TWI827940B - 鉭酸分散液、其製造方法及鉭酸化合物 - Google Patents
鉭酸分散液、其製造方法及鉭酸化合物 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI827940B TWI827940B TW110121487A TW110121487A TWI827940B TW I827940 B TWI827940 B TW I827940B TW 110121487 A TW110121487 A TW 110121487A TW 110121487 A TW110121487 A TW 110121487A TW I827940 B TWI827940 B TW I827940B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- tantalic acid
- tantalum
- acid dispersion
- mass
- reaction liquid
- Prior art date
Links
- 239000002253 acid Substances 0.000 title claims abstract description 216
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 title claims abstract description 157
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 39
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 title description 92
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 125
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 125
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 70
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims abstract description 65
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 59
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims abstract description 54
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 34
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 claims description 102
- 239000012295 chemical reaction liquid Substances 0.000 claims description 101
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 90
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 82
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 71
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 50
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 claims description 48
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 45
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 claims description 40
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 39
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 238000010517 secondary reaction Methods 0.000 claims description 36
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 27
- 150000003481 tantalum Chemical class 0.000 claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 25
- 239000012266 salt solution Substances 0.000 claims description 25
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 19
- 230000035515 penetration Effects 0.000 claims description 16
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 14
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 12
- KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N EDTA Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 10
- 239000011734 sodium Substances 0.000 claims description 10
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 claims description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 8
- 239000000047 product Substances 0.000 claims description 3
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 claims 5
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 claims 2
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonium chloride Substances [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ROSDSFDQCJNGOL-UHFFFAOYSA-N Dimethylamine Chemical compound CNC ROSDSFDQCJNGOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 68
- YRGLXIVYESZPLQ-UHFFFAOYSA-I tantalum pentafluoride Chemical compound F[Ta](F)(F)(F)F YRGLXIVYESZPLQ-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 33
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 28
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 27
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 26
- -1 tantalum hydroxide compound Chemical class 0.000 description 20
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 19
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N Methylamine Chemical compound NC BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 14
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 14
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 12
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 12
- GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N trimethylamine Chemical compound CN(C)C GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 11
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 10
- 150000001339 alkali metal compounds Chemical class 0.000 description 9
- 235000019441 ethanol Nutrition 0.000 description 9
- QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N Ethylamine Chemical compound CCN QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000003973 alkyl amines Chemical class 0.000 description 8
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 8
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 8
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 8
- LIWAQLJGPBVORC-UHFFFAOYSA-N ethylmethylamine Chemical compound CCNC LIWAQLJGPBVORC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 7
