TW201903741A - 顯示裝置及影像資料修正方法 - Google Patents

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Abstract

本發明之課題為即使是像素數多的情形，也能長期間進行影像資料之修正。顯示裝置(1)，具備：劣化量增量算出部(120)，其根據影像資料中所包含的階調資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量；劣化量累積部(125)，其於每一定時間累積藉由劣化量增量算出部(120)算出的劣化量之增量；以及修正部(135)，其根據藉由劣化量累積部(125)累積的劣化量之增量的總量，修正像素之輝度。

Description

顯示裝置及影像資料修正方法
本發明關於顯示裝置及影像資料修正方法。
近年來尤其被注目的裝置有OELD(有機電激發光顯示器：Organic Electro Luminescence Display)。OELD根據電信號進行發光，且係使用有機化合物作為發光物質而構成的顯示裝置。OELD固有地具有廣視角、高對比、及高速響應等優異的顯示特性。又，OELD由於可實現薄型、輕量、及高畫質的小型至大型的顯示裝置，因此作為取代CRT(Cathode Ray Tube：陰極射線管)和LCD(Liquid Crystal Display：液晶顯示器)的顯示裝置而受到注目。
然而，在被使用於OLED的有機EL元件中，存在有起因於經時變化及溫度變化的劣化問題。
為了修正像這樣的劣化，專利文獻1中，揭示有為了修正起因於溫度變化的劣化而具有經時補償功能及溫度補償功能這兩個補償功能的顯示裝置。
專利文獻2中，揭示有以縮小成為劣化監視對象的第一區域中包含的至少一個像素的發光輝度、和第二區域中包含的至少一個像素的發光輝度之差的方式，對該等的發光輝度的至少一方進行修正的自發光顯示裝置。
專利文獻3中，揭示有根據光感測器的檢測結果、和被保持於電容的電壓而控制供應給發光元件的電流量的顯示裝置。
專利文獻4中，揭示有利用自基準像素之受光信號導出的輝度劣化函數、和各顯示像素的映像信號的履歷來預測各顯示像素的輝度劣化率的顯示裝置。
專利文獻1：日本特開2004-070349號公報(2004年3月4日公開) 專利文獻2：日本特開2010-243895號公報(2010年10月28日公開) 專利文獻3：日本特開2016-109914號公報(2016年6月20日公開) 專利文獻4：日本特開2011-065047號公報(2011年3月31日公開)
在專利文獻2中揭示的顯示裝置中，若非所顯示的影像固定、且預先知道劣化部分的情形，則無法進行影像資料的修正。
因此，在所顯示的影像每次不同的情形時，如專利文獻3及專利文獻4中所揭示的顯示裝置，必須取得各發光元件劣化的資訊而進行影像資料的修正。但是，若因畫面大型化及/或精細化而像素數增加，則存在有劣化的資訊膨脹增大，而無法將劣化的資訊儲存在記憶體等的問題。
本發明之一態樣，目的在於實現即使是像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料之修正的顯示裝置。
為了解決上述課題，本發明之一態樣的顯示裝置，具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，該顯示裝置具備：算出部，其根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調(gradation)資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量；累積部，其於每一定時間累積藉由該算出部算出的劣化量之增量；以及修正部，其根據藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量，修正該像素之輝度。
本發明之一態樣的顯示裝置之影像資料修正方法，該顯示裝置具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，該影像資料修正方法具備：算出步驟，根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量；累積步驟，於每一定時間累積在該算出步驟中算出的劣化量之增量；以及修正步驟，根據在該累積步驟中累積的劣化量，修正該像素之輝度。
又，本發明之一態樣的顯示裝置，具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，該顯示裝置具備：區域分割部，其將該顯示部之顯示面分割成複數個區域；總和劣化量算出部，其根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，就每個該區域，算出該區域內的各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量的總和；平均劣化量算出部，其根據該總和算出有機發光元件的劣化量之增量的平均；平均累積部，其累積該平均；以及修正部，其根據藉由該平均累積部累積的平均，修正該像素之輝度。
進一步地，本發明之一態樣的顯示裝置之影像資料修正方法，該顯示裝置具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，該影像資料修正方法具備：區域分割步驟，將該顯示部之顯示面分割成複數個區域；總和劣化量算出步驟，根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，就每個該區域，算出該區域內的各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量的總和；平均劣化量算出步驟，根據該總和算出有機發光元件的劣化量之增量的平均；平均累積步驟，累積該平均；以及修正步驟，根據藉由該平均累積步驟累積的平均，修正該像素之輝度。
根據本發明之一態樣，發揮如下效果：即使是像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料的修正。
〔實施形態1〕 針對本發明之實施形態，若根據圖1～圖3進行說明，則如以下所述。圖1係表示本發明之實施形態1的顯示裝置1之構成的方塊圖。圖2係表示顯示裝置1之構成的其他方塊圖。圖3係表示顯示裝置1之動作的流程圖。
(顯示裝置1之構成) 如圖1所示，顯示裝置1具備顯示控制電路10、顯示部20、源極驅動電路30、及閘極驅動電路40。顯示裝置1，係使用有機電激發光的顯示裝置。
如圖2所示，顯示部20具備複數個像素電路Aij(i為1以上n以下的整數，j為1以上m以下的整數)。也就是，在顯示部20中，像素電路Aij設置成n行×m列之矩陣狀。又，在顯示部20設置彼此平行配置的複數條掃描線Gi、和以與複數條掃描線Gi正交的方式且彼此平行地配置的複數條資料線Sj。像素電路Aij，與掃描線Gi和資料線Sj之各交點對應而配置。另外，在與像素電路Aij對應的像素，也可進行子像素優化(Subpixel rendering)之處理。
進一步地，在顯示部20，與掃描線Gi平行地配置複數條控制配線。控制配線係為了驅動像素電路Aij而設置的配線。掃描線Gi及控制配線與閘極驅動電路40連接，藉由閘極驅動電路40驅動。資料線Sj與源極驅動電路30連接，藉由源極驅動電路30驅動。
顯示部20之顯示控制部105，向閘極驅動電路40供應計時信號OE、起動脈衝YI、及時脈YCK。又，顯示部20之顯示控制部105，向源極驅動電路30供應起動脈衝SP、時脈CLK、顯示資料DA、及鎖存脈衝LP。
源極驅動電路30具備：m位元之移位暫存器305、m位元之暫存器310、m位元之鎖存電路315、以及m個DA轉換器320_1～320_m。源極驅動電路30係像素電路Aij之驅動電路。源極驅動電路30向資料線Sj供應賦予與顯示資料DA相應的電位(以下，稱為資料電位)的顯示信號。另外，於此處源極驅動電路30，設成為對與一條掃描線Gi連接的像素電路Aij，進行同時供應複數個像素電路Aij中的一行量的資料電位之線循序掃描。另外，也可以取代線循序掃描，而進行對各像素電路Aij依序供應資料電位之點循序掃描。進行點循序掃描的源極驅動電路之構成由於為公知的，因此此處省略說明。
移位暫存器305具有級聯連接的m個暫存器(未圖示)。在移位暫存器305，由顯示控制部105供應給最前端的暫存器的起動脈衝SP，與由顯示控制部105供應的時脈CLK同步地被依序轉送至各段的暫存器。根據向各段的暫存器之起動脈衝SP之供應時序(timing)，從各段的暫存器將計時脈衝DLP供應給暫存器310。顯示控制部105，配合計時脈衝DLP被供應給暫存器310的時序，向暫存器310供應顯示資料DA。
