TWI611195B - 電子部件測試用分選機 - Google Patents

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Abstract

本發明關於電子部件測試用分選機。本發明的電子部件測試用分選機包括：加載裝置，用於將待測試的複數個電子部件從供給用托盤加載至測試托盤；連接裝置，用於使裝載於上述測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，用於從測試托盤卸載完成測試的複數個電子部件並使電子部件向回收用托盤移動；以及緩衝裝置，具有能夠在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動的緩衝台。而且，根據需要，緩衝裝置使上述緩衝台在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動，從而使上述緩衝台靈活應用於藉助上述加載裝置進行的加載工作和藉助上述卸載裝置進行的卸載工作。

Description

電子部件測試用分選機
本發明關於一種用於測試被生產的電子部件的電特性的分選機(handler)。尤其，關於在分選機進行的電子部件的移動技術。
半導體元件或模組記憶體等複數個電子部件在生產後，經過電特性測試後發貨。此時，需要使用將待測試電子部件與測試器電連接的分選機。
一般而言，分選機包括測試托盤、第一堆垛機、加載裝置、連接裝置、卸載裝置及第二堆垛機。
測試托盤沿著經過加載位置、測試位置以及卸載位置後再連接至加載位置的循環路徑而循環。
第一堆垛機用於收納裝載複數個有待測試的電子部件的複數個供給用托盤。藉由依次將收納於這種第一堆垛機的供給用托盤供給至供給位置，使藉助加載裝置的加載工作順利進行。
加載裝置用於將複數個待測試的電子部件從供給用托盤加載至位於加載位置的測試托盤。
連接裝置在當藉助加載裝置使對複數個電子部件完成 加載的測試托盤到達測試位置時，使裝載於測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接。
卸載裝置用於在測試位置完成對被裝載的複數個電子部件的測試後，從到達卸載位置的測試托盤卸載複數個電子部件，根據測試結果進行分類並向回收用托盤移動。
第二堆垛機用於收納對完成測試的複數個電子部件進行回收的複數個回收用托盤。這種複數個回收用托盤通過依次供給至回收位置，使藉助卸載裝置的卸載工作順利進行。
但是，如韓國公開專利第10-2009-0063542號，完成一次測試後分類為再測試的複數個電子部件，重新供給至分選機需要經過二次再測試(Retest)過程。此時，裝載於回收用托盤的分類為再測試的複數個電子部件由作業者手動供給至分選機。
因此，一次測試與二次再測試之間的分選機的運轉被終止，這使分選機的運行率下降。
另一方面，如韓國公開專利第10-2009-0008062號等，為幫助藉助加載裝置的適當的加載工作，在分選機中設置緩衝台。
一般而言，緩衝台藉助位於測試器的測試插座的關閉等，可臨時裝載在加載時有必要臨時去除的電子部件。由此，加載工作變得順利，加載速度得到提高。其中，關閉為熄滅(OUT)測試插座，對於特定測試插座是否為關閉的物件，可根據設計者的意圖改變。例如，在特定測試插座 出現設定次數以上的非正常判斷的情況下，可設定為關閉該測試插座。而且，在具有關閉的測試插座的情況下，面對測試托盤的相應測試插座的位置上不裝載電子部件，而是將待裝載於該位置的電子部件集合起來，在集合到一定量時搬至測試托盤。本發明關於這種緩衝台的靈活應用。
本發明的第一目的在於，提供藉由靈活應用緩衝台來使加載工作、卸載工作及再測試作業順利進行。
本發明的第二目的在於，提供藉由個別識別電子部件來正確把握靈活應用緩衝台的電子部件的流程的技術。
