KR20120122540A - 메모리카드용 테스트 핸들러 - Google Patents

메모리카드용 테스트 핸들러 Download PDF

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Abstract

본 발명은 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이 및 테스트된 메모리카드가 테스트 결과에 따라 분류되어 수납되기 위한 복수개의 수납트레이가 위치하는 트레이부, 메모리카드가 수납되기 위한 테스트소켓 및 상기 테스트소켓에 수납된 메모리카드를 테스트장비에 접속시키기 위해 상기 테스트소켓에 이동 가능하게 결합된 랫치를 포함하는 테스트부; 메모리카드를 운반하기 위해 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및 상기 버퍼부와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함하는 메모리카드용 테스트 핸들러에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행함으로써, 메모리카드에 대한 테스트공정과 분류공정을 수행하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

메모리카드용 테스트 핸들러{Test Handler for Memory Card}
본 발명은 메모리카드를 테스트장비에 접속시키고, 테스트된 메모리카드를 테스트 결과에 따라 분류하는 메모리카드용 테스트 핸들러에 관한 것이다.
SD(Secure Digital) 카드, 컴팩트 플레시(Compact Flash, CF) 카드, 멀티미디어카드(Multi Media Card, MMC), 메모리스틱(Memory Stick), 스마트미디어(Smart Media) 카드, xD 픽쳐(Extreme Digital Picture) 카드 등의 메모리카드(Memory Card)는 휴대가 간편하면서도 대용량의 데이터를 저장할 수 있는 매체로 널리 사용되고 있다. 예컨대, 상기 메모리카드는 디지털 카메라, 휴대폰, PDA(Personal Digital Assistants) 등의 전자제품 등에 사용되고 있다.
상기 메모리카드는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이 공정에는 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정, 메모리카드를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 분류공정 등이 포함된다. 이러한 공정들을 거쳐 정상적으로 작동되지 않는 메모리카드와 정상적으로 작동되는 메모리카드를 분류한 후, 정상적으로 작동되는 메모리카드를 출하하게 된다.
종래에는 상기 테스트공정 및 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어졌다. 이에 따라, 메모리카드를 제품화하는데 오랜 시간이 걸리고, 생산성이 저하되는 문제가 있다. 또한, 상기 테스트공정 및 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어짐에 따라, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성이 저하되는 문제가 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제를 해결하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행할 수 있는 메모리카드용 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러는 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이 및 테스트된 메모리카드가 테스트 결과에 따라 분류되어 수납되기 위한 복수개의 수납트레이가 위치하는 트레이부; 메모리카드를 테스트하기 위한 테스트장비가 설치된 테스트부; 메모리카드를 운반하기 위해 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및 상기 버퍼부와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러에 있어서, 상기 테스트부는 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시키기 위한 테스트유닛, 및 상기 테스트유닛과 상기 버퍼부 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러에 있어서, 상기 테스트유닛은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트소켓, 및 상기 테스트소켓에 수납된 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시키기 위해 상기 테스트소켓에 이동 가능하게 결합된 랫치를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.
본 발명은 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행함으로써, 메모리카드에 대한 테스트공정과 분류공정을 수행하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 2는 본 발명에 따른 트레이영역 및 테스트영역을 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 이송픽커의 개략적인 측면도
도 5는 본 발명에 따른 테스트픽커의 개략적인 사시도
도 6은 본 발명에 따른 버퍼부의 개략적인 평면도
도 7은 본 발명에 따른 테스트유닛과 개폐유닛의 개략적인 사시도
도 8 내지 도 10은 본 발명에 따른 테스트유닛과 개폐유닛의 작동관계를 설명하기 위한 도 7의 I-I선을 기준으로 한 개략적인 측단면도
도 11은 본 발명에 따른 테스트유닛과 개폐유닛의 개략적인 측면도
도 12는 본 발명에 따른 테스트유닛과 테스트장비가 접속된 상태를 나타낸 개략적인 사시도
도 13은 본 발명에 따른 테스트유닛과 테스트장비가 접속 해제된 상태를 나타낸 개략적인 사시도
도 14는 본 발명에 따른 테스트유닛의 개략적인 측면도
도 15는 본 발명에 따른 테스트부의 개략적인 측면도
이하에서는 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드를 테스트장비에 접속시키고, 테스트된 메모리카드를 테스트 결과에 따라 분류한다. 상기 메모리카드는 SD(Secure Digital) 카드, 컴팩트 플레시(Compact Flash, CF) 카드, 멀티미디어카드(Multi Media Card, MMC), 메모리스틱(Memory Stick), 스마트미디어(Smart Media) 카드, xD 픽쳐(Extreme Digital Picture) 카드 등일 수 있다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드가 위치하는 트레이부(2), 메모리카드를 이송하기 위한 이송픽커(3), 메모리카드를 운반하기 위한 버퍼부(4), 및 메모리카드를 테스트하기 위한 테스트장비가 설치된 테스트부(5)를 포함한다. 상기 테스트부(5)는 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시키기 위한 테스트유닛(51) 및 상기 테스트유닛(51)과 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커(52)를 포함한다.
상기 이송픽커(3)가 테스트될 메모리카드를 상기 트레이부(2)에서 상기 버퍼부(4)로 이송하면, 상기 버퍼부(4)는 테스트될 메모리카드를 상기 테스트부(5) 쪽으로 운반한다. 상기 테스트픽커(52)가 테스트될 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 상기 테스트유닛(51)으로 이송하면, 상기 테스트유닛(51)은 테스트될 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시킨다. 메모리카드에 대한 테스트가 완료되면, 상기 테스트픽커(52)는 테스트된 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에서 상기 버퍼부(4)로 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 테스트 결과에 따라 등급별로 구분하여 상기 트레이부(2)로 이송한다.
상술한 바와 같은 공정들을 거쳐, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 종래 기술에 있어서 상기 테스트공정과 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어지는 것에 비교할 때, 상기 테스트공정과 상기 분류공정에 걸리는 시간을 줄임으로써 생산성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 종래 기술과 비교할 때, 메모리카드를 테스트 결과에 따라 분류하는 분류공정에 대한 정확성을 향상시킴으로써, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
이하에서는 상기 트레이부(2), 상기 이송픽커(3), 상기 버퍼부(4), 및 상기 테스트부(5)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1을 참고하면, 상기 트레이부(2)에는 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이 및 테스트된 메모리카드가 테스트 결과에 따라 분류되어 수납되기 위한 수납트레이가 위치한다. 상기 트레이부(2)는 상기 공급트레이가 위치하는 로딩스택커(21) 및 상기 수납트레이가 위치하는 언로딩스택커(22)를 포함한다.
상기 로딩스택커(21)는 테스트될 메모리카드가 수납된 복수개의 공급트레이를 저장한다. 상기 공급트레이에는 테스트될 메모리카드가 수납되기 위한 복수개의 수납홈(미도시)이 형성되어 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 공급트레이에서 테스트될 메모리카드를 픽업하고, 픽업한 메모리카드를 상기 버퍼부(4)로 이송한다.
