TWI335083B - - Google Patents
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 81
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 79
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 18
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 claims description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 10
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 117
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 15
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 13
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 239000002585 base Substances 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical compound C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 4
- -1 poly(3_mercaptothiophene) Polymers 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 3
- 239000010985 leather Substances 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 3
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 3
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 3
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 2
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 2
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 2
- 229930192474 thiophene Natural products 0.000 description 2
- XQQBUAPQHNYYRS-UHFFFAOYSA-N 2-methylthiophene Chemical compound CC1=CC=CS1 XQQBUAPQHNYYRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017050 AsF3 Inorganic materials 0.000 description 1
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical compound C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000192700 Cyanobacteria Species 0.000 description 1
- QENGPZGAWFQWCZ-UHFFFAOYSA-N Methylthiophene Natural products CC=1C=CSC=1 QENGPZGAWFQWCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000008331 Pinus X rigitaeda Nutrition 0.000 description 1
- 235000011613 Pinus brutia Nutrition 0.000 description 1
- 241000018646 Pinus brutia Species 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 150000001345 alkine derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JCMGUODNZMETBM-UHFFFAOYSA-N arsenic trifluoride Chemical compound F[As](F)F JCMGUODNZMETBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000009954 braiding Methods 0.000 description 1
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 210000003298 dental enamel Anatomy 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 235000013399 edible fruits Nutrition 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000003127 knee Anatomy 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000012768 molten material Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000010025 steaming Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001356 surgical procedure Methods 0.000 description 1
- 238000005496 tempering Methods 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