暫存器310儲存自顯示控制部105供應來的顯示資料DA。當在暫存器310，複數個像素電路Aij中的一行量的顯示資料DA被儲存時，顯示控制部105向鎖存電路315供應鎖存脈衝LP。
鎖存電路315，當被顯示控制部105供應鎖存脈衝LP時，保持已儲存於暫存器310的顯示資料DA。
DA轉換器320_1～320_m，逐個地與各資料線Sj連接。例如，在資料線S1連接DA轉換器320_1，在資料線S2連接DA轉換器320_2。DA轉換器320_1～320_m，將被保持於鎖存電路315的顯示資料DA轉換成類比信號，且分別供應給對應之資料線Sj。
閘極驅動電路40係像素電路Aij之驅動電路。閘極驅動電路40向掃描線Gi供應選擇寫入對象之像素電路Aij的掃描信號。更詳細而言，閘極驅動電路40具備n位元之移位暫存器、邏輯運算電路、以及n個緩衝器(均未圖示)。
移位暫存器具有級聯連接的n個暫存器(未圖示)。移位暫存器中，由顯示控制部105供應給最前端的暫存器的起動脈衝YI，與由顯示控制部105供應的時脈YCK同步地被依序轉送至各段的暫存器。根據向各段的暫存器之起動脈衝YI之供應時序，從各段的暫存器將計時脈衝TP供應給邏輯運算電路。
邏輯運算電路分別對應於各段的暫存器而設置，根據由各段的暫存器供應來的計時脈衝TP、和由顯示控制部105供應來的計時信號OE進行邏輯運算。邏輯運算電路，將與邏輯運算之結果相應的電壓，透過對應於各段的邏輯運算電路而設置的緩衝器，向與各段對應的掃描線Gi及控制配線進行供應。
顯示控制電路10，具備顯示控制部105及影像資料修正電路110。影像資料修正電路110，具備影像資料取得部115、劣化量增量算出部120(算出部)、劣化量累積部125(累積部)、閾值判定部130、修正部135、儲存部145、輸出資料儲存部150、及經時劣化特性儲存部155。影像資料修正電路110，根據影像資料預測有機發光元件之劣化量而進行影像資料之修正。該影像資料顯示於顯示部20。影像資料取得部115，自顯示裝置1之外部機器等取得影像資料。
劣化量增量算出部120，自儲存部145，參照藉由影像資料取得部115而取得的影像資料。劣化量增量算出部120，使用所參照的影像資料、輝度轉換係數(劣化指數)、亮度係數(BC係數)、及溫度係數，算出顯示部20之各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量之增量。具體而言，劣化量增量算出部120，使用以下的式(1)算出劣化量之增量。
I = Gd × BC × TC．．．(1) I為劣化量之增量，G為階調，d為劣化指數，BC為BC係數，TC為溫度係數。所謂的階調，係被顯示於顯示部20的影像資料中所包含的階調資料所示的階調，且使用階調資料的上位8位元而以0～255之值來表示。所謂的階調資料，係表示階調的資料。所謂的劣化指數，係用於將階調換算成劣化量的值，且使用表示階調與輝度之關係的係數即伽瑪係數m、及表示輝度與劣化量之關係的係數n，而以m × n算出劣化指數。通常，伽瑪係數m為2.2。係數n為由實驗求出的值，n較佳為1.5～2.0。
所謂的BC係數，係用於考慮根據在被設置顯示裝置1的場所中周圍環境的亮度而調整影像之輝度的係數。在亮的場所，例如被太陽光照射的場所等，為了使人容易識別顯示於面板的文字或畫，而進行降低影像之輝度的調整。又，於黑暗的場所，為了使電池耐用，進行降低影像之輝度調整。根據在被設置顯示裝置1的場所中周圍環境的亮度而調整影像之輝度的功能，被稱為Brightness Control。BC係數之值，藉由使用者之操作而改變，且以成為0.0625～1.0的方式進行電路設定。一般而言若像素之輝度變高，則有機發光元件之劣化容易進展，若像素之輝度變低，則有機發光元件之劣化難以進展。
所謂的溫度係數，係相對於顯示裝置1之周圍溫度的係數。在使有機發光元件以一定的輝度點亮時，若顯示裝置1本身的溫度或顯示裝置1周邊的溫度高，則有機發光元件之劣化容易進展。若顯示裝置1本身的溫度或顯示裝置1周邊的溫度低，則有機發光元件之劣化難以進展。以顯示裝置1具備的溫度感測器(未圖示)來測定有機發光元件的使用環境之溫度，且相對於顯示裝置1周圍的溫度，以溫度係數之值成為0.0625～1.0的方式進行電路設定。
另外，劣化量增量算出部120，也可以使像素電路Aij的有機發光元件之現在的劣化量反映於使用所參照的影像資料、劣化指數、BC係數、及溫度係數而算出的劣化量之增量，算出劣化量之增量。
又，劣化量增量算出部120，也可以根據由修正部135修正後的影像資料之階調、及/或供應給顯示部20的資訊，算出顯示部20的各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量之增量。
劣化量累積部125，自儲存部145，參照藉由劣化量增量算出部120算出的、各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量之增量。劣化量累積部125，就每個像素電路Aij累積其劣化量之增量。劣化量累積部125將累積的累積劣化量儲存於儲存部145。所謂的累積劣化量，係藉由劣化量累積部125而累積的劣化量之增量的總量。
在劣化量累積部125中，由於累積有機發光元件的劣化量，因此必須在各像素電路Aij中將有機發光元件的累積劣化量儲存於儲存部145。但是，若在每幀(frame)、且全部像素電路Aij中，將累積劣化量儲存於儲存部145，則被儲存於儲存部145的資料膨脹增大。由於儲存部145的儲存區域有限，因此短時間內便在儲存區域填滿資訊，使得劣化量累積部125無法累積劣化量。為了在更長期間累積劣化量，必須壓縮累積劣化量之資訊。
因此，使劣化量累積部125於每一定時間累積劣化量。例如，若以劣化量累積部125每2分鐘累積劣化量的條件下，顯示裝置1被使用1000小時，則累積次數為30000次(30×1000)。由於215 為32768，因此累積次數之資訊量成為15位元。
另外，為了防止因過度提高輝度而像素電路Aij的有機發光元件之劣化加快，也可以在藉由劣化量累積部125算出的累積劣化量超過既定值時，停止該累積處理。
閾值判定部130，自儲存部145，參照藉由劣化量增量算出部120算出的、各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量。閾值判定部130，在各像素電路Aij的有機發光元件之中，判定劣化量最大的有機發光元件的劣化量是否為第一閾值以上。
修正部135，自儲存部145，參照藉由劣化量累積部125累積的、各像素電路Aij的有機發光元件的累積劣化量，以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係。修正部135，根據由劣化量累積部125累積的累積劣化量、以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係，修正影像資料。以下具體地進行說明。
考慮在有機發光元件已劣化的像素電路Aij、及有機發光元件未劣化的像素電路Aij被供應相同階調資料的情形。於該情形，與有機發光元件已劣化的像素電路Aij對應的像素之輝度，較與有機發光元件未劣化的像素電路Aij對應的像素之輝度低。修正部135，以與有機發光元件已劣化的像素電路Aij對應的像素之輝度、和與有機發光元件未劣化的像素電路Aij對應的像素之輝度之差消失的方式，對影像資料中所包含的階調資料進行修正。
修正部135，參照預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係，根據各像素電路Aij的有機發光元件之累積劣化量而算出修正值。修正部135，根據預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係，自累積劣化量求出輝度。修正部135，以修正從與有機發光元件未劣化的像素電路Aij(以下，稱為第一像素電路)對應的像素之輝度，降低至基於有機發光元件劣化的各像素電路Aij(以下，稱為第二像素電路)的有機發光元件之累積劣化量的輝度的量的方式，算出修正值。也就是，修正部135，以與第一像素電路對應的像素之輝度、和與第二像素電路對應的像素之輝度成為相同的方式算出修正值。另外，修正部135，從複數個第一像素電路之中，以與第一像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度、和與第二像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度為相同的方式，選擇第一像素電路。
