TWI364248B - Manufacturing method and manufacturing apparatus of printed wiring board - Google Patents

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TWI364248B TW096132249A TW96132249A TWI364248B TW I364248 B TWI364248 B TW I364248B TW 096132249 A TW096132249 A TW 096132249A TW 96132249 A TW96132249 A TW 96132249A TW I364248 B TWI364248 B TW I364248B
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Yoichiro Kawamura
Katsuhiko Tanno
Masanori Iriyama
Sho Akai
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Description

九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 發明領域 本發明係有關-種印刷酉己線板之製造方 置,特別是有關於-種可適用抓晶片安裝用之封裝= 之印刷配線板之製造方法及製造裝置。 c先前技術】 發明背景 封裝基板與1C晶片之電性連接通常係藉焊料凸塊而達 成。焊料凸塊則藉以下步驟而形成。 ⑴對封裝基板上形成於阻焊劑層之開σ之連接塾印刷 焊料糊。 (2)進行迴焊以由焊料糊形成焊料凸塊。 於封裝基板上形成焊料凸塊後,再於焊料凸塊上載置 IC晶片,再藉迴焊連接焊料凸塊與忙晶片之焊塾(端计而 將1C晶片安裝於封裝基板上。 目刚CPU用之封裝基板之焊料凸塊數量係、以數千個 為標準。為配置大量之焊料凸塊,焊料凸塊已小型化且降 低高度,高度之誤差容許範圍亦已縮減。因此,必須修正 高度不符容許範圍之焊料凸塊。修正時,如特開 2003-309139號、特開平9_64046號所示,係炫解高度較低之 焊料凸塊而加以去除’再搭載焊料則彡成焊料凸塊。又, 特開20(^257225號中,則於迴焊之前,檢測已搭載之焊球 有無異常,而於迴焊前更換已發生異常之焊球。 然而’如特開2003-309139號、特開平9_64〇46號所示, 一旦熔解去除南度較低之焊料凸塊,則容易於去除焊料凸 塊時在導體#表面產生損傷’而可能於再度形成凸塊時, 降低焊料凸塊與導體墊之連接可靠性。此外,特開 2001-257225號則因於迴焊前更換焊球,故即便迴焊後焊料 凸塊之高度不足,亦無法對應之。 本發明之目的之一在提供可確保焊料凸塊與導體墊之 連接可靠性,並於所要求之誤差範圍内形成所需高度之印 刷配線板之製造方法及其製造裝置。 【發明内容】 發明概要 為達成上述目的,本發明申請專利範圍第丨項之具有凸 塊之印刷配線板之製造方法具有凸塊,該製造方法則包含 至少以下(a)〜(d)步驟:(a)朝阻焊劑層之開口供給低熔點金 屬,而進行迴焊以形成凸塊;(b)測定已形成之凸塊高度, 以檢測高度較低之凸塊或未形成有凸塊之部位;(c)於已檢 測出之較低凸塊或未形成有凸塊之部位搭載用以調整高度 不足之低熔點金屬球·’(d)加熱熔融低熔點金屬球以提高較 低凸塊之高度。 申請專利範圍第1項之印刷配線板之製造方法可對高 度較低之凸塊或未形成有凸塊之部位搭載低熔點金屬球, 並加熱溶融低'熔點金屬球以提高較低凸塊之高度,或形成 凸塊。因此,可將凸塊之尚度維持在所要求之誤差範圍内。 在此,提1¾較低凸塊之咼度時,並未加熱去除前述凸塊, ^用追加低賴金屬球之方法,故*致料㈣造成 科:可提昇凸塊與靜之連接可靠性,i 1致產生局 。