KR20210034476A - 메모리카드 이송핸들러 - Google Patents

메모리카드 이송핸들러 Download PDF

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Abstract

본 발명은 메모리카드 테스트 공정 및 분류 공정시, 다수개의 메모리카드를 자동으로 이송할 수 있다.

Description

메모리카드 이송핸들러{Memory Card Transfer Handler}
본 발명은 메모리카드 이송핸들러에 관한 것으로서, 트레이(11)에 보관된 상기 메모리카드(10)를 거치한 후 상기 메모리카드 테스트 장비(10) 내에 구비된 상기 테스트슬롯(12)으로 이동시켜 삽입시키는 로딩픽업부재(110); 및 테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)로부터 탈거 시킨 후 후공정으로 이동시키는 언로딩픽업부재(160)로 구성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러에 관한 것이다.
일반적으로, 메모리카드 중 RAM(Random Access Memory)은 기억된 정보를 읽어내기도 하고 다른 정보를 기억시킬 수도 있는 메모리로서, 컴퓨터의 주기억장치, 응용 프로그램의 일시적 로딩(loading), 데이터의 일시적 저장 등에 사용된다.
이러한, 메모리카드는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이 공정에는 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정, 메모리카드를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 분류공정 등이 포함된다.
이러한 공정들을 거쳐 정상적으로 작동되지 않는 메모리카드와 정상적으로 작동되는 메모리카드를 분류한 후, 정상적으로 작동되는 메모리카드를 출하하게 된다.
한편, 기존에는 테스트공정 및 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어졌다. 이에 따라, 메모리카드를 제품화하는데 오랜 시간이 걸리고, 생산성이 저하되는 문제가 있었다.
또한, 테스트공정 및 상기 분류 공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어짐에 따라 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성이 저하되는 문제가 있었다.
특허문헌 1: 대한민국 등록특허공보 제10-0567848호
본 발명은 상술한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 메모리카드 테스트 공정 및 분류 공정시, 다수개의 메모리카드를 자동으로 이송할 수 있는 메모리카드 이송핸들러를 제공하는 것이다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명에 따른 메모리카드 이송핸들러는, 트레이(11)에 보관된 상기 메모리카드(10)를 거치한 후 상기 메모리카드 테스트 장비(10) 내에 구비된 상기 테스트슬롯(12)으로 이동시켜 삽입시키는 로딩픽업부재(110); 및 테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)로부터 탈거 시킨 후 후공정으로 이동시키는 언로딩픽업부재(160)로 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 로딩픽업부재(110)는, 제1 리니어레일(121)을 포함하는 제1 하우징부(120)와, 상기 제1 리니어레일(121)에 한 쌍으로 결합되어 설정에 따라 벌어지거나 오므라들게 움직이는 제1 픽커부(130, 130`)와, 상기 제1 픽커부(130, 130`)의 하부측에 형성되어 제1 픽커부(130, 130`)의 움직임에 따라 상기 메모리카드(10)를 잡거나 놓아주는 제1 그리퍼(140, 140`)와, 제1 그리퍼(140, 140`)의 내측면에 형성되어 상기 테스트슬롯(12)에 상기 메모리카드(10)가 삽입되는 과정에서 상기 메모리카드(10)의 상부를 가압하여 삽입을 가이드 하는 푸시부(150, 150`)로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 그리퍼(140, 140`)는, 내측에 제1 이동공간(141, 141`)과, 상기 제1 이동공간(141, 141`)에 수평으로 배치되는 제1 가이드샤프트(142, 142`)와, 상기 이동공간(141, 141`) 내에 형성되되, 상기 제1 가이드샤프트(142, 142`)에 결합되어 수평이동하는 제1 그립핸들부(143, 143`)과, 상기 제1 이동공간(141, 141`)과 상기 제1 그립핸들부(143, 143`) 사이에 배치되어 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)에 탄성력을 제공하는 제1, 2 탄성부재(144, 144`)로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 탄성부재(144)의 탄성력은 상기 제2 탄성부재(144`)의 탄성력보다 크게 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)의 내측면에는 상기 메모리카드(10)를 잡는 과정에서 상기 메모리카드(10)의 측면이 