WO2003105160A1 - 導電性ペースト、これを用いた多層基板及びその製造方法 - Google Patents

導電性ペースト、これを用いた多層基板及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2003105160A1
WO2003105160A1 PCT/JP2003/006621 JP0306621W WO03105160A1 WO 2003105160 A1 WO2003105160 A1 WO 2003105160A1 JP 0306621 W JP0306621 W JP 0306621W WO 03105160 A1 WO03105160 A1 WO 03105160A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
conductive paste
curing agent
resin
conductive
component
Prior art date
Application number
PCT/JP2003/006621
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
梅田 裕明
久敏 村上
岩井 靖
Original Assignee
タツタ電線株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by タツタ電線株式会社 filed Critical タツタ電線株式会社
Priority to AU2003234852A priority Critical patent/AU2003234852A1/en
Priority to KR1020047018656A priority patent/KR100757163B1/ko
Priority to JP2004512145A priority patent/JP4191678B2/ja
Priority to US10/516,236 priority patent/US7214419B2/en
Publication of WO2003105160A1 publication Critical patent/WO2003105160A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • H05K1/095Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks for polymer thick films, i.e. having a permanent organic polymeric binder
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4038Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
    • H05K3/4053Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
    • H05K3/4069Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in organic insulating substrates
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24917Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including metal layer

