WO1999065044A1 - Element de condensateur en feuille et condensateur electrolytique solide stratifie - Google Patents

Element de condensateur en feuille et condensateur electrolytique solide stratifie Download PDF

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WO1999065044A1
WO1999065044A1 PCT/JP1999/003096 JP9903096W WO9965044A1 WO 1999065044 A1 WO1999065044 A1 WO 1999065044A1 JP 9903096 W JP9903096 W JP 9903096W WO 9965044 A1 WO9965044 A1 WO 9965044A1
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cathode
anode
capacitor element
thickness
multilayer
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PCT/JP1999/003096
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Hiroshi Nitoh
Wataru Minamida
Atsushi Sakai
Takashi Ichimura
Original Assignee
Showa Denko K.K.
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/15Solid electrolytic capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/26Structural combinations of electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices with each other

Definitions

  • the present invention relates to a solid electrolytic capacitor using an organic substance such as a conductive polymer or an inorganic substance such as a metal oxide as a solid electrolyte, particularly to a multilayer solid electrolytic capacitor.
  • the present invention provides a single-plate capacitor element.
  • the solid electrolyte layer of a single-plate capacitor element and the cathode part, in which the conductor layer is formed in order are formed by an anode part. Therefore, when each cathode part is stacked and placed in parallel, the anode part needs to be bent so that spot welding can be performed. For this reason, stress concentration occurs near the boundary between the anode and the cathode of the single-plate capacitor element, deteriorating the capacitor performance.
  • a method of fitting a metal plate having a thickness corresponding to the gap between the anode portions of a plurality of single-plate capacitor elements at the time of laminating the single-plate capacitor elements Japanese Patent Laid-Open Publication No. 5-2,095,844, etc.
  • a method of forming an insulative resin layer in the gap between the anodes, and connecting with a thin metal wire or the like JP-A-6-291163, JP-A-6-291163) — A method of dividing a lead frame corresponding to each anode position (Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-167417), and the like.
  • the step-elimination method for preventing the concentration of stress that occurs near the boundary between the anode and the cathode during lamination requires a high cost such as process (1) or material processing cost, and is being handled due to additional processes.
  • process (1) or material processing cost such as process (1) or material processing cost
  • the destruction or performance degradation of single-plate capacitor elements due to mechanical stress, etc. increases, and the yield in multilayer capacitor manufacturing deteriorates, and performance deteriorates. There was a problem.
  • the present invention has been made to solve these problems, and by preventing stress concentration occurring near the boundary between the anode and the cathode during lamination, it is possible to prevent yield reduction and performance in the production of multilayer capacitors. It aims to provide an excellent high-capacity multilayer solid electrolytic capacitor. Further, the present invention provides a single-plate capacitor element suitable for manufacturing the multilayer solid electrolytic capacitor. Disclosure of the invention
  • the end portion of a flat plate-shaped anode substrate having a dielectric oxide film layer on its surface is used as an anode portion, and the portion excluding the anode portion is made of the dielectric oxide film.
  • a solid electrolyte layer is formed on the film layer, and a conductor layer is formed thereon in order to form a cathode portion.
  • the thickness of the tip portion of the cathode portion is larger than the thickness of the base portion of the cathode portion.
  • the end of a flat plate-shaped anode substrate having a dielectric oxide film layer on the surface is formed as an anode portion, and the portion of the dielectric material excluding the anode portion is the anode portion.
  • a plurality of single-plate capacitor elements in which a solid electrolyte layer is formed on an oxide film layer and a conductor layer is formed on the oxide layer in order to serve as a cathode are placed on the anode-side lead frame with their anodes aligned in the same direction.
  • a conductive adhesive layer is formed on the cathode-side lead frame so that the cathode portion extends from the anode portion side toward the cathode portion tip to form a flared shape, and is laminated and fixed to form a multilayer capacitor element.
  • This is a multilayer solid electrolytic capacitor whose periphery is covered and sealed with an exterior resin.
  • the conductive adhesive layer is preferably formed in a range from the tip of the cathode portion to 80% of the length of the cathode portion. (4) It is preferable that the capacitor element is obtained by pressure lamination.
  • a single-plate capacitor element in which the thickness of the tip portion of the cathode portion is larger than the thickness of the base portion of the cathode portion is preferable.
  • a conductive adhesive layer is laminated and fixed between the cathode section of the device and the cathode section and between the cathode section and the cathode-side lead frame. It is preferable that the thickness of the conductive adhesive layer is larger at the cathode portion tip portion than at the cathode portion base side.
  • the solid electrolyte layer of the multilayer solid electrolytic capacitor is formed using a conductive polymer.
  • Figure 1 is a cross-sectional view showing an example of a single plate capacitor element of the present invention ⁇
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing another example of the shape of the single-plate capacitor element of the present invention.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of a single-plate capacitor element.
  • FIG. 4 is a sectional view showing an example of the multilayer capacitor element of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing an example in which pressure is applied after lamination in the production of the multilayer capacitor element of the present invention.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing an example in which the multilayer capacitor element of the present invention is laminated on both sides of a lead frame.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating the multilayer capacitor element of Comparative Example 1.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing an example in which pressure is applied to the multilayer capacitor element of Comparative Example 2 after lamination during manufacturing.
  • FIG. 9 is a sectional view showing an example of the multilayer solid electrolytic capacitor of the present invention.
  • FIG. 1 and 2 are cross-sectional views showing examples of the single-plate capacitor element of the present invention.
  • an end of a flat plate-shaped anode substrate 1 made of a valve metal having a dielectric oxide film layer 2 on its surface is defined as an anode portion 11.
  • a solid electrolyte layer 4 is formed on the dielectric oxide film layer 2 except for the insulating layer 3, and conductive layers 5 and 6 are sequentially formed thereon.
  • the thickness S 2 of the tip of the cathode is a single-plate capacitor element having a large thickness S of the base of the cathode, and the thickness of the cathode is gradually increased from the anode 11 toward the tip of the cathode.
  • a single-plate capacitor element, The single plate capacitor element shown in FIG. 2 is a single capacitor element in which the thickness of the cathode portion is increased stepwise.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating an example of the multilayer solid electrolytic capacitor of the present invention, and illustrates a multilayer solid electrolytic capacitor obtained by using a multilayer capacitor element in which a plurality of the single capacitor elements illustrated in FIG. 1 are stacked. Show.
  • the number of stacked single-layer capacitor elements depends on the design or required performance of the thickness of the single-layer capacitor element and the thickness of the conductive adhesive layer, and the stacking mode (for example, FIG. Although it depends on the double-sided lamination type or the single-area layer type shown in FIG. 4), usually 2 to 20 sheets, preferably 2 to 12 sheets are used.
  • the stacking mode for example, FIG. Although it depends on the double-sided lamination type or the single-area layer type shown in FIG. 4
  • usually 2 to 20 sheets, preferably 2 to 12 sheets are used.
  • four single-plate capacitor elements 7 have their anode portions 11 aligned on the same side (left side), and a part of the anode portions 11 is aligned in the same direction (
  • Each anode part 11 is laminated and fixed on the anode-side lead frame 9 so as to be close to the anode-side lead frame 9, and the cathode part is directed from the anode part 11 side to the tip of the cathode part.
  • the multilayer capacitor element 19 is laminated and fixed on the cathode-side lead frame 8 in a divergent shape by the conductive bonding layer 10, and the periphery of the multilayer capacitor element 19 is covered and sealed with an exterior resin 23. This is a laminated solid electrolytic capacitor.
  • the multilayer solid electrolytic capacitor 25 As shown in FIG. 1, a taper-like gradient is applied to the cathode portion so that the thickness S 2 of the tip portion of the cathode portion is the base portion of the cathode portion as the unit capacitor element 7. Thickness S! A larger single capacitor element is used.
  • the multilayer capacitor element 19 for manufacturing the multilayer solid electrolytic capacitor 25 has a divergent shape.
  • the negative anode lead frames 8 and 9 can be configured using, for example, a known iron-based or copper-based alloy material.
  • connection between each cathode part and the connection between the cathode parts and the cathode-side lead frame 8 are performed using a conductive adhesive layer (conductive paste). 10), and connection between each anode part and connection between anode part 11 and anode side lead frame 9 are performed by spot welding or laser welding. Is done.
  • the present invention provides a multilayer solid electrolytic capacitor in which the anode portion of the single-plate capacitor element 7 is laminated on the lead frame without bending the anode portion as much as possible in order to avoid stress concentration when laminating on the lead frame. I will provide a.
  • a plurality of anode portions 11 of the divergent single-plate capacitor element 7 are aligned in the same direction, and each anode portion 11 is brought close to the surface of the anode-side lead frame 9.
  • the multilayer capacitor element 19 was formed by laminating the thick cathode portions so as to form a divergent shape from the anode portion 11 side to the cathode portion side.
  • the single-plate capacitor element 7 has a divergent shape, the anode portions 11 are laminated and fixed (laminated and fixed) by spot welding or the like, and the conductivity between the cathode portions and between the cathode portion and the cathode-side lead frame 8 is increased. It has been found that a multilayer capacitor element 19 having a high yield and excellent heat resistance can be obtained by laminating and fixing with the adhesive layer 10.
  • the conductive adhesive layer 10 can be formed using a conductive paste such as a silver paste containing fine silver powder.
  • a single-plate capacitor is placed on the cathode-side lead frame 8 with a conductive paste.
  • a conductive paste is applied to the cathode and a specific area of the lead frame 8. It has been found that a multilayer capacitor element 19 having a divergent shape can be easily obtained by stacking the single capacitor element 7 under pressure at an appropriate pressure.
  • the pressing force when the unitary capacitor element 7 is laminated and fixed on the cathode-side lead frame 8 using the conductive paste is in the range of about 17 to 420 g / cm 2 . Therefore, when the single-plate capacitor element 7 has a thickness of 0.3 mm, a width of 3 mm, and a length of 4 mm, a load of about 2 g to 50 g is applied when the single-plate capacitor elements 7 are stacked and fixed.
  • the shape of the single-plate capacitor element 7 is made to be divergent by forming a tapered gradient as shown in FIG. 1 on the cathode section of the single-capacitor element 7, or It has been found that a multilayer capacitor element 19 having a divergent shape can be obtained without difficulty by increasing the thickness stepwise as shown in FIG. 2 and making the shape of the single-plate capacitor element 7 diverge.
  • an end portion of a flat plate-shaped anode substrate 1 having a dielectric oxide film layer 2 on its surface is defined as an anode portion 11
  • a solid electrolyte layer 4 is formed on the dielectric oxide film layer 2 except for the anode section 11, and conductor layers 5 and 6 are sequentially formed thereon to form a cathode section.
