TWI259361B - Semiconductor memory device - Google Patents

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TWI259361B
TWI259361B TW092124576A TW92124576A TWI259361B TW I259361 B TWI259361 B TW I259361B TW 092124576 A TW092124576 A TW 092124576A TW 92124576 A TW92124576 A TW 92124576A TW I259361 B TWI259361 B TW I259361B
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Norihiko Hakushi
Atsushi Ohba
Yoshimasa Yoshimura
Takeshi Nakayama
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Renesas Tech Corp
Renesas Device Design Corp
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1259361 玫、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於使用在攜帶式電話機等之小型資訊終端機 之記憶體系統。 【先前技術】 攜帶式電話機等之小型資訊終端機之記憶體系統之構 成,主要包含有:線性快閃記憶體,用來記憶CPU之命令 碼和各種資料;及SRAM,作為CPU之工作區域,用來暫時 地記憶資料。特別是在組裝面之限制嚴格之攜帶式電話機 等之小型資訊終端機中,採用將該等之線性快閃記憶體和 SRAM收納在1個封裝之MCP(Multi Chip Package,多晶片 封裝)。 隨著近年來終端機之高功能化、通信服務之高速化,強 烈要求記憶體容量之大容量化,而產生該等線性快閃記憶 體和SRAM之容量不足之問題。 因應此種問題之對策是對於SRAM採用與DRAM同樣之1 電晶體型之動態記憶單元(d y n a m i c m e m 〇 r y c e 1 1 ),經由採 用具有與SRAM相同介面之虛擬SRAM元件,可以使記憶體 容量增大。 另外一方面,在儲存快閃記憶體方面,適合於大容量記 憶之用途之塊(扇區)存取型之A N D / N A N D型等之儲存快閃 記憶體已被製品化,但是該等由於規格上之特徵,要直接 結合到C P U匯流排會有困難,因而有需要外加專用之介面 電路,或具有與C P U之埠(ρ 〇 r t)連接只能低速存取之問 6 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 1259361 題。另外,因為不能對儲存快閃記憶體直接進行隨機存 所以要實現隨機存取功能時,需要將資料暫時轉送到 上,從CPU對RAM進行存取,但是在此種方法中會有 大容量RAM之問題。 作為用以解決此種儲存快閃記憶體之固有之問題之 段,提案有將儲存快閃記憶體之介面電路或控制功能 之虛擬S R A Μ元件(參照日本專利特願2 0 0 1 - 1 1 1 2 5 9 )。 此種方式,可以解決儲存快閃記憶體和CPU介面之不 配,而可以使記憶體容量大容量化。 【發明内容】 (發明所欲解決之問題) 但是,上述方式之具有虛擬SRAM元件之MCP内部之 轉送會有下面所述之問題。亦即,在儲存快閃記憶體 擬SRAM間之資料轉送中,當有來自外部CPU之存取之 時,因為轉送要求產生競爭,會有如何協調該競爭之問 本發明係用來解決上述問題,其目的是提供將儲存 記憶體和虛擬SRAM密封在1個封裝之半導體記憶裝S 儲存快閃記憶體和虛擬SRAM間之資料轉送動作中,當 自外部之CPU之轉送要求時,可以協調其競爭。 (解決問題之手段) 本發明之半導體記憶裝置,係將非揮發性之第1記 和具有隨機存取功能之第2記憶體收納在1個封裝内 以進行第1記憶體和第2記憶體間之内部資料轉送之 體裝置作為第2記憶體之控制信號,規定有用來控制 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 取, RAM 需要 手 内藏 利用 匹 資料 和虛 情況 題。 快閃 卜在 有來 憶體 ,可 半導 内部 7 1259361 資料轉送之内部轉送用之控制信號,和用來控制外 和第2記憶體間之資料轉送之外部轉送用之控制信 2記憶體内藏有控制器,用來控制對第1和第2記 資料存取控制器在内部資料轉送中,當有來自外部 對第2記憶體之存取要求時,便控制上述内部轉送 制信號,用來中斷其内部資料轉送。 以上述方式構成之本發明之半導體裝置,由於在 料轉送中,當有外部存取要求時使内部轉送中斷, 以因應存取競爭而使其不會產生混亂地進行應答。 