TW548655B - MRAM-module arrangement - Google Patents

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TW548655B
TW548655B TW090122461A TW90122461A TW548655B TW 548655 B TW548655 B TW 548655B TW 090122461 A TW090122461 A TW 090122461A TW 90122461 A TW90122461 A TW 90122461A TW 548655 B TW548655 B TW 548655B
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TW
Taiwan
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memory
array
mram
module configuration
memory array
Prior art date
Application number
TW090122461A
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Inventor
Thomas Boehm
Dietmar Gogl
Martin Freitag
Stefan Lammers
Original Assignee
Infineon Technologies Ag
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    • G11CSTATIC STORES
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Description

548655 五、發明説明(1 ) 本發明是有關於一種磁性隨機存取記憶體(MRAM)配 置,其由多個記憶胞陣列所構成,此記憶胞陣列各由具 有多個記憶胞之記憶體陣列,以及圍繞此記憶體陣列之 面上之外圍電路所構成,其中此外圍(periphery)電路須 圍繞此記憶體陣列,使得在俯視中每一個記憶體陣列在 基本上具有十字形的結構。 在磁阻式記憶體(MRAM= magnetoresisti,ver memory)中 存在所熟知的記憶胞之磁性可變電阻中之儲存效應。第 2圖顯示在字元線WL與此在基本上垂直並且隔絕相交 之位元線BL之間的MR AM記憶胞。在字元線WL與位 元線BL之間的相交位置上是一多層系統,其由固定的 或硬磁性層HML與自由可變的或軟磁性層WML以及位 於HML與WML之間的隧道阻障層TL所構成。此硬磁 性層HML、隧道阻障層TL以及軟磁性層WML形成”磁 性_道界面胞 n(MTJ: Magnetic Tunnel Junction cell)。 在此MTJ胞中以此方式實施資訊之儲存,即,係軟磁 性層WML的磁化方向相對於硬磁性層HML的磁化方向 改變。對此所須的磁場藉由'在字元線WL中的電流Iwt 與在位元線BL中的電流IBt產生。此磁場在字元線WL 與位元線BL之相交位置上,因此在MT]胞的區域中重 疊。若此兩個磁性層HML與WML的磁化方向相同,因 此,此MTJ胞具有低的電阻Re,如同在第3圖中’所說 明者。反之,在磁性層HML與WML之不同或反平行之 的磁化方向中產生高的電阻値,如此在第4圖中所說明 548655 五、發明説明(2 ) 者。 特別是電流I W L·與I B L·之接通,其在程式所控制過程中 在各個MTJ胞中·用於產生磁場所需要,由於相當高一直 至數毫安(mA),而需要由特別大的電晶體所構成耗費面 積之外圍電路圍繞各個記憶體陣列周圍。此外圍電路必 須在每個記憶體陣列的側面邊緣上提供有效之佈線與短 的信號路徑,如同此在第5圖中所示者。在此處的記憶 體陣列A在其側面邊緣上由四個外周電路P圍繞。此記 憶體陣列A在不同的平面上上下堆疊得愈多,則此外圍 電路P愈大。在足夠多的記憶體平面中因此形成此在第 5圖中所顯示之十字形結構。 此外圍電路(p e 1· i p h e n y c i r c u i t)除了包括用於控制電流 的元件外,在程式控制過程中還包括像是例如用於控制 讀取電壓等之切換單元。 此在第5圖中所顯示之由記憶體陣列A與四個圍繞此 記憶體陣列之外圍電路P所構成之記憶體陣列,是足以 儲存數個MB的資訊。具有更大容量之MR AM模組配置 ,則須要將多個此種記憶胞陣列組合。 如同由第5圖而明顯,此具有十字形結構之記憶體陣 列不是以DRAM ( DRAM =動態之RAM )以及其他標準記 憶體之所熟悉的方式簡單地彼此組合至記憶體晶片中之 MR AM模組配置。藉由此在十字形結構角落上未使用的 自由平面,在晶片表面上造成高度的浪費,這是適宜避 免的。 -4- 548655 五、發明説明(3 ) 可以看出,此記憶體陣列沒有必要必須具有正方形的 結構,此在角落上的未使用之自由表面亦不須要如此理 想地自由如同在第5圖中所顯示者。因此在"十字形結 構"下應被理解爲一種結構,其中在記憶體陣列的角落 上無論如何至少存在一個自由的表面。 本發明的目的是說明一種MR AM模組配置,其中在使 用自由角落表面的情況下達成記憶胞儘可能高之封裝密 度。 此目的是在一開始所提到特性之MR AM模組配置中根 據本發明以此方式達成,即,須將此等記憶體陣列彼此 交錯嵌入,使得在使用十字形結構之自由角落表面的情 況下,達成模組配置之高的封裝密度。 因此須設計十字形記憶體陣列,使得它可以彼此交錯 嵌入(interleave)因而達成明確提高的封裝密度。 當沒有理想的十字形結構存在,而是每一個記憶體陣 列之至少一個角落具有自由表面時,此亦適用。 本發明有利的其他發展由申請專利範圍附屬項產生。 本發明以下根據圖式作進一步說明。 圖式之簡單說明 第1圖爲根據本發明實施例之MR AM模組配置之槪要 俯視圖。 第2圖爲在字元線WL與位元線BL之間之MTJ胞之 槪要圖式說明。 第3圖爲槪要圖式說明用以描述磁性層之平行磁化定 548655 五、發明説明(4 ) 向。 第4圖爲槪要圖式說明用以描述磁性層之反平行磁化 定向。 第5圖具有記憶體陣列A與外圍電路P之記憶體陣列 之槪要俯視圖。 第2至5圖已經在一開始就說明過。 在圖中彼此對之構件各具有相同的參考號碼。 如同在第1圖中顯示,在此根據本發明之MR AM模組 配置中,各個由記憶體陣列A所構成之記憶體陣列,以 及其所配置之外圍電路P須彼此交錯嵌入,使得在使用 十字形結構之自由角落表面的情況下,存在模組配置之 高的封裝密度。在此MR AM模組配置之列(ro w)l、2、3 是彼此交錯地設置,因此例如在列2中,此鄰接列1或 3的週邊電路P被準確地嵌入列1與3之記憶體陣列之 角落表面中。 此各個記憶體陣列沒有必要使用具有第1圖實施例之 理想十字形的結構,更正確地說,當此記憶體陣列大致 具有此種十字形的結構,其允許不同列之各個記憶體陣 列彼此交錯嵌入時就足夠。 - 同樣的外圍電路P並不絕對須要具有理想的矩形結構 ,此記憶體陣列在基本上較佳是配置成正方形。然而它 還可以具有長方形的邊緣或以其他的方式實施。當須配 置此外圍電路P與記憶體陣列A,使得它們可以彼此交 錯嵌入以節省晶片面積時’則足以完全實現本發明。 -6- 548655
五、發明説明( α ^ 1 f、,$封裝密度之MRAM模組配置 本發明因此使得可以現向β疼 。其基本的優點是獨自藉由記憶體陣列之各個列之父錯 嵌入之配置而達成,其與截止目前爲止的習知技術例如 DRAM與快閃式記億體在基本上不同。 -7-

