TWI526125B - Flexible circuit boards for repeated buckling applications, using their electronic machines and mobile phones - Google Patents

Flexible circuit boards for repeated buckling applications, using their electronic machines and mobile phones Download PDF

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TWI526125B
TWI526125B TW100128170A TW100128170A TWI526125B TW I526125 B TWI526125 B TW I526125B TW 100128170 A TW100128170 A TW 100128170A TW 100128170 A TW100128170 A TW 100128170A TW I526125 B TWI526125 B TW I526125B
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Makoto Ohno
Yasuhiro Hirato
Shin-Etsu Fujimoto
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Nippon Steel & Sumikin Chem Co
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Description

適於反覆屈曲用途之可撓電路基板、使用彼之電子機器及行動電話
本發明係關於適於使用在行動電話等電子機器之反覆屈曲用途部位之可撓電路基板。
近年來,行動電話、筆記型電腦、數位相機、遊戲機等作為代表的電子機器,急速地進行著小型化、薄型化、輕量化,而使用於這些的材料,被期待著在小空間也可以收容零件之高密度高性能的材料。作為因應於此要求的材料,很薄、可以折入狹窄空間、且具有高度耐屈曲性的可撓電路基板逐漸被廣泛應用。然而,對於高密度化的要求很高之用於折疊型行動電話或滑動型行動電話等的可動部之可撓電路基板,追求著更為柔軟而容易折曲的材料。在從前的可撓電路基板,採更為多層化或小屈曲半徑化的話在長期間之使用後會產生容易發生斷線的問題,不一定能夠得到具有充分耐屈曲性的產品。在此,為了實現更高的耐屈曲性而檢討可撓電路基板的薄化,作為其手法之一,進行了薄化材料之聚醯亞胺絕緣層與金屬箔層的研究。
例如,於日本專利第3356568號公報(專利文獻1),提出了在由初期拉伸彈性率為400kg/mm2以上(3.92GPa以上)的聚醯亞胺聚合體所構成的厚度10μm以下的聚醯亞胺膜的單面或雙面,直接形成厚度10μm以下的銅層而構成的可撓貼銅層積板。但是,使用專利文獻1所示的可撓貼銅層積板做成的可撓電路基板,雖然具有某個程度之高耐屈曲性,但於近年來的狹窄間隙的滑動屈曲試驗,因聚醯亞胺膜的剛性太低而無法成為最佳構成。此外,在可撓貼銅層積板的製造過程,係以一度先製造聚醯亞胺膜,對其形成銅層為前提,所以製造時的操作性的問題來看聚醯亞胺膜必須要具有一定程度以上的初期拉伸彈性率,而且聚醯亞胺層的薄化也有極限。
此外,於日本特開2007-273766號公報(專利文獻2),提出了在拉伸彈性率5GPa以下,厚度10~15μm的聚醯亞胺膜的單面或雙面,設拉伸彈性率40GPa以下,厚度7~15μm的金屬箔層之配線基板層積體。但是,於專利文獻2所示之配線基板用層積體,於間隙2mm以上的滑動屈曲試驗,雖能滿足其屈曲性能,但在更窄間隙的滑動試驗無法呈現充分的屈曲性能。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特許第3356568號公報
