TWI546545B - 輔助測試電路及具有該輔助測試電路之晶片及電路板 - Google Patents
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Description
本發明涉及一種輔助測試電路及具有該輔助測試電路之晶片及電路板。
電路板上集成很多晶片，目前，檢測這些晶片各引腳所連接之功能電路是正常、開路還是短路時通常利用一個測試點和一個引腳電性相連，然後用測試設備測量該測試點之電壓值來判斷該引腳所連接之功能電路是正常、開路還是短路。然而，當晶片引腳之數目較多時，所需要之測試點也相應增多，測試時需要人工將測試設備與複數測試點依次連接，以依次對每個引腳之對應之功能電路之電連接狀態進行檢測，這種需要人工依次更換測試點之方式導致了檢測過程繁瑣且耗時。
有鑑於此，有必要提供一種檢測過程較簡單用於輔助測量晶片之複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態之輔助測試電路。
有必要提供一種具有該輔助測試電路之晶片。
有必要提供一種具有該輔助測試電路之電路板。
一種輔助測試電路，用於輔助測量晶片之複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接於該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間之分壓元件，該測試電壓輸入端用於接收測試電壓，該引腳選擇單元連接於該複數引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用於根據外部控制訊號控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。
一種晶片，其包括複數引腳及複數分別對應該複數引腳連接之功能電路，該晶片還包括用於輔助檢測該複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態之輔助測試電路，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接於該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間之分壓元件，該測試電壓輸入端用於接收測試電壓，該引腳選擇單元連接於該複數引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用於根據外部控制訊號控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。
一種電路板，該電路板包括至少一晶片，該晶片包括複數引腳及複數分別對應該複數引腳連接之功能電路，該電路板還包括用於輔助檢測該複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態之輔助測試電路，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接於該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間之分壓元件，該測試電壓輸入端用於接收測試電壓，該引腳選擇單元連接於該複數引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用於根據一控制訊號控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。
與先前技術相比，本發明輔助測試電路及具有該輔助測試電路之晶片及電路板中引腳選擇單元根據外部控制訊號依次控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，測試時只需要將該測試結果輸出端與測試設備相連，不需要人工更換連接，因而達到了檢測過程簡單之技術效果。另外，每個引腳不需要分別引出一個測試點，只需要將測試電壓輸入端及測試結果輸出端引出，因而在一定程度上減少了測試點之數目，節約測試點所佔之面積。
下面結合附圖對本發明作詳細說明。
下面將結合附圖對本發明作具體介紹。圖1是本發明之電路板一較佳實施方式結構示意圖。該電路板1包括至少一晶片30及輔助測試電路10，該晶片30包括複數引腳31及複數與該複數引腳31分別對應且連接之功能電路33，該輔助測試電路10用於輔助檢測該複數引腳31所對應連接之該功能電路33之電連接狀態。
本實施例中，該輔助測試電路10包括引腳選擇單元11、分壓單元13、判斷單元15、通訊單元17及測試結果輸出端19。
該分壓單元13包括測試電壓輸入端131、電壓輸出端133及連接於該測試電壓輸入端131與該電壓輸出端133之間之分壓元件135，該測試電壓輸入端131用於接收測試電壓。該電壓輸出端133與該引腳選擇單元11之輸出端113電連接。其中，該測試電壓為直流電壓，該分壓單元13包括電阻。其中，該測試電壓可以由外部測試設備提供，也可以是該電路板1上具有之電壓提供電路提供該測試電壓至該測試電壓輸入端131。
該引腳選擇單元11用於根據一控制訊號控制該複數引腳31之一與該分壓單元13電連接，以把該引腳31所連接之功能電路33引入該輔助測試電路10並將該引腳31所連接之功能電路33與該分壓單元13串聯。具體而言，該引腳選擇單元11包括複數輸入端111、輸出端113及控制端115，該複數輸入端111分別連接該複數引腳31，該輸出端113連接該分壓單元。該控制端115接收控制訊號，並根據該控制訊號控制該複數引腳31之一與該分壓單元13電連接。該引腳選擇單元11可以為選擇器。
