JP4251325B2 - 外観検査装置及びptp包装機 - Google Patents
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Description
少なくとも前記シートに対して光を照射する照明手段と、
前記照明手段により照射された面を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段から出力される画像信号を処理する画像処理装置とを備え、
前記画像信号は、少なくとも前記シール線の画像信号を含むものであり、
前記画像処理装置は、前記画像信号から得た画像データに対し、平行四辺形状の検査枠を用い、該検査枠の相対向する辺上の画素の輝度を比較することで、輝度の低い部分を抽出するとともに、検査範囲について該輝度の低い部分に基づいた画像イメージデータを作成し、該画像イメージデータに基づき、前記シートの外観不良を検査可能に構成されていることを特徴とする外観検査装置。
前記輝度の比較に際して、前記輝度の低い部分を前記検査枠の辺単位で抽出し、
前記画像イメージデータの作成に際して、前記検査範囲内において輝度が低いと判定された辺上の画素全てを抽出することを特徴とする手段1乃至4のいずれかに記載の外観検査装置。
前記検査枠は、前記所定の平行四辺形に内接する平行四辺形のサイズ以下に設定されてなることを特徴とする手段1乃至5のいずれかに記載の外観検査装置。
前記検査枠が、aライン、bライン、cライン、dラインからなる平行四辺形であるとともに、相対向し合うaライン及びcラインが前記第1シール線に対してθ1(−90°<θ1<90°)だけ傾き、相対向し合うbライン及びdラインが前記第2シール線に対してθ2(−90°<θ2<90°)だけ傾いている場合に、
前記aラインと前記cラインとの間隔が|x/cosθ1|以上であり、かつ、前記bラインと前記dラインとの間隔が|y/cosθ2|以上であることを特徴とする手段6に記載の外観検査装置。
前記撮像手段は、前記照射光の照射方向と略同一方向から撮像可能であることを特徴とする手段1乃至8のいずれかに記載の外観検査装置。
Claims (9)
- 主たるシール部分を格子状のシール線により形成するようにして、2枚のフィルムを互いに取着したシートの外観不良を検査するための外観検査装置であって、
少なくとも前記シートに対して光を照射する照明手段と、
前記照明手段により照射された面を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段から出力される画像信号を処理する画像処理装置とを備え、
前記画像信号は、少なくとも前記シール線の画像信号を含むものであり、
前記画像処理装置は、前記画像信号から得た画像データに対し、平行四辺形状の検査枠を用い、該検査枠の相対向する辺上の画素の輝度を比較することで、輝度の低い部分を抽出するとともに、検査範囲について該輝度の低い部分に基づいた画像イメージデータを作成し、該画像イメージデータに基づき、前記シートの外観不良を検査可能に構成されていることを特徴とする外観検査装置。 - 前記画像処理装置は、前記画像イメージデータの前記輝度の低い部分を除く部分における連結成分の面積を個々に演算し、該連結成分のうち、少なくとも1つの連結成分の面積が所定値以上のときに、外観不良であると判定することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
- 前記画像処理装置は、前記検査枠の各辺上の画素の合計輝度を用いて前記輝度の比較を行うことを特徴とする請求項1または2に記載の外観検査装置。
- 前記画像処理装置は、相対向する2組の辺に関し、それぞれ前記合計輝度及び前記合計輝度の差または比を演算することで前記輝度を比較し、前記合計輝度の差または比の値が所定の範囲外のとき、前記合計輝度の小さい辺上の画素を前記輝度が低い部分として抽出することを特徴とする請求項3に記載の外観検査装置。
- 前記画像処理装置は、前記検査範囲内において前記検査枠を所定の間隔で移動する度に前記輝度の比較を行い、
前記輝度の比較に際して、前記輝度の低い部分を前記検査枠の辺単位で抽出し、
前記画像イメージデータの作成に際して、前記検査範囲内において輝度が低いと判定された辺上の画素全てを抽出することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の外観検査装置。 - 前記シートは、二方向に延びる前記シール線が、各方向において、それぞれ同一幅をなし、等間隔で平行に配置されることで、前記シール線によって囲まれた部分が所定の平行四辺形をなすように取着されたものであって、
前記検査枠は、前記所定の平行四辺形に内接する平行四辺形のサイズ以下に設定されてなることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の外観検査装置。 - 前記検査枠は、前記二方向に延びるシール線の傾斜に沿った平行四辺形であることを特徴とする請求項6に記載の外観検査装置。
- 前記照明手段は、前記シートの面に対して略垂直方向から照射光を照射可能であるとともに、
前記撮像手段は、前記照射光の照射方向と略同一方向から撮像可能であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の外観検査装置。 - 請求項1乃至8のいずれかに記載の外観検査装置を備えたことを特徴とするPTP包装機。
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JP2004268436A Active JP4251325B2 (ja) | 2004-09-15 | 2004-09-15 | 外観検査装置及びptp包装機 |
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JP2011163804A (ja) * | 2010-02-05 | 2011-08-25 | Seiko Epson Corp | 異物検出装置および異物検出方法 |
CN103373496A (zh) * | 2012-04-25 | 2013-10-30 | Ckd株式会社 | 检查装置和ptp包装机 |
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