상기 언로딩스택커(22)는 테스트된 메모리카드가 수납되기 위한 복수개의 수납트레이를 저장한다. 상기 수납트레이에는 테스트된 메모리카드가 수납되기 위한 복수개의 수납홈(미도시)이 형성되어 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼부(4)에서 테스트된 메모리카드를 픽업하고, 픽업한 메모리카드를 테스트 결과에 따라 상기 수납트레이들 중 어느 하나로 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 제1축방향(Y축 방향)과 제2축방향(X축 방향)으로 이동하면서, 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 언로딩스택커(22)는 상기 제2축방향(X축 방향)으로 상기 로딩스택커(21)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 언로딩스택커(22)에는 복수개의 수납트레이들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 위치된다. 상기 로딩스택커(21)에는 복수개의 공급트레이들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 위치된다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드를 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트될 메모리카드를 상기 트레이부(2)에서 상기 버퍼부(4)로 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 상기 트레이부(2)로 이송한다.
상기 이송픽커(3)는 메모리카드를 이송하는 공정을 수행하기 위해 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 트레이영역(A, 도 2에 도시됨) 내에서 이동할 수 있다. 상기 트레이영역(A) 내에는 상기 트레이부(2)가 위치한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트될 메모리카드를 상기 공급트레이에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 트레이영역(A) 내에 위치한 버퍼부(4)에 수납시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드를 상기 트레이영역(A) 내에 위치한 버퍼부(4)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 수납트레이에 수납시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 메모리카드를 픽업하는 공정 및 메모리카드를 수납시키는 공정을 수행하기 위해 승강(昇降)할 수 있다. 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)를 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동시키고, 상기 이송픽커(3)를 승강시키는 구동수단(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 구동수단은 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 이송픽커(3)를 이동시킬 수 있고, 승강시킬 수 있다.
여기서, 상기 트레이부(2) 및 상기 테스트부(5)에는 각각 메모리카드들이 서로 다른 간격으로 이격되어서 행렬을 이루면서 수납된다. 상기 테스트부(5)에 수납된 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 트레이부(2)에 수납된 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 서로 이격된 간격보다 넓다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 공급트레이와 상기 수납트레이 각각의 크기를 줄이면서도, 상기 공급트레이와 상기 수납트레이 각각에 더 많은 메모리카드들이 수납되도록 구현될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(5)에서 메모리카드들이 더 넓은 간격으로 수납되도록 할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(5)에서 메모리카드들이 서로 간섭되는 것을 방지함으로써, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.
이를 위해, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드를 이송하는 과정에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 이격된 간격을 조절한다. 메모리카드들이 서로 이격된 간격을 조절하는 작업에 대한 효율성을 향상시키기 위해, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 버퍼부(4)를 포함한다.
상기 버퍼부(4)는 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 사이에 설치된다. 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트부(5)에 수납되는 메모리카드들은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격이 동일하다. 상기 버퍼부(4)와 상기 트레이부(2)에 수납되는 메모리카드들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 이격된 간격이 동일하다. 상기 버퍼부(4)에는 메모리카드들이 상기 트레이부(2)에 비해 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 더 넓은 간격을 이루며 수납된다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드들을 이송하는 과정에서 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 간격을 조절한다. 이를 위해, 상기 이송픽커(3)는 이송노즐(31, 도 3에 도시됨) 및 행간격조절유닛(32, 도 3에 도시됨)을 포함한다.
도 1, 도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 이송노즐(31)은 메모리카드를 흡착할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 이송노즐(31)을 복수개 포함한다. 상기 이송노즐(31)들은 상기 이송픽커(3)의 본체(33)에 행렬을 이루면서 복수개가 설치된다. 상기 이송노즐(31)들은 상기 이송픽커(3)의 본체(33)에 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동 가능하게 설치된다. 상기 이송노즐(31)들은 상기 본체(33)에 승강 가능하게 설치될 수도 있다.
도 1, 도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 행간격조절유닛(32)은 상기 이송노즐(31)들의 상기 제1축방향(Y축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 메모리카드들이 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4)에서 행렬을 이루며 수납될 때, 상기 제1축방향(Y축 방향)은 행방향과 동일한 방향이다. 즉, 상기 행간격조절유닛(32)은 상기 이송노즐(31)들의 행방향(Y축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 상기 행간격조절유닛(32)은 제1캠판(321) 및 제1승강유닛(322)을 포함한다.
상기 제1캠판(321)은 상기 본체(33)에 승강 가능하게 설치된다. 상기 제1캠판(321)에는 복수개의 제1캠홈(3211)이 형성된다. 상기 제1캠홈(3211)들에는 각각 상기 이송노즐(31)들이 이동 가능하게 결합된다. 상기 제1캠홈(3211)들은 각각 상기 제1캠판(321)이 승강하는 방향(Z축 방향)으로 서로 다른 경사각으로 기울어지게 형성된다. 상기 제1캠홈(3211)들은 각각 상기 제1캠판(321)이 하강하는 방향을 향할수록 서로 간의 간격이 좁혀지게 형성될 수 있다. 상기 제1캠홈(3211)들은 상기 이송노즐(31)들이 동일한 간격으로 벌어지거나 좁혀질 수 있도록 안내한다.
상기 제1승강유닛(322)은 상기 제1캠판(321)을 승강시킬 수 있다. 상기 제1승강유닛(322)이 상기 제1캠판(321)을 승강시키면, 상기 이송노즐(31)들은 상기 제1캠홈(3211)을 따라 이동되어서 상기 행방향(Y축 방향)으로 간격이 조절될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1승강유닛(322)이 상기 제1캠판(321)을 상승시키면, 상기 이송노즐(31)들은 상기 제1캠홈(3211)들을 따라 이동되어서 상기 행방향(Y축 방향)으로 간격이 좁혀지게 된다. 상기 이송노즐(31)들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 좁혀진 간격은, 트레이부(2)에서 메모리카드들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 이송노즐(31)들은 상기 트레이부(2)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 이송픽커(3)는 상기 공급트레이로부터 테스트될 메모리카드들을 픽업할 수 있고, 상기 수납트레이에 테스트된 메모리카드들을 수납시킬 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1승강유닛(322)이 상기 제1캠판(321)을 하강시키면, 상기 이송노즐(31)들은 상기 제1캠홈(3211)들을 따라 이동되어서 상기 행방향(Y축 방향)으로 간격이 벌어지게 된다. 상기 이송노즐(31)들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 벌어진 간격은, 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트부(5)에서 메모리카드들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 이송노즐(31)들은 상기 버퍼부(4)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼부(4)에 테스트될 메모리카드들을 수납시킬 수 있고, 상기 버퍼부(4)로부터 테스트된 메모리카드들을 픽업할 수 있다.
따라서, 상기 이송픽커(3)는 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 픽업할 수 있고, 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 수납시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드들을 이송하는 공정에 걸리는 시간을 단축할 수 있다. 상기 제1승강유닛(322)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제1캠판(321)을 승강시킬 수 있다.
도 1 및 도 5를 참고하면, 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51)에 수납되는 메모리카드들은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격이 동일하다. 상기 테스트유닛(51)에는 메모리카드들이 상기 버퍼부(4)에 비해 상기 제2축방향(X축 방향)으로 더 넓은 간격을 이루며 수납된다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51) 간에 메모리카드들을 이송하는 과정에서 상기 제2축방향(X축 방향)으로 간격을 조절한다. 이를 위해, 상기 테스트픽커(52)는 테스트노즐(521, 도 5에 도시됨) 및 열간격조절유닛(522, 도 5에 도시됨)을 포함한다.
도 1 및 도 5를 참고하면, 상기 테스트노즐(521)은 메모리카드를 흡착할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트노즐(521)을 복수개 포함한다. 상기 테스트노즐(521)들은 상기 테스트픽커(52)의 본체(523)에 행렬을 이루면서 복수개가 설치된다. 상기 테스트노즐(521)들은 상기 테스트픽커(52)의 본체(523)에 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동 가능하게 설치된다. 상기 테스트노즐(521)들은 상기 본체(523)에 승강 가능하게 설치될 수도 있다.
