状態になることで PWM信号 S 1をパワー MOSF ET2に与える動作するようになって 、る。
[0014] 図 1に示すように、 PWM信号 S1は PWM信号生成回路 10から FET3の入力に与 えられるようになっており、この PWM信号 S1の入力に応じて FET3がオン状態となり 、保護用論理回路 4 (本発明の「保護回路」の一例)が通電される構成である。保護用 論理回路 4にはチャージポンプ回路 5とターンオフ回路 6がそれぞれ接続されており 、さらに過電流検知回路 7、過温度検出回路 8もそれぞれ接続されている。また、パヮ 一 MOSFET2のドレイン端子 Dとゲート端子 Gとの間にはダイナミッククランプ 9が接 続されている。
[0015] なお、チャージポンプ回路 5は、パワー MOSFET2のゲート端子 Gに接続されてお り、チャージポンプ回路 5とパワー MOSFET2のゲート端子 Gとの間には、過電流検 知回路 7からのライン (具体的には、過電流検知回路 7に設けられ、上記パワー MO SFET2の電流量に応じたセンス電流が流れるセンス MOSFETのゲート端子 Gから のライン)が接続されている。また、パワー MOSFET2のゲート端子 Gとソース端子 S との間には、ターンオフ回路 6が接続されており、このターンオフ回路 6は保護用論理 回路 4によって制御されるようになって 、る。
[0016] 過電流検知回路 7は、パワー MOSFET2の電流量に応じたセンス電流が流れるセ ンス MOSFET (図示せず)を備えており、このセンス電流力 例えば負荷 81が短絡 してパワー MOSFET2に大電流が流れたときの短絡異常検出用の閾値を上回った ときに保護用論理回路 4に第 1異常信号 SCを出力する。また、センス電流が、例えば 上記短絡異常ではないが何らかの原因でパワー MOSFET2に大電流 (短絡異常時 よりも小さい電流)が流れたときの過電流異常検出用の閾値を上回ったときに保護用 論理回路 4に第 2異常信号 OCを出力する。
[0017] 保護用論理回路 4は、 PWM信号 S1を受けることで起動し、正常時は、チャージポ ンプ回路 5を駆動させ、このチャージポンプ回路 5は昇圧した電圧をパワー MOSFE T2及びセンス MOSFETの各ゲート ソース間に与えてオンして通電状態にさせる ように動作する。一方、保護用論理回路 4は、上記第 1異常信号 SC或いは第 2異常 信号 OCを受けた異常検出時には、チャージポンプ回路 5をオフさせるとともに、ター ンオフ回路 6を駆動させるハイレベルの制御信号 S7を出力し、これにより、パワー M OSFET2及びセンス MOSFETの各ゲート—ソース間の電荷を放電し、遮断させる ように動作する。
なお、この遮断動作は、 PWM信号 S1が再入力(例えば負荷駆動信号が入力)さ れない限り通電状態に復帰することができない、自己復帰不能な遮断動作であって も、或いは、第 1異常信号 SC及び第 2異常信号 OCのいずれの信号も受けなくなつ たときはパワー MOSFET15等を通電状態に復帰させる、自己復帰可能な遮断動作 であってもよい。
[0018] また、過温度検知回路 8からの温度異常を示す第 3異常信号 OTは、保護用論理 回路 4にも入力されるようになっており、このときも保護用論理回路 4から制御信号 S2 が出力されパワー MOSFET15等に上述の自己復帰可能或いは自己復帰不能な 遮断動作をさせるようになって ヽる。
[0019] 2. PWM信号生成回路の構成
PWM信号生成回路 10は、任意のデューティ比の PWM信号 S1を生成しこれを半 導体装置(半導体ディバイス) 70 (本実施形態ではパワー MOSFET2及びその保護 機能を内蔵した半導体装置 (例えば IPS:インテリジェンスパワーディバイス) )に与え てオンオフ動作させることで、この半導体装置 70 (パワー MOSFET2)の出力側に 連なる電源 80から負荷 81への電力供給を PWM制御(Pulse Width Modulation ノ ルス幅変調)するためのものである。
[0020] 以下、 PWM信号生成回路 10について図 2, 3を参照しつつ説明する。
図 2は、本実施形態に係る PWM信号生成回路 10の構成図である。同図に示すよ うに、 PWM信号生成回路 10は、主として、発振信号 S2を出力する周波数制御回路 11と、後述する日中点灯及び夜間点灯等の切り換えを行うための切換回路 12と、漏 れ電流カット回路 13と、デューティ比制御回路 14と、を備えて構成されている。
[0021] (1)周波数制御回路
