CN101825782B - 基板测试电路及基板 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种基板测试电路及基板，本发明通过将第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的引线长度设置为相等，使得第一数据线测试线的两个测试输入端到第一面板的输入电阻相等，从而使得对第一面板的数据线进行检测时，从两个测试输入端输入的测试信号在传输过程中电压衰减相同，实际加载于第一面板上的测试信号相同，进而在采用第一数据线测试线的两个测试输入端的任一个测试输入端对第一面板的数据线进行电性不良的检测时，具有相同的检出能力，同理对第一面板的栅线、公共电极线进行电性不良的检测时，也具有相同的检出能力。

Description

基板测试电路及基板

技术领域

本发明涉及一种基板测试电路及基板，属于薄膜晶体管液晶显示器制造技术中的测试技术领域。 

背景技术

随着薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，以下简称：TFT-LCD)制造技术的不断完善以及成本的不断降低，TFT-LCD已经被广泛应用。 

现有的TFT-LCD制造方法为：在一张较大的基板上形成若干独立的TFT像素阵列区，每个TFT像素阵列区对应一块面板；为了对沉积在基板上的TFT像素阵列区进行信号检测，用于输入测试信号的测试电路也需要随TFT像素阵列一同沉积在基板上，且该测试电路的沉积位置在基板每个面板的周围，然后即可通过该测试电路的测试输入端输入测试信号来检测各个面板的电性不良发生情况。测试完毕后，在沉积了TFT像素阵列的基板上涂布液晶，然后再覆盖彩色基板，拼合成LCD面板，最后再将该LCD面板切割，同时切除每个面板周围的测试电路，从而形成独立的面板。 

图1为现有技术中基板测试电路的结构示意图，如图1所示，在形成TFT像素阵列区以及外围的测试电路的过程中，曝光工艺以两个面板为单元进行曝光，称为一个曝光单元，图1中在基板上共排布有12个面板，即1号面板～12号面板，所以曝光过程共需要6个曝光单元，每个曝光单元如图中虚线内部区域所示。由于各曝光单元使用的模版相同，所以最终形成的图样结构也相同，相应的测试电路也以曝光单元为单位进行设计。每个面板的测试信号线分为数据线测试线，栅线测试线和公共电极测试线，每种测试信号有两个测试输入端，分别位于基板的外侧边缘和中心区域。 

图2为图1中电性不良检测的结构示意图，如图2所示，在图1所示的中心区域加载测试信号时，必须在用于设置探针52的设备探针框架5上添加带有探针52的横梁51，探针52与测试输入端接触，通过该探针即可向面板上加载测试信号。 

由于用于探测电性不良的传感器与面板之间的距离只有15um左右，在进行测试时，传感器经过横梁51时必须升起一次来绕过横梁51，这将增加测试时间，影响测试效率。因此，现有技术在进行电性不良测试时，不使用中心区域的测试输入端，而只能使用基板外侧边缘的测试输入端。 

由于现有技术只能使用基板外侧边缘的测试输入端，而基板外侧边缘的测试输入端与各个面板对应的测试信号线的输入电阻不同，引起测试信号传输过程中电压衰减的不同，导致实际加载于各面板的测试信号的差异，最终导致测试电路对各个面板的电性不良的检出能力存在较大差异。 

发明内容

本发明提供一种基板测试电路及基板，用以解决现有技术中测试电路对各个面板的电性不良的检出能力存在较大差异的问题，实现基板测试电路对基板上的面板的电性不良的检出能力相同的效果。 

本发明提供一种基板测试电路，包括：与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线、第一栅线测试线和第一公共电极线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第一公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端，所述第一数据线测试输入端、第一栅线测试输入端和第一公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等；所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等；所述第一 公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等。 

为实现上述目的，本发明还提供一种基板测试电路，包括： 

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线以及与所述曝光单元内的第二面板连接的第二数据线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第一数据线测试输入端和第三数据线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。 

为实现上述目的，本发明还提供另一种基板测试电路，包括： 

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一栅线测试线以及与所述曝光单元内的第二面板连接的第二栅线测试线，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第二栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，所述第一栅线测试输入端和第三栅线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。 