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Description
1335083
五、發明說明(1) 發明所屬之技術領域: 本發明是有關於一種線狀元件及其製造方法 先前技 S 也積極 試發展 铁 基板作 度也會 此 料之導 缺 技術® 配置於 因 法,其 任意形 電路製 集化與 積集化 置均以 製造方 且,裝 絹的表 亦為眾 未揭露 性纖維 之目的 制,具 置。 術: 前利用積體 致力於高積 三度空間的 而,任何裝 為基材,其 有限度。而 外,於棉或 電性纖維, 而,習知尚 而且,導電 中心。 此,本發明 形狀不受限 狀之各種裝 造之各種裝 高密度化的 技術。 硬式基板作 法勢必會受 置亦會受限 面電鍍或包 所熟知之J 於-條4 也以棉線或 係提供〜蘇 有柔軟性與 置相當的普及’各界 開發。其中界者正嘗 為基材。既然以硬式 到一定的限制,積集 於某些特定之形狀。 覆上金或銀等導電材 術〇 内部形成f路元件的 絹線作為基松&的 材,線則 線狀元件;^ A 可撓性以製造方
發明内容: 本發明提供一種線狀元件,发 連續或間隔性地形成有電路元件’、特徵在於 本發明又提供一種線狀元件j 上連續或間隔性地形成有具有電其特徵在 ^ <複數區 於長方向上
於: 域42向
1335083 五、發明說明(2) 再者,本發明提供一種線狀元件之製造方法,其特徵 在於:將形成電路元件區域之材料形成溶解、熔融或膠質 狀態;押出上述材料成線狀,並形成所需之形狀。 · 亦即,本發明具有複數區域,而於其中一個剖面内形 成有電路。 另外,本發明亦包括前端為針狀或其他形狀之線狀元 件。 (電路元件) 在此,電路元件例如為能量轉換元件。能量轉換元件 為一種能將光能轉換成電能、將電能轉換成光能之元件。4 例如電子電路、磁性電路或光電路元件。電路元件與只傳 送信號的光纖不同,而且也與導線不同。 電路元件例如為電子電路元件或光電路元件。更具體 地說,例如為半導體元件。 以習知之製程技術的差異來分類,電路元件例如為分 離式半導體、光電元件、記憶體等。 具體地說,分離式半導體例如為二極體、電晶體(雙 載子電晶體、FET、絕緣栅雙載子電晶體)、矽控整流器 等。光電元件例如為發光二極體、半導體雷射、發光裝置 (光電二極體、光電晶體、影像感測器)等。記憶體例如為Μ DRAM、快閃記憶體、SRAM等。 (電路元件之形成) 於本發明中,電路元件係以長的方向連續或間隔性地 形成。
2015-5632-PF(Nl).ptd 第5頁 1335083 五、發明說明(3) < 亦即’於長方向之垂直剖面中具有複數區域,上述複 數區域中具有一個電路元件,上述剖面於長方向上連續
間隔性地形成線狀。 S 例如NPN雙載子電晶體,其係由射極N區、基極p區與 集極P區三個區域所構成。因此,必須使此三個區域於剖 面中可產生區域間之接合來進行配置。 其配置方法例如為從形成中心起以同心圓狀依序配置 各區域的方法。亦即,最好由中心起依序形成射極區、基 極區、集極區❾當然也可考慮其他的配置,例如同一配^ 之拓樸的適當配置。
另外, 接各區域, 上述同心圓 同,於長的 極區形成基 好進行分割 連接於各區 亦可將其由 狀配置各半 方向上連續 極、於集極 後來配置。 域之電極可 前端起埋入 導體區時, 地於射極區 區之外圍形 從線狀元件 各區域中。 較佳與各半 之中心形成 成集極。而 之底面來連 亦即,若以 導體區相 射極、於基 且’基極最 成 上述之NPN雙载子電晶體亦 可利用押出形成法一體形 以上雖以NPN雙载子電b俨蛊〇 , 件也可於剖面内產生電二體數為「例J但㈣ 置,並於長方Θ u ,复數^域間必要之接合來進行配 (連續形成門Λ例如以押出法連續形成該剔面。 L逕.貝办成、間隔性形成) 當連續形成電路元伴睥 -形狀。即俗稱的金太。果:J從哪-剖面來看均為同
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五、發明說明(4) 上述電路元件可於線狀之長方向上連續形成同一 _ 件’亦可間隔性地形成。 疋 (線狀) 本發明之線狀元件之外徑較佳為丨〇Dlm以下,更佳為 5ππη以下’又更佳為1 mm以下,最佳為1 〇仁m以下。經由 伸加工後’可形成至liWm以下,亦可至Olem以下。 了編織線狀元件成布料,外徑則愈小愈好。
當由模具的孔洞中射出形成具有1仁m以下之外徑的極 細線狀體時’有時會產生孔洞的堵塞 '與線狀體的斷炉^ 問題。於上述情形時,首先形成各區域之線狀體。接著 以此線狀體作為島而製造很多個島,並以可溶性物質包 其周圍(海),然後將其以喇叭狀的金屬環綑綁,由小孔同 射出一根線狀體。當島的成分增加,海的成分減少時,^ 製造出極細的線狀體元件。 另一方法中亦可先形成較厚的線狀體元件,之後再於 長的方向上進行延伸。此外,也可藉由喷射氣流,將熔融 狀態之原料形成熔體流動,而形成極細的線狀體。 再者’兩寬比可設定為押出形成之任意值。利用抽絲 技術時’線狀之高寬比較佳為i 〇 〇 〇以上。例如可為丨〇 〇 〇 〇 〇 或1 000 00以上。於切斷後使用時,小單位線狀體之高寬比Ο 可為10〜10000、10以下、1以下、或以下。 (間隔性形成) 當間隔性地形成同一元件時,可形成於長方向上與相 鄰接的元件不同之元件。例如,於長方向上依序形成
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五、發明說明(5) V MOSFET(l)、元件分隔層(1)、M0SFET (2)、元件分隔層 (2) ......MOSFET(n)、元件分隔層(η)。 此時,MOSFET(k) (k = l-n)與其他M0SFET之長度可為 相同’亦可為不同《並可對應所欲形成之電路元件來作適 當的選擇。另外’元件分隔層之長度也是同樣的。 、 當然M0SFET與元件分隔層之間亦可間隔其他層。 以上雖以M0SFET為例作說明,但當形成另一元件時, 也可間隔性地插入對該另一元件之用途上必需的層。 (剖面形狀) 線狀元件之剖面形狀並不限定於某特定形狀.例如 圓形、多邊形、星形等形狀1外 : 角之多邊形。 〇攸数】只月馮銳 而且,亦可形成任意的各區 。 1圖所示之結構時,亦可將閘極電極° θ'、p ’例如如第 元件之外側形狀形成為圓形。 生/、或將線狀 若欲增大與鄰接層的接觸面 角之多邊形。 父佳為頂角為銳 此外,於將剖面形狀形成為所 形狀設定為押出模頭之形狀,如 — T,可將所需 當最外層之剖面為星形或 t谷易形成。 出成:後,可例如以浸泡法u 形狀時,於押 之任意材料,並可依據元件之用 S ]隙中填入其他 此外’將剖面形狀為d來改變元件之特性。 政取得線狀元件間的接觸。
