TW201821790A - 檢查裝置及ptp包裝機 - Google Patents

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Abstract

提供一種檢查裝置,可防止影響會及於檢查且可使用一般的圖像處理軟體作處理,並且能使檢查用圖像資料含有屬性資訊,可達成簡化資料管理、減輕處理負擔等。
檢查裝置係具備依據有關待檢查部的檢查用圖像的資料圖像以判定待檢查部之良否的良否判定手段,該待檢查部的檢查用圖像的資料為檢查用圖像資料。檢查用圖像資料包含:與成為利用前述良否判定手段進行判定的對象之檢查對象區域TA2對應的各畫素的資料、及與屬檢查對象區域TA2以外的區域之非檢查對象區域TB2對應的各畫素的資料。檢查裝置係將與非檢查對象區域TB2對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成與檢查有關的屬性資訊。

Description

檢查裝置及PTP包裝機
本發明係有關一種用於檢查PTP(Press Through Package)薄片或最終會成為PTP薄片的部位之檢查裝置,及具有該檢查裝置之PTP包裝機。
PTP薄片係具備:容器膜,形成有供收容錠劑或膠囊等的內容物之凹處(pocket)部;及覆膜,以對其容器膜密封凹處部的開口側之方式安裝。
PTP薄片係利用PTP包裝機所製造。PTP包裝機係具有:對帶狀容器膜形成凹處部的凹處部形成手段;將內容物填充於凹處部的填充手段;對容器膜安裝覆膜而獲得帶狀PTP膜之密封手段;及將PTP膜以薄片單位作衝壓,獲得PTP薄片之薄片衝壓手段等。
又,在PTP薄片的製造過程中,沿著容器膜的搬送路徑設有檢查裝置。藉由檢查裝置檢查屬PTP薄片或最終會成為PTP薄片的部位之待檢查部(例如,內容物或容器膜等)。檢查裝置係具備將光照射於待檢查部的照射手段、拍攝被光照射的待檢查部之拍攝手段、及良否判定手段。良否判定手段係基於使用拍攝手段所獲得之檢查用圖像資料,判定待檢查部之良否。檢查用圖像資料係待檢查部等之拍攝圖像(檢查用圖像)的資料, 檢查用圖像資料含有檢查用圖像的每個畫素的資料(例如,輝度資料)。良否判定手段係依據此每個畫素的資料,檢測有無缺陷,藉以判定待檢查部之良否。
且近年提案了一種手法,係在檢查中作了判定不良的情況,將有關被判定不良的待檢查部的檢查用圖像資料與有關被判定不良的檢查項目或檢查條件、檢查日期時間等之檢查的資訊(屬性資訊)建立關聯後記憶(例如,參照專利文獻1等)。
在將檢查用圖像資料及屬性資訊賦予關連後要進行記憶時,通常將檢查用圖像資料及屬性資訊以各別的檔案事先記憶,有必要另外準備將此等賦予關連用的資料或處理。然而,在此情況,有關檢查用圖像資料及屬性資訊的檔案之數量變得非常多,有招致資料管理繁雜化或處理負擔增大之虞。
於是,為了謀求簡化資料管理、減輕處理的負擔,可考慮對圖像資料之對應像素(pixel)(有關畫素的資料)利用埋入二維碼資訊的技術(例如,參照專利文獻2等),對檢查用圖像資料中之畫素的資料埋入屬性資訊,藉以將檢查用圖像資料及屬性資訊彙總成一個檔案。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1 日本國特開2015-200595號公報
專利文獻2 日本國特開2011-101138號公報
然而,當對檢查用圖像資料中之畫素的資料僅埋入屬性資訊時,會導致在檢查用圖像資料中之各畫素的資料產生變化。當在各畫素的資料產生變化時,有導致其影響會及於檢查或檢查結果與檢查用圖像資料變得無法匹配之虞。
對此,可考慮藉由對檢查用圖像資料的標頭資訊寫入屬性資訊使檢查用圖像資料含有屬性資訊。然而,為了使用一般的圖像處理軟體進行檢查用圖像資料的處理(圖像的顯示或編輯等),檢查用圖像資料有必要依照固定的格式作成。因此,會有當對標頭資訊寫了屬性資訊時,導致使用一般的圖像處理軟體之檢查用圖像資料的處理產生障礙之虞。
本發明係有鑒於上述情事而完成者,其目的在於提供一種可防止影響及於檢查等、且可進行使用一般的圖像處理軟體之處理、且可使檢查用圖像資料含有屬性資訊並可謀求減輕資料管理的簡化或處理負擔之檢查裝置及PTP包裝機。
以下,就適合於解決上述目的之各手段,分項作說明。此外,視需要在對應的手段附記特殊的作用效果。
手段1.一種檢查裝置,係在PTP薄片的製造過程中用以進行PTP薄片或最終會成為PTP薄片的部 位之檢查的檢查裝置,該PTP薄片或最終會成為PTP薄片的部位係待檢查部,該PTP薄片係在形成於容器膜的凹處部收容內容物,並以堵住前述凹處部的方式對前述容器膜安裝覆膜而成,該檢查裝置之特徵為具備:照射手段,至少對前述待檢查部照射既定的光;拍攝手段,可拍攝被照射來自於前述照射手段的光之前述待檢查部及其周邊部分;良否判定手段,依據使用前述拍攝手段所獲得之屬有關前述待檢查部的檢查用圖像的資料之檢查用圖像資料,以判定前述待檢查部之良否,前述檢查用圖像資料包含與成為利用前述良否判定手段進行判定的對象之檢查對象區域對應的各畫素的資料、及與屬該檢查對象區域以外的區域之非檢查對象區域對應的各畫素的資料;及屬性資訊追加手段,將與前述非檢查對象區域對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成與檢查有關的屬性資訊。
此外,作為「屬性資訊」,例如可列舉表示在檢查裝置中進行之檢查的種類、檢查的日期時間、PTP薄片或內容物的序號(表示拍攝順序的編號)及檢查用圖像資料是彩色或黑白的資訊、與檢查結果相關之資訊、有關薄片部分(容器膜等中最終會成為PTP薄片的部分)的位置追隨資訊(薄片部分的偏位校正量)或亮度的校正量等之各種校正的資訊、薄片部分中之內容物的位置資訊、有關拍攝手段之控制的資訊(例如,增益等)、再檢 查所需的資訊(例如,用在二值化處理的閾值等)、及與內容物或容器膜等之品種有關的資訊等。
依據上述手段1,可使檢查用圖像資料含有屬性資訊,可將檢查用圖像資料及屬性資訊彙總成一個檔案。因此,可謀求簡化資料管理、減輕處理的負擔。