例如，考慮關於有機發光元件未劣化的像素電路A11、及有機發光元件劣化的像素電路A12。使在與像素電路A11對應的像素及與像素電路A12對應的像素，顯示相同色(影像資料上的輝度相同)。在修正與像素電路A12對應的像素之輝度的情形時，選擇像素電路A11，使與像素電路A11對應的像素之輝度、和與像素電路A12對應的像素之輝度成為相同。
修正部135，在與各像素電路Aij對應的像素之輝度加上上述的修正值。也就是，修正部135，對有機發光元件劣化的像素電路Aij，藉由修正因劣化而輝度降低的量以提高像素之輝度。
於修正部135在與各像素電路Aij對應的像素之輝度加上了修正值的情形時，修正部135判定在全部像素之中、像素之輝度的最大值是否為可進行顯示的上限值以下。
於像素之輝度的最大值為可進行顯示的上限值以下的情形時，修正部135將修正後的影像資料儲存於輸出資料儲存部150。
於像素之輝度的最大值超過可進行顯示的上限值的情形時，修正部135再次算出修正值。於修正部135再次算出修正值的情形時，修正部135進行以下之處理。修正部135，以配合與累積劣化量最大的像素電路Aij(以下，稱為第三像素電路)對應的像素之輝度，修正與第三像素電路以外的像素電路Aij(以下，稱為第四像素電路)對應的像素之輝度的方式算出修正值。也就是，修正部135，以與第三像素電路對應的像素之輝度、和與第四像素電路對應的像素之輝度成為相同的方式算出修正值。另外，修正部135，從複數個第三像素電路之中，以與第三像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度、和與第四像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度為相同的方式，選擇第三像素電路。
例如，考慮關於累積劣化量最大的像素電路A21、及累積劣化量最大的像素電路A21以外的像素電路即像素電路A22。使在與像素電路A21對應的像素及與像素電路A22對應的像素，顯示相同色(影像資料上的輝度相同)。在修正與像素電路A22對應的像素之輝度的情形時，選擇像素電路A21，使與像素電路A21對應的像素之輝度、和與像素電路A22對應的像素之輝度成為相同。
修正部135，在影像資料之輝度加上再次算出的修正值。也就是，在全部像素之中、像素之輝度的最大值超過可進行顯示的上限值的情形時，配合累積劣化量最大的像素之輝度，藉由降低累積劣化量最大的像素以外的像素之輝度而整體上使輝度之差消失(變小)。修正部135，將修正後的影像資料儲存於輸出資料儲存部150。
顯示控制部105，從輸出資料儲存部150，取出已由修正部135修正的影像資料，將該影像資料供應給源極驅動電路30。該影像資料成為前述的顯示資料DA。
(顯示裝置1之動作) 針對顯示裝置1的動作(影像資料修正方法)根據圖3進行說明。
首先，影像資料取得部115，從外部機器等取得影像資料(步驟S105)。影像資料取得部115，將取得的影像資料儲存於儲存部145，向劣化量增量算出部120指示進行處理。
劣化量增量算出部120，當由影像資料取得部115指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由影像資料取得部115取得的影像資料。劣化量增量算出部120，根據參照的影像資料，算出各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量之增量(步驟S110：算出步驟)。劣化量增量算出部120，將算出的、各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量之增量儲存於儲存部145。劣化量增量算出部120，向劣化量累積部125指示進行下一處理。
劣化量累積部125，當由劣化量增量算出部120指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由劣化量增量算出部120算出的、各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量之增量。劣化量累積部125，根據參照的劣化量之增量，累積各像素電路Aij的有機發光元件的劣化量(步驟S115：累積步驟)。以下具體地進行說明。
劣化量累積部125，於每一定時間累積劣化量。劣化量累積部125，首先，前次進行累積處理後判定是否經過了一定時間。例如，於顯示裝置1在顯示部20每秒60幀顯示影像的情形時，若劣化量的累積處理以2秒間隔進行，則劣化量累積部125前次進行累積處理後，於第120幀(60幀×2秒)進行下一累積處理。在劣化量累積部125判定是否經過了一定時間時，劣化量累積部125雖可計算幀數，但也可以使任何的計數器動作，藉由是否成為表示所指定的時間的計算值來進行判定。
劣化量累積部125，將累積的、各像素電路Aij的有機發光元件的累積劣化量儲存於儲存部145。劣化量累積部125，向閾值判定部130指示進行處理。
閾值判定部130，當由劣化量累積部125指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由劣化量累積部125累積的、各像素電路Aij的有機發光元件的累積劣化量。閾值判定部130，判定在各像素電路Aij的有機發光元件之中、劣化量最大的有機發光元件的劣化量是否為第一閾值以上(步驟S120)。在劣化量最大的有機發光元件的劣化量為第一閾值以上的情形時，閾值判定部130向修正部135指示進行處理。在劣化量最大的有機發光元件的劣化量未達第一閾值的情形時，閾值判定部130向顯示控制部105指示進行處理。顯示控制部105，當由閾值判定部130指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由影像資料取得部115取得的影像資料。顯示控制部105，將該影像資料供應給源極驅動電路30。該影像資料成為前述的顯示資料DA。
修正部135，當由閾值判定部130指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由劣化量累積部125累積的、各像素電路Aij的有機發光元件的累積劣化量，以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係。修正部135，根據由劣化量累積部125累積的累積劣化量、以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的累積劣化量與輝度之關係，修正與各像素電路Aij對應的像素之輝度(步驟S125：修正步驟)。修正部135，在與各像素電路Aij對應的像素之輝度加上修正值。關於此處的修正部135之處理如前述。
修正部135，在修正了與各像素電路Aij對應的像素之輝度後，判定在全部像素之中、像素之輝度的最大值是否為可進行顯示的上限值以下(步驟S130)。在全部像素之中、像素之輝度的最大值為可進行顯示的上限值以下的情形時，移至步驟S140之處理。
在全部像素之中、像素之輝度的最大值超過可進行顯示的上限值以下的情形時，修正部135再次修正與各像素電路Aij對應的像素之輝度(步驟S135)。關於此處的修正部135之處理如前述。修正部135，將修正後的影像資料儲存於輸出資料儲存部150，向顯示控制部105指示進行處理。
顯示控制部105，當由修正部135指示進行處理時，從輸出資料儲存部150，取出已由修正部135修正的影像資料，將該影像資料供應給源極驅動電路30。該影像資料成為前述的顯示資料DA。源極驅動電路30，向顯示部20供應顯示資料DA，顯示部20顯示影像(步驟S140)。
根據以上，在顯示裝置1中，劣化量累積部125於每一定時間累積劣化量之增量。因此，若考慮將劣化量之資訊儲存於儲存部145，則能夠使被儲存於儲存部145的劣化量之資訊變少。由此，即使在像素數多的情形下劣化量之資訊變多，也能夠長期間在儲存部145持續儲存劣化量之資訊。據此，顯示裝置1即便是在像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料之修正。
又，在顯示裝置1中，修正部135，在修正了像素之輝度後，於像素之輝度的最大值為可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。據此，能夠配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，而整體性地使輝度之差變小。
