TWI512308B - 檢測裝置及檢測方法 - Google Patents

Description

檢測裝置及檢測方法

本發明是有關於一種藉由檢測出觸控面板的電氣特性進而檢測觸控面板的檢測裝置及檢測方法，更詳細來講，特別是有關於一種藉由非接觸檢測出電訊號，使觸控面板不受損傷而檢測出形成在觸控面板上的配線的粗細，從而能迅速且有效地進行該配線的良好與不良檢測的檢測裝置及檢測方法。

並且，本發明針對如同觸控面板，具有沿x軸方向與y軸方向按矩陣形狀排列的配線(或稱為「圖形」)的檢測對象物能恰當地進行檢測，在本說明書中將這種檢測對象物總稱為「觸控面板」(touch panel)。

以往，具有在稱為觸控面板(或者，觸摸屏或觸摸畫面)的ITO膜上形成的沿x軸方向與y軸方向形成的按矩陣形狀配置的配線的檢測對象物，使各個接觸端子(針狀的導通探針)與沿x軸方向和y軸方向配置的各個配線相接觸，從而進行各配線的導通以及與相鄰配線的短路檢測。

但，對於如上所述使接觸端子與各配線相接觸而進行檢測的方法而言，由於在ITO膜形成的配線與接觸端子無穩定性，因此存在從根據氧化膜的接觸電阻的不穩定性中不能準確地測定電氣特性之問題。且由於接觸端子與檢測對象的配線壓接，因此存在根據接觸端子與配線相接觸而形成打痕之問題。

另外，如專利文獻1揭示的，提出了一種能高精度進行所組裝觸控面板上的所定觸控輸入位置的檢測並且用於準確檢測觸控面板整體的電阻值等電氣特性的檢測技術。如此，揭示了一種檢測所組裝觸控面板之性能的電氣特性的技術。

除了專利文獻1揭示的技術以外，觸控面板如上所述由於按x軸配線與y軸配線交叉而配置，因此使接觸端子與該x軸配線和y軸配線交叉的交點處相接觸，從x軸配線和y軸配線供給各個檢測訊號，進而從來自接觸端子的檢測訊號進行x軸配線和y軸配線的良好與不良判定。

但，對於這種檢測方法而言，需要進行x軸配線的總數與y軸配線的總數相乘值次數的檢測，因此存在檢測時間變長之問題。

近來，由於提高生產性的要求變高，因此需要縮短檢測所需的時間而在短時間內完成檢測。尤其近來，由於觸控面板被用作為可多觸控的輸入設備，從而需要配線準確地覆蓋整個面板面，因此不僅對檢測配線的導通和短路，而且對檢測出配線的粗細進而進行判定的要求也變高。

【現有技術文獻】

【專利文獻1】

日本專利申請公開第2005-274225號公報

鑒於如上所述的情況而提出的本發明，提供了一種即使檢測對象物是如具有沿x軸方向和y軸方向按矩陣形狀配置的配線的觸控面板等檢測物，也能縮短檢測時間並且能有效地進行配線的粗細檢測的檢測裝置及檢測方法。

根據一個實施形態的發明，提供了一種檢測裝置，檢測由x軸表示配線和x軸抽頭(tap)配線形成的複數個x軸配線與由y軸表示配線和y軸抽頭配線形成的複數個y軸配線直交而配置的檢測物的各個配線，檢測裝置包括：電源設備，向成為檢測對象的配線供給交流訊號；連接設備，與成為檢測對象的配線的抽頭配線導通接觸，進而傳送交流訊號；第一檢測設備，非接觸配置在成為檢測對象的配線的表示配線的一端的同時，與電源設備的另一端導通連接；第二檢測設備，與成為檢測對象的配線的表示配線對向且非接觸地配置的同時，與電源設備的另一端導通連接；第一測定設備，測定第一檢測設備和電源設備之間的電訊號；第二測定設備，測定第二檢測設備和該電源設備之間的電訊號；判定設備，基於第一測定設備和第二測定設備的測定結果，判定檢測對象的配線的良好與不良。