根據本發明的第一實施方式的電子部件測試用分選機包括：測試托盤，沿著經過加載位置、測試位置以及卸載位置後再連接至加載位置的循環路徑而循環；加載裝置，用於將待測試的複數個電子部件從供給用托盤加載至位於上述加載位置的上述測試托盤；連接裝置，當藉助上述加載裝置使對複數個電子部件完成加載的測試托盤到達上述測試位置時，使裝載於上述測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，在上述測試位置完成對被裝載的複數個電子部件的測試後，從到達上述卸載位置的上述測試托盤卸載複數個電子部件，根據測試結果進行分類並向回收用托盤移動；以及緩衝裝置，具有能夠在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動的緩 衝台，根據需要，上述緩衝裝置使上述緩衝台在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動，從而使上述緩衝台靈活應用於藉助上述加載裝置進行的加載工作和藉助上述卸載裝置進行的卸載工作。
上述卸載裝置將按測試結果再測試來分類的特定電子部件裝載於位於上述卸載裝置的工作區域的上述緩衝台，上述加載裝置使從上述卸載裝置的工作區域向上述加載裝置的工作區域移動的上述緩衝台上的特定電子部件向位於上述加載位置的測試托盤移動。
上述電子部件測試用分選機還包括：第一堆垛機，用於收納裝載有複數個待測試電子部件的複數個供給用托盤；以及第二堆垛機，用於收納對完成測試的複數個電子部件進行回收的複數個回收用托盤，上述第二堆垛機包括：升降框架，能夠以相互留有規定間隔的方式沿著上下方向裝載複數個回收用托盤；升降器，用於使上述升降框架升降；以及複數個進退器，使裝載於上述升降框架的複數個回收用托盤選擇性地進退，從而使複數個回收用托盤位於回收位置或退回至收納位置。
根據本發明的第二實施方式的電子部件測試用分選機包括：測試托盤，沿著經過加載位置、測試位置以及卸載位置後再連接至循環路徑循環；加載裝置，用於將待測試的複數個電子部件從供給用托盤加載至位於上述加載位置的上述測試托盤；連接裝置，當藉助上述加載裝置使對複數個電子部件完成加載的測試托盤到達上述測試位置時， 使裝載於上述測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，在上述測試位置完成對被裝載的複數個電子部件的測試後，從到達上述卸載位置的上述測試托盤卸載複數個電子部件，根據測試結果進行分類並向回收用托盤移動；以及識別裝置，用於識別藉助上述加載裝置加載至位於上述加載位置的上述測試托盤的複數個電子部件，上述加載裝置將使所把持的複數個電子部件經過上述識別裝置向位於上述加載位置的上述測試托盤移動，使得能夠藉助上述識別裝置識別所把持的複數個電子部件，上述識別裝置包括：攝像頭，用於拍攝印刷於電子部件的條形碼；以及讀取器，用於讀取藉助上述攝像頭拍攝的圖片上的條形碼。
上述識別裝置還包括反射鏡，與上述攝像頭相對應，將印刷於電子部件的條形碼反射至上述攝像頭。
上述加載裝置在把持電子部件的狀態下，識別條形碼。
上述識別裝置還包括異物去除機構，用於去除電子部件的異物。
上述加載裝置能夠把持複數個電子部件，上述識別裝置用於識別與處於被上述加載裝置把持的狀態下的複數個電子部件的條形碼。
上述讀取器還藉由藉助上述攝像頭拍攝的圖片一併讀取上述電子部件的裝載方向。
藉助上述識別裝置一同進行條形碼的識別與電子部件裝載方向的讀取。
根據如上所述的本發明，具有以下效果。
第一，由於將緩衝台均靈活應用於加載工作、卸載工作及再測試作業，使得以最少追加的結構來最優化電子部件的移動流程，從而具有最終可大大提高分選機的運行率的效果。
第二，藉由使用識別裝置來個別識別電子部件，從而可支援利用緩衝台的電子部件的移動流程。
第三，識別裝置通過追加識別電子部件的識別功能，來獲得電子部件的裝載方向的讀取功能及電子部件的異物去除功能，從而可實現識別裝置的有效利用及設計。
100‧‧‧電子部件測試用分選機(分選機)
110‧‧‧第一堆垛機
120‧‧‧加載裝置
130‧‧‧加載用緩衝板
140‧‧‧識別裝置
150‧‧‧連接裝置
160‧‧‧卸載裝置
170‧‧‧卸載用緩衝板
190‧‧‧緩衝裝置
181~183‧‧‧第二堆垛機
181a‧‧‧升降器
181b‧‧‧升降框架
181c‧‧‧進退器
191‧‧‧緩衝台
