TWI736140B - 檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法 - Google Patents

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Abstract

[課題] 提供一種可謀求裝置之小型化或檢查精度之提升等的檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法。 [解決手段] X射線檢查裝置45具備：對所搬送的PTP薄膜25照射X射線之X射線照射裝置51、52；及拍攝被照射該X射線的PTP薄膜25之X射線感測器相機53。供從第1X射線照射裝置51照射X射線的第1X射線照射範圍，與供從第2X射線照射裝置52照射X射線的第2X射線照射範圍之交界部，被設定於設在第1檢查範圍WA1與第2檢查範圍WA2之間的非檢查範圍WB，從第1X射線照射裝置51照射且穿透第1檢查範圍WA1的X射線與從第2X射線照射裝置52照射且穿透第2檢查範圍WA2的X射線，被設定成在1個X射線感測器相機53上不重疊。

Description

檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法
本發明係有一種在製造收容錠劑的包裝薄片之際所用的檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法。
在習知的醫藥品或食料品等之領域中，作為包裝錠劑的包裝薄片，廣泛利用PTP(press through package，泡殼包裝)薄片。
PTP薄片係由形成有收容錠劑的袋部之容器薄膜及對其容器薄膜密封袋部的開口側之方式安裝的蓋膜所構成，且藉由將袋部從外側按壓，再由其所收容之錠劑扎破成為蓋的蓋膜，可取出該錠劑。
這樣的PTP薄片係經過對帶狀的容器薄膜持續形成袋部的袋部形成工程、於該袋部持續充填錠劑的充填工程、對以密封該袋部的開口側之方式形成在容器薄膜的袋部周圍的凸緣部持續安裝帶狀的蓋膜的安裝工程、及從安裝有該兩薄膜而成之帶狀的PTP薄膜切離最終製品的PTP薄片之切離工程等所製造。
一般而言，於製造這樣的PTP薄片之際，在其製造過程(於袋部收容錠劑的後工程且從PTP薄膜切離PTP薄片的前工程)中，進行和錠劑異常(例如於袋部內錠劑之有無、裂紋、破損等)有關的檢查、和凸緣部異常(例如在凸緣部有無異物等)有關的檢查等。
近年來，從謀求遮光性或防濕性之提升等這類的觀點，容器薄膜及蓋膜兩薄膜是藉由以鋁等為基材的不透明材料所形成者變多。
這樣的情況，上述各種檢查係使用X射線檢查裝置等來進行。一般而言，X射線檢查裝置係具備對連續搬送的PTP薄膜照射X射線之X射線產生器(X射線源)、及檢測穿透該PTP薄膜的X射線之X射線檢測器，且基於其X射線的穿透量進行各種檢查(例如，參照專利文獻1)。 [先前技術文獻] [專利文獻]
專利文獻1　日本特開2014-145733號公報
[發明欲解決之課題]
近年來，作為製造PTP薄片的PTP包裝機，可見很多為了提高生產效率而將呈帶狀搬送的PTP薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位以製造包裝薄片的類型。
在這樣的PTP包裝機之PTP薄片的製造過程中進行X射線檢查之情況，對PTP薄膜的寬度方向寬廣範圍有必要設定X射線的照射範圍(檢查範圍)。
然而，從X射線源呈放射狀照射之X射線的強度係與距離的平方成反比而衰減。又，因X射線對PTP薄膜的入射角之差異，在檢查能力上也產生差異。因此，PTP薄片之檢查所用之X射線的照射角係無法無約束地擴展，被限制成可對PTP薄膜上的既定的檢查範圍大致均一照射的角度。
結果，習知的X射線檢查裝置中，從PTP薄膜迄至X射線源為止的距離變長，有檢查裝置大型化之虞。
例如圖13所示之習知的X射線檢查裝置100係具備對PTP薄膜103照射X射線之X射線產生器101(X射線源101a)及檢測穿透該PTP薄膜103的X射線之X射線檢測器102，在將從X射線產生器101照射之X射線的照射角設為既定角度θ的狀態下，為了對PTP薄膜103的寬度方向既定範圍W0照射X射線，必須使PTP薄膜103與X射線產生器101之間疏遠距離H0以上。此處，成為H0=W0/tan(θ/2)。
再者，在使X射線源從PTP薄膜疏遠的情況，由於到達PTP薄膜的X射線量會如上述般減少，故變得難以確保檢查所需的X射線穿透量，有檢查精度降低之虞。反之，在為確保其X射線量而採用輸出更大者作為X射線源之情況，擔心裝置之大型化或成本增大。
一方面，在PTP包裝機，除了X射線檢查裝置以外還被裝入不少用以進行在各式各樣工程中的處理或檢查之裝置，而當空著的空間少且X射線檢查裝置被大型化時，會有設置變困難之虞。反之，為了設置被大型化的X射線檢查裝置，亦有發生需將PTP包裝機本體大型化之虞。
此外，上述課題不僅PTP包裝，在SP(strip package，窄條包裝)包裝等之包裝錠劑的其他包裝領域中也可能發生。又，不限於X射線，在使用兆赫電磁波等之穿透包裝薄片的其他電磁波之情況也可能發生。
本發明係有鑒於上述情事等所研創，其目的在於提供一種可謀求裝置之小型化、檢查精度的提升等之檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法。 [用以解決課題之手段]
以下，針對適合於解決上述課題的各手段，分項作說明。此外，視需要在對應的手段附記特有的作用效果。
手段1．一種檢查裝置，係為製造包裝薄片(例如PTP薄片)之際所用之檢查裝置，該包裝薄片為，安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜(例如容器薄膜)及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜(例如蓋膜)，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間(例如袋部)內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜(例如PTP薄膜)，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位所製成，其特徵為，具備： 複數個電磁波照射手段，對在呈帶狀搬送的前述包裝薄膜的寬度方向複數處對應前述包裝薄片所設定之複數個檢查範圍分別可從前述第1薄膜側照射既定的電磁波(X射線等)； 拍攝手段，以包夾前述包裝薄膜和前述複數個電磁波照射手段對向之方式配置在前述第2薄膜側，且具有可檢測穿透前述包裝薄膜的電磁波之複數個檢測元件沿著薄膜寬度方向排列的電磁波檢測手段(例如線感測器)，依序輸出前述包裝薄膜每次被搬送既定量所取得之電磁波穿透畫像資料；及 畫像處理手段，依據藉前述拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像資料，可執行前述包裝薄片的檢查， 對在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述檢查範圍中之、設在薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的第2檢查範圍之間的非檢查範圍(無需檢查範圍)，設定第1照射範圍與第2照射範圍之交界部， 該第1照射範圍，係供從與前述第1檢查範圍對應之薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段照射電磁波，該第2照射範圍係供從與前述第2檢查範圍對應之薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射電磁波， 從前述第1電磁波照射手段照射且穿透前述第1檢查範圍的電磁波，與從前述第2電磁波照射手段照射且穿透前述第2檢查範圍的電磁波，在前述拍攝手段中不重疊。
此外，關於以下的手段亦是相同，上述「包裝薄片」包含有例如「PTP薄片」、「SP薄片」等。
上述「包裝薄片的檢查」包含有：例如在收容空間內錠劑之有無、裂紋、破損等之「和錠劑有關的檢查」、在形成於收容空間周圍的凸緣部(安裝第1薄膜與第2薄膜的部分)有無異物等之「和凸緣部有關的檢查」等。
上述「非檢查範圍(無需檢查範圍)」包含有：例如包裝薄膜中和不會成為製品(包裝薄片)的端材部分(scrap、廢料)對應的範圍、或者成為製品(包裝薄片)的部分中和標籤部對應的範圍等之未實施上述各種檢查的範圍(無需上述各種檢查的範圍)。
在將和包裝薄片對應的範圍中之上述標籤部設為「非檢查範圍」的情況，除了該標籤部以外，和薄片本體部對應的範圍被設定為包裝薄片的「檢查範圍」。
