TW201439562A - 檢測裝置及檢測方法 - Google Patents
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Abstract
本發明係揭露一種對複數個配線同時進行交流訊號的施加和電流訊號的測定,由此可以高速檢測觸控面板位置偵測功能的檢測裝置及檢測方法。其中檢測裝置包括:電源設備,包含供應交流訊號的第一供應部和第二供應部;連接設備,將所希望的y軸配線電連接於第一供應部或第二供應部;電流偵測設備,具備複數個電流偵測部;評價設備,將來自電流偵測部的偵測值作為基礎執行配線的評價;控制設備,藉由控制各設備執行顯示配線的檢測,其中,控制設備催促控制以便連接於第一供應部的y軸配線的個數和連接於第二供應部的y軸配線的個數保持一定。
Description
本發明是有關於一種藉由偵測觸控面板的電氣特性來檢測觸控面板的檢測裝置,更具體地說,本發明是有關於一種對複數個配線同時進行交流訊號的施加和電流訊號的測定,由此可以高速檢測觸控面板位置偵測功能的檢測裝置及檢測方法。
而且,本發明對如觸控面板,具有沿x軸方向及y軸方向以矩陣形狀排列之配線(或圖形)的檢測對象物能適當地進行檢測,在本說明書對這種檢測對象物總稱為「觸控面板」。
以往,具有在稱為觸控面板(或是,觸控螢幕或觸控畫面)的ITO膜上形成的沿x軸方向及y軸方向形成的以矩陣形狀配置的配線的檢測對象物,在沿x軸方向及y軸方向配置的各配線分別接觸上接觸端子(針形狀的導通探針),從而實施各配線的導通以及相鄰配線之間的短路檢測。
然而,如此將接觸端子接觸各配線進行檢測的方法,因ITO膜上形成的配線和接觸端子沒有穩定性,具有從基於氧化膜的接觸電阻的不穩定性中無法正確測定電氣特性的問題。另外,由於接觸端子壓接於形成觸控面板顯示部位的顯示配線,因此具有在顯示配線上形成因接觸端子的接觸所致打痕的問題。
另一方面,如專利文獻1揭示,提出了一種在組裝的觸控面板上,能夠以良好的精度執行特定觸控輸入位置的偵測,並能正確地檢測觸控面板整體的電阻值等電氣特性的檢測技術。即揭示了一種用於檢測所組裝觸控面板之功能的電氣特性的技術。
而且,除了專利文獻1揭示的技術以外,因觸控面板是如上所述由x軸配線和y軸配線交叉配置,所以將接觸端子接觸在該x軸配線和y軸配線的交叉點之處,從x軸配線和y軸配線供應各個檢測訊號,再由接觸端子的偵測訊號判定x軸配線和y軸配線的良好與不良。
然而,在這種檢測方法,需要進行x軸配線總數和y軸配線總數相乘值次數的檢測,因此具有檢測時間變長的問題。
最近,提高生產性的需求越來越高,因此有必要縮短檢測所需的時間而短時間內完成檢測。而且,尤其是最近觸控面板用作為多點觸控的輸入設備,因此對於面板整體是否具有正確的位置偵測功能,在短時間內進行評價的要求日趨變高。
【現有技術文獻】
【專利文獻】
日本專利公開第2005-274225號公報
【專利文獻】
日本專利公開第2005-274225號公報
本發明是鑒於這種情況而完成,關於對複數個配線同時進行交流訊號的施加和電流訊號的測定,由此可以高速檢測觸控面板位置偵測功能的檢測裝置及檢測方法。
根據一實施形態的本發明,提供了一種檢測裝置,對複數個x軸配線的x軸顯示配線和複數個y軸配線的y軸顯示配線直交配置的檢測物的顯示配線進行檢測,檢測裝置包括:電源設備,包含供應具有所定的電壓之交流訊號的第一供應部以及供應具有該所定的電壓並且與該交流訊號相位差為180度的交流訊號的第二供應部;連接設備,從複數個y軸配線中將所希望的y軸配線電連接於電源設備的第一供應部或第二供應部或者第一供應部與第二供應部中的某一個;電流偵測設備,具備與複數個x軸配線分別電連接的複數個電流偵測部;評價設備,將來自電流偵測設備的電流偵測部的偵測值作為基礎執行配線的評價;以及控制設備,藉由控制電源設備、連接設備、電流偵測設備和評價設備,執行顯示配線的檢測,其中,控制設備在連接設備執行的電源設備與y軸配線的連接中,催促控制以便連接於第一供應部的y軸配線的個數和連接於第二供應部的y軸配線的個數保持一定。
