CN108738355A - 用于测试插座的浮动嵌套 - Google Patents

Abstract

用于便于测试被测装置(DUT)的测试插座，包括保持器，该保持器包括用于将保持器附接到插座的其他部件的安装结构和可将DUT设置于其中的浮动嵌套结构。浮动嵌套结构可具有座腔，该座腔的尺寸和形状被设置为：接收并保持DUT，使得当测试插座附接到测试板时，DUT端子中的至少一些与测试版的对应接触件接触。挠曲件横向地位于安装结构和浮动嵌套结构之间，并且可允许嵌套结构相对于安装结构移动并因此浮动。

Description

用于测试插座的浮动嵌套

技术领域

本发明的实施例涉及对诸如用于保持并测试被测装置(DUT)的测试插座的改进。一些实施例具体地涉及对用于将一个或多个DUT保持在此类测试插座中的嵌套结构的改进。

发明内容

在一些实施例中，测试插座可包括在其他元件之间的保持器，该保持器可包括安装结构、浮动嵌套和挠曲件。测试插座可被配置为保持DUT并且可容易地附接到测试板和与测试板分离，测试板包括用于接触DUT的输入端和/或输出端的引脚。测试插座的安装结构可包括附接特征，插座可通过该附接特征附接到测试板和与测试板分离。浮动嵌套可具有座腔，该座腔的尺寸和形状被设置为能接收并保持DUT，使得当测试插座附接到测试板时，DUT端子中的至少一些与测试板的对应的引脚接触。挠曲件可横向地位于安装结构和浮动嵌套之间，并且可允许浮动嵌套相对于安装结构移动。浮动嵌套允许DUT在DUT已与引脚对准后与引脚压缩在一起。

附图说明

图1A为根据发明的一些实施例的用于保持DUT的测试插座的元件的分解透视图。

图1B为图1A的测试插座的侧剖视图。

图2A为根据发明的一些实施例的完全装配并附接到测试板的图1A的测试插座的透视图。

图2B为图2A的测试插座和测试板的侧剖视图。

图2C示出在DUT处于压缩的情况下的图2B的视图。

图3A为根据发明的一些实施例的图1A的测试插座的保持器的示例配置的顶视图，并且图3B为根据发明的一些实施例的图1A的测试插座的保持器的示例配置的侧剖视图。

图4A、图4B和图4C是图3A和图3B的保持器的部分顶视图，分别突出地示出保持器的嵌套保持结构的外部区域、中间区域和内部区域。

图5为根据发明的一些实施例的具有用于保持多个DUT的浮动的多嵌套结构的保持器的示例的顶视图。

图6A和图6B示出测试插座的示例，其中图5的保持器为根据发明的一些实施例的部件。

图7A至图7D例示了根据发明的一些实施例的包括图3A和图3B的保持器的图1A和图1B的测试插座的示例配置。

具体实施方式

本说明书描述了发明的示例性实施例和应用。然而，发明不限于这些示例性实施例和应用或示例性实施例和应用操作或本文所描述的方式。此外，附图可示出简化或部分视图，并且附图中元件的尺寸可被夸大或者以其他方式未按比例。另外，当本文使用术语“在…上”、“附接到”、“连接到”、“联接到”或类似词时，不管一个元件直接在另一个元件之上、附接到另一个元件或联接到另一个元件或者在一个元件和另一个元件直接存在一个或多个中间元件，一个元件(例如，材料、层、基底等等)可“在另一个元件上”、“附接到另一个元件”、“连接到另一个元件”或“联接到另一个元件”。而且，如果提供的话，方向(例如，在…之上、在…之下、顶部、底部、侧面、上、下、在…下方、在…上方、上部、下部、水平、垂直、“x”、“y”、“z”等等)为相对的并且仅仅作为示例和便于说明和讨论而不作为限制。另外，在提到元件的列表的情况下，此类参考旨在包括所列元件中的任一项本身、所列元件中少于所有的任何组合和/或所列元件中的所有的组合。