  • the dielectric oxide film layer 2 is formed on the surface of pores made of a valve metal etched as a dielectric layer having a large surface area, and the dielectric oxide film layer 2 includes alumina, It can be composed of an oxide of a valve metal such as tantalum oxide or a sintered body thereof.
  • a valve metal such as tantalum oxide or a sintered body thereof.
  • the valve metal used in the present invention include aluminum, tantalum, niobium, and titanium.
  • the anode substrate 1 refers to a support of the valve action metal, on which a dielectric oxide film layer 2 is formed, and one end of which is referred to as an anode portion 11 in the present invention.
  • an etching process for increasing the surface area of the anode substrate 1 for increasing the capacity is performed.
  • the anode part 11 and the cathode part of the single-plate capacitor element are separated by the insulating layer 3, and the solid electrolyte layer 4, the conductive layers 5, 6 are formed on the cathode part.
  • the insulating layer 3 may be provided in contact with the anode section 11 in the form of a patch to separate the anode section 11 from the cathode section.
  • the insulating layer 3 is a layer for electrically insulating the cathode part and the anode part 11.
  • the insulating layer 3 is an insulative material, for example, a general heat-resistant resin, preferably a heat-resistant resin soluble or swellable in a solvent or a precursor thereof, or a composition (in particular, a mixture of an inorganic fine powder and a cellulose resin).
  • a general heat-resistant resin preferably a heat-resistant resin soluble or swellable in a solvent or a precursor thereof, or a composition (in particular, a mixture of an inorganic fine powder and a cellulose resin).
  • the material is not limited, and specific examples include polyphenylsulfone (PPS), polyethersulfone (PES), cyanate ester resin, and the like.
  • Fluororesins tetrafluoroethylene, tetrafluoroethylene / perfluoroalkylvinyl ether copolymer, etc.
  • polyimides and their derivatives etc.
  • polyimide is a compound mainly containing an imido structure, and is usually a precursor of a polyimide.
  • This is a solution obtained by dissolving a solution of mitsunic acid in a solvent, followed by heat treatment at a high temperature after coating to achieve imidization.
  • the material is not limited to the chemical structure of polyimide, but is preferably used. Has an average molecular weight of 1,000 to 1,000, 0000, and more preferably a compound of 2,000 to 20,000, which is highly indispensable. used.
  • the solid electrolyte layer 4 is formed of an organic material containing a conductive polymer, such as tetracyanoquinodimethane (TCNQ), or a metal oxide such as manganese dioxide or lead dioxide, or other inorganic material by chemical oxidation or electrolytic oxidation. May be.
  • a conductive polymer such as tetracyanoquinodimethane (TCNQ)
  • TCNQ tetracyanoquinodimethane
  • a metal oxide such as manganese dioxide or lead dioxide
  • the conductor layer 5 on the solid electrolyte layer 4 can be formed using a carbon paste, and the conductor layer 6 on the conductor layer 5 can be formed using a conductive paste such as a silver paste. Not something.
  • an intrinsic conductive polymer Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 61-239617)
  • polypyrrol of a 5-membered heterocyclic compound for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-24625
  • polythiophene derivatives for example, Known polymers such as JP-A-2-15611 and polyisothianaphthene (for example, JP-A-62-118511) can be used in the present invention.
  • JP-A-2-15611 and polyisothianaphthene for example, JP-A-62-118511
  • a conductive material containing at least one chemical structure selected from the group consisting of the chemical structure of divalent groups of aniline, pyrrole, thiophene, isotiananaphthene, and their substituted derivatives is used.
  • Polymers can be used. ⁇ Chemistry of divalent groups of known conductive polymers, that is, benzene, P-phenylenevinylene, chenylenevinylene, naphtho [2,3-c] thiophene and their substituted derivatives
  • a polymer containing a structure can also be used to form the solid electrolyte layer 4.
  • These conductive polymers are used to form the solid electrolyte layer 4 as a conductive polymer composition containing a dopant. Further, in addition to the addition of only the dopant, for example, an organic or inorganic filler may be further used in combination.
  • the anode foil is made of a lower alcohol / aqueous solution of the heteropentacyclic heterocyclic compound. After immersion in an aqueous solution in which an oxidizing agent and an electrolyte are dissolved and chemically polymerized to form a conductive polymer on the anode foil (Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-17582).
  • a method in which the 3,4-dioxyethylene-thiophene monomer and the U-enhancing agent are preferably applied in the form of a solution and applied separately or together before and after to the dielectric oxide film of the metal foil can be applied to the present invention.
  • Specific organic sulfonic acids such as benzoquinone sulfonic acid and cycloaliphatic sulfonic acids.
  • Poly (3, 4-di-O carboxymethyl ethylene-Chi off E down) also can be used in the present invention.
  • the solid electrolyte 4 has a weight of 3,4-dioxylene-thiophene derivative represented by the following general formula (I). Coalescence can also be suitably used.
  • R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, a C 6 to C 6 straight or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group, or C t to A substituent in which C 6 hydrocarbon groups are bonded to each other at any position to form at least one or more 5- to 5-membered saturated hydrocarbon cyclic structure containing two oxygen elements.
  • the cyclic structure includes those having a vinylene bond which may be substituted, and those having a phenylene structure which may be substituted.
  • a polymer having a chemical structure of a divalent group represented by the following general formula (II) can be suitably used for forming the solid electrolyte 4.
  • R 3 , RR 6 and R 6 are each independently a hydrogen atom, Ci to C].
  • the alkyl group, alkoxy group, alkyl ester group represented by R 3 , RR 5 and R 6 , or the cyclic hydrocarbon formed by them are carbonyl, ether, ester or amide. , Sulfide, sulfinyl, sulfonyl, and imino bonds.
  • 5 in the general formula (II) is Represents the number of charges per repeating unit and ranges from 0 to 1.
  • the chemical structure is not particularly limited, and the electric conductivity of the material forming the solid electrolyte 4 is generally in the range of 0.1 to 200 SZcm. Desirably, the range is from 1 to 100 S / cm, and more preferably from 10 to 100 S / cm.
  • Pyro Ichiru Ya as an acid agent suitable against oxidative polymerization of Chiofuwen five-membered heterocyclic compounds such as ethers, for example, iron chloride Hei 2 1 561 1 JP (III), F e (C 10 + 3 ) and organic acid iron (111), inorganic acid iron (111), alkyl persulfate, ammonium persulfate, hydrogen peroxide, etc. can be used widely.
  • ethers for example, iron chloride Hei 2 1 561 1 JP (III), F e (C 10 + 3 ) and organic acid iron (111), inorganic acid iron (111), alkyl persulfate, ammonium persulfate, hydrogen peroxide, etc.
  • organic acids [Phi however alkylsulfonate Ya also aliphatic carboxylic acids having 1 to 20 carbon atoms such as methane sulfonic acid Ya dodecylbenzenesulfonic acid is kicked elevation, the range of use of the oxidizing agent, ⁇ In some cases, the chemical structure of the monomer compound, the oxidizing agent, the reaction conditions and the like may be limited.
  • the oxidation (polymerization) of thiophenes is described in the description of H andbook of Conducting Polymers (Marcel Dekker, Inc., 1987, p. 99, FIG. 5).
  • the oxidation potential (a measure of the likelihood of polymerization) varies greatly depending on the type of, and determines the polymerization reaction. (The oxidation potential is widely spread in the range of about 1.8 to about 2.7 V. Therefore, specifically, the combination of the monomer compound used, the oxidizing agent, and the reaction conditions is important.
  • the dopant contained in the conductive polymer is not limited to a polymer having a T-electron conjugated structure to be used.
  • the dopant is usually an anion, and the anion may be a low molecular anion or a high molecular anion such as a polymer electrolyte.
  • a halide anion of a group 5B element such as PF 6 —, SbF 6 — and As F 6 —
  • a halide anion of a group 3B element such as BF, I— (1 3 —)
  • Halogen anions such as Br-, C 1—
  • perhalogen acids such as C 1 C—
  • Lewis acid anions such as A 1 C 1 ⁇ FeC 1 SnC 1 ⁇ , or NO 3- , S- +
  • an organic sulfonic acid anion such as p-toluenesulfonic acid or naphthalenesulfonic acid, C; ⁇ to C6 alkyl-substituted naphthalenesulfonic acid, CF 3 S ⁇ 3 —, CH 3 S ⁇ 3 — Or CH 3 C ⁇ , CeHeC OO "
  • protonic acid anions such as carboxylic acid anions.
  • an organic sulfonic acid anion an organic phosphoric acid anion, or the like is used.
  • organic sulfonates such as aromatic sulfonates, aromatic polysulfonic acids, organic sulfonates substituted with OH or carboxy groups, and aliphatic organic sulfones having a skeleton such as adamantane.
  • Various compounds such as acid anion can be applied.
  • organic sulfonic acids include benzenesulfonic acid, P-toluenesulfonic acid, methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, ⁇ -sulfonaphthalene, ⁇ -sulfonaphthalene, naphthalenedisulfonic acid, and alkylnaphthalenesulfonic acid (alkyl Examples of the group include butyl, triisopropyl, and di-tert-butyl.
  • sulfoquinone anion examples include anion of a sulfoquinone compound having one or more sulfoadione groups and a quinone structure in a molecule (hereinafter abbreviated as sulfoquinone anion), anthracenesulfonic acid anion, naphthalenesulfonic acid anion, benzenesulfone Acid anion and xylylene disulfonic acid anion (o, p, m) can be exemplified.
  • the basic skeleton of sulfoquinone anion is P-benzoquinone, o-benzoquinone, 1,2-naphthoquinone, 1,4-naphthoquinone, 2,6-naphthoquinone, 9,10-andraquinone, 1,4 1-andraquinone, 1,2-anthraquinone, 1,4-chrysenequinone, 5,6-chrysenequinone, 6,12-chrysenequinone, acenaphthoquinone, acenaphthenequinone, calforquinone, 2,3-bornanedione, 9,10 —Phenanthrenequinone, 2,7-pyrenequinone.
  • sulfoquinone used in the present invention a sulfoquinone having a skeleton of anthraquinone, 1,4-naphthoquinone, or 2,6-naphthoquinone is preferably used.
