WO2004073369A1 - 多層配線基板及びその製造方法 - Google Patents

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WO2004073369A1
WO2004073369A1 PCT/JP2004/001478 JP2004001478W WO2004073369A1 WO 2004073369 A1 WO2004073369 A1 WO 2004073369A1 JP 2004001478 W JP2004001478 W JP 2004001478W WO 2004073369 A1 WO2004073369 A1 WO 2004073369A1
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WO
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metal layer
layer
protective metal
forming
wiring board
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PCT/JP2004/001478
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French (fr)
Inventor
Eiji Yoshimura
Original Assignee
Daiwa Co., Ltd.
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Publication date
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Definitions

  • the present invention relates to a multilayer wiring board having a first interlayer connector and a second interlayer connector formed above and below a conductor pattern such as a wiring pattern, and a method of manufacturing the same.
  • the interlayer connection body can be suitably used for a connection interlayer structure for performing conductive connection between wiring layers and heat transfer (radiation) in a vertical direction of a wiring board.
  • the multilayer wiring board needs a structure for conductively connecting between the wiring layers, so that the inside of the via hole is not covered.
  • an interlayer connection structure formed by filling a conductive paste, or an interlayer connection structure formed by etching a metal layer can be manufactured with existing equipment, have high conductivity and heat conductivity, and have excellent reliability of conductive connections, and are attracting attention in this industry. .
  • a process of forming an etching barrier layer made of another metal on a metal layer for forming projections, and forming a metal layer to be a conductor circuit thereon is prepared.
  • Forming the protrusions by selectively etching the metal layer for forming the protrusions with an etching liquid that does not attack the etching barrier layer, and removing only the etching barrier layer with the etching liquid using the protrusions as a mask.
  • another metal foil for forming a conductor circuit is laminated on the surface on the side where the protrusions and the interlayer insulating film are formed, integrated by pressing, and then the conductor circuit is etched. Has formed.
  • the above-mentioned document also discloses a method of connecting a projection by interposing a conductive paste between the metal foil and the metal foil.
  • the method of conducting the conductive connection by laminating and pressurizing the protrusion and the metal foil for forming the conductive circuit in this manner cannot provide a highly reliable connection. It is difficult to obtain sufficient performance in terms of sex. In other words, in this manufacturing method, a three-layered dissimilar metal laminate is used. Therefore, in order to manufacture a multilayer wiring board by the build-up method, a member having protrusions formed on the previously formed wiring pattern is laminated. Need to be conductively connected, and the above-described problem inevitably occurs.
  • protrusions are formed by etching the previously formed wiring pattern, an insulating layer is formed, the protrusions are exposed, and the upper wiring layer is formed by plating.
  • a method is known in which all the parts from the core substrate to the uppermost layer can be conductively connected by plating.
  • This method forms a protective metal layer by covering the entire surface including the non-pattern portion of the underlying wiring layer with another metal that exhibits resistance during etching of the metal constituting the columnar metal body, and forming the protective metal layer.
  • the heat conductivity is not sufficient due to the limitation of the plating thickness in a metal hole, and the method of filling a metal paste with conductive paste in the metal through hole is the same as when a metal plate is placed. Heat dissipation is considerably smaller than that.
  • the above-described method for forming a columnar metal body has a problem that if a sheet-like member (eg, a core substrate) to be formed does not have sufficient hardness, it is difficult to build up an upper layer. there were.
  • a sheet-like member eg, a core substrate
  • an object of the present invention is to provide a multilayer wiring board that can form an interlayer connection structure with high connection reliability in all layers using existing equipment and has good heat conductivity, and a method of manufacturing the same. Is to do. Disclosure of the invention
  • the method for manufacturing a multilayer wiring board of the present invention is a method for manufacturing a multilayer wiring board having a first interlayer connector and a second interlayer connector formed above and below a conductor pattern,
  • the first interlayer connection body and the second interlayer connection body can be formed by etching, plating, and the like, so that the manufacturing can be performed in a simple process using existing facilities.
  • each layer can be bonded by plating (particularly,
  • the interlayer connection structure with high connection reliability can be formed in all layers. Since the interlayer connection body is formed by etching, the heat transfer area can be increased and the heat transfer property can be improved. It will be good. Further, when forming the second interlayer connector, the first metal layer serves as a base material for maintaining the shape, and when forming the first interlayer connector, the second insulating layer serves as a substrate for maintaining the shape. Since it becomes a base material, it is possible to improve the difficulty of production due to the thinning of each layer.
  • a step of forming a first insulating layer on a formation surface of a first interlayer connector a step of forming a first conductor pattern layer partially conductively connected to the first interlayer connector, and a step of forming the first interlayer
  • the second conductor /, partly conductively connected to the connector It is preferable to include a step of forming a turn layer. Thereby, a multilayer wiring board having an odd number of conductor pattern layers can be manufactured.
  • the first interlayer connector and the first conductor pattern layer and the first interlayer connector and the second conductor pattern layer are joined by plating.
  • a second protective metal layer of the same metal as the first protective metal layer is formed on substantially the entire surface including the non-pattern portion, and in the step (i), the first protective metal layer is formed.
  • a method of forming the second protective metal layer only on the pattern portion is also possible, but a second protective metal layer of the same metal as the first protective metal layer is formed, and both are etched simultaneously. Is more efficient.
  • a fine pattern can be formed by the pattern plating method.
  • a first protective metal layer and a second protective metal layer made of different metals are formed on the upper and lower surfaces of the conductor pattern, and further, on the lower surface of the first protective metal layer.
  • an interlayer connection structure with high connection reliability can be formed in all layers using existing facilities, and good heat conductivity can be achieved. it can.
  • bonding between the conductor pattern and the first protective metal layer and the first protective metal layer is performed by plating, and bonding between the first protective metal layer and the first interlayer connector is performed by plating. It is preferable that the bonding between the second protective metal layer and the second interlayer connector is performed by plating. This makes it possible to form an interlayer connection structure with high connection reliability in all layers using existing equipment, and to improve heat transfer.
  • the conductor pattern, the first interlayer connector, and the second interlayer connector are made of the same metal, and the first protective metal layer and the second protective metal layer are made of the same metal.
  • the first protective metal layer and the second protective metal layer can be etched at the same time, so that the number of steps can be reduced, and the selection of an etching liquid at that time becomes easy.
  • a combination of both metals a combination of copper and nickel is particularly preferable.
  • a first insulating layer is formed on a surface on which the first interlayer connector is formed, and a first conductor pattern layer joined to the first interlayer connector by plating is formed, and the second interlayer connector is formed. It is preferable that a second insulating layer is formed on the surface on which the body is formed, and a second conductor and a first layer joined to the second interlayer connector by plating are formed. With this, it is possible to have a structure in which all three conductor pattern layers are joined by plating. At least one of the first conductor pattern layer and the second conductor pattern layer has a different shape.
  • a third protection metal layer or a fourth protection metal layer made of metal is formed, and a third interlayer connection body made of another metal is formed on the lower surface of the third protection metal layer.
  • a fourth interlayer connector made of another metal is formed on the upper surface of the fourth protective metal layer. This makes it possible to form a structure in which all the conductor pattern layers are further joined by plating.
  • an odd-numbered conductor pattern layer including the conductor pattern is provided.
  • even-numbered conductor pattern layers were provided, so using an odd-numbered layer enables a circuit design different from the conventional one.
  • another multilayer wiring board of the present invention is a multilayer wiring board having an interlayer connection structure that penetrates and connects conductor pattern layers provided in upper and lower outermost layers, wherein the inter-layer connection structure includes a conductor A first protective metal layer and a second protective metal layer made of another metal are formed on both upper and lower surfaces of the pattern, and a first interlayer made of another metal is formed on the lower surface of the first protective metal layer.
  • the connection body is characterized in that a second interlayer connection body made of another metal is formed on the upper surface of the first protective metal layer.
  • FIG. 1 to 4 are process diagrams illustrating an example of a method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention.
  • 5 and 6 are process diagrams showing another example of the method for manufacturing a multilayer wiring board of the present invention.
  • 7 to 9 are process diagrams showing still another example of the method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention.
  • FIG. 10 is a sectional view showing another example of the multilayer wiring board of the present invention.
  • FIG. 4 are process diagrams illustrating an example of a method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention.
  • the method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention comprises a first interlayer connector 1a and a second interlayer connector 14 formed above and below a conductor plate 3a.
  • a method for manufacturing a multilayer wiring board having a including steps (a) to (i).
  • steps (a) to (i) an example in which the step (i) of removing the first protective metal layer and the second protective metal layer by etching prior to the formation of the second insulating layer 16 will be described.
  • Step (a) of the present invention comprises, as shown in FIGS. 1 (1) and (2), a first metal layer 1 for forming a first interlayer connector 1a, and a first metal layer 1 made of another metal.
  • a conductor pattern 3a made of another metal is formed on the first protective metal layer 1 side of the laminate having the protective metal layer 2.
  • the pattern may be formed by any method, such as a panel plating method in which a pattern is formed using an etching resist, or a pattern plating method in which a pattern is formed using a resist for pattern plating.
  • a first metal layer 1, a first protection metal layer 2, and a conductor pattern 3a are formed.
  • a laminate SP on which a metal layer 3 is laminated is prepared.
  • the laminated plate SP may be manufactured by any method. For example, any one manufactured by using plating, sputtering, vapor deposition, or the like, or a clad material may be used.
  • the thickness of each layer of the laminate SP for example, the thickness of the first metal layer 1 is 30 to 100 m, the thickness of the first protective metal layer is 1 to 20 m, and the thickness of the metal layer 3 Is from 1 to 100 ⁇ .
  • the thickness of the first metal layer 1 is small, it is preferable to further use a mirror surface plate made of stainless steel or the like in order to improve the handleability.