丨…、歷裎,而可提昇印刷配線板之凸塊之可靠性。 申。月專利範圍第2項之印刷配線板之製·造方法可算出 已檢測之較低凸塊之難,而自複數種類直徑之低炫點金 屬球内選_應已算出之體積之直徑之㈣點金屬球,並 加以搭载於前述較低凸塊上。因此,即便併存有高度極低 之凸塊與高度略低之凸塊,亦可使全部凸塊之高度維持於 所要求之誤差範圍内。 、 申請專職SU 3項之印航線板之製造方法可由焊 料凸塊之半徑及焊料凸塊距離導體塾之高度而正確算出較 低=塊之體積’而可將全部凸塊之高度維持在所要求之誤 差範圍内。 、 申請專利範圍第4項之印刷配線板之製造方法可測旦 已檢測之較低凸塊之高度,並求出所需之低溶點金屬球: 直徑以使測得之高度為所要求之高度,而自複數種類直徑 之低熔點金屬球㈣出所需直徑之⑽點金屬球,並加以 搭载於前述較低凸塊或未形成有凸塊之部位。因此,即便 併存有高度極低之凸塊與高度略低之凸塊,亦可使全部凸 塊之高度維持於所要求之誤差範圍内。 申請專利範圍第5項之印刷配線板之製造方法並包含 :步驟’而可預先㈣顯示修正及修正後之凸塊高度與應 搭載之所需低熔點金屬球之直徑之關係之率定線,並據以 選出預定直徑之低嫁點金屬球。因此,可即時選出可對各 種高度之凸塊搭載之低熔點金屬球之直徑。 申請專利範圍第6項之印刷配線板之製造方法中,率定 線係對應不同之複數阻焊劑層之開口直徑而製作者,故可 即時選出可對各種開口直徑之凸塊搭載之低熔點金屬球之 直徑。 申清專利範圍第7項之印刷配線板之製造方法係於前 述已檢測出之較低凸塊或未形成有凸塊之部位搭載低溶點 金屬球之步驟之前,先對前述較低凸塊塗布助焊劑,故可 藉助焊劑定位低熔點金屬球,並於適當位置上形成凸塊。 申請專利範圍第8項之印刷配線板之製造方法係於前 述已檢測出之較低凸塊或未形成有凸塊之部位搭栽低溶點 金屬球之步驟之前,對前述較低凸塊塗布高黏度之助焊 劑’故可藉高黏度助焊劑定位低熔點金屬球,並於適當位 置上形成凸塊。 申請專利範圍第9項之印刷配線板之製造方法係於較 低凸塊搭載低熔點金屬球之前,先局部加熱前述較低凸塊 以設置凹部,故無須使用助焊劑,即可於較低凸塊上搭載 低炫點金屬球,並於適當位置上形成凸塊。 申請專利範圍第10項之印刷配線板之製造方法係藉雷 射進行低炼點金屬球之加熱炫融’故不致對印刷配線板整 體(高度正常之凸塊)加熱,而可滅少熱歷程之次數。 圖式簡單說明 第1圖係第1實施例之多層印刷配線板之截面圖。 第2圖係顯示第1圖所示之多層印刷配線板上載置有Ic 之多層印刷配線板 第13(A)〜13(C)圖係顯-示第2實施例 之製造方法之步驟圖。 置所實施之焊 第14圖係顯示第2實施例之焊球搭載裝 料凸塊之修正處理之流程圖。 第⑽卜哪)圖係顯示第3實施例之多層印刷配線板 之製造方法之步驟圖。 置所實施之焊 第16圖係顯示第3實施例之焊球搭載農 料凸塊之修正處理之流程圖。 配線板 第17(A)〜17(D)圖係顯示第4實施例之多層印刷 之製造方法之步驟圖。 置之構造之 載裝置之構 第18(A)圖係顯示第5實施例之焊球搭載裝 構造圖’第18(B)圖係顯示第6實施例之焊球搭 造之構造圖。 第19圖係顯示修正前之焊料凸塊高度與修正後之焊料 凸塊向度之關係之圖表。 , 第20圖係顯示修正前之焊料凸塊高度與修正後之焊料 凸塊南度之關係之圖表。 ,、 C 】 較佳實施例之詳細說明 [第1實施例] [焊球搭載裝置] 以下參照第3圖,說明可於多層印刷配線板之連接塾上 搭載微小(直裎未滿200/zm)之焊球之焊球搭載裝置。 第3(A)圖係顯示本發明第1實施例之焊球搭載裝置之 1364248 之上層則形成有阻焊劑層70。上面側阻焊劑層7〇上形成有 Wl=直徑約90//m之開口 71,其中設有焊料凸塊開口 71 上形成有鎳鍍膜72及黃金鍍膜74。焊料凸塊78之高度H1(由 阻:tp劑層表面突出之南度)設定為約2〇〜30 v m程度。