  • anthraquinones anthraquinone-1-sulfonic acid, anthraquinone-2-sulfonic acid, anthraquinone-1,5-disulfonic acid, anthraquinone-1,4-disulfonic acid, anthraquinone-1,3-disulfonic acid, anthraquinone- 1,6-disulfonic acid, anthraquinone-1,7-disulfonic acid, anthraquinone-1,8-disulfonic acid, anthraquinone-2,6-di Sulfonic acid, anthraquinone-2,3-disulfonic acid, anthraquinone-2,71-disulfonic acid, anthraquinone-1,4,5-trisulfonic acid, anthraquinone-2,3,6,7-tetrasulfonic acid, Alkali metal salts and their
  • 1,4-naphthoquinones 1,4-naphthoquinone-15-sulfonic acid, 1,4-naphthoquinone-16-sulfonic acid, 1,4-naphthoquinone-15,7-disulfonate, 1,4-1 Naphthoquinone-1,8-disulfonic acid, their alkali metal salts, their ammonium salts, and the like can be used.
  • 2,6-naphthoquinones 2,6-naphthoquinone-11-sulfonic acid, 2,6-naphthoquinone-13-sulfonic acid, 2,6-naphthoquinone-14-sulfonic acid, 2,6-naphthoquinone-1,3,7 —Disulfonic acid, 2,6-naphthoquinone-4,8-disulfonic acid, their alkali metal salts, and their ammonium salts can be used.
  • sulfoquinone examples include industrial dyes such as anthraquinone iris R and anthraquinone violet FN-3RN, which can be used in the form of the salt as a similarly useful sulfoquinone-based dopant.
  • Polymer electrolytes such as polyacrylic acid, polymethacrylic acid, polystyrenesulfonic acid, polyvinylsulfonic acid, polyvinylsulfuric acid, poly- ⁇ -methylsulfonic acid, polyethylenesulfonic acid, and polyphosphoric acid are also used.
  • dopants also include a known oxidizing agent, a reductant anion, capable of producing the conductive polymer.
  • a known oxidizing agent e.g., a reductant anion
  • sulfate ions which are anions for producing oxidizing agents such as alkali metal persulfates and ammonium persulfate, may be mentioned.
  • manganese such as potassium permanganate, 2,3-dichloro-5,6-dicyanone 1,4-benzoquinone (DDQ), tetrachloro-1,4-benzoquinone, tetracinano 1,4-benzoquinone, etc.
  • DDQ 2,3-dichloro-5,6-dicyanone 1,4-benzoquinone
  • DDQ 2,3-dichloro-5,6-dicyanone 1,4-benzoquinone
  • tetrachloro-1,4-benzoquinone tetracinano 1,4-benz
  • a conductive polymer containing at least one of the above dopants is preferably used.
  • the conductive polymer may contain, as a dopant, sulfuric acid in a range of 0.1 to 10 mol% with respect to all repeating units having a conjugated structure.
  • the above-mentioned sulfoquinone anion for example, anthraquinone sulfonate anion, is contained as a dopant in the range of 1 to 50 mol%.
  • the thickness of the tip part of the cathode part was larger than the thickness of the base part of the cathode part, and this was laminated as a multilayer solid electrolytic capacitor.
  • the capacitor element 19 is likely to have a divergent shape (see FIG. 9). That is, as the shape of the single-plate capacitor element 7, as shown in FIG. 1, the total thickness of the solid electrolyte layer 4 and the conductor layers 5, 6 is gradually increased toward the cathode end as shown in FIG. As shown in FIG. 2, it is preferable that the thickness is increased stepwise toward the tip of the cathode portion.
  • a ratio S 2 / S of a thickness of the base portion of the cathode portion to a maximum thickness S 2 of the tip portion is 1.1 to 5.0. Is better, more preferably in the range of 1.3 to 3.0,
  • a method for obtaining the single-plate capacitor element 7 having the shape shown in FIG. 1 there is a method in which a conductive paste is applied and then mechanically pressure-molded so that the conductor layers 5 and 6 on the tip side become thick.
  • a conductive paste is repeatedly applied to the tip of the element 7 to thicken the conductors 5 and 6 gradually or stepwise as shown in FIGS. Any method may be used as long as the tip of the element 7 can be made larger than the thickness S of the base of the cathode.
  • the single-plate capacitor elements 7 are stacked to form, for example, a multilayer capacitor element 19 as shown in FIG.
  • the single-plate capacitor element 7 may be laminated by, for example, laminating a lead frame 8 on the cathode side using a conductive paste for each one, or laminating two or more in advance in a divergent shape.
  • the product may be laminated on the cathode side lead frame 8 by bonding, or the elements 7 may be laminated on each other. A lamination method other than these may be adopted.
  • the single-plate capacitor elements 7 may be laminated on one of the front and back surfaces of the lead frame 8, or as shown in FIG.
  • the single capacitor element may be laminated in a divergent shape using a single-plate capacitor element (Fig. 3), in which the upper and lower surfaces of the element are not parallel to each other but are almost parallel.
  • a method for obtaining the densser element 19 a method in which the thickness of the conductive adhesive layer 10 is made larger at the cathode end side than at the cathode base side.
  • the conductive adhesive layer 10 between the cathode part and the cathode part and the conductive adhesive layer 10 between the cathode part and the cathode-side lead frame 8 are formed from the cathode tip to the cathode part length L (see Fig. 1). ) (That is, the length of the conductive adhesive layer 10 from the tip of the cathode portion is 0.8 XL or less). If it is attempted to form the conductive adhesive layer 10 beyond the range of 80% from the tip, the conductive paste may reach the anode part 11 during lamination, and the yield will deteriorate due to short-circuits, etc. Even so, there is a possibility that the performance may be degraded such as an increase in leakage current.
  • a conductive adhesive layer 1 0 formed in a range of up to 80% of the cathode portion length L is good, but is applied in the range of up to half the length of the conductive paste from the tip end of the cathode portion length ⁇
  • a plurality of single-plate capacitor elements 7 are mechanically laminated under pressure to form a diverging multilayer capacitor element 19. That is, as shown in FIG. 5, when a plurality of single capacitor elements are laminated on the cathode side lead frame 8 with a conductive paste, the single-plate capacitor element 7 is pressed with a pressure plate 17 with an appropriate pressure. By adjusting the thickness of the conductive paste, a divergent shape having a predetermined size is obtained.
  • the thickness of the conductive adhesive layer 1 0, if so ⁇ larger One suited to the cathode tip portion from the cathode base portions and Thickness W 2 of the cathode tip portion of the multilayer capacitor element 1 9
  • the thickness W of the base of the cathode also increases, and as a result, the stack capacitor element 19 tends to have a divergent shape.
  • the ratio W 2 / W! Of the thickness W! Of the cathode base of the multilayer capacitor element 19 to the maximum thickness W 2 of the cathode end of the element 19 is W 2 / W! Is from 1.3 to 5.5, preferably from 1.5 to 3.5.
  • the anode portion 11 of the single-plate capacitor element 7 may be bent after laminating the single-plate capacitor element 7 or may be bent before the lamination.
  • the anode 11 and the anode 11 can be connected to each other and the anode 11 can be connected to the anode lead frame 9 by any method such as spot welding, laser welding, or connection using a conductive paste. You may.
  • the order of connection between the ridge layer of the cathode portion and the anode portion is not particularly limited, either one may be performed first and the connection may be performed alternately. In any case, simply It is important to manufacture the multilayer capacitor element 19 by laminating the plate capacitor elements 7 so that a large mechanical stress is not applied.
  • the multilayer capacitor element 19 is sealed with an exterior resin 23, and the outer lead frame of the exterior resin 23 is bent along the tatto resin to form an external lead 21 as a multilayer type.
  • the solid electrolytic capacitor is 25.
  • An example of the exterior resin 23 is an epoxy resin, a phenol resin, or the like, and the external lead 21 can be made of, for example, a material (42 alloy).
  • the multilayer capacitor element 19 becomes an outer resin. 23, and the number of stacked single-plate capacitor elements 7 can be increased to obtain a high-capacity multilayer solid capacitor 25.
  • Fig. 4 is a cross-sectional view of an example of a multilayer capacitor element. Spot welding can be performed without bending the anode part 11 greatly by making four single-plate capacitor elements 7 divergent without pressing. This is an example. In this example, the yield is better and the leakage current after the reflow test is smaller than that of FIG. 7 described later.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of another example of the multilayer capacitor element.
  • each single-plate capacitor element 7 was mechanically pressed and laminated at a predetermined angle and pressure. This is an example.
  • spot welding can be performed without greatly bending the anode portion 11 of the single-plate capacitor element 7.
  • the yield is good and the leakage current after the reflow test is small.
  • FIG. 6 is an example of a multilayer capacitor element in which three single-plate capacitor elements 7 are stacked on the front and back of a lead frame 8 while applying pressure. Although it is estimated that the number of stacked layers is six, the yield and the leakage current value after the reflow test are slightly inferior to the four-layered example in FIG. 5, but are superior to those in FIG.
  • Figure 7 shows a multilayer capacitor element in which four single-plate capacitor elements 7 were stacked in parallel. It is an example.
  • the cathode side of the element 7 is laminated parallel to the lead frame 8, and the anode part 11 of the flat substrate needs to be greatly bent to make the anode part 11 close to the lead frame 9 and facilitate spot welding. is there. For this reason, the yield is worse and the leakage current value after the reflow test is larger than in Figs. 4 to 6 where the stress generated at the boundary between the insulating part and the cathode part is small.
  • FIG. 8 shows an example of a multilayer capacitor element in which a conductive paste is applied to the entire surface of the cathode portion when the element 7 is laminated while applying pressure. If there is a conductive cost in the cathode near the boundary with the insulating part, the leakage current increases. Both the yield and the leakage current after the reflow test are considerably worse than those shown in Fig. 5. Example
  • Example 1 The multilayer capacitor elements shown in Figs. 4 to 8 were fabricated, and the yield and heat resistance were compared.
  • the multilayer capacitor element of this example is shown in FIG.
  • a thick single-plate capacitor element 7 shown in FIG. 1 was manufactured as follows.
  • the dielectric surface was impregnated with an aqueous solution prepared so that 20% by weight of ammonium persulfate and 0.1% by weight of sodium anthraquinone-2-sulfonate were added, and then 3,4-dioxyethylene-thiophene was added. It was immersed in 5 g of a 1.2 mo 1/1 isoalanol solution. The substrate was taken out and released for 10 minutes in the environment of TC (TC) to complete the oxidative polymerization and washed with water. This polymerization reaction treatment and the washing step were repeated 10 times each to obtain a conductive polymer. A solid electrolyte layer 4 was formed.
  • four single-plate capacitor elements 7 were aligned with the four anodes 11 aligned to the left and the four cathodes aligned to the right.
  • the Ulu and the cathode and the lead frame 8 By bonding the Ulu and the cathode and the lead frame 8 with a conductive paste, they were laminated and fixed to obtain a laminated product having a divergent shape.
  • the anode capacitor 11 shown in FIG. 4 is spot-welded while bending the anode 11 of the laminate, and the anode 11 and each other, and one surface of the lead frame 9 and the lower surface of the anode 11. Obtained.