根據一個實施例，第二檢測設備形成為與所有的x軸表示配線和y軸表示配線對向配置。

根據一個實施例，第二檢測設備形成為針對成為檢測對象的表示配線沿直交方向被分割，或按表示配線的直交方向和平行方向的矩陣形狀被分割。

根據一個實施例，包括：第三檢測設備，非接觸配置在y軸表示配線的一端的同時，與電源設備的另一端導通連接，第一檢測設備非接觸配置在x軸表示配線的一端。

根據另一實施形態的發明，提供了一種檢測方法，檢測由x軸表示配線和x軸抽頭(tap)配線形成的複數個x軸配線與由y軸表示配線和y軸抽頭配線形成的複數個y軸配線直交而配置的檢測物的各個配線，檢測方法包括如下 步驟：向成為檢測對象的配線的抽頭配線供給交流訊號；檢測出，與成為檢測對象的配線的表示配線的一端相非接觸電結合的電極部所檢測的第一檢測訊號，以及與表示配線相對向配置的同時非接觸電結合的電極部所檢測的第二檢測訊號；基於第一檢測訊號和第二檢測訊號，進行成為檢測對象的配線的檢測。

根據本發明，藉由使用非接觸配置在表示配線的第一檢測設備和第二檢測設備，可使表示配線不受損傷而進行檢測。藉由第一檢測設備檢測出表示配線的一端的電訊號，可進行表示配線的導通檢測。由於第二檢測設備與表示配線相對向而配置，因此產生根據表示配線的面積的靜電容量結合，從而可根據該電訊號檢測出表示配線的粗細。並且由於第一測定設備與表示配線的一端相對向而配置，因此直至表示配線的端部可進行導通檢測。

由於與所有的x軸表示配線和y軸表示配線相對向配置，因此能有效地檢測出表示配線的面積。

由於第二檢測設備形成為針對成為檢測對象的表示配線沿直交方向被分割，因此可對檢測對象的表示配線的粗細進行細分化從而進行判斷，進而可提供檢測精度高的檢測裝置。

藉由設置第三檢測設備，可同時對x軸表示配線和y軸表示配線進行檢測，從而提高單位時間處理的檢測能力。

01、02‧‧‧截斷處

1‧‧‧檢測裝置

2‧‧‧電源設備

3‧‧‧連接設備

31‧‧‧接觸端子

32‧‧‧轉換部

4‧‧‧第一檢測設備

5‧‧‧第二檢測設備

6‧‧‧第一測定設備

7‧‧‧第二測定設備

8‧‧‧判定設備

L1~L6‧‧‧配線

P1、P2‧‧‧觸控區域

T‧‧‧抽頭配線

TP‧‧‧觸控面板

X1~Xe、Y1~Y8‧‧‧線

Xt‧‧‧x軸抽頭配線

yT‧‧‧y軸抽頭配線

xP‧‧‧x軸表示配線

yT‧‧‧y軸抽頭配線

第1圖是表示成為本發明之檢測對象的觸控面板的一個實施形態之概略平面圖。

第2圖是表示本發明之檢測裝置的概略結構之平面圖。

第3圖是用於說明本發明之檢測裝置進行檢測之概念圖，為了便於說明，使用了沿一方向顯示觸控面板之表示配線的圖。

現針對用於實施本發明的最佳形態進行說明。

本發明之檢測裝置針對如觸控面板等具有按x軸方向和y軸方向的矩陣形狀配置的複數個配線的基板或玻璃基板，可提高檢測效率。

為此，首先針對成為本發明之檢測裝置的檢測對象的觸控面板進行簡單說明。

第1圖是表示成為本發明之檢測對象的觸控面板的一個實施形態之概略平面圖。對於該第1圖的觸控面板(TP，Touch Panel)而言，在玻璃基板上分別配置複數個沿x軸方向配置的x軸配線和沿y軸方向配置的y軸配線。在第1圖中，形成十四個x軸配線(以符號「線(Line)：X1~線(Line)：Xe」表示)和八個y軸配線(以符號「線(Line)：Y1~線(Line)：Y8」表示)。

觸控面板TP的x軸配線和y軸配線是根據這些配線覆蓋畫面上的觸控區域(P1和P2覆蓋的部分)來配置，如第1圖所示，一個x軸配線(和y軸配線)藉由重複寬幅部和窄幅部而形成，以此覆蓋整個觸控區域。藉由這種形成，在使用觸控面板TP時，能檢測出觸控處(接觸處)位於哪一個x軸配線和哪一個y軸配線上。該觸控區域由x軸配線的x軸表示配線xP和y軸配線的y軸表示配線yP形成。

對於第1圖的觸控面板TP而言，雖然分別形成十四個x軸配線和八個y軸配線，但其並不限定於此，根據觸控面板製造者可進行適當調整。並且觸 控面板TP的觸控區域或後述的抽頭(tap)配線也可根據製造者進行適當調整而形成，而且寬幅部和窄幅部的長度或大小也可根據觸控面板製造者進行適當調整。