周波数制御回路 11 (本発明の「発振回路」の一例)は、コンパレータ 20 (オペアン プであってもよい)を備え、このコンパレータ 20の負入力端子力 コンデンサ 21及び 第 1抵抗 R1 (本発明の「第 1抵抗素子」の一例)の並列回路 27を介して電源 80の高 電位 (Vcc 本発明の「電源電圧」の一例)端子 P4に接続されている。つまり、コンパ レータ 20の負入力端子には、コンデンサ 21の端子間電圧に応じたレベルの電圧信 号が与えられる。以下、コンパレータ 20の負入力端子に連なる点 Aの電圧レベルを Vaとする。なお、この点 Aでの電圧 Vaレベルに応じた信号が発振信号 S2としてデュ 一ティ比制御回路 14に与えられる。また、電源電圧 Vccと電圧 Vaとの電位差が、コン デンサ 21の端子間電圧であり、本発明の「コンデンサの充電電圧」の一例である。
[0022] 一方、コンパレータ 20の正入力端子は、電源 80の高電位端子 P4と低電位(GND )端子 P5との間に直列接続された分圧抵抗 R2, R3からなる分圧回路の分圧電位が 与えられるとともに、コンパレータ 20の出力 Bが帰還抵抗 R4を介して正帰還されてい る。つまり、コンパレータ 20の正入力端子には、分圧抵抗 R2、 R3及び帰還抵抗 R4 の各抵抗値に応じたレベルの電圧信号が与えられる。以下、コンパレータ 20の正入 力端子に連なる点 Cの電圧レベルを Vcとする。
[0023] 次いで、コンパレータ 20の出力は、 NOT回路 22に与えられる。一方、上記並列回 路 27の低電位側は、直列接続された 3つの nチャネル型の FET23, 24, 25及び抵 抗 R5を介して電源 80の低電位端子 P5側に接続されて 、る。このうち高電位側の FE T23のゲートに NOT回路 22の出力 Dの電圧信号が与えられるようになつている。な お、上記 FET23が本発明の「第 1スィッチ素子」の一例であり、並列回路 27から FE T23〜25及び抵抗 R5を介して低電位端子 P5に連なるライン 83が本発明の「充電 電流の経路」の一例である。また、コンパレータ 20、抵抗 R2〜R4及び NOT回路 22 力 本発明の「充放電制御回路」の一例である。
[0024] また、 FET24は、ゲートとドレインとが短絡接続された nチャネル型の FET26ととも にカレントミラー回路 28を構成しており、この FET26のドレインが第 2抵抗 R6 (本発 明の「第 2抵抗素子」に相当)を介して電源 80の高電位端子 P4に接続されている。
[0025] (2)切換回路及び漏れ電流カット回路
切換回路 12は、 1対の pnp形のトランジスタ 30, 31を有し、このうちトランジスタ 30 は、ェミッタが電源 80の高電位端子 P6側に接続され、コレクタが 1対の分圧抵抗 R7 , R8を介して電源 80の低電位端子 P5側に接続されている。トランジスタ 31は、ェミツ タが電源 80の高電位端子 P6側に接続され、コレクタが分圧抵抗 R7, R8の接続点 E に接続されている。そして、この接続点 Eの電圧 Veレベルに応じた信号が基準信号 S3としてデューティ比制御回路 14に与えられる。また、この接続点 Eの電圧 Veレべ ルに応じた信号は上記 FET25のゲートにも与えられる。
[0026] トランジスタ 31は、車両内の図示しない操作部から、例えばデューティ比 100%で ヘッドライトを点灯させる「夜間点灯」を指示する信号を受けてオン動作する。また、ト ランジスタ 30は、例えばデューティ比 25% (本発明の「所望のディーディ比」の一例) でヘッドライトを点灯させる「日中点灯 (ディライト)」を指示する信号を受けてオン動作 する。そして、 FET25は、トランジスタ 30, 31のいずれか一方がオン状態にあるとき にオン動作し、両トランジスタ 30, 31がともにオフ状態にあるときオフ状態となる。要 するに、 FET25は、夜間点灯及び日中点灯以外のヘッドライト非点灯時等の場合は オフ状態になって漏れ電流を抑制する役目を果たして!/ヽる。
[0027] (3)デューティ比制御回路
デューティ比制御回路 14は、コンパレータ 50 (本発明の「比較回路」の一例)を有し て構成されている。コンパレータ 50は、その正入力端子に連なり発振信号 S2を受け てオンオフ状態となる電流制御素子としての pチャネル型の第 1FET51と、その負入 力端子に連なり基準信号 S3を受けてオンオフ状態となる電流制御素子としての pチ ャネル型の第 2FET52とを備えて 、る。
[0028] このうち、第 1FET51は、ソースが定電流源 60に接続され、ドレイン力 チャネル型 の FET53を介して上記 FET24と FET25との接続点に接続されている。一方、第 2F ET52は、ソースがやはり定電流源 60に接続され、ドレイン力 ¾チャネル型の FET54 を介して上記 FET24と FET25との接続点に接続されている。そして、 FET53はそ のゲートとドレインとが短絡接続され、 FET54とともにカレントミラー回路を構成してい る。