又,依據上述手段1,檢查用圖像資料中與非檢查對象區域對應的各畫素的資料(例如,輝度資料)被改寫成屬性資訊。此處,非檢查對象區域因為不是要利用良否判定手段進行判定的對象,所以即便將與此非檢查對象區域對應的畫素的資料改寫,亦不會有其影響及於檢查或招致檢查結果與檢查用圖像資料無法取得匹配那樣的情況。又,因為不是將標頭資訊而是將各畫素的資料、即相當於檢查用圖像資料的本體之資料改寫,所以可使用一般的圖像處理軟體來處理檢查用圖像資料。
手段2.如手段1記載的檢查裝置,其特徵為:前述檢查用圖像係作成矩形狀,該檢查用圖像中,前述檢查對象區域係作成角部帶有圓形的矩形狀,且前述非檢查對象區域係在該檢查用圖像的四個角落且位在比該檢查對象區域中之前述角部還靠近外側,前述屬性資訊追加手段,係將與位在前述檢查用圖像的四個角落的前述非檢查對象區域相對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成前述屬性資訊。
PTP薄片在俯視時,以角部帶有圓形的矩形狀居多。因此,以將檢查對象區域設為角部帶有圓形的矩形狀者居多。
一方面,檢查用圖像通常被作成矩形狀者。因此,以在檢查用圖像的四個角落且比檢查對象區域中的角部還靠近外側的位置上形成有較寬的非檢查對象區域者居多。
利用這點,依據上述手段2,位在檢查用圖像的四個角落之有關非檢查對象區域的畫素的資料被改寫成屬性資訊。因此,檢查用圖像資料中,可更確實地將屬性資訊寫入用的記憶區域確保在固定位置。藉此,可進行例如將與檢查用圖像的四個角落對應之被預先設定之固定的畫素資料設為屬性資訊的寫入對象那樣的處理。亦即,可成為將屬性資訊的寫入對象在無特別考慮檢查對象區域所佔的範圍下作設定那樣的情況。又,在屬性資訊的讀取處理上,可採用從被預先設定之固定的寫入對象讀取資訊這樣的處理。因此,能謀求簡化有關屬性資訊的寫入或讀取之處理等,能有效果地謀求減輕處理負擔。
手段3.如手段1或2記載的檢查裝置,其特徵為:具備核對用資訊追加手段,將與前述非檢查對象區域對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成用以核對前述檢查用圖像資料中各畫素的資料的錯誤之核對用資訊。
依據上述手段3,藉由利用核對用資訊,可更確實地擔保在檢查用圖像資料中之資訊的可靠性。結果,可謀求提升有關檢查之可靠性。
又,因為有關非檢查對象區域的畫素的資料被改寫成核對用資訊,所以不會發生伴隨著改寫成核對用資訊而使其影響及於檢查或是檢查結果與檢查用圖像資料無法取得匹配那樣的不理想情況。
手段4.如手段3記載的檢查裝置,其特徵為:前述檢查用圖像係作成矩形狀,該檢查用圖像中,前述非檢查對象區域係位在該檢查用圖像的端部,且設為在該檢查用圖像的高度方向整個範圍及寬度方向整個範圍至少一方延伸的區域,前述核對用資訊追加手段係構成為進行以下至少一方:前述非檢查對象區域在前述高度方向整個範圍延伸的情況,將與該非檢查對象區域對應的一列分之畫素的資料分別改寫成用以核對位在相同行之其他的各畫素中之資料的錯誤的前述核對用資訊;及前述非檢查對象區域在前述寬度方向整個範圍延伸的情況,將與該非檢查對象區域對應的一行分之畫素的資料分別,改寫成用以核對位在相同列之其他的各畫素中之資料的錯誤的前述核對用資訊。
依據上述手段4,與非檢查對象區域對應的一行分或一列分的各畫素的資料被改寫成用以核對在與該畫素相同列或相同行中之資料的錯誤的核對用資訊。因此,可按每行或每列核對各畫素的資料。藉此,可更加確實地擔保在檢查用圖像資料中之資訊的可靠性,結果,可更加提升有關檢查之可靠性。
手段5.一種PTP包裝機,其特徵為具備如手段1至4中任一者記載的檢查裝置。
依據上述手段5,基本上可獲得與上述手段1等同樣的作用效果。
1‧‧‧PTP薄片
2‧‧‧凹處部
3‧‧‧容器膜
4‧‧‧覆膜
5‧‧‧錠劑(內容物)
11‧‧‧PTP包裝機
60‧‧‧照明裝置(照射手段)
61‧‧‧相機(拍攝手段)
62‧‧‧處理執行裝置(良否判定手段、屬性資訊追加手段、核對用資訊追加手段)
T1‧‧‧第一檢查裝置(檢查裝置)
A‧‧‧第二檢查裝置(檢查裝置)
D1、D2‧‧‧檢查用圖像資料
G1、G2‧‧‧檢查用圖像
TA1、TA2‧‧‧檢查對象區域
TB1、TB2‧‧‧非檢查對象區域
圖1係PTP薄片的立體圖。
圖2係PTP薄片的一部分斷裂放大前視圖。
圖3係PTP膜的立體圖。
圖4係顯示PTP包裝機的概略構成之示意圖。
圖5係顯示第一檢查裝置及第二檢查裝置的電氣構成之方塊圖。
圖6係用以說明薄片部分的序號之示意圖。
圖7係顯示記憶於第一檢查裝置的檢查用圖像資料之圖。
圖8係顯示第一檢查裝置中之檢查用圖像的示意圖。
圖9係用以說明第二檢查裝置中之檢查用圖像資料的取得手法之示意圖。
圖10係顯示記憶於第二檢查裝置的檢查用圖像資料之圖。
圖11係顯示第二檢查裝置中檢查用圖像之示意圖。
以下,針對一實施形態邊參照圖面邊作說明。
首先,針對PTP薄片1作說明。如圖1及圖2所示,PTP薄片1具有:具備複數個凹處部2的容器膜3;及以堵住凹處部2的方式安裝於容器膜3的覆膜4。
容器膜3係例如藉由PP(聚丙烯)或PVC(聚氯乙烯)等之較硬質且具有既定的剛性之透明或半透明的熱塑性樹脂材料所構成。覆膜4係利用例如在表面塗布由聚酯樹脂等構成的密封劑而成的不透明材料(例如,鋁箔等)所構成。
PTP薄片1係作成角部帶有圓形的矩形狀,且沿著薄片長邊方向配列的由5個凹處部2構成之凹處列是在薄片短邊方向形成2列。亦即,合計形成10個凹處部2。在各凹處部2收容有一個一個作為內容物的錠劑5。
PTP薄片1係透過將由帶狀容器膜3及覆膜4所形成之帶狀PTP膜6(參照圖3)衝壓而製成薄片狀。
其次,針對用以製造上述PTP薄片1的PTP包裝機11之概略,邊參照圖4邊作說明。
在PTP包裝機11的最上游側,帶狀容器膜3的原材被捲繞成輥狀。被捲繞成輥狀的容器膜3的抽出端側係被導輥13所導引。容器膜3係在導輥13的下游側被掛裝於間歇進給輥14。間歇進給輥14係連結於間歇地旋轉的馬達,將容器膜3間歇地搬送。