192‧‧‧移動器
193‧‧‧導軌
B‧‧‧條形碼
C‧‧‧循環路徑
D‧‧‧電子部件
L‧‧‧流路
M‧‧‧反射鏡
BR‧‧‧條形碼閱讀器
BZ‧‧‧緩衝區域
CM‧‧‧攝像頭
DA‧‧‧讀取器
DP1~DP3‧‧‧回收位置
DS‧‧‧方向槽
DT‧‧‧回收用托盤
DTa、DTb‧‧‧回收用托盤
LP‧‧‧加載位置
RP‧‧‧識別位置
SP‧‧‧供給位置
ST‧‧‧供給用托盤
TT‧‧‧測試托盤
TP‧‧‧測試位置
UP‧‧‧卸載位置
WP‧‧‧等候位置
圖1為根據本發明的一實施例的電子部件測試用分選機的概念性俯視圖。
圖2及圖3為用於說明適用於圖1的分選機的識別裝置的圖示。
圖4為與待測試電子部件相關的例示。
圖5為與適用於圖1的分選機的緩衝裝置相關的簡要俯視圖。
圖6為用於說明適用於圖1的分選機的加載用緩衝板/卸載用緩衝板與緩衝台之間的高度差的圖示。
圖7及圖8為用於說明在適用於分選機的第二堆垛機使回收用托盤位於回收位置的技術的圖示。
圖9至圖11為示出用於拍攝電子部件的條形碼的例 示。
如上所述，根據本發明的複數個較佳實施例藉由參照圖式來說明，但為說明的簡潔性，儘量省略或壓縮重複的說明。
圖1為根據本發明的一實施例的電子部件測試用分選機100(以下簡稱為“分選機”)的概念性俯視圖。
圖1的分選機包括測試托盤TT、第一堆垛機110、加載裝置120、加載用緩衝板130、識別裝置140、連接裝置150、卸載裝置160、卸載用緩衝板170、第二堆垛機181、第二堆垛機182、第二堆垛機183及緩衝裝置190。
測試托盤TT，沿著經過加載位置LP、測試位置TP及卸載位置UP後再連接至加載位置LP的循環路徑C而循環。這種測試托盤TT用於連接加載位置LP、測試位置TP及卸載位置UP的電子部件的移動。亦即，複數個電子部件在加載位置LP以裝載於測試托盤TT的狀態，經過測試位置TP後，移動至卸載位置UP。
在第一堆垛機110中，收納有裝載複數個待測試電子部件的複數個供給用托盤ST。收納於這種第一堆垛機110的複數個供給用托盤ST藉由依次供給至供給位置SP，可使藉助加載裝置120的加載工作順利進行。這種第一堆垛機110可由作業者直接將供給用托盤ST裝載的結構構成，也可由複數個供給用托盤ST收容裝載的台車的結構構成。
作為參照，在供給位置SP的上側或供給用托盤ST在進入供給位置SP之前等候的等候位置WP的上側可設置有攝像頭CM。在此情況下，由於可通過攝像頭CM預先確認裝載於供給用托盤ST的複數個電子部件D的裝載與否(裝載位置或數量)，可適當控制加載裝置120。當然，由於供給位置SP屬於加載裝置120的工作區域，較佳地，如本實施例，在等候位置WP的上方設置攝像頭CM。
加載裝置120使複數個待測試電子部件從位於供給位置SP的供給用托盤ST加載至位於加載位置LP的測試托盤TT。
根據需求加載用緩衝板130用於臨時裝載複數個待測試電子部件。這種加載用緩衝板130為固定設置。因此，上述加載裝置120根據控制情況執行以下作業，亦即，將把持的複數個電子部件裝載於加載用緩衝板130，或將裝載於加載用緩衝板130的複數個電子部件移動至位於加載位置LP的測試托盤TT。
識別裝置140用於識別在藉助加載裝置120處於把持狀態下，從供給位置SP移動至加載位置LP的過程的複數個電子部件。這種識別裝置140只要是能夠個別識別複數個電子部件即可。因此，可由條形碼閱讀器或攝像頭組成，在這種情況下，需要在電子部件印刷有可由條形碼或攝像頭識別的識別碼。而且，在平面俯視時，加載裝置120以將把持的複數個電子部件經過設置有識別裝置140的識別位置RP後移動至位於加載位置LP的測試托盤TT的方式 控制，使得藉助識別裝置140識別電子部件。並且，為此有必要時，可將加載裝置120把持的複數個電子部件暫時停止在識別位置RP，進而，在識別位置RP或多或少進退複數個電子部件，從而藉助識別裝置140正確識別的電子部件。