为实现上述目的，本发明还提供一种基板，包括横向布设的两个曝光单元，纵向布设的多个曝光单元，每个曝光单元包括上述基板测试电路。 

本发明一个基板测试电路通过将第一数据线测试输入端和第二数据线测 试输入端到第一面板的输入电阻设置为相等，使得第一数据线测试线的两个测试输入端到第一面板的输入电阻相等，从而使得对第一面板的数据线进行检测时，从两个测试输入端输入的测试信号在传输过程中电压衰减相同，实际加载于第一面板上的测试信号相同，进而在采用第一数据线测试线的两个测试输入端的任一个测试输入端对第一面板的数据线进行电性不良的检测时，具有相同的检出能力，同理对第一面板的栅线、公共电极线进行电性不良的检测时，也具有相同的检出能力。 

本发明再一个基板测试电路，通过将第一数据线测试线的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的输入电阻设置为相等，将第二数据线测试线的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到第二面板的输入电阻相等，使得第一数据线测试线的两个测试输入端的输入电阻相同，第二数据线测试线的两个输入端的输入电阻相同；通过将第一数据线测试输入端到第一面板的输入电阻与第三数据线测试输入端到第二面板的输入电阻设置为相等，使得各个测试输入端到第一面板的输入电阻以及第二面板的输入电阻也相同，从而使得测试信号在第一数据线测试线和第二数据线测试线的传输过程中电压衰减相同，实际加载于各面板的测试信号相同，测试电路对各个面板的数据线的电性不良的检出能力相同，从而使得在基板的任何位置上都能获取相同的数据线的电性不良检出效果。 

本发明另一基板测试电路，通过将第一栅线测试线的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到第一面板的输入电阻设置为相等，将第二栅线测试线的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到第二面板的输入电阻相等，使得第一栅线测试线的两个测试输入端的输入电阻相同，第二栅线测试线的两个输入端的输入电阻相同；通过将第一栅线测试输入端到第一面板的输入电阻与第三栅线测试输入端到第二面板的输入电阻设置为相等，使得各个测试输入端到第一面板的输入电阻以及第二面板的输入电阻也相同，从而使得测试信号在第一栅线测试线和第二栅线测试线的传输过程中电压衰减相 同，实际加载于各面板的测试信号相同，测试电路对各个面板的栅线的电性不良的检出能力相同，从而使得在基板的任何位置上都能获取相同的栅线的电性不良检出效果。 

本发明基板在任何位置上都能获取相同的数据线、栅线和公共电极线的电性不良检出能力。 

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。 

附图说明

图1为现有技术中基板测试电路的结构示意图； 

图2为图1中电性不良检测的结构示意图； 

图3为本发明基板测试电路第一实施例的结构示意图； 

图4为本发明基板测试电路第二实施例的结构示意图； 

图5为本发明基板测试电路第四实施例的结构示意图； 

图6为本发明基板测试电路第五实施例的结构示意图； 

图7为本发明基板实施例的结构示意图。 

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。 

图3为本发明基板测试电路第一实施例的结构示意图，如图3所示，本实施例的基板测试电路具体包括：与单个曝光单元内的第一面板1连接的第一数据线测试线11、第一栅线测试线12和第一公共电极线测试线13，第一数据线测试线11包括设置在曝光单元两侧的第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112，第一栅线测试线12包括设置在曝光单元两侧的第一栅线测试输入端121和第二栅线测试输入端122，第一公共电极线测试线13包括设置在曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端131和第二公共电极线测试输入端132，第一数据线测试输入端111、第一栅线测试输入端121 和第一公共电极线测试输入端131设置在曝光单元的同侧，第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112到第一面板1的引线长度相等；第一栅线测试输入端121和第二栅线测试输入端122到第一面板1的引线长度相等；第一公共电极线测试输入端131和第二公共电极线测试输入端132到第一面板1的引线长度相等。 

具体来说，以在基板的横向上布设的一个曝光单元来说，对于与第一面板1连接的任一根测试线，例如第一数据线测试线11来说，该第一数据线测试线11的第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112到第一面板1的引线长度相等，因此，从第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112到该第一面板1的输入电阻相等，信号在传输过程中的衰减程度相等，因此对于第一面板1上的第一数据线测试线11来说，从两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，可以获得相同的检出能力，同理可知，对于第一面板1上的第一栅线测试线12和第一公共电极线测试线13来说，分别从各自的两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，均可以获得相同的检出能力。 

