WO2018225338A1

WO2018225338A1 - 表示装置及び画像データ補正方法

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Publication number: WO2018225338A1
Application number: PCT/JP2018/011776
Authority: WO
Inventors: 充久大西
Original assignee: シャープ株式会社
Priority date: 2017-06-07
Filing date: 2018-03-23
Publication date: 2018-12-13
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Abstract

表示装置（１）は、画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する劣化量増分算出部（１２０）と、劣化量増分算出部（１２０）によって算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する劣化量累積部（１２５）と、劣化量累積部（１２５）によって累積された劣化量の増分の総量に基づいて、画素の輝度を補正する補正部（１３５）とを備える。

Description

表示装置及び画像データ補正方法

　本発明は表示装置及び画像データ補正方法に関する。

　近年特に注目されているデバイスに、ＯＥＬＤ（有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ：Organic Electro Luminescence Display）がある。ＯＥＬＤは、電気信号に応じて発光し、かつ、発光物質として有機化合物を用いて構成される表示装置である。ＯＥＬＤは、生来的に広視野角、高コントラスト、及び高速応答等の優れた表示特性を有している。また、ＯＥＬＤは薄型、軽量、及び高画質である、小型から大型までの表示装置を実現する可能性があることから、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）やＬＣＤ（Liquid Crystal Display）に代わる表示装置として注目されている。

　ところで、ＯＬＥＤに用いられる有機ＥＬ素子には、経時変化及び温度変化に起因する劣化の問題がある。

　このような劣化を補正するために、特許文献１には、温度変化に起因する劣化を補正するために、経時補償機能及び温度補償機能の２つの補償機能を有する表示装置が開示されている。

　特許文献２には、劣化モニター対象となる第１領域に含まれる少なくとも１つの画素の発光輝度と、第２領域に含まれる少なくとも１つの画素の発光輝度との差が縮小するように、それらの発光輝度の少なくとも一方を補正する自発光表示装置が開示されている。

　特許文献３には、光センサの検出結果と、容量に保持された電圧とに基づいて、発光素子に供給される電流量を制御する表示装置が開示されている。

　特許文献４には、基準画素の受光信号から導出される輝度劣化関数と、各表示画素の映像信号の履歴とを利用して、各表示画素の輝度劣化率を予測する表示装置が開示されている。

日本国公開特許公報「特開２００４－０７０３４９号公報（２００４年３月４日公開）」日本国公開特許公報「特開２０１０－２４３８９５号公報（２０１０年１０月２８日公開）」日本国公開特許公報「特開２０１６－１０９９１４号公報（２０１６年６月２０日公開）」日本国公開特許公報「特開２０１１－０６５０４７号公報（２０１１年３月３１日公開）」

　特許文献２に開示されている表示装置では、表示される画像が一定であり、劣化部分が予め分かる場合でないと画像データの補正を行うことができない。

　このため、表示される画像が毎回異なる場合、特許文献３及び特許文献４に開示されている表示装置のように、各発光素子の劣化の情報を取得して画像データの補正を行う必要がある。しかし、画面の大型化及び／または精細化によって画素数が増加すると、劣化の情報が膨大になり、劣化の情報をメモリ等に記憶しておくことができなくなるという問題がある。

　本発明の一態様は、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことが可能な表示装置を実現することを目的とする。

　上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置において、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出部と、前記算出部によって算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積部と、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部とを備える。

　本発明の一態様に係る画像データ補正方法は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出工程と、前記算出工程にて算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積工程と、前記累積工程にて累積された劣化量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備える。

　また、本発明の一態様に係る表示装置は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置において、前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割部と、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出部と、前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出部と、前記平均を累積する平均累積部と、前記平均累積部によって累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部とを備える。

　さらに、本発明の一態様に係る画像データ補正方法は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割工程と、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出工程と、前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出工程と、前記平均を累積する平均累積工程と、前記平均累積工程にて累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備える。

　本発明の一態様によれば、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができるという効果を奏する。

本発明の実施形態１に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図１に示す表示装置の構成を示す他のブロック図である。図１に示す表示装置の動作を示すフローチャートである。本発明の実施形態２に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図４に示す表示装置の動作を示すフローチャートである。（ａ）～（ｄ）は、表示部の表示面が複数の領域に分割されたときの１つの領域を示す模式図である。表示部に画像が表示されている状態を示す図である。本発明の実施形態３に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図８に示す表示装置の動作を示すフローチャートである。本発明の実施形態４に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図１０に示す表示装置の動作を示すフローチャートである。

　〔実施形態１〕
　本発明の実施形態について、図１～図３に基づいて説明すれば、以下の通りである。図１は、本発明の実施形態１に係る表示装置１の構成を示すブロック図である。図２は、表示装置１の構成を示す他のブロック図である。図３は、表示装置１の動作を示すフローチャートである。

　（表示装置１の構成）
　表示装置１は、図１に示すように、表示制御回路１０、表示部２０、ソースドライバ回路３０、及びゲートドライバ回路４０を備えている。表示装置１は、有機エレクトロルミネッセンスを用いた表示装置である。

　表示部２０は、図２に示すように、複数の画素回路Ａｉｊ（ｉは１以上ｎ以下の整数、ｊは１以上ｍ以下の整数）を備えている。つまり、表示部２０には、画素回路Ａｉｊが、ｎ行×ｍ列のマトリックス状に設けられている。また、表示部２０には、互いに平行に配置された複数の走査線Ｇｉと、複数の走査線Ｇｉと直交するように、かつ、互いに平行に配置された複数のデータ線Ｓｊとが設けられる。画素回路Ａｉｊは、走査線Ｇｉとデータ線Ｓｊとの各交点に対応して配置されている。なお、画素回路Ａｉｊに対応する画素に、サブピクセルレンダリングの処理を行ってもよい。

　さらに、表示部２０には、複数の制御配線が走査線Ｇｉと平行に配置されている。制御配線は、画素回路Ａｉｊを駆動するために設けられた配線である。走査線Ｇｉ及び制御配線はゲートドライバ回路４０に接続され、ゲートドライバ回路４０によって駆動される。データ線Ｓｊはソースドライバ回路３０に接続され、ソースドライバ回路３０によって駆動される。

　表示部２０の表示制御部１０５は、ゲートドライバ回路４０に、タイミング信号ＯＥ、スタートパルスＹＩ、及びクロックＹＣＫを供給する。また、表示部２０の表示制御部１０５は、ソースドライバ回路３０に、スタートパルスＳＰ、クロックＣＬＫ、表示データＤＡ、及びラッチパルスＬＰを供給する。

　ソースドライバ回路３０は、ｍビットのシフトレジスタ３０５、ｍビットのレジスタ３１０、ｍビットのラッチ回路３１５、及びｍ個のＤＡ変換器３２０＿１～３２０＿ｍを備えている。ソースドライバ回路３０は、画素回路Ａｉｊの駆動回路である。ソースドライバ回路３０はデータ線Ｓｊに表示データＤＡに応じた電位（以下、データ電位と称する）を与える表示信号を供給する。なお、ここではソースドライバ回路３０は、１本の走査線Ｇｉに接続された画素回路Ａｉｊに対して、複数の画素回路Ａｉｊにおける１行分のデータ電位を同時に供給する線順次走査を行うこととしている。なお、線順次走査に代えて、各画素回路Ａｉｊに対してデータ電位を順に供給する点順次走査を行ってもよい。点順次走査を行うソースドライバ回路の構成は公知であるので、ここでは説明を省略する。