又，修正部135，在修正了像素之輝度後，於像素之輝度的最大值超過上限值的情形時，配合藉由劣化量累積部125累積的累積劣化量最大的像素之輝度，修正該累積劣化量最大的像素以外的像素之輝度。據此，即便是修正後的輝度之最大值超過可顯示的上限值的情形，也能夠配合劣化量最大的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
〔實施形態2〕 針對本發明之其他實施形態，若根據圖4～圖6進行說明，則如以下所述。另外，為了便於說明，針對具有與上述實施形態中已說明的構件相同功能的構件，標記相同符號，並省略其說明。圖4係表示本發明之實施形態2的顯示裝置2之構成的方塊圖。圖5係表示顯示裝置2之動作的流程圖。圖6的(a)～(d)係表示顯示部20之顯示面被分割成複數個區域時的一個區域205的示意圖。
(顯示裝置2之構成) 如圖4所示，顯示裝置2，與顯示裝置1相比，在顯示控制電路10被變更為顯示控制電路11的這方面不同。顯示控制電路11，與顯示控制電路10相比，在影像資料修正電路110被變更為影像資料修正電路111的這方面不同。影像資料修正電路111，與影像資料修正電路110相比，在具備區域分割部160、總和劣化量算出部165、平均劣化量算出部170、及平均劣化量累積部175(平均累積部)的這方面、以及未具備劣化量累積部125的這方面不同。
區域分割部160，將顯示部20之顯示面分割成複數個區域205。在鄰接的子像素，由於彼此階調之差小，因此被認為累積劣化量之差也小。因此，考慮將顯示部20之顯示面分割成包含複數個像素的區域205。此處，例如，如圖6的(b)所示，考慮一個區域205包含4行×4列的像素的情形。區域分割部160，將與區域205之邊界相關的資訊儲存於儲存部145。
總和劣化量算出部165，根據被顯示於顯示部20的影像資料中包含的階調資料，算出與一個區域中包含的16個像素對應的像素電路Aij具備的有機發光元件的劣化量之增量的總和。總和劣化量算出部165，將算出的總和儲存於儲存部145。
平均劣化量算出部170，自儲存部145，參照藉由總和劣化量算出部165算出的總和。平均劣化量算出部170，將該總和除以一個區域中包含的像素數(此處為16)，藉此算出與一個區域中包含的16個像素對應的有機發光元件的劣化量之增量的平均。平均劣化量算出部170，將算出的平均儲存於儲存部145。
平均劣化量累積部175，自儲存部145，參照藉由平均劣化量算出部170算出的平均。平均劣化量累積部175，就每個區域205累積其平均。平均劣化量累積部175，將所累積的平均累積劣化量儲存於儲存部145。
修正部135，參照被儲存於儲存部145的、藉由平均劣化量累積部175累積的平均累積劣化量，以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係。修正部135，根據預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係，從累積劣化量求出輝度。修正部135，根據各區域205之平均累積劣化量，就每個像素算出修正值。也就是，根據對於一個區域205的平均累積劣化量，就屬於該一個區域205的像素算出修正值。具體而言，修正部135，以修正從與有機發光元件未劣化的區域205對應的像素之輝度，降低至基於有機發光元件劣化的區域205之平均累積劣化量的輝度的量的方式算出修正值。也就是，修正部135，以與有機發光元件未劣化的區域205內的像素電路Aij(以下，稱為第五像素電路)對應的像素之輝度、和與有機發光元件劣化的區域205內的像素電路Aij(以下，稱為第六像素電路)對應的像素之輝度成為相同的方式算出修正值。另外，修正部135，以與第五像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度、和與第六像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度為相同的方式，選擇第五像素電路。修正部135，在有機發光元件劣化的區域205內的所有像素之輝度加上修正值。也就是，修正部135，藉由對各領域205，修正因劣化而輝度降低的量，來提高區域205內的像素之輝度。
於修正部135在各區域205內的像素之輝度加上了修正值的情形時，修正部135判定全部像素之中、像素之輝度的最大值是否為可進行顯示的上限值以下。在修正部135進行的處理中，於該判定之處理以後被進行的處理，與顯示裝置1之修正部135進行的處理相同。
於修正部135進行影像資料之修正時，修正部135，以使一個區域中包含的16個像素的有機發光元件分別具有相同的累積劣化量而算出修正值。也就是，對於一個區域的累積劣化量，設為藉由平均劣化量累積部175累積的平均累積劣化量。藉此，相對於在全部的像素中分別算出修正值，由於對一個區域算出修正值，因此累積劣化量的資訊量成為1/16。
(顯示裝置2之動作) 針對顯示裝置2之動作根據圖5進行說明。如圖5所示，顯示裝置2之動作，與顯示裝置1之動作相比，在追加有步驟S145～步驟S160之處理的這方面、以及省去步驟S115之處理的這方面不同。此處，僅針對顯示裝置2之動作與顯示裝置1之動作不同的部分進行說明。
步驟S110之處理後，劣化量增量算出部120，向區域分割部160指示進行下一處理。區域分割部160，當由劣化量增量算出部120指示進行處理時，將顯示部20之顯示面分割成複數個區域205(步驟S145：區域分割步驟)。區域分割部160，將與區域205之邊界有關的資訊儲存於儲存部145，向總和劣化量算出部165指示進行處理。
總和劣化量算出部165，當由區域分割部160指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由劣化量增量算出部120算出的、顯示部20的各像素電路Aij的有機發光元件之劣化量。總和劣化量算出部165，根據由劣化量增量算出部120算出的劣化量，就每個區域205算出劣化量之總和(步驟S150：總和劣化量算出步驟)。總和劣化量算出部165，將算出的總和儲存於儲存部145，向平均劣化量算出部170指示進行處理。
平均劣化量算出部170，當由總和劣化量算出部165指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由總和劣化量算出部165算出的總和。平均劣化量算出部170，將該總和除以一個區域中包含的像素數(此處為16)，藉此算出一個區域中包含的16個像素的劣化量之增量的平均(步驟S155：平均劣化量算出步驟)。平均劣化量算出部170，將算出的平均儲存於儲存部145，向平均劣化量累積部175指示進行處理。
平均劣化量累積部175，當由平均劣化量算出部170指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由平均劣化量算出部170算出的平均。平均劣化量累積部175，就每個區域205累積劣化量之平均(步驟S160：平均累積步驟)。平均劣化量累積部175，將累積的、平均累積劣化量儲存於儲存部145，向閾值判定部130指示進行處理。
閾值判定部130，當由平均劣化量累積部175指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由平均劣化量累積部175累積的、每個區域205的劣化量之平均。閾值判定部130，判定各區域205之中、平均累積劣化量最大的區域205的平均累積劣化量是否為第一閾值以上(步驟S120)。於平均累積劣化量最大的區域205的平均累積劣化量為第一閾值以上的情形時，閾值判定部130向修正部135指示進行處理。於平均累積劣化量最大的區域205的平均累積劣化量未達第一閾值的情形時，閾值判定部130向顯示控制部105指示進行處理。
修正部135，當由閾值判定部130指示進行處理時，參照被儲存於儲存部145的、藉由平均劣化量累積部175累積的平均累積劣化量，以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係。修正部135，根據各區域205之平均累積劣化量，就每個區域205算出修正值。修正部135，根據由平均劣化量累積部175累積的平均累積劣化量，以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係，修正各區域205內的像素之輝度(步驟S125)。修正部135，在各區域205內的像素之輝度加上修正值。關於此處的修正部135之處理如前述。步驟S130以後的處理，與顯示裝置1相同。