在導輥13與間歇進給輥14之間,按照加熱裝置15及凹處部形成裝置16之順序沿著容器膜3的 搬送路徑作配設。然後,在藉由加熱裝置15加熱容器膜3使該容器膜3成為較柔軟的狀態中,藉由凹處部形成裝置16在容器膜3的既定位置形成有複數個凹處部2。凹處部2的成形係在利用間歇進給輥14進行容器膜3的搬送動作間的間隔(interval)之際被進行。
從間歇進給輥14送出的容器膜3,係依照張力輥18、導輥19及膜承接輥20的順序掛裝。膜承接輥20係因為連結於固定旋轉的馬達,所以將容器膜3以連續且固定速度進行搬送。張力輥18係設為藉由彈力將容器膜3朝張緊之側拉扯的狀態,防止因前述間歇進給輥14與膜承接輥20之搬送動作的差異所導致容器膜3之鬆弛,使容器膜3始終保持在張緊狀態。
在導輥19與膜承接輥20之間,沿著容器膜3的搬送路徑配設有錠劑填充裝置21。錠劑填充裝置21具有作為將錠劑5自動地填充於凹處部2的填充手段之功能。錠劑填充裝置21係藉由與利用膜承接輥20進行容器膜3的搬送動作同步地按每一既定間隔開啟閘門而使錠劑5落下者,伴隨著此閘門開放動作而對各凹處部2填充錠劑5。
再者,在錠劑填充裝置21與膜承接輥20之間,設有密封前檢查部22。在密封前檢查部22,從上游側依序設有分別作為檢查裝置的第一檢查裝置T1及第二檢查裝置A。藉由此等各檢查裝置T1、A檢查有無與錠劑5或容器膜3(薄片部分)相關之缺陷。關於各檢查裝置T1、A的更詳細構成將於後面述及。
一方面,被形成帶狀的覆膜4的原材係於最上游側被捲繞成輥狀。
被捲繞成輥狀的覆膜4之抽出端,係藉由導輥24而被導向加熱輥25。加熱輥25係可壓接前述膜承接輥20,成為容器膜3及覆膜4被送入兩輥20、25間。然後,藉由容器膜3及覆膜4以加熱壓接狀態通過兩輥20、25間,使得覆膜4被貼附於容器膜3,凹處部2被覆膜4堵住。藉此,製造出錠劑5被填充於各凹處部2而成的PTP膜6。
從膜承接輥20送出的PTP膜6,係依照張力輥27及間歇進給輥28的順序掛裝。間歇進給輥28係連結於間歇地旋轉的馬達,從而將PTP膜6間歇地搬送。張力輥27係設為將PTP膜6藉由彈力朝張緊之側拉扯的狀態,防止因前述膜承接輥20與間歇進給輥28之搬送動作的差異所致PTP膜6之鬆弛,將PTP膜6始終保持在張緊狀態。
從間歇進給輥28送出的PTP膜6,係依照張力輥31及間歇進給輥32的順序掛裝。間歇進給輥32係連結於間歇地旋轉的馬達,從而將PTP膜6間歇地搬送。張力輥31係設為將PTP膜6藉由彈力朝張緊之側拉扯的狀態,防止PTP膜6在前述間歇進給輥28、32間鬆弛。
在間歇進給輥28與張力輥31之間,依照狹縫形成裝置33及刻印裝置34之順序沿著PTP膜6的搬送路徑作配設。狹縫形成裝置33具有在PTP膜6的既 定位置形成切離用狹縫之功能。刻印裝置34具有對PTP膜6的既定位置(例如標籤部)附上刻印之功能。
從間歇進給輥32送出的PTP膜6,係在其下游側依照張力輥35及連續進給輥36的順序掛裝。在間歇進給輥32與張力輥35之間,沿著PTP膜6的搬送路徑配設有薄片衝壓裝置37。薄片衝壓裝置37具有將PTP膜6以PTP薄片1單位衝壓其外緣的功能。
被薄片衝壓裝置37衝壓的PTP薄片1,係藉由取出用輸送帶38而被搬送,暫時被儲存在完成品用漏斗39。此外,被各檢查裝置T1、A任一者判定不良的情況,不良品信號會被送往沿著取出用輸送帶38的搬送路徑設置的不良薄片排出機構40。藉此,被判定不良的PTP薄片1係藉由不良薄片排出機構40被另外排出,移送至未圖示的不良品漏斗。
於前述連續進給輥36的下游側配設有裁斷裝置41。而且,構成於藉薄片衝壓裝置37衝壓後呈帶狀殘留的殘餘材部(碎屑部)之不要的膜部42,係在被導引到前述張力輥35及連續進給輥36後,引到裁斷裝置41。此外,前述連續進給輥36係被從動輥壓接,一邊挾持前述不要的膜部42一邊進行搬送動作。裁斷裝置41具有將不要的膜部42裁成既定尺寸且作碎屑處理的功能。此碎屑係在被儲存於碎屑用漏斗43後,另外進行廢棄處理。
此外,上述各輥14、19、20、28、31、32等雖成為其輥表面與凹處部2對向之位置關係,但因為 在各輥14等之表面形成有收容凹處部2之凹部,所以基本上不會有凹處部2壓壞的情形。又,藉由凹處部2一邊被收容於各輥14等的凹部一邊被進行進給動作而確實地進行間歇進給動作或連續進給動作。
其次,針對第一檢查裝置T1及第二檢查裝置A之具體的構成,一邊參照圖5一邊作說明。
第一檢查裝置T1係在密封前從容器膜3的凹處部2突出部側(錠劑5的表面側)進行檢查之透射光式的檢查裝置。第一檢查裝置T1係檢查在錠劑5中有無缺陷。
第二檢查裝置A係具備在密封前從容器膜3的凹處部2突出部側及開口部側(錠劑5的表背面側)進行檢查之透射光式及反射光式兩個功能之檢查裝置。第二檢查裝置A係檢查在錠劑5或容器膜3(薄片部分)中有無缺陷。
又,各檢查裝置T1、A係分別具備作為照射手段的照明裝置60、作為拍攝手段的相機61、及作為良否判定手段的處理執行裝置62。
照明裝置60係從凹處部2的開口部側或突出部側,對錠劑5及容器膜3當中之最終會成為PTP薄片1的部位照射既定的光。本實施形態中,錠劑5及容器膜3中最終成為PTP薄片1的部位係相當於待檢查部。
第一檢查裝置T1的照明裝置60係配置於容器膜3的凹處部2開口部側,照射近紅外光。第二檢查裝置A的照明裝置60係在容器膜3的凹處部2突出部側及開口部側各配置1個,照射可見光。
相機61係對從照明裝置60所照射之光的波段具有感度者。
作為第一檢查裝置T1的相機61,採用對近紅外光具有感度之CCD相機。第一檢查裝置T1的相機61係設於容器膜3的凹處部2突出部側,拍攝從照明裝置60所照射的光(近紅外光)中之透射容器膜3的光。
