A7 4366 Ο 8 --— _Β7_____ 五、發明說明（1 ) [技術領域] 本發明是有關測定被檢體之高度與位置等之測定裝置 [背景技術] 近年來，半導體零件有逐漸高積體化與大型化之傾向 a隨著此種傾向有人正考量BGA套裝以作為封裝有裸晶等 之電氣零件封裝。關於此種BGA套裝，最近針對裸晶本身 1有人採用以FC連接之凸起（Bump)者，對於此種封裝，更 需要精度高之微細物體之位置測定與高度測定等。 而且’先前，對於採用此等凸起之電氣零件封裝，操 作人員除了利用實物顯微鏡一個個觀察以測定其位置，而 且測定其高度等。 但是，如此一來，為檢查一個電氣零件封裝之外觀， - 花費太多時間，不但作業效率降低，而且有造成搡作人員 重大之負擔之問題。 另外’要從被檢體取得良質之影像，必須將光源雷射 二極管之光量調整至最適當》 因此’習知用於控制雷射二極管之雷射光之光量之方 法係藉由使雷射二極管之電源電壓成為可變以控制雷射光 之光量’或將透過量逐次變化之ND濾光器配置於雷射二極 管之前面’並在此狀態下移動ND濾光器以變化雷射光之透 過量。 但是’如將雷射二極管之電源電壓改成可變化，則雷 射光之波長即變成不穩定，不易取得良質之影像，而且， _ -----------ft-------- 訂---------竣 (請先閲讀背&之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局WK工消费合作社印製 本紙張尺度適用t國國家標準（CNSM4規格（210 X 297公釐） 五 經濟部智_慧財產局員工消费合作杜印製 A7 B7 發明說明（） ND濾光器對雷射光之透過量會逐次變化，因為與其相對之 雷射光具有特定大小之剖面，因此通過1^〇濾光器之雷射光 ’在其剖面之各處有發生光量之參差’故有著無法獲得均 勻之光量之問題。 另外，光東之光路中設有偏光板，雖然藉由旋轉偏光 板，可將通過偏光板之光束之強度加以改變，但是如果被 檢體之測定部分與測定條件變動時，連最適當之亮度也會 變化’因此，不容易經常取得良質之影像。 因此本發明之目的在提供一種測定裝置，它不但可以 在短時間内進行各種尚精密度之測定，而且可以減輕操作 人員之負擔。 此外，本發明之其他目的在提供一種測定裝置，縱使 被檢體之測定部分與測定條件改變，也可以經常穩定取得 最適當亮度之影像。 [發明之揭示] 根據本發明之一形態，其提供一測定裝置，其具備一 第1測定裝置’係利用來自雷射光源之雷射光掃描被檢體， 而由被檢體之反射光至少獲得高度之資訊；一第2測定裝置 ’將來自照明光源之照明光照射於被檢體上，並由被檢體 之反射光或散射光獲得二次元資訊：以及一物鏡，係設置 於上述第1測定裝置中之雷射光與第2測定裝置之照明光重 疊之光路中。 在上述測定裝置中，由第2測定裝置所獲得之二次元資 訊也可以至少包含上述被檢體之暗視野影像及明視野影像 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 * 297公笼） --------^----------^ ί讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) d3 〇β A" B7 經濟部智慧財左局貝工消费合作社印製 五、發明說明（） 之一方。 在上述測定裝置中，由第2測定裝置所獲得之二次元資 訊也可以包含上述被檢體之暗視野影像之亮度影像資訊與 明視野資訊之亮度影像資訊之雙方》 上述測定裝置也可以另具備將來自被檢體之反射光或 散射光分離到上述第1測定裝置側與第2裝置側之二分色鏡 (dichroic mirror)者0 在上述測定裝置中’上述二分色鏡之表面對於與上述 物鏡之光轴正交之面也可以設定成小於45。之角。 在上述測定裝置中，第1測定裝置也可以為具有既可以 反射雷射光又可以擺動掃描上述被檢體反射鏡。 