TW201733211A - 用於測試插座之浮動巢穴 - Google Patents

用於測試插座之浮動巢穴 Download PDF

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TW201733211A
TW201733211A TW105138702A TW105138702A TW201733211A TW 201733211 A TW201733211 A TW 201733211A TW 105138702 A TW105138702 A TW 105138702A TW 105138702 A TW105138702 A TW 105138702A TW 201733211 A TW201733211 A TW 201733211A
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班傑明 艾德理吉
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Abstract

一種便於對測試下的裝置(DUT)做測試的測試插座，其包括持具，該持具包括：安裝結構，其將持具附接到插座的其他組件；以及浮動巢穴結構，DUT則可以配置在當中。浮動巢穴結構可以具有座位腔穴，其尺寸和形狀做成接收和握持DUT，使得當測試插座附接到測試板時，至少某些DUT端子接觸測試板的對應接觸件。撓曲件側向位在安裝結構和浮動巢穴結構之間，並且可以允許巢穴結構相對於安裝結構而移動並且因此浮動。

Description

用於測試插座之浮動巢穴
本發明的實施例乃針對測試插座的改良，其例如用來對測試中的裝置(DUT)加以握持和測試。某些實施例尤其針對巢穴結構的改良，其握持此種測試插座中的一或更多個DUT。
於某些實施例，測試插座尤其可以包括持具，其可以包括安裝結構、浮動巢穴、撓曲件。測試插座可以建構成握持DUT並且輕易附接到和脫離自測試板，該測試板包括針腳以接觸DUT的輸入和/或輸出端子。測試插座的安裝結構可以包括附接特徵件，插座可以藉此而附接到和脫離自測試板。浮動巢穴可以具有座位腔穴，其尺寸和形狀可以做成接收和握持DUT，使得當測試插座附接到測試板時，至少某些DUT端子接觸測試板的對應針腳。撓曲件可以側向位在安裝結構和浮動巢穴之間，並且可以允許浮動巢穴相對於安裝結構而移動。在DUT已經對齊於針腳之後，浮動巢穴允許DUT壓縮於針腳。
100‧‧‧測試插座
102‧‧‧蓋子
104‧‧‧推動器
106‧‧‧柱塞
108‧‧‧通道
112‧‧‧貫穿孔
114‧‧‧閂鎖插座
116‧‧‧對齊合釘
130‧‧‧持具
132‧‧‧安裝結構、持具安座
134‧‧‧貫穿孔
138‧‧‧埋頭貫穿孔
140‧‧‧對齊特徵件
142‧‧‧閂鎖插座
150‧‧‧巢狀之測試中的裝置(DUT)握持結構
152‧‧‧腔穴
154‧‧‧固定框架
156‧‧‧撓曲件
162‧‧‧浮動巢穴
164‧‧‧外結構
166‧‧‧座位腔穴
168、170‧‧‧側壁
172‧‧‧DUT座位
174‧‧‧通道
180‧‧‧針腳總成
182‧‧‧外框架
184‧‧‧孔
186‧‧‧貫穿孔
188‧‧‧對齊特徵件
190‧‧‧內區域
192‧‧‧空間
194‧‧‧通道
196‧‧‧對齊特徵件
202‧‧‧測試板
204‧‧‧端子
206‧‧‧對齊特徵件
208‧‧‧附接孔
212‧‧‧螺栓
214‧‧‧閂鎖
216‧‧‧螺栓
220‧‧‧DUT
222‧‧‧輸入和/或輸出端子
232‧‧‧接觸針腳
330‧‧‧持具
350‧‧‧巢狀DUT握持結構
352‧‧‧基座
354‧‧‧外區域
356‧‧‧外貫穿槽孔
358‧‧‧內貫穿槽孔
360‧‧‧中間區域
362‧‧‧浮動巢穴
364‧‧‧內區域
530‧‧‧持具
532‧‧‧持具安座
550‧‧‧巢狀DUT握持結構
552‧‧‧腔穴
554‧‧‧固定框架
555‧‧‧撓曲件
556‧‧‧外貫穿槽孔
558‧‧‧內貫穿槽孔
560‧‧‧中間區域
562‧‧‧浮動的多重巢穴結構
566‧‧‧座位腔穴
600‧‧‧多重DUT插座
