TWI536345B - 液晶顯示裝置及其檢測方法 - Google Patents

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Description

液晶顯示裝置及其檢測方法
本發明的實施例係關於一種液晶顯示裝置及其檢測方法，且更明確地說，係關於一種能夠偵測功能失常的液晶顯示裝置及其檢測方法。
優先權之主張
本申請案在35 U.S.C.§119的規範下參考並主張先前於2010年5月13日在韓國智慧財產局所提申之申請案的所有權利，該案的正式指派序號為10-2010-0044905，本文以引用的方式將其併入。
液晶顯示(Liquid Crystal Display，LCD)裝置係根據資料訊號來控制以矩陣形式被設置在一液晶面板上的液晶胞體的透光率來顯示影像。為達此目的，該液晶顯示裝置包含：一具有多個液晶胞體的液晶面板；以及一驅動電路，用以驅動該等液晶胞體。
該LCD面板包含一上基板與一下基板。上基板包含：一紅色濾光片；一綠色濾光片；一藍色濾光片；以及一被形成在該等彩色濾光片之間的黑矩陣。一共用電極會被形成在該等彩色濾光片之上。下基板則包含：多個薄膜電晶體(Thin Film Transistor，TFT)，它們會被形成在每一個該等液晶胞體處；多 個像素電極，它們會被形成用以連接至該TFT；以及多個繞線電極，它們會被形成用以連接至該TFT。
該液晶面板係經由一處理程序來生產，並且會進行一檢測製程，以便在完成該液晶面板之後偵測掃描線與資料線的短路與開路以及該等液晶胞體的功能失常。該液晶面板包含一被連接至每一條該等資料線的第一短路棒以及一被連接至每一條該等掃描線的第二短路棒，以達該檢測製程的目的。供應固定的檢測訊號至該第一短路棒及/或該第二短路棒便會偵測到液晶顯示裝置的線路短路與開路以及液晶胞體的功能失常。
多個資料電晶體會被形成在多個資料觸墊(它們會供應資料訊號給該等資料線)與該第一短路棒之間。該等資料電晶體會被設置在一具有資料整合電路的重疊區域上，在檢測製程中電連接資料觸墊與該第一短路棒，並且在其它製程中電隔離該等資料觸墊與該第一短路棒。相同的方式，多個閘極電晶體會被形成在該第二短路棒與多個閘極觸墊之間，並且會在檢測製程期間電連接該等閘極觸墊與該第二短路棒。
另一方面，該等資料電晶體會供應一具有預設頻率的訊號作為檢測訊號，用以檢查該等液晶胞體的異常(也就是，點燈檢測(lighting inspection))，並且最後會被形成具有至少預設的通道寬度。於此情況中，缺點係該等資料電晶體不會被形成在面板的該等資料整合電路(它們的尺寸越來越小)以及重疊區域處。
為克服該項缺點，該等資料電晶體可能會被形成在沒有與該等資料整合電路重疊的外部區域處。此時，該等資料電晶體會被電連接至該等資料線，而不會通過該等資料觸墊。然而，倘若該等資料電晶體被直接連接至該等 資料線的話，缺點係會偵測不到資料觸墊與資料線之間的連接線(也就是，扇出部)的功能失常。
本發明的實施例提供一種即使資料整合電路的尺寸縮小亦能夠偵測連接線之功能失常的液晶顯示裝置及其檢測方法。
根據該實施例的其中一項觀點，本發明提供一種液晶顯示裝置，其包含：複數條掃描線；複數條資料線；複數個像素，用以顯示一影像；複數個資料觸墊；一資料整合電路；複數個第一資料電晶體；以及複數個第二資料電晶體。該等像素會被耦合至該等掃描線與該等資料線。每一條該等資料線都會被電連接至其中一個該等資料觸墊。該資料整合電路會經由該等資料觸墊供應資料訊號給該等資料線。每一個該等資料觸墊都會被電連接至其中一個該等第一資料電晶體，而該等第一資料電晶體則會被設置在該資料整合電路之上。每一條該等資料線都會被電連接至其中一個該等第二資料電晶體，而該等第二資料電晶體則會與該資料整合電路分開。
該等第二資料電晶體的通道寬度可能寬於該等第一資料電晶體的通道寬度。