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- UAOMVDZJSHZZME-UHFFFAOYSA-N diisopropylamine Chemical compound CC(C)NC(C)C UAOMVDZJSHZZME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 6
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 6
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 6
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 5
- KDSNLYIMUZNERS-UHFFFAOYSA-N 2-methylpropanamine Chemical compound CC(C)CN KDSNLYIMUZNERS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N diethylamine Chemical compound CCNCC HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 4
- DAZXVJBJRMWXJP-UHFFFAOYSA-N n,n-dimethylethylamine Chemical compound CCN(C)C DAZXVJBJRMWXJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GNVRJGIVDSQCOP-UHFFFAOYSA-N n-ethyl-n-methylethanamine Chemical compound CCN(C)CC GNVRJGIVDSQCOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- DPBLXKKOBLCELK-UHFFFAOYSA-N pentan-1-amine Chemical compound CCCCCN DPBLXKKOBLCELK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N propylamine Chemical compound CCCN WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AFCARXCZXQIEQB-UHFFFAOYSA-N N-[3-oxo-3-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)propyl]-2-[[3-(trifluoromethoxy)phenyl]methylamino]pyrimidine-5-carboxamide Chemical compound O=C(CCNC(=O)C=1C=NC(=NC=1)NCC1=CC(=CC=C1)OC(F)(F)F)N1CC2=C(CC1)NN=N2 AFCARXCZXQIEQB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 3
- 150000004677 hydrates Chemical class 0.000 description 3
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 3
- OEIMLTQPLAGXMX-UHFFFAOYSA-I tantalum(v) chloride Chemical compound Cl[Ta](Cl)(Cl)(Cl)Cl OEIMLTQPLAGXMX-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- BJEPYKJPYRNKOW-REOHCLBHSA-N (S)-malic acid Chemical compound OC(=O)[C@@H](O)CC(O)=O BJEPYKJPYRNKOW-REOHCLBHSA-N 0.000 description 2
- BMVXCPBXGZKUPN-UHFFFAOYSA-N 1-hexanamine Chemical compound CCCCCCN BMVXCPBXGZKUPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IIFFFBSAXDNJHX-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-n,n-bis(2-methylpropyl)propan-1-amine Chemical compound CC(C)CN(CC(C)C)CC(C)C IIFFFBSAXDNJHX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NJBCRXCAPCODGX-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-n-(2-methylpropyl)propan-1-amine Chemical compound CC(C)CNCC(C)C NJBCRXCAPCODGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N Dextrotartaric acid Chemical compound OC(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C(O)=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JQVDAXLFBXTEQA-UHFFFAOYSA-N N-butyl-butylamine Natural products CCCCNCCCC JQVDAXLFBXTEQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JAWMENYCRQKKJY-UHFFFAOYSA-N [3-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-ylmethyl)-1-oxa-2,8-diazaspiro[4.5]dec-2-en-8-yl]-[2-[[3-(trifluoromethoxy)phenyl]methylamino]pyrimidin-5-yl]methanone Chemical compound N1N=NC=2CN(CCC=21)CC1=NOC2(C1)CCN(CC2)C(=O)C=1C=NC(=NC=1)NCC1=CC(=CC=C1)OC(F)(F)F JAWMENYCRQKKJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BJEPYKJPYRNKOW-UHFFFAOYSA-N alpha-hydroxysuccinic acid Natural products OC(=O)C(O)CC(O)=O BJEPYKJPYRNKOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N butan-1-amine Chemical compound CCCCN HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 235000015165 citric acid Nutrition 0.000 description 2
- 229940043279 diisopropylamine Drugs 0.000 description 2
- WEHWNAOGRSTTBQ-UHFFFAOYSA-N dipropylamine Chemical compound CCCNCCC WEHWNAOGRSTTBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 2
- 238000002290 gas chromatography-mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- JJWLVOIRVHMVIS-UHFFFAOYSA-N isopropylamine Chemical compound CC(C)N JJWLVOIRVHMVIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 2
- 235000011090 malic acid Nutrition 0.000 description 2
- 239000001630 malic acid Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- ZIRLXLUNCURZTP-UHFFFAOYSA-I tantalum(5+);pentahydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[OH-].[OH-].[Ta+5] ZIRLXLUNCURZTP-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 2
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 description 2
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 2