2015-5632-PF(Nl).ptd 狀之線狀元件互相嵌合^元件與剖面形狀為凸 1335083 五、發明說明(6) 又當對半導體層進行捧雜時,可於溶融原料中加入不 純物,亦可於押出形成後,維持 介它▲ 户付跟狀逋過真空室,而於真 i 進行不純物的摻雜。此外,當 ::體層並非形成於最外層’而是形成時内部b寺可藉由 :制離子照射能量’而僅對内部之半導體層進行離子植 0 (製造方法 後加工形成) 株在六述製造方法雖以利用押出一體形成具有複數層之元 =,但亦可採用押出形成元件基本區域以形成線狀, 之後利用適當方法對該基本區域進行覆蓋 (原料) 電極、半導體層之材料較佳利用導電性高分子。例如 聚乙炔、聚荦(寡审Kp〇lyacene(oligoacene))、聚噻唑 、^噻吩 '聚(3_曱基噻吩)、寡噻吩(〇lig〇thi〇phene) 、,咯、聚苯胺、聚伸苯等。電、半導體層之材料最 好從这些材料中考慮導電率等條件來作選擇。 半導體材料例如使用聚對位伸苯、多噻吩、 基噻吩)等。 τ 再者,源極•汲極材料最好使用於上述半導體材料中 加入摻雜的材料。若欲形成11型,則例如可加入鹼金屬 (Na、Κ、Ca)等的摻雜。此外也可使用AsF“AsF3或cl〇4_作 為換雜。 也可對導電性高分子加入富勒烯(C6〇),作為受體。 絕緣性材料可使用一般的樹脂材料。亦可使用Si〇2等
1335083 五、發明說明(7) 的無機材料 一此外’若為中心具有半導體區或導電性區結構的線狀 元件時,中心的區域較佳以非晶質材料(鋁、銅等之金屬 材料,矽等之半導體材料)形成。其形成較佳使線狀之非 晶質材料通過模具的中心,使非晶質材料進行運動,並對 其外圍進行射出,覆蓋其他所需的區域。 實施方式: (實施例1) 第1圖繪示依據本發明實施例之線狀元件。 才承號6表示線狀元件’此實施例係以Μ 〇 s F E T為例。 此元件剖面的中心為閘極電極區〗,其外側依序形成 有絕緣區2、源極區4、汲極區3與半導體區5。 第2圖則繪示一般形成上述線狀元件用之押出機構造 圖。 押出機20具有將構成複數區域用之原料保持於炫融 態、或溶解狀態或膠質狀態之原料容器2丨、22、^ / 圓中雖繪示3個原料容器,—但本發明亦可依據所製造之 狀元件的結構作適當的改變。 ν 原料容器2 3中之原料被運送至模具2 4。模具2 4中具 對應所欲製作之線狀元件剖面之射出孔。由射出、孔射、有 線狀體可利用滾輪25捲起、或因應需要唯持線狀,,軍 的 下一步驟。 …、 达至 第3圖繪示製造如第1圖所示之線狀元件結構的裝置構
2015-5632-PF(Nl).ptd 1335083 五、發明說明(8) 造圖。 固原料容器中分別裝有閘極材料30、絕緣性材 、源極•汲極材料32與半導體材料34,於容器中 於炫融或溶解狀態、膠質狀態。此外,模具24上形成ΐ持 洞’連接各個原料容器。 有孔
具體地說,首先,於中心形成射出閘極材料3〇用的、& 2洞3〇a。於其外圍形成射出絕緣性材料3ι用的複數複 :31a。接著,再於其外圍形成複數孔洞,這些複數=L 32,ί Ϊ二部份的孔洞m…連接源極·汲極材料容器 32。其他的孔洞則連接半導體材料容器34。 盗 將各個原料容器中於熔融 料送至模具24,由模且2“+ “二阱狀^膠質狀態之原 射出,並進行固化;==料。此時,原料由各孔_ 線狀元件。 s由抽取另一端,使線狀連續而形成 線狀之線狀元件可利田.办〇「 線狀,運送至下—步驟。滾輪25捲起。&因應需要維持 閘極電極材料較祛β 炔、聚笨基乙烯、聚哒:孳用::二高分子,例如聚乙 形成外徑小的線狀元杜 。尤/、是利用聚乙炔時,因可 半導體材料較佳:利2聚乙块為佳。 甲基噻吩)等。 用聚對位伸苯、多噻吩、聚(3、 再者,源極•沒極纟, 加入摻雜的材料。若斗最好使用於上述半導體材料中 (Na、K、Ca)等的採:人形成11型,則例如可加入鹼金屬 的以°此外也可使射sF5/AsF3g1〇4、作
2015-5632-PF(Nl).ptd 1335083 % 五、發明說明(ίο) 首先,僅從30a、31a、3 2a、33a、34a射出原料材 料。亦即,先關閉40a、41a之射出。此時,半導體層原料 會覆蓋對應4 0 a、4 1 a之部分,押出如實施例1所示之剖 面。在此,將絕緣層4 7、汲極電極4 6、源極電極4 5的寬度 設小,於是當關閉40a、41a之射出時,形成半導體層之材 料便會覆蓋該部份。
接著’開啟4 0 a、4 1 a之射出。隨著此步驟,剖面形壯 產生變化’押出如第5圖所設定之剖面。藉由適當地改變 關閉40a、41a之時間與開啟4〇a、41a之時間,可將A_A剖 面之長度與B-B剖面之長度調整為任意長度。 此外,本實施例亦可間隔性地形成剖"面 用其他的材料或形成其他的剖面形狀, 亦可利 如,可以絕緣層形成整個A-A部分。當 _A。例 狀時’也可以利用同樣的方法。 ’八他的底面形 另外,若將汲極電極46、源極電極 關閉輸出電極用之孔洞4 la的射出時,的面積設大,且 或絕緣層之原料不會完全覆蓋,而合於料處導體層之原料 極電極之部分i生空隙。故於押‘,應源極電極•沒 於此空隙中。 最好填入電極材料 (實施例3)
第6圖繪示另一實施例。 實施例1、2中揭露以押出法一體 子;而本實施例中則揭露以押出法形 ,狀几件的例 件,再以外部加工形成其他部分之實施例部份之線狀元
1335083 五、發明說明(π) 在此以實施例2所示之線狀元件為例來作說明。 首先,押出閘極電極1與絕緣層2 ,形成線狀之中間體 (第6(a)圖)。 接著於絕緣層2之外側塗佈熔融或溶解狀態、膠質 狀態之半導體材料,形成半導體層6 1,以作為二次中間體 (第6(b)圖)。上述塗佈最好讓線狀之中間體通過置有溶融 或♦解狀…膝質狀態之半導體材料的槽中,或者採用蒗 鍍等的方法來進行。 … 之ί仗ΐ半導體層61之外側塗佈罩幕材料62。罩幕材 料6 2的塗佈最好讓二次中ρ弓姊.s .Α里士 _ # ,站々s甘 人中間祖通過置有溶融或溶解狀態、 膠質狀態之罩幕材料的槽中來進行。 然後’以餘刻等方法丰哈姓令#罢,,a 也t « Ν ΛΑ S « 沄去除特疋位置(汲極•源極所對 應之位,)、罩幕材料,而形成開口 63(第6(c)圖)。 接著,使線狀之二次中間體通過減 距離,進行離子植入(第6⑷圖)。 並控制射私 之後’通過熱處理室進行回火,以形成源極區'汲極 區。 如此制1更可對應所形成之區域的配置與材料,適當地 結合押出製程與外部加工製程。 〇 (實施例4 ) 本Ϊ 2 Ϊ說明依序形成如第1圖所示之線狀元件中 之各區域的方法。 此流程繪示於第7圖中。 首先’以紡絲技術,由模具3的孔洞射出間極電㈣
