JP2007281076A - 半導体レーザ装置、及び半導体レーザ装置に用いられる実装部材 - Google Patents

半導体レーザ装置、及び半導体レーザ装置に用いられる実装部材 Download PDF

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Abstract

【課題】 従来は、半導体素子を実装するサブマウントの形状を大きくしたり、サブマウントの材料を放熱特性のよい材料に変更して、放熱対策を行っていた。本発明は、低コストで放熱性能を向上させることが可能な半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明に係る半導体レーザ装置は、発光素子と、前記発光素子を実装する実装部材とを備え、前記実装部材は、前記発光素子の発する光と干渉しないように、切り欠き部が設けられることとしたものである。これにより、低コストで放熱性能を向上させることが可能な半導体レーザ装置を得ることが可能となる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、光学式記録媒体からのデータの読取りや書込み、光通信システムのデータ送受信等に用いられる半導体レーザ装置、及び半導体レーザ装置に用いられる実装部材に関するものである。
従来の半導体レーザ装置の構造は、下記の特許文献に記載されている通り、発光素子がサブマウント、ヒートシンク、ステムに実装固定されている。ここで、サブマウントは、発光素子の裏面とヒートシンクを絶縁する機能とともに、発光素子にて発生する熱を放熱するヒートシンクとしての機能も有する。さらに、ステムは、発光素子を保持する機能とともに、発光素子に電気的に接続される端子を保持する機能も有する。
そして、一般的には、発光素子とサブマウント、サブマウントとヒートシンクは、それぞれ、はんだにて接合される。さらに、発光素子から発せられる光がサブマウント、ヒートシンクと干渉しないように、発光素子、サブマウント、およびヒートシンクは、発光素子から発せられる光の進行方向に対し、各端面が同一となる位置にて接合される。
特開平2001−332804号公報(図1)
ところで、近年、光学式記録媒体に対する記録の高密度化の要求、および、光通信システムにおけるデータ転送速度の高速化の要求が高まっている。このような要求に対応するために、発光素子を高出力化する必要があるが、発光素子の光出力の能力を高めると、発熱量が大きくなる。
そこで、従来の構造を有する半導体レーザ装置では、放熱性能を向上させるために、サブマウントの形状を大きくする、サブマウントの材料を放熱性の高いものに変更する等の対策が行われていた。しかし、これらの対策では、装置の小型化、コストの面で問題がある。また、発光素子の発熱量がさらに大きくなった場合、十分な放熱性能が得られない可能性がある。
この発明は、上記のような問題点に対処するためになされたもので、低コストで放熱性能を向上させることが可能な半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
この発明に係る半導体レーザ装置は、
発光素子と、
前記発光素子を実装する実装部材と
を備え、
前記実装部材は、前記発光素子の発する光と干渉しないように、切り欠き部が設けられること
としたものである。
この発明によれば、半導体レーザ装置の放熱性能を低コストで向上させることができる。
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1に係る半導体レーザ装置を図に基づいて説明する。この実施の形態1に係る半導体レーザは、サブマウントの所定の側面の一部をU字形状としたものである。図1は、実施の形態1に係る半導体レーザ装置の構成を示す斜視図である。
図において、発光素子1はサブマウント2(第1の実装部材)上に実装されるとともに、サブマウント2はヒートシンク3(第2の実装部材)上に実装される。ヒートシンク3はステム4上に固定され、発光素子1は、ステム4の裏面から導出された端子5と電気的に接続されている。
発光素子1は、例えば、波長1.3μmの光を発振するファブリーペローレーザであり、最大ビーム広がり角度を50度とする。サブマウント2は、発光素子1の裏面とヒートシンク3を絶縁する機能とともに、発光素子1からの熱を放熱するヒートシンクとしての機能も有する。ステム4は、発光素子1を保持する機能とともに、発光素子1に電気的に接続される端子5を保持する機能も有する。
発光素子1の外形寸法は、例えば、0.2mm×0.2mm、厚さ0.1mmである。また、例えば、サブマウント2の材料は窒化アルミニウムである。図2はサブマウント2の上面視図であるが、この図に示すように、本実施の形態に係るサブマウント2は外形寸法0.4mm×0.4mm、厚さ0.1mmの直方体から、0.1mm×0.1mm、厚さ0.1mmの直方体を切り欠いた形状とする。ここで、図に示すように、U字型の外端面を端面2A、内端面を端面2Bとする。本発明に係る半導体レーザは、後述するように、発光素子1の発光側の端面と、端面2Bとが同一面となるような位置に発光素子1とサブマウント2が接合される。
ヒートシンク3の材料は、例えば鉄であり、幅0.6mm、厚さ0.4mmである。次に、実施の形態1に係る半導体レーザの組立手順について説明する。
まず、第1のステップとして、ステム4とヒートシンク3を固定する。なお、ステム4とヒートシンク3が一体化されている部材を用いてもよい。次に、第2のステップは、図1のA−A断面図である図3に示すように、サブマウント2の端面2Aがヒートシンク3の端面と同一平面となるように、サブマウント2をヒートシンク3上に位置決めする。
次に、第3のステップとして、サブマウント2の端面2Bと発光素子1の発光面が同一平面となるように、発光素子1をサブマウント2上に位置決めする。さらに、第4のステップとして、サブマウント2上に予め形成されたAu−Sn合金からなるはんだを溶融することで、発光素子1、サブマウント2をそれぞれ固定する。
第5のステップは、発光素子1、サブマウント2から端子5へと、金ワイヤでワイヤボンディングすることにより、発光素子1と端子5を電気的に接続する。
ここで、サブマウント2と、発光素子1の光との関係について説明する。上記で述べたように、発光素子1の最大ビーム広がり角度を50度とした。したがって、図4、5に示すように、発光素子1から発せられる光は、発光部から0.1mm離れた位置では、約0.093mm(=0.1mm×2×tan(25°))にしか広がっていない。そのため、サブマウント2の外形、および切り欠き部分が上記で述べた寸法の場合、図3のように発光素子1の発光面をサブマウント2の端面2Bに実装しても、発光素子1からの光がサブマント2と干渉しないので光学特性が保たれる。