[專利文獻2]日本特開2007-273766號公報
如前述專利文獻1、2那樣,從前的高耐屈曲性的可撓電路基板的想法,目標是為了要抑制對銅箔施加的拉伸應力,而藉由使層積板中的聚醯亞胺膜薄化軟化,以提高耐屈曲性。然而,近年來的窄間隙的滑動屈曲,毋寧說僅藉由這樣之從前的想法無法呈現良好的屈曲性能,造成不進行材料構成的最佳化的話無法提高耐屈曲性之結果。
本發明係有鑑於前述從前技術所有的課題而完成的發明,目的在於提供在使用於反覆屈曲用途的場合具備高的耐屈曲性,例如行動電話的滑動部份等那般使用於彎曲半徑很小的狹窄間隙的滑動部,也可呈現優異的耐屈曲性之可撓電路基板。此外,目的在於提供藉由將前述可撓電路基板搭載於滑動部分,而對反覆屈曲具備優異的耐久性之電子機器。
本案發明人等,為了解決前述課題而反覆銳意研究的結果,發現針對構成可撓電路基板的聚醯亞胺絕緣層、配線電路、及設於配線電路上的電路保護層,以特定厚度或彈性率範圍之材料作為構成材料,藉由將這些組合適用,於未滿2mm的窄間隙滑動用途的耐屈曲性,也可以呈現特異的優異耐屈曲性能,從而完成本發明。
亦即,本發明係一種適於反覆屈曲用途之可撓電路基板,係於聚醯亞胺絕緣層之上具有被形成為任意圖案的配線電路,進而於配線電路之上設電路保護層,特徵為:前述聚醯亞胺絕緣層,在25℃之拉伸彈性率為4~6GPa,同時厚度在14~17μm之範圍,此外,前述配線電路的厚度在7~13μm的範圍,前述配線電路的厚度(tc)與前述聚醯亞胺絕緣層的厚度(tp)之比(tc/tp)在0.4~0.95之範圍,進而,電路保護層的厚度在15~30μm的範圍。
此外,本發明,為以把前述可撓電路基板搭載於滑動部分作為特徵之電子機器。進而,本發明為以把前述可撓電路基板搭載於滑動部分作為特徵之行動電話。
本發明之可撓電路基板,因為電路基板所要求的狹窄間隙之連續滑動屈曲特性很高,所以可特別適用於折疊型或者滑蓋型行動電話等電子機器所用的可撓電路基板的屈曲部位。進而,也可以適切地應用於小型液晶等之折曲用途。
以下,詳細說明本發明。
本發明之可撓電路基板,以聚醯亞胺為絕緣層,於其上形成配線電路,進而於配線電路之上,設有電路保護層。於本發明,聚醯亞胺絕緣層,可僅由單一層構成亦可由複數層構成,作為聚醯亞胺絕緣層,必須要在25℃之拉伸彈性率在4~6GPa的範圍,且厚度在14~17μm之範圍。聚醯亞胺絕緣層的彈性率未滿4GPa的話,聚醯亞胺絕緣層的剛性太低使得可撓電路基板的耐屈曲性降低,而且於可撓層積板加工時使得操作變得困難。此外,超過6GPa的話,聚醯亞胺絕緣層的剛性太高而使得可撓電路基板的耐屈曲性降低。同樣地,聚醯亞胺絕緣層的厚度未滿14μm的話,聚醯亞胺絕緣層的剛性太低使得可撓電路基板的耐屈曲性降低以及加工時操作變得困難,超過17μm的話,聚醯亞胺絕緣層的剛性太高所以使得可撓電路基板的耐屈曲性降低。特別是本發明之可撓電路基板,如滑蓋式行動電話的滑蓋部分等那樣,使用於小型電子機器的滑動屈曲部位的場合,特別被要求優異的耐屈曲性,由這樣的觀點來看聚醯亞胺絕緣層的厚度,較佳者為16±1.5μm,更佳者為16±1μm之範圍,進而更佳者為超過15μm而在17μm以下的範圍。接著,如前所述使用於滑動屈曲部位的場合,聚醯亞胺絕緣層的拉伸彈性率以在4.5~5GPa之範圍為更佳。
要把聚醯亞胺絕緣層的拉伸彈性率控制於前述範圍,可以如下述所詳細說明的,藉由選擇適合於構成聚醯亞胺絕緣層的聚醯亞胺樹脂者,或是例如把聚醯亞胺前驅體(亦稱為聚醯胺酸)溶液進行亞胺化反應時調整加熱處理條件等,而形成最適合的聚醯亞胺絕緣層。又,聚醯亞胺樹脂的拉伸彈性率,隨著構成聚醯亞胺的構成單位而改變,這些構成單位,由成為聚醯亞胺原料的聯氨或四羧酸二無水物的種類而決定。