一方面,作為第二檢查裝置A的相機61,採用可識別顏色之彩色CCD相機。第二檢查裝置A的相機61係於容器膜3的凹處部2開口部側設置2個。而且構成為:從凹處部2突出部側的照明裝置60所照射的光中之透射容器膜3的光是被一相機61進行二維拍攝,而從凹處部2開口部側的照明裝置60所照射的光中之在錠劑5反射的光是被另一相機61(彩色CCD相機)進行二維拍攝。
然後,藉由相機61所獲得之一次圖像資料(輝度圖像資料或彩色圖像資料)被輸入於處理執行裝置62。處理執行裝置62係構成為具備有作為演算手段的CPU或記憶各種程式的ROM、暫時記憶演算資料或輸入輸出資料等之各種資料的RAM等之所謂電腦系統。處理執行裝置62具備圖像記憶體63、檢查結果記憶裝置64、判定用記憶體65、圖像/檢查條件記憶裝置66、相機時序控制裝置67、及CPU與輸入輸出介面68。
圖像記憶體63係記憶利用相機61拍攝的一次圖像資料等。依據被記憶在此圖像記憶體63的資料來執行檢查。當然,亦可在執行檢查之際對資料施以圖 像處理。例如可考慮施以遮蔽處理(Masking processing)或蔭影校正(shading correction)等之處理。因為要以照明裝置60的光均一照射容器膜3等之拍攝範圍整體有技術上的限制,所以蔭影校正係用以校正因位置差異所產生之光的明度不均者。此外,亦將藉由從一次圖像資料將待檢查部等切出矩形狀所獲得之後述的檢查用圖像資料、或藉由進行二值化處理所獲得之二值化圖像資料、藉由進行遮蔽處理所獲得之遮蔽圖像資料等記憶於圖像記憶體63。
檢查結果記憶裝置64,係記憶有關圖像的座標等之資料、針對待檢查部之良否判定結果的資料、及該資料經機率統計處理後的統計資料等。此等的良否判定結果的資料或統計資料係成為能使後述的表示裝置52顯示。
判定用記憶體65係記憶用在檢查的判定值(閾值等)者。判定值係按每個檢查內容而設定。被使用在檢查的判定值含有例如PTP薄片1或凹處部2、錠劑5等之尺寸、用以劃定各種檢查區域的各種視窗框的形狀或尺寸、有關二值化處理的輝度閾值、有關面積判定的判定值、及有關色識別檢查的色基準值等。在判定值之中亦有用以檢查錠劑面積值之判定值等、統計關於過去的檢查被判定為良品者之檢查計測結果所決定的判定值。
圖像/檢查條件記憶裝置66係例如利用硬碟裝置所構成。在圖像/檢查條件記憶裝置66中記憶有 藉由檢查判定不良的檢查內容、判定不良的日期時間、圖像資料、及用在檢查的檢查條件等。
相機時序控制裝置67係控制相機61的拍攝時序。如此的拍攝時序係被依據來自設於PTP包裝機11的未圖示之編碼器的信號所控制,利用相機61對按每既定量進給的容器膜3進行拍攝。
CPU及輸入輸出介面68係掌管檢查裝置T1、A中之各種控制。CPU及輸入輸出介面68係一邊使用判定用記憶體65的記憶內容等,一邊執行針對錠劑5及容器膜3之檢查處理等的各種處理程式。
再者,如圖6所示,CPU及輸入輸出介面68係依據在一次圖像資料中之凹處部2或錠劑5的位置,特定出容器膜3中最終會成為PTP薄片1的部位(薄片部分SP)。薄片部分SP係與PTP薄片1同樣作成角部帶有圓形的矩形狀。而且,對被特定出的薄片部分SP,設定依據搬送順序的序號LA1、LB1、LA2、LB2、LA3、LB3…。序號係成為越是朝向搬送方向上游側,越是一點一點逐漸增大的態樣。又,對各錠劑5亦分別設定序號。
上述的各檢查裝置T1、A係在獲得既定的檢查用圖像資料後,依據該檢查用圖像資料進行檢查。又,各檢查裝置T1、A係進行將所獲得之檢查用圖像資料的一部分改寫成後述的屬性資訊等之處理。
其次,針對檢查用圖像資料的取得手法及使用該檢查用圖像資料所獲得之檢查用圖像的態樣作說 明。檢查用圖像資料及檢查用圖像係在各檢查裝置T1、A相異。首先,針對與第一檢查裝置T1有關的此等進行說明。
第一檢查裝置T1係在取得檢查用圖像資料之際,首先,藉由處理執行裝置62特定出錠劑5在一次圖像資料中的存在區域。此乃係依據從一次圖像資料所獲得之凹處部2等的位置而進行。然後,藉由從一次圖像資料至少抽出錠劑5及與其周邊對應的固定的資料,取得檢查用圖像資料D1。如圖7所示,此檢查用圖像資料D1具備:用以記憶標頭資訊的標頭欄H1;及接於該標頭欄H1用以記憶各畫素的輝度值之本體欄M1。於前述本體欄M1,各畫素的輝度值係例如以8bit(位元)表示。檢查用圖像資料D1係按每個錠劑5而獲得,各檢查用圖像資料D1分別被以1個檔案記憶在圖像記憶體63。
又,如圖8所示,藉由檢查用圖像資料D1示出之檢查用圖像G1係作成矩形狀且存在有:與錠劑5所佔的範圍對應的檢查對象區域TA1;及與其以外的範圍對應的非檢查對象區域TB1(附有散點花樣的部分)。檢查對象區域TA1係成為要利用第一檢查裝置T1的處理執行裝置62進行良否判定的對象之區域,非檢查對象區域TB1係非為良否判定的對象之區域。在檢查用圖像資料D1中含有與檢查對象區域TA1對應的各畫素的資料及與非檢查對象區域TB1對應的各畫素的資料。再者,非檢查對象區域TB1係被設為位在檢查用圖像G1之端部且涵蓋檢查用圖像G1的高度方向整個範圍及寬度方向整個範圍的區域。
其次,針對有關第二檢查裝置A的檢查用圖像資料的取得手法、及使用該檢查用圖像資料獲得之檢查用圖像的態樣進行說明。
第二檢查裝置A係在取得檢查用圖像資料之際,首先,如圖9所示,藉由處理執行裝置62特定出容器膜3中最終會成為PTP薄片1的區域(薄片部分SP)。此乃係依據在一次圖像資料中之凹處部2或錠劑5的位置而進行。然後,於一次圖像資料中,以在被預先設定之視窗框W內的既定位置配置有前述薄片部分SP的方式校正薄片部分SP的位置。薄片部分SP的偏位校正量是後述之薄片部分SP的位置追隨資訊。在其基礎下,藉由從一次圖像資料抽出與位在視窗W內的部分對應的資料,取得檢查用圖像資料D2。
如圖10所示,檢查用圖像資料D2具備:用以記憶標頭資訊的標頭欄H2;及接於該標頭欄H2,用以記憶在各畫素中之RGB成分的值之本體欄M2。本體欄M2中,RGB成分的值係按每個成分例如以8位元來表示。檢查用圖像資料D2係按每個薄片部分SP而獲得,各檢查用圖像資料D2分別被以1個檔案記憶在圖像記憶體63。