  • the first metal layer 1 is a metal such as copper, the first metal layer 1 can be easily peeled off from the mirror plate only by external force.
  • a first metal layer 1 having a sufficient thickness may be used in advance, and may be adjusted to a desired thickness by performing harvesting or the like in a later step.
  • the metal forming the conductor pattern 3a can be used as the metal forming the conductor pattern 3a.
  • a metal constituting the first protective metal layer 2 a metal different from the first metal layer 1 and the conductor pattern 3a is used, and another metal having resistance during etching of these metals can be used.
  • gold, silver, zinc, palladium, ruthenium, nickel, rhodium, a lead-tin-tin solder alloy, a nickel-gold alloy, or the like is used.
  • the present invention is not limited to combinations of these metals, and any combination of the above metals with another metal exhibiting resistance during etching can be used. In this regard, the same applies to the metal forming the second protective metal layer 11 and the metal forming the second metal layer 14 and the conductor pattern 3a.
  • a metal constituting the first metal layer 1 a metal different from the first protective metal layer 2 is used, and for example, copper, a copper alloy, nickel, tin or the like can be used.
  • the metal forming the conductor pattern 3a and the metal forming the first metal layer 1 be the same, and it is particularly preferable to use copper.
  • the etching resist 4 may be, for example, a photosensitive resin or a dry film resist (photoresist).
  • a mask material 5 for preventing this.
  • the etching method include an etching method using various kinds of etching liquids according to the type of each metal forming the first protective metal layer 1 and the metal layer 3.
  • the metal layer 3 is copper and the first protective metal layer 2 is the above-mentioned metal (including a metal-based resist), a commercially available alkali etching solution, ammonium persulfate, hydrogen peroxide / sulfuric acid, or the like is used. it can. After the etching, the etching resist 4 is removed.
  • a second protective metal layer 11 covering at least the conductor pattern 3a is formed. In the present embodiment, an example is shown in which substantially the entire surface of the conductor pattern 3a including the non-patterned portion is covered with the first protective metal layer 11.
  • the metal constituting the first protective metal layer 11 As a metal constituting the first protective metal layer 11, another metal exhibiting resistance when the first interlayer connector 14a is formed by etching can be used. Specifically, when the metal constituting the second interlayer connector 14a is copper, gold, silver, zinc, palladium, ruthenium, nickel, rhodium, lead-tin-tin solder alloy, or nickel-nickel Gold alloy etc. can be used. In the present invention, the metal constituting the second protective metal layer 11 is the first protective metal It is preferably the same as the metal constituting the layer 2.
  • the second protective metal layer 11 can be formed using electrolytic plating, electroless plating, sputtering, vapor deposition, or the like, but it is preferable to use electrolytic plating.
  • the thickness of the second protective metal layer 11 is, for example, 1 to 20 m, preferably 1 to 10 m.
  • Electrolytic plating can be performed by a well-known method.In general, while a target laminated plate is immersed in a plating bath, the laminated plate is used as a cathode and a metal ion replenishing source of the metal to be plated is used. This is performed by depositing a metal on the cathode side by an electrolysis reaction as the anode.
  • Electroless plating solutions are well known for various metals, and various types are sold.
  • the liquid composition contains a metal ion source, an alkali source, a reducing agent, a chelating agent, a stabilizer and the like.
  • a plating catalyst such as palladium may be deposited prior to the electroless plating.
  • a second metal layer 14 made of a metal different from the second protective metal layer 11 is further formed.
  • the second metal layer 14 can be formed by an electrolytic plating, an electroless plating, or the like, but is preferably formed by an electrolytic plating.
  • the thickness of the second metal layer 14 is, for example, 30 to 100 / m.
  • the metal constituting the second metal layer 14 for example, copper, copper alloy, nickel, tin, or the like can be used. In the present invention, it is preferable that the metal forming the conductor pattern 3a and the metal forming the second metal layer 14 be the same.
  • a second mask layer 15 is formed on a surface portion of the second metal layer 14 where the second inter-brows connector 14a is formed. Is the thing.
  • the formation of the second mask layer 15 can be performed by a method of exposing and developing after application of a photosensitive resin or lamination of a dry film resist, or screen printing.
  • the size (area, outer diameter, etc.) of the second mask layer 15 is determined in accordance with the size of the second interlayer connector 14a, and the second size for the conductive connection (via) between the wiring layers is determined.
  • the outer diameter of the two-layer connector 14a is, for example, 50 to 100 m, and As the outer diameter of the second interlayer connector 1a, an outer diameter of 1000 m or more is also possible.
  • the shape of the second mask layer 15 may be any shape, such as a circle, an ellipse, a square, a polygon, and a pattern.
  • the second interlayer connector 14a according to the shape can be formed. .
  • the second metal layer 14 on which the second mask layer 15 is formed is selectively etched to form the second interlayer connector 1a. It forms. At this time, if the amount of erosion due to etching is too large, the diameter of the second interlayer connector 14a to be formed is reduced (increase in undercut), which may hinder subsequent processes. If the amount is too small, the second metal layer 14 may remain in the non-pattern portion, which may cause a short circuit. Therefore, the degree of erosion due to the above-mentioned etching is preferably within the range shown in FIG. 2 (6) or a range slightly increased or decreased.
  • Examples of the etching method include an etching method using various etching liquids according to the type of each metal constituting the second metal layer 14 and the second protective metal layer 11.
  • a commercially available alkali etching solution, ammonium persulfate, and hydrogen peroxide are used.
  • Sulfuric acid can be used.
  • the step (i) of the present invention as shown in FIG. 2 (7), at least the non-pattern portions of the first protective metal layer 2 and the first protective metal layer 11 are selectively etched simultaneously or separately. To remove it.
  • the first protection metal layer 2 and the second protection metal layer 11 are formed of the same metal, and the first protection metal layer 2 and the second protection metal layer 11 are formed in the step (i).
  • an example is shown in which is simultaneously etched and selectively removed. If both are different metals, they can be removed by sequential etching.
  • etching method there is an etching method using an etching solution different from the step (e).
  • a chloride etching solution is used, both the metal-based resist and copper are eroded.
  • a nitric acid-based it is preferable to use Specifically, when the second interlayer connector 14a and the conductor pattern 3a are copper and the second protective metal layer 11 is the above-mentioned metal, a nitric acid-based, It is preferable to use a sulfuric acid-based or cyanic-based acid-based etching solution or the like. It is preferable to perform surface treatment such as blackening treatment on the exposed portion exposed by the etching to increase the adhesion to the insulating layer. This is the same for other conductor patterns.
  • the second mask layer 15 is removed.
  • This can be appropriately selected according to the type of the second mask layer 15 such as chemical removal and peeling removal. Good.
  • a chemical such as alkali.
  • the mask material 5 may be removed at the same time.
  • the second insulating layer 16 is formed on the formation surface of the second interlayer connector 14a. At this time, it is preferable that the second inter-brows connector 14 a be exposed from the second insulating layer 16.
  • an example is shown in which the interlayer connector 14a is exposed after the insulating layer forming material is laminated.
  • an insulating material is applied.
  • a reactive curable resin such as a liquid polyimide resin or an epoxy resin having good insulating properties and being inexpensive can be used. This may be applied by various methods so as to be slightly thicker than the height of the second interlayer connector 14a, and then cured by heating or light irradiation.
  • various coaters such as a curtain coater can be used. Further, a method such as hot pressing or vacuum lamination using an adhesive sheet or prepreg containing a reaction curable resin or the like may be used.
  • the cured insulating material is ground and polished to form a second insulating layer 16 having substantially the same thickness as the height of the second interlayer connector 14a.
  • the grinding method include a method using a grinding device having a hard rotary blade in which a plurality of hard blades made of diamond or the like are arranged in the radial direction of the rotary plate. The upper surface can be flattened by moving along the upper surface of the formed wiring board.
  • the polishing method include a method of light polishing using a belt sander, puff polishing, or the like.
  • the first mask layer 7 is formed on the surface of the first metal layer 1 where the first interlayer connector 1a is formed. .
  • the formation of the first mask layer 7 can be performed in the same manner as the formation of the second mask layer 15 (step (d)). At this time, it is preferable to provide another mask material 6 on the back side
  • the first metal layer 1 on which the first mask layer 7 is formed is selectively etched to form a first interlayer connector 1a. That is what you do.
  • the etching of the first metal layer 1 can be performed in the same manner as the etching of the second metal layer 14 (step (e)).
  • the first interlayer connector 1a can be used as a bump for connection of a chip mounting board or the like without providing an insulating layer, but in the present embodiment, FIG. 3 (1 2) As shown, an example in which a first insulating layer 17 is further formed on the surface on which the first interlayer connector 1a is formed will be described. The formation of the first insulating layer 17 can be performed in the same manner as the formation of the second insulating layer 16 (step (f)).
  • the first protection metal layer 2 and the second protection metal made of another metal are formed on the upper and lower surfaces of the conductor pattern 3a.
  • a metal layer 11 is formed, and a first interlayer connector 1 a made of another metal is formed on the lower surface of the first protective metal layer 2, and the first interlayer connector 1 a is formed on the upper surface of the second protective metal layer 11.
  • a multilayer wiring board having an interlayer connection structure in which second interlayer connectors 14a made of different metals are formed can be manufactured.
  • FIGS. 4 (13) to (14) further, a step of forming a first conductor pattern layer 18 b partially conductively connected to the first interlayer connector 1 a, And an example including a step of forming a second conductor pattern layer 18a that is partially conductively connected to the second interlayer connector 14a.
  • the first conductor pattern layer 18b and the second conductor pattern layer 18a may be formed by any method.
  • a pattern is formed on the metal layer 18 by a panel plating method.