도 1 및 도 5를 참고하면, 상기 열간격조절유닛(522)은 상기 테스트노즐(521)들의 상기 제2축방향(X축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 메모리카드들이 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51)에서 행렬을 이루며 수납될 때, 상기 제2축방향(X축 방향)은 열방향과 동일한 방향이다. 즉, 상기 열간격조절유닛(522)은 상기 테스트노즐(521)들의 열방향(X축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 상기 열간격조절유닛(522)은 제2캠판(5221, 도 5에 도시됨) 및 제2승강유닛(5222, 도 5에 도시됨)을 포함한다.
상기 제2캠판(5221)은 상기 본체(523)에 승강 가능하게 설치된다. 상기 제2캠판(5221)에는 복수개의 제2캠홈(5221a)이 형성된다. 상기 제2캠홈(5221a)들에는 각각 상기 테스트노즐(521)들이 이동 가능하게 결합된다. 상기 제2캠홈(5221a)들은 각각 상기 제2캠판(5221)이 승강하는 방향(Z축 방향)으로 서로 다른 경사각으로 기울어지게 형성된다. 상기 제2캠홈(5221a)들은 각각 상기 제2캠판(5221)이 하강하는 방향을 향할수록 서로 간의 간격이 벌어지게 형성될 수 있다. 상기 제2캠홈(5221a)들은 상기 테스트노즐(521)들이 동일한 간격으로 벌어지거나 좁혀질 수 있도록 안내한다.
상기 제2승강유닛(5222)은 상기 제2캠판(5221)을 승강시킬 수 있다. 상기 제2승강유닛(5222)이 상기 제2캠판(5221)을 승강시키면, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 제2캠홈(5221a)을 따라 이동되어서 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 조절될 수 있다.
예컨대, 상기 제2승강유닛(5222)이 상기 제2캠판(5221)을 하강시키면, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 제2캠홈(5221a)들을 따라 이동되어서 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 좁혀지게 된다. 상기 테스트노즐(521)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 좁혀진 간격은, 상기 버퍼부(4)에서 메모리카드들이 상기 열방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 버퍼부(4)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 버퍼부(4)로부터 테스트될 메모리카드들을 픽업할 수 있고, 상기 버퍼부(4)에 테스트된 메모리카드들을 수납시킬 수 있다.
예컨대, 상기 제2승강유닛(5222)이 상기 제2캠판(5221)을 상승시키면, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 제2캠홈(5221a)들을 따라 이동되어서 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 벌어지게 된다. 도 5는 상기 테스트노즐(521)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 벌어진 상태를 나타낸 것이다. 상기 테스트노즐(521)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 벌어진 간격은, 상기 테스트유닛(51)에서 메모리카드들이 상기 열방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 테스트유닛(51)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트유닛(51)에 테스트될 메모리카드들을 수납시킬 수 있고, 상기 테스트유닛(51)으로부터 테스트된 메모리카드들을 픽업할 수 있다.
따라서, 상기 테스트픽커(52)는 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 픽업할 수 있고, 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 수납시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드들을 이송하는 공정에 걸리는 시간을 단축할 수 있다. 상기 제2승강유닛(5222)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제2캠판(5221)을 승강시킬 수 있다.
도 1, 도 2 및 도 6을 참고하면, 상기 버퍼부(4)는 메모리카드를 운반한다. 상기 버퍼부(4)는 복수개의 메모리카드가 수납되기 위한 버퍼기구(41, 도 6에 도시됨) 및 상기 버퍼기구(41)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시키는 구동기구(42, 도 6에 도시됨)를 포함한다.
상기 버퍼기구(41)에는 메모리카드가 수납되는 버퍼홈(411, 도 6에 도시됨)이 형성된다. 상기 버퍼홈(411)들은 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되어 행렬을 이루며 형성될 수 있다. 상기 버퍼홈(411)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 테스트유닛(51, 도 1에 도시됨)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 상기 버퍼홈(411)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 공급트레이와 수납트레이에서 메모리카드들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다.
상기 구동기구(42)는 상기 버퍼기구(41)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킨다. 상기 구동기구(42)는 상기 버퍼기구(41)가 상기 트레이영역(A) 또는 테스트영역(B)에 위치되게 상기 버퍼기구(41)를 이동시킨다. 상기 테스트영역(B)은 상기 테스트유닛(51)이 설치된 영역이다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이영역(A)에 위치한 버퍼기구(41)와 상기 트레이부(2) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트영역(B)에 위치한 버퍼기구(41)와 상기 테스트유닛(51) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 이에 따라, 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)는 서로 다른 위치에 위치된 버퍼기구(41)에 대해 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 메모리카드를 이송하는 과정에서 서로 충돌하는 것을 방지할 수 있다.
상기 구동기구(42)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 버퍼기구(41)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다.
상기 버퍼부(4)는 상기 버퍼기구(41) 및 상기 구동기구(42)를 각각 복수개 포함할 수 있다. 상기 버퍼기구(41)들은 서로 개별적으로 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼기구(41)들 중에서 상기 트레이영역(A)에 위치한 버퍼기구(41)에 대해 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 또한, 상기 테스트픽커(52)는 상기 버퍼기구(41)들 중에서 상기 테스트영역(B)에 위치한 버퍼기구(41)에 대해 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 메모리카드를 이송하는 공정을 동시에 수행할 수 있으므로, 상기 테스트공정과 상기 분류공정에 걸리는 시간을 단축할 수 있다.
도 1, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 테스트유닛(51) 및 상기 테스트픽커(52, 도 1에 도시됨)를 포함한다.
상기 테스트유닛(51)에는 상기 테스트장비(T, 도 7에 도시됨)가 연결된다. 상기 테스트장비(T)는 상기 테스트유닛(51)에 수납된 메모리카드들을 테스트한다. 상기 테스트유닛(51)은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트소켓(511, 도 8에 도시됨), 및 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드를 상기 테스트장비(T)에 접속시키기 위한 랫치(512, 도 8에 도시됨)를 포함한다.
상기 테스트소켓(511)은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트홈(5111)을 포함한다. 상기 테스트유닛(51)은 상기 테스트소켓(511)이 복수개 설치되는 테스트보드(513, 도 7에 도시됨)를 포함한다. 상기 테스트소켓(511)은 상기 테스트홈(5111)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되어 행렬을 이루도록 상기 테스트보드(513)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 테스트홈(5111)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 버퍼홈(411, 도 6에 도시됨)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격과 동일하다.
상기 테스트소켓(511)은 제1소켓본체(5112, 도 8에 도시됨) 및 제2소켓본체(5113, 도 8에 도시됨)를 포함할 수 있다.
상기 제1소켓본체(5112)는 상기 제2소켓본체(5113)에 승강 가능하게 결합된다. 상기 제1소켓본체(5112)에는 상기 테스트홈(5111)이 형성된다. 상기 제1소켓본체(5112)에는 상기 랫치(512)가 이동 가능하게 결합된다. 상기 제1소켓본체(5112)는 스프링(미도시)을 매개로 하여 상기 제2소켓본체(5113)에 탄성적으로 승강 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)에 외력이 가해지지 않은 경우, 상기 제1소켓본체(5112)는 상기 스프링이 갖는 탄성력에 의해 상승될 수 있다.
