WO2004097062A1 - アルミナ保護膜およびその製造方法 - Google Patents

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WO2004097062A1
WO2004097062A1 PCT/JP2004/003493 JP2004003493W WO2004097062A1 WO 2004097062 A1 WO2004097062 A1 WO 2004097062A1 JP 2004003493 W JP2004003493 W JP 2004003493W WO 2004097062 A1 WO2004097062 A1 WO 2004097062A1
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alumina
protective film
oxide
layer
mainly composed
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PCT/JP2004/003493
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English (en)
French (fr)
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Hiroshi Tamagaki
Toshimitsu Kohara
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho
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    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/08Oxides
    • C23C14/081Oxides of aluminium, magnesium or beryllium
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    • Y10T428/24967Absolute thicknesses specified
    • Y10T428/24975No layer or component greater than 5 mils thick

Definitions

  • the present invention is mainly based on alumina having a Q! Type crystal structure (hereinafter, may be simply referred to as "alumina") which is covered with wear-resistant members such as cutting tools, sliding members, dies, and the like. More particularly, the present invention relates to a protective film and a method for producing the same. More specifically, an alumina protective film in which ⁇ -alumina crystal grains are fine, and the alumina protective film are formed under low-temperature conditions that do not impair the properties of the base material and the base film It relates to a useful manufacturing method that can be used.
  • the alumina protective film obtained by the present invention can be applied to the various uses described above, but the following description will focus on a case where the alumina protective film is applied to a cutting tool as a typical example. Background art
  • the hard coating when used as a cutting tool, the hard coating is required to have abrasion resistance and heat resistance (oxidation resistance at high temperatures) as properties.
  • TiAlN has been widely used in recent years as a coating material for carbide tools and the like, which have a high cutting edge temperature during cutting.
  • the reason why TiA1N exhibits excellent characteristics is that the heat resistance is improved by the action of aluminum contained in the coating, and the wear resistance and heat resistance are stable up to a high temperature of about 800 ° C. Because it can be maintained.
  • T i AIN various ones having different composition ratios of T i and A 1 are used, but most of them have an atomic ratio of T i: A 1 having both of the above characteristics of 50: 5.
  • the cutting edge of a cutting tool or the like may be heated to 100 ° C. or more during cutting. Under such circumstances, since sufficient heat resistance cannot be ensured only with the Ti A1N film described above, for example, as shown in Ameri force patent No. 5,879,833, a Ti AIN film is used. After the formation, an alumina layer is further formed to ensure heat resistance.
  • Alumina has various crystal structures depending on the temperature, but all are in a thermally metastable state except for alumina having a rhombic crystal structure.
  • the temperature of the cutting edge during cutting fluctuates significantly over a wide range from room temperature to 100 ° C or more, the crystal structure of alumina changes, causing cracking or peeling of the coating. Problems occur.
  • only alumina with an ⁇ -type crystal structure which is formed by using the CVD method and raising the base material temperature to 100 ° C. or higher, once formed, becomes hot regardless of the subsequent temperature. Maintain a stable structure. Therefore, in order to impart heat resistance to cutting tools, etc., it is effective to coat an alumina film having an o-type crystal structure.
  • the base material in order to form alumina having an ⁇ -type crystal structure, the base material must be heated to 100 ° C. or higher, so that applicable base materials are limited. This is because, depending on the type of the base material, if it is exposed to a high temperature of 100 ° C. or higher, it may become soft and lose its suitability as a base material for wear-resistant members. In addition, even a high-temperature base material such as a cemented carbide causes problems such as deformation when exposed to such a high temperature. In addition, the practical temperature range of a hard coating such as a TiA1N coating formed on a substrate as a coating exhibiting abrasion resistance is generally 800 ° C at the maximum, and is not less than 100 ° C. Exposure to high temperatures can alter the coating and reduce its wear resistance.
  • Amerili Patent No. 5,310,607 discloses that a mixed crystal of (Al, Cr) 2 O 3 having the same level of high hardness as that of the above-mentioned alumina is obtained by adding 550 It is reported that it was obtained in the low temperature range below ° C.
  • the work material is mainly composed of iron
  • Cr present on the surface of the mixed crystal film easily causes a chemical reaction with iron in the work material at the time of cutting. Exhaustion is severe and may shorten the life. You.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-539396 discloses that the lattice constant is 4.779 ⁇ m or more and 5.0000 ⁇ m or less and the film thickness is small.
  • a method is disclosed in which an oxide film having a corundum structure ( ⁇ -type crystal structure) having a thickness of 0.05 im is used as an underlayer, and an alumina film having an ⁇ -type crystal structure is formed on the underlayer.
  • Component of the oxide coating C r 2 0 3, ( F e, C r) 2 0 3 or (A l, C r) is preferably either 2 ⁇ 3 Les 3 ⁇ 4 deviation, the oxide film If (F e, C r) 2 ⁇ 3 , then (F e C r (ix)) 2 ⁇ 3 (where X is 0 ⁇ X ⁇ 0.5.54) More preferably, when the component of the oxide film is (A 1, C r) 2 O 3 , (A 1 y , C r (! ⁇ y) ) 2 O 3 (where y is 0 ⁇ y ⁇ 0.90) has been shown to be more preferable.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 200-533964 discloses, as a hard coating, a composite nitride of Al and at least one element selected from the group consisting of Ti, Cr, and V.
  • a film consisting of (A l z , C r (!- ) ) N (where z is 0 ⁇ z ⁇ 0.90) is formed as an intermediate layer, and It has been shown that it is useful to form an oxide film having a corundum structure (polymorphic crystal structure) by oxidation treatment and then to form alumina having an ⁇ -type crystal structure on the oxide film.
  • a sample in which a CrN film was previously formed on a cemented carbide substrate by an ion plating method (AIP method) using the apparatus shown in Fig. 1 was prepared as Sample 2, and the sample was rotated by planetary rotation. After being set in the fixture 4, the inside of the chamber 1 was evacuated until almost vacuum was reached, and the sample 2 was heated by the heater 5 to 7500 t :. When the temperature of the sample 2 reaches a predetermined temperature, oxygen gas is introduced into the chamber 1 at a flow rate of 300 sccm and a pressure of about 0.75 Pa, and heated and maintained for 20 minutes. Oxidation was performed.
  • AIP method ion plating method
  • an alumina film was formed on the base film after the oxidation treatment.
  • the formation of the alumina film was carried out in an atmosphere of argon and oxygen at a substrate temperature of about the same level as the above-mentioned oxidation treatment step (750 ° C.) and a sputtering force with two aluminum targets shown in FIG. Pulsed DC power of about 2.5 kW was applied to Sword 6 respectively, and the reactive sputtering method was used.
  • the formation of the alumina film was performed by controlling the discharge voltage and the flow rate ratio of argon and oxygen using plasma emission spectroscopy, and setting the discharge state to a so-called transition mode. In this way, an alumina film with a thickness of about 2 m was formed.
  • the surface of the obtained alumina film was analyzed with a thin film X-ray diffractometer to identify the crystal structure of the alumina film. As a result, only a diffraction peak indicating ⁇ -alumina was observed as a diffraction peak indicating alumina, and it was confirmed that the alumina film obtained by the above method was substantially composed of alumina.
  • Figure 2 shows a photograph of the surface. From FIG. 2, it can be seen that the alumina film obtained by the above method has good crystallinity. Even when the film thickness is about 2 im, crystal growth is remarkable and crystal grains can be clearly recognized. The alumina film having such a surface state is considered to have a large surface roughness.
  • FIG 3 shows the results. From FIG 3, C r N film, C r thickness of the surface obtained by oxidizing the N coating 3 0 to 4 0 nm of chromium oxide (C r 2 O 3) from the base side layer, and alumina It can be seen that the film has a three-layer structure. The results of electron diffraction confirmed that the alumina and the chromium oxide each had a corundum structure.
  • alumina crystal grains constituting the alumina film grow larger as approaching the surface of the film. If the surface roughness of the alumina film increases due to the coarsening of the crystal grains, this may cause a problem depending on the application. For example, when applied to a cutting tool, the work material tends to adhere to the alumina film surface.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide an alumina protective film in which alumina crystal grains having a rhombic crystal structure are fine, and a method for producing the protective film. is there. Disclosure of the invention
  • the alumina protective film of the present invention is a protective film mainly composed of alumina having a rhomboid crystal structure. Inside the protective film, along with a plane substantially perpendicular to the thickness direction of the protective film, other than aluminum. It is characterized in that one or more regions where elements are mixed intermittently exist in the thickness direction (hereinafter referred to as “first alumina protective film”).