602‧‧‧蓋子
604‧‧‧推動器
606‧‧‧柱塞
680‧‧‧針腳總成
700‧‧‧插座
圖1A是根據本發明之某些實施例而用於握持DUT的測試插座之元件的立體分解圖。
圖1B是圖1A之測試插座的側視截面圖。
圖2A是圖1A之測試插座的立體圖，其根據本發明之某些實施例而完全組裝和附接到測試板。
圖2B是圖2A之測試插座和測試板的側視截面圖。
圖2C顯示圖2B的側視截面圖，而DUT被壓縮。
圖3A和圖3B分別是根據本發明之某些實施例的圖1A測試插座的持具之範例性組態的俯視圖和側視截面圖。
圖4A、4B、4C顯示圖3A和3B之持具的部分俯視圖，其分別強調持具之巢狀握持結構的外區域、中間區域、內區域。
圖5是根據本發明之某些實施例而具有浮動多重巢穴結構以握持多重DUT之持具範例的俯視圖。
圖6A和6B顯示根據本發明之某些實施例的測試插座之範例，而圖5的持具是其組件。
圖7A~7D示範根據本發明之某些實施例的圖1A和1B之測試插座的範例性組態，其包括圖3A和3B的持具。
本說明書描述本發明的範例性實施例和應用。然而，本發明不限於這些範例性實施例和應用，也不限於範例性實施例和應用所操作或在此所述的方式。再者，圖可以顯示簡化或部分的視圖，並且圖中元件的尺寸可以有所誇大或未按照比例。附帶而言，如在此所用之「在……上」、「附接到」、「連接到」、「耦合到」或類似的詞，一元件(譬如材料、層、基板……)可以是「在……上」、「附接到」、「連接到」或「耦合到」另一元件，而不管該一元件是否直接在該另一元件上或直接附接、連接、耦合到該另一元件，也不管該一元件和該另一元件之間是否有一或更多個中介元件。而且，方向(譬如之上、之下、頂、底、側、上、下、底下、上面、高、低、水平、垂直、「x」、「y」、「z」……)如果有提供的話則是相對性的，並且僅是為了舉例而提供，以及為了容易釋例和討論而非限制。附帶而言，當參照一列元件時(譬如元件a、b、c)，此種參照打算包括所列元件本身中的任一者、少於全部所列元件的任何組合、和/或全部所列元件的組合。
如在此所用，「大致」意謂足以針對所欲的目的來作用。「大致」一詞因此允許絕對或完美的狀態、尺寸、測量、結果或類似者有次要、不顯著的變化，例如此領域中之一般技術者所會預期的，但又不感覺影響整體 的效能。當相對於數值或可以表示成數值的參數或特徵來使用時，「大致」意謂在百分之十以內。「多個」意謂多於一個。「配置」一詞的意義含括了「放置」和/或「定位」。
「DUT」一詞是(device under test’測試中的裝置)之縮寫，如在此所用，其是指正在經歷測試或將要接受測試的裝置(譬如電子裝置，例如半導體晶粒，不管是已封裝或未封裝)。
圖1A和1B示範根據本發明之某些實施例的測試插座100的範例，並且圖2A和2B顯示的測試插座100已完全組裝和附接到測試板202之範例以供測試DUT 220。如所可見，測試插座100可以包括蓋子102、用於握持DUT 220(見圖2B)的持具130、針腳總成180。蓋子102、持具130、針腳總成180可以彼此附接以形成插座100，其可以附接到測試板202，使得接觸針腳232從測試板202上的端子204貫穿針腳總成180中的通道(已知為孔)194和持具130中的通道(已知為孔)174而延伸到DUT 220的輸入和/或輸出端子222(見圖2B)。通道174可以將DUT端子222對齊於接觸針腳232。接觸針腳232可以是任何伸長的電連接器。接觸針腳232的非限制性範例包括電線、微機電系統(MEMS)探針、轉換針腳(pogo pin)或類似者。DUT端子222舉例而言可以是球(譬如焊球)、襯墊、螺栓或類似者。雖然未顯示，但是測試板202(譬如其端子204(見圖2B))可以連接到 測試控制器(未顯示)，其因此可以提供測試訊號到和接收回應訊號自DUT 220，藉此測試和決定DUT 220是否如所預期的發揮功能。
如圖1A~2C所示，持具130可以包括安裝結構132，持具130藉此則可以附接到針腳總成180和/或蓋子102。持具130也可以包括巢狀DUT握持結構150以握持DUT 220(見圖2B)。