Definitions

  • the present invention relates to a conductive paste, a multilayer substrate using the same, and a method of manufacturing the same.
  • the present invention relates to a conductive paste, and more specifically, is used for applications such as filling holes in a substrate, forming a conductive adhesive, forming an electrode, mounting components, shielding an electromagnetic wave, and forming a conductive bump. It relates to a conductive paste.
  • the present invention also relates to a multilayer substrate using the conductive paste and a method for manufacturing the same. Background art
  • a conductive filler is added to a thermosetting resin, and in such a paste, the conductive fillers are connected to each other. Are electrically in contact with each other.
  • FIG. 3 is a schematic enlarged cross-sectional view showing an example of such a multilayer substrate.
  • Reference numeral 31 denotes a conductive layer made of copper foil or the like
  • reference numeral 31 m denotes an inner layer of the conductive layer
  • reference numeral 3 denotes an inner layer.
  • 2 indicates an insulating layer made of resin or the like.
  • a through-hole penetrating the multilayer substrate is provided, a through-hole plate 33 is provided, a hole filling base 34 is filled, and an extra amount is provided after curing.
  • the hole filling paste 34 was removed by polishing, and a cover plate 35 was provided (for example, FIG. 3 of Japanese Patent Publication No. Hei 4-1 949, FIG. 3, published by the Technical Information Association of Japan). , "Material technology and manufacturing process for build-up wiring boards", page 60).
  • the copper foil on the substrate surface was thickened by the two plating processes of the through-hole plating and the lid plating, and the precision of pattern formation could not be improved.
  • a multilayer substrate formed by a process as shown in FIG. 4 is also used.
  • reference numeral 41 denotes a conductive layer
  • reference numeral 42 denotes an insulating layer
  • reference numeral 43 denotes a conductive paste.
  • this multilayer substrate first, holes are formed for each layer, and the conductive paste 43 is filled. Then, the layers are laminated so that the filled holes are arranged in a straight line, and integrated by pressing. It can be obtained by making it into a stack.
  • the press process since it is necessary to form holes and fill the base for each layer as described above, there is a problem that the number of steps is large and the cost is high.
  • the press process since the press process is involved, there is a problem that the conductivity varies due to the variation of the press pressure, and there is a problem that the component cannot be used on a multilayer substrate in which the components are embedded in a substrate. I was
  • the present invention has been made in view of the above, and provides a conductive paste having excellent conductivity and adhesion to a substrate, and having improved reliability of bonding with a conductive layer end face in a through hole of a multilayer substrate. It is intended to provide. Accordingly, the object of the present invention is to provide a multilayer substrate that enables the omission of the formation of a through-hole jack and a lid jack as in the prior art, and enables high-precision pattern formation. I do. It is another object of the present invention to provide a method for manufacturing a multi-layer substrate, in which a manufacturing process is greatly simplified as compared with the conventional case and cost can be reduced. Disclosure of the invention
  • the conductive paste of the present invention comprises (A) 100 parts by weight of a resin component containing an acrylic resin and an epoxy resin, and (B) a melting point of 180 °. Metal powder composed of two or more metals including at least one low-melting metal below C and at least one high-melting metal above 800 ° C. , (C) F: a hardening agent containing 0.3 to 35 parts by weight, 0.5 to 40 parts by weight, and (D) a flux of 0.3 to 80 parts by weight. It shall be.
  • an acrylate resin, a melamine resin, and a xylene resin which are composed of an acrylate resin and an epoxy resin, or the acrylate resin and the epoxy resin.
  • One or more resins selected from the group consisting of resins may be used in a proportion of less than 40% by weight based on the total amount of the component (A).
  • indium alone or an alloy of two or more selected from the group consisting of tin, lead, bismuth and indium can be used.
  • one or more alloys selected from the group consisting of gold, silver, copper, and nickel can be used.
  • the component (C) is selected from the group consisting of a phenol-based curing agent, an imidazole-based curing agent, a cationic-based curing agent, a phenol-based curing agent, and a radical-based curing agent. One or two or more of these can be used.
  • the multilayer substrate of the present invention is a multilayer substrate in which a plurality of conductive layers and insulating layers are alternately laminated, wherein a through-hole penetrating the multilayer substrate is formed.
  • the conductive paste of the present invention is filled and heated, so that the metal powder contained in the conductive paste is melted.
  • the method for manufacturing a multilayer substrate according to the present invention is a method for manufacturing a multilayer substrate in which a plurality of conductive layers and insulating layers are alternately laminated, wherein a through hole penetrating the multilayer substrate is formed, The hole is filled with the above-mentioned conductive paste of the present invention, and the conductive paste is cured by heating.
  • FIG. 1 is a schematic enlarged sectional view showing an example of a multilayer substrate according to the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic enlarged cross-sectional view showing an example of a composite type multilayer substrate.
  • FIG. 3 is a schematic enlarged sectional view showing an example of a conventional multilayer substrate.
  • FIG. 4 is a schematic enlarged cross-sectional view showing a method of manufacturing a multilayer substrate by stacking.
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing metallization of low-melting metal particles and high-melting metal particles.
  • the conductive paste of the present invention comprises: (A) 100 parts by weight of a resin component containing an acrylic resin and an epoxy resin (hereinafter simply referred to as “parts”); Metal powder consisting of two or more metals including metals and refractory metals 2000 to 180 parts, (C) phenolic hardener 0.3 to 35 parts Hardener containing 0.5 to 0.5 To 40 parts and (D) 0.3 to 80 parts of the flux as an essential component.
  • Parts a resin component containing an acrylic resin and an epoxy resin
  • Parts Metal powder consisting of two or more metals including metals and refractory metals 2000 to 180 parts
  • C phenolic hardener 0.3 to 35 parts Hardener containing 0.5 to 0.5 To 40 parts
  • D 0.3 to 80 parts of the flux as an essential component.
  • metallization means that two or more metals are melted and integrated.
  • Fig. 5 (A) low melting point metal particles 51 and high melting point
  • the surface layers of the low-melting metal particles 51 and the high-melting metal particles 52 are melted as shown in FIG.
  • an alloy layer 53 is formed.
  • This alloy layer 53 has a higher melting point than the original low melting point metal. Note that this diagram is a schematic diagram merely showing the concept of metallization, and does not show the actual shape and size of the particles.
  • the conductive base of the present invention and a multilayer substrate using the same will be described in detail, but the present invention is not limited thereto.
  • the conductive paste after curing may be referred to as a “conductive base” for convenience.
  • the resin component containing (A) the acrylic resin and the epoxy resin in the conductive paste of the present invention may be composed of only the acrylic resin and the epoxy resin, or
  • the resin may be a resin obtained by blending at least one of a melamine resin, a melamine resin and a xylene resin with an acrylate resin and an epoxy resin.
  • the acrylic resin used in the present invention may be any resin having one or two or more reactive groups represented by the following structural formula I in the molecule. Can also.
  • CH 2 C one C one 0- (I)
  • R formula (I) R represents H or an alkyl group, the carbon number of the alkyl group is not limited especially, usually a three 1.
  • acrylate resins include isoamyl acrylate, neopentyl glycol diacrylate, and trimethylol propyl nitrate.
  • Relate dimethylol pronone tractyl acrylate, phenylglycidyl terephthalate, hexamethylenediisocyanate urethane prepolymer, bisphenol A diglycidyl ether acrylate Additives, ethylene glycol dimethyl Acrylate and diethylene glycol dimethacrylate.
  • the epoxy resin only needs to have one or more epoxy groups in the molecule, and two or more epoxy resins can be used in combination. Specific examples include bisphenol A epoxy resin, brominated epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, novolac epoxy resin, alicyclic epoxy resin, and glycidylamine epoxy resin. Glycidyl ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, etc.
  • the alkyd resin, the melamine resin, and the xylene resin are each used as a resin modifying agent, and are not particularly limited as long as the object can be achieved.
  • the compounding ratio is as follows:
  • the proportion of the acrylate resin and the epoxy resin is at least 60% by weight, preferably at least 90% by weight. That is, the proportion of other resin blended as a modifier is less than 40% by weight, preferably less than 10% by weight.
  • the mixing ratio (% by weight) of the acrylate resin and the epoxy resin is 5:95 to 95: 5, preferably 20:80 to 80:20. If the amount of the acrylic resin is less than 5% by weight, the change in viscosity becomes large, and if it exceeds 95% by weight, the physical properties after curing become poor.
  • the metal powder of the present invention has a low melting point of 180 ° C. or less.
  • Two or more metals, including one or more metals and one or more high-melting metals with a melting point of 800 ° C or more, are contained in some form, and heating causes metallization. I just need.
  • the form in which the two or more metals are present is not limited.For example, a mixture of a certain metal powder with a metal powder of another metal, or a certain metal powder with another metal They may be coated or a mixture of these.
  • the low melting point metal and the high melting point metal a single metal or an alloy of two or more metals can be used.
  • Preferred examples of the low melting point metal include indium (melting point: 156 ° C) alone, tin (melting point: 231.C), lead (melting point: 327 ° C), and bismuth ( Melting point: 271 ° C) or an alloy of two or more of the above alloys with a melting point of 180 ° C or less.
  • Preferred examples of the high melting point metal include gold (melting point: 106 ° C), silver (melting point: 961 ° C), copper (melting point: 1083 ° C), or One or more alloys of nickel (melting point: 1455 ° C) o
  • the shape of the metal powder is not limited, but conventionally used ones such as dendrites, spheres, and flakes can be used.
  • the particle size is not limited, it is usually about 1 to 50 / m in average particle size.
  • the mixing amount of the metal powder is 200 to 180 parts with respect to 100 parts of the resin component (A). If the amount is less than 200 parts, good conductivity cannot be obtained. On the other hand, when the content exceeds 1800 parts, the viscosity of the paste becomes too high, and the paste cannot be practically used.
  • the mixing ratio (weight ratio, hereinafter the same) of the above-mentioned low-melting metal powder and high-melting metal powder is preferably in the range of 8: 2 to 2: 8.
  • the curing agent contains a phenolic curing agent as an essential component.
  • Other curing agents are mainly selected according to the type of component (A) However, examples thereof include imidazole-based curing agents, cationic curing agents, and radical-based curing agents (polymerization initiators). However, some that do not fall into these categories can also be used. Two or more curing agents other than the phenolic curing agent can be used in combination.
  • the epoxy resin used in the present invention has the advantages of extremely excellent adhesion and no dents or voids, but the addition of the flux as in the paste of the present invention results in the formation of a flux. It acts as a curing accelerator for epoxy resins, causing the problem of shortening the pot life.
  • this problem has been solved by using an acrylic resin and an epoxy resin together as resin components and using a phenol-based curing agent as a curing agent. That is, the acrylic resin hardly cures at room temperature because the added phenolic curing agent acts as a polymerization inhibitor. By blending a resin that does not cure in this way, a stable base with no change in viscosity at room temperature can be obtained.
  • the epoxy resin first reacts with the phenol-based curing agent, and then the acrylic resin, which has lost the polymerization inhibitor, reacts to cure the paste.
  • the amount of the phenolic curing agent used is 0.3 to 35 parts per 100 parts of the resin. If the amount is less than 0.3 part, the pot life becomes short, and if it exceeds 35 parts, the viscosity increases and the workability tends to deteriorate.
  • the amount of the curing agent other than the phenolic curing agent used is preferably 0.2 to 35 parts per 100 parts of the resin, and is 0.5 to 40 parts for the entire curing agent. If the total amount of the curing agent is less than 0.5 part, curing will be poor, and as a result, good conductivity and physical properties cannot be obtained. On the other hand, if the amount exceeds 40 parts, the pot life may be shortened, and there may be a problem that an excessive curing agent may impair conductivity and physical properties.o
  • phenolic curing agents examples include Novolac phenol and Naphtho. And the like.
  • imidazole-based curing agents examples include imidazole, 2-unddecyl imidazole, 2-hepcidecyl imidazole, 2-ethyl ethyl imidazole, 2-phenyl imidazole, and 2-ethyl ethyl 4 -Methyl-imidazole, 1-cyanoethyl-2 -pentadecylimidazole, and 2 -phenylimidazole.
  • Examples of the cationic curing agent include an amine salt of boron trifluoride, P-methoxybenzenediazoniumhexafluorophosphate, and diphenyldoniumhexafluoro. Lophosphite, triphenylsnorehonium, tetra-n-butylphosphonium tetrayl etherate, tetra-n-butylphosphonium o, 0 — getyl phosphorodithioate And the like.
  • radical-based curing agent polymerization initiator
  • examples of the radical-based curing agent include Siegylmilvaxide, t-butylcumyl peroxide, t-butylhydroxide peroxyde, cumene hydroperoxide, and the like.
  • the flux as the component (D) promotes the metallization of the metal powder
  • examples thereof include zinc chloride, lactic acid, citric acid, oleic acid, and stearate.
  • Acid glutamic acid, benzoic acid, oxalic acid, glutamate hydrochloride, aniline hydrochloride, cetylviridine bromide, urea, triamine-luamine, glycerin, hydrazine, Rosin and the like.
  • the used amount of the flux is 0.3 to 80 parts with respect to 100 parts of the resin. If the flux is less than 0.3 part, metallization of the metal powder does not proceed sufficiently. On the other hand, if the flux is more than 80 parts, adhesion and physical properties may be adversely affected.
  • the conductive paste of the present invention can be obtained by blending the above-mentioned components in predetermined amounts and sufficiently mixing them.
  • additives that have been conventionally added to the same kind of conductive paste can be added without departing from the object of the present invention. . Examples thereof include an antifoaming agent, a thickener, and an adhesive.
  • the resin is cured and the metal powder is melted and metallized.
  • the metal powder is integrated with each other, and the metal powder and the end face of the conductive layer in the through-hole are integrated. Therefore, higher conductivity can be obtained as compared to the case where the metal powders or the metal powder and the conductive layer end face are simply in contact with each other, and the reliability of bonding at the conductive layer end face is significantly improved.
  • the conductive paste has excellent adhesion to the insulating layer of the multilayer substrate, a multilayer substrate having high long-term reliability can be obtained.
  • FIG. 1 is a schematic enlarged sectional view showing an example of a multilayer substrate according to the present invention.
  • reference numeral 11 (L 1 to L 4) indicates a conductive layer
  • reference numeral 12 indicates an insulating layer
  • reference numeral 13 indicates a filler formed by hardening a conductive base.
  • the structure itself in which the conductive layer 11 and the insulating layer 12 are laminated is the same as that of the prior art shown in FIG. 3, for example, but the through-hole plating is applied to the through-hole.
  • the filler is not in contact with the inner wall of the through-hole, but is different from that of Fig. 3 in that there is no lid.
  • a through hole is formed by drilling or laser, for example, and then the conductive paste is directly filled without performing through-hole plating under predetermined conditions.
  • the resin component is hardened and the metal powder is metallized.
  • the base Excess hardened material protruding from the plate surface is removed by polishing or the like.
  • the heating conditions for the conductive paste conditions suitable for both curing of the resin component and metalization of the metal powder are selected, so the specific conditions differ depending on the composition of the paste.
  • heating may be performed for about 30 to 120 minutes in a temperature range of about 150 to 180.
  • the multilayer substrate of the present invention is not limited to the structure as shown in FIG. 1, and may have a structure as shown in FIG. 2, for example.
  • reference numeral 21 denotes a conductive layer
  • 22 denotes an insulating layer
  • 23 denotes a conductive paste.
  • the multi-layer substrate shown in this figure has a through-hole and an independent filling part in a part of the layer (composite type with bottomed via type).
  • each component was blended in the proportions shown in Tables 1 and 2, and mixed to prepare a conductive paste.
  • the details of each component used are as follows.
  • Acrylate resin 2—Hydroxy 3—Acryloyloxypropyl methacrylate (80% by weight), Triethylene glycol diacrylate (20% by weight)
  • Epoxy resin Epoxy resin E-P-490E (manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd., 80% by weight), ED-529 (Asahi Denka Kogyo Co., Ltd., 20% by weight)
  • Alkyd resin EZ—302 0—60—S (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.)
  • Cationic curing agent Tetra n-butylphosphonium tetraphenyl ester
  • Phenol-based curing agent Evening Manol 7 5 8 (Arakawa Chemical Industries Co., Ltd.) Radical-based curing agent: Kumenhai dropperoxide
  • the conductive base obtained above was cured by heating at 160 ° C for 60 minutes, and the melting point was measured using TG / DTA. Was observed. Observation with an electron microscope and an X-ray microanalyzer also confirms that the metal powder has become messy.
  • the conductive layer (copper foil, 18 m thick) and the insulating layer (glass epoxy Thickness: about 200 m) and through-holes (hole diameter: 0.3 mm, 100 hole chain pattern) are formed on a multilayer board (0.7 mm thick) that is alternately laminated. After filling the above conductive paste and curing at 160 ° C for 60 minutes, the cured product protruding from the surface was removed by polishing to obtain a multilayer substrate having the structure shown in Fig. 1. .
  • the initial resistance value ( ⁇ / l hole) between the conductive layers L1 and L2, L1 and L4, and L3 and L4 was measured.
  • the electrically conductive paste was evaluated printability.
  • hole filling printing is performed using a 200-mesh PTFE screen plate in a hole having a hole diameter of 30 provided on a substrate having a thickness of l mm, and the paste filling property is examined.
  • the hole completely filled the hole was designated as ⁇ , and the one not filled was designated X.
  • Viscosity change rate (%) V a ⁇ V o X 100 (2)
  • a conductive paste excellent in conductivity, adhesion to a substrate, and long-term stability thereof can be obtained.
  • the multilayer substrate using the conductive paste of the present invention for filling the through hole improves reliability of bonding with the end face of the conductive layer in the through hole, and thus eliminates the through-hole and lid plating in the conventional technology. This makes it possible to form patterns with high precision.
  • the method of manufacturing the multilayer substrate does not include the processes of forming the through-hole and lid in the conventional technology, the hole forming and filling processes for each layer, and the pressing process. It is possible to reduce emissions. Also, since it does not include a pressing process, the conductive It also has the advantage of not causing cracks.
  • the conductive paste according to the present invention utilizes the excellent conductivity, adhesion, and long-term reliability to fill the hole of the above-mentioned multi-layer substrate, as well as a conductive adhesive, electrode formation, component mounting, electromagnetic wave, and the like. It is also suitably used for forming a shield or a conductive bump. Further, since the paste of the present invention is solvent-free, it is possible to fill the bottomed via by a general-purpose method such as a vacuum printing method.

