TW419770B - Semiconductor integrated circuit design and evaluation system - Google Patents

Description

A7 419770 B7 五、發明說明（1 ) 發明部份 本發明係有關一種設計及評估系統，用以設計及評估 半導體積體電路，諸如大型積體（LS I )電路，且更明 確言之，係有關半導體積體電路設計及評估系統，用以在 高速上評估製造用於半導體測試系統上之測試圖型，或根 據半導體積體電路之設計階段中經由C A D (電腦輔助設 計）方法所產生之邏輯模擬資料，對半導體積體電路之設 計執行診斷測試，而不使用實際之半導體測試系統或欲測 試之半導體積體電路。 發明背景 在發展半導體積體電路，諸如大型積體（LS I )電 路之方法中，幾乎恆使用一種設計方法，使用電腦輔助設 計（CAD)工具。使用CAD工具之此一設計環境亦稱 爲電子設計自動（EDA)環境。在具有CAD工具之此 一半導體發展方法中，使用硬體描述語言，諸如VHDL 及Verilog，所需之半導體電路製成L S I 且在此方法中 ，如此設計之半導體電路之功能經由稱爲裝置邏輯模擬器 之軟體模擬器評估》 裝置邏輯模擬器包含一介面，普通稱爲測試台，由此 施加測試資料（向量）於裝置設計資料（顯示想要之半導 體電路）上，及評估想要之半導體電路之結果反應。 在LS I電路之設計階段後，製造實際之LS I裝置 ，並由半導體測試系統，諸如L .S I測試器測試，以決定 (請先Μ讀背面之注意事項#!填寫本I) 裝 » ϋ fl— _ 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS>A4規格（210 X 297公釐） -4- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^19770 A7 ___B7_ 五、發明說明（2 ) LSI裝置是否適當執行預定之功能。一LSI測試器供 應一測試圖型（測試向量）至測試下之LSI裝置，並比 較LS I之結果輸出及預期之資料，以決定LS I裝置之 通過/失敗。爲以較高程度之功能及密度測試L S I裝置 ，施加於L S I裝置上之測試圖型故需複雜及冗長，導致 大爲增加製造測試圖型之工作負載及工作時間。故此，當 測試下之L S I裝置，尤其是較短壽命週期之L S I裝置 實際製造時，不宜產生一測試圖型，因爲此使L S I裝置 延遲上市。 故此，爲提高半導體積體電路之整個測試效率及生產 率，普通作法爲使用經由在實際測試半導體積體電路中執 行裝置邏輯模擬器所產生之資料。此仍由於由L S I測試 器在測試實際半導體積體電路中所執行之測試程序大致與 由裝置邏輯模擬器在上述CAD方法中測試半導體電路之 設計資料中之測試程序相似之故。 例如，L S I測試器用以測試想要之半導體積體電路 之測試圖型及預期値圖型由使用執行裝置邏輯模擬所獲致 之資料（傾印檔）產生。然而，迄今，並無系統能根據 L S I裝置之設計階段中所獲得之傾印檔，產生測試圖型 及預期資料圖型，在高速度及低成本上用於L S I測試器 及其評估上。 在此邏輯模擬資料中，欲應用於裝置模型上之測試圖 型以及裝置模型之結果輸出（預期値圖型）由事件基礎格 式表示》在此，事件基礎資料表示測試圖型自邏輯” 1” 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -5- ------- - -裝----r--II 訂’ ！！ _!埭 (請先閲讀背面之注意事項爿填寫本頁) 419770 A7 ___B7 _ 五、發明說明（3 ) 至邏輯” 0 ”或反之而行之改變（事件）點，_對時間過去 (靖先«讀背面之注意事項再填寫本頁> 而言。時間過去一般由距一預定基準點之時間長度，或距 前事件之時間長度表示。反之，在實際L S I測試器中， 測試圖型由週期基礎描述。