多層印 5 刷配線板之下面側則經阻焊劑層70之開口 71而形成有焊料 ’凸塊79。 如第2圖所示’多層印刷配線板1 〇之上面側之焊料四塊 78可與1C晶片90之電極墊92連接。另,下面側之焊料凸塊 79則可與子板94之接盤96連接。 10 接著,參照第1、第4圖〜第10圖,說明上述之多層印刷 配線板10之製造方法。 0)首先,對多層印刷配線板10之阻焊劑層70塗布助焊 劑 73(黏度3〇〇〇〇Pa . s)(第 4(A)圖)。 (2) 其次,藉具有對應阻焊劑層70之開口 71之開口部77a 15 之光罩77,印刷由Sn/Pb焊料所組成之焊料糊78α (第4(B) 圖)。 (3) 進行迴焊,並熔融焊料糊78α而形成焊料凸塊78(第 4(C)圖)。第4(C)圖中之圓圈C所包圍之部分顯示於第5(α) 圖。在此,因焊料糊78α之印刷量不均勻等事由,可形成 20 規定高度(Hl=約30//m)之焊料凸塊78、小於規定高度(諸如 高度H2=約5//m)之焊料凸塊78S。然後,參照第3圖而藉上 述之檢查用相機141檢測該等浑料凸塊78、焊料凸塊78S, 並進行修正。 以下,參照第11圖之流程圖,說明上述之修正處理。 12 1364248 首先,藉檢查用相機141檢查有無小於規定之焊料凸塊 (S12),若發現小於規定之焊料凸塊(或未形成有焊料凸 塊)(S14 : YES),則記憶該焊料凸塊78S之位置(S16)。其次, 如第5(B)圖所示’對該焊料凸塊78S塗布助焊劑82後(S2〇), 5再搭載焊球80(S22)。此時’焊球80係藉助焊劑82而假固定 於焊料凸塊78S上。然後,以照射器丨22(參照第3圖)朝焊球 80照射雷射而使其熔融(S24),再如第5(C)圖所示,形成規 定尚度之焊料凸塊78。其次,在全部焊料凸塊之檢查結束 前(S26 : NO),返回S12而繼續進行焊料凸塊之檢查,待全 10部焊料凸塊之檢查結束(S26 : YES),即完成修正處理。 以下,參照第6〜10圖,以就助焊劑之塗布及焊球之搭 載更詳細加以說明。 如第3圖所示,將上述助焊劑搬送筒14〇移送至助焊劑 供給板142上(參照第6(A)圖)。助焊劑搬送筒140並不進行吸 15引等動作,而僅藉接觸進行助焊劑之附著、塗布。助焊劑 供給板142之表面上均勻塗布有黏度大於(黏度約為 60000Pa _ s)第4(A)圖中均勻塗布之助焊劑73之黏度之低揮 發性之助焊劑82。實施例中雖使用黏度約為6〇〇〇〇pa . 8之 助焊劑,但黏度宜介於60000±20000Pa . s之範圍内。若為 20該範圍内之黏度,則可抑制助焊劑中之溶劑揮發,而利於 對焊料凸塊78S假固定焊球80。助焊劑亦可使用水溶性者, 但宜使用松脂系。其次,朝助焊劑供給板142側下壓助焊劑 搬送筒140,使助焊劑82附著於助焊劑搬送筒140之前端(第 6(B)圖)。接著,自助焊劑供給板142上拉助焊劑搬送筒 13 140(第 6(C)圖)。 而後’將助焊劑搬送筒140移送至小於規定之焊料凸塊 78S上(苐7(A)圖)。朝焊料凸塊78S側下壓助焊劑搬送汽 140,以使助焊劑82附著於焊料凸塊78S上(第7(B)圖)。其 次,自焊料凸塊78S上拉助焊劑搬送筒140(第7(c)圖)。第 10(A)圖係助焊劑塗布前之焊料凸塊78S及焊料凸塊78之平 面圖,第10(B)圖係顯示於焊料凸塊78S周圍塗布助焊劑” 後之狀態之平面圖。如第10(B)圖所示,焊料凸塊78之周圍 塗布有助焊劑82。在此,焊球80之搭載時或加熱熔解時, 若焊球80不為隣接之凸塊78所吸附,則亦可全面塗布助焊 劑。 另,將第3圖所示之搭載筒12〇移送至焊球供給裝置144 上,並經吸引器124而藉搭載筒120吸引空氣,並朝焊球供 給裝置14 4側加以排出(第8 (A)圖),再藉搭載筒丨2 〇吸附焊球 80(第8(B)圖)。其後,將搭載筒120移送至小於規定之焊料 凸塊78S上(第8(C)圖),並停止搭載筒12〇之吸引作業(第8(d) 圖)。