삽입되도록 제1 삽입홈(145, 145`)이 함몰형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 푸시부(150, 150`)는, 수직샤프트(151, 151`)와, 상기 수직샤프트(151, 151`)의 하부에 결합되는 가압부(152, 152`)와, 상기 수직샤프트(151, 151`)에 감겨져 상기 가압부(152, 152`)에 탄성력을 제공하는 제3 탄성부재(153, 153`)로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 언로딩픽업부재(160)는, 제2 리니어레일(171)을 포함하는 제2 하우징부(170)와, 상기 제2 리니어레일(171)에 한 쌍으로 결합되어 설정에 따라 벌어지거나 오므라들게 움직이는 제2 픽커부(180, 180`)와, 상기 제2 픽커부(180, 180`)의 하부측에 형성되어 제2 픽커부(180, 180`)의 움직임에 따라 상기 메모리카드(10)를 잡거나 놓아주는 제2 그리퍼(190, 190`)로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제2 픽커부(180, 180`)에는 테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)로부터 탈거시키는 과정에서 테스트시 상기 메모리카드(10)를 고정시키는 고정블럭(13)을 가압하여 상기 메모리카드(10)의 고정을 해제시키는 이젝팅블럭(181, 181`)이 형성되는 것을 특징으로 한다.
이상, 상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 메모리카드 테스트 공정 및 분류 공정시, 다수개의 메모리카드를 자동으로 이송할 수 있다는 장점이 있다.
도 1은 메모리카드 테스트 장비의 전체 모습을 보인 사시도
도 2는 메모리카드 테스트 장비에 설치된 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 모습을 보인 사시도
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 전체 모습을 보인 사시도
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 구성 중 로딩픽업부재의 모습을 보인 사시도 및 정면도
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 구성 중 제1 그리퍼 및 푸시부의 모습을 보인 저면사시도
도 6 및 도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 구성 중 로딩픽업부재의 작동되는 과정의 모습을 보인 실시예도
도 8은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 구성 중 언로딩픽업부재의 모습을 보인 사시도
도 9는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 구성 중 언로딩픽업부재의 모습을 보인 정면도
도 10은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러의 구성 중 언로딩픽업부재의 작동되는 과정의 모습을 보인 실시예도
이하에서는 첨부된 도면을 참조로 하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러(100)를 상세히 설명한다. 우선, 도면들 중, 동일한 구성요소 또는 부품들은 가능한 한 동일한 참조부호로 나타내고 있음에 유의하여야 한다. 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 관한 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 모호하지 않게 하기 위하여 생략한다.
도 2 또는 도 3을 참고하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러(100)는 크게, 로딩픽업부재(110) 및 언로딩픽업부재(160)로 구성된다.
설명에 앞서, 본 발명의 일 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러(100)는 그 작동이 원활히 이루어질 수 있도록 구동부, 센서, 제어부, 전원인가장치 및 연동되는 구동요소들을 포함한 것으로서, 상기 구동요소들을 구성하고 작동되는 원리는 본 발명이 속하는 분야에서 널리 알려진 수준의 기술수준에 해당하므로, 상세한 설명은 생략한다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 메모리카드 이송핸들러(100)는 대칭형상을 이루는 한 쌍의 구성요소들이 존재하고, 필요에 따라 설명의 편의와 중복을 피하기 위해 한 쪽의 구성요소만을 설명하기로 한다.
먼저, 로딩픽업부재(110)에 대하여 설명한다. 상기 로딩픽업부재(110)는 도 1, 도 2 또는 도 3에 나타낸 것과 같이, 외부로부터 메모리카드(10)를 메모리카드 테스트 장비(1) 내에 구비된 트레이(11)로 이송시키고, 상기 트레이(11)에 보관된 상기 메모리카드(10)를 거치한 후 메모리카드 테스트 장비(1) 내에 구비된 상기 테스트슬롯(12)으로 이동시켜 삽입시키는 구성요소로서, 제1 하우징부(120), 제1 픽커부(130, 130`), 제1 그리퍼(140, 140`) 및 푸시부(150, 150`)로 이루어진다.