상기 제2소켓본체(5113)는 상기 테스트보드(513)에 결합된다. 도 8을 참고하면, 상기 제2소켓본체(5113)에는 지지부재(5114), 탄성체(5115) 및 접속부재(5116)가 설치된다.
상기 지지부재(5114)에는 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드가 안착된다. 상기 지지부재(5114)는 상기 탄성체(5115)를 매개로 하여 상기 제2소켓본체(5113)에 탄성적으로 승강 가능하게 결합된다. 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드는 상기 접속부재(5116)에 전기적으로 연결된다.
상기 탄성체(5115)는 상기 지지부재(5114)와 상기 제2소켓본체(5113) 사이에 위치되게 결합된다. 상기 탄성체(5115)는 일측이 상기 지지부재(5114)에 결합되고, 타측이 상기 제2소켓본체(5113)에 결합된다. 상기 랫치(512)가 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드를 누르면, 상기 탄성체(5115)는 상기 지지부재(5114)에 눌려서 압축될 수 있다. 상기 랫치(512)가 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드로부터 이격되면, 상기 탄성체(5115)는 인장되면서 상기 지지부재(5114)를 상승시킬 수 있다. 상기 테스트소켓(511)은 상기 탄성체(5115)를 복수개 포함할 수 있다.
상기 접속부재(5116)는 일측이 상기 지지부재(5114)에 결합되고, 타측이 상기 제2소켓본체(5113)에 결합된다. 상기 접속부재(5116)는 일측이 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 접속부재(5116)는 타측이 상기 테스트보드(513, 도 7에 도시됨)에 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드는 상기 접속부재(5116) 및 상기 테스트보드(513)를 통해 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 테스트소켓(511)은 상기 접속부재(5116)를 복수개 포함할 수 있다.
도 1, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 랫치(512, 도 8에 도시됨)는 상기 테스트소켓(511)에 이동 가능하게 설치된다. 상기 테스트홈(5111)에 메모리카드가 수납될 때, 상기 랫치(512)는 메모리카드가 상기 테스트홈(5111)에 수납되는 것에 방해되지 않는 위치로 회전 이동할 수 있다. 상기 테스트홈(5111)에 메모리카드가 수납되면, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누를 수 있는 위치로 회전 이동할 수 있다. 상기 랫치(512)가 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누름에 따라, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드는 상기 테스트장비(T)에 접속될 수 있다. 상기 랫치(512)는 상기 제1소켓본체(5112)에 회전 이동 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)에는 상기 랫치(512)가 복수개 결합될 수 있다. 상기 랫치(512)는 스프링(미도시)을 매개로 하여 상기 제1소켓본체(5112)에 탄성적으로 회전 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)가 상승하면, 상기 랫치(512)는 상기 스프링이 갖는 탄성력에 의해 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누를 수 있도록 회전 이동할 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)가 하강하면, 상기 랫치(512)는 메모리카드가 상기 테스트홈(5111)에 수납되는 것에 방해되지 않는 위치로 회전 이동할 수 있다.
상술한 바와 같이 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누름으로써, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드가 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결되도록 한다. 또한, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누름으로써, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드가 테스트되는 과정에서 이동하지 않도록 고정할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.
첫째, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누르기 위한 별도의 푸싱장치(미도시)를 구비한 경우, 상기 푸싱장치는 메모리카드를 누르기 위해 상기 테스트소켓(511)들 위에 위치되게 설치되어야 한다. 이에 따라, 상기 테스트픽커(512)가 상기 테스트소켓(511)들에 메모리카드를 수납시키는 공정과 상기 테스트소켓(511)들로부터 메모리카드들을 픽업하는 공정을 수행하기 위해 이동하는 영역과 상기 푸싱장치가 서로 간섭되게 된다. 이에 따라, 상기 테스트픽커(52)와 상기 푸싱장치가 충돌할 위험이 있고, 이를 방지하기 위해 상기 테스트픽커(52)와 상기 푸싱장치를 정밀하게 제어해야 하는 어려움이 있다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트픽커(52)와 상기 랫치(512) 간에 서로 간섭되지 않기 때문에, 메모리카드를 상기 테스트소켓(52)에 수납시키는 공정, 메모리카드를 상기 테스트장비(T)에 접속시키는 공정, 및 메모리카드를 상기 테스트소켓(52)으로부터 픽업하는 공정을 안정적으로 수행할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트픽커(52)에 대한 제어의 용이성을 향상시킬 수 있다.
둘째, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 푸싱장치를 구비하기 위해 필요한 재료비 등을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 장비 전체에 대한 제조단가를 낮출 수 있다.
셋째, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누르기 위한 별도의 푸싱장치(미도시)를 구비한 경우, 상술한 바와 같이 상기 푸싱장치와 상기 테스트픽커(512)의 작업 영역이 서로 간섭되게 된다. 이에 따라, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드가 상기 푸싱장치에 눌려져 테스트되는 동안, 상기 테스트픽커(512)는 상기 푸싱장치와의 간섭 문제로 인해 상기 테스트소켓(511)들에 메모리카드를 수납시키는 공정과 상기 테스트소켓(511)들로부터 메모리카드들을 픽업하는 공정을 수행하는데 있어서 제한될 수밖에 없다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트픽커(52)와 상기 랫치(512) 간에 서로 간섭되지 않기 때문에, 메모리카드를 상기 테스트소켓(52)에 수납시키는 공정과 메모리카드를 상기 테스트소켓(52)으로부터 픽업하는 공정, 및 메모리카드를 상기 테스트장비(T)에 접속시키는 공정이 서로 다른 테스트소켓(52)들에 대해 동시에 이루어질 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대해 짧은 시간에 더 많은 메모리카드들에 대해 테스트공정과 분류공정을 수행할 수 있다.
도 1, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 테스트보드(513, 도 7에 도시됨)에는 상기 테스트소켓(511)이 복수개 결합된다. 상기 테스트소켓(511)들은 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 상기 테스트보드(513)에 설치될 수 있다. 상기 테스트보드(513)는 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결된다. 상기 테스트보드(513)는 상기 테스트소켓(511)이 갖는 접속부재(5116)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 상기 테스트장비(T)는 상기 테스트보드(513)를 통해 상기 테스트소켓(511)들 각각에 수납된 메모리카드들을 테스트할 수 있다. 상기 테스트보드(513)는 전체적으로 사각판형으로 형성될 수 있다.
도 1, 도 2, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 테스트픽커(52, 도 1에 도시됨)는 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51) 간에 메모리카드를 이송한다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트될 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 상기 테스트유닛(51)으로 이송한다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트된 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에서 상기 버퍼부(4)로 이송한다.
상기 테스트픽커(52)는 메모리카드를 이송하는 공정을 수행하기 위해 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트영역(B, 도 2에 도시됨) 내에서 이동할 수 있다. 상기 테스트영역(B) 내에는 상기 테스트유닛(51)이 위치한다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트될 메모리카드를 상기 테스트영역(B) 내에 위치한 버퍼부(4)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에 수납시킬 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트된 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 테스트영역(B) 내에 위치한 버퍼부(4)에 수납시킬 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 메모리카드를 픽업하는 공정 및 메모리카드를 수납시키는 공정을 수행하기 위해 승강할 수 있다. 상기 테스트부(5)는 상기 테스트픽커(52)를 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동시키고, 상기 테스트픽커(52)를 승강시키는 구동수단(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 구동수단은 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 테스트픽커(52)를 이동시킬 수 있고, 승강시킬 수 있다.
도 1, 도 7 내지 도 10을 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 랫치(512, 도 8에 도시됨)를 이동시키기 위한 개폐유닛(53, 도 7에 도시됨)을 포함한다.
