WO2004027886A1 - 圧電体素子、液体吐出ヘッド及びこれらの製造方法 - Google Patents

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Masami Murai
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Seiko Epson Corporation
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    • H10N30/8548Lead based oxides
    • H10N30/8554Lead zirconium titanate based

Definitions

  • the present invention relates to a piezoelectric element having an electromechanical conversion function, a liquid discharge head using the piezoelectric element, and a method of manufacturing them.
  • the present invention relates to a piezoelectric element capable of obtaining excellent voltage resistance and durability, a liquid discharge head using the same, and a method of manufacturing them.
  • a liquid discharge head such as a ink jet recording head uses a piezoelectric element as a driving source for discharging droplets such as ink droplets.
  • this piezoelectric element is configured to include a piezoelectric thin film and an upper electrode and a lower electrode disposed to sandwich the piezoelectric thin film.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-01977 patterns the lower electrode in a predetermined shape. Then, it is disclosed to form a piezoelectric thin film.
  • the crystallinity of the piezoelectric thin film in the vicinity of the lower electrode end may not be sufficient, and the reliability can not be said to be sufficient.
  • the present invention is to provide a more reliable piezoelectric element and liquid discharge head that withstands high voltages by improving the crystallinity of the piezoelectric film near the lower electrode end. With the goal. Disclosure of the invention
  • the piezoelectric element of the present invention comprises: a diaphragm; a lower electrode formed in a predetermined pattern on the diaphragm; a piezoelectric film formed on the lower electrode; An upper electrode formed on the body film. And a metal layer formed on the diaphragm in the vicinity of the piezoelectric film and electrically disconnected from the lower electrode. It has a broken metal layer.
  • the metal layer is formed of the same material as the lower electrode.
  • the distance between the lower electrode and the metal layer electrically disconnected from the lower electrode is preferably 200 or less.
  • the piezoelectric film is formed to cover at least a part of the metal layer, and an electrode for wiring extending from the upper electrode is covered with the piezoelectric film among the metal layers. It is desirable that the piezoelectric layer be formed on the other portion and be insulated from the metal layer by the piezoelectric film.
  • a second metal layer which is a metal layer formed on the diaphragm and which is electrically disconnected from the lower electrode and which is electrically connected to a wiring electrode extending from the upper electrode Furthermore, the configuration may be provided.
  • the piezoelectric film is formed on the lower electrode formed in the predetermined pattern and on the diaphragm in which the lower electrode does not exist, and the piezoelectric film is formed on the lower electrode.
  • the number of layers of the piezoelectric film is larger than that of the portion formed on the vibration plate.
  • a liquid discharge head comprises: the piezoelectric element described above; a pressure chamber whose internal volume changes due to mechanical displacement of the piezoelectric element; and an outlet for communicating with the pressure chamber to discharge droplets. And have.
  • a liquid discharge apparatus includes the above-described liquid discharge head, and a drive device for driving the liquid discharge head.
  • the method of manufacturing a piezoelectric element according to the present invention comprises the steps of: forming a lower electrode and a metal layer near the lower electrode in a predetermined pattern on a diaphragm; and forming a piezoelectric film on the lower electrode And a step of forming an upper electrode on the piezoelectric film, wherein the metal layer is formed so as to be electrically disconnected from the lower electrode.
  • Another method of manufacturing a piezoelectric element according to the present invention comprises: forming a conductive film on a diaphragm; forming a piezoelectric film on the conductive film; forming a first piezoelectric film; and forming the piezoelectric film Deposition first
  • the conductive film is patterned by patterning the piezoelectric film and the conductive film, which are formed in a process, to form a lower electrode, and a metal layer electrically cut from the lower electrode and positioned in the vicinity of the lower electrode.
  • the method for manufacturing a liquid discharge head according to the present invention comprises the steps of: forming a piezoelectric element by the above method; forming a pressure chamber whose internal volume changes due to mechanical displacement of the piezoelectric element; Forming a discharge port communicating with the pressure chamber and discharging a droplet.
  • FIG. 1 is a perspective view for explaining the structure of a printer (liquid discharge device) in which a piezoelectric element according to an embodiment of the present invention is used.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view showing the structure of the main part of an ink jet recording head which is a liquid discharge head according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view showing details of the arrangement of piezoelectric elements in the ink jet recording head according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a plan view (a) in which the encircling line iii part of FIG. 3 is enlarged, its i i i cross-sectional view (b) and ii i ii cross-sectional view (c).
  • FIG. 5 is a plan view showing the details of the arrangement of the piezoelectric element in the ink jet recording head according to the second embodiment.
  • FIG. 6 is a plan view (a) in which the encircling line ii i of FIG. 5 is enlarged, its i-i cross-sectional view (b) and ii-ii cross-sectional view (c).
  • FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a method of manufacturing the ink jet recording head.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a method of manufacturing the ink jet recording head.
  • FIG. 9 is a schematic cross sectional view showing a modified example of the above manufacturing method, and shows a step corresponding to FIG.
  • reference numeral 20 is a pressure chamber substrate
  • 30 is a diaphragm
  • 31 is an oxide film
  • 32 is r 0 2 film
  • 40 is a piezoelectric element
  • 42 is a conductive layer
  • 42 a is an inner metal layer
  • 42 b is an outer metal layer
  • 42 d is a lower electrode
  • 43 is a piezoelectric thin film
  • 4 is an upper electrode.
  • FIG. 1 is a perspective view for explaining the structure of a printer which is a liquid discharge apparatus using a piezoelectric element according to an embodiment of the present invention.
  • the main body 2 is provided with a tray 3, an outlet 4 and an operation button 9. Further, inside the main body 2, an ink jet recording head 1 which is a liquid discharge head, a sheet feeding mechanism 6, and a control circuit 8 are provided.
  • the ink jet recording head 1 includes a plurality of piezoelectric elements formed on a substrate, and is configured to be able to eject ink, which is a liquid, from the nozzles in response to the ejection signal supplied from the control circuit 8. .
  • the main body 2 is a housing of the printer, and the sheet feeding mechanism 6 is disposed at a position where the sheet 5 can be supplied from the tray 3, and the inkjet recording head 1 is disposed so as to print on the sheet 5.
  • the tray 3 is configured to be able to supply the paper 5 before printing to the paper feeding mechanism 6, and the discharge port 4 is an outlet from which the paper 5 for which printing has been completed is discharged.
  • the sheet feeding mechanism 6 is provided with a motor 600, rollers 600, and other mechanical structures (not shown).
  • the motor 600 is rotatable in response to a drive signal supplied from the control circuit 8.
  • the mechanical structure is configured to be able to transmit the rotational force of the motor 600 to the rollers 6 0 1 ⁇ 6 0 2.
  • the rollers 601 and 602 are designed to rotate when the rotational force of the motor 600 is transmitted, and pull in the sheet 5 placed on the tray 3 by the rotation, and print by the head 1 It has become possible to supply it.
  • the control circuit 8 includes a CPU, ROM, RAM, interface circuit, etc. (not shown), and supplies a drive signal to the paper feeding mechanism 6 in correspondence with the print information supplied from the computer via a connector (not shown). Or, the ejection signal ink jet type It can be supplied to the recording head 1. Further, the control circuit 8 can perform setting of an operation mode, reset processing and the like in response to an operation signal from the operation panel 9.
  • the printer according to the present embodiment is an ink jet recording head having excellent voltage resistance and durability, which will be described later, and good printing performance, and thus is a printer with high performance.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view showing the structure of the main part of an ink jet recording head which is a liquid discharge head according to an embodiment of the present invention.
  • the ink jet recording head comprises a nozzle plate 10, a pressure chamber substrate 20, and a diaphragm 30.
  • the pressure chamber substrate 20 is provided with a pressure chamber (cavity) 21, a side wall 22, a reservoir 23 and a supply port 24.
  • the pressure chamber 21 is formed as a space for storing ink and the like by discharging the substrate such as silicon.
  • the side wall 22 is formed to partition the pressure chamber 21.
  • the reservoir 23 is a common flow path for supplying the ink to the pressure chambers 21 via the supply port 24.
  • the pressure chamber 21, the side wall 22, the reservoir 23, and the supply port 24 are shown in a simplified manner, but may have a large number of pressure chambers and the like as shown in FIG.
  • the nozzle plate 10 is bonded to one surface of the pressure chamber substrate 20 so that the nozzle 11 is disposed at a position corresponding to each of the pressure chambers 21 provided in the pressure chamber substrate 20. ing.
  • the diaphragm 30 is formed by laminating an oxide film 31 and a ZrO 2 film 32 as described later, and is bonded to the other surface of the pressure chamber substrate 20.
  • the diaphragm 30 is provided with an ink tank connection port (not shown) so that the ink stored in the ink tank (not shown) can be supplied to the reservoirs 23 of the pressure chamber substrate 20.
