JP2007286004A - 基板検査装置及び基板検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一つの配線パターンに物理的に非接触で配置され、該配線パターンに印加される信号を検出する信号検出手段2と、配線パターンの一端部にて物理的に非接触で配置される第一電極部と、配線パターンの他端部にて物理的に非接触で配置される第二電極部と、第一配線パターンの第一基部と物理的に接触して配置される第三電極部と、第二配線パターンの第二基部と物理的に接触して配置される第四電極部と、各電極部に所定周期を有する基準信号を供給する給電手段41〜45と、信号検出手段2により検出される検出信号の位相を算出する検査信号算出手段3と、検査信号算出手段3が算出した検出信号の位相を基に配線パターンの導通を判断する導通検査部61と配線パターンの短絡を判断する短絡検査部62で構成する。
【選択図】図2
Description
この装置では、給電プローブに1MHzの正弦波検査信号を印加し、検出プローブに生じた電圧を検出し、この検出された電圧の位相に基づき配線の良否判定を行うものである。このような装置により、配線と検査用プローブとの間における距離変化の影響を少なくすることができ、上記問題を解決することが可能であった。
このため、微細化が進んだ基板であっても正確に配線パターンの導通や短絡等の検査を行うことができる基板検査装置が必要とされていた。
また、この特許文献2に記載される基板検査装置では、配線パターンの導通と、配線パターン間の短絡を夫々別の検査電極を設けることによって、別の検査工程で検出するため、必要な検査時間が長くなったり、複雑な構成を必要とする問題点を有していた。
を有することを特徴とする請求項1記載の基板検査装置を提供する。
これらの発明を提供することによって、上記課題を悉く解決する。
このため、正確なで且つ迅速な検査を行うことができるとともに、第一乃至第四電極部の組み合わせにより導通及び短絡検査のための検出信号(検査信号)を検出することができる。
このため、本基板検査装置は、正確な検査を行うことができる。
このため、正確で且つ迅速な検査を行うことができるとともに、第一乃至第四電極部の組み合わせにより導通及び短絡検査のための検出信号(検査信号)を検出することができる。
まず、本発明で検査対象となる基板の構成の一例について説明する。
図1は、本発明の基板検査装置で検査対象となる被検査基板の概略平面図である。
この図1で示される基板は、例えば、プラズマディスプレイパネルの前面板として用いられるガラス基板である。
この基板が有する配線パターン8は、第一配線パターン81、第二配線パターン82、第三配線パターン83が複数形成されている。
この第一配線パターン81は、第一線状部811と第一基部812を有している。第一線状部811は直線に形成される。この第一線状部811は、銀等で作成されるプラズマディスプレイのバス電極に相当する。この第一線状部811の一方の側には、ITO(Indium Tin Oxide)等により形成される第一透明電極813が形成されている。
第一基部812は、第一線状部811の一端から延設して形成されており、所謂、TAB(Tape Automated Bonding)として機能する。
第二基部822は、第一基部812と同様、第二線状部821の一端から延設して形成されており、所謂、TAB(Tape Automated Bonding)として機能する。
この第二基部822は、図1で示される如く、第一基部812が配置される側部と反対側(図面の右側)に延設される。このため、第一配線パターン81と第二配線パターン82は、第一線状部811(又は第一透明電極813)と第二線状部821(又は第二透明電極823)が互いに向き合って平行に配置される。
また、第一透明電極813と第二透明電極823は、夫々向き合うように第一線状部811と第二線状部821の内側に配置されて一組の透明電極対として形成される。
尚、図1では、第一配線パターン81の第一基部812が紙面左側に配置され、第二配線パターン82の第二基部822が紙面右側に配置されている。
この第三配線パターン83は、第一及び第二配線パターンと異なり、物理的に独立して形成されており、基板表面上の他の配線パターンに物理的に接続していない。
この第三配線パターン83は、一組の透明電極部を仕切る位置に配置されており、図1では、斜線で示されるとともに5つの透明電極部を4本の第三配線パターン83で仕切っている。
配線パターン8は、上記の如く、第一乃至第三配線パターン81,82,83が複数並設されて形成されている。