該狀態下,焊球80可藉搭載筒120與焊球8〇間所發生 之靜電而不致落下。 朝焊料凸塊78S側下壓搭載筒12〇,以使焊球8〇附著於 該焊料凸塊78S上之助焊_2(第9(A)K)。其次,自焊料凸 塊78S側上拉搭載筒120(第9(B)圖)。如第1〇(B)圖所示,由 於焊料凸塊78之卵塗布有助焊劑a,故如第1Q(C)圖所 不,可於該助焊劑82上適當搭載焊球8〇。其次,藉自搭載 筒12〇排出线而騎搭㈣12G之内部清洗後可藉該搭 1364248 載筒12〇朝焊球80照射雷射,而使焊絲融(第9(d)圖)。如 此而形成凸塊後,若有必要亦可進行壓扁作業。 第1實施例之印刷配線板之製造方法可對高度較低之 凸塊78S搭載焊球80,並藉雷射加熱溶融焊球⑽,而提高較 5低凸塊之高度。因此,可將凸塊之高度維持在所要求之= 差範圍内。在此,提高較低凸塊78s之高度時,並未藉雷射 等加熱去除前述凸塊,故不致對導體墊產生熱歷程而可 提昇印刷配線板之凸塊與導體墊之連接可靠性。 又,第1實施例之印刷配線板之製造方法可於較低凸塊 10 78S上搭載焊球80前,先對前述較低凸塊78s塗布高黏声之 助焊劑82,故可藉高黏度助焊劑82而定位焊球8〇,並於適 當位置上形成凸塊。 進而,第1實施例之印刷配線板之製造方法可藉雷射進 行焊球之加熱熔融,故不致對印刷配線板整體加熱,而可 15 減少熱歷程之次數。又,亦不致影響正常之凸塊。 [第2實施例] 第1實施例中,對高度較低之焊料凸塊搭載焊料凸塊而 提昇了南度。相對於此’第2實施例則測量焊料凸塊之古卢 (焊料量)’並決定其體積’再對高度極低之焊料凸塊與^相 20對較大之焊球,並對高度略低之焊料凸塊78搭載相對較小 之焊球,以將焊料凸塊之高度維持在有限的容許範圍内。 在說明第2實施例之前,先參照第12圖,就焊料凸塊之 體積計算方法之一例加以說明。 如第12圖所示,舉例言之,焊料凸塊78s並非半圓妒, 15 1364248 而係平板狀延展時之體積v可由設焊料凸塊之半徑為r、距 離導體墊158P之高度為h之下式求出。 【數2】 V=4/3x 7Γ xrxrxhxl/2 第2實施例中,將選出對應所求出之焊料凸塊體積之直 徑之焊球而加以搭載。第2實施例之製造步驟則將參照第13 圖及顯示前述處理之第14圖之流程圖而進行說明。
首先,與已參照第4圖而說明之第1實施例相同,可藉 迴焊而形成焊料凸塊。在此,檢查之結果(S12)如第13(A)
10 圖所示’檢測出高度極低之焊料凸塊78S時(S14 : YES),記 憶其位置(S16),選出對應前述焊料凸塊78S之相對較大之 焊球80L(S18),塗布助焊劑後(S20),於焊料凸塊78S上搭載 前述焊球80L(第13(B)圖)。同樣地,如第13(A)圖所示,檢 測出高度略低之78M時(S14 : YES),記憶其位置⑻6),選 b出對應前述焊料凸塊观之相對較小之焊球8卿⑻,塗布 助焊劑後(S20),於焊料凸塊观上搭载前述焊球 圖)。後續處理則與幻實施例㈣,故省略其說明。 另:第2實施例中,並非就各焊球以雷射進行炼融:、而葬 迴焊而概括加以熔融。又,第2實施例中, 、错 20之焊球,但亦可使用3種以上直徑之蟬球。進=吏用增直徑 複數直徑之阻焊劑層之開口 71,則亦可& = ^併存有 度與開口徑而選擇焊球。 σ坏科凸塊之高 第2實施例之印刷配線板之製造方 較低凸換之古声 _ / '彳1已檢剛之 罕父低凸塊之冋度,而自複數種類直徑 垾球内選出對應所 16 測知之向度之直徑之焊球,並加以搭載於前迷幹 上。因此,即便併存有高度極低與高度略低 -凸塊 將全部凸塊之高度維持在所要求之誤差範園内 要,亦可進行壓扁作業 進而,第2實施例之印刷配線板之製造方法可^ 行焊球之加熱熔融,故搭載大量焊球時,可—次^藉沿垾進 而簡化加工作業。