亦可以使控制器在内部資料轉送之中斷時,對外 輸出WA I T信號,要求等待進行存取。利用該WA I T 在内部資料轉送被中斷之前,使來自CPU之存取呈 態。 另外,亦可以使控制器在内部資料轉送之中斷時 中斷時之位址,並在内部資料轉送之再開始時,從 持之位址起開始轉送。利用此種構成,内部資料轉 過度或不足,可以有效率地實行。 另外,亦可以使控制器在内部資料轉送之中斷中 指定時間沒有從外部C P U對第2記憶體進行存取時 開始中斷中之内部資料轉送。利用此種構成,可在 完成CPU之外部存取之後,再開始内部資料轉送。 另外,亦可以使控制器具備有收納機構,用來收 來自外部CPU之内部資料轉送之中斷命令之位元。 種構成,對於未具有WAIT信號輸入之來自CPU之名 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 部CPU 號。第 意體之 CPU之 用之控 内部資 所以可 部CPU 信號, 待機狀 ,保持 該被保 送不會 ,當在 ,就再 確實地 納寫入 利用此 取,亦 8 1259361 可以協調其存取競爭。 亦可以將第2記憶體之記憶體區域分割成為多個記憶體 組(b a n k )。利用此種構成,即使在内部轉送中,不需對 C P U 7 0對於未在第1記憶體和第2記憶體間進行資料轉送 之一方之虛擬S R A Μ之記憶體組之存取進行協調,可以立即 實行資料轉送。 亦可以使第2記憶體成為具有雙埠功能之記憶體。利用 此種構成,第2記憶體可以經常存取,在内部轉送途中, 不需要進行中斷資料轉送之競爭協調處理。 另外,亦可以使控制器在電源投入時,將被收納在第1 記憶體之指定之資料,於電源接通(ρ 〇 w e r ο η )時自動的轉 送到上述第2記憶體之指定之區域。在電源投入時,將被 轉送到第2記憶體之指定之資料收納在第1記憶體,藉此 可以不需要用以收納指定之資料之專用記憶體,並可以減 小電路規模和製造成本。 這時,最好是使控制器收納與指定之資料有關之轉送源 位址、轉送對象位址和轉送資料數。利用該等之資訊可以 進行資料轉送。 另外,亦可以使第1記憶體之記憶體區域被分割成為多 個扇區,並在每一個扇區設有旗標,用來表示該扇區是否 包含有在電源接通時被自動轉送之資料。利用該旗標可以 判斷被收納在第1記憶體之扇區之資料之種別,所以可以 進行使被收納之資料不會被意外的重寫或消除之管理。 另外,在使第2記憶體需要資料保持用之復新動作,且 9 312/發明說明書(補件)/92-11/921245?6 1259361 該復新動作只對特定之區域實施之情況時,第2記憶體用 以收納電源接通時被自動轉送之資料之區域,最好被自動 地設定在用以貫施復新動作之特定之區域。利用此種構 成,可以進行確實的資料保持動作。 【實施方式】 下面將參照圖式,詳細地說明本發明之半導體記憶裝置 之實施形態。 (實施形態1 ) < 1 . 1構造〉 圖1表示本發明之半導體記憶裝置之構造。半導體記憶 裝置包含有隨機存取記憶體(以下稱為「RAM」)1 0和儲存 快閃記憶體(以下簡稱為「快閃記憶體」)6 0。R Α Μ 1 0和快 閃記憶體6 0係如圖2所示,被收納在1個之M C Ρ1 0 0中。 如圖1所示,RAM1 0連接到快閃記憶體60和CPU70。RAM1 0 具備有作為資料記憶部之大容量虛擬SRAM40。虛擬SRAM 是指大容量之記憶體,其採用1電晶體型之動態記憶單 元,具有與一般之DRAM記憶單元同樣之構造,在各個單元 包含有1個電晶體和1個電容器,而且具有與SRAM相同之 介面規格。 如圖1所示,RAM1 0具備有快閃控制器20,用來產生快閃記憶 體60和虛擬SRAM40之動作所需要之控制信號和時序。 快閃控制器2 0包含有匯流排控制電路1 7、暫存器群2卜 時序產生器2 3、快閃記憶體介面(I / F ) 2 5、時脈產生電路 2 6、E C C電路2 7、扇區緩衝器2 9、和P S R A Μ控制器3 1。快 10 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 1259361 閃控制器2 0例如由順序電路(硬體)構成,用來產生與時脈 同步之各種信號。另外,亦可以使快閃控制器2 0内藏有組 入型之CPU芯部和用來收納其命令碼之記憶體,藉以控制 硬體。利用此種構成可以更具彈性地進行高度之控制。 另外,RAM10具備有選擇器33a、33b,用來變換對虛擬SRAM40 輸入之位址和控制資訊。選擇器33a、33b,在虛擬SRAM40和快 閃記憶體6 0間之資料轉送時及其以外之資料轉送時,進行輸入到 虛擬SRAM40之位址和控制資訊之變換。 暫存器群21包含有:命令暫存器21a,用來收納來自 C P U 7 0之命令;開始位址暫存器2 1 b,用來收納快閃記憶體 60上之欲存取之扇區位址;PSRAM位址暫存器21c,用來 收納虛擬S R A Μ 4 0上之欲存取之位址;狀態暫存器2 1 d,用 來收納狀態資訊;及轉送計數暫存器2 1 e,包含以指定之 單位計數轉送資料之計數值。 