  • a unit consisting of a nozzle plate 10, a diaphragm 30 and a pressure chamber substrate 20 is housed in a housing 25 to form an ink jet recording head 1.
  • FIG. 3 is a plan view showing the details of the arrangement of piezoelectric elements in the ink jet recording head of the first embodiment.
  • a large number of piezoelectric elements 40 are alternately arranged in two rows.
  • 3 6 0 dpi dot per inch
  • 3 6 0 piezoelectric elements 40 are disposed in a first row in 1 inch
  • 3 6 0 piezoelectric elements in a second row The 40's are placed at a position offset from the first row by 70's.
  • the lower electrode 42 d of the piezoelectric element 40 is an electrode common to the respective columns.
  • An inner metal layer 42a electrically cut off from the lower electrode 42d and an upper electrode 44 described later is formed in the vicinity of the inner side of the two rows of lower electrodes 42d.
  • an outer metal layer 42b electrically cut off from the lower electrode 42d and the upper electrode 44 described later is formed in the vicinity of the outer side of the lower electrode 42d in two rows.
  • the inner metal layer 42a and the outer metal layer 42b described here surround the piezoelectric element 40 together with the portion of the lower electrode 42d in which the piezoelectric element 40 is not formed. From the upper electrode of the piezoelectric element 40, the strip electrode 45 for wiring passes through the upper side of the inner metal layer 42a without contacting the inner metal layer 42a. It is spreading.
  • FIG. 4 is an enlarged plan view (a) of the encircling line iii part of FIG. 3, its i i i cross-sectional view (b) and ii-ii cross-sectional view (c).
  • each discharge portion of the inkjet head 1 is formed by sequentially laminating a ZrO 2 film 32, a lower electrode 42d, a piezoelectric thin film 43 and an upper electrode 44 on an oxide film 31. Is configured.
  • the oxide film 31 is formed, for example, as an insulating film on a pressure chamber substrate 20 made of single crystal silicon having a thickness of 100 ⁇ ⁇ .
  • a film made of silicon oxide (S i 0 2 ) is formed to a thickness of 1.0.
  • the Z r 0 2 film 32 is a layer having elasticity, and forms a diaphragm 30 integrally with the oxide film 31.
  • the film 1: 0 2 film 32 preferably has a thickness of 200 nm or more and 800 nm or less in order to have a function to impart inertia.
  • an adhesion layer (not shown) made of titanium or chromium may be provided.
  • the adhesion layer is formed to improve the adhesion to the installation surface of the piezoelectric element, and may not be formed if the adhesion can be secured.
  • the thickness is preferably 10 nm or more.
  • the lower electrode 42 d has a layer structure of a layer including at least I r, for example, a layer including I r from the bottom layer / a layer including P t / a layer including I r.
  • the total thickness of the lower electrode 42 d is, eg, 200 nm.
  • the layer structure of the lower electrode 42 d is not limited to this, and may be a layer including I r -containing layer ZP t or a two-layer structure including P t -containing layer I r. Also, it may be composed of only the layer containing I r.
  • the piezoelectric thin film 43 is a ferroelectric substance composed of a crystal of piezoelectric ceramics, preferably a ferroelectric piezoelectric material such as lead zirconate titanate (PZT), or niobium oxide or oxide metal. It consists of those to which metal oxides such as nickel and magnesium oxide are added.
  • the composition of the piezoelectric thin film 43 is appropriately selected in consideration of the characteristics of the piezoelectric element, the application, and the like. Specifically, lead titanate (P b T i 0 3 ), lead zirconate titanate
  • the thickness of the piezoelectric thin film 43 needs to be suppressed to such an extent that no cracks occur in the manufacturing process, and on the other hand, must be thick enough to exhibit sufficient displacement characteristics, for example, 1000 nm or more and 1 500 nm or less.
  • the upper electrode 44 is an electrode paired with the lower electrode 42 d, and is preferably made of P t or I r.
  • the thickness of the upper electrode 44 is preferably about 50 nm.
  • the lower electrode 42d is an electrode common to each piezoelectric element.
  • the inner metal layer 42a and the outer metal layer 42b are located at the same height as the lower electrode 42d. But is separated from the lower electrode 42 d.
  • the interval is desirably 200 ° // in or less, preferably 100 ⁇ or less, and more preferably 50 ⁇ or less.
  • the lower limit of the distance may be such that it becomes electrically nonconductive, for example, 5 ⁇ um or more is desirable.
  • the piezoelectric thin film 43 of the individual piezoelectric element 40 extends on the inner metal layer 42 a, and on it, a strip electrode 45 for wiring which can be conducted to the upper electrode 44. It is formed. Therefore, in the first embodiment, the strip electrode 45 is insulated from the inner metal layer 4 2 a by the piezoelectric thin film 43.
  • the inner metal layer 4 2 a is preferably formed of the same material as the lower electrode 4 2 d. Even if they are not formed of the same material, it is desirable that the infrared absorptivity be similar to that of the lower electrode 42 d.
  • the outer metal layer 42 b is also located at the same height as the lower electrode 42 d, but is separated from the lower electrode 42 d and the inner metal layer 42 a.
  • the interval is desirably 2 0 0 / z m or less, preferably 1 0 0 ⁇ or less, and more preferably 5 0 m or less.
  • the lower limit of the distance may be such as to be electrically nonconductive, for example, 5 m or more is desirable.
  • the outer metal layer 42 b is also separated from the strip electrode 45 and the upper electrode 44.
  • a piezoelectric thin film 43 is formed on a part of the outer metal layer 42b, the upper electrode 44 and the outer metal layer 42b are not in contact with each other.
  • the outer metal layer 42 b is also preferably formed of the same material as the lower electrode 42 d. Even if the same material is not used, it is desirable that the infrared absorptivity be similar to that of the lower electrode 42 d.
  • a reservoir 23 for supplying liquid to the pressure chamber 21 is provided at a position closer to the outer metal layer 42 b than the piezoelectric element 40.
  • FIG. 5 is a plan view showing the details of the arrangement of piezoelectric elements in the ink jet recording head of the second embodiment. Parts having the same functions as in the first embodiment are assigned the same reference numerals.
  • the inner metal layer 42c which is the second metal layer, is divided into segments corresponding to the respective piezoelectric elements 40. Since the strip electrodes 45 are formed right above each of the inner metal layers 42c, the inner metal layers 42c are not visible in the plan view of FIG.
  • FIG. 6 is a plan view (a) in which the encircling line iii part of FIG. 5 is enlarged, its i i i cross-sectional view (b) and ii-ii cross-sectional view (c).
  • the piezoelectric thin film 43 does not completely cover the inner metal layer 42c.
  • a strip electrode 45 for wiring conducted to the upper electrode 44 can be conducted to the inner metal layer 42 c. Since the inner metal layer 42c does not conduct to the lower electrode 42d and does not conduct to the adjacent inner electrode layer 42c (segment), even if it conducts to the strip electrode 45, There is no problem in the air.
  • FIG. 7 and FIG. 8 are cross-sectional schematic views showing a method of manufacturing the piezoelectric element and the inkjet recording head. 7 and 8 will be described along the configuration of the ink jet recording head according to the first embodiment described with reference to FIGS. 3 and 4 above, but in the same procedure, description will be made using FIGS. 5 and 6.
  • the ink jet recording head of the second embodiment can also be manufactured. Oxide film formation process (S 1)
  • This process is a high temperature treatment in oxidation atmosphere containing silicon substrate oxygen or water vapor as the pressure chamber substrate 2 0 is the step you form an oxide film 3 1 made of silicon oxide (S i 0 2) .
  • CVD method can also be used.
  • the sigma 0 2 film 3 2 is obtained by high-temperature processes that form a layer of O Ri Z r on sputtering or vacuum evaporation method, or the like in an oxygen atmosphere.
  • a conductive film 42 to be a lower electrode containing I r is formed on the Z r 0 2 film 32. For example, first, a layer containing I r is formed, then a layer containing P t is formed, and a layer containing I r is further formed.
  • Each layer constituting the conductive film 42 is formed by depositing Ir or Pt on the ZrO 2 film 32 by sputtering or the like.
  • an adhesion layer (not shown) made of titanium or chromium may be formed by a sputtering method or a vacuum evaporation method.
  • the conductive film 42 is first masked to a desired shape in order to separate it into the inner metal layer 42a and the outer metal layer 42b and the lower electrode 42d, and the periphery thereof is formed. Perform patting by etching. Specifically, first, a resist material having a uniform thickness is applied on the conductive film 42 by a spinner method, a spray method or the like (not shown), and then a mask is formed in the shape of a piezoelectric element. After exposure and development, a resist pattern is formed on the conductive film (not shown).
