WO2003073485A1 - Dispositif de refroidissement et dispositif de traitement thermique mettant en oeuvre celui-ci - Google Patents

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WO2003073485A1
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cooling device
processing container
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heat
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PCT/JP2003/002383
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Inventor
Takanori Saito
Kenichi Yamaga
Original Assignee
Tokyo Electron Limited
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection

Definitions

  • the present invention relates to a heat treatment apparatus for performing a heat treatment on an object to be processed such as a semiconductor wafer and a cooling apparatus used for the heat treatment apparatus.
  • various heat treatments such as a film forming process, an etching process, an oxidation process, a diffusion process, and a reforming process are performed on a semiconductor wafer.
  • a vertical batch-type heat treatment apparatus first, transfer the semiconductor wafers from a cassette containing a plurality of semiconductor wafers, for example, about 25 wafers, to a vertical wafer boat. .
  • the wafer boat can load about 30 to 150 wafers depending on the wafer size.
  • the processing container is hermetically sealed.
  • a predetermined heat treatment is performed on the semiconductor wafer while controlling various process conditions such as a flow rate of a process gas, a process pressure, and a process temperature.
  • the outer periphery of a conventional general processing vessel is provided with a heater for heating the wafer and a heat insulating layer made of a heat insulating material such as alumina and silica.
  • the heat insulation layer is provided to keep the processing vessel warm and secure around the processing vessel.
  • metal impurities such as B, Fe, and Cu contained in the heat-insulating layer in a high-temperature state gradually penetrate through the quartz processing container and enter the processing container to slightly remove the wafer. It has been pointed out that there is a possibility of contamination. To eliminate this possibility, heat treatment equipment that does not use a heat insulation layer has been developed.
  • the heat treatment apparatus 2 has a vertical processing vessel 8 made of quartz and having a double tube structure including an inner cylinder 4 and an outer cylinder 6.
  • the processing space S in the inner cylinder 4 accommodates a wafer boat 10 made of quartz, and the wafer port 10 holds a large number of semiconductor wafers W at intervals in the vertical direction.
  • a cap 12 for opening and closing the lower opening of the processing container 8 is provided.
  • the cap 12 is provided with a rotating shaft 16 via a magnetic fluid seal 14.
  • a rotary table 18 is provided at an upper end of the rotary shaft 16, and a heat retaining cylinder 20 is provided on the table 18.
  • the wafer boat 10 is placed on the heat retaining cylinder 20.
  • the cap 12 is attached to an arm 24 of a boat elevator 22 that can be moved up and down.
  • the cap 12 can be moved up and down together with the rotating shaft 16 and the wafer boat 10.
  • the wafer boat 10 is inserted into the processing container 8 from the lower opening of the processing container 8.
  • a stainless steel manifold 26 is joined to the lower end of the processing container 8.
  • the manifold 26 has a plurality of gas nozzles 28 A and 28 B penetrating therethrough for introducing various processing gases required for a predetermined heat treatment, for example, a film forming process, into the processing container 8. are doing.
  • the gas nozzles 28A and 28B are connected to gas supply systems 30A and 30B, respectively, and the gas supply systems 30A and 30B are connected to a mass opening for controlling the gas flow rate.
  • a flow controller 32 As 32 B such as a controller is interposed.
  • Each processing gas supplied from each of the gas nozzles 28 A and 28 B rises in the wafer accommodating area, which is the processing space S in the inner cylinder 4, and reaches the ceiling, where it is turned downward, and turned back down. It flows downward in the gap between the outer cylinder 6 and is finally discharged out of the processing vessel 8.
  • An exhaust port 34 is provided on a side wall of the manifold 26, and a vacuum pump (not shown) for evacuating the inside of the processing container 8 is connected to the exhaust port 34.
  • a plurality of bar-shaped heaters 36 extending in the vertical direction are provided outside the processing container 8 so as to surround the processing container 8, and the wafer 36 in the processing container 8 heats the wafer W in the processing container 8 at a predetermined temperature. Heat to
  • a tubular cooling jacket 38 without heat insulation is provided outside the heater 36.
  • the cooling jacket 38 is a stainless steel tubular inner shell 38 A and outer seal 38 B spaced and joined together Having.
  • the inner and outer shells 38A, 38B are welded with a large number of partition plates 40 that partition the space formed between the seals and form a meandering refrigerant passage 42.
  • the cooling jacket 38 functions as a heat insulating layer, and maintains the atmosphere outside the cooling jacket 38 at a safe temperature.
  • the pressure of the cooling water passing through the cooling jacket 38 is relatively high, usually about 5 kg / cm 2 , the strength of the inner shell 38 A and the outer shell 38 B is considerably increased to withstand this pressure.
  • the thickness t of the inner and outer shells 38A and 38B is set as thick as about 6 mm. Therefore, there is a problem that the weight of the cooling jacket 38 is increased, and as a result, there is a problem that the supporting structure of the cooling jacket 38 is enlarged and complicated. Further, since the partition plate 40 is welded between the inner shell 38A and the outer shell 38B, it is difficult to manufacture the cooling jacket 38, and as a result, the manufacturing cost is increased. Also, if welding defects occur, the flow of cooling water may be short-circuited, resulting in uneven cooling and temperature variations between wafers during heat treatment.
  • An object of the present invention is to provide a cooling device which is light in weight, has high cooling efficiency and high reliability, and a heat treatment device using the same.
  • the present invention relates to a processing container for accommodating an object to be processed and a cooling device for a heat treatment apparatus having a heater for heating the object to be processed in the processing container; A cylindrical base member formed to accommodate the heater; and a coil member wound along the surface of the base member and brazed to the surface of the base member to flow a refrigerant therein.
  • a cooling device comprising:
  • the pipe member may be wound along an outer surface of the cylindrical base member. You. Further, the pipe member can be spirally wound along the outer surface of the cylindrical base member.
  • the pipe member may have a plurality of pipe sections each having a refrigerant passage separated from one another.
  • the refrigerant is preferably supplied and discharged individually to each pipe portion.
  • each of said pipe sections is located at a different height of said tubular base member.
  • the cooling device may further include a refrigerant supply unit that supplies a refrigerant to the cooling pipe member.
  • a surface treatment on the inner surface of the cylindrical base member to increase the reflectance of the inner surface to heat rays, or a surface treatment to reduce the reflectance of the inner surface to heat rays. can be applied.
  • Surface treatments to increase reflectivity include mirror finishing of the inner surface and formation of a ceramic or metal film formed on the inner surface.
  • the present invention further provides a processing vessel in which a processing object is accommodated and a cooling device for a heat treatment apparatus having a heater for heating the processing object in the processing container, wherein the processing container and the heating vessel are A cooling pipe formed so as to be accommodated, the cooling pipe being a pipe member wound so as to form a cylindrical body, having a pipe member through which a refrigerant can flow, and the pipe The vertically adjacent portions of the pipe member are in close contact with each other so that the surface of the member forms the outer surface and the inner surface of the cooling cylinder, and no gap is formed between the outer surface and the inner surface of the cooling cylinder. And a cooling device characterized by being joined.
  • the cooling device may further include a refrigerant supply unit that supplies a refrigerant to the cooling pipe member.
  • the pipe member may be spirally wound.
  • the pipe member may have a plurality of pipe sections each having a refrigerant passage separated from one another.
  • the refrigerant is preferably supplied and discharged individually to each pipe portion.
  • each of the pipe sections is arranged at a different height of the cooling cylinder.
  • the reflectance of the inner surface to heat rays Or a surface treatment for reducing the reflectance of the inner surface to heat rays.
  • the present invention further provides a heat treatment apparatus provided with the above cooling device.
  • FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a main part of a heat treatment apparatus including a cooling device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of a main part of the heat treatment apparatus shown in FIG.
  • FIG. 3 is a perspective view of the heat stick shown in FIG.