  • the first protective metal layer 2 and the second protective On the lower surface of the first protective metal layer 2, a first interlayer connector 1a made of another metal is formed, and on the upper surface of the second protective metal layer 11, a metal layer 11 is formed. Another gold A first insulating layer 17 is formed on a surface on which the first interlayer connecting member 1a is formed, and a second insulating member 17 is formed on the surface on which the first interlayer connecting member 1a is formed. A first conductor pattern layer 18b joined by a layer connection with the layer interconnect 1a is formed, and a second insulating layer 16 is formed on the surface on which the second interlayer connector 14a is formed. A multilayer wiring board having the second conductor pattern layer 18a joined to the second inter-layer connector 14a by plating can be manufactured. .
  • the formation surface of the second interlayer connector 14a is formed.
  • the step (f) of forming the first insulating layer 16 is performed.
  • a surface treatment such as a surface roughening treatment such as blasting or a chemical oxidation treatment.
  • a step (g) of forming a first mask layer 5a on the surface of the first metal layer 1 on which the first interlayer connector 1a is formed is performed. In that case,
  • a step (h) of selectively etching the first metal layer 1 on which the first mask layer 5a is formed to form the first interlayer connector 1a is performed. . At this time, it is preferable to provide a mask material 6 on the back side.
  • FIG. 6 (5) At least the non-patterned portions of the first protective metal layer 2 and the second protective metal layer 11 are selectively etched simultaneously (or separately) and removed. Yes (i) Perform the step.
  • the first mask layer 5a and the like may be removed before and after this.
  • FIGS. 6 (6) to (8) a step of forming the first insulating layer 17 on the surface on which the first inter-brows connector 1a is formed, wherein the first interlayer connector 1a and a part thereof are electrically conductive.
  • the step of forming the first conductor pattern layer 18b to be connected and the step of forming the second conductor pattern layer 18a that is partially conductively connected to the second interlayer connector 14a are performed as necessary. carry out.
  • the second interlayer connector 1 4) The step (f) of forming the second insulating layer 16 on the formation surface is performed.
  • a resin-coated copper foil is hot-pressed with a press surface to form a metal layer 18 on the surface having a projection at a position corresponding to the first interlayer connector 1a.
  • a pressed surface having a concave portion at a position corresponding to the first interlayer connector 1a may be used.
  • the metal layer forming material and the insulating layer forming material may be separately arranged. In this step, the sheet material is concavely deformed during the hot pressing due to the presence of the first interlayer connector 1a, so that a corresponding convex portion is formed in the laminate.
  • the heating press method can be performed using a heating and pressurizing device (hot laminator, hot press), etc. At that time, the atmosphere is set to vacuum (vacuum laminator, etc.) in order to avoid air mixing. You may. Conditions such as heating temperature and pressure may be appropriately set according to the material and thickness of the insulating layer forming material and the metal layer forming material, and the pressure is preferably 0.5 to 30 MPa.
  • any material may be used as long as it is deformed at the time of lamination and solidified by heating or the like and has heat resistance required for the wiring board.
  • various reaction curable resins such as polyimide resin, phenol resin, epoxy resin, and composites thereof with glass fiber, ceramic fiber, aramide fiber, etc. (prepredder) And the like.
  • the sheet material may be any material that allows concave deformation during hot pressing, such as cushion paper, rubber sheet, elastomer sheet, non-woven fabric, woven fabric, porous sheet, foam sheet, metal foil, composite of these, And the like.
  • elastically deformable materials such as cushion paper, rubber sheets, elastomer sheets, foam sheets, and composites thereof are preferable.
  • a release sheet may be additionally arranged together with the sheet material.
  • the release sheet include a fluororesin film, a silicone resin film, various release papers, a fiber-reinforced fluororesin film, and a fiber-reinforced silicone resin film.
  • the thickness of the sheet material is preferably greater than half the height of the first interlayer connector 1a, and is preferably greater than the height of the first interlayer connector 1a.
  • the protrusions of the laminate are removed to expose the first-layer interconnect 1a.
  • a portion where the upper surface of the first interlayer connector 1a is higher than the upper surface of the metal layer 18 of the stacked body may be removed and planarized at the same time.
  • a method using a grinding device having a hard rotary blade in which a plurality of hard blades made of diamond or the like are arranged in the radial direction of the rotary plate, a sander, a belt sander, and the like are used.
  • a grinder, a surface grinder, a method using a hard abrasive grain molded product, and the like are used.
  • the hard rotary blade is rotated and moved along the upper surface of the fixedly supported wiring board, whereby the upper surface can be flattened.
  • the polishing method include a method of light polishing using a belt sander, puff polishing, or the like.
  • the exposed first interlayer connector 1a and the metal layer 18 adjacent to the first interlayer connector 1a with the insulating layer 16 interposed therebetween are conductively connected.
  • the conductor layer 19 is attached to substantially the entire surface of the metal layer 18 including the upper surface of the interlayer connector 1 a by plating. An example of forming is shown.
  • the formation of the conductor layer 19 by plating can be performed by electroless plating, a combination of electroless plating and electrolytic plating, or a combination of sputtering, vapor deposition and electrolytic plating. However, in order to enhance the reliability of the conductive connection, it is preferable to form them by a combination of electroless plating and electrolytic plating.
  • the thickness of the conductor layer 19 is preferably 1 to 30 m.
  • the conductor layer 20 may also be formed on the back surface side.
  • the metal constituting the conductor layer 20 is preferably the same as that of the first metal layer 1 (the conductor layer 20 is omitted in the steps after FIG. 8 (6)).
  • FIG. 8 After performing a step (g) of forming a first mask layer 5a on the surface of the first metal layer 1 where the first interlayer connector 1a is formed, FIG. 8 As shown in (7), a step (h) of selectively etching the first metal layer 1 on which the first mask layer 5a has been formed to form the first interlayer connector 1a is performed. Further, the steps shown in FIGS. 8 (8) to 9 (9) can be performed in the same manner as the steps shown in FIGS. 7 (2) to 7 (4).
  • the metal layer 18 and the conductor layer 19 are etched to form the 'first conductor pattern layers 19a and 18b and the second conductor pattern layer 19a'.
  • a multilayer wiring board having a larger number of wiring layers can be manufactured as follows. That is, with respect to the structure shown in FIG. 4 (14), at least one of the first conductor pattern layer and the second conductor pattern layer is made of a different metal. (3) A protective metal layer or a fourth protective metal layer is formed, and on the lower surface of the third protective metal layer, a third inter-brows connector made of another metal or on the upper surface of the fourth protective metal layer. A fourth interlayer connection made of another metal can be formed.
  • a wiring layer including a conductor pattern is formed.
  • a multilayer wiring board provided with an odd number of layers can be manufactured.
  • the mask layer may be formed using a thin film resist or the like.
  • thermocompression bonding, exposure and development of dry film resist are performed.
  • removal (stripping) of the mask layer methylene chloride, sodium hydroxide: sodium, or the like is used.
  • the mask layer may be formed of a metal having resistance at the time of etching the metal layer.
  • the same metal as the protective metal layer can be used, and a mask layer may be formed at a predetermined position by a method similar to the pattern formation.
  • an insulating layer having a thickness substantially equal to the height of the interlayer connector was formed by grinding and polishing the insulating material.
  • an insulating layer having substantially the same thickness as the height of the interlayer connector may be formed.
  • the insulating resin which remains thinly on the interlayer connection body can be easily removed by plasma treatment or the like, and can be polished and flattened after heating.
  • an opening may be provided in advance in the resin sheet, prepreg, or the like at the position where the interlayer connector is formed.
  • the mask layer was removed immediately after the metal layer was selectively etched.
  • the order of the mask layer removal step is not limited to this.
  • the mask layer may be removed immediately after the layer etching step or when the insulating material is ground or polished.
  • FIG. 10 An example of the multilayer wiring board having no large-area interlayer connector for heat dissipation was shown, but as shown in FIG. 10, a large-area interlayer connector was formed. It may be anything.
  • an example is shown in which an interlayer connection structure is provided in which the conductor pattern layers 45 provided on the upper and lower outermost layers are penetrated and connected to each other, and heat is radiated from the semiconductor component 50 to the back surface of the substrate through the interlayer connection structure. .
  • a first protective metal layer 2 and a second protective metal layer 11 made of another metal are formed on both upper and lower surfaces of the conductor pattern 3a.
  • a first interlayer connector 1a made of another metal is provided, and on the upper surface of the second protective metal layer 11, a second interlayer connector made of another metal is provided.
  • Each of the bodies 14a is formed.
  • a plurality of interlayer connection structures for simultaneously conducting conductive connection between wiring patterns are provided.
  • the number of stacked conductor patterns 3a on the top and bottom is 2 layers on the upper side and 4 layers on the lower side in this example. However, this can be performed by plating on only one side using a mask material. Therefore
  • the sixth layer has a heat radiation pattern with a considerably larger area than the heat radiation metal body 44.
  • One part 45 is formed, and further, a radiation fin 47 is formed.
  • the heat radiation fins 47 can be formed by various bonding methods or bonding methods, but can also be formed by the above-described method of forming an interlayer connector. In that case, the second protective metal layer 11 is interposed between the heat radiation fins 47. Such formation of the heat radiation fins 47 can be performed simultaneously with formation of a bump for mounting a semiconductor component on the outermost layer of the multilayer wiring board.
  • the shape of the radiation fins 47 may be any shape such as a rib shape or a scattered point shape. In order to increase the total surface area, it is advantageous to increase the height of the radiating fins 47. In the example of FIG. 10, the height of the radiating fins 47 is larger than the thickness of the radiating metal body 44. Is higher. Note that the area of the heat radiation pattern portion 45 can be reduced, for example, in a case where sufficient heat dissipation is obtained by the heat radiation fins 47.
  • a heat radiation pattern portion 45 having substantially the same area as the heat radiation metal body 44 is formed.
  • a heat conductive adhesive tape 60 or a heat conductive adhesive may be interposed between the bottom surface of the semiconductor component 50 and the heat radiation pattern portion 45.