該判斷單元15位於該電壓輸出端133及該測試結果輸出端19之間，用於接收該電壓輸出端133之電壓並將該電壓輸出端133之電壓與預先存儲在該判斷單元15內之第一範圍、第二範圍及第三範圍進行比較。該第一範圍、該第二範圍及該第三範圍分別與第一測試結果、第二測試結果及第三測試結果對應。若該電壓輸出端133之電壓位於該第一範圍內，則將該第一測試結果輸出，若該電壓輸出端133之電壓位於該第二範圍內，則將該第二測試結果輸出，若該電壓輸出端133之電壓位於該第三範圍內，則將該第三測試結果輸出。其中，該第一測試結果代表該引腳31所連接之功能電路33正常，該第二測試結果代表該引腳31所連接之功能電路33開路，該第三測試結果代表該引腳31所連接之功能電路33短路。優選地，該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果均為數位訊號。
在一種變更實施方式中，該判斷單元15也可以接收該電壓輸出端133之電壓並根據該電壓輸出端133之電壓大小輸出第一測試結果或第二測試結果，該第一測試結果代表該引腳31所連接之功能電路33正常，該第二測試結果代表該引腳所連接之功能電路33不正常。該第一測試結果及該第二測試結果也可以均為數位訊號。
該通訊單元17包括通訊輸入端171及通訊輸出端173，該通訊輸入端171連接該判斷單元15，用於接收該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果。該通訊輸出端173連接該測試結果輸出端19。該通訊單元17用於將該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果分別轉換為支持UART協定之訊號或者支援I2C協定之訊號，並通過該測試結果輸出端19輸出。
本發明之測試過程簡述如下：將該晶片30壓合至該電路板1之預定位置，同時將該晶片30之複數引腳31與該引腳選擇單元11之複數輸入端111一一相連，提供測試電壓至該測試電壓輸入端131，並提供一控制訊號至該引腳選擇單元11之控制端115，將一引腳31與該電壓輸出端133連接，然後，通過電腦或顯示器從該測試結果輸出端19讀出該引腳31對應之功能電路33之電連接狀態之測試結果；至此，該引腳31對應之功能電路33之電連接狀態之測試完成。進一步地，可以更換控制訊號控制其他引腳31依次與該電壓輸出端133連接，並依次獲得其他引腳31對應之功能電路33之電連接狀態之測試結果，當所有引腳31之測試結果均已讀出，即表示整個測試完成。
本發明之測試原理主要為：由於該引腳31所連接之功能電路33通常在晶片30內部包括接地端，即測試時，該引腳31所連接之功能電路33一端接地，一端與該引腳31電連接，使得該功能電路33與該分壓單元13串聯，在該測試電壓輸入端131加之測試電壓依序經由該分壓單元13及該功能電路33接地從而形成回路，該功能電路33之正常、短路及開路時之電阻大小是不同之，因此使得相應之該電壓輸出端133（也即功能電路33與分壓單元13之間之節點）輸出之電壓之大小在該功能電路33之正常、短路及開路時也各不相同，因此根據該電壓輸出端133輸出之電壓之大小即可判斷該功能電路是正常、短路還是開路。
可以理解，在一種變更之實施方式中，該通訊單元17也可位於該晶片30內部，即該通訊單元17是該晶片30原有之一部分，用於與其他功能電路或晶片之間進行通訊。
與現有技術相較，本發明電路板、晶片及該輔助測試電路中之引腳選擇單元在不同之控制訊號之控制下與相應之引腳相連，以將該引腳所連接之功能電路與該分壓單元串聯，該電壓輸出端將該引腳所連接之功能電路之電壓輸出。該判斷單元將該功能電路之電壓與預存在該判斷單元內之電壓範圍進行比較，並將測試結果輸出。該通訊單元將測試結果所對應不同之數位編碼訊號轉換成該通訊單元能識別之相應之支援UART協定或者支援I2C協定之訊號輸出。從而只需在該電路板上增加一個測試結果輸出端所對應之引腳而不需要引入測試點即可判斷出該電路板、該晶片之複數該引腳所連接之功能電路是正常、開路還是短路。從而達到了檢測過程簡單且測試點較少之技術效果。
可以理解，在一種變更之實施方式中，該電路板1可以不包括該判斷單元15及該通訊單元17，只需將電壓輸出端133與該測試結果輸出端19相連，然後利用測試設備與該測試結果輸出端19相連，從而讀出該測試結果輸出端19之電壓即可判斷該引腳31所連接之功能電路33是正常、開路還是短路。此種實施方式在該電路板1上引入測試結果輸出端19作為一個測試點即可測量該晶片30之複數引腳31所連接之功能電路33是正常、開路還是短路。不需要人工依次更換測試設備依次與測試點相連，檢測過程簡單，測試點較少。
另外，在另一種變更之實施方式中，該電路板1也可以不包括該通訊單元17。則該電路板1只需將該判斷單元15判斷出之測試結果輸出，則可根據不同之測試結果判斷該引腳31所連接之功能電路33是正常、開路還是短路。
請參閱圖2，是本發明之晶片一較佳實施方式結構示意圖。在本實施方式中，該輔助測試電路45也可以集成在該晶片40中。該輔助測試電路45在該晶片40中測試引腳41所連接之功能電路43之測試原理與該輔助測試電路10位於該電路板1上測試該引腳31所連接之功能電路33之工作原理一樣。在此不再贅述。
該實施方式中，該輔助測試電路45作為該晶片40內部之一部分，分壓單元453之測試電壓輸入端4531可以作為該晶片40之測試電壓輸入引腳，該測試結果輸出端459也可以作為該晶片40之測試結果輸出引腳，特別地，當通訊單元457為該晶片40固有之與外部其他功能電路之通訊模組時，該通訊單元457對應連接之通訊引腳也同時將作為該測試結果輸出引腳。
雖然本發明以優選實施方式揭示如上，然其並非用以限定本發明，任何本領域技術人員，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做各種之變化，這些依據本發明精神所做之變化，都應包含在本發明所要求之保護範圍之內。
1．．．電路板
10、45．．．輔助測試電路
11．．．引腳選擇單元
13、453．．．分壓單元
15．．．判斷單元
17、457．．．通訊單元
19、459．．．測試結果輸出端
111．．．輸入端
113．．．輸出端