這些x軸配線和y軸配線為了其一端能與驅動器等電子部件相連接，分別形成x軸抽頭配線xT和y軸抽頭配線yT(抽頭配線T)，且分別延伸形成用於和其他電子部件相電連接的電連接部。該抽頭配線T在平面上觀察時形成在從觸控區域偏離的地方，進而能電連接。對於第1圖的觸控面板TP而言，面向紙面在右側形成各個(x軸配線和y軸配線)抽頭配線T。該抽頭配線T並列形成在觸控區域以外地方的一處。x軸配線由x軸表示配線xP和x軸抽頭配線xT形成，且y軸配線由y軸表示配線yP和y軸抽頭配線yT形成。

在本發明之說明書中，為了說明的方便，表示x軸表示配線xP或y軸表示配線yP時以表示配線P進行表示，且將x軸抽頭配線xT或y軸抽頭配線yT以抽頭配線T進行表示。

本發明之檢測裝置1包括電源設備2、連接設備3、第一檢測設備4、第二檢測設備5、第一測定設備6、第二測定設備7以及判定設備8。第2圖是表示本發明之檢測裝置1的概略結構之示意圖。第3圖是用於說明本發明之檢測裝置進行檢測之概念圖。

電源設備2向成為檢測對象的配線供給交流訊號。電源設備2需產生交流訊號，例如在頻率為10k~1000k Hz的範圍內，可設定為具有有效值為1至10V範圍之電壓值的交流訊號。電源設備2的一端與後述的連接設備3相連接的同時，其另一端與後述的第一檢測設備4和第二檢測設備5相連接。

連接設備3與成為檢測對象的配線的抽頭配線T導通接觸，進而傳送來自電源設備2的交流訊號。該連接設備3具有與電源設備2電連接的功能，其可利用例如與抽頭配線T相連接的接觸端子31以及與電源設備2電連接的轉換部32。接觸端子31的數量與抽頭配線T的數量相同，從而分別與抽頭配線T相連接。轉換部32可採用例如執行ON/OFF動作的開關元件。根據該轉換部32的動作，電源設備2與抽頭配線T導通連接。

第一檢測設備4非接觸配置在成為檢測對象的配線的表示配線P的一端的同時，與電源設備2的另一端導通連接。由於第一檢測設備4非接觸配置在表示配線P的一端，因此可檢測出來自第一檢測設備4的端部的電訊號。據此，基於第一檢測設備4檢測出的電訊號，可進行對檢測對象的配線(表示配線P和抽頭配線T)的導通檢測。

該第一檢測設備4只要具有能從表示配線P中提取電訊號的功能即可，更具體來講，可形成為導電性的板狀部件，而且還可採用細長的導線。尤其，第一檢測設備4採用導線時，能容易地配置在表示配線P的端部且同時可廉價製造。

較佳地，該第一檢測設備4針對例如沿一方向配置的所有表示配線(x軸表示配線xP或y軸表示配線yP)按非接觸連接而配置。例如在第3圖中，針對以符號L1~L6記載的所有表示配線的一端，非接觸地進行連接。藉由如此設置第一檢測設備4，可一次性檢測複數個表示配線P。

如上所述，在不移動第一檢測設備4的情況下，第一檢測設備4可一次性檢測沿一方向配置的複數個表示配線P，但為了使成為第一檢測設備4的檢測對象的表示配線P之外的表示配線P成為檢測對象，更可設置相對第一檢測 設備4按直角方向配置的第三檢測設備(未圖示)。該第三檢測設備具有與第一檢測設備4相同的結構，但與第一檢測設備4配置的位置不同。例如，當第一檢測設備4針對x軸表示配線xP非接觸配置時，第三檢測設備針對y軸表示配線yP非接觸配置。如此，藉由使用兩個第一檢測設備和第三檢測設備，可同時檢測x軸表示配線xP和y軸表示配線yP。

第二檢測設備5與成為檢測對象的配線的表示配線P對向且非接觸地配置。該第二檢測設備5與電源設備2的另一端導通連接。第二檢測設備5至少具有大於成為檢測對象的表示配線P的形狀，因此需要表示配線P的整體面與第二檢測設備5能容量結合的大小。如此，由於第二檢測設備5具有可與表示配線P在整體面上容量結合的大小，因此第二檢測設備5檢測出的電訊號成為基於表示配線P的面積的電訊號。據此，藉由利用該第二檢測設備5的電訊號，可判斷表示配線P的粗細。