[0029] そして、上記発振信号 S2レベルと基準信号 S3レベルとの大小関係に応じてレべ ル反転する出力信号 S4が NOT回路 57に与えられ、この NOT回路 57からレベル反 転した出力信号 S4'が PWM信号 S1として出力される。なお、以下、コンパレータ 50 の出力点 Fの電圧レベルを Vfとし、 NOT回路 57の出力点 Hの電圧レベルを Vhとす る。
[0030] さて、本実施形態では、第 1FET51に対して短絡用スィッチ素子としての pチヤネ ル型の第 1短絡用 FET55が並列接続されており、この第 1短絡用 FET55は、ゲート にローレベルの制御信号 S5を受けることでオン動作して第 1FET51のソース一ドレ イン間を短絡させる役目を果たす。また、第 2FET52に対して短絡用スィッチ素子と しての pチャネル型の第 2短絡用 FET56が並列接続されており、この第 2短絡用 FE T56は、ゲートにやはりローレベルの制御信号 S6を受けることでオン動作して第 2F ET52のソース一ドレイン間を短絡させる役目を果たす。
[0031] また、 PWM信号生成回路 10は、 1対の NAND回路 58, 59を備えている。このうち 、 NAND回路 58は、その入力に NOT回路 22の出力 Dの電圧レベル Vdと NOT回 路 57の出力点 Hの電圧レベル Vhとが与えられ、その出力が第 1短絡用 FET55のゲ ートに与えられるようになつている。一方、 NAND回路 59は、その入力にコンパレー タ 20の出力点 Bの電圧レベル Vbと NOT回路 57の入力点 Fの電圧レベル Vfとが与 えられ、その出力が第 2短絡用 FET56のゲートに与えられるようになって 、る。
[0032] ここで、 PWM信号生成回路 10の回路構成は以上であるが、本実施形態では、パ ヮー MOSFET2、 FET3、保護用論理回路 4、チャージポンプ回路 5、ターンオフ回 路 6、過電流検知回路 7、過温度検知回路 8及びダイナミッククランプ 9が、ワンチップ 化された、或いは、複数のチップで構成されてワンパッケージ内に収容されて半導体 装置 70を構成している。更に、周波数制御回路 11の発振周波数を決めるコンデン サ 21及び第 1抵抗 Rl (並列回路 27)、及び、切換回路 12以外の部分が、半導体装 置 70の内部にワンチップィ匕された、或いは、複数のチップで構成されてワンパッケ一 ジ内に収容されている。より具体的には、 RC並列回路 27は、その一端側が外部端 子 P2 (本発明の「第 1外部端子」の一例)を介して抵抗 R2, R6の高電位側に接続さ れ、他端側が外部端子 P3 (本発明の「第 1外部端子」の一例)を介してコンパレータ 2 0の負入力端子に接続されている。切換回路 12は、分圧抵抗 R7, R8の接続点 Eが 外部端子 P1 (本発明の「第 2外部端子」の一例)を介してデューティ比制御回路 14の FET25のゲートに接続されて!、る。
[0033] 3.本実施形態の動作
(1)周波数制御回路
電力供給制御装置 1に電源 80が投入され、切換回路 12に対して夜間点灯指示信 号又は日中点灯指示信号が入力されると、 FET25がオン状態となる。そして、当初 は、コンパレータ 20の負入力端子に連なる点 Aは電源 80の高電位端子の電圧 Vcc 側にあり、当該コンパレータ 20はオフ状態、つまり、コンパレータ 20の出力点 Bの電 圧 Vbはローレベルになっている。従って、 NOT回路 22からのハイレベルの電圧信 号 Vdによって FET23がオン状態となり、電源 80力ら並列回路 27、 FET23, 24, 25 及び抵抗 R5を介して充電電流 il (本発明の「ミラー電流」の一例)が流れるとともに、 コンデンサ 21への充電が開始される。
[0034] ここで、前述したように、 FET24, 26はカレントミラー回路 28を構成して!/、る力 、 F ET23, 24に流れる充電電流 ilの電流量は、第 2抵抗 R6及び FET26に流れる電流 i2 (本発明の「第 2抵抗素子に流れる電流」の電流量、即ち、電源 80の高電位 Vccに 依存することとなる。従って、電源 80の高電位 Vccが例えば電源電圧の変動等によ つて低くなつた場合、これに追従するようにコンデンサ 21への充電電流 ilの電流量 が減少する。逆に、電源 80の高電位 Vccが高くなつた場合、これに追従するようにコ ンデンサ 21への充電電流 ilの電流量が増大する。このため、結果として、電源 80の 高電位 Vccの変動に影響されることなぐコンデンサ 21への充電時間、即ち、点 Aに おける発振信号 S2の周波数を安定ィ匕させることができる。なお、このことについての 具体的な説明は後述する。 [0035] また、このとき、コンパレータ 20の出力点 Bの電圧レベル Vbは電源 80の低電位 G NDにほぼ等しくなつている。本実施形態では、例えば、分圧抵抗 R2, R3は等しい 抵抗値であり、帰還抵抗 R4は各分圧抵抗 R2 (R3)の半分の抵抗値に設定されて!、 る。従って、図 3 (最上段のタイムチャート)に示すように、点 Cの電圧レベル Vcは 1Z 4Vccであり、これがコンパレータ 20の正入力端子に与えられる。なお、このときのコ ンデンサ 21の充電電圧は、 3Z4Vcc (= (高電位 Vcc)—(上記 lZ4Vcc) )であり、こ れが本発明の「第 1電圧」の一例である。