此處，「標籤部」意指設置於包裝薄片的既定方向一端部，且藉由刻印或印刷等而被賦予錠劑名稱、批號等之各種資訊的部位。不同於形成有收容錠劑的收容空間之薄片本體部，在「標籤部」未形成有收容空間。又，在薄片本體部與標籤部之交界部形成有用以切離兩者之騎縫線等的切離線，亦可為藉該切離線隔開兩者之構成。當然，亦可為在兩者間未形成切離線之構成。
依據上述手段1，藉由在包裝薄膜的寬度方向配置複數個電磁波照射手段，在未將從各電磁波照射手段照射之電磁波的照射角(朝薄膜寬度方向擴展)設成比習知者還大的情況，可將電磁波的照射範圍維持在包裝薄膜之寬度方向的寬廣範圍並將各電磁波照射手段與包裝薄膜之距離設為比習知者還短。結果，可謀求檢查裝置之小型化。
同時，藉由各電磁波照射手段與包裝薄膜之距離靠近，可充分確保檢查所需的電磁波穿透量，可謀求檢查精度之提升。再加上，可謀求電磁波照射手段之小型化，可謀求檢查裝置的更小型化。
又，就本手段而言，從薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段照射且穿透包裝薄膜的電磁波，與從薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射且穿透包裝薄膜的電磁波，被設定成在1個拍攝手段(電磁波檢測手段)上不重疊。
結果，於進行薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍的檢查之情況，由於可在不受從薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射的電磁波之影響下進行檢查，故可謀求檢查精度之提升。
此處，在作成從第1電磁波照射手段照射且穿透包裝薄膜的電磁波，與從第2電磁波照射手段照射且穿透包裝薄膜的電磁波在拍攝手段(電磁波檢測手段)上不重疊的構成方面，可想到以下的構成。
例如可想到於具備由薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段及與此對應設置之薄膜寬度方向一側的第1拍攝手段所成的第1檢測手段，且具備由薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段及與此對應設置之薄膜寬度方向另一側的第2拍攝手段所成的第2檢測手段之構成下，將第1檢測手段與第2檢測手段在包裝薄膜的搬送方向錯開配置的構成。
然而，就這樣的構成而言，在薄膜搬送方向，裝置大型化是當然的，擔心零件件數增加或控制之複雜化等。對此，依據本手段，可依據藉1個拍攝手段所拍攝的畫像資料進行檢查，可抑制前述不良情況之發生。
又，例如可考慮構成為：具備薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段及薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段，並且具備與兩電磁波照射手段對向的1個拍攝手段，且由兩電磁波照射手段交互照射電磁波，在拍攝手段中將此等交互拍攝。
然而，就這樣的構成而言，控制複雜化是當然的，擔心檢查精度之降低或薄膜搬送速度(生產速度)之降低等。相對地，依據本手段，可從2個電磁波照射手段同時照射電磁波，藉1個拍攝手段進行拍攝並進行檢查，可抑制前述不良情況之發生。
又，可考慮構成為：於進行薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍的檢查之情況，以不會受從薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射的電磁波之影響的方式設置遮蔽該電磁波的遮蔽板。
然而，就這樣的構成而言，擔心裝置之大型化或零件件數增加等。相對地，依據本手段，可抑制發生前述不良情況。
再加上，依據本手段，供從薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段照射電磁波的第1照射範圍，與供從薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射電磁波的第2照射範圍之交界部，被設定在薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的第2檢查範圍之間所設的非檢查範圍(無需檢查範圍)。
藉此，即便是從薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段照射且穿透包裝薄膜的電磁波，與從薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射且穿透包裝薄膜的電磁波被設成在1個拍攝手段不重疊的情況，亦可對在包裝薄膜的寬度方向複數設定的檢查範圍全部照射電磁波。
此外，藉由將拍攝手段與包裝薄膜之距離設短，可使非檢查範圍(無需檢查範圍)的寬度尺寸狹窄。藉此，可謀求包裝薄片製造裝置之小型化。
手段2．一種檢查裝置，係為製造包裝薄片(例如PTP薄片)之際所用之檢查裝置，該包裝薄片為，安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜(例如容器薄膜)及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜(例如蓋膜)，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間(例如袋部)內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜(例如PTP薄膜)，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位所製成，其特徵為，具備： 複數個電磁波照射手段，對在呈帶狀搬送的前述包裝薄膜的寬度方向複數處對應前述包裝薄片所設定之複數個檢查範圍分別可從前述第1薄膜側照射既定的電磁波(X射線等)； 拍攝手段，以包夾前述包裝薄膜和前述複數個電磁波照射手段對向之方式配置在前述第2薄膜側，且具有可檢測穿透前述包裝薄膜的電磁波之複數個檢測元件沿著薄膜寬度方向排列的電磁波檢測手段(例如線感測器)，依序輸出前述包裝薄膜每次被搬送既定量所取得之電磁波穿透畫像資料；及 畫像處理手段，依據藉前述拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像資料，可執行前述包裝薄片的檢查， 對在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述檢查範圍中之、設在薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的第2檢查範圍之間的非檢查範圍(無需檢查範圍)， 供從與前述第1檢查範圍對應之薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段照射電磁波之第1照射範圍的薄膜寬度方向另一側的端部，被設定在前述第1檢查範圍與前述非檢查範圍之交界部，該交界部為第1交界部， 且， 供從與前述第2檢查範圍對應之薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射電磁波之第2照射範圍的薄膜寬度方向一側的端部，被設定在前述第2檢查範圍與前述非檢查範圍之交界部，該交界部為第2交界部， 前述第1電磁波照射手段及前述第2電磁波照射手段以及前述拍攝手段，係配置成滿足下式(α)的關係，
H1≦R/(tanφ1+tanφ2)…(α) 此處， H1：包裝薄膜與拍攝手段之距離，φ1：從第1電磁波照射手段照射的電磁波對第1交界部的入射角(從第1電磁波照射手段照射且通過第1交界部入射於電磁波檢測手段之電磁波的入射角)，φ2：從第2電磁波照射手段照射的電磁波對第2交界部的入射角(從第2電磁波照射手段照射且通過第2交界部入射於電磁波檢測手段之電磁波的入射角)，R：非檢查範圍在薄膜寬度方向的寬度。
依據上述手段2，成為從第1電磁波照射手段照射且穿透第1檢查範圍的電磁波，與從第2電磁波照射手段照射且穿透第2檢查範圍的電磁波在拍攝手段中不重疊。結果，可獲得和上述手段1同樣的作用效果。
手段3．如手段1或2之檢查裝置，其中前述複數個電磁波照射手段係配置成各自本身的中心軸(照射角的二等分線)與前述包裝薄膜的法線方向平行。
如上述「發明欲解決之課題」亦述及，從電磁波照射手段呈放射狀照射的電磁波之強度係與距離的平方成反比而衰減。又，依電磁波對包裝薄膜的入射角之差異亦在檢查能力上產生差異。因此，在假設設定各電磁波照射手段的中心軸相對於包裝薄膜(薄膜法線方向)傾斜的情況，有對檢查範圍全區域難以均一地照射電磁波之虞。
對此，依據上述手段3，可對檢查範圍全區域均一地照射電磁波，可謀求檢查精度之提升。
手段4．如手段1至3中任一手段之檢查裝置，其中前述電磁波為X射線或兆赫電磁波。
手段5．如手段1至4中任一手段之檢查裝置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜是以鋁為基材(主材料)所形成。