상기 개폐유닛(53)은 상기 테스트홈(5111)이 개방(開放)되도록 상기 랫치(512)를 이동시킬 수 있다. 상기 테스트홈(5111)이 개방된 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트소켓(511)에 테스트될 메모리카드(M, 도 9에 도시됨)를 수납시킬 수 있다. 상기 테스트홈(5111)이 개방된 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트소켓(511)으로부터 테스트된 메모리카드(M)를 픽업할 수 있다. 상기 개폐유닛(53)은 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄(閉鎖)되도록 상기 랫치(512)를 이동시킬 수 있다. 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄된 상태에서, 상기 랫치(512)는 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드(M)를 누를 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드(M)는 상기 테스트장비(T, 도 7에 도시됨)에 접속되어 테스트될 수 있다. 상기 개폐유닛(53)은 개폐기구(531), 승강기구(532, 도 7에 도시됨), 및 이동기구(533, 도 7에 도시됨)를 포함한다.
상기 개폐기구(531)는 상기 제1소켓본체(5112)를 승강시킬 수 있다. 도 9에 도시된 바와 같이 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시키면, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 개방되도록 회전 이동할 수 있다. 도 10에 도시된 바와 같이 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)로부터 이격되면, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄되도록 회전 이동할 수 있다.
상기 개폐기구(531)에는 상기 테스트픽커(52)를 통과시키기 위한 관통공(5311)이 형성될 수 있다. 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시킬 때, 상기 관통공(5311)은 상기 테스트홈(5111)에 대응되는 위치에 위치된다. 이에 따라, 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시킨 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 관통공(5311)을 통해 상기 테스트소켓(511)에 메모리카드(M)를 수납시킬 수 있고, 상기 관통공(5311)을 통해 상기 테스트소켓(511)으로부터 메모리카드(M)를 픽업할 수 있다. 상기 개폐기구(531)에는 상기 관통공(5311)이 복수개가 형성될 수도 있다. 상기 개폐기구(531)는 전체적으로 사각판형으로 형성될 수 있다.
상기 승강기구(532, 도 7에 도시됨)는 상기 개폐기구(531)를 승강시킨다. 상기 승강기구(532)는 상기 개폐기구(531)가 상기 테스트소켓(511)에 가까워지거나 멀어지는 방향으로 상기 개폐기구(531)를 승강시킬 수 있다. 상기 승강기구(532)가 상기 개폐기구(531)를 하강시키면, 상기 개폐기구(531)는 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 개방되도록 회전 이동할 수 있다. 상기 승강기구(532)가 상기 개폐기구(531)를 상승시키면, 상기 개폐기구(531)는 상기 제1소켓본체(5112)로부터 이격될 수 있다. 이에 따라, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄되도록 회전 이동할 수 있다. 상기 승강기구(532)는 신축부재(5321, 도 7에 도시됨), 제1결합부재(5322, 도 7에 도시됨), 제2결합부재(5323, 도 7에 도시됨), 및 탄성부재(5324, 도 7에 도시됨)를 포함한다.
상기 신축부재(5321)는 상기 개폐기구(531)를 승강시키기 위해 내부 압력에 따라 신축된다. 상기 신축부재(5321)는 상기 개폐기구(531)에 결합된다. 상기 개폐기구(531)는 상기 신축부재(5321)가 신축함에 따라 승강할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 개폐유닛(53)은 상기 신축부재(5321) 내부에 유체를 공급하거나 상기 신축부재(5321) 내부로부터 유체를 배출시킬 수 있는 유체펌프(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 신축부재(5321) 내부로부터 유체가 배출되면, 상기 신축부재(5321)는 내부 압력이 감소함에 따라 수축하게 된다. 이에 따라, 상기 개폐기구(531)는 점진적으로 하강할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 개폐기구(531)가 상기 테스트소켓(511)를 하강시키기 위해 상기 테스트소켓(511)에 접촉되는 과정에서, 상기 테스트소켓(511)에 가하여지는 충격을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드에 가하여지는 충격을 줄임으로써, 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드가 임의로 이동하는 것을 방지하여 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성과 안정성을 향상시킬 수 있다. 상기 신축부재(5321)는 내부 압력에 따라 신축될 수 있는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 신축부재(5321)는 고무로 형성될 수 있다. 상기 신축부재(5321)는 전체적으로 내부가 비어있는 원통형태로 형성될 수 있다.
상기 개폐유닛(53)은 상기 개폐기구(511)를 기준으로 하여 서로 반대편에 설치된 복수개의 신축부재(5321)를 포함할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 신축부재(5321)들이 수축함에 따라 상기 개폐기구(511)가 좌우로 기울어짐 없이 균일하게 하강하도록 할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 개폐기구(511)가 복수개의 테스트소켓(511)들에 설치된 랫치(512)들을 균일한 힘으로 누르도록 함으로써, 상기 테스트소켓(511)들에 설치된 랫치(512)들을 개폐시키는 공정에 대한 정확성과 안정성을 향상시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트픽커(52)가 상기 테스트소켓(511)에 메모리카드를 수납시키는 공정과 상기 테스트소켓(511)으로부터 메모리카드를 픽업하는 공정에 대한 안정성을 향상시킬 수 있다.
상기 제1결합부재(5322)는 상기 개폐기구(531)에 결합된다. 상기 제2결합부재(5323)는 상기 제1결합부재(5322)를 지지한다. 상기 탄성부재(5324)는 상기 제1결합부재(5322)와 상기 제2결합부재(5323) 사이에 결합된다. 상기 탄성부재(5324)는 상기 개폐기구(531)가 상승하는 방향으로 상기 제1결합부재(5322)에 탄성력을 제공한다. 상기 신축부재(5321)가 수축되면, 상기 탄성부재(5324)는 상기 제1결합부재(5322)에 눌려서 압축될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1결합부재(5322)가 상기 제2결합부재(5323)에 가까워지게 하강함으로써, 상기 개폐기구(531)가 하강할 수 있다. 상기 신축부재(5321) 내부에 유체가 공급됨에 따라 상기 신축부재(5321)가 팽창하면, 상기 탄성부재(5324)는 인장되면서 상기 제1결합부재(5322)를 상승시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 개폐기구(531)가 상승할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 개폐기구(531)가 상기 테스트소켓(511)를 하강시키기 위해 상기 테스트소켓(511)에 접촉되는 과정에서, 상기 테스트소켓(511)과 이에 수납된 메모리카드에 가하여지는 충격을 더 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드가 임의로 이동하는 것을 방지함으로써, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성과 안정성을 향상시킬 수 있다.
도 1, 도 7 내지 도 11을 참고하면, 상기 이동기구(533, 도 7에 도시됨)는 상기 개폐기구(531)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킨다. 상기 테스트보드(513)에는 상기 테스트소켓(511)들이 행렬을 이루며 복수개가 설치될 수 있다. 상기 테스트보드(513)에는 상기 테스트소켓(511)들이 상기 행방향으로 N(N은 1보다 큰 정수)개의 행을 이루며 설치될 수 있다. 상기 행방향은 상기 제1축방향(Y축 방향)과 동일한 방향이다. 상기 개폐기구(531)는 상기 랫치(512, 도 9에 도시됨)들 중에서 상기 행방향(Y축 방향)으로 P(P는 N보다 작은 정수)개의 행을 이루는 랫치(512)를 동시에 이동시킬 수 있다. 즉, 상기 개폐기구(531)는 상기 테스트소켓(511)들에 설치된 랫치(512)들 중에서 일부를 선택적으로 개폐시킬 수 있다. 상기 개폐기구(531)가 상기 테스트보드(513)에 설치된 테스트소켓(511)들 전부를 순차적으로 개폐시킬 수 있도록, 상기 이동기구(533)는 상기 개폐기구(531)를 상기 행방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다.