  • This ion milling also commonly used to expose the the Z r 0 2 film 3 2 is removed by etching part of the conductive film by a dry etching method or the like, the inner metal layer 4 2 a, the outer metal layer 4 2 b, the lower electrode 4 Form 2 d. Furthermore, cleaning by reverse sputtering is carried out in order to remove contaminants, acid portions and the like attached to the lower electrode surface in the patterning step (shown in FIG. Four
  • This step is a step of forming a Ti nucleus (layer) (not shown) on the lower electrode 42 d by sputtering or the like.
  • the reason why the Ti nucleus (layer) is formed is that crystal growth occurs from the lower electrode side by growing PzT with the Ti crystal as a nucleus, and a dense, columnar crystal can be obtained.
  • the average thickness of the Ti core (layer) is 3 to 7 nm, preferably 4 to 6 nm.
  • This step is a step of forming a piezoelectric precursor film 4 3 ′ by a sol-gel method.
  • a sol composed of an organic metal alkoxide solution is coated on the Ti core by a coating method such as spin coating. Then, it is dried at a constant temperature for a fixed time, and the solvent is evaporated. After drying, it is further degreased at a predetermined high temperature for a certain period of time in an air atmosphere, and the organic ligand coordinated to the metal is thermally decomposed to form a metal oxide.
  • the coating, drying, and degreasing steps are repeated a predetermined number of times, for example, twice to laminate a piezoelectric precursor film consisting of two layers. By these drying and degreasing processes, the metal alkoxide and acetate in the solution undergo thermal decomposition of the ligand to form a metal, oxygen and metal network.
  • this process is not limited to the sol-gel method, but may be MOD (Metal Organic Deposition) method.
  • the piezoelectric precursor film 4 3 ′ After forming the piezoelectric precursor film 4 3 ′, it is fired to crystallize the piezoelectric thin film. By this firing, the piezoelectric thin film 4 3 ′ changes from an amorphous state to a rhombohedral crystal structure, and changes to a thin film exhibiting an electromechanical conversion action to become a piezoelectric thin film 4 3.
  • the temperature rise at the time of firing becomes dull in the region where the lower electrode 42 d is not formed.
  • the present embodiment as shown in FIG. 3 and FIG. 5, since the formation region of the piezoelectric film is surrounded by the lower electrode 42 d, the inner metal layer 42 a and the outer metal layer 42 b, Even in the region where the lower electrode 42 d is not formed, a sufficient temperature rise can be ensured. As a result, the firing conditions of the piezoelectric thin film become uniform.
  • the crystallinity in the vicinity of the end of the lower electrode 42 d of the piezoelectric thin film is improved, and the voltage resistance and the durability are improved. Further, since the firing conditions in the entire wafer can be made uniform, the piezoelectric characteristics between the piezoelectric elements can be made uniform.
  • the piezoelectric thin film 43 can be made to have a desired thickness by repeating the formation (S 5) of the precursor film as described above and the firing (S 6) thereof a plurality of times.
  • the film thickness of the precursor film to be applied per baking is set to 20 ° nm and repeated six times.
  • An upper electrode 4 4 is formed on the piezoelectric thin film 43 by electron beam evaporation or sputtering.
  • the piezoelectric thin film 43 and the upper electrode 44 are patterned into a predetermined shape of the piezoelectric element. Specifically, after spin-coating a resist on the upper electrode 44, exposure / development and patterning are performed according to the position where the pressure chamber should be formed. Using the remaining resist as a mask, the upper electrode 44 and the piezoelectric thin film 43 are etched by ion milling or the like. Through the above steps, the piezoelectric element 40 is formed.
  • a strip electrode 45 is formed to conduct to the upper electrode 44.
  • the material of the strip electrode 45 is preferably gold, which has low rigidity and low electrical resistance. Besides, aluminum and copper are also suitable.
  • the strip electrode 45 is formed to a film thickness of about 0.5 ⁇ ⁇ , and then conductive to each upper electrode and patterned so that the wiring can be drawn out.
  • anisotropic etching using an active gas such as anisotropic 1 ′ ′ raw etching or parallel plate reactive etching is formed, and the portion left unetched becomes the side wall 22.
  • the reservoir 2 3 is an outer metal layer 42 b. At the opposite position, it is formed in a shape slightly smaller than the outer metal layer 42 b, A through hole is formed by a laser or the like.
  • the nozzle plate 10 is bonded to the pressure chamber substrate 20 after etching with an adhesive. Align so that each nozzle 1 1 is placed in the space of each pressure chamber 2 1 when bonding.
  • the pressure chamber substrate 20 to which the nozzle plate 10 is bonded is attached to a housing (not shown), and the ink jet recording head 1 is completed.
  • FIG. 9 is a schematic cross sectional view showing a modified example of the above manufacturing method, and shows a process corresponding to FIG.
  • the steps S1 to S3 are the same as those in FIG. 7 and the steps after S 6 c are the same as those in FIG.
  • the conductive film 42 is formed in S 3
  • the first layer 43 a of the piezoelectric thin film is formed before the patterning (S 6 a)
  • the first layer of the piezoelectric thin film 4 3 a and the conductive film 4 2 are put together and patterned (S 6 b).
  • Step of forming the first layer of piezoelectric thin film (S 6 a)
  • the first layer 4 of the piezoelectric thin film is formed on the conductive film 42.
  • Form 3a For example, after forming the Ti core (layer) to a thickness of 3 to 7 nm, preferably 4 to 6 nm, the coating of the sol is carried out in the same manner as described for S5 and S6 in FIG. 7 above. The steps of drying and degreasing are repeated twice, and this is fired to form the first layer 43a of the piezoelectric thin film to a thickness of about 200 nm.
  • the first layer 4 3 a of the piezoelectric thin film and the conductive film 4 2 are patterned into the same shape as S 4 in FIG.
  • the conductive film 42 is separated into a lower electrode 42 d, an inner metal layer 42 a, and an outer metal layer 42 b.
  • the portion of the piezoelectric thin film from which the first layer 4 3 a and the conductive film 4 2 have been removed exposes the Z r 0 2 film 32.
  • the piezoelectric thin film 43 After forming a Ti nucleus (layer) to, for example, 1 nm or more and 4 nm or less on the first layer 43 a of the piezoelectric thin film and the exposed Z r 0 2 film 32, the piezoelectric thin film The second and subsequent layers are formed in the same manner as the first layer. And, until the predetermined thickness is applied, Repeat the steps of drying, degreasing and baking. As a result, on the lower electrode 42 d, the piezoelectric thin film 43 having a larger number of layers than the exposed Z r 0 2 film 32 is formed. For example, a 6 ′ layer is formed on the lower electrode 42 d, and a five-layered piezoelectric thin film 43 is formed on the exposed Z r O 2 film 32.
  • the composition change (diffusion from oxide and piezoelectric film) of the conductive layer to be the lower electrode and the increase in film thickness may occur, especially at the time of firing of the first layer of the piezoelectric film. Such things are likely to happen. If the first layer of the piezoelectric film is fired after the patterning of the conductive layer, an imbalance in the film thickness of the conductive layer occurs near the boundary of the patterning, which may lower the crystallinity of the piezoelectric film or possibly cause a crack. However, according to the modification of FIG. 9, this can be prevented.
  • the change in the composition and thickness of the conductive layer at the time of firing the first layer 43a of the piezoelectric thin film Occurs uniformly in the film surface direction. Therefore, stable crystallinity of the piezoelectric thin film is secured, and generation of cracks in the piezoelectric thin film can be prevented.
  • the composition and thickness of the conductive layer change during firing of the first layer 43a of the piezoelectric thin film the composition of the lower electrode 42 d and the firing of the second and subsequent layers of the piezoelectric thin film will be described.
  • the film thickness change is small. Therefore, good crystallinity similar to that of the first layer of the piezoelectric thin film can be obtained.
  • the formation region of the piezoelectric thin film is surrounded by the lower electrode 42 d, the inner metal layer 42 a, and the outer metal layer 42 b, The firing conditions of the piezoelectric thin film become uniform. Therefore, as described in S 6 of FIG. 7, the crystallinity in the vicinity of the patterning boundary of the lower electrode 42 d of the piezoelectric thin film is further improved, and the voltage resistance and the durability are further improved.
  • the ink jet recording head according to the first embodiment described with reference to FIGS. 3 and 4 is manufactured by the method of the modification described with reference to FIGS. 9 and 8 (however, the piezoelectric thin film has a thickness of 1).
  • the distance between the 1 m PZT, the lower electrode 42 d and the inner metal layer 42 a and the outer metal layer 42 b is 50 m), and it is manufactured by the conventional method (however, the piezoelectric thin film is Film thickness 1.
  • the distance between the 1 ⁇ m PZT, the lower electrode 42 d and the inner metal layer 42 a and the outer metal layer 42 b was 500 ⁇ m ⁇ ), and the withstand voltage resistance was examined.
  • the durability was examined at a drive voltage of 35 V.