  • the element other than aluminum is preferably a metal element forming an oxide, and it is particularly preferable to use Cr and / or Fe as the metal element.
  • the first alumina protective film preferably has a thickness between the mixed regions of 0.5 m or less, and the total thickness of the mixed regions is 10% or less of the thickness of the protective film.
  • the content of elements other than the aluminum is preferably 2 atomic% or less of the entire protective film.
  • the present invention also provides an alumina protective film having another structure, wherein the alumina protective film is a protective film mainly composed of alumina having an ⁇ -type crystal structure, and an alumina layer mainly composed of a polycrystalline structure.
  • Oxide with corundum structure (excluding alumina; same hereafter) layer or oxide with corundum structure It is characterized in that layers mixed with a metal constituting the oxide are alternately laminated (hereinafter referred to as “second alumina protective film”).
  • the present invention also provides an alumina protective film having still another configuration, wherein the alumina protective film is a protective film mainly composed of alumina having an ⁇ -type crystal structure, and has substantially different crystal nuclei. It is characterized by a laminated alumina layer mainly composed of a crystal structure (hereinafter referred to as “third alumina protective film”). It is preferable that the alumina layer mainly composed of the rhombic crystal structure has a thickness of 0.5 m or less.
  • the term “substantially” refers to not only the case where the alumina layer mainly composed of the diamond-shaped crystal structure to be laminated is a layer whose crystal nucleus is completely different from the alumina layer mainly composed of the ⁇ -type crystal structure which is the underlying layer. It is intended to include the case where the alumina layer mainly composed of ⁇ -type crystal structure to be laminated has a small part where the crystal nucleus of the alumina layer mainly composed of diamond-shaped crystal structure as the base grows as it is.
  • the present invention also provides a method for producing the alumina protective film, wherein the first alumina protective film or the second alumina protective film (corundum oxide other than alumina is used as an oxide layer having a corundum structure). and what) forming a mutual solid solution of a 1 2 0 3, a method of forming on a substrate (including those previously undercoat on a substrate is formed), at the time of formation of the protective alumina film, An element other than aluminum is intermittently deposited while forming an alumina layer mainly composed of a type crystal structure.
  • the second alumina protective film (as an oxide layer having a corundum structure, A method of forming an oxide having a corundum structure excluding lumina) on a base material (including a base material having a base film formed on the base material in advance) is described below. It is characterized in that an alumina layer mainly composed of a structure and an oxide layer (excluding alumina) having a corundum structure are alternately formed.
  • the method of forming the third alumina protective film on a substrate includes forming an alumina layer mainly composed of an ⁇ -type crystal structure at the time of forming the alumina film. It is characterized in that it is formed intermittently.
  • FIG. 1 is a schematic explanatory view (top view) showing an example of an apparatus used in the embodiment.
  • Fig. 2 is an S-II observation image (magnification: 800,000) of the surface of the alumina film obtained by the conventional method.
  • Figure 3 is a ⁇ ⁇ ⁇ observation photograph (magnification: 20000 ⁇ ) of a cross section of the alumina film obtained by the conventional method.
  • FIG. 4 is a sketch diagram of the crystal grains of FIG.
  • FIG. 5 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which alumina layers having fine crystal grains are stacked.
  • FIG. 6A is a cross-sectional explanatory view schematically showing the configuration of the first alumina protective film
  • FIG. 6B shows the component composition of the protective film.
  • FIG. 7A is a cross-sectional explanatory view schematically showing the configuration of the second alumina protective film
  • FIG. 7B shows the component composition of the protective film.
  • FIG. 4 is a sketch diagram schematically showing crystal grains of ⁇ -alumina by extracting a line considered to be a crystal grain boundary based on the TEM observation photograph of FIG.
  • the crystal grains are fine if the thickness of the alumina layer is 0.5 m or less, and more preferably the crystal grains are coarsened if the thickness of the alumina layer is 0.2 m or less. Can be sufficiently suppressed.
  • the inventors of the present invention have proposed a method for forming an alumina protective film in which alumina is formed from the initial stage of crystal grain growth and in which the alumina is fine.
  • the alumina protective films of the first to third embodiments were found.
  • the configuration of each alumina protective film will be described in detail.
  • alumina protective film in which ⁇ -alumina is fine a region in which elements other than aluminum are mixed (mixed region) is formed inside the protective film along a plane substantially perpendicular to the thickness direction of the protective film.
  • An alumina protective film having a configuration in which one or more intermittently exist in the direction is cited.
  • a region substantially composed of alumina between the mixed regions is referred to as an “alumina layer”.
  • FIG. 6 (a) shows that the alumina protective film 15 formed on the oxidized layer 22 obtained by oxidizing the base material or the undercoat 21 has a mixed region 24 between the alumina layers 23. This indicates that the protective film was formed at four locations, and the protective film 15 has a component composition as shown in FIG. 6 (b).
  • the first protective film is not limited to other detailed constitutions. However, in order to obtain finer alumina particles, it is preferable that the mixed region and the like constituting the protective film have the following aspects.
  • the thickness between the mixed regions (alumina layer) is preferably 0.5 or less.
  • the reason is as described above to suppress the coarsening of the crystal grains, and is more preferably 0.2 or less.
  • the element other than aluminum is not particularly limited, but is preferably a metal element that forms an oxide.
  • the above-mentioned metal element may be Cr and / or Fe that form an oxide having the same crystal structure as that of aluminum (corundum structure oxide). It is preferable to use
  • the total thickness of the mixed regions is 10% or less of the thickness of the protective film.
  • the protective film is mainly composed of ⁇ -alumina.
  • the thickness of the mixed region occupying the protective film is preferably set to 10% or less of the thickness of the protective film.
  • the total thickness of the mixed regions is more preferably 5% or less of the thickness of the protective film, and still more preferably 2% or less of the thickness of the protective film.
  • the content of elements other than aluminum in the mixed region is preferably set to 2 atomic% or less of the entire protective film. This is because if a large amount of elements other than aluminum is mixed into the alumina protective film, adverse effects such as diffusion at high temperatures may be considered.
  • the content of elements other than aluminum in the mixed region is more preferably 1 atomic% or less, and further preferably 0.5 atomic% or less.
  • an alumina layer mainly composed of an ⁇ -type crystal structure and an oxide having a corundum structure (excluding alumina; the same applies hereinafter) or an oxide having a corundum structure and the oxide are formed.
  • a mixed layer with a metal hereinafter, sometimes simply referred to as “mixed layer” and are alternately laminated. In this way, by alternately laminating a layer containing an oxide having the same crystal structure as the alumina of the ⁇ -type crystal structure with the alumina layer, it is possible to form an ⁇ -alumina layer having fine crystal grains and to generate the alumina. Can be suppressed.
  • the protective film has a component composition as shown in FIG. 7 (b).
  • the oxide of the corundum structure, C r 2 ⁇ 3, F e 2 ⁇ 3 or, C r 2 0 3 and / or F e 2 ⁇ 3 and A 1 2 0 3 mutual solid solution of [example if (A li -! x C r x) 2 O 3, (a 1 _ x F e x) 2 0 3 , etc.] Tona shall well, not limited to the above C r 2 O 3.
  • the alumina layer preferably has a thickness of 0.5 m or less.
  • the reason for this is to suppress the crystal grains from becoming coarse, as in the case of the first protective film, and more preferably 0.2 m or less.
  • the oxide layer or the mixed layer having the corundum structure is preferably formed as a single layer, and preferably has a thickness of 2 nm or more that can be recognized as a single crystal.
  • the total thickness of the oxide layer or the mixed layer having the corundum structure is preferably not more than 10% of the thickness of the protective film. If the proportion of the oxide layer containing an element other than aluminum in the protective film is high, adverse effects such as diffusion at high temperatures may be considered.
  • the total thickness of the oxide layer or the mixed layer having a corundum structure is more preferably 1% or less.
  • alumina protective film capable of refining alumina crystal grains
  • a film in which an alumina layer ( ⁇ -alumina layer) mainly composed of ⁇ -type crystal structure having substantially different crystal nuclei is laminated As will be described later, the formation of alumina is interrupted before the growth of alumina crystal nuclei, and the formation of alumina is again performed, whereby the alumina layer with fine crystal grains is laminated, and the fine alumina grains are laminated.