  • radiant heat transfer may be performed without providing anything.
  • the lead 52 of the semiconductor component 50 is conductively connected to the wiring pattern portion 28 of the first wiring layer by soldering or the like. Each of the leads 52 is conductively connected to the conductor pattern 18a of the second wiring layer via an interlayer connector 29 according to the circuit design.
  • the multilayer wiring board which can form the interlayer connection structure with high connection reliability in all the layers using existing equipment, and also has good heat conductivity, and its manufacturing method can be provided. Therefore, the present invention has high industrial applicability.

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Abstract

 本発明の多層配線基板の製造方法は、第1層間接続体となる第1金属層(1)と、これと別金属の第1保護金属層(2)とを有する積層体に、導体パターン(3a)を形成する工程、これを被覆する第2保護金属層(11)を形成する工程、これと別金属の第2金属層(14)を更に形成する工程、その表面部分に第2マスク層(15)を形成する工程、これ選択的にエッチングして第2層間接続体(14a)を形成する工程、その形成面に第2絶縁層を形成する工程、第1金属層の表面部分に第1マスク層を形成する工程、これを選択的にエッチングして第1層間接続体を形成する工程、及び前記第1保護金属層(2)及び前記第2保護金属層(11)を選択的にエッチングして除去する工程を含む。

Description

明 細 書 多層配線基板及びその製造方法 技術分野
本発明は、配線パターンなどの導体パターンの上下に形成された第 1層間接続 体及び第 2層間接続体を有する多層配線基板、 及びその製造方法に関する。 当該 層間接続体は、配線層間の導電接続や配線基板の上下方向の伝熱 (放熱) などを 行うための接続層間構造に好適に使用できる。 背景技術
近年、 電子機器等の小形化や高機能化に伴い、 電子部品を実装するための配線 基板に対しても、 多層化、 薄層化、 ファインパターン化等の要求が高まっている 。 このため、 多層配線基板を構成する絶縁層や配線層も、 薄層化する傾向にある また、 多層配線基板には、配線層間を導電接続するための構造が必要であり、 ビアホール内へのメツキや導電性ペーストの充填による層間接続構造、 または金 属層をエッチングして形成した層間接続構造などが知られている。 中でも、 エツ チングにより形成した金属柱で導電接続した構造は、 既存の設備で製造が行え、 導電性や伝熱性が高く、 導電接続の信頼性に優れているため、 当業界で注目され ている。
エッチングで層間接続構造を形成する方法としては、 例えば突起形成用の金属 層上に別の金属から成るエッチングバリア層を形成し、 その上に導体回路となる 金属層を形成したものを用意する工程と、 上記突起形成用の金属層をエツチング バリア層を侵さないエツチング液により選択的にエッチングすることにより突起 を形成する工程と、上記エツチングバリァ層のみを上記突起をマスクとしてエツ チング液で除去する工程と、 上記突起形成側の面に層間絶縁用の絶縁層を形成し て該突起を上記導体回路に接続された層間接続手段とする工程と、 を有する配線 回路基板の製造方法が知られている (例えば、特開 2 0 0 1— 1 1 1 1 8 9号公 報参照) 。
そして、 この製造方法では、上記突起及び上記層間絶縁膜が形成された側の面 に、 別の導体回路形成用の金属箔を積層して加圧することにより一体化した後、 エッチングにより導体回路を形成している。 また、 上記の文献には、突起と金属 箔との間に導電性べ一ストを介在させて接続する方法も開示されている。
しかし、 このように突起と導体回路形成用の金属箔とを積層加圧して導電接続 する方法では、信頼性の高い接続が行えず、 導電性べ一ストを介在させる方法で も導電性や耐久性の点で十分な性能が得られにくい。 つまり、 この製法では、 3 層の異種金属積層板を使用するため、 ビルドアツプ法で多層配線基板を製造する には、 先に形成された配線パターンに対し、突起を形成した部材を積層して両者 を導電接続する必要があり、 上記の問題が不可避的に生じる。
一方、 力、かる問題を解消すべく、 先に形成された配線パターンに対し、 突起を エッチングで形成し、絶縁層を形成して突起を露出させた後、 メツキで上層の配 線層を形成することで、 コア基板から最上層までを全てメツキで導電接続できる 方法が知られている。 この方法は、柱状金属体を構成する金属のエッチング時に 耐性を示す別の金属を、下層の配線層の非パターン部を含めた全面に被覆して保 護金属層を形成し、 その保護金属層の全面に前記柱状金属体を構成する金属のメ ッキ層を電解メツキにより形成した後、 そのメッキ層の表面部分にマスク層を形 成してメツキ層をエッチングして柱状金属体を形成した後、保護金属層の浸食が 可能なェッチングを行つて、 非パ夕一ン部を被覆する保護金属層を除去した後、 絶縁性樹脂を全面に塗布して平坦ィ匕した後、 上層の配線層をメツキで形成するこ とで、 配線層間を導電接続する方法である (例えば、 国際公開 WO O 0 / 5 2 9 7 7号公報参照) o
しかしながら、 この柱状金属体の形成方法でも、 コア基板に対して導電接続構 造を形成するのは困難であり、 コア基板の導電接続構造にはメツキスル一ホール などが採用されていた。 し力、し、 メツキスルーホールによる層間の導電接続構造 では、 その直上に更に導電接続構造を形成するのが困難で、 回路設計上の制約が 大きくなるという欠点があった。 - また、 多層配線基板に半導体部品などを実装する場合、 十分な熱放散 (放熱) を行なう必要があるが、 メツキスル一ホールではメツキ厚に制限があるため伝熱 性が十分とは言えず、 メツキスルーホール内に導電性ペーストを充填する方法で も、 金属板を配置した場合と比較してかなり放熱性が小さい。
更に、 上記の柱状金属体の形成方法では、形成の対象となるシート状部材 (例 えばコア基板) が、 十分な硬さを有していないと、 上層のビルドアップが いに くいという問題があった。
そこで、 本発明の目的は、 既存の設備を用いて、 接続の信頼性の高い層間接続 構造を全層で形成することができ、伝熱性も良好となる多層配線基板、 及びその 製造方法を提供することにある。 発明の開示
上記目的は、 下記の如き本発明により達成できる。
即ち、 本発明の多層配線基板の製造方法は、 導体パターンの上下に形成された 第 1層間接続体及び第 2層間接続体を有する多層配線基板の製造方法であつて、
( a ) 第 1層間接続体を形成するための第 1金属層と、 これと別の金属からなる 第 1保護金属層とを有する積層体の当該第 1保護金属層側に、 これと別の金属か らなる導体/、。ターンを形成する工程、
( b ) 少なくともその導体パターンを被覆する第 2保護金属層を形成する工程、
( c ) その第 保護金属層とは別の金属からなる第 2金属層を更に形成する工程
( d ) その第 金属層の第 1層間接続体を形成する表面部分に第 2マスク層を形 成する工程、
( e ) 前記第 2マスク層を形成した第 1金属層を選択的にェッチングして第 2層 間接続体を形成する工程、
( f ) その第 2層間接続体の形成面に第 2絶縁層を形成する工程、
( g )前記第 1金属層の第 1層間接続体を形成する表面部分に第 1マスク層を形 成する工程、
( h )前記第 1マスク層を形成した第 1金属層を選択的にェッチングして第 1層 間接続体を形成する工程、 及び
( i )前記第 1保護金属層及び前記第 保護金属層の少なくとも非パターン部を 、 同時に又は別々に、 選択的にエッチングして除去する工程
を含むことを特徴とする。 :
本発明の製造方法によると、 エッチングとメツキ等により第 1層間接続体及び 第 2層間接続体を形成できるため、 既存の設備を用いて、 簡易な工程で製造を行 うことができる。 また、 各層を接合をメツキで行うことができるため (特に、 第
2金属層をメツキ形成するのが好ましい) 、接続の信頼性の高い層間接続構造を 全層で形成することができ、 エッチングで層間接続体を形成するため、 伝熱面積 を大きでき伝熱性も良好となる。 更に、 第 2層間接続体を形成する際には、 第 1 金属層が形状保持のための基材となり、 第 1層間接続体を形成する際には、 第 2 絶縁層が形状保持のための基材となるので、 各層の薄層化に伴う製造の困難性を 改善できる。
上記において、 更に、 第 1層間接続体の形成面に第 1絶縁層を形成する工程、 前記第 1層間接続体と一部が導電接続する第 1導体パターン層を形成する工程、 及び前記第 層間接続体と一部が導電接続する第 2導体/、。ターン層を形成するェ 程を含むことが好ましい。 これにより、 奇数層の導体パターン層を有する多層配 線基板を製造することができる。 特に、 第 1層間接続体と第 1導体パターン層、 および第 層間接続体と第 2導体パ夕一ン層とがメッキで接合されているのが好 ましい。