在週期基礎資料中，測試圖型 與測試器之預定測試週期（測試器頻率）相對訂定。 如上述，用以測試實際產生之L S I裝置之測試圖型 可由使用LSI裝置之設計階段中所產生之CAD資料有 效產生。然而，由於各種理由，依此方式產生用於L S I 測試器上之測試圖型並不恆適於精確偵測測試下之L S I 裝置之失敗。故此，需評估經由以上程序所產生之測試圖 型。 經濟部智兹财產局貝工消费合作社印製 在普通技術中，在評估由使用邏輯模擬資料所產生之 欲使用於L S I測試器中之測試圖型中，基本上有二方法 ，一使用實際之LS I測試器，及另一並不使用LSI測 試器。在使用L S I測試器之方法中，需取出邏輯模擬資 料中之事件基礎之測試圖型，並變換事件基礎之測試號型 爲週期基礎之測試號型。週期基礎中之測試圖型在實際 L S I測試器中執行，以評估測試圖型之正確性。此方法 之缺點爲昂貴之LSI測試器僅用以評估測試圖型之完善 性。 在不使用LS I測試器之方法中，使用一 LS I測試 器模擬器來評估測試圖型。且在此方法中’ L s 1測試器 模擬器對已變換爲週期基礎之測試圖型除錯。爲模擬在測 試下之L S I裝置（此接收來自_L S I測試器模擬器之測 本紙張尺度適用中S國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公* ) -6- 4 ί 9 770 Α7 Β7 五、發明說明（4) {晴先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 試圖型）之功能，使用一邏輯模擬器，此在使用CADI 具之設計方法之期間中製造》由於所有評過程經由軟處理 執行，故該方法之缺點爲需要非常長之時間來完成評估。 不使用以上實際L S I測試器之普通技術之一例更詳 說明於下。圖1爲普通技術之一例。用以由使用一測試器 模擬器及一邏輯模擬器來評估測試圖型，其中，例如，所 有操作均由軟體執行。 在圖l·中，由軟構成之一LS I模擬器1 1由圖型檔 1。：及時間檔1 〇2提供所產生之圖型資料及時間資料， 用於L S I測試器上。圖型資料及時間資料例如由自傾印 檔1 5中取出圖型資料及時間資料產生，此在L S I裝置 之設計階段中執行邏輯模擬所產生。邏輯模擬傾印檔之一 例.爲Venlog之V C D (値改變傾印）。在傾印檔1 5中之 資料由變換軟體1 7變換爲週期基礎資料，產生上述之圖 型資料及時間資料，分別儲存於圖型檔1 0 i及時間檔 1 0 2 中。 經濟部智慧財產局Μ工消费合作社印製 L S I測試器模擬器1 1對測試圖型除錯，以測試想 要之LS I裝置或LS I裝置之功能，而不使用LS I測 試器硬體。L S I測試器模擬器1 1產生測試圖型，具有 圖型資訊及時間資訊，並施加測試圖型於欲測試之L S I 裝置之邏輯模擬器上》L S I測試器模擬器1 1比較邏輯 模擬器之結果輸出信號及預期資料，以決定L S I裝置之 測試圖型或性能之正確性" L S I測試器模擬器1 1提.供測試圖型給格式變換器 本紙張尺度適用中國國家標準<CNS)A4規格（210 * 297公釐） A7 419770 _B7____ 五、發明說明（5 ) 1 2，作爲輸入資料。格式變換器1 2變換來自LS I測 試器模擬器11之輸入資料爲由裝置邏輯模擬器13接受 之格式。裝置邏輯模擬器1 3普通包含一介面，稱爲 P L I (程式語言介面）。如此，在此情形，格式變換器 1 2變換測試圖型.爲PL I格式。 裝置邏輯模擬器13用於LSI裝置之設計階段，並 由一邏輯模擬器1 3:及一裝置模型1 32構成，以能與模 擬器！相通之語言描述《裝置模型132模擬欲測試之 LS I裝置之操作。裝置邏輯模擬器1 3發送經由LP I 介面所接收之測試圖型至裝置模型1 32，並提供來自裝置 模型1 32之結果反應經PL I介面至一格式變換器1 4。 格式變換器1 4變換裝置模型1 32之輸出爲由L S I測試 器模擬器接收之格式。