Abstract

 導電性、基板との密着性、及びこれらの長期安定性に優れ、多層基板のスルーホール充填に使用された場合に、スルーホール内における導電層端面との接合の信頼性が向上するため、スルーホールメッキ等の不要な導電性ペーストを提供する。その導電性ペーストは、(A)アクリレート樹脂及びエポキシ樹脂を含む樹脂成分100重量部に対し、(B)融点180℃以下の低融点金属少なくとも1種と融点800℃以上の高融点金属少なくとも1種とを含む2種以上の金属からなる金属粉200~1800重量部、(C)フェノール系硬化剤0.3~35重量部を含む硬化剤0.5~40重量部、及び(D)フラックス0.3~80重量部を含有してなるものとする。

Description

明 細 導電性ペース ト、 これを用いた多層基板及びその製造方法 技術分野
本発明は導電性ペース トに関するものであ り、 よ り詳細には、 基板の ホール充填、 導電性接着剤、 電極形成、 部品実装、 電磁波シール ド、 導 電性バンプ形成等の用途に用いられる導電性ペース 卜に関する。 また、 この導電性ペース トを用いた多層基板、 及びその製造方法に関する。 背景技術
基板のホール充填等に用い られる導電性ペース ト としては、 熱硬化性 樹脂に導電性フ ィ ラーを添加 したものが一般的であ り、 このようなぺー ス トにおいては、 導電性フィ ラー同士が互いに接触することで導電性が 得られる。
ところで、 近年、 高密度実装を目的と して、 複数の導電層と絶縁層を 積層させた多層基板が用いられている。 図 3は、 そのような多層基板の 例を示す模式拡大断面図であ り、 符号 3 1 は銅箔等からなる導電層を示 し、 符号 3 1 mはそのう ちの内層を示し、 符号 3 2 は樹脂等からなる絶 縁層を示す。
このような多層基板において内層導通を得るには、 多層基板を貫通す るスルーホールを設け、 スルーホールメ ツキ 3 3 を施した後、 孔埋めべ 一ス ト 3 4 を充填し、 硬化後に余分な孔埋めペース ト 3 4を研磨によ り 除去し、 蓋メ ツキ 3 5 を施していた (例えば、 特閧平 4一 9 1 4 8 9号 公報第 3図、 (株) 技術情報協会発行、 「ビル ドアップ配線板における 材料技術と製造プロセス」 第 6 0頁参照) 。 しか しながら この手法に は、 スルーホールメ ツキと蓋メ ツキの 2回のメ ツキ工程によ り基板表面 の銅箔が厚く な り、 パターン形成の精度が上げられないという問題があ つた。 よって、 スルーホールメ ツキ、 蓋メ ツキを行わず、 導電性べ一ス トのみで内層導通を得るこ とが望まれているが、 上記した従来の粉体接 触型ペース トでは、 内層端面における接合の信頼性が不十分であ り、 安 定した内層導通を確保するこ とは困難であった。
これに対し、 図 4に示すような工程によ り形成される多層基板も用い られている。 図 4 において、 符号 4 1 は導電層を示し、 符号 4 2 は絶縁 層、 符号 4 3 は導電性ペース ト を示す。 この多層基板は、 まず各層毎に ホール形成、 導電性ペース ト 4 3の充填を行った後、 充填されたホール がー直線状に配列されるよう に各層を積層して、 プレス によ り 一体化 (スタ ック化) するこ とによ り得られるものである。 しかしながら、 こ のような多層基板においては、 上記のよう に各層毎にホール形成及びべ 一ス ト充填を行う必要があるため、 工程数が多く、 コス トがかさむとい う問題がある。 また、 プレス工程を含むために、 プレス圧のパラツキに よ り導電性にもバラツキが生じた り、 部品が基板に埋め込まれた多層基 板では使用できないといった問題もあ り、 使用範囲が限定されていた。
本発明は上記に鑑みてなされたものであ り、 導電性及び基板との密着 性に優れ、 多層基板のスルーホール内における導電層端面との接合の信 頼性が向上する導電性ペース トを提供するこ とを目的とする。 そ してこ れによ り、 従来技術におけるようなスルーホ一ルメ ッキ及び蓋メ ッキの 形成の省略を可能とし、 高精度のパターン形成が可能となる多層基板を 提供するこ とを目的とする。 さ らに、 製造工程が従来よ り大幅に簡略化 され、 コス ト削減も可能となる、 多層基板の製造方法を提供することを 目的とする。 発明の開示
本発明の導電性ペース トは、 上記の課題を解決するために、 ( A ) ァ ク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂を含む樹脂成分 1 0 0重量部に対し、 ( B ) 融点 1 8 0 °C以下の低融点金属少なく とも 1種と融点 8 0 0 °C以 上の高融点金属少なく とも 1種とを含む 2種以上の金属からなる金属粉 2 0 0〜 : L 8 0 0重量部、 ( C ) フ : ノ ール系硬化剤 0. 3〜 3 5重量 部を含む硬化剤 0. 5〜 4 0重量部、 及び ( D ) フラ ックス 0 . 3〜 8 0重量部を含有してなるものとする。
上記 (A ) 成分と しては、 ァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂からな るもの、 又は、 ァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂に対し、 アルキ ド樹 脂、 メ ラ ミ ン樹脂及びキシレン樹脂からなる群から選択された 1種又は 2種以上の樹脂が、 ( A) 成分の総量中 4 0重量%未満の割合で配合さ れてなるものを使用することができる。
また、 上記 ( B ) 成分の低融点金属と しては、 イ ンジウム単独、 又は 錫、 鉛、 ビスマス及びイ ンジウムからなる群から選択された 2種以上の 合金が使用でき、 高融点金属と しては、 金、 銀、 銅、 及びニッケルから なる群から選択された 1種又は 2種以上の合金が使用できる。
さ らに上記 ( C ) 成分と しては、 フ エ ノール系硬化剤と、 イ ミ ダゾ一 ル系硬化剤、 カチオン系硬化剤、 フヱノール系硬化剤、 及びラジカル系 硬化剤からなる群から選択された 1種又は 2種以上を使用するこ とがで きる。
次に、 本発明の多層基板は、 複数の導電層と絶縁層とが交互に積層さ れてなる多層基板であって、 多層基板を貫通するスルーホールが形成さ れ、 このスルーホールに上記した本発明の導電性ペース 卜が充填され、 加熱されたことによ り、 導電性ペース ト中に含有される金属粉がメ 夕ラ ィズ化したものである。 また、 本発明の多層基板の製造方法は、 複数の導電層と絶縁層とが交 互に積層されてなる多層基板の製造方法であって、 多層基板を貫通する スルーホールを形成し、 このスルーホールに上記した本発明の導電性べ —ス トを充填し、 加熱するこ とによ り導電性ペース トを硬化させるこ と からなる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明による多層基板の例を示す模式拡大断面図である。 図 2は、 複合型の多層基板の例を示す模式拡大断面図である。
図 3は、 従来技術による多層基板の例を示す模式拡大断面図である。 図 4は、 スタ ック化によ り多層基板を製造する方法を示す模式拡大断 面図である。
図 5は、 低融点金属粒子と高融点金属粒子のメタライ ズ化を示す模式 断面図である。 発明を実施するための最良の形態
本発明の導電性ペース トは、 上記のよう に、 (A) ァク リ レー ト樹脂 及びエポキシ樹脂を含む樹脂成分 1 0 0重量部 (以下、 単に部という) に対し、 ( B ) 低融点金属と高融点金属を含む 2種以上の金属からなる 金属粉 2 0 0〜 : 1 8 0 0部、 ( C ) フ エ ノール系硬化剤 0. 3〜 3 5部 を含む硬化剤 0. 5〜 4 0部、 及び ( D ) フラ ックス 0 . 3〜 8 0部を 必須成分と して含有してなるものであ り、 加熱によ り ( A) 樹脂成分が 硬化すると ともに、 ( B ) 金属粉がメ タライズ化するこ とによ り、 優れ た導電性及び基板に対する密着性を有するものとなる。
ここでメ タライズ化とは、 2種以上の金属が融解して一体化するこ と をいう。 例えば、 図 5 ( A) に示すよう に、 低融点金属粒子 5 1 と高融 点金属粒子 5 2 とが混在するものを加熱してメ タライズ化させる と、 同 図 ( B ) に示すよう に、 低融点金属粒子 5 1 と高融点金属粒子 5 2の表 層が融解して一体化し、 合金層 5 3が形成される。 この合金層 5 3は、 も との低融点金属よ り高融点を有する。 なお、 この図は単にメタライズ 化の概念を示すための模式図であ り、 粒子の実際の形状や大きさ等を示 すものではない。
以下、 本発明の導電性べ一ス ト とこれを用いた多層基板の実施態様に ついて詳述するが、 本発明はこれに限定される ものではない。 なお、 本 明細書においては、 硬化した後の導電性ペース トも、 便宜上、 「導電性 ベース 卜」 と呼ぶ場合がある。
本発明の導電性ペース トにおける ( A ) ァク リ レー ト樹脂及びェポキ シ樹脂を含む樹脂成分は、 ァク リ レー 卜樹脂及びエポキシ樹脂のみから なるものであってもよ く、 あるいは、 アルキ ド樹脂、 メ ラ ミ ン樹脂又は キシレン樹脂のう ちの 1種以上をァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂に ブレン ド したものであってもよい。
本発明で使用するァク リ レー 卜樹脂とは、 分子内に次の構造式 Iで示 される反応基を 1又は 2個以上有する ものであればよ く、 2種以上を併 用することもできる。