　シフトレジスタ３０５は、縦続接続されたｍ個のレジスタ（図示せず）を有している。シフトレジスタ３０５では、表示制御部１０５から先頭のレジスタに供給されるスタートパルスＳＰが、表示制御部１０５から供給されるクロックＣＬＫに同期して各段のレジスタに順次転送される。各段のレジスタへのスタートパルスＳＰの供給タイミングに応じて各段のレジスタからタイミングパルスＤＬＰがレジスタ３１０に供給される。表示制御部１０５は、タイミングパルスＤＬＰがレジスタ３１０に供給されるタイミングに合わせて、レジスタ３１０に表示データＤＡを供給する。

　レジスタ３１０は、表示制御部１０５から供給された表示データＤＡを記憶する。レジスタ３１０に、複数の画素回路Ａｉｊにおける１行分の表示データＤＡが記憶されると、表示制御部１０５はラッチ回路３１５にラッチパルスＬＰを供給する。

　ラッチ回路３１５は、表示制御部１０５からラッチパルスＬＰが供給されると、レジスタ３１０に記憶された表示データＤＡを保持する。

　ＤＡ変換器３２０＿１～３２０＿ｍは、各データ線Ｓｊに１つずつ接続されている。例えば、データ線Ｓ１にはＤＡ変換器３２０＿１が接続されており、データ線Ｓ２にはＤＡ変換器３２０＿２が接続されている。ＤＡ変換器３２０＿１～３２０＿ｍは、ラッチ回路３１５に保持された表示データＤＡをアナログ信号に変換し、それぞれ対応するデータ線Ｓｊに供給する。

　ゲートドライバ回路４０は、画素回路Ａｉｊの駆動回路である。ゲートドライバ回路４０は走査線Ｇｉに書き込み対象の画素回路Ａｉｊを選択する走査信号を供給する。より詳細には、ゲートドライバ回路４０は、ｎビットのシフトレジスタ、論理演算回路、及びｎ個のバッファ（いずれも図示せず）を備えている。

　シフトレジスタは、縦続接続されたｎ個のレジスタ（図示せず）を有している。シフトレジスタでは、表示制御部１０５から先頭のレジスタに供給されるスタートパルスＹＩが、表示制御部１０５から供給されるクロックＹＣＫに同期して各段のレジスタに順次転送される。各段のレジスタへのスタートパルスＹＩの供給タイミングに応じて各段のレジスタからタイミングパルスＴＰが論理演算回路に供給される。

　論理演算回路は、各段のレジスタに対応してそれぞれ設けられており、各段のレジスタから供給されたタイミングパルスＴＰと、表示制御部１０５から供給されたタイミング信号ＯＥとに基づいて論理演算を行う。論理演算回路は、論理演算の結果に応じた電圧を各段の論理演算回路に対応して設けられたバッファを介して各段に対応する走査線Ｇｉ及び制御配線に供給する。

　表示制御回路１０は、表示制御部１０５及び画像データ補正回路１１０を備えている。画像データ補正回路１１０は、画像データ取得部１１５、劣化量増分算出部１２０（算出部）、劣化量累積部１２５（累積部）、閾値判定部１３０、補正部１３５、記憶部１４５、出力データ記憶部１５０、及び経時劣化特性記憶部１５５を備えている。画像データ補正回路１１０は、画像データから有機発光素子の劣化量を予測して画像データの補正を行う。この画像データは表示部２０に表示される。画像データ取得部１１５は、表示装置１の外部機器などから画像データを取得する。

　劣化量増分算出部１２０は、記憶部１４５から、画像データ取得部１１５によって取得された画像データを参照する。劣化量増分算出部１２０は、参照した画像データ、輝度変換係数（劣化指数）、明るさ係数（ＢＣ係数）、及び温度係数を用いて、表示部２０の各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量の増分を算出する。具体的には、劣化量増分算出部１２０は、以下の式（１）を用いて劣化量の増分を算出する。

　Ｉ＝Ｇ^ｄ×ＢＣ×ＴＣ・・・（１）
　Ｉは劣化量の増分、Ｇは階調、ｄは劣化指数、ＢＣはＢＣ係数、ＴＣは温度係数である。階調とは、表示部２０に表示される画像データに含まれる階調データが示す階調であり、階調データの上位８ビットを用いて０～２５５の値で示される。階調データとは、階調を示すデータである。劣化指数とは、階調を劣化量に換算するための値であり、階調と輝度との関係を示す係数であるガンマ係数ｍ、及び輝度と劣化量との関係を示す係数ｎを用いて、劣化指数はｍ×ｎで算出される。通常、ガンマ係数ｍは２．２である。係数ｎは実験から求められる値であり、ｎは１．５～２．０であることが望ましい。

　ＢＣ係数とは、表示装置１が設置される場所において周囲の環境の明るさに応じて画像の輝度を調整することを考慮するための係数である。明るい場所、例えば、太陽光が照射されている場所などでは、人がパネルに表示される文字または絵を識別しやすくするために、画像の輝度を上げる調整を行う。また、暗い場所では、バッテリーを長持ちさせるために、画像の輝度を下げる調整を行う。表示装置１が設置される場所において周囲の環境の明るさに応じて画像の輝度を調整する機能はＢｒｉｇｈｔｎｅｓｓＣｏｎｔｒｏｌと呼ばれている。ＢＣ係数の値は、ユーザによる操作で変化し、０．０６２５～１．０になるように回路設定が行われている。一般的に画素の輝度が高くなると、有機発光素子の劣化が進行しやすく、画素の輝度が低くなると、有機発光素子の劣化が進行しにくい。

　温度係数とは、表示装置１の周囲の温度に対する係数である。有機発光素子を一定の輝度で点灯するとき、表示装置１自身の温度または表示装置１の周辺の温度が高いと、有機発光素子の劣化が進行しやすい。表示装置１自身の温度または表示装置１の周辺の温度が低いと、有機発光素子の劣化が進行しにくい。表示装置１が備える温度センサ（図示せず）で有機発光素子の使用環境の温度を測定し、表示装置１の周囲の温度に対して、温度係数の値が０．０６２５～１．０になるように回路設定が行われている。

　なお、劣化量増分算出部１２０は、参照した画像データ、劣化指数、ＢＣ係数、及び温度係数を用いて算出した劣化量の増分に、画素回路Ａｉｊの有機発光素子の現在の劣化量を反映させて、劣化量の増分を算出してもよい。

　また、劣化量増分算出部１２０は、補正部１３５によって補正された後の画像データの階調、及び／または表示部２０に供給される情報に基づいて、表示部２０の各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量の増分を算出してもよい。

　劣化量累積部１２５は、記憶部１４５から、劣化量増分算出部１２０によって算出された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量の増分を参照する。劣化量累積部１２５は、画素回路Ａｉｊごとにその劣化量の増分を累積する。劣化量累積部１２５は累積した累積劣化量を記憶部１４５に格納する。累積劣化量とは、劣化量累積部１２５によって累積された劣化量の増分の総量である。

　劣化量累積部１２５では、有機発光素子の劣化量を累積するので、各画素回路Ａｉｊにおいて有機発光素子の累積劣化量を、記憶部１４５に格納する必要がある。しかし、毎フレーム、かつ、全画素回路Ａｉｊにおいて、累積劣化量を記憶部１４５に格納すると、記憶部１４５に格納されるデータが膨大になる。記憶部１４５の記憶領域は有限であるので、短時間で記憶領域に情報が埋まってしまい、劣化量累積部１２５が劣化量を累積することができなくなる。より長い期間、劣化量を累積するために、累積劣化量の情報を圧縮する必要がある。