综上可知，本实施例通过将第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的引线长度设置为相等，使得第一数据线测试线的两个测试输入端到第一面板的输入电阻相等，从而使得对第一面板的数据线进行检测时，从两个测试输入端输入的测试信号在传输过程中电压衰减相同，实际加载于第一面板上的测试信号相同，进而在采用第一数据线测试线的两个测试输入端的任一个测试输入端对第一面板的数据线进行电性不良的检测时，具有相同的检出能力，同理对第一面板的栅线、公共电极线进行电性不良的检测时，也具有相同的检出能力。 

应说明的是，上述相等，如第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的引线长度设置为相等，并非指绝对的相等，可以认为有稍微的差别，存在一定误差的大致相等。 

图4为本发明基板测试电路第二实施例的结构示意图，如图4所示，本实施例在本发明基板测试电路第一实施例的基础上，进一步包括：与曝光单元内的第二面板2连接的第二数据线测试线21、第二栅线测试线22和第二公共电极线测试线23，第二数据线测试线21包括设置在曝光单元两侧的第三数据线测试输入端211和第四数据线测试输入端212，第二栅线测试线22包括设置在曝光单元两侧的第三栅线测试输入端221和第四栅线测试输入端222，第二公共电极线测试线23包括设置在曝光单元两侧的第三公共电极线测试输入端231和第四公共电极线测试输入端232，第三数据线测试输入端211、第三栅线测试输入端221以及第三公共电极线测试输入端231设置在曝光单元的同侧，第三数据线测试输入端211和第四数据线测试输入端212到第二面板2的引线长度相等；第三栅线测试输入端221和第四栅线测试输入端222到第二面板2的引线长度相等；第三公共电极线测试输入端231和第四公共电极线测试输入端232到第二面板2的引线长度相等。 

本实施例对于第二面板来说，第二数据线测试线、第二栅线测试线和第二公共电极线测试线，在从各自的两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，也可以获得相同的检出能力，不再赘述。 

本发明基板测试电路第三实施例在本发明基板测试电路第二实施例的基础上，还可以进一步包括：第一数据线测试输入端到第一面板的引线长度与第三数据线测试输入端到第二面板的引线长度相等，第一栅线测试输入端到第一面板的引线长度与第三栅线测试输入端到第二面板的引线长度相等，第一公共电极线测试输入端到第一面板的引线长度与第三公共电极线测试输入端到第二面板的引线长度相等。 

具体来说，对于第一面板和第二面板的同种类测试线，例如与第一面板连接的第一栅线测试线和与第二面板连接的第二栅线测试线来说，第一栅线测试输入端到第一面板的引线长度与处于第一栅线测试输入端同侧的第三栅线测试输入端到第二面板的引线长度相等，因此，与第一面板连接的第一栅 线测试线和与第二面板的连接的第二数据线测试线的输入电阻相等，信号在传输过程中的衰减程度相等，因此，第一栅线测试线和第二栅线测试线在基板上的任何位置进行检测时，其电性不良的检出能力相同，同理可知，第一数据线测试线和第二数据线测试线、第一公共电极线测试线和第二公共电极线测试线在基板上的任何位置进行检测时，其电性不良的检出能力也相同，从而使得在基板的任何位置上都能获取相同的电性不良检出效果。 

本实施例在本发明基板测试电路第一实施例的获得的效果的基础上，进一步实现了在基板上任何位置对第一面板和第二面板进行检测时，其电性不良的检出能力相同，从而使得在基板的任何位置上都能获取相同的电性不良检出效果。 

图5为本发明基板测试电路第四实施例的结构示意图，如图5所示，本实施例的基板测试电路包括：与单个曝光单元内的第一面板1连接的第一数据线测试线11以及与曝光单元内的第二面板2连接的第二数据线测试线21，第一数据线测试线11包括设置在曝光单元两侧的第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112，第二数据线测试线21包括设置在曝光单元两侧的第三数据线测试输入端211和第四数据线测试输入端212，第一数据线测试输入端111和第三数据线测试输入端211设置在曝光单元的同侧，第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112到第一面板1的引线长度相等，第三数据线测试输入端211和第四数据线测试输入端212到第二面板2的引线长度相等，第一数据线测试输入端111到第一面板1的引线长度与第三数据线测试输入端211到第二面板的引线长度相等。 