115．．．控制端
30、40．．．晶片
31、41．．．引腳
33、43．．．功能電路
131、4531．．．測試電壓輸入端
133．．．電壓輸出端
135．．．分壓元件
171．．．通訊輸入端
173．．．通訊輸出端
圖1是本發明之電路板一較佳實施方式結構示意圖。
圖2是本發明之晶片一較佳實施方式結構示意圖。
1．．．電路板
10．．．輔助測試電路
11．．．引腳選擇單元
13．．．分壓單元
15．．．判斷單元
17．．．通訊單元
19．．．測試結果輸出端
111．．．輸入端
113．．．輸出端
115．．．控制端
30．．．晶片
31．．．引腳
33．．．功能電路
131．．．測試電壓輸入端
133．．．電壓輸出端
135．．．分壓元件
171．．．通訊輸入端
173．．．通訊輸出端
Claims (11)
- 一種電路板，該電路板包括至少一晶片，該晶片包括複數引腳及複數分別對應該複數引腳連接之功能電路，其中，該電路板還包括用於輔助檢測該複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態之輔助測試電路，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接於該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間之分壓元件，該測試電壓輸入端用於接收測試電壓，該引腳選擇單元連接於該複數引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用於根據一控制訊號控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。
- 如申請專利範圍第1項所述之電路板，其中，該引腳選擇單元包括複數輸入端、一輸出端及一控制端，該複數輸入端分別連接該複數引腳，該輸出端連接該電壓輸出端，該控制端接收該控制訊號。
- 如申請專利範圍第1項所述之電路板，其中，該輔助測試電路還包括連接於該電壓輸出端與該測試結果輸出端之判斷單元，該判斷單元用於接收該電壓輸出端之電壓並依據該電壓輸出端之電壓大小輸出第一測試結果、第二測試結果或第三測試結果，該第一測試結果代表測試引腳連接之功能電路正常，該第二測試結果代表測試引腳連接之功能電路開路，該第三測試結果代表測試引腳連接之功能電路短路。
- 如申請專利範圍第3項所述之電路板，其中，該判斷單元預先存儲有第一範圍、第二範圍及第三範圍，該第一範圍、該第二範圍及該第三範圍分別與該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果對應，若該電壓輸出端之電壓位於該第一範圍內，則將第一測試結果輸出，若該電壓輸出端之電壓位於該第二範圍內，則將第二測試結果輸出，若該電壓輸出端之電壓位於該第三範圍內，則將該第三測試結果輸出。
- 如申請專利範圍第1項所述之電路板，其中，該輔助測試電路還包括連接於該電壓輸出端與該測試結果輸出端之判斷單元，該判斷單元用於接收該電壓輸出端之電壓並依據該電壓輸出端之電壓大小輸出第一測試結果或第二測試結果，該第一測試結果代表測試引腳連接之功能電路正常，該第二測試結果代表測試引腳連接之功能電路不正常。
- 如申請專利範圍第3或5項所述之電路板，其中，該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果均為數位訊號。
- 如申請專利範圍第3或5項所述之電路板，其中，該晶片或該輔助測試電路還包括通訊單元，該通訊單元包括輸入端及輸出端，該通訊單元輸入端連接該判斷單元，用於接收該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果，該通訊單元之輸出端連接該測試結果輸出端，該通訊單元用於將該第一測試結果、該第二測試結果及該第三測試結果分別轉換為支援UART協定之訊號或者支援I2C協定之訊號，並通過該測試結果輸出端輸出。
- 如申請專利範圍第1項所述之電路板，其中，該分壓單元包括電阻，該測試電壓為直流電壓。
- 如申請專利範圍第1項所述之電路板，其中，該輔助測試電路集成於該晶片內部。
- 一種輔助測試電路，用於輔助測量晶片之複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態，其中，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接於該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間之分壓元件，該測試電壓輸入端用於接收測試電壓，該引腳選擇單元連接於該複數引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用於根據外部控制訊號控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。
- 一種晶片，其包括複數引腳及複數分別對應該複數引腳連接之功能電路，其中，該晶片還包括用於輔助檢測該複數引腳及對應之功能電路之電連接狀態之輔助測試電路，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接於該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間之分壓元件，該測試電壓輸入端用於接收測試電壓，該引腳選擇單元連接於該複數引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用於根據外部控制訊號控制該複數引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。
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