  • ⁇ It can be an alumina protective film composed of an alumina layer.
  • the thickness of the ⁇ -alumina layer must be 0.5 m or less. It is good to be below, more preferably it is below 0.2m.
  • the alumina protective film of the present invention is formed on a substrate or a substrate on which an undercoat is previously formed, but the substrate and the undercoat are not particularly limited.
  • the base material for example, a steel-based material such as high-speed steel, a cemented carbide, a cermet, a cBN (cubic boron nitride) sintered body, or a ceramic sintered body can be used.
  • the undercoat for example, one kind selected from the group consisting of elements of Groups 4a, 5a and 6a of the periodic table, Al, Si, Fe, Cu and Y Forming at least one of a compound of the above elements and one or more of the elements (, ⁇ , ⁇ , ⁇ ) or a mutual solid solution of these compounds can form alumina in a rhomboid crystal structure. It is preferable because it is advantageous.
  • Typical examples of the undercoat include Ti (C, N), Cr (C, N), Ti A1 (C, N), Cr A1 (C, N), TiAl Cr (C, N), i.e., carbide, nitride, carbon-nitride of Ti, Cr, TiAl, CrAl, or TiAICr, respectively.
  • Hard coatings commonly used for tools, etc. such as TiN, TiC, TiCN, TiAlN, CrN, CrA1NTiAlCrrn, single layer or multilayer Can be formed.
  • alumina protective film it is preferable to subject the surface of these substrates or undercoats to oxidation treatment to form an alumina protective film because an alumina layer mainly composed of an ⁇ -type crystal structure can be easily formed.
  • the first alumina protective film or
  • the alumina protective film is formed by forming an alumina layer mainly composed of ⁇ -type crystal structure, Elements intermittently deposited It is good to let.
  • an alumina protective film on a base material (including a base film with a base film previously formed)
  • Metals consisting of elements other than aluminum are intermittently formed by using a sputtering evaporation source provided with a target containing an alloy or metal oxide containing the elements, while performing reactive film formation.
  • a method of depositing an elemental metal, an oxide thereof, or the like is a method of depositing an elemental metal, an oxide thereof, or the like.
  • the second alumina protective film (which forms a corundum structure oxide excluding alumina as a corundum structure oxide) is placed on a substrate (including a substrate on which a base film is formed in advance).
  • a substrate including a substrate on which a base film is formed in advance.
  • an alumina layer mainly composed of an ⁇ -type crystal structure, an oxide layer (excluding alumina) having a corundum structure or an oxide having a corundum structure, and a metal constituting the oxide And alternately forming a mixed layer.
  • an alumina protective film on a base material (including a base film with a base film previously formed), sputtering an aluminum target in a mixed atmosphere of Ar and oxygen After the formation of the alumina film, the formation of the alumina film is temporarily interrupted, and a sputtering target made of a metal (including an alloy) that forms the above-mentioned oxide having a corundum structure is mixed in a mixed atmosphere of Ar and oxygen.
  • a sputtering target made of a metal (including an alloy) that forms the above-mentioned oxide having a corundum structure is mixed in a mixed atmosphere of Ar and oxygen.
  • the alumina layer mainly composed of ⁇ -type crystal structure is intermittently formed at the time of forming the alumina film. Specifically, for example, it is necessary to temporarily suspend the formation of the alumina layer to lower the substrate temperature, and then increase the substrate temperature again to form the alumina layer.
  • a test piece having a CrN film formed on a cemented carbide substrate in advance by the AIP method was prepared, and after oxidizing the surface of the sample, an alumina protective film was formed.
  • the oxidation treatment and the formation of the alumina protective film were performed using a vacuum film forming apparatus (AIP-S40 multifunction machine manufactured by Kobe Steel Ltd.) shown in FIG.
  • the oxidation treatment was specifically performed as follows. That is, the sample (base material) 2 is set on the planetary rotary jig 4 on the rotary table 3 in the chamber 1, and the chamber 1 is evacuated until a substantially vacuum state is reached. The sample 2 was heated by the heater 5 installed at the center and the heater 5 installed at two places on the inner side of the chamber 1 until the temperature of the sample 2 reached 75 ° C. (base temperature in the oxidation treatment step). When the temperature of the sample 2 reaches a predetermined temperature, oxygen gas is introduced into the chamber 11 so as to have a flow rate of 300 sccm and a pressure of about 0.75 Pa, and is heated and held for 20 minutes. Oxidation was performed.
  • the heating, oxidation treatment and the alumina protective film described later rotate (revolve) the rotary table 3 in FIG. 1 and also rotate the planetary rotary jig 4 (base material holding pipe) installed thereon. (Rotation).
  • an alumina protective film was formed on the base film after the oxidation treatment.
  • the protective film of the alumina film was formed in a mixed atmosphere of Ar and oxygen at a substrate temperature of approximately the same as that of the above-mentioned oxidation treatment step (750 ° C), and a sputtering device equipped with two aluminum targets. Pulsed DC power of about 2.5 kW was applied to each of the swords 6, and the reactive sputtering method was used.
  • the formation of the alumina protective film is performed by controlling the discharge voltage and the flow rate ratio of argon and oxygen using plasma emission spectroscopy. The discharge state was set in a so-called transition mode. In this way, an alumina protective film having a thickness of about 2 m was formed. The formation time of the alumina protective film was 3 hours.
  • an alumina layer is formed using only one aluminum target with a sputtering force of 6 and after 57 minutes, the formation of the alumina layer is continued.
  • the sputtering force sword 6 equipped with the Cr Yuichi Get was operated at 500 W for 3 minutes. After repeating this process four times, the formation of the alumina layer was performed for one hour, and the process was completed.
  • an alumina-based alumina protective film having a total film thickness of about 2 m and a mixed region containing Cr every about 0.35 m from the substrate surface was obtained.
  • Example 1 of the present invention the oxidation treatment and the formation of the alumina protective film were performed in the same manner as in Example 1 of the present invention, except that the Ti target was used instead of the Cr target in Example 1 of the present invention.
  • an alumina layer is formed using a sputtering force source 6 equipped with an aluminum target, and after a lapse of 57 minutes, the formation of the alumina layer is continued.
  • the sputtering force sword 6 equipped with the getter was operated at 500 W for 3 minutes. After repeating this process four times, the formation of the alumina layer was performed for 1 hour, and the process was completed.
  • an alumina-based alumina protective film having a total film thickness of about 2 im and a mixed area containing Ti at every 0.35 m from the substrate surface was obtained.
  • Example 3 of the present invention in the same manner as in the above-mentioned present invention example 1, the aluminum target and the Cr target were attached to the sputtering force source 6, and the formation of the alumina protective film was performed as described below. Oxidation treatment and formation of an alumina film were performed in the same manner as in the example.
  • the alumina layer was first formed using only one of the sputtering power sources 6 equipped with an aluminum target, and after 55 minutes passed, the formation of the alumina layer was stopped. r The sputtering force source 6 with the evening target was operated at 2.5 kW for 5 minutes. After repeating this process four times, the formation of the alumina layer was performed for 1 hour, and the process was completed.
  • the alumina protective film was formed in the same manner as in the above comparative example, except that the alumina protective film was formed as follows in a state where two aluminum targets were provided in the sputtering force source 6 in the chamber 11. Oxidation treatment and formation of an alumina protective film were performed.
  • the sputtering and the heating by the heater 15 were stopped when the formation of the alumina layer had elapsed 30 minutes. Then, while maintaining the flow rate of the atmosphere gas (Ar + O 2 ) at the time of the sputtering, heating by the heater 5 was started 10 minutes later, and sputtering was restarted 5 minutes later. After repeating this step four times, the formation of the alumina layer was performed for 30 minutes, and the process was completed.
  • the resulting protective film had a total film thickness of about 2 m, and was formed by laminating alumina layers having substantially different crystal nuclei every about 0.35 m from the substrate surface.
  • the surface of the alumina protective film thus obtained was analyzed with a thin film X-ray diffractometer, and the crystal structure of each alumina protective film was identified. The surface of these alumina protective films was observed by SEM. Table 1 shows these results. Shown in
  • Oxide-containing layer Table 1 shows that in the comparative example performed by the conventional method, the alumina protective film mainly composed of 0! Was formed, but the alumina crystal grains were coarse.
  • the alumina protective film having the structure specified in the present invention is used, the formed alumina has almost only an ⁇ -type crystal structure, and the growth of crystal grains is suppressed. It can be seen that an alumina protective film consisting of fine crystal grains and having a smooth surface can be obtained.