根據一個實施例,控制設備對連接設備的控制是對所有的y軸配線依序執行。
根據一個實施例,連接於第一供應部的y軸配線和連接於第二供應部的y軸配線之配置是以特定的順序設定。
根據一個實施例,所述配置是連續並置(concatenation)連接於第一供應部或第二供應部的y軸配線為3個或2個的配置。
根據一個實施例,所述配置是連接於第二供應部或第一供應部的1個y軸配線夾入至連接於第一供應部或第二供應部的y軸配線的配置。
根據一個實施例,連接於第一供應部的y軸配線和連接於第二供應部的y軸配線的個數相同。
根據一個實施例,電源設備包含電壓值為零的第三供應部,連接設備將第三供應部連接於所希望的y軸配線。
根據一個實施例,評價設備將來自電流偵測部的偵測值作為基礎計算檢測物的平面度,由此執行檢測物的評價。
根據另一實施形態的本發明,提供了一種檢測方法,對複數個x軸配線的x軸顯示配線和複數個y軸配線的y軸顯示配線直交配置的檢測物的顯示配線進行檢測,檢測方法包括:供應交流訊號的步驟,向所定的y軸配線供應第一交流訊號,同時向另外所定的y軸配線供應與第一交流訊號大小相同且相位差為180度的第二交流訊號;偵測電訊號的步驟,從複數個x軸配線分別偵測來自各x軸配線的電訊號;以及執行評價的步驟,反覆執行供應交流訊號的步驟和偵測電訊號的步驟,並收集複數個電訊號,將這些電訊號作為基礎評價顯示配線,其中,在供應交流訊號的步驟,藉由控制使得供應第一交流訊號的y軸配線的個數和供應第二交流訊號的y軸配線的個數保持一定。
根據本發明,將大小相同且相位差為180度的2個交流訊號由第一供應部和第二供應部向y軸配線供應,同時將連接於該第一供應部和第二供應部的y軸配線的個數保持一定,進而執行顯示配線的檢測,因此在一定的輸出下進行對顯示配線的動作檢測,由此將檢測物的顯示配線的特性作為基礎進行檢測。據此,可以高速檢測觸控面板的位置偵測功能。
由於連接設備對所有y軸配線依序進行,因此對觸控面板的整個顯示配線可以有效地進行檢測。
由於連接於第一供應部的y軸配線和連接於第二供應部的y軸配線的配置以特定的順序設定,因此可以根據供應的交流訊號設定檢測狀態進行檢測。
由於第一供應部和第二供應部的配置至少使連接於第一供應部或第二供應部的y軸配線連續並置3個或2個,因此當並置3個時,中間的y軸配線可與兩側的y軸配線等電位進行檢測,當並置2個時,可以設定y軸配線的一側y軸配線為等電位,另一側的y軸配線為非等電位的檢測條件。
為使夾入在連接於第一供應部或第二供應部的y軸配線之間,配置連接於第二供應部或第一供應部的y軸配線,因此可以確認來自其他供應部的交流訊號的影響。
由於連接於第一供應部的y軸配線和連接於第二供應部的y軸配線是相同個數,因此可以將供應給觸控面板的交流訊號的輸出為零進行檢測。
由於電源設備利用電壓值為零的第三供應部供應給y軸配線,因此可以設定沒有施加電壓的y軸配線進行檢測。
由於評價設備以電流偵測部的偵測值作為基礎能計算出平面度,因此從平面度可以把握突出的位置訊息,並可以根據其位置訊息特定觸控面板的不良部位。
1...檢測裝置
2...電源設備
21...第一供應部
22...第二供應部
3...連接設備
31...接觸端子
32...切換部
4...電流偵測設備
41...電流偵測部
5...評價設備
6...控制設備
P1、P2...觸控區
S1~S12...步驟
TP...觸控面板
X1~Xe...Line
xw1~xw8...x軸配線
xP...x軸顯示配線
Xt...x軸抽頭配線
xw...x軸配線
yw1~yw12...y軸配線
yP...y軸顯示配線
yT...y軸抽頭配線
yw...y軸配線
Y1~Y8...Line
T...抽頭配線部
第1圖是表示作為本發明之檢測對象的觸控面板的一實施形態之概略平面圖。
第2圖是表示本發明之檢測裝置的概略構成之示意圖。而且,在第2圖表示出的觸控面板TP上形成有5個x軸配線和4個y軸配線。