  • FIG. 4 is a side view of the cooling device shown in FIG.
  • FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view showing a portion A in FIG.
  • FIG. 6 is a longitudinal sectional view of a main part of a heat treatment apparatus including a cooling apparatus according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a side view of the cooling device shown in FIG.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing a portion B in FIG. 6 in an enlarged manner.
  • FIG. 9 is a longitudinal sectional view showing an example of a conventional heat treatment apparatus. Description of the preferred embodiment
  • the heat treatment apparatus 50 has a treatment vessel 56 having a double tube structure.
  • the processing container 56 has a cylindrical inner cylinder 52 made of quartz, and an outer cylinder 54 made of quartz concentrically arranged outside the inner cylinder 52 with a predetermined gap.
  • the lower end of the processing vessel 56 is supported by a stainless steel cylindrical manifold 58 via a sealing member 57 such as an O-ring.
  • the lower end of the inner cylinder 52 is supported by a ring-shaped support plate 58 A protruding inward from the inner wall of the manifold 58.
  • a large number of semiconductor wafers W ie, objects to be processed are contained in the processing vessel 56.
  • a quartz wafer boat 60 that is, an object-holding means that holds the wafers at intervals in the vertical direction is loaded. In an exemplary embodiment, the wafer boat 60 holds 25 wafers W having a diameter of 300 mm at equal intervals.
  • the wafer boat 60 is mounted on a rotary table 64 via a quartz heat retaining tube 62.
  • the rotary table 64 is supported on the upper surface of a rotary shaft 68 that penetrates a lid 66 that opens and closes a lower end opening of the manifold 58.
  • a magnetic fluid seal 70 is provided at a portion of the lid 66 through which the rotating shaft 68 penetrates.
  • the magnetic fluid seal 70 is a rotating shaft
  • the rotating shaft 68 is attached to a tip of an arm 76 extending from a lifting mechanism 74 called a boat elevator. With the lifting mechanism 74, members such as the wafer boat 60 and the lid 66 can be raised and lowered together.
  • An exhaust port 78 for discharging the atmosphere in the processing vessel 56 from the bottom of the gap between the inner cylinder 52 and the outer cylinder 54 is provided on the side of the manifold 58.
  • the exhaust port 78 is connected to a vacuum exhaust system provided with a vacuum pump (not shown).
  • the manifold 58 is connected to processing gas introduction means 80 for supplying a processing gas into the inner cylinder 52.
  • the processing gas introduction means 80 is composed of two gas supply systems 82, 84.
  • the gas supply systems 82, 84 deviate gas nozzles 86, 88 penetrating through the side wall of the manifold 58. Have.
  • the gas nozzles 86, 88 are connected to gas flow paths 94, 96 in which flow controllers 90, 92, such as mass flow controllers, are respectively provided. Therefore, the gas supply system 82,
  • the gas supply system is not limited to two systems, and can be provided in a number corresponding to the type of gas required for the heat treatment.
  • the heating means 98 is composed of a plurality of, for example, eight (see FIG. 2) heating rods 100 arranged at regular intervals along the circumferential direction of the processing container 56. As shown in FIG. 3, each heat bar 100 has a U-shape with its upper part bent. The upward and downward length of the heat sink bar 100 is greater than the length of the wafer boat 60 in the vertical direction.
  • One night bar The processing container 56 slightly extends from the outer wall surface of the outer cylinder 54 and extends vertically along the outer wall surface. The lower end portion of the heater rod 100 is bent in an L shape.
  • the end 100 A of the heat bar 100 is fixed to the manifold 58 so that the heat bar 100 is supported by the manifold 58 in an upright position.
  • a carbon wire bar having a carbon wire covered with a quartz layer can be used as the bar 100.
  • Each heater rod 100 is connected to a heater power source 106 via a power supply line 1 2 through which a switch 104 is interposed.
  • the heat treatment device 50 further includes a cooling device 108 according to the present invention.
  • the cooling device 108 is wound around the side wall of the cylindrical member 110 (that is, the base member) surrounding the processing vessel 56 and the heating rod 100, and brazed to the side wall.
  • a refrigerant supply means 114 for supplying a refrigerant to the cooling pipe 112.
  • the cylindrical member 110 and the cooling pipe 112 are also referred to as a “cooling cylinder”.
  • the cylindrical member 110 includes a cylindrical portion that forms a side wall of the cylindrical member 110 and a ceiling portion that closes an upper end of the cylindrical portion.
  • the cylindrical member 110 is made of a metal material such as aluminum or stainless steel.
  • the thickness t1 of the cylindrical member 110 may be very thin, for example, about 1.5 bandits.
  • the cooling pipe 112 is made of a metal material such as stainless steel, aluminum, titanium, and copper.
  • the cooling pipes 112 preferably have a rectangular or square cross section. By adopting such a cross section, the joining of the cooling pipe 112 to the cylindrical member 110 becomes easy, and the joining area can be increased. Further, a portion adjacent to the cooling pipe 112 in the vertical direction The joining of the cooling pipes 1 and 2 is facilitated, and a gap is less likely to be formed between vertically adjacent portions of the cooling pipes 112.
  • the cross-section of the cooling pipe 1 12 can also have other shapes, for example an elliptical shape.
  • the cooling pipe 1 12 has a spiral shape on the side wall of the tubular member 110, preferably on the outer surface of the side wall.
  • the cooling pipes 1 1 and 2 be in contact with each other in the vertical direction so as not to form a gap. The presence of some gaps is acceptable.
  • FIG. 5 facing the outer surface of the side wall of the cylindrical member 110 The surface of the cooling pipe 1 12 is brazed to the cylindrical member 110 with a brazing material 1 16 over the entire length of the cooling pipe 1 12.
  • the cylindrical member 110 and the cooling pipe 112 are metallically connected, and the heat transfer efficiency between the two is extremely high.
  • the reflectance of the inner peripheral surface of the cylindrical member 110 with respect to heat rays is A surface treatment is performed to increase the height.
  • a surface treatment includes a film forming process such as a plating process or a sputtering process.
  • a film 118 made of ceramic such as titanium nitride and a metal such as copper, chromium, nickel or gold is formed on the inner peripheral surface of the cylindrical member 110 (FIG. 5). See).
  • heat rays entering the cylindrical member 110 from the heat sink 100 and the processing vessel 56 side can be applied to the heat sink 100 and the processing vessel 56. Since the light is reflected toward, the heating efficiency can be increased.
  • the surface treatment for increasing the reflectance with respect to heat rays includes mirror finishing of the inner peripheral surface of the cylindrical member 110.
  • mirror finish is, JIS (Japanese Industrial Standard) B 0 6 0 I "1 9 9 4 - value of R y, which is measured in accordance with (the surface roughness defined and display) is is the number / less
  • the value of Ry is preferably 5 m or less, and more preferably 1 m or less.
  • mechanical polishing Any known polishing method such as chemical polishing or electrochemical polishing can be used.
  • the cylindrical member 110 When the processing temperature of the heat treatment performed by the heat treatment apparatus 50 is a low temperature of, for example, about 50 to 600 ° C., in order to improve the temperature reduction rate in a low temperature range, the cylindrical member 110 The inner peripheral surface is subjected to a surface treatment for lowering the reflectance to heat rays, that is, a blackening treatment.
  • a surface treatment for lowering the reflectance to heat rays that is, a blackening treatment.
  • Such surface treatments include, for example, a coating of black paint.
  • Surface treatment such as blasting, thermal spraying or blasting.
  • the cooling pipe 112 is divided into a plurality (four in FIG. 4) of the sections 112A, 112B, 112C, and 112D. These portions 1 12 A to 1 12 D cover four regions of the processing container 56 having different heights, respectively.
  • an inlet port 120 for introducing refrigerant and an outlet port 122 for discharging refrigerant are provided at both ends. Have been. Note that a single continuous refrigerant flow path can be formed in the cooling pipe 112 without dividing the cooling pipe 112 into a plurality of portions.