時脈產生電路26係使用來自外加之振動子28之輸出, 以產生基本内部時脈。 E C C電路2 7對於在快閃記憶體6 0和扇區缓衝器2 9間轉 送之資料,在對快閃記憶體6 0進行資料寫入時,實施核對 碼之產生(E C C編碼處理),在從快閃記憶體6 0讀出資料 時,實施錯誤檢測/訂正(E C C解碼處理)。 時序產生器2 3用來產生快閃控制器2 0内之各個時脈之 時序。亦即,時序產生器2 3,與C P U 7 0之時脈非同步,利 用在時脈產生電路2 6所產生之基本内部時脈,用來產生快 閃記憶體6 0和虛擬S R A Μ 4 0之動作所需要之全部之時序。 11 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 快閃控制器2 0之動作順序,是由C P U 7 0依照被寫 存器群21之各個暫存器21a〜21e之各種參數和命< 定。亦即,快閃控制器2 0利用C P U 7 0,依照被寫入 暫存器2 1 a〜2 1 e之各種參數和命令來產生控制信號 對快閃記憶體6 0和虛擬S R A Μ 4 0進行控制。 快閃記憶體6 0和C P U 7 0之間之資料轉送是經由扇 器2 9實施。另外,利用P S R A Μ控制器3 1,經由時, 器2 3之控制,以控制扇區緩衝器2 9和虛擬S R A Μ 4 0 料轉送。 < 1 . 2 RAM -快閃記憶體間之資料轉送〉 下面說明從快閃記憶體6 0向RAM 1 0之資料轉送。 從快閃記憶體6 0向RAM 1 0之資料轉送係以下面所述 進行。 C P U 7 0將欲讀出之快閃記憶體6 0之扇區位址和讀 令,寫入到暫存器群2 1内之開始位址暫存器2 1 b和 存器2 1 a。以扇區位址、命令(C M D )之順序寫入。利 控制電路1 5和模態變換/時序控制電路1 3來檢測對 存器2 1 a之寫入,當檢測到有寫入時,就將觸發信 到快閃控制器2 0。利用該觸發信號,經由快閃控希! 之控制而轉移成為内部動作。依照寫入到命令暫存 之命令碼,用來從時脈產生電路2 6之基準時脈產生 憶體6 0之讀出所需要之信號和時序,依照該時序, 定在扇區位址暫存器2 1 b之扇區讀出1個扇區部份 料,經由快閃記憶體I / F 2 5將其轉送到扇區緩衝器 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 入到暫 I來決 到各個 ,藉以 區緩衝 宇產生 間之資 首先, 之方式 出命 命令暫 用位址 命令暫 號輸入 器2 0 器2 1a 快閃記 從被設 之資 29 ° 12 1259361 從扇區緩衝器向虛擬SRAM之指定位址之扇區資料之轉 送係以下面所述之方式進行。 CPU70在將虛擬SRAM40之寫入位址設定在PSRAM位址暫 存器2 1 c之後,將命令碼寫入到命令暫存器2 1 a。經由將 命令寫入到命令暫存器2 1 a,快閃控制器2 0開始内部動作 之控制。利用匯流排控制電路1 7,以連接扇區緩衝器2 9 和虛擬S R A Μ 4 0間之匯流排,並利用時序產生器2 3之控制, 從扇區缓衝器2 9内之開頭資料起依序讀出到内部匯流排 上,同時從指定位址起,對虛擬S R A Μ 4 0依序進行寫入。依 照上述之方式,進行從快閃記憶體6 0向RAM 1 0 (亦即,虛 擬SRAM40 )之資料轉送。從RAM1 0向快閃記憶體60之資料 轉送亦可以同樣之方式進行。 < 1 . 3内部資料轉送之中斷、再開始之步驟〉 在虛擬S R A Μ 4 0和快閃記憶體6 0間之資料轉送中,當有 來自CPU70之存取要求時,RAM1 0就停止其資料轉送。然 後,當C P U 7 0之存取結束時,就再度開始虛擬S R A Μ 4 0和快 閃記憶體6 0間之資料轉送。下面說明其步驟。 在說明其步驟之前,首先說明對於虛擬S R A Μ 4 0之控制信 號。 在虛擬SRAM40規定有各種信號作為控制信號,其使用在 來自外部C P U 7 0之存取之資料轉送控制。例如有如下面所 述之控制信號。 /CS1(晶片選擇):當有來自外部CPU70之對虛擬SRAM40 之存取要求時,被有效化。 13 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 /〇E (輸出賦能):當可以從虛擬S R A Μ 4 0讀出資料時,被 有效化。 / W Ε (寫入賦能):當可以對虛擬S R A Μ 4 0寫入資料時,被 有效化。 此處,信號名稱「/」之信號表示該信號以有效·低位準 進行動作。例如,在從外部C P U 7 0對虛擬S R A Μ 4 0進行存取 之情況時,外部晶片選擇信號/CS1被有效化(“L”)。 另外,在虛擬S R A Μ 4 0規定有以下之控制信號,與上述之 對外部存取之控制信號不同,其只有在與内部之快閃記憶 體6 0或其他之記憶體之間進行資料轉送(以下將此種半導 體内部之元件間之資料轉送稱為「内部轉送」)時才使用。 /TCE(晶片選擇):當對虛擬SRAM要求内部轉送時,被有 效化。 / R C E (讀取賦能):當於内部轉送可以從虛擬S R A Μ讀出資 料時,被有效化。 /WCE (寫入賦能):當於内部轉送可以對虛擬SRAM寫入 資料時,被有效化。 參照圖3,說明在内部轉送中,當有從CPU70對虛擬 SRAM40之存取要求時之中斷之步驟。 在内部轉送中,當使晶片選擇信號/CS1成為有效(“L”) 之情況時(參照圖3 ( d )),快閃控制器2 0内之P S R A Μ控制 器3 1,從外部晶片選擇信號/ C S 1成為有效(“ L ”)之時刻(Τ !) 起,於經由過指定時間(t 〇後,使内部轉送用之控制信號 / T C E,/ R C E,/ W C E自動地成為非有效(“ Η ”(參照圖3 ( b )、 14 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 (c ))。藉此而使内部轉送中斷。指定時間t i被設定成為從 外部晶片選擇信號/ CS1變成有效(“L”)之時刻(T〇起到開 始中斷為止之時間,亦即確實完成進行中之轉送所需要之 時間。 這時,已被中斷之轉送源資料之頁之位址被保持在快閃 控制器2 0内之暫存器。此處,被中斷之頁之位址亦可以使 其位址之值本身被保持在快閃控制器2 0内之指定暫存 器,亦可以保持内部轉送之開始位址和被進行内部轉送之 資料之計數值。利用内部轉送之開始位址和被内部轉送之 資料之計數值,可以很容易地計算被中斷之頁之位址。這 時,内部轉送之開始位址被保持在開始位址暫存器2 1 b, 内部轉送之資料之計數值被保持在轉送計數暫存器2 1 e。 這時,對於來自外部CPU之對虛擬SRAM40之存取,由於 内部轉送之中斷處理,回應時間會比通常者慢,所以快閃 控制器2 0亦可以對C P U 7 0輸出W A I T信號,以要求等待進 行存取。 下面參照圖4來說明C P U 7 0對虛擬S R A Μ 4 0存取完成後之 内部轉送再開始之步驟。 在由於來自CPU70之外部存取而中斷内部轉送之虛擬 S R A Μ 4 0中,從外部存取用晶片賦能信號/ C S 1成為非有效 (“ Η )之時刻(Τ 2 )起,即使經過指定時間(t 2 ),若外部存取 用晶片賦能信號/ C S 1不成為有效,貝J P S R A Μ控制器3 1自 動的使内部轉送用控制信號/TCE成為有效(“L”),然後, 使内部轉送用寫入賦能信號/WCE或讀取賦能信號/RCE成 15 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 1259361 為有效。藉此,使被中斷之内部轉送再開始。這時,因為 從被保持在快閃控制器2 0内之位址再開始轉送,所以不會 有過度或不足,可以有效率地完成資料轉送。另外,等待 經過指定時間t2再開始轉送是因為在一個外部存取完成 後便立即開始另外一個外部存取,所以該等待用來判斷在 一個外部存取完成後,沒有此種連續之外部存取。 依照上述方式,本實施形態之半導體記憶裝置對於來自 外部之CPU70之存取,因為可以中斷、再開始實行中之内 部轉送動作,所以對於内外之存取之競爭亦可不產生混亂 地進行回應。另外,藉由具有用以將内部轉送動作之中斷 處理中之訊息告知外部之C P U 7 0之W A I T信號之發行功能, 和轉送再開始位址之復原功能,不僅CPU 7 0不需要等待時 間就可以完成内外之資料轉送,而且可以提高系統之資料 轉送性能。 (實施形態2 ) 在實施形態1中,係將對虛擬S R A Μ 4 0之控制信號分成為 有關於從半導體記憶裝置之外部存取者和有關於半導體記 憶裝置之内部存取者。雖將來自外部C P U 7 0之存取要求之 晶片選擇信‘號/ C S 1作為觸發信號而控制内部轉送之中 斷、再開始,但其時序與C P U 7 0具有很大之相關性,要確 保所希望之性能會有困難;另外,在未具有W A I Τ信號輸入 之C P U之情況時,不能進行協調。因此,在本實施形態中 說明與CPU70之命令輸入時序無關之内部轉送中斷、再開 始之步驟。 16 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 1259361 如圖5所示,在快閃控制器2 0内之暫存器群2 1中,準 備控制暫存器2 1 X。控制暫存器2 1 X具有各種設定用之位 元。例如具有用來指定寫入保護、轉送大小等之位元。特 別是在本實施形態中,該控制暫存器2 1 X具有内部轉送懸 置位元22χ。該内部轉送懸置位元22χ是CPU70指示内部 轉送之中斷所用之位元,在内部轉送中,當有CPU70對虛 擬S R A Μ 4 0之存取要求時,被設定為「1」。 亦即,當C P U 7 0對虛擬S R A Μ 4 0進行存取要求時,内部轉 送懸置位元2 2 X被設定為「1」,藉以將有來自主機之存取 要求之訊息通知半導體記憶裝置。