0
II
CH2 = C 一 C 一 0— ( I ) R 式 ( I ) 中、 Rは H又はアルキル基を示し、 アルキル基の炭素数は特 に限定されないが、 通常は 1〜 3個である。
ァク リ レー ト樹脂の具体例と しては、 イ ソアミルァク リ レー ト、 ネオ ペンチルグリ コールジァク リ レー ト、 ト リ メチロールプロノ ン ト リ アク リ レー ト、 ジ ト リ メチロールプロ ノ ンテ トラァク リ レー ト、 フ エニルグ リシジルェ一テルァク リ レー トへキサメチレンジイ ソシァネー ト ウレタ ンプレポリマ一、 ビスフエノール Aジグリ シジルエーテルァク リル酸付 加物、 エチレングリ コールジメ夕ク リ レー ト、 及びジエチレングリ コー ルジメ タク リ レー ト等が挙げられる。
また、 エポキシ樹脂は、 分子内にエポキシ基を 1個以上有するもので あればよ く、 2種以上を併用することもできる。 具体例としては、 ビス フ エノ ール A型エポキシ樹脂、 臭素化エポキシ樹脂、 ビス フ エ ノ ール F 型エポキシ樹脂、 ノボラ ック型エポキシ樹脂、 脂環式エポキシ樹脂、 グ リシジルァミ ン型エポキシ樹脂、 グリ シジルエーテル型エポキシ樹脂、 グリ シジルエステル型エポキシ樹脂、 複素環式エポキシ樹脂等が挙げら れ
また、 アルキ ド樹脂、 メ ラ ミ ン樹脂、 キシレ ン樹脂はそれそれ樹脂改 質剤と して用いられるものであ り、 その目的を達成できるものであれば 特に限定されない。
上記ァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂に、 アルキ ド樹脂、 メ ラ ミ ン 樹脂、 キシレ ン樹脂のう ちの 1種以上をブレ ン ドする場合の配合比は、 ( A ) 成分総量中のァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂の割合を、 6 0 重量%以上と し、 好ま し く は 9 0重量%以上とする。 すなわち、 改質剤 としてプレ ン ドするそれ以外の樹脂の割合は 4 0重量%未満、 好ま し く は 1 0重量%未満とする。
また、 ァク リ レー 卜樹脂とエポキシ樹脂との配合比率 (重量% ) は 5 : 9 5〜 9 5 : 5、 好ま し く は 2 0 : 8 0〜 8 0 : 2 0 とする。 ァク リ レー ト樹脂が 5重量%未満の場合は粘度変化が大き く な り、 9 5重量% を超える と硬化後の物性が悪く なる。
次に、 本発明における ( B ) 金属粉は、 融点が 1 8 0 °C以下の低融点 金属 1種以上と融点が 8 0 0 °C以上の高融点金属 1種以上とを含む 2種 以上の金属が何らかの形で含まれてお り、 加熱によ りメ タライズ化が起 こるものであればよい。 上記 2種以上の金属の存在形態は限定されない が、 例えば、 ある種の金属粉を他の種類の金属からなる金属粉と混合し たもの、 又はある種の金属粉を他の種類の金属でコー ト したもの、 ある いはこれらを混合したものが挙げられる。
低融点金属及び高融点金属と しては、 単一の金属からなるものほか、 2種以上の金属の合金を使用することもできる。 低融点金属の好ま しい 例と しては、 イ ンジウム (融点 : 1 5 6 °C) 単独、 又は錫 (融点 : 2 3 1。C) 、 鉛 (融点 : 3 2 7 °C) 、 ビスマス (融点 : 2 7 1 °C) 、 又はィ ンジゥムのう ちの 2種以上を合金にして融点 1 8 0 °C以下にしたものが 挙げられる。 また、 高融点金属の好ま しい例と しては、 金 (融点 : 1 0 6 4 °C) 、 銀 (融点 : 9 6 1 °C) 、 銅 (融点 : 1 0 8 3 °C) 、 又はニヅ ケル (融点 : 1 4 5 5 °C) のうちの 1種又は 2種以上の合金が挙げられ る o
金属粉は、 その形状に制限がないが、 樹枝状、 球状、 リ ン片状等の従 来から用いられている ものが使用で きる。 また、 粒径も制限されない が、 通常は平均粒径で l〜 5 0 /m程度である。
上記金属粉の配合量は、 ( A) 樹脂成分 1 0 0部に対して 2 0 0〜 1 8 0 0部である。 2 0 0部未満である と良好な導電性が得られない。 ま た、 1 8 0 0部を超える とペース トの粘度が高く な りすぎ、 実際上使用 不可能となる。 また、 上記した低融点金属粉と高融点金属粉の配合比 (重量比、 以下同様) は、 8 : 2〜 2 : 8の範囲内であるのが好ま し い。
次に ( C) 硬化剤は、 フエノール系硬化剤を必須成分とするものであ る。 それ以外の硬化剤は主と して (A) 成分の種類に応じて選択される が、 例と しては、 イ ミ ダゾ一ル系硬化剤、 カチオン系硬化剤、 ラジカル 系硬化剤 (重合開始剤) が挙げられる。 しかしながら、 これらに分類さ れないものにも使用可能なものがある。 フエノール系硬化剤以外の硬化 剤は 2種以上を併用することもできる。
本発明で用いるエポキシ樹脂は、 密着性が非常に優れ、 へこみやボイ ドの発生がないという長所を有するが、 本発明のペース トのよう にフ ラ ッ クスを添加する と フ ラ ッ クスがエポキシ樹脂の硬化促進剤と して働 き、 ポッ ト ライ フを短く させる という問題が生じる。 本発明では、 樹脂 成分と してァク リ レー ト樹脂とエポキシ樹脂を併用し、 かつ硬化剤と し てフヱノール系硬化剤を使用するこ とによ り この問題を解決した。 すな わち、 ァク リ レー ト樹脂は添加されたフ エノ ール系硬化剤が重合禁止剤 と して働く ために、 常温ではほとんど硬化しない。 このように硬化しな い樹脂が配合されていることによ り、 常温で粘度変化のない安定したべ 一ス トが得られる。 一方、 このペース ト を加熱すると、 まずエポキシ樹 脂がフヱノール系硬化剤と反応し、 次に重合禁止剤を失ったァク リ レー ト樹脂が反応することによ り硬化が進行する。
フ エノール系硬化剤の使用量は、 樹脂 1 0 0部に対して 0 . 3 〜 3 5 部である。 0 . 3部未満の場合、 ポッ ト ライ フが短く な り、 3 5部を超 えると粘度が上昇し、 作業性が悪く なる傾向がある。 フ エノール系硬化 剤以外の硬化剤の使用量は、 樹脂 1 0 0部に対して 0 . 2 〜 3 5部が好 ま し く、 硬化剤全体で 0 . 5 〜 4 0部とする。 硬化剤の総量が 0 . 5部 よ り少ないと硬化不良とな り、 その結果、 良好な導電性、 物性が得られ ない。 一方、 4 0部を超える と、 ポッ ト ライ フが短く なつた り、 過剰の 硬化剤によ り導電性や物性が阻害される という問題が生じる可能性があ る o
フエノール系硬化剤の例と しては、 ノボラ ックフエノール、 ナフ トー ル系化合物等が挙げられる。
イ ミ ダゾール系硬化剤の例と しては、 イ ミ ダゾール、 2 —ゥンデシル イ ミ ダゾール、 2 —ヘプ夕デシルイ ミ ダゾール、 2 —ェチルイ ミ ダゾー ル、 2 —フ ヱニルイ ミ ダゾール、 2 —ェチルー 4 ーメチルーイ ミ ダゾー ル、 1 —シァノエチルー 2 —ゥンデシルイ ミ ダゾ一ル、 2 —フエ二ルイ ミ ダゾールが挙げられる。
カチオン系硬化剤の例と しては、 三フ ヅ化ホウ素のアミ ン塩、 P—メ トキシベンゼンジァゾニゥムへキサフルォロホスフエ一 ト、 ジフ エニル ィ ォ ドニゥムへキサフルォロホスフ エ一 ト、 ト リ フエニルスノレホニゥ ム、 テ トラー n—ブチルホスホニゥムテ トラフ エ二ルポレー ト、 テ ト ラ 一 n—ブチルホスホニゥムー o , 0 —ジェチルホスホロジチォェ一 ト等 に代表されるォニゥム系化合物が挙げられる。
ラジカル系硬化剤 (重合開始剤) の例と しては、 ジーク ミルバ一ォキ サイ ド、 t ーブチルク ミルパーオキサイ ド、 t 一ブチルハイ ド口パーォ キサイ ド、 クメ ンハイ ドロパーォキサイ ド等が挙げられる。
さ らに、 ( D ) 成分である フラ ックスは、 上記金属粉のメタライズ化 を促進するものであ り、 例と しては、 塩化亜鉛、 乳酸、 クェン酸、 ォレ イ ン酸、 ステアリ ン酸、 グルタ ミ ン酸、 安息香酸、 シユ ウ酸、 グルタ ミ ン酸塩酸塩、 ァニ リ ン塩酸塩、 臭化セチルビリ ジン、 尿素、 ト リェ夕ノ —ルァミ ン、 グリセ リ ン、 ヒ ドラジン、 ロジン等が挙げられる。 フ ラ ヅ クスの使用量は、 樹脂 1 0 0部に対して 0 . 3 〜 8 0部である。 フ ラ ヅ クスが 0 . 3部よ り少ない場合は金属粉のメタライズ化が十分に進行せ ず、 一方、 8 0部よ り多い場合は、 密着性や物性に悪影響を及ぼす可能 性がある。
本発明の導電性ペース 卜は、 上記した各成分を所定量配合して十分混 合するこ とによ り得られる。 なお、 本発明の導電性べ一ス トには、 従来から同種の導電性ペース ト に添加されるこ とのあった添加剤を、 本発明の目的から外れない範囲内 で添加することもできる。 その例と しては、 消泡剤、 増粘剤、 粘着剤等 が挙げられる。
上記によ り得られる本発明の導電性ペース トは、 一定条件下で加熱す ることによ り、 樹脂が硬化するとともに、 金属粉が融解してメタライズ 化するので、 多層基板のスルーホール充填に用いた場合に、 金属粉同士 が一体化すると ともに、 金属粉とスルーホール内の導電層端面とがー体 化する。 従って、 金属粉相互間、 又は金属粉と導電層端面とが単に接触 しているだけの場合と比較して高い導電性が得られ、 しかも導電層端面 での接合の信頼性が顕著に向上する。 また、 この導電性ペース トは、 多 層基板の絶縁層との接着性にも優れるので、 高い長期信頼性を有する多 層基板が得られる。
