TWI241099B - Semiconductor integrated circuit device and delay-locked loop device - Google Patents

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TWI241099B
TWI241099B TW091121549A TW91121549A TWI241099B TW I241099 B TWI241099 B TW I241099B TW 091121549 A TW091121549 A TW 091121549A TW 91121549 A TW91121549 A TW 91121549A TW I241099 B TWI241099 B TW I241099B
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delay
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delay circuit
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TW091121549A
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Yasuhiro Takai
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Elpida Memory Inc
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    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
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Description

1241099 五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於半導體積體電路裝置,特別是關於延遲 鎖定迴路(DLL )及具備該dll之半導體積體電路裝置。 【先前技術】 DDR (Double Data Rate;雙倍資料速率)_i—s DKAM (Synchronous DRAM;同步動態隨機存取記憶體)係 對頻率100MHz〜166MHz之輸入時鐘脈衝,傳送速度2〇〇m〜 0Mbps (Mega bits/second )視為進行資料傳送規格。
貧料輸入視為在輸入時鐘脈衝之上升邊及下降邊兩邊同步 之規袼,將已輸入之時鐘脈衝直接藉由通過一根延時線 (delay line )可實現在最小構造之DLL的規格。 圖18係顯示DDR規格對應之DLL (Delay Locked =〇p ;延遲鎖定迴路)之一例,圖丨9係顯示其定時操作 多…、圖18,此DLL3A係輸入用差動(differentiai 單姓式所傳送互補之時鐘脈衝信號CLK、CLKB,具備輸出 入由輪模式之信號CU1之輸入緩衝器1及輪 後輸出的延ίΓ路時鐘脈衝信號CLK1令其延遲 遲時ηΪΪ ( y ne) 31,延遲電路31係由延 個輪二八i =硬數個輸出分接頭(無圖示)中所選擇之一 變。刀 ,輪出令其延遲之信號,延遲時間認定為可
第7頁 1241099 五、發明說明(2) 號CLK0E作為資料輸出用時鐘 (不+、& # / 衝,輸入藉由記憶胞陣列 上ΐ4之Λ Λ個Λ料後選擇;輸出、緩衝器5,輸 端子外〜“虎以貝料輪出信號DQ j輸出於資料輸出 ϋοίΓΛν;器(MUX)36,以延遲電路31之輸出信 虛ί之;一延遲時間;虛設之緩衝器37,輸入 .^ 益之輸出,輸出互補之RCLK、RCLKB,具有 與輸出緩衝器5相同延遲時間·由< . 罢叙m名士 虛設之緩衝器38,輸入用 2模式傳送之時鐘脈娜LK、ReUB,輸出單端之時鐘 脈衝信號CLKFBI,具有與輸入緩衝器丨相同延遲時間;相 位檢測器33 ’輸入輸人缓衝則之輸出信號cui及虛設之 緩衝器38之輸出信號CLKFBI,檢測出此等信號以1(1與 CLKFBI的相位差,計數器34,藉由在相位檢測器33所得之 相位檢測結果,依照相位之超前、滯後來向上或向下計 數。虛設之多工器(MUX ) 3 6係將高階(VDD電位)與低階 (VSS電位)之固定值作為資料輸入,將其中之一方,以 所輸入之信號CLK0E作為選擇信號選擇輸出。 在此DLL3A中’為使輸入緩衝器1之輸出時鐘脈衝信號 CLK1與虛設之緩衝器38之輸出信號CLKFBI之相位一致,根 據計數器34之輸出信號進行延遲電路31之輸出分接頭之切 換,以調整其延遲時間,如圖1 9之定時圖所示,DDR — SDRAM之輸出信號DQ j鎖定(同步)於時鐘脈衝CLK。 若參照圖1 9,信號CLK0E之上升的定時比由輸入緩衝 器1之輸出時鐘脈衝CLK1之上升的定時慢延遲電路31之延
第8頁 1241099 五、發明說明(3) 間tdO分(圖19之箭頭線(1 ))。設定多工器36、緩 衝态37、38之各個延遲時間為td3、td2、tdl,信號 ,上升邊比由信號CLK〇E之上升的定時慢加算多工 6緩衝器37、緩衝器38後之延遲時間tdl + td2 + td3 (圖1 9之箭頭線(3 ))。 控制令信號CLKFBI之上升的定時與比成為目前信 Ϊ ϋ + t起源的時鐘脈衝CU後1週期的時鐘脈衝CLK1之 由/鐘脈衝CLK週期之開始時刻輸入緩衝器1 ίϋ: 分)一致,以輸入時鐘脈衝CLK (時鐘脈 Ίίχ週期一t C Κ )之上井的定日车或挪 '、隹 的定時為;之上升的疋時為仏準’信號CLKFBI之上升 tCK+tdl 〇 因此,時鐘脈衝CLK0E之上升邊的定 tCK+tdl- (tdl+td2+td3) =tCK - td2 - td3 在經由多工|§ 4後之資料輸出傳 ^ CLK0E之上升邊至多工器4之輸出為止佐中,、由信號 td3,而輸出緩衝器5之傳播延遲日夺Λ 延遲時間為
線(…,可知資料輸出信定(時7之箭頭 (tCK -td2 -td3 ) +td3 + td2 j 出疋時為 =tCK 鐘脈衝週期之開始時 時一致。 時係自輸入緩衝器1之 刻) 亦即,時鐘脈衝CLK之上升(時 與負料輸出信號DQj之輸出的定 同樣地,信號CLK0E之下降的定
1241099 五、發明說明(4) 輸出時鐘脈衝C L K1之下降慢延遲電路3 1之延遲時間t ^ 〇分 (圖19之箭頭線(2 ))。信號CLKFBI之下降的定時係自 其上升邊慢時鐘脈衝CLK1之脈衝寬度分(圖1 9之箭頭線 (5 ))。在信號CLK0E之下降邊,輸出下一個資料輸出作 號DQj ’其定時與時鐘脈衝CLK之下降的定時(clkb之上升 )_同步進行。圖1 8所示之構成的D L L 3 A係調整輸入時鐘脈 衝與輸出資料間之相位使之同步之電路,也稱作「輸出入 補償DLL」。 則 可是 ’ DDR — II — SDRAM之規格更南速為時鐘脈衝頻率 2〇〇〜30 0MHz (資料傳送速度為4〇〇〜6〇〇MbpS )。用以提 高記憶體控制器之操作界限,對輸入時鐘脈衝CLK,〇度、 180度之各相位同步之規格(Duty Cycle c〇rrecti〇n^工 作週期修正,亦略記為「DCC」)正在研討中。 DDR—II -SDRAM規格之DLL,例如圖2〇所示,除〇。傳 播用之延遲電路(對應圖18之31 )外,係由18〇。 寻 ,延遲電路32及180。相位差產生用之2條延遲電路21、用 八什4條之延遲電路所構成。亦即,包含tCK 產生 DLL2B及輸出入補償用DLL3B。 若參照圖2〇,tCK/2產生用DLL2B係包含:延遲電路 (delay iine)〗!,由輸入時鐘脈衝信號cu、clkb之 入輸入時鐘脈衝信號CLK1,以切換輸出分接頭輪 = 間可變自如;延遲電路22,輸入由延 輸出信號CLK顺之延遲時間可變自如;相位檢測器V,輸 由tCK/2產生用之DLL2B所輸出的時鐘脈衝信iCUHF 之上升的定時係由時鐘脈衝信號CLK1之上升的定時, 鐘脈衝週期tCK的2分之1分,產生1 80。相位差。 又 1241099 、發明說明(5) 入時鐘脈衝信號CLK1及延遲電路22之輸出信號clkFBH,檢 驗出信號CLK1與CLKFBH之相位差;以及計數器24,藉由相 位檢測器2 3之相位比較結果,按照相位之超前、滯後,來 向上或向下計數,用以使輸入於相位檢測器2 3之信號
CLKFBH及信號CLK1 (比信號CLKFBH所產生^CLK1二^期後 的週期C L K1 ;時鐘脈衝C L K之時鐘脈衝週期為丨[κ )之上升 的疋時一致,選擇延遲電路21與延遲電路22之輸出分接 頭。亦即,在延遲電路21,令時鐘脈衝信號“^延遲td, 在延遲電路2 2再令其延遲td的信號CLKFBH之上升的定時與 C L K1之上升的定時相位一致時,變成, td + td =tCK 由此’延遲電路21、22之延遲時間成為 td =tCK/2 ” 又,輸出入補償用之DLL3B包含:延遲電路31 , 一種輸入緩衝器1之輸出的時鐘脈衝信號以以,以切 出分接頭,令輸出信號0UTR之延遲時間可變自如 遲刖 路32,輸入延遲電路21之輸出信號CUHF,以切換邊電 接頭’令輸出信號0UTF之延遲時間可變自如.工出刀 iMUX)35B ’輸人延遲電路31、32之輪出〇UTR、術卜 、0UTF之上升的定時,輪出脈衝之上升邊與 的疋時所規定之輸出信號CLK〇E ;多工器(Μυχ)4,將多降
第11頁 1241099 五、發明說明(6) 工器(MUX) 35B之輸出信號CLK0E (資料輸出用時鐘 )當作選擇信號輸入,每一時鐘脈衝週期之時鐘脈 CLK,選擇2個資料輸出;虛設之多工器(Μυχ) 36, ^工器(MUX) 4之輸出,輸人以信號DQj輸出之輸出‘ 斋5及多工器(MUX ) 35B之輸出信號cu〇E,與多工器*具 有同一延遲時間;虛設之緩衝器37,輸入多工器(Ax 36之輸出,輸出互補信號RCLK、RCUB,與輸出°緩 有相同延遲時間;虛設之緩衝器38,輸入互補信號 RCLKB,輸出單相之信號CLKFBI,與輸入緩衝器丨具 延遲時間,相位檢測器3 3,輸入輸入緩衝器j之輸出信號 CLK1及虛設之緩衝器38的輸出信號CLKFBI,檢 °儿 απ與CLKFBI之相位差;以及計數器34,藉由相位=器 33之輸出向上或向下計數;利用計數器34之輸出,進行延 遲電路31、32之輸出分接頭的切換,調整延遲時間。 之多工器(MUX ) 36係將高與低之固定值作為資料輸入f 其中之一方,將所輸入之信號clkoe作為選擇信號,選擇 輸出。 圖21係用以說明圖2〇所示之電路的定時操作之圖。參 照圖21來說明有關圖20所示之電路的動作。輸入 衝 ΙΠ之輸出CLU的延遲電路31係輸出將時鐘脈衝作號ci^ 令其延遲時間tdO之信號0UTR (參照圖21之箭頭線> )三輸入將時鐘脈衝信號CLK1令其延遲代^之(參照圖21 之箭頭線(1 ))之信號CLKHF的延遲電路32係輸出 CLKHF令其延遲td0之信號0UTF (圖21之箭頭線(3出)將^號 1241099 五 發明說明(7) ί I ^mouTR ^ ^ ^ 低階(),在信號outf之上升時變成 1白I圖21之前頭線(5 ))。 降邊ί ί工Ϊ 1之資料的選擇係在信號CLK0E之上升邊與下 在時鐘脈衝緩衝器5所輸出之信號DQj之輸出定時係 說明有關週期tCK的1/2週期單位進行。以下 f ϊ 态35B所輸出,一種資料輸出用時鐘脈衝的 糸由輸入緩衝器1之輸出時鐘脈衝CLK1的上升邊只延' 遲延遲電路31之延遲時間td〇後上升(〇UTR之上升的定時 )具有 tdO +tCK/2 -tdO =tCK/2 ^之脈衝寬度。信號CLK〇E之下降的定時係由輸入緩衝 器1之輸出時鐘脈衝CLK1之上升邊變成 tCK/2 4~td0 之定時(0UTF之上升的定時) 將多工器36、緩衝器37、38之延遲時間訂為td3、 td2、tdl,信號CLKFBI之上升邊係由信號CLK〇E之上升邊 加算多工器36、緩衝器37、38之延遲時間後慢時間tdl + td2+td3 (圖21之箭頭線(6))。 信號C L K F B I之上升的定時係用以控制成與η週期後 (在圖21為3週期之後)之時鐘脈衝CLK1的上升之定時一 致,而非與成為目前信號CLKFBI之起源的時鐘脈衝CLK的 上升定時一致,(但,CLK1係自時鐘脈衝clk之週期的開
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始時刻已慢輸入緩衝器1之延遲時間tcU分),所以若以成 為起源的輸入時鐘脈衝CLK的上升之定時為標準,信號 CLKFBI之上升的定時成為 π ntCK+tdl 〇 因此,時鐘脈衝CLK0E之上升的定時即為 ntCK+tdl - (tdl+td2+td3 ) = ntCK - td2 - td3
在經由多工器4後之資料輸出傳播路徑中,由CLK〇E< 上升邊至多工器4之輸出為止的傳播延遲時間為td3,輸出 緩衝器5之傳播延遲時間為td2 (圖21之箭頭線(?))可 知第1資料輸出信號DQ j之輸出定時為 (ntCK —td2 —td3 ) +td3 + td2 =ntCK 亦即,時鐘脈衝CLK之時鐘脈衝週期之開始時刻(時 鐘脈衝αγ之上升)與資料輸出信號DQj之輸出定時一致。 又,彳a號CLK0E之下降的定時係由其上升邊慢tcK/2, 故信號CLK0E之下降的定時成為 ntCK+tdl- (tdl+td2+td3) +tCK/2 = ntCK - td2 - td3 + tCK/2 在經由多工器4後之資料輸出傳播路徑中,由clk〇e之 下降邊之傳播延遲時間為td3,輸出緩衝器5之傳播延 定(時圖為21之箭頭線(9))可知第2資料輸出信號剛 (ntCK -td2 -td3 -tCK/2 ) +td3 + td2