　そこで、劣化量累積部１２５は、劣化量を一定時間ごとに累積するようにしている。例えば、劣化量累積部１２５が劣化量を２分ごとに累積するという条件で、表示装置１が１０００時間使用されると、累積回数は、３００００回（３０×１０００）となる。２^１５は３２７６８であるので、累積回数の情報量は１５ビットになる。

　なお、過剰に輝度を上げることにより、画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化が早まることを防ぐために、劣化量累積部１２５によって算出された累積劣化量が、所定の値を越えたとき、この累積の処理を止めてもよい。

　閾値判定部１３０は、記憶部１４５から、劣化量増分算出部１２０によって算出された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量を参照する。閾値判定部１３０は、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の中で、劣化量が最大である有機発光素子の劣化量が第１閾値以上であるか否かを判定する。

　補正部１３５は、記憶部１４５から、劣化量累積部１２５によって累積された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係を参照する。補正部１３５は、劣化量累積部１２５によって累積された累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係に基づいて画像データを補正する。具体的に以下に説明する。

　有機発光素子が劣化した画素回路Ａｉｊ、及び有機発光素子が劣化していない画素回路Ａｉｊに同じ階調データが供給される場合を考える。この場合、有機発光素子が劣化した画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度は、有機発光素子が劣化していない画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度より低くなる。補正部１３５は、有機発光素子が劣化した画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度と、有機発光素子が劣化していない画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度との差がなくなるように、画像データに含まれる階調データを補正する。

　補正部１３５は、経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係を参照し、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の累積劣化量に応じて補正値を算出する。補正部１３５は、経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係に基づいて、累積劣化量から輝度を求める。補正部１３５は、有機発光素子が劣化していない画素回路Ａｉｊ（以下、第１画素回路と称する）に対応する画素の輝度から、有機発光素子が劣化している各画素回路Ａｉｊ（以下、第２画素回路と称する）の有機発光素子の累積劣化量に基づく輝度まで低下した分を補正するように補正値を算出する。つまり、補正部１３５は、第１画素回路に対応する画素の輝度と、第２画素回路に対応する画素の輝度とが同一になるように補正値を算出する。なお、補正部１３５は、複数の第１画素回路の中から、第１画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度と、第２画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度とが同一であるように、第１画素回路を選択する。

　例えば、有機発光素子が劣化していない画素回路Ａ１１、及び有機発光素子が劣化している画素回路Ａ１２について考える。画素回路Ａ１１に対応する画素及び画素回路Ａ１２に対応する画素には、同一の色（画像データ上の輝度が同一である）が表示されることとする。画素回路Ａ１２に対応する画素の輝度を補正する場合、画素回路Ａ１１を選択して、画素回路Ａ１１に対応する画素の輝度と、画素回路Ａ１２に対応する画素の輝度とが同一になるようにする。

　補正部１３５は、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度に上記の補正値を加える。つまり、補正部１３５は、有機発光素子が劣化した画素回路Ａｉｊに対して、劣化により輝度が低下した分を補正することによって画素の輝度を上げる。

　補正部１３５が各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度に補正値を加えた場合、補正部１３５は、全画素の中で、画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値以下であるか否かを判定する。

　画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値以下である場合、補正部１３５は、補正した画像データを出力データ記憶部１５０に格納する。

　画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値を超えている場合、補正部１３５は再度、補正値を算出する。補正部１３５が再度、補正値を算出する場合、補正部１３５は以下の処理を行う。補正部１３５は、累積劣化量が最大である画素回路Ａｉｊ（以下、第３画素回路と称する）に対応する画素の輝度に合わせて、第３画素回路以外の画素回路Ａｉｊ（以下、第４画素回路と称する）に対応する画素の輝度を補正するように補正値を算出する。つまり、補正部１３５は、第３画素回路に対応する画素の輝度と、第４画素回路に対応する画素の輝度とが同一になるように補正値を算出する。なお、補正部１３５は、複数の第３画素回路の中から、第３画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度と、第４画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度とが同一であるように、第３画素回路を選択する。

　例えば、累積劣化量が最大である画素回路Ａ２１、及び累積劣化量が最大である画素回路Ａ２１以外の画素回路である画素回路Ａ２２について考える。画素回路Ａ２１に対応する画素及び画素回路Ａ２２に対応する画素には、同一の色（画像データ上の輝度が同一である）が表示されることとする。画素回路Ａ２２に対応する画素の輝度を補正する場合、画素回路Ａ２１を選択して、画素回路Ａ２１に対応する画素の輝度と、画素回路Ａ２２に対応する画素の輝度とが同一になるようにする。

　補正部１３５は、画像データの輝度に再度算出した補正値を加える。つまり、全画素の中で、画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値を超えている場合、累積劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、累積劣化量が最大である画素以外の画素の輝度を下げることによって全体的に輝度の差をなくす（小さくする）。補正部１３５は、補正した画像データを出力データ記憶部１５０に格納する。

　表示制御部１０５は、出力データ記憶部１５０から、補正部１３５によって補正された画像データを取り出し、その画像データをソースドライバ回路３０に供給する。この画像データが前述した表示データＤＡとなる。

　（表示装置１の動作）
　表示装置１の動作（画像データ補正方法）について図３に基づいて説明する。

　まず、画像データ取得部１１５は、外部機器などから画像データを取得する（ステップＳ１０５）。画像データ取得部１１５は、取得した画像データを記憶部１４５に格納し、劣化量増分算出部１２０に処理を行うように指示する。

　劣化量増分算出部１２０は、画像データ取得部１１５から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、画像データ取得部１１５によって取得された画像データを参照する。劣化量増分算出部１２０は、参照した画像データに基づいて、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量の増分を算出する（ステップＳ１１０：算出工程）。劣化量増分算出部１２０は、算出した、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量の増分を記憶部１４５に格納する。劣化量増分算出部１２０は、劣化量累積部１２５に次の処理を行うように指示する。

　劣化量累積部１２５は、劣化量増分算出部１２０から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、劣化量増分算出部１２０によって算出された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量の増分を参照する。劣化量累積部１２５は、参照した劣化量の増分に基づいて、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量を累積する（ステップＳ１１５：累積工程）。具体的に以下に説明する。

　劣化量累積部１２５は、劣化量を一定時間ごとに累積する。劣化量累積部１２５は、まず、前回、累積処理を行ってから一定時間が経過したか否かを判定する。例えば、表示装置１が表示部２０に画像を毎秒６０フレーム表示する場合、劣化量の累積処理が２秒間隔で行われるとすると、劣化量累積部１２５は、前回、累積処理を行ってから１２０フレーム目（６０フレーム×２秒）に次の累積処理を行う。劣化量累積部１２５が、一定時間が経過したか否かを判定するとき、劣化量累積部１２５は、フレーム数をカウントしてもよいが、何らかのカウンタを動作させ、指定された時間を示すカウント値になったか否かによって判定してもよい。

　劣化量累積部１２５は、累積した、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の累積劣化量を記憶部１４５に格納する。劣化量累積部１２５は、閾値判定部１３０に処理を行うように指示する。

　閾値判定部１３０は、劣化量累積部１２５から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、劣化量累積部１２５によって累積された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の累積劣化量を参照する。閾値判定部１３０は、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の中で、劣化量が最大である有機発光素子の劣化量が第１閾値以上であるか否かを判定する（ステップＳ１２０）。劣化量が最大である有機発光素子の劣化量が第１閾値以上である場合、閾値判定部１３０は、補正部１３５に処理を行うように指示する。劣化量が最大である有機発光素子の劣化量が第１閾値未満である場合、閾値判定部１３０は、表示制御部１０５に処理を行うように指示する。表示制御部１０５は、閾値判定部１３０から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、画像データ取得部１１５によって取得された画像データを参照する。表示制御部１０５は、その画像データをソースドライバ回路３０に供給する。この画像データは前述した表示データＤＡとなる。