另’亦可藉雷射照射而形成"’像融 [第3實施例] ° 接著,說明本發明第3實施例之印刷配線板, 1法。 之製造方 第2實施例中,係選擇對應由數丨之式子决定^ 15 塊之體積之焊球。相對於此,第3實施例中將_垾料凸 擬而預先製作就預定阻焊劑層之各開口直徑顯驗或模 凸塊高度與修正後之凸塊高度之關係之率定線不修正前之 凸塊時’依據該率定線而選出適用之焊球。' 4正 以下’參照帛19及糊卿前述率定線。 第19及20圖係以橫轴代表修正前之焊料〜 20 亦可 若有必 以從轴代表修正後之焊料凸塊高度之圖表。:度,並 相對於阻㈣層之開口徑阳舞,使用·⑽圖係顯示 m、70_之焊球加以修正後之實驗結果者。第=、心 相對於阻輝劑層之開口徑9〇㈣使用直徑圖係顯不 之桿球加以修正後之實驗結果者。其 向與負向係因低於轉劑層表面時設為負向有正 為正向之故。舉例言之,由第19圖即 :時則設 野於開口徑105 17 _者’使用直徑80以 將修正前凸塊自 βΤη 之3種焊球,即可 _之範圍。同樣地D :至正向1〇之範圍修正成高度2°〜3° 者,使用直:二第20圖即可知,對於開·-塊自負向1二:6〇_之2種輝球,即可將修正前凸 圍。在:二=範圍修正成高度〜之範 例令,由已參照第說定線。第3實施
據而加以保持,並使用二,栽裝置以率定線為依 對應所f之焊《彳f。據而求出6測得之焊料凸塊之 15圖及顯示前述處理 第3實施例之製造步驟將參照第 之第Μ圖之流程圖而進行說明。
焊而报h與已參照第4圖而說明之第1實施例相同,藉迴 _ /焊料凸塊。在此,檢查之結果(S12)如第15(A)圖所 不,_出高度極低之焊料凸塊服時⑻4 : yes),記憶其 15位置⑻6),判斷該焊料凸塊挪係相對較大直徑開口内或 較】直匕開口内(圖中係較小直徑開π内:導體墊158S上), 依率疋線選出焊料凸塊娜之高度及導體塾直徑皆對應前 述焊料凸塊78S之焊球80M(S18)。其次,塗布助焊劑後 (S20)’於焊料凸塊783上搭載前述焊球8〇M(第15(的圖卜同 20樣地,如第15(A)圖所示,檢測出高度略低之78M時(S14 : YES),記憶其位置(S16),與焊料凸塊78S同樣進行焊料凸 塊78M之咼度測定’並選出對應之相對較小之焊球 80S(S18) ’塗布助焊劑後(S20),於焊料凸塊78M上搭載前 述焊球80S(第13(B)圖)。後續處理則與第1實施例相同,故 18 1364248 省略其說明。另,第3實施例中,宜藉對已修正高度之焊料 凸塊78壓設板材19〇,而進行壓扁作業。 第3實施例之印刷配線板之製造方法可測量已檢測之 較低凸塊之高度’而就該較低凸塊考量阻焊劑層之開口” 之直控,並依斜定線選出可_得之高度為所要求之高 度所需之谭球直徑而加以搭載。因此,即便併存有高度極 低與南度略低之凸塊且開口徑各不㈣,亦可將全部凸塊 之南度維持在所要求之誤差範圍内。 [第4實施例] ίο 其次,說明本發明第4實施例之印刷配線板之製造方 法0 第1〜第3實施例中,係於焊料凸塊上再度塗布助焊劑而 搭載焊球。相對於此,第4實施例中,將藉於焊料凸塊上設 置凹部而搭載焊球,但無須塗布助焊劑。 15 町’參照第17圖’說明第4實施例之印刷配線板之製 造步驟。 如第17(A)圖所示,—旦檢測出高度較低之焊料凸塊 观,則如第_)圖所示,照射雷射以於中央部形成凹部 87h。而後,於該焊料凸塊78s之凹部87h上搭載焊球柯第 2〇 17(C)圖),再藉雷射嫁融谭球而進行焊料凸塊挪之高度修 正(第17(D)圖)。第4實施例中,雖使用雷射,但亦可抵壓或 移近已加熱之錯錘而形成凹部。第4實施例具有可將焊球搭 載於極正確位置上之優點。 ° [第5實施例] 19 1364248 製造方法之步驟圖。 第6(A)〜6(C)圖係顯示第1實施例之多層印刷配線板之 製造方法之步驟圖。 第7(A)〜7(C)圖係顯示第1實施例之多層印刷配線板之 5 製造方法之步驟圖。 第8 (A)〜8(D)圖係顯示第1實施例之多層印刷配線板之 製造方法之步驟圖。 