安裝結構132(下文有時也稱為持具安座132)舉例而言可以是結構性框架，其包圍(譬如包住)巢狀DUT握持結構150。持具安座132可以具有附接特徵件，其便於將持具130附接於針腳總成180。舉例而言，持具安座132可以包括埋頭貫穿孔(已知為通道)138，其用於將持具130固定於針腳總成180的螺栓216(見圖2A和2B)。(埋頭貫穿孔138和螺栓216在圖1B和2B中顯示成虛線，因為那些元件在那些圖中看不見。)持具安座132也可以具有附接特徵件，其便於持具130附接到蓋子102。舉例而言，持具安座132可以包括閂鎖插座142，其用於將蓋子102固定於持具130的閂鎖214(見圖2A和2B)。替代選擇而言，持具130可以藉由其他手段而固定於針腳總成180和/或蓋子102。舉例而言，持具130替代選擇而言可以藉由閂鎖、夾子、夾具或類似者而固定於針腳總成180。持具130可以類似的藉由螺栓、夾子、夾具或類似者而非圖2A和2B所示範的閂鎖214來固定於蓋子102。
持具安座132也可以包括其他特徵件。舉例而言，如圖1A~2B所示，持具安座132可以包括一或更多個精確定位的對齊特徵件140，其便於持具130對齊於蓋子102和/或針腳總成180。於圖1A~2B所示範的範例，蓋子102包括精確定位的對齊合釘116，並且對齊特徵件140據此可以是精確定位的孔，如所示。以其他範例來說，對齊特徵件140可以包括彈性撓曲件，例如示範於頒給Hobbs的美國專利第8,760,187號之圖2、7、13的限制件206、706、1306，該專利整個併於此以為參考。以又一範例來說，每個對齊特徵件140可以包括槽孔，其排列成特殊圖案，例如徑向圖案。
貫穿孔134是持具安座132可以包括之額外特徵件的另一範例。如圖2A和2B所示，貫穿孔134可以容納螺栓212以將組裝的插座100附接到測試板202。(貫穿孔134和螺栓212在圖1A和2B中顯示成虛線，因為那些元件在那些圖中看不見。)貫穿孔134或類似之替代選擇的附接特徵件可以是附接特徵件的範例，持具安座132則藉此便於將插座100附接到測試板202。
圖1A~2B所示範之巢狀DUT握持結構150的範例可以包括在持具130之腔穴152中的固定框架154、浮動巢穴162、撓曲件156。腔穴152可以允許固定框架154、浮動巢穴162、撓曲件156要比持具安座132顯著較薄(譬如於某些實施例是小於持具安座132的一半厚度)。
固定框架154可以包括包住撓曲件156和浮動巢穴162並且可以不動的連接到持具安座132之結構。也就是說，固定框架154可以連接到持具安座132，使得固定框架154可以相對於持具安座132而無實質移動。
於某些實施例，固定框架154和持具安座132可以是相同單元件之材料(其可以是複合材料)的部分。舉例而言，單元件材料可以包括大致剛性的材料，其可以是電絕緣的。此種材料的範例包括陶瓷材料、塑膠材料、或摻合了填料(例如陶瓷填料)的塑膠材料。陶瓷填充的聚醚醚酮(PEEK)化合物(例如專業塑膠公司所行銷的CeramaPEEK® NC20是適合材料的非限制性範例。適合材料的其他範例包括尼龍、基於聚甲醛的材料(其通常稱為縮醛，包括共聚物和單聚物(譬如Delrin®)的版本)、基於聚醯胺-醯亞胺的材料(例如Solvay所行銷的Torlon®)或類似者。於另外其他的範例，固定框架154和持具安座132的單元件材料可以包括披覆了有機或無機電絕緣膜(例如聚醯亞胺、氧化鋁、聚對二甲苯或類似者)的金屬基座。於此種實施例，通道174的內側壁也可以披覆了絕緣膜以避免金屬基座與接觸針腳232造成電短路。不管如何，固定框架154和持具安座132替代選擇而言可以是明確區分的結構，其充分固定在一起(譬如藉由螺栓、螺帽、螺釘、夾具、閂鎖、黏著劑或類似者(未顯示)來為之)，以排除固定框架154相對於持具安座132有實質移動。