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= ntCK + tCK/2 因此,第2資料輸出信號DQ j之輪出定時 CLK之時鐘脈衝週期之開始時刻,變為鐘脈衝 由以上,如圖21所示,進行與工作比5 ==: :卿⑽的修正工作’也進行資料窗口‘:: = 各延遲電路21、22、31、32係如圖14辦一 1遲電路之各分接頭D1、D2、D3與輸出節點;:=之;丨
制信,,,,以將其-開機,其: = : =頭控 述’圖之㈣產生用之DLL2B係以
)起作用。 作電路(DCC 如圖1 7所示,說明關於具備由時鐘脈衝原始 應之時鐘脈衝驅動,對記憶體控制器50,與時鐘脈 ” 步二=料DQj之複數個時鐘脈衝同步型記憶體π 能時之說=用以比較說明無DCC功能時與有 時鐘脈衝原始源52之近端的時鐘脈衝cu, 之在遠端,藉由時鐘脈衝相位差… 作, %釦脈衝之工作比會由5〇 %變動。 ,CC功能之時鐘脈衝同步型記憶體,在近端之剛的 m 口’若有石%之變動時,遠端資料DQj之資料窗口 、扁差,依照時鐘脈衝之相位差,有5 0 % ± ( α +冷)之
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對此’具備D C C功能時’時鐘脈衝之工作比被視為5 〇 % ’近端之DQj的資料窗口變成50 %,在資料窗口若有点 %之變動時,遠端之DQj的資料窗口的偏差,變成5〇 冷之麦動,可除去、減低由時鐘脈衝相位差之影響。 五、發明說明(10) 變動存在。 在DDR—II,其運作週期之規格被視為的一 = 3&3ns,延遲電路等傳播DLL内部之時鐘脈衝信號的脈 寬度,最大為1.7ns,短如DDR—i的一半。因此,例如 成DLL之延遲電路的電晶體之閾值ντ高,若上升波形變 Ξ精:ί信號未達頂峰之前即開始下降等,很難保持高定 士 ’ —1設有4條延遲電路,延遲電路之工作電 抓為DDR: I之延遲電路的4倍,會增大電力消耗。 八-人圖1 4所不之構成的延遲電路係將反相《 INV11,INV12以級聯灿自t、由w |宁肝久相器 在圖14中,2個直列所遠„妾,具備輸出分接頭之構成。 分接頭與輸㈣Λ之反=構成單位延遲電路。 INV19 (或是傳送門/連接之試驗狀態INV17、INV18、 頭選擇信號Cl、C2、(^从、可)係遵照由各計數器之分接 禁止(輸出高阻抗肤:的邏輯值’認定為輸出賦能、輸出 C2、C3選擇輸出分挺L 。如此,用分接頭選擇信號C1、 衝。 碩,由所選擇之分接頭輸出時鐘脈 且,在圖18、議9n a 罔2〇中,相位檢測器33 ( 23 )係檢測時 1241099 五、發明說明(11) ^脈衝CLKFBI (CLKFBH)與標準時鐘脈衝CLK1的相位之超 =滞後,來更新計數器34 ( 24 )。而且,例如用以防止 •C之功率減退刖後之錯誤判定,在相位檢測器3 3 ( 2 3 ,以仏(CLKFBH )之定時來檢測。傳播延遲電 f内之信號,在由分接頭所輸出之定時,若分接頭切換 牯,在資料輸出用時鐘脈衝CLK0E產生危險、異常脈衝, T而產生輸出定時不準確或錯誤動作之可能性。此原因乃 ,於信號clkfBI/CLKFBH之切換的定時,計數器34/24之計 數值變更,分接頭切換之故。 圖1 5係用以說明圖丨4所示之延遲電路的分接頭切換時 之動作圖。如圖1 5所示’信號由D}進行至D2之間時,分接 頭選擇# 5虎Cl、C2、C3中,C1由高階向低階,C2由低階向 南階切換,分接頭由D1_2切換時,輸出信 險。 、在圖18、圖20所示之輸出入補償用DLL3A、3B中,延 遲電路31 (32 ),例如傳播其信號需f2〜^,時鐘脈衝 週期短時,再將延遲電路31 (32)之信號傳播中,可切換 頭。又,在圖20之tCK/2產生DLL2B,時鐘脈衝週期之 刖半的CLK1及CLKHF信號,在傳播延遲電路21、22中,可 進行切換分接頭。因而,在延遲電路之輸出信號產 險。 因此,本發明所欲解決的問題在於謀求減低電流消 耗,利用DDR-Π規格之裝置提供認定為適合之犯及 體積體電路裝置。 $ 1241099 五、發明說明(12) 生危險,ί問題在於抑止分接頭切換時發 導體積體電路裝置7出疋%不準確或錯誤動作之dll及半 【發明内容】 中之關以解決問題的dll裝置,在其 及第2延遲電路令其y .將輸入信號串聯著連接之第1 間,由於二第1及第2延遲電路之延遲時 輸出自5亥第1延遲雷狹,人 延遲該輸入信號之2分之丨週 7该輸入信號 的延遲鎖定迴路裝置中,分頻該=说在輸出延遲信號 調整機構,令該分猶雷 ,入“唬,以及第1延遲 路延遲,輸出 1赞 别“號在該第1及第2延遲電 ^翰出凋整該第1及第2延遲雷踗夕„、麻士 、迕电 頻電路之輸出信號與該第2延遲電路之 0、間使該分 準之控制信號。 輸出“號的相位對 彦生ί料發明中之DU裝置係-種按照該輸入作# 的多工器供應該資料輸出用時鐘n複數個資料輪出 裝置’包含:第3延遲電路,;==第雷2;遲鎖定迴路 後令其延遲輸出第i信號;第4 刀 路之輸出信號 J路裝置之輸出信號後令其延遲二,二入該延遲鎖定 第3及第4延遲電路之該们之 號,輸入由該 信號各自之上升邊,規定 二二f該第1之及第2 H降的定時,在將於該第 第18頁 1241099 五、發明說明(13) 1及第2信號之下降邊所規定之上升及下降之定時的信號, 以該資料輸出用之時鐘脈衝輸出的電路;將該資料輸出用 時鐘脈衝至少令其延遲該多工器之延遲時間量的信號;第 2延遲調整機構’輸出用以使其與該輸入信號的相位對準 而調整該第3及第4延遲電路之延遲時間的控制信號。更 且,在本發明之DLL裝置中,也可有具備將由該第1延遲 整機構之控制信號,在該第丨延遲電路之輸出信號閃鎖後 供應該第1及第2延遲電路的第丨閃鎖電路之構成。又, Ζ Ϊ t :由該第2延遲調整機構的控制信號,在該資料 輸出用時鐘脈衝閂鎖後供岸兮筮q 鎖電路之構成。 1、應㈣3及^延遲電路的第2閃 本發明在其他方式中,筮〗Μ、琉^〜 輸入緩衝器,輸入時鐘脈衝信號·八艇疋路電路包含: 入緩衝器所輸出之時鐘脈衝二:’刀頻電4,輸入由該輸 信號2分頻後輸出;第丨延遲 ^,將σ亥已輸入之時鐘脈衝 出之分頻時鐘脈衝,輸出由’輸入由該分頻電路所輪 輸出分接頭令其延遲的作妒·固輪出分接頭中所選擇之 遲電路之輸出信號,輪::福:2延遲電路,輸入該第k 輪出分接頭令其延遲的作號·固輪出分接頭中所選擇之 :!脈,第2延遲電路V:::測器’檢測出該分頻 斋,藉由該相位檢測琴 0的相位差;以及第1 _ ,第卜第2延遲電路:;:出、向上、向下計數,輪第出^ :第3延遲c的信號;第2延遲鎖 輪出由複數個輪出分接Λ 電路所輸 -----_ 别出刀接碩中所選擇之 第19頁 1241099 五、發明說明(14) 令ΐ延遲的信號:第4延遲電路,輸入該第1延 於屮八拉剧出“號,輸出由複數個輸出分接頭中所選擇之 4/二々頭令其延遲的信號;第1多工器,輸入該第3、第 产於的上斗之輸出信號,在該第3、第4延遲電路之各輸出 ϋ = 定上升及下降,同時輸出在該第3、第4 3多工::輸出,號的下降邊所規定之信號;虛設之第 器之〆出入该第1多工器之輸出後輸出,以該第1多工 1 i時門為if信號’與選擇資料之第2多工器具有同 輸出,lU 檢測11 ’具備:輸入該第3多工器之 器;以;出緩衝器相同延遲時間之虛設第1緩衝 相同延遲二f:1緩衝器之輸出,與該輸入緩衝器具有 輪出緩二器;檢測出該輸入緩衝器之 器,藉由#”/衝的輸出間的相位差;以及第2計數 切換^3第4 Λ檢測器之輸出向h向下計數,輸出 工器輸入該第、\電路之輸出分接頭的信號;該第2多 資料之—夕工器之輸出信號’選擇所輸入之複數個 由輪出端子:: 器輸入該第2多工器之輸出信號後 本發明更在另一方★ rb 路包含··輪入緩衝器,^入拄具備有第1延遲鎖定迴路電 路,輸入由誃舲 j入時鐘脈衝信號;第1延遲電 複數個輸出分‘二;::輸出之時鐘脈衝信號,輸出由 號;第2延遲電敗,私^擇之輪出分接頭令其延遲的信 由複數個輸出八 > 剧入邊第1延遲電路之輸出信號,輸出 輸出刀接頭中所選擇之輸出分接頭令其延遲的信
第20頁 1241099 ______— 五、發明說明(15) 號;相位檢测器,檢 該第2延遲電路之輪出間=入差緩衝^ 位檢測器之輪出向上、向 ,弟1計數器’藉由該相 遲電路之輪出分接頭的信號·以及二出切換該第1、第2延 遲電路之輪出信號當作問鎖作號 板準器,將該扪延 ,供應該第1、第2延』電】.第广鎖該第1計數器 路包含··第3延遲電路m’第2延遲鎖定迴路電 之時鐘脈衝信號,輪出^複個;^入八^衝器電路所輸出 =接頭令其延遲的信號;第4個/遲出刀接頭中所選擇之輸 電路之輸出信號,輸出由遲電路’輸入該第1延遲 出分接頭令其延遲的信號.雨出分接頭中所選擇之輸 =遲電路之輸出信號,‘該 了 =器,輪入該第3、第4 信號的上升之定時規定上 之延遲電路之各輸出 第4延遲電路之各輸出 下降,同時輸出在該第3、 ,工器,輸= :工器之輸出作為選擇信號,U輪出’以該第1 f同一延遲時間;第2相位ϋ料之第2多工器具 衝器;以及輸入該第ryv'm延遲時間之虛設第1緩 有相同延遲時間之虛設第2緩^出仏與該輪入緩衝器具 之輪出與該虛設之緩衝器的。門檢測出該輸入缓衝器 器’藉由該第2相位檢測器的之輪輸出 切換該第3、第4延遲電路之輪出八向上、向下計數,輸出 之校準ϋ,將該第2多工器電路刀頭的信號;以及第2 冤路之輸出信號當作閂鎖信 第21頁 五、發明說明(16) 號’閃鎖該第2計翁哭+认 路丨該第2多工輸出,供應该第3、第4延遲電 入之複數資料之—輸,入=多工器;輪出信號’選擇所輪 出信號後由輸出端子;:出緩衝器輸入該第2多工器之輸 【發明方式】 之-於實施二態在。本發明’在其較佳 接之第1及第2延遲電路’為/在將輸入信號串聯連
FhU 1、22 )延遲的信號,與該齡入 W之相位-致而調整第】、第2延遲電路之延 輪= 此凋整,輸出由第丨延遲電路 、 分之1週期量的作浐,丄处m 7 ^遲輸入k號的2 )中,裝置分在 延遲鎖定迴路裝置(2 路(6)之輸出信號在& 路(6)將/刀頻電 延遲,為使分頻電路(6 ) #出笮(21、22 )令其 …出信號的相位二),=置出調\=^^^ (2Η",延遲時間的第i延遲調整整第:構電路 更,按照輸入信號,生成資料輪 ^ (CLKOE ),對選擇複數個資料輸出的多工、^,衝信號 資料輸出用之時鐘脈衝(CLK〇E) ° (4)供應該 (3),包含··第3延遲電路(3/)的第^遲鎖定迴路裝置 之輸出信號令其延遲後輸出第!信號心:頻;電:(6 ) 路(32),輸入該延遲鎖定迴路裝 _ 延遲電 其延遲後輸出第2信號(0UTF);多(2)之輸出信號令 夕工器(35A),輸入由 1241099 發明說明(17) 第3、第4延遲電路(31、32)之第1、第2信號(0UTR、 ουγ t ’在第1、第2信號各自之上升邊,規定上升及下降 的疋日守’在第1、第2信號之各下降邊,將上升及下降的定 時所規定之信號,以該資料輸出用時鐘脈衝(CLK〇E)輸 出;將資料輸出用時鐘脈衝(CLK〇E )至少令其延遲多工 器(4 )的延遲時間量的信號;以及第2延遲調整機構 (33、34 ),用以使與該輸入信號的相位一致,調整詨 3、第4延遲電路之延遲時間。 更詳細的說,本發明中之半導體積體電路裝置,1 =之一實施形態中,具備有DLL UCK/2產生DLL) (2;、包 3 .輸入緩衝益(J ),輸入時鐘脈衝信號(clk/Cub 二::頻電路(6),輸入由輸入緩衝器("所輸出之時 c號,將已輸入之時鐘脈衝信號 日鐘脈衝陶;延遲電路⑴),輸入由分頻電刀路頻 (6)所輸出之分頻時鐘脈衝(CU2),輸 ==間之複數個輸出分接頭中所選擇之輸出分曰接 其 y頻時:脈衝(CLK2)的信號(CLKHF);延 其、 t错由互異延遲時間之複數個輸出分接頭中所 \ ^接碩,令其延遲輸出信號(CLKHF)的俨號(cu輸出 ),相位檢測器(23 ),輸入分頻時鐘脈衝 =;;(2二: = 出’依照相位之超前、滯後,向上或向;以 1241099 五、發明說明(18) 第卜第2 =電路⑵:22)之輸出分接頭的信號 施形離中且! Γ中之半導體積體電路裝置,其較佳之-實 電^ 7m、,<^DLL (輸出入補償DU )⑴包含:延遲 m ίΓΪ K9 ,二入,分頻電路(6)所輸出之分頻時鐘脈 巾Μ $ 於Ϊ出藉由互異延遲時間的複數個輸出分接頭 f # ^ΟϋΤΊ? 出分接頭,令分頻時鐘脈衝(CLK2 )延遲的 輪出信號遲電路(21)之 Φ yV ^ 輸出猎由互異延遲時間的複數個輸 ^ S所選擇之輸出分接頭令信號(CLKHF )延遲的 吕號(0UTFI多工器(35A),輸入延遲電路(31遲32 1 = ί出信號(0UTR、0UTF),脈衝之上升及下降的定時 3出在輸出信號“0UTR、0UTF) “之上升邊所規定之信 H同時’下—脈衝之上升及下降的定時,輸出在輸出信 ,OUTR、0UTF)之各下降邊戶斤規定之信號;虛設之多工 ,(3j),輸入多工器(35A)之輸出信號(cu〇E),與 ^工态(4)具有同一延遲時間;虛設之第1緩衝器(37 ,輸入虛設之多工器(36 )之輸出信號,與輸出緩衝器 (5 1具有相同延遲時間;虛設之第2緩衝器(38 ),輸入 第1緩衝器(3 7 )之輸出信號,與輸入緩衝器(丨)具有相 同延遲時間;相位檢測器(33 ),輸入輸入緩衝器(i ) 之輸出信號CLK1及虛設之第2緩衝器(38)之輸出信號 (CLKFBI ),檢測出此等信號的相位差;以及計數器( ' ’接受相位檢測器(33 )之輸出,依照相位之超前、滯 後,向上或向下計數,輸出切換延遲電路(31、32 )之輸