第3A圖和第3B圖是根據本發明之檢測順序相關的第一實施例之第一示意圖及第二示意圖。
第4A圖和第4B圖是根據本發明之檢測順序相關的第二實施例之第一示意圖及第二示意圖。
第2圖是表示本發明之檢測裝置的概略構成之示意圖。而且,在第2圖表示出的觸控面板TP上形成有5個x軸配線和4個y軸配線。
第3A圖和第3B圖是根據本發明之檢測順序相關的第一實施例之第一示意圖及第二示意圖。
第4A圖和第4B圖是根據本發明之檢測順序相關的第二實施例之第一示意圖及第二示意圖。
對用於實施本發明的具體內容進行說明。
本發明之檢測裝置對於如觸控面板,具有沿x軸方向和y軸方向以矩陣形狀配置的複數個配線的基板或玻璃基板,可以提高檢測效率。
因此,首先對作為本發明之檢測裝置的檢測對象的觸控面板進行簡單的說明。
第1圖是表示出作為本發明之檢測對象的觸控面板的一實施形態之概略平面圖。對於第1圖的觸控面板TP而言,在玻璃基板上分別配置複數個向x軸方向配置的x軸配線和向y軸方向配置的y軸配線。在第1圖中,形成有14個(符號「Line:X1至Line:Xe」)x軸配線,並形成有8個(符號「Line:Y1至Line:Y8」)y軸配線。
由於觸控面板TP的x軸配線和y軸配線的配置使這些配線覆蓋螢幕幕上的觸控區(由P1和P2覆蓋的部分),如第1圖所示,1個x軸配線(及y軸配線)是由寬部和窄部重複形成,以覆蓋整個觸控區。由於如此形成,因此當使用觸控面板TP時,可以偵測出觸控點(接觸點)位於哪一個x軸配線和哪一個y軸配線之上。該觸控區是由x軸配線的x軸顯示配線xP和y軸配線的y軸顯示配線yP形成。
在第1圖的觸控面板TP中,x軸配線和y軸配線分別形成有14個和8個,但不特別限定於此,由觸控面板的製造者適當調整。而且,觸控面板TP的觸控區或後述的抽頭配線也由其製造者適當調整而形成,寬部和窄部的長度或大小也由觸控面板的製造者適當調整。
這些x軸配線和y軸配線在其一端分別形成x軸抽頭配線xT和y軸抽頭配線yT(抽頭配線部T),並分別延伸形成與其他電子部件的電連接部,以便能連接驅動器等電子部件。從平面上觀察時,抽頭配線部T形成在從觸控區隔離的地方,並能電連接。在第1圖的觸控面板TP中,向著紙面在右側形成各個(x軸配線和y軸配線)的抽頭配線部T。該抽頭配線部T可以並列形成在觸控區以外之地方的一處。x軸配線是由x軸顯示配線xP和x軸抽頭配線xT形成,y軸配線是由y軸顯示配線yP和y軸抽頭配線yT形成。
本發明之檢測裝置1包含電源設備2、連接設備3、電流偵測設備4、評價設備5和控制設備6。第2圖表示出了本發明之檢測裝置1之概略構成示意圖。而且,在第2圖表示出的觸控面板TP形成有5個x軸配線xw1~xw5(以下簡稱為「xw」)和4個y軸配線yw1~yw4(以下簡稱為「yw」)。
電源設備2包含:供應具有所定的電壓之交流訊號的第一供應部21,以及供應具有該所定的電壓並且與該交流訊號相位差為180度的交流訊號的第二供應部22。第一供應部21和第二供應部22可以使用產生交流訊號的交流電源。由於第一供應部21和第二供應部22產生相位差為180度的交流訊號,因此合計輸出則為零。
例如,可以在2個交流電源之間接地,將2個交流電源串聯連接,藉由調整相位來設定第一供應部21和第二供應部22(參照第2圖)。該第一供應部21和第二供應部22供應的交流訊號,例如可以在頻率為10k至1000 kHz的範圍內,設定為具有有效值為1至10 V範圍的電壓值的交流訊號。
在電源設備2可以設置未圖示的第三供應部。該第三供應部設定為供應輸出為零的訊號。該第三供應部例如可以將第一供應部21和第二供應部22之間接地點的電位設定為供應訊號。