[0036] そして、コンデンサ 21への充電が進むに連れて点 Aの電圧レベル Vaが徐々に低 下し上記 lZ4Vccを下回ると、コンパレータ 20の出力点 Bの電圧レベル Vbがハイレ ベルにレベル反転する(同図(上から 2段目のタイムチャート)参照)。また、これに伴 つて FET23がオフ状態となり、コンデンサ 21への充電が停止し放電が開始される。 このとき、コンパレータ 20の出力点 Bの電圧レベル Vbは電源 80の高電位 Vccにほぼ 等しくなつている。従って、図 3 (最上段のタイムチャート)に示すように、点 Cの電圧レ ベル Vcは 3Z4Vccとなり、これがコンパレータ 20の正入力端子に与えられるようにな る。なお、このときのコンデンサ 21の充電電圧は、 lZ4Vcc(= (高電位 Vcc)—(上 記 3Z4Vcc) )であり、これが本発明の「第 2電圧」の一例である。
[0037] その後、コンデンサ 21の放電が進むに連れて点 Aの電圧レベル Vaが徐々に上昇 し上記 3Z4Vccを上回ると、再びコンパレータ 20がオフ状態となり(同図(上から 2段 目のタイムチャート)参照)、出力点 Bの電圧レベル Vbがローレベルにレベル反転す る。このように、点 Aの電圧レベル Vaは、 lZ4Vccと 3Z4Vccとの間でレベル反転す る三角波状に変化し、これが発振信号 S2としてデューティ比制御回路 14のコンパレ ータ 50の正入力端子(第 1FET51のゲート)に与えられるのである。
[0038] (2)デューティ比制御回路
デューティ比制御回路 14のコンパレータ 50は、その正入力端子に上記周波数制 御回路 11からの発振信号 S2が入力され、その負入力端子に切換回路 12からの接 続点 Eにおける電圧レベル Veが与えられる。ここで、本実施形態では、切換回路 12 に日中点灯指示信号が与えられているとき、接続点 Eの電圧レベル Veは図 3 (最上 段のタイムチャート)に示すようなレベル(lZ4Vccと 3Z4Vccとの間において 1Z4V cc寄りのレベル)になるよう抵抗 R7, R8の抵抗値が設定されている(このときの電圧 レベル Veが、本発明でいう「第 1レベル」の一例)。より具体的には、 PWM信号 S1の デューティ比が例えば 25%になるように調整されている。
[0039] そして、コンパレータ 50は、発振信号 S2レベルが接続点 Eの電圧レベル Veを上回 つているとき、第 1FET51がオフ状態にあり、コンパレータ 50の出力点 Fの電圧レべ ル Vfはハイレベルになる。一方、発振信号 S2レベルが接続点 Eの電圧レベル Veを 下回ると、第 1FET51はオン動作し、コンパレータ 50の出力点 Fの電圧レベル Vfは ローレベルにレベル反転する。これにより、コンパレータ 50の出力点 Fの電圧レベル Vfは、図 3 (上力 4段目のタイムチャート)に示すように矩形波状のパルス波形となる
[0040] ところで、切換回路 12から与えられる基準信号 S3レベル (接続 Eの電圧レベル Ve) は、例えば車両の加減速時のノイズ等によって変動が生じることがある。そうすると、 発振信号 S2レベルと基準信号 S3レベルとのレベル反転時においてチャタリングが 発生し(図 3 (上力も 4, 5段目のタイムチャート)参照)、 PWM信号 S1のデューティ比 が変動し、 日中点灯に対して安定した PWM制御が行えなくなるおそれがある。
[0041] そこで、本実施形態では、前述したように、コンパレータ 50に第 1及び第 2の短絡用 FET55, 56を設けたのである。このうち、第 1短絡用 FET55は、 NAND回路 58から 、 NOT回路 22の出力 Dの電圧レベル Vdと NOT回路 57の出力点 Hの電圧レベル V hとが共にハイレベルのときにローレベル信号を受けてオン動作し、それ以外のとき にハイレベル信号を受けてオフ状態となる。つまり、第 1短絡用 FET55は、図 3 (上か ら 6段目のタイムチャート)に示すように、発振信号 S2レベルが基準信号 S3レベルを 下回った時点から、その後に発振信号 S2の増減傾向が反転 (減少傾向から増加傾 向への反転)した時点までの期間はオン動作 (短絡動作)し、それ以外の期間はオフ 状態 (非短絡状態)となる。