在上述測定裝置中，第2測定裝置也可以為具有攝取上 述被檢體之暗視野影像或明視野影像之線感測器照相機 (line sensor cam«ra)^ » 在上述測定裝置中，上述照明光源也可以為具有反射 照明光源者。 在上述測定裝置中，第2測定裝置也可為具有發出暗視 野影像用之照明光之光源以及將來自該光源之照明光轉換 成單波長之濾光器者。 在上述測定裝置中，第1測定裝置也可以為獲得上述被 檢體之二次元資訊者。 上述測定裝置也可為另具備檢測上述照明光之反射光 光量之裝置與依據檢測之光量控制上述照明光之裝置者。 上述.測定裝置也可另具備設置於上述雷射光之光路中 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -----------γ 裝--------訂I--------族 (請先閱讀背*-之注意事項再填寫本頁) A7 ______B7 五、發明說明（4 ) 並配置成可旋轉之波長板。
上述測定裝置也可另具備旋轉驅動上述波長板，同時 決定對上述雷射光之旋轉角度之旋轉驅動裝置B 上述測定裝置可另具備檢測上述雷射光之反射光光量 之裝置’以及依據檢測到之光量驅動上述旋轉驅動裝置， 以控制上述雷射光之裝置。 在上述測定裝置中，上述波長板也可以設置於將來自 上述雷射光源之雷射光反射之部分之光照不到該雷射光源 之角度。 上述測定裝置中，上述波長板也可以由1/2波長板所構 成。 圊式之簡單說明 第1圖為表示本發明之一實施形態之概略構成圖。 第2圖·係用於說明一實施形態之二分色鏡之特性之圖。 第3圖係用於說明一實施形態之二分色鏡之配置狀態 之圖。 第4圖為用於說明一實施形態中之三角測量原理之標 準剖面圊。 經 濟. 部 智 慧- 財 產 局 員 X 消 費 合 杜 印 製 第5圖為表示一實施形態之受光元件所用之光圈。 實施發明之最佳形態 以下將依照圊式說明本發明之一實施形態。 第1圖表示本發明所適用之檢測裝置之概略構造》圖中 ，101為被檢體（試樣），而該被檢體101係放置於台102上面 。該台102可藉由台驅動部205移動，視需要可以各別移動 本紙張尺度通用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公S ) 4 3 66 0 8 A7 經濟部智慧財ΐ局貝工消f合作社印數 B7 五、發明說明（） 至圖中所示之Z方向，X方向與γ方向（圖之内部方向）。 物鏡103係針對台102上之被檢體101而配置。該物鏡 103利用無限遠設計之物侧遠心鏡（te】ecentric iens)。 在物鏡103與台102之間配置有環狀照明器13卜該環狀 照明器13 1藉由光纖132連接到光源133，並由物鏡103周圍 向被檢體101發出照明光以取得被檢體1〇1之暗視野影像。 在物鏡103與將於後面敘述之電流鏡1〇4之間配置有二 分色鏡134，在該二分色鏡134之反射光路設有半透明鏡 (half mirror)136。 另外，在半透明鏡136之透過光路中，設置反射照明用 之光源137。該光源137穿過半透明鏡136，二分色鏡134與 物鏡103朝向被檢體101發出反射照明光，俾取得被檢體1〇1 之明視野影像。 在此，如第2圖所示，二分色鏡134係使用一種分別赴 上述環狀照明器131所產生之暗視野影像及光源（反射照明 用）137所產生之明視野影像之觀察系統之波長區域呈低穿 透量（高反射）’而且對將於後面敘述之雷射二極管105所發 出之測定光之波長範圍呈高穿透量之特性者。 而且’此等被檢體101之暗視野影像或明視野影像係通 過物鏡103以二分色鏡134反射’再以半透明鏡13 6反射，穿 透成像镜135俾由配置於該成像鏡135之集光位置之線感測 器攝影機138所取得。 