如本文所使用的，“基本上”意指足以用于预期目的。因此，术语“基本上”允许与绝对或完美状态、尺寸、测量值、结果等等相比发生较小的不显著的变化，诸如本领域的普通技术人员将预期但不明显地影响总体性能的变化。当相对于数值或参数或能够被表示为数值的特性使用时，“基本上”意指在百分之十以内。术语“…中的多个…(ones)”意指多于一个。术语“设置于”涵盖其“放置”和/或“位于”的含义。

如本文所用，术语“DUT”为“被测装置”的首字母缩略词，是指正在进行测试或接受测试的装置(例如，电子装置诸如封装或未封装的半导体管芯)。

图1A和图1B例示了根据本发明的一些实施例的测试插座100的示例，并且图2A和图2B示出了完全装配并附接到用于测试DUT 220的测试板202的示例的测试插座100。可以看出，测试插座100可包括盖102、用于保持DUT 220(参见图2B)的保持器130和引脚组件180。盖102、保持器130和引脚组件180可彼此附接以形成插座100，插座100可附接到测试板202，使得接触引脚232穿过引脚组件180中的通道(亦称为孔)194和保持器130中的通道(亦称为孔)174从测试板202上的端子204向DUT 220的输入端和/或输出端222(参见图2B)延伸。通道174可将DUT端子222与接触引脚232对准。接触引脚232可为任何细长的电子连接器。接触引脚232的非限制性示例包括电线、微电子机械系统(MEMS)探针、弹簧引脚(pogopins)等等。DUT端子222可为例如球(例如，锡球)、焊点、连接柱等等。虽然未示出，但是测试板202(例如，其端子204(参见图2B))可连接到测试控制器(未示出)，测试控制器可因此向DUT 220提供测试信号并且从DUT 220接收响应信号，并从而测试并确定DUT 220是否如预期那样起作用。

如图1A至图2C所示，保持器130可包括安装结构132，保持器130可通过该安装结构132附接到引脚组件180和/或盖102。保持器130还可包括用于保持DUT 220的嵌套DUT保持结构150(参见图2B)。

安装结构132(下文有时称为保持器安装件132)可为例如环绕(例如，围绕)嵌套DUT保持结构150的结构框架。保持器安装件132可具有便于将保持器130附接到引脚组件180的附接特征。例如，保持器安装件132可包括用于螺栓216的埋头通孔(亦称为通道)138，螺栓216将保持器130固定到引脚组件180。(埋头通孔138和螺栓216在图1B和图2B中如虚线所示，因为那些元件在那些附图的视图中不可见)。保持器安装件132还可具有便于将保持器130附接到盖102的附接特征。例如，保持器安装件132可包括用于锁销214的锁销插孔142(参见图2A和图2B)，锁销214将盖102固定到保持器130。替代地，保持器可通过其他装置固定到引脚组件180和/或盖102。例如，保持器130可替代地通过锁销、夹子、夹具等等固定到引脚组件180。保持器130可类似地通过螺栓、夹子、夹具等等而不是图2A和图2B中所示的锁销214固定到盖102。

保持器安装件132还可包括其他特征。例如，如图1A至图2B所示，保持器安装件132可包括用于便于将保持器130与盖102和/或引脚组件180对准的一个或多个精确定位的对准特征140。在图1A至图2B所示示例中，盖102包括精确定位的定位销116，并且对准特征140可因此精确地如图所示定位。作为另一个示例，对准特征140可包括弹性挠曲件诸如Hobbs的美国专利No.8,760,187的图2、图7和图13所示的约束件206、约束件706、约束件1306，该专利以引用方式并入本文。作为又一个示例，每个对准特征140可包括以特定图案诸如放射状图案布置的狭槽。

通孔134为保持器安装件132可包括的额外的特征的另一个示例。如图2A和图2B所示，通孔134可容纳用于将装配好的插座100附接到测试板202的螺栓212。(通孔134和螺栓212如图1A和图2B中的虚线所示，因为那些元件在那些附图的视图中不可见。)通孔134或类似但替代的附接特征可以是使保持器安装件132便于将插座100附接到测试板202的附接特征的示例。