  • Reference numeral 13 in FIG. 4 indicates a welded portion.
  • four single-plate capacitor elements 7 were laminated without applying pressure.
  • the coating length of the conductive paste was set in a range from the tip to 50% of the length L of the cathode.
  • the multilayer capacitor element of this example is shown in FIG.
  • the main difference from Example 1 is that when manufacturing the multilayer capacitor element 19, four single-plate capacitor elements 7 were pressed (40 g / element) using the pressing plate 17. .
  • the multilayer capacitor element 19 of this embodiment is shown in FIG. 6.
  • the main difference from the second embodiment is that three single-plate capacitor elements 7 are stacked on the front and back of the lead frame 8, respectively.
  • Comparative Example 1 is the multilayer capacitor element shown in Fig. 7. Comparative Example 1 is different from Example 1 mainly in that when manufacturing the multilayer capacitor element 19, the cathode side of the single-plate capacitor element 7 is used. The point is that the layers are stacked in parallel with the lead frame 8.
  • Comparative Example 2 is the multilayer capacitor element shown in FIG.
  • the main difference between Comparative Example 2 and Example 1 is that when manufacturing the multilayer capacitor element 19, a conductive paste was applied over the entire surface of the cathode portion, and the single-plate capacitor elements 7 were connected to each other, and the single-plate capacitor element 7 and the cathode were used. The point is that the side lead frames 8 are stacked.
  • Table 1 shows the yield of the multilayer capacitor elements stacked as described above and the leakage current value after the reflow test. From Table 1, the multilayer capacitor elements of Examples 1 to 3 are comparative examples. 1. Compared with Comparative Example 2, the yield is better and the leakage current value after the reflow test is lower.
  • Range means the difference between the maximum and minimum current values.
  • a dielectric material was prepared in the same manner as in Example 1, and the surface of this derivative was prepared by using the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 242816/1990 to synthesize and sublimate 5,2,6-dimethoxy-1-isothianaphthene. mo 1/1 concentration, degassed Immersion in IPA solution (solution 4), then into 20 wt% aqueous ammonium persulfate solution, Tetrahedron (35 volumes (No.
  • Example 1 Except for using 3,4-dioxyethylene-thiophene used in Example 1 instead of a solution of the same concentration of pyrrole-N-methyl, four single cells were prepared in the same manner as described in Example 1. A multilayer capacitor element in which the plate capacitor elements 7 were stacked was produced.
  • a dielectric was prepared in the same manner as in Example 1, and the surface of the dielectric was immersed in a mixed solution of a lead acetate trihydrate 2.4 mol / 1 aqueous solution and ammonium persulfate 4.0 mol / 1 aqueous solution. And reacted at 6 CTC for 30 minutes. Such a reaction was repeated three times to form a solid electrolyte layer 4 composed of 25 wt% of lead dioxide and 75 wt% of lead sulfate. Thereafter, a multilayer capacitor element in which four single-plate capacitor elements 7 were stacked was manufactured in the same manner as in Example 1.
  • the conductive polymer is slightly better than the inorganic oxide in the initial value and the variation of the leakage current value after the reflow test, and the conductive polymer is used as the solid electrolyte because of its excellent flexibility. Was a good result.
  • Range means the difference between the maximum and minimum current values.
  • a multilayer capacitor element having excellent yield and heat resistance can be obtained, and as a result, a high-capacity multilayer solid electrolytic capacitor having excellent yield and heat resistance can be obtained.
  • the single capacitor element of the present invention the above-mentioned laminated solid electrolytic capacitor can be easily obtained.
  • the multilayer solid electrolytic capacitor of the present invention is used as a capacitor in electronic equipment and the like.

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Description

明 細 書 単扳コンデンサ素子及び積層型固体電解コンデンサ この出願は米国出願番号第 6 0 / 1 0 7 , 0 0 3 (出願日: 1 9 9 8年 1 1月 4日) に基づく出願の利益を主張する。 技術分野
本発明は、 導電性高分子等の有機物、 あるいは金属酸化物等の無機物を固体電 解質とした固体電解コンデンサ、 特に積層型の固体電解コンデンサに関する ま た、積層型固体電解コンデンサを製造するための単板コンデンサ素子を提供する。 背景技術
導電性高分子(導電性重合休ともいう)等を固体電解質とした固体電解コンデ ンサの積層に於いて、 単板コンデンサ素子の固体電解質層、 導電体層を順次形成 する陰極部は、 陽極部に比ぺ厚いので、各陰極部を平行に上下に積層載置すると 陽極部はスポット溶接できるように折曲げる必要がある。 このため単板コンデン サ素子の陽極部と陰極部の境界付近で応力集中が起こりコンデンサ性能が悪化す るため、 これまで各種工夫がなされてきた。
例えば、 この陰陽極間段差を解消するため、 単板コンデンサ素子の積層時に複 数の単板コンデンサ素子の陽極部の間にその隙間に対応した厚さの金属板を嵌揷 する方法(特開平 5— 2 0 5 9 8 4号公報等) 、 陽極部の隙間に絶緣樹脂層を形 成し、 接続は金属細線等で取る方法(特開平 6 - 2 9 1 6 3号公報、 特開平 6— 8 4 7 1 6号公報等) 、 リードフレームを各陽極部位置に対応して分割加工する 方法(特開平 4 - 1 6 7 4 1 7号公報等)等がある。