　補正部１３５は、閾値判定部１３０から処理を行うように指示されると、次に説明する処理を行う。具体的には、補正部１３５は、記憶部１４５から、劣化量累積部１２５によって累積された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係を参照する。補正部１３５は、劣化量累積部１２５によって累積された累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係に基づいて、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度を補正する（ステップＳ１２５：補正工程）。補正部１３５は、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度に補正値を加える。ここでの補正部１３５の処理については前述した通りである。

　補正部１３５は、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度を補正した後、全画素の中で、画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値以下であるか否かを判定する（ステップＳ１３０）。全画素の中で、画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値以下である場合、ステップＳ１４０の処理に移る。

　補正部１３５が全画素の中で、画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値を超えている場合、補正部１３５は再度、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度を補正する（ステップＳ１３５）。ここでの補正部１３５の処理については前述した通りである。補正部１３５は、補正した画像データを出力データ記憶部１５０に格納し、表示制御部１０５に処理を行うように指示する。

　表示制御部１０５は、補正部１３５から処理を行うように指示されると、出力データ記憶部１５０から、補正部１３５によって補正された画像データを取り出し、その画像データをソースドライバ回路３０に供給する。この画像データは前述した表示データＤＡとなる。ソースドライバ回路３０は、表示部２０に表示データＤＡを供給し、表示部２０は画像を表示する（ステップＳ１４０）。

　以上により、表示装置１では、劣化量累積部１２５は、一定時間ごとに劣化量の増分を累積する。このため、劣化量の情報を記憶部１４５に格納することを考えると、記憶部１４５に格納される劣化量の情報を少なくすることができる。よって、画素数が多い場合に劣化量の情報が多くなっても、長い期間、記憶部１４５に劣化量の情報を格納し続けることができる。これにより、表示装置１は、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができる。

　また、表示装置１では、補正部１３５は、画素の輝度を補正した後、画素の輝度の最大値が、表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正する。これにより、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　また、補正部１３５は、画素の輝度を補正した後、画素の輝度の最大値が上限値を超えている場合、劣化量累積部１２５によって累積された累積劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、その累積劣化量が最大である画素以外の画素の輝度を補正する。これにより、補正後の輝度の最大値が、表示可能な上限値を超えている場合であっても、劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　〔実施形態２〕
　本発明の他の実施形態について、図４～図６に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。図４は、本発明の実施形態２に係る表示装置２の構成を示すブロック図である。図５は、表示装置２の動作を示すフローチャートである。図６の（ａ）～（ｄ）は、表示部２０の表示面が複数の領域に分割されたときの１つの領域２０５を示す模式図である。

　（表示装置２の構成）
　表示装置２は、図４に示すように、表示装置１と比べて、表示制御回路１０が表示制御回路１１に変更されている点が異なる。表示制御回路１１は、表示制御回路１０と比べて、画像データ補正回路１１０が画像データ補正回路１１１に変更されている点が異なる。画像データ補正回路１１１は、画像データ補正回路１１０と比べて、領域分割部１６０、合計劣化量算出部１６５、平均劣化量算出部１７０、及び平均劣化量累積部１７５（平均累積部）を備えている点、及び劣化量累積部１２５を備えていない点が異なる。

　領域分割部１６０は、表示部２０の表示面を複数の領域２０５に分割する。隣接するサブ画素では、互いに階調の差が小さいので、累積劣化量の差も小さいと考えられる。そこで、表示部２０の表示面が、複数の画素を含む領域２０５に分割されることを考える。ここでは、例えば、図６の（ｂ）に示すように、１つの領域２０５が４行×４列の画素を含む場合を考える。領域分割部１６０は、領域２０５の境界に関する情報を記憶部１４５に格納する。

　合計劣化量算出部１６５は、表示部２０に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、１つの領域に含まれる１６の画素に対応する画素回路Ａｉｊが備える有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する。合計劣化量算出部１６５は、算出した合計を記憶部１４５に格納する。

　平均劣化量算出部１７０は、記憶部１４５から、合計劣化量算出部１６５によって算出された合計を参照する。平均劣化量算出部１７０は、その合計を、１つの領域に含まれる画素数（ここでは１６）で割ることにより、１つの領域に含まれる１６の画素に対応する有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する。平均劣化量算出部１７０は、算出した平均を記憶部１４５に格納する。

　平均劣化量累積部１７５は、記憶部１４５から、平均劣化量算出部１７０によって算出された平均を参照する。平均劣化量累積部１７５は、領域２０５ごとにその平均を累積する。平均劣化量累積部１７５は、累積した、平均累積劣化量を記憶部１４５に格納する。

　補正部１３５は、記憶部１４５に格納されている、平均劣化量累積部１７５によって累積された平均累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係を参照する。補正部１３５は、経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係に基づいて、累積劣化量から輝度を求める。補正部１３５は、各領域２０５の平均累積劣化量に応じて、画素ごとに補正値を算出する。つまり、１つの領域２０５に対する平均累積劣化量に応じて、その１つの領域２０５に属する画素ごとに補正値を算出する。具体的には、補正部１３５は、有機発光素子が劣化していない領域２０５に対応する画素の輝度から、有機発光素子が劣化している領域２０５の平均累積劣化量に基づく輝度まで低下した分を補正するように補正値を算出する。つまり、補正部１３５は、有機発光素子が劣化していない領域２０５内の画素回路Ａｉｊ（以下、第５画素回路と称する）に対応する画素の輝度と、有機発光素子が劣化している領域２０５内の画素回路Ａｉｊ（以下、第６画素回路と称する）に対応する画素の輝度とが同一になるように補正値を算出する。なお、補正部１３５は、第５画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度と、第６画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度とが同一であるように、第５画素回路を選択する。補正部１３５は、有機発光素子が劣化している領域２０５内の全て画素の輝度に補正値を加える。つまり、補正部１３５は、各領域２０５に対して、劣化により輝度が低下した分を補正することによって、領域２０５内の画素の輝度を上げる。

　補正部１３５が各領域２０５内の画素の輝度に補正値を加えた場合、補正部１３５は、全画素の中で、画素の輝度の最大値が、表示を行うことが可能な上限値以下であるか否かを判定する。補正部１３５が行う処理において、この判定の処理以降に行われる処理は、表示装置１の補正部１３５が行う処理と同様である。

　補正部１３５が画像データの補正を行うとき、補正部１３５は、１つの領域に含まれる１６の画素の有機発光素子それぞれが、同じ累積劣化量を有するものとして補正値を算出する。つまり、１つの領域に対する累積劣化量は、平均劣化量累積部１７５によって累積された平均累積劣化量であるものとする。これにより、全ての画素それぞれにおいて補正値を算出していたのに対し、１つの領域に対して補正値を算出するので、累積劣化量の情報量は１／１６になる。

　（表示装置２の動作）
　表示装置２の動作について図５に基づいて説明する。図５に示すように、表示装置２の動作は、表示装置１の動作と比べて、ステップＳ１４５～ステップＳ１６０の処理が追加されている点、及びステップＳ１１５の処理が省かれている点が異なる。ここでは、表示装置２の動作が表示装置１の動作と異なっている部分のみについて説明する。