  • the characteristics were bad at about 1 billion pulses, but in the above embodiment, it was able to withstand driving of 400 billion pulses or more.
  • the ink jet recording head according to the above-described embodiment exhibits a dramatic improvement in performance.
  • the piezoelectric element manufactured according to the present invention is not limited to the piezoelectric element of the above-mentioned ink jet recording head, but also a nonvolatile semiconductor memory device, a thin film capacitor, a pi port electrical detector, a sensor, surface acoustic wave optical waveguide Adaptation to the fabrication of tubes, optical storage devices, spatial light modulators, ferroelectric devices such as frequency doublers for diode lasers, dielectric devices, pi-port electrical devices, piezoelectric devices, and electro-optical devices it can.
  • the liquid discharge head of the present invention discharges a liquid containing a color material used for manufacturing a color filter for a liquid crystal display or the like, in addition to a head for discharging an ink used in an ink jet recording apparatus.
  • a head for discharging a liquid containing an electrode material used for forming an electrode such as a head, an organic EL display, an FED (surface emitting display), etc.
  • a head for discharging a liquid containing a bioorganic substance used for manufacturing a biochip It is possible to apply to heads which jet various liquids.

Abstract

振動板30と、前記振動板上に所定パターンに形成された下部電極42dと、前記下部電極上に形成された圧電体膜43と、前記圧電体膜上に形成された上部電極44と、を備えており、前記圧電体膜の近傍に、前記振動板上に形成され前記下部電極及び前記上部電極と電気的に切断された金属層42bを備える。下部電極と金属層との間隔は、200μm以下である。これにより、下部電極端部付近においても圧電体膜の結晶性が良好となるようにすることによって、高電圧に耐え、より信頼性の高い圧電体素子及び液体吐出ヘッドを提供する。

Description

圧電体素子、 液体吐出ヘッド及びこれらの製造方法 技術分野
本発明は、 電気機械変換機能を有する圧電体素子、 この圧電体素子を用いた液 体吐出へッド、 及ぴこれらの製造方法に係る。 特に、 優れた耐電圧性及ぴ耐久性 が得られる圧電体素子、 これを用いた液体吐出へッド及ぴこれらの製造方法に関 する。 背景技術
ィンクジェット式記録へッド等の液体吐出へッドは、 ィンク滴等の液滴吐出の 駆動源として圧電体素子を用いる。 この圧電体素子は、 一般的に、圧電体薄膜と これを挟んで配置される上部電極およぴ下部電極とを備えて構成される。
圧電体素子を高密度に配置するとともに圧電体素子の耐電圧性を向上させるた め、 例えば特開 2 0 0 0— 1 9 8 1 9 7号公報は、 下部電極を所定形状にパター ユングしてから圧電体薄膜を形成することを開示している。
し力 し、 上記従来の圧電体素子では、 特に下部電極端部付近における圧電体薄 膜の結晶性が十分ではない場合があり、 信頼性が十分とは言えなかった。
本発明は、 下部電極端部付近においても圧電体膜の結晶性が良好となるように することによって、 高電圧に耐え、 より信頼性の高い圧電体素子及び液体吐出へ ッドを提供することを目的とする。 発明の開示
上記の課題を解決するため、 本発明の圧電体素子は、 振動板と、 前記振動板上 に所定パターンに形成された下部電極と、 前記下部電極上に形成された圧電体膜 と、 前記圧電体膜上に形成された上部電極と、 を備える。 そして、 前記圧電体膜 の近傍に、 前記振動板上に形成された金属層であつて前記下部電極と電気的に切 断された金属層を備えている。 圧電体膜形成領域の近傍に金属層を備えることに よって、 圧電体膜の焼成条件を均一にし、 下部電極端部付近においても圧電体膜 の結晶性を良好にすることができる。
上記圧電体素子において、 前記金属層は、 前記下部電極と同一の材料で形成さ れていることが望ましい。 また、 前記下部電極と、 これと電気的に切断された前 記金属層との間隔は、 2 0 0 以下であることが望ましい。
上記圧電体素子において、 前記圧電体膜は、 前記金属層の少なくとも一部を覆 うように形成され、 前記上部電極から延びる配線用の電極が、 前記金属層のうち 前記圧電体膜に覆われた部分の上に形成され、 当該圧電体膜によつて前記金属層 と絶縁されていることが望ましい。
前記圧電体膜の近傍に、 前記振動板上に形成された金属層であつて前記下部電 極と電気的に切断され、 前記上部電極から延びる配線用の電極と導通する第 2の 金属層を更に備える構成でもよい。
前記圧電体素子において、 前記圧電体膜は、 前記所定パターンに形成された下 部電極上及び下部電極が存在しない前記振動板上に形成され、 前記圧電体膜のう ち前記下部電極上に形成された部分は、 前記振動板上に形成された部分より前記 圧電体膜の層の数が多いことが望ましい。
本発明の液体吐出ヘッドは、 上記の圧電体素子と、 当該圧電体素子の機械的変 位によつて内容積が変化する圧力室と、 当該圧力室に連通して液滴を吐出する吐 出口とを備えている。
本発明の液体吐出装置は、 上記の液体吐出ヘッドと、 当該液体吐出ヘッドを駆 動する駆動装置と、 を備えている。
本発明の圧電体素子の製造方法は、 振動板上に、 下部電極と、 前記下部電極近 傍の金属層と、 を所定パターンに形成する工程と、 前記下部電極上に圧電体膜を 形成する工程と、 前記圧電体膜上に上部電極を形成する工程と、 を備え、 前記金 属層は、 前記下部電極と電気的に切断されるように形成するものである。
本発明の他の圧電体素子の製造方法は、 振動板上に導電膜を成膜する工程と、 前記導電膜上に圧電体膜を成膜する圧電体成膜第 1工程と、 前記圧電体成膜第 1 工程で成膜された圧電体膜及び前記導電膜をパターユングすることにより、 前記 導電膜を、 下部電極と、 当該下部電極から電気的に切断され前記下部電極近傍に 位置する金属層と、 に分離する工程と、 前記パターニングにより残された圧電体 膜上およぴ圧電体膜が除去された前記振動板上に、 更に圧電体膜を成膜する圧電 体成膜第 2工程と、 前記圧電体膜上に上部電極を形成する工程と、 を備えている。 本発明の液体吐出へッドの製造方法は、 上記の方法により圧電体素子を形成す る工程と、 前記圧電体素子の機械的変位によって内容積が変化する圧力室を形成 する工程と、 当該圧力室に連通して液滴を吐出する吐出口を形成する工程と、 を 備えている。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の一実施形態による圧電体素子が使用されるプリンタ (液体吐 出装置) の構造を説明する斜視図である。
図 2は、 本発明の一実施形態による液体吐出へッドであるインクジェット式記 録へッドの主要部の構造を示す分解斜視図である。
図 3は、 第 1実施形態によるィンクジェット式記録へッドにおける圧電体素子 の配置の詳細を示す平面図である。
図 4は、 図 3の囲み線 iii部分を拡大した平面図 (a ) 、 その i一 i線断面図 ( b ) 及ぴ ii一 ii線断面図 (c ) である。
図 5は、 第 2実施形態によるインクジェット式記録ヘッドにおける圧電体素子 の配置の詳細を示す平面図である。
図 6は、 図 5の囲み線 ii i部分を拡大した平面図 (a ) 、 その i— i線断面図 ( b ) 及ぴ ii— ii線断面図 (c ) である。
図 7は、 上記ィンクジェット式記録へッドの製造方法を示す断面模式図である。 図 8は、 上記ィンクジヱット式記録へッドの製造方法を示す断面模式図である。 図 9は、 上記製造方法の変形例を示す断面模式図であり、 図 7に対応する工程 を示す。