較佳地，第二檢測設備5針對所有的表示配線P對向配置。藉由如此配置第二檢測設備5，控制用於輸入由電源設備2供給的電訊號的配線，從而無需考慮檢測對象之配線的地點位置，就能檢測出希望的配線(表示配線)的電訊號。例如，在第3圖中，第二檢測設備5形成為板狀以覆蓋符號L1~L6的所有表示配線P。較佳地，該第二檢測設備5形成為大致等於或略微大於觸控面板TP的表示配線P形成的部位。其原因是藉由如此形成，能對向配置以覆蓋形成在觸控面板TP的所有表示配線P。

該第二檢測設備5也可形成為相對成為檢測對象的表示配線P沿直交方向被分割。當第二檢測設備5如此被分割而配置時，針對成為檢測對象的一個表示配線P，根據分割的複數個第二檢測設備5來分割表示配線P，且分別檢 測出該分割的表示配線P部位的電訊號。即，藉由具備這種結構，分割的複數個第二檢測設備5，作為與各自相對應的部位分割表示配線P，從而能檢測出基於該部位的形狀(面積)的電訊號。藉由如此分割第二檢測設備5，可分割表示配線P的檢測部位，且能更高精度地檢測出每個分割的表示配線P的粗細。

當針對x軸表示配線xP和y軸表示配線yP的兩側高精度地進行粗細檢測時，藉由將第二檢測設備5分割為矩陣形狀而配置，可與所有的x軸表示配線xP和y軸表示配線yP相對應。

分割第二檢測設備5時，並不進行特別的限定，較佳地，按具有與x軸表示配線xP和y軸表示配線yP的寬幅部分大致相同的寬度來分割。其原因是藉由如此分割，可檢測出根據寬幅部的形狀而能檢測出配線粗細的電訊號。

第一測定設備6測定第一檢測設備4和電源設備2之間的電訊號。該第一測定設備6的一側端部與第一檢測設備4串聯連接，且另一側端部與電源設備2串聯連接。第一測定設備6例如可使用電流計。該第一測定設備6測定的測定訊號是由檢測對象的配線的導通狀態而引起的電訊號。該第一測定設備6向判定設備8傳送測定訊號。

第二測定設備7測定第二檢測設備5和電源設備2之間的電訊號。該第二測定設備7的一側端部與第二檢測設備5串聯連接，且另一側端部與電源設備2串聯連接。第二側定設備7例如可使用電流計。該第二測定設備7測定的測定訊號是由檢測對象的配線的表示配線P的面積而引起的電訊號。來自該第二測定設備7的測定訊號根據表示配線P的面積而變化靜電容量結合，且受其影響。該第二測定設備7向判定設備8傳送測定訊號。

第二測定設備7如上該與第二檢測設備5連接，但在第二檢測設備5被分割而形成時，根據轉換可將分割的各個第二檢測設備5與第二測定設備7相連接，或可設置根據分割的第二檢測設備5的數量的第二測定設備7，從而能一對一對應連接。在一對一對應連接時，能同時處理檢測出的電訊號，從而能縮短檢測所需的時間而進行對應。

判定設備8基於第一測定設備6和第二測定設備7的測定結果，判定檢測對象的配線的良好與不良。該判定設備8從第一測定設備6的測定訊號判定檢測對象的配線的導通狀態。來自第一測定設備6的測定訊號表示檢測對象的配線的導通狀態，藉由將該測定訊號與良品時的基準值進行比較，可判定導通狀態的良好與不良。例如，在檢測對象的配線為良品(配線無導通異常時)時，測定訊號具有與基準值相同或大致相同的輸出。而在檢測對象的配線存在導通異常時(配線存在斷線處時)，測定訊號具有低於基準值的輸出。即，判定設備8藉由將來自第一測定設備6的測定訊號與預先設定的基準值進行比較，可判定檢測對象的配線的導通狀態的良好與不良。