一方、本実施の形態に係るサブマウント2は、従来のサブマウントと比較して、端面2Bと端面2Aの間の体積が増加している。発光素子1において最も高温となるのは、発光面の下部近傍であり、本実施の形態に係るサブマウント2は、この高温部の直下にある体積が増加していることとなる。すなわち、本実施の形態に係るサブマウント2は、従来よりも放熱面積が増えており、従来よりも放熱特性を大幅に改善できる。特に、発光素子1においてもっとも温度が高くなる発光面の近傍の放熱面積が増えているので、他の部分の放熱面積が増える場合よりも、放熱特性の改善性は高い。
このように、本実施の形態では、サブマウント2の切り欠き部の形状をU字型とすることにより、発光素子1においてもっとも温度が高くなる発光面の直下近傍の放熱面積を増やすことができ、放熱性能を向上させることができる。したがって、サブマウント2の小型化及び装置全体の小型化が可能となり、同時に、安価な材料をサブマウントに使用できるので、低コスト化が実現できる。また、単に、サブマウント2に切り欠きを設けるのみでよいので、加工費を削減できる。
なお、実施の形態1では、最大ビーム広がり角度を50度としたが、この場合に限られず、最大ビーム広がり角度に応じて、切り欠き部の大きさ、形状を決定すればよい。
実施の形態2.
本実施の形態では、サブマウントの所定の側面の一部をV字形状とした場合について説明する。図6は、実施の形態2に係るサブマウント2の上面視図である。図に示すように、サブマウント2は、外形寸法0.4mm×0.4mm、厚さ0.1mmの直方体から、底辺0.1mm、高さ0.1mm、厚さ0.1mmの三角柱を切り欠いた形状である。このサブマウント2において、図7に示すように、三角形の頂点と発光素子1の発光面とが上方視で一致するように両者を位置に固定されると、実施の形態1と同様、発光素子1からの光がサブマント2と干渉しないので光学特性が保たれる。
一方、実施の形態1よりも、切り欠き部の体積が削減されるので、サブマウント2の体積が増えることとなり、放熱特性がさらに向上する。特に、増加する部分は、発光素子1の高温部の直下であるので、放熱特性の改善性は大きい。
なお、発光素子1からの光がサブマウント2と干渉しなければ、サブマウント2を例えば図8に示すような形状としても良い。すなわち、実施の形態1、2にでは、サブマウント2から切り欠かれる部分の形状をそれぞれU字型、V字型としたが、発行素子1からの光がサブマウント2と干渉しないように、サブマウント2の側面の形状を決定すればよい。例えば、切り欠き部の形状を半円錐形にすると、光の干渉を防止しつつ、切り欠き部の体積を削減することが可能となる。
実施の形態3.
本実施の形態では、ヒートシンクの所定の側面の一部をU字形状とした場合について説明する。図9は、実施の形態3に係るヒートシンク3の上面視図である。図に示すように、ヒートシンク3の、発光素子1の発光面と同じ方向の面は、幅0.6mmとする。そしてヒートシンク3は、この面から0.3mm×0.2mm、厚さ0.4mmの直方体を切り欠いた形状とする。ここで、U字型の外端面を端面3A、内端面を端面3Bとする。その他、サブマウント2は実施の形態1の図2で説明した形状とする。次に、組立手順について説明する。
まず、第1のステップとして、ステム4とヒートシンクを固定する。このステップは、実施の形態1と同様である。次に、第2のステップは、実施の形態1の図3に対応する図10に示すように、サブマウント2の端面2Aが、ヒートシンク3の端面3Bと同一平面となるように、サブマウント2をヒートシンク3上に位置決めする。
次に、第3のステップとして、サブマウント2の端面2Bと発光素子1の発光面が同一平面となるように発光素子1をサブマウント2上に位置決めする。さらに、第4のステップとして、サブマウント2上に予め形成されたAu−Sn合金からなるはんだを溶融することで、発光素子1、サブマウント2をそれぞれ固定する。
第5のステップは、発光素子1、サブマウント2から端子5へと、金ワイヤでワイヤボンディングすることにより、発光素子1と端子5を電気的に接続する。この、第4のステップ、第5のステップは、実施の形態1と同様である。
ここで、サブマウント2、及びヒートシンク3と、発光素子1からの光との関係について説明する。実施の形態3では、図11、図12に示すように、発光素子1から発せられる光は、サブマウント2、ヒートシンク3と干渉しないので、光学特性が保たれる。
一方、本実施の形態に係るヒートシンク3は、実施の形態1のヒートシンクと比較して、発光素子1の直下の体積が増えている。したがって、ヒートシンク3の放熱面積が増え、放熱特性が大幅に改善される。
なお、図13に示すように、サブマウント2は直方体とし、ヒートシンク3のみを加工しても良い。
また、発光素子1、サブマウント2、ヒートシンク3をパッケージする部品として、円筒形のステム4を用いる場合について説明したが、ステム4の形状は円筒形に限られるものではなく、板状のリードフレームでもよい。また、基板上に発光素子1、サブマウント2、ヒートシンク3を実装してもよい。さらに、光の進行方向は、ステムの面に対して略直交する場合に限られず、面に対して略平行であってもよい。
また、発光素子1を実装する実装部材として、サブマウント2とヒートシンク3を用いる場合について説明したが、発光素子1がサブマウント2(第1の実装部材)に実装され、このサブマウント2がステム4に実装されてもよい。また、発光素子1がヒートシンク3(第2の実装部材)に直接実装されてもよい。
また、発光素子1の発光面と、切り欠き部が設けられるサブマウント2、ヒートシンク3の面とがほぼ平行な場合について説明したが、それぞれの面の方向が異なっていてもよい。
実施の形態1に係る半導体レーザ装置の構成を示す斜視図である。 実施の形態1に係るサブマウントの上面視図である。 図1のA−A断面における断面図である。 発光素子から発せられる光の広がり説明する上面視図である。 発光素子から発せられる光の広がり説明する断面図である。 実施の形態2に係るサブマウントの上面視図である。 発光素子から発せられる光の広がり説明する上面視図である。 発光素子から発せられる光の広がり説明する上面視図である。 実施の形態3に係るヒートシンクの上面視図である。 実施の形態3に係る半導体レーザ装置の断面図である。 発光素子から発せられる光の広がり説明する上面視図である。 発光素子から発せられる光の広がり説明する断面図である。 実施の形態3に係る他の構成の半導体レーザ装置の断面図である。
符号の説明
1 発光素子、 2 サブマウント、 3 ヒートシンク、 4 ステム、
5 端子。