此處，「以鋁為基材(主材料)所形成」，以鋁單體所形成的情況乃理所當然，係亦包含介設有樹脂薄膜層的鋁積層薄膜等之意旨。
手段6．如手段1至5中任一手段之檢查裝置，其中前述非檢查範圍包含有：和在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述包裝薄片對應的範圍中之、和薄膜寬度方向一側的第1包裝薄片之標籤部對應的範圍，及/或和薄膜寬度方向另一側的第2包裝薄片之標籤部對應的範圍。
依據上述手段6，可將薄膜寬度方向中之非檢查範圍設定成更寬廣範圍。結果，可提高上述各手段的作用效果。
手段7．一種包裝薄片製造裝置，其特徵為具備如手段1至6中任一手段之檢查裝置。
如上述手段7，藉由在包裝薄片製造裝置具備檢查裝置，在包裝薄片的製造過程中產生可有效率地排除不良品等之優點。此處，包裝薄片製造裝置亦可構成為具備排出藉上述檢查裝置判定不良的包裝薄片之排出手段。
作為更具體的包裝薄片製造裝置之構成，可舉出以下的構成。
「一種包裝薄片製造裝置，係安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位以製造包裝薄片，其特徵為具備： 安裝手段，安裝呈帶狀搬送的前述第1薄膜及呈帶狀搬送的前述第2薄膜； 充填手段，對前述第1薄膜與前述第2薄膜之間所形成的前述收容空間內充填前述錠劑； 切離手段(包含衝切成薄片單位的衝切手段)，被安裝前述第1薄膜及前述第2薄膜且從在前述收容空間內收容有前述錠劑之帶狀的前述包裝薄膜切離前述包裝薄片；及 如手段1至6中任一手段之檢查裝置」。
此外，在包裝薄片製造裝置，除了上述檢查裝置以外還被裝入不少用以進行在各式各樣工程中的處理或檢查之裝置，而當空著的空間小且上述檢查裝置被大型化時，會有設置變困難之虞。反之，為了設置被大型化的上述檢查裝置，亦有發生需將包裝薄片製造裝置本體大型化之虞。
對此，藉由具備如手段1至6中任一手段之檢查裝置，可抑制發生這樣的不良情況。
手段8．一種包裝薄片製造方法，係製造包裝薄片(例如PTP薄片)之包裝薄片製造方法，該包裝薄片為，安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜(例如容器薄膜)及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜(例如蓋膜)，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間(例如袋部)內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜(例如PTP薄膜)，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位所製成，其特徵為，具備： 安裝工程，安裝呈帶狀搬送的前述第1薄膜及呈帶狀搬送的前述第2薄膜； 充填工程，對形成在前述第1薄膜與前述第2薄膜之間的前述收容空間內充填前述錠劑； 切離工程(包含衝切成薄片單位的衝切工程)，安裝前述第1薄膜及前述第2薄膜且從前述收容空間內收容有前述錠劑之帶狀的前述包裝薄膜，切離前述包裝薄片；及 檢查工程，可執行前述包裝薄片的檢查， 前述檢查工程中具備： 照射工程，對在呈帶狀搬送的前述包裝薄膜的寬度方向複數處和前述包裝薄片對應所設定之複數個檢查範圍分別從既定的電磁波照射手段照射既定的電磁波(X射線等)； 拍攝工程，藉由以包夾前述包裝薄膜與前述電磁波照射手段對向之方式配置的既定的拍攝手段，將檢測穿透前述包裝薄膜的電磁波所取得之電磁波穿透畫像資料按每次前述包裝薄膜被搬送既定量作輸出；及 良否判定工程，依據藉前述拍攝所取得之電磁波穿透畫像資料，進行和前述包裝薄片有關的良否判定， 對在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述檢查範圍中之、設於薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的第2檢查範圍之間的非檢查範圍(無需檢查範圍)，設定第1照射範圍與第2照射範圍之交界部， 該第1照射範圍係供從與前述第1檢查範圍對應的薄膜寬度方向一側的第1電磁波照射手段照射電磁波，該第2照射範圍係供從與前述第2檢查範圍對應的薄膜寬度方向另一側的第2電磁波照射手段照射電磁波， 作成從前述第1電磁波照射手段照射且穿透前述第1檢查範圍的電磁波，與從前述第2電磁波照射手段照射且穿透前述第2檢查範圍的電磁波在前述拍攝手段中不重疊。
依據上述手段8，可獲得和上述手段7同樣的作用效果。
以下，針對一實施形態，一邊參照圖面一邊作說明。首先針對作為包裝薄片(薄片狀包裝體)的PTP薄片1作說明。
如圖1、2所示，PTP薄片1係具有具備複數個袋部2的容器薄膜3及塞住袋部2般安裝於容器薄膜3的蓋膜4。本實施形態中「容器薄膜3」構成「第1薄膜」，「蓋膜4」構成「第2薄膜」。
本實施形態中之容器薄膜3及蓋膜4係藉由以鋁為基材(主材料)的不透明材料所構成。例如容器薄膜3係藉由鋁積層薄膜(對鋁薄膜積層合成樹脂薄膜者)所形成。一方面，蓋膜4係藉由鋁薄膜所形成。
PTP薄片1係形成俯視呈大致矩形，其四角隅為圓弧狀帶有圓角的形狀。在PTP薄片1，由沿薄片長邊方向排列的5個袋部2所成的袋列在薄片短邊方向形成2列。亦即，形成有共10個袋部2。在各袋部2內的收容空間2a收容有一個一個錠劑5。
又，在PTP薄片1沿著薄片短邊方向形成複數作為切離線的騎縫線7，能以含有既定數(本實施形態中為2個)的袋部2的薄小片6為單位作切離。
再者，於PTP薄片1的周緣部，對應騎縫線7的形成位置形成縮頸部8。因此，在將PTP薄片1以薄小片6為單位切離時，該薄小片6的四角隅成為帶有圓角的圓弧形狀。
再加上，於PTP薄片1，在薄片長邊方向一端部，附設刻設有錠劑名稱、批號等之各種資訊(本實施形態中為「ABC」的文字)的標籤部9。標籤部9係未被設置袋部2且在與由5個薄小片6所成的薄片本體部1a之間藉由1條騎縫線7隔開。
本實施形態的PTP薄片1(參照圖1)係經過從安裝有帶狀的容器薄膜3與帶狀的蓋膜4所成之帶狀的PTP薄膜25(參照圖3)將最終製品的PTP薄片1衝切成矩形薄片狀的工程等所製造。以下，將「PTP薄膜25的寬度方向(圖3上下方向)」稱為「薄膜寬度方向」。又，將「PTP薄膜25的搬送方向(圖3左右方向)」稱為「薄膜搬送方向」。
如圖3所示，本實施形態的PTP薄膜25為，在薄膜寬度方向並排2個PTP薄片1的衝切範圍Ka(以下，僅稱為「薄片衝切範圍Ka」。)，同時此等相鄰並排的2個薄片衝切範圍Ka間由沿薄膜搬送方向呈帶狀延伸的中央廢料25a所繫接，薄膜寬度方向兩端由沿薄膜搬送方向呈帶狀延伸的側部廢料25b所繫接，成為在薄膜搬送方向鄰接的2個薄片衝切範圍Ka的交界線上排列有複數個用以形成上述縮頸部8的星芒形廢料25c之布置。此外，圖3中，為使圖面的簡化，以及易於理解星芒形廢料25c，對衝切星芒形廢料25c的孔部附加抽出線，圖示成星芒形廢料25c。
此處，PTP薄膜25中，從並排於薄膜寬度方向的2個薄片衝切範圍Ka衝切的PTP薄片1係成為分別標籤部9面向薄膜寬度方向中央部，和中央廢料25a鄰接的狀態。
其次，針對作為製造上述PTP薄片1的包裝薄片製造裝置之PTP包裝機10的概略構成，參照圖4作說明。
如圖4所示，在PTP包裝機10的最上游側，帶狀的容器薄膜3的料捲被捲成輥狀。捲成輥狀的容器薄膜3之引出端側係被導輥13導引。容器薄膜3係於導輥13的下游側被掛裝於間歇進給輥14。間歇進給輥14係連結於間歇地旋轉的馬達，將容器薄膜3間歇地搬送。
在導輥13與間歇進給輥14之間，沿著容器薄膜3的搬送路徑，配設作為袋部形成手段的袋部形成裝置16。藉此袋部形成裝置16，利用冷加工在容器薄膜3的既定的位置一次形成複數個袋部2(袋部形成工程)。袋部2之成形係在藉間歇進給輥14進行搬送容器薄膜3之動作期間的空隙(interval)中進行。
但是，本實施形態的PTP包裝機10係構成為容器薄膜3不僅為利用鋁製來製造，亦可利用例如PP(聚丙烯)或PVC(聚氯乙烯)等之較硬質且具既定剛性的熱塑性樹脂材料來製造之包裝機(兼用機)。因此，於袋部形成裝置16的上游側，具備用以加熱容器薄膜3使之成為柔軟狀態的加熱裝置15。當然，在形成鋁製的容器薄膜3之情況不使用加熱裝置15。
從間歇進給輥14送出之容器薄膜3係按張緊輥18、導輥19及薄膜承接輥20的順序掛裝。由於薄膜承接輥20係連結於固定旋轉的馬達，故將容器薄膜3連續且固定速度搬送。張緊輥18係被設成藉由彈力將容器薄膜3朝張緊之側拉扯的狀態，防止因前述間歇進給輥14與薄膜承接輥20之搬送動作的差異所致之容器薄膜3彎曲並將容器薄膜3保持成常時張緊狀態。
在導輥19與薄膜承接輥20之間，沿著容器薄膜3的搬送路徑，配設作為充填手段的錠劑充填裝置21。