なお、 図中、 符号 2 0は圧力室基板、 3 0は振動板、 3 1は酸化膜、 3 2は r 0 2膜、 4 0は圧電体素子、 4 2は導電層、 4 2 aは内側金属層、 4 2 bは外 側金属層、 4 2 dは下部電極、 4 3は圧電体薄膜、 4 4は上部電極である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の好適な実施の形態を、 図面を参照しながら説明する。
< 1 . インクジェットプリンタの全体構成 >
図 1は、 本発明の一実施形態による圧電体素子が使用される液体吐出装置であ るプリンタの構造を説明する斜視図である。 このプリンタには、 本体 2に、 トレ ィ 3、 排出口 4および操作ボタン 9が設けられている。 さらに本体 2の内部には、 液体吐出へッドであるインクジヱット式記録へッド 1、 給紙機構 6、 制御回路 8 が備えられている。
インクジヱット式記録へッド 1は基板上に形成された複数の圧電体素子を備え、 制御回路 8から供給される吐出信号に対応して、 ノズルから液体であるインクを 吐出可能に構成されている。
本体 2は、 プリンタの筐体であって、 用紙 5をトレイ 3から供給可能な位置に 給紙機構 6を配置し、 用紙 5に印字可能なようにインクジェット式記録へッド 1 を配置している。 トレイ 3は、 印字前の用紙 5を給紙機構 6に供給可能に構成さ れ、 排出口 4は、 印刷が終了した用紙 5を排出する出口である。
給紙機構 6は、 モータ 6 0 0、 ローラ 6 0 1 . 6 0 2、 その他の図示しない機 械構造を備えている。 モータ 6 0 0は、 制御回路 8から供給される駆動信号に対 応して回転可能になっている。 機械構造は、 モータ 6 0 0の回転力をローラ 6 0 1 · 6 0 2に伝達可能に構成されている。 ローラ 6 0 1および 6 0 2は、 モータ 6 0 0の回転力が伝達されると回転するようになっており、 回転により トレイ 3 に載置された用紙 5を引き込み、 へッド 1によって印刷可能に供給するようにな つている。
制御回路 8は、 図示しない C P U、 R OM, R AM, インターフェース回路な どを備え、 図示しないコネクタを介してコンピュータから供給される印字情報に 対応させて、 駆動信号を給紙機構 6に供給したり、 吐出信号をインクジヱット式 記録へッド 1に供給したりできるようになっている。 また、 制御回路 8は操作パ ネル 9からの操作信号に対応させて動作モードの設定、 リセット処理などが行え るようになっている。
本実施形態のプリンタは、 後述の優れた耐電圧性及び耐久性を有し良好な印字 性能を有するインクジエツト式記録へッドを備えているので、 性能の高いプリン タとなっている。
< 2 . インクジェット式記録へッドの構成 >
図 2は、 本発明の一実施形態による液体吐出へッドであるィンクジヱット式記 録へッドの主要部の構造を示す分解斜視図である。
図 2に示すように、 インクジェット式記録へッドは、 ノズル板 1 0、 圧力室基 板 2 0、 振動板 3 0を備えて構成される。
圧力室基板 2 0は、 圧力室 (キヤビティ) 2 1、 側壁 2 2、 リザーバ 2 3およ ぴ供給口 2 4を備えている。 圧力室 2 1は、 シリコン等の基板をエッチングする ことにより、 インクなどを吐出するために貯蔵する空間として形成されたもので ある。 側壁 2 2は、 圧力室 2 1を仕切るよう形成されている。 リザーバ 2 3は、 インクを各圧力室 2 1に供給口 2 4を介して供給するための共通の流路となって いる。 これら圧力室 2 1、 側壁 2 2、 リザーバ 2 3、 供給口 2 4は簡略化して示 してあるが、 後述の図 3のように多数の圧力室等を備えていてもよい。
ノズル板 1 0は、 圧力室基板 2 0に設けられた圧力室 2 1の各々に対応する位 置にそのノズル 1 1が配置されるよう、 圧力室基板 2 0の一方の面に貼り合わせ られている。
振動板 3 0は、 後述するように酸化膜 3 1と Z r O 2膜 3 2とを積層して形成 されたものであり、 圧力室基板 2 0の他方の面に貼り合わせられている。 振動板 3 0には、 図示しないインクタンク接続口が設けられて、 図示しないインクタン クに貯蔵されているインクを圧力室基板 2 0のリザーバ 2 3に供給可能になって いる。
ノズル板 1 0、 振動板 3 0及び圧力室基板 2 0よりなるへッドュニットは、 筐 体 2 5に収められてインクジエツト式記録へッド 1を構成している。 ぐ 3 . 圧電体素子の構成 >
く 3— 1 . 第 1実施形態 >
図 3は、 第 1実施形態のィンクジェット式記録へッドにおける圧電体素子の配 置の詳細を示す平面図である。 ここでは、 多数の圧電体素子 4 0が、 互い違いに 2列に配置されている。 例えば 3 6 0 d p i (dot per inch) の場合、 1インチ に 3 6 0個の圧電体素子 4 0が第 1の列に配置され、 第 2の列には 3 6 0個の圧 電体素子 4 0が、 上記第 1の列と 1ノ7 2 0インチずれた位置に配置される。 圧電体素子 4 0の下部電極 4 2 dは、 各列に共通の電極となっている。 2列の 下部電極 4 2 dの内側の近傍には、 下部電極 4 2 dからも後述の上部電極 4 4力 らも電気的に切断された内側金属層 4 2 aが形成されている。 そして、 2列の下 部電極 4 2 dの外側の近傍には、 下部電極 4 2 dからも後述の上部電極 4 4から も電気的に切断された外側金属層 4 2 bが形成されている。 ここに述べた内側金 属層 4 2 a、 外側金属層 4 2 bは、 下部電極 4 2 dのうち圧電体素子 4 0が形成 されていない部分とともに、 圧電体素子 4 0を取り囲んでいる。 圧電体素子 4 0 の上部電極からは、 それぞれ配線用の細帯電極 4 5が、 内側金属層 4 2 aと接触 することなく、 内側金属層 4 2 aの上方を通って各列の内側に延ぴている。
図 4は、 図 3の囲み線 iii部分を拡大した平面図 (a ) 、 その i一 i線断面図 ( b ) 及び ii— ii線断面図 (c ) である。
図 4に示すように、 インクジェットヘッド 1の個々の吐出部は、 酸化膜 3 1上 に Z r O 2膜 3 2、 下部電極 4 2 d、 圧電体薄膜 4 3および上部電極 4 4を順次 積層して構成されている。
酸化膜 3 1は、 例えば厚さ 1 0 0 ιηの単結晶シリコンからなる圧力室基板 2 0上に絶縁膜として形成する。 好適には、 酸化ケィ素 (S i 0 2) からなる膜を 1 . 0 の厚さに形成して得る。
Z r 02膜 3 2は、 弾性を備える層であって、 酸化膜 3 1と一体となって振動 板 3 0を構成している。 この∑ 1: 0 2膜3 2は、 弹性を与える機能を備えるため、 好ましくは、 2 0 0 n m以上 8 0 0 n m以下の厚みを有する。
Z r 0 2膜 3 2と下部電極 4 2 dの間には、 双方の層を密着するような金属、 好ましくは、 チタンまたはクロムからなる密着層 (図示しない) を設けてもよい。 密着層は、 圧電体素子の設置面への密着性を良くするために形成するものであり、 当該密着性が確保できる場合には形成しなくてもよい。 また、 密着層を設ける場 合、 好ましくは、 10 nm以上の厚みとする。
下部電極 42 dは、 ここでは少なくとも I rを含む層、 例えば最下層から I r を含む層/ P tを含む層 /I rを含む層の層構造となっている。 下部電極 42 d の全体の厚みは、 例えば 200 nmとする。
下部電極 42 dの層構造はこれに限らず、 I rを含む層 ZP tを含む層、 また は P tを含む層 I rを含む層なる 2層構造でもよい。 また、 I rを含む層のみ で構成しても良い。
圧電体薄膜 43は圧電性セラミッタスの結晶で構成された強誘電体であり、 好 ましくは、 チタン酸ジルコン酸鉛 (PZT) 等の強誘電性圧電性材料や、 これに 酸化ニオブ、 酸化工ッケルまたは酸化マグネシゥム等の金属酸化物を添加したも のからなる。 圧電体薄膜 43の組成は圧電体素子の特性、 用途等を考慮して適宜 選択する。 具体的には、 チタン酸鉛 (P b T i 03) 、 チタン酸ジルコン酸鉛
(P b (Z r , T i ) Ο3) 、 ジルコニウム酸鉛 (Pb Z r O3) 、 チタン酸鉛 ランタン ( (Pb, La) , T i〇3) 、 ジルコン酸チタン酸鉛ランタン ( (P b, L a) (Z r, T i) 03) 又は、 マグネシウムニオブ酸ジルコニウムチタ ン酸鉛 (P b (Z r, T i) (Mg, Nb) 03) 等が好適に用いられる。 また、 チタン酸鉛やジルコニウム酸鉛にニオブ (Nb) を適宜添加することにより、 圧 電特性に優れた膜を得ることができる。
圧電体薄膜 43の厚みは、 製造工程でクラックが発生しない程度に抑え、 一方、 十分な変位特性を呈する程度に厚くする必要があり、 例えば 1000 nm以上 1 500 nm以下とする。