图1A至图2B中所示的嵌套DUT保持结构150的示例可包括固定框架154、浮动嵌套162和保持器130中的腔152中的挠曲件156。腔152可允许固定框架154、浮动嵌套162和挠曲件156比保持器安装件132显著地更薄(例如，在一些实施例中，小于一半厚)。

固定框架154可包括围绕挠曲件156和浮动嵌套162的结构，并且可固定地连接到保持器安装件132。也就是说，固定框架154可连接到保持器安装件132，使得固定框架154无法相对于保持器安装件132发生实质的移动。

在一些实施例中，固定框架154和保持器安装件132可为同一材料(该材料可为复合材料)的整体件的各部分。例如，材料的整体件可包含基板上刚性的材料，该材料可为电绝缘的。此类材料的示例包括陶瓷材料、塑料材料或与填料诸如陶瓷填料共混的塑料材料。陶瓷填充的聚醚醚酮(“PEEK”)化合物，诸如由专业塑料公司(Professional Plastics,Inc.)销售的 NC20为合适的材料的非限制性示例。合适的材料的其他示例包括尼龙、通常被称为缩醛的包括共聚物和均聚物(例如，)版本的聚甲醛基材料、聚酰胺-酰亚胺基材料诸如由索尔维公司(Solvay)销售的等等。在还有的其他示例中，固定框架154和保持器安装件132的材料的整体件可包括涂覆有有机或无机电绝缘膜，诸如聚酰亚胺、氧化铝、聚对二甲苯等等的金属基体。在此类实施例中，通道174的内侧壁还可涂覆有绝缘膜以防止金属基体与接触引脚232发生电短路。无论如何，固定框架154和保持器安装件132可替代地为充分紧固在一起(例如，通过螺栓、螺母、螺钉、夹具、锁销、粘合剂等等(未示出))的独特结构，以避免固定框架154相对于保持器安装件132的实质的运动。

浮动嵌套162可包括外部结构164，该外部结构164可环绕如图1A至图2B所示的座腔166。如图1B和图2B所示，座腔166可包括DUT座172，DUT 220可设置于DUT座172上。DUT座172可包括多个穿过通道(亦称孔)174，该穿过通道174可以设置为对应于从测试板202的端子204(参见图2B)延伸的接触引脚232的图案。如图所示，每个接触引脚232可为细长的柔顺导电接触的结构，并且在一些实施例中，接触引脚232是导电的。当插座100附接到测试板202时，接触引脚232可因此延伸到如图2B所示的穿过通道174中。穿过通道174的图案也可对应于DUT端子222，并且穿过通孔174的尺寸可被设置为接收DUT端子222。当DUT 220设置于DUT座172上时，DUT端子222可因此延伸到穿过通道174中并接触如图2B所示的接触引脚232。

座腔166的尺寸和形状可被设置为：以DUT端子222中的每个与接触引脚232中特定的对应一个接触并因此形成电连接的取向来接收并保持DUT 220。例如，座腔166可包括锥形而后笔直的(例如，垂直的)侧壁168、170，以将DUT 220引导到DUT座172，使得DUT端子222进入如图1A、图1B和图2B所示的穿过通道174中。在此类配置中，锥形侧壁168可从座腔166的较大上部开口(如图1B和图2B中所取向的)向较小的下部中间开口逐渐减小。

挠曲件156可设置于浮动嵌套162和固定框架154之间，并且可因此将浮动嵌套162可移动地连接到固定框架154。挠曲件156可因此将浮动嵌套162连接到固定框架154，同时允许浮动嵌套162相对于固定框架154的相对移动。