第9(A)〜9(D)圖係顯示第1實施例之多層印刷配線板之 製造方法之步驟圖。 10 第10(A)圖係助焊劑塗布前之焊料凸塊78S及焊料凸塊 78之平面圖,第10(B)圖係顯示於焊料凸塊78S之周圍塗布 助焊劑82後之狀態之平面圖,第10(C)圖係焊球80搭載後之 平面圖。 第11圖係顯示第1實施例之焊球搭載裝置所實施之焊 15 料凸塊之修正處理之流程圖。 第12圖係用以說明焊料.凸塊之體積計算方法之說明 圖。 第13(A)〜13(C)圖係顯示第2實施例之多層印刷配線板 之製造方法之步驟圖。 20 第14圖係顯示第2實施例之焊球搭載裝置所實施之焊 料凸塊之修正處理之流程圖。 第15(A)〜15(D)圖係顯示第3實施例之多層印刷配線板 之製造方法之步驟圖。 第16圖係顯示第3實施例之焊球搭載裝置所實施之焊 21 1364248 料凸塊之修正處理之流程圖。 第17(A)〜17(D)圖係顯示第4實施例之多層印刷配線板 之製造方法之步驟圖。 第18(A)圖係顯示第5實施例之焊球搭載裝置之構造之 5 構造圖,第18(B)圖係顯示第6實施例之焊球搭載裝置之構 造之構造圖。 第19圖係顯示修正前之焊料凸塊高度與修正後之焊料 凸塊高度之關係之圖表。 第20圖係顯示修正前之焊料凸塊高度與修正後之焊料 10 凸塊高度之關係之圖表。 【主要元件符號說明】 10…多層印刷配線板 77a…開口部 30…核心基板 78…焊料凸塊 36…通孔 78 α…焊料糊 36a…接盤 79…焊料凸塊 50…層間樹脂絕緣層 80…焊球 58…導體電路 82…助焊劑 60…通孔 87h···凹部 70…阻焊劑層 90…1C晶片 71…開口 92···電極墊 72…鎳鍍膜 94…子板 73…助焊劑 96…接盤 74…黃金鍍膜 . 100…焊球搭載裝置 77…光罩 112…上下移動轴 22 1364248 114"·ΧΥ0吸引載台 120···搭載筒 122···照射器 124···吸引器 126…控制裝置 130…X方向移動轴 132…Υ方向移動軸 140···助焊劑搬送筒 141···檢查用相機 142···助焊劑供給板 144···焊球供給裝置 150···層間樹脂絕緣層 158···導體電路 160…通孔 236…Ζ方向移動轴 Η1…高度 Η2…高度 23

Claims (1)

1364248 _ 第96132249號申請案100.0627.修正替換 十、申請專利範圍: 1. 一種印刷配線板之製造方法,該印刷配線板具有凸塊, 該製造方法則包含至少以下(a)〜(d)步驟: (a) 朝阻焊劑層之開口供給低熔點金屬,而進行迴焊 以形成凸塊; (b) 測定已形成之凸塊高度,以檢測高度較低之凸塊 或未形成有凸塊之部位; ' (c)於已檢測出之較低凸塊或未形成有凸塊之部位 - 搭載用以調整高度不足之低熔點金屬球;及 (d)加熱熔融低熔點金屬球以提高較低凸塊之高度; 又,前述製造方法係於前述(b)測定已形成之凸塊高 ' 度以檢測出較低凸塊之步驟中,算出較低凸塊之體積, 且,於前述(c)步驟中,由複數種類直徑之低熔點金 屬球内選出對應所算出之體積之直徑之低熔點金屬 球,並將之搭載於已檢測出之較低凸塊或未形成有凸塊 之部位。 2. 如申請專利範圍第1項之印刷配線板之製造方法,係令 . 焊料凸塊之半徑為r,焊料凸塊距導體墊之高度為h時, 由下式算出前述較低凸塊之體積V, 【數1】 V=4/3x 7Γ xrxrxhxl/2。 3. —種印刷配線板之製造方法,該印刷配線板具有凸塊, 該製造方法則包含至少以下(a)〜(d)步驟: (a)朝阻焊劑層之開口供給低熔點金屬,而進行迴焊 24 1364248 第96132249號申請案100.0627.