LS I測試器模擬器1 1比較來自 格式變換器1 4之裝置输出資料及預期値資料。當二資料 相符時1視爲測試圖型正確" 在僅由軟體方法使用上述裝置邏輯模擬器評估測試圖 型中，如以上，需要大量之工作及非常長之處理時間。由 操作裝置邏輯模擬器所費之處理時間等於整個處理時間之 大部份。而且，PL I介面之能力有限，此亦導評估效率 不佳。 發明槪要 故此，本發明之一目的在提供一種半導體積體電路設 計及評估系統，用以經由電設計.自動（E D A )環境設計 执張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -8- --------— — — 1· ----r---— -----11^ < {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局具工消費合作杜印製 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印數 419770 A7 _B7__ 五、發明說明（6 ) 想要之L S I裝置，並在高速上評估一測試圖型，用以測 試根據LSI裝置之設計階段中所發展之CAD資料所產 生之L S I裝置。 本發明之另一目的在提供一種半導體積體電路設計及 評估系統，用以經由電設計自動方法設計想要之L S I裝 置，並在高速上評估用以測試根據在L S I裝置之設計階 段中所發展之C A D資料所產生之L S I裝置之測試圖型 ，而不使用實際之LS I測試器。 本發明之另一目的在提供一種半導體積體電路設計及 評估系統，用以評估一測試圖型，此用以高速測試L S I 裝置，使用小型及專用之硬體，其中，測試圖型根據 L S I裝置之設計階段中所產生之CAD資料產生。 本發明之另一目的在提供一種半導體積體電路設計及 評估系統，用以高速評估測試圖型，以測試L S I裝置， 而不使用裝置邏輯模擬器，其中，測試圖型根據L S I裝 置之設計階段中所產生之CAD資料產生。 本發明之另一目的在提供一種半導體積體電路設計及 評估系統，此能執行裝置失敗模擬，由加裝一高速測試圖 型評估裝置，用以評估測試圖型，以測試根據L S I裝置 之設計階段中所發展之CAD資料所產生之LSI裝置， 具有一裝置功能添加電路，此界定輸入信號及輸出信號間 之關係。 本發明之另一目的在提供一種半導體積體電路設計及 評估系統，此能對LSI裝置執·行裝置失敗模擬，具有一 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） • 9 - -------------裝 -tt I I tr----- i I < (請先閲讀背面之注意事項再瑱寫本頁) 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印製 ；α 7 Τ ! “丨 Α7 __Β7__ 五、發明說明（7 ) 類比功能加裝於其中之邏輯電路上，具有一高速測試圖型 評估裝置用以評估一測試圖型，以測試根據L S I裝置之 設計階段中所發展之C AD資料所產生之L S I裝置，具 有一裝置功能添加電路，此界定輸入信號及輸出信號間之 關係。 在本發明之半導體積體電路設計及評估系統中，想要 之LS I裝置經由一電設計自動（EDA)方法設計，且 如此設計之L S I裝置之功能在一電腦上使用裝置邏輯模 擬器測試。自執行裝置邏輯模擬中所獲得之事件儲存作爲 一傾印檔。欲使用於L S I測試器中之週期基礎之測試圖 型由使用傾印檔中之資料所變換之圖型資料及時間資料產 生。 測試圖型與自傾印檔所獲得之L S I裝置之輸入信號 波形同步。當二者在同步情形中時，自傾印檔中所獲得之 L S I裝置之輸出信號波形與資料（預期値）在一比較時 間（由時間資料及圖型資料訂定）上比較。如二資料相符 合，則決定測試圖型適當。當不相符時，由界定裝置之輸 出或L S I裝置之輸入資料及輸出資料間之關係，可執行 LSI裝置之失敗模擬。 