在图1A至图2C中所示的实施例中，挠曲件156设置于浮动嵌套162(并且因此当DUT220设置于DUT座172上时,设置于DUT座172和DUT220的横向侧方)和固定框架154二者的横向侧方，所示浮动嵌套162和固定框架154二者设置于保持器安装件132的横向侧方。相反，所示DUT 220直接设置于DUT座172上面，并且所示接触引脚232直接在DUT座172下面(并且因此当DUT 220设置于DUT座172上时在DUT 220下面)。挠曲件156允许浮动嵌套162相对于固定框架154至少在DUT 220的方向上向上移动，和/或在接触引脚232的方向上向下移动。换句话说，当DUT220设置于DUT座172上时，挠曲件156可在基本上平行于DUT座172的平面和/或DUT端子222的平面上将浮动嵌套162连接到固定框架154，但是挠曲件156允许浮动嵌套162至少在基本上垂直于DUT座172和/或DUT端子222的平面的方向上相对于固定框架154容易地移动。

挠曲件156的示例包括像图3A至图4C中所示的那些穿过狭槽之间的保持结构150的一个或多个中间区域。挠曲件156的其他示例包括将浮动嵌套162连接到固定框架154的柔性连接器(未示出)，其中连接器为弹簧(例如，弹簧片)或包括有弹性的或柔顺的材料诸如橡胶、弹性体等等。

如图1A、图1B和图2B所示，引脚组件180可包括外部框架182，引脚组件180可通过该外部框架182附接到保持器130。引脚组件180还可包括内部区域190，内部区域190可由引脚组件180中的空间(例如，腔)192限定。空间192可例如提供这样的空间，保持器130的浮动嵌套162可在该空间中朝向引脚组件180移动。

外部框架182可为例如环绕(例如，围绕)内部区域190的结构框架。在一些实施例中，外部框架182可类似于保持器130的保持器安装件132。例如，外部框架182可具有便于将引脚组件180附接到保持器130的附接特征。例如，外部框架182可包括用于将保持器130固定到引脚组件180的螺栓216的孔(亦称为通道)184。孔184可因此与保持器130的保持器安装件132中的埋头孔138对应并对准。虽然未示出，但是在一些实施例中，引脚组件180的外部框架182还可包括便于将引脚组件180附接到盖102的特征。

如同保持器安装件132一样，引脚组件180的外部框架182可包括其他特征。例如，如图1A、图1B和图2B所示，外部框架182可包括用于便于将引脚组件180与保持器130和/或盖102对准的一个或多个对准特征188。在图1A至图2B所示示例中，对准特征188可被配置为与保持器安装件132中的对准特征140相同或类似。

通孔186为引脚组件180的外部框架182的额外特征的另一个示例。通孔186可容纳用于将装配好的插座100附接到测试板202的螺栓212。通孔186可因此成为便于将测试插座100附接到测试板202的附接特征的示例。

对准特征196为外部框架182的额外特征的又一示例。如将要讨论的，对准特征196可为销，该销从外部框架182延伸并且与测试板202的对应的对准特征(例如孔206(参见图2B))配对，以将装配好的插座100与测试板202对准。

内部区域190可包括穿过通道(亦称为孔)194，该通过通道可与如上面所讨论的DUT座172的穿过通道174相同或类似。例如，内部区域190中的穿过通道174的尺寸可被设置为对应于接触引脚232(参见图2B)的图案，并且可以以对应于接触引脚232的图案来设置。当插座100附接到测试板202时，接触引脚232可从测试板202的端子204穿过引脚组件180的内部区域190中的穿过通道194延伸到如上面所讨论的保持器130的DUT座172中的穿过通道174中。

如图2A和图2B所示，盖102可设置于保持器130的保持器安装件132上，并且因此覆盖保持器130的腔152和嵌套的DUT保持结构150。前述可被称为盖102的“关闭”位置。盖102可在关闭位置中通过锁销214和/或其他附件装置(未示出)诸如螺栓、螺母、夹具等等固定到保持器130。相反，当盖102尚未附接到保持器安装件132时，可将盖102移除，将嵌套的DUT保持结构150暴露，允许DUT 220被放置到DUT座172上或者从DUT座172移除。盖102的任何此类位置可被视为盖102的“打开”位置。毋庸赘言，盖102在关闭位置和打开位置之间是可移动的。如图所示，盖114可包括附接特征，诸如锁销承接口114，锁销214(参见图2A和图2B)可通过该锁销承接口114将盖102固定到保持器130。