第24頁 1241099 五、發明說明(19) 出分接頭的信號。 、、f ^器(4)係將多工器(35A)之輸出信號(CL )以貝料輸出用時鐘脈衝信號輸入,選擇複數 個資们之—。輸出緩衝器(5)輸人多工器貝=4 信號後由輸出端子輸出。 ^ t輸出 多工器(35A )包含:第1信號產生電路(圖12之 301、302、303 ),輸入延遲電路(31 )之輸出信號 j〇u=),檢測出輪出信號⑽TR)之上升及 換2出預先制定的規定寬度之脈衝;第2信號產生的電切 :,厂9、31°、311 ) ’檢測出延遲電路(32 )之幹 出信號(0UTF )的 y ^輸 定嘗庚夕m 升及下降的切換,輸出預先制定的規 衝,以及相互逆導電型之第1、第2電晶體 (MP21、MN22 ),古a如- 不电日日體 # ^ ' 阿位側電源DVV與低位側電源GND間串 者連接,由連接點輸出輪 门甲聯 生電路之於ί μ展/ 1 )之控制端子,令第2信號產 端子。刖 遲之、號供應第2電晶體(ΜΝ22 )之控制 右參照本發明之|g| p , xi\ KL· 之DLL的構成可再^6 ’在別的實施形態中,四所示 再风 了再具備將由延遲電路C31)所铨屮夕# 頭選擇信號,供應延遲…3"之校準 又’若參照本發明夕 包含如下之構成:校準J5,)更在:]的實施形態中,可 又+為(25),將延遲電路(21)之輸
1241099 — Mm_ 五、發明說明(20) 出信號(CLKHF)當作閃鎖定時信 叫所輸出之分接頭選擇信號, 門鎖由:數器 (CLK0E)當作問鎖定時信號輸人,閃鎖由斤==就 所輸出之分接頭選擇信號,供 ⑺數广(34) 若參照本發明之圖3,在其一實施形路能(31,、32)。 出入補償DLL (3)之延遲電路(31)包含'中^可在輪 (31-1);微調延遲電路(31_2) :二遲電路 路(31 -"之輸出;以及微調延遲電路周延$電 粗調延遲電路(31—"之輸出以反相“後3) ’輪入 延遲電路(32)包含:粗調延遲電路(32 遲電路(32—2),輸入粗調之延遲電路(32^_,试调延 %;Λ及)= 遲電路(32—3),輸入粗調延遲電之路輪 (32二1 )之輸出用反相器反轉後之信號。在此 二工上(35—1 )係輸入由各微調延遲電路所輸』之’ 第4 # 號(〇UTRl、0UTR2、0UTF1、0UTF2 ) # 笛第至 信號(〇UTR1、0UTF2)的上升邊,輸出上升在第^、第4 所規定的時鐘脈衝信號,在第2、第3 ^定時 :的下降邊,輸出上升及下降之定時所規 亦可在tCK/產生用DLL (2)之延遲電路 粗調延遲電路(21 ^ ;微調延遲電路(2ι 一匕各·: 粗調延遲電路(U—i)之輸出;微調延遲電路(21’〜輸入 ),輸入粗調延遲電路(21_n之輪出用反相器反轉3之 第26頁 1241099 五、發明說明(21) 信號;以及多 2、21〜3)之於=(26_1) ’輪入微調延遲電路m m 輪出信號後,合成單相* 电塔U 1〜 路(22)包含:粗調延遲電路(22 ]之信號*輸出;延遲電 22 2),輪入粗調延遲電路(2 ,锨凋延遲電路 遲電路(22〜3),輸入粗調延遲電跃?之輸出;微調延 反相器反轉之信號;以及多工器 (22 一1 )之輸出用 遲電路(22—2、22—3)之於中〜2),輸入微調延 輸出。 22 3 )之輸“號後,合成單相之信號 右參照本發明之圖3,在其一實施 由輸入緩衝器("所發出之時鐘脈以:二含: 開關⑽),選擇由分頻電路m’以及第1切換 又,ίΜ人延;1電路(21)及該第1相位檢測器(23)。 盘由輸入緩i哭構成.第2輸入緩衝器(ιβ),產生 補之時所輸出之時鐘脈衝信號(CLK1 )相 補之時鉍脈衝W(CLK1B);第2分頻電路 ,八 緩衝器所發出的時鐘脈衝信號;以及第2:換 SI二:選擇由該第2輸入緩衝器所發出的時鐘脈衝 仏唬/、由5亥第2分頻電路所發出之分頻時鐘脈 任一, 供應該第4延遲電路。 [實施例] 對於該本發明之實施形態應更詳細說明,以下茲將參 照附隨的圖示,以說明有關本發明之實施例。圖丨係顯示 本發明之一實施例的構成圖。若參照圖1,本發明之一實
第27頁 1241099 五、發明說明(22) 施例係在圖20所示之習用裝置的電路構成, 1之輸出信號CLK1再預備2分頻後輸出之分頻電路6,〃以八盗 頻電路6所2分頻之時鐘脈衝CLK2 (週期=2χ t(:K)供刀 tCK/2產生DLL電路2之延遲電路21、相位檢測器23、輸Ύ 入補償DLL電路3之延遲電路31、相位檢測器33,多工^出 35A係在延遲電路31、32之輸出信號〇UTR、〇utf之上升1盥 了降|出信號CLK〇E (資料輸出用時鐘脈; ηπττ?久I工& 35Α所輸出之信號CLK〇E係由在信號0UTR與 OJJTF各自之上升邊所規定之上升與下降較時脈衝,及接 者此脈衝,在信號⑽^與卯抒之各下降邊所規定之上升诳 下降的定時脈衝所構成。相對的 :在延遲電路31、32之輸出信號〇utr、〇utf之:升= 動。 人.:更ί :田ί照圖1 ’連接於不圖示之輸入端子後,包 二入:^?器V輸人時鐘脈衝信號clk ;分頻電路6, 二脈衡二rH :1所輸出之時鐘脈衝信號CLK,輸出將時 jJl 〜 分頻後之分頻時鐘脈衝CLK2 ; tCK/2產生 以L〇Ck L〇〇P) 2 ;輸*入補償DLL3 ;多工器4 ; ΐ κ / 2 Λ f ’連接輸出於不圖示之資料輸出端子。 脈衝CLK2巧人U2係輸入由分頻電路6所输出之分頻時鐘 延遲電路21,藉由複數個輸出分接頭中 所選擇之輸出分接頭,私 號CLKHF ;延遲電路^輪/令分頻時鐘脈衝CLK2延遲之信 鳴,藉由複數個輸出電路21之輸出信號 %出刀接頭中所選擇之輸出分接頭,
1241099 ---- 五、發明說明(23) 輸出令信號CLKHF延遲之信號CLKFBH ;分頻時鐘脈衝 C L K 2,相位檢測器2 3,檢測出與延遲電路2 2之輸出产號 C中位差;以及計數器24 ’藉由相位檢測器心輸 出或向下計數,輸出切換延遲電路21、22之輸出分接 頭的分接頭選擇信號。計數器24係在延遲電路2ι、22φ 再令其延遲時’例如向上計數’冑出用以選】 =出分接頭的分接頭選擇信號,需要使其加快時遲: 信;出用以選擇更小延遲時間之輸出分接頭的 β所於輸φ出入補償DLL3包含:延遲電路31,輸入由分頻電路 戶斤選摆Λ分頻時鐘脈衝CLK2,藉由複數個輸出分接頭中 糊=輪出分接頭,輸出令分頻時鐘脈衝cu2延遲之作 唬 0UTR (週期we 士 ^ ^ );延遲電二二係時鐘脈衝CLK之-週期 iϋΪ 輸入延遲電路21之輸出信號CUHF,夢 複數個輸出分接頭中所選擇之曰 —:",32: i :〇:Trr,R,:;F, e : -j-; 虛設之緩 器5相同之延遲時間;虛°^出’具有與輸出緩衝 互補輸出 ΙΗϋΙ 第29頁 1241099 五、發明說明(24) 輸入緩衝器1相同之 入緩衝器Ϊ之輸出CLf f %間;相位檢測器33,檢測出輸 CLKFBI間之相位差· /、虛設之緩衝器38之輸出信號 輸出向上或向下舛盤Μ及計數器34,藉由相位檢測器33之 接頭的分接:;;;號輪二=”,、32之輸出分 例如需要再令皇延遲味岭數益34右在延遲電路31、32, 遲時間之輸出分接頭的夺分m:;出用以選擇更大延 快時,向下計數,輪出擇化7虎,例如需要令其加 頭的分接頭選擇信號。以k擇更小延遲時間之輸出分接 夕工Is 4係輸入多工哭 邊緣4個資料中依序ί握=35A之輸出信號CLK0E,在每個 輪出信號DQj由輸出端::,輸出緩衝器5係將多工器4之 間的二, 子輸出。具有與多工器4同-延遲時 ^ τγ及卜降之切換中選擇輸出。 2圖2係用以說明圖1所示電路的動作之定時圖。參昭圖 2,以說明有關圖1之電路的動作。 …、 在tCK/2產生中,延遲電路21、22係令分頻時鐘 ::⑽(時鐘脈衝CLK之2倍週期)⑭遲,延頻二 輪^信飢隨之邊緣調整成與分頻時鐘脈衝CLK2之邊、^
若延遲電路21、22之延遲時間為td,則 2td =tCK 信號CLKHF係由分頻時鐘脈衝cu^ftCK/2,週期2χ tUi的信號。
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五、發明說明(25)
多工器35A係將分頻時鐘脈衝CLK2在延遲電路31令其 延遲tdO之輸出信號〇uTR與由延遲電路21所輸出之cl/hf' (週期2tCK),在延遲電路32輸入令其延遲mq之輸出信 號0UTF ’輸出在信號〇uTR之上升的定時上升,在〇UTF之上 升的定時下降,在信號0UTR之下降的定時上升,在信號 0UTF之下降的定時下降的信號CLK〇e (資料輸出用時^童^ 衝)。此信號CLK0E之週期被視為tCK。而信號〇UTR (週期 2 X tCK )之高階期間與由信號〇UTR延遲tCK/2之信號〇UTF (週期2 X tCK )之上升的定時重疊,信號〇UTR之下降的定 時與信號0UTF之高階期間重疊,在信號0UTR之上升的定時 上升’在虎0UTF之上升的定時下降,在高階之信號〇utf 之下降的定時下降,產生信號CLK0E。 ^ 時鐘脈衝CLK0E係傳播與多工器4同一延遲時間的多工 器36、與輸出緩衝器5同一延遲時間之緩衝器37、與輸入 緩衝器1同一延遲時間之緩衝器38,以信號CLKFBI輸入於 相位檢測器3 3 ’在相位檢測器3 3檢測出時鐘脈衝clk 1與信 號C L K F B I間之相位差,依照相位檢測器3 3之輸出,設置向 上向下計數之計數器34,依照計數器34之輸出,進行切換 延遲電路31、32之分接頭。 多工器4係用構成資料輸出用時鐘脈衝之信號CLK〇E的 上升、下降之定時來切換輸出之資料。 h由分頻時鐘脈衝CLK2之上升邊慢延遲電路 21之延遲時間tCK/2後上升(圖2之箭頭線(1 )),信號 CLKFBH由信號CLKHF慢延遲電路21之延遲時間tCK/2切換
第31頁 1241099 I發明說明⑽ (圖2之箭頭線(2 ))。 31 t ^ i〇fTR由分頻時鐘脈衝CLK2之上升邊慢在延遲電& (圖2之箭頭線(tf)陵在延遲電路31之延遲時間量後下降 遲時,由信號CLKHF之上升慢在延遲電路32之延 下(圖2之箭頭線(4)) ’由信號clkhi^ (6)) 路32之延遲時間量後下降(圖2之箭頭線 貝料輸出用時鐘脈衝CLK〇E在信號〇UTR之上升的定時 升:4 广箭碩線(7 )),在慢tCK/2之信號0UTF的上 升日守下,(圖2之箭頭線(8))。 接著’資料輸出用時鐘脈衝(:1^〇£,在信 的下降時下降(圖2之箭頭線(1 〇 ))。 因而,資料輸出用時鐘脈衝CLKOE之脈衝寬度即成 tdO + tCK/2 -tdO = tCK/2。 把多工器36、緩衝器37、38之各個延遲時間訂為 td3、td2、tdl時,信號CLKFBI之上升邊係慢由信號CLK〇E 之上升邊’加算多工器3 6、緩衝器3 7、3 8之延遲時間 tdl + td2 + td3 分(參照圖2 之(11 ))。 由於信號CLKFBI之上升邊係用以控制與其說是與成為 現在之信號CLKFB I的發射源之時鐘脈衝clk,不如說是與n 週期後之時鐘脈衝CLK1之上升邊(由時鐘脈衝CLK之週期
1241099 五、發明說明(27) 二始時刻慢輸入緩衝器i之延遲時間⑻分)一致,所以以 成為發射源之輸入時鐘脈衝κ 號α圆之上升邊即為衝CLK之上升的定時為標準,信 ntCK+tdl 因此,信號CLK0E之上升邊的定時為 ntCK+tdl - (tdl+td2+td3 ) = ntCK —td2 - td3
之f 由5 ί 貝料輸出傳播路徑中,由信號CLK0E i 升邊,®夕工器4之輸出的延遲時間為 器5之延遲_川2 (圖2之(12) ^出^衝 之輸出定時為 貝枓輸出化糊
(ntCK —td2 —td3 ) +td3+td2 =n t CK 亦即’時鐘脈衝CLK之時鐘脈衝週期的開始時刻 鐘脈衝CLK之上升)與資料輸出信號DQj之輸出定時、。 又,時鐘脈衝CLK0E之下降邊的定時由上升邊 。 tCK/2,下一個第2資料輸出信號DQj之輸出定時1 鐘脈衝CLK之時鐘脈衝週期的開始時刻至代以?的定·、日田時 更且,由下一個時鐘脈衝CLK0E之上升邊('自^時/ 上升慢tCK ),在經由多工器4之資料輸出傳播路/次之 多工器4之輸出的延遲時間為td3,輪出緩衝器5二T ’因 間為td2,所以第3之資料輸出信號DQj之輸出°定時^遲時 (ntCK —td2 —td3 ) +td3 + td2 +tCK 成為
—ntCK + tCK