상기 제1 하우징부(120)는 도 4에 나타낸 것과 같이, 메모리카드 테스트 장비(1) 내에 위치되는 것으로서, 후술할 구성요소들을 구동하기 위한 모터, 센서 등이 형성되고, 후술할 제1 픽커부(130, 130`)의 수평이동을 가이드 하기 위한 제1 리니어레일(121)이 형성된다.
상기 제1 픽커부(130, 130`)는 상기 제1 리니어레일(121)에 좌, 우 대칭형태로 형성되어 제어부(미도시)에 의해 벌어지거나 오므라들게 움직이는 구성요소이다.
상기 제1 그리퍼(140, 140`)는 상기 제1 픽커부(130,130`)의 하부측에 결합되어 상기 제1 픽커부(130, 130`)에 의해 수평방향으로 이동하면서 실제적으로 메모리카드(10)를 양측면에서 잡는 구성요소로서, 제1 이동공간(141, 141`), 제1 가이드샤프트(142, 142), 제1 그립핸들부(143, 143`), 제1, 2 탄성부재(144, 144`) 및 제1 삽입홈(145, 145`)로 이루어진다.
상기 제1 이동공간(141, 141`)은 상기 제1 그리퍼(140, 140`) 내측에 존재하는 일종의 공간으로서, 후술할 제1 그립핸들부(143, 143`)가 위치되고, 후술할 제1 그립핸들부(143, 143`)가 수평방향으로 이동할 수 있게 공간적인 여유를 가지고 형성된다.
상기 제1 가이드샤프트(142, 142`)는 상기 제1 이동공간(141, 141`) 내에 수평으로 가로질러 형성되는 구성요소로서, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)가 결합되어 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)의 수평이동을 안내하는 역할을 한다.
상기 제1 그립핸들부(143, 143`)는 상기 이동공간(141, 141`) 내에 형성되고, 상기 제1 가이드샤프트(142, 142`)와 결합되어 상기 제1 가이드샤프트(142, 142`)를 따라 좌, 우로 이동되며, 도 6 또는 도 7에 나타낸 것과 같이, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)의 사이에 위치되는 메모리카드(10)를 잡아주는 구성요소이다.
한편, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)의 내측면에는 도 5에 나타낸 것과 같이, 제1 삽입홈(145, 145`)이 함몰형성됨으로써, 상기 메모리카드(10)를 잡는 과정에서 메모리카드(10)의 측면이 삽입되어 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)에 의해 메모리카드(10)가 원활히 거치되는 것을 가능하게 한다.
상기 제1, 2 탄성부재(144, 144`)는 각각의 상기 제1 이동공간(141, 141`)과 상기 제1 그립핸들부(143, 143`) 사이에 각각 배치되어 각각의 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)에 탄성력을 제공하는 구성요소로서, 트레이(11)에 위치된 메모리카드(10)를 로딩픽업부재(110)로 빼낼 경우, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`) 사이에 메모리카드(10)가 자연스럽게 삽입되면서 거치될 수 있도록 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)를 벌려주는 역할을 하면서, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)에 의해 메모리카드(10)가 거치된 상태에서는 각각의 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)를 내측방향으로 서로 밀어 메모리카드(10)가 낙하되는 것을 방지해 준다.
한편, 상기 제1 탄성부재(144)의 탄성력은 도 6에 나타낸 것과 같이, 상기 제2 탄성부재(144`)의 탄성력보다 크게 형성함으로써, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)가 메모리카드(10)를 거치하는 과정에서 메모리카드(10)에 의해 가압되는 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)가 각각 반대편으로 벌어지는 경우, 상기 제2 탄성부재(144`)와 결합된 상기 제1 그립핸들부(143`)가 상기 제1 탄성부재(144)와 결합된 상기 제1 그립핸들부(143) 보다 상대적으로 탄성변형이 덜 일어나 메모리카드(10)가 삽입될 수 있을 정도로만 움직인 후 메모리카드(10)의 측면을 지지해 줌(도면상 우측)으로써, 도 7의 우측을 기준으로 메모리카드(10)의 위치기준을 잡을 수 있어 상기 테스트슬롯(12)에 메모리카드(10)를 삽입하는 과정에서 정확한 삽입을 가능하게 한다.