2015-5632-PF(Nl).pttl 第14頁 1335083 五、發明說明(12) 料’以形成閘極電極1(第7(b)圓)。在此,將閘極電極1簡 稱為中間線狀體。 接著’如第7(a)圖所示,一方面使中間線狀體通過模 具b的中心’使中間線狀體進行運動,另一方面從模具b上 所形成的孔洞射出絕緣層材料,而形成絕緣層2 (第7 (c) 圖)。另外,於模具b之下游側設置一加熱器。必要時可利 用此加熱益進行線狀體之加熱。藉由此加熱步驟,可由絕 緣層中去除絕緣層中之溶劑成分。以下之源極.汲極層、 半導體層之形成也是利用相同的方法。 之後’使中間線狀體進行運動,形成源極·汲極層 4、3 (第7 (c )、( d)圖)。此外,絕緣層2上之源極區4與汲 極區3相互分離。這可利用僅於模具^的一部分上設置孔洞 來達成。 然後’同樣地使中間線狀體通過模具的中心進行運 動’而形成半導體層5。 如第7 ( f )圖所示,若欲於部分之長方向上設置源極· 汲極用之輸出電極時,可關閉模具d上所設置之複數孔洞 中之部刀孔洞(對應源極•汲極電極之部分孔洞)的原料供 給。此外’若欲於整個長方向上設置輸出用之孔洞時,可 利用如第7(g)圖所示之模具d2來形成半導體層。 (實施例5) 第8圖繪示實施例5。 本實施例揭露利用導電性高分子作為半導體元件之形 成材料,射出導電性高分子。
2015-5632-PF(Nl).ptd 第15頁 1335083 五、發明說明(13) 實施例4中係揭露使中間線狀體通過模具中,而於中 間線狀體之表面上形成外層。而本實施例則以此外層為導 電性高分子之情況為例。 將原料82的(V1-V0)設定為lmm/sec以上,較佳為 20m/sec以上’更好為50m/sec ’最好為100m/sec以上。此 上限為中間線狀體不會產生斷裂之速度。產生斷裂之速产 會隨材料之射出量、材料之黏度、射出溫度等條件而改 變’具體地說’最好根據所使用的材料等設定條件,並預 先以實驗求出該速度。 將射出速度V0與運動速度VI的差值設定為im/sec以 上’如此被射出之材料因加速度產生外力而進行運動。外 力的方向即為運動方向。導電性高分子中之分子鏈一般呈 第8 ( c )圖所示之緊結狀態,其長的方向係朝任意方向。然 而’隨著射出’外力施於運動方向時,分子鏈會如第8(b) 圖所示,緊結狀態被拉直,並在長的方向上呈水平排列。 在此,如第8(b)圖所示,電子(或電洞)會藉由跳過能 階最近的分子鏈而產生移動。因此,分子键如第8(b)圖所 示呈水平方向配位時,會遠比如第8 ( c )圖所示呈任意方向 的情況容易產生電子的跳躍。 隨著射出,外力施於運動方向時,巧·使分子鏈呈第 8 ( b )圖所示之方向。而且,亦可縮短分子鍵與分子鏈間之 距離" 除此之外,本實施例亦可適用於以導電性高分子形成 特定區域之其他實施例中。
2015-5632-PF(Nl).ptd 第16頁 1335083 五、發明說明(14) 將分子鏈之長方向的配位率設定為50 %以上的話,可 提高電子之移動率,形成更良好特性之線狀元件。高的配 位率可藉由控制射出速度與運動方向速度的差來加以控 制。 在此,所謂的配位率即為,相對於長方向上具有0〜 + 50之傾斜角的分子數佔全部分子數的百分比。 當此百分比為7 0 %以上時,可獲得具有非常良好特性 的線狀元件。 (實施例6) 第9圖繪示依據實施例6之線狀元件。 本實施例之線狀元件的中心為中空區域、或絕緣區 7 0,其外側形成有半導體區5,其中具有源極區4與汲極區 3,暴露出部分的半導體區5,又其外側形成有閘極絕緣層 區2與問極電極區1。 另外,可於閘極電極區1之外側設置由絕緣性樹脂等 所形成之保護層。亦可於保護層之適當位置形成開口,作 為閘極電極的輸出區。 此外,本實施例亦可於長方向上之任意位置、或與實 施例2相同,於第7圖所示之剖面間插入具有其他形狀的剖 面。 本實施例之線狀元件中,以押出形成中空區域70與半 導體區5後,對源極區4、汲極區3進行摻雜,之後,最好 利用塗佈法分別形成絕緣層區、閘極電極區1。絕緣層2之 材料較佳為S i 02等無機材料。
2015-5632-PF(Nl).ptd 第17頁 1335083 五、發明說明(15) (實施例7 ) 第10(a)圖繪示依據實施例7之線狀元件。 本實施例為具有p i η結構之線狀元件。 亦即’於中心具有電極區1 〇 2,其外側形成有η層區 101、i層區100、ρ層區103、電極區104。此外,於本實施 例中還於Ρ層區1 03之外側形成由透明樹脂等所形成之保護 層區1 0 5。 此線狀元件係以押出一體形成電極區1 〇 2、η層區 101 、i 層區100。
ρ層區1 0 3、電極區1 〇 4是利用後續加工來形成,例如 利用塗佈等方法形成。由於P層區1 〇 3係以後續加工形成, 故可形成厚度較小的P層區103。因此,當作為太陽能發電 元件時,則可有效使由P層區103之入射光射進空乏層。 當然在此亦可以押出一體形成電極區丨〇 2、n層區 101、i層區100、p層區103、電極區1〇4。 再者’於第10(a)圖中’i層之圓周形狀雖為圓形,但 最好形成星形的形狀。如此’可增大{)層1〇3與丄層1〇〇間的 接觸面積丫提高轉換率。 S θ 第10(a)圖所示之實施例中雖然以電極1〇4形成於部分 之Ρ層1 03中的情況為例’但亦可覆蓋整個圓周而形成。。刀 此外,若為ηρ結構時,亦可於ρ層103與電極1〇4間哎 置Ρ+層。設置Ρ+層可使ρ層103與電極104間更容易產生歐Χ 接觸。而且,電子也更容易流向i層側。 辦 形成P層、η層、i層用之半導體材料較佳為有機半導
2015-5632-PF(Nl).ptd 1335083 五 —發明說明(16) ^料,例如多噻吩、聚%咯等。為了形成P型、η型,較 $進灯適當的捧雜。亦可採用ρ型聚喵咯/η型聚嗞咯的組 合0 (實施例8) 另外,電極材料較佳為導電性高分 fU(b)圖繪示依據實施例8之線狀元件。 只,允例7中之p 1 η結構係形成同心圓的形狀,而本實施 =則形成四邊形之剖面。將?層區丨〇 3、i層區丨〇 〇、η層區 作桜向排列。並於兩側面上分別形成電極1〇2、1〇4。 本實施例中’第1 〇 (b)圖中所示之剖面於長的方向上 是連續形成的。 此結構之線狀元件較佳以押出加工一體形成。 (實施例9) 本實施例中,於中心具有電極區,其外圍處以p型材 料與η型材料之混合材料形成一個區域。接著,再於1 圍形成電極區。 八卜 亦即’上述實施例中係揭露ρ層與η層結合之雙層結構 (或中間插入i層之3層結構)的二極體元件,但本實施;是 以由ρ型材料與11型材料之混合材料所形成之單層結 例。 巧 Ρ型/η型混合材料是藉由混合電子施體之導電性 子與電子受體之導電性高分子所形成。 在此以利用ρ型/η型混合材料形成元件區之單純結構 為佳。