Claims (1)

  1. 5^8655 :絶3:1_補充_ 六、申請專利範圍 第9 01 2 246 1號「磁性隨機存取記憶體(MRAM)-模組配置」 專利案 (92年3月修正) 六申請專利範圍: 1. 一種由多個記憶胞陣列(A,P )所構成之磁性隨機存取 記憶體(MRAM)-模組配置,其各由具有多個記憶胞 (WML,TL,HML )之記憶體陣列(A ),以及由在此記憶體 陣列(A )之面上所圍繞之外圍電路(P )所構成,其特 徵爲此外圍電路(P )須圍繞此記憶體陣列(A ),使得 在俯視中各記憶胞陣列(A,P)在基本上具有十字形的 結構,並且此等記億胞陣列(A,P )因此彼此交錯嵌入 ;此記憶胞陣列(A,P )在各列(1 , 2,3 )中彼此交錯設 置。 2. 如申請專利範圍第1項之磁性隨機存取記憶體 (MRAM )-模組配置,其中記憶胞陣列(A,P )之例如列 (2 )之外圍電路(P )突入於例如相鄰列(1,3 )之記憶胞 陣列(A,P)之自由角落表面中。 3. 如申請專利範圍第1或2項之磁性隨機存取記憶體 (MR AM)-模組配置,其中外圍電路(P)在基本上具有 長方形結構。 4. 如申請專利範圍第1或2項之磁性隨機存取記憶體 (MR AM )-模組配置,其中記憶體陣列(A )在基本上是 正方形或長方形。
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KR (1) KR100415974B1 (zh)
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DE50100269D1 (de) 2003-07-03
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