該判定設備8基於第二測定設備7的測定訊號判定檢測對象的配線的表示配線P的粗和細的形狀狀態。第二測定設備7的測定訊號表示檢測對象的配線的顯示配線w1部分的形狀狀態，藉由將該測定訊號與良品時的基準值進行比較，可判定形狀狀態的良好與不良(粗和細)。具體來講，在表示配線的面積大(粗)於良品的表示配線時，與第二檢測設備5的靜電容量結合變大，從而第二測定設備7的測定訊號輸出為比基準值更大。另外，在表示配線的面積小(細)於良品的表示配線時，與第二檢測設備5的靜電容量結合變小，從而第二測定設備7的測定訊號輸出為比基準值更小。即，判定設備8藉由將來自第二測 定設備7的測定訊號與預先設定的基準值進行比較，可判定檢測對象的配線的粗細形狀狀態的良好與不良。在第二檢測設備5和第二測定設備7被分割而形成為複數個時，將各個第二測定設備7的測定訊號與根據各個部位預先設定的基準值進行比較。

在此利用第3圖，針對本發明之檢測裝置1進行的檢測概念進行說明。第3圖的觸控面板TP形成有表示配線L1~L6。該表示配線L1和表示配線L2是良品，表示配線L3的配線細，表示配線L4的配線粗。表示配線L5在表示配線的中央附近形成有截斷處01，且表示配線L6在表示配線的端部附近形成有截斷處02。

若根據電源設備2施加用於進行檢測的交流訊號，則根據連接設備3分別向表示配線L1~L6施加訊號。且藉由第一檢測設備4，第一測定設備6測定電訊號。同時藉由第二檢測設備5，第二測定設備7測定電訊號。第一測定設備6和第二測定設備7測定根據各個表示配線狀態的電訊號。

檢測對象為表示配線L1時，第一測定設備6和第二測定設備7分別測定出與預先設定的基準值相同或大致相同的值。檢測對象為表示配線L2時也一樣。

檢測對象為表示配線L3時，第一測定設備6測定出與基準值相同或大致相同的值。另外，第二測定設備7因受表示配線L3的細度的影響，獲得比基準值小的輸出值。

檢測對象為表示配線L4時，第一測定設備6測定出與基準值相同或大致相同的值。另外，第二測定設備7因受表示配線L4的粗度的影響，獲得比基準值大的輸出值。

檢測對象為表示配線L5時，第一測定設備6因受中央部分的截斷處01的影響，獲得比基準值小的輸出值。另外，同樣地，第二測定設備7因受中央部分的截斷處01的影響，獲得比基準值小的輸出值。

檢測對象為表示配線L6時，第一測定設備6因受端部附近的截斷處02的影響，獲得比基準值小的輸出值。另外，第二測定設備7由於截斷處02位於端部附近，因此不受其影響，獲得與基準值相同或大致相同的輸出值。

如此，從第一測定設備6和第二測定設備7的測定結果，可判定表示配線P的導通狀態和形狀狀態。

本發明之檢測裝置1包括控制設備9。該控制設備9包括儲存有檢測步驟或檢測方法、上述的基準值訊息等用於檢測觸控面板TP所需之訊息的記憶部(未圖示)。從該記憶部中利用進行檢測時所需要的訊息。並且控制設備9進行電源設備2、連接設備3、第一檢測設備4、第二檢測設備5、第一測定設備6、第二測定設備7以及判定設備8的動作控制。尤其，該控制設備9催促電源設備2以施加用於進行檢測的交流訊號，催促連接設備3以選出檢測對象，且催促判定設備8以基於來自第一測定設備6和第二測定設備7的測定訊號進行檢測對象的配線的良好與不良的判定。

以上是本發明之檢測裝置1的結構說明。

接下來，對本發明之檢測裝置1的動作進行說明。

與檢測相關的訊息預先儲存在控制設備的記憶部中，例如儲存用於判定良好與不良的基準值訊息等。基於該儲存的訊息，控制設備根據需要將用於檢測的控制訊號傳送給各個功能部。

當本發明之檢測裝置1進行檢測時，首先，選出檢測對象的配線。第2圖之情況，檢測沿縱方向配置的x軸配線x1~x5。首先藉由選出x軸配線x1，控制設備9使連接設備3動作以使x軸配線x1成為檢測對象。此時，連接設備3動作以使x軸配線x1與電源設備2導通連接。在具有開關元件時，僅藉由使與x軸配線x1相連接的開關進行ON動作，就能使其與電源設備2電連接。雖然在第2圖中未圖示出開關元件的ON/OFF動作，但該開關元件藉由ON/OFF動作能進行連接。

若電源設備2與x軸配線x1相連接，則控制設備催促從電源設備2供給交流訊號。此時，電源設備2向x軸配線x1供給交流訊號。

若從電源設備2供給交流訊號，則第一檢測設備4與第二檢測設備5檢測出根據x軸配線x1或該x軸表示配線xP的狀態的電訊號。若第一檢測設備4和第二檢測設備5檢測出電訊號，則第一測定設備6和第二測定設備7測定這些電訊號。第一測定設備6和第二測定設備7向判定設備8傳送這些測定訊息。