　ステップＳ１１０の処理の後、劣化量増分算出部１２０は、領域分割部１６０に次の処理を行うように指示する。領域分割部１６０は、劣化量増分算出部１２０から処理を行うように指示されると、表示部２０の表示面を複数の領域２０５に分割する（ステップＳ１４５：領域分割工程）。領域分割部１６０は、領域２０５の境界に関する情報を記憶部１４５に格納し、合計劣化量算出部１６５に処理を行うように指示する。

　合計劣化量算出部１６５は、領域分割部１６０に処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、劣化量増分算出部１２０によって算出された、表示部２０の各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量を参照する。合計劣化量算出部１６５は、劣化量増分算出部１２０によって算出された劣化量に基づいて、領域２０５ごとに劣化量の合計を算出する（ステップＳ１５０：合計劣化量算出工程）。合計劣化量算出部１６５は、算出した合計を記憶部１４５に格納し、平均劣化量算出部１７０に処理を行うように指示する。

　平均劣化量算出部１７０は、合計劣化量算出部１６５から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、合計劣化量算出部１６５によって算出された合計を参照する。平均劣化量算出部１７０は、その合計を、１つの領域に含まれる画素数（ここでは１６）で割ることにより、１つの領域に含まれる１６の画素の劣化量の増分の平均を算出する（ステップＳ１５５：平均劣化量算出工程）。平均劣化量算出部１７０は、算出した平均を記憶部１４５に格納し、平均劣化量累積部１７５に処理を行うように指示する。

　平均劣化量累積部１７５は、平均劣化量算出部１７０から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、平均劣化量算出部１７０によって算出された平均を参照する。平均劣化量累積部１７５は、領域２０５ごとに劣化量の平均を累積する（ステップＳ１６０：平均累積工程）。平均劣化量累積部１７５は、累積した、平均累積劣化量を記憶部１４５に格納し、閾値判定部１３０に処理を行うように指示する。

　閾値判定部１３０は、平均劣化量累積部１７５から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、平均劣化量累積部１７５によって累積された、領域２０５ごとの劣化量の平均を参照する。閾値判定部１３０は、各領域２０５の中で、平均累積劣化量が最大である領域２０５の平均累積劣化量が第１閾値以上であるか否かを判定する（ステップＳ１２０）。平均累積劣化量が最大である領域２０５の平均累積劣化量が第１閾値以上である場合、閾値判定部１３０は、補正部１３５に処理を行うように指示する。平均累積劣化量が最大である領域２０５の平均累積劣化量が第１閾値未満である場合、閾値判定部１３０は、表示制御部１０５に処理を行うように指示する。

　補正部１３５は、閾値判定部１３０から処理を行うように指示されると、記憶部１４５に格納されている、平均劣化量累積部１７５によって累積された平均累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係を参照する。補正部１３５は、各領域２０５の平均累積劣化量に応じて、領域２０５ごとに補正値を算出する。補正部１３５は、平均劣化量累積部１７５によって累積された平均累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係に基づいて、各領域２０５内の画素の輝度を補正する（ステップＳ１２５）。補正部１３５は、各領域２０５内の画素の輝度に補正値を加える。ここでの補正部１３５の処理については前述した通りである。ステップＳ１３０以降の処理は、表示装置１と同様である。

　以上により、表示装置２では、平均劣化量累積部１７５は、領域ごとに有機発光素子の劣化量の増分の平均を累積する。このため、画素ごとに劣化量の増分を累積するよりも、劣化量の累積量が少なくなる。劣化量の情報を記憶部１４５に格納することを考えると、記憶部１４５に格納される劣化量の情報を少なくすることができる。よって、画素数が多い場合に劣化量の情報が多くなっても、長い期間、記憶部１４５に劣化量の情報を格納し続けることができる。これにより、表示装置２は、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができる。

　（変形例）
　なお、１つの領域２０５に含まれるサブ画素数が多くなると、領域の境界と、表示される画像における階調の差が大きい箇所とが異なり、補正の誤差が目立つことが考えられる。この誤差を目立たなくするため、図６の（ａ）～（ｄ）に示すように、白い画素Ｗ１と黒い画素Ｂ１とを交互に配置する。具体的には、白い画素Ｗ１の輝度と、黒い画素Ｂ１の輝度とを別々に管理する。白い画素Ｗ１及び黒い画素Ｂ１とは、説明しやすいように、各画素を白または黒で表現しているだけであり、各画素が白または黒であることに特段の意味はない。ここでは、白い画素Ｗ１の平均累積劣化量と、黒い画素Ｂ１の平均累積劣化量とが別々に算出される。図６の（ａ）～（ｄ）に、いくつかの例を示す。表１に平均累積劣化量の圧縮率を示す。

　図６の（ａ）に示すような、領域２０５内に３行×３列の画素が含まれる場合について説明する。この場合、白い画素Ｗ１の個数は５個であり、黒い画素Ｂ１の個数は４個である。よって、領域に分割することなく画素ごとに累積劣化量を算出する場合と比べて、累積劣化量の情報量は２×１／９＝１／４．５となる。

　図６の（ｂ）に示すような、領域２０５内に４行×４列の画素が含まれる場合について説明する。この場合、白い画素Ｗ１の個数は８個であり、黒い画素Ｂ１の個数は８個である。よって、領域に分割することなく画素ごとに累積劣化量を算出する場合と比べて、累積劣化量の情報量は２×１／１６＝１／８となる。

　図６の（ｃ）に示すような、領域２０５内に５行×５列の画素が含まれる場合について説明する。この場合、白い画素Ｗ１の個数は１３個であり、黒い画素Ｂ１の個数は１２個である。よって、領域に分割することなく画素ごとに累積劣化量を算出する場合と比べて、累積劣化量の情報量は２×１／２５＝１／１２．５となる。

　図６の（ｄ）に示すような、領域２０５内に６行×６列の画素が含まれる場合について説明する。この場合、白い画素Ｗ１の個数は１８個であり、黒い画素Ｂ１の個数は１８個である。よって、領域に分割することなく画素ごとに累積劣化量を算出する場合と比べて、累積劣化量の情報量は２×１／３６＝１／１８となる。

　白い画素Ｗ１の平均累積劣化量と、黒い画素Ｂ１の平均累積劣化量とを算出しているので、単に領域２０５ごとに平均累積劣化量を算出する場合と比べて、平均累積劣化量の情報量は約２倍になるが、補正後の誤差が目立つことを防ぐことができる。補正後の誤差が目立つ問題については、具体的に図７に基づいて以下に説明する。

　図７は、表示部２０に画像が表示されている状態を示す図である。図７では、表示部２０の左上半分が白く表示され、表示部２０の右下半分が青く表示されている。表示部２０において、ｓ行に該当し、かつ、ｔ列に該当する領域２０５を、領域（ｓ、ｔ）と表記する。ｓ及びｔは、図７において左上の方が小さいものとする。

　白く表示されている領域２０５（例えば、領域（１、１））の劣化率は、例えば、（Ｒの劣化率、Ｇの劣化率、Ｂの劣化率）＝（２０％、２０％、２０％）であるとする。Ｒは赤色のサブ画素、Ｇは緑色のサブ画素、Ｂは青色のサブ画素を示す。

　青く表示されている領域２０５（例えば、領域（４、４））の劣化率は、例えば、（Ｒの劣化率、Ｇの劣化率、Ｂの劣化率）＝（０％、０％、２０％）であるとする。

　白く表示されている部分と青く表示されている部分の両方を含む領域２０５（例えば、領域（３、２））の劣化率は、例えば、（Ｒの劣化率、Ｇの劣化率、Ｂの劣化率）＝（１０％、１０％、２０％）であるとする。