[0042] これにより、発振信号 S2レベルが基準信号 S3レベルを下回った時点で、第 1短絡 用 FET55によって正入力端子側の第 1FET51のドレイン—ソース間が短絡される。 そして、この第 1FET51と連なる FET53とカレントミラー回路を構成する FET54に対 してより大きな電流が流れる。このため、このときにたとえ基準信号 S3レベルに変動 が生じていてもコンパレータ 50の出力点 Fの電圧レベル Vfをローレベルに強制的に 維持しレベル反転を禁止することができる。このようなコンデンサ 21の充電時には、 点 Aの電圧レベル Vaが下降し、第 1FET51に流れる電流が増加傾向にあり、この第 1FET51に流れる電流(発振信号 S2レベルに応じた電流)力 SFET53, 54に流れる 。そして、第 1短絡用 FET55がオンされると、第 1短絡用 FET55のオフ時に第 1FE T51に流れていた上記電流よりも大きな電流が FET53, 54に流れるようになる。これ は、コンパレータ 50において基準信号 S3レベルと比較すべきレベルを、発振信号 S 2レベルにかかわらず、出力点 Fの電圧レベル Vfがレベル反転しないレベルに変更 することを意味する。
[0043] 一方、第 2短絡用 FET56は、 NAND回路 59から、コンパレータ 20の出力点 Bの電 圧レベル Vbと NOT回路 57の入力点 Fの電圧レベル Vfとが共にハイレベルのときに ローレベル信号を受けてオン動作し、それ以外のときにハイレベル信号を受けてオフ 状態となる。つまり、図 3 (上力 7段目のタイムチャート)に示すように、第 2短絡用 FE T56は、発振信号 S2レベルが基準信号 S3レベルを上回った時点から、その後に発 振信号 S 2の増減傾向が反転 (増加傾向から減少傾向への反転)した時点までの期 間はオン動作 (短絡動作)し、それ以外の期間はオフ状態 (非短絡状態)となる。
[0044] これにより、発振信号 S2レベルが基準信号 S3レベルを上回った時点で、第 2短絡 用 FET56によって負入力端子側の第 2FET52のドレイン—ソース間が短絡される。 このため、このときにたとえ基準信号 S3レベルに変動が生じていてもコンパレータ 50 の出力点 Fの電圧レベル Vfをハイレベルに強制的に維持しレベル反転を禁止するこ とができる。このようなコンデンサ 21の放電時には、点 Aの電圧レベル Vaが上昇し、 第 1FET51に流れる電流が減少傾向にある一方で、第 2FET52には基準信号 S 3レ ベルに応じた電流が流れている。そして、第 2短絡用 FET56がオンされると、第 2短 絡用 FET56のオフ時に第 2FET52に流れていた上記電流よりも大きな電流が第 2 短絡用 FET56を介して流れるようになる。これは、コンパレータ 50において発振信 号 S2レベルと比較すべきレベルを、基準信号 S3レベルにかかわらず、出力点 Fの電 圧レベル Vfがレベル反転しないレベルに変更することを意味する。
[0045] (3)切換回路及び漏れ電流カット回路 上記では、 日中点灯時の動作について説明した力 夜間点灯に切り換える場合は
、切換回路 12に対して夜間点灯指示信号が与えられることで、トランジスタ 30がオフ 状態となり、トランジスタ 31がオン状態となる。これにより、図 3 (最上段のタイムチヤ一 ト)右側に示すように、基準信号 S3レベル (接続 Eの電圧レベル Ve)が電源 80の高 電位 Vccとほぼ同じレベルになる(このときの電圧レベル Veが、本発明でいう「第 2レ ベル」の一例)。従って、基準信号 S3レベルが発振信号 S2レベルを常に上回ること になり、もってデューティ比 100%の夜間点灯が実行されるのである。
[0046] また、ヘッドライトを点灯させない場合は、切換回路 12のトランジスタ 30, 31が共に オフ状態となる。このとき、 FET25もオフ状態となるから、非点灯時における電源 80 力 の漏れ電流をカットすることができる。
[0047] このように本実施形態では、切換回路 12のスィッチ制御によって、ヘッドライドの夜 間点灯と日中点灯の切り換え、及び、ヘッドライト非点灯時の漏れ電流カットを実行 することができるのである。
[0048] 4.本実施形態の効果
( 1 )電源電圧の変動に対する効果
図 4は、コンパレータ 20がオフ状態となりコンデンサ 21が充電されているときの等価 回路を示しており、図 5は、コンパレータ 20がオン動作してコンデンサ 21が放電して V、るときの等価回路を示して 、る。
図 4より、コンデンサ 21の充電時の点 Aの電圧レベル Vaと時間 tとの関係は次の数 式 1で表すことができる。
(数 1)
Vcc _ Va = R · il + k · e Crx
R:第 1抵抗 Rlの抵抗値
C :コンデンサ 21の容量
k:時間 t = 0、 Va = 3Z4Vccのときに上記数式 1より定まる係数