また、前記 ( b ) 工程で、 非パターン部を含む略全面に、前記第 1保護金属層 と同じ金属の第 2保護金属層を形成すると共に、 前記 ( i ) 工程で前記第 1保護 金属層及び前記第 2保護金属層の少なくとも非パターン部を、 同時に選択的にェ ツチングして除去することが好ましい。 前記 ( b ) 工程で、 パターン部のみに第 2保護金属層を形成する方法も可能であるが、 第 1保護金属層と同じ金属の第 2 保護金属層を形成して、 両者を同時にエツチングする方が効率的である。
また、前記 ( a ) 工程で導体パターンを形成する際に、 パターンメツキ法によ り行うことが好ましい。 パネルメツキ法により (a ) 工程で導体パターンを形成 する方法と比較して、 パターンメッキ法の方がファインパターン化が可能である 一方、 本発明の多層配線基板は、導体パターンの上下両面に、 これとは別の金 属からなる第 1保護金属層及び第 2保護金属層が形成され、更に第 1保護金属層 の下面にはこれとは別の金属からなる第 1眉間接続体が、 第 2保護金属層の上面 にはこれとは別の金属からなる第 2層間接続体が各々形成された層間接続構造を 有することを特徴とする。
本発明の多層配線基板によると、本発明の製造方法によって、 既存の設備を用 いて、 接続の信頼性の高い層間接続構造を全層で形成することができ、 伝熱性も 良好にすることができる。
上記において、 前記導体パターンと前記第 1保護金属層及び第 保護金属層と の接合がメツキにより行われ、前記第 1保護金属層と前記第 1層間接続体との接 合がメツキにより行われ、 前記第 2保護金属層と前記第 2層間接続体との接合が メツキにより行われていることが好ましい。 これによつて、 既存の設備を用いて 、接続の信頼性の高い層間接続構造を全層で形成することができ、伝熱性も良好 にすることができる。
また、 前記導体パターン、 前記第 1層間接続体、 及び前記第 2層間接続体が同 一金属であり、前記第 1保護金属層及び第 保護金属層が同一金属であることが 好ましい。 これによつて、 第 1保護金属層及び第 2保護金属層を同時にエツチン グできるため工程数を少なくでき、 その際のエツチング液の選択も容易になる。 両者の金属の組合せとしては、 銅とニッケルの組合せが特に好ましい。
更に、 前記第 1層間接続体の形成面には第 1絶縁層が形成され、 更に前記第 1 層間接続体とメツキで接合された第 1導体パターン層が形成されると共に、前記 第 2層間接続体の形成面には第 2絶縁層が形成され、 前記第 2層間接続体とメッ キで接合された第 2導体,、°夕一ン層が形成されていることが好ましい。 これによ つて、 3層の導体パターン層が全てメツキで接合された構造とすることができる また、 前記第 1導体パターン層又は前記第 2導体パターン層の少なくとも何れ かが、 これとは別の金属からなる第 3保護金属層又は第 4保護金属層が形成され 、 更に第 3保護金属層の下面にはこれとは別の金属からなる第 3層間接続体が、 又は第 4保護金属層の上面にはこれとは別の金属からなる第 4層間接続体が形成 されていることが好ましい。 これによつて、更に多数層の導体パターン層に対し 、 全てメツキで接合された構造とすることができる。
特に、 前記導体パターンを含む導体パターン層が、 奇数層設けられていること が好ましい。 従来は、 偶数層の導体パターン層が設けられていたため、奇数層に することで従来とは異なる回路設計が可能となる。
また、 本発明の別の多層配線基板は、上下の最外層に設けられた導体パターン 層同士を貫通して接続する層間接続構造を有する多層配線基板であつて、 前記層 間接続構造は、導体パターンの上下両面に、 これとは別の金属からなる第 1保護 金属層及び第 2保護金属層が形成され、 更に第 1保護金属層の下面にはこれとは 別の金属からなる第 1層間接続体が、 第 保護金属層の上面にはこれとは別の金 属からなる第 2層間接続体が各々形成されていることを特徴とする。
このような層間接続構造は、 上下の最外層に設けられた導体パターン層同士を 貫通して接続するため、 基板の表面から裏面への放熱効果が非常に大きい。 従来 の製造方法では、 このような構造を金属の積層体で形成するのは困難であつたが 、 導体パターンの上下両面に、 これとは別の金属からなる第 1保護金属層及び第 2保護金属層が形成された構造にすることで、 本発明の製造方法が適用でき、 そ の結果、 既存の設備を用いて、 接続の信頼性の高い層間接続構造を全層で形成す ることができるようになった。 図面の簡単な説明
図 1〜図 4は、本発明の多層配線基板の製造方法の一例を示す工程図である。 図 5〜図 6は、本発明の多層配線基板の製造方法の他の例を示す工程図である。 図 7〜図 9は、本発明の多層配線基板の製造方法の更に他の例を示す工程図であ る。 図 1 0は、本発明の多層配線基板の他の例を示す断面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、本発明の実施の形態について、 図面を参照しながら説明する。 図 1〜図 4は、本発明の多層配線基板の製造方法の一例を示す工程図である。 本発明の多層配線基板の製造方法は、 図 4 ( 1 4 ) に示すように、 導体パ夕一 ン 3 aの上下に形成された第 1層間接続体 1 a及び第 2層間接続体 1 4 aを有す る多層配線基板の製造方法であって、 (a ) 〜 ( i ) 工程を含むものである。 本 実施形態では、 第 1保護金属層及び第 2保護金属層をエッチングして除去する ( i ) 工程を第 2絶縁層 1 6の形成に先立って行う例を示す。
本発明の ( a ) 工程は、 図 1 ( 1 ) 〜 ( 2 ) に示すように、 第 1層間接続体 1 aを形成するための第 1金属層 1と、 これと別の金属からなる第 1保護金属層 2 とを有する積層体の当該第 1保護金属層 1側に、 これと別の金属からなる導体パ ターン 3 aを形成するものである。 その際、 パターン形成の方法はいずれでもよ く、 例えば、 エッチングレジストを使用してパターン形成するパネルメツキ法や 、 パターンメツキ用レジストを使用してメツキで形成するパターンメツキ法等が 挙げられる。 本実施形態では、 パネルメツキ法によりパターン形成する例を示す まず、 図 1 ( 1 ) に示すような、 第 1金属層 1と第 1保護金属層 2と、 導体パ 夕一ン 3 aを形成するための金属層 3とが積層された積層板 S Pを用意する。 積 層板 S Pは、 何れの方法で製造したものでもよく、 例えばメツキ、 スパッタリン グ、 蒸着などを利用して製造したものや、 クラッド材などが何れも使用可能であ る。 積層板 S Pの各層の厚みについては、 例えば、 第 1金属層 1の厚みは、 3 0 〜 1 0 0 0 m、 第 1保護金属層 の厚みは、 1〜 2 0 m、 金属層 3の厚みは 1〜 1 0 0 ί πιである。
第 1金属層 1の厚みが薄い場合、 ハンドリング性を改善するために、 更にステ ンレス鋼製などの鏡面板を更に積層して使用するのが好ましい。 第 1金属層 1が 銅などの金属の場合、 外力のみで当該鏡面板と簡単に剥離することができる。 ま た、 第 1金属層 1として予め厚みが十分なものを使用し、 後の工程でハーフェツ チング等を行って、 所望の厚みに調整するようにしてもよい。
導体パターン 3 aを構成する金属としては、 通常、 銅、 銅合金、 ニッケル、 錫 等が使用できる。 第 1保護金属層 2を構成する金属としては、 第 1金属層 1及び 導体パターン 3 aとは別の金属が使用され、 これらの金属のエツチング時に耐性 を示す別の金属が使用できる。 具体的には、 これらの金属が銅である場合、 第 1 保護金属層 2を構成する別の金属としては、 金、 銀、亜鉛、 パラジウム、 ルテニ ゥム、 ニッケル、 ロジウム、鉛一錫系はんだ合金、 又はニッケル一金合金等が使 用される。 但し、 本発明は、 これらの金属の組合せに限らず、 上記金属のエッチ ング時に耐性を示す別の金属との組合せが何れも使用可能である。 これに関して は、 第 2保護金属層 1 1を構成する金属と、 第 2金属層 1 4及び導体パターン 3 aを構成する金属に関しても同様である。
また、 第 1金属層 1を構成する金属としては、 第 1保護金属層 2とは別の金属 が使用され、 例えば銅、銅合金、 ニッケル、 錫等が使用できる。 本発明では、 導 体パターン 3 aを構成する金属と第 1金属層 1を構成する金属とが同じであるこ とが好ましく、 特に銅を使用することが好ましい。
次に、 図 1 ( 2 ) に示すように、 エッチングレジスト 4を用いてパターン形成 を ί亍ぅ。 エッチングレジスト 4は、 ,感光†生樹 β旨やドライフィルムレジスト (フォ トレジスト) などが使用できる。 なお、 第 1金属層 1が金属層 3と同時にエッチ ングされる場合、 これを防止するためのマスク材 5を設けるのが好ましい。 エツチングの方法としては、 第 1保護金属層 1及び金属層 3を構成する各金属 の種類に応じた、 各種エッチング液を用いたエッチング方法が挙げられる。 例え ば、 金属層 3が銅であり、 第 1保護金属層 2が前述の金属 (金属系レジストを含 む) の場合、市販のアルカリエッチング液、 過硫酸アンモニゥム、過酸化水素/ 硫酸等が使用できる。 エッチング後には、 エッチングレジスト 4が除去される。 本発明の (b ) 工程は、 図 1 ( 3 ) に示すように、 少なくともその導体パター ン 3 aを被覆する第 2保護金属層 1 1を形成するものである。 本実施形態では、 導体パターン 3 aの非パ夕一ン部を含めた略全面を第 1保護金属層 1 1で被覆す る例を示す。
第 保護金属層 1 1を構成する金属としては、 第 層間接続体 1 4 aをエッチ ングで形成する際に、 耐性を示す別の金属が使用できる。 具体的には、 第 2層間 接続体 1 4 aを構成する金属が銅である場合、金、 銀、亜鉛、 パラジウム、 ルテ 二ゥム、 ニッケル、 ロジウム、 鉛一錫系はんだ合金、 又はニッケル一金合金等が 使用できる。 本発明では、 第 2保護金属層 1 1を構成する金属が、 第 1保護金属 層 2を構成する金属と同じであることが好ましい。