根據以上，在顯示裝置2中，平均劣化量累積部175就每個區域累積有機發光元件的劣化量之增量的平均。因此，與就每個像素累積劣化量之增量相較，劣化量之累積量變少。若考慮將劣化量之資訊儲存於儲存部145，則能夠使被儲存於儲存部145的劣化量之資訊變少。由此，即使在像素數多的情形下劣化量之資訊變多，也能夠長期間在儲存部145持續儲存劣化量之資訊。據此，顯示裝置2即便是在像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料之修正。
(變形例) 另外，當一個區域205中包含的子像素數變多時，被考慮到區域之邊界、和顯示的影像中的階調之差大的部位不同，且修正的誤差明顯。為了不使該誤差明顯，如圖6的(a)～(d)所示，交互配置白色的像素W1與黑色的像素B1。具體而言，個別地管理白色的像素W1之輝度、與黑色的像素B1之輝度。白色的像素W1及黑色的像素B1，係為了容易說明而僅以白或黑表現各像素，各像素為白或黑並無特別的意思。此處，白色的像素W1之平均累積劣化量、和黑色的像素B1之平均累積劣化量個別地被算出。在圖6的(a)～(d)示出幾個例子。在表1示出平均累積劣化量之壓縮率。
【表1】
針對如圖6的(a)所示的、於區域205內包含3行×3列之像素的情形進行說明。於該情形，白色的像素W1之個數為5個，黑色的像素B1之個數為4個。由此，與在區域不分割而就每個像素算出累積劣化量的情形相比，累積劣化量的資訊量成為2×1/9=1/4.5。
針對如圖6的(b)所示的、於區域205內包含4行×4列之像素的情形進行說明。於該情形，白色的像素W1之個數為8個，黑色的像素B1之個數為8個。由此，與在區域不分割而就每個像素算出累積劣化量的情形相比，累積劣化量的資訊量成為2×1/16=1/8。
針對如圖6的(c)所示的、於區域205內包含5行×5列之像素的情形進行說明。於該情形，白色的像素W1之個數為13個，黑色的像素B1之個數為12個。由此，與在區域不分割而就每個像素算出累積劣化量的情形相比，累積劣化量的資訊量成為2×1/25=1/12.5。
針對如圖6的(d)所示的、於區域205內包含6行×6列之像素的情形進行說明。於該情形，白色的像素W1之個數為18個，黑色的像素B1之個數為18個。由此，與在區域不分割而就每個像素算出累積劣化量的情形相比，累積劣化量的資訊量成為2×1/36=1/18。
由於算出白色的像素W1之平均累積劣化量、和黑色的像素B1之平均累積劣化量，因此與僅就每個區域205算出平均累積劣化量的情形相比，平均累積劣化量之資訊量成為約2倍，但能夠防止修正後的誤差明顯。關於修正後的誤差明顯的問題，具體地根據圖7而於以下進行說明。
圖7係表示於顯示部20顯示有影像的狀態的圖。圖7中，顯示部20之左上半部顯示白色，顯示部20之右下半部顯示藍色。在顯示部20中，將與s行相應、且與t列相應的區域205，記載為區域(s、t)。s及t，設為在圖7中左上方小者。
顯示白色的區域205(例如，區域(1、1))的劣化率，例如，設為(R的劣化率、G的劣化率、B的劣化率) = (20%、20%、20%)。R表示紅色的子像素，G表示綠色的子像素，B表示藍色的子像素。
顯示藍色的區域205(例如，區域(4、4))的劣化率，例如，設為(R的劣化率、G的劣化率、B的劣化率) = (0%、0%、20%)。
包含顯示白色的部分與顯示藍色的部分之兩方的區域205(例如，區域(3、2))的劣化率，例如，設為(R的劣化率、G的劣化率、B的劣化率) = (10%、10%、20%)。
又，在顯示部20內的全部的區域205中，例如，在顯示R、G、及B全部的階調為100的影像時，由於最劣化的子像素的階調為階調80，因此修正全部的區域205之階調為成為80。
顯示白色的區域205(例如，區域(1、1))的修正後之階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (80/(1.0-0.2)、80/(1.0-0.2)、80/(1.0-0.2)) = (100、100、100)。
顯示藍色的區域205(例如，區域(4、4))的修正後之階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (80/(1.0-0.0)、80/(1.0-0.0)、80/(1.0-0.2)) = (80、80、100)。
包含顯示白色的部分與顯示藍色的部分之兩方的區域205(例如，區域(3、2)) 修正後之的階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (80/(1.0-0.1)、80/(1.0-0.1)、80/(1.0-0.2)) = (89、89、100)。
根據修正後之階調的資料，將實際顯示的影像之階調表示於以下。
顯示白色的區域205(例如，區域(1、1))的實際之階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (100 × (1.0-0.2)、100 × (1.0-0.2)、100 × (1.0-0.2)) = (80、80、80)。
顯示藍色的區域205(例如，區域(1、1))的實際之階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (80 × (1.0-0.0)、80 × (1.0-0.0)、100 × (1.0-0.2)) = (80、80、80)。
在包含顯示白色的部分與顯示藍色的部分之兩方的區域205(例如，區域(3、2))中，顯示白色的部分的實際之階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (89 × (1.0-0.2)、89 × (1.0-0.2)、100 × (1.0-0.2)) = (71、71、80)。
在包含顯示白色的部分與顯示藍色的部分之兩方的區域205(例如，區域(3、2))中，顯示藍色的部分的實際之階調，為(R的階調、G的階調、B的階調) = (89 × (1.0-0.0)、89 × (1.0-0.0)、100 × (1.0-0.2)) = (89、89、80)。
由此，在包含顯示白色的部分與顯示藍色的部分之兩方的區域205(例如，區域(3、2))中，存在有階調不成為80的情形。但是，如前述，藉由個別地算出白色的像素W1之平均累積劣化量、與黑色的像素B1之平均累積劣 化量，能夠防止修正後的誤差明顯的問題。以下具體地進行說明。若就每個區域205累積平均劣化量，修正區域205內的像素之輝度，則因修正後的誤差而在區域205間之邊界顯示邊界線。因此，在區域205內，藉由個別地算出白色的像素W1之平均累積劣化量、與黑色的像素B1之平均累積劣化量，而在與區域205間的邊界相接之、區域205內之鄰接的像素間平均累積劣化量被個別地算出。藉此，由於在與區域205間的邊界相接之、區域205內之鄰接的像素間不同的顏色交互排列，因此能夠防止在區域205間的邊界顯示邊界線。
〔實施形態3〕 針對本發明之其他實施形態，若根據圖8及圖9進行說明，則如以下所述。另外，為了便於說明，針對具有與上述實施形態中已說明的構件相同功能的構件，標記相同符號，並省略其說明。圖8係表示本發明之實施形態3的顯示裝置3之構成的方塊圖。圖9係表示顯示裝置3之動作的流程圖。
(顯示裝置3之構成) 如圖8所示，顯示裝置3，與顯示裝置1相比，在顯示控制電路10被變更為顯示控制電路12的這方面不同。顯示控制電路12，與顯示控制電路10相比，在影像資料修正電路110被變更為影像資料修正電路112的這方面不同。影像資料修正電路112，與影像資料修正電路110相比，在具備劣化量判定部180的這方面不同。
劣化量判定部180，在顯示裝置3進行了一定時間動作後，自儲存部145，參照藉由劣化量累積部125累積的、各像素電路Aij的有機發光元件之劣化量。劣化量判定部180，就每個與像素電路Aij對應的像素，判定有機發光元件之劣化量是否為第二閾值以上。劣化量判定部180，向劣化量累積部125指示僅針對劣化量被判定為第二閾值以上的像素、及該像素周圍的區域進行劣化量之累積。該周圍的區域，例如，也可以是至與劣化量被判定為第二閾值以上的像素相鄰3個像素之區域。
劣化量累積部125，由劣化量判定部180指示自下一幀起僅針對劣化量被判定為第二閾值以上的像素、及該像素周圍的區域進行劣化量之累積。劣化量累積部125，依照該指示僅針對劣化量被判定為第二閾值以上的像素、及該像素周圍的區域累積劣化量。
另外，此處雖僅針對劣化量被判定為第二閾值以上的像素、及該像素周圍的區域進行劣化量之累積，但也可以使該像素、及該像素周圍的區域中的劣化量之累積次數，較其他區域中的劣化量之累積次數多。