1335083 五、發明說明(π) ---- (實施例1 0 ) 本實施例係揭露對上述實施例中所述之線狀元件,於 長的方向進行延伸。其延伸方法例如為延伸銅線或銅管的 技術。 藉由延伸可使直徑變細。尤其是當利用導電性高分子 時,如上所述,可使分子鏈於長方向上呈水平狀態。而 且,可使平行之分子鏈間之間隔變小。如此,電子的跳躍 可更有效率地進行,因而獲得具有更良好特性的線狀元 件。 延伸所造成之縮減率較佳為丨0%以上,最好於i 〇〜99% 之範圍。縮減率為X (延伸前之面積-延伸後之面 積)/(延伸前之面積)的比值。 延伸步驟亦可反複進行數次。若使用彈性模數不大的 材料時,可反覆進行延伸步驟。 延伸後的線狀元件之外徑較佳為lmm以下,更佳為10 以下’更好為1 以下,最好為〇.1 以下。 (實施例1 1 ) 第1 1圖繪示實施例1 1之圖式。 本實施例中,首先以押出原料材料形成具四邊形剖面 的線狀,以製造出中間線狀押出體i i丨(第i i (a)圖♦然 亦可押出其他的剖面形狀。 田… 接著,將中間線狀押出體丨i丨以剖面之橫向、或剖面 之縱向進行拉伸,以形成拉伸體丨丨2(第i丨(b)圖)。圖中所 繪示的係以圚式之檢向進行拉伸的例子。
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五、發明說明(18) 然後’將長方向上$如油mm 盔,ν Λ,士々机门上之拉伸體11 2切成平行的適當段 „ + π γ w 早位拉伸體H3a、U3b、113c、113d ❶ 另外,亦可不進行此切斷步 二士认 ^ .. y ϋ刀斲,驟,而直接進行下一步驟。 接者,對早位拉伸體推# Α , 沐〜J t 1 π丄 甲體進仃加工形成適當的形狀。圖中 所不之例子係加工成規壯f,/ Jm、 nn nr赞"狀(第U(d)圖)' 螺旋狀(第U(e) 圓)、雙锿狀(第11(f)圖)。 之後,以材料填入中空區域U4a、ii4b、114C、 d中。例如當單位拉伸體為半導體材料時,則填入電極 材料。當然亦可不於環狀等加 狀加工的同時,進行填入:力;;…後’而是於進行環 此外,當形成如第11(f)圖所示之雙環結構時 拉伸體114c之材料亦可使用蛊星垃柚 〇早位拉伸體11 4d不同之材 TT ° 另外,亦可於押出後(第u(a)圖)、拉伸 圖、切斷後(第11(d)圖)),於1 面二乐 v, , ^ μ 、兵表&上塗佈其他的材料。 列可利用 >父泡、祭鍍、電錢等其他方法進行 之材料可依照製造之元件機能作適當的選擇。例如 $ 材料、磁性材料、導電性材肖、絕緣性材料中之任竟= 均可。此外,亦可使用無機材料或有機材料。 “ 7 Ο 於本實施例中,^利用導電性高分子作為 時,分子鏈之長方向會以圖式中拉伸方向 】:枓 向。因此,加工成環狀之後,分子键之 心: u(g)圖所示之圓周方向來配向。如此, 二如第 行半徑方向上的跳躍。 更合易進
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明 5083 五、 發明說明(19)
者,加工成環狀時,可設置開口 1 15,此開口例如 為電極等的輸出。若欲編織線狀元件成堆疊裝置時,其 可作為線狀元件間之連接部分。另外,亦可作為與其他 之剖面區域的線狀 此外,於加工形成環狀之後,亦可利用具有此環狀等 之線狀體作為中間體’以形成具有所需 元件。 另外’如第11 (h)圖所示,亦可於線狀元件之長方向 上的適當位置’週期性地或非週期性地設置沙漏狀區域 11 7 (剖面之外徑形狀與其他不相同的部分)。當在長方向 i與其他線狀元件垂直進行編織時,此沙漏狀β區域可作為 疋位之a己號。此沙漏狀區域的形成並不僅限於本實施例, 亦可適用於其他的線狀元件。 = 又圓周方向之分子鏈的配向率較佳設定為5 0 %以上, 最好設定為7 0%以上。如此,可得到特性佳的線狀元件。 (實施例1 2 ) 上述貫施例中曾揭露間隔性地形成剖面形狀的元件製 造方法,本實施例則揭露其他以押出形成之實施例的製造 方法,如第1 2圖所示。 第12圖僅繪示出部分的電路元件形成區域。 第12(a)圖繪示當半導體材料射出時,僅於^所示之時 間點射出半導體材料。在此,可連續射出導線材料,並間 隔性地射出半導體材料,而同時形成導線與半導體。此 外,亦可先形成導線部分,之後使導線產生運動,而對導
2015-5632-PF(Nl).ptd 第22頁 1335083 五、發明說明(20) 線周圍間隔性地射出半導體材料。 第12(b)圖所示之實施例係先形成線狀之半導體或絕 緣體,其後利用蒸鍍等方法,於長方向上間隔性地塗佈導 電體,以形成於長方向上不同之剖面區域。 第1 2 ( c )圖所示之實施例中係先形成線狀的有機材 料’接著,於長方向上間隔性地進行光的照_ ’使照射的 部分產生光聚合反應。 如此,便可於長方向上形成不同之剖面區域。 第12(d)圖中係繪示押出透光性導電高分子^、與光 硬化性導電高分子0所一體形成之雙層中間線狀體。使此 :間線狀體進行運動,並對其進行間隔性的光照射時,可 V域部。分產生光硬化。藉此可於長方向上形成不同之到面 第1 2 ( e )圖繪示利用雜;6 行運動,计紅a 子…、射之貫施例。使線狀體進 订建動,並以運動途徑的 ^ 行間隔性的離子职射。先設置之照射裝置㈠ 僅由某特定方向進行。;:的:射可由全方向進行… 域來決定適當的照射方向 可根據所欲形成之刮面β 定為適當的任意^離。° 。此外,離子的射程距離也可言 於離子照射裝晉的 射過後的線狀體進行加熱\^置加熱裝置,以對離子照 變成別的組成。 …、° ",、經離子照射過的部分會轉 而若由全方向進行 。若僅由某特定方
照射時,則 向照射離子 組成 整個表面會轉變成別的 時’則只有此部份轉變
1335083 五、發明說明(21) ' --1 成別的組成。 雖然第1 2 ( e )圖以作為離子照射對象之中間線狀體為 單層結構為例’但即使是雙層結構,也可藉由控制離子~照 射之射程距離’只對内部進行離子植入。經由熱處理,^ 子所照射過之内部會轉變成別的組成。 中間線狀體可利用矽線狀體,並植入〇離子以形成Si〇 區域。控制射程距離,便可形成所謂的BOX (嵌入氧化 2 層)。另外’在此雖揭露間隔性地形成其他剖面區域的 BOX ’但BOX亦可連續形成於整個長的方向上。 (應用例1 ) ^ 本實施例係以編織複數線狀元件所形成之積體電路為 例0 第1 3圖係繪不積體電路圖。 第13圖所繪示之積體電路為DRAM之半導體記憶體。 DRAM記憶體由縱橫向排列之記憶胞所組成,電路如第 13(a)圖所示。 其中之一個記憶胞中具有MOSFET 209al與電容器 2 0 7。每個記憶胞間位元線S 1、S 2......與字元線G1、 G 2......是相接的。 如第13(b)圖所示,此記憶胞由M0SFET線狀元件20 9al f 與電容器207構成。在此’ MOSFET線狀元件僅簡單以列的 數字來標示。 MOSFET 2 09al係由中心朝外圍方向,依序形成閘極電 極201、絕緣層202、源極·汲極204、205與半導體層203