如图1A至图2C所示，盖102可包括具有柱塞106的推进器104，该柱塞106穿过盖102中的通道108进入保持器130的腔152。推进器104可被选择性地配置为使柱塞106离开盖102并朝向保持器130推进，以及被配置为使柱塞106离开保持器130并朝向盖102回缩。因此，当盖102处于关闭位置时，可选择性地调整推进器104以使柱塞106朝向DUT 220延伸(闭合柱塞106和盖102之间的间隙)并且因此将DUT 220牢固地推靠在DUT座172上，这可导致浮动嵌套162朝向接触引脚232(例如，如图2C所示)向下移动，从而确保DUT端子222和接触引脚232之间的低阻抗电连接。而且，当盖102处于关闭位置时，可选择性地调整推进器104以使柱塞106离开DUT 220回缩。

如上所述，盖102可包括对准特征116，该对准特征116被配置为便于将盖102与保持器130和/或引脚组件180精确地对准。在图1A至图2B中，所示对准特征116是以销116的形式，该销116被配置为与保持器安装件132中的对准特征140和/或引脚组件180的外部框架182中的对准特征188配对。盖102还可包括被配置为将插座100固定到测试板202的特征。在图1A至图2B所示的示例中，盖102包括通孔(亦称为通道)112，该通孔112对应于保持器130中的类似通孔134和186以及测试板202中的引脚组件180和附接孔208。在前述示例中，完全装配好的插座100可通过穿过通孔112、通孔134、和通孔186的螺栓212附接到测试板202并且固定到(例如，通过拧入)如图所示的孔208。当盖102、保持器130和引脚组件180以前述方式或本文提到的任何替代方式彼此附接时，插座100可被视为完全装配。

如前所述，当盖102、保持器130和引脚组件180彼此附接以形成完全装配好的插座100时，盖102的对应的对准特征116、保持器130的对应的对准特征140和引脚组件180的对准特征188可将盖102、保持器130和引脚组件180精确地彼此对准。另外，引脚组件180的对应的对准特征196和测试板202的对应的对准特征206可将完全装配好的插座100与测试板202精确地对准。

如前所述，保持器130的挠曲件156可以以各种方式实现。图3A和图3B例示了实现挠曲件156的一种方式的非限制性示例。图3A和图3B示出包括保持器安装件132和设置于腔152中的嵌套的DUT保持结构350的保持器330。保持器330可为图1A至图2B的保持器130的示例配置，并且因此可替换图1A至图2B中的任一项中的保持器130。

保持器安装件132和腔152可以与图1A至图2B中的保持器130的类似命名和编号的元件相同。然而，嵌套的DUT保持结构350可包括多个区域354、360、364(所示为三个，但是可存在更多个或更少个)，这些区域由多个穿过狭槽356、358(图中示出了四个，但是可存在更多个或更少个)分开。穿过狭槽356、358可为穿过嵌套的保持结构350的底座352延伸的细长狭槽。

图3A和图3B中所示的嵌套DUT保持器结构350的示例被示出为具有一组外部穿过狭槽356和一组内部穿过狭槽358，其限定底座352的外部区域354、中间区域360和内部区域364。如图4A所示，外部区域354(图4A中用黑色突出显示了该外部区域354)是外部狭槽356和保持器安装件132之间的底座352的区域。如图4B所示，中间区域360(图4B中用黑色突出显示该中间区域360)是内部狭槽358和外部狭槽356之间的底座352的区域。图4C示出成为座腔166和内部狭槽358之间的底座352的区域的内部区域364(图4C中用黑色突出显示了该内部区域364)。