図2は、本発明に係る一実施形態の基板検査装置と基板との関係を示す概略ブロック図であり、図3は、基板とこの基板に配置された基板検査装置と信号の送受信を示す概略図であり、図4は、図3で示された基板と基板検査装置の電気的な位置関係を示す概略図である。この図4では配線パターンを斜線で示している。図4では、符号100はガラス基板を示し、符号11は基板検査装置1が有する基板を載置するための載置台を示している。
本発明に係る一実施形態の基板検査装置1は、信号検出手段2、検査信号算出手段3、給電手段4、電極部5、制御手段6、表示手段7を有している。
本発明の基本原理は、検査対象となる配線パターンに導通検査のための信号と短絡検査のための交流信号を印加し、配線パターンから検出された信号を基に、印加した信号との位相の変化を算出(検波)することにより、配線パターンの導通及び短絡を判断するものである。
尚、添付の図面では、説明のため配線パターンを必要最小限の配線パターン数で示しているが、実際には多数の配線が形成され、それらの配線を順次選択して検査が行われることになる。また、本明細書で表現される検査対象の配線パターンとは、第一乃至第三配線パターンのいずれか一本の配線パターンを指し示している。特に導通検査の対象となる配線パターンは、上記の説明の第一線状部811、第二線状部821又は第三配線パターン83のいずれかの部分となる。
この信号検出手段2は、第一測定部21、第二測定部22、第一信号測定部23、第二信号測定部24、第三信号測定部25を有してなる。
この第一測定部21は、図4で示される如く、配線パターンの一端部に対して、所定間隔を持って、非接触で対向するよう配置される。このため、この第一測定部21は、配線パターンに対して静電容量C1を形成することになる。この静電容量C1を介して信号を信号測定部23へ伝達する。
尚、この所定間隔は、0.1〜0.5mmに設定されることが望ましい。この所定間隔は、第一測定部21が一つの配線パターンと静電容量C1を形成しなければならないため、前記範囲に設定されることが望ましい。尚、配線パターンからの電界は、配線パターンから約30度の広がりを有して拡散されているので、第一測定部21が隣接する配線パターンの電界の影響を受けない所定間隔(高さ)を有する必要がある。
第二測定部22は、図4で示される如く、配線パターンの他端部において、所定間隔を有することにより、非接触で配置される。このため、この第二測定部22は、第一測定部21と同様、配線パターンに対して静電容量C2を形成することになる。この静電容量C2を介して信号を信号測定部23へ伝達する。
尚、この所定間隔は、第一測定部21と同様、0.1〜0.5mmに設定されることが望ましい。
この第二測定部22が配置される位置は、特に限定されず、第一測定部21のみを配置することもできるし、第一測定部21が配置される位置と反対側の位置に配置することもできる。
これら第一及び第二測定部21,22は、図3で示される如く、複数の配線パターンに略直交する(図3の矢印の方向)方向へ所定速度で移動する。
このため、第一及び第二測定部21,22は、所定間隔で配線パターンの信号を検出することができ、複数の配線パターンから連続して信号を検出することができる。
尚、第一測定部21及び第二測定部22が測定する信号の大きさを増幅するアンプを設けても構わない。
信号測定部23は、第一測定部21及び第二測定部22からの信号を検出する。この信号測定部23が検出した信号は、後述する検査信号算出手段3へ送信される。
第二信号測定部24及び第三信号測定部25は、基準電位を設定するために接地されており、夫々基準電位からの配線パターンの電位を測定することができる。
本説明では、便宜上3つの信号測定部を設けているが、配線パターンの電位を測定することができれば数は限定されない。
この位置決定部を有することにより、後述する導通及び/又は短絡検査を行った場合に、不良が検出された際にどの配線パターンから不良が検出されたかを特定することができるからである。
この位置決定部は、速度計や電流測定計を用いてx−yの移動距離を算出することにより上記機能を有することができるが、第一及び第二測定部21,22の位置を決定することができる機能であれば特に限定されない。
この第一電極部51が配線パターンに信号を供給する場合は、上記の如く、第一電極部51と配線パターンが所定間隔を有して配置されることになるので、配線パターンに対して静電容量を形成することになる。この静電容量を介して信号を印加する。
この所定間隔は、0.1〜0.5mmに設定される。
尚、図3では、並設された複数の配線パターン全てに対して、信号を印加することができるように並設方向に対して略直角方向に交差するように配置されている。
尚、この第一電極部51は図3に於いて一の部材から形成されているが、各給電手段に応じる数だけ設けても構わない。
尚、この第一電極部51が配線パターンに対して静電容量Caを形成することになる。
この第二電極部52は、第一給電手段41、第二給電手段42及び第四給電手段44からの信号を配線パターンに印加する。