上部電極 44は、 下部電極 42 dと対になる電極であり、 好適には、 P tまた は I rにより構成される。 上部電極 44の厚みは、 好適には 50 nm程度である。 下部電極 42 dは各圧電体素子に共通な電極となっている。 これに対して内側 金属層 42 aや外側金属層 42 bは、 下部電極 42 dと同じ高さの層に位置する が、 下部電極 4 2 dとは分離されている。 その間隔は、 2 0 0 // in以下、 好まし くは 1 0 0 μ ιη以下、 より好ましくは 5 0 μ πι以下が望ましい。 間隔の下限は、 電気的に非導通となる程度ならばよく、 例えば 5 ^u m以上が望ましい。 内側金属 層 4 2 aの上には、 個々の圧電体素子 4 0の圧電体薄膜 4 3が延びており、 その 上に、 上部電極 4 4に導通可能な配線用の細帯電極 4 5が形成されている。 従つ て、 この第 1実施形態では、 圧電体薄膜 4 3により、 細帯電極 4 5が内側金属層 4 2 aと絶縁されている。 なお、 内側金属層 4 2 aは下部電極 4 2 dと同一の材 料で形成することが望ましい。 同一の材料で形成しない場合でも、 赤外線の吸収 率が下部電極 4 2 dの材料と近似していることが望ましい。
外側金属層 4 2 bも、 下部電極 4 2 dと同じ高さの層に位置するが、 下部電極 4 2 dや内側金属層 4 2 aとは分離されている。 その間隔は、 2 0 0 /z m以下、 好ましくは 1 0 0 ΠΙ以下、 より好ましくは 5 0 m以下が望ましい。 間隔の下 限は、 電気的に非導通となる程度ならばよく、 例えば 5 m以上が望ましい。 外 側金属層 4 2 bは、 細帯電極 4 5や上部電極 4 4からも分離されている。 また、 外側金属層 4 2 b上の一部には、 圧電体薄膜 4 3が形成されているが、 上部電極 4 4と外側金属層 4 2 bは非接触となっている。 なお、 外側金属層 4 2 bも、 下 部電極 4 2 dと同一の材料で形成することが望ましい。 同一の材料で形成しない 場合でも、 赤外線の吸収率が下部電極 4 2 dの材料と近似していることが望まし い。
また、 液体を圧力室 2 1に供給するためのリザーバ 2 3は、 圧電体素子 4 0よ り、 外側金属層 4 2 b側の位置に設けられる。
< 3 - 2 . 第 2実施形態 >
図 5は、 第 2実施形態のィンクジヱット式記録へッドにおける圧電体素子の配 置の詳細を示す平面図である。 第 1実施形態と同様の機能を有する部分には同一 の符号を付している。 第 2実施形態では、 第 1実施形態と異なり、 第 2の金属層 である内側金属層 4 2 cは、 各圧電体素子 4 0に対応するセグメントに分割され ている。 各々の内側金属層 4 2 cの真上に細帯電極 4 5が形成されているため、 図 5の平面図では内側金属層 4 2 cは見えないようになつている。 図 6は、 図 5の囲み線 iii部分を拡大した平面図 (a ) 、 その i一 i線断面図 ( b ) 及ぴ ii— i i線断面図 (c ) である。 図 6 ( b ) に示されるように、 圧電体 薄膜 4 3は内側金属層 4 2 cを完全には覆っていない。 そして、 上部電極 4 4と 導通している配線用の細帯電極 4 5が、 内側金属層 4 2 cと導通可能になってい る。 内側金属層 4 2 cは下部電極 4 2 dとは導通しておらず、 隣の内側電極層 4 2 c (セグメント) とも導通していないため、 細帯電極 4 5と導通していても電 気的に問題はない。
< 4 . インクジェット式記録へッドの動作〉
上記ィンクジェット式記録へッド 1の構成において、 印刷動作を説明する。 制 御回路 8から駆動信号が出力されると、 給紙機構 6が動作し用紙 5がへッド 1に よつて印刷可能な位置まで搬送される。 制御回路 8から吐出信号が供給されず圧 電体素子の下部電極 4 2 dと上部電極 4 4との間に駆動電圧が印加されていない 場合、 圧電体膜 4 3には変形を生じない。 吐出信号が供給されていない圧電体素 子力 S設けられている圧力室 2 1には、 圧力変化が生じず、 そのノズル 1 1からィ ンク滴は吐出されない。
一方、 制御回路 8から吐出信号が供給され圧電体素子の下部電極 4 2 dと上部 電極 4 4との間に一定の駆動電圧が印加された場合、 圧電体膜 4 3に変形を生じ る。 吐出信号が供給された圧電体素子が設けられている圧力室 2 1ではその振動 板 3 0が大きくたわむ。 このため圧力室 2 1内の圧力が瞬間的に高まり、 ノズル 1 1からインク滴が吐出される。 ヘッド中で画像データに対応した位置の圧電体 素子に吐出信号を個別に供給することで、 任意の文字や図形を印刷させることが できる。
< 5 . 製造方法 >
次に、 本発明の圧電体素子の製造方法を説明する。 図 7及び図 8は、 上記圧電 体素子及ぴィンクジヱット式記録へッドの製造方法を示す断面模式図である。 図 7及び図 8では、 上記図 3及び図 4で説明した第 1実施形態のィンクジェット式 記録ヘッドの構成に沿って説明するが、 これと同様の手順で、 図 5及ぴ図 6で説 明した第 2実施形態のィンクジェット式記録へッドも製造することができる。 酸化膜形成工程 (S 1 )
この工程は、 圧力室基板 2 0となるシリコン基板を酸素或いは水蒸気を含む酸 化性雰囲気中で高温処理し、 酸化珪素 (S i 0 2) からなる酸化膜 3 1を形成す る工程である。 この工程には通常用いる熱酸化法の他、 C V D法を使用すること もできる。
Z r 0 2膜を形成する工程 (S 2 )
圧力室基板 2 0の一面上に形成された酸化膜 3 1の上に、 Z r〇2膜 3 2を形 成する工程である。 この∑ 0 2膜3 2は、 スパッタ法または真空蒸着法等によ り Z rの層を形成したものを酸素雰囲気中で高温処理して得られる。
導電膜を形成する工程 (S 3 )
Z r 0 2膜 3 2上に、 I rを含む下部電極となる導電膜 4 2を形成する。 例え ば、 まず I rを含む層を形成し、 次いで P tを含む層を形成し、 更に I rを含む 層を形成する。
導電膜 4 2を構成する各層は、 それぞれ I rまたは P tを Z r O 2膜 3 2上に、 スパッタ法等で付着させて形成する。 なお、 導電膜 4 2の形成に先立ち、 チタン 又はクロムからなる密着層 (図示せず) をスパッタ法又は真空蒸着法により形成 しても良い。
導電膜形成後のパターニング工程 (S 4 )
導電膜形成後、 これを内側金属層 4 2 a及ぴ外側金属層 4 2 bと、 下部電極 4 2 dとに分離するため、 まず導電膜 4 2を所望の形状にマスクし、 その周辺をェ ツチングすることでパターユングを行う。 具体的には、 まずスピンナ一法、 スプ レー法等により均一な厚みのレジスト材料を導電膜 4 2上に塗布し (図示せず) 、 次いで、 マスクを圧電体素子の形状に形成してから露光 '現像して、 レジストパ ターンを導電膜上に形成する (図示せず) 。 これに通常用いるイオンミリング又 はドライエッチング法等により導電膜の一部をエッチング除去し Z r 0 2膜 3 2 を露出させ、 内側金属層 4 2 a、 外側金属層 4 2 b、 下部電極 4 2 dを形成する。 更に、 前記パターニング工程において下部電極表面に付着した汚染物質や酸ィ匕 部分等を除去するため、 逆スパッタリングによるクリーニングを行う (図示せ 4
11
ず) 。
T i核 (層) を形成する工程
この工程は、 スパッタ法等により、 下部電極 4 2 d上に T i核 (層) (図示せ ず) を形成する工程である。 T i核 (層) を形成するのは、 T i結晶を核として P Z Tを成長させることにより、 結晶成長が下部電極側から起こり、 緻密で柱状 の結晶が得られるからである。
また、 前記 T i核 (層) の平均厚みは 3〜 7 n m、 好ましくは 4〜 6 n mであ る。
圧電体前駆体膜を形成する工程 (S 5 )
この工程は、 ゾルゲル法により、 圧電体前駆体膜 4 3 ' を形成する工程である。 まず、 有機金属アルコキシド溶液からなるゾルをスピンコート等の塗布法によ り T i核上に塗布する。 次いで、 一定温度で一定時間乾燥させ、 溶媒を蒸発させ る。 乾燥後、 さらに大気雰囲気下において所定の高温で一定時間脱脂し、 金属に 配位している有機の配位子を熱分解させ、 金属酸化物とする。 この塗布、 乾燥、 脱脂の各工程を所定回数、 例えば 2回繰り返して 2層からなる圧電体前駆体膜を 積層する。 これらの乾燥と脱脂処理により、 溶液中の金属アルコキシドと酢酸塩 とは配位子の熱分解を経て金属、 酸素、 金属のネットワークを形成する。
なお、 この工程はゾルゲル法に限らず、 MO D (Metal Organic Deposition) 法でもよい。
焼成工程 ( S 6 )
圧電体前駆体膜 4 3 ' の形成後、 焼成して圧電体薄膜を結晶化させる工程であ る。 この焼成により、 圧電体薄膜 4 3 ' は、 アモルファス状態から菱面体結晶構 造をとるようになり、 電気機械変換作用を示す薄膜へと変化し、 圧電体薄膜 4 3 となる。
ここで、 Z r 0 2膜 3 2は下部電極 4 2 dに比べて近赤外線の吸収率が低いた め、 下部電極 4 2 dが形成されていない領域では焼成時の温度上昇が鈍くなる。 しかし本実施形態では、 図 3及び図 5のように、 圧電体膜の形成領域が、 下部電 極 4 2 d、 内側金属層 4 2 a及び外側金属層 4 2 bによって囲まれているため、 下部電極 4 2 dが形成されていない領域でも十分な温度上昇を確保することがで きる。 この結果、 圧電体薄膜の焼成条件が均一となる。 そして、 圧電体薄膜のう ち特に下部電極 4 2 dの端部付近における結晶性が向上し、 耐電圧性、 耐久性が 向上する。 また、 ウェハ全体における焼成条件も均一化できるため、 圧電体素子 間の圧電特性も均一化することができる。