連接設備3從複數個y軸配線yw中選出所希望的y軸配線yw,並將選出的y軸配線yw與電源設備2的第一供應部21或第二供應部22電連接。該連接設備3與y軸配線yw的y軸抽頭配線yT連接,藉由y軸抽頭配線yT向y軸顯示配線yP供應檢測訊號。連接設備3例如可以利用連接於y軸抽頭配線yT的接觸端子31和電連接於電源設備2的第一供應部21和第二供應部22的切換部32。接觸端子31配置為與y軸抽頭配線yT的個數相同的數量。切換部32例如可以採用進行ON/OFF動作的開關元件。當電源設備2包含第一供應部21和第二供應部22時,設置分別與之連接的2個切換部32,當設定第一至第三供應部即三個供應部時,設置三個切換部32。藉由該切換部32的動作,y軸配線yw和電源設備2的任意一個供應部導通連接。
該連接設備3被控制使得與第一供應部21連接的y軸配線yw的個數和與第二供應部22連接的y軸配線yw的個數保持一定。連接設備3使連接於第一供應部21的y軸配線個數和連接於第二供應部22的y軸配線個數保持一定,由此向x軸配線xw供應的檢測訊號的輸出始終保持一定。
在連接設備3,雖然第一供應部21和第二供應部22分別連接的y軸配線yw的個數一定,但較佳地第一供應部21和第二供應部22的y軸配線yw是相同數量。此時,在x軸配線xw上,來自y軸配線yw的訊號的影響從結果上變為零,從而電流偵測部41從x軸配線xw所偵測的電流也變為零。另外,設定第三供應部時,因第三供應部供應的檢測訊號是零,所以藉由連接設備3向x軸配線xw供應的檢測訊號的輸出保持一定或者為零。
另外,連接設備3是由控制設備6控制,以便在如上所述的條件下動作。
另外,為使連接於第一供應部21的y軸配線yw和連接於第二供應部22的y軸配線yw以特定的順序配置,連接設備3亦可由後述的控制設備6控制。
例如,對於藉由連接設備3的配置而言,可以採用連續並置3個或2個連接於第一供應部21的y軸配線yw的配置。連接設備3被控制而具有三個連續的y軸配線yw連接於第一供應部21的組合。在三個連續連接於第一或第二供應部的y軸配線yw中,位於其中間的y軸配線yw是以與兩側的y軸配線yw等電位連接,因此電流偵測部41偵測在這種條件下的x軸配線xw的影響。
另外,連接設備3更可被控制而具有2個連續的y軸配線yw連接於第一供應部21的組合。另外,同理,連接設備3被控制而具有3個或2個連續的y軸配線yw連接於第二供應部22的組合。此時,連接於第一或第二供應部的一側y軸配線yw是與一側旁邊的y軸配線yw(連接於第一或第二供應部的另一側y軸配線yw)為等電位,但是與另一側旁邊的y軸配線yw為相異的電位,而電流偵測部41偵測在這種條件下的x軸配線xw的影響。
另外,連接設備3被控制而配置成為連接於第二供應部22或第一供應部21的1個y軸配線yw夾入連接於第一供應部21或第二供應部22的y軸配線yw。此時,夾入的y軸配線yw夾入於連接相異交流訊號的y軸配線yw,而電流偵測部41偵測在這種條件下的x軸配線xw的影響。
如上所述的連接設備3的配置,由控制設備6控制,並依序處理這些配置的組合,由此可以執行後述的觸控面板TP的評價。
電流偵測設備4包含分別電連接於複數個x軸配線xw的複數個電流偵測部41。該電流偵測設備4具備與作為檢測對象的觸控面板TP的x軸配線xw個數相同的電流偵測部41。電流偵測部41例如可以採用電流錶。各個電流偵測部41將偵測結果傳送給後述的評價設備5。該電流偵測部41是從電源設備2藉由連接設備3供應交流訊號給y軸配線yw所引起的影響由x軸配線xw接受後,將其影響以x軸配線xw的電流來偵測。
評價設備5是將電流偵測設備4的電流偵測部41的偵測值作為基礎,執行配線的評價。該評價設備5具有將電流偵測部41的偵測值訊息與y軸配線yw的訊息相關聯而記憶的記憶部(未顯示),並記憶電流偵測部41的偵測結果。評價設備5也一起記憶由電源設備2供應的檢測訊號的狀態訊息。此檢測訊號的狀態訊息是指,例如,與第一供應部21連接的y軸配線yw的訊息,或與第二供應部22連接的y軸配線yw的訊息,甚至是與第三供應部連接的y軸配線yw的訊息等,並可以把握第一至第三供應部分別供應的檢測訊號供應到哪一個y軸配線yw。