  • the refrigerant supply means 114 has a refrigerant circulation line 124.
  • a refrigerant circulation pump 126 for circulating the refrigerant and a cooling heat exchanger 128 for re-cooling the refrigerant heated by the heat exchange are provided.
  • the refrigerant circulation line 1 24 on the supply side is branched into a plurality of branch lines, and each branch line is connected to the inlet port 12 Are linked.
  • the refrigerant circulation line 124 on the recovery side is branched into a plurality of branch lines, and each branch line is an outlet port 1 12 A to 1 12 D of each part of the cooling pipe 112. Connected to 2. It is also possible to adopt a configuration in which the refrigerant once passed through the cooling pipes 11 and 12 is discarded without using the refrigerant in circulation.
  • water can be used, but is not limited to this.
  • the wafer boat 60 on which the semiconductor wafer W is placed is inserted into the processing vessel 56 from below the processing vessel, and the lower end opening of the manifold 58 is closed with the lid 66 to seal the processing vessel 56. I do.
  • the inside of the processing vessel 56 is evacuated to maintain a predetermined process pressure, and power is supplied to the heating rod 100 to raise the wafer temperature, and the wafer temperature is further stabilized at the predetermined process temperature. Wait until you do.
  • a predetermined processing gas is supplied into the processing vessel 56 from each nozzle 86, 88 of the gas supply system 82, 84 of the processing gas introduction means 80 while controlling the flow rate.
  • the refrigerant supply means 114 is operated to supply the refrigerant to the portions 112 A to 112 D of the cooling pipe 112 via the refrigerant supply line 124.
  • C Heat treatment can be performed.
  • the power supply to the heat sink 100 and the supply of the processing gas into the processing container 56 are stopped. After this, the supply of the refrigerant to the cooling pipes 11 and 12 is continued, and the temperature of the processing container 56 and the semiconductor wafer W inside the processing container 56 is reduced to a predetermined handling temperature. Then, when the wafer temperature falls to the handling temperature, the processed wafer W is unloaded from the processing container 56.
  • the cooling pipe 111 is wound around the cylindrical member 110, and the cooling pipe 112 is brazed to the cylindrical member 110. Therefore, the cooling pipe 112 can sufficiently withstand the pressure of the refrigerant even if its thickness is thin.
  • the cooling device 108 of the present invention the welding of the partition plate 40 (see FIG. 9) required in the conventional device is unnecessary. Therefore, the manufacturing cost of the device can be reduced, and the cooling performance and reliability of the device can be improved.
  • the cooling pipe 1 1 2 and the cylindrical member 1 10 are metallically connected via the brazing material 1 16, the heat conduction between the cooling pipe 1 1 2 and the cylindrical member 1 1 0 Sex is very good. Thereby, the cooling efficiency can be improved.
  • the cooling device 108 of the present invention it becomes unnecessary to provide a heat insulating layer having a large heat capacity around the processing container 56. For this reason, the rate of temperature rise and fall of the wafer W and the processing vessel 56 can be greatly increased, and the throughput can be improved.
  • the cooling pipe 112 is divided into a plurality of portions 112A to 112D so that the refrigerant flows through each portion, the cooling efficiency in the height direction of the processing vessel 56 is improved. Is suppressed. For this reason, temperature variations among a plurality of wafers W simultaneously processed are suppressed, and uniform processing can be performed.
  • the cooling pipe 1 12 was joined to the outer peripheral surface of the cylindrical member 110, but instead, the cooling pipe 1 12 was joined to the inner peripheral surface of the cylindrical member 110. You may do it.
  • the cooling pipe 112 is spirally wound around the cylindrical member 110.
  • the cooling pipes 112 may be spirally arranged horizontally or vertically.
  • FIGS. 6 to 8 the same components as those shown in FIGS. 1 to 5 are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
  • the cooling cylinder is configured by winding and joining the cooling pipe 1 12 around the cylindrical member 110, but in the second embodiment, the cooling cylinder (cooling jacket) 1 34 is composed of only the cooling pipes 112 without using the tubular member 110.
  • the configuration of the cooling device other than the cooling cylinder and the configuration of the heat treatment device are exactly the same as those of the first embodiment.
  • the cooling cylinder 134 is manufactured as follows. First, a cooling pipe 1 1 2 having a rectangular or square cross section is spirally wound so that no gap is formed in the vertical direction. The portions of the cooling pipes 1 and 2 that come into contact with each other in the up-down direction are joined by brazing via brazing materials 13 2. The joining of the cooling pipe members 112 in the vertical direction is not limited to brazing, and may be performed by any joining method, for example, welding, as long as the strength of the joined portion is sufficiently ensured.
  • the cooling pipes 112 have a plurality of, for example, four parts 111A, 112B, 112C, 112, as in the first embodiment. D, and the refrigerant supply means 124 allows the individual supply and discharge of the refrigerant to and from the respective sections 112 A to 112 D of the cooling pipe 112. ing.
  • the inner peripheral surface of the cooling cylinder 134 is subjected to a surface treatment for increasing or decreasing the rate of reflection against heat rays, as in the first embodiment.
  • the ceiling of the cooling cylinder shown in FIG. 6 is open, a lid may be provided here to close the ceiling.
  • the second embodiment substantially the same advantageous effects as in the first embodiment can be obtained.c Further, since the second embodiment does not use the cylindrical member 110 used in the first embodiment. However, the weight of the cooling cylinder can be further reduced. Also, the heat capacity of the cooling cylinder Therefore, the heating rate and the cooling rate can be increased, and the throughput can be further improved. Further, the manufacturing process is further simplified, and the manufacturing cost can be reduced. According to the first embodiment, since the cylindrical member 110 is used, the inner peripheral surface of the cooling cylinder can be easily formed smoothly.
  • the heat rays are uniformly reflected by the inner peripheral surface of the cooling cylinder, so that the temperature variation among a plurality of wafers W is reduced and the in-plane temperature of one wafer W Uniformization can be realized more easily.
  • the cooling pipe is formed into a cylindrical body by being spirally wound.
  • a cooling pipe is divided into a plurality of pipe sections, each pipe section is wound in a ring shape, and the plurality of pipe sections wound in a ring shape are vertically stacked one on top of the other and joined together.
  • a cylindrical body may be formed.
  • the refrigerant is individually supplied and discharged to each pipe portion.
  • water is used as the refrigerant.
  • refrigerants such as Galden (registered trademark) and Florinert (registered trademark), may be used. Is also good.
  • the processing vessel 56 has a double pipe structure including the inner cylinder 52 and the outer cylinder 54.
  • the present invention is not limited to this. It may be a container.
  • the object to be processed is not limited to a semiconductor wafer, but may be a glass substrate or an LCD substrate.