  • the present invention is configured as described above, and provides an alumina protective film mainly composed of alumina with fine alumina crystal grains, which can be expected to have better wear resistance and heat resistance than before, and a method for producing the same. .

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Abstract

結晶粒が微細であるα型結晶構造のアルミナを主体とする保護膜であって、該保護膜の内部に、該保護膜の厚み方向とほぼ直交する面に沿って、アルミニウム以外の元素が混在する領域が厚み方向に1以上断続的に存在するアルミナ保護膜を提供する。

Description

明細書 アルミナ保護膜およびその製造方法 技術分野
本発明は、 切削工具、 摺動部材、 金型等の如き耐摩耗部材等に被 覆される Q!型結晶構造のアルミナ (以下、 単に 「 ひアルミナ」 とい う ことがある) を主体とする保護膜およびその製造方法に関するも のであり、 詳細には、 αアルミナの結晶粒が微細なアルミナ保護膜 と、 該アルミナ保護膜を基材ゃ下地皮膜の特性を損なう ことのない 低温条件で形成することのできる有用な製造方法に関するものであ る。
尚、 本発明によって得られるアルミナ保護膜は、 上記した様々な 用途に適用できるが、 以下では代表例として切削工具に適用する場 合を中心に説明を進める。 背景技術
一般に、 優れた耐摩耗性ゃ摺動特性が求められる切削工具ゃ摺動 部材として、 高速度鋼製や超硬合金製等の基材表面に、 チタン窒化 物やチタンアルミニウム窒化物等の硬質皮膜が、 物理蒸着法 (以下 、 P VD法という) や化学蒸着法 (以下、 C V D法という) 等の方 法で形成されたものが用いられている。
特に切削工具として使用する場合、 前記硬質皮膜には耐摩耗性と 耐熱性 (高温での耐酸化性) が特性として要求されるので、 該両特 性を有するものとして、 特にチタンアルミニウム窒化物 (T i A l N) が、 切削時の刃先温度が高温となる超硬工具等への被覆材料と して近年多く使用されている。 この様に T i A 1 Nが優れた特性を 発揮するのは、 皮膜に含まれるアルミニウムの作用により耐熱性が 向上し、 8 0 0 °C程度の高温まで安定した耐摩耗性と耐熱性を維持 できるからである。 該 T i A I Nとしては、 T i と A 1 の組成比の 異なる様々なものが使用されているが、 その大半は、 上記両特性を 備えた T i : A 1 の原子比が 5 0 : 5 0〜 2 5 : 7 5のものである ところで切削工具等の刃先は、 切削時に 1 0 0 o °c以上の高温と なる場合がある。 この様な状況下、 上記 T i A 1 N膜のみでは十分 な耐熱性を確保できないため、 例えば、 ァメリ力特許第 5 8 7 9 8 2 3号公報に示されるように、 T i A I N膜を形成した上に、 更に アルミナ層を形成して耐熱性を確保することが行われている。
アルミナは、 温度によって様々な結晶構造をとるが、 ひ型結晶構 造のアルミナを除きいずれも熱的に準安定状態にある。 しかし、 切 削工具の如く切削時における刃先の温度が、 常温から 1 0 0 0 °C以 上にわたる広範囲で著しく変動する場合には、 アルミナの結晶構造 が変化し、 皮膜に亀裂が生じたり剥離する等の問題を生じる。 とこ ろが、 C V D法を採用し、 基材温度を 1 0 0 0 °C以上に高めること によって形成される α型結晶構造のアルミナだけは、 一旦形成され ると、 以後の温度に関係なく熱的に安定な構造を維持する。 したが つて、 切削工具等に耐熱性を付与するには、 ο;型結晶構造のアルミ ナ皮膜を被覆することが有効な手段とされている。
しかしながら、 上述した通り α型結晶構造のアルミナを形成する には、 基材を 1 0 0 0 °C以上にまで加熱しなければならないため、 適用できる基材が限られる。 基材の種類によっては、 1 0 0 0 °C以 上の高温にさらされると軟質化し、 耐摩耗部材用基材としての適性 が失われる可能性が生じるからである。 また、 超硬合金の様な高温 用基材であっても、 この様な高温にさらされると変形等の問題が生 じる。 また、 耐摩耗性を発揮する膜として基材上に形成された T i A 1 N膜等の硬質皮膜の実用温度域は一般に最高で 8 0 0 °C程度で あり、 1 0 0 0 以上の高温にさらされると、 皮膜が変質し、 耐摩 耗性が劣化するおそれがある。
この様な問題に対し、 ァメリ力特許第 5 3 1 0 6 0 7号公報には 、 上記アルミナと同レベルの高硬度を有する (A l , C r ) 2 O 3 混合結晶が、 5 0 0 °C以下の低温域で得られた旨報告されている。 しかしながら、 被削材が鉄を主成分とするものである場合、 前記混 合結晶皮膜の表面に存在する C rが、 切削時に被削材中の鉄と化学 反応を起こし易いため、-皮膜の消耗が激しく寿命を縮める原因とな る。
また、 O.Zywitzki, G.Hoetzsc らは、 「 Sui'f.Coat.Technol.」 ( 86-87 1996 p.640-647) で、 高出力(11一 17 k W)のパルス電源を 用いて反応性スパッタリ ングを行う ことで、 7 5 0 °Cでひ型結晶構 造の酸化アルミニウム皮膜を形成できた旨報告している。 しかし、 この方法で α型結晶構造の酸化アルミニウムを得るには、 パルス電 源の大型化が避けられない。
この様な問題を解決した技術として、 特開 2 0 0 2 — 5 3 9 4 6 号公報には、 格子定数が 4. 7 7 9 Α以上 5. 0 0 0 Α以下で、 膜 厚が少なく とも 0. 0 0 5 i mであるコランダム構造 ( α型結晶構 造) の酸化物皮膜を下地層とし、 該下地層上に α型結晶構造のアル ミナ皮膜を形成する方法が開示されている。 上記酸化物皮膜の成分 は、 C r 203、 ( F e , C r ) 203又は (A l , C r ) 23のレ¾ ずれかであることが好ましく、 該酸化物皮膜の成分が ( F e , C r ) 23である場合には、 ( F e C r (i-x)) 2〇 3 (ただし、 Xは 0≤ X≤ 0 . 5 4 ) を採用することがより好ましく、 また、 該酸化 物皮膜の成分が ( A 1 , C r ) 2 O 3である場合には、 ( A 1 y, C r (! -y)) 2 O 3 (ただし、 yは 0≤y≤ 0. 9 0 ) を採用することが より好ましいと示されている。
また、 上記特開 2 0 0 2 — 5 3 9 4 6号公報には、 硬質皮膜とし て T i 、 C r 、 Vよりなる群から選択される 1種以上の元素と A l との複合窒化皮膜を形成した上に、 中間層として (A l z, C r (! -ζ) ) N (ただし、 z は 0≤ z ≤ 0. 9 0 ) からなる皮膜を形成し、 さ らに該皮膜を酸化処理してコランダム構造 ( ひ型結晶構造) の酸化 物皮膜を形成した後、 該酸化物皮膜上に α型結晶構造のアルミナを 形成することが有用である旨示されている。
上記特開 2 0 0 2 — 5 3 9 4 6号公報に記載の方法では、 上記の 通り、 ほぼひ型結晶構造のみからなるアルミナ皮膜を形成すること ができるが、 該方法では、 アルミナ皮膜の結晶粒が粗大化しやすい ことを、 本発明者らは下記の実験で確認した。
即ち、 上記特開 2 0 0 2 — 5 3 9 4 6号公報に記載の方法に準じ て、 超硬合金上に C r Ν皮膜を形成した後、 該 C r N皮膜表面を酸 化し、 その後に酸化処理表面にアルミナ皮膜を形成して、 得られた アルミナ皮膜の観察を行った。