該液晶顯示裝置可能還進一步包含：一第一資料檢測線；一第二資料檢測線；一第一資料控制線；以及一第二資料控制線。該第一資料檢測線可能會被連接至該等第一資料電晶體中第i個電晶體的一第一電極並且會被連接至該等第二資料電晶體中第i個電晶體的一第一電極。該第二資料檢測線可能會被連接至該等第一資料電晶體中第(i+1)個電晶體的一第一電極並且會被連接至 該等第二資料電晶體中第(i+1)個電晶體的一第一電極。該第一資料控制線可能會被連接至每一個該等第一資料電晶體的閘極電極。該第二資料控制線可能會被連接至每一個該等第二資料電晶體的閘極電極。
於一第一檢測週期期間，一第一控制訊號可能會被供應至該第一資料控制線；而於一第二檢測週期期間，一第二控制訊號可能會被供應至該第二資料控制線。當該第一控制訊號被供應至該等第一資料電晶體時，該等第一資料電晶體便可能會開啟；而當該第二控制訊號被供應至該等第二資料電晶體時，該等第二資料電晶體便可能會開啟。該第一檢測週期不可以重疊該第二檢測週期。於該第一檢測週期期間，一第一檢測訊號可能會被供應至該第一資料檢測線並且被供應至該第二資料檢測線。該第一檢測訊號可能包含一DC電壓。
於第二檢測週期期間，一第二檢測訊號可能會被供應至該第一資料檢測線並且被供應至該第二資料檢測線。
於該等第一與第二檢測週期以外的週期期間，該等第一資料電晶體與該等第二資料電晶體可能會關閉。
該液晶顯示裝置可能還進一步包含：一第一資料檢測線；一第二資料檢測線；一第一資料控制線；以及一第二資料控制線。該第一資料檢測線可能會被連接至該等第二資料電晶體中第i個電晶體的一第一電極。該第二資料檢測線可能會被連接至該等第二資料電晶體中第(i+1)個電晶體的一第一電極。該等第一資料電晶體中的第一電極可能會被連接至該第一資料檢測線與該第二資料檢測線中的其中一者。該第一資料控制線可能會被連接至每一個該等第一資料電晶體的閘極電極。該第二資料控制線可能會被連接至每一個該等第二資料電晶體的閘極電極。該等第一資料電晶體的所有該等第一電極可能會被連接 至該第一資料檢測線。該等第一資料電晶體的所有該等第一電極可能會被連接至該第二資料檢測線。
根據該實施例的另一項觀點，本發明提供一種液晶顯示裝置的檢測方法，該液晶顯示裝置包含一資料整合電路以及複數條資料線。該方法包含：於一第一檢測週期期間開啟第一資料電晶體；經由該等第一資料電晶體供應一第一檢測訊號給該等連接線來偵測該等連接線的中斷連接；於一第二檢測週期期間開啟第二資料電晶體；以及經由該等第二資料電晶體供應一第二檢測訊號給該等連接線來偵測液晶像素的功能失常。該資料整合電路會經由資料觸墊與連接線供應資料訊號給該等資料線。該等第一資料電晶體會被設置在該資料整合電路之上。該等第一資料電晶體會被耦合至該等資料觸墊。該等連接線會被設置在該等資料觸墊與資料線之間。該等第二資料電晶體會被耦合至該等資料線。該第一檢測週期不會重疊該第二檢測週期。
該第一檢測訊號可能包含一DC電壓。該等第二資料電晶體可能會被配置成不重疊該資料整合電路。該等第二資料電晶體的通道寬度可能寬於該等第一資料電晶體的通道寬度。
該檢測方法可能還進一步包含在該第二檢測週期期間供應一選擇訊號給掃描線，用以選擇該等液晶像素。每一個該等液晶像素皆可能會被耦合至其中一條該等資料線以及其中一條該等掃描線。
根據該液晶顯示裝置及其檢測方法，本發明的優點係該液晶顯示裝置能夠利用被配置成重疊一資料整合電路的該等第一資料電晶體來偵測連接線的功能失常，並且能夠藉由被配置在一不重疊該資料整合電路的外部區域處的該等第二資料電晶體來偵測液晶胞體的功能失常。此處，由於僅偵測連接線 的功能失常的關係，該等第一資料電晶體能夠被配置成具有可能的最小尺寸，並且因而能夠被設置成用以重疊一資料電路。
10‧‧‧像素單元
12‧‧‧掃描線
14‧‧‧資料線