在圖2中示出與識別裝置140有關的一例。識別裝置140由四個條形碼閱讀器BR構成，四個條形碼閱讀器BR以規定間隔隔開。這種條形碼閱讀器BR可為攝像頭，並具有通過反射鏡M來拍攝條形碼B的結構。當然，加載裝置120可以相互隔開的狀態同時把持四個電子部件D，電子部件D的側面需要印刷條形碼。在圖2的例中，加載裝置120可將把持的四個電子部件D暫時下降，如圖3所示，將複數個電子部件D放置於複數個反射鏡M後，為正確識別條形碼，將複數個電子部件D或多或少的向前後方向進退，使複數個條形碼閱讀器BR識別複數個電子部件D的條形碼。當然，當完成藉助複數個條形碼閱讀器BR的識別條形碼時，讀取器DA讀取藉助條形碼閱讀器BR拍攝的圖片上的條形碼。在如本實施例的條形碼閱讀器BR為攝像頭的情況下，讀取器DA可藉由條形碼是否反映到圖片來確認電子部件D的裝載方向，也可通過靈活應用整體圖片來讀取條形碼以外的區域的形態(圖4的方向槽形態等)，從而確認電子部件D的裝載方向。
並且，在識別裝置140形成有用於向電子部件D吹入風的流路L。因此，由於可通過流路L向電子部件D吹入 風，可拂出電子部件D的異物。亦即，流路L具有作為用於去除電子部件D的異物的異物去除機構的功能。當然，也可以利用吸引或拂具(刷子)拂出異物的結構構成。而且，在吸引的情況下，需要另外設置捕集異物的空間。
在本實施例中，識別裝置140可同時識別四個電子部件D，加載裝置120也可由同時移動四個電子部件D的結構構成，但可根據實施儘管增加或減少識別數量或移動數量。
作為參照，在本實施例中，利用由攝像頭構成的條形碼閱讀器BR與反射鏡M來讀取電子部件的條形碼和確認電子部件的裝載方向，但可根據具體實施可通過將兩個功能分為相互不同的結構來執行。例如，在如圖4所示的電子部件D中形成有複數個方向槽DS。這種複數個方向槽DS可使用於讀取電子部件D的裝載方向。亦即，藉由利用發光元件和受光元件，藉助發光元件朝向方向槽DS照射的光是否藉助受光元件識別，來讀取電子部件D的裝載方向。而且，電子部件D的條形碼可由攝像頭或閱讀器識別。
當藉助加載裝置120完成加載複數個電子部件的測試托盤TT到達測試位置TP時，連接裝置150將裝載於測試托盤TT的複數個電子部件與測試器電連接。
卸載裝置160將在裝載測試位置TP裝載的複數個電子部件完成測試後，從到達卸載位置UP的測試托盤TT卸載複數個電子部件，按照測試結果對其分類，並移動至位 於回收位置DP1至回收位置DP3的回收用托盤DT。
根據需求卸載用緩衝板170用於臨時裝載完成測試的複數個電子部件。這種卸載用緩衝板170為固定設置。因此，上述卸載裝置160根據控制情況執行以下作業，亦即，將在卸載位置UP或回收位置DP1至回收位置DP3把持的複數個電子部件裝載於卸載用緩衝板170，或將裝載於卸載用緩衝板170的複數個電子部件移動至位於回收位置DP1至回收位置DP3的回收用托盤DT。
第二堆垛機181、第二堆垛機182、第二堆垛機183收納用於回收完成測試的複數個電子部件的複數個回收用托盤DT。這種複數個回收用托盤DT通過依次供給至回收位置DP1至回收位置DP3，使得藉助卸載裝置160的卸載工作順利進行。其中，如圖7所示，在元件符號為181的第二堆垛機中收納裝載有判斷為不良的電子部件的回收用托盤DTb，或收納裝載有判斷為再測試的電子部件的回收用托盤DTa。而且，在元件符號為182及元件符號為183的第二堆垛機中，收納裝載有判斷為良好的電子部件的回收用托盤DT。
緩衝裝置190用於說明藉助加載裝置120及卸載裝置160的電子部件的適當移動，如圖5所示，包括緩衝台191、移動器192及導軌193。
緩衝台191可在加載裝置120的工作區域A與卸載裝置160的工作區域B之間移動。根據需求可在這種緩衝台191臨時裝載待測試電子部件，或臨時裝載完成測試的複 數個電子部件中被分類為在測試的電子部件。亦即，緩衝台191由於可選擇性位於加載裝置120的工作區域A與卸載裝置160的工作區域B，可防止加載裝置120和卸載裝置160的干涉，並根據需求靈活應用於藉助加載裝置120的加載工作和藉助卸載裝置160的卸載工作。當然，在靈活應用於加載過程的情況下，緩衝台191移動至加載裝置120一側，在靈活應用於卸載過程的情況下，緩衝台191移動至卸載裝置160一側。另外，可充分考慮設計加載裝置120與卸載裝置160相互共用的共用空間，代替將緩衝台191固定在相應共用空間或停止在相應共用空間，通過精密控制加載裝置120和卸載裝置160的工作，使得在共用空間不發生相互衝突干涉。
