JP2008076741A - 劣化指数算出装置、焼き付き抑制装置、自発光表示装置、画像処理装置、電子機器、劣化指数算出方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数算出装置を提案する。また、この劣化指数算出装置で算出される劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示デバイスの駆動条件を制御して表示輝度のコントラスト比を縮小制御する、又は表示輝度のコントラスト比が縮小されるように表示デバイスに供給される映像信号を階調変換する焼き付き抑制装置を提案する。
【選択図】図1
Description
しかし、発光素子材料の発光寿命が長くても、焼き付き現象の発生を原理的に無くすことはできないし、焼き付きが生じ易い映像信号のみが継続的に入力される場合もある。
しかも、発明者の提案する焼き付き抑制技術は、1つ又は複数のフレーム画像に1つの値を監視すれば良く、画素単位での劣化情報の監視や画素単位での発光量の制御が不要である。このため、処理負荷やシステム規模が小さく済む。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
(A−1)焼き付き抑制装置の機能構成
図1に、焼き付き抑制装置1の機能構成例を示す。
劣化指数算出部2は、フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数の累積値を計算する処理機能を実現する。
劣化指数演算部21は、出現度数が最も多い階調区分の平均階調値と出現度数が最も少ない階調区分の平均階調値との差分値を劣化指数として算出する処理デバイスである。
勿論、劣化指数が大きいほど輝度差が大きくなるので、該当フレームの表示によって生じる劣化差は大きくなる。
コントラスト制御部7は、この累積値と判定閾値との比較処理をフレーム毎に実行し、判定閾値を越えるタイミングを検出と共にコントラスト比の縮小制御を開始する。
は変更しないものとする。
この形態例の場合、表示デバイスは自発光表示デバイスの一つである有機ELディスプレイを想定する。
図8に、表示デバイス9の機能構成例を示す。表示デバイス9は、タイミングジェネレータ31、データ線ドライバ33、スキャンドライバ35、スキャンドライバ37、電源電圧源39及び有機ELディスプレイパネル41で構成される。
画素回路43は、スイッチ素子T1、キャパシタC1、電流供給素子T2、点灯期間制御素子T3で構成される。
点灯期間制御素子T3は、有機EL素子D1の点灯時間長を1フレーム内で制御するトランジスタである。
以下、階調分布に基づいて算出される劣化指数の累積値に基づいて焼き付き状態を判定し、その判定結果に基づいて焼き付き現象の進行の抑制を図る方法について説明する。
焼き付き抑制装置1は、表示デバイス9に供給される映像信号をリアルタイムで入力し、各画素に対応する映像信号(階調値)がいずれの階調区分に属するか判定する(S1)。
2つの平均階調値が得られると、焼き付き抑制装置1は、これら2つの平均階調値の差分を算出する(S6)。すなわち、劣化指数を算出する。ここでの劣化指数は、(T1+T2)÷2−B1で計算される。
この後、焼き付き抑制装置1は、劣化指数の累積値と判定閾値を比較する(S8)。否定結果が得られている間、焼き付き抑制装置1は、この判定処理を毎フレーム繰り返し実行する。
図13に、入力信号と表示輝度との対応関係を示す。図13に示すように、黒レベルが持ち上がることで白レベルと黒レベルの輝度比(コントラスト比)は縮小されている。
以上説明したように、階調値の度数分布に着目し、出現度数の多い階調区分の平均階調値と出現度数の少ない階調区分の平均階調値の差分を各フレームで発生する劣化差の代表値として継続的に監視することにより、焼き付き現象の抑制制御を実現することができる。
また今後は、表示画像のリアリティを高めるため、現在以上に画素データのデータ長が長くなる。従って、将来的な拡張性を考慮する場合にも、形態例で説明した手法の方がメモリサイズの増加がわずかに済む点ではるかに有利である。
また、コントラスト比の縮小により、消費電力を下げることができる。このことは、表示デバイスがバッテリー機器に搭載される場合に特に効果的であり、駆動時間の延長を実現できる。
ここでは、コントラスト差の縮小処理を映像信号の階調変換を通じて実行する焼き付き抑制装置について説明する。
図14に、この種の焼き付き抑制装置51の機能構成例を示す。なお、図14には、図1との対応部分に同一符号を付して示す。
焼き付き抑制装置51は、劣化指数算出部2(階調区分別平均値算出部3、劣化状態推定部5)とコントラスト制御部53で構成される。
図15に、コントラスト制御部53が使用する変換テーブル例を示す。図15(A)は、劣化指数の累積値が判定閾値を超えない場合に使用する変換テーブルである。この変換テーブルの入出力関係は、図16(A)の入出力関係に対応する。
以上説明したように、映像信号の階調変換によりコントラスト比の縮小制御を実行する場合にも、形態例1と同様の効果を実現できる。すなわち、画素単位での劣化状態の監視や画素単位での発光量の制御を行うことなく、焼き付き現象の進行速度を抑制することができる。