16‧‧‧液晶胞體
20‧‧‧資料整合電路
22‧‧‧資料觸墊
24‧‧‧第一資料電晶體
26a‧‧‧第一資料控制線
26b‧‧‧第二資料控制線
28a‧‧‧第一資料檢測線
28b‧‧‧第二資料檢測線
29‧‧‧第二資料電晶體
30‧‧‧閘極整合電路
32‧‧‧閘極觸墊
34‧‧‧閘極電晶體
36a‧‧‧第一閘極控制線
36b‧‧‧第二閘極控制線
38a‧‧‧第一閘極檢測線
38b‧‧‧第二閘極檢測線
58a‧‧‧第一資料檢測線
58b‧‧‧第二資料檢測線
100‧‧‧連接線
S100~S150‧‧‧製程
配合隨附的圖式來探討上面的詳細說明會更完整明白且會有更理解本發明及其伴隨的優點，其中，相同的元件符號表示相同或雷同的組件，其中：圖1所示的係根據本發明一實施例的液晶顯示裝置的平面圖；圖2所示的係根據本發明另一實施例的液晶顯示裝置的平面圖；圖3所示的係根據本發明又一實施例的液晶顯示裝置的平面圖；以及圖4所示的係根據本發明又一實施例的檢測方法的流程圖。
液晶顯示(LCD)裝置係根據資料訊號來控制以矩陣形式被設置在一液晶面板上的液晶胞體的透光率來顯示影像。為達此目的，該液晶顯示裝置包含：一具有多個液晶胞體的液晶面板；以及一驅動電路，用以驅動該等液晶胞體。該LCD面板包含一上基板與一下基板。上基板包含：一紅色濾光片；一綠色濾光片；一藍色濾光片；以及一被形成在該等彩色濾光片之間的黑矩陣。一共用電極會被形成在該等彩色濾光片之上。下基板則包含：多個薄膜電晶體(TFT)，它們會被形成在每一個該等液晶胞體處；多個像素電極，它們會被形成用以連接至該TFT；以及多個繞線電極，它們會被形成用以連接至該TFT。該液 晶面板係經由一處理程序來生產，並且會進行一檢測製程，以便在完成該液晶面板之後偵測掃描線與資料線的短路與開路以及該等液晶胞體的功能失常。
下文中將參考隨附圖式來說明根據本發明的特定示範性實施例。此處，當說明到一第一元件被耦合至一第二元件時，該第一元件可能不僅會直接被耦合至該第二元件，可能還會透過一第三元件間接被耦合至該第二元件。進一步言之，為清楚起見，本文已經省略對完整瞭解本發明並非必要的某些元件。另外，全文中相同的元件符號表示相同的元件。
下文中將參考圖1至圖3來更詳細說明較佳的實施例，其中，熟習本領域的人士便能夠輕易地實施本發明。
圖1所示的係根據本發明一實施例的液晶顯示裝置的平面圖。圖1顯示一資料整合電路20以及一閘極電路30，以便幫助說明本發明；不過，本發明的實施例並不受限於此。圖4所示的係根據本發明又一實施例的檢測方法的流程圖。該檢測製程會在解釋該液晶顯示裝置的元件時作說明。
參考圖1，根據本發明一實施例的液晶顯示裝置包含：一像素單元10，其具有相互跨越的多條資料線14與多條掃描線12；一資料整合電路20，其會驅動該等資料線14；以及一閘極整合電路30，其會驅動該等掃描線12。
該像素單元10包含被排列成矩陣形式(二維陣列)的多個液晶胞體16，而且每一個該等液晶胞體16皆位在其中一條該等資料線14與其中一條該等掃描線12的交點附近。每一個該等液晶胞體16皆包含一薄膜電晶體(TFT)以及一被連接至該TFT的像素電極。當掃描訊號被供應至該等掃描線12時，該等液晶胞體16便會被選擇，並且會被供應來自該等資料線14的資料訊號。而後，該等液 晶胞體16便會藉由控制對應於該等資料訊號的透光率讓影像被顯示在該像素單元10上。該液晶胞體16可被稱為像素單元10的一液晶像素16或是一像素16。
該閘極整合電路30會被配置成被連接至閘極觸墊32。該閘極整合電路30會經由該等閘極觸墊32來供應該等掃描訊號給資料線14。該等閘極觸墊32可能會被鑲嵌在該閘極整合電路30之上，以便傳送來自該閘極整合電路30的訊號。
該資料整合電路20會被配置成被連接至資料觸墊22。該資料整合電路20會經由該等資料觸墊22來供應該等資料訊號給該等資料線14。該等資料觸墊22可能會被鑲嵌在該資料整合電路20之上，以便傳送來自該資料整合電路20的訊號。