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Description

明 现 曞 冷华装眮及びこれを甚いた熱凊理装眮 技 術 分 野
本発明は、 半導䜓りェハ等の被凊理䜓に察しお熱凊理を斜す熱凊理装眮及びこ れに甚いられる冷华装眮に関する。 背 景 技 術
䞀般に、 半導䜓集積回路を補造するためには半導䜓りェハに察しお、 成膜凊理、 ゚ッチング凊理、 酞化凊理、 拡散凊理および改質凊理等の各皮の熱凊理が行なわ れる。 これらの熱凊理を瞊型のバッチ匏の熱凊理装眮にお行う堎合には、 たず、 半導䜓りェハを耇数枚、 䟋えば 2 5枚皋床収容するカセットから、 該半導䜓ゥェ ハを瞊型のりェハボヌトぞ移す。 りェハボヌトは、 りェハサむズにもよるが 3 0 〜1 5 0枚皋床のりェハを茉眮できる。 このりェハボヌトが凊理容噚内にその䞋 方よりロヌドされた埌、 凊理容噚が気密に密閉される。 そしお、 凊理ガスの流量、 プロセス圧力、 プロセス枩床等の各皮のプロセス条件を制埡し぀぀、 半導䜓ゥェ ハに所定の熱凊理が斜される。
埓来の䞀般的な凊理容噚の倖呚郚分には、 りェハを加熱するためのヒヌ倕ず、 アルミナ、 シリカ等の断熱材からなる断熱局ずが蚭けられおいる。 断熱局は、 凊 理容噚の保枩および凊理容噚呚囲の安党を確保するために蚭けられおいる。 しか し、 最近では、 高枩状態になっおいる断熱局に含たれる B、 F e、 C u等の金属 䞍玔物が石英補の凊理容噚を次第に透過しお凊理容噚内郚に䟵入し、 りェハを僅 かに汚染しおしたう、 ずいう可胜性が指摘されおいる。 この可胜性を排陀するた めに、 断熱局を甚いない熱凊理装眮も開発されおきおいる。 たた、 スルヌプット 向䞊の芳点から、 凊理容噚の昇降枩速床を速くするために凊理炉党䜓の熱容量を 小さくするこずも望たれおいる。 この点からも、 䞊述の断熱局を甚いない熱凊理 装眮が望たれおいる。
ここで、 図 9を参照しお、 前述した断熱局を持たない埓来の熱凊理装眮の䞀䟋 に぀いお説明する。 この熱凊理装眮 2は、 内筒 4ず倖筒 6ずからなる二重管構造 の石英補の瞊型の凊理容噚 8を有しおいる。 内筒 4内の凊理空間 Sには、 石英補 のりェハボヌト 1 0が収容されおおり、 このりェハポヌト 1 0には倚数の半導䜓 りェハ Wが䞊䞋方向に間隔をおいお保持される。
この凊理容噚 8の䞋郚開口を開閉するキャップ 1 2が蚭けられ、 キャップ 1 2 には磁性流䜓シヌル 1 4を介しお回転軞 1 6が蚭けられる。 この回転軞 1 6の䞊 端に回転テヌブル 1 8が蚭けられ、 このテヌブル 1 8䞊に保枩筒 2 0が蚭けられ おいる。 保枩筒 2 0䞊にりェハボヌト 1 0が茉眮される。 キャップ 1 2は昇降可 胜なボヌト゚レべ䞀倕 2 2のアヌム 2 4に取り付けられおおり、 キャップ 1 2は 回転軞 1 6およびりェハボヌト 1 0等ず䞀緒に昇降可胜である。 りェハボヌト 1 0は凊理容噚 8の䞋郚開口から凊理容噚 8内に挿入される。
凊理容噚 8の䞋端郚には、 ステンレス補のマ二ホヌルド 2 6が接合されおいる。 マ二ホヌルド 2 6には、 所定の熱凊理、 䟋えば成膜凊理に必芁な皮々の凊理ガス を凊理容噚 8内ぞ導入するための耇数、 図瀺䟋では 2぀のガスノズル 2 8 A、 2 8 Bが貫通しおいる。 ガスノズル 2 8 A、 2 8 Bには、 それそれガス䟛絊系 3 0 A、 3 0 Bが接続されるず共に、 各ガス䟛絊系 3 0 A、 3 0 Bには、 ガス流量を 制埡するマスフ口䞀コントロヌラのような流量制埡噚 3 2 As 3 2 Bが介蚭され おいる。
各ガスノズル 2 8 A、 2 8 Bより䟛絊された各凊理ガスは、 内筒 4内の凊理空 間 Sであるりェハの収容領域を䞊昇しお倩井郚に達し、 そこで䞋方ぞ折り返し、 内筒 4ず倖筒 6ずの間隙内を䞋方に流れ、 最埌に凊理容噚 8倖に排出される。 マ 二ホ䞀ルド 2 6の偎壁には、 排気口 3 4が蚭けられおおり、 この排気口 3 4には、 凊理容噚 8内を真空匕きする図瀺しない真空ポンプが接続されおいる。 凊理容噚 8の倖偎には、 䞊䞋方向に延びる耇数の棒状のヒヌ倕 3 6が凊理容噚 8を囲んで 蚭けられおおり、 ヒ䞀倕 3 6は、 凊理容噚 8内のりェハ Wを所定の枩床に加熱す
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ヒヌ倕 3 6の倖偎には、 断熱材を持たない筒状の冷华ゞャケット 3 8が蚭けら れおいる。 冷华ゞャケット 3 8は、 間隔をおいお配眮されるずずもに盞互に接合 されたステンレススチヌル補の筒状の内偎シェル 3 8 Aおよび倖偎シヱル 3 8 B を有する。 内偎および倖偎シェル 3 8 A , 3 8 Bには、 これらシヱル間に圢成さ れた空間を仕切っお、 蛇行する冷媒通路 4 2を圢成する倚数の仕切板 4 0が溶接 されおいる。 冷媒通路 4 2に冷华氎が流されるず、 冷华ゞャケット 3 8は断熱局 ずしお機胜し、 冷华ゞャケット 3 8の倖偎の雰囲気を安党な枩床に維持する。 ずころで、 冷华ゞャケヅト 3 8を通る冷华氎の圧力は通垞 5 kg/cm2皋床ず比 范的高いため、 この圧力に耐えるために内偎シェル 3 8 A及び倖偎シェル 3 8 B の匷床をかなり高くしなければならない。 このため、 内偎及び倖偎シェル 3 8 A、 3 8 Bの厚さ tは、 6 mm皋床ず厚く蚭定されおいる。 このため、 冷华ゞャケッ ト 3 8の重量が倧きくなるずいう問題、 およびその結果ずしお冷华ゞャケット 3 8の支持構造の倧型化および耇雑化ずいう問題がある。 たた、 内偎シェル 3 8 A ず倖偎シェル 3 8 Bずの間に仕切板 4 0を溶接しおいるため、 冷华ゞャケット 3 8の補造が困難であり、 その結果補造コストの増倧を招いおいる。 たた、 仮に溶 接䞍良が発生するず、 冷华氎の流れの短絡が生じ、 その結果ずしお冷华の䞍均䞀 や熱凊理䞭におけるりェハ間での枩床ばら぀きが生じおしたうおそれもある。 さ らに、 仕切板 4 0が溶接されおいる郚䜍に察応する内偎シヱル 3 8 Aの凊理容噚 8に察向する面に溶接ひずみ若しくは溶接ビヌドが珟れるず、 その郚分の反射率 が局所的に倉化し、 りェハ間での枩床ばら぀きが生じおしたうずいう問題もある 発明の芁玄
本発明は、 以䞊のような問題点に着目し、 これを有効に解決すべく創案された ものである。 本発明の目的は、 重量が軜く、 冷华効率が高く及び信頌性も高い冷 华装眮及びこれを甚いた熱凊理装眮を提䟛するこずにある。