修正替換 以形成凸塊; (b) 測定已形成之凸塊高度’以檢測高度較低之凸塊 或未形成有凸塊之部位; (c) 於已檢測出之較低凸塊或未形成有凸塊之部位 搭載用以調整高度不足之低炫點金屬球;及 (d) 加熱熔融低熔點金屬球以提高較低凸塊之高度; 係於刚述(b)測疋已形成之凸塊之高度以檢測出較 低凸塊之步驟中,測量較低凸塊之高度, 又,前述製造方法係於前述(c)步驟中,求出可使測 得之高度為所要求之高度所需之低熔點金屬球之直 徑,而在複數種麴直"^之低熔點金屬球内選出已求出之 直徑的低熔點金屬球’並將之搭載於已檢測出之較低凸 塊或未形成有凸瑰之部位。 4. 如申請專利範園第3項之印刷配線板之製造方法,更包 含預先製作顯系修正前及修正後之凸塊高度與應搭載 之所需低熔點金屬球直徑之關係之率定線,再據此選出 預定直徑之低熔黠金屬球的步驟。 5. 如申請專利範園第4項之印刷配線板之製造方法,其中 前述率定線係對應不同之複數阻焊劑層之開口直徑而 製作者。 6. 如申請專利範園第1〜4項中任一項之印刷配線板之製造 方法,係於前述已檢測出之較低凸塊或未形成有凸塊之 部位搭載低炫點金屬球之步驟之前’先對前述較低凸塊 塗布助焊劑。 25 1364248 _ 第96132249號申請案100.0627.修正替換 7. 如申請專利範圍第6項之印刷配線板之製造方法,係使 用黏度大於在對前述阻焊劑層之開口供給低熔點金屬 前塗布之助焊劑黏度的助焊劑,作為於前述較低凸塊或 未形成有凸塊之部位塗布之助焊劑。 8. 如申請專利範圍第1〜4項中任一項之印刷配線板之製造 方法,係於前述已檢測出之較低凸塊搭載低熔點金屬球 * 之步驟之前,先局部加熱前述較低凸塊,以設置凹部。 9. 如申請專利範圍第1〜5項中任一項之印刷配線板之製造 方法,係藉雷射進行前述低炫點金屬球之加熱炫融。 10. —種印刷配線板之製造裝置,係使用於申請專利範圍第 1〜5項中任一項之印刷配線板之製造方法者,至少具有 ' 以下機構: 凸塊形成機構,係朝阻焊劑層之開口供給低熔點金 屬,而進行迴焊以形成凸塊者; 測定機構,係測定已形成之凸塊高度,以檢測高度 較低之凸塊或未形成有凸塊之部位者; 搭載機構,係於已檢測出之較低凸塊或未形成有凸 • 塊之部位搭載用以調整高度不足之低熔點金屬球者;及 / 加熱機構,係加熱熔融低熔點金屬球以提高較低凸 塊之高度者。 26
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007004658A1 (ja) * 2005-06-30 2007-01-11 Ibiden Co., Ltd. プリント配線板
JP4679587B2 (ja) * 2005-12-20 2011-04-27 イビデン株式会社 プリント配線板の製造方法
TW200810647A (en) 2005-12-20 2008-02-16 Ibiden Co Ltd Method for manufacturing printed wiring board
WO2007086551A1 (ja) * 2006-01-27 2007-08-02 Ibiden Co., Ltd. プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
TW200746964A (en) * 2006-01-27 2007-12-16 Ibiden Co Ltd Method of manufacturing printed wiring board
CN102239753B (zh) 2008-12-05 2013-11-06 揖斐电株式会社 多层印刷线路板和多层印刷线路板的制造方法
JP5640892B2 (ja) * 2011-05-23 2014-12-17 三菱電機株式会社 半導体装置
CN102990183B (zh) * 2011-09-09 2014-10-01 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 一种bga器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法