此外，本發明的其中一實施例還包含一第一資料檢測線28a、一第二資料檢測線28b、一第一資料控制線26a、一第二資料控制線26b、第一資料電晶體24、以及第二資料電晶體29，用以偵測該等液晶胞體16及該等連接線100的功能失常。
該第一資料檢測線28a會被連接至該等第一資料電晶體24中第i個電晶體以及該等第二資料電晶體29中第i個電晶體的一第一電極(汲極電極與源極電極中其中一者)。該第一資料檢測線28a會傳送一第一檢測訊號(其係在第一檢測週期期間供應自一外部裝置)給該第i個第一資料電晶體24與該第i個第二資料電晶體29。此處，倘若一電晶體的源極電極稱為第一電極的話，該電晶體的汲極電極便稱為第二電極；反之亦可。
該第二資料檢測線28b會被連接至該等第一資料電晶體24中第(i+1)個電晶體以及該等第二資料電晶體29中第(i+1)個電晶體的一第一電極。該 第二資料檢測線28b會傳送一第二檢測訊號(其係在第二檢測週期期間供應自一外部裝置)給該第(i+1)個第一資料電晶體24與該第(i+1)個第二資料電晶體29。此處，該第(i+1)個電晶體係被設置在該第i個電晶體旁邊的電晶體，而「i」為一自然數。此排列的其中一種範例顯示在圖1中。該第一資料檢測線28a會被連接至該等第一資料電晶體24中第一個、第三個、第五個、…等電晶體的第一電極，並且會被連接至該等第二資料電晶體29中第一個、第三個、第五個、…等電晶體的第一電極。該第二資料檢測線28b會被連接至該等第一資料電晶體24中第二個、第四個、第六個、…等電晶體的第一電極，並且會被連接至該等第二資料電晶體29中第二個、第四個、第六個、…等電晶體的第一電極。換言之，該等第一資料電晶體24的連接會交錯在該等第一資料檢測線28a與第二資料檢測線28b之間，而該等第二資料電晶體29的連接同樣會交錯在該等第一資料檢測線28a與第二資料檢測線28b之間。
該第一資料控制線26a會被連接至該等第一資料電晶體24的閘極電極。於第一檢測週期期間，該第一資料控制線26a會供應一第一控制訊號給每一個該等第一資料電晶體24的閘極電極。當該第一控制訊號被供應至該等第一資料電晶體的閘極電極時，該等第一資料電晶體24便會開啟。
該第二資料控制線26b會被連接至該等第二資料電晶體29的閘極電極。於第二檢測週期期間，該第二資料控制線26b會供應一第二控制訊號給該等第二資料電晶體29。當該第二控制訊號被供應至該等第二資料電晶體的閘極電極時，該等第二資料電晶體29便會開啟。該第一檢測週期不會重疊該第二檢測週期。
該等第一資料電晶體24會被配置成用以重疊該資料整合電路20。換言之，該等第一資料電晶體24會被設置在或是被鑲嵌在該資料整合電路20之上。第一資料電晶體24的第二電極會被連接至其中一個該等資料觸墊22，而第一資料電晶體24的第一電極則會被連接至第一資料檢測線28a或第二資料檢測線28b。該等第一資料電晶體24係用來檢測被設置在該等資料觸墊22與該等資料線14之間的連接線100的中斷連接(也就是，扇出的中斷連接功能失常)。
更明確地說，在第一檢測週期期間，該第一控制訊號會被供應至該第一資料控制線26a，而該第一檢測訊號會被供應至該第一資料檢測線28a與該第二資料檢測線28b。當該第一控制訊號被供應至該第一資料控制線26a時，該等第一資料電晶體24便會開啟(圖4中的S100)。當該等第一資料電晶體24開啟時，該第一檢測訊號便會(也就是，一直流(Direct Current，DC)電壓)經由該等連接線100被供應至該等資料線14(S110)。於此配置中，藉由感測經由該等資料線14被供應的電流便可檢測該等連接線100的中斷連接(S120)。