依據本發明之半導體積體電路設計及評估系統，想要 之L S I裝置經由電設計自動（EDA)環境設計，並經 由L S I裝置之設計階段中所獲得之傾印檔，在高速及低 成本上產生測試圖型及預期値圖型。在本系統之測試圖型 評估中，不需要軟體構成之裝置.邏輯模擬器，且由於由系 — — —— — — — — — — — — — 1111111 » — — — — — — — — « (請先《讀背面之沒意事項再琪寫本頁》 本紙張尺度適用中國國家楳準（CNS)A4现格（210 X 297公釐） -10 - A7 _B7_______ 五、發明說明（8 ) 統專用之小型硬體評估測試圖型，故可在高速及低成本上 評估測試圖型。 請 先 讀 背 之 注 意 事 項 Λ- 填 % 本 頁 附圖簡述 圖1爲槪要圖，顯示在普通技術中使用軟所構成之裝 置邏輯模擬器之測試圖型評估方法。 圖2爲方塊圖，顯示本發明之半導體積體電路設計及 評估系基本構造。 ιί 形，顯示由本發明之半導體積體電路設 計及評估系統中之週期-事件變換器變換資料之影像。 圖4爲槪要圖，顯示本發明之半導體積體電路設計及 評估系統中之評估部份之修改之結構》 主要元件對照表 1 0 1 圖型檔 I 0 2 時間檔 II L S I測試器模擬器 12 格式變換器 經濟部智慧財產局員工消费合作社印契 13 裝置邏輯模擬器 1 3 1 邏輯模擬器 1 3 2 裝置模型 15 傾印檔 17 變換軟體 2 0 高速測試圖型評估裝置· -11 - 本紙張尺度通用中a画家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印製 _77riiu 五、發明說明（9 ) 2 2 週期一事件變換器 ‘ 2 4 評估部份 2 5 記憶器 2 7 比較器 2 8 電路 3 5 測試圖型記億器 3 6 VCD資料記憶器 3 8 裝匱功能添加電路 較佳實施例之詳細說明 參考附圖，說明本發明之實施例。圖2爲一方塊圖， 顯示本發明之半導體積體電路設計及評估系統之一結構。 如基本方塊，圖2之例顯不一EDA方塊4 1，表不電設 計自動（EDA)環境，一高速測試圖型評估裝置20， 及一L S I模擬器1 1。 在EDA方塊4 1中，設計想要之L S I裝置，且其 功能由一裝置邏輯模擬器評估。在此E D A方塊中，僅顯 示與L S I裝置測試有關之部份。裝置邏輯模擬器構製有 —邏輯模擬器4 3及一裝置模型4 5，由能由邏輯模擬器 所譯解之語言描述。裝置模型45模擬欲測試之LSI裝 置之性能。經由裝置邏輯模擬器執行測試，產生顯示輸入 及輸出邏輯信號及時間間之關係之資料，作爲一傾印檔。 此一傾印檔之一例爲Verilog之VCD (値改變傾印）。 由軟體構成之L S I模擬器1 1設有圖型資料及時間 --- - ------- - - * I--I I I I ^ — — — — — — I! yt <請先閱讀背*之注Ϊ項再填K本萸) 本紙張尺度適用中s國家標準（CNS>A4規格<210 x 297公釐） -12- A7 419770 ___B7__ 五、發明說明（10 ) 資料，製造用以由L S I測試器以圖型檔1 〇 i及時間檔 1 0 2測試L S I裝置。圖型資料及時間資料例如經由一變 換軟體1 7產生，自EDA方塊4 1中之L S I裝置之設 計階段中執行邏輯模擬所產生之傾印檔15中取出圖型資 料及時間資料。如上述，L S I測試器中所使用之測試圖 型一般構製參考測試器速率，即在週期基礎上操作。如此 ，獲自傾印檔1 5中之資料之圖型資料及時間資料爲週期 基礎之形態。 且與圖1之實例相似，一L S I測試器模擬器1 1在 對測試圖型除錯，測試圖型製造用以測試想要之L S I裝 置，或想要之LSI裝置之功能，而不使用LSI測試硬 體9根據圖型資料及時間資料，L S I模擬器1 1產生欲 施加於測試下之裝置上之一測試圖型及一預期値圖型，以 比較測試下之裝置之輸出。