在此，線感測器攝影機13 8係用於攝取利用二分色鏡 134之反射光路藉由成像鏡135取入之被檢體之暗視野 本紙張尺度適用t國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） --------訂-------I--冷 (請先閱讀背面之泛意事項再填寫本頁) 經洗部免慧5產局貝工清费合作杜印製 A7 B7 五、發明說明（6 ) 影像或明視野影像者《>線感測器攝影機138係將每—行之攝 影位置與後面所述之電流鏡104之掃描位置錯開以消除雷 射光之影響，俾獲得良好之暗視野影像與明視野影像。 而藉由行線感測器攝影機138所攝得之暗視野影像被 輸入至控制裝置121之位置演算部139以作為亮度影像資訊 。該位置演算部139不但可以由線感測器攝影機138所取得 一次元影像資訊計算出被檢體之位置，而且可以執行與 .照明與缺陷相對應之最佳影像處理算法(alg〇rithm)，具有 檢測被檢體101之異物，碎片，污垢，大小等之功能。 然則’二分色鏡134與半透明鏡136之間之光路中，設 有半透明鏡20卜該半透明鏡201反射來自由被檢體1〇1之暗 視野影像或明視野影像之光而藉由成像鏡135引導至受光 元件203。受光元件203之輸出被輸入至控制裝置121中。另 外’在-圖中雖然顯示半透明鏡201設置於二分色鏡134與半 透明鏡136之間之光路中，但是也可以改成設置於半透明鏡 136與成像鏡135間之光路中。 控制裝置121根據受光元件2 0 3之輸出控制光源13 3或 137之光量饋入’俾獲得可做二次元測定之亮度（使光量歸 於事先設定之範圍内，即在上限值與下限值之間）。 另外’在環狀照明器131之光源133前面設有濾光器14〇 °該濾光器140將來自光源133之光轉換成單波長，以二分 色鏡134有效反射被檢體101之暗視野影像，俾可以攝入線 感測器攝影機138中。此外，在線感測器攝影機138之攝影 面設有濾光器141 ^該濾光器141係用於防止將來自後面敘 本紙張尺度適用令國國家標準（CNS)A4規格（210 x 297公釐） 裝--------訂---------線 {請先閱讀背面之.注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4^BS 〇8 at B7 五、發明說明（） 述之雷射二極管105之雷射光以被檢體101表面所反射時之 一部分再被二分色鏡134所反射而侵入線感測器攝影機138 者。 此外，在物鏡103之瞳孔面103’上藉由二分色鏡134配 置電流鏡104以作為掃描構件。該電流鏡104係以瞳孔面 103’之瞳孔中心附近為轴被鏡驅動部120驅動榣擺者，且反 射測定光，並可以分別掃描被檢體101表面於X方向及Y方 向（圖之深遠方向）〇 再者，在此雖然係藉由電流鏡104之擺動實施X方向及 Y方向雙方之掃描，但是X方向之掃描以電流鏡104實施而 Y方向之掃描以台之移動來實現。此外，也可以藉由台之 移動來實於X方向之掃描’而藉由電流鏡104之擺動實現Y.：·. 方向之掃描。 105為雷射二極管，並在該雷射二極管1〇5之前方，隔 著準直透鏡106、1/2波長板3、偏振射束分光器1〇7、1/4波 長板108配置上述電流鏡104,將來自雷射二極管1〇5之雷射 光以準直透鏡106變成平行光，穿過1/2波長板3 '偏振射束 分光器107、1/4波長板108而射入電流鏡1〇4中，並以電流 鏡104之反射光作為測定光，使其經過二分色鏡134、物鏡 103而聚光於被檢體101表面上。 1/2波長板3大致配置成與來自雷射二極管1〇5之雷射 光光軸呈正交》此時，1/2波長板3宜對雷射光光軸傾斜於〇 至10度之範圍内為宜，而非垂直（90。）。這是為了防止由1/2 波長板所反射之部分之光被雷射二極管105之發光部所照 本紙張尺度適用中圉國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公芨） (請先閲讀背ώ之注意事項再填寫本頁) ----— III ^ * ------- 經 濟「 部 智' 慧 財 k 局 員 工 費 合 作 社 印 製 A7 B7 五、發明說明（） 射之害處。