尚、この第二電極部521が配線パターンに対して静電容量Cbを形成することになる。
これらの第三電極部53や第四電極部54は、図3で示される如く、全ての第一配線パターン81の第一基部812と、第二配線パターン82の第二基部822を夫々接続していることになる。
第三電極部53と第四電極部54は、第一基部812と第二基部822を夫々接続するため、対向位置に配置される。
この給電手段4は、上記第一乃至第四電極部51,52,53,54により、各第一乃至第五給電手段41乃至45の信号を供給する。
この給電手段4は、一つの電源を用いて選択される電極部間へ信号を供給するように配置してもよいが、複数の電源を用いることにより各電極間へ同時に信号を供給する。
図3に示される本実施形態では、給電手段4が、第一給電手段41、第二給電手段42、第三給電手段43、第四給電手段44及び第五給電手段45を備えてなる。
検査信号算出手段3は、信号受信部31と位相算出部32を有してなる。
この信号受信部31は、第一乃至第五給電手段41,42,43,44,45からの基準信号と信号検出手段2により検出された信号を受信する。
信号受信部31は、受信したこれらの信号を位相算出部32へ送信する。
これらの各位相算出部は、夫々の受信した信号を基に位相検波を行い、所定の部位の導通又は短絡の検査を行うための結果を得る。
第二位相算出部32bは、信号検出手段2の測定値から第二基準信号f2を基に、位相検波を行う。第二位相算出部32bのこの位相検波の結果(第二結果)を、制御手段6へ送信する。
第三位相算出部32cは、信号検出手段2の測定値から第一基準信号f3を基に、位相検波を行う。第三位相算出部32cのこの位相検波の結果(第三結果)を、制御手段6へ送信する。
第四位相算出部32dは、信号検出手段2の測定値から第二基準信号f4を基に、位相検波を行う。第四位相算出部32dのこの位相検波の結果(第四結果)を、制御手段6へ送信する。
第五位相算出部32eは、信号検出手段2の測定値から第一基準信号f5を基に、位相検波を行う。第五位相算出部32eのこの位相検波の結果(第五結果)を、制御手段6へ送信する。
これら各位相算出部は、検査対象の配線パターンに印加される基準信号を基に、測定値から位相検波を行うことにより、対象の配線パターンに印加されている信号レベルを把握することができる。
この制御手段6は、上記第一乃至第五結果を基に、配線パターンの導通検査を行う導通検査部61と、配線パターンの短絡検査を行う短絡検査部62を有している。
これらの導通検査部61と短絡検査部62の基本原理は、第一結果乃至第五結果を基に、配線パターンの位置を特定し、その特定された配線パターンが導通又は短絡していないかの確認を行う。
図6で示されるf1乃至f5は、第一基準信号f1乃至第五基準信号f5を基に、各位相算出部により算出された第一乃至第五結果を示している。
尚、本発明の導通検査部61と短絡検査部62は、第一結果乃至第五結果のいずれかの結果を用いて配線パターンの位置決めを行うかにより、その結果の用いられる方の順番が変更される。
導通検査部61は、第五結果により、配線パターンの位置を特定する。図6では、第五結果から所定値よりも高い場所(予め設定される閾値よりも高い場所。図6で示される丸印の場所)が、第一配線パターン81の場所となる。
次に、第一配線パターン81の位置が決定されると、第一結果を検証する。このとき、この特定される場所の値が、第一結果から所定値(予め設定される閾値)よりも低ければ導通していることと判断する。一方で、この特定の場所の第一結果の値が所定値よりも高い値であれば導通していない(不良)として判断する。
次に、第二配線パターン82の位置が決定されると、第三結果の状態を検証する。このとき、この特定される場所の値が、第三結果から所定値(予め設定される閾値)よりも低ければ導通していることと判断する。一方で、この特定の場所の第三結果の値が所定値よりも高い値であれば導通していない(不良)として判断する。
また、この場合、第五結果の二つの丸印の間に、第四結果の三角印が存在していることになり、第三配線パターンは短絡していないと判断する。
このとき、第二結果が所定値よりも小さい場合には、第三配線パターン83は導通していると判断する。
このように、第一結果乃至第二結果を基にして、第一配線パターン81乃至第三配線パターン83の導通と短絡を判断することができる。
また、上記する第一乃至第五結果を用いる手順は、一実施形態に過ぎない。
図7は、第一配線パターンが導通不良を起こしている場合を示す。
この場合、導通検査部61が、第五結果より、所定値よりも高い値を示す場所を、第一配線パターン81の位置(丸印)として決定し、その位置での第一結果を検証する。このとき、導通不良の第一配線パターン81は、第一結果が所定値よりも高い値となり、導通不良が発生していることが検出される。