第 2保護金属層 1 1の形成は、 電解メツキ、 無電解メツキ、 スパッ夕リング、 蒸着などを利用して行うことができるが、 電解メツキを用いるのが好ましい。 第 2保護金属層 1 1の厚みは、例えば 1〜 2 0 mであり、 1〜 1 0 mが好まし い。
電解メツキは、 周知の方法で行うことができるが、 一般的には、対象となる積 層板をメツキ浴内に浸漬しながら、 積層板を陰極とし、 メツキする金属の金属ィ オン補給源を陽極として、 電気分解反応により陰極側に金属を析出させることに より行われる。
無電解メツキのメッキ液は、 各種金属に対応して周知であり、 各種のものが巿 販されている。 一般的には、液組成として、 金属イオン源、 アルカリ源、 還元剤 、 キレート剤、 安定剤などを含有する。 なお、 無電解メツキに先立って、 パラジ ゥム等のメツキ触媒を沈着させてもよい。
本発明の (c ) 工程は、 図 1 ( 4 ) に示すように、 その第 2保護金属層 1 1と は別の金属からなる第 2金属層 1 4を更に形成するものである。 第 2金属層 1 4 の形成は、 電解メツキ、 無電解メツキなどが利用できるが、 電解メツキにより行 うのが好ましい。 第 2金属層 1 4の厚みは、 例えば 3 0〜 1 0 0 0 / mである。 第 2金属層 1 4を構成する金属としては、 例えば銅、銅合金、 ニッケル、 錫等 が使用できる。 本発明では、 導体パターン 3 aを構成する金属と第 2金属層 1 4 を構成する金属とが同じであることが好ましい。
本発明の (d ) 工程は、 図 2 ( 5 ) に示すように、 その第 2金属層 1 4の第 2 眉間接続体 1 4 aを形成する表面部分に第 2マスク層 1 5を形成するものである 。 第 2マスク層 1 5の形成は、 感光性樹脂の塗布後またはドライフィルムレジス トのラミネート後に、露光'現像する方法、 あるいはスクリーン印刷などにより 行うことができる。
第 2マスク層 1 5の個々の大きさ (面積又は外径等) は、 第 2層間接続体 1 4 aの大きさに対応して決定され、 配線層間の導電接続 (ビア) のための第 2層間 接続体 1 4 aの外径としては、例えば 5 0〜 1 0 0 0 m、 また、 放熱構造のた めの第 2層間接続体 1 aの外径としては、 1 0 0 0〃 m以上の外径を有するも のも可能である。 第 2マスク層 1 5の形状は何れでもよく、 円形、 楕円形、 四角 形、 多角形、 パターン形状等が挙げられ、 当該形状に応じた第 2層間接続体 1 4 aを形成することができる。
本発明の ( e )工程は、 図 2 ( 6 ) に示すように、 第 2マスク層 1 5を形成し た第 2金属層 1 4を選択的にェッチングして第 2層間接続体 1 aを形成するも のである。 その際、 エッチングによる浸食量が多過ぎると、形成される第 2層間 接続体 1 4 aが小径化 (アンダーカツトの増大) して、 後の工程に支障をきたす 場合が生じ、 逆に、 浸食量が少な過ぎると、 非パターン部に第 2金属層 1 4が残 存して、 短絡の原因となる場合が生じる。 従って、上記のエッチングによる浸食 の程度は、 図 2 ( 6 ) に示す程度か、 或いはこれより多少増減する範囲内が好ま しい。
エッチングの方法としては、 第 2金属層 1 4及び第 2保護金属層 1 1を構成す る各金属の種類に応じた、各種エツチング液を用いたエツチング方法が挙げられ る。 例えば、 第 1金属層 1 4が銅であり、 第 2保護金属層 1 1が前述の金属 (金 属系レジストを含む) の場合、 巿販のアルカリエッチング液、 過硫酸アンモニゥ ム、過酸化水素/硫酸等が使用できる。
本発明の ( i ) 工程は、 図 2 ( 7 ) に示すように、 第 1保護金属層 2及び第 保護金属層 1 1の少なくとも非パターン部を、 同時に又は別々に、 選択的にエツ チングして除去するものである。 本実施形態では、 第 1保護金属層 2と第 2保護 金属層 1 1とを同じ金属で形成しておき、 前記 ( i ) 工程で第 1保護金属層 2及 ぴ第 2保護金属層 1 1を同時に選択的にエッチングして除去する例を示す。 両者 が異なる金属の場合には、順次ェッチングして除去することができる。
エッチングの方法としては、 (e ) 工程とは異なるエッチング液を用いたエツ チング方法が挙げられるが、 塩化物エッチング液を用いると金属系レジスト及び 銅の両者が浸食されるため、 その他のエッチング液を用いるのが好ましい。 具体 的には、 第 2層間接続体 1 4 aと導体パターン 3 aが銅であり、 第 2保護金属層 1 1が前記の金属である場合、 はんだ剥離用として市販されている、 硝酸系、 硫 酸系、 シアン系などの酸系のエッチング液等を用いるのが好ましい。 エツチングで露出したパ夕一ン部に対しては、黒化処理などの表面処理を行つ て、 絶縁層との密着性を高めておくのが好ましい。 これは、 他の導体パターンに ついても同様である。
次に、 図 2 ( 8 ) に示すように、 第 2マスク層 1 5の除去を行うが、 これは薬 剤除去、 剥離除去など、 第 2マスク層 1 5の種類に応じて適宜選択すればよい。 例えば、 スクリーン印刷により形成された感光性のインクである場合、 アルカリ 等の薬品にて除去される。 このとき同時に、 マスク材 5を除去してもよい。 本発明の (f ) 工程は、 図 3 ( 9 ) に示すように、 第 2層間接続体 1 4 aの形 成面に第 2絶縁層 1 6を形成するものである。 その際、 第 2眉間接続体 1 4 aは 第 絶縁層 1 6から露出させることが好ましい。 本実施形態では、'絶縁層形成材 を積層後に層間接続体 1 4 aを露出させる例を示す。
まず、 絶縁材の塗布を行うが、 絶縁材としては、 例えば絶縁性が良好で安価な 液状ポリイミ ド樹脂、 エポキシ樹脂等の反応硬化性樹脂を用いることができる。 これを各種方法で、 第 2層間接続体 1 4 aの高さよりやや厚くなるように塗布し た後、 加熱又は光照射等により硬化させればよい。 塗布方法としては、 カーテン コ一ターなどの各種コ一ターを使用できる。 また、 反応硬化性樹脂等を含有する 接着性シート、 プリプレグ等を用いて、 ホッ卜プレスや真空ラミネート等する方 法でもよい。
次に、 硬化した絶縁材を研削 ·研磨等することにより、 第 2層間接続体 1 4 a の高さと略同じ厚さを有する第 2絶縁層 1 6を形成する。 研削の方法としては、 ダイャモンド製等の硬質刃を回転板の半径方向に複数配置した硬質回転刃を有す る研削装置を使用する方法が挙げられ、 当該硬質回転刃を回転させながら、 固定 支持された配線基板の上面に沿つて移動させることによって、 上面を平坦化する ことができる。 また、研磨の方法としては、 ベルトサンダ、 パフ研磨等により軽 く研磨する方法が挙げられる。
本発明の ( g ) 工程は、 図 3 ( 1 0 ) に示すように、 第 1金属層 1の第 1層間 接続体 1 aを形成する表面部分に第 1マスク層 7を形成するものである。 第 1マ スク層 7の形成については、 第 2マスク層 1 5の形成 ( (d ) 工程) と同様に行 うことができる。 その際、裏面側には別のマスク材 6を設けておくのが好ましい 本発明の (h ) 工程は、 図 3 ( 1 1 ) に示すように、 第 1マスク層 7を形成し た第 1金属層 1を選択的にェッチングして第 1層間接続体 1 aを形成するもので ある。 第 1金属層 1のエッチングは、 第 2金属層 1 4のエッチング ( (e ) 工程 ) と同様に亍ぅことができる。
本発明では、 第 1層間接続体 1 aをチップ搭載基板等の接続用のバンプとして 、 絶縁層を設けずに使用することも可能であるが、本実施形態では、 図 3 ( 1 2 ) に示すように、 更に、 第 1層間接続体 1 aの形成面に第 1絶縁層 1 7を形成す る例を示す。 第 1絶縁層 1 7の形成については、 第 2絶縁層 1 6の形成 ( (f ) 工程) と同様に行うことができる。
以上のような本発明の製造方法によって、 図 3 ( 1 2 ) に示すように、 導体パ ターン 3 aの上下両面に、 これとは別の金属からなる第 1保護金属層 2及び第 2 保護金属層 1 1が形成され、 更に第 1保護金属層 2の下面にはこれとは別の金属 からなる第 1層間接続体 1 aが、 第 2保護金属層 1 1の上面にはこれとは別の金 属からなる第 2層間接続体 1 4 aが各々形成された層間接続構造を有する多層配 線基板を製造することができる。
本実施形態では、 図 4 ( 1 3 ) ~ ( 1 4 ) に示すように、 更に、 第 1層間接続 体 1 aと一部が導電接続する第 1導体パターン層 1 8 bを形成する工程、 及び前 記第 2層間接続体 1 4 aと一部が導電接続する第 2導体パターン層 1 8 aを形成 する工程を含む例を示す。
第 1導体パターン層 1 8 bと第 2導体パターン層 1 8 aの形成方法はいずれで もよく、 例えば、 エッチングレジストを使用してパターン形成するパネルメツキ 法や、 パターンメツキ用レジストを使用してメツキで形成するパターンメツキ法 等が挙げられる。 本実施形態では、 パネルメツキ法により金属層 1 8に対してパ 夕―ン形成する例を示している。
以上のような本発明の製造方法によって、 図 4 ( 1 4 ) に示すように、 導体パ ターン 3 aの上下両面に、 これとは別の金属からなる第 1保護金属層 2及び第 2 保護金属層 1 1が形成され、更に第 1保護金属層 2の下面にはこれとは別の金属 からなる第 1層間接続体 1 aが、 第 2保護金属層 1 1の上面にはこれとは別の金 属からなる第 2層間接続体 1 4 aが各々形成された層間接続構造を有し、 前記第 1層間接続体 1 aの形成面には第 1絶縁層 1 7が形成され、 更に前記第 1層間接 続体 1 aとメツキで接合された第 1導体パターン層 1 8 bが形成されると共に、 前記第 2層間接続体 1 4 aの形成面には第 2絶縁層 1 6力形成され、 前記第 2層 間接続体 1 4 aとメツキで接合された第 2導体パターン層 1 8 aが形成されてい る多層配線基板を製造することができる。 .
