TWI223483B - Semiconductor laser apparatus - Google Patents
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Description
x^3483
發明所屬之技術領域 本發明有關於一種將半導體雷射元件配置 半導體雷射裝置。 、丞座上的 先前技術 半導體雷射係利用於各種用途。將半導體雷射元件 (LD chip)搭载在突出於稱為基座(stem)的基台上之 、鬼狀部上的微細雷射光頭(head )使用於光記錄用。於該 光頭’雷射光從半導體雷射元件端部的發光點,相對於基 主的面,垂直上方射出。在此狀況下,半導體雷射元件配 置於桿面的上方。由於半導體雷射元件的長度大約1毫 米’所以從桿面到發光點的高度約1. 2 7毫米。 · 而且’在習知的半導體雷射中,雷射元件支持於桿的 上方(例如,參照專利文獻一)。 ^ 近年來’為了作為高密度的光記錄用,半導體雷射進 V到=波長化及高輸出化,半導體雷射元件開發為短波長 化及南輸出化。一方面,要求機械的小型化,雷射光頭的 ^組成構件亦要求小型化。具體而言,搭載半導體雷射元 4的基座的面到發光點的高度被降低,同時也抑制基座的 鬲度。 專利文獻一:特開平9-232684號 籲 發明内容 發明欲解決之課題 伴隨上述半導體雷射元件的高輸出化,半導體雷射元 件内共振器的長度有變長的傾向。在習知的半導體雷射裝
五、發明說明(2) 水如上所述之基座上由於搭載有半導體雷射元件,為 使發光點高度降低為約1毫米 導趙雷射元件。 愛水,而僅搭載約1毫米長度的半 可搭ίί長= 在於提供一種半導體雷射裝置’ 成一定的發光點高度Γ '70件之同時’不管長度而可調整 解決課題的手段 裝置,包括:-基座,具有-主 從上述主面突出部之同時’具有鄰接於上述凹部而 述凹部的i、t^ a狀部;一小裝配構件,設置於面向上 於上上;-半導體雷射元件,在垂直 面的交點為0,上、+ /上從主面算起的距離中,垂線與主 下,在上什,壯述主面内側為負號,外側為正號的情況 正號及負^ 配構件上,兩端部從上述主面起的距離為 實施方式端子’與上述半導體雷射元件連接。 元件而必須,^ ^經過做說明。f知係對應於半導體雷射 搭載的半導^ φ衣作保持雷射光頭長度的基座。又,若所 更拾光(Pick田射7°件變長,由於發光點變高,有必要變 半導體雷射裝fUP)側的設計。於此,本發明欲提供一種< 較長的半導體φ不改變基座面到發光點的高度而可使用 明之目的。以每射元件,經過種種檢討的結果而達到本發 式做說明。而I針對本發明的半導體雷射裝置,用附加圖 ’在圖面上,同一構件給予同一符號。
1223483 五、發明說明(3) 第一實施形態 針對本發明之第一實施形態的半導體雷射裝置,用第 1圖做說明。第1圖為表示該半導體雷射裝置丨〇的構造的示 意圖。該半導體雷射裝置1〇具有供搭載半導體元件(LD) 的基座1。基座1由厚壁的圓板形的鐵(Fe)構成,在主面 上具有凹部5,並具有塊狀部7,鄰接於凹部5而從該主面 向外。卩犬出。一方面’面向塊狀部7的凹部5之同時,在垂 直於主面的面上,經由氮化鋁< A 1N )組成的小裝配構件 (submount )半導體雷射元件3的兩端部6a、6b從凹部5的 内側橫越至主面的外側。更詳細地說明,在垂直於上述主_ 面的垂線方向上從主面算起的距離中,垂線與主面的交點 為〇 ’上述主面内側為負號,外側為正號的情況下,半導 體雷射元件3的兩端部6a、6b與主面的距離分別為正號及 負號。凹部5設於該主面上,面對該凹部的塊狀部的面上 配置有半導體雷射元件3,凹部5的深度可比配置半導體雷 射元件3的長度長。於此,兩端部的間隔L即使在使用長的 半導體雷射元件3的狀況下,從主面算起發光點高度h2及 塊狀部高度h 1保持一定低之同時,無須變更拾光側的設 計’不會使熱擴散性劣化。而且,在基座1的裡面,具有 與上述半導體雷射元件3連接的三根端子4。 _ 又’在構成凹部5的底面上,設有相對於主面傾斜的 傾斜面8。從半導體雷射元件3的另一方的發光點6b射出的 雷射光以傾斜面8反射於傾斜方向,而不返回發光點6 b。 藉由設置傾斜面8,不會產生返回光所造成的雜訊