浮動巢穴162可以包括外結構164，其可以包圍座位腔穴166，如圖1A~2B所示範。如圖1B和2B所示範，座位腔穴166可以包括DUT座位172，上面則可以配置DUT 220。DUT座位172可以包括多個貫穿通道(已知為孔)174，其可以配置成對應於從測試板202的端子204(見圖2B)所延伸之接觸針腳232的圖案。如所示，每個接觸針腳232可以是伸長、順服性的導電接觸結構，並且於某些實施例，接觸針腳232是導電的。當插座100附接到測試板202時，接觸針腳232因此可以延伸到貫穿通道174裡，如圖2B所示範。貫穿通道174的圖案也可以對應於DUT端子222，並且貫穿通道174的尺寸可以做成接收DUT端子222。當DUT 220配置在DUT座位172上時，DUT端子222因此可以延伸到貫穿通道174裡並且接觸著接觸針腳232，如圖2B所示範。
座位腔穴166的尺寸和形狀可以做成接收和握持DUT 220，其指向則使每個DUT端子222接觸和因此電連接於接觸針腳232的特殊對應者。舉例而言，座位腔穴166可以包括漸縮然後變直的(譬如垂直)側壁168、170以導引DUT 220到DUT座位172上，使得DUT端子222進入貫穿通道174裡，如圖1A、1B、2B所示範。於此種組態，漸縮的側壁168可以從座位腔穴166之較大的上開口(如在圖1B和2B中的指向)漸縮到較小、較下的中間開口。
撓曲件156可以配置在浮動巢穴162和固定 框架154之間，因此可以將浮動巢穴162可移動的連接到固定框架154。撓曲件156因此可以將浮動巢穴162連接到固定框架154，而同時允許浮動巢穴162相對於固定框架154做相對移動。
於圖1A~2C所示範的實施例，撓曲件156配置成同時側向於浮動巢穴162(當DUT 220配置在DUT座位172上時因此還有DUT座位172和DUT 220)和固定框架154，而示範成側向配置於持具安座132。相對來看，DUT 220顯示成直接配置在DUT座位172上方，並且接觸針腳232顯示成直接在DUT座位172下方(當DUT 220配置在DUT座位172上時因此還有DUT 220)。撓曲件156允許浮動巢穴162至少在DUT 220的方向往上和/或在接觸針腳232的方向往下而相對於固定框架154來輕易移動。以另一方式來說，當DUT 220配置在DUT座位172上時，撓曲件156可以在大致平行於DUT座位172的平面和/或DUT端子222的平面上將浮動巢穴162連接到固定框架154，但撓曲件156允許浮動巢穴162至少在大致垂直於DUT座位172和/或DUT端子222之平面的方向而相對於固定框架154來輕易移動。
撓曲件156的範例包括在貫穿槽孔之間的握持結構150之一或多個中間區域，像是圖3A~4C所示範，這在下面討論。撓曲件156的其他範例包括順服性連接器(未顯示)，其將浮動巢穴162連接到固定框架154，其中連接器是彈簧(譬如葉片彈簧)或者包括可撓 性或順服性材料，例如橡膠、彈性體或類似者。
如圖1A、1B、2B所示，針腳總成180可以包括外框架182，針腳總成180則藉此可以附接到持具130。針腳總成180也可以包括內區域190，其可以由針腳總成180中的空間(譬如腔穴)192所界定。空間192舉例而言可以提供讓持具130的浮動巢穴162可以朝向針腳總成180來移動的空間。
外框架182舉例而言可以是結構性框架，其包圍(譬如包住)內區域190。於某些實施例，外框架182可以類似於持具130的持具安座132。舉例而言，外框架182可以具有附接特徵件，其便於將針腳總成180附接到持具130。舉例而言，外框架182可以包括孔(已知為通道)184，其用於將持具130固定到針腳總成180的螺栓216(見圖2B)。孔184因此可以對應和對齊於持具130之持具安座132中的埋頭孔138。雖然未顯示，但是於某些實施例，針腳總成180的外框架182也可以包括便於將針腳總成180附接到蓋子102的特徵件。
就像持具安座132，針腳總成180的外框架182可以包括其他特徵件。舉例而言，如圖1A、1B、2B所示，外框架182可以包括一或更多個對齊特徵件188，其便於將針腳總成180對齊於持具130和/或蓋子102。於圖1A~2B所示範的範例，對齊特徵件188可以建構成相同或類似於持具安座132中的對齊特徵件140。
貫穿孔186是針腳總成180之外框架182的 額外特徵件之另一範例。貫穿孔186可以容納螺栓212以將組裝的插座100附接到測試板202。貫穿孔186因此可以是附接特徵件的範例，其便於將測試插座100附接到測試板202。