1241099 五、發明說明(28) - 亦為時鐘脈衝CLK之下一時鐘脈衝週期的開始時 定時(圖2之(16))。 又,時鐘脈衝CLK0E之下降邊的定時係由上升邊p tjK/2,第4之資料輸出信號DQj之輸出定時即為由時^脈 衝CLK之下一時鐘脈衝週期的開始時刻變成代以^的定 (圖2之(1 8 ))。由以上,進行如圖2所示之動作^、 如圖2所示,在時鐘脈衝CLK之2時鐘脈衝週期,依照 信號CLK0E,輸出4個資料輸出信號,各資料輸出 均相 等為tCK/2。 / u π 其次,說明關於本發明之第2實施例。圖3係顯示本發 明第2實施例之構成圖。若參照圖3,在此實施例之^κ/2 產生DLL2中,將輸入時鐘脈衝CLK1以分頻電路6之2分頻時 鐘脈衝,或將通常(不分頻)時鐘脈衝用開關SW1切換成 令其使用可能,在輸出入補償DLL電路3中,也將輸入時鐘 脈衝CLK1B (時鐘脈衝CLK1之互補信號)以分頻電路^之2 分頻時鐘脈衝,或將通常(不分頻)時鐘脈衝 切換成令其使用可能。又在輸出入補償心用=吏W2不 通過修正工作(DCC )功能,可用開關SW4選擇。以下說明 關於與圖1所示之實施例的不同點。 在tCK/2產生DLL2中,圖1之延遲電路21,包含:粗調 延遲電路(CDL)21—1 ;微調延遲電路21一2,輸入粗調 延遲電路(CDL ) 21 — 1 ;微調延遲電路21 一3,將粗調延 遲電路(CDL ) 21 -1之輸出信號輸入以反相器27 —1反轉 後之信號;微調延遲電路21 - 2、21 — 3之輸出0UTA1、
1241099 五、發明說明(29) 一 ''—----- 0UTA2係輸入至多工器26—1以單相(single end) 口 CLKHF輸出。圖i之延遲電路22亦由如下各部份所 S唬 調延遲電路(CDL) 22-1 ;粗調延遲電路(CDL) 22战;杈 輸出的正轉輸出;微調延遲電路22_2、22—3,輸入」之 反相器27 —2之反轉輸出;以及微調延遲電路22 1由 3之輸出0UTB1、0UTB2係輸入於多工器26 — 2,再以單2〜 (single end )之信號CLKFM輸出,輸入於相位檢測^ 2 3 ° ° 將相位檢測器23之輸出當作輸入之計數器24, 粗凋延遲電路2 1 — 1、2 2 — 1及微調延遲電路2 1 _ 2、2丨_出 3、2 2 — 2、2 2 — 3的分接頭之切換信號。 在輸出入補償DLL電路3中,圖1之延遲電路31包含· 粗凋延遲電路(CDL ) 3 1 — 1 ;粗調延遲電路([π ) 3 1〜 之輸出的正轉輸出,微調延遲電路一2、3i_3,輸入 藉由反相器40—1反轉輸出;微調延遲電路31_2、31〜將 之輸出0UTR1、〇UTR2係在多工器35_2,以單相之信號^ CLKREP輸出。圖1之延遲電路32亦包含:粗調延遲電路 (CDL) 32-1 ·’粗調延遲電路(CDL) 324之輸出的正 輸出·,微調延遲電路32—2、32—3,輸入將藉由反相器4〇 一 2反轉輸出;以及微調延遲電路32—2、32—3之輸出 OUTF1、OUTF2係與微調延遲電路31 — 2、31 _3之輸^ OUTR1、0UTR2同時輸入於多工器35—1,多工器35 — 1係幹 出資料輸出用之時鐘脈衝CLK0E,供應給多工器4,在多= 器4 ’依照資料輸出用之時鐘脈衝c l K 〇 E,選擇輸出資料, 1241099 五、發明說明(30) 由輸出緩衝器5輸出資料DQ j。 多工器35—2係輸入信號OUTR1與OUTR2,由各上升邊 輸出上升及下降之定時所規定之單相的信號CLKREp,信號 CLKREP輸入於與多工器4同一延遲時間的虛設之多工器 36 ’虛設之多工器36之輸出信號係輸入於與輸出緩衝器5 同一延遲時間的虛設之緩衝器37,輸出互補時鐘脈衝 RCLK、RCLKB,輸入互補時鐘脈衝rcLK、RCLKB,具備與輸 入緩衝器1同一延遲時間的虛設之緩衝器3 8,虛設之緩衝 器38輸出單相之信號CLKFBI,信號CLKFBI輸入於相位檢測 器33 〇 將相位檢測器33之輸出當作輸入的計數器34係輸出粗 调延遲電路31 —1、32—1及微調延遲電路31—2、31 — 3、 3 2 — 2、3 2 — 3之分接頭的切換信號。 圖3所示之構成中,不使用DCC功能時,在開關Sw4, 以延遲電路32-1之輸入,不連接由tCK/2產生DU2所輸出 之CLKHF,選擇開關SW2之輸出。在輸出入補償虬^中,選 擇在開關SW2分頻電路6A之分頻輸出或輸入時鐘脈衝 CLK1B 。 而,輸入緩衝器1B係與輸入緩衝器丨之輸入端子反相 輸入,輸出係與輸入緩衝器}之輸出CLK1反相。另一方 面,使用DCC功能時,在開關SW4,以延遲電路32 之輸 入,由tCK/2產生DLL2所輸出之信號CLKHF的正相, ^ 信號,在開關SW3選擇。 ’ 1 以輸入於tCK/2產生DLL2之時鐘脈衝,在開關SW1選j
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2分頻時鐘脈衝CLK2時,在輸出入補償儿以之開關別2 選擇2分頻時鐘二衝。在此情況下’定時 所示之動作。代替使用如圖2所示,信號〇UTR、〇utf = 邊緣,在本實施例,如圖4所示,輸出信號〇utri、兩 0UTR2、01ΙΤΠ、〇UTF2,用信號〇UTRl、〇um、〇um、 0UTF2之上升邊作成信號CLKOE (參照圖4之箭頭線( (9 )與(10 ) 、(11 ) ) 〇 在tCK/2產生DLL2通常選擇時鐘脈衝,在輸出入補 DLL3通常亦將選擇時鐘脈衝時之動作當作與圖2〇所示之1 作相同。 在開關SW4,選擇No-DCC,DCC功能不選擇時,只有於 出入補償DLL3作動,輸出入補償DLU除由輸入緩衝器1對〃〗 時鐘脈衝CLK1,由粗調延遲電路及微調延遲電路。 —2、31 — 3所組成,輸入緩衝器“對反相時鐘脈衝 CLK1B,由粗調延遲電路32 — 1,微調延遲電路32 _2、32 —3所組成外,基本上與圖丨8所示之構成相同。 其次,說明關於本發明之第3實施例。圖5顯示本發明 第3實施例之構成圖。若參照圖5,此實施例係在圖2 〇所示 之構成中’由計數器24、34之分接頭選擇信號,裝置閂鎖 之閂鎖電路(校準器)2 5、3 9。 在tCK/2產生DLL·電路2 /中,校準器25係將由計數器 24之分接頭選擇信號,在延遲電路21之輸出信號CLKHF之 上升邊閃鎖的構成。在此實施例中,校準器2 5之閂鎖定時 很重要’只因使用延遲電路21之輸出信號CLKHF之上升
第37頁 1241099 五、發明說明(32) 邊,在分接頭切換中,被視為無危險。 在^之上升邊^父準器25閃鎖由計數器24之分 接頭選擇信號,用以在所閂鎖之信號切換延遲電路2 u 之分接頭,如參照圖14所說明,不會產生危險。亦即,由 延遲電路21之輸出分接頭所輸出之信號CLKHf的上升時, 在延遲電路21、22並不存在有傳播圖14之分接頭(D1〜D2 )的時鐘脈衝(在延遲電路21由輸出分接頭輸出,延遲電 路22正是信號所輸入之處),在此時,進行切換分接頭之 八在輸出入補償DLL3 —中,校準器39係將由計數器34之 二,=選擇信號,在信號CLK0E閂鎖的構成。校準器39在 二蚀彳5唬CLK〇E之上升邊閂鎖分接頭選擇信號,由於在所 言號切換延遲電路31、32之分接頭,如參照圖13及 '•明,不會產生危險。亦即,在輸出clk〇e之上升 〇uTF!f:r^系由延遲電路31所輸出之時刻,由於信號 R慢輸出,所以在延遲電路31及延遲電路32中, 頭:ii?分接頭的時鐘脈衝,在此刻,進行切換分接 同,所以二備权準器25、39之構成以外,與圖20所示相 叫,所以省略說明。 明第4實入於=明&關於本發明之第4實施例。圖6係顯示本發 在於屮入ί t擇6號的閂鎖電路(校準器)39。 仕箱11出入補償m I q // + _L_U、、壮 分接頭選擇信號,在路T之J39係將由計數器34之 仕^遲電路31之輸出信號CLK0E問鎖的 1241099
構成。 其次’說明關於本發明第5實施例。圖7係顯示本發明 第5實施例之構成圖,若參照圖7,此實施例係圖丨所示之 具備分頻電路6的構成中,在tCK/2產生DLL2、輸出入補 償DLL3 π具備閂鎖由計數器34之分接頭選擇信號的閂鎖電 路(校準器)校準器25、校準器39。在延遲電路21、22、 延遲電路31、32之分接頭切換時,不會產生危險。 圖8係顯示該各實施例之輸入緩衝器1、1β構成例圖。 圖8 (a)所示之輸入緩衝器以差動電路構成,信號源共同 連接,連接於恒流電源N通道m〇S電晶體MN103 (活性化信 號連接於門脈衝,備用時視為關閉),門脈衝各裝置連°接 於差動輸入端子1、丨⑽之差動對電晶體MN101、龍1〇2與 依照差動對電晶體MN101、MN102之漏極與電源VDD間所連 =:流=糊01、MP1〇2之有源負荷,連接於差動對 =之ί =產生進行波形整形之缓衝器的反相器 LK…Λ*入端子IN1、ΙΝ2,輸入差動時鐘脈衝 :Β 端子’輸出單相知信咖卜 圖8 (b)所示之輸入緩衝器係在圖8⑷之 置二個P通道M0S電晶體Mpinq uD! π , 裴 體_〇3、MN1〇4 二04,二細通道廳電晶 差,確保㈣發脈料ί之=下降的㈣延遲時間 用於SDRM之輸人接收機電:格的儲備’被視為正適合利 若參照圖8 ( b ),活把士& 之N通道M0S電晶體MN105,在差。連接於已連接於門脈衝 社是動輸入端子INI、IN2連接 1241099 五、發明說明(34) 門脈衝’在信號源共同連接構成差動對之電晶體ΜΝ1〇1、 MN102,各裝備並列之電晶體MN1〇3、MN1〇4 ,構成電流鏡 之P通道M0S電晶體MP101、ΜΡ1〇2,各裝備並列之p通道M〇s 電晶體MP103、ΜΡ1〇4,N通道M0S電晶體MN103、MN104之門 脈衝係共同連接後,連接於N通道M0S電晶體MN1 01之漏 極。在P通道M0S電晶體MP103、MP1 04之門脈衝各連接差動 輸入端子INI、IN2。在差動輸入端子INI、IN2輸入CLK、 CLKB,輸出由輸出端子out之CLK1。而圖8 (b )所示構成 之詳細,可參照日本專利第30 6 1 1 2 6號公報。
圖9 ( a )係顯示圖1之相位檢測器2 3 ( 3 3 )的構成之 一例的圖。包含:反相器INV2〇i,輸入分頻時鐘脈衝 CLK2 ;反相器INV202,輸入信號CLKFBH ;反及電路 NAND201,輸入將分頻時鐘脈衝clk2在反相器INV201反轉 之信號與將信號CLKFBH在反相器INV202反轉之信號;令分 頻時鐘脈衝CLK2在接通狀態之傳送門脈衝TG1令其延遲之 佗號,NAND202 ,輸入將信號CLKFBH在反相器INV202反轉 之信號;RS正反器,由NAND203及NAND204所構成; NAND203之輸出信號;NAND205,輸入將反相器INV2〇2之輸
出信號在反相器INV20 3反轉之信號;NAND2〇6 ,輪入 NAMD204之輸出及反相器⑺”⑽之輸出信號;以及RS正反 器,由NAND207及NAND208所構成,輸出由ΝΑ〇2〇8之輸出 的檢出信號UPH。在相位檢測器33中,若比較信號CLKFBI 與時鐘脈衝信號CLK1時,NAND20 7之輸出可以用來檢出信
1241099 五、 發明說明(35)
(认)之相位檢測器係以反饋信號CLKFBI/CLKFBH :ί後:。出ίΚ;時鐘脈衝信號CU1/CLK2的相位 之2、惠 出信號UPI/UPH的構成。對信號 (^ 例如汁數完了,令增大於延遲電路 92:、上又;圖"之延遲量,輸出用以切換延遲電路 惠V相1接頭的分接頭控制信號。又對信號CLKFBH之上 升邊分頻時鐘脈衝CLK2之上升邊的相位 變:參,⑷),在計數器34(參照圖 數計數,令減少於延遲電路21、22 (參照圖!)之延遲 量,輸出用以切換延遲電路21、22之分接頭的分接頭控制 信號。 對信號CLKFBI之上升邊時鐘脈衝CU1之下降邊的相位 超前時,信號UPI變高(參照圖9 (b )),在承受此情況 之計數器34(參照圖n ,令增加於延遲電路31、32 (參 照圖1 )之延遲里。對化號CLKFBI之上升邊時鐘脈衝 之下降邊的相位超前時,信號UPI變低(參照圖9 (b) ),在計數器34,以控制延遲電路21、22之分接頭的切 換’來令延遲電路21、22之延遲量減少。 圖10係顯示圖1之分頻電路6、圖3之分頻電路6A之構 成圖的一例,如圖1 0 ( a )所示,用D型正反器與反相器 INV構成2分頻電路。如圖1〇 (b)所示,由如下各部分所 構成.時#里脈衝反相器501,D型正反器之時鐘脈衝clki在
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低階變成輸出賦能;反相器5 〇 2,輸入端與輸出端互相連 接’主閃鎖部,由時鐘脈衝CLK1在高階變成輸出賦能之時 鐘脈衝反相器5〇3所構成;時鐘脈衝反相器504,時鐘脈衝 CLK1變成高階輸出賦能;反相器5 〇 5,輸入端與輸出端互 相連接;以及從動閉鎖部,由時鐘脈衝CLK丨在低階變成輸 出賦能之時鐘脈衝反相器5 0 6所構成。反相器5 0 7係反轉D 型正反器之輸出Q後供應資料輸入端子D。時鐘脈衝“^在 ,階時’主閂鎖部之時鐘脈衝反相器5 0 1會開機,輸入信 號由反相器5 0 2輸出,時鐘脈衝CLK 1在高階時,在主閂鎖 部’時鐘脈衝反相器5 〇 3會開機,反相器5 〇 2、5 0 3構成正 ^ 反器後閃鎖輸入信號,從動閉鎖部之時鐘脈衝反相器5 〇 4 會開機’將反相器502之輸出在反相器504、505反轉後輸 出"ί吕號。 圖11係顯示圖5、圖6、圖7所示之校準器2 5、3 9的1位 元^料分的構成,以D型正反器構成。圖丨丨(b )係顯示校 準器25、39之1位元資料分(計數器24、34之1位元分)之 主從方式閂鎖電路的構成例。此D型正反器係將計數器輸 出,在k號C L K H F / C L Κ Ο E之上升邊閃鎖。亦即,信號g (CLKHF/CLKOE:)在低階時,主閃鎖部之時鐘脈衝反相器 1開機,資料d (正轉邏輯)由反相器6 〇 2輸出,信號◦在 高階時,在主閂鎖部,時鐘脈衝反相器6 〇 3會開機,反相 器6 0 2 6 0 3構成正反器閂鎖資料,從動閉鎖部之時鐘脈衝 反相器6 04會開機,將反相器6〇2之輸出在反相器6〇4、6〇5 反轉後輸出信號。