따라서, 상기 테스트소켓(511)들 중 일부에 수납된 메모리카드(M)들에 대해 테스트공정이 이루어지는 동안, 다른 테스트소켓(511)들에 대해 메모리카드(M)를 수납시키는 공정과 메모리카드를 픽업하는 공정이 이루어질 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 짧은 시간에 더 많은 메모리카드들에 대해 테스트공정과 분류공정을 수행할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 복수개의 테스트소켓(511)들에 대해 하나의 개폐기구(531)가 공용으로 사용되도록 함으로써, 상기 개폐기구(531)의 개수를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 재료비를 줄임으로써, 장비 전체에 대한 제조단가를 낮출 수 있다.
상기 이동기구(533)에는 상기 승강기구(532)가 결합될 수 있다. 상기 이동기구(533)는 상기 승강기구(532)를 상기 행방향(Y축 방향)으로 이동시킴으로써, 상기 개폐기구(531)를 상기 행방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(533)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 승강기구(532)를 상기 행방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(533)는 테스트본체(54)에 결합될 수 있다. 상기 테스트본체(54)에는 상기 승강기구(532)가 상기 행방향(Y축 방향)으로 이동 가능하게 결합될 수 있다.
도 1, 도 12 내지 도 14를 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 테스트장비(T, 도 12에 도시됨)가 설치되는 제1설치부재(55), 및 상기 제1설치부재(55)를 승강시키는 구동유닛(56)을 포함한다.
상기 제1설치부재(55)는 상기 테스트장비(T)를 지지한다. 상기 제1설치부재(55)에는 상기 테스트장비(T)가 복수개 설치될 수 있다. 상기 제1설치부재(55)는 상기 테스트보드(513) 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 제1설치부재(55)는 상기 구동유닛(56)에 의해 승강할 수 있다.
도 12에 도시된 바와 같이 상기 제1설치부재(55)가 상승하면, 상기 테스트장비(T)는 상기 테스트보드(513)에 접속될 수 있다. 이 상태에서, 상기 테스트장비(T)는 상기 테스트소켓(511)들에 수납된 메모리카드들을 테스트할 수 있다.
도 13에 도시된 바와 같이 상기 제1설치부재(55)가 하강하면, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)는 접속이 해제될 수 있다. 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)의 접속이 해제된 상태에서, 상기 테스트장비(T)를 교체하는 작업, 상기 테스트장비(T)를 수리하는 작업 등이 이루어질 수 있다.
예컨대, 메모리카드의 사양, 종류 등이 변경된 경우, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)의 접속이 해제된 상태에서 변경된 메모리카드에 맞는 테스트장비(T)로 교체하는 작업이 이루어질 수 있다. 예컨대, 상기 테스트장비(T)에 오작동이 발생한 경우, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)의 접속이 해제된 상태에서 상기 테스트장비(T)를 수리하는 작업이 이루어지거나, 새로운 테스트장비(T)로 교체하는 작업이 이루어질 수 있다. 상기 테스트장비(T)를 교체하는 작업, 상기 테스트장비(T)를 수리하는 작업 등이 완료되면, 상기 제1설치부재(55)는 상기 테스트장비(T)가 상기 테스트보드(513)에 접속되도록 상승할 수 있다.
이와 같이 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)가 서로 접속되거나 접속 해제되는 공정이 반복적으로 이루어질 수 있는데, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)가 암수로 구성된 케이블들의 결합을 통해 접속되는 경우 이러한 케이블들에 마모가 발생함으로써 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)의 접속이 정상적으로 이루어지지 않을 수 있다. 이에 따라, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성이 저하될 수 있다. 이를 방지하기 위해, 상기 테스트보드(513)는 상기 테스트장비(T)에 접속되기 위한 복수개의 접속핀(5131, 도 14에 도시됨)을 포함한다.
상기 접속핀(5131)은 일측이 상기 접속부재(5116, 도 10에 도시됨)에 전기적으로 연결되고, 타측이 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 테스트소켓(511)들에 메모리카드들이 수납되면, 메모리카드들은 상기 접속부재(5116)들과 상기 접속핀(5131)들을 통해 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 접속핀(5131)들은 상기 테스트장비(T)에 접촉됨으로써 상기 테스트장비(T)에 접속될 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)가 서로 접속되거나 접속 해제되는 공정이 반복적으로 이루어지더라도, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)가 암수로 구성된 케이블들의 결합을 통해 접속되는 것과 비교할 때, 상기 접속핀(5131)들이 마모되는 정도를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)가 안정적으로 접속되도록 함으로써, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다. 상기 접속핀(5131)들은 상기 테스트보드(513)에서 상기 테스트장비(T)를 향하는 방향으로 상기 테스트보드(513)로부터 돌출되게 형성된다. 상기 테스트장비(T)는 상기 접속핀(5131)들에 접속되기 위한 복수개의 접속단자(T1, 도 13에 도시됨)를 포함할 수 있다. 상기 제1설치부재(55)가 상승하면, 상기 테스트장비(T)의 접속단자(T1)들은 상기 접속핀(5131)들에 접촉될 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트장비(T)는 상기 접속핀(5131)들과 상기 접속부재(5116, 도 10에 도시됨)들을 통해 상기 테스트소켓(511)들에 수납된 메모리카드들을 테스트할 수 있다.
도 1, 도 12 내지 도 14를 참고하면, 상기 구동유닛(56)은 상기 제1설치부재(55)를 승강시킬 수 있다. 상기 구동유닛(56)이 상기 제1설치부재(55)를 상승시키면, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)는 접속될 수 있다. 상기 구동유닛(56)이 상기 제1설치부재(55)를 하강시키면, 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)는 접속이 해제될 수 있다. 상기 구동유닛(56)은 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제1설치부재(55)를 승강시킬 수 있다.
도 1, 도 12 내지 도 14를 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 테스트장비(T)가 상기 접속핀(5131)들에 접속되도록 정렬하는 정렬기구(57)를 포함한다.
상기 정렬기구(57)는 상기 제1설치부재(55)가 상승하면서 상기 테스트장비(T)의 접속단자(T1)들이 상기 접속핀(5131)들에 접촉되도록 안내할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트장비(T)와 상기 테스트보드(513)가 정확하게 접속되도록 함으로써, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다. 상기 정렬기구(57)는 제1정렬부재(571) 및 제2정렬부재(572)를 포함한다.
상기 제1정렬부재(571)는 상기 테스트보드(513)에서 상기 테스트장비(T)를 향하는 방향으로 상기 테스트보드(513)에 돌출되게 결합된다. 도 14에 도시된 바와 같이, 상기 제1정렬부재(571)는 상기 테스트보드(513)의 밑면에서 아래로 돌출되게 상기 테스트보드(513)에 결합될 수 있다. 상기 제1정렬부재(571)는 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있다.