　また、表示部２０内の全ての領域２０５において、例えば、Ｒ、Ｇ、及びＢ全ての階調が１００である画像を表示するとき、最も劣化しているサブ画素の階調は、階調８０になるので、全ての領域２０５の階調を８０になるように補正する。

　白く表示されている領域２０５（例えば、領域（１、１））の補正後の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（８０／（１．０－０．２）、８０／（１．０－０．２）、８０／（１．０－０．２））＝（１００、１００、１００）である。

　青く表示されている領域２０５（例えば、領域（４、４））の補正後の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（８０／（１．０－０．０）、８０／（１．０－０．０）、８０／（１．０－０．２））＝（８０、８０、１００）である。

　白く表示されている部分と青く表示されている部分の両方を含む領域２０５（例えば、領域（３、２））の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（８０／（１．０－０．１）、８０／（１．０－０．１）、８０／（１．０－０．２））＝（８９、８９、１００）である。

　補正後の階調のデータに基づいて、実際に表示される画像の階調を以下に示す。

　白く表示されている領域２０５（例えば、領域（１、１））の実際の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（１００×（１．０－０．２）、１００×（１．０－０．２）、１００×（１．０－０．２））＝（８０、８０、８０）である。

　青く表示されている領域２０５（例えば、領域（１、１））の実際の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（８０×（１．０－０．０）、８０×（１．０－０．０）、１００×（１．０－０．２））＝（８０、８０、８０）である。

　白く表示されている部分と青く表示されている部分の両方を含む領域２０５（例えば、領域（３、２））において、白く表示されている部分の実際の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（８９×（１．０－０．２）、８９×（１．０－０．２）、１００×（１．０－０．２））＝（７１、７１、８０）である。

　白く表示されている部分と青く表示されている部分の両方を含む領域２０５（例えば、領域（３、２））において、青く表示されている部分の実際の階調は、（Ｒの階調、Ｇの階調、Ｂの階調）＝（８９×（１．０－０．０）、８９×（１．０－０．０）、１００×（１．０－０．２））＝（８９、８９、８０）である。

　よって、白く表示されている部分と青く表示されている部分の両方を含む領域２０５（例えば、領域（３、２））において、階調が８０にならない場合がある。しかし、前述したように、白い画素Ｗ１の平均累積劣化量と、黒い画素Ｂ１の平均累積劣化量とを別々に算出することにより、補正後の誤差が目立つ問題を防ぐことができる。具体的に以下に説明する。領域２０５ごとに平均劣化量を累積し、領域２０５内の画素の輝度を補正すると、補正後の誤差により領域２０５間の境界に境界線が表示される。そこで、領域２０５内において、白い画素Ｗ１の平均累積劣化量と、黒い画素Ｂ１の平均累積劣化量とを別々に算出することにより、領域２０５間の境界に接する、領域２０５内の隣接する画素間で平均累積劣化量が別々に算出される。これにより、領域２０５間の境界に接する、領域２０５内の隣接する画素間で異なる色が交互に並ぶので、領域２０５間の境界に境界線が表示されることを防ぐことができる。

　〔実施形態３〕
　本発明の他の実施形態について、図８及び図９に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。図８は、本発明の実施形態３に係る表示装置３の構成を示すブロック図である。図９は、表示装置３の動作を示すフローチャートである。

　（表示装置３の構成）
　表示装置３は、図８に示すように、表示装置１と比べて、表示制御回路１０が表示制御回路１２に変更されている点が異なる。表示制御回路１２は、表示制御回路１０と比べて、画像データ補正回路１１０が画像データ補正回路１１２に変更されている点が異なる。画像データ補正回路１１２は、画像データ補正回路１１０と比べて、劣化量判定部１８０を備えている点が異なる。

　劣化量判定部１８０は、表示装置３が一定時間動作した後、記憶部１４５から、劣化量累積部１２５によって累積された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量を参照する。劣化量判定部１８０は、画素回路Ａｉｊに対応する画素ごとに、有機発光素子の劣化量が第２閾値以上であるか否かを判定する。劣化量判定部１８０は、劣化量が第２閾値以上であると判定された画素、及びその画素の周囲の領域についてのみ劣化量の累積を行うように、劣化量累積部１２５に指示する。この周囲の領域とは、例えば、劣化量が第２閾値以上であると判定された画素と３つ隣り合う画素までの領域であってもよい。

　劣化量累積部１２５は、劣化量判定部１８０から、次のフレームからは劣化量が第２閾値以上であると判定された画素、及びその画素の周囲の領域についてのみ劣化量の累積を行うように指示される。劣化量累積部１２５は、その指示に従って劣化量が第２閾値以上であると判定された画素、及びその画素の周囲の領域についてのみ劣化量を累積する。

　なお、ここでは、劣化量が第２閾値以上であると判定された画素、及びその画素の周囲の領域についてのみ劣化量の累積が行われるが、その画素、及びその画素の周囲の領域における劣化量の累積回数を、他の領域における劣化量の累積回数よりも多くしてもよい。

　例えば、スマートフォンなどの画面では、画面上部に常時アイコンが表示されており、アイコンが表示されている画面上部は、他の表示領域に比べて有機発光素子が劣化しやすい。よって、画面上端及び／または下端の領域のみを、画素ごとに累積劣化量を算出することにより、記憶部１４５に格納される累積劣化量の情報を少なくすることができる。累積劣化量の情報を少なくすることができるので、劣化量の累積を行う時間の間隔を短くしても、長い期間、劣化補正を実行することができ、かつ、解像度及び精度を向上させることができる。

　（表示装置３の動作）
　表示装置３の動作について図９に基づいて説明する。図９に示すように、表示装置３の動作は、表示装置１の動作と比べて、ステップＳ１７０の処理が追加されている点が異なる。

　ステップＳ１１５の処理の後、劣化量累積部１２５は、劣化量判定部１８０に処理を行うように指示する。

　劣化量判定部１８０は、劣化量累積部１２５から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、劣化量累積部１２５によって累積された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量を参照する。劣化量判定部１８０は、画素ごとに劣化量が第２閾値以上であるか否かを判定する（ステップＳ１７０）。劣化量判定部１８０は、次のフレームからは劣化量が第２閾値以上であると判定された画素、及びその画素の周囲の領域についてのみ劣化量の累積を行うように劣化量累積部１２５に指示する。劣化量判定部１８０は、閾値判定部１３０に処理を行うように指示する。ステップＳ１２０以降の処理は、表示装置１と同様である。

　〔実施形態４〕
　本発明の他の実施形態について、図１０及び図１１に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。図１０は、本発明の実施形態４に係る表示装置４の構成を示すブロック図である。図１１は、表示装置４の動作を示すフローチャートである。

　（表示装置４の構成）
　表示装置４は、図１０に示すように、表示装置１と比べて、表示制御回路１０が表示制御回路１３に変更されている点が異なる。表示制御回路１３は、表示制御回路１０と比べて、画像データ補正回路１１０が画像データ補正回路１１３に変更されている点が異なる。画像データ補正回路１１３は、画像データ補正回路１１０と比べて、画像データ調整部１８５（調整部）、合計輝度算出部１９０（平均算出部）、平均輝度算出部１９５（平均算出部）、及び輝度判定部２００を備えている点が異なる。

　画像データ調整部１８５は、前述したＢｒｉｇｈｔｎｅｓｓＣｏｎｔｒｏｌの機能を備えており、表示装置１が設置される場所において周囲の環境の明るさに応じて画素の輝度を調整する。画像データ調整部１８５は、調整した画素の輝度を記憶部１４５に格納する。