要得到拉伸彈性率在前述範圍的聚醯亞胺絕緣層,可以適用適當選擇構成聚醯亞胺的原料成分,使用單層且具有柔軟的化學構造之聚醯亞胺的手法,或是藉由彈性率不同的複數層之聚醯亞胺層而作為全體調整至前述範圍的手法等公知的手法。又,於本發明所謂聚醯亞胺,係指於聚醯亞胺、聚醯胺醯亞胺、聚醚醯亞胺、聚環矽氧烷醯亞胺等的分子構造中具有亞醯胺基的高分子。
聚醯亞胺絕緣層,例如可以於形成配線電路的金屬箔等之上塗布聚醯亞胺前驅體脂溶液,進行乾燥、硬化之加熱處理,以使前述聚醯亞胺前驅體變換形成為聚醯亞胺。此處使用的聚醯亞胺前驅體之溶液,可以藉公知的方法來製造,代表性的方法,可以將四羧酸二無水物與聯氨幾乎相等莫耳溶解於有機溶媒中,在0~100℃攪拌30分鐘~24小時使其反應而得。作為使用於聚合的有機溶媒,可以舉出N,N-二甲基甲醯胺、N,N-二甲基乙醯胺、N-甲基-N-吡咯烷酮、二甲基亞碸、二甲基硫、苯酚、鹵化苯酚、環己酮(Cyclohexanone)、二噁烷、四氫呋喃、二甘醇二甲醚(diglyme)、三甘醇二甲醚(triglyme)等,也可以將這些並用2種以上。聚醯亞胺前驅體溶液的濃度,以500~100000cP的範圍為較佳。在此範圍之外的話,根據塗布器進行塗布作業時容易產生膜厚不均,條紋等不良。
聚醯亞胺的原料之四羧酸二無水物與聯氨,可以因應於本發明之聚醯亞胺絕緣層的特性,而適當選擇使用分別之1種或2種以上。亦即,於本發明,必須使聚醯亞胺絕緣層的拉伸彈性率在4~6GPa的範圍,而選擇適於滿足這樣的特性之聚醯亞胺絕緣層的原料。可撓電路基板的絕緣層除了耐屈曲特性以外,以耐熱性、熱膨脹係數為代表的尺寸安定性也必須要優異,為此,於聚醯亞胺絕緣層之至少1層設熱膨脹係數未滿30×10-6/℃,較佳者為16×10-6~28×10-6/℃之範圍的熱膨脹係數之聚醯亞胺層(以下,稱為「低熱膨脹性聚醯亞胺層」)為較佳。聚醯亞胺層的熱膨脹係數在此範圍之外的話,與銅箔的熱膨脹係數之差會變大,可撓層積板的尺寸變化會變大,進而會於層積板產生捲曲。
作為形成聚醯亞胺絕緣層的聚醯亞胺,可以舉出具有下列一般式(1)所示的構成單位者。
【化學式1】
此處一般式(1)中的Ar1,表示二價的芳香族聯氨殘基,Ar2表示四價的芳香族四羧酸殘基。芳香族聯氨殘基Ar1,由聯氨(H2N-Ar1-NH2)所構成,作為Ar1,可以例示下列之芳香族聯氨殘基。
【化學式2】
此外,芳香族四羧酸殘基Ar2,可舉出由酸無水物(O(OC)2Ar2(CO)2O)所表示的化合物,作為Ar2,可以例示下列所表示的芳香族酸二無水物殘基。
【化學式3】
作為前述低熱膨脹性聚醯亞胺層,以具有一般式(2)所表示的構造單位者為較佳。
【化學式4】
式中,R3為-CH3、-C2H5、-OCH3、或-OC2H5之任一之置換基。較佳者為R3以-CH3為較佳。此外,式中的x、y表示分別的構成單位之構成比率,x為0.4~0.6之範圍,y為0.6~0.4之範圍為較佳,而x+y=1。x與y之比率,在x比0.4更小時,聚醯亞胺的熱膨脹係數變大,作為可撓電路基板時之絕緣層所要求的尺寸安定性會降低,會有容易發生形成電路基板的層積板產生捲曲的傾向。另一方面,x比0.6更大時,聚醯亞胺的拉伸彈性率變大,會有可撓電路基板的耐屈曲性降低的傾向。
使聚醯亞胺絕緣層為複數層的場合,與形成配線電路的金屬箔等相接的層,熱膨脹係數以30×10-6/℃以上之高熱膨脹係數之聚醯亞胺絕緣層(以下稱為「高熱膨脹性聚醯亞胺層」)為較佳。作為高熱膨脹性聚醯亞胺層,以具有一般式(3)所表示的構造單位之聚醯亞胺來構成為較佳。
【化學式5】
式中,R1為由下列構造式(4)及(5)所表示的基所選擇的至少1種基,R2為由下列構造式(6)及(7)所表示的基所選擇的至少1種基。此外,下列構造式(6)中X為-SO2-、-CO-以及直鏈結合之任一種。