前記したように、 積層時に陽極部と陰極部の境界付近で発生する応力集中を防 ぐための段差解消方法は、 工程增あるいは材料加工費增等のコスト高となり、 ま た工程追加により取扱中の機械的応力等による単板コンデンサ素子の破壊又は性 能低下が增加し、 積層コンデンサ製造における歩留が悪化し、 また性能に劣る等 の問題があった。
本発明は、 これらの課題を解決するものであって、 積層時に陽極部と陰極部の 境界付近で発生する応力集中を防ぐことによって、積層コンデンサの製造におけ る歩留低下の防止及び性能に俊れた高容量の積層型固体電解コンデンサを提供す ることを目的とする。 また、 前記積層型固体電解コンデンサを製造するに好適な 単板コンデンサ素子を提供する。 発明の開示
本発明の単板コンデンサ素子は、 表面に誘電体酸化皮膜層を有する平板状の弁 作用金属からなる陽極基体の端部が陽極部とされ、 この陽極部を除いた部分の前 記誘電体酸化皮膜層上に固体電解質層、 その上に導電体層が順次形成されて陰極 部とされ、 該陰極部の先端部分の厚みが陰極部基部の厚みよりも大きい単板コン デンサ素子である。
本発明の積層型固体電解コンデンサは、 表面に誘電体酸化皮膜層を有する平板 状の弁作用金属からなる陽極基体の端部が陽極部とされ、 この陽極部を除いた部 分の前記誘電体酸化皮膜層上に固体電解質層、 その上に導電体層が順次形成され て陰極部とされている単板コンデンサ素子の複数枚が、 その陽極部を同一方向に 揃えられて陽極側リードフレーム上に積層固着され、 その陰極部を陽極部側から 陰極部先端に向かつて末広がり形状に陰極側リードフレーム上に導電性接着層を 形成して積層固着されて積層コンデンサ素子とされ、 該積層コンデンサ素子の周 囲が外装樹脂で被覆封止されて ゝる積層型固体電解コンデンサである。
前記積層型固体電解コンデンサにおいて、 導電性接着層が陰極部の先端から陰 極部長さの 8 0 %迄の範囲に形成されていることが好ましく、 また、積層コンデ ンサ素子が、複数枚の単扳コンデンサ素子を加圧積層して得られたものであるこ とが好ましい。
更に、 前記積層型固体電解コンデンサにおいて、 前記単板コンデンサ素子とし て、 陰極部の先端部分の厚みが陰極部基部の厚みよりも大きい単板コンデンサ素 子が好ましく、 また、 複数枚の単扳コンデンサ素子の陰極部と陰極部との間及び 陰極部と陰極側リードフレームとの間が導電性接着層により積層固着され、該導 電性接着層の厚みが陰極部先端部分において陰極部基部側よりも大いことが好ま しい。
更に、 前記積層型固体電解コンデンサは、 その固体電解質層が導電性高分子を 用いて形成されていることが望ましい。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の単板コンデンサ素子の例を示す断面図である Φ
図 2は、 本発明の単板コンデンサ素子の形状について他の例を示す断面図であ る
図 3は、 単板コンデンサ素子の例を示す断面図である,
図 4は、 本発明の積層コンデンサ素子の例を示す断面図である。
図 5は、 本発明の積層コンデンサ素子の製造において、 積層後に加圧する例を 示す断面図である
図 6は、 本発明の積層コンデンサ素子について、 リードフレームの両面に積層 した例を示す断面図である
図 7は、 比較例 1の積層コンデンサ素子を示す断面図である。
図 8は、 比較例 2の積層コンデンサ素子について、 製造時の積層後に加圧する 例を示す断面図である。
図 9は、本発明の積層型固体電解コンデンサの例を示す断面図である。 発明を実施するための最良の形態
図 1、 2は、 本発明の単板コンデンサ素子の例を示す断面図である。 図 1にお いて、 該単扳コンデンサ素子は、 表面に誘電体酸化皮膜層 2を有する平板状の弁 作用金属からなる陽極基体 1の端部が陽極部 1 1とされ、 この陽極部 1 1及び絶 縁層 3を除いた部分の前記誘電体酸化皮膜層 2上に固体電解質層 4、 その上に導 電体層 5、 6が順次形成されてこの部分を陰極部とされ、 該陰極部の先端部分の 厚み S 2が陰極部基部の厚み Sはりも大きい単板コンデンサ素子であって、 陽極 部 1 1側から陰極部先端の方向に向かって陰極部の厚みが澌次大きくされている 単板コンデンサ素子である, また、 図 2に示す単板コンデンサ素子は、 陰極部の厚みが階段状に大きくされ ている単扳コンデンサ素子である。
図 9は、本発明の積層型固体電解コンデンサの例を示す断面図であって、 図 1 に示す単扳コンデンサ素子の複数枚を積層した積層コンデンサ素子を用いて得た 積層型固体電解コンデンサを示す。
本発明の積層型固体電解コンデンサにおいて、 積層される単扳コンデンサ素子 の積層枚数は、該単板コンデンサ素子の厚さや導電性接着層の厚みのデザィン又 は要求性能、 積層形態(例えば、 図 6の両面積層型、 または図 4の片面積層型な ど) に依存するものの、 通常 2〜2 0枚、 好ましくは 2〜1 2枚用いられる。 図 9に示す積層型固体電解コンデンサ 2 5は、 単板コンデンサ素子 7の 4枚が、 その陽極部 1 1を同一側(左側) に揃えられ該陽極部 1 1の一部が同一方向に (右上方向に)折り曲げられ陽極側リードフレーム 9上に各陽極部 1 1が陽極側 リードフレーム 9に近接するように積層固着され、 その陰極部を陽極部 1 1側か ら陰極部先端に向かつて末広がり形状に陰極側リードフレーム 8上に、 導電性接 着層 1 0により積層固着されて積層コンデンサ素子 1 9とされ、 該積層コンデン サ素子 1 9の周囲が外装樹脂 2 3で被覆封止されて ゝる積層型固体電解コンデン サである。
該積層型固体電解コンデンサ 2 5においては、 単扳コンデンサ素子 7として、 図 1に示すように、 陰極部にテ一パ状の勾配をつけて陰極部の先端部分の厚み S 2が陰極部基部の厚み S!よりも大きい単扳コンデンサ素子が用いられている。 そ して、 積層型固体電解コンデンサ 2 5を製造するための積層コンデンサ素子 1 9 の形状が末広がり形状とされている。
なお、 陰陽極リードフレーム 8、 9は、 例えば公知の鉄系又は銅系の合金材を 用いて構成できる。
本発明について以下にさらに説明する。
本発明においては、 複数枚の単板コンデンサ素子 7を積層して積層コンデンサ 素子 1 9を得る場合、 各陰極部間及び陰極部と陰極側リードフレーム 8との接続 は導電性接着層(導電ペーストを使用) 1 0にて行われ、 各陽極部間及び陽極部 1 1と陽極側リードフレーム 9との接続はスポット溶接又はレーザ溶接にて実施 される。
一方、 図 7に示すような積層構造の場合には、 各陰極部を平行に上下に積層し ているので、 陽極部 1 1はスポット溶接できるように折曲げる^がある。単板 コンデンサ素子 7の積層枚数が多い程、 図 7に示すように最上部に積層された単 扳コンデンサ素子 7の陽極部 1 1は、 より大きく折曲げられるため、 単板コンデ ンサ素子 Ίの陽極部 1 1と陰極部の境界付近で応力集中が起こりコンデンサ性能 が悪化する。
これに対して、本発明は、 リードフレーム上に積層する際の応力集中を回避す るために、単板コンデンサ素子 7の陽極部を極力折曲げないでリードフレームに 積層する積層型固体電解コンデンサを提供する。
即ち、 図 4に示すように、 末広がり形状の単板コンデンサ素子 7の複数枚の陽 極部 1 1を同一方向に揃え、 かつ各陽極部 1 1が陽極側リードフレーム 9表面に 近接するように積層し、 厚い陰極部を陽極部 1 1側から陰極部側に向かって末広 がり形状になるようにした積層コンデンサ素子 1 9とした。
単板コンデンサ素子 7が末広がり形状であると、 陽極部 1 1をスポット溶接等 で積層して固着(積層固着) し、 また各陰極部間及び陰極部と陰極側リードフレ ーム 8間を導電性接着層 1 0で積層固着することで、 高歩留で耐熱性等に優れた 積層コンデンサ素子 1 9が得られることを見い出した,
尚、 導電性接着層 1 0は、 銀微粉末を含む銀ペースト等の導電ペーストを用い て形成できる。
ところで、 単板コンデンサ素子 2枚を末広がり状にリードフレーム上に載置す る公知例(特開平 6 - 1 3 2 6 9号公報)があるが、 その目的は外装樹脂で封口 した時に樹脂の硬化応力を緩和するために末広がり形状にすることを目的として おり、 陽極部をリードフレーム表面に積層固着することを記載していない点、 本 発明とは本質的に異なる。
また、 本発明においては、 図 9で示すように外装樹脂 2 3の所定寸法内に多数 の単板コンデンサ素子 7を内蔵するために、 導電ペーストで陰極側リ一ドフレー ム 8上に単板コンデンサ素子 7を積層固着する時に、 適当量の導電ペーストを陰 極部及びリードフレーム 8の特定範囲に塗布することが好ましいこと、 更に適当 な圧力で単扳コンデンサ素子 7を加圧積層することで末広がり形状の積層コンデ ンサ素子 1 9が好適に得られ易いことを見出した。
即ち、 導電ペーストを用いて陰極側リードフレーム 8上に単扳コンデンサ素子 7を積層固着する時の加圧力は、 約 1 7〜4 2 0 g / c m2の範囲であることが好 ましい。 従って、 単板コンデンサ素子 7が厚さ 0 . 3 m m X幅 3 mm X長さ 4 m mである場合は、 2 g〜5 0 g程度の荷重が単板コンデンサ素子 7の積層固着時 にかけられる。
また、 単扳コンデンサ素子 7の陰極部に図 1に示すようにテーパ状の勾配をつ けて単板コンデンサ素子 7の形状を末広がり状とする、 あるいは、 単扳コンデン サ素子 7の陰極部の厚さを図 2に示すように階段状に大きくして単板コンデンサ 素子 7の形状を末広がり状とすることで末広がり形状の積層コンデンサ素子 1 9 を無理なく得られることを見出した。
次に、 積層型固体電解コンデンサを製造するための単板コンデンサ素子につい て説明する。
本発明の単板コンデンサ素子では、 図 1〜3に示すように、 表面に誘電体酸化 皮膜層 2を有する平板状の弁作用金属からなる陽極基体 1の端部が陽極部 1 1と され、 この陽極部 1 1を除いた部分の前記誘電体酸化皮膜層 2上に固体電解質層 4、 その上に導電体層 5、 6が順次形成されて陰極部とされている。
ここで、 誘電体酸化皮膜層 2は、 大きな表面積を有する誘電体層としてエッチ ングされた弁作用金属からなる細孔表面に形成されるものであって、 誘電体酸化 皮膜層 2にはアルミナ、 酸化タンタル等のように弁作用金属の酸化物又はその焼 結体で構成できる。 本発明において使用される弁作用金属として、 アルミニウム、 タンタル、 ニオブ、 チタン等が挙げられる。
陽極基体 1は、 前記弁作用金属の支持体を指し、 その表面に誘電体酸化皮膜層 2を形成して一端を本発明では陽極部 1 1と称する。
また、 誘電体酸化皮膜層 2を形成する前に、 容量増加のため陽極基体 1の表面積 を拡大するエッチング処理が行われる。
図 1〜3に示すように、 単板コンデンサ素子の陽極部 1 1と陰極部は絶縁層 3 で分離されており、 陰極部に固体電解質層 4、 導電層 5、 6が形成されている, 絶緣層 3を陽極部 1 1に接してはちまき状に設けることで、 陽極部 1 1と陰極 部とを区分してもよい。 絶縁層 3は、 陰極部と陽極部 1 1とを電気的に絶縁する ための層である。