快閃控制器2 0在本位元 被設定為「1」時,立即中斷内部轉送,並從P S R A Μ控制器 3 1將各個控制線變換成為外部之介面,藉以將存取權讓交 給 CPU70 。 控制暫存器2 1 X是可以進行寫入、讀出之暫存器,而懸 置設定時之讀出值係控制為在實際完成内部轉送中斷處理 之前保持為「0」,在成為可以接受來自外部之控制信號之 狀態始回到「1」。因此,C P U 7 0經由讀出本位元,可以確 實的確認内部之動作狀態,而且可以消除雙方之存取之競 爭。亦即,若本位元為「0」,表示内部轉送動作中,為「1」 則表示處於内部轉送中斷狀態。 經由將内部轉送懸置位元2 2 X設定在「0」,用以進行已 中斷之内部轉送之再開始。亦即,因為外部存取在CPU70 之管理下,所以當C P U 7 0完成外部存取時,在懸置位元2 2 X 設定「0」。經由將懸置位元2 2 X設定為「0」,快閃控制器 17 312/發明說明書(補件)/92-11 /921245 76 1259361 2 0判斷完成存取,並立即使來自P S R A Μ控制器3 1之控制 信號成為有效,而再開始已被中斷之内部轉送。這時,再 開始轉送之資料之轉送源和轉送對象之位址,係使用中斷 時被保持在暫存器群2 1之位址。 依照上述方式之本實施形態之半導體記憶裝置,經由使 用用以表示來自CPU70之中斷要求之旗標位元,可以與來 自CPU70之命令寫入與時序無關地,處理内外存取之競 爭,並可以一邊維持記憶體之通用性一邊提高系統之資料 轉送性能。 (實施形態3 ) 在實施形態1中,因為虛擬S R A Μ 4 0之記憶體空間為單 一,所以在來自快閃記憶體6 0和C P U 7 0之存取重複之情況 時,需要利用快閃控制器2 0進行協調作業,而且在任何一 方完成資料轉送之前,必需保留另外一方之資料轉送。因 此在本實施形態中,如圖6所示,將虛擬S R A Μ 4 0 ’之記憶 體空間分割成為2個之組4 0 a、4 0 b,以使之可以分別獨立 地進行控制。利用此種構成,即使在内部轉送中,對於未 與快閃記憶體6 0進行資料轉送之一方的虛擬S R A Μ之組, C P U 7 0對其存取不需要協調,可以立即實行資料轉送。另 外,在對與快閃記憶體6 0有進行資料轉送之一方的組進行 存取之情況時,經由進行上述實施形態所示之資料轉送之 中斷、再開始之步驟,可以依序處理競爭之資料轉送。 另外,若決定被收納在每一個組之資料之種類,可以減 小來自外部之存取和内部轉送之競爭之頻率。例如,若使 18 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 1259361 組1 ( 4 0 a )成為使用者資料專用,組2 ( 4 0 b )成為作業系統或 應用程式專用時,對組2(40b)之序取基本上只有CPU70, 存取競爭只發生在處理組1之使用者資料之情況,所以實 質上可以減小競爭之頻率,可以提高系統之效率。 另外,在本實施形態中所說明之情況是分割成為2個 組,但是亦可以依照系統構造和用途,分割成為更多個組。 (實施形態4 ) 圖7表示半導體記憶裝置之又另一實施形態之構造。在 本實施形態中,内藏之隨機存取記憶體使用具有雙埠功能 之虛擬S R A Μ 4 0 ”。對具有雙埠功能之虛擬S R A Μ 4 0 ’’之資料寫 入和讀出可以同時進行,且CPU和快閃記憶體雙方同時對 虛擬SRAM40”存取時,不需要協調。 如圖7所示,經由使虛擬S R A Μ 4 0 ”和C P U 7 0間及虛擬 SRAM 40”和快閃記憶體60間之資料匯流排對應到雙埠, CPU70和快閃記憶體60可以經常分別對虛擬SRAM40”存 取,在内部轉送途中,不需要如中斷資料轉送之競爭協調 處理。 亦即,當程式碼和使用者資料均展開在虛擬S R A Μ 4 0 ”上 之同一個記憶體空間之情況時,因為可以避免存取之競 爭,所以不需要準備程式碼收納專用之組或記憶體,當與 上述之實施形態比較時,可以更進一步的減小晶片大小和 製造成本,且對於外部存取亦可以提高回應性。 (實施形態5 ) 下面說明在上述之實施形態所示之各個半導體記憶裝置 19 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 中之本發明之啟動碼轉送功能。 本發明之「啟動轉送功能」是當電源接通重設信號(利用 半導體記憶裝置之電源Ο N以指示重設之信號)成為有效 時,自動的實行從快閃記憶體(6 0 )之指定區域,向虛擬 SRAM4 0、40,...之指定區域之資料轉送。這時,被轉送之資 料是電源投入時C P U 7 0最初讀入之資料之啟動碼。該啟動 碼被收納在快閃記憶體(6 0 )之指定之區域。 當電源接通重設信號成為有效時,設在R Α Μ 1 0内之快閃 控制器2 0之暫存器群2 1被初始化,各個暫存器之值被設 定成為預設值。該預設值被設定在實行啟動轉送所需要之 值,藉此可以與電源接通重設連動而轉送啟動碼。