第42頁 1241099 五、發明說明(37) 圖1 2係顯示圖1之多工器3 5 A的構成圖之一例。若參照 圖1 2,此多工器包含:信號0UTR ;反或(EXN〇R )電路/ 、 3〇3 ’輸入將信號0UTR用延遲電路3(H與反相器3〇2令其延 遲反轉之信號;反相器304,反轉EXN0R電路303之輸出; k號OUTF ; EXNOR電路311 ’輸入將信號〇UTF在延遲電路 3〇9與反相器310令其延遲反轉之信號;反相器312,反轉 EXNOR電路311之輸出;p通路M〇s電晶體Mp21,信號源端子 連接於電源VDD,反相器304之輸出端子連接於門端子.N 通路MOS電晶體MN22,在p通路M〇s電晶體Mp 21之漏極端子 連接漏極端子,在門端子,將EXN〇R電路311之輸出信號在 由電晶體MP22、MN23所構成之傳送門脈衝輸入令苴延遲之 k f P通路膽電晶體MP2 i之漏極端子與N通路m〇s電晶體 MN22之漏極端子的連接點連接輸出端子〇ut〇e,資料輸 用之時鐘脈衝信號CLKOE (參照圖!)即可輸出。、 更包含:P通路MOS電晶體MP23,於電源彻連接源極 二N2’4已H端子連接反相器312之輸出;N通路廳電晶 Γ在二:路M0S電晶雜23之漏極端子連接漏極端 Μ ί :播ΓΧ:Κ電路3°3之輸出信號在由電晶體 MP24 MN25所構成之傳送門脈衝輸入令其延遲之信 ΐ 子電的晶遠體』P23鱼之漏極端子_通路_電晶“之
5 ^^KOEB HLK0E之互補信號)即可輪 不用CLKOEB (CLK0E之互補=使=早相信號CLK0E, MP23與N通路M0S電晶體職24、儿電曰:通電晶體 冤日日體MP24、MN25所構成之 1241099 五、發明說明(38) 傳送門脈衝的構成即可省略。 以下說明關於圖1 2所示之多工器的操作。此多工器係 在信號0UTR之上升時,由EXN〇R電路3〇3,在延遲電路3〇1 $反相器302之延遲時間所規定之脈衝輸出,接受在反相 器3 04反轉之低階的脈衝信號之p通路mqs電晶體Mp2i即開 機’將輸出端子OUTOE上牽至電源電位VDD當作高階。
接著,信號OUTF之上升時,由ExNOr電路3U,在延遲 電路3 0 9與反相器310之延遲時間所規定脈衝寬度之脈衝輸 出’在傳送門脈衝令其延遲之信號在門端子所輸入之N通 路MOS電晶體MN22即開機,輸出端子0UT0被視為低階。 又,信號OUTR下降時,由ExN0R電路輸出延遲電路3〇1 與反相器302之延遲時間所脈衝寬度的脈衝,將在反相器 304反轉之脈衝輸入低階的ρ通路M〇s電晶體Μρ21即開機, 輸出端子OUTOE變成高階。 信號OUTF下降時,由ExN0R電路3U,輸出延遲電路 309與反相器310之延遲時間的脈衝寬度所規定之脈衝,在 傳送門脈衝令其延遲的信號輸入於門脈衝之Ν通路M〇s電晶 體MN22即開機,輸出端子〇ut〇e變成低階。
圖1 3係顯示圖3之多工器3 5 — 1之構成圖的一例。若參 照圖13,具備有:電源VDd與電源VSS間縱擺而連接之p通 路M0S電晶體MP21、MP22、N通路M0S電晶體MN21、MN22 ; 在P通路M0S電晶體MP21、MP22、N通路M0S電晶體021、 MN22 之 Η 端子輸入信號 0UTR2、0UTFi、〇UTRi、〇υτη。 電源VDD與電源VSS間具備有:縱擺而連接之ρ通路
第44頁 1241099 五、發明說明(39)
電晶體MP23、MP24、N通路M0S電晶體MN23、MN24 ;在P通 路M0S電晶體MP23、MP24、N通路M0S電晶體MN23、MN24之 門端子輸入信號0UTR1、0UTF2、0UTR2、0UTF2 通路M0S 電晶體MP22之漏極端子與N通路MOS電晶體MN21之漏極端子 的連接點與P通路M0S電晶體MP24之漏極端子與N通路M0S電 晶體MN23之漏極端子的連接點彼此之間相互連接,輸入於 反相器INV21之輸入端子。 電源VDD與電源VSS間具備有:縱擺而連接之P通路M0S 電晶體MP31、MP32、N通路M0S電晶體MN31、MN32 ;在P通 路M0S電晶體MP31、MP32、N通路M0S電晶體MN31、MN32之 門端子輸入信號0UTF1、0UTR1、0UTF2、0UTR1。 電源VDD與電源VSS間具備有:縱擺而連接之P通路MOS 電晶體MP33、MP34、N通路M0S電晶體MN33、MN34 ;在P通 路M0S電晶體MP33、MP34、N通路M0S電晶體MN33、MN34之 門端子輸入信號0UTF2、0UTR2、0UTF1、0UTR2 通路M0S 電晶體MP32之漏極端子與N通路MOS電晶體MN31之漏極端子 的連接點和P通路M0S電晶體MP34之漏極端子與N通路M0S電 晶體Μ N 3 3之漏極端子的連接點彼此之間相互連接,輸入於 反相器INV31之輸入端子。 反相器INV21之輸出信號係通過反相器INV22,輸入於 電源VDD源極端子所連接之Ρ通路M0S電晶體ΜΡ25的栅極端 子,反相器I NV3 1之輸出信號係通過傳送門脈衝(由電晶 體ΜΡ26、ΜΝ26所構成,經常呈開機狀態),源極端子輸入 於電源VSS所連接之Ν通路M0S電晶體ΜΝ25的柵極端子,Ρ通
第45頁 1241099 五、發明說明(40) 電晶鑛25之漏極端子與N通 極端子共同連接後再與輪出端子〇UT〇E連接。體N25之漏 反相器I N V 3 1之輪出^士缺於、文 端子,反相器題!之;晶體mp35的柵極 出仏就係通過傳送門脈衝(由雷 晶體MP36、酬6所構成,、經常開機狀態),源(由電 於電源VSS所連接之N通路M〇s電晶體關35的柵極端1 路⑽S電晶體MP35之漏極端子與N通路M〇s電晶體關35之漏^ 極端子共同連接後,再與輸出端子〇UT〇EB連接。若不 CLK0E之互補#唬CLK0EB時,p通路M〇s電晶體Mp35、n通路 M0S電晶體MN35、反相器1訂32、電晶體MP36、MN36可省 略。 以下說明圖1 3所不之多工器的操作。在信號〇UTR1之 上升(化號0UTF 1是高階)(圖4之(7 ) ) ,n通路MOS電 晶體MN21、MN22開機,節點N1放電,通過反相器INV2i、 22傳輸’在P通路M0S電晶體MP25之柵極端子施加低階,輸 出端子0UT0E充電,信號CLK0E上升。 在^號0UTF2之上升(信號〇UTRl是高階)(圖4之(9 ))’ N通路M0S電晶體MN3 1、MN32開機,節點N2放電,在 反相器INV31反轉之信號,通過傳送門脈衝(.26、MP26 )傳輸’在N通路M0S電晶體MN25之拇極端子施加高階,輸 出端子0UT0E放電,信號CLK0E下降。 在信號0UTR2之上升(信號0UTF2是高階)(圖4之 (1 0 ) ) ,N通路M0S電晶體MN23、MN24開機,節點N1放
第46頁 1241099 五、發明說明(41) 電,通過反相器INV21、22,在P通路M〇s電晶體Mp25之柵 極端子施加低階,輸出端子0UT0E充電,作號CLK0E上升。 在#號0UTF1之上升(信號〇UTR2是高階)(圖4之 (1 1 ) ) ’ N通路M0S電晶體MN33、MN34開機,節點N2放 電’在反相器I N V 3 1反轉之信號,通過傳送門脈衝 (MN26、MP26 )傳輸,在N通路M0S電晶體MN25之柵極端子 施加高階,輸出端子0UT0E放電,信號clk〇E下降。 卽點N1係號0UTR2、0UTF1均為低階,或信號 0UTR1、0UTF2均為低階時充電,此時p通路M〇s電晶體Mp25 認定為開機。 節點N 2係信號〇 U T F 1、0 U T R1均為低階,或〇 u T F 2、 0UTR2均為低階時充電,此時p通路M〇s電晶體Mp35認定為 關機。 以上,說明了就本發明之適用DDR _SDRAM的實施例。 ^發明同樣適用於實現修正工作功能之任意的1)1^,輸入 W 4里脈衝及令輸出時鐘脈衝的相位一致的任意用途之 DLL。在該實施例中,由計數器24、35,將輸出於延遲電 路21、22、延遲電路31、32之分接頭選擇信號,當作時常 麦化1位元之格雷碼(Gray Code)也可。 亦即’本發明並不是只限定於該實施例之構成,在專 利明求範圍之請求項的發明範圍内,只要是從事該職業的 人’當然包含達成與否之各種、變形、修正者。 [發明之效果]
第47頁 1241099 五、發明說明(42) 如以上之說明,若使用本發明,將 後之信號,藉由構成DCC功能之DLL,有^時鐘脈衝分气 消耗之效果。 有減低操作時之電_ 將本發明實施於DDR -SDRAM等時,可# 流消耗,又可補正因時鐘脈衝相位差:低操作時之電丨 功能之偏差,亦有在正確之週 ,之時鐘脈衝信號 i tru夕9八,、 月c例如時鐘脈衝週期 (tCK)之2分之:!)可輸出資料的效果。 衝迥』 接頭5八垃右使用本發明由設置閂鎖選擇延遲電路合 接頭之分接頭選擇信號的電$ 弹、遲電路分 分接頭切換時之产咚,α、二以避DLL之延遲電路的 提尚可靠性之效果。 Ύ便铩作女疋,特別 第48頁 1241099 圖式簡單說明 圖1 1s _ 二-員不本發明第1實施例之構成圖。 酸| Z >[手to 圖3 C Γ以說明本發明第1實施例之定時操作圖。 二糸顯示本發明第2實施例之構成圖。 15| 4: ^ 圖5儀Γ以說明本發明第2實施例之定時操作圖。 ie係ΐ示本發明第3實施例之構成圖。 圖7係本發明第4實施例之構成圖。 圖8 (、a、員不本發明第5實施例之構成圖。 輪入緩衝^)( b )係顯示在本發明之實施例中所使用之 裔的構成圖。 圖9 ( a )俏_一 測比較器的椹,、、”肩不在本發明之實施例中所使用之相位檢 圖10 (a)成圖、(b) 、 (c)係其操作之說明圖。 之分頻電肽^姐、(b )係顯示在本發明之實施例中所使用 电絡的構成圖。 圖 11 (a ) ^ 之校準器的構成圖b )係顯示在本發明之實施例中所使用 圖1 2係顯示t 的構成圖。 备明之第1實施例中所使用之多工器 圖W係顯示在太又 的構成圖。 x明之第2實施例中所使用之多工器 圖Μ係顯示征、屈+ 圖υ係用以說^路之部分構成圖。 生圖。 延遲電路中分接頭切換時之危險發 圖1 6係用以說明在 / DCC功能之關係圖。 °憶體系統中時鐘脈衝相位差與 1241099 圖式簡單說明 圖1 7係顯千— 圖18係顯示、:憶體系統之構成的模式圖。 ㈣係用之脇電路的構成圖。 _係顯示;=之電路的定時操作圖 圖21係用以二用之DLL電路之構成圖。 °兄明圖2 0之電路的定時操作圖 〔符號說明〕 1、1 B〜輸入緩衝器 3 、3 / 、3々、2β〜tCK/2產生DLL電路 4〜多工器(資料3^工=〜輸出入補償DU電路 5〜輸出緩衝器 器) 111〜緩衝器 、6 A〜分頻電路 11-1 21〜延遲電路 2 1 — 1〜粗調延遲電路 21 2 21 一 3〜微調延遲 22〜延遲電路 电路 22 —1〜粗調延遲電路 22 —2、22 —3〜微調延遲電路 2 3〜相位檢測器 24〜計數器 25〜校準器 26 —1 、26—2〜多工器
第50頁 1241099 圖式簡單說明 27 — 1、27 — 2〜反相器 31〜延遲電路 31 —1〜粗調延遲電路 31 — 2、31 — 3〜微調延遲電路 32〜延遲電路 32—1〜粗調延遲電路 32—2、32-3〜微調延遲電路 3 3〜相位檢測器 34〜計數器 35、35A、35B、35 — 1 、35 —2〜多工器 36〜多工器 37、38〜緩衝器 39〜校準器 40 — 1、40 — 2〜反相器 50〜記憶體控制器 5 1〜記憶體 5 2〜時鐘脈衝原始源 301、30 9〜延遲電路 30 2、304、310、31 2〜反相器 303、311〜反或電路 501、503、5 04、50 6、60 1、603、604、60 6〜時鐘脈衝反 相器 5 0 2、5 0 5、6 0 2、6 0 5 〜反相器
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Claims (1)

1241099 六、申請專利範圍 1· 一種半導體積體電路裝置,具有第〗 2延遲鎖定迴路及第3多工器; 噶弟1延遲鎖定迴路、第 该第1延遲鎖定迴路包含·· w輸入緩衝器,輸入時鐘脈衝传 b)分頻電路,輪入由該輸入緩衝ς所 信號,將該輸入接士 ^所輸出之時鐘脈徐 。第!延遲J時鐘脈衝信號分頻輸出; 鐘脈衝信號’ #由延遲時間各異電路所輸出之分頻時 J擇之輸出分接頭,輸出令該分=出分接頭中所 號; f釦脈衝信號延遲之信 d) 第2延遲電路,輸入該第 由延遲時間各異之 =遲電路之輪出信號,藉 頭’輸出令該第1延遲電路^輸刀接頭中所選擇之輸出分接 e) 第1相位檢測::二出唬延遲之信號; 時鐘脈衝信號與由該分頻電路所輸出之分頻 此等信號的相位差. 所輸出之信號,檢驗出 f) 第1計數器Λ Βθ ia ° 接受该第1相位拾:目丨I哭a a 照:位之超前、滞後,”之輪出信號,依 延遲電路與該第2 ,輸出用以切換該第1 號; 電 輪出分接頭的分接頭選擇信 該第2延遲销 a)第3=迴路包含: 鐘脈衝信號,藉由輸入由各亥分頻電路所輪出之分頻時 選擇之輪出分接頭,異之複數個輸出分接頭中所 貝輪出令该分頻時鐘脈衝信號延遲之信