詳細には、 図 1の装置にて、 超硬基材上に予めイオンプレーティ ング法 (A I P法) で C r N皮膜を形成したものを試料 2 として用 意し、 該試料を遊星回転治具 4にセッ トしたのちチャンバ一 1 内を ほぼ真空となるまで排気し、 ヒーター 5で試料 2を 7 5 0 t:まで加 熱した。 試料 2の温度が所定の温度となった時点で、 チャンバ一 1 内に、 酸素ガスを流量 3 0 0 s c c m、 圧力約 0 . 7 5 P a となる よう導入し、 2 0分間加熱保持して酸化を行った。
次に、 酸化処理後の下地皮膜上にアルミナ皮膜を形成した。 該ァ ルミナ皮膜の形成は、 アルゴンと酸素雰囲気中で、 基材温度を前記 酸化処理工程とほぼ同程度 ( 7 5 0 °C ) とし、 図 1 における 2台の アルミニウムターゲッ トを装着したスパッタリング力ソード 6 にそ れぞれ約 2 . 5 k W のパルス D C電力を加え、 反応性スパッタリ ング法を採用して行った。 該アルミナ皮膜の形成は、 放電電圧およ びアルゴン一酸素の流量比率をプラズマ発光分光法を利用して制御 し、 放電状態をいわゆる遷移モードにして行った。 この様にして膜 厚が約 2 mのアルミナ皮膜を形成した。
得られたアルミナ皮膜の表面を薄膜 X線回折装置で分析し、 アル ミナ皮膜の結晶構造を特定した。 その結果、 アルミナを示す回折ピ ークとして、 αアルミナを示す回折ピークのみが観察され、 上記方 法で得られるアルミナ皮膜は、 ほぼひアルミナからなるものである ことを確認した。
次 に 、 上 記 ア ル ミ ナ 皮膜 を S E M ( scanning electron microscope : 走査型電子顕微鏡) で観察した。 その表面写真を図 2に示す。 図 2から、 上記方法で得られるアルミナ皮膜は結晶性が 良好であり、 膜厚が約 2 i mの場合でも結晶の成長が著しく、 結晶 粒を明確に認識することができる。 この様な表面状態のアルミナ皮 膜は、 表面粗度が大きいと思われる。
次【こ Ί E M ( transmission electron microscope: 型¾子¾1 微鏡) で上記アルミナ皮膜の断面を観察するとともに、 E D S分析 を行った。 その結果を図 3 に示す。 図 3より、 基材側から C r N皮膜、 C r N皮膜の表面を酸化処理 して得られた厚みが 3 0〜 4 0 n mのクロム酸化物 ( C r 2 O 3 ) 層、 およびアルミナ皮膜の 3層構造となっていることがわかる。 尚 、 前記アルミナおよびクロム酸化物は、 電子線回折の結果から、 そ れぞれコランダム構造であることを確認した。
上記図 3の顕微鏡写真から、 アルミナ皮膜を構成するアルミナ結 晶粒は、 皮膜の表面に近づくにつれて大きく成長していることがわ かる。 結晶粒の粗大化により、 アルミナ皮膜の表面粗度が大きくな ると、 用途によっては問題となる場合がある。 例えば切削工具に適 用する場合には、 被削材がアルミナ皮膜表面に凝着しやすくなると いったことが挙げられる。
本発明は、 この様な事情に鑑みてなされたものであって、 その目 的は、 ひ型結晶構造のアルミナ結晶粒が微細なアルミナ保護膜と、 該保護膜の製造方法を提供するものである。 発明の開示
本発明のアルミナ保護膜は、 ひ型結晶構造のアルミナを主体とす る保護膜であって、 該保護膜の内部において、 該保護膜の厚み方向 とほぼ直交する面に沿って、 アルミニウム以外の元素が混在する領 域が、 厚み方向に 1以上断続的に存在するところに特徴を有する ( 以下、 「第 1 アルミナ保護膜」 という)。 前記アルミニウム以外の元 素は、 酸化物を形成する金属元素であることが好ましく、 該金属元 素として、 C rおよび または F eを用いることが特に好ましい。
前記第 1 アルミナ保護膜としては、 前記混在領域間の厚みが 0 . 5 m以下であるものがよく、 前記混在領域の厚さの合計が、 前記 保護膜の膜厚の 1 0 %以下であるものが好ましい。 また、 前記アル ミニゥム以外の元素の含有量が、 前記保護膜全体の 2原子%以下で あるものが好ましい。
本発明は別の構成のアルミナ保護膜も規定するものであり、 該ァ ルミナ保護膜は、 α型結晶構造のアルミナを主体とする保護膜であ つて、 ひ型結晶構造主体のアルミナ層と、 コランダム構造の酸化物 (アルミナ除く。 以下同じ) 層またはコランダム構造の酸化物と該 酸化物を構成する金属との混合層とが、 交互に積層されたものであ るところに特徴がある (以下、 「第 2アルミナ保護膜」 という)。 前記コランダム構造の酸化物は、 C r 23、 F e 23または、 C r 2 0 3、 F e 2 0 3および A 1 2 0 3よりなる群から選択される 2 種以上の相互固溶体であるのがよく、 該コランダム構造の酸化物層 または該コランダム構造の酸化物と該酸化物を構成する金属との混 合層の厚みが 2 n m以上であり、 また該コランダム構造の酸化物層 または該コランダム構造の酸化物と該酸化物を構成する金属との混 合層の厚さの合計が、 前記保護膜の膜厚の 1 0 %以下であるものが 好ましい。 更に、 前記 α型結晶構造主体のアルミナ層の厚みが 0 . 5 m以下であるものがよい。
本発明は、 更に別の構成のアルミナ保護膜も規定するものであり 、 該アルミナ保護膜は、 α型結晶構造のアルミナを主体とする保護 膜であって、 実質的に結晶核の異なる α型結晶構造主体のアルミナ 層が積層されたものであるところに特徴がある (以下、 「第 3アル ミナ保護膜」 という)。 前記ひ型結晶構造主体のアルミナ層の厚み が 0 . 5 m以下であるものが好ましい。
尚、 前記 「実質的に」 とは、 積層させるひ型結晶構造主体のアル ミナ層が、 下地となる α型結晶構造主体のアルミナ層と完全に結晶 核の異なる層である場合のみならず、 積層させる α型結晶構造主体 のアルミナ層に、 下地となるひ型結晶構造主体のアルミナ層の結晶 核がそのまま成長した部分がわずかに存在する場合も含める意であ る.。
本発明は、 上記アルミナ保護膜を製造する方法も規定するもので あって、 上記第 1アルミナ保護膜または第 2アルミナ保護膜 (コラ ンダム構造の酸化物層として、 アルミナを除く コランダム構造の酸 化物と A 1 2 0 3との相互固溶体を形成するもの) を、 基材 (基材 上に予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成する方法は、 該アルミナ保護膜の形成時に、 型結晶構造主体のアルミナ層を形 成しつつ前記アルミニウム以外の元素を断続的に蒸着させることを 特徴とするものである。
上記第 2アルミナ保護膜 (コランダム構造の酸化物層として、 ァ ルミナを除くコランダム構造の酸化物を形成するもの) を、 基材 ( 基材上に予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成する方法 は、 該アルミナ皮膜の形成時に、 α型結晶構造主体のアルミナ層と コランダム構造の酸化物 (アルミナを除く) 層を交互に形成するこ とを特徴とする。
また上記第 3アルミナ保護膜を、 基材 (基材上に予め下地皮膜が 形成されたものを含む) 上に形成する方法は、 該アルミナ皮膜の形 成時に、 α型結晶構造主体のアルミナ層を断続的に形成するところ に特徴を有する。 図面の簡単な説明
図 1は、 実施例で用いる装置例を示す概略説明図 (上面図) であ る。
図 2は、 従来法で得られるアルミナ皮膜の表面を撮影した S Ε Μ 観察写真 (倍率 : 8 0 0 0倍) である。
図 3は、 従来法で得られるアルミナ皮膜の断面を撮影した Τ Ε Μ 観察写真 (倍率 : 2 0 0 0 0倍) である。
図 4は、 前記図 3の結晶粒のスケッチ図である。
図 5は、 結晶粒の微細なアルミナ層が積層した状態を模式的に示 した断面説明図である。
図 6 ( a ) は、 第 1 アルミナ保護膜の構成を模式的に示した断面 説明図であり、 図 6 ( b ) は、 該保護膜の成分組成を示したもので ある。
図 7 ( a ) は、 第 2アルミナ保護膜の構成を模式的に示した断面 説明図であり、 図 7 ( b ) は、 該保護膜の成分組成を示したもので ある。 発明を実施するための最良の形態