外部狭槽356可允许中间区域360相对于外部区域354上下移动(在图3B所示的取向上)，并且内部狭槽358可允许内部区域364相对于中间区域360上下移动，并因此允许座腔166相对于中间区域360上下移动(在图3B所示的取向上)。因此，狭槽356、狭槽358和中间区域360及内部区域364的组合允许座腔166相对于外部区域354上下移动(在图3B所示的取向上)。外部区域354可因此为图1A至图2B中的固定框架154的示例。同样，内部区域364可为图1A至图2B中的外部结构164的示例，并且外部狭槽356、中间区域360和内部狭槽358的组合可为图1A至图2B中的挠曲件156的示例。中间区域360可为挠曲元件的示例，并且挠曲件156可被描述为包括此类挠曲元件。内部区域364和座腔166可因此为图1B至图2B的浮动嵌套162的示例。

在图3A至图4C所示的示例中，内部狭槽358可包括被设置为部分地环绕座腔166的一对狭槽，其中所述一对狭槽中的每个狭槽可为另一个的镜像，并且所述一对狭槽中的每个狭槽可包括基本上平行于所述一对狭槽中的另一个狭槽的对应的细长部分的细长部分。外部狭槽356类似地可包括设置为部分地环绕内部狭槽358的一对狭槽，其中在所述一对外部狭槽356中的每个狭槽可为另一个的镜像，并且所述一对外部狭槽356中的每个狭槽还可包括基本上平行于所述一对狭槽中的另一个狭槽的对应的细长部分的细长部分。如图所示，内部狭槽可为这样的第一组狭槽的示例，其被设置为比外部区域354更靠近包括内部区域364和座腔166的浮动嵌套，并且外部狭槽可为这样的第二组狭槽的示例，其被设置为比前述嵌套更靠近外部区域354。

前述的(其可导致内部区域364、内部狭槽358、中间区域360、外部狭槽356和外部区域354同心地环绕如图3A至图4C所示的座腔166)只是示例。可存在不同数量的狭槽356、狭槽358，该狭槽356、狭槽358可具有不同的形状，并且可以以不同图案设置以限定不同于图3A至图4C所示的外部区域354、中间区域360和内部区域364的区域。

如上所述，保持器130并且因此此保持器330也可完全或基本上仅由(一种或多种)材料的单个整体件，诸如上面所讨论的组成。保持器330可通过从此类材料(例如，包括上述材料的示例中的任一项的电绝缘材料)的块开始以及将图3A和图3B所示的保持器330的通道、孔、腔等等中的所有加工成块制备而成。因此，例如，对准特征(例如，对准特征140)、狭槽(例如，狭槽356、狭槽358)和座腔(例如，包括穿过通道174的座腔166)可通过对同一块材料进行加工而形成，并且可以像加工设备所允许的那样精确定位。

图5例示了具有被配置为保持多个DUT的嵌套保持结构的保持器530的示例。如图所示，保持器530可包括保持器安装件532和设置于腔552中的多DUT保持结构550。保持器安装件532通常可与图1A至图2B的保持器安装件132相同或类似，并且可包括通常类似于上面所讨论的保持器130的孔、通道和/或特征的各种孔(未标记)和/或其他特征(未示出)。

多DUT保持结构550通常可类似于图1A至图2B的保持结构150或图3A至图4C的保持结构350，但是可被配置为保持多个DUT 220。如图所示，多DUT保持结构550可包括固定框架554、浮动多嵌套结构562和将浮动多嵌套结构562可移动地连接到固定框架554的挠曲件555。固定框架554可与图1A至图2B中的固定框架154或图3A至图4C中的外部区域354相同或类似。虽然被示出为包括外部穿过狭槽556、中间区域560(例如，挠曲元件的示例)和内部穿过狭槽558(其通常可类似于如上面所讨论的穿过狭槽356、穿过狭槽358)，但是挠曲件555也能以任何上面提及的相对于挠曲件156而言的方式进行配置。浮动多嵌套结构562可类似于浮动嵌套162或浮动嵌套362(参见图1A至图4C)，不同的是浮动多嵌套结构562可包括多个座腔566，多个座腔566中的每个可与如上面讨论的座腔166相同或类似。在图5所示的示例中，狭槽556可为这样的第一组穿过狭槽的示例，其被设置为比浮动多嵌套结构562更靠近保持器安装件532，并且狭槽558可为这样的第一组穿过狭槽的示例，其被设置为比保持器安装件532更靠近浮动多嵌套结构562。