在本發明之檢測裝置1中,向x軸配線xw供應的電源設備2所供應的檢測訊號是所定輸出,由於反覆供應該所定輸出的檢測訊號,在配線形成良好的情況下,偵測值也保持一定。因此,評價設備5將收集的複數個偵測值作為基礎,測定非保持一定的偵測值,並特定其部位,由此可以偵測觸控面板TP的位置偵測功能的不良。
如上所述,評價設備5將來自電流偵測部41的偵測值作為基礎,計算出觸控面板TP的平面度,由此可以執行觸控面板TP配線(尤其是顯示配線)的評價。具體的,將來自電流偵測部41的偵測值作為基礎計算與平均值的相差或偏差,或從預先設定的基準值計算偵測值的差,由此計算各配線或x軸配線和y軸配線的各交點的輸出,將其計算結果繪製成平面度。此時,當觸控面板TP良好時,在各配線或各交點具有均勻的輸出,因此平面度會均勻。然而,在配線存在不良時,將偵測出受不良影響的輸出,因此平面度會粗糙。
另外,如上所述,評價設備5是以偵測值為基礎執行觸控面板TP的顯示配線的評價,但經可視化後,可以更簡易地執行觸控面板TP的評價。
控制設備6進行電源設備2、連接設備3、電流偵測設備4(電流偵測部41)或評價設備5的控制,並執行顯示配線的檢測。由於控制設備6對連接設備3的控制是對所有的y軸配線yw依序執行,因此該控制設備6可以對在觸控面板TP形成的所有顯示配線進行檢測。
對本發明之檢測裝置1執行的連接設備連接電源設備的動作進行說明。
在第3A圖和第3B圖中,作為電源設備2設置第一供應至第三供應部,為了方便起見,第一供應部21的交流訊號指定為(+),第二供應部22的交流訊號指定為(-),第三供應部的訊號指定為(0)。第3A圖是觸控面板TP之示意圖,表示出了8個x軸配線xw1~xw5和12個y軸配線yw1~yw12。在第3B圖表示出了使用第一供應部至第三供應部的檢測順序(步驟S1至步驟S12)。在第3A圖和第3B圖的檢測方法中,與電源設備2連接的y軸配線yw設定為6個,同時由該6個供應的交流訊號的合計輸出設定為零。
在此檢測方法中,第一供應部21的交流訊號(+)供應給2個y軸配線yw,第二供應部22的交流訊號(-)供應給2個y軸配線yw,第三供應部的交流訊號(0)供應給2個y軸配線yw。在步驟S1中,第一供應部21連接於y軸配線yw1和y軸配線yw2,第二供應部22連接於y軸配線yw3和y軸配線yw4,第三供應部連接於y軸配線yw5和y軸配線yw6。另外,如上所述,設置控制設備6使其傳送控制訊號以便連接設備3動作,並同時將來自連接於各x軸配線xw的電流偵測部41的偵測訊號傳送給評價設備5。
在下一個檢測程序(步驟S2),第一供應部21連接於y軸配線yw2和y軸配線yw3,第二供應部22連接於y軸配線yw4和y軸配線yw5,第三供應部連接於y軸配線yw6和y軸配線yw7。當執行此連接時,電流偵測部41偵測出各電訊號,並將偵測值傳送給評價設備5。
另外,在此檢測方法中,雖然交流訊號的順序是(+)(+)(-)(-)(0)(0),但如上所述只要交流訊號的合計為零,並不特別限定於此順序。
在步驟S2的檢測程序中,若偵測值傳送到評價設備5,則檢測程序就執行下一個步驟S3。在步驟S3中,第一供應部21連接於y軸配線yw3和y軸配線yw4,第二供應部22連接於y軸配線yw5和y軸配線yw6,第三供應部連接於y軸配線yw7和y軸配線yw8。在執行此連接時,電流偵測部41偵測出各電訊號,並將偵測值傳送給評價設備5。
同樣的處理,從步驟S4到步驟S12反覆執行,並從y軸配線yw1到y軸配線yw12執行反覆處理。
而且,從y軸配線yw1至y軸配線yw12由連接設備3執行切換,在其各檢測程序中的偵測值傳送到評價設備5,並基於這些偵測值執行評價。另外,此時,若觸控面板TP的位置偵測功能沒有問題,則因供應的檢測訊號的合計輸出是零,因此偵測出的電流偵測設備4的偵測值也保持一定的值(例如,零)。若位置偵測功能有問題,則獲得特殊偵測值的測定結果,並根據來自x軸配線和y軸配線的位置訊息特定其特殊部位。
對本發明之檢測裝置1執行的連接設備連接電源設備的其他動作進行說明。