錠劑充填裝置21係具有將錠劑5自動充填於袋部2之機能。錠劑充填裝置21係與利用薄膜承接輥20搬送容器薄膜3之動作同步地按每既定間隔開啓擋板使錠劑5落下者，伴隨此擋板開放動作而將錠劑5充填於各袋部2(充填工程)。
一方面，形成帶狀的蓋膜4的料捲係於最上游側被捲成輥狀。捲成輥狀的蓋膜4之引出端係藉由導輥22朝加熱輥23引導。加熱輥23係成為可和前述薄膜承接輥20壓接，形成在兩輥20、23間被送入容器薄膜3及蓋膜4。
然後，藉由容器薄膜3及蓋膜4在兩輥20、23間以加熱壓接狀態通過，而對容器薄膜3的袋部2周圍的凸緣部3a(參照圖1、2)貼於蓋膜4，使袋部2被蓋膜4塞住(安裝工程)。
藉此，製造作為在各袋部2充填有錠劑5的包裝薄膜(帶狀包裝體)之PTP薄膜25。在加熱輥23的表面形成有密封用的網目狀的微細凸條，藉由微細凸條強壓接而實現強固的密封。藉由薄膜承接輥20及加熱輥23構成本實施形態中之安裝手段。
又，構成為：在薄膜承接輥20設有未圖示的編碼器，該薄膜承接輥20每旋轉既定量，亦即PTP薄膜25每搬送既定量，對後述之X射線檢查裝置45輸出既定的時序信號。
從薄膜承接輥20送出的PTP薄膜25係按張緊輥27及間歇進給輥28之順序掛裝。
由於間歇進給輥28係連結於作間歇地旋轉的馬達，故將PTP薄膜25間歇地搬送。張緊輥27係被設成藉由彈力將PTP薄膜25朝張緊之側拉扯的狀態，防止因前述薄膜承接輥20與間歇進給輥28之搬送動作的差異所致之PTP薄膜25之彎曲並將PTP薄膜25保持成常時張緊狀態。
在薄膜承接輥20與張緊輥27之間，沿著PTP薄膜25的搬送路徑配設X射線檢查裝置45。X射線檢查裝置45係用以進行以袋部2所收容的錠劑5之異常(例如錠劑5之有無、裂紋、破損等)的檢測或袋部2以外的凸緣部3a的異常(例如存在於凸緣部3a上的異物等)的檢測為主要目的之X射線檢查。
從間歇進給輥28送出之PTP薄膜25係按張緊輥29及間歇進給輥30之順序掛裝。由於間歇進給輥30係連結於間歇地旋轉的馬達，故將PTP薄膜25間歇地搬送。張緊輥29被設成藉由彈力將PTP薄膜25朝張緊之側拉扯的狀態，防止在前述間歇進給輥28、30間之PTP薄膜25之彎曲。
在間歇進給輥28與張緊輥29之間，沿著PTP薄膜25的搬送路徑，依序配設廢料衝切裝置32、騎縫線形成裝置33及刻印裝置34。
廢料衝切裝置32係具有從PTP薄膜25的既定位置衝切上述星芒形廢料25c之機能。騎縫線形成裝置33係具有在PTP薄膜25的既定位置形成上述騎縫線7之機能。刻印裝置34係具有在PTP薄膜25的既定位置(和上述標籤部9對應的位置)附加上述刻印「ABC」之機能。
從間歇進給輥30送出之PTP薄膜25係於其下游側按張緊輥35及連續進給輥36之順序掛裝。在間歇進給輥30與張緊輥35之間，沿著PTP薄膜25的搬送路徑，配設薄片衝切裝置37。薄片衝切裝置37係具有作為將PTP薄膜25以PTP薄片1為單位衝切其外緣的薄片衝切手段(切離手段)之機能。
藉由薄片衝切裝置37衝切的PTP薄片1，係藉由輸送機39搬送，被暫時儲存於完成品用漏斗40(切離工程)。但在藉上述X射線檢查裝置45判定不良品的情況，其被判定為不良品的PTP薄片1係在未朝完成品用漏斗40搬送下，藉由作為未圖示的排出手段之不良薄片排出機構而另外被排出，移往未圖示的不良品漏斗。
於連續進給輥36的下游側配設有裁斷裝置41。然後，藉由薄片衝切裝置37衝切後呈帶狀残留的端材(廢料25a、25b)係在被前述張緊輥35及連續進給輥36導引後，引導至裁斷裝置41。此處，連續進給輥36係被從動輥壓接而一邊挾持前述廢料25a、25b一邊進行搬送動作。
裁斷裝置41係具有將廢料25a、25b裁斷成既定尺寸之機能。被裁斷的廢料25a、25b係在被儲存於廢料用漏斗43之後，另外被廢棄處理。
此外，上述各輥14、19、20、28、29、30等係其輥表面與袋部2為相對的位置關係，但因為在間歇進給輥14等之各輥的表面形成有供收容袋部2之凹部，所以沒有袋部2崩塌的情況。又，藉由袋部2一邊收容於間歇進給輥14等之各輥的各凹部一邊進行進給動作，確實地進行間歇進給動作或連續進給動作。
PTP包裝機10之概略係如以上所述，以下就上述X射線檢查裝置45的構成，參照圖面作詳細說明。圖5係顯示X射線檢查裝置45的電氣構成之方塊圖。圖6係示意顯示X射線檢查裝置45的概略構成之立體圖。其中，圖6的圖示中，為了簡化而省略了PTP薄膜25的袋部2等一部分的構成。
如圖5、6所示，X射線檢查裝置45具備：對PTP薄膜25照射X射線之2個X射線照射裝置51、52(第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52)；拍攝被照射該X射線的PTP薄膜25的X射線穿透畫像之X射線感測器相機53；及控制處理裝置54，用以實施X射線照射裝置51、52或X射線感測器相機53之驅動控制等在X射線檢查裝置45內的各種控制或畫像處理、運算處理等。
本實施形態中的「X射線」相當於「電磁波」。因此，「X射線穿透畫像(資料)」構成「電磁波穿透畫像(資料)」，「控制處理裝置54」構成「畫像處理手段」，「X射線照射裝置51、52(第1X射線照射裝置51、第2X射線照射裝置52)」構成「電磁波照射手段(第1電磁波照射手段，第2電磁波照射手段)」，「X射線感測器相機53」構成「拍攝手段」。
X射線照射裝置51、52及X射線感測器相機53，係收容在以可遮蔽X射線的材質所構成的遮蔽盒45a內(參照圖4)。遮蔽盒45a為使PTP薄膜25通過，除設有狹縫狀的入口部45b及出口部45c等以外，係成為極力抑制X射線朝外部漏洩之構造。
第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52，兩者皆配置在往垂直方向下方搬送之PTP薄膜25的法線方向同一側(本實施形態中為容器薄膜3側)。以下，將「PTP薄膜25的法線方向」稱為「薄膜法線方向」。
又，第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52係以並排於薄膜寬度方向之方式配置在薄膜搬送方向同一位置(同一高度位置)。
X射線照射裝置51、52係具備：分別產生X射線之X射線源51a、52a；及集中從該X射線源51a、52a所產生的X射線之準直器(collimator)51b、52b，且成為此等被收容於由可遮蔽X射線的材質所構成的遮蔽容器51c、52c內之構成。然後，從X射線源51a、52a發出的X射線係經由遮蔽容器51c、52c的開口部(圖示省略)朝外部照射。
此外，X射線照射裝置51、52因為是公知者，故省略X射線源51a、52a等各種構成部之詳細說明，但例如X射線源51a、52a係構成為使藉高電壓加速的電子衝撞陽極的靶材而可放射以該靶材為頂點的圓錐狀X射線。
於這樣的構成之下，X射線照射裝置51、52係構成為藉由準直器51b、52b極力抑制從X射線源51a、52a呈圓錐狀放射之X射線朝薄膜搬送方向擴展(圓錐角)，藉以可對PTP薄膜25照射朝薄膜寬度方向具有既定的擴展(扇角)之扇束狀的X射線。當然，亦可構成為照射對此處薄膜搬送方向亦具有既定的擴展之圓錐束狀的X射線。
X射線照射裝置51、52係配置成各自本身的中心軸D1、D2(扇角的二等分線)與PTP薄膜25的薄膜法線方向平行。
X射線感測器相機53係以與X射線照射裝置51、52分別在薄膜法線方向對向之方式包夾PTP薄膜25配置在X射線照射裝置51、52的相反側(本實施形態中為蓋膜4側)。
X射線感測器相機53係具有沿著薄膜寬度方向並排1列可檢測穿透PTP薄膜25的X射線之複數個X射線檢測元件的作為電磁波檢測手段之X射線感測器53a，且可拍攝(曝光)穿透PTP薄膜25的X射線之構成。作為X射線檢測元件，可舉出例如具有閃爍體的光轉換層之CCD(Charge Coupled Device；電荷耦合元件)等。
然後，作為藉X射線感測器相機53所取得之電磁波穿透畫像資料的X射線穿透畫像資料，係在PTP薄膜25每搬送既定量，於該相機53內部轉換成數位信號(畫像信號)後，以數位信號的形式對控制處理裝置54(畫像資料記憶裝置74)輸出。然後，控制處理裝置54係將該X射線穿透畫像資料進行畫像處理等並實施後述的各種檢查。
此處，針對X射線照射裝置51、52、X射線感測器相機53及PTP薄膜25的位置關係，參照圖3、7作詳細說明。首先針對藉X射線檢查裝置45進行檢查的PTP薄膜25上的「檢查區域」及不進行檢查的「非檢查區域(無需檢查區域)」作說明。
本實施形態中，和PTP薄片1(薄片衝切範圍Ka)對應的區域中之、除了和標籤部9對應的區域外，和由5個薄小片6所成的薄片本體部1a對應之區域被設定為1片PTP薄片1的檢查區域Kb。
本實施形態中，在薄膜寬度方向相鄰的2個檢查區域Kb中之對應第1X射線照射裝置51的檢查區域Kb是相當於「第1檢查區域」，對應於第2X射線照射裝置52的檢查區域Kb是相當於「第2檢查區域」。