[0049] そして、この数式 1に電圧レベル Va= lZ4Vccを代入することにより、コンデンサ 2 1への充電時間 tl (図 3 (最上段のタイムチャート)に図示)を求めることができる。 また、充電電流 ilが、第 2抵抗 R6に流れる電流 i2のミラー電流であることから、次の 数式 2が成り立つ。
(数 2)
Figure imgf000019_0001
こで、 Vcc》Vtのとき
Figure imgf000019_0002
0. 5C - R il:充電電流の電流値
Vt:FET26のゲート ソース間電圧
R' :第 2抵抗 R6の抵抗値
従って、充電時間 tlは、電源電圧 Vccの変動に依存しない。
また、図 5より、コンデンサ 21の放電時の点 Aの電圧レベル Vaと時間 tとの関係は 次の数式 3で表すことができる。
(数 3)
Figure imgf000019_0003
R:第 1抵抗 R1の抵抗値
C :コンデンサ 21の容量
そして、この数式 2に電圧レベル Va = 3Z4Vccを代入することにより、コンデンサ 2 1への放電時間 t2 (図 3 (最上段のタイムチャート)に図示)を求めることができる。 具体的には、放電時間 t2は次の数式 4で表すことができる。
(数 4) t 2 = - CR - ln ^ j
従って、放電時間 t2も、充電時間 tlと同様に、電源電圧 Vccの変動に依存しない。 即ち、本実施形態によれば、電源電圧 Vccの変動にかかわらず充電時間と放電時間 との比が一定の発振信号 S2を生成することができる。し力も、基準信号 S3も電源電 圧 Vccに応じて変化する構成であるため、この結果、電源電圧 Vccの変動にかかわら ず一定デューティ比の PWM信号 S1を生成することができる。
[0051] (2)半導体装置の製造上のばらつきによる影響に対する効果
半導体装置 70を製造する上で、その製造上のばらつきは避けられず、これにより半 導体装置 70内の回路素子の素子特性がばらつく。ここで、上記数式からも分力るよう に、充電時間 tlは、第 2抵抗 R6などの素子特性に大きく依存し、放電時間 t2は、並 列回路 27 (第 1抵抗 Rl、コンデンサ 21)に大きく依存する。
[0052] そこで、本実施形態では、周波数制御回路 11のうち、並列回路 27部分のみを外付 けとしたのである。そうすると、充電時間 tlは、半導体装置 70のパッケージ内に設け られ当該半導体装置 70の製造上のばらつきによる影響を受ける回路素子の素子特 性に依存する。一方、放電時間 t2は、半導体装置 70内の回路素子にはほとんど依 存せず、半導体装置 70の外付けとして設けられ当該半導体装置 70の製造後に適切 な素子特性のものを適用することが可能な並列回路 27 (第 1抵抗 R1、コンデンサ 21 )に依存する。そして、図 3 (最上段のタイムチャート)に示すように、外付けの並列回 路 27の素子特性に依存する放電時間 t2が、半導体装置 70の内部回路の素子特性 に依存する充電時間 tlよりも長くなるように各回路の回路定数が設定されている。こ のような構成であれば、 PWM信号 S1のデューティ比に対して、半導体装置 70の製 造上のばらつきによる影響を極力抑制でき、しかも、当該半導体装置 70の製造後に 、所望のデューティ比に応じた適切な素子特性の並列回路 27を選択することにより、 精度の高い PWM信号 S1を生成することができる。
[0053] (3)また、このような構成であるため、次のように発振周波数 f等を精度よく調整する ことができる。 PWM信号 SIの発振周波数 fは次の数式 5で示すことができる
(数 5)
、 1
f t l + t 2 この数式 5は、第 1抵抗 R1の抵抗値及びコンデンサ 21の容量に依存し、第 1抵抗 R 1及びコンデンサ 21は半導体装置 70の外部に設ける構成である。従って、製造ばら つきに影響されることなく精度の高い周波数設定を行うことができ、また、第 1抵抗 R1 及びコンデンサ 21の特性を調整することにより PWM信号 S 1の発振周波数 fを自由 に設定することができる。
[0054] (4)また、コンデンサ 21の充電時に電圧レベル Vaが基準信号 S3レベル (接続 Eの 電圧レベル Vel)を下回ってからコンデンサ 21の充電が停止するまでの時間 tdl (図 3 (最上段のタイムチャート)に図示)は、上記充電時間 tlから、上記数式 1に電圧レ ベル Va=Velを代入して得た時間を減算して求めることができる。
一方、コンデンサ 21の放電開始時力も電圧レベル Vaが基準信号 S3レベル (接続 Eの電圧レベル Vel)を上回るまでの時間 td2 (図 3 (最上段のタイムチャート)に図示 )は、上記数式 2に電圧レベル Va=Velを代入して求めることができる。
[0055] そして、 PWM信号 S1のデューティ比 Dutyは次の数式 6で示すことができる。