图6A和图6B例示了多DUT插座600的示例，保持器530可为多DUT插座600的一部分。如图所示，插座600可包括盖602，该盖602可包括推进器604。盖602可类似于上面讨论的盖102，并且推进器604同样可类似于上面讨论的推进器104，不同的是推进器604可包括用于浮动多嵌套结构562中的每个座腔566的柱塞606。插座600还可包括引脚组件680，该引脚组件680可类似于上面讨论的引脚组件180。保持器530可附接到盖502和引脚组件680(例如，通过可将保持器130或保持器330附接到盖102或引脚180的上述任何方式)。如图6B中最佳可见，可将DUT 220放置到座腔566中的每个中并同时进行测试。替代地，可测试座腔566中的DUT220的子集，并且然后可切换插座600以测试DUT222的另一个子集，可重复这一过程直到已测试座腔566中的DUT 220中的所有为止。

图7A至图7D示出了图1A至图2C的插座100的示例性实施方式700的详细情况，其中包括图3A至图4C的保持器330来代替保持器130。图7A至图7D中的元件例示了图1A至图4C中的类似编号的元件的非限制性示例。图7A至图7D所示的详细情况仅为示例，并且不旨在将权利要求限制为测试插座700的特定实施例或配置或其组成元件。

虽然在本说明书中已经描述了发明的具体的实施例和应用，但是这些实施例和应用仅为示例，并且许多变型都是可行的。

Claims (23)

1.一种测试插座，其被配置为保持被测装置(DUT)并且附接到测试板以及与所述测试板分离，所述测试板包括用于接触所述DUT的端子的细长接触件，所述测试插座包括保持器，所述保持器包括：

安装结构，所述安装结构包括附接特征，所述附加特征被配置为便于将所述插座附接到所述测试板以及将所述插座与所述测试板分离；

浮动嵌套，所述浮动嵌套包括座腔，所述座腔的尺寸和形状被设置为：当所述测试插座附接到所述测试板时，在所述DUT端子中的多个DUT端子与所述测试板的所述细长接触件中的对应的多个细长接触件接触的情况下，接收和保持所述DUT；以及

挠曲件，所述挠曲件横向地设置在所述安装结构和所述浮动嵌套之间，并且允许所述浮动嵌套相对于所述安装结构移动。

2.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述挠曲件包括多个挠曲元件。

3.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述安装结构、所述浮动嵌套和所述挠曲件为材料的单个整体件的一部分。

4.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述材料为陶瓷填充的塑料。

5.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述材料包括涂覆有电绝缘膜的金属基体。

6.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述材料为电绝缘体。

7.根据权利要求3所述的测试插座，其中：

所述座腔包括被配置为支承所述DUT的座，并且

所述座包括通孔，所述通孔的尺寸和布置图案被设置为：在所述通孔的第一端部处将所述DUT的所述端子接收到所述通孔中。

8.根据权利要求7所述的测试插座，进一步包括盖，所述盖在打开位置和关闭位置移动，在打开位置，从能够将所述DUT自由地放置到所述座腔中和从所述座腔移除，在关闭位置，所述盖附接到所述保持器并且将所述DUT抵靠所述DUT座固定在所述座腔中。

9.根据权利要求8所述的测试插座，其中所述盖包括可调整推进器，所述可调整推进器被配置为当所述盖处于所述关闭位置时，施加可调整水平的力来将所述DUT压靠在所述DUT座上。