この場合、導通検査部61が、第五結果より、所定値よりも低い値を示す場所を第二配線パターン82の位置(四角印)として決定し、その位置での第三結果を検証する。このとき、導通不良の第二配線パターン82は、第三結果が所定値よりも高い値となり、導通不良が発生していることが検出される。
この場合、導通検査部61が、第四結果より、第三配線パターン83の位置を特定し、その位置での第二結果を検証する。このとき、導通不良の第三配線パターン83は、第二結果が所定値よりも低い値となり、導通不良が発生していることが検出される。
この場合、短絡検査部62は、第五結果による二つの第一配線パターン81(又は第二配線パターン82)の間に2つの第三配線パターン83が存在することが検出される。このとき、第一配線パターン81と第二配線パターン82が短絡しているために、第五結果に信号が出力されていない状態があり、短絡が発生していることが検出される。
この場合、短絡検査部62は、第四結果と第五結果によって、2つの第一配線パターン81(又は第二配線パターン82)の間に第三配線パターン83の存在することを示す第四結果が表れていないことがわかる。このとき、第三配線パターンが短絡している状態であることが検出される。
尚、第三配線パターン83が、第一配線パターン81又は第二配線パターン82のいずれかと短絡していても、短絡を検出することができる。
第一配線パターン81と第二配線パターン82は、平行に配置されるとともに、第一配線パターン81が第三電極部53に物理的に接続され、第二配線パターン82が第四電極部54に物理的に接続されている。
信号検査手段2により測定された信号を、検査信号算出手段3に於いて、第五基準信号を基に、同位相検波した第一信号と90度位相検波した第二信号を算出する。図12には、同位相検波した第一信号(A)と90度位相検波した第二信号(B)を行った場合の信号出力の概略を示す。
この図12で示される如く、第一配線パターン81と第二配線パターン82に、導通不良及び短絡不良が存在していない場合には、略同じ波形の繰り返しが表示されていることになるが、図12中の(1)の箇所では、正常な第一信号と第二信号と比して、第一信号と第二信号ともに変化が発生している。これは、第一配線パターン81が導通不良を起こしていることが理解される。
また、図12中の(2)や(3)の箇所では、第一信号が正常な第一信号と比して大きな変化が発生し、第二信号が正常な第二信号と比して多少の変化が発生している。これは、第一配線パターン81と第二配線パターン82が短絡不良を起こしていることが理解される。
さらに、図12中の(4)の箇所では、第一信号が正常な第一信号よりも大きく突出するように変化している。これは、第一配線パターン81が導通不良を起こしていることが理解される。
このように、信号検出手段2により検出された信号を、検査信号算出手段3において、第五基準信号を基に、同位相検波と90度位相検波することにより得られる2つの信号を用いて、第一配線パターン81又は第二配線パターン82の導通及び短絡を検査することができる。
以上が本発明に係る一実施形態の基板検査装置1の構成の説明である。
図13は、本発明に係る一実施形態の基板検査装置を実施した場合のフローチャートを示す。
まず、基板検査装置1の載置台11にガラス基板100を載置して、この基板100の検査を行うことができるように準備する(S1)。
このとき、基板100には、第一配線パターン81乃至第三配線パターン83からなる配線パターン8が形成されており、この配線パターン8の形状や配置間隔に関する情報が記憶装置に記憶される。このような情報が記憶装置に記憶されるので、信号検出手段2による検出される検出信号がどの配線パターンから検出された検査信号であるのかを特定することができる。
基板100が準備されると、第一給電手段41乃至第五給電手段45が印加する基準信号が設定される。
このとき、信号検出手段2は各配線パターン上に印加される検出信号を連続的に検出し、信号測定部23(又は信号測定部24,25)により測定された検査信号が検査信号算出手段3へ送られる。
このとき、各位相算出部により、上記の如く、導通及び短絡に必要とされる検査信号が検波により算出される。
検査信号算出手段3は、これらの検査信号を制御手段6の導通検査部61と短絡検査部62へ送信する。
短絡検査部62は、上記の説明の如き方法により、第一配線パターン81乃至第三配線パターン83の短絡の検査を行う(S5)。
これらの検査部の結果に応じて被検査基板が、良品か不良品か判断する(S6)。
2・・・・・信号検出手段
21・・・・第一測定部
22・・・・第二測定部
3・・・・・検査信号算出手段
4・・・・・給電手段
41・・・・第一給電手段
42・・・・第二給電手段
43・・・・第三給電手段
44・・・・第四給電手段
45・・・・第五給電手段
51・・・・第一電極部
