JP5598053B2 - 信号処理装置、表示装置、電子機器、信号処理方法およびプログラム - Google Patents
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Description
1.第1の実施の形態(表示制御:温度条件変換部を用いて温度条件変換を行うことにより温度ごとの劣化特性を算出する例)
2.第2の実施の形態(表示制御:特定の温度でのみ劣化するダミー画素回路を用いることにより温度ごとの劣化特性を算出する例)
3.第3の実施の形態(表示制御:ダミー画素回路の温度を特定の温度に一定に保つことにより温度ごとの劣化特性を算出する例)
4.本発明の適用例(表示制御:電子機器の例)
[表示装置の構成例]
図1は、本発明の第1の実施の形態における表示装置100の一構成例を示す概念図である。表示装置100は、焼き付き補正部200と、ライトスキャナ(WSCN:WriteSCaNner)110と、水平セレクタ(HSEL:Horizontal SELector)120とを備える。また、この表示装置100は、電源スキャナ(DSCN:Drive SCaNner)130と、画素アレイ部140と、ダミー画素発光信号生成部150と、ダミー画素アレイ部300とを備える。画素アレイ部140は、n×m(mおよびnは2以上の整数)個の二次元マトリックス状に配列された画素回路600乃至605を備える。ここでは、便宜上、1行目、2行目およびm行目における1列目およびn列目に配置された6個の画素回路600乃至605が示されている。
図2は、本発明の第1の実施の形態における画素回路600乃至605の一構成例を模式的に示す回路図である。なお、画素回路600乃至605は、同一の構成であるため、この図2以降では、主に画素回路600について説明し、画素回路601乃至605についての一部の説明を省略する。
図3は、図2の構成における画素回路600の基本動作の一例に関するタイミングチャートである。ここでは、横軸を共通の時間軸として、走査線(WSL)160、電源線(DSL)180、データ線(DTL)170、第1ノード(ND1)650および第2ノード(ND2)660における電位変化が示されている。なお、各期間を示す横軸の長さは模式的なものであり、各期間の時間長の割合を示すものではない。
Vel'=Gb×Vel ・・・式1
Gb=Cs/(Cs+Cp) ・・・式2
次に、上述の画素回路600の動作の遷移例について、以下に図面を参照して詳細に説明する。
次に、本発明の第1の実施の形態における画素回路の劣化の特性について図7および図8を参照して説明する。
図9は、本発明の第1の実施の形態におけるダミー画素アレイ部300の一構成例を示す概念図である。なお、この本発明の第1の実施の形態では、3つの階調値の発光信号に基づく画素回路の劣化について測定するものとする。
図10は、本発明の第1の実施の形態におけるダミー画素回路311および輝度センサ312の配置構成例を模式的に示す断面図および配置図である。
図11は、本発明の第1の実施の形態における焼き付き補正部200の機能構成例を示すブロック図である。この焼き付き補正部200は、輝度劣化情報積算部220と、輝度劣化補正パターン生成部230と、輝度劣化補正演算部240と、輝度劣化特性供給部400とを備える。
図12は、本発明の第1の実施の形態における輝度劣化特性供給部400の機能構成例を示すブロック図である。この輝度劣化特性供給部400は、ダミー画素劣化情報生成部410と、ダミー画素劣化情報保持部420と、温度情報取得部430と、温度条件変換部440と、劣化特性生成部460と、劣化特性保持部470とを備える。
図13は、本発明の第1の実施の形態における3つの輝度センサによる輝度測定例と、ダミー画素劣化情報の一例と、温度情報の一例とを示す図である。
図14は、本発明の第1の実施の形態における温度条件変換部440による温度条件変換の一例および劣化特性生成部460による劣化特性生成の一例を示す図である。
図15は、本発明の第1の実施の形態において劣化特性生成部460により生成される温度ごとの劣化特性の一例を模式的に示す図である。この図15では、「20℃」、「30℃」および「40℃」の温度条件における劣化特性を劣化特性生成部460が生成し、その生成された劣化特性を劣化特性保持部470が保持することを想定して説明する。この図15では、縦軸をダミー画素回路の劣化量を示す軸とし、横軸を劣化に要する時間を示す軸とする3つのグラフ(「20℃」、「30℃」および「40℃」)が示されている。