L S I測試器模擬器1 1應用 含有圖型資訊及時間«訊之測試圖型於本發明之高速圖型 評估襄置上，並比較高速測試圖型評估裝置之結果輸出資 料及預期値圖型，以決定測試圖型之正確性。 高速測試圖型評估裝置2 0包含一週期一事件變換器 2 2，用以變換測試圖型自週期基礎爲事件基礎，一評估 部份2 4，用以同步二事件資料輸入並比較二者&來自 L S I測試器模擬器1 1之測試圖型施加於週期-事件變 換器2 2上。週期-事件變換器2 2可由軟體或硬體構成 ，然而，爲達成高速操作，硬體構造較宜。 圖3爲一槪要圖，顯示週期.-事件變換器2 2之變換 本紙張尺度適用t國0家標準（CNS)A4规格（210 X 297公釐） I l· ---— — — — — — —— -III·—— — — ^ ·111111! (請先《讀背面之注意事項Λ填寫本頁) 經濟部智慧財產局S工消费合作社印製 -13- A7 419770 B7___ 五、發明說明（11 ) <請先《讀背面之注f項再填寫本頁> 功能之影像。圖3A顯示週期基礎之圖形資料（上圖）及 週期基礎之時間資料（下圖）之波形。指示圖3 A之波形 之資料由圖型檔1 (^及時間檔1 〇2提供給L S I測試器 模擬器。L S I測試器模擬器1 1產生具有圖3 b之波形 影像之測試圖型資料，並施加該資料於週期—事件變換器 2 2上。週期-事件變換器2 2變換測試圖型資料爲事件 資料’具有圖3 C之波形影像。 評估部份2 4包含一記憶器2 5用以儲存來自週期-事件變換器2 2之測試圖型資料，一記憶器2 6用以儲來 自傾印檔1 5之事件資料，及一比較器2 7用以同步記憶 器2 5中所儲存之資料及記憶器2 6中所儲存之資料，並 取出記憶器2 6中與測試下之裝置之輸出相當之資料。在 此構造中’事件基礎之測試圖型儲存於記億器2 5中，及 事件基礎之裝置輸出資料儲存於記憶器2 6中。故此，由 同步測試圖型事件及輸出資料事件，可建立測試下之裝置 之輸出信號對特定輸入信號間之關係。在此執行中'，比較 器2 7硏究來自記憶器2 5及2 6之資料間之時間關係， 經濟部智慧財產局貝工消f合作社印製 並偵測與記憶器2 5中之測試圖型資料同步之記億器2 6 之輸出資料，並輸出該資料，作爲裝置之輸出信號。 來自比較器27之資料提供給LSI測試器模擬器 1 1 ，作爲測試下之裝置之結果輸出。L S I測試器模擬 器1 1比較該比較器2 7之輸出及在脈·閃時間之預期値資 料，以查看二資料是否相符。如二資料重合，則測試圖型 視爲正確。 - -14 - 本紙張尺度適用中國國家楳準（CNS)A4規格（210 * 297公釐） A7 419770 B7___ 五、發明說明（12 ) 圖2之評估部份2 4亦可包含一裝置功能添加電路 2 8，此能界定輸入信號及輸出信號間之關係，.以診斷測 試下之裝置之失敗。電路2 8爲可程式者，及輸入及輸出 信號間之關係可視診斷型式而定調整。例如，在欲包含一 類比功能之一邏輯電路之失敗分析之情形，此一邏輯電路 之操作由裝置功能添加電路2 8加類比功能於其中來評估 ΰ 圖4爲一方塊圖，顯示本發明之高速測試圖型評估裝 置之評估部份之另一例。在此例中，評估部份3 4包含多 個測試圖型記憶器3 5ι及3 52，多個VCD資料記憶器 3 6 1及3 62，一對比較器3 7!及3 72，及一裝置功能 添加電路3 8。多個測試圖型.記憶器3 5 ]及3 52接收來 自圖2之週期一事件變換器2 2之測試圖型，並儲存此等 圖型於其中。記憶器3 5 1及3 52由二小容量之記億器構 成。記憶器3 5宜執行一交插功能1其中，一記億器提供 資料至比較器3 7，同時另一記憶器接收次一測試圖型之 一預定之量。同樣’多個V CD資料記憶器3 6:及3 62 由二小容量記憶器構成’此等以交插之方式操作。此一交 插操作以低成本之小容量記憶器達成高速記憶性能。 與圖2之比較器2 7相似，比較器3 7ι比較來自記億 器3 5之測試圖型及來自記憶器3 6之測試下之裝置之輸 出資料間之時間關係’及同步二資料。