丨/2波長板3呈圓形’在其周緣部形成齒輪3a， 該齒輪3a可以合馬達ί3之旋轉軸之齒輪13a並以該馬達 Π作為驅動源而旋轉。馬達13連接於控制裝置121，藉由來 自控制裝置121之控制信號可以設定1/2波長板3之旋轉角 度，並依照該旋轉角度變動雷射光之穿透量。 二分色鏡134如第3圖所示，最好設定成對電流鏡1〇4 所反射而將測定光引導至被檢體101表面之物鏡103之光軸 正交之面呈小於45。之角度，在此例中是以實線設定為35。 。亦即，藉由將對測定光之入射角設定為小於45°，將二分 色鏡134之測定光之損失降至最小。 被檢體101上之測定光係被離心聚光於任意之位置，以 作為物鏡103之瞳孔徑與焦點距離所決定之NA之會聚光》 另外，使被檢體101表面所反射之測定光穿透物鏡103 及二分色鏡134，並以電流鏡104反射後，再穿透1/4波長板 108而入射於偏振射束分光器107,並以該偏振射束分光器 107反射之。而以偏振射束分光器107所反射之測定光之光 束係藉由第1成像鏡109聚光於一次像面110 * 通過一次像面110之光束通過設計成無限裝置之第2物 鏡之瞳孔中繼透鏡112而入射於具有半透明鏡面113a之稜 鏡113，而被反射之光東L1與穿透之光束L2所分割。 以稜鏡113之半透明鏡面113a所反射之光束L1經過透 鏡113及第1光圈114，並藉由第2成像透鏡之分離透鏡 (separator lens)l 15聚光於光位置檢測元件（以下簡稱 PSD [Position Sensing Device]) 116上面。 本紙張尺度適用t國國家標準(CNSiAd規格（210^ 297公芨） -------------------1 I ------11 ϊ ^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Α7 Β7 〇8 I、發明說明（） 該PSD 116係用於輸出依測光位置（光點位置）S而變化 之電流信號者。光點位置S僅向左右移動與被檢體1 〇1之高 度變化成比例之量。這是基於將於後面詳細說明之三角測 量之原理者。 而PSD 116之輸出除了輸入控制裝置121作為被檢體 101之明視野影像之亮度影像資訊之外，並且輸入到高度演 算部122中。高度演算部122根據對應於電流鏡104之擺動角 度之被檢體101表面上之測定位置座標x、y(X方向與Y方向 之位置座標）與及自PSD 116之光點位置信號計算出被檢體 101表面之高度z。 惟如被檢體101之表面有凹凸不平時，PSD 116上面之 光點便具有一定之擴充而有時無法正確檢測·>此時，PSD 116僅能檢測光點之周邊部分而發生不小之檢測誤差。 因此，此種情形下，無法檢測被檢體101之高度，檢查 結果應予以作廢。在本實施形態中，為判斷測定之可行性 ，將穿透上述稜鏡113之半透明鏡面113a之光束L2透過設置 於上述稜鏡113之後端側之鏡面113b，與第2光圏124而引導 至分割受光元件125。 該分割受光元件12 5之輸出（光量）被輸入到可否測定 判斷部126。可否測定判斷部126根據分割受光元件丨25之輸 出判斷是否已到達可測定高度之明亮度。具體地說，應設 定可能測定之範圍（下限值與上限值），並判斷光量是否位 於該範圍内β 此外’控制裝置121根據分割受光元件125之輸出，控 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公沒） — — — — —I^. — I -----訂---I I I i (諳先閱讀背·面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印數 12 經濟部智慧財在局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（ω ) 制雷射二極管105之雷射光光量之饋入以便得到可以測定 .高度之亮度（俾將光量達到預先設定之範圍内，即上限值與 下限值之間）。 