具体地，以在基板的横向上布设的一个曝光单元来说，与第一面板1连接的第一数据线测试线11的第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112到第一面板1的引线长度相等，因此，从第一数据线测试输入端111和第二数据线测试输入端112到该第一面板1的输入电阻相等，信号在传输过程中的衰减程度相等，因此，对于第一面板1上的第一数据线测试线11来 说，从两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，也可以获得相同的检出能力。同理，对于第二面板2上的第二数据线测试线21来说，在从两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，也可以获得相同的检出能力。 

对于与第一面板1连接的第一数据线测试线11和与第二面板2连接的第二数据线测试线21来说，第一数据线测试输入端111到第一面板1的引线长度与处于第一数据线测试输入端111同侧的第三数据线测试输入端211到第二面板2的引线长度相等，因此，与第一面板1连接的第一数据线测试线11和与第二面板2的连接的第二数据线测试线21的输入电阻相等，信号在传输过程中的衰减程度相等，因此，第一数据线测试线11和第二数据线测试线21在基板上的任何位置进行检测时，其电性不良的检出能力相同。 

本实施例通过将第一数据线测试线的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的引线长度设置为相等，将第二数据线测试线的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到第二面板的引线长度相等，使得第一数据线测试线的两个测试输入端的输入电阻相同，第二数据线测试线的两个输入端的输入电阻相同，从而使得从两个测试输入端加载数据线的测试信号进行电性不良的检测时，可以获得相同的检出能力；通过将第一数据线测试输入端到第一面板的引线长度与第三数据线测试输入端到第二面板的引线长度设置为相等，使得各个测试输入端到第一面板的输入电阻以及第二面板的输入电阻也相同，从而使得测试信号在第一数据线测试线和第二数据线测试线的传输过程中电压衰减相同，实际加载于各面板的测试信号相同，测试电路对各个面板的数据线的电性不良的检出能力相同，从而使得在基板的任何位置上都能获取相同的数据线的电性不良检出效果。 

在本发明基板测试电路第四实施例的基础上，为了实现在基板的任何位置上对栅线的电性不良具有相同的检出能力，还可以进一步包括与第一面板连接的第一栅线测试线以及与第二面板连接的第二栅线测试线，第一栅线测 试线包括设置在曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，第二栅线测试线包括设置在曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，第一栅线测试输入端和第三栅线测试输入端设置在曝光单元的同侧，第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到第一面板的引线长度相等，第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到第二面板的引线长度相等，第一栅线测试输入端到第一面板的引线长度与第三栅线测试输入端到第二面板的引线长度相等。 

为了实现在基板的任何位置上对公共电极线的电性不良具有相同的检出能力，还可以进一步包括与第一面板连接的第一公共电极线测试线以及与第二面板连接的第二公共电极线测试线，第一公共电极线测试线包括设置在曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端，第二公共电极线测试线包括设置在曝光单元两侧的第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端，第一公共电极线测试输入端和第三公共电极线测试输入端设置在曝光单元的同侧，第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到第一面板的引线长度相等，第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端到第二面板的引线长度相等，第一公共电极线测试输入端到第一面板的引线长度与第三公共电极线测试输入端到第二面板的引线长度相等。其效果与上述对数据线的电性不良进行检测的效果相同，不再赘述。 

图6为本发明基板测试电路第五实施例的结构示意图，如图6所示，本实施例的基板测试电路包括：与单个曝光单元内的第一面板1连接的第一栅线测试线12以及与曝光单元内的第二面板2连接的第二栅线测试线22，第一栅线测试线12包括设置在曝光单元两侧的第一栅线测试输入端121和第二栅线测试输入端122，第二栅线测试线22包括设置在曝光单元两侧的第三栅线测试输入端221和第四栅线测试输入端222，第一栅线测试输入端121和第三栅线测试输入端221设置在曝光单元的同侧，第一栅线测试输入端121和第 二栅线测试输入端122到第一面板1的引线长度相等，第三栅线测试输入端221和第四栅线测试输入端222到第二面板2的引线长度相等，第一栅线测试输入端121到第一面板1的引线长度与第三栅线测试输入端221到第二面板2的引线长度相等。 