2015-5632-PF(Nl).ptd 第24頁 1335083 五、發明說明(22) 來形成。 再者’於長方向上形成有元件分離區2丨〇。閘極電極 20 1僅貫穿一個線狀體。亦即,將一個閘極電極作為共通 的字元線’在長方向上—個線狀體中形成有複數個m〇sfet 2093 1、209bl ....... 也同樣以 此外,第13(a)圖之m〇sfET 209a2、a3..· 線狀元件構成。 此Μ 0 S F E T線狀元件較佳以高分子材料形成。 的 極 子 觸 另外’源極區204之輸出區如第13(c)圖所示,朝直徑 方向突出。這是為了能夠更容易取得與位元線S1間之接觸 的緣故。此外,汲極區亦朝直徑方向突出,如第丨3 (d)圖 所示。於長方向上源極區與汲極區之突出位置是互相避開 另一方面,電容器207係由中心朝外側依序形成電 絕緣層與電極所形成。 S1為位元線,且為線狀。其材料較佳為導電性高分 以此位元線S1 206纏繞源極區204,使其與源極2〇4接 _二位:纏繞由Μ_ 2_、心......分別構成的 MOSFET tl件之源極區。 此外’汲極區205與電容器2 07藉由蠄肿々道兩以一八 子210來連接。 錯由線狀之導電性南分 第1 3圓之實施例中,電容器為 # ^ ,於M0SFET所形成之線狀體的適當位置。如此,可減少所 使用之線狀元件的個數,提高積隼声 買果度。而且,也可不使用
1335083 五、發明說明(23) 導電性高分子21〇來連接電容器,而改利用導電性接著劑 等直接與MOSFET作接合。 如上所述將線狀元件作縱橫地編織之後,最好以絕緣 性材料包覆住整體,以防止導電區發生漏電問題。 此外’亦可不使用電容器而改採用二極體。 (應用例2) 本實施例係以綑綁複數線狀元件所形成之積體電路為 例。 本實施例係以MOSFET線狀元件為例。當然亦可使用其 他之線狀元件。 首先,先準備複數個MOSFET線狀元件。 於各線狀元件之底面上形成彳㊁號輸入元件,如此在綑 綁時’便可偵測出各種訊號。例如設置光感測器、離子感 測器、壓力感測器等’便可偵測出對應人類五感之訊號。 例如’若欲於習知之基板型半導體積體電路上形成對 應1 0 0種信號之感測器的話’則必須反覆進行丨〇 〇次的黃光 製程才能形成。然而,若使用線狀元件之底面的話,則不 需反覆進行黃光製程’僅簡單地形成對應1 〇〇種信號的感 測器即可。而且,也可獲得高密度的感測效果。 (應用例3 ) 例如如以下所述’本發明亦可作為太陽能發電堆疊裝 置。 ’ 將具有p i η .结構的線狀元件進行綑綁、加撚或編織, 即可作為太陽能發電裝置。Pin層可以導電性高分子形
20i5-5632-PF(Nl).ptd 第 26 頁 1335083 五、發明說明(25) 裝置。 又因為具有可撓性’適於任意形狀,故可以接著劑將 其貼附於整個通訊衛星的外表面。 因容易將線狀之太陽能發電元件植於於符合人類頭部 形狀的基材之表面上,故可用來作為具有發電機能的人工 假髮。 另外,利用極細之線狀元件時,具有類似麂皮效果, 可作為皮革的表面。也可以上述線狀元件作成皮包。亦 即’可作成具有發電機能的皮包。 (應用例4 ) ^ 第1 4圖繪示另一應用例。 _ 於本實施例中,使線狀源極電極與汲極電極分別於以 絕緣層包覆閘極電極之線狀體的適當位置進行接觸。對由 源極電極之接觸部分至汲極電極之接觸部分的範圍,塗佈 有機半導體材料。 此外’亦可如第1 5圖所示,分別將線狀之源極電極或 沒極電極,一次或數次纏繞於以絕緣層包覆之閘極電極的 線狀體上。藉由纏繞可充分取得接觸。而且,最好對線狀 體設置沙漏狀區域,如此可於進行纏繞時作定位。 另外,如第16圖所示,也可使源極電極•没極電極僅f 接觸適當的線狀體(A點)。亦可以其他的導線接觸源極· 汲極電極之間(B點)。 第1 6圖中雖繪示列數為一列的實施例,但本例亦可配 置成複數列。此時’最好進行三度空間的接觸。由於線狀
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1335083 五'發明說明(26) — 體、源極電極、沒極電極均具有可挽性,因此可於所需的 位置處彎曲成所需的方向。 線狀體也可例如使用M0SFET線狀元件,於所欲的位置 以三度空間相互連接,便可建立所需之邏輯電路。若以習 知之半導體基板作為基材時,雖然電流路徑長,但藉由線· 狀元件可縮短電流路徑,建立快速的邏輯電路。 (實施例1 3 ) 第1 7圖繪示實施例1 3。 如第1 7 ( a )圖所示,本實施例之線狀元件於其中心具 有中心電極3 000,於該中心電極3〇〇〇之外側形'成有絕緣層 3003,於該絕緣層3003之外側形成有半導體層3〇〇4,其中噘 半導體層3004中形成有複數對成對之源極區3〇〇〗a、 300 1b、300 1 c、3001d、與汲極區 30 02a、3〇〇2b、3〇〇2c、 3002d 。 第17(b)圖係繪示第17(a)圖所示之線狀元件的等價電 路。 本貫施例以中心電極3 0 0 〇作為閘極電極。中心電極 3 00 0亦為共同電極。亦即’四對成對之源極•汲極 300 5a、3005b、30 05c、300 5d即為共同電極。因只有一個 閘極電極,故四對之MOSFET可形成一個線狀體。當然源 極•汲極對並不只限於四對,亦可形成2以上的複數對。 : 第1 7 (c )圖繪示以共同的線連接源極時之等價電路。 最好以線狀體之上方或下方之底面連接源極。此外,於線 狀體之長方向上的中間部分最好預先形成暴露區,以於該
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五、發明說明(27) 處進行連接。 第17(d)圖係繪示以共同的線連接汲極時之等價電 路。汲極間的連線最好與源極相同。 本實施例之元件例如可以前述之射出成型來製造。 (實施例1 4 ) 第1 8圖係繪示實施例1 4。 如第1 8 ( a )圖所示,本實施例之線狀元件於其中心具 有中心電極3100,於該中心電極31 00之外側形成有絕緣層 3103a,於該絕緣層31 03a之外側交互形成有複數層之半導 體層3104b、3104c與絕緣層3103b、3103c,在第2層以外 的各半導體層中,隨著形成一對以上成對的源極區31〇2b 與汲極區3 1 0 1 b,其内側之半導體層中的汲極區3 1 0 a與汲 極電極便會定位於該源極區3 1 0 2 b與汲極區3 1 0 1 b間。 第18(b)圖繪示第17(a)圖所示之元件的等價電路。 本實施例中,於内側圓周之汲極輸出即為外側圓周之 半導體層之輸入。因此,可以一個閘極(中心電極3 1 0 0 )並 列處理多個信號》 第18(c)圖繪示於一層之半導體層上形成複數M OSFET 的等價電路。利用本實施例,便可形成高積集度之積體電 路0 (實施例1 5 ) 第1 9圖繪示實施例1 5。 本實施例中,於半導體層3 2 〇 〇之中心形成有源極區 3201 ’於該源極區3201之周圍,間隔半導體層,於圓周方