移動器192使緩衝台191選擇性位於加載裝置120的工作區域A與卸載裝置160的工作區域B。亦即，移動器192為避開加載裝置120與卸載裝置160相互間的工作干涉，可使加載裝置120的工作區域A與卸載裝置160的工作區域B分離。當然，雖然基本設計方針為根據工作錯誤來防止加載裝置120與卸載裝置160之間的干涉，但如上所述，根據情況使加載裝置120與卸載裝置160相互共用工作區域，可設置固定於相應共用區域的緩衝台191，在此情況下，通過控制可防止加載裝置120與卸載裝置160的衝突干涉。
另一方面，緩衝台191如在側面觀察的圖6所示，位於相比加載用緩衝板130和卸載用緩衝板170上方的位 置。因此，當俯視時，緩衝台191可與加載用緩衝板130或卸載用緩衝板170重疊。因為，可通過最小化加載裝置120和卸載裝置160的工作距離，來具有驅動的效率性和穩定性。亦即，由於緩衝台191可位於相比加載用緩衝板130和卸載用緩衝板170上方的位置，因此可容易設計出防止加載裝置120和卸載裝置160的工作區域的重疊，也可最小化藉助加載裝置120和卸載裝置160的電子部件的移動距離。
導軌193用於引導緩衝台191的左右移動。
繼續參照圖1，可知第一堆垛機110位於左側前方，第二堆垛機181、第二堆垛機182、第二堆垛機183配置於第一堆垛機110的右側且前方。而且，在第一堆垛機110及第二堆垛機181、第二堆垛機182、第二堆垛機183與加載位置LP及卸載位置UP之間配置有緩衝區域BZ。這種緩衝區域BZ包括加載用緩衝板130、卸載用緩衝板170及緩衝台191。而且，在加載用緩衝板130的左側設置有識別裝置140。
以下，對於如上所述的分選機100進行說明。
基本工作
將位於第一堆垛機110的複數個供給用托盤ST依次供給至供給位置SP。
加載裝置120在同時把持四個電子部件後，將把持的複數個電子部件經過識別位置RP移動至位於加載位置LP的測試托盤TT。在此過程中，當電子部件位於識別位置 RP時，通過流路L向電子部件的兩側面吹入風來拂出異物後，藉助條形碼閱讀器BR對於加載裝置120所把持的複數個電子部件進行個別識別。當然，在識別的同時也判斷複數個電子部件的裝載方向。其中，拂出異物的作業、識別作業及與裝載方向有關的判斷作業順序進行的作業可根據需求隨意變換，也可同時進行識別作業和判斷作業。另一方面，在此過程中，加載裝置120在把持四個電子部件的狀態下，識別條形碼和判斷電子部件的裝載方向。若以將複數個電子部件放在另外的托盤或梭子後識別條形碼的結構構成，則雖可讀取條形碼，但由於可確認裝載方向的部分插入於托盤或梭子，而難以確認裝載方向。並且，即使在裝載於托盤或梭子的狀態下一定程度上能夠確認裝載方向，其前提必須為電子部件正確地插入於托盤或梭子上。亦即，電子部件相對於托盤或梭子傾斜的方式安裝，或偏向一側的方式安裝，或在未完全插入的情況下，條形碼識別位置或裝載方向判斷位置每次都有改變，因此，降低其正確性。而且，可發生需要確認非正常裝載狀態，處理相應錯誤等的問題。因此，在本實施例中，加載裝置120在把持電子部件的狀態下，進行識別條形碼和判斷電子部件的裝載方向的作業。
進而，在本實施例中，並非逐個識別加載裝置120所把持的電子部件的條形碼，而是同時識別四個(至少兩個以上)電子部件。亦即，在可把持兩個以上剩餘電子部件的狀態下，通過識別裝置140同時進行識別條形碼和判斷電子 部件的裝載方向。
另一方面，分析被識別的條形碼的資料用於確認按電子部件的識別字和與相應電子部件有關的資訊。因此，可根據已輸入的資訊，確認相應電子部件在何種生產條件下生產。
作為參照，按電子部件的識別字和與電子部件有關的資訊傳送至測試器一側，在測試器一側通過將特定電子部件的測試結果與特定電子部件的識別字相連接來儲存。而且，測試器將與特定半導體元件的測試結果有關的資訊傳送至分選機100。由此，分選機通過將測試器傳來的與測試結果有關的資訊與特定電子部件的識別字相連接來記錄及儲存。由此，分選機可個別管理複數個電子部件。當然，記錄及儲存的資訊時候可靈活應用於電子部件的再測試，在進行再測試的情況下，可將再測試結果也作為履歷來管理。