具體而言’控制裝置121藉由送出控制信號來起動馬達 13，並使1/2波長板3旋轉。如此一來，對雷射光大致配置 成正交之1/2波長板3會僅轉動藉由來自控制裝置121之控 制信號所設定之旋轉角度，雷射光之穿透量係根據此時之 旋轉角度設定者。如此，穿透1/2波長板3之後，在台1〇2 上之被檢體101上面照射作為光點光之雷射光即可以設定 成所希望之最佳光量。也因此，在控制裝置121—方可以獲 得以最佳之明亮度所測定之被檢體101之影像。 惟，第1成像透鏡109之前侧焦點面係放在第1物鏡103. 之曈孔面或其共軛面103’上。另一方面分離透鏡115係放在 第2物鏡之曈孔中繼透鏡112之後側焦點面上。因此，分離 透鏡115便落在與第1物鏡1〇3之瞳孔面103’共軛之位置上 。所以’分離透鏡115即為在由所有測定點所反射之測定光 之中’通過對物瞳孔面103,之相同部分之光束，將測定光 點形成於PSD 116上面。 另外，上述第i光圈114如第5囷所示，係配置於瞳孔之 緣部（離開中心部分一定距離h之位置）。如此配置，由於被 檢體101之凹凸，入射於PSD 116之光點位置依據三角測量 之原理移動至所希望之方向* 而且’該第1光圈114與分割受光元件125相面對之第2 光圈124係設置於共輥之位置。如此一來，投影於分割受光 本紙張尺度適用中國國家標羋（CNS)A4規格（210 X 297公釐） I ^-----I--^--------- (請先閲讀背面之江意事項再填寫本頁) 436S 〇8 A7 ----- B7 五、發明說明（11 ) 元原125上面之光東成為投影於PSD 116上面之光束與通 過對物曈面1〇3,之相同部分的光束。 其次說明上述構成之實施形態的動作。’ 首先，當藉由環狀照明器131由物鏡103周圍朝向被檢 體101發出照明光時，在被檢體101反射之光通過物鏡1〇3 作為暗視野影像而在二分色鏡134反射，再以半透明鏡136 反射，並穿透成像透鏡135並以配置於該成像透鏡135之集 光位置之線感測器攝影機138攝影。然後，以該線感測器攝 影機138所攝取之暗視野影像被輸入到控制裝置121之位置 演算部139,並藉由該位置演算部139算出被檢體101之位置 ，此為測定位置之方法4 其次，如由光源137發出照明光時，則該光透過半透明.： 透鏡136、成像透鏡135、二分色鏡134及物鏡103而朝向被 檢體10_1照射。於是，此次在被檢體101反射之光即透過物 鏡103而以二分色鏡134反射以作為明視野影像，再以半透 明鏡136反射’並穿過成像透鏡135，而以配置於該成像透 鏡135之聚光位置之線感測器攝影機138攝影》而以該線感 測器攝影機138所攝取之明視野影像被輸入控制裝置121中 作為亮度影像資訊，而選出對應於被檢體101之各種缺陷之 最佳算法以進行缺陷的檢測。 如此一來，即可以選擇性地點亮這些環狀照明器131 及光源137 ’並藉將被檢體1〇1之暗視野影像或明視野影像 之亮度影像資訊輸入控制裝置121以提高被檢體101之位置 測定與各種缺陷之檢查精確度，而降低錯誤檢測。另外， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公笼） (請先閲讀背’面之ί4意事項再填寫本頁) -J' ------- ! - ^ ---I---ί*^ 經溃部智慧財產局貝工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工.消費合作社印製 A7 B7 1? 五、發明說明（） 也可以同時點亮這些環狀照器131及光源137,將被檢體1〇1 之暗視野影像及明視野影像重疊之亮度影像資訊輸入控制 裝置121，並藉由此時之亮度影像資訊之各種算法處理進行 被檢體101之各種測定 然後由雷射二極管105發射雷射光時，則雷射光經由準 直透鏡106、偏振射束分光器107、1/4波長板108入射至電 流鏡104，在電流鏡104之反射光成為測定光而通過二分色 鏡134及物鏡103而聚光於被檢體10Γ上面。