因此，PTP薄膜25中和前述檢查區域Kb(PTP薄片1的薄片本體部1a)對應的薄膜寬度方向既定範圍WA，亦即從屬於側部廢料25b與和其鄰接的PTP薄片1對應的區域之交界部的外側交界部PA，到屬於和標籤部9對應的區域與和其鄰接的薄小片6對應的區域之交界部的中央側交界部PB為止的薄膜寬度方向既定範圍WA，成為薄膜寬度方向檢查範圍(以下，僅稱為「檢查範圍」。)，且成為薄膜寬度方向X射線照射範圍(以下，僅成為「X射線照射範圍」。)。
換言之，PTP薄膜25中，和中央廢料25a及其鄰接的2個標籤部9對應的區域，及和側部廢料25b對應的區域成為「非檢查區域(無需檢查區域)」。
亦即，PTP薄膜25中，包含和中央廢料25a及其鄰接的2個標籤部9對應的區域之薄膜寬度方向的中央部既定範圍WB、及和側部廢料25b對應的薄膜寬度方向的側部既定範圍WC成為「非檢查範圍(無需檢查範圍)」。
以下，在有必要針對薄膜寬度方向相鄰的2個檢查範圍(X射線照射範圍)WA作區別之情況，兩檢查範圍(X射線照射範圍)WA中，將和第1X射線照射裝置51對應的檢查範圍(X射線照射範圍)WA稱為「第1檢查範圍(X射線照射範圍)WA1」，將和第2X射線照射裝置52對應的檢查範圍(X射線照射範圍)WA稱為「第2檢查範圍(X射線照射範圍)WA2」。
同樣地，有必要針對在薄膜寬度方向相鄰的2個中央側交界部PB作區別的情況，將兩中央側交界部PB中的成為第1檢查範圍(X射線照射範圍)WA1與中央部既定範圍WB之屬交界部的中央側交界部PB稱為「第1交界部PB1」、將成為第2檢查範圍(X射線照射範圍)WA2與中央部既定範圍WB之屬交界部的中央側交界部PB稱為「第2交界部PB2」。
於這樣的構成之下，相對於薄膜法線方向，X射線感測器相機53和PTP薄膜25空出既定距離H1作配置，X射線照射裝置51、52(X射線源51a、52a)和PTP薄膜25空出既定距離H2作配置。再者，從X射線照射裝置51、52(X射線源51a、52a)照射的X射線的照射角(扇角)係被設定成既定角度θ。
又，本實施形態中，第1X射線照射裝置51的中心軸D1在薄膜寬度方向的位置被設定在第1檢查範圍WA1的薄膜寬度方向的中心位置。同樣地，第2X射線照射裝置52的中心軸D2在薄膜寬度方向的位置被設定在第2檢查範圍WA2的薄膜寬度方向的中心位置。
然後，在將來自第1X射線照射裝置51(X射線源51a)的X射線對第1檢查範圍WA1與非檢查範圍的中央部既定範圍WB的交界部(即第1交界部PB1)的入射角設為「φ1」、來自第2X射線照射裝置52(X射線源52a)的X射線對第2檢查範圍WA2與非檢查範圍的中央部既定範圍WB的交界部(即第2交界部PB2)的入射角設為「φ2」之情況，第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52以及X射線感測器相機53係配置成滿足下式(α)的關係。
H1≦R/(tanφ1+tanφ2)…(α) 其中，R：非檢查範圍(中央部既定範圍)WB在薄膜寬度方向的寬度。
此外，本實施形態中，構成為：從第1X射線照射裝置51照射且穿透第1交界部PB1的X射線與從第2X射線照射裝置52照射且穿透第2交界部PB2的X射線，在X射線感測器相機53上的非檢查範圍(中央部既定範圍)WB的薄膜寬度方向的中心位置交叉。
其次，針對控制處理裝置54，參照圖5作說明。控制處理裝置54係具備：掌管X射線檢查裝置45整體之控制的微電腦71；作為由鍵盤或滑鼠、觸控板等所構成的「輸入手段」之輸入裝置72；作為具有CRT或液晶等之顯示畫面的「顯示手段」之顯示裝置73；用以記憶各種畫像資料等之畫像資料記憶裝置74；用以記憶各種運算結果等之運算結果記憶裝置75；用以預先記憶各種資訊的設定資料記憶裝置76等。此外，此等各裝置72～76係和微電腦71電連接。
微電腦71係具備：作為運算手段的CPU71a；記憶各種程式的ROM71b；及暫時記憶運算資料或輸入/輸出資料等的各種資料之RAM71c等，且掌管控制處理裝置54中的各種控制，並以可和PTP包裝機10進行收發各種信號地連接。微電腦71係構成本實施形態中的畫像處理手段。
於這樣的構成之下，微電腦71係驅動控制例如X射線照射裝置51、52或X射線感測器相機53，執行取得PTP薄膜25的X射線穿透畫像資料之拍攝處理、依據該X射線穿透畫像資料檢查PTP薄片1之檢查處理、將該檢查處理的檢查結果朝PTP包裝機10的不良薄片排出機構等輸出之輸出處理等。
畫像資料記憶裝置74係記憶有以藉由X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像資料為首之、於檢查時被二值化處理的二值化畫像資料或被遮蔽處理的遮蔽畫像資料等之各種畫像資料。
運算結果記憶裝置75，係記憶將檢查結果資料或該檢查結果資料經機率統計處理後的統計資料等。可令此等檢查結果資料或統計資料適宜地顯示於顯示裝置73。
設定資料記憶裝置76係用以記憶檢查所用之各種資訊。被設定記憶有作為此等各種資訊之、例如PTP薄片1、袋部2及錠劑5之形狀及尺寸或用以區劃上述檢查區域Kb的薄片框之形狀及尺寸、用以區劃袋部2的區域的袋框之形狀及尺寸、在二值化處理中之輝度閾值，用以進行各種良否判定之判定基準值等。
其次，針對藉X射線檢查裝置45進行的X射線檢查工程作說明。首先針對取得X射線穿透畫像資料的處理之流程作詳細說明。
關於X射線檢查裝置45，如上述般，連續搬送的PTP薄膜25從遮蔽盒45a的入口部45b被朝內部搬入，從出口部45c朝外部被持續搬出。
在這期間，微電腦71係驅動控制X射線照射裝置51、52及X射線感測器相機53，對連續搬送的PTP薄膜25一邊照射X射線(照射工程)，一邊在PTP薄膜25每搬送既定量即取得拍攝穿透PTP薄膜25的X射線之一維的X射線穿透畫像資料(拍攝工程)。
如此藉X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像資料，係在該相機53內部轉換成數位信號後，以數位信號的形式對控制處理裝置54(畫像資料記憶裝置74)輸出。
更詳言之，微電腦71為，在由X射線照射裝置51、52對PTP薄膜25常時照射X射線的狀態下，一被輸入來自上述編碼器的時序信號時即開始進行X射線感測器相機53之曝光處理。
然後，當輸入下一個時序信號時，將在那之前蓄積於光電二極體等之受光部的電荷統合並朝移位暫存器轉送。接著，被轉送於移位暫存器的電荷是在迄至下一個時序信號被輸入為止的期間，伴隨著轉送時鐘信號，依序作為畫像信號(X射線穿透畫像資料)輸出。
亦即，從上述編碼器輸入既定的時序信號之時點迄至下個輸入時序信號為止的時間成為在X射線感測器相機53的曝光時間。
此外，本實施形態中，構成為每次搬送PTP薄膜25，藉由X射線感測器相機53取得X射線感測器53a在薄膜搬送方向的寬度，亦即相當於一份CCD寬度的長度份量之X射線穿透畫像資料。當然，亦可採用與此相異的構成。
畫像資料記憶裝置74係將從X射線感測器相機53輸入的X射線穿透畫像資料按時間系列持續依序記憶。
然後，藉由PTP薄膜25每被搬送既定量即反複進行上述一連串處理，且被照射X射線的位置持續相對移動，使得PTP薄膜25中之2個檢查範圍WA(第1檢查範圍WA1、第2檢查範圍WA2)的X射線穿透畫像資料連同薄膜搬送方向及薄膜寬度方向的位置資訊一起按時間系列依序記憶在畫像資料記憶裝置74。藉此，PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)的二維X射線穿透畫像資料持續依序生成。
如此，當取得成為製品的1片PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)的X射線穿透畫像資料時，微電腦71即執行檢查處理(檢查程序)。
以下，針對藉微電腦71所執行之檢查程序(良否判定工程)，參照圖8的流程圖作詳細說明。
此外，圖8所示的檢查程序係針對成為製品的1片PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)分別進行的處理。亦即，PTP薄膜25對薄膜搬送方向每搬送相當於1片PTP薄片1分量程度，對從並排於薄膜寬度方向的2個檢查範圍WA(第1檢查範圍WA1、第2檢查範圍WA2)可獲得之2片PTP薄片1(薄片本體部1a)的X射線穿透畫像資料分別進行圖8所示的檢查程序。
如上述，當取得2片PTP薄片1(薄片本體部1a)的X射線穿透畫像資料時，微電腦71首先在步驟S11中執行檢查畫像取得處理。
詳言之，將從並排於PTP薄膜25的薄膜寬度方向的2個檢查範圍WA(第1檢查範圍WA1、第2檢查範圍WA2)獲得之2片PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)的X射線穿透畫像資料中之、在本程序作檢查的一X射線穿透畫像資料，從畫像資料記憶裝置74以檢查畫像讀出。