作為參照，藉由個別識別複數個電子部件，可對於相應電子部件，藉由在預先提供的履歷中捆綁相應電子部件的測試結果來記錄。因此，可實現每個電子部件的個別履歷管理。
當完成在位於加載位置LP的測試托盤TT上裝載複數個電子部件時，利用位於加載位置LP一側的雷射和攝像頭確認複數個電子部件的裝載狀態。而且，藉助未圖示的移送裝置測試托盤TT從加載位置LP移送至測試位置TP。
在測試位置TP中，裝載於測試托盤TT的複數個電子 部件藉助連接裝置150與測試器電連接，之後進行藉助測試器進行的複數個電子部件的電特性測試。
當被裝載的複數個電子部件測試結束後，測試托盤TT藉助未圖示的移送裝置從測試位置TP移送至卸載位置UP。
卸載裝置160將裝載於位於卸載位置UP的測試托盤TT的複數個電子部件進行卸載，並根據測試結果分類移動至位於回收位置DP1至回收位置DP3的回收用托盤DT。當然，位於第二堆垛機181、第二堆垛機182、第二堆垛機183的回收用托盤DT也依次供給至回收位置DP1至回收位置DP3。
當結束上述第一基本時，進行作為靈活應用後述的緩衝台191的再測試工作的第二工作。
接下來將說明在加載過程、卸載過程及再測試過程中貢獻的加載用緩衝板130、卸載用緩衝板170及緩衝台191的功能。
加載過程
加載用緩衝板130和緩衝台191可在加載過程中使用。
例如，在供給用托盤ST裝載有50個電子部件，在加載裝置120可同時把持四個電子部件的情況下，當位於供給用托盤ST的48個電子部件移動至測試托盤TT時，僅有兩個電子部件留在供給用托盤ST。在此情況下，加載裝置120通過把持剩餘兩個電子部件來經過識別過程後移動至測試托盤TT，但在本實施例中，為增大作業效率，將剩 餘兩個電子部件裝載於加載用緩衝板130後，首先執行將在供給位置SP新供給的供給用托盤ST的複數個電子部件移動至位於加載位置LP的測試托盤TT的作業。以此，進行將在規定週期剩下的兩個電子部件裝載於加載用緩衝板130的作業，在裝載於加載用緩衝板130的複數個電子部件為四個以上時，將四個作為一組來執行一同識別條形碼、移動至測試托盤TT的作業。而且，在發生位於測試器的測試插座被關閉(socket-off)等狀況的情況下，也可作為用於裝載加載被保留的電子部件的用途來靈活應用加載用緩衝板130。當然，加載裝置120可此後必要的事後，通過把持四個裝載於加載用緩衝板130的複數個電子部件來移動至位於加載位置LP的測試托盤TT。在此過程中，複數個電子部件的順序會有所改變，但由於藉助識別裝置140個別管理複數個電子部件，因此不需要考慮複數個電子部件的順序的改變。
另一方面，在加載工作中，加載用緩衝板130保留可收容的數量以上的電子部件的情況下，靈活應用緩衝台191。因此，當加載用緩衝板130中填充滿電子部件時，通過緩衝台191移動至加載裝置120的工作區域A來說明藉助加載裝置120的加載工作。
作為參考，當位於加載位置LP的測試托盤TT完成加載電子部件時，可進行利用雷射和攝像頭來確認電子部件是否適當裝載於測試托盤TT的過程。
卸載過程
卸載用緩衝板170和緩衝台191可在卸載過程中使用。
例如，在卸載裝置160把持從位於卸載位置UP的測試托盤TT判斷為良好的複數個電子部件的情況下，將複數個電子部件移動至位於第二回收位置DP2或第三回收位置DP3的回收用托盤DT。但是，例如，在把持的複數個電子部件中一個為不良判斷、一個為再測試判斷、兩個為良好判斷的情況下，將判斷為不良的一個電子部件裝載於卸載用緩衝板170，判斷為再測試的一個電子部件裝載於緩衝台191後，將判斷為良好的兩個電子部件移動至位於第二回收位置DP2或第三回收位置DP3的回收用托盤DT。
以下為說明在卸載過程中進行的再測試數量的處理方法。
判斷為再測試的數量少的情況