在第4A圖和第4B圖中,作為電源設備2設置第一供應部至第二供應部,為了方便起見,第一供應部21的交流訊號指定為(+),第二供應部22的交流訊號指定為(-)。第4A圖是觸控面板TP之示意圖,表示出了8個x軸配線xw1~xw5和12個y軸配線yw1~yw12。在第4B圖表示出了使用第一供應部至第二供應部的檢測順序(步驟S1至步驟S12)。
在第4A圖和第4B圖的檢測方法中,與電源設備2連接的y軸配線yw設定為9個。而且,在此檢測方法中,與第一供應部21連接的y軸配線yw連續設定3個,與第二供應部22連接的y軸配線yw設定1個,與第一供應部21連接的y軸配線yw連續設定2個,與第二供應部22連接的y軸配線yw設定1個,與第一供應部21連接的y軸配線yw設定1個,與第二供應部22連接的y軸配線yw設定1個,將該順序作為一組執行。即,在此檢測方法中,交流訊號的順序設定為(+)(+)(+)(-)(+)(+)(-)(+)(-)。另外,如上所述,設置控制設備6使其傳送控制訊號以便連接設備3動作,並同時將來自連接於各x軸配線xw的電流偵測部41的偵測訊號傳送給評價設備5。
在下一個檢測程序(步驟S2),控制設備6控制連接設備3的動作,以便對y軸配線yw2至y軸配線yw10的y軸配線yw設定交流訊號的順序是(+)(+)(+)(-)(+)(+)(-)(+)(-)。在執行此連接時,電流偵測部41偵測出各電訊號,並將偵測值傳送給評價設備5。
在步驟S2的檢測程序中,若偵測值傳送到評價設備5,則檢測程序就執行下一個步驟S3。在步驟S3中,控制設備6也控制連接設備3的動作,以便對y軸配線yw3至y軸配線yw11設定交流訊號的順序是(+)(+)(+)(-)(+)(+)(-)(+)(-)。在執行此連接時,電流偵測部41偵測出各電訊號,並將偵測值傳送給評價設備5。
同樣的處理,從步驟S4到步驟S12反覆執行,並從y軸配線yw1到y軸配線yw12執行反覆處理。
而且,從y軸配線yw1至y軸配線yw12由連接設備3執行切換,在其各檢測程序中的偵測值傳送到評價設備5,並基於這些偵測值執行評價。另外,此時,若觸控面板TP的位置偵測功能沒有問題,則因供應的檢測訊號的合計輸出保持一定,因此偵測出的電流偵測設備4的偵測值也保持一定值。若位置偵測功能有問題,則獲得特殊偵測值的測定結果,並根據來自x軸配線和y軸配線的位置訊息特定其特殊部位。
以上是關於本發明之檢測裝置構成的說明。
接著,對本發明之檢測裝置的動作進行說明。
在本發明之檢測裝置1設置觸控面板TP時,分別在y軸配線yw導通連接連接設備3的接觸端子31,在x軸配線xw導通連接電流偵測設備4的電流偵測部41。此時,在控制設備6儲存檢測觸控面板TP所需的訊息。例如,儲存觸控面板TP的x/y軸配線的個數、位置訊息等,或是第一供應部21或第二供應部22供應的交流訊號的輸出訊息或連接順序等的檢測方法。
另外,觸控面板TP的x軸配線xw和y軸配線yw分別連接於電流偵測部41和連接設備3。如此完成觸控面板TP的檢測準備。完成檢測準備就開始檢測。
控制設備6傳送用於操作連接設備3的動作訊號。此時,為了執行所希望的檢測,將電源設備2的第一供應部21和第二供應部22根據所希望的組合分別連接於y軸配線yw1至yw4。另外,連接於電源設備2的組合是事先由檢測執行員設定(例如,參照第3A圖及第3B圖或第4A圖及第4B圖)。
控制設備6向連接設備3傳送控制訊號後,催促連接於x軸配線xw1至xw5的電流偵測部41動作,電流偵測部41測定電流且將偵測值傳送給評價設備5。接著,控制設備6向連接設備3傳送控制訊號以便執行下一個順序的檢測,同理,電流偵測部41將偵測值傳送給評價設備5。
該順序反覆到最後時,評價設備5將收集的偵測值作為基礎計算檢測對象觸控面板TP的平面度。根據此平面度評價觸控面板TP的位置偵測功能是否良好、是否存在不良點。尤其是,在本發明之檢測裝置或本發明之檢測方法,由於藉由一側配線個數的檢測順序能進行檢測,因此在現有的位置檢測方法中大約需要20秒檢測的,能以約2秒檢測,由此可以大幅縮短檢測時間。