對齊特徵件196是外框架182之額外特徵件的又一範例。如將討論，對齊特徵件196可以是合釘，其從外框架182延伸並且與測試板202之對應的對齊特徵件(譬如孔206，見圖2B)搭配，以使組裝的插座100對齊於測試板202。
內區域190可以包括貫穿通道(已知為孔)194，其可以相同或類似於如上所討論之DUT座位172中的貫穿通道174。舉例而言，內區域190中之貫穿通道194的尺寸可以做成和配置成對應於接觸針腳232的圖案(見圖2B)。當插座100附接到測試板202時，接觸針腳232可以從測試板202的端子204穿過針腳總成180之內區域190中的貫穿通道194而延伸到持具130之DUT座位172中的貫穿通道174裡，如上所討論。
如圖2A和2B所示，蓋子102可以配置在持具130的持具安座132上，因此覆蓋持具130的腔穴152和巢狀DUT握持結構150。前述可以稱為蓋子102的「關閉」位置。蓋子102可以藉由閂鎖214和/或其他附接手段(未顯示，例如螺栓、螺釘、夾具或類似者)而在關閉位置時固定於持具130。相對來看，當蓋子102不附接到持具安座132時，可以移除蓋子102，暴露出巢狀DUT握 持結構150，而允許DUT 220放置在和移除自DUT座位172。蓋子102的任何此種位置可以視為蓋子102的「開啟」位置。不用說蓋子102可以在關閉位置和開啟位置之間移動。如所示，蓋子114可以包括附接特徵件，例如閂鎖插座114，閂鎖214(見圖2A和2B)則藉此可以將蓋子102固定於持具130。
如圖1A~2C所示，蓋子102可以包括推動器104，其具有柱塞106，柱塞106通過蓋子102中的通道108而到持具130的腔穴152裡。推動器104可以選擇性建構成使柱塞106離開蓋子102而朝向持具130前進以及使柱塞106從持具130撤回而朝向蓋子102。因此，當蓋子102是在關閉位置時，可以選擇性調整推動器104以使柱塞106延伸朝向DUT 220(關閉柱塞106和蓋子102之間的間隙)，因此將DUT 220穩穩推靠著DUT座位172，這可以使浮動巢穴162往下移動而朝向接觸針腳232(譬如圖2C所示範)，而確保了DUT端子222和接觸針腳232之間有低阻抗的電連接。也當蓋子102是在關閉位置時，可以選擇性調整推動器104以從DUT 220撤回柱塞106。
如上所注意，蓋子102可以包括對齊特徵件116，其建構成便於將蓋子102精確對齊於持具130和/或針腳總成180。於圖1A~2B，對齊特徵件116示範成合釘116的形式，其建構成與持具安座132中之對應的對齊特徵件140搭配以及/或者與針腳總成180之外框架182中 的對齊特徵件188搭配。蓋子102也可以包括建構成將插座100固定於測試板202的特徵件。於圖1A~2B所示範的範例，蓋子102包括貫穿孔(已知為通道)112，其對應於持具130和針腳總成180中類似的貫穿孔134和186以及測試板202中的附接孔208。於前面範例，完全組裝的插座100可以藉由通過貫穿孔112、134、186的螺栓212而附接到測試板202，並且固定於(譬如螺旋到)孔208，如所示。當蓋子102、持具130、針腳總成180以上面方式或在此所述的任何替代選擇方式而彼此附接時，插座100可以視為是完全組裝的。
如所言，當蓋子102、持具130、針腳總成180彼此附接以形成完全組裝的插座100時，蓋子102、持具130、針腳總成180之個別對應的對齊特徵件116、140、188可以使蓋子102、持具130、針腳總成180彼此精確對齊。附帶而言，針腳總成180之對應的對齊特徵件196、206分別與針腳總成180和測試板202可以將完全組裝的插座100精確對齊於測試板202。
如上所言，持具130的撓曲件156可以用任何各式各樣的方式來實施。圖3A和3B示範一種實施撓曲件156之方式的非限制性範例。圖3A和3B顯示持具330，其包括持具安座132和配置於腔穴152中的巢狀DUT握持結構350。持具330可以是圖1A~2B之持具130的範例性組態，因此可以取代任何圖1A~2B中的持具130。