US8778738B1 (en) 2013-02-19 2014-07-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packaged semiconductor devices and packaging devices and methods
US9613933B2 (en) 2014-03-05 2017-04-04 Intel Corporation Package structure to enhance yield of TMI interconnections
US10231338B2 (en) 2015-06-24 2019-03-12 Intel Corporation Methods of forming trenches in packages structures and structures formed thereby

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5282565A (en) * 1992-12-29 1994-02-01 Motorola, Inc. Solder bump interconnection formed using spaced solder deposit and consumable path
JP3090853B2 (ja) 1994-08-19 2000-09-25 新日本製鐵株式会社 バンプ付き半導体装置の製造方法
JP3271461B2 (ja) * 1995-02-07 2002-04-02 松下電器産業株式会社 半田ボールの搭載装置および搭載方法
JP3173338B2 (ja) 1995-08-18 2001-06-04 松下電器産業株式会社 不良バンプのリペア方法
JP3180041B2 (ja) 1996-10-09 2001-06-25 住友金属工業株式会社 接続端子及びその形成方法
JP3430910B2 (ja) 1998-03-20 2003-07-28 松下電器産業株式会社 半田バンプ形成用のクリーム半田印刷装置および半田バンプ形成方法
JP3552635B2 (ja) 2000-03-10 2004-08-11 セイコーエプソン株式会社 端子のリペア方法及びリペア装置
SE518640C2 (sv) * 2000-07-11 2002-11-05 Mydata Automation Ab Förfarande, anordning för applicering av ett visköst medium på ett substrat, anordning för applicering av ytterligare visköst medium samt användningen av screentryckning
JP3822834B2 (ja) 2002-04-12 2006-09-20 新日本製鐵株式会社 リペア方法及び装置
US20050274770A1 (en) * 2004-06-07 2005-12-15 Henderson Marvin A Sr Method for the precise and reliable placement of solid metallic and non-metallic particles
CN100501957C (zh) * 2005-05-24 2009-06-17 松下电器产业株式会社 焊料凸块形成方法及半导体元件的安装方法

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