本発明者らは、 前述した様な状況の下で、 微細な α型結晶構造の アルミナを主体とするアルミナ保護膜を、 超硬合金等の基材上や、 下地皮膜として T i A 1 N等の硬質皮膜が形成された基材上に、 比 較的低温で形成するための方法について研究を進めた。 図 4は、 前記図 3の T E M観察写真に基づき、 結晶粒界と思われ る線を抽出して、 αアルミナの結晶粒を模式的に示したスケッチ図 である。
この図 4から、 成膜が進むにつれ、 αアルミナの結晶粒 1 3は大 きくなり、 アルミナ皮膜表面近傍では、 該結晶粒の幅が最大で 0 . 5 m程度にまで成長しており、 この結果から、 アルミナ皮膜表面 には最大で約 0 . 5 mの凹凸が形成されていることがわかる。
しかし、 上記図 4を詳細に観察すると、 結晶粒の成長初期では、 クロム酸化物層 1 2上に、 比較的小さなアルミナ結晶粒が生成され ており、 この小さなアルミナ結晶粒が生成された段階でアルミナ皮 膜の形成を中止すれば、 アルミナ皮膜を構成するアルミナ結晶粒は 微細となり、 アルミナ皮膜表面は平滑になるものと考えられる。
上記図 4から、 アルミナ層の厚さが 0 . 5 m以下であれば結晶 粒が微細であり、 より好ましくはアルミナ層の厚さを 0 . 2 m以 下とすれば、 結晶粒の粗大化を十分に抑制できることがわかる。
即ち、 単層として形成されるアルミナ層を上記の通り、 結晶粒の 微細な薄膜として形成した後、 結晶粒の成長を初期段階に戻して、 繰り返しアルミナ層を形成することで、 図 5に模式的に示すように 、 結晶粒の微細な αアルミナ層 1 6が積層されてなるアルミナ保護 膜 1 5を得ることができるものと考える。
尚、 Zywitzki や Takamura らは、 P V D法で得られた α型結晶 構造主体のアルミナ皮膜の断面を観察したときに、 基材との界面に 生成した初期の微細な結晶領域で r型結晶構造のアルミナ (以下、 単に 「ァアルミナ」 ということがある) が観察されたことを明らか にしており、 この観察結果から、 αアルミナの結晶はこのァアルミ ナの結晶の中から成長することを報告している (例えば、 Surface and Coatings Technology, 1997 年, p .303~ 308, 同 2001 年, p .260〜264)。 よってこれまでは、 P V D法でひアルミナを形成す る場合、 成長初期に形成されるアルミナ結晶粒の微細領域では、 ァ アルミナの含有が避けられないと考えられてきた。
ところが、 本発明者らが、 前記図 3 における C r 2 O 3層との界 面近傍のアルミナを薄膜 X線回折装置で分析したところ、 該界面近 傍のいずれの領域においても αアルミナを示す回折ピークのみが検 出され、 ァアルミナは検出されなかった。
つまり、 適切な条件下で形成すれば、 結晶粒の成長初期段階でも 、 アルミナを主体とする皮膜が得られることを確認した。
本発明者らは、 これらの知見をもとに、 結晶粒の成長初期段階か ら ひアルミナが形成され、 かつ該ひアルミナが微細であるアルミナ 保護膜を実現すべく、 該アルミナ保護膜の具体的な態様について検 討したところ、 上記第 1 〜 3の態様のアルミナ保護膜を見出した。 以下、 各アルミナ保護膜の構成について詳述する。
<第 1アルミナ保護膜について >
まず、 αアルミナが微細であるアルミナ保護膜として、 該保護膜 の内部において、 該保護膜の厚み方向とほぼ直交する面に沿って、 アルミニウム以外の元素が混在する領域 (混在領域) が、 厚み方向 に 1以上断続的に存在するような構成のアルミナ保護膜が挙げられ る。 尚、 以下では、 上記混在領域間のほぼひアルミナからなる領域 を 「アルミナ層」 という。
上記保護膜としては、 例えば、 前記図 5 に示されるアルミナ層 1 6間に、 前記混在領域 1 4が複数存在するものが挙げられ、 該保護 膜をより模式的に示すと例えば図 6 ( a ) の様に示すことができる 。 図 6 ( a ) は、 基材または下地皮膜 2 1 を酸化処理して得られた 酸化処理層 2 2上に形成されたアルミナ保護膜 1 5が、 アルミナ層 2 3間に混在領域 2 4が 4箇所形成されたものであることを示して おり、 該保護膜 1 5は、 図 6 ( b ) のような成分組成を示す。
この様に、 アルミナの結晶成長過程でアルミニゥム以外の元素 を混入させることによって、 意図的に結晶粒の成長を乱すことがで き、 新たな結晶核の成長の起点が生成されるものと考えられる。 上記第 1保護膜について、 その他の詳細な構成まで規定するもの でないが、 ひアルミナのより微細なものを得るには、 保護膜を構成 する混在領域等を下記の態様とするのが好ましい。
前記混在領域間 (アルミナ層) の厚みは、 0 . 5 以下とする のがよい。 理由は上述の通り、 結晶粒の粗大化を抑制するためであ り、 より好ましくは 0 . 2 以下である。 前記アルミニウム以外の元素は、 特に限定されるわけではないが 、 酸化物を形成する金属元素が好ましい。 また、 混在領域上に新た にひアルミナを形成する観点から、 上記金属元素としては、 ひアル ミナと同じ結晶構造の酸化物 (コランダム構造の酸化物) を形成す る C rおよびノまたは F eを用いることが好ましい。
前記混在領域の厚さの合計は、 前記保護膜の膜厚の 1 0 %以下と なるようにするのがよい。
アルミナの結晶成長を阻害し、 新たに結晶成長核を形成させると いう観点からは、 混在領域の厚みについて特に上限を設ける必要は ないが、 Q!アルミナ本来の高温安定性を十分に発揮させるには、 保 護膜を αアルミナ主体とする必要があり、 そのためには、 該保護膜 に占める混在領域の厚さを、 保護膜の膜厚の 1 0 %以下にするのが よい。 混在領域の厚さの合計は、 前記保護膜の膜厚の 5 %以下とす るのがより好ましく、 更に好ましくは前記保護膜の膜厚の 2 %以下 である。
また混在領域におけるアルミニウム以外の元素の含有量は、 保護 膜全体の 2原子%以下となるようにするのがよい。 アルミニウム以 外の元素がアルミナ保護膜に多量に混入すると、 高温時に拡散が生 じる等の悪影響が考えられるからである。 上記混在領域におけるァ ルミニゥム以外の元素の含有量は、 より好ましくは 1原子%以下、 更に好ましくは 0 . 5原子%以下である。
<第 2アルミナ保護膜について〉
アルミナ結晶粒を微細化できる別のアルミナ保護膜として、 α型 結晶構造主体のアルミナ層とコランダム構造の酸化物 (アルミナ除 く。 以下同じ) 層またはコランダム構造の酸化物と該酸化物を構成 する金属との混合層 (以下、 単に 「混合層」 という ことがある) と が交互に積層されたものが挙げられる。 この様に α型結晶構造のァ ルミナと同じ結晶構造の酸化物を含む層をひアルミナ層と交互に積 層すれば、 結晶粒の微細な αアルミナ層を形成できるとともにァァ ルミナの生成を抑制できる。
例えば、 前記図 5に示されるアルミナ層 1 6間に、 前記コランダ ム構造の酸化物層または混合層 1 4が複数存在するものが挙げられ る。 前記コランダム構造の酸化物層として C r 23層を形成する 場合について、 図 7 に模式的に例示する。
図 7 に示す保護膜 1 5は、 結晶成長途中の αアルミナ層 2 3上に コランダム構造の C r 23層 2 5 を形成し、 再び aアルミナ層 2 3 を形成するといつた工程を繰り返すことによって得られるもので あり、 該保護膜は、 図 7 ( b ) に示されるような成分組成を示す。 前記コランダム構造の酸化物は、 C r 23、 F e 23または、 C r 203および/または F e 23と A 1 203との相互固溶体 [例 えば (A l i— x C r x) 2 O 3 , ( A 1 ! _ x F e x ) 203等] からな るものがよく、 上記 C r 2 O 3に限られない。
前記アルミナ層は、 その厚みを 0. 5 m以下とするのがよい。 その理由は、 上記第 1保護膜の場合と同様に、 結晶粒の粗大化を抑 制するためであり、 より好ましくは 0. 2 m以下である。