상기 제2정렬부재(572)는 상기 테스트장비(T)에 결합된다. 상기 제2정렬부재(572)에는 상기 제1정렬부재(571)가 삽입되기 위한 정렬홈(5721)이 형성된다. 상기 정렬홈(5721)은 상기 제1정렬부재(571)에 대응되는 크기 및 형태로 형성된다. 상기 제1설치부재(55)가 상승하면 상기 테스트장비(T)가 상승하고, 상기 테스트장비(T)가 상승함에 따라 상기 제2정렬부재(572)는 상기 제1정렬부재(571)에 가까워지게 상승한다. 상기 제2정렬부재(572)가 상승함에 따라, 상기 정렬홈(5721)에 상기 제1정렬부재(571)가 삽입됨으로써 상기 접속단자(T1)들이 상기 접속핀(5131)들에 접촉되도록 상기 테스트장비(T)의 위치가 정렬될 수 있다. 상기 테스트장비(T)는 상기 제1설치부재(55)에 소정 거리 범위 내에서 이동 가능하게 설치될 수 있다. 상기 제1설치부재(55)에 복수개의 테스트장비(T)가 설치되는 경우, 상기 제2정렬부재(572)는 상기 테스트장비(T)들 각각에 결합될 수 있다.
도 12의 확대도를 참고하면, 상기 제2정렬부재(572)는 상기 정렬홈(5721)의 입구 측에 형성된 안내홈(5722)을 포함한다. 상기 안내홈(5722)은 상기 테스트보드(513)에서 상기 테스트장비(T)를 향할수록 크기가 감소되게 형성될 수 있다. 즉, 상기 안내홈(5722)은 상기 정렬홈(5721)의 입구 측을 향할수록 크기가 증가되게 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 정렬홈(5721)에 상기 제1정렬부재(571)가 삽입되기 위한 입구 측의 크기를 증가시킴으로써, 상기 제1정렬홈(5721)에 상기 제1정렬부재(571)가 용이하게 삽입되도록 할 수 있다. 또한, 상기 테스트장비(T)는 상기 제1정렬부재(571)가 상기 안내홈(5722)이 형성된 부분을 통과하는 과정에서 1차적으로 대략적인 위치가 정렬되고, 상기 제1정렬부재(571)가 상기 제1정렬홈(5721)에 삽입되는 과정에서 2차적으로 정밀하게 위치가 정렬될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트장비(T)의 위치가 정렬되는 과정에서 상기 테스트장비(T)가 급격하게 이동하는 것을 방지함으로써, 상기 테스트장비(T), 상기 테스트보드(513) 등이 손상되는 것을 방지할 수 있다.
도 1, 도 2 및 도 15를 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 테스트장비(T)를 이동시키기 위한 제2설치부재(58)를 포함한다.
상기 제2설치부재(58)는 상기 테스트본체(54)에 이동 가능하게 결합된다. 상기 제2설치부재(58)는 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 상기 테스트본체(54)에 이동 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제2설치부재(58)는 상기 테스트본체(54)를 기준으로 상기 트레이부(2, 도 2에 도시됨) 반대편으로 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트장비(T)는 도 15에 도시된 바와 같이, 상기 테스트본체(54)로부터 돌출되게 이동할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트장비(T)를 교체하는 작업, 상기 테스트장비(T)를 수리하는 작업 등에 대한 용이성과 편리성을 향상시킬 수 있다. 상기 테스트본체(54)에는 LM 레일(미도시)이 결합될 수 있고, 상기 제2설치부재(58)에는 상기 LM 레일에 이동 가능하게 결합된 LM 블럭(미도시)이 결합될 수 있다.
상기 제2설치부재(58)에는 상기 제1설치부재(55)가 결합된다. 상기 제2설치부재(58)는 상기 제1설치부재(55)가 상기 구동유닛(56)에 의해 하강된 상태에서 이동할 수 있다. 상기 테스트장비(T)가 상기 테스트보드(513) 아래에 위치되게 상기 제2설치부재(58)가 이동한 상태에서, 상기 구동유닛(56)은 상기 제1설치부재(55)를 상승시킴으로써 상기 테스트장비(T)를 상기 테스트보드(513)에 접속시킬 수 있다. 상기 제2설치부재(58)에는 상기 구동유닛(56)이 결합될 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 테스트부(5)는 상기 제2설치부재(58)를 이동시키는 이송수단(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 이송수단은 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제2설치부재(58)를 이동시킬 수 있다.
여기서, 도 2 및 도 7을 참고하면 상기 테스트부(5)는 제1테스트영역(B1, 도 2에 도시됨)과 제2테스트영역(B2, 도 2에 도시됨) 각각에 상기 테스트유닛(51)이 복수개가 설치될 수 있다. 상기 제1테스트영역(B1)과 상기 제2테스트영역(B2)은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 위치된다. 상기 버퍼부(4)는 상기 트레이영역(A)과 상기 제1테스트영역(B1) 간에 메모리카드를 운반하기 위한 제1버퍼기구(41a, 도 2에 도시됨), 및 상기 트레이영역(A)과 상기 제2테스트영역(B2) 간에 메모리카드를 운반하기 위한 제2버퍼기구(41b, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 상기 테스트부(5)는 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들과 상기 제1버퍼기구(41a) 간에 메모리카드를 이송하는 제1테스트픽커(52a, 도 2에 도시됨), 및 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들과 상기 제2버퍼기구(41b) 간에 메모리카드를 이송하는 제2테스트픽커(52b, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.
첫째, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 하나의 트레이부(2)에 대해 상기 제1테스트영역(B1)과 상기 제2테스트영역(B2) 각각에 설치된 테스트유닛(51)들이 개별적으로 메모리카드에 대한 테스트공정을 수행할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 또는 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 중에서 어느 하나에 오작동이 발생하더라도, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 또는 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 중에서 오작동이 발생하지 않은 어느 하나를 이용하여 메모리카드에 대한 테스트공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드에 대한 테스트공정이 연속적으로 수행되도록 함으로써, 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대한 테스트공정을 수행할 수 있다.
둘째, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 하나의 트레이부(2)에 대해 상기 제1버퍼기구(41a)와 상기 제1테스트픽커(52a)가 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있고, 이와 개별적으로 상기 제2버퍼기구(41b)와 상기 제2테스트픽커(52b)가 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1버퍼기구(41a)와 상기 제1테스트픽커(52a) 또는 상기 제2버퍼기구(41b)와 상기 제2테스트픽커(52b) 중에서 어느 하나에 오작동이 발생하더라도, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제1버퍼기구(41a)와 상기 제1테스트픽커(52a) 또는 상기 제2버퍼기구(41b)와 상기 제2테스트픽커(52b) 중에서 오작동이 발생하지 않은 어느 하나를 이용하여 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2), 상기 버퍼부(4), 및 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드를 이송하는 공정이 연속적으로 수행되도록 함으로써, 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대해 상기 테스트공정과 상기 분류공정을 수행할 수 있다.
셋째, 상기 테스트장비(T)가 메모리카드를 테스트하는데 걸리는 시간은, 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 상기 트레이부(2), 상기 버퍼부(4), 및 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드를 이송하는데 걸리는 시간보다 길다. 따라서, 하나의 트레이부(2)에 대해 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 또는 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(52)들 중 어느 하나만 구비된 경우, 상기 테스트장치(T)가 메모리카드에 대한 테스트를 완료할 때까지 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 대기하는 시간이 발생하게 된다.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제1버퍼기구(41a), 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 및 상기 제1테스트픽커(52a)가 하나의 세트를 이루며 메모리카드를 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 간에 이송하는 공정 및 메모리카드를 테스트하는 공정을 수행할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제2버퍼기구(42a), 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 및 상기 제2테스트픽커(52b)가 하나의 세트를 이루며 메모리카드를 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 간에 이송하는 공정 및 메모리카드를 테스트하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 대기하는 시간을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대해 상기 테스트공정과 상기 분류공정을 수행할 수 있다.