1...檢測裝置
2...電源設備
21...第一供應部
22...第二供應部
3...連接設備
31...接觸端子
32...切換部
4...電流偵測設備
41...電流偵測部
5...評價設備
6...控制設備
xw1~xw5...x軸配線
xP...x軸顯示配線
Xt...x軸抽頭配線
xw...x軸配線
yw1~yw4...y軸配線
yP...y軸顯示配線
yT...y軸抽頭配線
yw...y軸配線
Claims (9)
- 一種檢測裝置,對複數個x軸配線的x軸顯示配線和複數個y軸配線的y軸顯示配線直交配置的檢測物的顯示配線進行檢測,該檢測裝置包括:
電源設備,包含供應具有所定的電壓之交流訊號的第一供應部以及供應具有該所定的電壓並且與該交流訊號相位差為180度的交流訊號的第二供應部;
連接設備,從該複數個y軸配線中將所希望的y軸配線電連接於該電源設備的第一供應部及第二供應部或者該第一供應部與該第二供應部中的某一個;
電流偵測設備,具備與該複數個x軸配線分別電連接的複數個電流偵測部;
評價設備,將來自該電流偵測設備的該電流偵測部的偵測值作為基礎執行配線的評價;以及
控制設備,藉由控制該電源設備、該連接設備、該電流偵測設備和該評價設備,執行該顯示配線的檢測;
其中,該控制設備在該連接設備執行的該電源設備與該y軸配線的連接中,催促控制以便連接於該第一供應部的該y軸配線的個數和連接於該第二供應部的該y軸配線的個數保持一定。 - 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中該控制設備對該連接設備的控制是對所有的該y軸配線依序執行。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中連接於該第一供應部的y軸配線和連接於該第二供應部的y軸配線之配置是以特定的順序設定。
- 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置,其中該配置是連續並置連接於該第一供應部或該第二供應部的該y軸配線為3個或2個的配置。
- 如申請專利範圍第3或4項所述之檢測裝置,其中該配置是連接於該第二供應部或該第一供應部的1個該y軸配線夾入至連接於該第一供應部或該第二供應部的該y軸配線的配置。
- 如申請專利範圍第1或2項所述之檢測裝置,其中連接於該第一供應部的該y軸配線和連接於該第二供應部的該y軸配線的個數相同。
- 如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置,其中該電源設備包含電壓值為零的第三供應部,該連接設備將該第三供應部連接於所希望的該y軸配線。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中該評價設備將來自該電流偵測部的偵測值作為基礎計算該檢測物的平面度,由此執行該檢測物的評價。
- 一種檢測方法,對複數個x軸配線的x軸顯示配線和複數個y軸配線的y軸顯示配線直交配置的檢測物的顯示配線進行檢測,該檢測方法包括:
供應交流訊號的步驟,向所定的y軸配線供應第一交流訊號,同時向另外所定的y軸配線供應與該第一交流訊號大小相同且相位差為180度的第二交流訊號;
偵測電訊號的步驟,從複數個x軸配線分別偵測來自各x軸配線的電訊號;以及
執行評價的步驟,反覆執行該供應交流訊號的步驟和該偵測電訊號的步驟,並收集複數個該電訊號,將該電訊號作為基礎評價該顯示配線;
其中,在該供應交流訊號的步驟,藉由控制使得供應第一交流訊號的y軸配線的個數和供應第二交流訊號的y軸配線的個數保持一定。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013081280A JP2014202702A (ja) | 2013-04-09 | 2013-04-09 | 検査装置及び検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201439562A true TW201439562A (zh) | 2014-10-16 |