前記コランダム構造の酸化物層または混合層は、 単一層として構 成されているものがよく、 単独で結晶と認識し得る 2 nm以上の厚 みとするのがよい。
前記コランダム構造の酸化物層または混合層の厚さの合計は、 保 護膜の膜厚の 1 0 %以下とするのがよい。 保護膜に占めるアルミ二 ゥム以外の元素を含む前記酸化物層の割合が高いと、 高温時に拡散 が生じる等の悪影響が考えられるからである。 コランダム構造の酸 化物層または混合層の厚さの合計は、 より好ましくは 1 %以下であ る。
<第 3アルミナ保護膜について >
アルミナ結晶粒を微細化できる別のアルミナ保護膜として、 更に 、 実質的に結晶核の異なる α型結晶構造主体のアルミナ層 ( αアル ミナ層) が積層されたものが挙げられる。 後述するように、. アルミ ナ結晶核が成長する前にひアルミナの形成を中断し、 再度 アルミ ナの形成を行う ことによって、 結晶粒の微細なひアルミナ層が積層 され、 結晶粒の微細な《アルミナ層からなるアルミナ保護膜とする ことができる。
尚、 上記の通り結晶粒の微細なひアルミナ層が積層されてなるァ ルミナ保護膜を得るには、 前記 αアルミナ層の厚みを 0. 5 m以 下とするのがよく、 より好ましくは 0. 2 m以下である。
<基材および下地皮膜について >
本発明のアルミナ保護膜は、 基材上または予め下地皮膜の形成さ れた基材上に形成するものであるが、 該基材や下地皮膜について特 に限定されない。 基材としては、 例えば、 高速度鋼等の鋼系材料、 超硬合金、 サーメッ ト、 または c B N (立方晶窒化ほう素) 焼結体 やセラミックス焼結体を用いることができる。
また、 前記下地皮膜としては、 例えば、 周期律表の 4 a族, 5 a 族および 6 a族の元素、 A l 、 S i 、 F e、 C u並びに Yよりなる 群から選択される 1種以上の元素と( 、 Ν、 Β、 〇の中の 1種以上 の元素との化合物、 または、 これら化合物の相互固溶体、 のいずれ か 1種以上を形成すれば、 ひ型結晶構造のアルミナ形成に有利であ るので好ましい。
上記下地皮膜の代表的なものとして、 T i ( C, N), C r ( C , N)、 T i A 1 ( C, N ) , C r A 1 ( C , N), T i A l C r ( C , N)、 即ち、 T i 、 C r、 T i A l 、 C r A l 、 または T i A I C rの、 それぞれの炭化物、 窒化物、 炭 · 窒化物が挙げられ、 切 削工具等に汎用されている硬質皮膜として、 例えば T i N、 T i C 、 T i C N、 T i A l N、 C r N、 C r A 1 N T i A l C r Nを 単層または多層形成することができる。
本発明では、 これらの基板または下地皮膜の表面を酸化処理した ものをアルミナ保護膜の形成に供すれば、 α型結晶構造主体のアル ミナ層を形成し易いので好ましい。
<製造方法について >
[製造方法①]
前記第 1 アルミナ保護膜、 または、
前記第 2アルミナ保護膜 (コランダム構造の酸化物として、 アル ミナを除く コランダム構造の酸化物と A 1 203との相互固溶体を 形成するもの) を、
基材 (基材上に予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成 するには、 該アルミナ保護膜の形成時に、 α型結晶構造主体のアル ミナ層を形成しつつ、 前記アルミニウム以外の元素を断続的に蒸着 させるのがよい。
具体的には、 基材 (基材上に予め下地皮膜が形成されたものを含 む) 上に、 アルミナ保護膜を形成するにあたり、 A rおよび酸素の 混合雰囲気中で、 アルミターゲッ トをスパッタリングして反応性の 成膜を行いつつ、 断続的に、 アルミニウム以外の元素からなる金属 ゃ該元素を含む合金または金属酸化物を、 ターゲッ 卜として具備し たスパッタリ ング蒸発源を用い、 アルミニウム以外の元素の金属や その酸化物等を蒸着させる方法が挙げられる。
[製造方法②]
上記第 2アルミナ保護膜 (コランダム構造の酸化物として、 アル ミナを除く コランダム構造の酸化物を形成するもの) を、 基材 (基 材上に予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成する方法と して、 該アルミナ皮膜の形成時に、 α型結晶構造主体のアルミナ層 と、 コランダム構造の酸化物 (アルミナを除く) 層またはコランダ ム構造の酸化物と該酸化物を構成する金属との混合層を、 交互に形 成することが挙げられる。
具体的には、 基材 (基材上に予め下地皮膜が形成されたものを含 む) 上に、 アルミナ保護膜を形成するにあたり、 A rおよび酸素の 混合雰囲気中で、 アルミターゲッ トをスパッタリングしてアルミナ 皮膜を形成した後、 一旦アルミナ皮膜の形成を中断し、 A rおよび 酸素の混合雰囲気中で、 上記コランダム構造の酸化物を形成する金 属 (合金を含む) からなるスパッタリ ングターゲッ トを用いてスパ ッタリ ングを行い、 コランダム構造の酸化物層またはコランダム構 造の酸化物と該酸化物を構成する金属との混合層を形成し、 その後 に再びアルミナ皮膜とコランダム構造の酸化物層の形成を繰り返す ことが挙げられる。
[製造方法③]
上記第 3アルミナ保護膜を、 基材 (基材上に予め下地皮膜が形成 されたものを含む) 上に形成するには、 該アルミナ皮膜の形成時に 、 α型結晶構造主体のアルミナ層を断続的に形成する必要があり、 具体的には、 例えば、 アルミナ層の形成を一時中断して基板温度を 低下させた後、 再度基板温度を高めてアルミナ層を形成することが 挙げられる。 実施例
以下、 実施例を挙げて本発明をより具体的に説明するが、 本発明 はもとより下記実施例によって制限を受けるものではなく、 前 · 後 記の趣旨に適合し得る範囲で適当に変更を加えて実施することも可 能であり、 それらはいずれも本発明の技術的範囲に含まれる。
<比較例 >
超硬基材上に予め A I P法で C r N皮膜を形成した試験片を用意 し、 該試料の表面を酸化処理してから、 アルミナ保護膜の形成を行 つた。 該酸化処理とアルミナ保護膜の形成は、 図 1 に示す真空成膜 装置 (神戸製鋼所製 AIP-S40複合機) で行った。
上記酸化処理は、 具体的に次の様にして行った。 即ち、 試料 (基 材) 2 をチャンバ一 1内の回転テーブル 3上の遊星回転治具 4にセ ッ トし、 チャンパ一 1内がほぼ真空状態となるまで排気した後、 チ ャンバ一 1の中央部に設置したヒーター 5 とチヤンバ一 1 内部の側 面 2箇所に設置したヒーター 5で試料 2を 7 5 0 °C (酸化処理工程 での基材温度) となるまで加熱した。 試料 2の温度が所定の温度と なった時点で、 チャンバ一 1 内に、 酸素ガスを流量 3 0 0 s c c m 、 圧力約 0 . 7 5 P aとなるよう導入し、 2 0分間加熱保持して酸 化を行った。
尚、 前記加熱、 酸化処理および後述するアルミナ保護膜は、 前記 図 1 における回転テーブル 3 を回転 (公転) させるとともに、 その 上に設置した遊星回転治具 4 (基材保持用パイプ) も回転 (自転) させながら行った。
次に、 酸化処理後の下地皮膜上に、 アルミナ保護膜を形成した。 該アルミナ皮膜の保護膜は、 A r と酸素の混合雰囲気中で、 基材温 度を前記酸化処理工程とほぼ同程度 ( 7 5 0 °C ) とし、 2台のアル ミニゥムターゲッ トを装着したスパッタリ ング力ソード 6 にそれぞ れ約 2 . 5 k W のパルス D C電力を加え、 反応性スパッタ リ ング 法を採用して行った。 該アルミナ保護膜の形成は、 放電電圧および アルゴン一酸素の流量比率をプラズマ発光分光法を利用して制御し 、 放電状態をいわゆる遷移モードにして行った。 この様にして膜厚 が約 2 mのアルミナ保護膜を形成した。 アルミナ保護膜の形成時 間は 3時間であった。
<本発明例 1 >
次に本発明例として以下の実験を行った。 即ち、 スパッタリ ング 力ソード 6の 2枚のアルミニウムターゲッ トのうち 1枚を C r夕一 ゲッ トに交換してから、 アルミナ保護膜の形成を下記の通り行う こ とを除き、 上記比較例と同様にして酸化処理およびアルミナ保護膜 の形成を行った。