【化學式6】
由複數層形成聚醯亞胺絕緣層的場合之較佳的層構成,以依序層積高熱膨脹性聚醯亞胺層/低熱膨脹性聚醯亞胺層的構成為較佳,更佳者為高熱膨脹性聚醯亞胺層/低熱膨脹性聚醯亞胺層/高熱膨脹性聚醯亞胺層。此外,由複數層形成聚醯亞胺絕緣層的場合之作為低熱膨脹性聚醯亞胺層與高熱膨脹性聚醯亞胺層的較佳比率,以分別的合計厚度為基準,低熱膨脹性聚醯亞胺層/高熱膨脹性聚醯亞胺層以1~40為較佳,更佳者為2~30。
本發明之可撓電路基板之配線電路,係於聚醯亞胺絕緣層上形成任意之圖案者。配線電路圖案除了有特別限制的以外,通常係線寬幅為40~150μm程度的配線,隔著一定間隔地被形成。配線電路,係由以銅、鋁、不銹鋼、鐵、銀、鈀、鎳、鈷、鉻、鉬、鎢或者這些的合金為構成元素的金屬所形成。通常,配線電路多由銅箔等金屬箔所形成,在此場合,配線電路的形成可以將這些金屬箔蝕刻加工為任意圖案而形成。作為金屬箔,以銅箔或者合金銅箔較適於使用,此外,亦可使用壓延銅箔、電解銅箔之任一。
配線電路的厚度以7~13μm的範圍為必要。配線電路的厚度未滿7μm的話,不僅廉價且安定的銅箔供給會有困難,而且可撓電路基板的剛性太低所以加工時操作變得困難。此外,比13μm更厚的話耐屈曲性顯著降低。此外,在本發明,以前述配線電路的厚度為tc,以前述聚醯亞胺絕緣層的厚度為tp的場合,配線電路與聚醯亞胺絕緣層的厚度的關係之tc/tp,以0.4~0.95之範圍為必要。此tc/tp之值未滿0.4的話,會有以配線電路送訊受訊之電容量不足,或者是高屈曲的呈現變得困難,超過0.95的話要呈現高屈曲性變得困難。作為配線電路以電解銅箔為原料的場合,配線電路的厚度為7~10μm,而且配線電路的拉伸彈性率為15~40GPa的範圍為較佳,進而使前述tc/tp之值為0.4~0.7之範圍為更佳。此外,作為配線電路以壓延銅箔為原料的場合,配線電路的厚度為8~13μm,而且配線電路的拉伸彈性率為8~30GPa的範圍為較佳,進而使前述tc/tp之值為0.5~0.9之範圍為更佳。由電解銅箔或壓延銅箔形成配線電路的場合,針對顯示如前所述的厚度範圍或拉伸彈性率的銅箔,可以由市售商品來適當地選擇使用。又,此處所謂的配線電路的拉伸彈性率,如在實施例所說明的,可以從藉由蝕刻形成特定圖案之配線電路之前的貼附金屬層積板的金屬層來求出。
本發明之可撓電路基板之電路保護層,可以使用市售的公知的覆蓋膜或覆蓋塗布材等,其厚度有必要為15~30μm之範圍。作為電路保護層使用覆蓋膜的場合,通常使用在聚醯亞胺層之一方之面(與配線電路接觸之面側)具有由環氧樹脂等那樣的熱硬化性樹脂所構成的黏接層者。較佳的覆蓋膜之態樣,可以舉出具有厚度8~17μm的熱硬化性樹脂之黏接層與厚度7~13μm之聚醯亞胺層的2層構造者,例如,蝕刻銅箔形成特定的圖案之配線電路之後,於此配線電路上使黏接層直接接上而使用。
本發明之可撓電路基板係由i)厚度14~17μm、25℃之拉伸彈性率為4~6GPa之聚醯亞胺絕緣層,ii)厚度7~13μm之配線電路,及iii)厚度15~30μm之電路保護層的層積體所構成,配線電路的厚度(tc)與聚醯亞胺絕緣層的厚度(tp)之關係tc/tp在0.4~0.95之範圍者。充分滿足這樣的所有條件的可撓電路基板,不僅以聚醯亞胺為絕緣層所以耐熱性或尺寸安定性優異,而且耐屈曲性也呈現顯著良好的結果,所以可以成為呈現優異的耐屈曲性的可撓電路基板。亦即,可以適用於頻繁進行如折疊型行動電話或電子字典等的絞鍊部份等那樣的開閉動作,或是連續進行滑蓋型行動電話的滑蓋部分,DVD等的光學拾取頭部分等的滑動動作那樣的反覆屈曲用途之可撓電路基板。特別是,本發明的可撓電路基板,於未滿2mm的狹窄間隙之滑動屈曲試驗,呈現屈曲壽命100000次以上的結果具有優異的連續滑動屈曲特性,所以適於使用在如滑蓋型行動電話的滑動部分那樣的小型電子機器的滑動屈曲部分。此外,在大幅大於2mm的間隙而追求數千萬次以上的屈曲壽命的DVD等的光學拾取頭部分之高速滑動屈曲試驗,也同樣適用。