상기 푸시부(150, 150`)는 제1 그리퍼(140, 140`)의 내측면에 형성되어 테스트슬롯(12)에 메모리카드(10)가 삽입되는 과정에서 메모리카드(10)의 상부를 가압하여 삽입을 가이드하는 구성요소로서, 수직샤프트(151, 151`)와, 상기 수직샤프트(151, 151`)의 하부에 결합되는 가압부(152, 152`)와, 상기 수직샤프트(151, 151`)에 감겨져 상기 가압부(152, 152`)에 탄성력을 제공하는 제3 탄성부재(153, 153`)로 이루어진다.
이로 인하여, 상기 제1 그립핸들부(143, 143`) 사이에 거치된 메모리카드(10)를 테스트슬롯(12)에 삽입시 메모리카드(10)의 상부를 가압하여 메모리카드(10)가 테스트슬롯(12)에 안전하고 정확히 삽입되는 것을 가능하게 하여 테스트의 접촉오류를 낮춰 주고 메모리카드의 손상을 방지해 준다.
다음으로, 언로딩픽업부재(160)에 대하여 설명한다. 상기 언로딩픽업부재(160)는 도 1, 도 2 또는 도 8에 나타낸 것과 같이, 테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)로부터 탈거 시킨 후 후공정으로 이동시키는 구성요소로서, 제2 하우징부(170), 제2 픽커부(180, 180`) 및 제2 그리퍼(190, 190`)으로 이루어진다.
상기 제2 하우징부(170), 제2 픽커부(180, 180`) 및 제2 그리퍼(190, 190`)는 전술한 로딩픽업부재(110)의 제1 하우징부(120), 제1 픽커부(130, 130`), 제1 그리퍼(140, 140`)와 그 구성이 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.
또한, 필요에 따라 제2 그리퍼(190, 190`)의 내측면에도 상기 푸시부(150, 150`)와 동일한 구성요소가 추가 설치될 수 있다.
한편, 상기 제2 픽커부(180, 180`)에는 이젝팅블럭(181, 181`)이 더 형성됨으로써, 도 10에 나타낸 것과 같이, 테스트가 종료된 메모리카드(10)를 테스트슬롯(12)로부터 탈거시키는 과정에서, 테스트시 메모리카드(10)의 양측을 잡아 고정시켜주는 고정블럭(13)을 가압하여 메모리카드(10)의 고정을 해제시켜 메모리카드(10)가 테스트슬롯(12)으로부터 원활하게 분리되는 것을 가능하게 한다.
이로 인하여, 상기 제2 픽커부(180, 180`)를 통한 메모리카드를 잡는 동작과 동시에 이젝팅블럭(181, 181`)을 통한 고정해제를 동시에 수행할 수 있어 메모리카드(10)의 테스트 공정시간을 단축할 수 있다.
한편, 이젝팅블럭(181, 181`)은 필요에 따라 좌, 우 이동 또는 승, 하강 되도록 구성하는 것이 가능하다.
도면과 명세서에서 최적 실시 예들이 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
1: 메모리카드 테스트 장비
10: 메모리카드
11: 트레이 12: 테스트슬롯
13: 고정블럭
100: 메모리카드 이송핸들러
110: 로딩픽업부재
120: 제1 하우징부 121: 제1 리니어레일
130, 130`: 제1 픽커부
140, 140`: 제1 그리퍼 141, 141`: 제1 이동공간
142: 142`: 제1 가이드샤프트 143, 143`: 제1 그립핸들부
144: 제1 탄성부재 144`: 제2 탄성부재
145, 145`: 제1 삽입홈
150, 150`: 푸시부 151, 151`: 수직샤프트
152, 152`: 가압부 153, 153`: 제3 탄성부재
160: 언로딩픽업부재
170: 제2 하우징부 171: 제2 리니어레일
180, 180`: 제2 픽커부 181, 181`: 이젝팅블럭
190, 190`: 제2 그리퍼 191, 191`: 제2 이동공간
192: 192`: 제2 가이드샤프트 193, 193`: 제2 그립핸들부
194: 제4 탄성부재 194`: 제5 탄성부재

Claims (8)

  1. 메모리카드 테스트 장비(1) 내에 구비되어 메모리카드(10)를 테스트슬롯(12)에 삽입시키고, 테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)으로부터 이탈시키는 메모리카드 이송핸들러(100)에 있어서,
    트레이(11)에 보관된 상기 메모리카드(10)를 거치한 후 상기 메모리카드 테스트 장비(10) 내에 구비된 상기 테스트슬롯(12)으로 이동시켜 삽입시키는 로딩픽업부재(110); 및
    테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)로부터 탈거 시킨 후 후공정으로 이동시키는 언로딩픽업부재(160)로 구성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).