10.根据权利要求8所述的测试插座，其中：

所述盖包括盖对准特征，并且

所述保持器包括保持器对准特征，所述保持器对准特征被配置为当所述盖处于所述关闭位置时与所述盖对准特征配对。

11.根据权利要求10所述的测试插座，其中所述保持器对准特征为材料的所述单个整体件中形成的整体特征。

12.根据权利要求8所述的测试插座，进一步包括联接到所述保持器的引脚组件，其中所述引脚组件包括对应于所述座中的所述通孔的通孔。

13.根据权利要求12所述的测试插座，其中所述引脚组件包括引脚组件对准特征，所述引脚组件对准特征被配置为与所述盖对准特征配对，使得当所述盖对准特征与所述保持器对准特征和所述引脚组件对准特征配对时，所述引脚组件中的所述通孔和所述座中的所述通孔充分对准，以便使所述测试板的所述接触结构穿过所述引脚组件中的所述通孔延伸并延伸到所述座中的所述通孔中，在那里所述接触结构接触设置于所述座腔中的所述DUT的所述端子，

14.根据权利要求7所述的测试插座，其中所述座中的所述通孔的尺寸和布置图案还被设置为：当所述测试插座附接到所述测试板时，在与所述第一端部相对的所述通孔的第二端部处接收所述测试板的所述接触件中的对应的接触件。

15.根据权利要求14所述的测试插座，其中所述座腔包括：

锥形侧壁，所述锥形侧壁从所述座腔中的上部开口向所述座腔内的中间开口逐渐减小，

从所述座腔中的所述中间开口到所述DUT座的基本上垂直的侧壁，并且

其中所述上部开口比所述中间开口大。

16.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述挠曲件包括材料的所述整体件的区域，其位于所述保持器中的穿过狭槽之间，而所述穿过狭槽位于所述浮动嵌套和所述安装结构之间。

17.根据权利要求16所述的测试插座，其中所述穿过狭槽包括：

第一组穿过狭槽，所述第一组穿过狭槽被设置为：与靠近所述安装结构相比，更靠近所述浮动嵌套，以及

第二组穿过狭槽，所述第二组穿过狭槽被设置为：与靠近所述浮动嵌套相比，更靠近所述安装结构。

18.根据权利要求17所述的测试插座，其中所述第一组穿过狭槽包括：

所述穿过狭槽的第一个，其包括沿所述座腔中的第一侧延伸的细长部分，以及

所述穿过狭槽的第二个，其包括沿所述座腔中的第二侧延伸的细长部分，

其中所述穿过狭槽的所述第一个和所述第二个的所述细长部分是基本上平行的。

19.根据权利要求18所述的测试插座，其中第二组穿过狭槽包括：

所述穿过狭槽的第三个，其包括沿所述座腔中的第三侧延伸的细长部分，以及

所述穿过狭槽的第四个，其包括沿所述座腔中的第四侧延伸的细长部分，

其中所述穿过狭槽的所述第三个和所述第四个的所述细长部分基本上是彼此平行的，并且基本上垂直于所述穿过狭槽的所述第一个。

20.根据权利要求16所述的测试插座，其中所述浮动嵌套包括多个所述DUT腔，所述多个所述DUT腔各自的尺寸和形状被设置为能接收DUT。

21.根据权利要求20所述的测试插座，其中所述穿过狭槽包括：

第一组穿过狭槽，所述第一组穿过狭槽被设置为：与靠近所述安装结构相比，更靠近所述浮动嵌套，以及

第二组穿过狭槽，所述第二组穿过狭槽被设置为：与靠近所述浮动嵌套相比，更靠近所述安装结构。

22.根据权利要求21所述的测试插座，其中所述第一组穿过狭槽包括：

所述穿过狭槽的第一个，其包括沿所述多个所述DUT腔的第一侧延伸的细长部分，以及

所述穿过狭槽的第二个，其包括沿所述多个所述DUT腔的第二侧延伸的细长部分，

其中所述穿过狭槽的所述第一个和所述第二个的所述细长部分是基本上平行的。

23.根据权利要求22所述的测试插座，其中所述第二组穿过狭槽包括：

所述穿过狭槽的第三个，其包括基本上垂直于所述穿过狭槽的所述第一个的所述细长部分的细长部分，以及

所述穿过狭槽的第四个，其包括基本上平行于所述穿过狭槽的所述第三个的所述细长部分的细长部分。