判定設備8將第一測定設備6和第二測定設備7的測定訊息分別與預先設定的基準值進行比較。判定設備8，如上該，藉由將測定值(測定結果)與基準值進行比較，從而進行良好或不良的判定。且此時，判定設備8從第一測定設備6的測定值與基準值的比較結果判定x軸配線x1的導通狀態，從第二測定設備7的測定值與基準值的比較結果判定x軸表示配線xP的形狀狀態。

若x軸配線x1的判定結束，則將x軸配線x2作為檢測對象而進行下一步的檢測，直至x軸配線x5為止進行檢測。

進行所有x軸配線的檢測且未檢測出異常時，判定為良品。對於該檢測裝置1，由於將x軸配線作為檢測對象，因此將觸控面板TP旋轉90度，也可進行y軸配線的檢測。x軸配線和y軸配線的檢測全部結束後，若任何一個配線 都是良品，則將觸摸面板TP判定為良品。以上則是本發明之檢測裝置的動作的說明。

在第2圖的實施形態中，雖然對未包括第三檢測設備的情況進行了說明，但藉由不旋轉觸控面板TP而利用與y軸配線相對應的第三檢測設備等，也可有效地進行檢測。

本發明之檢測裝置1由於能檢測出觸控面板TP的表示配線的粗和細，因此不僅能進行觸控面板TP的判定，而且從配線的粗和細也能進行觸控面板的製造程序的管理。

對於本發明之檢測裝置1而言，也能進行配線間的絕緣檢測。此時，藉由製成要進行絕緣檢測的兩個配線組(group)且算出該組間的電阻值，則能進行絕緣檢測。

01、02‧‧‧截斷處

2‧‧‧電源設備

3‧‧‧連接設備

4‧‧‧第一檢測設備

5‧‧‧第二檢測設備

6‧‧‧第一測定設備

7‧‧‧第二測定設備

L1~L6‧‧‧配線

TP‧‧‧觸控面板

Claims (5)

1. 一種檢測裝置，檢測由x軸表示配線和x軸抽頭配線形成的複數個x軸配線與由y軸表示配線和y軸抽頭配線形成的複數個y軸配線直交而配置的檢測物的各個配線，該檢測裝置包括：電源設備，向成為檢測對象的該配線供給交流訊號；連接設備，與成為該檢測對象的配線的抽頭配線導通接觸，進而傳送該交流訊號；第一檢測設備，非接觸配置在成為該檢測對象的配線的表示配線的一端的同時，與該電源設備的另一端導通連接；第二檢測設備，與成為該檢測對象的配線的表示配線對向且非接觸地配置的同時，與該電源設備的另一端導通連接；第一測定設備，測定該第一檢測設備和該電源設備之間的電訊號；第二測定設備，測定該第二檢測設備和該電源設備之間的電訊號；以及判定設備，基於該第一測定設備的測定結果判定該檢測對象的配線的導通狀態的良好與不良，和基於該第二測定設備的測定結果，判定該檢測對象的配線的粗細形狀狀態的良好與不良。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該第二檢測設備形成為與所有的該x軸表示配線和該y軸表示配線對向配置。
3. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中該第二檢測設備形成為針對成為檢測對象的表示配線沿直交方向被分割，或按 該表示配線的直交方向和平行方向的矩陣形狀被分割。
4. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其更包括第三檢測設備，非接觸配置在該y軸表示配線的一端的同時，與該電源設備的另一端導通連接；該第一檢測設備非接觸配置在該x軸表示配線的一端。
5. 一種檢測方法，檢測由x軸表示配線和x軸抽頭配線形成的複數個x軸配線與由y軸表示配線和y軸抽頭配線形成的複數個y軸配線直交而配置的檢測物的各個配線，該檢測方法包括如下步驟：向成為檢測對象的該配線的抽頭配線供給交流訊號；檢測出，與成為該檢測對象的配線的表示配線的一端相非接觸電結合的電極部所檢測的第一檢測訊號，以及與該表示配線相對向配置的同時非接觸電結合的電極部所檢測的第二檢測訊號；基於該第一檢測訊號判定該檢測對象的配線的導通狀態的良好與不良，和基於該第二檢測訊號判定該檢測對象的配線的粗細形狀狀態的良好與不良，進行成為該檢測對象的配線的檢測。