- IMFACGCPASFAPR-UHFFFAOYSA-N tributylamine Chemical compound CCCCN(CCCC)CCCC IMFACGCPASFAPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RKBCYCFRFCNLTO-UHFFFAOYSA-N triisopropylamine Chemical compound CC(C)N(C(C)C)C(C)C RKBCYCFRFCNLTO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YFTHZRPMJXBUME-UHFFFAOYSA-N tripropylamine Chemical compound CCCN(CCC)CCC YFTHZRPMJXBUME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- STIAPHVBRDNOAJ-UHFFFAOYSA-N carbamimidoylazanium;carbonate Chemical compound NC(N)=N.NC(N)=N.OC(O)=O STIAPHVBRDNOAJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical compound OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000005374 membrane filtration Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N n-(2,4-dichloro-5-propan-2-yloxyphenyl)acetamide Chemical compound CC(C)OC1=CC(NC(C)=O)=C(Cl)C=C1Cl QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011941 photocatalyst Substances 0.000 description 1
- 239000013460 polyoxometalate Substances 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000001223 reverse osmosis Methods 0.000 description 1
- KKCBUQHMOMHUOY-UHFFFAOYSA-N sodium oxide Chemical compound [O-2].[Na+].[Na+] KKCBUQHMOMHUOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001948 sodium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 150000003482 tantalum compounds Chemical class 0.000 description 1
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003609 titanium compounds Chemical class 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G35/00—Compounds of tantalum
- C01G35/006—Compounds containing, besides tantalum, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G35/00—Compounds of tantalum
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2002/00—Crystal-structural characteristics
- C01P2002/70—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
- C01P2002/72—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data by d-values or two theta-values, e.g. as X-ray diagram
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2002/00—Crystal-structural characteristics
- C01P2002/70—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
- C01P2002/74—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data by peak-intensities or a ratio thereof only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2006/00—Physical properties of inorganic compounds
- C01P2006/60—Optical properties, e.g. expressed in CIELAB-values
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
Abstract
本發明係提供一種鉭酸分散液，該鉭酸分散液不含有難以揮發之有機成分，對水之分散性高，且在水中含有鉭或鉭酸及胺作為新穎之鉭酸分散液，對使該鉭酸分散液經乾燥而得之粉末進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定時，在X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為1.00以上。
Description
本發明係關於一種在水中含有鉭或鉭酸之鉭酸分散液及鉭酸化合物。
鉭係具有與貴金屬匹敵之耐化學性，而且為體心立方結晶構造，然而即使在室溫以下之溫度亦可容易加工，故被利用於各種的工業上用途之材料。例如，在化學工廠之熱交換器、高溫工業爐設備之電荷載體、醫療用移植、電器零件之電容器等各種的領域，係使用有含有鉭的材料。
又，近年來，就光學電子、觸媒等之材料而言，氧化鉭係倍受矚目。
例如，在專利文獻1中，已揭示一種氧化鉭溶膠，其係草酸與鉭氧化物以(HCOO)2/Ta2O5莫耳比成為0.5至5之範圍所構成的粒徑500Å以下；以及，一種氧化鉭溶膠之製造方法，其係在活性的氫氧化鉭化合物中以(HCOO)2/Ta2O5莫耳比成為5.0至30之範圍的方式加入草酸，並在溫度90℃以上進行2小時以上之加熱反應。
又，在專利文獻2中，已揭示一種氧化鉭溶膠，其係以含氧羧酸/Ta2O5(莫耳比)0.05至10之範圍含有選自由檸檬酸、酒石酸及蘋果
酸中之至少一種之含氧羧酸(Oxycarboxylic acid)；以及，一種氧化鉭溶膠之製造方法，係在選自檸檬酸、酒石酸及蘋果酸中之至少一種的含氧羧酸的存在下使鉭之氫氟酸溶液與鹼溶液反應。
在專利文獻3中，已揭示一種有機鉭水溶液之製造方法，其係使TaCl5溶解於少量之甲醇中，並加入水，再於其中加入氨水溶液而製作鉭酸Ta2O5‧nH2O之沈澱，水洗該沈澱而完全去除氯化物離子，如此之後，加入水、羥基羧酸或者EDTA(乙二胺四乙酸)，再加入胺(氨水或者胍碳酸鹽)與過氧化氫水而溶解。
在專利文獻4中，已揭示一種光觸媒薄膜之製造方法，其雖然並非使用鉭酸化合物本身，但是係將4價之鈦化合物的溶液或分散液、5價之鉭化合物的溶液或分散液及水溶性還原劑混合，並加熱至100至250℃之溫度所得到的氧化鈦系粉末，粉碎至平均粒徑100nm以下之微粒子，將使其分散於溶劑而成的分散液塗佈於基板之後，進行乾燥而形成膜；並且，可獲得含有鉭氧化物作為中間物質之氧化鈦系氧化物。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本特開平08-143315號公報
[專利文獻2]日本特開2006-117460號公報
[專利文獻3]日本特開2006-182714號公報
[專利文獻4]日本特開2010-188226號公報
若在工業上可提供一種在水中含有鉭或鉭酸之鉭酸分散液，尤其是在工業上可提供一種將鉭或鉭酸之水合物或其離子分散於水中而成之鉭酸分散液的話，則可將之塗敷在各種零件之表面而製造耐化學性高的表面層膜，或使用來作為觸媒之添加劑，或與鹼金屬反應而在工業上利用來作為鹼金屬之鉭鹽等，可期待有效利用於各式各樣的工業用途上。
然而，如在上述專利文獻1至3所揭示之氧化鉭溶膠或有機鉭水溶液，許多以往所知的鉭酸分散液係含有如含氧羧酸、草酸、EDTA(乙二胺四乙酸)等之難以揮發之有機成分，故該有機成分在進行製膜之時成為阻礙，或使用來作為觸媒之添加劑時係有時會阻礙觸媒作用，或成為工業上利用時之阻礙。
又，若在工業上可提供一種反應性高之鉭酸化合物的話，則可期待將之使用來作為觸媒之添加劑，或與鹼金屬化合物反應而在工業上利用來作為鹼金屬之鉭酸鹽，並有效利用於各式各樣的工業上的用途。
然而，在專利文獻4所揭示之鉭酸化合物仍有著與鹼金屬化合物之反應性不充分的問題。
因此，本發明之目的在於提供一種鉭酸分散液及其製造方法，該鉭酸分散液不含有含氧羧酸、草酸、EDTA等之難以揮發的有機成分，對水之分散性高，且為新穎之鉭酸分散液；以及，提供一種與鹼金屬化合物之反應性高的新穎之鉭酸化合物。
本發明係提出一種鉭酸分散液，其係在水中含有鉭或鉭酸及胺，其中，在對使該鉭酸分散液乾燥而得之粉末進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定時，在X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為1.00以上。
又，本發明係提出一種鉭酸分散液之製造方法，其係在胺水溶液中加入鉭鹽溶液而獲得一次反應液，然後在氨水中加入該一次反應液而獲得二次反應液，將該二次反應液所產生的含有鉭之沈澱物洗淨，並將洗淨後之含有鉭之沈澱物、胺及水混合而製作鉭酸分散液。
又，本發明係提出一種鉭酸化合物，若進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定，則在X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為0.90以上。
本發明提出之鉭酸分散液具有特徵係不含有含氧羧酸、草酸、EDTA等之難以揮發的有機成分，且對水之分散性高。尤其，可藉由提高胺之含量，更提高對水之分散性，並可形成為穿透率極高的水溶液。因而，本發明提出之鉭酸分散液係可塗敷在各種零件之表面而製造具有耐化學性等之預定功能的表面層膜，或使用來作為觸媒之添加劑，或有效利用於各式各樣的工業用途上。又，本發明提出之鉭酸分散液係與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀之反應性高，且即使不使用高壓釜等在高溫高壓之條件下使之反應，僅與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀混合並反應，亦可容易獲得鹼金屬之鉭酸鹽。
本發明提出之鉭酸化合物係與鹼金屬化合物例如氫氧化鈉或氫氧化鉀之反應性高，且例如即使不使用高壓釜等在高溫高壓之條件下使之反應，僅與鹼金屬化合物例如氫氧化鈉或氫氧化鉀混合並反應，亦可容易獲得鹼金屬之鉭酸鹽。
圖1係使用實施例1所得到之鉭酸分散液(試樣)，進行與NaOH之反應性試驗所得到的沈澱物之XRD圖案。
圖2係使用比較例2所得到之含有鉭酸的液體(試樣)，進行與NaOH之反應性試驗所得到的沈澱物之XRD圖案。
圖3係使用實施例1所得到之鉭酸分散液(試樣)，進行與KOH之反應性試驗所得到的沈澱物之XRD圖案。