其次，微電腦71係於步驟S12執行二值化處理。詳言之，生成將在上述步驟S11取得作為檢查畫像之X射線穿透畫像資料以錠劑異常檢測級別予以二值化的二值化畫像資料，將此作為錠劑檢查用的二值化畫像資料記憶在畫像資料記憶裝置74。此處，例如將第1閾值δ1以上以「1(明部)」，將小於第1閾值δ1以「0(暗部)」使X射線穿透畫像資料轉換成二值化畫像資料。
同時，生成將在上述步驟S11取得作為檢查畫像的X射線穿透畫像資料以凸緣異常檢測級別予以二值化的二值化畫像資料，將此以凸緣部檢查用的二值化畫像資料記憶於畫像資料記憶裝置74。此處，例如將第2閾值δ2以上以「1(明部)」，將小於第2閾值δ2以「0(暗部)」使X射線穿透畫像資料轉換成二值化畫像資料。
其次，微電腦71係於步驟S13執行塊處理。詳言之，對在上述步驟S12取得之各種二值化畫像資料執行塊處理。就塊處理而言，係針對二值化畫像資料的「0(暗部)」及「1(明部)」分別特定連結成分的處理，及針對各個的連結成分進行賦予標記之標記賦予處理。此處，分別特定的各連結成分之占有面積係以與X射線感測器相機53的畫素對應的點(dot)數表示。
其次，微電腦71係於步驟S14執行檢查對象特定處理。
詳言之，從依據錠劑檢查用的二值化畫像資料藉上述步驟S13的塊處理所特定之「0(暗部)」的連結成分之中，特定和錠劑5相當的連結成分亦即錠劑區域。和錠劑5相當的連結成分，係可藉由判斷含有既定的座標之連結成分、屬於既定的形狀的連結成分、或屬於既定的面積的連結成分等而特定。
同時，將依據凸緣部檢查用的二值化畫像資料藉上述步驟S13的塊處理所特定之「0(暗部)」的連結成分，特定為和異物相當的連結成分亦即異物區域。
其次，微電腦71係於步驟S15執行遮蔽處理。
詳言之，對錠劑檢查用的二值化畫像資料，設定上述薄片框並區劃上述檢查區域Kb，並且配合該二值化畫像資料上的10個袋部2之位置分別設定上述袋框，對藉此所特定的袋區域以外的區域，亦即和凸緣部3a對應的區域進行遮蔽處理。已進行這樣的遮蔽處理之畫像資料係以錠劑檢查用的遮蔽畫像資料記憶在畫像資料記憶裝置74。
同時，對凸緣部檢查用的二值化畫像資料，設定上述薄片框並區劃上述檢查區域Kb，並且配合該二值化畫像資料上的10個袋部2之位置分別設定上述袋框，對藉此所特定的袋區域內進行遮蔽處理。已進行這樣的遮蔽處理之畫像資料係以凸緣部檢查用的遮蔽畫像資料記憶在畫像資料記憶裝置74。
此外，本實施形態中，上述薄片框及上述袋框的設定位置係藉由與PTP薄膜25之相對位置關係而預先決定。因此，本實施形態中，薄片框及袋框的設定位置沒有每次因應檢查畫像作調整位置，但不受此所限，亦可構成為考量發生偏位等，依據從檢查畫像獲得之資訊適宜調整薄片框及袋框的設定位置。
其次，微電腦71係於步驟S16中，將所有袋部2的錠劑良品旗標的值設定為「0」。
此外，「錠劑良品旗標」係表示對應的袋部2所收容的錠劑5之良否判定結果者，且設定於運算結果記憶裝置75。然後，於既定的袋部2所收容的錠劑5被判定為良品之情況，在與此對應的錠劑良品旗標的值設定「1」。
於接著的步驟S17，微電腦71係在運算結果記憶裝置75所設定之袋編號計數的值C設定為初期值的「1」。
此外，「袋編號」，係指和1片PTP薄片1的檢查區域Kb內之10個袋部2分別對應設定的序列編號，藉由袋編號計數的值C(以下，僅稱為「袋編號C」)可特定袋部2之位置。
然後，微電腦71係於步驟S18，判定袋編號C是否為每一檢查區域Kb(每1片PTP薄片1)的袋數N(本實施形態中為「10」)以下。
在此處判定為是之情況，轉移到步驟S19，微電腦71係依據上述錠劑檢查用的遮蔽畫像資料，抽出在和現在的袋編號C(例如C=1)對應的袋部2中之上述錠劑區域(連結成分)的面積值為基準錠劑面積值Lo以上的塊(除去小於Lo的塊)。
接著，微電腦71係於步驟S20，判定在前述袋部2中的塊個數是否為「1」。在此處判定為是之情況，亦即在塊個數為「1」的情況，轉移到步驟S21。一方面，在判定為否之情況，將收容於和現在的袋編號C對應的袋部2之錠劑5視為不良品，按此狀態轉移到步驟S23。
於步驟S21，微電腦71係判定錠劑5的形狀、長度、面積等是否適當。在此處判定為是之情況，轉移到步驟S22。一方面，在判定為否之情況，將收容於和現在的袋編號C對應的袋部2之錠劑5視為不良品，按此狀態轉移到步驟S23。
於步驟S22，微電腦71係將和現在的袋編號C對應的袋部2所收容的錠劑5視為良品，將和該袋編號C對應的錠劑良品旗標的值設為「1」，轉移到步驟S23。
之後，微電腦71係在步驟S23於現在的袋編號C加「1」後，返回步驟S18。
此處，在新設定的袋編號C還是袋數N(本實施形態中為「10」)以下的情況，再度轉移到步驟S19，反複執行上述一連串錠劑檢查處理。
一方面，在判定新設定的袋編號C為超過袋數N的情況，將和所有的袋部2所收容之錠劑5有關的良否判定處理視為結束，轉移到步驟S24。
於步驟S24，微電腦71係判定凸緣部3a是否為良品。詳言之，依據凸緣部檢查用的遮蔽畫像資料，例如判定在凸緣部3a的區域內是否存在既定的大小以上的異物等。
在此處判定為是之情況，轉移到步驟S25。一方面，在判定為否之情況，亦即在被判定於凸緣部3a有異常的情況，按此狀態轉移到步驟S27。
於步驟S25，微電腦71係判定檢查區域Kb內之所有袋部2的錠劑良品旗標的值是否為「1」。藉此，判定和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1是良品或不良品。
在此處判定為是之情況，亦即在被收容在檢查區域Kb內所有的袋部2的錠劑5為「良品」，被判定為「不良品」的錠劑5(袋部2)1個也不存在的情況，於步驟S26，將和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1判定為「良品」，結束本檢查程序。
一方面，在步驟S25中判定為否之情況，亦即就算判定在檢查區域Kb內有一個「不良品」的錠劑5(袋部2)之情況，轉移到步驟S27。
於步驟S27中，微電腦71將和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1判定為「不良品」，結束本檢查程序。
此外，於步驟S26的良品判定處理及步驟S27的不良品判定處理中，微電腦71係將和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1有關的檢查結果記憶在運算結果記憶裝置54，並對PTP包裝機10(包含不良薄片排出機構)輸出。
如以上所詳述，依據本實施形態，對連續搬送的PTP薄膜25從X射線照射裝置51、52分別一邊照射X射線，一邊在PTP薄膜25每搬送既定量，即利用X射線感測器相機53拍攝穿透PTP薄膜25的X射線，再依據所取得之X射線穿透畫像資料，進行和PTP薄片1有關之檢查。
特別是依據本實施形態，藉由在PTP薄膜25的寬度方向配置2個X射線照射裝置51、52(第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52)，在未將從各X射線照射裝置51、52照射的X射線的照射角θ(朝向薄膜寬度方向擴展)設成比習知者還大的情況下，可將X射線的照射範圍維持在PTP薄膜25的寬度方向寬廣範圍，並將各X射線照射裝置51、52與PTP薄膜25之距離設成比習知者還短。結果，可謀求X射線檢查裝置45之小型化。
同時，藉由各X射線照射裝置51、52與PTP薄膜25之距離靠近，可充分確保檢查所需的X射線穿透量，可謀求檢查精度之提升。再加上，可謀求X射線照射裝置51、52之小型化，可謀求X射線檢查裝置45更小型化。
又，本實施形態中，設定成：從薄膜寬度方向一側的第1X射線照射裝置51照射且穿透PTP薄膜25的X射線，與從薄膜寬度方向另一側的第2X射線照射裝置52照射且穿透PTP薄膜25的X射線在1個X射線感測器相機53上不重疊。
藉此，於進行薄膜寬度方向一側的第1檢查範圍WA1的檢查之情況，可在不受從薄膜寬度方向另一側的第2X射線照射裝置52照射的X射線之影響下進行檢查。同樣地，於進行薄膜寬度方向另一側的第2檢查範圍WA2的檢查之情況，可在不受從薄膜寬度方向一側的第1X射線照射裝置51照射的X射線之影響下進行檢查。結果，可謀求檢查精度之提升。
再加上，依據本實施形態，供從第1X射線照射裝置51照射X射線的第1X射線照射範圍，與供從第2X射線照射裝置52照射X射線的第2X射線照射範圍之交界部，被設定在第1檢查範圍WA1與第2檢查範圍WA2之間所設的屬非檢查範圍的中央部既定範圍WB。具體言之，第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52以及X射線感測器相機53被配置成滿足上述式(α)的關係。
藉由這樣的構成，即便是從第1X射線照射裝置51照射且穿透第1檢查範圍WA1的X射線，與從第2X射線照射裝置52照射且穿透第2檢查範圍WA2的X射線被設定成在1個X射線感測器相機53不重疊的情況，亦可對設定於PTP薄膜25的寬度方向之第1檢查範圍WA1及第2檢查範圍WA2全部照射X射線。