持具安座132和腔穴152可以相同於圖1A~2B之持具130中所類似命名和編號的元件。然而，巢狀DUT握持結構350可以包括多重區域354、360、364(顯示了三個，但可以有更多或更少)，其由多個貫穿槽孔356、358(顯示了四個，但可以有更多或更少)所分開。貫穿槽孔356、358可以是伸長的槽孔，其延伸穿過巢狀握持結構350的基座352。
圖3A和3B所示之巢狀DUT握持結構350的範例乃示範成具有一組外貫穿槽孔356和一組內貫穿槽孔358，其界定基座352的外區域354、中間區域360、內區域364。如圖4A所示，外區域354(圖4A以黑色來強調)是基座352在外槽孔356和持具安座132之間的區域。如圖4B所可見，中間區域360(圖4B以黑色來強調)是基座352在內槽孔358和外槽孔356之間的區域。圖4C顯示內區域364(圖4C以黑色來強調)，其為基座352在座位腔穴166和內槽孔358之間的區域。
外槽孔356可以允許中間區域360相對於外區域354而上下移動(圖3B所示的指向)，並且內槽孔358可以允許內區域364和因此座位腔穴166相對於中間區域360而上下移動(圖3B所示的指向)。槽孔356、358與中間和內區域360、364的組合因此允許座位腔穴166相對於外區域354而上下移動(在圖3B所示的指向)。外區域354因此可以是圖1A~2B之固定框架154的範例。類似而言，內區域364可以是圖1A~2B之外結 構164的範例，並且外槽孔356、中間區域360、內槽孔358的組合可以是圖1A~2B之撓曲件156的範例。中間區域360可以是撓曲元件的範例，並且撓曲件156可以說是包括此種撓曲元件。內區域364和座位腔穴166因此可以是圖1A~2B之浮動巢穴162的範例。
於圖3A~4C所示範的範例，內槽孔358可以包括一對槽孔，其配置成部分包圍座位腔穴166，其中該對中的每個槽孔可以是另一者的鏡像，並且該對中的每個槽孔可以包括伸長部分，其大致平行於該對中之另一槽孔的對應伸長部分。外槽孔356類似而言可以包括一對槽孔，其配置成部分包圍內槽孔358，其中該對外槽孔356的每個槽孔可以是另一者的鏡像，並且該對外槽孔356的每個槽孔也可以包括伸長部分，其大致平行於該對中之另一槽孔的對應伸長部分。如所示，內槽孔可以是第一組槽孔的範例，其配置成比外區域354還更鄰近於包括內區域364和座位腔穴166的浮動巢穴；並且外槽孔可以是第二組槽孔的範例，其配置成比前述的浮動巢穴還更鄰近於外區域354。
如圖3A~4C所示，前述可以造成內區域364、內槽孔358、中間區域360、外槽孔356、外區域354同心包圍著座位腔穴166祇是範例而已。可以有不同數目的槽孔356、358，其可以具有不同的形狀並且配置成不同的圖案以界定不同於圖3A~4C所示範的外區域354、中間區域360、內區域364。
如上所注意，持具130和因此持具330也可以完全或基本上僅由單一、單元件的一或多種材料所構成，例如上面所討論的。持具330因此可以從一塊此種材料做起(譬如電絕緣材料，包括上面所列之材料的任何範例)，並且把圖3A和3B所示範之持具330的所有通道、孔、腔穴……加工到這塊裡面。因此，舉例而言，對齊特徵件(譬如140)、槽孔(譬如356、358)、座位腔穴(譬如166，包括貫穿通道174)可以在同一塊材料上做加工操作而形成，並且可以如加工設備所允許的精確度來定位。
圖5示範具有巢狀DUT握持結構550之持具530的範例，其建構成握持多重DUT。如所示，持具530可以包括持具安座532和配置於腔穴552中的多重DUT握持結構550。持具安座532一般而言可以相同或類似於圖1A~2B的持具安座132，並且可以包括各式各樣的孔(未標號)和/或其他特徵件(未顯示)，其一般而言可以類似於上面討論之持具130的孔、通道和/或特徵件。