圖4係使在實施例1所得到之鉭酸分散液(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖5係使在實施例2所得到之鉭酸分散液(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖6係使在實施例3所得到之鉭酸分散液(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖7係使在實施例4所得到之鉭酸分散液(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖8係使在實施例5所得到之鉭酸分散液(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖9係使在實施例6所得到之鉭酸分散液(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖10係使在比較例1所得到之含有鉭酸的液體(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
圖11係使在比較例2所得到之含有鉭酸的液體(試樣)經乾燥的粉末進行粉末X線繞射測定所得到之X線繞射圖案。
其次，依據實施之形態例而說明本發明。但，本發明並不限定於下列說明之實施型態。
<本鉭酸分散液>
有關本發明之實施型態的一例之鉭酸分散液(「本鉭酸分散液」)係在水中含有鉭或鉭酸及胺之鉭酸分散液。
在本發明中所謂「鉭酸分散液」係意指起因於鉭或鉭酸者以在水中不沈澱之狀態進行分散的狀態之液體、或、鉭或鉭酸溶解於水中而成為水溶液之狀態的液體。
例如，在室溫下靜置24小時以上之後，若以目視未觀察到沈澱，則可認為起因於鉭或鉭酸者以在水中不沈澱之狀態進行分散。
本鉭酸分散液之狀態除了如水般之液體狀之外，包含漿狀、懸浮液狀(溶膠)等之狀態。
本鉭酸分散液在水中含有鉭或鉭酸乙事可藉由ICP發光分光分析法(高頻感應結合電漿發光分光分析法)等進行確認。
又，本鉭酸分散液在水中含有胺乙事可藉由GC-MS等進行確認。
又，在本鉭酸分散液中，有關鉭或鉭酸在水中以係何種的狀態存在係在調查中。雖然並非被技術性的證明，但可推定在本鉭酸分散液中鉭或鉭酸係以鉭或鉭酸之水合物或其離子存在。尤其，就後述之XRD圖案的特徵等而言，可推測為鉭或鉭酸係存在於水中作為與胺進行離子鍵結之多酸構造(polyoxometalate)的離子。
本鉭酸分散液較佳係以Ta2O5換算的話含有0.1至40質量%之鉭，其中，以含有0.5質量%以上為更佳，其中又以含有1質量%以上之比例為更佳。另一方面，其中，以含有30質量%以下為更佳，其中又以含有20質量%以下之比例為更佳。
又，在本鉭酸分散液中之鉭或鉭酸係未必以Ta2O5狀態存在者。在本發明中，以Ta2O5換算的話表示本鉭酸分散液中之鉭的含量，係依據表示Ta濃度時之業界的慣例者。
本鉭酸分散液較佳係含有0.01至30質量%之胺。
若胺之量較多，可提高鉭或鉭酸對水之分散性至溶解性。雖然並無技術上可證明之理由，但可推測胺與鉭酸進行離子鍵結，可提高對水之溶解性。從如此之觀點而言，本鉭酸分散液較佳係含有0.01質量%以上之胺，其中，以含有0.1質量%以上為更佳，其中又以含有0.5質量%以上為更佳。
另一方面，若胺之量過多，有可能產生製膜性之阻礙、或阻礙觸媒作用等之不佳情形。因而，本鉭酸分散液較佳係以30質量%以下之比例含有
胺，其中，以含有25質量%以下為更佳，其中又以含有20質量%以下之比例為更佳。
此時，例如，藉由使五氧化鉭濃度9質量%之本鉭酸分散液中的胺之濃度為5質量%以上，鉭或鉭酸會溶解於水中，而可為穿透率極高的分散液，亦即，400nm穿透率40%以上，更佳係50%以上之水溶液。
又，本鉭酸分散液係鉭(以Ta2O5換算的話)每100質量份，以含有55至100質量份之胺為較佳。藉由以如此之比例含有胺，鉭或鉭酸會溶解於水中，而可為穿透率極高的分散液，亦即，400nm穿透率40%以上，更佳係50%以上之水溶液。
在本發明係將400nm穿透率為40%以上之分散液稱為水溶液。
本鉭酸分散液含有之胺較佳係可例示烷基胺等。
上述烷基胺較佳係可使用具有1至3個之烷基者。具有2至3個之烷基時，3個烷基可全部為相同者，又，亦可含有相異者。從溶解性之觀點而言，烷基胺之烷基係以烷基之碳數1至6為較佳，其中，以4以下為更佳，其中又以3以下為更佳，其中又以2以下為再更佳。
上述烷基胺之具體例，可列舉甲基胺、二甲基胺、三甲基胺、乙基胺、甲基乙基胺、二乙基胺、三乙基胺、甲基二乙基胺、二甲基乙基胺、正丙基胺、二正丙基胺、三正丙基胺、異丙基胺、二異丙基胺、三異丙基胺、正丁基胺、二正丁基胺、三正丁基胺、異丁基胺、二異丁基胺、三異丁基胺及第三丁基胺、正戊基胺、正己基胺等。
其中，較佳係甲基胺、二甲基胺、三甲基胺、乙基胺、甲基乙基胺、二乙基胺、三乙基胺、甲基二乙基胺及二甲基乙基胺，其中又以甲基胺、二甲基胺、三甲基胺為更佳。
本鉭酸分散液較佳係在使該鉭酸分散液經乾燥之粉末進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定所得到的X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為1.00以上。
確認到若在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)較大，則本鉭酸分散液之分散性更高，且本鉭酸分散液之穿透率更高。在X線繞射圖案中，確認出比2θ=15°更低角度側所顯現之峰值的強度高為多酸構造的特徵之一。因此，可推測強度比(5.5°/29°)愈高，多酸構造占有的比例愈高，本鉭酸分散液之分散性愈高，穿透率變高。
從如此之觀點，在本鉭酸分散液中之上述強度比(5.5°/29°)以1.00以上為較佳，其中，以1.01以上為更佳，其中又以1.02以上為更佳，其中又以1.03以上為更佳，其中又以1.06以上為更佳，其中又以1.10以上為更佳。又，預測上限值大概約為2.00左右。
又，前述2θ=29°之強度及2θ=5.5°之強度並非該角度附近之峰值位置的強度，且為指定該角度之強度。
所謂上述之多酸構造可推定為以式：[TaxOy]n-‧mH2O(6≦x≦10、19≦y≦28、n=6、m為0至50之整數)所示之構造。具體而言，就多酸構造之離子而言，可列舉具有以[Ta6O19]6-‧mH2O所示之構造的含水化合物等。但，並不限定於該含有化合物。
該推定之根據係除了在X線繞射圖案中之特徵以外，可列舉如下之點：與鹼金屬化合物之反應性高，若與NaOH、LiOH或KOH混合並反應，可獲得具有多酸構造之化合物。
(其他之成分)
本鉭酸分散液係可設為在水中不含有鉭或鉭酸之水合物至其離子、及胺以外之成分的組成。
另一方面，本鉭酸分散液在不阻礙其作用效果之範圍，可含有鉭或鉭酸及胺以外之成分(稱為「其他成分」)。例如，就該其他成分而言，可含有氨、無機分散劑、pH調整劑等之添加劑等。但，不限定於此等。此時，本鉭酸分散液中之該其他成分的含量以未達5質量%為較佳，其中，以未達4質量%為更佳，其中又以未達3質量%為更佳。
又，本鉭酸分散液並非刻意地，且想定包含不可避免的雜質。此時，不可避免的雜質之含量以未達0.01質量%為較佳。
又，本鉭酸分散液的特徵之一係不含有難以揮發之有機物成分。若本鉭酸分散液不含有難以揮發之有機物成分的話，不僅可藉由在比較低之溫度(100℃以下)使其乾燥而製膜，因不含有雜質，故可有效地利用於觸媒原料等各種用途。
又，在本發明中，所謂「難以揮發之有機物成分」意指含氧羧酸、草酸、或EDTA等揮發溫度為110℃以上之有機物。
本鉭酸分散液為「不含有難以揮發之有機物成分」係可從製造方法確認之外，製造方法為不明確之情形係例如，可藉由氣體色層分析、或核磁
共振裝置(NMR)、GC-MS等，分析難以揮發之有機物成分的有無來進行確認。
此時，本鉭酸分散液為「不含有難以揮發之有機物成分」，係指揮發溫度為110℃以上之有機物的含量未達1%之情形。
(穿透率)
本鉭酸分散液係可使400nm之穿透率為40%以上，再為50%以上，再為60%以上，更為70%以上。
本鉭酸分散液係可藉由提高胺之含量，提高400nm之穿透率。
(與鹼金屬化合物之反應性)
本鉭酸分散液係即使不加熱至80℃以上，僅與氫氧化鈉或氫氧化鉀等之鹼金屬化合物混合並攪拌而進行反應，亦可製作鹼金屬之鉭鹽。
例如，在調整至以Ta2O5換算的話含有9質量%之鉭的濃度之本鉭酸分散液(25℃)30g中，一邊攪拌一邊添加2.2質量%濃度之氫氧化鈉水溶液(25℃)30mL之後，添加後攪拌15分鐘而獲得反應液，若使在該反應液中添加乙醇100mL所得到之沈澱物乾燥，則可獲得由Na8Ta6O19‧15H2O所構成的粉體。
由此，本鉭酸分散液可謂與鹼金屬鹽之反應性高，如上述，若與氫氧化鈉水溶液反應，則生成Na8Ta6O19‧15H2O之沈澱。
又，例如，在調整至以Ta2O5換算的話含有9質量%之鉭的濃度之本鉭酸分散液(25℃)30g中，一邊攪拌一邊添加3質量%濃度之氫氧化鉀水溶液(25℃)30mL之後，添加後攪拌15分鐘而獲得反應液，若使在
該反應液中添加乙醇100mL所得到之沈澱物乾燥，則可獲得由K8Ta6O19‧16H2O所構成的粉體。
由此，本鉭酸分散液可謂與鹼金屬鹽之反應性高，如上述，若與氫氧化鉀水溶液反應，則生成K8Ta6O19‧16H2O之沈澱。
通常，例如，為了獲得Na8Ta6O19‧15H2O、K8Ta6O19‧16H2O等之鹼金屬之鉭酸鹽，係混合氫氧化鉭與氫氧化鈉水溶液或氫氧化鉀水溶液，使用高壓釜等而在高溫高壓之條件下反應等，必須至少加熱至80℃以上而反應等，難以簡單地進行製作。然而，本鉭酸分散液因與鹼金屬鹽之反應性高，故僅與氫氧化鈉水溶液或氫氧化鉀水溶液混合並反應而冷卻，可獲得鉭酸水合物(Na8Ta6O19‧15H2O、K8Ta6O19‧16H2O)。
又，所生成之沈澱為Na8Ta6O19‧15H2O或K8Ta6O19‧16H2O之沈澱的確認，例如，可藉由如下列之X線繞射測定(XRD)所進行鑑定來進行。但，不限定於該方法。
亦即，以下述條件藉由X線繞射測定測定所生成之前述沈澱，並與ICDD Card No.00-024-1145之XRD圖案對照，可鑑定是否為Na8Ta6O19‧15H2O。又，與ICDD Card No.01-073-8508之XRD圖案對照，可鑑定是否為K8Ta6O19‧16H2O。
<本分散液製造方法>
其次，說明有關本鉭酸分散液之適合的製造方法(稱為「本分散液製造方法」)。
就本分散液製造方法之一例而言，可列舉鉭酸分散液之製造方法，其特徵係將鉭鹽溶液加入於胺水溶液而獲得一次反應液(將該處理稱
為「一次中和步驟」)，將該一次反應液加入於氨水而獲得二次反應液(將該處理稱為「二次中和步驟」)，以該二次反應液洗淨所產生的含有鉭之沉澱物(將該處理稱為「洗淨步驟」)，混合洗淨後之含鉭沉澱物、胺及水而製作鉭酸分散液(將該處理稱為「分散步驟」)。
又，利用後述之本鉭酸化合物，亦可混合本鉭酸化合物、胺及水而製作本鉭酸分散液。
但，本鉭酸分散液之製造方法並不限定於此等之製造方法。
本分散液製造方法若具備上述步驟，可適宜追加其他之步驟或其他之處理。