次に、図15において示した劣化特性461乃至469を用いて輝度劣化情報を更新する例について、図16を参照して説明する。
図17は、本発明の第1の実施の形態における輝度劣化補正値算出部233による輝度劣化補正パターンの生成例を示す図である。この図17では、輝度劣化情報保持部222に保持されている輝度劣化情報に基づいて輝度劣化補正パターン保持部234の輝度劣化補正パターンが生成されるまでの流れを模式的に説明する。なお、ここでは、便宜上、表示装置100に備えられている画素回路を、1乃至tにより識別するものとする。また、この図17では、輝度劣化情報は、温度条件「30℃」における階調値「100」による発光時間に劣化量を換算した値とする。
図18は、温度ごとの劣化特性を生成しない場合における画素回路の輝度劣化の補正の一例と、本発明の第1の実施の形態における画素回路の輝度劣化の補正の一例とを示す図である。
L=A×S2 ・・・式3
Sout=(ΔA)−1/2×Sin ・・・式4
ΔA=Ad/A ・・・式5
図19は、本発明の第1の実施の形態における映像信号の補正の効果を示す概念図である。
次に、本発明の第1の実施の形態における焼き付き補正部200の動作について図面を参照して説明する。
本発明の第1の実施の形態では、温度ごとの劣化特性を算出するため、温度条件変換部440を用いて温度条件変換を行うことにより算出期間情報を生成する例について説明した。温度条件変換部440では、予め保持している温度による劣化特性の差(図8参照)を用いて、ダミー画素劣化情報および温度情報に基づいて算出期間情報を算出する。すなわち、本発明の第1の実施の形態では、温度ごとの劣化特性を生成するために、温度による劣化特性の差に関する情報を予め保持している必要がある。そのため、この劣化特性の差に関する情報が実際の値と誤差がある場合には、劣化特性が不正確になる恐れがある。そこで、温度条件変換部440を用いないで、温度ごとのダミー画素劣化情報を取得することにより温度ごとの劣化特性を算出する表示装置が考えられる。
図24は、本発明の第2の実施の形態における表示装置100の一構成例を示す概念図である。この図24では、図1において示した本発明の第1の実施の形態における表示装置100との違いについて説明する。
図25は、本発明の第2の実施の形態におけるダミー画素アレイ部500の一構成例を示す概念図である。なお、この本発明の第2の実施の形態では、3つの階調値の発光信号に基づく画素回路600の劣化について測定するものとする。
図26は、本発明の第2の実施の形態における輝度劣化特性供給部550の機能構成例を示すブロック図である。この輝度劣化特性供給部550は、ダミー画素劣化情報生成部410と、ダミー画素劣化情報保持部570と、劣化特性生成部590と、劣化特性保持部470とを備える。なお、ダミー画素劣化情報生成部410および劣化特性保持部470は、図12において示した劣化特性保持部470と同様のものであるため、ここでの説明を省略する。
図27は、本発明の第2の実施の形態における9つの輝度センサによる輝度測定例を示す図である。
図28は、本発明の第2の実施の形態におけるダミー画素劣化情報の一例を示す図である。
図29は、本発明の第2の実施の形態において劣化特性生成部590により生成される温度ごとの劣化特性の一例を模式的に示す図である。
次に、本発明の第2の実施の形態における輝度劣化特性供給部550の動作について図面を参照して説明する。
この図30では、1つの測定期間におけるダミー画素輝度情報の取得から、そのダミー画素輝度情報を用いた劣化特性の生成までの処理手順例を示す。
次に、本発明の第2の実施の形態におけるダミー画素発光信号生成部540の動作について図面を参照して説明する。
本発明の第2の実施の形態では、温度ごとの劣化特性を算出するため、特定の温度においてのみ発光するダミー画素回路を用いる例について説明した。この本発明の第2の実施の形態においては、ダミー画素回路の環境温度が特定の温度になった場合でのみ、その特定の温度における劣化を測定することができる。すなわち、本発明の第2の実施の形態では、表示装置100に関する周辺環境に応じて、頻繁に劣化が測定できる温度と、劣化がほとんど測定できない温度との差が発生してしまう。その結果、劣化がほとんど測定できない温度に関する劣化特性が不正確になる恐れがある。