絶縁層 3は絶緣性の材料であり、 例えば一般的な耐熱性樹脂、 好ましくは溶剤 に可溶あるいは膨潤しうる耐熱性樹脂またはその前駆体、 無機質微粉とセルロー ス系樹脂からなる組成物(特開平 1 1一 8 0 5 9 6号公報〉 などが使用できるが、 材料には制限されない。 具体例としては、 ポリフヱニルスルホン (P P S ) 、 ポ リエーテルスルホン ( P E S ) 、 シアン酸エステル樹脂、 フッ素樹脂(テトラフ ルォロエチレン、 テトラフルォロエチレン ·パーフルォロアルキルビニルェ一テ ル共重合体等〉 、 ポリイミド及びそれらの誘導体などが挙げられる。 特に好まし くはポリイミド、 ポリエーテルスルホン、 フッ素樹脂及びそれらの前駆体が挙げ られる。 前記ポリィミドとは、 主鍈にィミド構造を含む化合物であり、 通常前駆 体のポリァミツク酸を溶剤に溶かした溶液を使用して、 塗布後に高温に加熱処理 してイミド化を図ったものである。 材料は、 前記のように、 ポリイミドの化学構 造にも制限されないが、 好ましくは平均分子量としては 1, 0 0 0〜1, 0 0 0, 0 0 0であり、 より好ましくは 2, 0 0 0〜2 0 0, 0 0 0の絶緣性に俊れた化 合物が使用される。
固体電解質層 4は、 導電性高分子ゃテトラシァノキノジメタン (T C N Q )等 を含む有機物、 あるいは二酸化マンガン、 二酸化鉛等の金属酸化物他の無機物を 化字酸化又は電解酸化法等にて形成してもよい。
固体電解質層 4の上の導電体層 5はカーボンペーストで、 導電体層 5の上の導 電体層 6は銀ペースト等の導電ペーストを用いて形成できるが、 これら材料又は その方法に限定されるものではない。
本発明において、 固体電解質層 4を形成するために用いる導電性高分子として、 真性導電性高分子(特開平 1一 1 6 9 9 1 4号公報)や 共役系のポリア二リン (例えば、 特開昭 6 1 - 2 3 9 6 1 7号公報) 、 複素五員環式化合物のポリピロ ール(例えば、 特開昭 6 1 - 2 4 0 6 2 5号公報) 、 ポリチオフヱン誘導体(例 えば、 特開平 2— 1 5 6 1 1号公報) およびポリイソチアナフテン (例えば、 特 開昭 6 2— 1 1 8 5 1 1号公報) 等の公知のポリマーを本発明において用いるこ とができる。
すなわち、 固体電解質層 4を形成するために、 ァニリン、 ピロール、 チォフエ ン、 ィソチアナフテン及びそれらの置換誘導体の二価基の化学構造からなる群よ り選ばれた少なくとも 1つの化字構造を含む導電性重合体を用いることができる < また、 公知の導電性重合体、すなわちベンゼン、 P—フエ二レンビニレン、 チェ 二レンビニレン、 ナフト [ 2 , 3— c ]チォフェン及びそれらの置換誘導体の二 価基の化学構造を含む重合体も、 固体電解質層 4を形成するために使用できる, これらの導電性高分子は、 ドーパントを含んだ導電性高分子組成物として固体 電解質層 4を形成するために使用される さらに、 ドーパントだけの添加だけで なく、 例えば有機系あるいは無機系のフィラーが更に併用されてもよい。
ピロールゃチオフヱン等の重合性複素五員環式化合物(以下、 複素五員環式化 合物という)の重合体を使用する場合、 陽極箔を複素五員環式化合物の低級アル コール /水系溶液に浸潰した後、 酸化剤と電解質を溶かした水溶液に浸潰して化 学重合させ、導電性高分子を陽極箔上に形成する方法(特開平 5— 1 7 5 0 8 2 号公報) 、 3 , 4—ジォキシエチレンーチォフェンモノマー及 U¾化剤を好まし くは溶液の形態において、前後して別々にまたは一緒に金属箔の誘電体酸化皮膜 に塗布して形成する方法(特開平 2— 1 5 6 1 1号公報ゃ特開平 1 0— 3 2 1 4 5号公報〉等を本発明において適用できる, また、 特開平 1 0— 3 2 1 4 5号公 報に開示されているように、 ベンゾキノンスルホン酸ゃ脂環式スルホン酸のよう な特定の有機スルホン酸をドーァしたポリ (3, 4ージォキシエチレンーチオフ ェン) を、 本発明においても用いることもできる。
さらには、本発明の単板コンデンサ素子および積層型固体電解コンデンサにお いて、 その固体電解質 4には下記の一般式 ( I ) で示される 3 , 4—ジォキシェ チレンーチオフヱン誘導体の重合体も好適に使用できる。
( I )
Figure imgf000010_0001
但し、 上記の一般式 ( I ) において、 R 1及び R2は、 各々独立して水素原子、 C ,〜C 6の直 状もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和の炭化水素基、 または C t〜C 6の炭化水素基が互いに任意の位置で結合して、 2つの酸素元素を含む少な くとも 1つ以上の 5〜 Ί員環の飽和炭化水素の環状構造を形成する置換基を表す < また、 前記環状構造には置換されていてもよいビニレン結合を有するもの、 置換 されていてもよいフ Λ二レン構造のものが含まれる。
また、 同様に下記の一般式( I I ) の二価基の化学構造を含む重合体も、 固体 電解質 4を形成するために好適に使用できる。
Figure imgf000011_0001
上記の一般式 ( I I ) において、 R3、 R R 6及び R6は、 それぞれ独立して、 水素原子、 C i〜C】。の直鍈状もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和のアルキル基、 アルコキシ基またはアルキルエステル基、 ハロゲン原子、 ニトロ基、 シァノ基、 1級、 2級または 3級ァミノ基、 トリフロロメチル基、 フエニル基及び置換フエ ニル基からなる群から選ばれる一価基を表すか、 または R3、 R R6及び R6の 炭化水素鎖は互いに任意の位置で結合して、 かかる基により置換を受けている炭 素原子と共に少なくとも 1つ以上の 3〜7員環の飽和または不飽和炭化水素の環 状構造を形成する二価の基を形成してもよい。
また、 一般式 ( I I ) において、 R3、 R R 5及び R6が表すアルキル基、 ァ ルコキシ基、 アルキルエステル基、 またはそれらによって形成される環状炭化水 素鎮にはカルボニル、 エーテル、 エステル、 アミド、 スルフィ ド、 スルフィニル、 スルホニル、 ィミノ結合を任意の数含んでもよい。 一般式 ( I I ) に記載の 5は、 繰り返し単位あたりの荷電数を表し、 0〜1の範囲である。
しかしながら、 本発明の単板コンデンサ素子および積層型固体 解コンデンサ においては、 特に化学構造には限定されなく、 通常固体電解質 4を形成する材料 の電気伝導度は、 0. 1〜200 SZcmの範囲、 望ましくは 1〜: I 00 S/c mの範囲、 さらに好ましくは 10〜100 S/c mの範囲であればよい。
ピロ一ルゃチオフヱン類等の複素五員環式化合物の酸化重合に対して適する酸 化剤として、 例えば特開平 2— 1 561 1号公報記載の塩化鉄( I I I ) 、 F e (C 10+) 3や有機酸鉄( 1 1 1 ) 、 無機酸鉄( 1 1 1 ) 、 アルキル過硫酸塩、 過硫酸アンモニゥム、 過酸化水素等が広範に使用できる, 前記有機酸鉄 ( 1 1 1 ) の有機酸の例としては、 メタンスルホン酸ゃドデシルベンゼンスルホン酸のよう な炭素数 1〜20のアルキルスルホン酸ゃ同じく脂肪族カルボン酸が挙けられる Φ しかしながら、 前記酸化剤の使用範囲は、 詳箱には前記モノマー化合物の化学構 造と酸化剤および反応条件等の制限を受けることがある。 例えば、 チオフヱン類 の酸化(重合〉は、 H a n d b o o k o f Conduct i ng Po l me rs¾ (Marc e l D e k k e r , I nc. 社発行、 1987年、 99 頁、 図 5参照。 ) の説明によると、置換基の種類により酸化電位(重合の起こり 易さを示す 1つの尺度。 )が大きくかわり、 重合反応を左右する (酸化電位は約 1. 8〜約 2. 7 Vの範囲に広範に広がっている, )。従って、 具体的には使用 するモノマー化合物と酸化剤、 反応条件の組合せが重要である。
前記導電性重合体に含まれるドーパントは、 用いる T電子共役構造を有する重 合体に制限されない。 ドーパントは、 通常ァニオンであればよく、 また該ァニォ ンが低分子ァニオンであつても高分子電解質等の高分子ァニォンであつてもよい。 例えば、具体的には、 PF6—、 SbF6—、 As F6—の如き 5 B族元素のハロゲン 化物ァニオン、 B F の如き 3 B族元素のハロゲン化物ァニオン、 I— ( 13— ) 、 Br―、 C 1—の如きハロゲンァニオン、 C 1 C —の如き過ハロゲン酸ァニオン、 A 1 C 1 Γ F e C 1 SnC 1 Γ等の如きルイス酸ァニオン、 あるいは NO 3-、 S〇+ の如き無機酸ァニオン、 または p—トルエンスルホン酸やナフタレン スルホン酸、 C;〗〜 C 6のアルキル置換ナフタレンスルホン酸、 CF3S〇3—、 CH 3S〇3—のごとき有機スルホン酸ァニオン、 または C H3C〇〇 、 CeHeC O O" のごときカルボン酸ァニオン等のプロトン酸ァ二オンを挙げることができる。 さらに好ましくは、 有機スルホン酸ァニオン、 有機リン酸ァニオン等が使用さ れる。 特に有機スルホン酸ァニオンであっては、 芳香族スルホン酸ァニオン、 芳 香族ポリスルホン酸ァニオン、 O H基またはカルボキシ基が置換した有機スルホ ン酸ァ二オン、 ァダマンタン等の骨格を有する脂肪族の有機スルホン酸ァニオン 等の種々の化合物が適用できる。
例えば、 有機スルホン酸を例示すれば、 ベンゼンスルホン酸や P—トルエンス ルホン酸、 メタンスルホン酸、 エタンスルホン酸、 α—スルホーナフタレン、 β ースルホーナフタレン、 ナフタレンジスルホン酸、 アルキルナフタレンスルホン 酸(アルキル基としてはプチル、 トリイソプロピル、 ジー t一ブチル等) が挙げ られる。
また、 他の例示として、 一つ以上のスルホア二オン基とキノン構造を分子内に 有するスルホキノン化合物のァニオン (以下スルホキノンァニオンと略する〉 、 アントラセンスルホン酸ァニオン、 ナフタレンスルホン酸ァニオン、 ベンゼンス ルホン酸ァニオン、 キシリレンジスルホン酸ァニオン ( o、 p、 m ) を例示する ことができる。