具体地，以在基板的横向上布设的一个曝光单元来说，与第一面板1连接的第一栅线测试线12的第一栅线测试输入端121和第二栅线测试输入端122到第一面板1的引线长度相等，因此，从第一栅线测试输入端121和第二栅线测试输入端122到该第一面板1的输入电阻相等，信号在传输过程中的衰减程度相等，因此，对于第一面板1上的第一栅线测试线12来说，从两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，也可以获得相同的检出能力。同理，对于第二面板2上的第二栅线测试线22来说，在从两个测试输入端加载测试信号进行电性不良的检测时，也可以获得相同的检出能力。 

对于与第一面板1连接的第一栅线测试线12和与第二面板2连接的第二栅线测试线22来说，第一栅线测试输入端121到第一面板1的引线长度与处于第一栅线测试输入端121同侧的第三栅线测试输入端221到第二面板2的引线长度相等，因此，与第一面板1连接的第一栅线测试线12和与第二面板2的连接的第二栅线测试线22的输入电阻相等，信号在传输过程中的衰减程度相等，因此，第一栅线测试线12和第二栅线测试线22在基板上的任何位置进行检测时，其电性不良的检出能力相同。 

本实施例通过将第一栅线测试线的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到第一面板的引线长度设置为相等，将第二栅线测试线的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到第二面板的引线长度相等，使得第一栅线测试线的两个测试输入端的输入电阻相同，第二栅线测试线的两个输入端的输入电阻相同，从而使得从两个测试输入端加载栅线的测试信号进行电性不良的检测时，可以获得相同的检出能力；通过将第一栅线测试输入端到第一面板的引线长度与第三栅线测试输入端到第二面板的引线长度设置为相等， 使得各个测试输入端到第一面板的输入电阻以及第二面板的输入电阻也相同，从而使得测试信号在第一栅线测试线和第二栅线测试线的传输过程中电压衰减相同，实际加载于各面板的测试信号相同，测试电路对各个面板的数据线的电性不良的检出能力相同，从而使得在基板的任何位置上都能获取相同的栅线的电性不良检出效果。 

在本发明基板测试电路第五实施例的基础上，为了实现在基板的任何位置上对数据线的电性不良具有相同的检出能力，还可以进一步包括与第一面板连接的第一数据线测试线以及与第二面板连接的第二数据线测试线，第一数据线测试线包括设置在曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，第二数据线测试线包括设置在曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，第一数据线测试输入端和第三数据线测试输入端设置在曝光单元的同侧，第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的引线长度相等，第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到第二面板的引线长度相等，第一数据线测试输入端到第一面板的引线长度与第三数据线测试输入端到第二面板的引线长度相等。其效果与上述对栅线的电性不良进行检测的效果相同，不再赘述。 

图7为本发明基板实施例的结构示意图，如图7所示，本实施例的基板包括横向布设的两个曝光单元，纵向布设的三个曝光单元，即在基板上布设3×2个曝光单元，共12个面板，各面板的编号如图7所示。由于各曝光单元使用的模版相同，因此本实施例可以采用本发明基板测试电路第二实施例，即如图4所示的基板测试电路。 

以下描述的曝光单元的数据线测试线、栅线测试线以及公共电极测试线与本发明基板测试电路第二实施例中与第一面板连接的第一数据线测试线、第一栅线测试线以及第一公共电极线测试线和与第二面板连接的第二数据线测试线、第二栅线测试线以及第二公共电极线测试线分别存在对应关系。 

以图7中第一排的两个曝光单元，即四个面板为例来说，设各面板的长 和宽分别为a、b，且各测试线在单位长度上的电阻分别为：数据线测试线R1，栅线测试线R2，公共电极测试线R3，则可以得到与第一排中的各个面板连接的测试线的输入电阻如表1所示： 