図32は、本発明の第3の実施の形態におけるダミー画素アレイ部700の一構成例を示す概念図である。この図32では、図25において示した本発明の第2の実施の形態におけるダミー画素アレイ部500との違いについて説明する。なお、この図32では、輝度検出ユニット711乃至713、721乃至723および731乃至733におけるダミー画素回路を、ナンバー(#1乃至#9)を付して示すものとする。
図33は、本発明の第3の実施の形態における温度制御部714の一構成例を示す模式図と、フィルムヒータ717のダミー画素回路に対する位置関係を示す上面図および断面図とを模式的に示す図である。なお、図32において示した温度制御部724および734は、温度制御部714と同様のものであるため、ここでは温度制御部714について説明し、他の温度制御部に関する説明を省略する。
図34は、本発明の第3の実施の形態における9つの輝度センサによる輝度測定例を示す図である。
図35は、本発明の第3の実施の形態におけるダミー画素劣化情報の一例を示す図である。
図36は、本発明の第3の実施の形態において劣化特性生成部590により生成される温度ごとの劣化特性の一例を模式的に示す図である。
[電子機器への適用例]
図37は、本発明の実施の形態のテレビジョンセットへの適用例である。このテレビジョンセットは、例えば、本発明の第1乃至第3の実施の形態のうちのいずれかの実施の形態が適用されたテレビジョンセットである。このテレビジョンセットは、フロントパネル12、フィルターガラス13等から構成される映像表示画面11を含み、本発明の実施の形態における表示装置100をその映像表示画面11に用いることにより作製される。
110 ライトスキャナ(WSCN)
120 水平セレクタ(HSEL)
121 表示画素用セレクタ部
122 ダミー画素用セレクタ部
130 電源スキャナ(DSCN)
140 画素アレイ部
141 温度センサ
150 ダミー画素発光信号生成部
200 焼き付き補正部
220 輝度劣化情報積算部
221 輝度劣化情報更新部
222 輝度劣化情報保持部
230 輝度劣化補正パターン生成部
231 基準輝度特性情報供給部
232 対象輝度特性情報生成部
233 輝度劣化補正値算出部
234 輝度劣化補正パターン保持部
240 輝度劣化補正演算部
300 ダミー画素アレイ部
311 ダミー画素回路
312 輝度センサ
400 輝度劣化特性供給部
410 ダミー画素劣化情報生成部
420 ダミー画素劣化情報保持部
430 温度情報取得部
440 温度条件変換部
460 劣化特性生成部
470 劣化特性保持部
500 ダミー画素アレイ部
540 ダミー画素発光信号生成部
545 焼き付き補正部
550 輝度劣化特性供給部
570 ダミー画素劣化情報保持部
590 劣化特性生成部
600 画素回路
610 書込みトランジスタ
620 駆動トランジスタ
630 保持容量
640 発光素子
Claims (9)
- 互いに異なる特定温度において特定の階調値で発光する複数の特定発光素子の各々の輝度を時間の経過に伴って測定した測定結果を取得して当該測定結果から画素回路の輝度の劣化に関する輝度劣化特性を前記特定温度ごとに生成して供給する輝度劣化特性供給部と、
前記画素回路における発光素子の発光時における温度条件に応じた輝度の劣化に関する輝度劣化情報を、前記画素回路の環境温度と、当該環境温度に対応する前記輝度劣化特性とに基づいて生成して供給する輝度劣化情報供給部と、
所定状態における前記画素回路に供給される映像信号と当該映像信号に応じて発光される輝度との相関の特性を示す輝度特性と、前記供給された輝度劣化情報とに基づいて、前記画素回路ごとの輝度の劣化に関する輝度劣化値を算出する輝度劣化値算出部と、
前記輝度劣化値に基づいて、前記画素回路に入力される映像信号の階調値を補正する補正部と
を具備する信号処理装置。 - 前記輝度劣化情報供給部は、
前記輝度劣化情報を保持する輝度劣化情報保持部と、
前記輝度劣化特性の各々と前記補正前に前記画素回路について生成された輝度劣化情報と前記画素回路に入力される前記映像信号の階調値とに基づいて、前記画素回路の輝度の劣化に関する新たな劣化量を輝度劣化情報に順次加算した値により前記保持された輝度劣化情報を更新する輝度劣化情報更新部と
を備える請求項1記載の信号処理装置。 - 前記所定状態は、前記輝度の劣化が前記画素回路に生じていない状態である請求項1記載の信号処理装置。
- 映像信号の階調値を補正する信号処理回路と、
前記映像信号に応じた駆動電流が発光素子に供給されると前記駆動電流に応じた輝度で当該発光素子が発光する複数の画素回路と、