次に、 本発明の導電性べ一ス トを用いた多層基板、 及びその製造方法 について説明する。
図 1 は、 本発明による多層基板の例を示す模式拡大断面図である。 図 1 において、 符号 1 1 ( L 1 〜 L 4 ) は導電層を示し、 符号 1 2 は絶縁 層を示し、 符号 1 3は導電性べ一ス トが硬化してなる充填物を示す。 本 図に示す多層基板は、 導電層 1 1及び絶縁層 1 2 が積層された構造自体 は、 例えば図 3 に示した従来技術のものと同じであるが、 スルーホール にスルーホールメ ツキが施されずに充填物がスルーホール内壁に直接接 触しており、 蓋メ ツキもない点で図 3のものと異なる。
本図に示した多層基板を得るには、 例えば ド リルやレーザーによ りス ルーホールを形成したのち、 スルーホールメ ツキを行わずに、 直接導電 性ペース ト を充填して、 所定の条件で加熱することによ り樹脂成分を硬 化させると ともに金属粉のメ タライズ化を進行させる。 硬化後には、 基 板表面から突出した余分な硬化物を、 研磨等によ り除去する。 導電性ペース 卜の加熱条件と しては、 樹脂成分の硬化と金属粉のメ 夕 ライズ化の双方に適した条件を選択するので、 具体的な条件はペース ト の組成によ り異なるが、 おおよその目安と しては、 約 1 5 0〜 1 8 0 の温度範囲内で、 約 3 0〜 1 2 0分間程度加熱すればよい。
なお、 本発明の多層基板は、 図 1に示したような構造のものに限定さ れず、 例えば図 2に示したような構造のものとすることもできる。 図 2 において、 符号 2 1は導電層、 2 2は絶縁層、 2 3は導電性ペース ト を 示す。 本図に示した多層基板は、 スルーホールを有する とともに、 層の 一部に独立した充填部を有するもの (有底ビア型との複合型) である。
[実施例]
以下に本発明の実施例を示すが、 本発明はこれによって限定される も のではない。
表 1, 2に示す割合で各成分を配合し、 混合して導電性ペース トを調 製した。 なお、 使用 した各成分の詳細は以下の通りである。
ァク リ レー ト樹脂 : 2— ヒ ド ロキシー 3—ァク リ ロイ ロキシプロ ピルメ タ ク リ レー ト ( 8 0重量% ) 、 ト リ エチ レ ング リ コールジァク リ レー ト ( 2 0重量% )
エポキシ樹脂 : エポキシ樹脂 E P— 4 9 0 1 E (旭電化工業株式会社 製、 8 0重量% ) 、 E D - 5 2 9 (旭電化工業株式会社製、 2 0重量 % )
アルキ ド樹脂 : E Z— 3 0 2 0— 6 0— S (大日本ィ ンキ化学工業株式 会社製)
メ ラ ミ ン樹脂 L一 1 2 1— 6 0 (大日本イ ンキ化学工業株式会社製) キシ レ ン樹脂 ニカ ノ ール P R— 1 5 4 0 (日本ガス化学株式会社製) 金属粉 : S n— B i合金金属粉 ( S n : B i = 4 2 : 5 8、 融点 1 3 8 °C、 粒径 2 0 111、 5 0重量% ) 、 銀粉 (融点 9 6 1 °C、 粒径 m、 5 0重量%)
ィ ミ ダゾール系硬化剤 : 2—ェチルイ ミダゾ一ル
カチオン系硬化剤 : テ トラー n—ブチルホスホニゥムテ トラフエニルボ レ一 卜
フエノール系硬化剤 : 夕マノール 7 5 8 (荒川化学工業株式会社製) ラジカル系硬化剤 : クメ ンハイ ドロパーォキサイ ド
フラ ックス : ロジン
上記によ り得られた導電性べ一ス トを 1 6 0 °Cで 6 0分間加熱して硬 化させ、 T G/D T Aを用いて融点測定したところ、 2 6 0 °C付近に融 点の吸熱ピークが観察された。 また、 電子顕微鏡及び X線マイ ク ロアナ ライザ一による観察においても、 金属粉がメ夕ライズ化しているのが確 次に、 導電層 (銅箔、 厚さ 1 8 m) と絶縁層 (ガラスエポキシ、 厚 さ : 約 2 0 0 m) とが交互に積層されてなる多層基板 (板厚 0. 7 m m) にスルーホール (孔径 0. 3 mm、 1 0 0 0孔チェーンパターン) を形成して、 上記導電性ペース トを充填し、 1 6 0°Cで 6 0分間硬化さ せた後、 表面から突出した硬化物を研磨によ り除去し、 図 1に示す構造 の多層基板を得た。
この多層基板につき、 導電層 L 1一 L 2、 L l— L 4、 L 3— L 4間 の初期抵抗値 (πιΩ/ l孔) をそれそれ測定した。
また、 基板の長期信頼性の評価と して、 プレ ッシャークラ ッカーテス ト ( P C Τ ) ( 2気圧、 湿度 1 0 0 %、 1 2 1 °C、 3 6時間) を行った 後の L 1一 L 2、 L 1一 L 4、 L 3— L 4間の各抵抗値 (RP) 、 及び ヒー トサイ クル試験 (一 6 5 °C~ 1 2 5 °C、 1 0 0 0サイ クル) を行つ た後の L 1一 L 2、 L 1一 L 4、 L 3— L 4間の各抵抗値 ( RH) をそ れそれ測定して、 次式 ( 1 ) によ り、 上記初期抵抗値に対する抵抗変化 率 (% ) を求めた。 抵枋変化率 (%) = ^x~ R o X 1 00 ( 1 )
Ro
(但し、 R»は RP又は RHを示す) また、 導電性ペース トについては、 印刷性を評価した。 すなわち、 板 厚 l mmの基材に設けられた孔径 3 0 のホールに 2 0 0メ ッシュ テ ト ロンスク リーン版を用いて孔埋め印刷を行い、 ペース 卜の充填性を 調べて、 ペース トがホールに完全充填されたものを〇、 されなかったも のを X と した。
さ らに、 B H方粘度計口一夕一 N o . 7 ( l O r pm) を用いて初期 粘度 (V。) 及び常温 7 曰放置後の粘度 ( V5) を測定し、 次式 ( 2 ) に よ り粘度変化率 (% ) を調べた。 粘度変化率 (%) = V a~V o X 1 00 ( 2 )
Vo 上記評価等の結果を表 1 , 2に併記する。
表 1 実施例 No. 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 ァクリレー卜樹 八
fl旨 50 70 70 70 40 40 40 50 50 50 50 50 "*· 、 。ヒ'
丄ホキン樹月旨 50 20 20 20 20 20 20 50 50 50八 50 50 八
アルキト樹月旨 10 40
メラミン樹脂 10 40
キシレン樹脂 10 40
粉 1000 1000 1000 1000 1000 1000 1000 1000 200 1800 1000 1000 イミタ'1尸- Λ系硬化剤 1.5 1.5 力チ才ン系硬化剤 5 5 5 5 5 5 5 5 5 0.5
「 フエノール系硬化剤 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 35 ラジカル系硬化剤 2 1.5 フラックス 1
10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 印刷 1生 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 c c ο
抵抗値 ο
L1-L2 0.0 0.1 0.0 0.5 7. I 0.0 6.9 0.0 5. 0.1 7.1 0. / [初期] L1-L4 1 0 1 i 7 1 ι
11.0 1 . 1 Λί.1 I 1 & 11.0 14 I 0. I ハ孔) L3-L4 5.3 6.2 6.1 6.3 6.9 7.2 7.0 6.2 6.5 5.9 7 6.6 抵抗変化率 L1-L2 2 4 4 5 6 7 6 4 5 4 4 5 [PCT] L1-L4 5 6 7 6 7 7 8 5 7 5 5 7 f o/Q \ L3-L4 2 4 4 5 7 6 6 3 4 4 6 6 抵抗変化率 L1-L2 -1 3 1 2 3 4 5 2 1 -1 2 2 [匕-トサイクル] L1-L4 1 3 0 1 4 4 5 0 0 0 0 3 (%) L3-L4 0 1 -1 -1 1 5 3 1 1 1 2 4 粘度変化率 (%) 4 5 8 12 16 15 17 20 7 16 2 20
表 2
Figure imgf000017_0001
産業上の利用可能性
本発明によれば、 導電性、 基板との密着性、 及びこれらの長期安定性 に優れた導電性ペース 卜が得られる。
本発明の導電性ペース トをスルーホール充填に用いた多層基板は、 ス ルーホール内における導電層端面との接合の信頼性が向上するため、 従 来技術におけるスルーホ一ルメ ツキと蓋メ ツキを省く こ とが可能とな り、 高精度のパターン形成が可能となる。
また、 その多層基板の製造方法は、 従来技術におけるスルーホールメ ツキと蓋メ ツキの形成工程や、 各層毎のホール形成及び充填工程並びに プレス工程を含まず、 工程数が少ないため、 製造コス トの削減を可能と する。 また、 プレス工程を含まないため、 これに起因する導電性のバラ ツキを生じないという利点も有する。
本発明による導電性ペース トは、 その優れた導電性、 密着性、 及び長 期信頼性を活かして、 上記した多層基板のホール充填のほか、 導電性接 着剤、 電極形成、 部品実装、 電磁波シール ド、 導電性バンプ形成用等に も好適に用いられる。 また、 本発明のペース トは無溶剤であるために、 真空印刷法等の汎用的な方法で有底ビアに充填することも可能である。