同時，該等第一資料電晶體24會傳送該第一檢測訊號(其無法驅動該等液晶胞體16)給該連接線100。於此情況中，該等第一資料電晶體24能夠被配置成最小尺寸，其能夠被設置在該資料整合電路20之上。所以，該等第一資料電晶體24可牢固地被配置在一和該資料整合電路20重疊的區域處。
該等第二資料電晶體29會被配置成被定位在一不重疊該資料整合電路20的區域中。舉例來說，該等第二資料電晶體29可能會被定位在設置於該等連接線100之上方部處的資料線14的末端附近，如圖1中所示。第二資料電晶體29的第二電極會被連接至其中一條該等資料線14，而第二資料電晶體29的 第一電極則會被連接至第一資料檢測線28a或第二資料檢測線28b。該等第二資料電晶體29係用來檢測該等液晶胞體16的異常運作以及該等連接線100的短路。
更明確地說，於第二檢測週期(其並沒有重疊該第一檢測週期)期間，該第二控制訊號會被供應至該第二資料控制線26b，而該第二檢測訊號會被供應至該第一資料檢測線28a與該第二資料檢測線28b。該第二檢測訊號可能包含用以檢測該等液晶胞體之異常的訊號以及用以檢查連接線100之短路的訊號。
當該第二控制訊號被供應至該第二資料控制線26b時，該等第二資料電晶體29便會開啟(圖4中的S130)。當該等第二資料電晶體29開啟時，該第二檢測訊號便會經由被供應至該等資料線14(S140)。於此週期中，會檢測該等液晶胞體16的運作是否異常以及該等連接線100是否短路(S150)。更明確地說，該等液晶胞體16的一選擇訊號會在第二檢測週期期間被供應至該等掃描線12。此時，該第二檢測訊號會被供應至被該選擇訊號選到的液晶胞體16。經由此製程，能夠檢測該等液晶胞體16的運作是否異常。
此外，在第二檢測週期期間，該第一資料檢測線28a與該第二資料檢測線28b可能會在不同的時間處被供應該第二檢測訊號。此時，藉由感測流到該等資料線14的電流便可檢測該等連接線100是否短路。
另一方面，該等第二資料電晶體29會相應於該等液晶胞體16的充電與放電而被供應一具有預設頻率的第二檢測訊號。因此，該等第二資料電晶體29的通道寬度會被設為寬過該等第一資料電晶體24的通道寬度。
對上面所提的本發明的實施例來說，利用重疊該資料電路的第一資料電晶體以及不重疊該資料電路的第二資料電晶體可以檢測該等液晶胞體16與該等連接線100是否異常。於此情況中，該等第一資料電晶體能夠被配置成用 以重疊該資料整合電路，且據此，能夠準確地偵測該等中斷連接功能失常。另外，本發明的其中一實施例還能夠利用該等第二資料電晶體來準確地偵測該等液晶胞體16是否異常。
本發明的其中一實施例還進一步包括一第一閘極檢測線38a、一第二閘極檢測線38b、一第一閘極控制線36a、以及一第二閘極控制線36b，用以於該第二檢測週期期間供應該選擇訊號給掃描線12。
該第一閘極檢測線38a會被連接至閘極電晶體34中第(i+1)個電晶體的一第一電極。該第一閘極檢測線38a會傳送供應自一外部裝置的第一檢測訊號給該第(i+1)個閘極電晶體34。
該第二閘極檢測線38b會被連接至該等閘極電晶體34中第i個電晶體的一第一電極。該第二閘極檢測線38b會在該檢測週期期間傳送供應自該外部裝置的第二檢測訊號給該第i個閘極電晶體34。換言之，該等閘極電晶體34的連接會交錯在該等第一閘極檢測線38a與第二閘極檢測線38b之間。
該第一閘極控制線36a會被連接至該等閘極電晶體34中第(i+1)個電晶體的一閘極電極。該第一閘極控制線36a會供應一第一控制訊號給該第(i+1)個閘極電晶體34。當該第一控制訊號被供應至該第(i+1)個閘極電晶體34的閘極電極時，該第(i+1)個閘極電晶體34便會開啟。