2015-5632-PF(Nl).ptd 第30頁 1335083 五、發明說明(28) 向上間隔性地形成有複數閘極電極3202a、3202b、 3202c、3202d、3202e、3202 f,而於該半導體層 3200 之外 側形成有汲極區3 2 0 3。 本實施例之元件的製造方法繪示於第19圖之①〜⑤。 首先’先準備源極用的線3 2 〇 1。源極用的線例如可使 用銀、金或其他導電性材料。 接著’以浸泡等方法,於源極用的線32〇丨的表面上包 覆半導體層。半導體層較佳係使用上述之有機半導體。 另外’準備複數之閘極電極,將此閘極電極以所欲之 間隔配置於平面上。 於包覆半導體層後,於半導體層半乾燥的狀態下,如 ③所示將其於閘極電極上進行滚動。如此,可以所欲之 間隔’將問極電極環狀配置於半導體層之表面上,以形成 中間體。 λ 然後’於閘極電極所形成之中間體表面上,利用浸泡 等方法形成半導體液層。 接著’以蒸鍵等方法,於半導體層之外圓周上形成以 金等所形成之汲極電極。 (實施例1 6 ) 在此’對線狀元件進行具有各種目的之熱處理。並對0 線狀元件進行摻雜。 第20圖綠示可進行不同溫度之熱處理、進行不同摻雜 之裝置圖。 本裝置圖中配置有複數段的管子2200a、2200b,線狀
第31頁 1335083 五、發明說明(29) 元件2202則貫穿以複數段進行配置的管子2200a、2200b來 進行運送。 例如,若欲於線狀元件2202之A區域形成氧化層時, 可停止線狀元件22 02的運送,並注入被管子220 0a加熱之 氧化性氣體。或者亦可注入包含摻雜之氣體,對A區域進 行推雜。如此,可製成於長方向上具有不同剖面區的線狀 元件。 再者’若欲對整個線狀元 持續輸送線狀元件之狀態下, 活性氣體。例如,可於進行摻 熱處理。 件2 2 0 2進行熱處理時,可於 注入被管子2 2 〇 〇 a加熱之不 雜後’進行使摻雜擴散用之
入相同氣體,亦 可以不同的溫度 佳為密閉狀態, 防止氣體漏出於 此外’管子2200a與管子220 0b中可注 可注入不同的氣體。當注入相同氣體時, 進行’亦可以相同的溫度來進行。 :而且,管子22〇〇a與管子22〇〇b之間較 且最好由該密閉空間進行排氣。如此,可 外部。 此外’氣體可例如使用二硼烷。 通過液相,因此可例如使用摻雜。亦 示之簡單的裝置’也可進行摻雜。 此時’由於線狀元件 即’即使如第2 〇圖所
線狀元件之熱處理雖為以獲得最適化 為目的之埶#拥,柏介7 a A 〜按合與結晶 z 之熱處理但亦可使用使摻雜擴散為目μ + # π 處理。 勺曰的之其他
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2015-5632-PF(Nl).ptd 第33頁 1335083 圈式簡單說明 第1圖係繪示依據本發明實施例之線狀元件之立體 圖。 第2圖係繪示線狀元件之製造裝置的正視圖。 第3圖係繪示用來製造線狀元件之押出機的正視圖與 平面圖。 第4圖(a )〜(b)繪示線狀元件之實施例。 第5圖係繪示用來製造線狀元件之模具的平面圖。 第6圖(a )〜(d )係繪示線狀元件之製造流程剖面圖。 第7圖(a ) ~ ( h )係繪示線狀元件之製造流程圖。 第8圖(a )〜(c )係繪示線狀元件之製造方法。 第9圖係繪示依據實施例之線狀元件的立體圖。 第1 0圖(a )〜(b )係繪示依據實施例之線狀元件的剖面 圖 第11圖(a) ~ (h )係繪示線狀元件之製造流程圖。 第1 2圖(a )〜(e )係繪示線狀元件之製造方法的立體 圖 第1 3圖(a)〜(d )係繪示積體電路裝置之應用例。 第1 4圖係繪示積體電路裝置之應用例。 第1 5圖係繪示積體電路裝置之應用例。 第1 6圖係繪示積體電路裝置之應用例。 第1 7圖(a )〜(d )係繪示實施例1 3之圖式。 第1 8圖(a )〜(c )係繪示實施例1 4之圖式。 第1 9圖係繪示實施例1 5之圖式。 第2 0圖係繪示實施例1 6之圖式。
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符號說明: 1 :閘極電極區 3 :汲極區 5 :半導體區 20 :押出機 24 :模具 30 :閘極材料 3〇a、31a、32a、33a 31 :絕緣性材料 34、61 :半導體材料 4 5 :源極電極 47 :絕緣層 63、Π5 :開口 1 0 1 : η層區 I 0 3 : ρ層區 II 1 :中間線狀押出體 2 :絕緣區 4 :源極區 6 ' 81、2202 :線狀元件 21、22、23 :原料容器 2 5 :滾輪 34a 、40a 、41a :孔洞
3 2 :源極汲極材料 41 、41a、41b :輸出區 4 6 :汲極電極 62 :罩幕材料 1 0 0 : i層區 1 0 2、1 0 4 ·‘電極區 1 0 5 :保護層區 11 2 :拉伸體 114a、114b、114c、ii4d :中空區域 11 7 :沙漏狀區域
201、 3000、3100 :閘極電極 202、 3003、310 3a、3103b、3103c :絕緣層 203、 3004、3104b '3104c、3200 :半導體層 204、 3001a、3001b、3001c、3001d、3102b :源極 20 5、30 02a、3002b、3 002c、3 0 02d、3101b :汲極
2015-5632-PF(Nl).ptd 第35頁 1335083 圖式簡單說明 20 7 :電容器 209al 、 209bl 、 209a2 、209a3 : MOSFET 2 1 0 :元件分離區 2200a 、 2200b :管子
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Claims (1)