啟動碼 轉送所需要之資料,包含有快閃記憶體6 0之轉送源資料之 開頭位址、虛擬S R A Μ 4 0…上之轉送對象之開頭位址、以及 轉送扇區數。該等之資訊如下所示,被設定在指定之暫存 器作為預設值。 【表1】 暫存器 預設值之内容 開始位址暫存器 快閃記憶體上之轉送源資 料之開頭位址 P SRAM位址暫存器 虛擬SRAM上之轉送對象之 開頭位址 轉送計數暫存器 啟動轉送之全部扇區數 (啟動碼之大小) 依照電源接通重設,暫存器群2 1之各個暫存器之值被設 20 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 1259361 定在預設值’最後當命令暫存器2丨a之值被設定時,依照 暫存器之預設值’自動地開始將啟動碼從快閃記憶體6 0 之指定區域’載入到虛擬SRAM4〇…之指定之區域。 依照上述之方式’在電源投入之同時,使啟動碼展開在 虛擬SRAM4 0 ’不需要準備習知之系統所必要之用以收納 啟動碼之專用記憶體,可以減少半導體記憶裝置之構成零 件數’藉此可以降低製造成本並縮小組裝面積。 成為啟動碼之展開對象之虛擬SRAM40…,因為使用DRAM 單兀’所以需要定期的實行復新動作以保持資料。另外, 在復新動作時,為了減小消耗電力之目的,所以分割記憶 體單元區域,只對必要區域之資料保持區域進行復新(以下 稱為「部份復新」)。因此,將虛擬SRAM上收納啟動碼之 區域’在啟動轉送之同時,自動地設定成為資料保持區域, 並藉此對虛擬SRAM上收納有啟動碼之區域進行部份復新。利用此 種設疋’經由部份復新可以確實的保持被轉送之啟動碼,同時可 以將消耗電力抑制在最小限度内。另外,在收納啟動碼之區域外, 亦可以依照需要設定資料保持區域。 另外’如圖8所示,在快閃記憶體6 0之各個扇區亦可以 具有旗標6 1,用來表示被收納在設扇區之資料是否為啟動 碼。藉此,即使啟動碼被分割收納在不同記憶體塊,亦可 以根據該旗標6 1檢索啟動碼,實行其轉送。另外,經由參 照該旗標6 1可以判斷被收納在該扇區之資料之種別,所以 可以管理成被收納之資料不會被意外地重寫或消除。例如 在收納有使用者資料之情況時,可以不會被意外的重寫或 21 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 抹除。 另外,亦可以在各個扇區設置旗標,用來表示該扇區之 下一個扇區是否收納有啟動碼。藉此亦可以獲得與上述旗 標6 1相同之效果。 (發明效果) 若依照本發明,則在將非揮發性之第1記憶體和可以隨 機存取之第2記憶體密封於1個之封裝之半導體記憶裝置 中,即使在第1記憶體和第2記憶體間之資料轉送動作中, 當有來自外部CPU之轉送要求時,亦可以進行競爭之協調。 另外,在電源投入時,因為自動地將指定之資料從第1 記憶體載入到第2記憶體,所以不需要用以收納指定資料 專用之記憶機構,可以減小電路規模和製造成本。 【圖式簡單說明】 圖1是本發明之半導體記憶裝置之構造圖(實施形態1 )。 圖2表示半導體記憶裝置之MCP構造。 圖3 ( a )〜(d )係用來說明半導體記憶裝置之内部轉送之 中斷動作之圖。 圖4 ( a )〜(d )係用來說明半導體記憶裝置之内部轉送之 再開始動作之圖。 圖5係用來說明實施形態2之半導體記憶裝置之内部懸 置位元之圖。 圖6是具備有2個組之虛擬SRAM之本發明之半導體記憶 裝置之構造圖(實施形態3 )。 圖7是具備有雙埠虛擬SRAM之本發明之半導體記憶裝置 22 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 之構造圖(實施形態4 )。 圖8係用來說明被設在快閃記憶體之各個扇區之旗標, 用來表示被收納在扇區之資料是否為啟動碼。 (元件符號說明) 10、10、10,, RAM 13 變換/時序控制電路 15 位 址 控 制 電 路 17 匯 流 排 控 制 電 路 20 快 閃 控 制 器 21 暫 存 器 群 21a 命 令 暫 存 器 2 1b 開 始 位 址 暫 存 器 21c PSRAM 位 址 暫 存器 21d 狀 態 暫 存 器 21e 轉 送 計 數 暫 存 器 21x 控 制 暫 存 器 22x 内 部 轉 送 懸 置 位元 23 時 序 產 生 器 25 快 閃 記 憶 體 I /F 26 時 脈 產 生 電 路 27 ECC 電 路 28 振 盪 器 29 區 段 緩 衝 器 3 1 PSRAM 控 制 器 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576
23 1259361 33a 40、 60 6 1 70 1 00 > 33b 選擇器 4 0 ’、4 0 ” 虛擬 S R A Μ 儲存快閃記憶體 旗標(用來表示被收納在扇區之資料是 否為啟動碼)
CPU
MCP
312/發明說明書(補件)/92-11/92124576 24

Claims (1)