雖然多重DUT握持結構550一般而言可以類似於圖1A~2B的握持結構150或圖3A~4C的握持結構350，但可以建構成握持多重DUT 220。如所示，多重DUT握持結構550可以包括固定框架554、浮動的多重巢穴結構562、撓曲件555，該撓曲件將浮動的多重巢穴結構562可移動的連接到固定框架554。固定框架554可以相同或類似於圖1A~2B中的固定框架154或圖3A~4C中 的外區域354。雖然示範成包括外貫穿槽孔556、中間區域560(譬如撓曲元件的範例)、內貫穿槽孔558，其一般而言可以類似於如上所討論的貫穿槽孔356、358，但是撓曲件555可以改成以上面相對於撓曲件156所提到的任何方式來建構。浮動的多重巢穴結構562可以類似於浮動巢穴162或362(見圖1A~4C)，例外之處在於浮動的多重巢穴結構562可以包括多重座位腔穴566，其每一者可以相同或類似於如上所討論的座位腔穴166。於圖5所示範的範例，槽孔556可以是第一組貫穿槽孔的範例，其配置成比浮動的多重巢穴結構562還更鄰近於持具安座532；並且槽孔558可以是第二組貫穿槽孔的範例，其配置成比持具安座532還更鄰近於浮動的多重巢穴結構562。
圖6A和6B示範多重DUT插座600的範例，而持具530可以是其一部分。如所示，插座600可以包括蓋子602，其可以包括推動器604。蓋子602可以類似於上面討論的蓋子102，並且推動器604也可以類似於上面討論的推動器104，例外之處在於推動器604可以包括柱塞606，其用於浮動之多重巢穴結構562的每個座位腔穴566。插座600也可以包括針腳總成680，其可以類似於上面討論的針腳總成180。持具530可以附接到蓋子502和針腳總成680(譬如以上述可以將持具130或330附接到蓋子102或針腳總成180的任何方式)。如圖6B所最能見，DUT 220可以放入每個座位腔穴566裡並且同時測 試。替代選擇而言，可以測試座位腔穴566中一次組的DUT 220，然後可以使插座600位移以測試另一次組的DUT 222，這可以重複直到已經測試了座位腔穴566中之所有的DUT 220為止。
圖7A~7D詳細顯示圖1A~2C之插座100的範例性實施例700，其中包括了圖3A~4C的持具330以取代持具130。圖7A~7D的元件示範圖1A~4C中之類似編號元件的非限制性範例。圖7A~7D所詳細顯示的僅是範例，並且不打算將申請專利範圍限制於測試插座700或其組成元件的任何特殊實施例或組態。
雖然說明書已經描述了本發明的特定實施例和應用，但是這些實施例和應用僅是範例，並且可能有許多變化。
100‧‧‧測試插座
102‧‧‧蓋子
104‧‧‧推動器
112‧‧‧貫穿孔
114‧‧‧閂鎖插座
116‧‧‧對齊合釘
130‧‧‧持具
132‧‧‧安裝結構、持具安座
134‧‧‧貫穿孔
138‧‧‧埋頭貫穿孔
140‧‧‧對齊特徵件
142‧‧‧閂鎖插座
150‧‧‧巢狀之測試下的裝置(DUT)握持結構
152‧‧‧腔穴
154‧‧‧固定框架
156‧‧‧撓曲件
162‧‧‧浮動巢穴
164‧‧‧外結構
166‧‧‧座位腔穴
180‧‧‧針腳總成
182‧‧‧外框架
184‧‧‧孔
186‧‧‧貫穿孔
188‧‧‧對齊特徵件
190‧‧‧內區域
192‧‧‧空間
194‧‧‧通道

Claims (23)

  1. 一種測試插座，其建構成握持測試中的裝置(DUT)並且附接到和脫離自測試板，該測試板包括伸長接觸件以接觸該DUT的端子，該測試插座包括持具，該持具包括：安裝結構，其包括附接特徵件，該附接特徵件建構成便於將該插座附接到和脫離自該測試板；浮動巢穴，其包括座位腔穴，該座位腔穴的尺寸和形狀做成當該測試插座附接到該測試板時以某些該DUT端子接觸該測試板之該伸長接觸件的對應者來接收和握持該DUT；以及撓曲件，其側向配置在該安裝結構和該浮動巢穴之間，並且允許該浮動巢穴相對於該安裝結構而移動。
  2. 如申請專利範圍第1項的測試插座，其中該撓曲件包括撓曲元件。
  3. 如申請專利範圍第1項的測試插座，其中該安裝結構、該浮動巢穴、該撓曲件是單一、單元件材料的部分。
  4. 如申請專利範圍第3項的測試插座，其中該材料是陶瓷填充的塑膠。
  5. 如申請專利範圍第3項的測試插座，其中該材料包括披覆了電絕緣膜的金屬基座。
  6. 如申請專利範圍第3項的測試插座，其中該材料是電絕緣體。
  7. 如申請專利範圍第3項的測試插座，其中：該座位腔穴包括座位，其建構成支撐該DUT，以及該座位包括貫穿孔，其尺寸做成和配置成圖案以在該貫穿孔的第一末端來將該DUT的該端子接收到該貫穿孔裡。