䞊蚘目的を達成するため、 本発明は、 被凊理䜓が収容される凊理容噚および該 凊理容噚内の前蚘被凊理䜓を加熱するヒヌタを有する熱凊理装眮のための冷华装 眮においお、 前蚘凊理容噚および前蚘ヒヌタを収容できるように圢成された筒状 のべ䞀ス郚材ず、 前蚘べ䞀ス郚材の衚面に沿っお卷かれるずずもに前蚘ベヌス郚 材の衚面にろう付けされ、 内郚に冷媒を流すこずができるように圢成されたパむ プ郚材ず、 を備えた冷华装眮を提䟛する。
前蚘パむプ郚材は、 前蚘筒状のベヌス郚材の倖偎衚面に沿っお巻くこずができ る。 たた、 前蚘パむプ郚材は、 前蚘筒状のベヌス郚材の倖偎衚面に沿っお螺旋状 に巻くこずができる。
前蚘パむプ郚材は、 それそれ互いに分離された冷媒通路を有する耇数のパむプ 郚分を有するこずができる。 この堎合、 奜適には、 各パむプ郚分に個別的に冷媒 が䟛絊および排出される。 奜適には、 前蚘各パむプ郚分は、 前蚘筒状のベヌス郚 材の異なる高さにそれそれ配眮される。
本発明による冷华装眮は、 前蚘冷华パむプ郚材に冷媒を䟛絊する冷媒䟛絊手段 を曎に備えお構成するこずができる。
必芁に応じお、 前蚘筒状のベヌス郚材の内偎衚面に、 前蚘内偎衚面の熱線に察 する反射率を高くするための衚面凊理、 たたは前蚘内偎衚面の熱線に察する反射 率を䜎くするための衚面凊理を斜すこずができる。 反射率を高くするための衚面 凊理には、 前蚘内偎衚面の鏡面仕䞊げ、 および前蚘内偎衚面に圢成されたセラミ ックたたは金属の膜の圢成が含たれる。
本発明は、 曎に、 被凊理䜓が収容される凊理容噚および該凊理容噚内の前蚘被 凊理䜓を加熱するヒヌ倕を有する熱凊理装眮のための冷华装眮においお、 前蚘凊 理容噚および前蚘ヒヌ倕を収容できるように圢成された冷华筒を備え、 前蚘冷华 筒は、 筒状䜓を圢成するように巻かれたパむプ郚材であっお、 内郚に冷媒を流す こずができるパむプ郚材を有し、 前蚘パむプ郚材の衚面が、 前蚘冷华筒の倖偎衚 面および内偎衚面をなし、 前蚘冷华筒の倖偎衚面および内偎衚面に隙間が生じな いように、 前蚘パむプ郚材の䞊䞋方向に隣接する郚分同士が密接し、 か぀接合さ れおいるこず特城ずする、 冷华装眮を提䟛する。
前蚘冷华装眮は、 前蚘冷华パむプ郚材に冷媒を䟛絊する冷媒䟛絊手段を曎に備 えお構成するこずができる。
前蚘パむプ郚材は、 螺旋状に巻くこずができる。
前蚘パむプ郚材は、 それそれ互いに分離された冷媒通路を有する耇数のパむプ 郚分を有するこずができる。 この堎合、 奜適には、 各パむプ郚分に個別的に冷媒 が䟛絊および排出される。 奜適には、 前蚘各パむプ郚分は、 前蚘冷华筒の互いに 異なる高さにそれそれ配眮される。
必芁に応じお、 前蚘冷华筒の内偎衚面に、 前蚘内偎衚面の熱線に察する反射率 を高くするための衚面凊理、 たたは前蚘内偎衚面の熱線に察する反射率を䜎くす るための衚面凊理を斜すこずができる。
本発明は、 曎に、 䞊蚘冷华装眮を備えた熱凊理装眮を提䟛する。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明による冷华装眮の第 1の実斜圢態を含む熱凊理装眮の芁郚の瞊 断面図である。
図 2は、 図 1に瀺す熱凊理装眮の芁郚の暪断面図である。
図 3は、 図 1に瀺すヒヌ倕棒の斜芖図である。
図 4は、 図 1に瀺す冷华装眮の偎面図である。
図 5は、 図 1䞭の A郚を拡倧しお瀺す断面図である。
図 6は、 本発明による冷华装眮の第 2の実斜圢態を含む熱凊理装眮の芁郚の瞊 断面図である。
図 7は、 図 6に瀺す冷华装眮の偎面図である。
図 8は、 図 6䞭の B郚を拡倧しお瀺す断面図である。
図 9は、 埓来の熱凊理装眮の䞀䟋を瀺す瞊断面図である。 奜適な実斜圢態の説明
以䞋に、 本発明に係る冷华装眮及びこれを甚いた熱凊理装眮の実斜䟋を添付図 面に基づいお詳述する。
[第 1の実斜圢態]
図 1乃至図 5を参照しお本発明の第 1の実斜圢態に぀いお説明する。 熱凊理装 眮 5 0は、 2重管構造の凊理容噚 5 6を有する。 凊理容噚 5 6は、 筒状の石英補 の内筒 5 2ず、 内筒 5 2の倖偎に所定の間隙をおいお同心円状に配眮された石英 補の倖筒 5 4ずを有する。
凊理容噚 5 6の䞋端は、 0リング等のシ䞀ル郚材 5 7を介しおステンレススチ —ル補の筒状のマ二ホヌルド 5 8によっお支持されおいる。 内筒 5 2の䞋端は、 マ二ホヌルド 5 8の内壁から内偎ぞ突出するリング状の支持板 5 8 Aにより支持 されおいる。 凊理容噚 5 6内には、 倚数の半導䜓りェハ W (すなわち被凊理䜓 を䞊䞋方向に間隔をおいお保持する石英補のりェハボヌト 6 0 (すなわち被凊理 䜓保持手段 が装填されおいる。 兞型的な実斜圢態では、 りェハボヌト 6 0には、 盎埄が 3 0 0 mmの 2 5枚のりェハ Wが等間隔で保持される。
りェハボ䞀ト 6 0は、 石英補の保枩筒 6 2を介しお回転テヌブル 6 4䞊に茉眮 されおいる。 回転テヌブル 6 4は、 マ二ホヌルド 5 8の䞋端開口を開閉する蓋 6 6を貫通する回転軞 6 8の䞊面に支持される。 蓋 6 6の回転軞 6 8が貫通する郚 分には、 磁性流䜓シヌル 7 0が蚭けられおいる。 磁性流䜓シヌル 7 0は、 回転軞
6 8を気密にシヌルするずずもに、 回転軞 6 8の自由な回転を蚱容する。 蓋 6 6 の呚蟺郚ずマ二ホヌルド 5 8の䞋端ずの間には、 シヌル郚材 7 2䟋えば 0リング
7 2が介蚭されおおり、 凊理容噚 5 6の気密性を確保しおいる。
回転軞 6 8は、 ボヌト゚レべ䞀倕ず呌ばれる昇降機構 7 4から延びるァ䞀ム 7 6の先端に取り付けられおいる。 昇降機構 7 4により、 りェハボヌト 6 0及び蓋 6 6等の郚材を䞀緒に昇降するこずができる。 マ二ホヌルド 5 8の偎郚には、 内 筒 5 2ず倖筒 5 4の間隙の底郚から凊理容噚 5 6内の雰囲気を排出する排気口 7 8が蚭けられおいる。 排気口 7 8には、 図瀺しない真空ポンプが蚭けられた真空 排気系が接続されおいる。 マ二ホヌルド 5 8には、 内筒 5 2内に凊理ガスを䟛絊 する凊理ガス導入手段 8 0が接続される。 凊理ガス導入手段 8 0は、 2぀のガス 䟛絊系 8 2、 8 4よりなり、 ガス䟛絊系 8 2、 8 4は、 マ二ホヌルド 5 8の偎壁 を貫通するガスノズル 8 6、 8 8をそれそれ有しおいる。 ガスノズル 8 6、 8 8 には、 マスフロヌコントロヌラのような流量制埡噚 9 0、 9 2がそれそれ介蚭さ れたガス流路 9 4、 9 6がそれそれ接続されおいる。 埓っお、 ガス䟛絊系 8 2、