1259361 拾、申請專利範圍: 1 . 一種半導體記憶裝置,係將非揮發性之第1記憶體和 具有隨機存取功能之第2記憶體收納在1個封裝内,可以 進行第1記憶體和第2記憶體間之内部資料轉送之半導體 裝置,其特徵為: 上述第2記憶體具有用來控制内部資料轉送之内部轉送 用之控制信號,及用來控制外部C P U和第2記憶體間之資 料轉送之外部轉送用之控制信號; 上述第2記憶體内藏有控制器,用來控制對上述第1和 第2記憶體之資料存取; 該控制器在内部資料轉送中,當有來自外部CPU之對第 2記憶體之存取要求時,便控制上述内部轉送用之控制信 號,用來中斷其内部資料轉送。 2 .如申請專利範圍第1項之半導體記憶裝置,其中,上 述控制器在内部資料轉送之中斷時,對外部CPU輸出信 號,要求等待進行存取。 3 .如申請專利範圍第1項之半導體記憶裝置,其中,上 述控制器在内部資料轉送之中斷時,保持中斷時之位址, 並在内部資料轉送之再開始時,從該被保持之位址起開始 轉送。 4.如申請專利範圍第1項之半導體記憶裝置,其中,上 述控制器在内部資料轉送之中斷中,當在指定時間沒有從 外部C P U對第2記憶體進行存取時,就再開始中斷中之内 部資料轉送。 25 312/發明說明書(補件)/92-11 /92124576 1259361 5.如申請專利範圍第1項之半導體記憶裝置,其中,上 述控制器具備有收納機構,用來收納表示來自外部CPU之 内部資料轉送之中斷命令之位元。 6 .如申請專利範圍第1至5項中任一項之半導體記憶裝 置,其中,將上述第2記憶體之記憶體區域分割成為多個 組。 7 .如申請專利範圍第1至5項中任一項之半導體記憶裝 置,其中,上述第2記憶體是具有雙埠功能之記憶體。 8.如申請專利範圍第1項之半導體記憶裝置,其中,上 述控制器在電源接通時,將被收納在上述第1記憶體之指 定之資料,自動地轉送到上述第2記憶體之指定之區域。 9 .如申請專利範圍第8項之半導體記憶裝置,其中,上 述控制器收納與上述指定之資料有關之轉送源位址、轉送 對象位址和轉送資料數。 1 0 .如申請專利範圍第8項之半導體記憶裝置,其中,上 述第1記憶體之記憶體區域被分割成為多個扇區,並在每 一個扇區設有旗標,用來表示該扇區是否包含有在電源接 通時被自動轉送之資料。 1 1 .如申請專利範圍第8項之半導體記憶裝置,其中,在 上述第2記憶體需要資料保持用之復新動作,且該復新動 作只對特定之區域實施之情況時, 和上述第2記憶體之用以收納電源接通時被自動轉送之 資料之區域,被自動地設定在用以實施上述復新動作之特 定之區域。 26 312/發明說明書(補件)/92-11/92124576
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005222581A (ja) * 2004-02-03 2005-08-18 Renesas Technology Corp 半導体記憶装置
JP4357331B2 (ja) * 2004-03-24 2009-11-04 東芝メモリシステムズ株式会社 マイクロプロセッサブートアップ制御装置、及び情報処理システム
JP4311287B2 (ja) * 2004-06-25 2009-08-12 ソニー株式会社 ブートシステム及びブート方法及びこのブート方法を用いたデータ処理装置
WO2006013632A1 (ja) * 2004-08-05 2006-02-09 Fujitsu Limited 半導体メモリ
KR100609623B1 (ko) * 2005-02-16 2006-08-08 삼성전자주식회사 내부 메모리 디바이스간의 직접적 데이터 이동이 가능한 복합 메모리 칩 및 데이터 이동방법
EP1983663A4 (en) * 2006-02-08 2010-01-13 Nec Corp MOBILE TERMINAL AND COMMUNICATION PROCESS
US7451263B2 (en) * 2006-02-08 2008-11-11 Infineon Technologies Ag Shared interface for components in an embedded system
JP2007335809A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Nec Electronics Corp 半導体装置及び半導体装置の動作制御方法
KR100843142B1 (ko) * 2006-09-19 2008-07-02 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템
KR101456593B1 (ko) * 2007-06-22 2014-11-03 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치를 포함하는 메모리 시스템