例如，在智慧型手機等的畫面中，於畫面上部始終顯示有圖符(icon)，從而顯示圖符的畫面上部與其他顯示區域相比，有機發光元件容易劣化。由此，藉由僅對畫面上端及/或下端的區域，就每個像素算出累積劣化量，而能夠使被儲存於儲存部145的累積劣化量之資訊變少。由於能夠使累積劣化量之資訊變少，因此即便使進行劣化量之累積的時間間隔變短，也能夠長期間執行劣化修正，且能夠使解析度及精度提高。
(顯示裝置3之動作) 針對顯示裝置3之動作根據圖9進行說明。如圖9所示，顯示裝置3之動作，與顯示裝置1之動作相比，在追加有步驟S170之處理的這方面不同。
在步驟S115的處理之後，劣化量累積部125向劣化量判定部180指示進行處理。
劣化量判定部180，當由劣化量累積部125指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由劣化量累積部125累積的、各像素電路Aij的有機發光元件之劣化量。劣化量判定部180，就每個像素判定劣化量是否為第二閾值以上(步驟S170)。劣化量判定部180，向劣化量累積部125指示自下一幀起僅針對劣化量被判定為第二閾值以上的像素、及該像素周圍的區域進行劣化量之累積。劣化量判定部180，向閾值判定部130指示進行處理。步驟S120以後的處理，與顯示裝置1相同。
〔實施形態4〕 針對本發明之其他實施形態，若根據圖10及圖11進行說明，則如以下所述。另外，為了便於說明，針對具有與上述實施形態中已說明的構件相同功能的構件，標記相同符號，並省略其說明。圖10係表示本發明之實施形態4的顯示裝置4之構成的方塊圖。圖11係表示顯示裝置4之動作的流程圖。
(顯示裝置4之構成) 如圖10所示，顯示裝置4，與顯示裝置1相比，在顯示控制電路10被變更為顯示控制電路13的這方面不同。顯示控制電路13，與顯示控制電路10相比，在影像資料修正電路110被變更為影像資料修正電路113的這方面不同。影像資料修正電路113，與影像資料修正電路110相比，在具備影像資料調整部185(調整部)、總和輝度算出部190(平均算出部)、平均輝度算出部195(平均算出部)、及輝度判定部200的這方面不同。
影像資料調整部185，具備有前述的Brightness Control之功能，從而根據在被設置顯示裝置1的場所中周圍環境的亮度而調整像素之輝度。影像資料調整部185，將調整後的像素之輝度儲存於儲存部145。
總和輝度算出部190，自儲存部145，參照藉由影像資料調整部185調整的像素之輝度。總和輝度算出部190，根據藉由影像資料調整部185調整的像素之輝度，算出全部像素之輝度的總和。總和輝度算出部190，將算出的總和儲存於儲存部145。
平均輝度算出部195，自儲存部145，參照藉由總和輝度算出部190算出的總和。平均輝度算出部195，藉由將該總和除以全部像素數，算出全部像素之輝度的平均。平均輝度算出部195，將算出的平均儲存於儲存部145。
輝度判定部200，自儲存部145，參照藉由平均輝度算出部195算出的平均。輝度判定部200，判定藉由平均輝度算出部195算出的平均是否為第三閾值(既定閾值)以上。輝度判定部200，將判定結果儲存於儲存部145。
修正部135，在全部像素之輝度的平均被輝度判定部200判定為第三閾值以上的情形時，進行以下說明的處理。修正部135，以配合與累積劣化量最大的像素電路Aij(以下，稱為第七像素電路)對應的像素之輝度，修正與第七像素電路以外的像素電路Aij(以下，稱為第八像素電路)對應的像素之輝度的方式算出修正值。也就是，修正部135，以與第七像素電路對應的像素之輝度、和與第八像素電路對應的像素之輝度成為相同的方式算出修正值。另外，修正部135，以與第七像素電路對應的像素中的影像資料上的輝度、和與第八像素電路對應的像素中的影像資料上的輝度為相同的方式，選擇第七像素電路。修正部135，在與各像素電路Aij對應的像素之輝度加上該修正值。也就是，在全部像素之輝度的平均為第三閾值以上的情形時，配合累積劣化量最大的像素之輝度，將累積劣化量最大的像素以外的像素之輝度降低，藉此整體性地使輝度之差變小。
另一方面，修正部135，在全部像素之輝度的平均被輝度判定部200判定為未達第三閾值的情形時，進行以下說明的處理。修正部135，以修正從與有機發光元件未劣化的像素電路Aij(以下，稱為第九像素電路)對應的像素之輝度，降低至基於有機發光元件劣化的各像素電路Aij(以下，稱為第十像素電路)的有機發光元件之累積劣化量的輝度的量的方式，算出修正值。也就是，修正部135，以與第九像素電路對應的像素之輝度、和與第十像素電路對應的像素之輝度成為相同的方式算出修正值。另外，修正部135，以與第九像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度、和與第十像素電路對應的像素中的影像資料上之輝度為相同的方式，選擇第九像素電路。修正部135，在與各像素電路Aij對應的像素之輝度加上該修正值。
(顯示裝置4之動作) 針對顯示裝置4之動作根據圖11進行說明。如圖11所示，顯示裝置4之動作，與顯示裝置1之動作相比，在追加有步驟S175、及步驟S180～步驟S200之處理的這方面不同。
影像資料取得部115，向影像資料調整部185指示進行處理。影像資料調整部185，當由影像資料取得部115指示進行處理時，根據在被設置顯示裝置1的場所中周圍環境的亮度而調整像素之輝度(步驟S175)。影像資料調整部185，將調整後的像素之輝度儲存於儲存部145。影像資料調整部185，向劣化量增量算出部120指示進行處理。其後，進行步驟S110～步驟S120之處理。
在步驟S120的處理之後，於劣化量最大的有機發光元件之劣化量為第一閾值以上的情形時，閾值判定部130向總和輝度算出部190指示進行處理。於劣化量最大的有機發光元件之劣化量未達第一閾值的情形時，閾值判定部130向顯示控制部105指示進行處理。
總和輝度算出部190，當由閾值判定部130指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由劣化量累積部125累積的、各像素電路Aij的有機發光元件之劣化量。總和輝度算出部190，算出全部像素之輝度的總和(步驟S180)。總和輝度算出部190，將算出的總和儲存於儲存部145。總和輝度算出部190，向平均輝度算出部195指示進行處理。
平均輝度算出部195，當由總和輝度算出部190指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由總和輝度算出部190算出的總和。平均輝度算出部195，將該總和除以全部像素數，藉此算出全部像素之輝度的平均(步驟S185)。平均輝度算出部195，將算出的平均儲存於儲存部145。平均輝度算出部195，向輝度判定部200指示進行處理。
輝度判定部200，當由平均輝度算出部195指示進行處理時，自儲存部145，參照藉由平均輝度算出部195算出的平均。輝度判定部200，判定藉由平均輝度算出部195算出的、全部像素之輝度的平均是否為第三閾值以上(步驟S190)。在全部像素之輝度的平均為第三閾值以上的情形時，輝度判定部200向修正部135指示進行步驟S195之處理。在全部像素之輝度的平均未達第三閾值的情形時，輝度判定部200向修正部135指示進行步驟S200之處理。
修正部135，由輝度判定部200指示進行步驟S195之處理。修正部135，參照被儲存於儲存部145的、藉由劣化量累積部125累積的累積劣化量，以及預先儲存於經時劣化特性儲存部155的、累積劣化量與輝度之關係。修正部135，配合累積劣化量最大的像素之輝度，修正累積劣化量最大的像素以外的像素之輝度(步驟S195)。關於此處的修正部135之處理如前述。
又，修正部135，由輝度判定部200指示進行步驟S200之處理。修正部135，配合與有機發光元件未劣化的像素電路Aij對應的像素之輝度，修正基於有機發光元件劣化的各像素電路Aij的有機發光元件之累積劣化量的輝度(步驟S200)。關於此處的修正部135之處理如前述。修正部135，將修正後的影像資料儲存於輸出資料儲存部150，向顯示控制部105指示進行處理。步驟S140的處理，與顯示裝置1相同。
根據以上，在顯示裝置4中，於藉由平均輝度算出部195算出的平均為第三閾值以上的情形時，配合藉由劣化量累積部125累積的劣化量最大的像素之輝度，修正藉由劣化量累積部125累積的劣化量最大的像素以外的像素之輝度。藉此，即便是藉由平均輝度算出部195算出的平均為第三閾值以上的情形，例如，可提高輝度之修正的範圍小的情形，也能夠配合劣化量最大的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