[實施例]
以下,藉由實施例更詳細說明本發明。又,在實施例所使用的縮寫符號如下。
DMAc:N,N-二甲基乙醯胺
m-TB:2,2’-二甲基-4,4’-二氨基聯苯
ODA:4,4’-二氨基二苯醚
TPE-R:1,3-bis(4-氨基苯氧基)苯
BAPP:2,2’-bis(4-氨基苯氧基苯基)丙烷
PMDA:無水苯四甲酸
BPDA:3,3’,4,4’-二苯基四羧酸二無水物
銅箔A:三井金屬礦業(股)製造高屈曲電解銅箔(厚度9μm)
銅箔B:JX日礦日石金屬(股)製造高屈曲壓延銅箔(厚度12μm)
此外,實施例等之聚醯亞胺絕緣層的拉伸彈性率係藉由以下方法來評估。
拉伸彈性率:東洋精機(股)製造材料試驗機(Strograph)R-1,以下列條件進行測定(根據IPC-TM-650,2.4.19)。
樣本尺寸:12.7mm×165.1mm
夾具間距離:101.7mm
衝頭速度(crosshead speed):50mm/min
彈性率:在應變未滿1.5%之彈性區域算出
測定環境:室溫(23℃)、濕度(50%)
[合成例1]
在具備熱電偶與攪拌機同時可導入氮氣的反應容器內,放入N,N-二甲基乙醯胺(DMAc)。於此反應容器使2,2’-bis[4-氨基酚氧基苯基]丙烷(BAPP)在容器中攪拌同時使其溶解。接著,加入無水苯四甲酸(PMDA)及3,3’,4,4’-聯苯四羧酸二無水物(BPDA)。以單體的投入總量成為12wt%,各無水酸之莫耳比率(PMDA:BPDA)成為95:5的方式投入。其後,繼續攪拌3小時,得到聚亞胺酸a之樹脂溶液。此聚亞胺酸a之樹脂溶液之溶液黏度為2,000cps。又,測量藉由聚醯胺酸a作成的聚醯亞胺膜之熱膨脹係數為54×10-6/K。
[合成例2]
在具備熱電偶與攪拌機同時可導入氮氣的反應容器內,放入N,N-二甲基乙醯胺(DMAc)。於此反應容器使2,2’-二甲基-4,4’-二氨基聯苯(m-TB)及4,4’-二氨基二苯醚(ODA)在容器中攪拌同時使其溶解。這些之莫耳比率(m-TB:ODA)為55:45。其次,加入苯均四酸二無水物(PMDA)。單體的投入總量為15wt%。其後,繼續攪拌3小時,得到聚亞胺酸b之樹脂溶液。此聚亞胺酸b之樹脂溶液之溶液黏度為25,000cps。又,測量藉由聚醯胺酸b作成的聚醯亞胺膜之熱膨脹係數為19×10-6/K。
[合成例3]
在具備熱電偶與攪拌機同時可導入氮氣的反應容器內,放入N,N-二甲基乙醯胺。於此反應容器使2,2’-二甲基-4,4’-二氨基聯苯(m-TB)及1,3-bis(4-氨基苯氧基)苯(TPE-R)在容器中攪拌同時使其溶解。這些之莫耳比率(m-TB:TPE-R)為90:10。接著,加入無水苯四甲酸(PMDA)及3,3’,4,4’-聯苯四羧酸二無水物(BPDA)。以單體的投入總量成為15wt%,各無水酸之莫耳比率(PMDA:BPDA)成為80:20的方式投入。其後,繼續攪拌3小時,得到聚亞胺酸c之樹脂溶液。此聚亞胺酸c之樹脂溶液之溶液黏度為20,000cps。又,測量藉由聚醯胺酸b作成的聚醯亞胺膜之熱膨脹係數為17×10-6/K。
[實施例1]
對長度1000m×寬幅1080mm之長尺寸狀的銅箔A,塗布在前述準備之聚醯胺溶液a,使其乾燥(硬化後形成膜厚2μm之熱塑性高熱膨脹性聚醯亞胺),在其上塗布聚醯胺酸b,使其乾燥(硬化後形成膜厚12μm之低熱膨脹性聚醯亞胺),進而於其上塗布聚醯胺酸a使其乾燥(硬化後形成膜厚2μm之熱塑性高熱膨脹性聚醯亞胺),花15分鐘以上升溫至340℃進行醯亞胺化反應,得到由3層構造所構成的聚醯亞胺絕緣層(厚度16μm)之單面貼銅層積板。