又，為了容易說明，在下述，係說明整個步驟，但各步驟亦可為裝置及時間性一連串之處理，又，亦可使裝置及時間設為另外之相異的處理步驟。
(鉭鹽溶液)
屬於起始物質之鉭鹽溶液只要為鉭進行溶解之溶液即可。例如，可列舉氯化鉭水溶液、氟化鉭水溶液等。
氯化鉭水溶液係使氯化鉭(TaCl5)溶解於少量之甲醇中，進一步加入水而製作。
另一方面，氟化鉭水溶液係可使鉭、鉭氧化物或氫氧化鉭與氫氟酸水溶液等之氟酸(HF)反應而為氟化鉭(H2TaF7)，將此溶解於水而製作。
該氟化鉭水溶液較佳係加入水(例如純水)，而調製成以Ta2O5換算的話含有1至100g/L之鉭。此時，若鉭濃度為1g/L以上，成為容易溶解
於水之鉭酸化合物水合物，故氟化鉭水溶液之鉭濃度更佳係以Ta2O5換算的話為1g/L以上，考量生產性時，其中，以10g/L以上為更佳，其中又以20g/L以上為更佳。另一方面，若鉭濃度為100g/L以下，因成為容易溶解於水之鉭酸化合物水合物，故合成更確實地容易溶解於水中之鉭酸化合物水合物，以90g/L以下為更佳，其中，以80g/L以下為更佳，其中又以70g/L以下為更佳。
從使鉭或鉭氧化物完全溶解之觀點而言，氟化鉭水溶液之pH係以2以下為較佳，其中，以1以下為更佳。
(一次中和步驟)
在本分散液製造方法，重要的係使鉭鹽溶液與胺水溶液反應之後(一次中和)，進行與氨水反應之處理(二次中和)。
僅以鉭鹽溶液與胺水溶液所進行的一次中和，若不實施以氨水所進行的二次中和，則不生成沈澱物，或者，沈澱生成量變少，本鉭酸分散液之收率容易變低。再者，即使生成沈澱物，亦直接進行洗淨步驟時，成為一部分不溶解之鉭酸化合物水合物，且無法獲得分散性高的鉭酸分散液。
又，使一次中和與二次中和之順序為相反，而使鉭鹽溶液與氨水反應之後，與胺水溶液反應時，在後面之分散步驟中，無法使鉭或鉭酸適合地分散於水中，甚至無法成為水溶液。
在一次中和步驟中較佳係實施將氟化鉭水溶液等之鉭鹽溶液加入於胺水溶液並反應之逆中和。
在氟化鉭水溶液等之鉭鹽溶液中添加胺水溶液之正中和係在後面之分散步驟中，無法使鉭或鉭酸適合地分散於水中，甚至無法成為水溶液。
推論藉由進行逆中和，而成為鉭或鉭酸之構造容易溶解於水中之構造。
在一次中和步驟使用之胺水溶液之胺較佳係可例示烷基胺等。
上述烷基胺較佳係可使用具有1至3個之烷基者。具有烷基2至3個時，3個烷基可全部為相同者，又，亦可包含相異者。從溶解性之觀點而言，烷基胺之烷基係以烷基之碳數1至6為較佳，其中，以4以下為更佳，其中又以3以下為更佳，再者，其中又以2以下為較佳。
上述烷基胺之具體例，可列舉甲基胺、二甲基胺、三甲基胺、乙基胺、甲基乙基胺、二乙基胺、三乙基胺、甲基二乙基胺、二甲基乙基胺、正丙基胺、二正丙基胺、三正丙基胺、異丙基胺、二異丙基胺、三異丙基胺、正丁基胺、二正丁基胺、三正丁基胺、異丁基胺、二異丁基胺、三異丁基胺及第三丁基胺、正戊基胺、正己基胺等。
其中，從溶解性之點而言，以甲基胺、二甲基胺、三甲基胺、乙基胺、甲基乙基胺、二乙基胺、三乙基胺、甲基二乙基胺及二甲基乙基胺為較佳，其中，以甲基胺、二甲基胺、三甲基胺為更佳。
在前述一次中和中，從提高分散性之觀點而言，較佳係將前述鉭鹽溶液加入於以莫耳比計含有與在鉭鹽溶液所含有的氟為等量以上，亦即1以上之胺的胺水溶液中，其中，以含有1.2以上為更佳，其中，更佳係含有1.4以上之胺的胺水溶液中。
另一方面，從廢液量變多之觀點而言，較佳係將前述鉭鹽溶液加入於以莫耳比計含有與在鉭鹽溶液所含有的氟為2以下之胺的胺水溶液中，其
中，以含有1.8以上為更佳，其中，更佳係含有1.6以上之胺的胺水溶液中。
在一次中和步驟中，較佳係將氟化鉭水溶液等之鉭鹽溶液加入於胺水溶液時，在1分鐘以內使其中和反應。亦即，較佳係並非耗費時間而徐緩地加入前述鉭鹽溶液，例如，進行一次投入等在1分鐘以內之時間投入而使其中和反應。
此時，前述鉭鹽溶液之添加時間以1分鐘以內為較佳，其中，以30秒以內為更佳，其中又以10秒以內為更佳。
(二次中和步驟)
在二次中和較佳係將在一次中和步驟獲得之一次反應液加入於氨水中以獲得二次反應液。若將一次反應液加入於氨水中，則會在水中產生沈澱物(稱為「含鉭沉澱物」)。
從更提高本鉭酸分散液之分散性的觀點而言，較佳係即使在二次中和中，亦實施將一次中和步驟得到之一次反應液加入於氨水中而使其反應之逆中和。
此時，從提高本鉭酸分散液之分散性的觀點而言，上述氨水溶液較佳係氨濃度為10至30質量%。其中，以15質量%以上為更佳，其中又以20質量%以上為更佳，其中又以25質量%以上為更佳。另一方面，其中，以29質量%以下，其中又以28質量%以下為更佳。
從提高後面之分散步驟中的分散性之觀點而言，在二次中和步驟中，更佳係將前述一次反應液加入於以莫耳比計含有相對於在該一次反應液所含有的氟為7.5以上之氨的氨水溶液中，其中，以含有相對於在
該一次反應液所含有的氟為8.0以上之氨的氨水溶液為更佳，其中又以含有相對於在該一次反應液所含有的氟為8.5以上之氨的氨水溶液為更佳。
另一方面，從廢液量變多之觀點而言，較佳係將前述一次反應液加入於以莫耳比計含有相對於在該一次反應液所含有的氟為10.0以下之氨的氨水中，其中，以含有相對於在該一次反應液所含有的氟為9.5以下之氨的氨水為更佳，其中又以相對於在該一次反應液所含有的氟以9.0以下之比例含有氨的氨水中為更佳。
在二次中和步驟中，將一次反應液加入於氨水時，以在1分鐘以內使其中和反應為較佳。亦即，較佳係並非耗費時間而徐緩地加入一次反應液，例如，進行一次投入等在1分鐘以內之時間投入而使其中和反應。
此時，一次反應液之添加時間係以1分鐘以內為較佳，其中，以30秒以內為更佳，其中又以10秒以內為更佳。
(洗淨步驟)
在前述二次中和所得到之二次反應液，其中，其含鉭沉澱物係就雜質而言，因氟化銨等之氟化合物等鉭或鉭酸之水合物至離子及胺以外之不需要成分存在於水中，故以去除該不需要成分為較佳。
洗淨方法例如氟化合物之去除方法為任意。例如，使用氨水或純水之逆滲透過濾、極限過濾、精密過濾等之使用膜的過濾所進行的方法之外，尚可採用離心分離、其他公知的方法。
洗淨步驟只要在常溫下進行即可，不需要特別調整各別之溫度。
(分散步驟)
其次，在洗淨步驟被洗淨而獲得的含鉭沉澱物，例如，去除氟所得到之含鉭沉澱物，係可加入水等之分散劑，以及加入胺，依需要而進行攪拌並促進反應，以製作本鉭酸分散液。
添加之胺的種類係與可在一次中和使用之胺為相同。
胺之添加量如上述，若胺之量較多，可提高鉭或鉭酸對水之分散性至溶解性，另一方面，若胺之量過多，從有可能產生製膜性之阻礙，或阻礙觸媒作用等之不佳情形的觀點而言，較佳係調整成如上述。
本分散液製造方法中之各步驟係只要在常溫下進行即可，在各步驟中，不需要特別強制性調整溫度。
<本鉭酸分散液之用途>
本鉭酸分散液因不含有難以揮發之有機物成分，故可在比較低之溫度(100℃以下)使其乾燥而進行製膜。因而，例如，可有效利用來作為各種塗覆液。又，可利用於觸媒原料等各種用途。
又，亦可在本鉭酸分散液中加入各種添加劑，而利用於各種用途。
<本鉭酸化合物>
然後，說明有關本發明之實施型態之一例的鉭酸化合物(「本鉭酸化合物」)。
本鉭酸化合物較佳係一部分或全部為銨鹽。再者，可含有胺。
本鉭酸化合物較佳係以Ta2O5換算的話含有70至95質量%之鉭，其中，以含有75質量%以上為更佳，其中又以含有78質量%以上之比例為更佳。另一方面，其中，以含有93質量%以下為更佳，其中又以含有90質量%以下之比例為更佳。
又，本鉭酸化合物未必以Ta2O5狀態存在者。在本發明中，以Ta2O5換算的話表示本鉭酸化合物中之鉭的含量係依據表示Ta濃度時之業界的慣例。
本鉭酸化合物在進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定所得到的X線繞射圖案中，較佳係在2θ=5.5°中之強度相對於在2θ=29°中之強度的強度比(5.5°/29°)為0.90以上。
若在2θ=5.5°中之強度相對於在2θ=29°中之強度的強度比(5.5°/29°)大的話，會確認到本鉭酸化合物之反應性變得更高。在X線繞射圖案中，確認出比2θ=15°更低角度側所顯現之峰值的強度高係多酸構造的特徵之一。因此，可推測強度比(5.5°/29°)愈高，多酸構造占有的比例愈高，本鉭酸化合物之反應性愈高。
從如此之觀點，較佳係在本鉭酸化合物中之上述強度比(5.5°/29°)為0.90以上，其中，以0.92以上為更佳，其中又以0.94以上為更佳。又，預測上限值大概約為2.00。
又，前述2θ=29°之強度及2θ=5.5°之強度並非該角度附近之峰值位置的強度，而是指定該角度之強度。
可推定本鉭酸化合物為具有多酸構造之化合物。其中，可推定為具有以式：[TaxOy]n-‧mH2O(6≦x≦10、19≦y≦28、n=6、m為0至50之整數)所示之構造的含水化合物。具體而言，可列舉具有以[TaxOy]n-‧mH2O所示之構造的含水化合物等。但，並不限定於該含有化合物。
該推定之根據除了X線繞射圖案中之特徵以外，可列舉如下之點：如下列說明，與鹼金屬之反應性高，在使之與NaOH、LiOH或KOH混合並反應時，可獲得具有多酸構造之化合物。
(與鹼金屬化合物之反應性)
本鉭酸化合物係即使不加熱至80℃以上，僅與氫氧化鈉或氫氧化鉀等之鹼金屬鹽混合並攪拌而進行反應，亦可製作鹼金屬之鉭鹽。
例如，在以純水30mL將本鉭酸化合物3g漿液化而成者之中，一邊攪拌一邊添加2.2質量%濃度之氫氧化鈉水溶液(25℃)30mL之後，在添加後攪拌15分鐘而獲得反應液，將在該反應液中添加乙醇100mL所得到之沈澱物乾燥時，可獲得由Na8Ta6O19‧15H2O所構成的粉體。
由此，本鉭酸化合物係可謂與鹼金屬鹽之反應性高，如上述，若與氫氧化鈉水溶液反應，則生成Na8Ta6O19‧15H2O之沈澱。
又，例如，在以純水30mL將本鉭酸化合物3g漿液化而成者之中，一邊攪拌一邊添加3質量%濃度之氫氧化鉀水溶液(25℃)30mL之後，在添加後攪拌15分鐘而獲得反應液，將在該反應液中添加乙醇100mL所得到之沈澱物乾燥時，可獲得由K8Ta6O19‧16H2O所構成的粉體。
由此，本鉭酸化合物係可謂與鹼金屬鹽之反應性高，如上述，若與氫氧化鉀水溶液反應，生成K8Ta6O19‧16H2O之沈澱。
<本化合物製造方法>
其次，說明有關本鉭酸化合物之適合的製造方法(稱為「本化合物製造方法」)。
就本化合物製造方法之一例而言，可列舉鉭酸化合物之製造方法，其特徵係將鉭鹽溶液加入於胺水溶液中而獲得一次反應液(將該處理稱為「一次中和步驟」)，將該一次反應液加入於氨水中而獲得二次反應液(將該處理稱為「二次中和步驟」)，以該二次反應液洗淨所產生的含有鉭之沉澱物(將該處理稱為「洗淨步驟」)，依需要使洗淨後之含鉭沉澱物乾燥。換言之，進行至前述之本分散液製造方法中的洗淨步驟為止，可獲得所得到之含鉭沉澱物或其乾燥物作為本鉭酸化合物。亦即，本鉭酸化合物係可獲得作為製造本鉭酸分散液時之中間物質。
但，本化合物製造方法並不限定於如此之製造方法。
本化合物製造方法若具備上述步驟，可適宜追加其他之步驟或其他之處理。
又，為了容易說明，在下述，係說明整個步驟，但各步驟亦可為裝置及時間性一連串之處理，又，亦可使裝置及時間設為另外之相異的處理步驟。
(鉭鹽溶液)