又，在藉由平均輝度算出部195算出的平均未達第三閾值的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。藉此，能夠配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
〔藉由軟體進行的實現例〕 影像資料修正電路110、111、112的控制塊(尤其是影像資料取得部115、劣化量增量算出部120、劣化量累積部125、閾值判定部130、修正部135、區域分割部160、總和劣化量算出部165、平均劣化量算出部170、平均劣化量累積部175、及劣化量判定部180)，可以藉由形成於積體電路(IC晶片)等的邏輯電路(硬體)來實現，也可以使用CPU(Central Processing Unit)並藉由軟體來實現。
於後者之情形，影像資料修正電路110、111、112，具備實現各功能的軟體即執行程式之命令的CPU、將上述程式及各種資料以電腦(或CPU)可讀取的方式記錄的ROM(Read Only Memory)或者儲存裝置(將該等稱為「記錄媒體」)、展開上述程式的RAM(Random Access Memory)等。而且，藉由電腦(或CPU)從上述記錄媒體讀取上述程式並加以執行，達成本發明之目的。作為上述記錄媒體，可以使用「非暫時性的有形的媒體」，例如，磁帶、碟片、卡片、半導體記憶體、可程式的邏輯電路等。又，上述程式，也可以透過可傳送該程式的任意的傳送媒體(通信網路或廣播波等)而供應給上述電腦。另外，本發明之一態樣，也能以將上述程式藉由電子的傳送而體現化的、被嵌入於傳送波中的資料信號的形態來實現。
〔總結〕 本發明之態樣1的顯示裝置1、3，具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部20，其特徵在於，具備：算出部(劣化量增量算出部120)，其根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量；累積部(劣化量累積部125)，其於每一定時間累積藉由該算出部算出的劣化量之增量；以及修正部135，其根據藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量，修正該像素之輝度。
根據上述構成，累積部於每一定時間累積劣化量之增量。因此，例如，若考慮將劣化量之資訊儲存於儲存部，則能夠使被儲存於儲存部的劣化量之資訊變少。由此，即使在像素數多的情形下劣化量之資訊變多，也能夠長期間於儲存部持續儲存劣化量之資訊。藉此，顯示裝置，即便是像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料之修正。
本發明之態樣2的顯示裝置1、3，也可以在上述態樣1中，該修正部135，於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值為該顯示部20可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度，於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值超出該上限值的情形時，配合藉由該累積部(劣化量累積部125)累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度。
根據上述構成，修正部於修正了像素之輝度後，像素之輝度的最大值為可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。藉此，能夠配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
又，修正部於修正了像素之輝度後，像素之輝度的最大值超出上限值的情形時，配合藉由累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度。藉此，即便是修正後的輝度的最大值超過顯示部可顯示的上限值的情形，也能夠配合劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
本發明之態樣3的顯示裝置4，也可以在上述態樣1中，進一步具備：調整部(影像資料調整部185)，其根據周圍的亮度調整像素之輝度；以及平均算出部(平均輝度算出部195)，其根據該影像資料算出全部像素之輝度的平均；該修正部135，在藉由該平均算出部算出的平均為既定閾值(第三閾值)以上的情形時，配合藉由該累積部(劣化量累積部125)累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度，在藉由該平均算出部算出的平均未達該既定閾值(第三閾值)的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。
根據上述構成，在藉由平均算出部算出的平均為既定閾值以上的情形時，配合藉由累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度。藉此，即便是藉由平均算出部算出的平均為既定閾值以上的情形，例如，可提高輝度之修正的範圍小的情形，也能夠配合劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
又，在藉由平均算出部算出的平均未達既定閾值的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。藉此，能夠配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
本發明之態樣4的顯示裝置之影像資料修正方法，該顯示裝置具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，其特徵在於，具備：算出步驟，根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量；累積步驟，於每一定時間累積藉由該算出步驟算出的劣化量之增量；以及修正步驟，根據藉由該累積步驟累積的劣化量，修正該像素之輝度。
根據上述構成，累積步驟於每一定時間累積劣化量之增量。因此，例如，若考慮將劣化量之資料儲存於儲存部，則能夠使被儲存於儲存部的劣化量之資訊變少。由此，即使在像素數多的情形下劣化量之資訊變多，也能夠長期間於儲存部持續儲存劣化量之資訊。藉此，利用影像資料修正方法，即便是在像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料的修正。
本發明之態樣5的影像資料修正方法，也可以在上述態樣4中，該修正步驟，於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值為該顯示部可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度，於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值超過該上限值的情形時，配合藉由該累積步驟累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由該累積步驟累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度。
根據上述構成，修正步驟於修正了像素之輝度後，像素之輝度的最大值為可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。藉此，能夠配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
又，修正步驟於修正了像素之輝度後，像素之輝度的最大值超過上限值的情形時，配合藉由累積步驟累積的劣化量最大的像素之輝度，修正藉由累積步驟累積的劣化量最大的像素以外的像素之輝度。藉此，即便是修正後的輝度之最大值超過可顯示的上限值的情形，也能夠配合劣化量最大的像素之輝度，整體性地使輝度之差變小。
本發明之態樣6的顯示裝置2，具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部20，其特徵在於，具備：區域分割部160，其將該顯示部之顯示面分割成複數個區域；總和劣化量算出部165，其根據被顯示於該顯示部20的影像資料中所包含的階調資料，就每個該區域，算出該區域內的各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量的總和；平均劣化量算出部170，其根據該總和算出有機發光元件的劣化量之增量的平均；平均累積部(平均劣化量累積部175)，其累積該平均；以及修正部135，其根據藉由該平均累積部累積的平均，修正該像素之輝度。