TWI489123B TWI489123B (zh) | 2015-06-21 |
Family
ID=51689260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW103113111A TWI489123B (zh) | 2013-04-09 | 2014-04-09 | 檢測裝置及檢測方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014202702A (zh) |
TW (1) | TWI489123B (zh) |
WO (1) | WO2014167839A1 (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6569506B2 (ja) * | 2015-02-09 | 2019-09-04 | 日本電産リード株式会社 | 接続検査装置 |
CN106066237A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-11-02 | 广州市祈丰机电科技有限公司 | 触摸屏检修工艺流程 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3608148A1 (de) * | 1986-03-12 | 1987-09-24 | Schwab Technologieberatung | Anordnung zum ueberwachen und anzeigen von schachpartien |
JP3359732B2 (ja) * | 1994-03-29 | 2002-12-24 | 大日本印刷株式会社 | 線状電極の欠陥検出方法および欠陥検出装置 |
US7151432B2 (en) * | 2001-09-19 | 2006-12-19 | Immersion Corporation | Circuit and method for a switch matrix and switch sensing |
CN101467119B (zh) * | 2006-06-09 | 2013-02-13 | 苹果公司 | 触摸屏液晶显示器 |
JP4634353B2 (ja) * | 2006-09-20 | 2011-02-16 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 回路パターン検査装置 |
JP5533169B2 (ja) * | 2010-04-13 | 2014-06-25 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
-
2013
- 2013-04-09 JP JP2013081280A patent/JP2014202702A/ja active Pending
-
2014
- 2014-04-08 WO PCT/JP2014/002006 patent/WO2014167839A1/en active Application Filing
- 2014-04-09 TW TW103113111A patent/TWI489123B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI489123B (zh) | 2015-06-21 |
WO2014167839A1 (en) | 2014-10-16 |
JP2014202702A (ja) | 2014-10-27 |
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