Claims

請 求 の 範 囲
1. (A) ァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂を含む樹脂成分 1 0 0重 量部に対し、
( B ) 融点 1 8 0 °C以下の低融点金属少なく とも 1種と融点 8 0 0 °C以 上の高融点金属少なく とも 1種とを含む、 2種以上の金属からなる金属 粉 2 0 0〜 1 8 0 0重量部、
( C) フ エノ ール系硬化剤 0. 3〜 3 5重量部を含む硬化剤 0. 5〜4 0重量部、 及び
( D ) フ ラ ッ クス 0. 3〜 8 0重量部
を含有してなる、 導電性ペース ト。
2. 前記 (A) 成分が、 ァク リ レー ト樹脂及びエポキシ樹脂からなるこ とを特徴とする、 請求項 1に記載の導電性ペース ト。
3. 前記 (A) 成分が、 ァク リ レー 卜樹脂及びエポキシ樹脂に対し、 ァ ルキ ド樹脂、 メ ラ ミ ン樹脂及びキシレン樹脂からなる群から選択された 1種又は 2種以上の樹脂が、 (A) 成分の総量中 4 0重量%未満の割合 で配合されてなるものであることを特徴とする、 請求項 1に記載の導電 性ペース ト。
4. 前記 ( B ) 成分の低融点金属が、 イ ンジウム単独、 又は錫、 鉛、 ビ スマス及びイ ンジウムからなる群から選択された 2種以上の合金である こ とを特徴とする、 請求項 1〜 3のいずれか 1項に記載の導電性ペース h o
5. 前記 (B ) 成分の高融点金属が、 金、 銀、 銅、 及びニッケルからな る群から選択された 1種、 又は 2種以上の合金である こ とを特徴とす る、 請求項 1〜 4のいずれか.1項に記載の導電性ペース ト。
6 . 前記 ( C ) 成分が、 フ エ ノ ール系硬化剤と、 イ ミ ダゾール系硬化 剤、 カチオン系硬化剤、 及びラジカル系硬化剤からなる群から選択され た 1種又は 2種以上の硬化剤とからなることを特徴とする、 請求項 1 〜 5のいずれか 1項に記載の導電性ペース ト。
7 . 複数の導電層と絶縁層とが交互に積層されてなる多層基板であつ て、
多層基板を貫通するスルーホールが形成され、
このスルーホールに請求項 1 〜 6のいずれか 1項に記載の導電性べ一 ス トが充填され、 加熱されたこ とによ り、 導電性ペース ト中に含有され る金属粉がメ 夕ライズ化した
こ とを特徴とする多層基板。
8 . 複数の導電層と絶縁層とが交互に積層されてなる多層基板の製造方 法であって、
多層基板を貫通するスルーホールを形成し、
このスルーホールに請求項 1 〜 6のいずれか 1項に記載の導電性べ一 ス トを充填し、 加熱することによ り導電性ペース トを硬化させる
ことを特徴とする多層基板の製造方法。
PCT/JP2003/006621 2002-05-31 2003-05-27 導電性ペースト、これを用いた多層基板及びその製造方法 WO2003105160A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AU2003234852A AU2003234852A1 (en) 2002-05-31 2003-05-27 Conductive paste, multilayer board including the conductive paste and process for producing the same
KR1020047018656A KR100757163B1 (ko) 2002-05-31 2003-05-27 도전성 페이스트, 이를 이용한 다층기판과 그 제조방법
JP2004512145A JP4191678B2 (ja) 2002-05-31 2003-05-27 導電性ペースト、これを用いた多層基板及びその製造方法
US10/516,236 US7214419B2 (en) 2002-05-31 2003-05-27 Conductive paste multilayered board including the conductive paste and process for producing the same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002160692 2002-05-31
JP2002-160692 2002-05-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2003105160A1 true WO2003105160A1 (ja) 2003-12-18