〔別の実施形態〕
以下、 本発明の別の実施形態について説明する。
( 1 ) 前記の実施形態では、 第 1保護金属層及び第 2保護金属層をエッチングし て除去する ( i ) 工程を第 2絶縁層の形成に先立って行う例を示したが、 ( i ) 工程は、 別の時点で行つてもよく、 例えば図 5〜図 6に示すように、 第 2絶縁層
1 6を形成した後の第 1絶縁層 1 7の形成の前に行ってもよい。
即ち、 図 5 ( 1 ) に示す状態までは、 前記の実施形態と同様にして各工程を実 施した後、 図 5 ( 2 ) に示すように、 第 2層間接続体 1 4 aの形成面に第 絶縁 層 1 6を形成する (f ) 工程を実施する。 このとき、 第 2保護金属層 1 1と第 2 絶縁層 1 6との密着性を高めるために、 ブラスト加工などの粗面化処理や化学的 な酸化処理などの表面処理を施すのが好ましい。
次いで、 図 5 ( 3 ) に示すように、 第 1金属層 1の第 1層間接続体 1 aを形成 する表面部分に第 1マスク層 5 aを形成する (g ) 工程を実施する。 その場合、
( e ) 工程で第 2金属層 1 4をエッチングする際の裏面側のマスク材 5をフォト レジストで形成しておき、 これを露光 ·現像することによって第 1マスク層 5 a を形成してもよい。
次いで、 図 5 ( 4 ) に示すように、 第 1マスク層 5 aを形成した第 1金属層 1 を選択的にエッチングして第 1層間接続体 1 aを形成する (h ) 工程を実施する 。 その際、裏面側にはマスク材 6を設けるのが好ましい。
次いで、 図 6 ( 5 ) に示すように、 第 1保護金属層 2及び第 2保護金属層 1 1 の少なくとも非パターン部を、 同時に (別々に行ってもよい) 選択的にエツチン グして除去する ( i ) 工程を実施する。 第 1マスク層 5 a等は、 この前後に除去 すればよい。 次いで、 図 6 ( 6 ) 〜 (8 ) に示すように、 第 1眉間接続体 1 aの形成面に第 1絶縁層 1 7を形成する工程、 第 1層間接続体 1 aと一部が導電接続する第 1導 体パターン層 1 8 bを形成する工程、 及び第 2層間接続体 1 4 aと一部が導電接 続する第 2導体パターン層 1 8 aを形成する工程を必要に応じて実施する。
( 2 ) 前記の実施形態では、 絶縁層を形成した後にパネルメツキ法やパターンメ ッキ法によって導体パターンを形成する例を示したが、 図 7〜図 9に示すように 、 樹脂付き銅箔を使用して絶縁層と導体ノ、。夕一ン層とを形成してもよい。
即ち、 図 7 ( 1 ) に示す状態までは、前記の実施形態と同様にして各工程を実 施した後、 図 7 ( 2 ) 〜 ( 3 ) に示すようにして、 第 2層間接続体 1 4 aの形成 面に第 2絶縁層 1 6を形成する ( f ) 工程を実施する。
まず、 図 7 ( 2 ) に示すように、 樹脂付き銅箔をプレス面により加熱プレスし て、 第 1層間接続体 1 aに対応する位置に凸部を有し表面に金属層 1 8が形成さ れた積層体を得る。 このとき、 プレス面と第 1層間接続体 1 aが形成された被積 層体との間に、少なくとも、 凹状変形を許容するシート材を配置しておくのが好 ましい。 また、 第 1層間接続体 1 aに対応する位置に凹部を有するプレス面を使 用してもよい。
上記の樹脂付き銅箔は、 各種のものが市販されており、 それらをいずれも使用 できる。 また、 金属層形成材と絶縁層形成材とは各々を別々に配置してもよい。 この工程では、 シート材が、 第 1層間接続体 1 aの存在によって加熱プレス時に 凹状変形するため、 それに対応する凸部が積層体に形成される。
加熱プレスの方法としては、 加熱加圧装置 (熱ラミネ一夕、 加熱プレス) など を用いて行えばよく、 その際、 空気の混入を避けるために、 雰囲気を真空 (真空 ラミネ一夕等) にしてもよい。 加熱温度、 圧力など条件等は、 絶縁層形成材と金 属層形成材の材質や厚みに応じて適宜設定すればよいが、 圧力としては、 0 . 5 〜3 0 M P aが好ましい。
絶縁層形成材としては、 積層時に変形して加熱等により固化すると共に、 配線 基板に要求される耐熱性を有するものであれば何れの材料でもよい。 具体的には 、 ポリイミド樹脂、 フヱノール樹脂、 エポキシ樹脂等の各種反応硬化性樹脂や、 それとガラス繊維、 セラミック繊維、 ァラミド繊維等との複合体 (プリプレダ) などが挙げられる。
シート材は、 加熱プレス時に凹状変形を許容する材料であればよく、 クッショ ン紙、 ゴムシート、 エラストマ一シート、不織布、 織布、 多孔質シート、 発泡体 シート、金属箔、 これらの複合体、 などが挙げられる。 特に、 クッション紙、 ゴ ムシ一ト、 エラストマ一シート、 発泡体シート、 これらの複合体などの、 弾性変 形可能なものが好ましい。
なお、 シート材と共に離型シートを追加配置してもよい。 離型シートとしては 、 フッ素樹脂フィルム、 シリコーン樹脂フィルム、 各種の離型紙、 繊維補強フッ 素樹脂フィルム、繊維補強シリコーン樹脂フィルムなどが挙げられる。
シート材の厚みは、 第 1層間接続体 1 aの高さの半分より厚いのが好ましく、 第 1層間接続体 1 aの高さより厚いのが好ましい。 シート材の厚みや硬さを調整 することによって、 加熱プレスによつて形成される積層体の凸部の高さや形状を 制御することができる。 一般に、 シート材の厚みを小さく、 また硬さを硬くする と、 形成される積層体の凸部の高さや体積は小さくなる。
次いで、 図 7 ( 3 ) に示すように、 この積層体の凸部を除去して、 第 1層間接 続体 1 aを露出させる。 その際、 積層体の金属層 1 8の上面より第 1層間接続体 1 aの上面が高くなる分を、 同時に除去して平坦化してもよい。
凸部の除去方法としては、 研削や研磨による方法が好ましく、 ダイヤモンド製 等の硬質刃を回転板の半径方向に複数配置した硬質回転刃を有する研削装置を使 用する方法や、 サンダ、 ベルトサンダ、 グラインダ、 平面研削盤、 硬質砥粒成形 品などを用いる方法などが挙げられる。 研削装置を使用すると、 当該硬質回転刃 を回転させながら、 固定支持された配線基板の上面に沿つて移動させることによ つて、上面を平坦化することができる。 また、 研磨の方法としては、 ベルトサン ダ、 パフ研磨等により軽く研磨する方法が挙げられる。 本発明のように積層体に 凸部が形成されていると、 その部分のみを研削するのが容易になり、 全体の平坦 化がより確実に行える。
次いで、 図 7 ( 4 ) に示すように、 露出した第 1層間接続体 1 aと、 絶縁層 1 6を隔てて近接する金属層 1 8とを導電接続するが、 本実施形態では、 第 1層間 接続体 1 aの上面を含む金属層 1 8の略全面に対し、 メツキにより導電体層 1 9 を形成する例を示す。
メツキによる導電体層 1 9の形成は、無電解メッキ、 又は無電解メッキと電解 メツキの組合せ、 スパッ夕リングゃ蒸着と電解メツキの組合せなどにより行うこ とができる。 但し、 導電接続の信頼性を高める上で無電解メツキと電解メツキの 組合せで形成するのが好ましい。 導電体層 1 9の厚みは 1〜 3 0 mが好ましい 。 なお、 導電体層 1 9を形成する際に、裏面側にも導電体層 2 0を形成してもよ い。 導電体層 2 0を構成する金属は、 第 1金属層 1と同じにするのが好ましい ( 図 8 ( 6 )以降の工程では導電体層 2 0の記載を省略している) 。
次いで、 図 8 ( 6 ) に示すように、 第 1金属層 1の第 1層間接続体 1 aを形成 する表面部分に第 1マスク層 5 aを形成する (g ) 工程を実施した後、 図 8 ( 7 ) に示すように、 第 1マスク層 5 aを形成した第 1金属層 1を選択的にエツチン グして第 1層間接続体 1 aを形成する (h ) 工程を実施する。 更に、 図 8 ( 8 ) 〜図 9 ( 9 ) に示す工程は、 図 7 ( 2 ) 〜図 7 ( 4 ) に示す工程と同様にして行 うことができる。
その後、金属層 1 8及び導電体層 1 9をエッチングして、 '第 1導体パターン層 1 9 a, 1 8 bと第 2導体パターン層 1 9 aとを形成することができる。
( 3 ) 本発明では、 次のようにして更に多数層の配線層を有する多層配線基板を 製造することができる。 即ち、 図 4 ( 1 4 ) に示すものに対して、前記第 1導体 パ夕一ン層又は前記第 2導体パ夕一ン層の少なくとも何れかが、 これとは別の金 属からなる第 3保護金属層又は第 4保護金属層を形成し、 更に第 3保護金属層の 下面にはこれとは別の金属からなる第 3眉間接続体が、 又は第 4保護金属層の上 面にはこれとは別の金属からなる第 4層間接続体が形成することが可能である。 例えば、第 3保護金属層と第 4保護金属層、 第 3層間接続体と第 4層間接続体 、 および第 3導体パターン層と第 4導体パターン層を形成することにより、 導体 パターンを含む配線層が、 奇数層設けられている多層配線基板を製造することが できる。 また、 上下両層に積層形成する配線層の数を調整することで、 配線層が 偶数層設けられている多層配線基板を製造することも可能である。