該第二閘極控制線36b會被連接至該等閘極電晶體34中第i個電晶體的閘極電極。該第二閘極控制線36b會供應一第二控制訊號給該第i個閘極電晶體34。當該第二控制訊號被供應至該第i個閘極電晶體34的閘極電極時，該第i個閘極電晶體34便會開啟。此處，該第(i+1)個閘極電晶體係被設置在該第i個閘極電晶體旁邊的電晶體，而「i」為一自然數。閘極電晶體的第一電極可能係一源 極電極或是一汲極電極。倘若一閘極電晶體的源極電極稱為第一電極的話，該閘極電晶體的汲極電極便稱為第二電極；反之亦可。
該等閘極電晶體34會被配置成用以重疊該閘極整合電路30。換言之，該等閘極電晶體34係被設置在或被鑲嵌在該閘極整合電路30之上。該等閘極電晶體34的第二電極會被連接至該等閘極觸墊32，而該等閘極電晶體34的第一電極則會被連接至第一閘極檢測線38a或第二閘極檢測線38b。該等閘極電晶體34會在第二檢測週期期間開啟，並且供應一選擇訊號給掃描線。由於該選擇訊號僅供應至該等掃描線12，所以，該等閘極電晶體34的尺寸能夠縮小，並且能夠會被配置成用以重疊該閘極整合電路30。
雖然上面所述的閘極電晶體34被解釋為重疊該閘極整合電路30；但是，本發明的實施例並不受限於此。舉例來說，倘若該閘極整合電路30被包裝於一面板之中的話，該等閘極電晶體34亦可能會被配置成與該閘極整合電路30相鄰。於本發明的實施例中，實際上，用以供應該選擇訊號給該等掃描線12的電路系統可能係被選定為目前已知的各式各樣電路中的其中一者。
圖2所示的係根據本發明第二實施例的液晶顯示裝置。在圖2的說明中，和圖1相同的部件會使用相同的符號，並且將會省略其說明。
參考圖2，在本發明的第二實施例中，該等第一資料電晶體24的第二電極係被連接至該等資料觸墊22，而第一電極則係被連接至第一資料檢測線58a。也就是，在本發明的第二實施例中，該等第一資料電晶體24的所有第一電極都會被連接至第一資料檢測線58a。
因為該等第一資料電晶體24係用來偵測連接線100的中斷連接功能失常，也就是，藉由僅供應一dc電流，所以，該等第一資料電晶體24的第一 電極可被連接至第一資料檢測線58a。如圖3所示，該等第一資料電晶體24的所有第一電極亦可被配置成用以被連接至第二資料檢測線58b。
雖然本文已經配合特定的示範性實施例說明過本發明；不過，應該瞭解的係，本發明並不受限於所揭實施例，相反地，本發明希望涵蓋落在隨附申請專利範圍之精神與範疇內的各種修正例與等效排列，以及它們的等效例。
10‧‧‧像素單元
12‧‧‧掃描線
14‧‧‧資料線
16‧‧‧液晶胞體
20‧‧‧資料整合電路
22‧‧‧資料觸墊
24‧‧‧第一資料電晶體
26a‧‧‧第一資料控制線
26b‧‧‧第二資料控制線
28a‧‧‧第一資料檢測線
28b‧‧‧第二資料檢測線
29‧‧‧第二資料電晶體
30‧‧‧閘極整合電路
32‧‧‧閘極觸墊
34‧‧‧閘極電晶體
36a‧‧‧第一閘極控制線
36b‧‧‧第二閘極控制線
38a‧‧‧第一閘極檢測線
38b‧‧‧第二閘極檢測線
100‧‧‧連接線

Claims (16)

  1. 一種液晶顯示裝置，其包括：複數條掃描線；複數條資料線；複數個像素，用以顯示一影像，該等像素會被耦合至該等掃描線與該等資料線；複數個資料觸墊，每一條該等資料線都會被電連接至其中一個該等資料觸墊；一資料整合電路，用以經由該等資料觸墊來供應資料訊號給該等資料線；複數個第一資料電晶體，每一個該等資料觸墊都會被連接至該等第一資料電晶體之其中之一之一第二電極，該等第一資料電晶體之一第一電極係連接於一第一資料檢測線，且該等第一資料電晶體會被設置在該資料整合電路上；以及複數個第二資料電晶體，每一條該等資料線都會被連接至該等第二資料電晶體之其中之一之一第一電極，該等第二資料電晶體之其中之一係連接於該第一資料檢測線，該等第二資料電晶體會與該資料整合電路分開。
  2. 如申請專利範圍第1項的液晶顯示裝置，其中，該等第二資料電晶體的通道寬度寬於該等第一資料電晶體的通道寬度。