又,如圖11所示,藉由檢查用圖像資料D2所示之檢查用圖像G2係作成矩形狀且存在有:與薄片部分SP所佔的範圍對應的檢查對象區域TA2;及與其以外的範圍對應的非檢查對象區域TB2(附有散點花樣的部分)。檢查對象區域TA2係成為要利用第二檢查裝置 A的處理執行裝置62進行良否判定的對象之區域,非檢查對象區域TB2係非良否判定的對象之區域。在檢查用圖像資料D2中含有與檢查對象區域TA2對應的各畫素的資料及與非檢查對象區域TB2對應的各畫素的資料。
再加上,非檢查對象區域TB,係在檢查用圖像G2的四個角落且位在比檢查對象區域TA2中帶有圓形的角部還靠近外側。又,非檢查對象區域TB2係被設為位在檢查用圖像G2之端部且涵蓋檢查用圖像G2的高度方向整個範圍及寬度方向整個範圍之區域。
再者,各檢查裝置T1、A的處理執行裝置62係將檢查用圖像資料D1、D2中與非檢查對象區域TB1、TB對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成既定的屬性資訊。亦即,各檢查裝置T1、A的處理執行裝置62係分別相當於屬性資訊追加手段。本實施形態中,改寫屬性資訊係在後述的檢查處理之後進行。當然,亦可在檢查處理之前進行改寫屬性資訊。
首先,針對改寫成第一檢查裝置T1中的屬性資訊之處理作說明。在第一檢查裝置T1中,預先設定與檢查用圖像資料D1中既定的記憶欄R1(參照圖7)的位址相關之資訊。此記憶欄R1係屬性資訊的寫入對象。本實施形態中,於記憶欄R1中記憶有非檢查對象區域TB1中之與位在檢查用圖像G1的右上之屬性資訊區域Z1(參照圖8)對應的畫素的資料。而且,第一檢查裝置T1的處理執行裝置62係將記憶欄R1中既定數的畫素的資料改寫成屬性資訊。
其次,針對改寫第二檢查裝置A中屬性資訊之處理作說明。第二檢查裝置A被預先輸入與檢查用圖像資料D2中既定的記憶欄R2(參照圖10)的位址相關之資訊。此記憶欄R2係屬性資訊的寫入對象。本實施形態中,記憶欄R2中記憶有與屬性資訊區域Z2(參照圖11)對應的畫素的資料,該屬性資訊區域Z2係在非檢查對象區域TB2中之檢查用圖像G2的右上且位在比檢查對象區域TA2中帶有圓形的角部還外側。而且,第二檢查裝置A的處理執行裝置62係將記憶欄R2中之既定數的畫素的資料改寫成屬性資訊。此外,被改寫成屬性資訊的資料數可適宜變更。
作為屬性資訊,例如,例如可列舉表示在各檢查裝置T1、A中進行之檢查的種類、檢查的日期時間、薄片部分SP(PTP薄片1)或錠劑5的序號及檢查用圖像資料D1、D2是彩色或黑白的資訊、與檢查結果相關之資訊、有關薄片部分SP的位置追隨資訊或亮度的校正量等之各種校正的資訊、薄片部分SP中之錠劑5的位置資訊、與相機61的控制相關之資訊(例如,增益等)、再檢查所需的資訊(例如,使用在二值化處理的輝度閾值等)、及與錠劑5或容器膜3等之品種有關之資訊等。本實施形態中,成為記憶有檢查的種類、檢查的日期時間及薄片部分SP或錠劑5的序號,作為屬性資訊。
再者,各檢查裝置T1、A的處理執行裝置62,係將與非檢查對象區域TB1、TB2對應的各畫素的資料之至少一部分,改寫成用以核對在檢查用圖像資料 D1、D2中之各畫素的資料的錯誤之核對用資訊。亦即,各檢查裝置T1、A的處理執行裝置62係分別相當於核對用資訊追加手段。本實施形態中,改寫核對用資訊係在後述的檢查處理之後進行。當然,亦可在檢查處理之前進行改寫核對用資訊。
針對改寫核對用資訊作說明,在各檢查裝置T1、A中,預先設定與檢查用圖像資料D1、D2中既定的核對用資訊記憶欄C1、C2(參照圖7、10)的位址相關之資訊。核對用資訊記憶欄C1、C2係核對用資訊的寫入對象。在核對用資訊記憶欄C1、C2中記憶有與核對用區域Y1、Y2(參照圖8、11)對應之畫素的資料。本實施形態中,核對用區域Y1、Y2係設為位在非檢查對象區域TB1、TB2當中之檢查用圖像G1、G2的最下部且涵蓋檢查用圖像G1、G2的寬度方向整個範圍之區域,且是與一行分的畫素對應的區域。而且,兩檢查裝置T1、A的處理執行裝置62係將核對用資訊記憶欄C1、C2中一行分的畫素的資料,分別改寫成核對用資訊。
核對用資訊係用以進行核對和(check sum)的資訊。本實施形態中,核對用資訊,係設為扣除核對用資訊記憶欄C1、C2的資料之將各列中的畫素的資料(輝度值)合計後的值的後面兩位數。例如,核對用資訊記憶欄C1中某畫素的資料,係設為將位在與該畫素相同列的其他各畫素中之資料合計後的值的後面兩位數。藉由核對用資訊可按每列核對各畫素的資料。此外,核對用資訊,例如亦可以是表示前述合計的值是偶數或奇數之資訊等。
改寫完屬性資訊或核對用資訊的各檢查用圖像資料D1、D2,係分別用1個檔案記憶在圖像記憶體63。亦即,檢查用圖像資料D1、D2、屬性資訊及核對用資訊是以被彙總成一個檔案的狀態被記憶於圖像記憶體。
再者,各檢查裝置T1、A係依據檢查用圖像資料D1、D2,進行錠劑5或容器膜3之檢查。本實施形態中,使用在檢查的檢查用圖像資料D1、D2雖係改寫屬性資訊或核對用資訊前者,但係改寫後者亦無任何障礙。
各檢查裝置T1、A的處理執行裝置62在對錠劑5或容器膜3之檢查處理上係進行:對非檢查對象區域TB1、TB2進行遮蔽處理;於遮蔽處理後對剩餘的檢查對象區域TA1、TA2進行二值化處理;對藉二值化處理所獲得之二值化圖像資料進行塊處理;及依據藉塊處理所獲得之塊部分的數量或面積、位置等而進行判定有無缺陷部分之缺陷有無判定處理等。然後,各檢查裝置T1、A的處理執行裝置62係於存在有缺陷部分之情況,將與待檢查部對應的PTP薄片1判定不良。一方面,各檢查裝置T1、A係於未存在有缺陷部分之情況,將與待檢查部對應的PTP薄片1判定為優良。
又,PTP包裝機11除了上述各種裝置外,還具備有主控制裝置51及由顯示器等所構成的顯示裝置52。
主控制裝置51係與處理執行裝置62同樣,以所謂電腦系統所構成,掌管用以構成PTP包裝機11的各種裝置之驅動控制等。此等的驅動控制為,依據事前設定於主控制裝置51的ROM等之設定資料,藉由主控制裝置51對PTP包裝機11內的各種裝置輸出控制信號而被進行。