2065-5860-PF(Nl).ptd 第7頁 1223483 五、發明說明(4) (external feedback noise 第一"貫施形態 針對本發明第二實施形態的半導體雷射裝置,用第2 圖做說明。第2圖表示該半導體雷射裝置1〇的構造的示魚 圖。該半導體雷射裝置1 0與第一實施形態的半導體雷射^ 置做比較,不同點在於使用長度約i毫米的短半導體雷射、 元件3,塊狀體高度hl為!毫米,發光點仏離基座1之主面 的南度h2為〇·8毫米。即使在此狀況下,由於從設於主面 的凹部5的内側向主面的外側配置半導體雷射元件3,使發 光點6a的高度h2仍比半導體雷射元件3的長度l低。 第二實施形態 |對本發明第二實施形態的半導體雷射裝置,用第3 圖做說明。第3圖表示該半導體雷射裝置20的構造的示意 η半導體雷射裝置2〇與第一實施形態的半導體雷射; 較,不同點為基座1的塊狀部與基座1為個別的構 熱傳導率比基座1高,例如用銅製的塊狀 南熱傳導率的塊狀部頭丨7可使放熱性提升。 第四實施形態 圖做=本明::實施形態的半導體雷射裝置,用第4. 圖。哼丰莫Ζ圖表示該半導體雷射裝置20的構造的示意《 置做雷射裝置20與第三實施形態的半導體雷射裝 元件3,狀不點在於使用長度約1毫米的短半導體雷射 的高度匕2為^:度Μ為1毫米,發光點6a離基座1之主面 ' 宅米。在此狀態下亦使用高熱傳導率的塊
U23483 五、發明說明(5) 狀部頭1 7而可使放熱性提升。 發明之效果 ^ 在本發明之半導體雷射裝置中,基座的主面上設有凹 ’在該主面上,更具有鄰接於凹部而突出的塊狀部。 又’在面向該凹部的塊狀部的面上,經由小裝配構件,半 導體雷射元件的兩端部構成凹部的内側及主面的外側。如 此將凹部設於主面,藉由在面向該凹部的塊狀部的面上配 置半導體元件,凹部的深度可比配置半導體雷射元件 2。於此’即使在兩端部的間隔用長半導件2 场合,發光點離主面的高度及塊狀部高度保 —件的 時,無須變更拾光側的設計,並使熱擴散性不會2,同鲁
2065-5860-PF(Nl).ptd 第9頁 1223483 圖式簡單說明 第1圖為本發明第一實施形態之半導體雷射裝置之構 造的示意圖。 第2圖為本發明第二實施形態之半導體雷射裝置之構 造的示意圖。 第3圖為本發明第三實施形態之半導體雷射裝置之構 造的示意圖。 第4圖為本發明第四實施形態之半導體雷射裝置之構 造的示意圖。 符號說明 1〜基座; 2〜小裝配構件; ⑩ 3〜半導體雷射元件;4〜端子; 5〜凹部; 6 a、6 b〜發光點; 7〜塊狀部; 8〜傾斜面; 10、20〜半導體雷射裝置; 17〜金屬塊; L〜半導體雷射元件長度; h 1〜塊狀部高度; h 2〜發光點高度。
2065-5860-PF(Nl).ptd 第10頁
Claims (1)
1223483 申請專利範圍 1· 一種半導體雷射裝置,包括·· 基座’具有一主面,在上述主面具有凹部之同時 具有鄰接於上述凹部而從上述主面突出的塊狀部; 一小裝配構件,設置於面向上述凹部的上述塊狀部的 面上; f導體雷射元件,在垂直於上述主面的垂線方向· 從主面算起的距離中,垂線與主面的交點為0,上述主面 t側ί 外側為正號的情況下,在上述小裝配構件 ’一她I從上述主面起的距離為正號及負號; 一,1,與上述半導體雷射元件連接。 其 中構成二凹,的底面係相對於上= 装 中上述:以:::口二半導體雷射裝置 你由與上述基座相異之材質構成。
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