根據上述構成，平均累積部，就每個區域累積有機發光元件的劣化量之增量的平均。因此，相較於就每個像素累積劣化量之增量，劣化量之累積量變少。例如，若考慮將劣化量之資訊儲存於儲存部，則能夠使被儲存於儲存部的劣化量之資訊變少。由此，即便是在像素數多的情形下劣化量之資訊變多，也能夠長期間於儲存部持續儲存劣化量之資訊。藉此，顯示裝置，即便是在像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料之修正。
本發明之態樣7的顯示裝置之影像資料修正方法，該顯示裝置具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，其特徵在於，具備：區域分割步驟，將該顯示部之顯示面分割成複數個區域；總和劣化量算出步驟，根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，就每個該區域，算出該區域內的各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量的總和；平均劣化量算出步驟，根據該總和算出有機發光元件的劣化量之增量的平均；平均累積步驟，累積該平均；以及修正步驟，根據藉由該平均累積步驟累積的平均，修正該像素之輝度。
根據上述構成，平均累積步驟，就每個區域累積有機發光元件的劣化量之增量的平均。因此，相較於就每個像素累積劣化量之增量，劣化量之累積量變少。例如，若考慮將劣化量之資訊儲存於儲存部，則能夠使被儲存於儲存部的劣化量之資訊變少。由此，即便是在像素數多的情形下劣化量之資訊變多，也能夠長期間於儲存部持續儲存劣化量之資訊。藉此，顯示裝置，即便是在像素數多的情形，也能夠長期間進行影像資料之修正。
本發明並不限定於上述各實施形態，可在請求項所示的範圍內進行各種的變更，關於適當地組合不同實施形態中所分別揭示的技術性手段而獲得的實施形態也包含在本發明的技術性範圍中。進一步地，藉由組合各實施形態中所分別揭示的技術性手段，能夠形成新的技術性特徵。
1、2、3、4‧‧‧顯示裝置
10、11、12、13‧‧‧顯示控制電路
20‧‧‧顯示部
30‧‧‧源極驅動電路
40‧‧‧閘極驅動電路
105‧‧‧顯示控制部
110、111、112、113‧‧‧影像資料修正電路
115‧‧‧影像資料取得部
120‧‧‧劣化量增量算出部(算出部)
125‧‧‧劣化量累積部(累積部)
130‧‧‧閾值判定部
135‧‧‧修正部
145‧‧‧儲存部
150‧‧‧輸出資料儲存部
155‧‧‧經時劣化特性儲存部
160‧‧‧區域分割部
165‧‧‧總和劣化量算出部
170‧‧‧平均劣化量算出部
175‧‧‧平均劣化量累積部(平均累積部)
180‧‧‧劣化量判定部
185‧‧‧影像資料調整部
190‧‧‧總和輝度算出部(平均算出部)
195‧‧‧平均輝度算出部(平均算出部)
200‧‧‧輝度判定部
205‧‧‧區域
305‧‧‧移位暫存器
310‧‧‧暫存器
315‧‧‧鎖存電路
Aij‧‧‧像素電路
Gi‧‧‧掃描線
Sj‧‧‧資料線
圖1係表示本發明之實施形態1的顯示裝置之構成的方塊圖。 圖2係表示圖1所示的顯示裝置之構成的其他方塊圖。 圖3係表示圖1所示的顯示裝置之動作的流程圖。 圖4係表示本發明之實施形態2的顯示裝置之構成的方塊圖。 圖5係表示圖4所示的顯示裝置之動作的流程圖。 圖6的(a)～(d)係表示顯示部之顯示面被分割成複數個區域時的一個區域的示意圖。 圖7係表示於顯示部顯示有影像的狀態的圖。 圖8係表示本發明之實施形態3的顯示裝置之構成的方塊圖。 圖9係表示圖8所示的顯示裝置之動作的流程圖。 圖10係表示本發明之實施形態4的顯示裝置之構成的方塊圖。 圖11係表示圖10所示的顯示裝置之動作的流程圖。

Claims (7)

  1. 一種顯示裝置，具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，其特徵在於，具備： 算出部，其根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量； 累積部，其於每一定時間累積藉由該算出部算出的劣化量之增量；以及 修正部，其根據藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量，修正該像素之輝度。
  2. 如申請專利範圍第1項的顯示裝置，其中，該修正部， 於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值為該顯示部可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度， 於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值超出該上限值的情形時，配合藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度。
  3. 如申請專利範圍第1項的顯示裝置，其進一步具備： 調整部，其根據周圍的亮度調整像素之輝度；以及 平均算出部，其根據該影像資料，算出全部像素之輝度的平均； 該修正部， 在藉由該平均算出部算出的平均為既定閾值以上的情形時，配合藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由該累積部累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度， 在藉由該平均算出部算出的平均未達該既定閾值的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度。
  4. 一種顯示裝置之影像資料修正方法，該顯示裝置具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，其特徵在於，具備： 算出步驟，根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，算出各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量； 累積步驟，於每一定時間累積藉由該算出步驟算出的劣化量之增量；以及 修正步驟，根據藉由該累積步驟累積的劣化量，修正該像素之輝度。
  5. 如申請專利範圍第4項的影像資料修正方法，其中，該修正步驟， 於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值為該顯示部可顯示的上限值以下的情形時，配合有機發光元件未劣化的像素之輝度，修正有機發光元件劣化的像素之輝度， 於修正了該像素之輝度後，該像素之輝度的最大值超過該上限值的情形時，配合藉由該累積步驟累積的劣化量之增量的總量最大的像素之輝度，修正藉由該累積步驟累積的劣化量之增量的總量最大的像素以外的像素之輝度。
  6. 一種顯示裝置，具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，其特徵在於，具備： 區域分割部，其將該顯示部之顯示面分割成複數個區域； 總和劣化量算出部，其根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，就每個該區域，算出該區域內的各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量的總和； 平均劣化量算出部，其根據該總和算出有機發光元件的劣化量之增量的平均； 平均累積部，其累積該平均；以及 修正部，其根據藉由該平均累積部累積的平均，修正該像素之輝度。
  7. 一種顯示裝置之影像資料修正方法，該顯示裝置具備設有複數個包含有機發光元件之像素的顯示部，其特徵在於，具備： 區域分割步驟，將該顯示部之顯示面分割成複數個區域； 總和劣化量算出步驟，根據被顯示於該顯示部的影像資料中所包含的階調資料，就每個該區域，算出該區域內的各像素中所包含的有機發光元件的劣化量之增量的總和； 平均劣化量算出步驟，根據該總和算出有機發光元件的劣化量之增量的平均； 平均累積步驟，累積該平均；以及 修正步驟，根據藉由該平均累積步驟累積的平均，修正該像素之輝度。
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