8 4により、 熱凊理に必芁な耇数皮のガスをそれそれ流量制埡し぀぀䟛絊するこ ずができる。 ガス䟛絊系は、 2系統に限定されず、 熱凊理に必芁なガスの皮類に 応じた数だけ蚭けるこずができる。
凊理容噚 5 6の倖偎には、 半導䜓りェハ Wを加熱する加熱手段 9 8が蚭けられ る。 加熱手段 9 8は、 凊理容噚 5 6の円呚方向に沿っお等間隔に配眮された耇数、 䟋えば 8本 図 2参照 のヒヌ倕棒 1 0 0からなる。 図 3に瀺すように、 各ヒヌ 倕棒 1 0 0は、 その䞊郚が屈曲した U字圢状を有する。 ヒヌ倕棒 1 0 0の䞊䞋方 向の長さは、 りェハボヌト 6 0の䞊䞋方向の長さより倧きい。 ヒ䞀倕棒 1 0 0は、 凊理容噚 5 6の倖筒 5 4の倖壁面から僅かに離れお該倖壁面に沿っお䞊䞋方向に 延びおいる。 ヒヌタ棒 1 0 0の䞋端郚分は L字圢に屈曲しおいる。 ヒヌ倕棒 1 0 0の端郚 1 0 O Aはマ二ホヌルド 5 8に固定され、 これによりヒヌ倕棒 1 0 0は 盎立姿勢でマ二ホヌルド 5 8によっお支持される。 ヒ䞀倕棒 1 0 0ずしお、 カヌ ボンワむダの呚囲を石英局で被芆しおなるカヌボンワむダヒ䞀倕を甚いるこずが できる。 各ヒヌ倕棒 1 0 0は、 スィツチ 1 0 4が介蚭された絊電ラむン 1◩ 2を 介しお、 ヒヌ倕電源 1 0 6に接続されおいる。
熱凊理装眮 5 0は、 本発明に係る冷华装眮 1 0 8を曎に備えおいる。 冷华装眮 1 0 8は、 凊理容噚 5 6およびヒヌ倕棒 1 0 0を囲む筒郚材 すなわちベヌス郚 材 1 1 0ず、 筒郚材 1 1 0の偎壁に巻き付けられるずずもに該偎壁にろう付け された冷华パむプ 1 1 2 (すなわちパむプ郚材 ず、 冷华パむプ 1 1 2に冷媒を 䟛絊する冷媒䟛絊手段 1 1 4ずを有しおいる。 なお、 以䞋、 本明现曞においお、 筒郚材 1 1 0および冷华パむプ 1 1 2を 「冷华筒」 ずも蚀うこずずする。
筒郚材 1 1 0は、 筒郚材 1 1 0の偎壁をなす円筒郚分ず、 この円筒郚分の䞊端 を塞ぐ倩井郚分ずからなる。 筒郚材 1 1 0は、 アルミニりムやステンレススチヌ ル等の金属材料からなる。 筒郚材 1 1 0の厚さ t 1は、 非垞に薄くおよく、 䟋え ば 1 . 5匪皋床である。
冷华パむプ 1 1 2は、 ステンレススチヌル、 アルミニりム、 チタン、 銅等の金 属材料からなる。 冷华パむプ 1 1 2は、 奜たしくは、 矩圢たたは正方圢の断面を 有する。 このような断面ずするこずにより、 冷华パむプ 1 1 2の筒郚材 1 1 0に 察する接合が容易ずなり、 か぀、 接合面積も倧きくでき、 さらには、 冷华パむプ 1 1 2の䞊䞋方向に隣接する郚分同士の接合が容易ずなり、 か぀、 冷华パむプ 1 1 2の䞊䞋方向に隣接する郚分間に隙間が生じにくくなる。 しかしながら、 冷华 パむプ 1 1 2の断面は、 その他の圢状䟋えば楕円圢ずするこずも可胜である、 冷 华パむプ 1 1 2は筒郚材 1 1 0の偎壁、 奜適には偎壁の倖衚面に、 螺旋状に巻き 付けられおおり、 偎壁の抂ね党䜓を芆っおいる。 冷华パむプ 1 1 2は、 図 4およ び図 5に瀺すように、 䞊䞋方向に隣接するパむプ郚分同士を接觊させお隙間が生 じないようにするこずが奜適であるが、 本実斜圢態においおは倚少の隙間の存圚 は蚱容される。 図 5に瀺すように、 筒郚材 1 1 0の偎壁の倖偎衚面ず向かい合う 冷华パむプ 1 1 2の衚面は、 冷华パむプ 1 1 2の党長にわたっお、 ろう材 1 1 6 により筒郚材 1 1 0に察しおろう付けされおいる。 これにより筒郚材 1 1 0ず冷 华パむプ 1 1 2ずが金属的に結合されるため、 䞡者間の䌝熱効率が非垞に高くな る。
図 5に瀺すように冷华パむプ 1 1 2の䞊䞋方向に隣接するパむプ郚分同士を接 觊させた堎合には、 䞊䞋方向に隣接するパむプ郚分同士も溶接たたはろう付け等 により接合するのが、 匷床向䞊の芳点から奜たしい。 なお、 図 5には図瀺されお いないが、 図 5に瀺すような配眮でろう付けを行えば、 䞊䞋方向に隣接するパむ プ郚分同士もろう付けされる。
この熱凊理装眮 5 0により実斜される熱凊理の凊理枩床が䟋えば 6 0 0〜1 2 0 0 °C皋床の高枩である堎合には、 筒郚材 1 1 0の内呚面に、 熱線に察する反射 率を高くするための衚面凊理が斜される。 このような衚面凊理には、 メツキ凊理 たたはスパッ倕凊理等の膜圢成凊理が含たれる。 このような膜圢成凊理により、 チタンナむトラむド等のセラミック、 䞊びに銅、 クロム、 ニッケルたたは金等の 金属からなる膜 1 1 8が、 筒郚材 1 1 0の内呚面に圢成される 図 5参照 。 熱 線に察する反射率の高い膜 1 1 8を蚭けるこずにより、 ヒ䞀倕 1 0 0および凊理 容噚 5 6偎から筒郚材 1 1 0に入射する熱線がヒヌ倕 1 0 0および凊理容噚 5 6 に向けお反射されるため、 加熱効率を高めるこずができる。
たた、 熱線に察する反射率を高くするための衚面凊理には、 筒郚材 1 1 0の内 呚面の鏡面仕䞊げが含たれる。 ここで鏡面仕䞊げずは、 J I S (日本工業芏栌 B 0 6 0 I " 1 9 9 4 (衚面粗さ—定矩および衚瀺 に準拠しお枬定された R yの倀 が、 数/ 以䞋であるこずを意味する。 具䜓的には、 R yの倀は、 5〃m以䞋で あるこずが奜たしく、 1 m以䞋であるこずがより奜たしい。 このような鏡面仕 䞊げを行うために、 機械研磚、 化孊研磚、 電気化孊研磚等の任意の公知の研磚方 法を甚いるこずができる。
この熱凊理装眮 5 0により実斜される熱凊理の凊理枩床が䟋えば 5 0〜6 0 0 °C皋床の䜎枩である堎合には、 䜎枩域での降枩速床を向䞊させるために、 筒郚材 1 1 0の内呚面には、 熱線に察する反射率を䜎くするための衚面凊理、 すなわち 黒化凊理が斜される。 このような衚面凊理ずしおは、 䟋えば黒色の塗料のコヌテ ィング、 溶射凊理たたはブラスト凊理等の粗面化凊理等がある。