スルホキノンァニオンの基本骨格としては、 P—べンゾキノン、 o—べンゾキ ノン、 1 , 2—ナフトキノン、 1, 4一ナフトキノン、 2, 6—ナフトキノン、 9, 1 0—アンドラキノン、 1, 4一アンドラキノン、 1 , 2—アントラキノン、 1, 4ークリセンキノン、 5, 6—クリセンキノン、 6, 1 2—クリセンキノン、 ァセナフトキノン、 ァセナフテンキノン、 カルホルキノン、 2 , 3—ボルナンジ オン、 9, 1 0—フエナントレンキノン、 2, 7—ピレンキノンが挙げられる。 中でも、 本発明において使用するスルホキノンとしては、 アントラキノン、 1, 4一ナフトキノン、 2, 6—ナフトキノンの骨格を有するスルホキノンが好まし く使用される。 例えばアン卜ラキノン類の場合、 アントラキノンー 1ースルホン 酸、 アントラキノンー 2—スルホン酸、 アントラキノンー 1 , 5—ジスルホン酸、 アントラキノンー 1 , 4一ジスルホン酸、 アントラキノンー 1, 3—ジスルホン 酸、 アントラキノンー 1, 6—ジスルホン酸、 アントラキノンー 1, 7—ジスル ホン酸、 アントラキノンー 1 , 8—ジスルホン酸、 アントラキノンー 2 , 6—ジ スルホン酸、 アントラキノンー 2 , 3—ジスルホン酸、 アントラキノンー 2, 7 一ジスルホン酸、 アントラキノンー 1, 4, 5—トリスルホン酸、 アントラキノ ンー 2, 3, 6 , 7—テ卜ラスルホン酸、 これらのアルカリ金属塩、 及びこれら のアンモニゥム塩等が使用できる。
1, 4一ナフトキノン類の場合は、 1, 4一ナフトキノン一 5—スルホン酸、 1 , 4一ナフトキノン一 6—スルホン酸、 1, 4一ナフトキノン一 5 , 7—ジス ルホン酸、 1, 4一ナフトキノン一 5, 8—ジスルホン酸、 これらのアルカリ金 属塩、 及びこれらのアンモニゥム塩等が使用できる。
2 , 6—ナフトキノン類の場合は、 2 , 6—ナフトキノン一 1ースルホン酸、 2 , 6—ナフトキノン一 3—スルホン酸、 2, 6—ナフトキノン一 4ースルホン 酸、 2, 6—ナフトキノン一 3, 7—ジスルホン酸、 2, 6—ナフトキノンー4, 8—ジスルホン酸、 これらのアルカリ金属塩、 及びこれらのアンモニゥム塩等が 使用できる。
また、 前記スルホキノンとしてはさらに工業的な染料の中から、 例えばアント ラキノンアイリス R、 アントラキノンバイオレット F N— 3 R Nがあり、 これら も同樣に有用なスルホキノン系ドーパントとして前記塩の形態で使用できる さらには、 ポリアクリル酸、 ポリメタクリル酸、 ポリスチレンスルホン酸、 ポ リビニルスルホン酸、 ポリビニル硫酸、 ポリ一 α—メチルスルホン酸、 ポリェチ レンスルホン酸、 ポリリン酸等の高分子電解質ァニオンも使用される。
また、 これらのドーパントは、 前記導電性重合体を産生しうる公知な酸化剤の 還元体ァニオンも含まれる。 例えば、 アルカリ金属過硫酸塩類や過硫酸アンモニ ゥム塩類等の酸化剤の産生ァニオンである硫酸イオンが挙げられる。 その他には、 過マンガン酸カリウム等のマンガン類、 2, 3—ジクロロー 5, 6—ジシァノー 1, 4一べンゾキノン (D D Q ) 、 テトラクロロー 1, 4一べンゾキノン、 テト ラシァノー 1 , 4一べンゾキノン等のキノン類から産生されるドーパントが挙げ られる。
以上、 本発明においては導電性重合体に前記ドーパントの少なくとも 1種を含 むものが好適に使用される。 例えば、 導電性重合体にドーパントとして硫酸ィォ ンが 共役構造の全繰り返し単位に対して 0 . 1〜1 0モル%の範囲であり、 他 のドーパントとして前記スルホキノンァニオン、 例えばアントラキノンスルホン 酸ァニォンが 1〜 5 0モル%の範囲を含むものである。
一方、 単板コンデンサ素子について更に説明する。
単板コンデンサ素子として、 図 1、 2に示すように、 陰極部先端部分の厚みが 陰極部基部の厚みよりも大きい先太形状のものを用いると、 積層型固体電解コン デンサとしてこれを積層した場合、 稷層コンデンサ素子 1 9が末広がり形状とな り易い (図 9参照) 。 即ち、 単板コンデンサ素子 7の形状として、 固体電解質層 4と導電体層 5、 6との合計厚みを、 図 1に示すように、 陰極部先端に向かって 澌次大きくした形状、 或いは、 その厚さを図 2に示すように陰極部先端に向かつ て階段状に厚くした形状が好ましい。
さらに別の発明の実施態様として、 先太形状の単板コンデンサ素子において、 陰極部基部の厚み と、 その先端部の最大厚み S 2との比 S 2/ S ,が 1 . 1〜5 . 0の範囲が良く、 より好ましくは 1 . 3〜3 . 0の範囲である,
図 1に示す形状の単板コンデンサ素子 7を得る方法の例として、 導電ペースト を塗布後先端側の導電体層 5、 6が厚くなるように機械的に加圧成型する方法が 挙げられる。他の方法として、素子 7の先端部に橾り返し導電ペーストを塗布し て、 図 1、 2に示すように、 澌次に或いは階段状に導電体 5、 6を厚くする方法 が挙げられる。 素子 7の先端部分を陰極部基部の厚み S ,よりも大きくできる方法 であれば、 どのような方法を用いてもよい。
単板コンデンサ素子 7は積層されて、 例えば図 4に示すような積層コンデンサ 素子 1 9とされる。
単板コンデンサ素子 7を積層する方法は、 例えば 1枚毎に陰極側のリードフレ ーム 8上に導電ペーストを用いて稷層してもよいし、 また 2枚以上をあらかじめ 末広がり形状に積層した積層品を陰極側リードフレーム 8に接着により積層して もよい, 更にそれらの素子 7を重ねて積層してもよい。 これら以外の積層方法を 採用してもよい。 またリードフレーム 8の表裏の一方、 あるいは、 図 6に示すよ うに、 表裏両側に単板コンデンサ素子 7を積層してもよい。
単扳コンデンサ素子において先太ではなく、 素子上下面がほぼ平行である単板 コンデンサ素子(図 3 ) を用いて末広がり形状に積層してもよく、 その積層コン デンサ素子 1 9を得る方法として、 導電性接着層 1 0の厚みを陰極部先端側にお いて陰極部基部側よりも大きくする方法が挙げられる。
陰極部と陰極部との間の導電性接着層 1 0、 及び陰極部と陰極側リードフレー ム 8との間の導電性接着層 1 0は、 陰極部の先端から陰極部長 L (図 1参照)の 8 0 %迄の範囲(即ち、 導電性接着層 1 0の陰極部先端からの長さ は、 0 . 8 X L以下) に形成されることが好ましい。 先端から 8 0 %迄の範囲を越えて導電 性接着層 1 0を形成しょうとすると、導電ペーストが積層時に陽極部 1 1迄に到 達する恐れあり、 ショート等による歩留悪化ゃショートにならなくても漏れ電流 が大きくなる等の性能低下を招く恐れがある。 導電性接着層 1 0を陰極部長さ L の 8 0 %迄の範囲に形成するには、 導電ペーストを陰極部長さの先端側から半長 迄の範囲に塗布するがよい Φ
また、 複数枚の単板コンデンサ素子 7が、 機械的に加圧積層されことで末広が り形状の積層コンデンサ素子 1 9とされることが好ましい。 即ち、 図 5に示すよ うに、 複数枚の単扳コンデンサ素子 Ίを導電ぺーストで陰極側リードフレーム 8 上に積層する時に、 適当な圧力で単板コンデンサ素子 7を加圧板 1 7で加圧して 導電ぺーストの厚みを調節とすることで、 所定寸法の末広がり形状とする。
この際、 導電性接着層 1 0の厚みを、 陰極部基部から陰極部先端部分に向かつ て澌次大きくなるようにすれば、 積層コンデンサ素子 1 9の陰極部先端部分の厚 み W2が陰極部基部の厚み W りも大きくなり、 その結果、 積屑コンデンサ素子 1 9が末広がり形状となり易い。
積層コンデンサ素子 1 9の末広がり形状として、 積層コンデンサ素子 1 9の陰 極部基部の厚み W!と、 該素子 1 9の陰極部先端部分の最大厚み W2との比 W2/W !は 1 . 3〜5 . 5であり、 好ましくは 1 . 5〜3 . 5である。
単板コンデンサ素子 7の陽極部 1 1は、 単板コンデンサ素子 7の積層後に折り 曲げていてもよいし、 その積層前に予め折り曲げられてもよい。
陽極部 1 1と陽極部 1 1との間及び陽極部 1 1と陽極側リードフレーム 9とを 接続する方法は、 スポット溶接、 レーザー溶接及び導電ペーストでの接続等、 い かなる方法を採用してもよい。 陰極部の稜層と陽極部接続の順序も特に限定はな く、 どちらを先にしてもよいし、 また交互に行ってもよい。 いずれにしても、 単 板コンデンサ素子 7に大きな機械的応力が加わらないように積層して積層コンデ ンサ素子 1 9を作製することが肝心である。
積層コンデンサ素子 1 9は、 図 9に示すように、外装樹脂 2 3で封口し、 外装 樹脂 2 3の外側のリードフレームをタト装樹脂に沿って折曲げて外部リード 2 1と して積層型固体電解コンデンサ 2 5とされる。 外装樹脂 2 3の例はエポキシ樹脂、 フエノ一ル樹脂等であり、 外部リード 2 1は、 例えば材質( 4 2ァロイ〉 で構成 できる。
単板コンデンサ素子 7の陽極部を同一方向に揃え陽極側リ一ドフレーム 9上に 積層固着すると、 或いは、 先太形状の単板コンデンサ素子 7を用いると、 積層コ ンデンサ素子 1 9が外装樹脂 2 3からはみ出さないようにでき、 かつ単板コンデ ンサ素子 7の積層枚数を増やして高容量の積層型固体コンデンサ 2 5を得ること ができる。
以下に、 積層コンデンサ素子の構造例を挙げ、 これらの歩留性、 耐熱性を説明 する。
図 4は積層コンデンサ素子の一例の断面図であつて、 単板コンデンサ素子 7の 4枚を加圧しないで末広がり状にすることで陽極部 1 1を大きく折り曲げずにス ポット溶接か^ Γ能とした例である。 本例は、 後記する図 7のものに比較して歩留 がよく、 リフロ一試験後漏れ電流が少ない。
図 5は、 稷層コンデンサ素子の他の例の断面図である。 本例は、 単板コンデン サ素子 7同士の間隔を制御して目的の末広がり形状の積層コンデンサ素子を得る ために、 単板コンデンサ素子 7毎に所定の角度、 圧力で機械的に加圧積層した例 である。 その結果、 単板コンデンサ素子 7の陽極部 1 1を大きく折曲げずにスポ ット溶接できる。 図 4に示す例と同様に歩留がよく、 リフロー試験後漏れ電流が 少ない。
図 6は、加圧しながらリードフレーム 8の表裏に単板コンデンサ素子 7を 3枚 ずつ積層した積層コンデンサ素子の例である。積層枚数が 6枚のためと推定され るが、 歩留、 リフロー試験後漏れ電流値とも、 図 5の 4枚積層の例に比べ若干劣 るが、 次の図 7に比べれば優れる。
図 7は、 単板コンデンサ素子 7の 4枚を平行に積層した積層コンデンサ素子の 例である。 素子 7の陰極側をリードフレーム 8に平行に積層しており、 平板基体 の陽極部 1 1をリードフレーム 9に近接させスポット溶接を容易にするため、 陽 極部 1 1を大きく折曲げる必要がある。 このため絶緣部と陰極部の境界部が発生 する応力が小さい図 4〜6に比べ歩留は悪く、 リフロー試験後の漏れ電流値が大 きい。
図 8は、 加圧しながら素子 7を積層する際、 導電ペーストを陰極部全面に塗布 した積層コンデンサ素子の例である。 絶縁部との境界部近傍の陰極部に、 導電ぺ 一ストがあると漏れ電流が増大する。 図 5に示すものに比べ歩留、 リフロー試験 後漏れ電流値共かなり悪い。 実施例
図 4〜8に示す積層コンデンサ素子を作製し、 歩留、 耐熱性を比較した, 実施例 1
本例の積層コンデンサ素子は図 4に示すものである。
まず、 図 1に示す、 先太形状の単板コンデンサ素子 7を以下のようにして作製 した。