ここでは、前述した焼き付き抑制装置の電子機器への実装例を説明する。
前述した焼き付き抑制装置は、図17に示すように、自発光表示装置61内に実装することができる。図17に示す自発光表示装置61は、表示デバイス63と焼き付き抑制装置65を搭載する。
前述した焼き付き抑制装置は、図18に示すように、自発光表示装置71に映像信号を供給する外部装置としての画像処理装置81に実装することもできる。
図18に示す画像処理装置81は、画像処理部83と焼き付き抑制装置85で構成される。なお、画像処理部83の処理内容は、搭載されるアプリケーションに依存する。
焼き付き抑制装置は、前述した装置以外にも各種の電子機器に搭載することができる。なお、ここでの電子機器は、可搬型であるか据え置き型かを問わない。また、表示デバイスは必ずしも電子機器に搭載しなくても良い。
焼き付き抑制装置は、放送波受信装置に搭載することができる。
図19に、放送波受信装置の機能構成例を示す。放送波受信装置91は、表示デバイス93、システム制御部95、操作部97、記憶媒体99、電源101及びチューナー103を主要な構成デバイスとする。
この放送波受信装置の構成は、例えばテレビジョン番組受信機、ラジオ番組受信機、放送波受信機能を搭載する携帯型の電子機器に適用する場合に用いることができる。
図20は、再生機としてのオーディオ装置に適用する場合の機能構成例である。
再生機としてのオーディオ装置111は、表示デバイス113、システム制御部115、操作部117、記憶媒体119、電源121、オーディオ処理部123及びスピーカー125を主要な構成デバイスとする。
オーディオ処理部123は、オーディオデータを信号処理する処理デバイスである。圧縮符号化されたオーディオデータの解凍処理も実行される。スピーカー125は、再生された音を出力するデバイスである。
このオーディオ装置の構成は、例えば携帯型の音楽機器、携帯電話機等に適用する場合に用いることができる。
図21は、通信装置に適用する場合の機能構成例である。通信装置131は、表示デバイス133、システム制御部135、操作部137、記憶媒体139、電源141及び通信部143を主要な構成デバイスとする。
図22は、撮像装置に適用する場合の機能構成例である。撮像装置151は、表示デバイス153、システム制御部155、操作部157、記憶媒体159、電源161及び撮像部163を主要な構成デバイスとする。
図23は、携帯型の情報処理装置に適用する場合の機能構成例である。情報処理装置171は、表示デバイス173、システム制御部175、操作部177、記憶媒体179及び電源181を主要な構成デバイスとする。
(a)前述した形態例1の場合、データ線ドライバ33の黒レベルを規定する基準電圧値Db と白レベルを規定する基準電圧値Dw がコントラスト制御部7から表示デバイス9に供給される場合について説明した。
しかし、コントラスト制御部7は黒レベル及び白レベルの一方又は両方の変化量だけを表示デバイス9に供給し、表示デバイス9側で変化量に対応する基準電圧Vb ,Vw を発生させても良い。
しかし、表示輝度のコントラスト比の縮小は、白レベルを下げることによっても、黒レベルを持ち上げると共に白レベルを下げることによっても実現できる。
また、出現度数が最も多い階調区分の平均階調値T1と出現度数が最も少ない階調区分の平均階調値B1との差分値(=T1−B1)から、出現度数が1番目と2番目に多い階調区分の平均階調値T1、T2の差分値(=T1−T2)を減算した値として劣化指数を定義しても良い。
しかし、複数フレームに1つの割合で劣化指数を算出しても良い。この場合、劣化指数は、複数フレーム期間内の階調値の度数分布について算出する。
しかし、図28に示すように、入力信号に出力信号が非線形に対応付けられる場合にも適用できる。
しかし、白レベルの表示輝度を下げる場合、表示デバイス9のフレーム内発光期間を規定するデューティパルス信号のLレベル長を制御することによっても実現できる。
しかし、図30に示すように、デューティパルス信号が1水平期間に1回出力される場合にも適用できる。
しかし、表示デバイスは、その他のELディスプレイにも適用できる。例えば無機ELディスプレイ装置、LEDを配列する表示装置にも適用できる。また、FEDディスプレイ装置やPDPディスプレイ装置にも応用できる。
2 劣化指数算出部
3 階調区分別平均値算出部
5 劣化状態推定部
7 コントラスト制御部
9 表示デバイス
11 階調区分判定部
13 出現度数計測部
15 平均階調値算出部
21 劣化指数演算部
23 累積値保持部
51 焼き付き抑制装置
53 コントラスト制御部
Claims (19)
- フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する
ことを特徴とする劣化指数算出装置。 - 請求項1に記載の劣化指数算出装置は、
各階調区分に属する階調値の出現度数を1つ又は複数のフレーム画像別に計測する出現度数計測部と、
各階調区分に属する階調値の総和を1つ又は複数のフレーム画像別に求めて前記出現度数で割り、階調区分別の平均階調値を算出する平均階調値算出部と、
出現度数が最も多い階調区分の平均階調値と出現度数が最も少ない階調区分の平均階調値との差分値を劣化指数として求める劣化指数演算部と、