Family

ID=29727535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2003/006621 WO2003105160A1 (ja) 2002-05-31 2003-05-27 導電性ペースト、これを用いた多層基板及びその製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7214419B2 (ja)
JP (1) JP4191678B2 (ja)
KR (1) KR100757163B1 (ja)
CN (1) CN1326155C (ja)
AU (1) AU2003234852A1 (ja)
TW (1) TWI231940B (ja)
WO (1) WO2003105160A1 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006080247A1 (ja) * 2005-01-25 2006-08-03 Fujikura Kasei Co., Ltd. 導電性ペースト
KR100758144B1 (ko) * 2004-06-29 2007-09-13 티디케이가부시기가이샤 서미스터 소체 형성용 수지 조성물 및 서미스터
JP2009123282A (ja) * 2007-11-14 2009-06-04 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv マイクロアクチュエータ、ヘッド・ジンバル・アセンブリ及びディスク・ドライブ装置
WO2015050252A1 (ja) * 2013-10-04 2015-04-09 スリーボンドファインケミカル株式会社 導電性ペースト
US9204541B2 (en) 2011-02-15 2015-12-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer circuit board and method for manufacturing the same
JP6001231B1 (ja) * 2015-02-27 2016-10-05 タツタ電線株式会社 導電性ペースト及びこれを用いた多層基板
JP2017105911A (ja) * 2015-12-09 2017-06-15 ナミックス株式会社 樹脂組成物、導電性銅ペースト、硬化物、半導体装置
US10887988B2 (en) 2018-09-26 2021-01-05 Nichia Corporation Circuit substrate, component-mounted substrate, and methods of manufacturing circuit substrate and component-mounted substrate
JPWO2021153383A1 (ja) * 2020-01-28 2021-08-05
WO2023282351A1 (ja) * 2021-07-09 2023-01-12 タツタ電線株式会社 導電性ペースト、及びこれを用いた多層基板

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100574215B1 (ko) * 1997-04-17 2006-04-27 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 도전성 미립자
JP4291279B2 (ja) * 2005-01-26 2009-07-08 パナソニック株式会社 可撓性多層回路基板
JP5180588B2 (ja) * 2005-12-22 2013-04-10 ナミックス株式会社 熱硬化性導電ペースト及びそれを用いて形成した外部電極を有する積層セラミック部品
KR100733759B1 (ko) * 2006-04-04 2007-06-29 대덕전자 주식회사 이종 재료가 도포된 전도성 페이스트 및 이를 이용한 다층인쇄 회로 기판 제조 방법
DE112007000958T5 (de) 2006-04-19 2009-04-02 Advantest Corp. Signalausgabevorrichtung, Signalerfassungsvorrichtung, Prüfvorrichtung, elektronische Vorrichtung und Programm
US20070278002A1 (en) * 2006-05-31 2007-12-06 Romi Mayder Method and apparatus for a low thermal impedance printed circuit board assembly
US8440916B2 (en) 2007-06-28 2013-05-14 Intel Corporation Method of forming a substrate core structure using microvia laser drilling and conductive layer pre-patterning and substrate core structure formed according to the method
US8877565B2 (en) * 2007-06-28 2014-11-04 Intel Corporation Method of forming a multilayer substrate core structure using sequential microvia laser drilling and substrate core structure formed according to the method
US20090226701A1 (en) * 2007-08-24 2009-09-10 Mark Charles Carbone Boiling Enhancement Coating Produced Using Viscous Bulking Agent to Create Voids
US20090212669A1 (en) * 2008-02-22 2009-08-27 Genevieve Robert-Reitman Storage unit with extension mechanism
CN101965617B (zh) 2008-03-07 2013-03-06 富士通株式会社 导电材料、导电膏、电路板以及半导体器件
US20090297697A1 (en) * 2008-05-29 2009-12-03 Burgess Lester E Silver doped white metal particulates for conductive composites
WO2010103805A1 (ja) 2009-03-12 2010-09-16 タツタ電線株式会社 多層配線基板の製造方法及びそれにより得られる多層配線基板
JP2012523091A (ja) * 2009-04-02 2012-09-27 オーメット サーキッツ インク 混合された合金フィラーを含む伝導性組成物
JP4768059B2 (ja) 2009-08-12 2011-09-07 タツタ電線株式会社 多層フレキシブルプリント配線板
CN102576766A (zh) * 2009-10-15 2012-07-11 日立化成工业株式会社 导电性粘接剂、太阳能电池及其制造方法、以及太阳能电池模块
JP2011096900A (ja) * 2009-10-30 2011-05-12 Fujitsu Ltd 導電体およびプリント配線板並びにそれらの製造方法
KR20120096928A (ko) * 2009-11-05 2012-08-31 오르멧 서키츠 인코퍼레이티드 야금 망상 조성물의 제조 및 그것의 사용 방법
US8716867B2 (en) * 2010-05-12 2014-05-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Forming interconnect structures using pre-ink-printed sheets
KR20120071921A (ko) * 2010-12-23 2012-07-03 한국전자통신연구원 실리콘 관통 홀(tsv) 충진용 조성물, tsv 충진방법 및 상기 조성물을 이용하여 형성된 tsv 충진물을 포함하는 기판
JP4795488B1 (ja) * 2011-01-18 2011-10-19 パナソニック株式会社 配線基板、配線基板の製造方法、及びビアペースト
JP5124693B1 (ja) * 2012-04-24 2013-01-23 有限会社 ナプラ 電子機器
US9583453B2 (en) 2012-05-30 2017-02-28 Ormet Circuits, Inc. Semiconductor packaging containing sintering die-attach material
US9005330B2 (en) 2012-08-09 2015-04-14 Ormet Circuits, Inc. Electrically conductive compositions comprising non-eutectic solder alloys
CN103391681B (zh) * 2013-08-06 2016-12-28 上海美维电子有限公司 印刷线路板及其制造方法
KR101696268B1 (ko) * 2014-07-30 2017-01-16 전자부품연구원 전자파 차폐필름용 수지조성물, 전도성 접착제, 및 전자파 차폐필름
JP5985785B1 (ja) * 2014-09-30 2016-09-06 タツタ電線株式会社 電子部品のパッケージのシールド用導電性塗料及びそれを用いたシールドパッケージの製造方法
US9693445B2 (en) 2015-01-30 2017-06-27 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Printed circuit board with thermal via
CN106063393B (zh) * 2015-02-16 2019-03-22 日本梅克特隆株式会社 柔性印刷布线板的制造方法
US10347388B2 (en) * 2015-03-05 2019-07-09 Namics Corporation Conductive copper paste, conductive copper paste cured film, and semiconductor device
JP2016178121A (ja) 2015-03-18 2016-10-06 タツタ電線株式会社 ストレッチャブルケーブルおよびストレッチャブル回路基板
US9865655B2 (en) * 2015-12-15 2018-01-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Memory cell structure with resistance-change material and method for forming the same
TWI770013B (zh) * 2016-03-29 2022-07-11 日商拓自達電線股份有限公司 導電性塗料及使用其之屏蔽封裝體之製造方法
CN106010321B (zh) * 2016-08-10 2019-07-02 苏州赛伍应用技术股份有限公司 一种导电性粘结胶膜
CN107578838B (zh) * 2017-08-17 2019-02-15 北京梦之墨科技有限公司 一种低成本可回收的导电浆料及其制备方法
CN108566727B (zh) * 2018-06-29 2024-03-26 北京梦之墨科技有限公司 一种基于bga的电子器件及其制作方法
CN109065213B (zh) * 2018-06-29 2019-12-10 北京梦之墨科技有限公司 一种室温自固化导电颜料及其制备方法、保存方法
JP7164386B2 (ja) 2018-10-04 2022-11-01 タツタ電線株式会社 導電性塗料
CN109679552B (zh) * 2018-11-16 2021-07-13 云南科威液态金属谷研发有限公司 一种液态金属导电胶及其应用
CN111040691B (zh) * 2019-11-29 2021-01-26 江苏富威尔电子材料科技有限公司 一种基于不同熔点多组分金属导电粘合剂及其制备方法
CN114156005A (zh) * 2021-11-11 2022-03-08 江苏永鼎电气有限公司 一种高温封胶导体及其在汽车线束中的应用