(数 6) t d l + t d2
D uty = t l + t 2
本実施形態では、基準信号 S3レベルを設定する切換回路 12を、半導体装置 70の 外部に設ける構成である。従って、切換回路 12を構成する分圧抵抗 R7, R8等を、 所望のデューティ比に応じた適切な特性のものとすることで、製造ばらつきに影響さ れることなく精度の高いデューティ比設定を行うことができ、また、分圧抵抗 R7, R8 等の特性を調整することにより PWM信号 S1のデューティ比を自由に設定することが できる。 [0056] (5)本実施形態によれば、レベル反転禁止回路としての第 1及び第 2の短絡用 FE T55, 56によって、出力信号 S4 (出力信号 S4' )がレベル反転した時点力もその反 転状態が維持され、その後に発振信号 S2の増減傾向が反転した時点でそのレベル 反転禁止が自動で解除される。これにより、例えば車両の加速時のノイズ等によって 基準信号 S3レベルに変動が生じる場合でもチャタリングを防止できる。また、本実施 形態では、ヒステリシスコンパレータを利用した従来構成とは異なり、基準信号 S3レ ベルは、主として切換回路 12に設けられた分圧抵抗 R7, R8によって定まり、コンパ レータ 50内の抵抗成分の影響を実質的に受けない構成となっている。し力も、分圧 抵抗 R7, R8は外付けとされており、 PWM信号生成回路 10の製造後でも適切な抵 抗値のものにすることが可能となっている。従って、回路定数の製造要因によるばら つきがある場合でも安定したデューティ比の PWM信号 S1を生成することができる( 図 3 (最下段のタイムチャート)参照)。
[0057] (6)また、 NAND回路 58は、発振信号 S2レベルが基準信号 S3レベルを下回った 後、当該発振信号 S2の増減傾向が反転した時点を検知し、この検知タイミングで第 1短絡用 FET55の短絡動作を解除する、即ち、レベル反転禁止を解除する。一方、 NAND回路 59は、発振信号 S2レベルが基準信号 S3レベルを上回った後、当該発 振信号 S2の増減傾向が反転した時点を検知し、この検知タイミングで第 2短絡用 FE T56の短絡動作を解除する、即ち、レベル反転禁止を解除する。従って、タイマーな どを用いることなぐレベル反転禁止の解除を行うことができる。
[0058] <他の実施形態 >
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく 、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも 要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
(1)上記実施形態において、電源及び負荷に連なる前述のスィッチ素子や半導体 スィッチ素子を、半導体装置 70の内部に設けた構成であっても、或いは外部に設け た構成であってもよい。
[0059] (2)上記 FET23〜26, 51〜56は、バイポーラトランジスタであってもよい。
[0060] (3)また、トランジスタ 30, 31は、例えば FETなどのュ-ポーラトランジスタであって ちょい。
[0061] (4)レベル反転禁止回路として、上記実施形態の構成以外に、例えば、コンパレー タ 50に与えられる基準信号 S 3レベル或 、は発振信号 S 2レベルを強制的にプルアツ プ或 、はプルダウンさせる構成であってもよ!/、。
[0062] (5)上記実施形態では、比較回路としてコンパレータ 50を利用した構成としたが、 これに限らず、オペアンプを利用した構成であってもよい。この場合、オペアンプ内 のプッシュプル回路を構成する 1対のスィッチ素子に対して短絡用スィッチ素子をそ れぞれ並列接続すればよ!、。
[0063] (6)上記実施形態では、プルダウン (コンデンサ 21の低電位端の電位に基づく発 振信号を出力)タイプの発振回路を採用したが、プルアップ (コンデンサ 21の高電位 端の電位に基づく発振信号を出力)タイプを採用したものであってもよい。但し、上記 実施形態のように、プルダウンタイプで、その発振レベルの低電位側に基準信号を 設定する構成であれば、この部分では発振信号の波形は急峻であるため、チヤタリン グが発生し得る時間を短くすることができるという利点がある。

Claims

請求の範囲
[1] 電源と負荷との間に設けられて前記電源力 前記負荷への電力供給を制御する電 力供給制御装置であって、
前記電源から前記負荷への通電路に配される半導体スィッチ素子と、
発振信号を出力する発振回路、及び、前記発振回路からの前記発振信号が入力 されるとともに基準信号が入力され前記発振信号レベルと前記基準信号レベルとの 大小関係に応じてレベル反転する出力信号を出力する比較回路を有し、前記比較 回路からのパルス列状の出力信号を、パルス幅変調制御のための PWM信号として 前記半導体スィッチ素子に与えてオンオフ動作させる PWM信号生成回路と、を備え 前記発振回路は、互いに並列接続された第 1抵抗素子及びコンデンサを有してな る並列回路と、