　合計輝度算出部１９０は、記憶部１４５から、画像データ調整部１８５によって調整された画素の輝度を参照する。合計輝度算出部１９０は、画像データ調整部１８５によって調整された画素の輝度に基づいて、全画素の輝度の合計を算出する。合計輝度算出部１９０は、算出した合計を記憶部１４５に格納する。

　平均輝度算出部１９５は、記憶部１４５から、合計輝度算出部１９０によって算出された合計を参照する。平均輝度算出部１９５は、その合計を、全画素数で割ることにより、全画素の輝度の平均を算出する。平均輝度算出部１９５は、算出した平均を記憶部１４５に格納する。

　輝度判定部２００は、記憶部１４５から、平均輝度算出部１９５によって算出された平均を参照する。輝度判定部２００は、平均輝度算出部１９５によって算出された平均が第３閾値（所定閾値）以上であるか否かを判定する。輝度判定部２００は、判定結果を記憶部１４５に格納する。

　補正部１３５は、輝度判定部２００によって、全画素の輝度の平均が第３閾値以上であると判定された場合、以下に説明する処理を行う。補正部１３５は、累積劣化量が最大である画素回路Ａｉｊ（以下、第７画素回路と称する）に対応する画素の輝度に合わせて、第７画素回路以外の画素回路Ａｉｊ（以下、第８画素回路と称する）に対応する画素の輝度を補正するように補正値を算出する。つまり、補正部１３５は、第７画素回路に対応する画素の輝度と、第８画素回路に対応する画素の輝度とが同一になるように補正値を算出する。なお、補正部１３５は、第７画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度と、第８画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度とが同一であるように、第７画素回路を選択する。補正部１３５は、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度にこの補正値を加える。つまり、全画素の輝度の平均が第３閾値以上である場合、累積劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、累積劣化量が最大である画素以外の画素の輝度を下げることによって全体的に輝度の差を小さくする。

　一方、補正部１３５は、輝度判定部２００によって、全画素の輝度の平均が第３閾値未満であると判定された場合、以下に説明する処理を行う。補正部１３５は、有機発光素子が劣化していない画素回路Ａｉｊ（以下、第９画素回路と称する）に対応する画素の輝度から、有機発光素子が劣化している各画素回路Ａｉｊ（以下、第１０画素回路と称する）の有機発光素子の累積劣化量に基づく輝度まで低下した分を補正するように補正値を算出する。つまり、補正部１３５は、第９画素回路に対応する画素の輝度と、第１０画素回路に対応する画素の輝度とが同一になるように補正値を算出する。なお、補正部１３５は、第９画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度と、第１０画素回路に対応する画素における画像データ上の輝度とが同一であるように、第９画素回路を選択する。補正部１３５は、各画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度にこの補正値を加える。

　（表示装置４の動作）
　表示装置４の動作について図１１に基づいて説明する。図１１に示すように、表示装置４の動作は、表示装置１の動作と比べて、ステップＳ１７５、及びステップＳ１８０～ステップＳ２００の処理が追加されている点が異なる。

　画像データ取得部１１５は、画像データ調整部１８５に処理を行うように指示する。画像データ調整部１８５は、画像データ取得部１１５から処理を行うように指示されると、表示装置１が設置される場所において周囲の環境の明るさに応じて画素の輝度を調整する（ステップＳ１７５）。画像データ調整部１８５は、調整した画素の輝度を記憶部１４５に格納する。画像データ調整部１８５は、劣化量増分算出部１２０に処理を行うように指示する。この後、ステップＳ１１０～ステップＳ１２０の処理が行われる。

　ステップＳ１２０の処理の後、劣化量が最大である有機発光素子の劣化量が第１閾値以上である場合、閾値判定部１３０は、合計輝度算出部１９０に処理を行うように指示する。劣化量が最大である有機発光素子の劣化量が第１閾値未満である場合、閾値判定部１３０は、表示制御部１０５に処理を行うように指示する。

　合計輝度算出部１９０は、閾値判定部１３０から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、劣化量累積部１２５によって累積された、各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の劣化量を参照する。合計輝度算出部１９０は、全画素の輝度の合計を算出する（ステップＳ１８０）。合計輝度算出部１９０は、算出した合計を記憶部１４５に格納する。合計輝度算出部１９０は、平均輝度算出部１９５に処理を行うように指示する。

　平均輝度算出部１９５は、合計輝度算出部１９０から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、合計輝度算出部１９０によって算出された合計を参照する。平均輝度算出部１９５は、その合計を、全画素数で割ることにより、全画素の輝度の平均を算出する（ステップＳ１８５）。平均輝度算出部１９５は、算出した平均を記憶部１４５に格納する。平均輝度算出部１９５は、輝度判定部２００に処理を行うように指示する。

　輝度判定部２００は、平均輝度算出部１９５から処理を行うように指示されると、記憶部１４５から、平均輝度算出部１９５によって算出された平均を参照する。輝度判定部２００は、平均輝度算出部１９５によって算出された、全画素の輝度の平均が第３閾値以上であるか否かを判定する（ステップＳ１９０）。全画素の輝度の平均が第３閾値以上である場合、輝度判定部２００は、補正部１３５にステップＳ１９５の処理を行うように指示する。全画素の輝度の平均が第３閾値未満である場合、輝度判定部２００は、補正部１３５にステップＳ２００の処理を行うように指示する。

　補正部１３５は、輝度判定部２００からステップＳ１９５の処理を行うように指示される。補正部１３５は、記憶部１４５に格納されている、劣化量累積部１２５によって累積された累積劣化量、及び経時劣化特性記憶部１５５に予め記憶されている、累積劣化量と輝度との関係を参照する。補正部１３５は、累積劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、累積劣化量が最大である画素以外の画素の輝度を補正する（ステップＳ１９５）。ここでの補正部１３５の処理については前述した通りである。

　また、補正部１３５は、輝度判定部２００からステップＳ２００の処理を行うように指示される。補正部１３５は、有機発光素子が劣化していない画素回路Ａｉｊに対応する画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している各画素回路Ａｉｊの有機発光素子の累積劣化量に基づく輝度を補正する（ステップＳ２００）。ここでの補正部１３５の処理については前述した通りである。補正部１３５は、補正した画像データを出力データ記憶部１５０に格納し、表示制御部１０５に処理を行うように指示する。ステップＳ１４０の処理は、表示装置１と同様である。

　以上により、表示装置４では、平均輝度算出部１９５によって算出された平均が第３閾値以上である場合、劣化量累積部１２５によって累積された劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、劣化量累積部１２５によって累積された劣化量が最大である画素以外の画素の輝度を補正する。これにより、平均輝度算出部１９５によって算出された平均が第３閾値以上である場合、例えば、輝度を上げることが可能な補正の範囲が小さい場合であっても、劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　また、平均輝度算出部１９５によって算出された平均が第３閾値未満である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正する。これにより、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　〔ソフトウェアによる実現例〕
　画像データ補正回路１１０・１１１・１１２の制御ブロック（特に画像データ取得部１１５、劣化量増分算出部１２０、劣化量累積部１２５、閾値判定部１３０、補正部１３５、領域分割部１６０、合計劣化量算出部１６５、平均劣化量算出部１７０、平均劣化量累積部１７５、及び劣化量判定部１８０）は、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いてソフトウェアによって実現してもよい。

　後者の場合、画像データ補正回路１１０・１１１・１１２は、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するＣＰＵ、上記プログラムおよび各種データがコンピュータ（またはＣＰＵ）で読み取り可能に記録されたＲＯＭ（Read Only Memory）または記憶装置（これらを「記録媒体」と称する）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）などを備えている。そして、コンピュータ（またはＣＰＵ）が上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の目的が達成される。上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、例えば、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路などを用いることができる。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明の一態様は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。