互いに異なる特定温度において特定の階調値で発光する複数の特定発光素子と
を具備し、
前記信号処理回路は、
前記複数の特定発光素子の各々の輝度を時間の経過に伴って測定した測定結果を取得して当該測定結果から画素回路の輝度の劣化に関する輝度劣化特性を前記特定温度ごとに生成して供給する輝度劣化特性供給部と、
前記画素回路における前記発光素子の発光時における温度条件に応じた輝度の劣化に関する輝度劣化情報を、前記画素回路の環境温度と、当該環境温度に対応する前記輝度劣化特性とに基づいて生成して供給する輝度劣化情報供給部と、
所定状態における前記画素回路に供給される映像信号と当該映像信号に応じて発光される輝度との相関の特性を示す輝度特性と、前記供給された輝度劣化情報とに基づいて、前記画素回路ごとの輝度の劣化に関する輝度劣化値を算出する輝度劣化値算出部と、
前記輝度劣化値に基づいて、前記画素回路に入力される映像信号の階調値を補正する補正部と
を備える表示装置。 - 前記環境温度を測定する温度センサと、
前記複数の特定発光素子のうち前記測定された環境温度に対応する発光素子に映像信号を供給する映像信号供給部と
をさらに具備する請求項4記載の表示装置。 - 前記複数の特定発光素子の各々の温度を当該特定発光素子に対応する前記特定温度に制御する温度制御部をさらに具備する請求項4記載の表示装置。
- 映像信号の階調値を補正する信号処理回路と、
前記映像信号に応じた駆動電流が発光素子に供給されると前記駆動電流に応じた輝度で発光素子が発光する複数の画素回路と、
互いに異なる特定温度において特定の階調値で発光する複数の特定発光素子と
を具備し、
前記信号処理回路は、
前記複数の特定発光素子の各々の輝度を時間の経過に伴って測定した測定結果を取得して当該測定結果から画素回路の輝度の劣化に関する輝度劣化特性を前記特定温度ごとに生成して供給する輝度劣化特性供給部と、
前記画素回路における前記発光素子の発光時における温度条件に応じた輝度の劣化に関する輝度劣化情報を、前記画素回路の環境温度と、当該環境温度に対応する前記輝度劣化特性とに基づいて生成して供給する輝度劣化情報供給部と、
所定状態における前記画素回路に供給される映像信号と当該映像信号に応じて発光される輝度との相関の特性を示す輝度特性と、前記供給された輝度劣化情報とに基づいて、前記画素回路ごとの輝度の劣化に関する輝度劣化値を算出する輝度劣化値算出部と、
前記輝度劣化値に基づいて、前記画素回路に入力される映像信号の階調値を補正する補正部と
を備える電子機器。 - 互いに異なる特定温度において特定の階調値で発光する複数の特定発光素子の各々の輝度を時間の経過に伴って測定した測定結果を取得して当該測定結果から画素回路の輝度の劣化に関する輝度劣化特性を前記特定温度ごとに生成して供給する輝度劣化特性供給手順と、
前記画素回路における発光素子の発光時における温度条件に応じた輝度の劣化に関する輝度劣化情報を、前記画素回路の環境温度と、当該環境温度に対応する前記輝度劣化特性とに基づいて生成して供給する輝度劣化情報供給手順と、
所定状態における前記画素回路に供給される映像信号と当該映像信号に応じて発光される輝度との相関の特性を示す輝度特性と、前記供給された輝度劣化情報とに基づいて、前記画素回路ごとの輝度の劣化に関する輝度劣化値を算出する輝度劣化値算出手順と、
前記輝度劣化値に基づいて、前記画素回路に入力される映像信号の階調値を補正する補正手順と
を具備する信号処理方法。 - 互いに異なる特定温度において特定の階調値で発光する複数の特定発光素子の各々の輝度を時間の経過に伴って測定した測定結果を取得して当該測定結果から画素回路の輝度の劣化に関する輝度劣化特性を前記特定温度ごとに生成して供給する輝度劣化特性供給手順と、
前記画素回路における発光素子の発光時における温度条件に応じた輝度の劣化に関する輝度劣化情報を、前記画素回路の環境温度と、当該環境温度に対応する前記輝度劣化特性とに基づいて生成して供給する輝度劣化情報供給手順と、
所定状態における前記画素回路に供給される映像信号と当該映像信号に応じて発光される輝度との相関の特性を示す輝度特性と、前記供給された輝度劣化情報とに基づいて、前記画素回路ごとの輝度の劣化に関する輝度劣化値を算出する輝度劣化値算出手順と、
前記輝度劣化値に基づいて、前記画素回路に入力される映像信号の階調値を補正する補正手順と
をコンピュータに実行させるプログラム。
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