以上のような前駆体膜の形成 (S 5 ) とその焼成 (S 6 ) とを複数回繰り返す ことにより、 圧電体薄膜 4 3を所望の膜厚とすることができる。 例えば 1回の焼 成につき塗布する前駆体膜の膜厚を 2 0◦ n mとし、 これを 6回繰り返す。 上部電極形成工程 ( S 7 )
圧電体薄膜 4 3上に、 電子ビーム蒸着法またはスパッタ法により上部電極 4 4 を形成する。
圧電体薄膜及び上部電極パターユング工程 ( S 8 )
圧電体薄膜 4 3及び上部電極 4 4を、 圧電体素子の所定形状にパターユングす る工程である。 具体的には、 上部電極 4 4上にレジストをスピンコートした後、 圧力室が形成されるべき位置に合わせて露光 ·現像してパターエングする。 残つ たレジストをマスクとして上部電極 4 4、 圧電体薄膜 4 3をイオンミリング等で エッチングする。 以上の工程で、 圧電体素子 4 0が形成される。
細帯電極形成工程 (S 9 )
次に、 上部電極 4 4と導通する細帯電極 4 5を形成する。 細帯電極 4 5の材質 は剛性が低く、 電気抵抗が低い金が好ましい。 他に、 アルミニウム、 銅なども好 適である。 細帯電極 4 5は約 0 . 5 μ πιの膜厚で成膜し、 その後各上部電極と導 通を取り、 配線を引き出せるようにパターニングする。
圧力室形成工程 ( S 1 0 )
次に、 圧電体素子 4 0が形成された圧力室基板 2 0の他方の面に、 異方 1"生ェッ チングまたは平行平板型反応性ィオンェツチング等の活性気体を用いた異方性ェ ツチングを施し、 圧力室 2 1、 リザーバ 2 3、 供給口 2 4を形成する。 エツチン グされずに残された部分が側壁 2 2になる。 なお、 リザーパ 2 3は、 外側金属層 4 2 bの対向する位置に、 外側金属層 4 2 bより一回り小さな形状に形成され、 レーザ等により貫通口が形成される。
ノズル板貼り合わせ工程 ( S 1 1 )
最後に、 ェツチング後の圧力室基板 2 0にノズル板 1 0を接着剤で貼り合わせ る。 貼り合わせのときに各ノズル 1 1が圧力室 2 1各々の空間に配置されるよう 位置合わせする。 ノズル板 1 0が貼り合わせられた圧力室基板 2 0を図示しない 筐体に取り付け、 インクジヱット式記録へッド 1を完成させる。
く 6 . 製造方法の変形例 >
図 9は、 上記製造方法の変形例を示す断面模式図であり、 図 7に対応する工程 を示している。 S 1〜S 3の工程は図 7と同一であり、 S 6 cより後の工程は図 8と同一であるため、 その説明を省略する。 この例では、 S 3において導電膜 4 2を形成した後、 パターユングの前に圧電体薄膜の第 1層 4 3 aを形成し (S 6 a ) 、 その後圧電体薄膜の第 1層 4 3 a及び導電膜 4 2をまとめてパターユング する (S 6 b ) 。
圧電体薄膜の第 1層形成工程 ( S 6 a )
S 3において導電膜 4 2を形成した後、 導電膜 4 2上に圧電体薄膜の第 1層 4
3 aを形成する。 形成方法は例えば T i核 (層) を 3〜 7 n m、 好ましくは 4〜 6 n mの厚さに形成後、 上記図 7の S 5及ぴ S 6で説明したと同様に、 ゾルの塗 布、 乾燥、 脱脂の工程を 2回繰り返し、 これを焼成し、 圧電体薄膜の第 1層 4 3 aを約 2 0 0 n mに形成する。
パターニング工程 (S 6 b )
次に、 上記圧電体薄膜の第 1層 4 3 a及び導電膜 4 2を、 図 7の S 4と同様の 形状にパターニングする。 導電膜 4 2は下部電極 4 2 d、 内側金属層 4 2 a、 外 側金属層 4 2 bに分離される。 圧電体薄膜の第 1層 4 3 a及び導電膜 4 2が除去 された部分は Z r 0 2膜 3 2が露出する。
圧電体薄膜の第 2層以降形成工程 ( S 6 c )
次に、 上記圧電体薄膜の第 1層 4 3 a上及び上記露出した Z r 0 2膜 3 2上に T i核 (層) を例えば 1 n m以上 4 n m以下に形成後、 圧電体薄膜の第 2層以降 を、 上記第 1層と同様の方法で形成する。 そして、 所定の厚みになるまで塗布、 乾燥、 脱脂の工程及び焼成の工程を繰り返す。 その結果、 下部電極 4 2 d上には、 上記露出した Z r 0 2膜 3 2上よりも層の数が多い圧電体薄膜 4 3が形成される。 例えば、 下部電極 4 2 d上には 6'層、 上記露出した Z r O 2膜 3 2上には 5層の . 圧電体薄膜 4 3が形成される。
その後の上部電極形成等の工程は、 図 8の S 7以降と同様である。
圧電体膜の焼成時には、 下部電極となる導電層の組成変化 (酸化及ぴ圧電体膜 からの拡散) やそれに伴う膜厚増加が生じることがあり、 特に圧電体膜の第 1層 の焼成時にそのようなことが起こりやすい。 導電層のパターユング後に圧電体膜 の第 1層を焼成すると、 パターエング境界付近で導電層の膜厚の不均衡が生じ、 圧電体膜の結晶性の低下や場合によってはクラックが発生する可能性もあるが、 図 9の変形例によれば、 これを防止することができる。 すなわち、 導電層 4 2を パターニングする前に圧電体薄膜の第 1層 4 3 aを成膜するので、 圧電体薄膜の 第 1層 4 3 aの焼成時における導電層の組成及び膜厚の変化が、 膜面方向に均一 に起こる。 このため、 圧電体薄膜の安定した結晶性が確保され、 圧電体薄膜にク ラックが発生することを防止できる。
圧電体薄膜の第 1層 4 3 aの焼成時に導電層の組成及び膜厚の変化が起こって いるので、 圧電体薄膜の第 2層以降の焼成においては、 下部電極 4 2 dの組成及 ぴ膜厚変化は小さい。 従って、 圧電体薄膜の第 1層と同様の良好な結晶性を得る ことができる。 特に、 下部電極となる導電層パターユング後においても、 圧電体 薄膜の形成領域が、 下部電極 4 2 d、 内側金属層 4 2 a及ぴ外側金属層 4 2 bに よって囲まれているため、 圧電体薄膜の焼成条件が均一となる。 そのため、 図 7 の S 6で説明したように圧電体薄膜のうち特に下部電極 4 2 dのパターニング境 界付近における結晶性が更に向上するので、 耐電圧性、 耐久性が更に向上する。
< 7 . 試験結果 >
図 3及ぴ図 4で説明した第 1実施形態のィンクジ工ット式記録へッドを、 図 9 及び図 8で説明した変形例の方法で製造したもの (但し圧電体薄膜は膜厚 1 . 1 mの P Z T、 下部電極 4 2 dと内側金属層 4 2 a及ぴ外側金属層 4 2 bとの間 隔は 5 0 m) と、 従来の方法により製造したもの (但し圧電体薄膜は膜厚 1 . 1 μ mの P Z T、 下部電極 4 2 dと内側金属層 4 2 a及ぴ外側金属層 4 2 bとの 間隔は 5 0 0 μ πι) にっき、 耐電圧性おょぴ耐久性を調べた。
耐電圧性については、 従来のものでは 4 0〜5 0 Vでクラックが発生し絶縁破 壊が生じた (クラック発生箇所のほとんどは下部電極端部付近であった) のに対 し、 上記実施形態のものでは 9 0〜1 1 0 Vの耐電圧性を示した (クラック発生 箇所は特定の部分に集中することなく、 ランダムであった) 。
耐久性については、 3 5 Vの駆動電圧で調べた。 従来のものでは 1 0億パルス 程度で特性が悪ィヒしたのに対し、 上記実施形態のものでは 4 0 0億パルス以上の 駆動に耐えることができた。 このように、 上記実施形態によるインクジェット式 記録へッドが飛躍的な性能向上を示すことが確認された。
< 8 . その他の応用例 >
本発明は、 上記実施形態によらず種々に変形して適応することが可能である。 例えば、 本発明で製造した圧電体素子は、 上記インクジェット式記録ヘッドの圧 電体素子のみならず、 不揮発性半導体記憶装置、 薄膜コンデンサ、 パイ口電気検 出器、 センサ、 表面弾性波光学導波管、 光学記憶装置、 空間光変調器、 ダイォー ドレーザ用周波数二倍器等のような強誘電体装置、 誘電体装置、 パイ口電気装置、 圧電装置、 および電気光学装置の製造に適応することができる。
また、 本発明の液体吐出ヘッドは、 インクジヱット記録装置に用いられるイン クを吐出するへッド以外にも、 液晶ディスプレイ等のためのカラーフィルタの製 造に用いられる色材を含む液体を吐出するヘッド、 有機 E Lディスプレイや F E D '(面発光ディスプレイ) 等の電極形成に用いられる電極材料を含む液体を吐出 するへッド、 バイオチップ製造に用いられる生体有機物を含む液体を吐出するへ ッド等、 種々の液体を噴射するへッドに適用することが可能である。

Claims

請求の範囲 ·
1 . 振動板と、 前記振動板上に所定パターンに形成された下部電極と、 前記下部 電極上に形成された圧電体膜と、 前記圧電体膜上に形成された上部電極と、 を備 えた圧電体素子であって、
前記圧電体膜の近傍に、 前記振動板上に形成された金属層であって前記下部電 極と電気的に切断された金属層を備えた、 圧電体素子。
2 . 請求項 1において、
前記金属層は、 前記下部電極と同一の材料で形成されている、 圧電体素子。
3 . 請求項 1又は請求項 2において、
前記下部電極と、 これと電気的に切断された前記金属層との間隔は、 2 0 m以下である、 圧電体素子。