就本化合物製造方法中之屬於起始物質的前述鉭鹽溶液之說明而言，援用前述之本分散液製造方法中的前述鉭鹽溶液之說明。
(一次中和步驟)
就本化合物製造方法中之一次中和步驟之說明而言，援用前述之本分散液製造方法中之前述一次中和步驟的說明。
(二次中和步驟)
就本化合物製造方法中之二次中和步驟之說明而言，援用前述之本分散液製造方法中之前述二次中和步驟的說明。
(洗淨步驟)
就本化合物製造方法中之洗淨步驟之說明而言，援用前述之本分散液製造方法中之前述洗淨步驟的說明。
(乾燥步驟)
可獲得在前述洗淨步驟所得到之洗淨後的含鉭沉澱物直接作為本鉭酸化合物，又，亦可乾燥前述含鉭沉澱物而獲得作為本鉭酸化合物。
此時之乾燥方法係可適宜採用公知之乾燥方法。其中，以真空乾燥為較佳。若為真空乾燥的話，由於不在高溫下進行，具體而言，可在100℃以下之溫度容易地乾燥，故為較佳。
關於乾燥溫度，若乾燥溫度太高，因有時所得到之本鉭酸化合物的反應性降低，故乾燥溫度為100℃以下，其中，以90℃以下為更佳，其中又以80℃以下為更佳，其中又以70℃以下為更佳，尤其以60℃以下為較佳。
又，本化合物製造方法中之各步驟係除了最後之乾燥步驟，以在常溫下進行為較佳。此時，在各步驟中，不需要特別強制性調整溫度。
<本鉭酸化合物之用途>
可使用本鉭酸化合物製造本鉭酸分散液。亦即，可混合本鉭酸化合物、胺及水而製作本鉭酸分散液。
又，本鉭酸化合物雖然在本鉭酸分散液之反應性有些許變差，但與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀之反應性高，即使不使用高壓釜等在高溫
高壓之條件下使之反應，僅與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀混合並反應，亦可容易獲得鹼金屬之鉭酸鹽。
再者，本鉭酸化合物可利用於觸媒之添加劑等各種用途。
<語句之說明>
在本說明書中，表現為「X至Y」(X、Y為任意之數字)時，只要無特別說明，包含「X以上Y以下」之意義，以及「較佳係大於X」或者「較佳係小於Y」之意義。
又，表現為「X以上」(X為任意之數字)或者「Y以下」(Y為任意之數字)時，係意圖包含「以大於X為較佳」或者「以未達Y為較佳」之要旨。
[實施例]
在本發明中，藉由以下之實施例更進一步說明。但，以下之實施例並非限定本發明者。
(實施例1)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量(free fluorine)成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物11.8g中添加純水29.2mL與50質量%二甲基胺9g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺9質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(實施例2)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物11.8g中添加純水30.2mL與50質量%二甲基胺8g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺8質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(實施例3)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物11.8g中添加純水31.2mL與50質量%二甲基胺7g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺7質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(實施例4)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物11.8g中添加純水30.2mL與50質量%二甲基胺6g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺6質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(實施例5)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物11.8g中添加純水30.2mL與50質量%二甲基胺5g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺5質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(實施例6)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物11.8g中添加純水27.0mL與40質量%甲基胺11.2g，製作Ta2O5濃度9質量%、甲基胺9質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(比較例1)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
於該氟化鉭水溶液100g中以未達1分鐘之時間添加氨水(NH3濃度25質量%)400mL而獲得反應液(pH12)(正中和)。該反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述反應液使用5C濾紙並藉由吸濾器(Nutsche)過濾，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為59質量%。
在前述含鉭沉澱物7.6g中添加純水33.4mL與50質量%二甲基胺9g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺9質量%之含有鉭酸的液體(試樣)50g。
(比較例2)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)400mL中，獲得反應液(pH12)(逆中和)。該反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述反應液使用5C濾紙並藉由吸濾器過濾，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為55質量%。
在前述含鉭沉澱物8.2g中添加純水32.8mL與50質量%二甲基胺9g，製作Ta2O5濃度9質量%、二甲基胺9質量%之含有鉭酸的液體(試樣)50g。
(實施例7)
藉由使三井金屬礦業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將前述含鉭沉澱物之一部分在1000℃下燒製4小時，生成Ta2O5，從其質量算出在含鉭沉澱物所含有的Ta2O5濃度。Ta2O5濃度為38質量%。
在前述含鉭沉澱物19.7g中添加純水15.3mL與50質量%二甲基胺15g，製作Ta2O5濃度15質量%、二甲基胺15質量%之鉭酸分散液(試樣)50g。
(實施例8)
除了將使用於製作鉭酸分散液者之含鉭沉澱物(Ta2O5濃度38質量%)之量變更成2.6g，純水之量變更成9995.4mL，50質量%二甲基胺之量變更成2g以外，其餘係與實施例7相同地實施，而製作Ta2O5濃度0.01質量%、二甲基胺0.01質量%之鉭酸分散液(試樣)10kg。
(實施例9)
藉由使三井金屬鉱業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於50質量%二甲基胺100mL中。其後，攪拌15分鐘，獲得一次反應液(pH11)。將該一次反應液以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)460mL中，獲得二次反應液(pH12)。該二次反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述二次反應液使用離心分離機並進行傾析，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將已去除氟之含鉭沈澱物在60℃下真空乾燥15小時，獲得鉭酸化合物(試樣)。
(實施例10)
使用40質量%二甲基胺125mL取代在實施例9使用之50質量%二甲基胺100mL以外，其餘係與實施例9相同方式獲得鉭酸化合物(試樣)。
(比較例3)
藉由使三井金屬鉱業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)400mL中，獲得反應液(pH12)(正中和)。該反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述反應液使用5C濾紙並藉由吸濾器過濾，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將已去除氟之含鉭沈澱物在60℃下真空乾燥15小時，獲得鉭酸化合物(試樣)。
(比較例4)
藉由使三井金屬鉱業公司製氫氧化鉭137.9g(Ta2O5濃度66質量%)溶解於55質量%氫氟酸水溶液120g中，並添加離子交換水849mL，而獲得氟化鉭水溶液(Ta2O5濃度9.1質量%)。
將該氟化鉭水溶液100g以未達1分鐘之時間添加於氨水(NH3濃度25質量%)400mL中，獲得反應液(pH12)(逆中和)。該反應液係鉭酸化合物水合物之漿液，換言之，為含鉭沉澱物之漿液。
然後，將前述反應液使用5C濾紙並藉由吸濾器過濾，洗淨至上清液之遊離氟量成為100mg/L以下為止，獲得已去除氟之含鉭沉澱物。此時，在洗淨液中係使用氨水。
將已去除氟之含鉭沈澱物在60℃下真空乾燥15小時，獲得鉭酸化合物(試樣)。
<與NaOH之反應性試驗>
將在實施例1獲得之鉭酸分散液(試樣)或在比較例2獲得之含有鉭的液體(試樣)(25℃)量取30g，再於對之一邊以磁性攪拌子(攪拌速度：150rpm)攪拌一邊以1分鐘添加2.2質量%氫氧化鈉水溶液(25℃)30mL。添加後，攪拌15分鐘而獲得反應液。在該反應液中添加乙醇100mL，獲得沈澱。將該沈澱物使用5C濾紙進行吸濾器過濾，以純水洗淨之後，使用減壓乾燥爐，在60℃、真空(0.08MPa以下)之環境靜置乾燥15小時。以瑪瑙乳鉢粉碎將所得到之乾燥物，對於所得到之粉體實施X線繞射測定。
又，將在實施例9獲得之鉭酸化合物(試樣)或在比較例3獲得之鉭酸化合物量取3g，以純水30mL進行漿液化，在該漿液中一邊以磁性攪拌子(攪拌速度：150rpm)攪拌一邊以1分鐘添加2.2質量%氫氧化鈉水溶液(25℃)30mL。添加後，攪拌15分鐘而獲得反應液。在該反應液中添加乙醇100mL，獲得沈澱。將該沈澱物使用5C濾紙進行吸濾器過濾，以純水洗淨之後，使用減壓乾燥爐，在60℃、真空(0.08Mpa以下)之環境
靜置乾燥15小時。以瑪瑙乳鉢粉碎所得到之乾燥物，對於所得到之粉體實施X線繞射測定。
上述之X線繞射測定條件及X線繞射條件係與下述<XRD測定>之條件為相同。