又,主控制裝置51係與各檢查裝置T1、A電連接,作成可在與各檢查裝置T1、A之間收發各種資訊。主控制裝置51係依據各檢查裝置T1、A的檢查結果,將不良品信號朝不良薄片排出機構40輸出,藉以使有關判定不良的PTP薄片1排出。
又,主控制裝置51係可從檢查裝置T1、A接收記憶有屬性資訊及核對用資訊的檢查用圖像資料D1、D2。主控制裝置51係藉由讀取所接收的檢查用圖像資料D1、D2中之被預先設定的既定位址的資訊而可抽出有關屬性資訊的資料。然後,主控制裝置51可於顯示裝置52中顯示檢查用圖像G1、G2及屬性資訊。檢查用圖像G1、G2的顯示係使用一般的圖像處理軟體來進行。
再者,主控制裝置51係於檢查用圖像G1、G2等的顯示之際,對使用了核對用資訊的各畫素的資料中之錯誤進行核對,可將與錯誤之有無相關的資訊連同檢查用圖像G1、G2等一起顯示於顯示裝置52。
如以上所詳述那樣,依據本實施形態,可使檢查用圖像資料D1、D2含有屬性資訊,可將檢查用 圖像資料D1、D2及屬性資訊彙總成一個檔案。因此,可謀求簡化資料管理、減輕處理的負擔。
又,非檢查對象區域TB1、TB2因為不是要利用處理執行裝置62進行良否判定的對象,所以即便將與非檢查對象區域TB1、TB2對應的畫素的資料改寫成屬性資訊或核對用資訊,亦不會有使其影響及於檢查或檢查結果與檢查用圖像資料D1、D2無法取得匹配那樣的情況。再者,因為不是將標頭資訊,而是將各畫素的資料、即相當於檢查用圖像資料D1、D2的本體之資料(本體欄M1、M2的資料)改寫,所以可使用一般的圖像處理軟體來處理檢查用圖像資料D1、D2。
又,進行薄片部分SP之檢查的第二檢查裝置A為,利用在檢查用圖像G2的四個角落且比檢查對象區域TA2中的角部還靠近外側的位置上形成有較寬的非檢查對象區域TB2這點,將有關該非檢查對象區域TB2的畫素的資料改寫成屬性資訊。因此,在檢查用圖像資料D2中,可更確實地將屬性資訊寫入用的記憶區域確保在固定位置。藉此,可將與檢查用圖像G2的四個角落對應之預先設定的位址的固定的畫素資料(記憶欄R2的資料)設為屬性資訊的寫入對象。亦即,成為可在無特別考慮檢查對象區域TA2所佔的範圍下設定屬性資訊的寫入對象那樣的情況。又,關於主控制裝置51,藉由讀取被預先設定之既定位址的資訊,可從被預先設定之固定的寫入對象讀取屬性資訊。因此,能謀求簡化有關屬性資訊的寫入或讀取之處理等,能有效果地謀求減輕處理負擔。
再者,藉由利用核對用資訊,可更確實地擔保在檢查用圖像資料D1、D2中之資訊的可靠性。特別是本實施形態中,與非檢查對象區域TB1、TB2對應的一行分的各畫素的資料被改寫成核對用資訊,用以核對在與該畫素相同列中之資料的錯誤。因此,可按每行或每列核對各畫素的資料。藉此,可更加確實地擔保在檢查用圖像資料中之資訊的可靠性,可更加提升有關檢查之可靠性。
此外,未受限於上述實施形態的記載內容,例如也可按以下那樣來實施。當然,以下未例示之其他的應用例、變更例當然也可以。
(a)上述實施形態中,將本發明的技術思想應用在對容器膜3安裝覆膜4前進行檢查的第一檢查裝置T1及第二檢查裝置A上,但亦可將本發明的技術思想應用在對容器膜3安裝覆膜4後進行檢查的檢查裝置上。當然,亦可將本發明的技術思想應用在用以進行完成品的PTP薄片1之檢查的檢查裝置上。再者,亦可將本發明的技術思想應用在朝凹處部2填充前用以進行錠劑5的檢查之檢查裝置上。
(b)屬性資訊或核對用資訊,係只要構成被改寫成與檢查用圖像資料D1、D2的非檢查對象區域TB1、TB2對應之畫素的資料即可。因此,亦可將在上述實施形態所舉的與位在檢查用圖像G1、G2之右上或最下部的非檢查對象區域TB1、TB2以外的非檢查對象區域TB1、TB2對應之畫素的資料改寫成屬性資訊或核對 用資訊。例如,亦可將與位在檢查用圖像G1、G2左下的非檢查對象區域TB1、TB2對應之畫素的資料改寫成屬性資訊。
(c)上述實施形態中,構成為:與涵蓋寬度方向整個範圍的非檢查對象區域TB1、TB2對應之一行分的各畫素的資料被改寫成核對用資訊,用以核對位在與該畫素相同列的其他畫素中之資料的錯誤。相對地,亦可為:在非檢查對象區域TB1、TB2是涵蓋高度方向整個範圍的情況,將與該被檢查對象區域TB1、TB2對應的一列分之各畫素的資料改寫成核對用資訊,用以核對位在和該畫素相同行的其他畫素中之資料的錯誤。在此情況,可按每行核對各畫素的資料。因此,與上述實施形態同樣地,可更加確實地擔保在檢查用圖像資料D1、D2中之資訊的可靠性,可更加提升有關檢查之可靠性。
又,亦可設為將一行分的各畫素的資料及一列分的各畫素的資料分別改寫成核對用資訊。於此情況,可特定出正發生資料錯誤的畫素。因此,成為可進行利用已扣除此畫素的資料之資料的檢查(在排除錯誤的影響後之檢查)或利用位在此畫素周圍之畫素的資料來修正此畫素的資料錯誤這樣的情況。
再者,未必有需要將一列分或一行分的各畫素的資料改寫成核對用資訊,例如,亦可設為將與非檢查對象區域TB1、TB2對應的各畫素的資料中之任一者改寫成核對用資訊。例如,亦可設為將既定的1畫素 的資料改寫成是依據將其他的畫素的資料合計後的值之資料。
(d)上述實施形態中,處理執行裝置62係具備用以記憶對於待檢查部之良否判定結果的資料等之檢查結果記憶裝置64、或用以記憶藉由檢查而判定不良的檢查內容、判定不良的日期時間等之圖像/檢查條件記憶裝置66,但亦可將記憶在此等記憶裝置64、66的資訊作為屬性資訊,寫入檢查用圖像資料D1、D2。在此情況,可省略此等記憶裝置64、66。因此,可更加入謀求簡化資料管理、減輕處理的負擔並可謀求減低成本。
(e)上述實施形態中,雖針對內容物是錠劑5的情況予以具體化,但內容物亦可為膠囊(醫藥品或營養食品等)等。
(f)上述實施形態中,容器膜3是利用PP或PVC等之熱塑性樹脂材料所形成,覆膜4是以鋁箔等為基材所形成,但是各膜3、4的材料未受此等所限定,亦可採用其他的材質。

Claims (7)