接著,對此單面貼銅層積板之聚醯亞胺絕緣層,將與前述相同尺寸之其他銅箔A以輥表面的設定溫度385℃,擠壓輥間的線壓力150kN/cm、及通過時間3秒鐘的條件進行連續熱壓接,而製作雙面貼銅層積板。
又,聚醯亞胺絕緣層的拉伸彈性率(25℃)係蝕刻除去與前述相同條件下製作的雙面貼銅層積板兩側的銅箔而得到聚醯亞胺絕緣層,使用此聚醯亞胺絕緣層測定拉伸彈性率。結果,為5.0GPa。另一方面,成為配線電路層的銅箔的拉伸彈性率為23.0GPa。
其次,於在前述所得的雙面貼銅層積板的單側覆蓋特定的遮罩,使用氯化鐵/氯化銅系溶液進行蝕刻,以線寬幅130μm且間隔寬幅180μm形成配線圖案(相反側銅箔全面被蝕刻掉)。接著,於形成在單側的配線圖案上,將厚度12.5μm之聚醯亞胺絕緣層(拉伸彈性率:4.1GPa)與厚度15μm的環氧樹脂黏接層所形成的覆蓋膜C以熱壓接擠壓予以覆蓋,得到滑動試驗用電路基板樣本1。
前述之滑動試驗用電路基板樣本1的反覆滑動試驗,係模擬使用在行動電話等的屈曲型態之一之滑動屈曲的試驗,屈曲半徑、滑動循環速度、滑動衝程可以個別設定而以可藉著電路的電阻值上升來判斷試驗結束的試驗機來實施。如圖1所示,對電路基板樣本,藉由2枚板7所定的間隙長度6來設屈曲部,將單側以固定部4固定,相反側也以固定部5固定之後,如圖1(a-1)與(a-2)所示,藉由使固定部4側之板如圖中的粗箭頭印那樣反覆進行往復運動,於因應於進行往復運動的部分的衝程量的區域,電路基板樣本承受反覆的滑動屈曲。關於試驗條件,如圖1及圖2所示,以電路保護層(覆蓋膜)1為內側,使間隙長為1.5mm(亦即使屈曲半徑為0.75mm),滑動循環速度為15r.p.m.,滑動衝程為38.0mm,以電路基板樣本之配線電路的初期電阻值上升10%的時間點的滑動次數作為屈曲壽命。以此方法實施電路基板樣本1的試驗時,屈曲壽命為308300次。於表1整理顯示電路基板樣本1的層構成與試驗結果。
[實施例2]
除了使用銅箔B以外與實施例1相同進行準備而得到雙面貼銅層積板。關於相關於此實施例2的雙面貼銅層積板,與實施例1同樣進行測定聚醯亞胺絕緣層、及成為配線電路的銅箔的拉伸彈性率(25℃)時,分別為5.0GPa及12.0GPa。接著,把經過與實施例1同樣的電路基板製作步驟而得的電路基板樣本2,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為193,200次。結果顯示於表1。
[實施例3]
除了使用厚度10μm的聚醯亞胺絕緣層(拉伸彈性率:4.1GPa)與厚度15μm的環氧樹脂黏接層所形成的覆蓋膜E以外,以與實施例1同樣的條件,得到滑動試驗用電路基板樣本3。接著,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為382,500次。結果顯示於表1。
[比較例1]
對銅箔A,以與實施例1同樣的方法依序塗布聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2.5μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺)、聚醯胺酸b(硬化後形成膜厚20μm的低熱熱膨脹性聚醯亞胺)、及聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2.5μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺),使其乾燥,醯亞胺化而得到3層構造所構成的具有聚醯亞胺絕緣層(厚度25μm)的單面貼銅層積板。接著,對此單面貼銅層積板之聚醯亞胺絕緣層,與實施例1同樣連續熱壓接銅箔A,而得到相關於比較例1之雙面貼銅層積板。