  2. 제1항에 있어서,
    상기 로딩픽업부재(110)는,
    제1 리니어레일(121)을 포함하는 제1 하우징부(120)와,
    상기 제1 리니어레일(121)에 한 쌍으로 결합되어 설정에 따라 벌어지거나 오므라들게 움직이는 제1 픽커부(130, 130`)와,
    상기 제1 픽커부(130, 130`)의 하부측에 형성되어 제1 픽커부(130, 130`)의 움직임에 따라 상기 메모리카드(10)를 잡거나 놓아주는 제1 그리퍼(140, 140`)와,
    제1 그리퍼(140, 140`)의 내측면에 형성되어 상기 테스트슬롯(12)에 상기 메모리카드(10)가 삽입되는 과정에서 상기 메모리카드(10)의 상부를 가압하여 삽입을 가이드 하는 푸시부(150, 150`)로 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(1).
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 그리퍼(140, 140`)는,
    내측에 제1 이동공간(141, 141`)과,
    상기 제1 이동공간(141, 141`)에 수평으로 배치되는 제1 가이드샤프트(142, 142`)와,
    상기 이동공간(141, 141`) 내에 형성되되, 상기 제1 가이드샤프트(142, 142`)에 결합되어 수평이동하는 제1 그립핸들부(143, 143`)과,
    상기 제1 이동공간(141, 141`)과 상기 제1 그립핸들부(143, 143`) 사이에 배치되어 상기 제1 그립핸들부(143, 143`)에 탄성력을 제공하는 제1, 2 탄성부재(144, 144`)로 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 탄성부재(144)의 탄성력은 상기 제2 탄성부재(144`)의 탄성력보다 크게 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).
  5. 제3항에 있어서,
    상기 제1 그립핸들부(143, 143`)의 내측면에는 상기 메모리카드(10)를 잡는 과정에서 상기 메모리카드(10)의 측면이 삽입되도록 제1 삽입홈(145, 145`)이 함몰형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).
  6. 제3항에 있어서,
    상기 푸시부(150, 150`)는,
    수직샤프트(151, 151`)와,
    상기 수직샤프트(151, 151`)의 하부에 결합되는 가압부(152, 152`)와,
    상기 수직샤프트(151, 151`)에 감겨져 상기 가압부(152, 152`)에 탄성력을 제공하는 제3 탄성부재(153, 153`)로 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).
  7. 제1항에 있어서,
    상기 언로딩픽업부재(160)는,
    제2 리니어레일(171)을 포함하는 제2 하우징부(170)와,
    상기 제2 리니어레일(171)에 한 쌍으로 결합되어 설정에 따라 벌어지거나 오므라들게 움직이는 제2 픽커부(180, 180`)와,
    상기 제2 픽커부(180, 180`)의 하부측에 형성되어 제2 픽커부(180, 180`)의 움직임에 따라 상기 메모리카드(10)를 잡거나 놓아주는 제2 그리퍼(190, 190`)로 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제2 픽커부(180, 180`)에는 테스트가 종료된 상기 메모리카드(10)를 상기 테스트슬롯(12)로부터 탈거시키는 과정에서 테스트시 상기 메모리카드(10)를 고정시키는 고정블럭(13)을 가압하여 상기 메모리카드(10)의 고정을 해제시키는 이젝팅블럭(181, 181`)이 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리카드 이송핸들러(100).








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