前記コンデンサを充電するための充電電流の経路中に設けられた第 1スィッチ素 子と、
前記コンデンサの充電電圧が、電源電圧に応じて変化する第 1電圧に達したときに 前記第 1スィッチ素子をオンからオフにさせ、前記充電電圧が、前記電源電圧に応じ て変化する前記第 2電圧まで低下したときに前記第 1スィッチ素子をオフ力もオンに させる充放電制御回路と、
前記充電電流を前記電源電圧に応じて変更させる電流変更回路と、を備える電力 供給制御装置。
[2] 前記基準信号を出力する基準信号設定回路を備え、当該基準信号レベルは前記 電源電圧に応じて変化する構成である請求の範囲第 1項に記載の電力供給制御装 置。
[3] 前記基準信号設定回路は、第 2スィッチ素子を有し、当該第 2スィッチ素子のオン オフ動作に応じて、前記基準信号レベルを、前記発振信号の振幅範囲内の第 1レべ ルと、前記発振信号の振幅範囲外の第 2レベルとの間で切り替える切替回路を有し てなる請求の範囲第 2項に記載の電力供給制御装置。
[4] 前記電流変更回路は、前記電源に連なる第 2抵抗素子と、当該第 2抵抗素子に流 れる電流を受けるカレントミラー回路とを備え、
前記コンデンサは、前記カレントミラー回路によるミラー電流によって充電される請 求の範囲第 1項力 第 3項のいずれかに記載の電力供給制御装置。
[5] 前記 PWM信号生成回路のうち前記並列回路を除く回路部分が、ワンチップ化され た、或いは、複数のチップで構成されてワンパッケージ内に収容された半導体装置と され、前記並列回路が、前記半導体装置の外部に配置されて当該半導体装置の第 1外部端子を介して前記並列回路を除く回路部分に接続され、
前記第 1スィッチ素子のオンによる前記コンデンサの充電時間よりも、前記第 1スィ ツチ素子のオフによる前記コンデンサの放電時間の方が長くなるように構成されてい る請求の範囲第 1項力 第 4項のいずれかに記載の電力供給制御装置。
[6] 電源と負荷との間に設けられて前記電源力 前記負荷への電力供給を制御する電 力供給制御装置であって、
前記電源から前記負荷への通電路に配される半導体スィッチ素子と、
発振信号を出力する発振回路、及び、前記発振回路からの前記発振信号が入力 されるとともに基準信号が入力され前記発振信号レベルと前記基準信号レベルとの 大小関係に応じてレベル反転する出力信号を出力する比較回路を有し、前記比較 回路からのパルス列状の出力信号を、パルス幅変調制御のための PWM信号として 前記半導体スィッチ素子に与えてオンオフ動作させる PWM信号生成回路と、を備え 前記発振回路は、互いに並列接続された第 1抵抗素子及びコンデンサを有してな る並列回路と、前記コンデンサを充電するための充電電流の経路中に設けられた第 1スィッチ素子と、前記コンデンサの充電電圧が第 1電圧に達したときに前記第 1スィ ツチ素子をオン力 オフにさせ、前記充電電圧が前記第 2電圧まで低下したときに前 記第 1スィッチ素子をオフからオンにさせる充放電制御回路とを備えて前記充電電圧 に応じた発振信号を出力する構成とされ、
前記 PWM信号製回路のうち前記並列回路を除く回路部分が、ワンチップ化された 、或いは、複数のチップで構成されてワンパッケージ内に収容された半導体装置とさ れ、前記並列回路が、前記半導体装置の外部に配置されて当該半導体装置の第 1 外部端子を介して前記並列回路を除く回路部分に接続され、
前記第 1スィッチ素子のオンによる前記コンデンサの充電時間よりも、前記第 1スィ ツチ素子のオフによる前記コンデンサの放電時間の方が長くなるように構成されてい る電力供給制御装置。
[7] 前記基準信号を出力する基準信号設定回路を備え、当該基準信号設定回路が、 前記半導体装置の外部に配置されて当該半導体装置の第 2外部端子を介して前記 並列回路を除く回路部分に接続される構成である請求の範囲第 5項又は第 6項に記 載の電力供給制御装置。
[8] 前記基準信号設定回路は、第 2スィッチ素子を有し、当該第 2スィッチ素子のオン オフ動作に応じて、前記基準信号レベルを、前記発振信号の振幅範囲内の第 1レべ ルと、前記発振信号の振幅範囲外の第 2レベルとの間で切り替える切替回路を有し てなる請求の範囲第 7項に記載の電力供給制御装置。
[9] 前記半導体装置は、更に、前記半導体スィッチと、前記半導体スィッチに流れる電 流の異常検出により当該半導体スィッチに遮断動作をさせる保護回路とを、ワンチッ プ化、或いは、複数のチップで構成してワンパッケージ内に収容している請求の範囲 第 5項から第 8項のいずれかに記載の電力供給制御装置。
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