4 . 請求項 1乃至請求項 3の何れか一項において、
前記圧電体膜は、 前記金属層の少なくとも一部を覆うように形成され、 前記上 部電極から延びる配線用の電極が、 前記金属層のうち前記圧電体膜に覆われた部 分の上に形成され、 当該圧電体膜によって前記金属層と絶縁されている、 圧電体 素子。
5 . '請求項 1乃至請求項 3の何れか一項において、
前記圧電体膜の近傍に、 前記振動板上に形成された金属層であって前記下部電 極と電気的に切断され、 前記上部電極から延びる配線用の電極と導通する第 2の 金属層を更に備えた、 圧電体素子。
6 . 請求項 1乃至請求項 5の何れか一項において、
前記圧電体膜は、 前記所定パターンに形成された下部電極上及ぴ下部電極が存 在しない前記振動板上に形成され、
前記圧電体膜のうち前記下部電極上に形成された部分は、 前記振動板上に形成 された部分より前記圧電体膜の層の数が多い、 圧電体素子。
7 . 請求項 1乃至請求項 6の何れか一項に記載の圧電体素子と、 当該圧電体素子 の機械的変位によつて内容積が変化する圧力室と、 当該圧力室に連通して液滴を 吐出する吐出口とを備える、 液体吐出へッド。
8 . 請求項 7に記載の液体吐出へッドと、 当該液体吐出へッド^駆動する駆動装 置と、 を備えた液体吐出装置。
9 . 振動板上に、 下部電極と、 前記下部電極近傍の金属層と、 を所定パターンに 形成する工程と、
前記下部電極上に圧電体膜を形成する工程と、
前記圧電体膜上に上部電極を形成する工程と、 を備え、
前記金属層は、 前記下部電極と電気的に切断されるように形成する、 圧電体素 子の製造方法。
1 0 . 振動板上に導電膜を成膜する工程と、
前記導電膜上に圧電体膜を成膜する圧電体成膜第 1工程と、
前記圧電体成膜第 1工程で成膜された圧電体膜及び前記導電膜をパターユング することにより、 前記導電膜を、 下部電極と、 当該下部電極から電気的に切断さ れ前記下部電極近傍に位置する金属層と、 に分離する工程と、
前記パターニングにより残された圧電体膜上およぴ圧電体膜が除去された前記 振動板上に、 更に圧電体膜を成膜する圧電体成膜第 2工程と、
前記圧電体膜上に上部電極を形成する工程と、 を備えた、 圧電体素子の製造方 法。
1 1 . 請求項 9又は請求項 1 0に記載の方法により圧電体素子を形成する工程と、 前記圧電体素子の機械的変位によって内容積が変化する圧力室を形成する工程 と、
当該圧力室に連通して液滴を吐出する吐出口を形成する工程と、 を備える、 液 体吐出へッドの製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100528350B1 (ko) * 2004-02-27 2005-11-15 삼성전자주식회사 잉크젯 프린트헤드의 압전 액츄에이터 및 그 형성 방법
US7591542B2 (en) * 2004-06-03 2009-09-22 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Piezoelectric actuator, method for producing the same and ink-jet head
JP4640649B2 (ja) * 2006-03-17 2011-03-02 セイコーエプソン株式会社 液滴吐出ヘッド、画像形成装置、および成膜装置
JP2007281031A (ja) * 2006-04-03 2007-10-25 Seiko Epson Corp アクチュエータ装置及び液体噴射ヘッド並びに液体噴射装置
JP4492821B2 (ja) * 2007-03-13 2010-06-30 セイコーエプソン株式会社 圧電素子
JP5052455B2 (ja) * 2008-08-13 2012-10-17 富士フイルム株式会社 成膜装置、成膜方法、圧電膜、および、液体吐出装置
JP5526559B2 (ja) * 2009-02-25 2014-06-18 セイコーエプソン株式会社 液体噴射ヘッドの製造方法、圧電素子の製造方法、及び圧電素子
JP2011049413A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Fujifilm Corp 圧電デバイス
US8118410B2 (en) * 2009-08-31 2012-02-21 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Piezoelectric printhead and related methods
US20110228730A1 (en) * 2009-10-30 2011-09-22 Qualcomm Incorporated Scheduling simultaneous transmissions in wireless network
US8388116B2 (en) * 2009-10-30 2013-03-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Printhead unit
WO2012036103A1 (en) * 2010-09-15 2012-03-22 Ricoh Company, Ltd. Electromechanical transducing device and manufacturing method thereof, and liquid droplet discharging head and liquid droplet discharging apparatus
CN103072378B (zh) * 2011-10-25 2015-07-01 珠海赛纳打印科技股份有限公司 一种液体喷头及其制造方法
US8727508B2 (en) * 2011-11-10 2014-05-20 Xerox Corporation Bonded silicon structure for high density print head
DE102014117510A1 (de) 2014-11-28 2016-06-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement
CN109514998B (zh) * 2017-09-19 2020-09-15 精工爱普生株式会社 液体喷出头、液体喷出装置以及压电器件
CN111703205B (zh) * 2019-03-18 2022-06-14 大连瑞林数字印刷技术有限公司 一种压电喷墨打印喷头的驱动元件结构

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1093045A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Toshiba Corp キャパシタ及びその製造方法
EP0963846A2 (en) * 1998-06-08 1999-12-15 Seiko Epson Corporation Ink jet recording head and ink jet recording apparatus
JP2000198197A (ja) 1998-07-29 2000-07-18 Seiko Epson Corp インクジェット式記録ヘッド及びインクジェット式記録装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3543933B2 (ja) 1999-01-26 2004-07-21 セイコーエプソン株式会社 インクジェット式記録ヘッド及びインクジェット式記録装置
JP3102481B1 (ja) 1998-06-08 2000-10-23 セイコーエプソン株式会社 インクジェット式記録ヘッド及びインクジェット式記録装置
US6502928B1 (en) 1998-07-29 2003-01-07 Seiko Epson Corporation Ink jet recording head and ink jet recording apparatus comprising the same
US6705708B2 (en) * 2001-02-09 2004-03-16 Seiko Espon Corporation Piezoelectric thin-film element, ink-jet head using the same, and method for manufacture thereof

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1093045A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Toshiba Corp キャパシタ及びその製造方法
EP0963846A2 (en) * 1998-06-08 1999-12-15 Seiko Epson Corporation Ink jet recording head and ink jet recording apparatus
JP2000198197A (ja) 1998-07-29 2000-07-18 Seiko Epson Corp インクジェット式記録ヘッド及びインクジェット式記録装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
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