  8. 如申請專利範圍第7項的測試插座，其進一步包括蓋子，該蓋子可在開啟位置和關閉位置之間移動；其中在該開啟位置時，該DUT可以自由放入和移除自該座位腔穴，而在該關閉位置時，該蓋子附接到該持具並且將該座位腔穴中的該DUT固定成靠著該DUT座位。
  9. 如申請專利範圍第8項的測試插座，其中該蓋子包括可調整的推動器，其建構成當該蓋子是在該關閉位置時施加可調整程度的力而壓住該DUT靠著該DUT座位。
  10. 如申請專利範圍第8項的測試插座，其中：該蓋子包括蓋子對齊特徵件，以及該持具包括持具對齊特徵件，其建構成當該蓋子是在該關閉位置時與該蓋子對齊特徵件搭配。
  11. 如申請專利範圍第10項的測試插座，其中該持具對齊特徵件是該單一、單元件材料中所形成的整合特徵件。
  12. 如申請專利範圍第8項的測試插座，其進一步包括耦合到該持具的針腳總成，其中該針腳總成包括貫穿孔，其對應於該座位中的該貫穿孔。
  13. 如申請專利範圍第12項的測試插座，其中該針 腳總成包括針腳總成對齊特徵件，其建構成與該蓋子對齊特徵件搭配，使得當該蓋子對齊特徵件乃與該持具對齊特徵件和該針腳總成對齊特徵件搭配時，該針腳總成中的該貫穿孔和該座位中的該貫穿孔是充分對齊，以讓該測試板的該接觸結構延伸穿過該針腳總成中的該貫穿孔並且進入該座位中的該貫穿孔，該接觸結構在此則接觸著配置於該座位腔穴中之該DUT的該端子。
  14. 如申請專利範圍第7項的測試插座，其中該座位中的該貫穿孔也尺寸做成和配置成該圖案，以當該測試插座附接到該測試板時，在該座位中之該貫穿孔的相反於該第一末端之第二末端來接收該測試板之該接觸件的對應者。
  15. 如申請專利範圍第14項的測試插座，其中該座位腔穴包括：漸縮側壁，其從該座位腔穴中的上開口漸縮到該座位腔穴裡的中間開口，大致垂直的側壁，其從該座位腔穴中的該中間開口到該DUT座位，以及其中該上開口大於該中間開口。
  16. 如申請專利範圍第3項的測試插座，其中在該浮動巢穴和該安裝結構之間而在該持具中的貫穿槽孔之間，該撓曲件包括該單元件材料的區域。
  17. 如申請專利範圍第16項的測試插座，其中該貫穿槽孔包括： 第一組貫穿槽孔，其配置成比該安裝結構還更鄰近於該浮動巢穴，以及第二組貫穿槽孔，其配置成比該浮動巢穴還更鄰近於該安裝結構。
  18. 如申請專利範圍第17項的測試插座，其中該第一組貫穿槽孔包括：該貫穿槽孔的第一者，其包括沿著該座位腔穴中之第一側而延伸的伸長部分，以及該貫穿槽孔的第二者，其包括沿著該座位腔穴中之第二側而延伸的伸長部分，其中該貫穿槽孔之該第一者和該第二者的該伸長部分大致上是平行的。
  19. 如申請專利範圍第18項的測試插座，其中該第二組貫穿槽孔包括：該貫穿槽孔的第三者，其包括沿著該座位腔穴中之第三側而延伸的伸長部分，以及該貫穿槽孔的第四者，其包括沿著該座位腔穴中之第四側而延伸的伸長部分，其中該貫穿槽孔之該第三者和該第四者的該伸長部分大致上彼此平行，並且大致垂直於該貫穿槽孔的該第一者。
  20. 如申請專利範圍第16項的測試插座，其中該浮動巢穴包括多個該DUT腔穴，每一者的尺寸和形狀做成接收DUT。
  21. 如申請專利範圍第20項的測試插座，其中該貫穿槽孔包括：第一組貫穿槽孔，其配置成比該安裝結構還更鄰近於該浮動巢穴，以及第二組貫穿槽孔，其配置成比該浮動巢穴還更鄰近於該安裝結構。
  22. 如申請專利範圍第21項的測試插座，其中該第一組貫穿槽孔包括：該貫穿槽孔的第一者，其包括沿著多個該DUT腔穴之第一側而延伸的伸長部分，以及該貫穿槽孔的第二者，其包括沿著多個該DUT腔穴之第二側而延伸的伸長部分，其中該貫穿槽孔之該第一者和該第二者的該伸長部分是大致平行的。
  23. 如申請專利範圍第22項的測試插座，其中該第二組貫穿槽孔包括：該貫穿槽孔的第三者，其包括大致垂直於該貫穿槽孔的該第一者之該伸長部分的伸長部分，以及該貫穿槽孔的第四者，其包括大致平行於該貫穿槽孔的該第三者之該伸長部分的伸長部分。
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