關於相關於此比較例1的雙面貼銅層積板,與實施例1同樣進行測定聚醯亞胺絕緣層、及成為配線電路層的銅箔的拉伸彈性率(25℃)時,分別為5.0GPa及23.0GPa。接著,把經過與實施例1同樣的電路基板製作步驟而得的電路基板樣本4,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為10,000次。結果顯示於表1。
[比較例2]
對銅箔A,以與實施例1同樣的方法依序塗布聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺)、聚醯胺酸c(硬化後形成膜厚16μm的低熱熱膨脹性聚醯亞胺)、及聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺),使其乾燥,醯亞胺化而得到3層構造所構成的具有聚醯亞胺絕緣層(厚度20μm)的單面貼銅層積板。接著,對此單面貼銅層積板之聚醯亞胺絕緣層,與實施例1同樣連續熱壓接銅箔A,而得到相關於比較例2之雙面貼銅層積板。
關於相關於此比較例2的雙面貼銅層積板,與實施例1同樣進行測定聚醯亞胺絕緣層、及成為配線電路層的銅箔的拉伸彈性率(25℃)時,分別為7.5GPa及23.0GPa。接著,把經過與實施例1同樣的電路基板製作步驟而得的電路基板樣本5,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為16,700次。結果顯示於表1。
[比較例3]
對銅箔B,以與實施例1同樣的方法依序塗布聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2.5μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺)、聚醯胺酸b(硬化後形成膜厚20μm的低熱熱膨脹性聚醯亞胺)、及聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2.5μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺),使其乾燥,醯亞胺化而得到3層構造所構成的具有聚醯亞胺絕緣層(厚度25μm)的單面貼銅層積板。接著,對此單面貼銅層積板之聚醯亞胺絕緣層,與實施例1同樣連續熱壓接銅箔B,而得到相關於比較例3之雙面貼銅層積板。
關於相關於此比較例3的雙面貼銅層積板,與實施例1同樣進行測定聚醯亞胺絕緣層、及成為配線電路層的銅箔的拉伸彈性率(25℃)時,分別為5.0GPa及12.0GPa。接著,把經過與實施例1同樣的電路基板製作步驟而得的電路基板樣本6,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為29,200次。結果顯示於表1。
[比較例4]
對銅箔B,以與實施例1同樣的方法依序塗布聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺)、聚醯胺酸c(硬化後形成膜厚16μm的低熱熱膨脹性聚醯亞胺)、及聚醯胺酸a(硬化後形成膜厚2μm的熱塑性高膨脹性聚醯亞胺),使其乾燥,醯亞胺化而得到3層構造所構成的具有聚醯亞胺絕緣層(厚度20μm)的單面貼銅層積板。接著,對此單面貼銅層積板之聚醯亞胺絕緣層,與實施例1同樣連續熱壓接銅箔B,而得到相關於比較例4之雙面貼銅層積板。
關於相關於此比較例4的雙面貼銅層積板,與實施例1同樣進行測定聚醯亞胺絕緣層、及成為配線電路層的銅箔的拉伸彈性率(25℃)時,分別為7.5GPa及12.0GPa。接著,把經過與實施例1同樣的電路基板製作步驟而得的電路基板樣本7,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為16,700次。結果顯示於表1。
[比較例5]