( 4 )前記の実施形態では、 マスク層を印刷により形成する例を示したが、 ドラ ィフィルムレジスト等を用いてマスク層を形成してもよい。 その場合、 ドライフ イルムレジストの熱圧着、露光、 現像が行われる。 また、 マスク層の除去 (剥離 ) には、 メチレンクロライドや水酸^:ナトリウム等が用いられる。
また、 マスク層を金属層のェッチング時に耐性を示す金属で形成してもよい。 その場合、 保護金属層と同様の金属を使用することができ、 パターン形成と同様 の方法により、 所定の位置にマスク層を形成すればよい。
( 5 )前記の実施形態では、絶縁材を研削 '研磨等することにより、層間接続体 の高さと略同じ厚さを有する絶縁層を形成する例を示したが、 絶縁材である樹脂 シ一ト等を加熱加圧することにより、 層間接続体の高さと略同じ厚さを有する絶 緣層を形成してもよい。 その場合、 層間接続体上に薄く残る絶縁性樹脂は、 ブラ ズマ処理等によつて簡単に除去でき、 また加熱後に研磨して平坦化することもで きる。 なお、 樹脂シート、 プリプレグ等には予め層間接続体の形成位置に開口を 設けておいてもよい。
( 6 ) 前記の実施形態では、 マスク層の除去を金属層を選択的にエッチングした 直後に行う例を示したが、 マスク層の除去工程の順序はこれに限定されず、例え ば、保護金属層のエッチング工程の直後、 あるいは、 絶縁材を研削 '研磨等する 際に、 マスク層の除去を行ってもよい。
( 7 )前記の実施形態では、 放熱のための大面積の層間接続体を有しない多層配 線基板の例を示したが、 図 1 0に示すように、 大面積の層間接続体を形成したも のでもよい。 この実施形態では、上下の最外層に設けられた導体パターン層 4 5 同士を貫通して接続する層間接続構造を有し、 これを介して半導体部品 5 0から 基板裏面へ放熱を行う例を示す。
この層間接続構造は、 図 1 0に示すように、 導体パターン 3 aの上下両面に、 これとは別の金属からなる第 1保護金属層 2及び第 2保護金属層 1 1が形成され 、更に第 1保護金属層 2の下面にはこれとは別の金属からなる第 1層間接続体 1 aが、 第 2保護金属層 1 1の上面にはこれとは別の金属からなる第 2層間接続体 1 4 aが各々形成されている。 また、 同時に配線パターン間の導電接続を行うた めの層間接続構造も複数設けられている。
導体パターン 3 aの上下への積層数は、 この例では上側 2層、下側 4層である が、 これはマスク材を用いた片面のみへのメツキ等で行うことができる。 従って
、 導体パターン 3 aの上下への積層数が同じであるのが、 無駄の無い製法となる また、 図 1 0の例では、 第 6層に放熱金属体 4 4よりかなり面積の広い放熱パ 夕一ン部 4 5を形成しており、 更に放熱フィン 4 7を形成している。 放熱フィン 4 7は、 各種の接合方法や接着方法で形成することも可能であるが、前述したよ うな層間接続体の形成方法によって形成することも可能である。 その場合、 第 2 保護金属層 1 1が放熱フィン 4 7との間に介在することになる。 このような放熱 フィン 4 7の形成は、 多層配線基板の最外層に半導体部品を実装するためのバン プの形成と同時に行うことも可能である。
放熱フィン 4 7の形状は、 リブ状、 散点状など何れでもよいが、 全体の表面積 が大きい程、 熱放散性が高くなるため好ましい。 全体の表面積を大きくする上で は、放熱フィン 4 7の高さを高くするのが有利であり、 図 1 0の例では、 放熱金 属体 4 4の厚みより、 放熱フィン 4 7の高さを高くしている。 なお、 放熱フィン 4 7により十分な熱放散性が得られる場合など、 放熱パターン部 4 5の面積を小 さくすることも可能である。
一方、 半導体部品 5 0を実装する側の最外層 (第 1層) には、 放熱金属体 4 4 と略同じ面積の放熱パターン部 4 5を形成している。 半導体部品 5 0を実装する 際には、 半導体部品 5 0の底面と放熱パターン部 4 5との間に、 例えば伝熱性の 粘着テープ 6 0や伝熱性の接着材など介在させてもよい。 また、 何も設けずに、 輻射伝熱するようにしてもよい。
半導体部品 5 0のリード 5 2は、 第 1層の配線層の配線パターン部 2 8にハン ダ等で導電接続される。 各々のリード 5 2は、 回路設計に応じて、 第 2層の配線 層の導体パターン 1 8 aに層間接続体 2 9を介して、 導電接続される。 産業上の利用可能性
本発明によると、 既存の設備を用いて、 接続の信頼性の高い層間接続構造を全 層で形成することができ、伝熱性も良好となる多層配線基板、 及びその製造方法 を提供できる。 従って、本発明は産業上の利用可能性が高いものである。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 導体パターンの上下に形成された第 1層間接続体及び第 1層間接続体を有す る多層配線基板の製造方法であつて、
( a ) 第 1層間接続体を形成するための第 1金属層と、 これと別の金属からなる 第 1保護金属層とを有する積層体の当該第 1保護金属層側に、 これと別の金属か らなる導体 7、。ターンを形成する工程、
( b ) 少なくともその導体パターンを被覆する第 2保護金属層を形成する工程、
( c ) その第 2保護金属層とは別の金属からなる第 2金属層を更に形成する工程
( d ) その第 2金属層の第 2層間接続体を形成する表面部分に第 2マスク層を形 成する工程、 '
( e )前記第 2マスク層を形成した第 2金属層を選択的にエッチングして第 2層 間接続体を形成する工程、
( f ) その第 2層間接続体の形成面に第 2絶縁層を形成する工程、
( )前記第 1金属層の第 1層間接続体を形成する表面部分に第 1マスク層を形 成する工程、
( h ) 前記第 1マスク層を形成した第 1金属層を選択的にエッチングして第 1層 間接続体を形成する工程、 及び
( i )前記第 1保護金属層及び前記第 2保護金属層の少なくとも非パターン部を 、 同時に又は別々に、 選択的にエッチングして除去する工程
を含む多層配線基板の製造方法。
2 . 更に、 第 1層間接続体の形成面に第 1絶縁層を形成する工程、前記第 1層間 接続体と一部が導電接続する第 1導体パターン層を形成する工程、 及び前記第 層間接続体と一部が導電接続する第 導体パターン層を形成する工程を含む請求 項 1記載の多層配線基板の製造方法。
3 . 前記 ( b ) 工程で、 非パターン部を含む略全面に、前記第 1保護金属層と同 じ金属の第 保護金属層を形成すると共に、 前記 ( i ) 工程で前記第 1保護金属 層及び前記第 2保護金属層の少なくとも非パターン部を、 同時に選択的にエッチ ングして除去する請求項 1に記載の多層配線基板の製造方法。
4 . 前記 ( a )工程で導体パターンを形成する際に、 パターンメツキ法により行 う請求項 1に記載の多層配線基板の製造方法。
5 . 導体パターンの上下両面に、 これとは別の金属からなる第 1保護金属層及び 第 2保護金属層が形成され、更に第 1保護金属層の下面にはこれとは別の金属か らなる第 1眉間接続体が、 第 2保護金属層の上面にはこれとは別の金属からなる 第 2眉間接続体が各々形成された層間接続構造を有する多層配線基板。
6 . 前記導体パターンと前記第 1保護金属層及び第 2保護金属層との接合がメッ キにより行われ、前記第 1保護金属層と前記第 1層間接続体との接合がメツキに より行われ、前記第 2保護金属層と前記第 2層間接続体との接合がメツキにより 行われている請求項 5に記載の多層配線基板。
7 . 前記導体パターン、前記第 1層間接続体、 及び前記第 2層間接続体が同一金 属であり、 前記第 1保護金属層及び第 保護金属層が同一金属である請求項 5に 記載の多層配線基板。
8 . 前記第 1層間接続体の形成面には第 1絶縁層が形成され、 更に前記第 1層間 接続体とメッキで接合された第 1導体パ夕―ン層が形成されると共に、 前記第 眉間接続体の形成面には第 2絶縁層が形成され、前記第 2層間接続体とメツキで 接合された第 1導体パターン層が形成されている請求項 5に記載の多層配線基板
9 . 前記第 1導体パターン層又は前記第 2導体パターン層の少なくとも何れかが 、 これとは別の金属からなる第 3保護金属層又は第 4保護金属層が形成され、 更 に第 3保護金属層の下面にはこれとは別の金属からなる第 3層間接続体が、 又は 第 4保護金属層の上面にはこれとは別の金属からなる第 4層間接続体が形成され ている請求項 8記載の多層配線基板。
1 0 . 前記導体パターンを含む導体パターン層が、 奇数層設けられている請求項 5〜 9いずれかに記載の多層配線基板。
1 1 . 上下の最外層に設けられた導体パターン層同士を貫通して接続する層間接 続構造を有する多層配線基板であって、
前記層間接続構造は、導体パターンの上下両面に、 これとは別の金属からなる O 2004/073369
第 1保護金属層及び第 2保護金属層が形成され、更に第 1保護金属層の下面には これとは別の金属からなる第 1層間接続体が、 第 2保護金属層の上面にはこれと は別の金属からなる第 2層間接続体が各々形成されている多層配線基板。
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