再床図 4を参照するず、 冷华パむプ 1 1 2は、 耇数 図 4では 4぀ の郚分 1 1 2 A、 1 1 2 B、 1 1 2 C、 1 1 2 Dに区分されおいる。 これらの郚分 1 1 2 A~ 1 1 2 Dは、 凊理容噚 5 6の高さの異なる 4぀の領域をそれぞれカバヌしお いる。 冷华パむプ 1 1 2の各郚分 1 1 2 A〜l 1 2 Dの䞡端には、 冷媒を導入す るための入口ポヌト 1 2 0および冷媒を排出するための出口ポヌト 1 2 2がそれ それ蚭けられおいる。 なお、 冷华パむプ 1 1 2を耇数の郚分に区分しないで、 冷 华パむプ 1 1 2内に単䞀の連続した冷媒流路を圢成するこずもできる。
図 1に瀺すように、 冷媒䟛絊手段 1 1 4は、 冷媒埪璟ラむン 1 2 4を有しおい る。 冷华埪環ラむン 1 2 4には、 冷媒を埪環させる冷媒埪璟ポンプ 1 2 6ず、 熱 亀換によっお暖たった冷媒を再床冷华する冷华甚熱亀換噚 1 2 8ずが介蚭されお いる。 䟛絊偎の冷媒埪璟ラむン 1 2 4は耇数の分岐ラむンに分岐しおおり、 各分 岐ラむンは冷华パむプ 1 1 2の各郚分 1 1 2 A〜l 1 2 Dの入口ポヌト 1 2◊に 連結されおいる。 たた、 回収偎の冷媒埪環ラむン 1 2 4は耇数の分岐ラむンに分 岐しおおり、 各分岐ラむンは冷华パむプ 1 1 2の各郚分 1 1 2 A~ 1 1 2 Dの出 口ポヌト 1 2 2に連結されおいる。 なお、 冷媒を埪環䜿甚しないで、 䞀床冷华パ むブ 1 1 2を通した冷媒を廃棄するような構成ずしおもよい。 冷媒ずしおは、 æ°Ž を甚いるこずができるが、 これに限定されないのは勿論である。
次に、 以䞊のように構成された装眮を甚いお行なわれる熱凊理に぀いお説明す る。 たず、 半導䜓りェハ Wが茉眮されたりェハボヌト 6 0を凊理容噚䞋方から凊 理容噚 5 6内に挿入し、 蓋 6 6でマ二ホヌルド 5 8の䞋端開口を閉じお凊理容噚 5 6を密閉する。 そしお、 凊理容噚 5 6内を真空匕きしお所定のプロセス圧力に 維持するず共に、 ヒヌ倕棒 1 0 0に電力を䟛絊しおりェハ枩床を䞊昇させ、 さら にりェハ枩床が所定のプロセス枩床で安定するたで埅機する。 その埌、 所定の凊 理ガスを、 それそれ流量制埡し぀぀凊理ガス導入手段 8 0のガス䟛絊系 8 2、 8 4の各ノズル 8 6、 8 8から凊理容噚 5 6内に䟛絊する。
これず同時に、 冷媒䟛絊手段 1 1 4を動䜜させお、 冷媒䟛絊ラむン 1 2 4を介 しお冷华パむプ 1 1 2の郚分 1 1 2 A〜l 1 2 Dにそれそれ冷媒を䟛絊する。 こ れにより、 冷华装眮 1 0 8およびその呚蟺雰囲気を安党な䜎枩に維持぀぀、 ゥェ ハ wの熱凊理を実斜するこずができる。
りェハ Wの熱凊理が終了したならば、 ヒヌ倕棒 1 0 0ぞの電力䟛絊及び凊理容 噚 5 6内ぞの凊理ガスの䟛絊を停止する。 この埌も、 冷华パむプ 1 1 2ぞの冷媒 の䟛絊は継続しお行い、 凊理容噚 5 6及びその内郚の半導䜓りェハ Wの枩床を所 定のハンドリング枩床たで䜎䞋させる。 そしお、 りェハ枩床がハンドリング枩床 たで䜎䞋したならば、 凊理容噚 5 6内から凊理枈みのりェハ Wをアンロヌドする。 䞊述したように、 本発明の冷华装眮 1 0 8では、 筒郚材 1 1 0に冷华パむプ 1 1 2を巻き付けるずずもに、 冷华パむプ 1 1 2を筒郚材 1 1 0にろう付けしおい る。 このため、 冷华パむプ 1 1 2はその肉厚が薄くおも十分に冷媒の圧力に耐え るこずができる。 このため、 埓来装眮で必芁ずされた厚くお重い内偎シェル 3 8 A及び倖偎シヱル 3 8 B (図 9参照 を甚いる必芁がないため、 冷华筒の重量を 軜くするこずができる。 たた、 本発明の冷华装眮 1 0 8では、 埓来装眮で必芁ず された仕切板 4 0 (図 9参照 の溶接が䞍芁である。 このため、 装眮の補造コス トの䜎枛を図るこずができ、 装眮の冷华性胜および信頌性も向䞊する。
たた、 冷华パむプ 1 1 2ず筒郚材 1 1 0ずはろう材 1 1 6を介しお金属的に結 合しおいるため、 冷华パむプ 1 1 2ず筒郚材 1 1 0ずの間の熱䌝導性は非垞に良 奜である。 これにより、 冷华効率を高めるこずができる。
たた、 本発明の冷华装眮 1 0 8を甚いるこずにより、 凊理容噚 5 6の呚囲に熱 容量の倧きい断熱局を蚭けるこずが䞍芁ずなる。 このため、 りェハ Wや凊理容噚 5 6の昇降枩速床を倧幅に増倧させるこずができ、 スル䞀プットを向䞊させるこ ずができる。
たた、 冷华パむプ 1 1 2を耇数の郚分 1 1 2 A〜l 1 2 Dに分割しお、 各郚分 ごずに冷媒を流すようにしおいるので、 凊理容噚 5 6の高さ方向に関する冷华効 率のばら぀きが抑制される。 このため、 同時に凊理される耇数のりェハ W間での 枩床ばら぀きが抑制され、 均䞀な凊理を行うこずができる。
たた、 䞊蚘の実斜圢態では、 筒郚材 1 1 0の倖呚面に冷华パむプ 1 1 2を接合 したが、 これに代えお、 筒郚材 1 1 0の内呚面に䞊蚘冷华パむプ 1 1 2を接合し おもよい。
たた、 䞊蚘実斜圢態では、 冷华パむプ 1 1 2を筒郚材 1 1 0䞊に螺旋状に巻き 付けおいるが、 これに代えお、 冷华パむプ 1 1 2を氎平方向若しくは䞊䞋方向に 螺旋状に配眮しおもよい。
[第 2の実斜圢態]
次に、 図 6乃至図 8を参照しお本発明の第 2の実斜圢態に぀いお説明する。 図 6乃至図 8においお、 図 1乃至図 5に瀺す構成芁玠ず同䞀構成芁玠に぀いおは同 䞀参照笊号を付しお、 重耇説明は省略する。
先に説明した第 1の実斜圢態では、 冷华筒を筒郚材 1 1 0に冷华パむプ 1 1 2 を巻き付けお接合するこずにより構成したが、 この第 2の実斜圢態では、 冷华筒 (冷华ゞャケヅト 1 3 4を、 筒郚材 1 1 0を甚いないで冷华パむプ 1 1 2のみ で構成しおいる。 なお、 この第 2実斜䟋では、 冷华筒郚分以倖の冷华装眮の構成 および熱凊理装眮の構成は、 第 1実斜圢態ず党く同じである。
第 2の実斜圢態においお、 冷华筒 1 3 4は、 以䞋のようにしお補造される。 た ず、 矩圢たたは正方圢断面の冷华パむプ 1 1 2を、 䞊䞋方向に隙間が生じないよ うに螺旋状に巻く。 冷华パむプ 1 1 2の䞊䞋方向に接觊する郚分同士は、 ろう材 1 3 2を介しおろう付けにより接合される。 なお、 冷华パむプ郚材 1 1 2の䞊䞋 方向における接合は、 ろう付けに限定されず、 接合郚の匷床が十分に確保される のであれば、 任意の接合方法、 䟋えば溶接により行っおもよい。