  1. 一種檢查裝置,係在PTP薄片的製造過程中用以進行屬待檢查部之PTP薄片或最終會成為PTP薄片的部位的檢查的檢查裝置,該PTP薄片係在形成於容器膜的凹處部收容內容物,並以堵住前述凹處部的方式對前述容器膜安裝覆膜而成,該檢查裝置之特徵為具備:照射手段,至少對前述待檢查部照射既定的光;拍攝手段,可拍攝被照射來自於前述照射手段的光之前述待檢查部及其周邊部分;良否判定手段,依據使用前述拍攝手段所獲得之屬有關前述待檢查部的檢查用圖像的資料之檢查用圖像資料,以判定前述待檢查部之良否,前述檢查用圖像資料包含與成為利用前述良否判定手段進行判定的對象之檢查對象區域對應的各畫素的資料、及與屬該檢查對象區域以外的區域之非檢查對象區域對應的各畫素的資料;及屬性資訊追加手段,將與前述非檢查對象區域對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成與檢查有關的屬性資訊。
  2. 如請求項1之檢查裝置,其中前述檢查用圖像係作成矩形狀,該檢查用圖像中,前述檢查對象區域係作成角部帶有圓形的矩形狀,且前述非檢查對象區域係在該檢查用圖像的四個角落且位在比該檢查對象區域中之前述角部還靠近外側, 前述屬性資訊追加手段,係將與位在前述檢查用圖像的四個角落的前述非檢查對象區域相對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成前述屬性資訊。
  3. 如請求項1之檢查裝置,其中具備核對用資訊追加手段,將與前述非檢查對象區域對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成用以核對前述檢查用圖像資料中各畫素的資料的錯誤之核對用資訊。
  4. 如請求項2之檢查裝置,其中具備核對用資訊追加手段,將與前述非檢查對象區域對應的各畫素的資料的至少一部分,改寫成用以核對前述檢查用圖像資料中各畫素的資料的錯誤之核對用資訊。
  5. 如請求項3之檢查裝置,其中前述檢查用圖像係作成矩形狀,該檢查用圖像中,前述非檢查對象區域係位在該檢查用圖像的端部,且設為在該檢查用圖像的高度方向整個範圍及寬度方向整個範圍至少一方延伸的區域,前述核對用資訊追加手段係構成為進行以下至少一方:前述非檢查對象區域在前述高度方向整個範圍延伸的情況,將與該非檢查對象區域對應的一列分之畫素的資料分別改寫成用以核對位在相同行之其他的各畫素中之資料的錯誤的前述核對用資訊;及前述非檢查對象區域在前述寬度方向整個範圍延伸的情況,將與該非檢查對象區域對應的一行分之畫素的資料分別改寫成用以核對位在相同列之其他的各畫素中之資料的錯誤的前述核對用資訊。
  6. 如請求項4之檢查裝置,其中前述檢查用圖像作成矩形狀,於該檢查用圖像中,前述非檢查對象區域係位在該檢查用圖像的端部,且設為在該檢查用圖像的高度方向整個範圍及寬度方向整個範圍至少一方延伸的區域,前述核對用資訊追加手段係構成為進行以下至少一方:前述非檢查對象區域是在前述高度方向整個範圍延伸的情況,將與該非檢查對象區域對應的一列分之畫素的資料分別改寫成用以核對位在相同行之其他的各畫素中之資料的錯誤的前述核對用資訊;及前述非檢查對象區域是在前述寬度方向整個範圍延伸的情況,將與該非檢查對象區域對應的一行分之畫素的資料分別改寫成用以核對位在相同列之其他的各畫素中之資料的錯誤的前述核對用資訊。
  7. 一種PTP包裝機,其特徵為具備如請求項1至6中任一項之檢查裝置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI718042B (zh) * 2019-05-27 2021-02-01 日商Ckd股份有限公司 檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法
TWI744914B (zh) * 2019-06-11 2021-11-01 日商Ckd股份有限公司 檢查裝置及包裝體製造裝置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3521185B1 (de) * 2018-02-05 2020-07-29 Uhlmann Pac-Systeme GmbH & Co. KG Verfahren zum steuern des vorschubs einer folienbahn in einer verpackungsmaschine
JP6766216B1 (ja) * 2019-04-24 2020-10-07 Ckd株式会社 検査装置、包装シート製造装置及び包装シート製造方法
CN113560219B (zh) * 2021-07-12 2023-01-24 长沙理工大学 一种基于机器视觉的药品泡罩包装缺陷检测系统及方法
GB2616247A (en) * 2021-12-22 2023-09-06 Laetus Gmbh Inspection system for a blister machine

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3346635B2 (ja) * 1993-12-10 2002-11-18 日立電子エンジニアリング株式会社 Ocr用帳票フォーム作成方法
JP4206192B2 (ja) * 2000-11-09 2009-01-07 株式会社日立製作所 パターン検査方法及び装置
JP2000163565A (ja) * 1998-12-01 2000-06-16 Canon Inc 撮影画像処理装置、方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
JP4038356B2 (ja) * 2001-04-10 2008-01-23 株式会社日立製作所 欠陥データ解析方法及びその装置並びにレビューシステム
JP2003215047A (ja) * 2002-01-17 2003-07-30 Ckd Corp 外観検査装置及び外観検査装置を備えたptp包装機