在圖1、圖2係表示使用在實施例1獲得之鉭酸分散液(試樣)、在比較例2獲得之含有鉭的液體(試樣)，而與氫氧化鈉水溶液反應所得到之粉體的X線繞射圖案。
使用在實施例1獲得之鉭酸分散液(試樣)，並使用與氫氧化鈉水溶液反應所得到之粉體及在實施例9獲得之鉭酸化合物(試樣)，與氫氧化鈉水溶液反應所得到之粉體，從X線繞射測定結果，鑑定為ICDD Card No.00-024-1145之由Na8Ta6O19‧15H2O所構成者。
另一方面，使用在比較例2獲得之含有鉭的液體(試樣)，並使用與氫氧化鈉水溶液反應所得到之粉體及在比較例3獲得之鉭酸化合物(試樣)，而與氫氧化鈉水溶液反應所得到之粉體係從X線繞射測定結果，為非晶形，無法獲得鉭酸化合物。
<與KOH之反應性試驗>
將在實施例1獲得之鉭酸分散液(試樣)量取30g，再對之一邊以磁性攪拌子(攪拌速度：150rpm)攪拌一邊以1分鐘添加3質量%氫氧化鉀水溶液30mL。添加後，攪拌15分鐘而獲得反應液。在該反應液中添加乙醇100mL，獲得沈澱。將該沈澱物使用5C濾紙而進行吸濾器過濾，以純水洗淨之後，使用減壓乾燥爐，在60℃、真空(0.08MPa以下)之環境靜置乾燥
15小時。以瑪瑙乳鉢粉碎所得到之乾燥物，對於所得到之粉體實施X線繞射測定。
又，將在實施例9獲得之鉭酸化合物(試樣)量取3g，在於其中一邊以磁性攪拌子(攪拌速度：150rpm)攪拌一邊以1分鐘添加3質量%氫氧化鉀水溶液30mL。添加後，攪拌15分鐘而獲得反應液。在該反應液中添加乙醇100mL，獲得沈澱。將該沈澱物使用5C濾紙而進行吸濾器過濾，以純水洗淨之後，使用減壓乾燥爐，在60℃、真空(0.08MPa以下)之環境靜置乾燥15小時。以瑪瑙乳鉢粉碎所得到之乾燥物，對於所得到之粉體實施X線繞射測定。
此時，X線繞射測定條件及X線繞射條件係與下述<XRD測定>之條件為相同。
在圖3中，表示使用在實施例1獲得之鉭酸分散液(試樣)，而與氫氧化鉀水溶液反應所得到之粉體的X線繞射圖案。
使用在實施例1獲得之鉭酸分散液(試樣)，並與氫氧化鉀水溶液反應所得到之粉體，從X線繞射測定結果，鑑定為由ICDD Card No.01-073-8508之K8Ta6O19‧16H2O所構成者。
又，使用在實施例9獲得之鉭酸化合物(試樣)，對於與氫氧化鉀水溶液反應所得到之粉體，從X線繞射測定結果，鑑定為由ICDD Card No.01-073-8508之K8Ta6O19‧16H2O所構成者。
<XRD測定>
將在實施例1-8獲得之鉭酸分散液(試樣)或在比較例1-2獲得之含有鉭酸的液體(試樣)10g使用減壓乾燥爐，在60℃、真空(0.08MPa以下)之環境中靜置15小時並乾燥，獲得鉭酸化合物之粉體(試樣)。
對於此等鉭酸化物之粉體(試樣)以及實施例9、10及比較例3、4獲得之鉭酸化合物，進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定，獲得X線繞射圖案。
在圖4至11中，係表示從在實施例1-6獲得之鉭酸分散液(試樣)或在比較例1-2獲得之含有鉭酸的液體(試樣)分別獲得的鉭酸化物之粉體(試樣)的X線繞射圖案。
=X線繞射測定條件=
‧裝置：MiniFlexII(RIGAKU股份有限公司製)
‧測定範圍(2θ)：5至90°
‧取樣寬度：0.02°
‧掃描速度：2.0°/min
‧X線：CuKα線
‧電壓：30kV
‧電流：15mA
‧發散狹縫：1.25°
‧散射狹縫：1.25°
‧受光狹縫：0.3mm
=X線繞射分析條件=
‧使用RIGAKU公司製數據分析軟體PDXL2。
‧為使峰頂明確化，以b-spling使峰值平滑化。
從測定所得到之X線繞射圖案，求出在2θ=5.5°及2θ=29°之強度，並算出在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的比率(5.5°/29°強度比)，有關實施例1至8及比較例2之鉭酸分散液(試樣)之乾燥物係表示於表3中，有關實施例9、10及比較例3、4之鉭酸化合物(試樣)係表示於表4中。
<穿透率測定>
以分光光度計測定在實施例1-8獲得之鉭酸分散液(試樣)或在比較例1-2獲得之含有鉭酸的液體(試樣)之穿透率。
=穿透率測定條件=
‧裝置：UH4150形分光光度計
‧測定模式：波長掃描
‧數據模式：%T(穿透)
‧測定波長範圍：200至2600nm
‧掃描速度：600nm/min
‧取樣間隔：2nm
從測定所得到之穿透率，算出波長400nm之穿透率而表示於表5中。
[表1]
[表2]
[表3]
[表4]
[表5]
(考察)
將在實施例1至6所得到之鉭酸分散液(試樣)在室溫下靜置48小時，其後經觀察，確認出對於任一者的試樣均看不到沈澱，而為分散液之狀態。
相對於此，將在比較例1、2所得到之含有鉭酸的液體(試樣)在室溫下靜置48小時，其後經觀察，對於任一者的試樣均觀察到沈澱。
就製造方法而言，明顯地在實施例1至6所得到之鉭酸分散液(試樣)係在水中除了鉭或鉭酸之水合物或其離子及胺以外，僅含有不可避免的雜質。不可避免的雜質想定為氟化合物、氨等。因而，明顯地在實施例1至6所得到之鉭酸分散液(試樣)係至少不含有有機物成分，尤其不含有難以揮發之有機物成分。
從上述實施例及至今本發明人進行之試驗結果，確認出本鉭酸分散液係即使不含有含氧羧酸、草酸、EDTA等之難以揮發的有機成分，對水之分散性亦高。而該本鉭酸分散液係在水中含有鉭或鉭酸及胺，且該鉭酸分散液係在使經乾燥該鉭酸分散液之粉末進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定所得到的X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為1.00以上。又，亦可知可藉由提高胺之含量，更提高對水之分散性，並可提高穿透率。
又，亦可知上述本鉭酸分散液係與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀之反應性高，即使不使用高壓釜等在高溫高壓之條件下使之反應，僅與鹼
金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀混合並反應，亦可容易獲得鹼金屬之鉭酸鹽。
從在X線繞射圖案中比在2θ=15°更低角度側顯現之峰值的強度高，係多酸構造之特徵之一；以及，與鹼金屬之反應性高，若與NaOH、LiOH或KOH混合並反應，可獲得具有多酸構造之化合物等，可推測在本鉭酸分散液中，鉭或鉭酸係作為與胺離子進行鍵結而成之多酸構造的離子而存在於水中。
另一方面，從上述實施例及至今本發明人進行之試驗結果，可知在X線繞射圖案中在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為0.90以上之本鉭酸化合物，係與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀之反應性高，且即使不使用高壓釜等在高溫高壓之條件下使之反應，僅與鹼金屬鹽例如氫氧化鈉或氫氧化鉀混合並反應，亦可容易獲得鹼金屬之鉭酸鹽。
再者，如此之本鉭酸化合物係除了在X線繞射圖案中之特徵以外，由於若與鹼金屬鹽反應時，會獲得具有多酸構造之鹼金屬的鉭酸鹽，故可推定為是具有多酸構造之化合物。
Claims (13)
- 一種鉭酸分散液，係在水中含有鉭酸及胺，其中，對使該鉭酸分散液經乾燥而得之粉末進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定時，在X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為1.00以上；在該鉭酸分散液中，揮發溫度為110℃以上之有機物的含量未達1質量%。
- 一種鉭酸分散液，係在水中含有鉭酸及胺，其中，對使該鉭酸分散液經乾燥而得之粉末進行使用CuKα線之粉末X線繞射測定時，在X線繞射圖案中，在2θ=5.5°之強度相對於在2θ=29°之強度的強度比(5.5°/29°)為1.00以上；該鉭酸分散液且不含揮發溫度為110℃以上之有機物。
- 如請求項1或2所述之鉭酸分散液，其中，前述揮發溫度為110℃以上之有機物為含氧羧酸、草酸及EDTA。
- 如請求項1或2所述之鉭酸分散液，其含有0.01至30質量%之胺。
- 如請求項1或2所述之鉭酸分散液，其以Ta2O5換算的話，含有0.01至40質量%之鉭。
- 如請求項1或2所述之鉭酸分散液，其400nm之穿透率為40%以上。
- 如請求項1或2所述之鉭酸分散液，其中，在調整至以Ta2O5換算的話含有9質量%之鉭的濃度之鉭酸分散液(25℃)30g中，一邊攪拌一邊添加濃度2.2質量%之氫氧化鈉水溶液(25℃)30mL，添加後攪拌15分鐘 而生成反應液，對該反應液添加乙醇100mL時，會生成Na8Ta6O19‧15H2O之沈澱。
- 如請求項1或2所述之鉭酸分散液，其中，在調整至以Ta2O5換算的話含有9質量%之鉭的濃度之鉭酸分散液(25℃)30g中，一邊攪拌一邊添加濃度3質量%之氫氧化鉀水溶液(25℃)30mL，添加後攪拌15分鐘而生成反應液，對該反應液添加乙醇100mL時，會生成K8Ta6O19‧16H2O之沈澱。
- 一種鉭酸分散液之製造方法，係在胺水溶液加入鉭鹽溶液而獲得一次反應液，即稱為一次中和，然後在氨水中加入該一次反應液而獲得二次反應液，即稱為二次中和，將該二次反應液所產生的含有鉭之沈澱物洗淨，並將洗淨後之含有鉭之沈澱物、胺及水混合而製作揮發溫度為110℃以上之有機物的含量未達1質量%的鉭酸分散液。
- 一種鉭酸分散液之製造方法，係在胺水溶液加入鉭鹽溶液而獲得一次反應液，即稱為一次中和，然後在氨水中加入該一次反應液而獲得二次反應液，即稱為二次中和，將該二次反應液所產生的含有鉭之沈澱物洗淨，並將洗淨後之含有鉭之沈澱物、胺及水混合而製作不含揮發溫度為110℃以上之有機物的鉭酸分散液。
- 如請求項9或10所述之鉭酸分散液之製造方法，其中，前述揮發溫度為110℃以上之有機物為含氧羧酸、草酸及EDTA。
- 如請求項9或10所述之鉭酸分散液之製造方法，其中，在前述一次中和中，係將前述鉭鹽溶液加入於以莫耳比計含有與在該鉭鹽溶液所含有的氟為等量以上之胺的胺水溶液中。
- 如請求項9或10所述之鉭酸分散液之製造方法，其中，在前述二次中和中，係將前述一次反應液加入於以莫耳比計含有相對於前述一次反應液所含有的氟為7.5倍以上之氨的氨水溶液中。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020125669 | 2020-07-22 | ||
| JP2020-125669 | 2020-07-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW202214525A TW202214525A (zh) | 2022-04-16 |
| TWI827940B true TWI827940B (zh) | 2024-01-01 |
Family