  3. 如申請專利範圍第1項的液晶顯示裝置，其中該第一資料檢測線，其會被連接至該等第一資料電晶體中第i個電晶體的一第一電極並且會被連接至該等第二資料電晶 體中第i個電晶體的一第一電極；該液晶顯示裝置進一步包含：一第二資料檢測線，其會被連接至該等第一資料電晶體中第(i+1)個電晶體的一第一電極並且會被連接至該等第二資料電晶體中第(i+1)個電晶體的一第一電極；一第一資料控制線，其會被連接至每一個該等第一資料電晶體的閘極電極；以及一第二資料控制線，其會被連接至每一個該等第二資料電晶體的閘極電極。
  4. 如申請專利範圍第3項的液晶顯示裝置，其中，於一第一檢測週期期間，一第一控制訊號會被供應至該第一資料控制線，而於一第二檢測週期期間，一第二控制訊號會被供應至該第二資料控制線，當該第一控制訊號被供應至該等第一資料電晶體時，該等第一資料電晶體會開啟，當該第二控制訊號被供應至該等第二資料電晶體時，該等第二資料電晶體會開啟，該第一檢測週期不會重疊該第二檢測週期。
  5. 如申請專利範圍第4項的液晶顯示裝置，其中，於該第一檢測週期期間，一第一檢測訊號會被供應至該第一資料檢測線並且被供應至該第二資料檢測線。
  6. 如申請專利範圍第5項的液晶顯示裝置，其中，該第一檢測訊號包含一DC電壓。
  7. 如申請專利範圍第4項的液晶顯示裝置，其中，於第二檢測週期期間，一第二檢測訊號會被供應至該第一資料檢測線並且被供應至該第二資料檢測線。
  8. 如申請專利範圍第4項的液晶顯示裝置，其中，於該等第一與第二檢測週期以外的週期期間，該等第一資料電晶體與該等第二資料電晶體會關閉。
  9. 如申請專利範圍第1項的液晶顯示裝置，其中該第一資料檢測線係連接至該等第二資料電晶體中第i個電晶體的一第一電極；該液晶顯示裝置進一步包含：一第二資料檢測線，其會被連接至該等第二資料電晶體中第(i+1)個電晶體的一第一電極，該等第一資料電晶體中的第一電極會被連接至該第一資料檢測線與該第二資料檢測線中的其中一者；一第一資料控制線，其會被連接至每一個該等第一資料電晶體的閘極電極；以及一第二資料控制線，其會被連接至每一個該等第二資料電晶體的閘極電極。
  10. 如申請專利範圍第9項的液晶顯示裝置，其中，該等第一資料電晶體的所有該等第一電極會被連接至該第一資料檢測線。
  11. 如申請專利範圍第9項的液晶顯示裝置，其中，該等第一資料電晶體的所有該等第一電極會被連接至該第二資料檢測線。
  12. 一種液晶顯示裝置的檢測方法，其包括：於一第一檢測週期期間開啟第一資料電晶體，該液晶顯示裝置包含一資料整合電路以及複數條資料線，該資料整合電路會經由資料觸墊與連接線供應資料訊號給該等資料線，該等第 一資料電晶體會被設置在該資料整合電路之上，該等第一資料電晶體會被耦合至該等資料觸墊；經由該等第一資料電晶體供應一第一檢測訊號給該等連接線來偵測該等連接線的中斷連接，該等連接線會被設置在該等資料觸墊與資料線之間；於一第二檢測週期期間開啟第二資料電晶體，該等第二資料電晶體會被耦合至該等資料線，該第一檢測週期不會重疊該第二檢測週期；以及經由該等第二資料電晶體供應一第二檢測訊號給該等連接線來偵測液晶像素的功能失常。
  13. 如申請專利範圍第12項的檢測方法，其中，該第一檢測訊號可能包含一DC電壓。
  14. 如申請專利範圍第12項的檢測方法，其中，該等第二資料電晶體會被配置成不重疊該資料整合電路。
  15. 如申請專利範圍第12項的檢測方法，其中，該等第二資料電晶體的通道寬度寬於該等第一資料電晶體的通道寬度。
  16. 如申請專利範圍第12項的檢測方法，其進一步包括：在該第二檢測週期期間供應一選擇訊號給掃描線，用以選擇該等液晶像素，每一個該等液晶像素皆會被耦合至其中一條該等資料線以及其中一條該等掃描線。
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