另外，·在被檢體 101上面反射之測定光通過物鏡103及二分色鏡134而被電 流鏡104所反射，再通過1/4波長板108在偏振射束分光器 107被反射，並藉由第1成像透鏡109聚光於起始像面110。 再者，通過起始像面110之光束於通過瞳孔中繼透鏡H2後 ，入射於具有半透明鏡面113a之稜鏡113，而以半透明鏡 113a所反射之光束L1經過鏡子113與第1光圈114,透過分離 透鏡115聚光於PSD 116上面。 而且，該PSD 116之輸出除了被輸入到控制裝置121中 作為被檢體101之明視野影像之亮度資訊之外，同時也輸入 至高度演算部122。 在控制裝置121中根據被檢體101之明視野影像之亮度 資訊執行有關被檢體101之各種檢查，並由高度演算部122 ，根據與電流鏡104之擺動角度相對應之被檢體101上面之 測定位置的座標X與y，以及得自PSD Π6之光點位置信號 來演算被檢體101表面之高度z。 另外，此種高度測定可以單獨進行，也可以與取得上 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ---.1裝--------訂------- —線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 15 A7 4366 〇8 --------B7_____ 五、發明說明（13 ) 述被檢體101之暗視野影像與明視野影像之亮度影像資訊 同時進行。 接著詳細說明高度演算部122之動作。 首先，針對利用高度演算部122計算高度之原理及其具 體方法詳細說明之。 第4圖僅表示第1圊之起始像面Π0後面之部分者，係重 新假定起始像面110之被檢體像為被檢體面1(Π’。 作為系統參數，將曈孔中繼透鏡（第2物鏡）112之焦點 距離定為fP ’分離透鏡Π 5之焦點距離定為fs，起始影像之 成像倍率定為Μ，由光轴至分離透鏡115之中心為止之高度 定為h’瞳孔中繼透鏡ι12與分離透鏡115之距離定為d，第 1成像透鏡109之NA定為NA0B » 起始影像之散焦量（高度）z’在設定被檢體之高度為Z · 時為ZM2 ’在PSD 116距離中心（5之位置形成著光點。此時 由圖中<5為 <5 =fs · tan a …⑴ tan a =h/(b-D) ".(2) 從而，可以引導出下式： δ =fs · h/(b-D) ... (3) h=fp * NA〇B/Mp ... (4) 在此，如第3圖所示，p為在成像透鏡l〇9之曈孔上算出 之光圈中心與曈孔之半徑比ρ=φ /h。 其次，計算b時， l/b=(l/fp)-(!/(fp+M2Z)) --(5) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4境格（21〇 x 297公笼） (請先閱讀背*之注意事項再填寫本頁)
* n n I t t— 如u I— tt !i 11 I I 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 經濟部智«財產局員工.消费合作杜印製 A7 B7 14 五、發明說明（） 因此，b=fp(fp+M2Z)/M2Z …（6) 整理上述各式即得， 6 =fs . (fpNA0BM/r) . Z . {l/(fp(fp+M2Z)-DM2Z)}…（7) 另外，如上所述，分離透鏡115與瞳孔中繼透鏡112之 距離D為fp，所以 δ =(fs/fp) · (NA〇bM/P) * Z …（8) ' 5與Z完全呈現線形之關係。 實際之測定量為5。因此，將（·8)轉換成 Z={fpP/(fsNA〇BM)} · δ …（9) 然後為根據此項原理具體算出被檢體101之高度Ζ，設 置於上述PSD 116之高度演算部122由上述PSD 116接受光 點位置信號5。