1335083 ___案號92112103__气ή #丨月__修正方___ 六、申請專利範圍 1. 一種線狀元件,其特徵在於: 於長方向上連續或間隔性地形成有包含形成半導體電 路的複數區域之剖面,且形成上述半導體電路的半導體區 域是藉由有機半導體材料形成, 其中於該線狀元件之剖面中形成有閘極電極區域、絕 緣區域、源極與汲極區域、半導體區域,且該線狀元件之 中心具有該閘極電極區域,而該中心外侧依序形成有該絕 緣區域、該源極與汲極區域、該半導體區域,且該線狀元 件是一體成型而成的線狀元件。 2. 如申請專利範圍第1項所述之線狀元件,其中上述 複數區域是藉由高分子材料形成。 3,如申請專利範圍第2項所述之線狀元件,其中具有 形成上述半導體電路之複數個區域之剖面,是由通過形成 有對應於上述複數個區域的孔洞的模具之已溶解、熔融咬 膠質化的材料押出成線狀的所需之形狀而一體成型的結 構。 4 ·如申請專利範圍第2項所述之線狀元件,其中於剖 面中形成至少具有pn接合或pin接合之區域。 、° 5. —種線狀元件,其特徵在於: 於長方向上連續或間隔性地形成有包含形成半導體 路的複數區域之剖面,且形成上述半導體電路的半二 域是藉由有機半導體材料形成, 區 其中於該線狀元件之剖面中形成有閘極電極區域、 緣區域、源極與汲極區域、半導體區域, 、
2015-5632-PF5(Nl).ptc 第37頁 1335083 _案號 92112103_f?年 I 月 f f 曰_i±^_ 六、申請專利範圍 其中於該線狀元件之中心具有上述絕緣區域,於其外 側具有上述半導體區域,於上述半導體區域中形成有部份 暴露於外的上述源極與上述汲極區域,於其外側形成有上 述絕緣區域與上述閘極電極區域。 6. —種線狀元件之製造方法,其特徵在於:將形成電 路元件之區域之材料溶解、熔融或膠質化,且通過形成有 對應各區域的孔洞的模具,押出該材料成線狀,並形成所 需之形狀。 7. 如申請專利範圍第6項所述之線狀元件之製造方 法,其中上述線狀元件係由在以押出加工一部分或全部之 後,進行延伸加工所形成。 8. 如申請專利範圍第6項所述之線狀元件之製造方 法,其中上述線狀元件係由在押出加工後,進行拉伸加工 所形成。
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002131011 | 2002-05-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200308103A TW200308103A (en) | 2003-12-16 |
TWI335083B true TWI335083B (zh) | 2010-12-21 |
Family
ID=29397337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW092112103A TW200308103A (en) | 2002-05-02 | 2003-05-02 | Line-shape device and its manufacturing method |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7491613B2 (zh) |
JP (1) | JP5016190B2 (zh) |
KR (1) | KR20040101568A (zh) |
CN (1) | CN1650433B (zh) |
AU (1) | AU2003231387A1 (zh) |
TW (1) | TW200308103A (zh) |
WO (1) | WO2003094237A1 (zh) |
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2003
- 2003-05-02 CN CN038099616A patent/CN1650433B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-05-02 US US10/513,145 patent/US7491613B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-05-02 JP JP2004502357A patent/JP5016190B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-05-02 WO PCT/JP2003/005620 patent/WO2003094237A1/ja active Application Filing
- 2003-05-02 KR KR10-2004-7017366A patent/KR20040101568A/ko active IP Right Grant
- 2003-05-02 TW TW092112103A patent/TW200308103A/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-05-02 AU AU2003231387A patent/AU2003231387A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-01-05 US US12/348,632 patent/US8212240B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI658472B (zh) * | 2017-04-28 | 2019-05-01 | 吳政雄 | 複合導電體結合之電導體及其製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7491613B2 (en) | 2009-02-17 |
US20050253134A1 (en) | 2005-11-17 |
US8212240B2 (en) | 2012-07-03 |
US20090152682A1 (en) | 2009-06-18 |
JP5016190B2 (ja) | 2012-09-05 |
TW200308103A (en) | 2003-12-16 |
CN1650433B (zh) | 2010-08-04 |
CN1650433A (zh) | 2005-08-03 |
KR20040101568A (ko) | 2004-12-02 |
AU2003231387A1 (en) | 2003-11-17 |
JPWO2003094237A1 (ja) | 2005-09-08 |
WO2003094237A1 (fr) | 2003-11-13 |
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