ID=79728657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW110121487A TWI827940B (zh) | 2020-07-22 | 2021-06-11 | 鉭酸分散液、其製造方法及鉭酸化合物 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20230295003A1 (zh) |
| EP (1) | EP4186866A4 (zh) |
| JP (2) | JP7166492B2 (zh) |
| KR (1) | KR20230042305A (zh) |
| CN (1) | CN116133992A (zh) |
| TW (1) | TWI827940B (zh) |
| WO (1) | WO2022018980A1 (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2023171020A1 (zh) * | 2022-03-11 | 2023-09-14 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5635146A (en) * | 1995-11-30 | 1997-06-03 | Osram Sylvania Inc. | Method for the dissolution and purification of tantalum pentoxide |
| CN1442370A (zh) * | 1995-10-12 | 2003-09-17 | 卡伯特公司 | 一种制备电子管金属氧化物前体的方法 |
| TW200533602A (en) * | 2004-03-11 | 2005-10-16 | Stella Chemifa Corp | Method for producing tantalum oxide and/or niobium oxide in form of hollow particle |
| CN101319393A (zh) * | 2008-06-18 | 2008-12-10 | 哈尔滨工业大学 | 一种钽酸锶铋纳米线的制备方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2875486B2 (ja) | 1994-11-18 | 1999-03-31 | 多木化学株式会社 | 酸化タンタルゾル及びその製造方法 |
| US6552209B1 (en) * | 2002-06-24 | 2003-04-22 | Air Products And Chemicals, Inc. | Preparation of metal imino/amino complexes for metal oxide and metal nitride thin films |
| US7909929B2 (en) | 2002-11-13 | 2011-03-22 | Nippon Soda Co., Ltd. | Dispersoid having metal-oxygen bonds, metal oxide film, and monomolecular film |
| JP4646055B2 (ja) | 2004-10-20 | 2011-03-09 | 多木化学株式会社 | 酸化タンタルゾル及びその製造方法 |
| JP2006182714A (ja) | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Tohoku Univ | 有機タンタル水溶液および乳酸タンタルペルオキシ化合物結晶の製造方法 |
| JP5008839B2 (ja) | 2005-06-24 | 2012-08-22 | 花王株式会社 | 強誘電体及びその製造方法、並びに、それを用いた強誘電体デバイス |
| CN100387528C (zh) * | 2005-11-03 | 2008-05-14 | 上海师范大学 | 一种钽酸锶铋插层化合物及其制备方法 |
| JP5343604B2 (ja) | 2009-02-16 | 2013-11-13 | 信越化学工業株式会社 | 酸化チタン系光触媒薄膜の製造方法 |
| US7947125B1 (en) * | 2009-10-30 | 2011-05-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Fine particle dispersion liquid containing tantalum oxide fine particles, tantalum oxide fine particle-resin composite, and method of producing fine particle dispersion liquid |
-
2021
- 2021-06-03 KR KR1020237005358A patent/KR20230042305A/ko unknown
- 2021-06-03 JP JP2022532564A patent/JP7166492B2/ja active Active
- 2021-06-03 CN CN202180059846.0A patent/CN116133992A/zh active Pending
- 2021-06-03 US US18/014,617 patent/US20230295003A1/en active Pending
- 2021-06-03 EP EP21847043.3A patent/EP4186866A4/en active Pending
- 2021-06-03 WO PCT/JP2021/021134 patent/WO2022018980A1/ja unknown
- 2021-06-11 TW TW110121487A patent/TWI827940B/zh active
-
2022
- 2022-10-24 JP JP2022169710A patent/JP7342227B2/ja active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1442370A (zh) * | 1995-10-12 | 2003-09-17 | 卡伯特公司 | 一种制备电子管金属氧化物前体的方法 |
| US5635146A (en) * | 1995-11-30 | 1997-06-03 | Osram Sylvania Inc. | Method for the dissolution and purification of tantalum pentoxide |
| TW200533602A (en) * | 2004-03-11 | 2005-10-16 | Stella Chemifa Corp | Method for producing tantalum oxide and/or niobium oxide in form of hollow particle |
| CN101319393A (zh) * | 2008-06-18 | 2008-12-10 | 哈尔滨工业大学 | 一种钽酸锶铋纳米线的制备方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP7166492B2 (ja) | 2022-11-07 |
| EP4186866A4 (en) | 2024-03-13 |
| US20230295003A1 (en) | 2023-09-21 |
| TW202214525A (zh) | 2022-04-16 |
| WO2022018980A1 (ja) | 2022-01-27 |
| CN116133992A (zh) | 2023-05-16 |
| JP7342227B2 (ja) | 2023-09-11 |
| JPWO2022018980A1 (zh) | 2022-01-27 |
| JP2023011705A (ja) | 2023-01-24 |
| KR20230042305A (ko) | 2023-03-28 |
| EP4186866A1 (en) | 2023-05-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI827940B (zh) | 鉭酸分散液、其製造方法及鉭酸化合物 | |
| JP4657621B2 (ja) | ペロブスカイト型チタン含有複合酸化物粒子、その製造方法及び用途 | |
| JP3357420B2 (ja) | 酸化ニオブゾル及びその製造方法 | |
| JP7208416B2 (ja) | ニオブ酸化合物及びニオブ含有スラリー | |
| JPH0648734A (ja) | 結晶性チタン酸系ペロブスカイト化合物微粒子の製造方法 | |
| KR20110052732A (ko) | 크롬(ⅲ)원을 포함하는 수용액의 제조 방법 | |
| JP2000185914A (ja) | 炭酸バリウムの製造方法及び生成炭酸バリウム並びに該炭酸バリウムによるチタン酸バリウム | |
| Srisombat et al. | Chemical synthesis of magnesium niobate powders | |
| WO2021065935A1 (ja) | 鉄系酸化物磁性粉およびその製造方法 | |
| JP4057475B2 (ja) | チタン酸バリウム粉末の製造方法 | |
| JPH07277710A (ja) | ペロブスカイト型複合酸化物粉末の製造方法 | |
| CN114901597A (zh) | 铌酸水溶液 | |
| JP6990785B2 (ja) | ニオブ酸水溶液 | |
| TWI813022B (zh) | 鈦酸水溶液 | |
| JP2875486B2 (ja) | 酸化タンタルゾル及びその製造方法 | |
| CN113905988B (zh) | 稀土类碳酸盐微粒的制造方法及稀土类碳酸盐微粒 | |
| TWI730626B (zh) | 氧化鈦之製造方法 | |
| JP7490895B2 (ja) | 複合金属酸化合物分酸液、複合金属酸化合物粉末、複合金属酸化合物膜、及びそれらの製造方法 | |
| JP6687697B2 (ja) | 亜酸化銅粒子、亜酸化銅粒子スラリー及び、亜酸化銅粒子の製造方法 | |
| JP3254693B2 (ja) | 水和ジルコニアゾルおよびジルコニア粉末の製法 | |
| JP2004083350A (ja) | 一次粒子径が１００ｎｍ以下の希土類酸化物微粉の製造方法及び希土類酸化物微粉 | |
| JP2023095008A (ja) | 金属酸化物の製造方法 | |
| JPH05279023A (ja) | 希土類元素酸化物粒子の製造方法 | |
| JPH05279022A (ja) | 希土類元素酸化物粒子の製造方法 | |
| JPH0442814A (ja) | 酸化ビスマス粉末の製造方法 |