52・・・・第二電極部
53・・・・第三電極部
54・・・・第四電極部
61・・・・導通検査部
62・・・・短絡検査部
8・・・・・配線パターン
Claims (9)
- 第一線状部と該第一線状部の一端から延設される第一基部を有する第一配線パターンと、第二線状部と該第二線状部の一端から延設される第二基部を有するとともに、前記第一配線パターンと対向位置に配置される第二配線パターンと、前記第一及び第二配線パターン間に配置される遮光機能を有する第三配線パターンとが複数形成された基板を検査する基板検査装置であって、
検査対象となる一つの配線パターンに物理的に非接触で配置されるとともに該配線パターンに印加される信号を検出する信号検出手段と、
前記検査対象の配線パターンの一端部において物理的に非接触で配置される第一電極部と、
前記検査対象の配線パターンの他端部において物理的に非接触で配置される第二電極部と、
前記第一配線パターンの第一基部と物理的に接触して配置される第三電極部と、
前記第二配線パターンの第二基部と物理的に接触して配置される第四電極部と、
前記各電極部に所定周期を有する基準信号を供給する給電手段と、
前記信号検出手段により検出される検出信号から該検出信号の位相を算出する検査信号算出手段と、
前記検査信号算出手段が算出した前記検出信号の位相を基に、前記検査対象の配線パターンの導通の検査を判断する導通検査部と、
前記検査信号算出手段が算出した前記検出信号の位相を基に、前記検査対象の配線パターンの短絡の検査を判断する短絡検査部を有することを特徴とする基板検査装置。 - 前記信号検出手段は、前記検査対象となる一つの配線パターンの一端部において物理的に非接触で配置される第一測定部と、該一本の配線パターンの他端部において物理的に非接触で配置される第二測定部を有することを特徴とする請求項1記載の基板検査装置。
- 前記給電手段は、
前記第一及び第二電極部に所定周期を有する第一基準信号を供給する第一給電手段と、
前記第一及び第四電極部に所定周期を有する第二基準信号を供給する第二給電手段と、
前記第二及び第三電極部に所定周期を有する第三基準信号を供給する第三給電手段と、
前記第一及び第二電極部と、前記第三及び第四電極部に所定周期を有する第四基準信号を供給する第四給電手段と、
前記第三及び第四電極部に所定周期を有する第五基準信号を供給する第五基準信号を供給する第五給電手段と、
を有することを特徴とする請求項1記載の基板検査装置。 - 前記導通検査部は、前記第一電極部及び前記第二電極部を介して基準信号を印加し、前記信号検出手段により検出した検出信号を用いることを特徴とする請求項1記載の基板検査装置。
- 前記導通検査部は、前記検出信号と前記基準信号の位相差により導通の良否を判断することを特徴とする請求項4記載の基板検査装置。
- 前記短絡検査部は、前記第一電極部と前記第四電極部、及び/又は、前記第二電極部と前記第三電極部を介して基準信号を印加し、前記信号検出手段により検出した検出信号を用いることを特徴とする請求項1記載の基板検査装置。
- 前記短絡検査部は、前記二つの検出信号と前記二つの基準信号との位相差を夫々用いて、短絡の良否を判断することを特徴とする請求項6記載の基板検査装置。
- 前記給電手段が、前記第三及び第四電極部に所定周期を有する第五基準信号を供給する第五基準信号を供給する第五給電手段を有し、
前記検査信号算出手段が、前記第五基準信号を基にして、少なくとも二つの位相の異なる検波を算出し、
前記導通検査部及び前記短絡検査部が、前記二つの検波の結果を基に、導通及び短絡を判定することを特徴とする請求項1記載の基板検査装置。 - 第一線状部と該第一線状部の一端から延設される第一基部を有する第一配線パターンと、第二線状部と該第二線状部の一端から延設される第二基部を有するとともに、前記第一配線パターンと対向位置に配置される第二配線パターンと、前記第一及び第二配線パターン間に配置される遮光機能を有する第三配線パターンとが複数形成された基板を検査する基板検査方法であって、
検査対象の配線パターンの一端部において物理的に非接触で配置される第一電極部と、前記検査対象の配線パターンの他端部において物理的に非接触で配置される第二電極部と、前記第一配線パターンの第一基部と物理的に接触して配置される第三電極部と、前記第二配線パターンの第二基部と物理的に接触して配置される第四電極部を配置し、
前記所定の電極部間に所定周期を有する基準信号を供給し、
前記配線パターンに印加される検出信号を検出し、
検出される前記検出信号から該検出信号の位相を算出し、
前記検出信号の位相を基に、前記検査対象の配線パターンの導通の検査を判断するとともに短絡の検査を判断することを特徴とする基板検査方法。
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