第52頁 1241099 六、申請專利範圍 號; b) 第4延遲電路,輸入該第1延遲電路 — 由延遲時間各異之複數個輸出分接頭中所$輪出信號,藉 頭’輸出令該第1延遲電路之輸出信號延選擇之輪出分接 c) 第1多工器,輸入該第3延遲電路之信號; 4延遲電路之輸出信號,藉由此二個輪出伸二出信號與該第 邊,規定脈衝之上升及下降的定時/輸出δ破各自之上升 信號之各下降邊,規定下一脈衝二 g由該二個輸出 號; 升及下降的定時之信 d) 虛設之第2多工器,輸入該第1多工 具備: 為之輸出信號, 號 1 )虛設之第1缓衝器,輸入該第2多工V ^ 具有與輸出緩衝器相同延遲時間; 杰、之輪出信 號 2)虛設之第2緩衝器,輸入該第!緩衝器 具有與輸入緩衝器相同延遲時間; °之輪出枱 e) 第2相位檢測器,輸入由該輸入 鐘脈衝信號與由該虛設之第輸2輸出之時 出此等信號的相位差;以及’所輸出之信號,檢驗 f) 第2計數器,接受該第2相位檢測罘 照相位夕妒今赚# ^ 仪檢劂态之輪出信號,依 延遲電ΪΪ;乙 值’輸出用以切換該第3 號;電路與该第4延遲電路之輸出分接頭的分接頭選擇信 該第3多工器,將由該第丨多工器所輸出之信號以資料 别出用時鐘脈衝輸入,選擇所輸入之複數個資料^一輸
1241099 — ^ 六、申請專利範圍 出,· 該第2多工器與該第3夕 ^ 該輪出緩衝器係輪Α二,器具有同一延遲時間, 由輸出端子的輸出資料來::亥第3多工器所輸出之信號 2· 一種半導體積體電路 2延遲鎖定迴路及第3多工器直,/、有第〗延遲鎖定迴路、』 該第]延遲鎖定迴路包含σ · a) ,入緩衝器,輸入時鐘 b) 第1延遲電路,輪 唬, 脈衝信號,藉由延遲時間 ^輸入緩衝器所輸出之時鐘 擇之輪出分接頭,dc固輪出分接頭中所選 遲的信號; ^輸緩衝器所發出之信號延 c) 第2延遲電路,輪 接頭,輸出令該第!延遲電 :中所選擇之輪出分 d) 第1相位檢測器,輸入由^戒延遲之信號; 鐘脈衝信號,與該第2延遲電路衝器所輸出之時 信號的相位差; 則出化號,檢驗出此等 e) 第1計數器,接受該第1相位口 照相位之超前、滯後,改變計數值Γ =之輸出信號,依 延遲電路與該第2延遲電路之 ^出用以切換該第i 號;以及 刀接碩的分接頭選擇信 f )第1校準器,將由該第1延 哥路所輪出之信號,以 1241099 六、申請專利範圍 閃鎖定時信號輸入’閃鎖由該 選擇信號,供應該第1延遲電路应:J咨所輸出之分接頭 該第2延遲鎖定迴路包含·· /、该第2延遲電路; a) 第3延遲電路,輸入由嗲 脈衝信號,藉由延遲時間各異z輪入緩衝器所輸出之時鐘 f之輸出分接頭,輸出令由該輪U5出分接頭中所選 衝號延遲之信號; 緩衝益所發出之時鐘脈 b) 第4延遲電路,輸入 由延遲時間各異之複數個輸出分$:;路之輪出信號,藉 碩,輸出令該第1延遲電路所選擇之輪出分 C)^多工器,輸入=出^就延遲之信號; 4邊延遲規電,之輸出信號,藉由此二個電輸路出义出/號與該第 邊,=脈衝之上升及下降的定時,虎各自之上升 之各下降邊定之下-脈衝之上該二個輸出 1舌旒; 之上升及下降的定碑的 d)虛設之第2多工考,於 具備: ……亥第1多工器之輸出信號, 號 號 Ο虛設之第1緩衝器,輸入該 具有與輸出緩衝器相同延遲時間,·夕工益之輪出信 2)虛設之第2緩衝器,輸入該第’1 、有與該輸入緩衝器相同延遲時間、、;。。之輪出信 鐘脈衝:公目: 由檢測V輸入由該輪入緩衝器所輪出夕 出此第2緩衝器所輸出之信爽ί時 出。I信唬的相位差; 现,檢驗 _ 1241099 六、申請專利範圍 f )第2言十書ί* ^ 照相位之超前、滞後,又改亥第$ 2檢挪器之輸出信號,依 延遲電路與該第4延遲電^之计輸數出值八,/出用以切換該第3 號,·以及 翰出刀接頭的分接頭選擇信 g )第2校準器,將該 時信號輸入,閂鎖由該 輪出信號,以閂鎖定 號,,第3延遲電路 =工, 该第3多工器,將由 tj:路, 輸出用時鐘脈衝輸入, 為所輪出之信號以資料 出; 、擇所輸入之複數個資料之一輸 該第2多工器與該第3多工器呈有 Γθ1 ? 作由輸出端子輸出之資料來輸出。為所輸出之信號當 3. —種半導體積體電路裝置,具 工器; ^遲鎖疋迴路及第2多 該延遲鎖定迴路包含: a) 輸入緩衝器,輸入時鐘脈衝信號; b) 延遲電路,輸入由該輸入緩衝器 信號,藉由延遲時間各異之複數個^出=時鐘脈衝( 輸出分接頭,輸出令該已輪入之時鐘脈衝;;擇之 號; 可唬延遲的信 c) 虛設之第1多工器,輸入該 具備: 迭冤路之輪出信號, 第56頁 Ϊ241099 >、申請專利範圍 ___ 1) 虛設之第1緩衝器,輸入該第夕 ^ _ 號,具有與輸出緩衝器相同延遲時間1多工器之輸出信 2) 虛設之第2緩衝器,輸入該’…一 有與該輸入緩衝器相同延遲時間;Λ 1緩衝器之輸出,具 d )相位檢測器,輸入由該輪入 一、 · 衝信號,與該虛設之第2緩衝器的鈐衝器所輸出之時鐘脈 信號的相位差·, 翰出信號,檢驗出此等 〇計數器’接受該相位檢測器 之超前、滯後’改變計數值,輪中翰出、谠,依照相位 # 輪出分接頭的分接頭選擇信號;以及M切換該延遲電路之 f )校準器,將該延遲電路之 號輸入,閃鎖該計數器所輸出之:;二擇3鎖定時信 延遲電路; 員選擇彳5唬,供應該 5亥第2多工器,將由該延遲 輸出用時鐘脈衝輸入,選擇所輪入路戶 出; 别八之複數個資料之一輸 3 多工器與該第2多工器具 该輪出緩衝器係輪入由該第之遲時間, 以由輪出端子輸出之資料來輸^2。夕工益所輸出之信號, 4包含如申請專利範圍第1項之半導體積體電路裝置,其中, 路之輪出信多工器輸入該第3延遲電 X弟3延遲電路之輸出信號的上升及 六、申請專利範圍 τ降二;V:/制定之規定寬度的脈衝; 號,輸出該第4延遲::之J4延遲電路之輸出信 時’預先制定之規定寬T的==上升及下降切換 C)相互逆導電型之 ”低位側電源間串聯地連接%出由連;:發:位:電 1吕唬, 黑占發出之輸出 該第1信號產生電路之輸出信號的反轉 第1電晶體之控制端子, "就’供應該 令该第2信號產生電路之輸出信號延遲 應該第2電晶體之控制端子。 4唬,被供 a) 第1粗調延遲電路 b) 第1微調延遲電路 信5虎, C)第2微調延遲電路,輸入將該第^且調 出信號以反,器反轉後之信號;以及 遲電路的 d)第4多工器,輪入該第j微調延遲電4 遲電路的輸出信號,合成單相之信號; 弟2_ 該第2延遲電路包含: a) 第2粗調延遲電路; b) 第3微調延遲電路,輸入該第2粗調延遲電路的輪 5·外如曾t請專利範圍第1項之半導體積體電路裝置,且Φ 該第1延遲電路包含·· 置其中 輸入該第1粗調延遲電路的輸
C)第4微調延遲電路 _ 出^號以反相器反轉輪入將該第2粗調延遲電路 、:之/\號;μ 的輪 遲電路的輸出信號,合\ °亥…第3微調延遲電路及第4微調延 ϋ成單相之信號。 6·如申請專利範圍第1項夕丄 該第3延遲電路包含·、义半導體積體電路裝置,其中, a) 第3粗調延遲電路· b) 第5微調延遲電’ 信號;以及 輸入該第3粗調延遲電路之輸出 c)弟6微調延遲雷敗 .^ ^ c 硌’輸入將該第3粗調延遲電路的輸 出信號以反相恭反轉後之信號; 』 該第4延遲電路包含:"儿’ a) 第4粗調延遲電路; b) 第7微调延遲電路,輸入該第*粗調延遲電路的輸出 信號;以及 c)第8微調延遲電路,輸入將該第4粗調延遲電路的輸 出信號以反相器反轉後之信號; 該第1多工器輸入由該第5至第8微調延遲電路所各輸 出之第1至第4延遲信號,藉由該第1延遲信號及該第4延遲 信號各自之上升邊,輪出上升與下降的定時所規定之信 號;藉由該第2延遲信號及該第3延遲信號各自之上升邊, 輸出上升與下降的定時所規定之信號。
第59頁 1241099 圍 六、申請專利範 具備如第:i利範圍第1項之半導體積體電路裝置,其中, 擇虎,將由該第1計數器所輸出之分接頭選 路^虎加以閃鎖,而供應該第i延遲電路及該第2延遲電 具備如第申2 利範圍第1項之半導體積體電路裝置,其中, 予^Ϊ 由該第2計數器所輸出之分接頭選擇n 予μ閃鎖,㈣應該第3延遲電路及該第4延遲電路擇“虎 更具備申^專/彳6轨圍第1項之半導體積體電路裝置,其中, 頻電路=八瓶自士該輸人緩衝器之時鐘脈衝信號及來自兮丄 及該第1二二Γ脈衝k任-m該第1延遲電 弟1相位檢測器的第1切換開關。 電略 中,=專利範圍第1項之半導體積體電路装置,ι τ 炅具備: 再 時鐘J :2作^二衝器士’產生與由該輸入緩衝器所輪出之 :乜唬互補之時鐘脈衝信號; 之 衝俨,· 2刀頻電路’分頻來自該第2輸入緩衝器之時 衝仏旒;以及 f鐘脈 对卬之時
第60頁 )第2切換開關’選擇來自該第2輸入緩衝器 1241099 六、申請專利範圍 鐘脈衝信號及來自該第 之 乐2为頻電路之刀頻味綠阶朱 一,供應該第4延遲電路 屑日寸釦脈衝中 ^如申請專利範圍第i項之半導體積體電路裝置 中,该第1相位檢測器,以該第2延遲電路之輸出信,、、 準,檢測該分頻時鐘脈衝之相位的滯後、超前,β ^為基 =2相位檢測器’以由該虛設之第2緩衝器:輸 為基準,檢測由該輸入緩衝器所輸出之時鐘脈 k唬 位之滯後、超前。 °就的相 1中2.,: 2專利範圍第2項之半導體積體電路裝置,龙 _ 3玄弟1相位檢測器,以該第2延遲電路之 ^ 準,檢測由該輸入緩衝器所輸 产D唬為基 滯後、超前, T軋出之時釦脈衝信號的相位之 該第2相位檢測考,+兮 為基準,檢測由該輪入緩?Λ之/2緩衝器所輸出之信號 位之滯後、超前。所輪出之時鐘脈衝信號的相 1 3 ·如申請專利筋if)楚q 、 中,該相位檢測3| 由、半導體積體電路裝置,其 號為基準,檢測由节設之第2緩衝器所輸出之信 相位之滯後、超前二衝器所輸出之時鐘脈衝信號的 14. 導體積體電路裝置 其 如申請專利範圍第1項之半
第61頁 1241099 六、申請專利範圍 中,該分頻電路係將仏、, 予以輸出的2分頻電路入信號之頻率的2分之1頻率的信號 15· 一種延遲鎖定迴路穿 及第2延遲電路的延遲日士',’二曰中,調整串聯連接之第i 將輸入信號延遲而成,使得由該第1及第2延遲電路 以將該輸入信號延遲該;3;:?入、信號的相位對準,藉 號由該第1延遲電路輪 仏入说的2分之1週期量而成的信 a) 分頻電路,用1八,包含: ° 以該第1及第2延遲f ^頻該輸入信號; b) 第1延遲調整7 °亥刀頻電路的輸出信號延遲;& 之延遲時間的控制Λ輸出調整該第1及第2延遲電路 第2延遲電路之輪 〜,以使该分頻電路之輸出信號蛊 心掏出k號的相位對準。 u兴遠 1 6 · —種延遲錯 及第2延遲鎖定迴路、裝置裝置’包含第1延遲鎖定迴路裴置 該第1延遲鎖定迴路;:’二:由 電路的延遲時Μ \置串聯連接之第1及第2延遲 延遲而成之信號鱼=由該第1及第2延遲電路將輸入作 信號延遲該輪入;广信號的相位對準,藉以將該;: 延遲電路輪出,分週期量而成的信號由該L Μ分頻電路,田、 以該第1及第2 用以分頻該輸入信號; IIIIHiUIUVUA1 ^vfivfuuT? '——-___ nuA .Ci ul .... b)第1延遲延么電路令該分頻電路的輪出信號延遲.b 遲调整機構,輸出調整該第丨以以‘#及 1241099 六、申請專利範圍 ____ =延遲時間的控制信號,以使該分頻電 f j4遲電路之輸出信號的相位對準; 輪出信號與該 二田2延遲鎖定迴路袭置,依照該輪入作|卢太 ::之時鐘脈衝信號,對選擇複數個資:虎’產生資料輸 應该資料輸出用之時鐘脈衝,具備:、+輪出的多工器供 a) 第3延遲電路,輸入該分頻電路之 遲後輸出第1信號; 輪出k號令其延 b) 第4延遲電路,輸入該第i延遲鎖 信號令其延遲後,@出第2信號; 、路袁置之輸出 c) 一電路,輪入由該第3及 1及第2信號’以該第丨及第2信號的各出 之上升及下降的定時,將以 邊規疋脈衝 規定之下-脈衝之上升及下降的定時? : 下降邊所 資料輸出用時鐘脈衝;以及 、^虎,輸出作為該 ^ ^ # X 3| Γ - β "Γ以使°亥貝料輸出用時鐘脈衝至少 =…之延遲時間量而得的信號與該輸入信號的相 17.如巾請專利範圍第15項之延遲 具備第鎖電路,以該扪延遲電路:二二 第1延遲調整機構之控制信號予 'D〜將來自3亥 第2延遲電路。 “虎予以閃鎖’而供應至該第!及
1241099 六、申請專利範圍 18. 如申請專刹m 具備以該資U:;!16項之延遲鎖定迴路裝置,其中, 之控制信號予二:Br=將來自該第2延遲調整機構 2閂鎖電路。 ’、μ至该第3及第4延遲電路的第 19· 一種延遲鎖定洄攸壯琪 ^ Α 及第2延遲鎖定迴路\路/置直包含第1延遲鎖定迴路裝置 該第'延遲鎖定迴路襄置具備:, a) 苐1延遲雷的 衝器所輸出之時鐘脈二藉卢由Λ入/鐘脈衝信號之輸入緩 脈衝信號輸入,於屮驻:唬、田作在力頻電路分頻後之時鐘 頭中所選擇之輪Ζ :由延遲時間各異之複數個輸出分接 號; 輪出分接頭令該分頻時鐘脈衝信號延遲= b) 第2延遲雷?々 土 出藉由延遲時間異;入:第二路之輸出信號,輪 d)第1計數:,v檢測:此等信號的相位差;及 照相位之超前/文该第1相位檢测器之輪出信號 M p /帶後’改轡計數佶,认I m ^電路㈣第2延遲電路之輸出;換該第i 览, 文貝的分接頭選擇信 第2延遲鎖定迴路具備: 岭所輸出之分頻時