TWI367486B (en) * 2007-12-25 2012-07-01 Ind Tech Res Inst Memory device and refresh method thereof
JP2010277352A (ja) * 2009-05-28 2010-12-09 Toshiba Corp メモリシステム
CN101667158B (zh) * 2009-09-15 2015-07-01 威盛电子股份有限公司 串流上下文的高速缓存系统
FR2977694A1 (fr) 2011-07-08 2013-01-11 St Microelectronics Rousset Microprocesseur protege contre un debordement de pile
KR20150008671A (ko) * 2013-07-15 2015-01-23 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치
CN108231124B (zh) * 2017-12-27 2020-11-06 西安格易安创集成电路有限公司 一种Nand flash元件及其低格控制方法和装置
TWI676180B (zh) * 2018-09-04 2019-11-01 華邦電子股份有限公司 記憶體裝置以及虛擬靜態隨機存取記憶體之刷新方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60262258A (ja) 1984-06-07 1985-12-25 Hitachi Ltd 記憶回路
JPS61112073A (ja) * 1984-11-06 1986-05-30 Sagami Chem Res Center 1−(2−テトラヒドロフリル)−5−フルオロウラシルの製造方法
JPH0827756B2 (ja) * 1987-04-13 1996-03-21 三菱電機株式会社 Icカード
JPH05299616A (ja) 1992-04-16 1993-11-12 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPH0773146A (ja) * 1993-06-28 1995-03-17 Casio Comput Co Ltd 電子機器
JPH08137736A (ja) 1994-11-08 1996-05-31 Hitachi Ltd 記憶装置
US5646896A (en) * 1995-10-31 1997-07-08 Hyundai Electronics America Memory device with reduced number of fuses
JPH11110334A (ja) 1997-04-18 1999-04-23 Ricoh Co Ltd データ処理回路およびそれを備えた画像形成装置
JP2000172559A (ja) 1998-12-01 2000-06-23 Nec Eng Ltd バンク間のデータ転送制御方法、コンピュータシステム、デバイス制御回路
JP4216457B2 (ja) 2000-11-30 2009-01-28 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置及び半導体装置
JP2002251884A (ja) * 2001-02-21 2002-09-06 Toshiba Corp 半導体記憶装置及びそのシステム装置
JP2002312232A (ja) 2001-04-10 2002-10-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2003059264A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US6515929B1 (en) * 2001-10-29 2003-02-04 Etron Technology, Inc. Partial refresh feature in pseudo SRAM
JP3959341B2 (ja) * 2002-02-18 2007-08-15 株式会社東芝 半導体集積回路装置
US6683817B2 (en) * 2002-02-21 2004-01-27 Qualcomm, Incorporated Direct memory swapping between NAND flash and SRAM with error correction coding

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Publication number Publication date
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