JP4034222B2 (ja) * 2003-04-14 2008-01-16 シーケーディ株式会社 錠剤を包装したptpシートの外観検査装置及びptp包装機
JP4419426B2 (ja) * 2003-04-24 2010-02-24 コニカミノルタエムジー株式会社 医用画像システム
US20050205781A1 (en) * 2004-01-08 2005-09-22 Toshifumi Kimba Defect inspection apparatus
ITBO20040213A1 (it) * 2004-04-14 2004-07-14 Ima Spa Metodo per la formazione di un materiale in nastro multistrato per confezionamento
JP4346537B2 (ja) * 2004-09-10 2009-10-21 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 表面検査装置および表面検査方法
JP4485904B2 (ja) * 2004-10-18 2010-06-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 検査装置及び検査方法
JP4472499B2 (ja) * 2004-11-26 2010-06-02 シーケーディ株式会社 不良検査装置及びptp包装機
JP4332122B2 (ja) * 2005-01-17 2009-09-16 シーケーディ株式会社 外観検査装置及びptp包装機
JP4368813B2 (ja) * 2005-02-14 2009-11-18 シーケーディ株式会社 検査装置及びptp包装機
DE102009012817A1 (de) * 2008-04-17 2009-10-22 Heidelberger Druckmaschinen Ag Verfahren zum Bedrucken einer Blisterfolienbahn in einer Verpackungsmaschine
CN101354360B (zh) * 2008-08-29 2011-04-13 苏州钧信自动控制有限公司 铝/铝泡罩包装的胶囊或药片检测方法
JP5509773B2 (ja) * 2009-01-21 2014-06-04 オムロン株式会社 パラメータ決定支援装置およびパラメータ決定支援プログラム
JP5011583B2 (ja) 2009-11-05 2012-08-29 Necアクセステクニカ株式会社 画像処理方法および装置
JP5799516B2 (ja) * 2011-02-03 2015-10-28 セイコーエプソン株式会社 ロボット装置、検査装置、検査プログラム、および検査方法
JP5526183B2 (ja) * 2012-04-25 2014-06-18 Ckd株式会社 検査装置及びptp包装機
US20150193900A1 (en) * 2012-06-19 2015-07-09 Tak Wai Lau Composite device and application process and apparatus thereof
CN102735694A (zh) * 2012-06-26 2012-10-17 上海秉拓机械设备有限公司 全自动胶囊检测机
JP6063753B2 (ja) * 2013-01-17 2017-01-18 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 目視検査装置
US9098889B2 (en) * 2013-01-29 2015-08-04 Schlumberger Technology Corporation Method for quantitative prediction of matrix acidizing treatment outcomes
JP5721278B2 (ja) * 2013-04-24 2015-05-20 Ckd株式会社 Ptpシート検査システム
JP5993358B2 (ja) * 2013-10-29 2016-09-14 Ckd株式会社 検査装置及びptp包装機
JP5873066B2 (ja) * 2013-11-13 2016-03-01 Ckd株式会社 Ptp包装機
JP6188620B2 (ja) * 2014-04-09 2017-08-30 Ckd株式会社 検査装置及びptp包装機
JP6027047B2 (ja) * 2014-04-15 2016-11-16 Ckd株式会社 検査システム及びptp包装機
JP6040197B2 (ja) * 2014-05-26 2016-12-07 Ckd株式会社 検査装置及びptp包装機
JP6470506B2 (ja) * 2014-06-09 2019-02-13 株式会社キーエンス 検査装置
JP6512965B2 (ja) * 2015-07-01 2019-05-15 キヤノン株式会社 画像処理装置および画像処理方法
JP6745173B2 (ja) * 2016-09-06 2020-08-26 株式会社キーエンス 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI718042B (zh) * 2019-05-27 2021-02-01 日商Ckd股份有限公司 檢查裝置、包裝薄片製造裝置及包裝薄片製造方法
TWI744914B (zh) * 2019-06-11 2021-11-01 日商Ckd股份有限公司 檢查裝置及包裝體製造裝置

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