アルミナ保護膜の形成では、 まずスパッタリ ング力ソード 6の 1 台のアルミニウム夕一ゲッ トのみを使用してアルミナ層を形成し、 5 7分間経過した時点で、 該層の形成を継続させながら、 C r夕一 ゲッ トを装着したスパッタリ ング力ソード 6を 5 0 0 Wで 3分間動 作させた。 この工程を 4回繰り返した後、 アルミナ層の形成を 1時 間行って終了した。
この様にして、 全膜厚が約 2 mであり、 基材表面から約 0 . 3 5 mごとに C r を含む混在領域の存在するひアルミナ主体のアル ミナ保護膜を得た。
<本発明例 2 >
次に、 上記本発明例 1 における C r夕ーゲッ トのかわりに T i 夕 一ゲッ トを用いて、 上記本発明例 1 と同様に酸化処理およびアルミ ナ保護膜の形成を行った。
即ち、 アルミナ保護膜の形成では、 まずアルミニウムターゲッ ト を装備したスパッタリ ング力ソード 6 を使用してアルミナ層を形成 し、 5 7分間経過した時点で、 該層の形成を継続させながら、 T i 夕一ゲッ トを装着したスパッタリ ング力ソード 6 を 5 0 0 Wで 3分 間動作させた。 この工程を 4回繰り返した後、 アルミナ層の形成を 1時間行って終了した。
この様にして、 全膜厚が約 2 i mであり、 基材表面から約 0 . 3 5 ; mごとに T i を含む混在領域の存在するひアルミナ主体のアル ミナ保護膜を得た。
<本発明例 3 > 本発明例では、 上記本発明例 1 と同様に、 アルミニウムターゲッ トと C r夕ーゲッ トをスパッタリ ング力ソード 6 に装着し、 アルミ ナ保護膜の形成を下記の通り行うことを除き、 上記比較例と同様に して酸化処理およびアルミナ皮膜の形成を行った。
アルミナ保護膜の形成では、 まずアルミニウムターゲッ トを装備 したスパッタリ ング力ソード 6の 1台のみを使用してアルミナ層を 形成し、 5 5分間経過した時点で、 アルミナ層の形成を停止し、 C r 夕ーゲッ トを装着したスパッタ リ ング力ソ一 ド 6 を 2 . 5 k W で 5分間動作させた。 この工程を 4回繰り返した後、 アルミナ層の 形成を 1時間行って終了した。
この様にして、 全膜厚が約 2 mであり、 基材表面から約 0 . 3 5 mごとに C r 23層が形成されている 《アルミナ主体のアル ミナ保護膜を得た。
<本発明例 4 >
本発明例では、 チャンバ一 1内のスパッタリ ング力ソード 6に 2 台のアルミニウム夕ーゲッ トを具備した状態で、 アルミナ保護膜の 形成を下記の通り行う ことを除き、 上記比較例と同様にして酸化処 理およびアルミナ保護膜の形成を行った。
アルミナ保護膜の形成では、 アルミナ層の形成が 3 0分間経過し た時点でスパッタリ ングとヒータ一 5による加熱を停止した。 そし て、 前記スパッタリ ング時の雰囲気ガス ( A r + O 2 ) の流量を維 持したまま、 1 0分後に前記ヒ一ター 5による加熱を始め、 その 5 分後にスパッタリングを再開した。 この工程を 4回繰り返した後、 アルミナ層の形成を 3 0分間行って終了した。
得られた保護膜は、 全膜厚が約 2 mで、 基材表面から約 0 . 3 5 m毎に実質的に結晶核の異なるアルミナ層の積層されたものと なった。
<得られたアルミナ保護膜の薄膜 X 線回折分析結果および S E M観察結果 >
この様にして得られたアルミナ保護膜の表面を薄膜 X線回折装置 で分析し、 各アルミナ保護膜の結晶構造を特定した。 また、 これら のアルミナ保護膜の表面を S E Mで観察した。 これらの結果を表 1 に示す。
Figure imgf000019_0001
※ 酸化物含有層によるもの 表 1から、 従来の方法で行った比較例では、 0!主体のアルミナ保 護膜が形成できているが、 アルミナ結晶粒は粗大となっていること がわかる。 これに対し、 本発明例 1 〜 4では、 本発明で規定する構 成のアルミナ保護膜とすれば、 形成されるアルミナはほぼ α型結晶 構造のみからなり、 かつ結晶粒の成長が抑えられて微細な結晶粒か らなり、 表面が平滑なアルミナ保護膜が得られることがわかる。 産業上の利用可能性
本発明は以上の様に構成されており、 従来よりも優れた耐摩耗性 および耐熱性を期待することのできるアルミナ結晶粒の微細なひァ ルミナ主体のアルミナ保護膜とその製造方法を提供する。

Claims

請求の範囲
I . 0!型結晶構造のアルミナを主体とする保護膜であって、 該保護 膜の内部において、 該保護膜の厚み方向とほぼ直交する面に沿って
、 アルミニウム以外の元素が混在する領域が、 厚み方向に 1以上断 続的に存在することを特徴とするアルミナ保護膜。
2. 前記アルミニウム以外の元素は、 酸化物を形成する金属元素で ある請求項 1 に記載のアルミナ保護膜。
3. 前記金属元素は、 C rおよび/または F eである請求項 2に記 載のアルミナ保護膜。
4. 前記混在領域間の厚みが 0. 5 m以下である請求項 1 に記載 のアルミナ保護膜。
5. 前記混在領域の厚さの合計が、 前記保護膜の膜厚の 1 0 %以下 である請求項 1 に記載のアルミナ保護膜。
6. 前記アルミニウム以外の元素の含有量は、 前記保護膜全体の 2 原子%以下である請求項 1 に記載のアルミナ保護膜。
7. ひ型結晶構造のアルミナを主体とする保護膜であって、 α型結 晶構造主体のアルミナ層と、 コランダム構造の酸化物 (アルミナ除 く。 以下同じ) 層またはコランダム構造の酸化物と該酸化物を構成 する金属との混合層とが交互に積層されたものであることを特徴と するアルミナ保護膜。
8. 前記コランダム構造の酸化物は、 C r 23、 F e 23、 また は、 C r 23、 F e 203および A l 23よりなる群から選択され る 2種以上の相互固溶体である請求項 7 に記載のアルミナ保護膜。
9. 前記 α型結晶構造主体のアルミナ層は、 その厚みが 0.
以下である請求項 7 に記載のアルミナ保護膜。
1 0. 前記コランダム構造の酸化物層、 または前記コランダム構 造の酸化物と該酸化物を構成する金属との混合層は、 その厚みが 2 nm以上である請求項 7 に記載のアルミナ保護膜。
I I . 前記コランダム構造の酸化物層、 または前記コランダム構 造の酸化物と該酸化物を構成する金属との混合層の厚さの合計が、 前記保護膜の膜厚の 1 0 %以下である請求項 7 に記載のアルミナ保 護膜。
1 2 . 型結晶構造のアルミナを主体とする保護膜であって、 実 質的に結晶核の異なる α型結晶構造主体のアルミナ層が 2以上積層 されたものであることを特徴とするアルミナ保護膜。
1 3 . 前記 α型結晶構造主体のアルミナ層は、 その厚みが 0 . 5 m以下である請求項 1 2 に記載のアルミナ保護膜。
1 4 . 前記請求項 1 に記載のアルミナ保護膜を、 基材 (基材上に 予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成する方法であって 、 該アルミナ保護膜の形成時に、 α型結晶構造主体のアルミナ層を 形成しつつアルミニウム以外の元素を断続的に蒸着させることを特 徵とするアルミナ保護膜の製造方法。
1 5 . 前記請求項 7 に記載のアルミナ保護膜を、 基材 (基材上に 予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成する方法であって 、 該アルミナ皮膜の形成時に、 α型結晶構造主体のアルミナ層と、 コランダム構造の酸化物 (アルミナ除く) 層またはコランダム構造 の酸化物と該酸化物を構成する金属との混合層を交互に形成するこ とを特徴とするアルミナ保護膜の製造方法。
1 6 . 前記請求項 1 2 に記載のアルミナ保護膜を、 基材 (基材上 に予め下地皮膜が形成されたものを含む) 上に形成する方法であつ て、 該アルミナ皮膜の形成時に、 a型結晶構造主体のアルミナ層を 断続的に形成することを特徴とするアルミナ保護膜の製造方法。
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