此外，未受限於上述各實施形態的記載內容，例如亦可按如下方式實施。更遑論當然亦可為以下未例示的其他應用例、變形例。
(a)成為檢查對象物的包裝薄片之構成未受限於上述實施形態的PTP薄片1。例如亦可將SP薄片設為檢查對象。
如圖9所示，一般的SP薄片90，係藉由使由以鋁為基材的不透明材料所成之帶狀的2片薄膜91、92持續重疊，並在兩薄膜91、92間一邊充填錠劑5一邊在該錠劑5的周圍留下袋狀的收容空間93之方式接合該收容空間93的周圍(圖9中的底紋花紋部分)的兩薄膜91、92，作成帶狀的包裝薄膜後，再藉由將該包裝薄膜切離成矩形薄片狀所形成。
於SP薄片90，在用以能以含有1個收容空間93的薄小片94為單位進行切離的切離線方面，形成有沿著薄片長邊方向形成的縱騎縫線95，及沿著薄片短邊方向形成的橫騎縫線96。再加上，在SP薄片90，於薄片長邊方向一端部，附設有印刷各種資訊(本實施形態中為「ABC」的文字)的標籤部97。
(b)PTP薄片1單位的袋部2的排列或個數亦未受上述實施形態的態樣(2列、10個)任何限定，例如可採用以具有3列12個袋部2(收容空間2a)的類型為首之、各式各樣的排列，由件數所成的PTP薄片(關於上述SP薄片亦相同)。當然，1個薄小片所包含的袋部(收容空間)數量亦未受上述實施形態任何限定。
(c)在上述實施形態的PTP薄片1，作為切離線，形成有將貫通於PTP薄片1的厚度方向之切口間歇排列而成的騎縫線7，但切離線未受此所限，亦可採用因應於容器薄膜3及蓋膜4的材質等而不同的構成。例如，亦可構成為形成如剖面大致V字狀的狹縫(半切線)之非貫通的切離線。又，亦可為未形成騎縫線7等的切離線之構成。
又，上述實施形態中，於PTP薄片1的周緣部，對應騎縫線7的形成位置，形成有縮頸部8的構成，但亦可為省略縮頸部8的構成。
(d)第1薄膜及第2薄膜的材質或層構造等，係未受限於上述實施形態的容器薄膜3或蓋膜4的構成。例如上述實施形態中，容器薄膜3及蓋膜4雖是以鋁等之金屬材料為基材所形成，但不受此所限，亦可採用其他材質者。亦可採用例如可見光等不會穿透的合成樹脂材料等。
(e)包裝薄膜之構成未受限於上述實施形態，亦可採用其他的構成。
例如上述實施形態中，雖為在PTP薄膜25的寬度方向同時製造2片PTP薄片1的構成，但亦可置換為在PTP薄膜25的寬度方向製造3片以上的構成。
又，上述實施形態的PTP薄膜25，係成為在並排於薄膜寬度方向的2個薄片衝切範圍Ka間介設有中央廢料25a的布置。不受此所限，如圖10所示，亦可作成省略中央廢料25a，和並排於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1的標籤部9對應的區域彼此直接繫接的布置。這樣的情況，含有和鄰接的2個標籤部9對應的區域之薄膜寬度方向的中央部既定範圍成為「非檢查範圍(無需檢查範圍)」。
又，上述實施形態中，PTP薄膜25中並排於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1係成為分別標籤部9面向薄膜寬度方向中央部，和中央廢料25a鄰接的狀態。不受此所限，如圖11所示，亦可作成並排於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1的標籤部9分別面薄膜寬度方向外側，和側部廢料25b鄰接的布置。這樣的情況，含有和中央廢料25a對應的區域之薄膜寬度方向的中央部既定範圍成為「非檢查範圍(無需檢查範圍)」。
又，如圖12所示，亦可作成並排於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1中的一PTP薄片1為，標籤部9朝向薄膜寬度方向中央部，和中央廢料25a鄰接，且另一PTP薄片1為，標籤部9朝向薄膜寬度方向外側，和側部廢料25b鄰接之布置。這樣的情況，包含和中央廢料25a及其鄰接的1個標籤部9對應的區域之薄膜寬度方向的中央部既定範圍成為中央側的「非檢查範圍(無需檢查範圍)」。
(f)電磁波照射手段之構成未受限於上述實施形態。上述實施形態中，雖為照射作為電磁波的X射線之構成，但不受此所限，亦可作成使用兆赫電磁波等，穿透PTP薄膜25之其他電磁波之構成。
(g)拍攝手段之構成未受限於上述實施形態。例如上述實施形態中，作為拍攝手段雖採用了使用閃爍體的CCD相機(X射線感測器相機53)，但不受此所限，亦可採用將X射線直接入射並予以拍攝的相機。
上述實施形態中，作為拍攝手段雖採用並排有1列CCD的X射線感測器相機53，但不受此所限，亦可採用在例如PTP薄膜25的薄膜搬送方向具備複數列CCD列(檢測元件列)的X射線TDI(Time Delay Integration；時延積分)相機。藉此，可謀求更提升檢查精度及檢查效率。
(h)X射線檢查裝置45的構成或配置位置等，係未受限於上述實施形態。
例如上述實施形態中，雖為在PTP薄膜25被往上下方向搬送的位置配置X射線檢查裝置45之構成，但不受此所限，亦可作成例如在PTP薄膜25被往水平方向搬送的位置或斜向搬送的位置配置X射線檢查裝置45之構成。
又，亦可構成為配合PTP薄膜25的大小或布置等而具備可將第1X射線照射裝置51、第2X射線照射裝置52及X射線感測器相機53中至少1者在薄膜寬度方向，薄膜搬送方向及薄膜法線方向中至少1方向上作位置調整之位置調整機構(位置調整手段)。藉此，可謀求提高X射線檢查裝置45之泛用性並提升檢查精度。
在僅和例如中央廢料25a對應的區域成為非檢查範圍之情況(參照圖11)等，非檢查範圍的寬度尺寸較窄的情況亦是，藉由縮短X射線感測器相機53與PTP薄膜25之距離且增長X射線照射裝置51、52與PTP薄膜25之距離，可在不縮窄從X射線照射裝置51、52照射之X射線的照射角θ下來因應。
(i)電磁波照射手段及拍攝手段之配置構成係未受限於上述實施形態。
例如上述實施形態中，雖為X射線照射裝置51、52(第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52)配置在PTP薄膜25的容器薄膜3側，X射線感測器相機53配置在PTP薄膜25的蓋膜4側之構成，但亦可作成兩者的位置關係相反，將X射線照射裝置51、52配置在蓋膜4側，將X射線感測器相機53配置在容器薄膜3側之構成。
第1X射線照射裝置51及第2X射線照射裝置52以及X射線感測器相機53之配置構成，未受限於滿足上述式(α)的關係之配置構成，亦可採用其他的配置構成。
只要構成為如下即可：至少供從第1X射線照射裝置51照射X射線的第1X射線照射範圍，與供從第2X射線照射裝置52照射X射線的第2X射線照射範圍之交界部，被設定在第1檢查範圍WA1與第2檢查範圍WA2之間所設置的非檢查範圍(中央部既定範圍)WB，從第1X射線照射裝置51照射且穿透第1檢查範圍WA1的X射線與從第2X射線照射裝置52照射且穿透第2檢查範圍WA2的X射線在1個X射線感測器相機53中不重疊。
例如上述實施形態中，構成為：從第1X射線照射裝置51照射且穿透第1交界部PB1的X射線與從第2X射線照射裝置52照射且穿透第2交界部PB2的X射線，會在X射線感測器相機53上之非檢查範圍WB的薄膜寬度方向之中心位置交叉，但例如在非檢查範圍WB的寬度尺寸被設定成較寬幅之情況等，亦可構成為：依非檢查範圍WB的寬度尺寸，從第1X射線照射裝置51照射且穿透第1交界部PB1的X射線與從第2X射線照射裝置52照射且穿透第2交界部PB2的X射線在X射線感測器相機53上不交叉。
又，上述實施形態中，構成為供從薄膜寬度方向一側的第1X射線照射裝置51照射X射線的第1X射線照射範圍的薄膜寬度方向另一側的端部被設定在第1檢查範圍WA1與非檢查範圍WB之交界部，該交界部為第1交界部PB1，且供從薄膜寬度方向另一側的第2X射線照射裝置52照射X射線的第2X射線照射範圍的薄膜寬度方向一側的端部被設定在第2檢查範圍WA2與非檢查範圍WB之交界部，該交界部為第2交界部PB2。
不受此所限，例如在非檢查範圍WB的寬度尺寸被設定成較寬幅之情況等，也可構成為：依非檢查範圍WB的寬度尺寸，使得供從薄膜寬度方向一側的第1X射線照射裝置51照射X射線的第1X射線照射範圍的薄膜寬度方向另一側的端部被設定在非檢查範圍WB內。同樣地，也可構成為：供從薄膜寬度方向另一側的第2X射線照射裝置52照射X射線的第2X射線照射範圍的薄膜寬度方向一側的端部被設定在非檢查範圍WB內。
又，上述實施形態中，從第1X射線照射裝置51照射之X射線的照射角θ(X射線在第1交界部PB1的入射角φ1)與從第2X射線照射裝置52照射之X射線的照射角θ(X射線在第2交界部PB2的入射角φ2)成為相同，但例如圖12所示的例子，在PTP薄膜25的布置於薄膜寬度方向不對稱之情況等，亦可構成為：因應PTP薄膜25的布置(非檢查範圍在薄膜寬度方向的位置等)而兩者相異。