Claims (7)

  1. 発光素子と、
    前記発光素子を実装する実装部材と
    を備え、
    前記実装部材は、前記発光素子の発する光と干渉しないように、切り欠き部が設けられること
    を特徴とする半導体レーザ装置。
  2. 前記実装部材は、前記発光素子が実装される第1の実装部材と、
    前記第1の実装部材が実装される第2の実装部材と
    を備え、
    前記切り欠き部は、前記第1の実装部材、及び/又は前記第2の実装部材に設けられること
    を特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ装置。
  3. 前記発光素子は発光面を有し、
    前記切り欠き部は、前記実装部材の、前記発光面と略同一方向の面に設けられること
    を特徴とする請求項1又は2に記載の半導体レーザ装置。
  4. 前記発光素子の発光面は、前記実装部材の切り欠き部が設けられる面よりも、前記発光面から発せられる光の進行方向に対して反対側に位置し、
    前記切り欠き部は、前記発光面を含む面に接するように設けられること
    を特徴とする請求項3に記載の半導体レーザ装置。
  5. 前記切り欠き部の形状が、四角柱であること
    を特徴とする請求項4に記載の半導体レーザ装置。
  6. 前記切り欠き部の形状が、三角柱形状であること
    を特徴とする請求項4に記載の半導体レーザ装置。
  7. 請求項1から6に記載の半導体レーザ装置に用いられる実装部材。
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