表面にアルミナの誘電体酸化皮膜層 2を有する厚さ 9 0〃m、 長さ 5 m m、 幅 3 mmのアルミニウム (弁作用金属) のエッチング箔(陽極基体 1 ) の上端の長 さ 2 m m、 幅 3 mmの部分を陽極部 1 1とし、 残り 3 m m X 3 mmの部分を、 1 0 w t %のアジピン酸アンモニゥム水溶液で 1 3 V化成して切り口部に誘電体酸 化皮膜層 2を形成し、 誘電体を準備した。 この誘電体表面に、 過硫酸アンモニゥ ム 2 0 w t %とアントラキノンー 2—スルホン酸ナトリウム 0 . l w t ? なる ように調製した水溶液を含浸させ、 次いで 3, 4ージォキシエチレンーチォフエ ンを 5 g溶解した 1 . 2 m o 1 / 1のイソァロパノール溶液に浸潰した。 この基 板を取り出して 6 (TCの環境下で 1 0分放 することで酸化重合を完成させ、 水 で洗浄した。 この重合反応処理及び洗浄工程をそれぞれ 1 0回繰り返し、 導電性 高分子の固体電解質層 4を形成した。
次いで、 カーボンペースト槽に浸漬し固化させて導電体層 5を形成した。 そし て、 銀ペースト槽に浸潰し固化する操作を繰り返して導電体層 6の厚みを先端に 向かって漸次大きくすることで、 図 1に示す先太形状の単扳コンデンサ素子 7を 得た。 該単板コンデンサ素子 7の陰極部基部の厚み S tと、 その先端部の最大厚み S 2との比 S 2 S】は 2 . 1であった。
該単板コンデンサ素子 7の 4枚を、 図 4に示すように、 4個の陽極部 1 1を左 方に揃え、 4個の陰極部を右方に揃えて、 陰極部と陰極部との閭、及び、 陰極部 とリードフレーム 8との間を導電ペーストで接着することでこれらを積層固着し 末広がり形状の積層品を得た。 該積層品の陽極部 1 1を折り曲げながら、 陽極部 1 1同士、 及びリードフレーム 9の片表面と陽極部 1 1の下面をスポット溶接す ることで、 図 4に示す積層コンデンサ素子 1 9を得た。 図 4中の符号 1 3は溶接 部を示す。 尚、 単板コンデンサ素子 7の 4枚を加圧しないで積層した。 また、 導 電ぺ一ストの塗布長は、 先端から陰極部長さ Lの 5 0 %迄の範囲內とした。
実施例 2
本例の積層コンデンサ素子は図 5に示すものである。 実施例 1と異なる主な点 は、積層コンデンサ素子 1 9を製造する際、 単板コンデンサ素子 7の 4枚を加圧 板 1 7を用いて加圧( 4 0 g /素子〉 した点である。
実施例 3
本例の積層コンデンサ素子 1 9は図 6に示すものである, 実施例 2と異なる主 な点は、 リードフレーム 8の表裏に単板コンデンサ素子 7を 3枚ずつ積層した点 である,
比較例 1、 比較例 2
比較例 1は、 図 7に示す積層コンデンサ素子である,比較例 1が実施例 1と異 なる主な点は、 椟層コンデンサ素子 1 9を製造する際、 単板コンデンサ素子 7の 陰極側をリードフレーム 8に平行に積層した点である。
比較例 2は、 図 8に示す積層コンデンサ素子である。 比較例 2が実施例 1と異 なる主な点は、 積層コンデンサ素子 1 9を製造する際、 導電ペーストを陰極部全 面にわたって塗布し、 単板コンデンサ素子 7同士、単板コンデンサ素子 7と陰極 側リードフレーム 8を積層した点である。
以上のようにして積層した積層コンデンサ素子の歩留、 リフロー試験後の漏れ 電流値を表 1に示す。 表 1より、 実施例 1〜3の積層コンデンサ素子は、 比較例 1、 比較例 2に比較して、 歩留がよく、 また、 リフロー試験後の漏れ電流値が低 いことが判る。
表 1
Figure imgf000021_0001
注) ( 1 ) 接着用導電ペーストの陰極部塗布面積
(2) 漏れ電流値が 1 Α以下を合格とし、 歩留を算出した。
(3) リフロー炉で熱処理 '(24(TCピーク) した後の漏れ電流値の平均とばらつき を評価した。 (n=30)
(4) 範囲とは、 最大電流値と最小電流値の差を意味する。
又、 図 4に示す積層コンデンサ素子については、 固体電解質を他の導電性高分 子や無機酸化物とした積層コンデンサ素子を作製し、 歩留、 耐熱性を以下の通り 比較した。
実施例 4
実施例 1と同様に誘電体を準備し、 この誘導体表面に、 特開平 2— 24281 6号公報記載の方法を採用して合成及び昇華生成した 5 , 6—ジメトキシ一ィソ チアナフテンの 1 · 2 mo 1/ 1濃度、 脱気 I PA溶液(溶液 4 ) に浸漬した後、 20wt%濃度の過硫酸アンモニゥム水溶液に、 Te t r ah e d ro n 誌 (35卷(No. 19 ) 、 2263頁、 1 Q 79年) 記載の方法で合成した 3— メチルー 2—アントラキノリルメタンスルホン酸ナトリウムを溶かして、 該濃度 が 0. 1 七%になるように調製した水溶液(溶液 3 ) を含浸させた。 次いでこ の基板を取り出して 60°Cの環境下で 1 0分放置することで酸化的重合を完成さ せた。 この浸潰工程をそれぞれ 1 0回繰り返し、 導電性高分子の固体電解質層 4 を形成した。 次いで導電体層 5、 6の形成および先太形状の単板コンデンサ素子 7を 4枚積層し、 リードフレーム 8、 9に固着して図 4に示す積層コンデンサ素 子 19を得た。 すなわち固体電解質層 4の形成以外は実施例 1と同様な方法で積 層コンデンサ素子を作製した。
実施例 5
実施例 1で使用した 3, 4ージォキシエチレンーチォフェンの替わりにピロ一 ルー N—メチルの同濃度溶液を用いた以外は、 実施例 1の記載と同様な方法で 4 枚の単板コンデンサ素子 7を積層した積層コンデンサ素子を作製した。
実施例 6
実施例 1と同様に誘電体を準備し、 この誘電体表面に、 酢酸鉛三水和物 2. 4 モル/ 1水溶液と過硫酸アンモニゥム 4. 0モル/ 1の水溶液との混合液に浸潰 し、 6 CTCで 30分反応させた。 このような反応を 3回繰り返して、 二酸化鉛 2 5wt%、 硫酸鉛 75wt%からなる固体電解質層 4を形成した。 以降は実施例 1と同様な方法で 4枚の単板コンデンサ素子 7を積層した積層コンデンサ素子を 作製した。
以上実施例 4〜 6の積層コンデンサ素子の歩留、 リフロー試験後の漏れ電流値 を表 2に示す。 導電性高分子又は無機酸化物を固体電解質としたいずれの例でも 歩留、 耐熱性共 実施例 1の結果と同樣であり、 いずれの固体電解質を用いても 良好な特性の積層コンデンサ素子が得られることが分かった。
但し、無機酸化物より導電性高分子の方がリフロー試験後の漏れ電流値の初期値 およびバラツキで若干優れており、 また可撓性にすぐれるためか導電性高分子を 固体電解質として用いる方がよい結果であった。
表 2
Figure imgf000024_0001
注) (5) 漏れ電流値が 1 以下を合格とし、 歩留を算出した。
(6) リフロー炉で熱処理(240 ピーク)した後の漏れ電流値の平均と ばらつきを評価した。 (n=30)
(7) 範囲とは、 最大電流値と最小電流値の差を意味する。
産業上の利用分野
以上説明したように、 本発明によれば歩留、 耐熱性に優れた積層コンデンサ素 子が得られ、 結果として歩留、 耐熱性に優れた、 高容量の積層型固体電解コンデ ンサが得られる。 また、 本発明の単杈コンデンサ素子を用いれば、 前記積層型固 体電解コンデンザが容易に得られる。 本発明の積層型固体電解コンデンサは電子 機器等においてコンデンサとして用られる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 表面に誘電体酸化皮膜層を有する平板状の弁作用金属からなる陽極基体の端 部が陽極部とされ、 この陽極部を除いた部分の前記誘電体酸化皮膜層上に固体電 解質層、 その上に導電体層が順次形成されて陰極部とされ、 該陰極部の先端部分 の厚みが陰極部基部の厚みよりも大きい単扳コンデンサ素子,
2 . 表面に誘電体酸化皮膜層を有する平板状の弁作用金属からなる陽極基体の 端部が陽極部とされ、 この陽極部を除いた部分の前記誘電体酸化皮膜層上に固体 電解質層、 その上に導電体層が順次形成されて陰極部とされている単板コンデン サ素子の複数枚が、 その陽極部を同一方向に揃えられて陽極厠リードフレーム上 に積層固着され、 その陰極部を陽極部側から陰極部先端に向かって末広がり形状 に陰極側リードフレーム上に導電性接着層を形成して積層固着されて積層コンテ ンサ素子とされ、 該積層コンデンサ素子の周囲が外装樹脂で被覆封止されている 積層型固体電解コンデンサ。
3 . 単板コンデンサ素子として、 陰極部の先端部分の厚みが陰極部基部の厚み よりも大きい単板コンデンサ素子を用いた請求項 2に記載の積層型固体電解コン デンサ
4 . 導電性接着層が、 陰極部の先端から陰極部長さの 8 0 %迄の範囲に形成さ れていることを特徴とする請求項 2又は 3に記載の積層型固体電解コンデンサ。
5 . 積層コンデンサ素子が、 複数枚の単板コンデンサ素子を加圧積層して得ら れたものであることを特徴とする請求項 2に記載の積層型固体電解コンデンサ
6 . 複数枚の単扳コンデンサ素子の陰極部と陰極部との間及び陰極部と陰極側 リードフレームとの閭が導電性接着層により積層固着され、 該導電性接着層の厚 みが陰極部先端部分において陰極部基部側よりも大きいことを特徴とする請求項 2又は 3に記載の積層型固体電解コンデンサ。
7 . 固体電解質層が、 導電性高分子を用いて形成されていることを特徴とする 請求項 2又は 3に記載の積層型固体電解コンデンサ。
8 . 導電性高分子が、 重合性複素五員環式化合物、 ァニリン、 ベンゼン、 p— フエ二レンビニレン、 チェ二レンビニレン、 イソチアナフテン、 ナフ卜 [ 2, 3 一 c ]チオフヱン及びそれらの置換誘導体の二価基の化学構造からなる群より選 ばれた少なくとも 1つの化字構造を含む重合体である請求項 7記載の積層型固体 電解コンデンサ。
9 . 重合性複素五員環式化合物が、 3, 4ージォキシエチレンーチオフヱン又 はその置換誘導体である請求項 8記載の積層型固体電解コンデンサ。
1 0 . 単板コンデンサ素子の複数枚が、 2〜2 0の範囲にある請求項 2又は 3 に記載の積層型固体電解コンデンサ。
1 1 . 陽極部を同一方向に揃えて陽極側リードフレーム上に積層固着する手段 が、 スポット溶接である請求項 2又は 3に記載の積層型固体電解コンデンサ,
1 2 . 陰極部基部の厚みと陰極部の先端部分の厚みの比がし 1〜 5 . 0の範 囲である請求項 1に記載の単板コンデンサ。
1 3 . 請求項 1又は 1 2記載の単板コンデンサにおいて、 陰極部の厚さに末広 がり状の勾配をつけて、 あるいは陰極部の厚さを階段状に大きくして、 陰極部の 先端部分の厚みが陰極部基部の厚みよりも大きくされたことを特徴とする単板コ ンデンサ素子。
1 4 . 請求項 1または 1 2記載の単板コンデンサにおいて、 誘電体酸化皮膜層 の上に絶緣層が形成され、 この絶緣層によって陰極部と陽極部とが分離されて 、 ることを特徴とする単板コンデンサ素子。
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