比較器3 7 :發送與 測試圖型資料同步之來自記憶器3 6之輸出資料至L S I 測試器模擬器1 1，作爲裝置輸·出資料。L S I測試器模 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） I ϋ ϋ ·1 n ϋ n I n ,ί I I- n 一0，* It I n IP I (請先閲讀背面之注f項4:填寫本頁) 經濟部智慧財產局貝工消费合作杜印紫 -15- 1 419770 A7 _ B7_ 五、發明說明（13 ) 擬器1 1比較裝置輸出資料及預期値資料，以決定測試圖 型是否適當。同樣，比較器3 72比較來自記憶器3 5之測 試圖型資料及來自記憶器3 6之測試下之裝置之輸入資料 間之時間關係，並同步二資料。比較器3 7 i發送與測試圖 型資料同步之來自記憶器3 6之輸出資料至L S I測試器 模擬器1 1，作爲裝置輸出資料。LS I測試器模擬器 1 1比較裝置輸出資料及預期値資料，以決定測試圖型是 否正確。- 裝置功能添加電路3 8設置於比較器3 7 :及比較器 3 7 2之間，以可程式之方式界定輸入信號及輸出信號間之 關係，以診斷裝置之失敗。電路38可模擬LSI裝置中 之一些失敗型式。而且，由界定來自傾印檔之測試圖型及 來自L S I測試器模擬器之測試圖型間之關係，可模擬視 測試圖型之不同而定之裝置測試結果。而且，雖邏輯模擬 器通常不能模擬類比功能，但具有類比功能之邏輯裝置可 由裝置功能添如裝置3 8添加此種功能來評估。 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印製 如上述，依據本發明之半導體積體電路設計及評估系 統，一 LS I裝置在電設計自動（EDA)環境下設計’ 及用以測根據設計階段中之CAD資料生產之L S I裝置 在高速上評估。由使用本發明之導體積體電路設計及評估 系統，當生產LSI裝置時，準備測試圖型。如此’可迅 速推入L S I於市場中。而且，依據本發明之半導體積體 電設計及評估系統，可由小型專用硬體以高速檢査測試圖 型，而無需使用實際之測試器。- -16- (請先《讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公« )

Claims (1)

1. 419770 經濟部智慧財產局貝工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8六、申請專利範圍 1 _ —種半導體積體電路設計及評估系統’包含_ -電設計自動（EDA)環境，用以借助電腦設計系 統設計L S I裝置，及由裝置邏輯模擬器評估所設計之 L S I裝置之功能； —傾印檔，用以儲存以事件基礎所表示之資料，此顯 示由執行裝置邏輯模擬所獲得之所設計之L S I裝置之輸 入/輸出信號改變及時間： 取出裝置，用以自傾印檔中取出由週期基礎所表示之 時間資料及圖型資料； —L S I測試器模擬器，用以根據時間資料及圖型資 料，產生一測試圖型用以測試L S I裝置，及一預期値圖 型用以比較反應測試圖型之L S I裝置之輸出 > 測試圖型 及預期値圖型由週期基礎資料構成； —週期一事件變換器，用以變換來自L S I測試器模 擬器之測試圖型爲事件基礎形態之測試圖型； —第一記憶器，用以儲存來自週期一事件變換器之事 件基礎之測試圖型： 一第二記憶器，用以儲存來自傾印檔之L S I裝置之 事件基礎之輸入/輸出資料：及 一比較器，用以由比較二資料間之時間關係，並取出 與L S I測試器模擬器中之測試圖型相對應之傾印檔中之 L S I裝置之輸出資料，同步第一及第二記憶器中所儲存 之資料。 2 .如申請專利範圍第1項·所述之半導體積體電路設 本紙張尺度適用令0國家標準（CNS)A4規格（210x297公釐） -17 - {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝·！ — ！ I 訂·ίιι·!_^ 41 9770 A8 六、申請專利範团 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 計及評估系統，其中，電設計自動（EDA)，環境中之裝 置邏_模擬器包含一邏輯模擬器及可由邏輯模擬器譯解之 語言所描述之一裝置模型，其中，該裝置模型模擬欲測試 之L S I裝置之操作。 3.如申請專利範圍第1項所述之半導體積體電路設 計及評估系統，其中，週期-事件變換器及比較器由硬體 構成。 4 *如申請專利範圍第1項所述之半導體積體電路設 計及評估系統，其中，週期-事件變換器由軟體構成，及 比較器由硬體構成。 5.如申請專利範圍第1項所述之半導體積體電路設 計及評估系統，其中，另包含一裝置功能添加電路，用以 提供增加或修改測試下之裝置之功能之資料。 6 . —種半導體積體電路設計及評估系統，包含：-一電設計自動（E DA)環境，用以籍助電腦設計系 統設計L S I裝置，及由裝置邏輯模擬器評估所設計之 L S I裝置之功能； 經濟部智慧財產局員工消f合作社印製 一傾印檔，用以儲存由事件基礎所表示之資料，此顯 示由執行裝置邏輯模擬所獲得之所設計之LSI裝置之輸 入/輸出信號改變及時間； 取出裝置，用以取出由傾印檔之資料中以週期基礎所 表示之時間資料及圖型資料： 一 L S I測試器模擬器，用以根據時間資料及圖型資 料，產生一測試圖型用以測試L.S I裝置，及一預期値圖 本纸張尺度適用中國國家標^(〇>15)八4規格（210*297公爱) ϋ A8B8C8D8 經濟部智慧財產局貝工消費合作社印製 六、申請專利範圍 型用以比較反應測試圖型之L S I裝置之輸出，測試圖型 及預期値圖型由週期基礎資料構成： —週期-事件變換器，用以變換來自LS I測試器模 擬器之測試圖型爲事件基礎形態之測試圖型； 一第一記憶器，用以儲存來自週期一事件變換器之事 件基礎之測試圖型： 一第二記憶器，用以儲存來自傾印檔之L S I裝置之 事件基礎之輸入/輸出資料： —第一比較器•用以由比較二資料間之時間關係，並 取出與L S I測試器模擬器中之測試圖型相對應之傾印檔 中之L S I裝置之輸出資料，同步第一及第二記憶器中所 儲存之資料： 一第二比較器，用以由比較二資料間之時間關係，並 取出與L S I測試器模擬器中之測試圖型相對應之傾印檔 中之L S I裝置之輸入資料，同步第一及第二記憶器中所 儲存之資料；及 一裝置功能添加電路，設置於第一及第二比較器之間 *用以提供資料，此添加虛擬功能於測試下之L S I裝置 中。 7 _如申請專利範圍第6項所述之半導體積體電路設 計及評估系統，其中，第一記憶器及第二記憶器由執行交 插功能之多個小型記憶器構成。 8 _如申請+專利範圍第6項所述之半導體積體電路設 計及評估系統，其中’週期一事.件變換器及比較器由硬體 (請先«讀背面之注意事項再填寫本頁) >,· 1111111 — — ^ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 419770 is 六、申請專利範圍 構成。 9.如申請專利範圍第6項所述之半導體積體電路設 計及評估系統，其中，週期-事件變換器由軟體構成，及 比較器由硬體構成· 1 0 如申請.專利範圍第6項所述之半導體積體電路 設計及評估系統，其中，電設計自動（EDA)環境中之 裝置邏輯模擬器包含一邏輯模擬器及可由邏輯模擬器譯解 之語言所描述之一裝置模型，其中，裝置模型模擬欲測試 之LSI裝置之操作。 <請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝----- n I 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 本紙張尺度適用t國國家標準（CNS)A4規格（210 * 297公釐） -20-