도 2 및 도 7을 참고하면, 상기 제1테스트영역(B1)에는 상기 테스트보드(513)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 이에 따라, 상기 제1테스트영역(B1)에는 상기 테스트유닛(51)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 설치된다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 상기 제1테스트영역(B1) 내에서 이동할 수 있다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 상기 제1버퍼기구(41a) 및 상기 제1테스트영역(B1) 내에 설치된 테스트유닛(51)들 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제1버퍼기구(41a)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제1버퍼기구(41a)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제1버퍼기구(41a)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시키는 제1구동기구(42a)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제1구동기구(42a)들은 상기 제1버퍼기구(41a)들을 상기 트레이영역(A)과 상기 제1테스트영역(B1) 간에 이동시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 트레이영역(A)에 위치한 제1버퍼기구(41a) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 상기 제1테스트영역(B1)에 위치한 테스트유닛(51)들과 상기 제1테스트영역(B1)에 위치한 제1버퍼기구(41a) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 메모리카드를 흡착하기 위한 제1테스트노즐(미도시), 및 상기 제1테스트노즐들의 열방향(X축 방향) 간격을 조절하는 제1열간격조절유닛(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 각각에는 상기 개폐유닛(53)이 설치될 수 있다.
도 2 및 도 7을 참고하면, 상기 제2테스트영역(B2)에는 상기 테스트보드(513)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 설치된다. 이에 따라, 상기 제2테스트영역(B2)에는 상기 테스트유닛(51)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 설치된다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 상기 제2테스트영역(B2) 내에서 이동할 수 있다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 상기 제2버퍼기구(41b) 및 상기 제2테스트영역(B2) 내에 설치된 테스트유닛(51)들 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제2버퍼기구(41b)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제2버퍼기구(41b)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제2버퍼기구(41b)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시키는 제2구동기구(42b)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제2구동기구(42b)들은 상기 제2버퍼기구(41b)들을 상기 트레이영역(A)과 상기 제2테스트영역(B2) 간에 이동시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 트레이영역(A)에 위치한 제2버퍼기구(41b) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 상기 제2테스트영역(B2)에 위치한 테스트유닛(51)들과 상기 제2테스트영역(B2)에 위치한 제2버퍼기구(41b) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 메모리카드를 흡착하기 위한 제2테스트노즐(미도시), 및 상기 제2테스트노즐들의 열방향(X축 방향) 간격을 조절하는 제2열간격조절유닛(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 각각에는 상기 개폐유닛(53)이 설치될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
1 : 메모리카드용 테스트 핸들러 2 : 트레이부 3 : 이송픽커
4 : 버퍼부 5 : 테스트부

Claims (11)

  1. 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이 및 테스트된 메모리카드가 테스트 결과에 따라 분류되어 수납되기 위한 복수개의 수납트레이가 위치하는 트레이부;
    메모리카드를 테스트하기 위한 테스트장비가 설치된 테스트부;
    메모리카드를 운반하기 위해 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및
    상기 버퍼부와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함하고,
    상기 테스트부는 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시키기 위한 테스트유닛, 및 상기 테스트유닛과 상기 버퍼부 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커를 포함하고;
    상기 테스트유닛은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트소켓, 및 상기 테스트소켓에 수납된 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시키기 위해 상기 테스트소켓에 이동 가능하게 결합된 랫치를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 테스트소켓은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트홈이 형성된 제1소켓본체, 및 상기 제1소켓본체가 승강(昇降) 가능하게 결합된 제2소켓본체를 포함하고;
    상기 랫치는 상기 제1소켓본체가 이동함에 따라 상기 테스트홈이 개폐(開閉)되도록 상기 제1소켓본체에 회전 이동 가능하게 결합된 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 테스트유닛은 상기 테스트소켓이 행렬을 이루며 복수개가 설치된 테스트보드를 포함하되, 상기 테스트보드에는 상기 테스트소켓들이 행방향으로 N(N은 1보다 큰 정수)개의 행을 이루며 설치되고;
    상기 테스트부는 상기 랫치를 이동시키기 위한 개폐유닛을 포함하되, 상기 개폐유닛은 상기 랫치들 중에서 상기 행방향으로 P(P는 N보다 작은 정수)개의 행을 이루는 랫치를 동시에 이동시키기 위한 개폐기구, 및 상기 개폐기구를 상기 행방향으로 이동시키는 이동기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 테스트소켓은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트홈을 포함하고;
    상기 테스트부는 상기 테스트홈이 개폐되도록 상기 랫치를 이동시키기 위한 개폐기구를 포함하되, 상기 개폐기구에는 상기 테스트픽커를 통과시키기 위한 관통공이 형성되고,
    상기 테스트픽커는 상기 관통공을 통해 상기 테스트홈에 메모리카드를 수납시키는 공정과 상기 테스트홈으로부터 메모리카드를 픽업하는 공정을 수행하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 테스트소켓은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트홈을 포함하고;
    상기 테스트부는 상기 테스트홈이 개폐되도록 상기 랫치를 이동시키기 위한 개폐기구, 상기 개폐기구가 상기 테스트소켓에 가까워지거나 멀어지는 방향으로 상기 개폐기구를 승강시키는 승강기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  6. 제5항에 있어서, 상기 승강기구는
    상기 개폐기구를 승강시키기 위해 내부 압력에 따라 신축되는 신축부재;
    상기 개폐기구가 결합된 제1결합부재;
    상기 제1결합부재를 지지하기 위한 제2결합부재; 및
    상기 제1결합부재와 상기 제2결합부재 사이에 결합되고, 상기 개폐기구가 상승하는 방향으로 상기 제1결합부재에 탄성력을 제공하는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 테스트유닛은 상기 테스트소켓들이 복수개가 결합되는 테스트보드를 포함하고;
    상기 테스트부는 상기 테스트보드가 설치되는 테스트본체, 상기 테스트장비가 설치되는 제1설치부재, 및 상기 테스트장비가 상기 테스트보드와 접속되거나 접속 해제되도록 상기 제1설치부재를 승강시키는 구동유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 테스트부는 상기 테스트본체를 기준으로 상기 트레이부 반대편으로 상기 테스트장비를 이동시키기 위해 상기 테스트본체에 이동 가능하게 결합된 제2설치부재를 포함하고;
    상기 제2설치부재에는 상기 제1설치부재가 결합된 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 테스트보드는 상기 테스트소켓들에 수납된 메모리카드들을 상기 테스트장비에 전기적으로 연결하기 위한 복수개의 접속핀을 포함하고;
    상기 접속핀들은 상기 테스트장비가 갖는 접속단자들에 접촉됨에 따라 상기 테스트장비에 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 테스트부는 상기 테스트장비가 상기 접속핀들에 접속되도록 정렬하는 정렬기구를 포함하고;
    상기 정렬기구는 상기 테스트보드에서 상기 테스트장비를 향하는 방향으로 상기 테스트보드에 돌출되게 결합된 제1정렬부재, 및 상기 테스트장비에 결합된 제2정렬부재를 포함하며;
    상기 제2정렬부재에는 상기 제1정렬부재가 삽입되기 위한 정렬홈이 형성된 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 제2정렬부재는 상기 제1정렬부재가 상기 정렬홈에 삽입되는 입구 측에 형성된 안내홈을 포함하고;
    상기 안내홈은 상기 테스트보드에서 상기 테스트장비를 향할수록 크기가 감소되게 형성된 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.
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