除了替代無鹵素覆蓋膜C而使用覆蓋膜D以外,與實施例1相同。亦即,以同樣的方法使實施例1所得到的雙面貼銅層積板於單側形成配線圖案後,將厚度25μm之聚醯亞胺絕緣層(拉伸彈性率:4.1GPa)與厚度30μm的環氧樹脂接合層所形成的覆蓋膜D以熱壓接擠壓予以覆蓋,得到滑動試驗用電路基板樣本8。將此電路基板樣本8,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為1,100次。結果顯示於表1。
[比較例6]
除了替代無鹵素覆蓋膜C而使用無鹵素覆蓋膜D以外,與實施例2相同。亦即,以同樣的方法使實施例2所得到的雙面貼銅層積板於單側形成配線圖案後,將厚度25μm之聚醯亞胺絕緣層(拉伸彈性率:4.1GPa)與厚度30μm的環氧樹脂接合層所形成的無鹵素覆蓋膜D以熱壓接沖壓予以覆蓋,得到滑動試驗用電路基板樣本9。將此電路基板樣本9,以與實施例1同樣的滑動試驗條件進行評估時,屈曲壽命為2600次。結果顯示於表1。
由前述實施例及比較例所得到的反覆滑動試驗的結果(表1)可知,對於聚醯亞胺絕緣層的拉伸彈性率為4~6GPa,且厚度為14~17μm之範圍,銅配線電路的厚度為7~13μm之範圍的貼銅層積板,設置厚度15~30μm的範圍之無鹵素覆蓋膜的可撓電路基板,於滑動試驗呈現良好的屈曲壽命。因此,可以適切地作為包含行動電話之各種電子機器之適於反覆屈曲用途的可撓電路基板來使用。
1...電路保護層
1a...電路保護層之聚醯亞胺層
1b...電路保護層之接合層
2...配線電路
3...聚醯亞胺絕緣層
4...固定部
5...固定部
6...間隙長
7...板
圖1為實施例之反覆滑動試驗之說明圖。
圖2為圖1所示之反覆滑動試驗之試驗用電路基板樣本的X-X剖面圖。
1...電路保護層
2...配線電路
3...聚醯亞胺絕緣層
4...固定部
5...固定部
6...間隙長
7...板

Claims (5)

  1. 一種適於反覆屈曲用途之可撓電路基板,係於聚醯亞胺絕緣層之上具有被形成為任意圖案的配線電路,進而於配線電路之上設電路保護層,其特徵為:前述聚醯亞胺絕緣層,在25℃之拉伸彈性率為4~6GPa,同時厚度在大於15μm且在17μm以下之範圍,此外,前述配線電路係由厚度7~10μm之電解銅箔所形成,同時,該電解銅箔之拉伸彈性率為15~40GPa的範圍,前述配線電路的厚度(tc)與前述聚醯亞胺絕緣層的厚度(tp)之比值(tc/tp)在0.4~0.7之範圍,進而,電路保護層的厚度在15~30μm的範圍。
  2. 一種適於反覆屈曲用途之可撓電路基板,係於聚醯亞胺絕緣層之上具有被形成為任意圖案的配線電路,進而於配線電路之上設電路保護層,其特徵為:前述聚醯亞胺絕緣層,在25℃之拉伸彈性率為4~6GPa,同時厚度在大於15μm且在17μm以下之範圍,此外,前述配線電路係由厚度8~13μm之壓延銅箔所形成,同時,該壓延銅箔之拉伸彈性率為8~30GPa的範圍,前述配線電路的厚度(tc)與前述聚醯亞胺絕緣層的厚度(tp)之比值(tc/tp)在0.5~0.9之範圍,進而,電路保護層的厚度在15~30μm的範圍。
  3. 如申請專利範圍第1或2項之適於反覆屈曲用途之可撓電路基板,其中電路保護層係由無鹵素覆蓋膜(coverlay film)所形成,該無鹵素覆蓋膜,具有厚度8~ 17μm之熱硬化性樹脂所構成的接合層,與厚度7~13μm之聚醯亞胺層等2層,於配線電路直接接著接合層。
  4. 一種電子機器,其特徵為於滑動部分搭載申請專利範圍第1至3項之任一項所記載的適於反覆屈曲用途之可撓電路基板。
  5. 一種行動電話,其特徵為於滑動部分搭載申請專利範圍第1至3項之任一項所記載的適於反覆屈曲用途之可撓電路基板。
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