而該高度演算部122利用光點位置信號<5、> 上述系統參數f、/3、Θ以及由上述鏡子驅動部120依次輸 -入之測定位置資訊X，y以連續輸出各測定位置之高度Z。 如上所述，不必上下調整各光學系統與被檢體1〇1也可 以用極高速度進行廣範圍之測定領域與具有動態範圍 (Dynamic Range)之高度測定。 因此，如此一來’不但可以利用來自雷射二極管1〇5 之測定光，依據三角測量之原理高速進行被檢體101表面之 高度之測定，而且可以藉由環狀照明器131及光源137，以 線感測器攝影機138攝取被檢體101之暗視野影像或明視野 影像’以取得各自之亮度影像資訊，藉以利用符合缺陷之 最佳條件進行被檢體101之位置測定與缺陷檢查等，所以可 以精密測定該等之高度與位置測定等，而且可以在短時間 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） I ----------I I --------^ --------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) * 4366 〇g A- --—__ Β7 ^ „ 15 五、發明說明（） 内有效進行。另外，因為可以藉由同一物鏡1〇3將獲得暗視 野影像或明視野影像等之二次元影像資訊之二次元測定裝 置與利用三角測量等之三次元影像測定裝置（至少可測定 高度之測定裝置）而取得，所以不必調整被檢體10丨即可執 行多個測定裝置’因此在更換測定裝置時，被檢體1〇1不致 於發生位移’不但可以大幅地減輕作業人員之負擔，而且 可以不必準備麻煩的調整機構。 裝i t -----訂*---- 另外，在上述實施形態中，因為將1/2波長板3配置於 發生雷射光之雷射二極管105之前大致對雷射光呈正交，且 呈可旋轉狀態’並藉由馬達13將1/2波長板3僅旋轉由控制 裝置12丨之控制信號所設定之旋轉角度，並使可依照此時之 旋轉角度設定雷射光之穿透量，因此與先前之可以使雷射 二極管之電源電壓變動者比較，雷射光之波長決不會變動 ，可以取得良質之影像’而且與使用先前之ND濾光器者相 比’在雷射光之剖面之各處也決不會發生光量之不均勻， 可以連續地獲得均勻光量之雷射光，實現穩定之雷射光之 調光控制。 [產業上之可利用性] 經濟部智慧財產局貝Μ消費合作社印製 如上所述，根據本發明，不但提供可以在短時間進行 高精密度之各種測定’而且可以減輕作業人員所需負擔之 測定裝置。並且提供了縱使被檢體之測定位置與測定條件 變更，也經常可以穩定地取得最佳亮度之影像的測定裝置 本紙張尺度適用令國囷家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 18 A7 B7 16.五、發明說明（） 「元件標號對照」 3 1 / 2波長板 13 馬達 13a 齒輪 101 被檢體 102 台 103 物鏡 104 電流鏡 105 雷射二極管 107 偏振射束分 光器 108 1/4波長板 109 第1成像鏡 110 第一次像面 112 瞳孔中繼透 經濟部智慧財產局員工-消費合作社印製 鏡 稜鏡 半透明鏡面 第1光圈 分離透鏡 光位置檢測 元件（PSD) 120 121 122 125 126 131 132 133 134 135 136 137 13S 139 140 141 201 203 鏡驅動部 控制裝置 高度演算部 分割受光元 件 可否測定判 斷部 環狀照明器 光纖 光源 二分色鏡 成像鏡 半透明鏡 光源 線感測器攝 影機 演算部 ;慮光器 遽光器 半透明鏡 受光元件 — — — — — · i 1 I 1 I I I — I — — — — — I (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用令國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 19