第64頁 a)第3延遲電路,輸入由該分頻 1241099 六、申請專利範圍 _ 鐘脈衝信號,輪出藉由M、屈 中所選擇的輸出分接頭入7 =間各異之複數個輸出分接頭 號; 接頭7该分頻時鐘脈衝信號延遲的信 b)第4延遲電踗,认 出藉由延遲時間各異之m第^延遲電路之輸出信號,輸 分接頭,令該第丨延遲 個輪出分接頭中所選擇之輪出 C)第1多工器,出信號延遲的信號; 遲電路之輸出信號,葬遲電路之輸出信號及第4延 規定脈衝之上升及下^二,該輸出信號各自之上升邊, 之各下降邊所規定下r ::寺’冑出藉由二個該輸出信號 (〇第2相位檢測器,、上^升及下降之定時的信號; 所規定時間的延遲機7别入令第1多工器之輸出信號延遲 脈衝信號,及該;=構輸入緩衝器所輸出之時鐘 相位差;及 、構之輸出“號,檢測出此等信號的 照相位之超7、1帶接雙該第2相位檢測器之·出信號,依 延遲電路及該第i延遲’改拉變計數值、,輸出用以切換該第3 號。 遲電路之輸出分接頭的分接頭選擇信 Ο Λ • 一種延遲鎖定1回?々壯 及第2延遲鎖定迴路d:含第1延遲鎖定迴路裝置 該第1延遲搞… 凌置,其中’ 1鎖疋迴路裳置具備: 緩衝器所輪出之時鐘Λ入藉/輸入時鐘脈衝信號之輸入 ' 、衝^唬,輸出藉由延遲時間各異之 1241099 複數個輸出分接頭中所選擇之輸出 衝器所發出之時鐘脈衝信號延遲的信號;,々該由輸入緩 b)第2延遲電路,輸入該第丨延^雷"玖 號,輸出藉由延遲時間各異之複數 ^出之輸出信 之輸出分接頭’令該第!延遲 輸出刀接頭中所選擇 號; 纷I ^出^號延遲的信 C)第1相位檢測器,輸入該輪入 :及㈣2延遲電路之㈣號’檢測 照:二計前數V後接受:變=;檢=,信號,依 號; 接頭的分接頭選擇信 f )第1校準器,脾ώ, 閂鎖定時作f卢於人、”人 延遲電路所輪出之作垆 選擇信;;第1計數器所輸出二 卜、錢、遠第1延遲電路及兮筮 〜刀得碩 該第2延遲鎖定迴路具備: 及孩第2延遲電路; a) 第3延遲雷% , 脈衝信號,輸出藉路由延輸遲入時由入:Λ器所輪出之時鐘 延遲的信號,接頭,♦由該輸入緩衝器之時鐘以中 b) 第4延遲電路,輸入令第彳 號 «由延遲時間各異之==遲:路之輪出信號1 分接頭,令哕笙^ 輸出分接頭中所搜捏 輸 亥弟1延遲電路之輸出信號延遲:二虎擇之輪出 第66頁 1241099 六、申請專利範圍 =)第1多工器,輸入該第3延 4 ^ t ^ n ^, Λ Λ 疒,之ί氏衝之上升及下降的定時,輸出藉由二個兮於升* 信號;f邊所規疋之下―脈衝之上升及下降的定時= )第2相位檢測器,輸入令該第1多工琴之 =間之延遲機構,及由該輸入緩衝器所之 :=::ϊ號,及該延遲機構之輸出信號,檢測出 照相:Γ二數器”接受該第2相位檢測器之輸出信號,依 延遲電路哲 ’改變計數值’輸出用以切換該第3 巧路及峰延遲電路之輸出分接頭的分接頭選擇: 定時準V將由該第1多工器之輸出信號,以問鎖 信號:ΪΪ;第3延鎖第2計數器所輪出之純 仏應4第3延遲電路與該第4延遲電路。 h 種延遲鎖定迴路裝置,其中,包含: 輪出之時::2户將由輸入時鐘脈衝信號之輸入緩衝器所 個輪出八^ t號輸入’輸出藉由延遲時間各異之複數 所= 所選擇之輸出分接頭,令由該輸入緩衝器 ^出^日寸鐘脈衝信號延遲的信號; 間 遲機構令邊延遲電路之輸出信號延遲所規定時
第67頁 1241099 a、申請專利範圍 C )相位檢測器,輸入由 *信號及該延遲機構之輸出U *器所輸出之時鐘脈 差; “虎,檢測出此等信號的相位 d)叶數器,接受該相位檢測器之 =超前、滯後,改變計數值,⑽出k號,依照相位 出分接頭的分接頭選擇信號; 以切換该延遲電路之 ^ f)校準器,將該延遲電路所發屮少认^ 疋時信號輸入,閃鎖由該計數器輸出信號,以閃鎖 號,供應該延遲電路。 °斤輸出之分接頭選擇信 # 22·如申請專利範圍第1 9項之延遲# ~、 包含: 、义I遲鎖疋迴路裝置,其中, a) 第1信號產生電路,該 _ 電路之輸出信號,輪出該第入該第3延遲 及下降切換時,預先制定之_ ~輸出^號的上升 b) 第2信號產生電制:之於規-寬度的脈衝; 號,輸出該第4延遲電路之第4延遲電路之輸出信 時,預先制定之規定\=的的及上升及下降切換 與低二|丨電源間Ϊ 連電接晶體於及第2電晶i ’高位側電源 號; 地連接,輪出由連接點發出之輸出信 該第1信號產生電敗鈐 第1電晶體之控制端子信號的反轉信號’供應該 令該第2信號產生電路之輪出信號延遲之信號,供應
第68頁 1241099 六、申請專利範圍 該第2電晶體之控制端子。 2 3·如申請專利範圍第1 9項之延遲鎖定迴路跋置,发 該第1延遲電路包含·· /、中’ a)苐1粗調延遲電路; b )第1微調延遲電路,輸入該第1粗調延遲 信號; %的輸出 輪 c) 第2微調延遲電路,輸入將該第1粗調延遲電 出信號以反相器反轉之信號;以及 的 d) 第4多工器,輸入該第!微調延遲電路及第2微 遲電路的輸出信號,合成單相之信號; 該第2延遲電路包含: a) 第2粗調延遲電路; b) 第3微調延遲電路,輸入該第2粗調 信號; 々电格的輪出 〇第4微調延遲電路,輸入將該第2粗調 出信號以反相器反轉之信號;以及 幾寬路的輪 d)第5多工器,輸入該第3微調延遲 遲電路的輸出信號,合成單相之信號。 弟““周延 遲鎖定迴路裝置,其中, 2 4·如申請專利範圍第丨9項之延 該第3延遲電路包含: a) 第3粗調延遲電路; 之輸出 b) 第5微調延遲電路,輸入該第3粗調延遲電路 m 第69頁 1241099 六、申請專利範圍 信號;以及 c)第6微調延遲電路,輸入將該第3粗調延遲電 出信號以反相器反轉之信號; 勺輪 該第4延遲電路包含: a) 第4粗調延遲電路; b) 第7微調延遲電路,輸入該第4粗調延遲電路 信號;以及 心輸出 c) 第8微調延遲電路,輸入將該第4粗 出信號以反相器反轉之信號; 、遊冤路的輸 該第1多工器輸入由該第5至第8微調延 出之第i至第4延遲電路,#由該第! 所輸 雷路久白夕卜斗、真 土人 亥第4延遲 逼路各自之上升邊,輪出上升與下降的定時 及藉由該第2延遲電路及該第3延遲電路各 = 定之上升與下降的定時U 。 〈上升邊所規 25·如申請專利範圍第19項之延遲鎖定迴路 :備第1校準器,將由該第i延遲電路 2 /、二’ 作為⑽定時信號,以問鎖由該幻計數’輸人 頭選擇錢,供應至該第】延遲電路及該第2所延輪遲出電之路分接 2f:申請專利範圍第19項之延遲鎖定迴路穿晋“ J備第2校準器,將該㈣工器之輸出,Π,其中’ j :時信號’以閃鎖由該第2計數::入作為問 “虎,供應至該第3延遲電路及該第4:遲出電之路刀接頭選擇 第70頁 1241099
7 ·如申凊專利範圍镇〗Q 、, 該分頻電路係將 σ員之延遲鎖定迴路裝置,其中, 出的2分頻電路。"j信號頻率的2分之1頻率之信號予以輸 2 8.如申請專利範圍笛〗β 具備第1閂鎖電路,、^々項之延遲鎖定迴路裝置,其中, 該第1延遲調整機構:;::1延遲電路之輸出信號,將來自 及第2延遲電路。 工彳5唬予以閂鎖,而供應至該第1 2 9 ·如申凊專利範圍第 包含: 員之延遲鎖定迴路裝置,其中, a) 第1信號產生電踗, 路之輸出信號,輸出該當q μ第1多工器輸入該第3延遲電 下降切換時’預先制g延^遲電路之輸出信號的上升及 b) 第2信號產生電疋路之規:寬度的脈衝; 號,輸出該第4延遲電路二入^第4延遲電路之輸出信 時,預先制定之規定寛产别出^號的上升及下降切換 •…目互逆導電;3的雷脈曰衝;以及 於高位側電源與低位側電〃曰曰體及第2電晶體,串聯連接 信號; 相1電源間,輸出由連接點發出之輸出 該第1信號產生電路之於 該第1電晶體之控制端子輪出信號的反轉信號,供應至 令該第2信號產生電路之輪出信號延遲而成之信號,
1241099 六、申請專利範圍 供應至該第2電晶體之控制端子 30.如申請專利範圍第2〇項之延遲鎖定迴 该第1延遲電路包含·· 展置’其中, 信號; a )第1粗調延遲電路; b)第1微調延遲電路,’輸入該第1粗調延遲電路 的輪出 c)第2微調延遲電路,輸入將該第j粗 “號,反相夕器反轉之信號;以及 €電路的輪 延遲2 I4的之輸夕出W輸入該第1微調延遲電路及第2微調 =电峪的輸出b唬,合成單相之信號; η 该第2延遲電路包含: a)第2粗調延遲電路; 信號b:第3微調延遲電路’輸入該第2粗調延遲電路的輪出 的輪 d)第5多工器, 2第4微調延遲電路,輸入將該第2粗 出仏號以反相器反轉之信號;以& 電路 „、斥 輪入該第3微調延遲電路及該箆4火上 延遲電路的蚣Ψ π咕 久Α弟4微調 的輸出^旒,合成單相之信號。 31 中, 兮哲π如申請專利範圍第20項之延遲鎖定迴路裝置,复 邊弟3延遲電路包含·· "、 b)第5微調延遲電路,輸入該第3粗調延遲電路的
第72頁 a )第3粗調延遲電路; 1241099 六、申請專利範圍 信號;以及 c)第6微調延遲雷 出信號以反相器反轉之信號輸入將該第3粗調延遲電路的輪 該第4延遲電路包含: a) 第4粗調延遲電路. b) 第7微調延遲雷败 ^ 信號;以及 ’輸入該第4粗調延遲電路的輸出 出^==反€轉\^:將該第4粗調延遲電路的輪 出之第4延遲輸電入路分別:二第5 8微調延遲電路輪 延遲電路各自之上升邊的:=:苐1延遲電路及該第4 „ ^ 您的上升與下降定時所規定之衿咕 2由該第2延遲電路及該第3延遲電路各自之上升= 升與下降定時所規定之信號。 开邊的上 32·如申請專利範圍第2項之半導體積體電 中,包含: ,、 a上第1信,產生電路’該第】多卫器輸入該第3 路之輸出信號’輸出該第3延遲電路之輸出信號 J 下降切換時,予頁先制定之規定寬度的脈衝; 开及 b) 第2彳s號產生電路,輸入該第4延遲電路之輪 號,輪出該第4延遲電路之輪出信號的上升及下降切換 時,預先制定之規定寬度的脈衝;以及 、 c) 相互逆導電型之第1電晶體及第2電晶體,串聯連接
第73頁 I第生電路之輸出信號的反轉信號 1241099 -〜-- 信號;彳電源與低位側電源間,輸出由連接點發出之輸出 至°亥21電晶體之控制端子 供應至j 11就產生電路之輪出信號延遲而成之信號, 王邊第2電晶體之控制端子。 3 3 中·,如申請專利範圍第2項之半導體積體電路裝置,其 該第1延遲電路包含: a)第1粗調延遲電路; 枝% W第1微5周延遲電路’輸入該第1粗調延遲電路的輸出 第2微調延遲電路,輸入將該第1粗調延遲電路的輸 L號以反相器反轉之信號;以及 、d)第4多工器,輸入該第1微調延遲電路及該第2微調 延遲電路的輸出信號,合成單相之信號; 該第2延遲電路包含: a) 第2粗調延遲電路· b) 第3微调延遲電路,輸入該第2粗調延遲電路的輸出 信號; c) 第4微調延遲電路,輸入將該第2粗調延遲電路的輪 出化號以反相器反轉之作號;以及 d) 第5多工器,輪入該第3微調延遲電路及第4微調延 第74頁
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Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2442004A1 (en) * 2001-03-23 2002-10-03 David J. Kyle Microbial feeds for aquaculture and agriculture
US6856558B1 (en) 2002-09-20 2005-02-15 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit devices having high precision digital delay lines therein
US6950770B2 (en) * 2002-09-25 2005-09-27 Intel Corporation Method and apparatus for calibration of a delay element
US6774691B2 (en) * 2003-01-07 2004-08-10 Infineon Technologies Ag High resolution interleaved delay chain
KR100522433B1 (ko) * 2003-04-29 2005-10-20 주식회사 하이닉스반도체 도메인 크로싱 회로
JP3859624B2 (ja) * 2003-07-31 2006-12-20 エルピーダメモリ株式会社 遅延回路と遅延同期ループ装置
US6867627B1 (en) 2003-09-16 2005-03-15 Integrated Device Technology, Inc. Delay-locked loop (DLL) integrated circuits having high bandwidth and reliable locking characteristics
DE10345236B3 (de) * 2003-09-29 2005-03-10 Infineon Technologies Ag Verzögerungsregelkreis
KR100605604B1 (ko) * 2003-10-29 2006-07-28 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프 및 그 제어 방법
KR100578232B1 (ko) * 2003-10-30 2006-05-12 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프