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05217420A (ja) * 1992-02-04 1993-08-27 Hitachi Chem Co Ltd 導電性ペースト
JPH0946013A (ja) * 1995-05-19 1997-02-14 Nikko Co スルーホール充填用導体ペースト及びセラミック回路基板
JPH1012044A (ja) * 1996-06-25 1998-01-16 Tokuyama Corp 硬化性導電組成物
JP2002198656A (ja) * 2000-12-25 2002-07-12 Sony Corp 高密度実装用基板の製法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3782522T2 (de) * 1986-03-31 1993-06-03 Tatsuta Densen Kk Leitfaehige kupferpastenzusammensetzung.
JPS6412044A (en) * 1987-07-01 1989-01-17 Honda Motor Co Ltd Intake device of internal combustion engine
JP2893782B2 (ja) * 1990-01-19 1999-05-24 日立化成工業株式会社 導電性接着剤および半導体装置
EP0651602B1 (en) * 1993-10-29 1999-04-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive paste compound for via hole filling, printed circuit board which uses the conductive paste, and method of manufacturing the same
JPH09116273A (ja) * 1995-08-11 1997-05-02 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層回路基板及びその製造方法
US5779941A (en) * 1996-04-26 1998-07-14 Tatsuta Electric Wire And Cable Co., Ltd. 1,2-N-acyl-N-methylene-ethylenediamine, and electroconductive paste comprising it
TW398163B (en) * 1996-10-09 2000-07-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd The plate for heat transfer substrate and manufacturing method thereof, the heat-transfer substrate using such plate and manufacturing method thereof
JPH1145616A (ja) * 1997-05-28 1999-02-16 Yazaki Corp 導電性フィラー、導電性ペーストおよび回路体の形成方法
USRE40947E1 (en) * 1997-10-14 2009-10-27 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board and its manufacturing method, and resin composition for filling through-hole
US6207259B1 (en) * 1998-11-02 2001-03-27 Kyocera Corporation Wiring board
US6326555B1 (en) * 1999-02-26 2001-12-04 Fujitsu Limited Method and structure of z-connected laminated substrate for high density electronic packaging
JP3619395B2 (ja) * 1999-07-30 2005-02-09 京セラ株式会社 半導体素子内蔵配線基板およびその製造方法
TW532050B (en) * 2000-11-09 2003-05-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit board and method for manufacturing the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05217420A (ja) * 1992-02-04 1993-08-27 Hitachi Chem Co Ltd 導電性ペースト
JPH0946013A (ja) * 1995-05-19 1997-02-14 Nikko Co スルーホール充填用導体ペースト及びセラミック回路基板
JPH1012044A (ja) * 1996-06-25 1998-01-16 Tokuyama Corp 硬化性導電組成物
JP2002198656A (ja) * 2000-12-25 2002-07-12 Sony Corp 高密度実装用基板の製法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100758144B1 (ko) * 2004-06-29 2007-09-13 티디케이가부시기가이샤 서미스터 소체 형성용 수지 조성물 및 서미스터
US7270776B2 (en) 2004-06-29 2007-09-18 Tdk Corporation Resin composition for forming thermistor body, and thermistor
WO2006080247A1 (ja) * 2005-01-25 2006-08-03 Fujikura Kasei Co., Ltd. 導電性ペースト
JPWO2006080247A1 (ja) * 2005-01-25 2008-06-19 藤倉化成株式会社 導電性ペースト
JP2009123282A (ja) * 2007-11-14 2009-06-04 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv マイクロアクチュエータ、ヘッド・ジンバル・アセンブリ及びディスク・ドライブ装置
US9204541B2 (en) 2011-02-15 2015-12-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer circuit board and method for manufacturing the same
WO2015050252A1 (ja) * 2013-10-04 2015-04-09 スリーボンドファインケミカル株式会社 導電性ペースト
JPWO2015050252A1 (ja) * 2013-10-04 2017-03-09 株式会社スリーボンド 導電性ペースト
JP6001231B1 (ja) * 2015-02-27 2016-10-05 タツタ電線株式会社 導電性ペースト及びこれを用いた多層基板
US10153066B2 (en) 2015-02-27 2018-12-11 Tatsuta Electric Wire & Cable Co., Ltd. Conductive paste and multilayer board using the same
JP2017105911A (ja) * 2015-12-09 2017-06-15 ナミックス株式会社 樹脂組成物、導電性銅ペースト、硬化物、半導体装置
US10887988B2 (en) 2018-09-26 2021-01-05 Nichia Corporation Circuit substrate, component-mounted substrate, and methods of manufacturing circuit substrate and component-mounted substrate
US11864317B2 (en) 2018-09-26 2024-01-02 Nichia Corporation Sn—Bi and copper powder conductive paste in through hole of insulating substrate
JPWO2021153383A1 (ja) * 2020-01-28 2021-08-05
WO2023282351A1 (ja) * 2021-07-09 2023-01-12 タツタ電線株式会社 導電性ペースト、及びこれを用いた多層基板

Also Published As

Publication number Publication date
AU2003234852A1 (en) 2003-12-22
US20060057340A1 (en) 2006-03-16
CN1326155C (zh) 2007-07-11
JPWO2003105160A1 (ja) 2005-10-13
TWI231940B (en) 2005-05-01
CN1656573A (zh) 2005-08-17
KR20050006262A (ko) 2005-01-15
KR100757163B1 (ko) 2007-09-07
TW200400519A (en) 2004-01-01
JP4191678B2 (ja) 2008-12-03
US7214419B2 (en) 2007-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2003105160A1 (ja) 導電性ペースト、これを用いた多層基板及びその製造方法
JP4949802B2 (ja) 導電性ペースト及びこれを用いた多層基板
JP6001231B1 (ja) 導電性ペースト及びこれを用いた多層基板
KR20110049466A (ko) 도전성 접착제와 그 제조 방법 및 이를 포함하는 전자 장치
JP2004047421A (ja) 導電ペースト
JP4778114B2 (ja) 多層配線基板の製造方法及びそれにより得られる多層配線基板
JP6310954B2 (ja) 導電性接着剤および電子基板の製造方法
JP7125907B2 (ja) 導電性組成物
JP4468750B2 (ja) 導電性ペースト及びこれを用いた多層基板
WO2022034696A1 (ja) 導電性組成物
CN109509569B (zh) 电极的连接方法及电子基板的制造方法
JP4109156B2 (ja) 導電性ペースト
JP4437946B2 (ja) 導電性ペースト
JP2004047418A (ja) 導電ペースト
WO2023157941A1 (ja) 導電性ペースト及び多層基板
WO2023282351A1 (ja) 導電性ペースト、及びこれを用いた多層基板
JP2004047423A (ja) 導電ペースト
TW202207387A (zh) 導電性組成物
JP2020044551A (ja) 電極の接続方法および電子基板の製造方法
JP2004047419A (ja) 導電ペースト

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NI NO NZ OM PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020047018656

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2004512145

Country of ref document: JP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2006057340

Country of ref document: US

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 10516236

Country of ref document: US

Ref document number: 20038125323

Country of ref document: CN

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1020047018656

Country of ref document: KR

122 Ep: pct application non-entry in european phase
WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 10516236

Country of ref document: US