　〔まとめ〕
　本発明の態様１に係る表示装置１・３は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部２０を備える表示装置１において、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出部（劣化量増分算出部１２０）と、前記算出部によって算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積部（劣化量累積部１２５）と、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部１３５とを備えることを特徴とする。

　上記構成によれば、累積部は、一定時間ごとに劣化量の増分を累積する。このため、例えば、劣化量の情報を記憶部に格納することを考えると、記憶部に格納される劣化量の情報を少なくすることができる。よって、画素数が多い場合に劣化量の情報が多くなっても、長い期間、記憶部に劣化量の情報を格納し続けることができる。これにより、表示装置は、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができる。

　本発明の態様２に係る表示装置１・３は、上記態様１において、前記補正部１３５は、前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記表示部２０が表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正し、前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記上限値を超えている場合、前記累積部（劣化量累積部１２５）によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正してもよい。

　上記構成によれば、補正部は、画素の輝度を補正した後、画素の輝度の最大値が、表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正する。これにより、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　また、補正部は、画素の輝度を補正した後、画素の輝度の最大値が、上限値を超えている場合、累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正する。これにより、補正後の輝度の最大値が、表示部が表示可能な上限値を超えている場合であっても、劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　本発明の態様３に係る表示装置４は、上記態様１において、周囲の明るさに応じて画素の輝度を調整する調整部（画像データ調整部１８５）と、前記画像データに基づいて、全画素の輝度の平均を算出する平均算出部（平均輝度算出部１９５）とをさらに備え、前記補正部１３５は、前記平均算出部によって算出された平均が所定閾値（第３閾値）以上である場合、前記累積部（劣化量累積部１２５）によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正し、前記平均算出部によって算出された平均が前記所定閾値（第３閾値）未満である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正してもよい。

　上記構成によれば、平均算出部によって算出された平均が所定閾値以上である場合、累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正する。これにより、平均算出部によって算出された平均が所定閾値以上である場合、例えば、輝度を上げることが可能な補正の範囲が小さい場合であっても、劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　また、平均算出部によって算出された平均が所定閾値未満である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正する。これにより、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　本発明の態様４に係る画像データ補正方法は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出工程と、前記算出工程にて算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積工程と、前記累積工程にて累積された劣化量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備えることを特徴とする。

　上記構成によれば、累積工程は、一定時間ごとに劣化量の増分を累積する。このため、例えば、劣化量の情報を記憶部に格納することを考えると、記憶部に格納される劣化量の情報を少なくすることができる。よって、画素数が多い場合に劣化量の情報が多くなっても、長い期間、記憶部に劣化量の情報を格納し続けることができる。これにより、画像データ補正方法では、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができる。

　本発明の態様５に係る画像データ補正方法は、上記態様４において、前記補正工程は、前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記表示部が表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正し、前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記上限値を超えている場合、前記累積工程にて累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積工程にて累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正してもよい。

　上記構成によれば、補正工程は、画素の輝度を補正した後、画素の輝度の最大値が、表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正する。これにより、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　また、補正工程は、画素の輝度を補正した後、画素の輝度の最大値が、上限値を超えている場合、累積工程によって累積された劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、累積工程によって累積された劣化量が最大である画素以外の画素の輝度を補正する。これにより、補正後の輝度の最大値が、表示可能な上限値を超えている場合であっても、劣化量が最大である画素の輝度に合わせて、全体的に輝度の差を小さくすることができる。

　本発明の態様６に係る表示装置２は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部２０を備える表示装置１において、前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割部１６０と、前記表示部２０に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出部１６５と、前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出部１７０と、前記平均を累積する平均累積部（平均劣化量累積部１７５）と、前記平均累積部によって累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部１３５とを備えることを特徴とする。

　上記構成によれば、平均累積部は、領域ごとに有機発光素子の劣化量の増分の平均を累積する。このため、画素ごとに劣化量の増分を累積するよりも、劣化量の累積量が少なくなる。例えば、劣化量の情報を記憶部に格納することを考えると、記憶部に格納される劣化量の情報を少なくすることができる。よって、画素数が多い場合に劣化量の情報が多くなっても、長い期間、記憶部に劣化量の情報を格納し続けることができる。これにより、表示装置は、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができる。

　本発明の態様７に係る画像データ補正方法は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割工程と、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出工程と、前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出工程と、前記平均を累積する平均累積工程と、前記平均累積工程にて累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備えることを特徴とする。

　上記構成によれば、平均累積工程は、領域ごとに有機発光素子の劣化量の増分の平均を累積する。このため、画素ごとに劣化量の増分を累積するよりも、劣化量の累積量が少なくなる。例えば、劣化量の情報を記憶部に格納することを考えると、記憶部に格納される劣化量の情報を少なくすることができる。よって、画素数が多い場合に劣化量の情報が多くなっても、長い期間、記憶部に劣化量の情報を格納し続けることができる。これにより、表示装置は、画素数が多い場合であっても、長い期間、画像データの補正を行うことができる。

　本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。

　１、２、３、４　表示装置
　１０、１１、１２、１３　表示制御回路
　２０　表示部
　３０　ソースドライバ回路
　４０　ゲートドライバ回路
　１０５　表示制御部
　１１０、１１１、１１２、１１３　画像データ補正回路
　１１５　画像データ取得部
　１２０　劣化量増分算出部（算出部）
　１２５　劣化量累積部（累積部）
　１３０　閾値判定部
　１３５　補正部
　１４５　記憶部
　１５０　出力データ記憶部
　１５５　経時劣化特性記憶部
　１６０　領域分割部
　１６５　合計劣化量算出部
　１７０　平均劣化量算出部
　１７５　平均劣化量累積部（平均累積部）
　１８０　劣化量判定部
　１８５　画像データ調整部
　１９０　合計輝度算出部（平均算出部）
　１９５　平均輝度算出部（平均算出部）
　２００　輝度判定部
　２０５　領域
　３０５　シフトレジスタ
　３１０　レジスタ
　３１５　ラッチ回路
　Ａｉｊ　画素回路
　Ｇｉ　走査線
　Ｓｊ　データ線

Claims

　有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置において、
　前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出部と、
　前記算出部によって算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積部と、
　前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部とを備えることを特徴とする表示装置。
　前記補正部は、
　前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記表示部が表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正し、
　前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記上限値を超えている場合、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
　周囲の明るさに応じて画素の輝度を調整する調整部と、
　前記画像データに基づいて、全画素の輝度の平均を算出する平均算出部とをさらに備え、
　前記補正部は、
　前記平均算出部によって算出された平均が所定閾値以上である場合、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正し、
　前記平均算出部によって算出された平均が前記所定閾値未満である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
　有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、
　前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出工程と、
　前記算出工程にて算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積工程と、
　前記累積工程にて累積された劣化量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備えることを特徴とする画像データ補正方法。
　前記補正工程は、
　前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記表示部が表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正し、
　前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記上限値を超えている場合、前記累積工程にて累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積工程にて累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正することを特徴とする請求項４に記載の画像データ補正方法。
　有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置において、
　前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割部と、
　前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出部と、
　前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出部と、
　前記平均を累積する平均累積部と、
　前記平均累積部によって累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部とを備えることを特徴とする表示装置。
　有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、
　前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割工程と、
　前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出工程と、
　前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出工程と、
　前記平均を累積する平均累積工程と、
　前記平均累積工程にて累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備えることを特徴とする画像データ補正方法。