當因判斷為再測試的數量少而在緩衝台191可裝載全部的再測試的數量時，在結束所有與複數個電子部件有關的一次測試後，將位於卸載裝置160的工作區域B的現有緩衝台191移動至加載裝置120的工作區域A。而且，通過加載裝置120的工作，將再測試數量從緩衝台191移動至位於加載位置LP的測試托盤TT。當然，位於加載位置LP的再移動至測試托盤TT的複數個電子部件與測試托盤TT一同移動，並經過再測試過程。因此，緩衝區域BZ可命名為將判斷為再測試的電子部件藉助緩衝台191再移動至加載位置LP的返回區域(return zone)。
判斷為再測試的數量多的情況
當在一次測試過程中，因判斷為再測試的數量相比緩衝台191的裝載容量多而使緩衝台191被填充滿，或考慮到緩衝台191與加載裝置120間的相互依賴關係，填充緩衝台191的裝載量的固定百分比(%)時，卸載裝置160將判斷為再測試的複數個電子部件從緩衝台191移動至現在供給到第一回收位置DP1的回收用托盤DT。而且，此後裝載於回收用托盤DT的再測試數量藉助卸載裝置160移至卸載用緩衝板170後，再移動至緩衝台191，藉助加載裝置120依次經過加載用緩衝板130及緩衝台191後再移動至位於加載位置LP的測試托盤TT。當然，在這種再測試數量的移動流程中，根據再測試數量的程度可選擇性省略加載用緩衝板130或卸載用緩衝板170的使用。
另一方面，為再測試數量的適當移動流程，較佳地，在第一回收位置DP1選擇性設置用於裝載再測試數量的回收用托盤DT和用於裝載不良數量的回收用托盤DT。例如，如圖7及圖8的側面圖所示，第二堆垛機181包括升降器181a、升降框架181b、複數個進退器181c。
升降器181a用於升降升降框架181b。
在升降框架181b可以相互隔開固定間距的方式向上下方向裝載複數個回收用托盤DTa、回收用托盤DTb。
複數個進退器181c使複數個回收用托盤DT向前後方向選擇性進退，從而使複數個回收用托盤DTa、回收用托盤DTb位於回收位置DP1或退回至收納位置。
因此，由於第二堆垛機181的複數個回收用托盤 DTa、回收用托盤DTb升降並選擇性移動至第一回收位置DP1，用於裝載再測試數量的回收用托盤DTa和用於裝載不良數量的回收用托盤DTb可選擇性位於回收位置DP1。
如上所述，雖然在加載過程、卸載過程及再測試過程中觀察了加載用緩衝板130、卸載用緩衝板170及緩衝台191的作用，但這不過為單純的部分例示。亦即，根據如何控制加載裝置120、卸載裝置160、緩衝裝置190來使電子部件的移動流程變得多樣，加載用緩衝板130、卸載用緩衝板170及緩衝台191對於電子部件的移動流程的貢獻也會有所改變。
識別條形碼結構的多種例
在上述例中，將在電子部件的一側面(前部面或後部面)印刷有條形碼的情況舉為例，但如圖9所示，條形碼B可印刷於電子部件D的前部面和後部面。在此情況下，有必要讀取位於電子部件D的兩面的全部條形碼B。由此，兩個電子部件D之間設置兩個條形碼閱讀器BR(可為攝像頭)。
另一方面，圖10為在兩個電子部件D之間設置兩個反射鏡M，從而以一個攝像頭CM同時拍攝分別印刷於電子部件D兩側的條形碼B的例。在這種圖10的結構中，將條形碼B反射至攝像頭CM一側的相鄰的兩個反射鏡M與一個攝像頭CM對應，因此，相應攝像頭CM同時拍攝兩個反射鏡M反射的印刷於相鄰的電子部件D的兩個條形碼B。
如上所述，多種條形碼識別結構用於本發明在藉助加載裝置120把持的狀態下，同時執行與複數個電子部件相關的條形碼的識別。例如，當電子部件被橫放、條形碼向平面方向暴露時，可以一個攝像頭可同時識別複數個條形碼，但在如本發明的加載裝置120以站立狀態把持複數個的電子部件的情況下，無法以一個攝像頭同時識別複數個條形碼。若逐個識別條形碼，則使處理變得複雜，處理時間也會變長，因此，需要如上所述的多種條形碼識別結構。
當然，如圖11所示，也可充分考慮通過使複數個電子部件D的條形碼B以固定角度傾斜的方式配置複數個攝像頭CM，從而同時識別與藉助加載裝置120把持的複數個電子部件有關的複數個條形碼的結構。
如上所述，本發明雖然通過參照圖式的實施例來進行了說明，但上述實施例僅為用於說明本發明的較佳例，因此，本發明不局限於上述實施例，本發明的發明要求保護範圍應理解為本發明的發明要求保護範圍及其等同概念。
120‧‧‧加載裝置
140‧‧‧識別裝置