US7202702B2 (en) * 2003-12-10 2007-04-10 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Output buffer slew rate control using clock signal
JP4583042B2 (ja) * 2004-02-13 2010-11-17 凸版印刷株式会社 Dll回路
JP4558347B2 (ja) * 2004-02-27 2010-10-06 凸版印刷株式会社 Dll回路
DE102004025984A1 (de) * 2004-05-26 2005-12-15 Sms Demag Ag Verfahren und Einrichtung für die Montage und für Funktionsprüfung von Walzarmaturen in Walzgerüsten oder in Walzstraßen, wie bspw. Tandemwalzstraßen
KR100605577B1 (ko) * 2004-06-30 2006-07-31 주식회사 하이닉스반도체 레지스터 제어형 지연 고정 루프 및 그의 제어 방법
JP4397933B2 (ja) * 2004-08-19 2010-01-13 株式会社ルネサステクノロジ 位相同期回路
JP2006129180A (ja) 2004-10-29 2006-05-18 Elpida Memory Inc クロック遅延回路
US7675336B1 (en) * 2004-12-17 2010-03-09 Altera Corporation Clock duty cycle recovery circuit
DE102004062282B4 (de) * 2004-12-23 2014-08-21 Infineon Technologies Ag Speicheranordnung und Verfahren zur Verarbeitung von Daten
KR100696957B1 (ko) * 2005-03-31 2007-03-20 주식회사 하이닉스반도체 클럭 듀티 조정 회로, 이를 이용한 지연 고정 루프 회로 및그 방법
US7190202B1 (en) * 2005-04-05 2007-03-13 Xilink, Inc. Trim unit having less jitter
KR100732760B1 (ko) 2005-06-29 2007-06-27 주식회사 하이닉스반도체 지연고정루프회로
US7254505B2 (en) * 2005-06-29 2007-08-07 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for calibrating delay lines
KR100711547B1 (ko) * 2005-08-29 2007-04-27 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프
TWI310633B (en) * 2005-08-31 2009-06-01 Via Tech Inc Clock loop circuit with community counters and metohd thereof
US7519888B2 (en) 2005-09-12 2009-04-14 Virage Logic Corporation Input-output device testing
US7616036B1 (en) 2005-09-12 2009-11-10 Virage Logic Corporation Programmable strobe and clock generator
US7227809B2 (en) * 2005-10-14 2007-06-05 Micron Technology, Inc. Clock generator having a delay locked loop and duty cycle correction circuit in a parallel configuration
KR100735548B1 (ko) * 2006-01-10 2007-07-04 삼성전자주식회사 지연동기회로 및 방법
KR100728301B1 (ko) 2006-01-23 2007-06-13 학교법인 포항공과대학교 디지털로 제어 가능한 다중 위상 클럭 발생기
US7423465B2 (en) * 2006-01-27 2008-09-09 Micron Technology, Inc. Duty cycle error calculation circuit for a clock generator having a delay locked loop and duty cycle correction circuit
KR100776906B1 (ko) * 2006-02-16 2007-11-19 주식회사 하이닉스반도체 파워다운 모드 동안 주기적으로 락킹 동작을 실행하는기능을 가지는 dll 및 그 락킹 동작 방법
US8073890B2 (en) 2006-02-22 2011-12-06 Micron Technology, Inc. Continuous high-frequency event filter
JP2007243735A (ja) 2006-03-09 2007-09-20 Elpida Memory Inc Dll回路及びそれを備えた半導体装置
US7616708B2 (en) * 2006-04-17 2009-11-10 Novatek Microelectronics Corp. Clock recovery circuit
US7439787B2 (en) * 2006-07-27 2008-10-21 Freescale Semiconductor, Inc. Methods and apparatus for a digital pulse width modulator using multiple delay locked loops
KR100806140B1 (ko) 2006-09-01 2008-02-22 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR100911190B1 (ko) * 2007-06-11 2009-08-06 주식회사 하이닉스반도체 내부 클럭 드라이버 회로
US8058900B1 (en) * 2008-04-14 2011-11-15 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Method and apparatus for clocking
US7764132B2 (en) * 2008-07-30 2010-07-27 International Business Machines Corporation All digital frequency-locked loop circuit method for clock generation in multicore microprocessor systems
KR100929828B1 (ko) * 2008-09-02 2009-12-07 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR100968460B1 (ko) 2008-11-11 2010-07-07 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로 및 dll 회로의 업데이트 제어 장치
KR101040243B1 (ko) 2009-07-30 2011-06-09 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 업데이트 제어 장치
US8065578B2 (en) * 2009-09-14 2011-11-22 Texas Instruments Incorporated Inverted TCK access port selector selecting one of plural TAPs
CA2682103A1 (en) * 2009-10-27 2010-01-05 Avalon Microelectronics, Inc. Method and apparatus for deskewing data transmissions
KR101212724B1 (ko) 2010-05-31 2012-12-14 에스케이하이닉스 주식회사 클럭발생회로 및 그를 이용한 지연고정루프
US8373462B2 (en) * 2011-05-19 2013-02-12 Nanya Technology Corp. Delay lock loop and delay lock method
CN103871444A (zh) * 2012-12-14 2014-06-18 上海华虹宏力半导体制造有限公司 非挥发性存储器的读时序产生电路
US9176522B1 (en) * 2014-05-02 2015-11-03 Freescale Semiconductor, Inc. Dual-edge gated clock signal generator
CN104820654B (zh) * 2015-04-29 2018-02-02 桂林电子科技大学 一种延时调整器
US9935635B2 (en) * 2015-08-28 2018-04-03 Gsi Technology, Inc. Systems and methods involving pseudo complementary output buffer circuitry/schemes, power noise reduction and/or other features
US9584105B1 (en) * 2016-03-10 2017-02-28 Analog Devices, Inc. Timing generator for generating high resolution pulses having arbitrary widths
KR102536639B1 (ko) * 2018-08-14 2023-05-26 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 장치의 버퍼 제어 회로
US11088684B2 (en) * 2018-11-26 2021-08-10 International Business Machines Corporation Calibrating internal pulses in an integrated circuit
CN111710353B (zh) 2019-05-05 2021-06-22 长江存储科技有限责任公司 实施精确占空比控制的双数据速率电路和数据生成方法
US11004499B1 (en) * 2020-05-08 2021-05-11 Winbond Electronics Corp. Latency control circuit and method

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2848636B2 (ja) 1989-07-28 1999-01-20 富士通テン株式会社 定速走行制御装置
JP3901297B2 (ja) * 1997-09-09 2007-04-04 富士通株式会社 Dll回路及びそれを利用した半導体記憶装置
JP3497710B2 (ja) * 1997-11-07 2004-02-16 富士通株式会社 半導体装置
JP2000059183A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Mitsubishi Electric Corp 同期逓倍クロック信号生成回路
JP3993717B2 (ja) * 1998-09-24 2007-10-17 富士通株式会社 半導体集積回路装置
US6134182A (en) * 1999-10-19 2000-10-17 International Business Machines Corporation Cycle independent data to echo clock tracking circuit
KR100321755B1 (ko) * 1999-12-24 2002-02-02 박종섭 록킹 시간이 빠른 지연고정루프
JP3386031B2 (ja) * 2000-03-06 2003-03-10 日本電気株式会社 同期遅延回路及び半導体集積回路装置

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