表1 

测试线	1号面板	2号面板	3号面板	4号面板
					数据线测试线	2bR1	2bR1	2bR1	2bR1
栅线测试线	bR2	bR2	bR2	bR2
					公共电极测试线	2bR3	2bR3	2bR3	2bR3

由表1可以看出，对应于各个面板的同一种测试线的输入电阻完全相同因此，本实施例的测试电路对于各个面板具有相同的检出能力。 

本实施例的测试电路，仅需要针对现有技术中描述的测试电路进行下述简单的改造即可获得：首先，可以分别改变同一测试线的两个测试输入端的引线分岔的节点的位置，例如，改变第一数据线测试线的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端的引线分岔的节点的位置，使得从节点到两个测试输入端之间的距离相等；在改变节点位置后，可以通过比较一个曝光单元的两个面板中同种测试线的引线长度，将较短的测试线通过在适当的位置增加Z形回路，如图7所示，1号面板的数据测试线可以在迂回设置，从而可以保证1号面板的数据线测试线的测试输入端到1号面板的引线长度与2号面板的数据线测试线的测试输入端到2号面板的引线长度相等，即两根数据测试线的输入电阻相同，信号衰减程度相同。 

需要说明的是，上述相等或相同，如1号面板的数据线测试线的测试输入端到1号面板的引线长度与2号面板的数据线测试线的测试输入端到2号面板的引线长度相等，即两根数据测试线的输入电阻相同，信号衰减程度相同，并非指绝对的相等或相同，可以认为有稍微的差别，存在一定误差的大致相等。还应说明的是本实施例仅在纵向上布设三个曝光单元，根据需要还 可以在纵向上布设更多的曝光单元。 

本实施例提供的基板中，一个曝光单元中的两个面板的同一根测试线相对于两个测试输入端的输入电阻相等；两个面板的同种类测试线的输入电阻也相等，从而使得在基板横向上布设两个曝光单元，纵向上布设多个曝光单元时，在基板上的任何位置对面板的电性不良进行检测时，都具有相同的检出能力，从而方便了对面板的电性不良的检测操作。 

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。 

Claims (9)

1.一种基板测试电路，其特征在于，包括：

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线、第一栅线测试线和第一公共电极线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第一公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端，所述第一数据线测试输入端、第一栅线测试输入端和第一公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等；所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等；所述第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等。

2.根据权利要求1所述的基板测试电路，其特征在于，还包括：

与所述曝光单元内的第二面板连接的第二数据线测试线、第二栅线测试线和第二公共电极线测试线，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第二栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，所述第二公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端，所述第三数据线测试输入端、第三栅线测试输入端以及第三公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等；所述第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等；所述第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

3.根据权利要求2所述的基板测试电路，其特征在于，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一公共电极线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三公共电极线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

4.一种基板测试电路，其特征在于，包括：

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线以及与所述曝光单元内的第二面板连接的第二数据线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第一数据线测试输入端和第三数据线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

5.根据权利要求4所述的基板测试电路，其特征在于，还包括：

与所述第一面板连接的第一栅线测试线以及与所述第二面板连接的第二栅线测试线，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第二栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，所述第一栅线测试输入端和第三栅线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

6.根据权利要求4或5所述的基板测试电路，其特征在于，还包括：

与所述第一面板连接的第一公共电极线测试线以及与所述第二面板连接的第二公共电极线测试线，所述第一公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端，所述第二公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端，所述第一公共电极线测试输入端和第三公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一公共电极线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三公共电极线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

7.一种基板测试电路，其特征在于，包括：

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一栅线测试线以及与所述曝光单元内的第二面板连接的第二栅线测试线，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第二栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，所述第一栅线测试输入端和第三栅线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一栅线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三栅线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

8.根据权利要求7所述的基板测试电路，其特征在于，还包括：

与所述第一面板连接的第一数据线测试线以及与所述第二面板连接的第二数据线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第一数据线测试输入端和第三数据线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻相等，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的输入电阻与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的输入电阻相等。

9.一种基板，包括横向布设的两个曝光单元，纵向布设的多个曝光单元，其特征在于，每个曝光单元包括权利要求1～8中任一权利要求所述的基板测试电路。

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