1つ又は複数フレーム毎に算出される劣化指数の累積値を算出する累積値算出部と
を有することを特徴とする劣化指数算出装置。 - 請求項2に記載の劣化指数算出装置において、
前記劣化指数演算部は、
前記出現度数が最も多い階調区分の平均階調値を、出現度数が最も多い階調区分の平均階調値と出現度数が2番目に多い階調区分の平均階調値の平均値として算出する
ことを特徴とする劣化指数算出装置。 - 請求項2に記載の劣化指数算出装置において、
前記劣化指数演算部は、
出現度数が最も多い階調区分の平均階調値と出現度数が2番目に多い階調区分の平均階調値の差分値を、出現度数が最も多い階調区分の平均階調値と出現度数が最も少ない階調区分の平均階調値との差分値から減算した値を前記劣化指数とする
ことを特徴とする劣化指数算出装置。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示デバイスの駆動条件を制御して表示輝度のコントラスト比を縮小制御するコントラスト制御部と
を有することを特徴とする焼き付き抑制装置。 - 請求項5に記載の焼き付き抑制装置において、
前記コントラスト制御部は、
表示画像の黒レベルを上げることにより表示輝度のコントラスト比を縮小する
ことを特徴とする焼き付き抑制装置。 - 請求項5に記載の焼き付き抑制装置において、
前記コントラスト制御部は、
表示画像の白レベルを下げることにより表示輝度のコントラスト比を縮小する
ことを特徴とする焼き付き抑制装置。 - 請求項5に記載の焼き付き抑制装置において、
前記コントラスト制御部は、
表示画像の黒レベルを上げると共に白レベルを下げることにより表示輝度のコントラスト比を縮小する
ことを特徴とする焼き付き抑制装置。 - 請求項5に記載の焼き付き抑制装置において、
前記コントラスト制御部は、
表示画像の白レベルを規定する基準電圧値と黒レベルを規定する基準電圧値の両方又は一方を制御して表示輝度のコントラスト比を縮小する
ことを特徴とする焼き付き抑制装置。 - 請求項5に記載の焼き付き抑制装置において、
前記コントラスト制御部は、
1フレーム期間内における発光時間割合を規定するデューティパルス信号長を制御して表示輝度のコントラスト比を縮小制御する
ことを特徴とする焼き付き抑制装置。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示輝度のコントラスト比が縮小されるように表示デバイスに供給される映像信号を階調変換するコントラスト制御部と
を有することを特徴とする焼き付き抑制装置。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示デバイスの駆動条件を制御して表示輝度のコントラスト比を縮小制御するコントラスト制御部と、
マトリクス駆動型の自発光表示デバイスと
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示輝度のコントラスト比が縮小されるように表示デバイスに供給される映像信号を階調変換するコントラスト制御部と、
マトリクス駆動型の自発光表示デバイスと
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示デバイスの駆動条件を制御して表示輝度のコントラスト比を縮小制御するコントラスト制御部と、
映像信号を処理する信号処理部と
を有することを特徴とする画像処理装置。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えるか否か判定し、前記劣化指数の累積値が判定閾値を越えたとき、表示輝度のコントラスト比が縮小されるように表示デバイスに供給される映像信号を階調変換するコントラスト制御部と、
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マトリクス駆動型の自発光表示デバイスと
を有することを特徴とする電子機器。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する劣化指数演算部と、
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マトリクス駆動型の自発光表示デバイスと
を有することを特徴とする電子機器。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報を1つ又は複数のフレーム毎に検出する処理と、
検出された度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する処理と
を有することを特徴とする劣化指数算出方法。 - フレーム画像を構成する階調値の度数分布情報を1つ又は複数のフレーム毎に検出する処理と、
検出された度数分布情報に基づいて、劣化差の進行度合いを表す劣化指数を1つ又は複数のフレーム毎に算出する処理と
をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
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