B‧‧‧條形碼
D‧‧‧電子部件
L‧‧‧流路
M‧‧‧反射鏡
BR‧‧‧條形碼閱讀器
DA‧‧‧讀取器

Claims (10)

  1. 一種電子部件測試用分選機，包括：測試托盤，沿著經過加載位置、測試位置及卸載位置後再連接至加載位置的循環路徑循環；加載裝置，用於將待測試的複數個電子部件從供給用托盤加載至位於前述加載位置的前述測試托盤；連接裝置，當藉助前述加載裝置使對複數個電子部件完成加載的測試托盤到達前述測試位置時，使裝載於前述測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，在前述測試位置完成對被裝載的複數個電子部件的測試後，從到達前述卸載位置的前述測試托盤卸載複數個電子部件，根據測試結果進行分類並向回收用托盤移動；以及緩衝裝置，具有能夠在前述加載裝置的工作區域與前述卸載裝置的工作區域之間移動的緩衝台；根據需要，前述緩衝裝置使前述緩衝台在前述加載裝置的工作區域與前述卸載裝置的工作區域之間移動，從而使前述緩衝台靈活應用於藉助前述加載裝置進行的加載工作和藉助前述卸載裝置進行的卸載工作。
  2. 如請求項1所記載之電子部件測試用分選機，其中前述卸載裝置將按測試結果再測試來分類的特定電子部件裝載於位於前述卸載裝置的工作區域的前述緩 衝台；前述加載裝置使從前述卸載裝置的工作區域向前述加載裝置的工作區域移動的前述緩衝台上的特定電子部件向位於前述加載位置的測試托盤移動。
  3. 如請求項1所記載之電子部件測試用分選機，其進一步包括：第一堆垛機，用於收納裝載有複數個待測試電子部件的複數個供給用托盤；以及第二堆垛機，用於收納對完成測試的複數個電子部件進行回收的複數個回收用托盤；前述第二堆垛機包括：升降框架，能夠以互相留有規定間隔的方式沿著上下方向裝載複數個回收用托盤；升降器，用於使前述升降框架升降；以及複數個進退器，使裝載於前述升降框架的複數個回收用托盤選擇性地進退，從而使複數個回收用托盤位於回收位置或退回至收納位置。
  4. 一種電子部件測試用分選機，包括：測試托盤，沿著經過加載位置、測試位置及卸載位置後再連接至加載位置的循環路徑循環；加載裝置，用於將待測試的複數個電子部件從供給用托盤加載至位於前述加載位置的前述測試托盤；連接裝置，當藉助前述加載裝置使對複數個電子部件完成加載的測試托盤到達前述測試位置時，使裝 載於前述測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，在前述測試位置完成對被裝載的複數個電子部件的測試後，從到達前述卸載位置的前述測試托盤卸載複數個電子部件，根據測試結果進行分類並向回收用托盤移動；以及識別裝置，用於識別藉助前述加載裝置加載至位於前述加載位置的前述測試托盤的複數個電子部件；前述加載裝置使所把持的複數個電子部件經過前述識別裝置向位於前述加載位置的前述測試托盤移動，使得能夠藉助前述識別裝置識別所把持的複數個電子部件；前述識別裝置包括：攝像頭，用於拍攝印刷於電子部件的條形碼；以及讀取器，用於讀取藉助前述攝像頭拍攝的圖片上的條形碼。
  5. 如請求項4所記載之電子部件測試用分選機，其中前述識別裝置進一步包括反射鏡，與前述攝像頭相對應，將印刷於電子部件的條形碼反射至前述攝像頭。
  6. 如請求項4所記載之電子部件測試用分選機，其中前述識別裝置進一步包括異物去除機構，用於去除電子部件的異物。
  7. 如請求項4所記載之電子部件測試用分選機，其中在 前述加載裝置在把持電子部件的狀態下識別條形碼。
  8. 如請求項7所記載之電子部件測試用分選機，其中前述加載裝置能夠把持複數個電子部件；前述識別裝置用於識別處於被前述加載裝置把持的狀態下的複數個電子部件的條形碼。
  9. 如請求項4所記載之電子部件測試用分選機，其中前述讀取器進一步藉由藉助前述攝像頭拍攝的圖片來一併讀取前述電子部件的裝載方向。
  10. 如請求項9所記載之電子部件測試用分選機，其中藉助前述識別裝置一同進行條形碼的識別與電子部件裝載方向的讀取。
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