たた、 図 7に瀺すように、 冷华パむプ 1 1 2は、 第 1実斜䟋の堎合ず同様に、 耇数、 䟋えば 4぀の郚分 1 1 2 A、 1 1 2 B、 1 1 2 C、 1 1 2 Dに区分されお おり、 冷媒䟛絊手段 1 2 4により、 冷华パむプ 1 1 2の各郚分 1 1 2 A〜l 1 2 Dに察しお個別的に冷媒を䟛絊および排出するこずができるようにな぀おいる。 図 8に瀺すように、 冷华筒 1 3 4の内呚面には、 第 1の実斜圢態ず同様に、 熱 線に察する反 率を高くする衚面凊理たたは䜎くする衚面凊理が斜されおいる。 なお、 図 6に瀺す冷华筒は倩井郚が開攟されおいるが、 ここに蓋を蚭けお倩井 郚を塞いでもよい。
この第 2の実斜圢態によれば、 第 1実斜圢態ず抂ね同じ有利な効果が埗られる c 曎に、 この第 2実斜䟋では第 1の実斜圢態で甚いた筒郚材 1 1 0を甚いおいない ため、 冷华筒の曎なる軜量化を図るこずができる。 たた、 冷华筒の熱容量がさら に小さくなるため、 昇枩速床及び降枩速床を䞊げるこずができ、 䞀局スルヌプッ トを向䞊させるこずが可胜ずなる。 たた、 補造工皋が曎に簡略化され、 補造コス トを削枛するこずが可胜ずなる。 なお、 第 1の実斜圢態によれば、 筒郚材 1 1 0 を甚いおいるため、 冷华筒の内呚面を平滑に圢成するこずが容易ずなる。 このた め、 第 1の実斜圢態によれば、 熱線は冷华筒の内呚面にで均䞀に反射されるため、 耇数のりェハ W間の枩床ばら぀きの䜎枛䞊びに 1぀のりェハ Wにおける面内枩床 の均䞀化をより容易に実珟できる。
なお、 䞊蚘第 1および第 2の実斜圢態では、 冷华パむプは螺旋状に巻かれるこ ずにより筒状䜓を圢成しおいるが、 これには限定されない。 䟋えば、 冷华パむプ を耇数のパむプ郚分に分割し、 各パむプ郚分をリング状に巻き、 リング状に巻か れた耇数のパむプ郚分を䞊䞋方向に䞊䞋方向に積み重ねるずずもにこれらを盞互 に接合しお、 筒状䜓を圢成しおもよい。 この堎合、 各パむプ郚分に個別的に冷媒 が䟛絊および排出される。
なお、 䞊蚘第 1および第 2の実斜圢態では、 冷媒ずしお氎を甚いたが、 これに 限定されず、 他の冷媒、 䟋えばガルデン 登録商暙 、 フロリナ䞀ト 登録商 暙 等を甚いおもよい。
なお、 䞊蚘第 1および第 2の実斜圢態では、 凊理容噚 5 6が内筒 5 2および倖 筒 5 4からなる二重管構造であ぀たが、 これに限定されず、 いわゆる単管構造の 凊理容噚ずしおもよい。 たた、 被凊理䜓は、 半導䜓りェハに限定されず、 ガラス 基板や L C D基板であっおもよい。

Claims

請求 の 範 囲
1 . 被凊理䜓が収容される凊理容噚および該凊理容噚内の前蚘被凊理䜓を加 熱するヒヌ倕を有する熱凊理装眮のための冷华装眮においお、
前蚘凊理容噚および前蚘ヒヌ倕を収容できるように圢成された筒状のベヌス郚 材ず、
前蚘ベヌス郚材の衚面に巻かれるずずもに前蚘ベヌス郚材の衚面にろう付けさ れ、 内郚に冷媒を流すこずができるように圢成されたパむプ郚材ず、
を備えた冷华装眮。
2 . 前蚘パむプ郚材は、 前蚘筒状のベ䞀ス郚材の倖偎衚面に卷かれおいるこ ずを特城ずする請求項 1に蚘茉の冷华装眮。
3 . 前蚘パむプ郚材は、 前蚘筒状のペヌス郚材の倖偎衚面に沿っお螺旋状に 巻かれおいるこずを特城ずする請求項 1に蚘茉の冷华装眮。
4 . 前蚘パむプ郚材は、 それそれ互いに分離された冷媒通路を有する耇数の パむプ郚分を有するこずを特城ずする請求項 1に蚘茉の冷华装眮。
5 . 前蚘各パむプ郚分は、 前蚘筒状のベヌス郚材の異なる高さにそれそれ配 眮されおいるこずを特城ずする請求項 1に蚘茉の冷华装眮。
6 . 前蚘冷华パむプ郚材に冷媒を䟛絊する冷媒䟛絊手段を曎に備えたこずを 特城ずする請求項 1に蚘茉の冷华装眮。
7 . 前蚘筒状のベヌス郚材の内偎衚面に、 前蚘内偎衚面の熱線に察する反射 率を高くするための衚面凊理が斜されおいるこずを特城ずする請求項 2に蚘茉の 冷华装眮。
8 . 前蚘衚面凊理は、 前蚘内偎衚面の鏡面仕䞊げであるこずを特城ずする請 求項 7蚘茉の冷华装眮。
9 . 前蚘衚面凊理は、 前蚘内偎衚面に圢成されたセラミックたたは金属の膜 であるこずを特城ずする請求項 7に蚘茉の冷华装眮。
1 0 . 前蚘膜は、 チタンナむトラむド、 銅、 クロム、 ニッケルおよび金から なる矀から遞択された䞀぀の材料からなるこずを特城ずする請求項 9に蚘茉の冷
1 1 . 前蚘筒状のベヌス郚材の内偎衚面に、 前蚘内偎衚面の熱線に察する反 射率を䜎くするための衚面凊理が斜されおいるこずを特城ずする請求項 2に蚘茉 の冷华装眮。
1 2 . 熱凊理装眮においお、
内郚で被凊理䜓に所定の凊理が斜される凊理容噚ず、
前蚘凊理容噚の倖偎に配眮された前蚘凊理容噚内の被凊理䜓を加熱するヒヌ倕 ず、
請求項 1に蚘茉の冷华装眮ず、
を備えた熱凊理装眮。
1 3 . 被凊理䜓が収容される凊理容噚および該凊理容噚内の前蚘被凊理䜓を 加熱するヒ䞀倕を有する熱凊理装眮のための冷华装眮においお、
前蚘凊理容噚および前蚘ヒヌ倕を収容できるように圢成された冷华筒を備え、 前蚘冷华筒は、 筒状䜓を圢成するように卷かれたパむプ郚材であっお、 内郚に 泠媒を流すこずができるパむプ郚材を有し、
前蚘パむプ郚材の衚面が、 前蚘冷华筒の倖偎衚面および内偎衚面をなし、 前蚘冷华筒の倖偎衚面および内偎衚面に隙間が生じないように、 前蚘パむプ郚 材の䞊䞋方向に隣接する郚分同士が密接し、 か぀接合されおいるこずを特城ずす る特城ずする冷华装眮。
1 . 前蚘冷华パむプ郚材に冷媒を䟛絊する冷媒䟛絊手段を曎に備えたこず を特城ずする請求項 1 3に蚘茉の冷华装眮。
1 5 . 前蚘パむプ郚材は、 螺旋状に巻かれおいるこずを特城ずする請求項 1 3に蚘茉の冷华装眮。
1 6 . 前蚘パむプ郚材は、 それそれ互いに分離された冷媒通路を有する耇数 のパむプ郚分を有するこずを特城ずする請求項 1 3蚘茉の冷华装眮。
1 7 . 前蚘冷华筒の内偎衚面に、 前蚘内偎衚面の熱線に察する反射率を高く するための衚面凊理が斜されおいるこずを特城ずする請求項 1 3に蚘茉の冷华装
1 8 . 前蚘冷华筒の内偎衚面に熱線に察する反射率を䜎くするための衚面凊 理が斜されおいるこずを特城ずする請求項 1 3に蚘茉の冷华装眮。
1 9 . 熱凊理装眮においお、
内郚で被凊理䜓に所定の凊理が斜される凊理容噚ず、
前蚘凊理容噚の倖偎に配眮された前蚘凊理容噚内の被凊理䜓を加熱するヒヌタ ず、
請求項 1 3に蚘茉の冷华装眮ず、
を備えた熱凊理装眮。
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