1:PTP薄片 1a:薄片本體部 2:袋部 2a:收容空間 3:容器薄膜 4:蓋膜 5:錠劑 6:薄小片 7:騎縫線 8:縮頸部 9:標籤部 10:PTP包裝機 25:PTP薄膜 25a:中央廢料 25b:側部廢料 45:X射線檢查裝置 51:第1X射線照射裝置 52:第2X射線照射裝置 51a,52a:X射線源 51b,52b:準直器 53:X射線感測器相機 54:控制處理裝置 71:微電腦 74:畫像資料記憶裝置 H1:X射線感測器相機與PTP薄膜之距離 Ka:薄片衝切範圍 Kb:檢查區域 PB1:第1交界部 PB2:第2交界部 WA1:第1檢查範圍(X射線照射範圍) WA2:第2檢查範圍(X射線照射範圍) WB:非檢查範圍(無需檢查範圍) φ1:X射線在第1交界部的入射角 φ2:X射線在第2交界部的入射角
圖1係PTP薄片的立體圖。 圖2係PTP薄片的部分放大剖面圖。 圖3係顯示PTP薄膜的布置之概略構成圖。 圖4係PTP包裝機之概略構成圖。 圖5係顯示X射線檢查裝置的電氣構成之方塊圖。 圖6係示意顯示X射線檢查裝置的概略構成之立體圖。 圖7係顯示第1X射線照射裝置、第2X射線照射裝置、X射線感測器相機及PTP薄膜的位置關係之示意圖。 圖8係顯示檢查程序之流程圖。 圖9係顯示的SP薄片之平面圖。 圖10係顯示別的實施形態之PTP薄膜的布置之概略構成圖。 圖11係顯示別的實施形態之PTP薄膜的布置之概略構成圖。 圖12係顯示別的實施形態之PTP薄膜的布置之概略構成圖。 圖13係顯示習知的X射線檢查裝置之X射線照射裝置、X射線感測器相機及PTP薄膜的位置關係之示意圖。
2:袋部
5:錠劑
25:PTP薄膜
45:X射線檢查裝置
51:第1X射線照射裝置
52:第2X射線照射裝置
51a,52a:X射線源
53:X射線感測器相機
D1:中心軸
D2:中心軸
θ:既定角度(照射角)
PA:外側交界部
H1:X射線感測器相機與PTP薄膜之距離
H2:既定距離
PB1:第1交界部
PB2:第2交界部
WA1:第1檢查範圍(X射線照射範圍)
WA2:第2檢查範圍(X射線照射範圍)
WB:非檢查範圍(無需檢查範圍)
φ1:X射線在第1交界部的入射角
φ2:X射線在第2交界部的入射角

Claims (8)

  1. 一種檢查裝置，係為製造包裝薄片之際所用之檢查裝置，該包裝薄片為，安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位所製成，其特徵為，具備：複數個X射線照射手段，對在呈帶狀搬送的前述包裝薄膜的寬度方向複數處對應每前述包裝薄片所分別設定之複數個檢查範圍，分別可從前述第1薄膜側照射既定的X射線；拍攝手段，以包夾前述包裝薄膜和前述複數個X射線照射手段對向之方式配置在前述第2薄膜側，且具有可檢測穿透前述包裝薄膜的X射線之複數個檢測元件沿著薄膜寬度方向排列的X射線檢測手段，依序輸出前述包裝薄膜每次被搬送既定量所取得之X射線穿透畫像資料；及畫像處理手段，依據藉前述拍攝手段所取得之X射線穿透畫像資料，可執行前述包裝薄片的檢查，對在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述檢查範圍中之、設在薄膜寬度方向一側的與第1包裝薄片對應設定的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的與第2包裝薄片對應設定的第2檢查範圍之間的非檢查範圍，設定第1照射範圍與第2照射範圍之交界部，該第1照射範圍，係供從與前述第1檢查範圍對應之薄膜寬度方向一側的第1X射線照射手段照射X射線，該第2照射範圍係供從與前述第2檢查範圍對應之薄膜寬度方向另一側的第2X 射線照射手段照射X射線，前述非檢查範圍至少包含：和薄膜寬度方向一側的第1包裝薄片之標籤部對應的範圍及和薄膜寬度方向另一側的第2包裝薄片之標籤部對應的範圍中任一者，從前述第1X射線照射手段照射且穿透前述第1檢查範圍的X射線，與從前述第2X射線照射手段照射且穿透前述第2檢查範圍的X射線，在前述拍攝手段中不重疊。
  2. 如請求項1之檢查裝置，其中前述複數個X射線照射手段係配置成各自本身的中心軸與前述包裝薄膜的法線方向平行。
  3. 如請求項1之檢查裝置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜是以鋁為基材所形成者。
  4. 一種檢查裝置，係為製造包裝薄片之際所用之檢查裝置，該包裝薄片為，安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位所製成，其特徵為，具備：複數個X射線照射手段，對在呈帶狀搬送的前述包裝薄膜的寬度方向複數處對應每前述包裝薄片所分別設定之複數個檢查範圍，分別可從前述第1薄膜側照射既定的X射線；拍攝手段，以包夾前述包裝薄膜和前述複數個X射線照射手段對向之方式配置在前述第2薄膜側，且具有可檢測穿透前述包裝薄膜的X射線之複數個檢測元件沿著薄膜寬度方向排列的X射線檢測手段，依序輸出前述包裝薄膜每次被搬送既定量所 取得之X射線穿透畫像資料；及畫像處理手段，依據藉前述拍攝手段所取得之X射線穿透畫像資料，可執行前述包裝薄片的檢查，對在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述檢查範圍中之、設在薄膜寬度方向一側的與第1包裝薄片對應設定的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的與第2包裝薄片對應設定的第2檢查範圍之間的非檢查範圍，供從與前述第1檢查範圍對應之薄膜寬度方向一側的第1X射線照射手段照射X射線之第1照射範圍的薄膜寬度方向另一側的端部，被設定在前述第1檢查範圍與前述非檢查範圍之交界部，該交界部為第1交界部，且，供從與前述第2檢查範圍對應之薄膜寬度方向另一側的第2X射線照射手段照射X射線之第2照射範圍的薄膜寬度方向一側的端部，被設定在前述第2檢查範圍與前述非檢查範圍之交界部，該交界部為第2交界部，前述非檢查範圍至少包含：和薄膜寬度方向一側的第1包裝薄片之標籤部對應的範圍及和薄膜寬度方向另一側的第2包裝薄片之標籤部對應的範圍中任一者，前述第1X射線照射手段及前述第2X射線照射手段以及前述拍攝手段，係配置成滿足下式(α)的關係，H1≦R/(tanφ1+tanφ2)...(α)此處，H1：包裝薄膜與拍攝手段之距離，φ1：從第1X射線照射手段照射的X射線對第1交界部的 入射角，φ2：從第2X射線照射手段照射的X射線對第2交界部的入射角，R：非檢查範圍在薄膜寬度方向的寬度。
  5. 如請求項4之檢查裝置，其中前述複數個X射線照射手段係配置成各自本身的中心軸與前述包裝薄膜的法線方向平行。
  6. 如請求項4之檢查裝置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜是以鋁為基材所形成者。
  7. 一種包裝薄片製造裝置，其特徵為，具備如請求項1至6中任一項之檢查裝置。
  8. 一種包裝薄片製造方法，係製造包裝薄片之包裝薄片製造方法，該包裝薄片為，安裝包含不透明材料之帶狀的第1薄膜及包含不透明材料之帶狀的第2薄膜，並製造在該兩薄膜間所形成的收容空間內收容有錠劑而成之帶狀的包裝薄膜，再將該包裝薄膜的寬度方向複數處切離成薄片單位所製成，其特徵為，具備：安裝工程，安裝呈帶狀搬送的前述第1薄膜及呈帶狀搬送的前述第2薄膜；充填工程，對形成在前述第1薄膜與前述第2薄膜之間的前述收容空間內充填前述錠劑；切離工程，安裝前述第1薄膜及前述第2薄膜且從前述收容空間內收容有前述錠劑之帶狀的前述包裝薄膜，切離前述包裝薄片；及 檢查工程，可執行前述包裝薄片的檢查，前述檢查工程中具備：照射工程，對在呈帶狀搬送的前述包裝薄膜的寬度方向複數處對應每前述包裝薄片所分別設定之複數個檢查範圍，分別從既定的X射線照射手段照射既定的X射線；拍攝工程，藉由以包夾前述包裝薄膜與前述X射線照射手段對向之方式配置的既定的拍攝手段，將檢測穿透前述包裝薄膜的X射線所取得之X射線穿透畫像資料按每次前述包裝薄膜被搬送既定量作輸出；及良否判定工程，依據藉前述拍攝所取得之X射線穿透畫像資料，進行和前述包裝薄片有關的良否判定，對在前述包裝薄膜的寬度方向相鄰的2個前述檢查範圍中之、設於薄膜寬度方向一側的與第1包裝薄片對應設定的第1檢查範圍與薄膜寬度方向另一側的與第2包裝薄片對應設定的第2檢查範圍之間的非檢查範圍，設定第1照射範圍與第2照射範圍之交界部，該第1照射範圍係供從與前述第1檢查範圍對應的薄膜寬度方向一側的第1X射線照射手段照射X射線，該第2照射範圍係供從與前述第2檢查範圍對應的薄膜寬度方向另一側的第2X射線照射手段照射X射線，前述非檢查範圍至少包含：和薄膜寬度方向一側的第1包裝薄片之標籤部對應的範圍及和薄膜寬度方向另一側的第2包裝薄片之標籤部對應的範圍中任一者，作成從前述第1X射線照射手段照射且穿透前述第1檢查範 圍的X射線，與從前述第2X射線照射手段照射且穿透前述第2檢查範圍的X射線在前述拍攝手段中不重疊。
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